JPS58190775A - 電源電圧検出回路 - Google Patents
電源電圧検出回路Info
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- JPS58190775A JPS58190775A JP57072912A JP7291282A JPS58190775A JP S58190775 A JPS58190775 A JP S58190775A JP 57072912 A JP57072912 A JP 57072912A JP 7291282 A JP7291282 A JP 7291282A JP S58190775 A JPS58190775 A JP S58190775A
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- JP
- Japan
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- transistor
- level
- power supply
- supply terminal
- conductivity type
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
- G01R19/16504—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed
- G01R19/16519—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the components employed using FET's
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/569—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
- G05F1/571—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection with overvoltage detector
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- Control Of Electrical Variables (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(A) 発明の技術分野
本発明は、#Lm.が高レベル、低レベルの電圧1直紫
とるときそのいずれにめるかを検知する竃源亀圧愼出回
路に関する。
とるときそのいずれにめるかを検知する竃源亀圧愼出回
路に関する。
(B){支術の背1陵
半導体記憶装置、符に電気的に誉込み町14F,な続出
し専用メモリ(KPROM)等においては,i!A常の
固定電源Vccの他に、書込み時に尚レベル(IIV)
となり続出し時に固定電源Vcc と同様の低レベル
(5v)となるOJf電源Vppを有している。そして
この可変電源vppが高レベルであるか低レベルでろる
かを内部の検出回路により検出し、その出力より1込み
モードとd出しモードとを分ける制御信号を得て内部機
能を切換えている。
し専用メモリ(KPROM)等においては,i!A常の
固定電源Vccの他に、書込み時に尚レベル(IIV)
となり続出し時に固定電源Vcc と同様の低レベル
(5v)となるOJf電源Vppを有している。そして
この可変電源vppが高レベルであるか低レベルでろる
かを内部の検出回路により検出し、その出力より1込み
モードとd出しモードとを分ける制御信号を得て内部機
能を切換えている。
<0> 従来技術と問題点
第1図は従来の電源電圧検出回路で、本出願人よシ出顧
済(特ka昭52−93501号、I[昭55−149
871号)でおる。トランジスタQ、−Q、鵞よシなり
Ql 、GL+tはNチャネルデフ゛V7シ冒ントラン
ジスタで、Q、〜QllはNナヤ不ルエンハンスメント
トランジスタである〇 動作は、電源Vp1)が低レベル(5v)の場合Q、が
オンし且つQ、のgmは小さく設計されているためN、
はHレベルとな、?、Q+oがオンする。一方Q、−Q
・のli1!値成圧の合計が5V以上であるため少なく
ともQl はオフとなυN鵞 はLレベルになり、OU
TはHレベルとなる。
済(特ka昭52−93501号、I[昭55−149
871号)でおる。トランジスタQ、−Q、鵞よシなり
Ql 、GL+tはNチャネルデフ゛V7シ冒ントラン
ジスタで、Q、〜QllはNナヤ不ルエンハンスメント
トランジスタである〇 動作は、電源Vp1)が低レベル(5v)の場合Q、が
オンし且つQ、のgmは小さく設計されているためN、
はHレベルとな、?、Q+oがオンする。一方Q、−Q
・のli1!値成圧の合計が5V以上であるため少なく
ともQl はオフとなυN鵞 はLレベルになり、OU
TはHレベルとなる。
一方t # V p p が高レベル(21V)の場合
