KR960706173A - 비휘발성 반도체 메모리에 대한 감지 증폭기(Sense amplifier for non-volatile semiconductor memory) - Google Patents
비휘발성 반도체 메모리에 대한 감지 증폭기(Sense amplifier for non-volatile semiconductor memory)Info
- Publication number
- KR960706173A KR960706173A KR1019960702535A KR19960702535A KR960706173A KR 960706173 A KR960706173 A KR 960706173A KR 1019960702535 A KR1019960702535 A KR 1019960702535A KR 19960702535 A KR19960702535 A KR 19960702535A KR 960706173 A KR960706173 A KR 960706173A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sensing
- current
- voltage
- memory cell
- load
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/26—Sensing or reading circuits; Data output circuits
- G11C16/28—Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/38—Response verification devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/04—Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
비휘발성 반도체 메모리는 기준 셀의 논리상태와 메모리 셀의 논리상태를 비교하기 위해 감지 증폭기를 이용한다. 상기 메모리 셀과 상기 기준 셀에 대해 전류를 흐르게 하는 부하는 커런트 미러를 형성하며, 커런트 미러의 증폭 인자는 전원 전압의 크기에 지배적으로 따른다. 이 구성은 고 전원 전압에서의 감도보다 저 전원 전압에서 증폭기의 감도를 높게 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따라 스케일러블 부하 비율 감지 구조를 이용하는 감지 증폭기의 일반적인 형태의 개략적인 회로도, 제5도는 단지 개략적으로 도시한 메모리 회로와 연결된 제4도에서 도시한 감지 증폭기의 개략적인 회로도.
Claims (6)
- 두개의 논리상태에서 한 특정상태를 취하는 메모리 셀(40); 상기 셀의 특정 논리 상태를 정하는 감지수단(20,14,41,48)을 구비하는 전자회로에 있어서, 상기 전자회로는 고 전원전압에서의 감도보다 전 전원전압에서의 감도를 높히기 위하여, 상기 회로에 인가되는 전원 전압에 따라 상기 감지 수단의 감도를 제어하도록 동작하는 바이어스 수단(24,25)를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자회로.
- 제1항에 있어서, 상기 감지 수단은 감지 전압(AMPIN 1)을 제공하기 위해 상기 메모리 셀에 대해 감지 전류(Isense)을 흐르도록 하는 감지 부하(20); 기준 전류(Iref)로부터 기준 전압(AMPIN2)을 제공하는 기준 수단(14,41); 상기 기준 전압에 대해 상기 감지 전압을 비교하여 상기 특정 논리 상태를 나타내는 출력신호를 제공하는 상기 기준수단과 상기 메모리 셀에 연결된 입력을 가지는 비교기(48); 를 구비하며 상기 바이어스 수단은 상기 감지 전류에 대한 상기 기준 전류의 비율을 콘트롤하기 위한 적어도 상기 기준 수단 또는 상기 감지 부하에 대한 콘트롤 신호를 제공하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 전자회로.
- 제2항에 있어서, 상기 기준 수단은 특정 논리 상태를 가지는 기준 셀(41); 상기 기준 전류를 제공하며, 상기 기준전압을 가지는 기준 노드를 통해 상기 기준 셀과 연결된 기준 부하(14)를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자회로.
- 제3항에 있어서, 상기 기준 부하와 감지 부하는 입력 브렌티와 출력 브랜치를 각각 형성하고, 그것의 커런트 미러는 상기 입력 브렌치와 상기 출력 브렌치 사이에 전류 증폭 인자를 가지며, 상기 바이어스 수단은 상기 전원전압에 따라서 상기 인자를 콘트롤 하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 전자회로.
- 제4항에 있어서, 상기 기준 부하는 병렬로 배열된 제1의 복수 트랜지스너(15)를 구비하고, 상기 기준노드와, 또 다른 것에 연결딘 콘트롤 전극을 가지며; 상기 감지 부하는 제1트랜지스터(22)와 상기 메모리 셀과 병렬로 연결된 전도 채널을 가지는 적어도 제2트랜지스터(21)를 구비하고, 상기 기준노드와 또 다른 것에 연결된 콘트롤 전극을 가지며; 상기 감지 부하는 상기 제2트랜지스터의 전도 채널과 상기 메모리 셀 사이의 전도 채널을 가지는 제3트랜지스터(24)를 구비하고, 상기 바이어스 수단과 연결된 전극을 가지는 것을 특징으로 하는 전자회로.
