KR950020703A - 반도체 기억 장치(Semiconductor Memory Device) - Google Patents

반도체 기억 장치(Semiconductor Memory Device) Download PDF

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KR950020703A
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야스히로 나까시마
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가네꼬 히사시
닛본덴기 가부시끼가이샤(Nec Corporation)
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    • G11CSTATIC STORES
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits

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  • Dram (AREA)
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Abstract

본 발명은 센스 증폭기의 독출 동작 속도를 빠르게 하는 것을 목적으로 한다.
반전 증폭기 IV31과 함께 레벨 유지 회로를 형성하는 트랜지스터 Tr32의 소스와 전원 전위 Vdd점과의 사이에 트랜지스터 Tr32보다 충분히 큰 온 저항 및 동일 정도의 전류 구동 능력을 갖고 있는 트랜지스터 Tr33을 설치한다. 트랜지스터 Tr32의 게이트 길이를 제작가능한 범위에서 최대한 짧게 한다.
트랜지스터 Tr32의 게이트 용량 즉 반전 증폭기 IV31의 부하 용량이 적게 되어 독출 동작 속도가 빠르게 된다.

Description

반도체 기억 장치(Semiconductor Memory Device)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예를 도시하는 회로도.

Claims (2)

  1. 복수의 디지트 선, 이들 복수의 디지트 선과 절연되어 교차하는 복수의 워드선, 및 상기 복수의 디지트 선 및 워드선의 교차부에 설치되어 한단을 대응하는 디지트 선에 다른 단을 기준 전위점에 각각 접속하여 대응하는 워드선이 선택 레벨일 때 한단 및 다른 단 사이가 도통 상태인지 비도통 상태인지에 따라 2값 정보를 기억하는 복수의 메모리 셀을 구비한 메모리 셀 어레이, 열 선택 신호에 따라 상기 복수의 디지트 선 중 하나를 선택하는 열 선택 회로, 및 이 열 선택 회로에 의해 디지트 선을 프리챠지 신호에 따라 소정의 타이밍에서 소정 전위로 프리챠지하는 제1트랜지스터, 입력단에 상기 선택된 디지트 선의 신호를 수신하여 이 신호와 대응한 레벨 반전 신호를 출력하는 반전 증폭기, 게이트를 이 반전 증폭기의 출력단과 접속하고, 드레인을 반전 증폭기의 입력단과 접속하여 상기 반전 증폭기와 함께 이 반전 증폭기의 입력단, 출력단의 신호 레벨을 유지하는 제2트랜지스터, 및 소스에 소정 레벨의 전위를 수신하고, 드레인을 상기 제2트랜지스터의 소스와 접속하여 도통 상태로 하여 상기 제2트랜지스터보다 충분히 큰 온 저항으로 또한, 이 제2트랜지스터와 동일 정도의 전류 구동 능력으로 상기 제2트랜지스터의 소스에 상기 소정 레벨의 전위를 전달하는 제3트랜지스터를 구비한 센스 증폭기를 갖고 있는 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
  2. 제1항에 있어서, 센스 증폭기에 소정 레벨의 전류를 발생하는 정전류원 회로, 및 소스에 소정 레벨의 전위를 수신하여 드레인 및 게이트에 상기 정전류원 회로로부터의 전류를 수신하고, 제3트랜지스터와 함께 전류 미러회로를 형성하여 상기 제3트랜지스터에 흐르는 전류를 제어하는 제4트랜지스터를 설치한 것을 특징으로 하는 반도체 기억 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940032411A 1993-12-01 1994-12-01 반도체 기억 장치 KR0140025B1 (ko)

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