。。
。。
が完全にオンし低レベルの時よジインピーダンス小とな
りN1はLレベルとなる。その結果。、。がオフし・N
!はvppよ#)Qs−Q・の閾値電圧分低いJ(+/
ベベルなり、Qllがオンし、OUTはLレベルとなる
。
りN1はLレベルとなる。その結果。、。がオフし・N
!はvppよ#)Qs−Q・の閾値電圧分低いJ(+/
ベベルなり、Qllがオンし、OUTはLレベルとなる
。
この回路aはトランジスタの数が多い点で問題となる。
材にN、がHレベルを出力するときQ4゜がオフとなる
ため、Qllのゲート耐圧を考えてN1のHレベルをv
pp よりある程度低い電圧にするためには、vppと
N、の間に多くのゲートドレインを短絡したトランジス
タQ1〜QII を設けて、その141直を利用する
ようにする心安がある。
ため、Qllのゲート耐圧を考えてN1のHレベルをv
pp よりある程度低い電圧にするためには、vppと
N、の間に多くのゲートドレインを短絡したトランジス
タQ1〜QII を設けて、その141直を利用する
ようにする心安がある。
(D) 発明の目的
本発明は相補型0Ml8回路により薄酸することによシ
素子数が少ない藺率な電源電圧検出回路を提供すること
を目的とする。
素子数が少ない藺率な電源電圧検出回路を提供すること
を目的とする。
(]0 発明の構成
本発明の電源電圧検出回路は高レベル及び低レベル電圧
に変化する可変電源端と、固足戒原端と、接地電源端と
を有し、該可変電源端と接地電源端との間に一専電fi
M工Sトランジスタと反対導電型M工Sトランジスタが
直列接続され該−導電型M工Sトランジスタと反対導電
型MISトランジスタのそれぞれのゲートが該固定電源
端に共通接続されてなり、該可変電源端の高レベル及び
低レベル電圧を該−導電型M工S)ランジスタと反対導
電型MIS)ランジスタの接続点のレベルにより検出し
てなることを特徴とする。
に変化する可変電源端と、固足戒原端と、接地電源端と
を有し、該可変電源端と接地電源端との間に一専電fi
M工Sトランジスタと反対導電型M工Sトランジスタが
直列接続され該−導電型M工Sトランジスタと反対導電
型MISトランジスタのそれぞれのゲートが該固定電源
端に共通接続されてなり、該可変電源端の高レベル及び
低レベル電圧を該−導電型M工S)ランジスタと反対導
電型MIS)ランジスタの接続点のレベルにより検出し
てなることを特徴とする。
を九高レベル及び低レベル電圧に変化する。J[電#膚
と、固定#L電源端、接地電源端と會Mし、該可変電源
端と接地電源端との間にゲートとドレインとが接続され
たMよりトランジスタと、−導電型M工Sトランジスタ
と、反対導電型M I S ”)ランジスタとが直列接
続されてなシ、該−4亀型MIB )ランジスタと反対
導電型M工Sトランジスタのそれぞれのゲートが該固定
電源端に共通接続されてなり、該可変[#I端の高レベ
ル及び低レベル電圧を該−導電型MI日トランジスタと
反対導電型MIS)ランジスタの接続点のレベルにより
4炙出しでなることを特徴とする。
と、固定#L電源端、接地電源端と會Mし、該可変電源
端と接地電源端との間にゲートとドレインとが接続され
たMよりトランジスタと、−導電型M工Sトランジスタ
と、反対導電型M I S ”)ランジスタとが直列接
続されてなシ、該−4亀型MIB )ランジスタと反対
導電型M工Sトランジスタのそれぞれのゲートが該固定
電源端に共通接続されてなり、該可変[#I端の高レベ
ル及び低レベル電圧を該−導電型MI日トランジスタと
反対導電型MIS)ランジスタの接続点のレベルにより
4炙出しでなることを特徴とする。
CF) 発明の実施例
第2図は不発明の一実施例を示す回路図でおる。
oJ′に’RA’;1laVpp と接地を源ノ1i
JIK P f −w 4fiyMISトランジスタQ
ptとNチャネルMIS)ランジスタQN、とが直列接
続され、それぞれのゲートは固定電#LVr=c に
共通に接続され、QpIとQlり、の接続点が出力OU
Tに接続されている。
JIK P f −w 4fiyMISトランジスタQ
ptとNチャネルMIS)ランジスタQN、とが直列接
続され、それぞれのゲートは固定電#LVr=c に
共通に接続され、QpIとQlり、の接続点が出力OU
Tに接続されている。
今、電源VppがLL/ヘル、すなわちvpp−vcc
−5Vの場せ、トランジスタQN、はオンしトランジス
タQp+のゲート・ソース関電位が苓となり、−、pl
ばオフとなり出力OUTはLレベルとなる。
−5Vの場せ、トランジスタQN、はオンしトランジス
タQp+のゲート・ソース関電位が苓となり、−、pl
ばオフとなり出力OUTはLレベルとなる。
一方’ME源がHレベル、すなわちV p p = 2
1 V となゐとVpp>Vcc + l (thp
l (VthpはQplの!i4値酸圧)となり、Q
、p、はオン又QN、もオンであるが、両トランジスタ
qp1とQNIのgmの比を適当に定めることにより、
出力OUTはHレベルとなる。