- 두개의 논리 상태에서 한 특정 상태를 취하는 메모리 셀(40); 상기 메모리 셀을 통해 감지 전압(AMPIN 1)을 발생시키는 감지 전류(Isense)를 제공하는 감지부하(20); 특정 논리 상태를 가지는 기준 셀(41); 상기 기준 셀을 통해 기준 전압을 발생시키는 기준전류(Iref)를 제공하는 기준 부하(14); 및 상기 기준 전압을 수신하는 상기 메모리 셀과 상기 기준 셀에 연결된 차동 증폭기(48)를 구비하는 전자회로에 있어서, 상기 회로에 인가된 전원 전압에 따라서 상기 감지 전류에 대한 상기 기준 전류의 비율을 제어하도록 동작하는 수단(24,25)을 구비하는 것을 특징으로 하는 전자 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/308,047 US5487045A (en) | 1994-09-16 | 1994-09-16 | Sense amplifier having variable sensing load for non-volatile memory |
US308,047 | 1994-09-16 | ||
US308047 | 1994-09-16 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960706173A true KR960706173A (ko) | 1996-11-08 |
KR100373196B1 KR100373196B1 (ko) | 2003-05-12 |
Family
ID=23192310
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960702535A KR100373196B1 (ko) | 1994-09-16 | 1995-08-28 | 비휘발성반도체메모리에대한감지증폭기 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5487045A (ko) |
EP (1) | EP0729633B1 (ko) |
JP (1) | JP3706135B2 (ko) |
KR (1) | KR100373196B1 (ko) |
DE (1) | DE69524200T2 (ko) |
MY (1) | MY113198A (ko) |
WO (1) | WO1996008822A2 (ko) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9423034D0 (en) * | 1994-11-15 | 1995-01-04 | Sgs Thomson Microelectronics | A reference circuit |
GB9423032D0 (en) * | 1994-11-15 | 1995-01-04 | Sgs Thomson Microelectronics | Bit line sensing in a memory array |
US5726934A (en) * | 1996-04-09 | 1998-03-10 | Information Storage Devices, Inc. | Method and apparatus for analog reading values stored in floating gate structures |
US5694366A (en) * | 1996-05-01 | 1997-12-02 | Micron Quantum Devices, Inc. | OP amp circuit with variable resistance and memory system including same |
EP0814480B1 (en) * | 1996-06-18 | 2003-12-17 | STMicroelectronics S.r.l. | Method and circuit for reading low-supply-voltage nonvolatile memory cells |
US5872739A (en) * | 1997-04-17 | 1999-02-16 | Radiant Technologies | Sense amplifier for low read-voltage memory cells |
KR100422814B1 (ko) * | 1997-06-30 | 2004-05-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 셀의 전원 측정 장치 |
EP1031991B1 (en) * | 1999-02-26 | 2004-04-28 | STMicroelectronics S.r.l. | Method for reading a multilevel nonvolatile memory and multilevel nonvolatile memory |
JP3620992B2 (ja) * | 1999-04-23 | 2005-02-16 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 半導体記憶装置 |
DE69905699T2 (de) | 1999-06-21 | 2003-10-16 | St Microelectronics Srl | Lesevorgang für nichtflüchtige Speicher mit einem mit der Lesespannung variablen Abtaststrom, und Anordnung zur Verwirkligung dieses Vorgangs |
US6219279B1 (en) * | 1999-10-29 | 2001-04-17 | Zilog, Inc. | Non-volatile memory program driver and read reference circuits |
DE19955779A1 (de) * | 1999-11-19 | 2001-05-31 | Infineon Technologies Ag | Speichereinrichtung |
US6285615B1 (en) | 2000-06-09 | 2001-09-04 | Sandisk Corporation | Multiple output current mirror with improved accuracy |
DE10038383C1 (de) * | 2000-08-07 | 2002-03-14 | Infineon Technologies Ag | Hochgeschwindigkeits-Lese-Stromverstärker |
JP2003346484A (ja) * | 2002-05-23 | 2003-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
DE102004055464B4 (de) * | 2004-11-17 | 2012-07-12 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Bereitstellen von Referenzströmen |
WO2007063264A1 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Arm Limited | Data processing system |
US9859000B1 (en) * | 2016-06-17 | 2018-01-02 | Winbond Electronics Corp. | Apparatus for providing adjustable reference voltage for sensing read-out data for memory |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1221780B (it) * | 1988-01-29 | 1990-07-12 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuito di rilevamento dello stato di celle di matrice in memorie eprom in tecnologia mos |