1 V となゐとVpp>Vcc + l (thp
l (VthpはQplの!i4値酸圧)となり、Q
、p、はオン又QN、もオンであるが、両トランジスタ
qp1とQNIのgmの比を適当に定めることにより、
出力OUTはHレベルとなる。
すなわち本回路はVppンVc c+ l Vthp
lであるか否かを容易に検出することができる。
lであるか否かを容易に検出することができる。
第3図は本発明の他の実施例の回路図で、Hレベルの時
のvppとVccの差が犬の場合有効でるる。トランジ
スタ” p I + QN Iは第2図の場合と同じで
あるが、トランジスタQpIのソースN、oと電源vp
p の間にゲート・ソース間を短絡した複数個のPチャ
ネルトランジスタQ pt + QT” 、 ・を設
けている。このトランジスタQpt、Qゎ3. の個
数nは、vpp(高しベ#)−nlVthpl>vcc
+IVthplなる粂件全満たす範囲で決定される。
のvppとVccの差が犬の場合有効でるる。トランジ
スタ” p I + QN Iは第2図の場合と同じで
あるが、トランジスタQpIのソースN、oと電源vp
p の間にゲート・ソース間を短絡した複数個のPチャ
ネルトランジスタQ pt + QT” 、 ・を設
けている。このトランジスタQpt、Qゎ3. の個
数nは、vpp(高しベ#)−nlVthpl>vcc
+IVthplなる粂件全満たす範囲で決定される。
動作は、電源vppがLレベル、すなわと”i’pp
−Vcm−5vの場合、トランジスタQ N IK /
、Q p +オフとな9出力OUTはLvレベルなる
。−万′区源vpp がHレベルすなわちVpp=2
1V の場合。
−Vcm−5vの場合、トランジスタQ N IK /
、Q p +オフとな9出力OUTはLvレベルなる
。−万′区源vpp がHレベルすなわちVpp=2
1V の場合。
Qp++ Qp!* Qps+ −−、QN+ オンと
なりトランジスタのgm比で決まるHレベルが出力OU
Tよシ検出される。本実施例の場合、Vpp(Hレベル
)とVcc O差が大のとき、出力OUTにはトランジ
スタQp宜−により分圧されたHレベルが出力される為
、例えば出力OU’l’が次段のトランジスタのゲート
に直接接続され九場合、そのゲートに過大なく圧が印加
されて破壊されてしlうのを防止することができる。
なりトランジスタのgm比で決まるHレベルが出力OU
Tよシ検出される。本実施例の場合、Vpp(Hレベル
)とVcc O差が大のとき、出力OUTにはトランジ
スタQp宜−により分圧されたHレベルが出力される為
、例えば出力OU’l’が次段のトランジスタのゲート
に直接接続され九場合、そのゲートに過大なく圧が印加
されて破壊されてしlうのを防止することができる。
g1図の従来例の場合、電0iVpp がHレベルの場
せトランジスレQ、Oがオフとなるため、トランジスタ
Q11のゲートに印加されるノードN、の電位はVpp
−7Vth (QS−Q、で7個)と、トランジスタQ
s−Q、。の閾1lit圧Vthで決まる。そのため
vpp O高レベルが21Vと高い場合は、ノードN、
の電位のHレベルを低くおさえるためにはトランジスタ
Q3〜Q、の数を多くする必要がある。
せトランジスレQ、Oがオフとなるため、トランジスタ
Q11のゲートに印加されるノードN、の電位はVpp
−7Vth (QS−Q、で7個)と、トランジスタQ
s−Q、。の閾1lit圧Vthで決まる。そのため
vpp O高レベルが21Vと高い場合は、ノードN、
の電位のHレベルを低くおさえるためにはトランジスタ
Q3〜Q、の数を多くする必要がある。
これに対して第3図の実施例では、電源Vpp がH1
ノベルの時でもQN、はオンしているため、出力ouT
Kdトランジスタのgm比で決まるレベルが出る。すな
わちトランジスター、p t + Q p S +
・・のd4埴電圧ではなくソース・ド1/インli*
’1llf圧vBDがオリ用さγしるため、その数は第
1図のfa台よシもはるかに少なくてすむ。
ノベルの時でもQN、はオンしているため、出力ouT
Kdトランジスタのgm比で決まるレベルが出る。すな
わちトランジスター、p t + Q p S +
・・のd4埴電圧ではなくソース・ド1/インli*
’1llf圧vBDがオリ用さγしるため、その数は第
1図のfa台よシもはるかに少なくてすむ。
一般しこF!PROMの場合、絖出し時と誉込み時(グ
ログシム時)それぞれにおいて複数のモードを有し、そ
れらは外部から与えられる制御信号(、に、OEi、P
GM及びVpp (高レベルが低レベルか)によって
、内部の機能を切換えている。
ログシム時)それぞれにおいて複数のモードを有し、そ
れらは外部から与えられる制御信号(、に、OEi、P
GM及びVpp (高レベルが低レベルか)によって
、内部の機能を切換えている。
F表にその詳細を示す。
特に読出し時でアウトプット・ディスエイプルのモード
と誉込み時のプログラムのモードとはIE、OFi、P
GMでは区別できず、電源vppがHレベルかLレベル
(Vccと1司じ)がkllF出して両者を区別する必
要がある。
と誉込み時のプログラムのモードとはIE、OFi、P
GMでは区別できず、電源vppがHレベルかLレベル
(Vccと1司じ)がkllF出して両者を区別する必
要がある。
第4図はVpl)の検出回路の出力を利用して。
D′Pλ号
プログラムのモードを決定する内部信号−hiを形成す
るためのブロック図である。すなわちcgがLレベル、
PGMがLレベル、vpp がHレベルの時初めて内部
QN号DPRGがHレベルとv6.1oはCF2発生回
路、11はPGM発生回路、1zavpp=位恢出回路
、13はAND回路、■4はインバータである。
るためのブロック図である。すなわちcgがLレベル、
PGMがLレベル、vpp がHレベルの時初めて内部
QN号DPRGがHレベルとv6.1oはCF2発生回
路、11はPGM発生回路、1zavpp=位恢出回路
、13はAND回路、■4はインバータである。
内部16号DPRGはメモリのワード線やビット線に高
いレベルのVpp電位を与えるために使用される。第5
図にEPROMの簡単な回路図を示す。
いレベルのVpp電位を与えるために使用される。第5
図にEPROMの簡単な回路図を示す。
15(dコラムデコーダ、16.17はロウデコーダ、
1Bは人力データ発生回路、19はセンスアンプ、20
は出力ハラ77 、21はvpp/VCCスウィッチ回
路、22〜24はインバータ、Q1o〜Q+oはトラン
ジスタ、V/Lはワード線、BLはビットd、cell
はメモリセルであるoPDはパワーダウ71を号、Di
nは入力データ、OUTは出力端でるる。
1Bは人力データ発生回路、19はセンスアンプ、20
は出力ハラ77 、21はvpp/VCCスウィッチ回
路、22〜24はインバータ、Q1o〜Q+oはトラン
ジスタ、V/Lはワード線、BLはビットd、cell
はメモリセルであるoPDはパワーダウ71を号、Di
nは入力データ、OUTは出力端でるる。
内部信M LI P RGがHレベルになると、Vpp
/Vccスウィッチ回路の出力V p/ V cがHレ
ベルのV’ppレベルになり、トランジスタQtO+
Qll I Q10 +Q16等を介してワード#WL
、ビット線BLに印加され、メモリセルCe1lの70
−テイングゲートへの電荷の注入が行なわれる。
/Vccスウィッチ回路の出力V p/ V cがHレ
ベルのV’ppレベルになり、トランジスタQtO+
Qll I Q10 +Q16等を介してワード#WL
、ビット線BLに印加され、メモリセルCe1lの70
−テイングゲートへの電荷の注入が行なわれる。
第6図は第4図の場合のvpp 検出回路で、” pH
* Q N11は第3図のQp++QN1に該当し、こ
の例ではvppとQpoO間にPチャネルトランジスタ
2個QT’tt+ Q pHs が設けられている。、
(−L、て’、pnとQNI+の接続点は次段のQpn
+鎚N□よりなるインバータのゲートに印加される。な
おvppとQpttの間のケート・ドレイ/間を短絡し
九トランジスタは必すしもPチャネルの心安はなく、N
チャネルトランジスタでも同様の効果が侍られる。
* Q N11は第3図のQp++QN1に該当し、こ
の例ではvppとQpoO間にPチャネルトランジスタ
2個QT’tt+ Q pHs が設けられている。、
(−L、て’、pnとQNI+の接続点は次段のQpn
+鎚N□よりなるインバータのゲートに印加される。な
おvppとQpttの間のケート・ドレイ/間を短絡し
九トランジスタは必すしもPチャネルの心安はなく、N
チャネルトランジスタでも同様の効果が侍られる。
(G) 発明の効果
本発明によれば簡単な回路でOTf篭諒vppのHレベ
ルとLレベルとを検出することができるので、プロゲラ
ムロ■能なROM等にM幼な回路を提供することができ
る○
ルとLレベルとを検出することができるので、プロゲラ
ムロ■能なROM等にM幼な回路を提供することができ
る○
第1図は従来の回路例、第2,3図は本発明の一実施例
の回路図、第4.5図は本発明に係る電源電圧検出回路
をEPROMに適用した4mのブロック図及び回路図、
第6図は不発明の一実施例で、第41JのVl)p −
咲出回路である。。
の回路図、第4.5図は本発明に係る電源電圧検出回路
をEPROMに適用した4mのブロック図及び回路図、
第6図は不発明の一実施例で、第41JのVl)p −
咲出回路である。。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 L 高レベル及び低レベル電圧に変化するOTf電源端
と、固定電源端と、接地電源端と金・b゛シ、該可変電
源端と接地電源端との間に一4低dMI8トランジスタ
と反対導電型M工Sトラン/スタが直列接続され該−導
を型M工8トランジスタと反対導電型M工Sトクンジス
タのそれぞれのゲートが該固定電源4に共通接続さrて
なシ、該−f変電原端の高いレベル及び低レベル電圧’
に5−導電型M工Sトランジスタと反対導電型M工S
トフンジスタの接続点のレベルにより横比してなること
を特徴とする1lIclIc検電圧検出 λ 高レベル及び低レベル電圧に変化するIlf′に原
端と、同定電源端と、接地電源端とを有し、該可変電源
端と接地電源端との間にゲートとドレイ/とが接続され
たMI8 )ランジスタと、−導電型M工Sトランジス
タと、反対導taMmxSトランジスタとが直列接続さ
れてなり、該−導電型MIS)ランジスタと反対導’m
型MIS )ランジスタのぞnぞれのゲートが該固だ電
源端に共通接吠さjLでなり、該ロエ変″tt原端の高
レベル及び低レベル電圧を該−導電型M工Sトランジス
タと反対導電IMIs)ランジスタの接続点のレベルに
より慣出してなることを特徴とするtti、を圧検出回
路C) ム 該−導成型M工日トランジスタと反対導電型M工S
)う/ジスタの接続点が次段のM工Sトラ/ジスタのゲ
ートにtc続されてなることを特徴とする請求 路0
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57072912A JPS58190775A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 電源電圧検出回路 |
EP83302468A EP0093606B1 (en) | 1982-04-30 | 1983-04-29 | Voltage level detecting circuitry |
DE8383302468T DE3360602D1 (en) | 1982-04-30 | 1983-04-29 | Voltage level detecting circuitry |
IE1010/83A IE54336B1 (en) | 1982-04-30 | 1983-05-02 | Volgate level detecting circuitry |
US06/946,173 US4709165A (en) | 1982-04-30 | 1986-12-24 | Voltage supply level detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57072912A JPS58190775A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 電源電圧検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58190775A true JPS58190775A (ja) | 1983-11-07 |
JPH0160789B2 JPH0160789B2 (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=13503027
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57072912A Granted JPS58190775A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 電源電圧検出回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4709165A (ja) |
EP (1) | EP0093606B1 (ja) |
JP (1) | JPS58190775A (ja) |
DE (1) | DE3360602D1 (ja) |
IE (1) | IE54336B1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61103223A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 定電圧発生回路 |
JPS63127165A (ja) * | 1986-11-17 | 1988-05-31 | Nec Corp | レベル比較器 |
JPS63261168A (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-27 | エステーミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム | Mos技術の高圧レベル検出回路 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62217714A (ja) * | 1986-03-19 | 1987-09-25 | Fujitsu Ltd | 高電圧検出回路 |
US5083045A (en) * | 1987-02-25 | 1992-01-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | High voltage follower and sensing circuit |
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