JPH01220295A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
US5142495A (en) * | 1989-03-10 | 1992-08-25 | Intel Corporation | Variable load for margin mode |
US5132576A (en) * | 1990-11-05 | 1992-07-21 | Ict International Cmos Technology, Inc. | Sense amplifier having load device providing improved access time |
US5142496A (en) * | 1991-06-03 | 1992-08-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method for measuring VT 's less than zero without applying negative voltages |
KR100264425B1 (ko) * | 1991-10-16 | 2000-08-16 | 사토 게니치로 | 피롬 아이씨 |
EP0676768B1 (en) * | 1994-03-28 | 2000-12-27 | STMicroelectronics S.r.l. | Reference signal generating method and circuit for differential evaluation of the content of non-volatile memory cells |
-
1994
- 1994-09-16 US US08/308,047 patent/US5487045A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-08-28 WO PCT/IB1995/000702 patent/WO1996008822A2/en active IP Right Grant
- 1995-08-28 KR KR1019960702535A patent/KR100373196B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-08-28 JP JP51003096A patent/JP3706135B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-08-28 DE DE69524200T patent/DE69524200T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-08-28 EP EP95927927A patent/EP0729633B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-14 MY MYPI95002721A patent/MY113198A/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69524200T2 (de) | 2002-08-14 |
WO1996008822A3 (en) | 2000-11-30 |
WO1996008822A2 (en) | 1996-03-21 |
EP0729633A1 (en) | 1996-09-04 |
DE69524200D1 (de) | 2002-01-10 |
EP0729633B1 (en) | 2001-11-28 |
US5487045A (en) | 1996-01-23 |
JP3706135B2 (ja) | 2005-10-12 |
JPH09506459A (ja) | 1997-06-24 |
MY113198A (en) | 2001-12-31 |
KR100373196B1 (ko) | 2003-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR960706173A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리에 대한 감지 증폭기(Sense amplifier for non-volatile semiconductor memory) | |
US5856748A (en) | Sensing amplifier with current mirror | |
KR100218306B1 (ko) | 전류/전압 변환기와 이를 이용하는 센스 증폭기 및 센싱방법 | |
KR870005394A (ko) | 영속성 메모리용 감지 증폭기 | |
KR910017630A (ko) | 온칩 전압 레귤레이터 및 그것을 사용한 반도체 메모리 장치 | |
KR940010104A (ko) | 기준전압 발생회로 및 내부강압 변환기 | |
KR910005599B1 (ko) | 고밀도 반도체 메모리장치의 전원 공급전압 변환회로 | |
WO2001075891A2 (en) | Current conveyor and method for readout of mtj memories | |
KR930024162A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
KR940016264A (ko) | 부성저항회로와 이를 사용한 슈미트 트리거회로, 센스회로와 이를 사용한 메모리회로, 센스회로를 구성한 데이터선 부하회로, 레벨시프터 및 증폭회로 | |
KR920008767A (ko) | 비휘발성 반도체 메모리 디바이스 | |
US5084668A (en) | System for sensing and/or controlling the level of current in a transistor | |
KR970060220A (ko) | 부하 변동에 대해 출력 레벨을 안정하게 유지할 수 있는 내부 전원 회로를 구비한 반도체 집적 회로 장치 | |
KR960032900A (ko) | 반도체 집적회로용 입력 버퍼 회로 | |
JP2000030450A5 (ko) | ||
KR870009394A (ko) | 프로그램가능한 판독전용 메모리용 센스증폭기 | |
KR910001750A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR920017116A (ko) | 전류 감지 증폭회로 | |
KR890015265A (ko) | 불휘발성 메모리 회로장치 | |
KR100336840B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 감지 증폭기 | |
KR950024349A (ko) | 외부 파워 서플라이의 전위에 의거하여 내부 파워 서플라이의 전위를 발생시키는 내부 파워 서플라이 회로 | |
KR950010063A (ko) | 바이폴라 및 전계 효과 트랜지스터에 의해 구현되고 안정된 감지 증폭기를 갖는 반도체 집적 회로 소자 | |
KR870009398A (ko) | 반도체 기억장치 | |
EP0399820A2 (en) | Semiconductor memories | |
KR20050086700A (ko) | 빠르고 안정하며 정확한 비트 라인 전압을 생성하기 위한캐스코드 증폭기 회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20100204 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |