JP4518951B2 - 不揮発性記憶システムにおける自動損耗均等化 - Google Patents
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Description
本発明は、消去および書き込みのサイクルの数が増えてゆくときに性能が次第に低下する可能性のあるメモリシステムでの損耗均等化に関する。本願明細書に記載されている実施形態は不揮発性EEPROMに基づくメモリシステムについて説明しているけれども、本発明の種々の態様は、“損耗”する可能性のあるあらゆるタイプの記憶媒体に応用可能である。例えば、エマージングタイプの不揮発性メモリ技術はフェーズ変更メモリである。情報は、与えられた材料のフェーズを変更することによって記憶される。このようなシステムも“損耗”しがちであり、記憶媒体は当該媒体がサイクルされた回数が多くなると情報を記憶しにくくなってゆく。本発明は、このような技術にも容易に応用され得る。
直接マッピングアドレス指定方式では、特定のホスト論理アドレス(例えば、論理的ブロックアドレス、すなわちLBA)と関連するデータは、一般に書き込み/消去サイクルが繰り返された後でも特定の物理的記憶位置に記憶されている。説明される実施形態は、論理的ブロックアドレスと関連して論じられるけれども、任意のタイプの論理アドレスを利用することができる。ホストシステムが同じ論理的ブロックアドレスに書き込み或いは書き換えるとき、そのデータは同じ物理アドレスに書き込まれる。通常、当該物理アドレスに位置する物理的メモリは、消去されてから、当該LBAと関連する新しいおよび/または更新されたデータで書き換えられる。論理アドレスから物理アドレスへの対応は、例えば損耗均等化手続きの結果として当該LBAと関連するマッピングが変更されるまでは一般に存続する。或るLBAが繰り返しプログラムされるということがあるので、それらLBAと関連する物理的記憶位置が割合に早く損耗することになる。繰り返しプログラムされたLBAを、稀にしかプログラムされず、従って稀にしか消去されなかった物理的記憶位置と前は関連していた物理的記憶位置へ再マッピングすることによって、これら2つの物理的記憶位置の損耗を均等化することができる。
前述したように、損耗均等化プロセスを直接アドレス指定方式に組み込む代わりに、損耗均等化プロセスを消去プーリング方式に組み込むことができる。消去プーリング方式では、セクタは、通常物理的ブロックと非静的に関連する論理的ブロックにグループ分けされる。論理的ブロックは一般的に或る範囲のホストLBAについてのデータを含むが、データがこれらのLBAに書き込まれたり、或いは更新されるごとにフラッシュメモリシステムのいろいろな物理的記憶位置に記憶される。各物理的ブロックは、その物理的コンテンツについての論理アドレスフィールドまたは他の何らかの識別を含むことができる。このようなマッピング情報を、コントローラにより便利にアクセスされる揮発性メモリ領域内のテーブルに保つのが便利であることがよくある。或る実施形態では、いろいろなLBAがアクセスされるときにいろいろな論理的ブロックを連続的に探索する必要を軽減するために当該テーブルはフラッシュメモリシステムが給電される毎に形成される。このようなテーブルを作るために必要な情報も、実際のユーザデータと共に或いはそれとは別に、不揮発性メモリに記憶されてよい。
ゾーン内損耗均等化プロセスのとき、論理的ブロックは一般に1つのゾーン内に留まり、その結果として、当該ゾーンを画定するゾーン境界は実際上動かされない。しかし、当該ゾーン内での物理的アドレスとの論理的対応は動かされる。図12aは、ゾーン内損耗均等化プロセスが行われる前の物理的ブロックを含むゾーンの線図である。ゾーン1200内で、物理的ブロック1202は、論理的コンテンツ、或いは論理的ブロック1206に関連するコンテンツを含むことができる。始めは、物理的ブロック1202aは論理的ブロック1206aに関するデータを含むことができ、物理的ブロック1202bは実際上消去されているブロックであってよい、すなわち論理的ブロック1206bは実質的にコンテンツを持っていなくてもよい。ゾーン内損耗均等化は、図12bに示されているように、論理的ブロック1206がゾーン1200内で実際上動かされることを可能にする。図に示されているように、ゾーン内損耗均等化が行われれば、論理的ブロック1206aのコンテンツは物理的ブロック1202bへ移され、これにより物理的ブロック1202aを消去させる。消去された物理的ブロック1202aは、実際上、実質的にコンテンツを持っていない論理的ブロック1206bを含む。従って、物理的ブロック1202aは消去されているブロックであり、物理的ブロック1206bは論理的ブロック1206aと関連している。ゾーン1200に関連するマッピング情報を含むデータ構造が論理的ブロック1206aに関連するデータの新しい記憶位置を保持するように更新され得ることが理解されるべきである。
物理的ブロックの損耗が実質的に装置の1つの部分だけが激しく使われると予想されるような損耗であるときに、激しく損耗したゾーンを軽く損耗したゾーンとスワッピングすることを含む損耗均等化プロセスを有利に使用することができる。ゾーンスワッピングを使用する損耗均等化プロセスは、2つのゾーンの物理的記憶位置をスワッピングすることを可能にする。損耗均等化プロセス或いは動作が開始されると、各ゾーン内のブロックのコンテンツが他方のゾーンにコピーされる。通常は、割合に大量のデータを含む複数のゾーンはスワッピングのために相当の長さの時間をとり得るので、ゾーンスワッピングは、不揮発性記憶装置を必要とする標準的動作のバックグラウンドで実行され得ることが理解されるべきである。
例えば、最も損耗したゾーンを最も損耗していないゾーンとスワッピングするなどのゾーンを完全にスワッピングする代わりに、ゾーンスワッピング損耗均等化プロセスの際に、ゾーンをゾーン移行損耗均等化プロセスの一部として実際上移行させてもよい。すなわち、ゾーンに関連する境界は、元は1つのゾーンの一部であった1つのまたは複数の物理的ブロックが他のゾーンの一部になるように、シフトされ得る。ゾーン境界をシフトさせることによって、前は繰り返しプログラムされ消去されていた物理的ゾーンに関連していた物理的ブロックがあまり頻繁にはプログラムされたり、消去されない物理的ブロックになり得る。従って、記憶装置における物理的ブロックの損耗を装置全体に均等に分散させることができる。装置全体に物理的ブロックの損耗を分散させることは、カードの幾つかの領域が割合に激しく使用されると予想されるときに特に有益である。移動の期間が充分に短ければ、最小量の損耗均等化が実質的に保証される。
図9〜11cに関して説明された損耗均等化プロセスに類似する1つの損耗均等化プロセスを、単一のゾーンを有するメモリシステムに応用することもできる。前述した移行論理的境界は、損耗均等化処理のためにそれらに直接隣接するブロックを特定する物理的ポインタである。単一ゾーンでは、このようなポインタは、一度に1回だけそれら物理的アドレスの順に当該ブロックを通してインクリメントするなどの何らかの決定論的方法でメモリセルブロックを通して循環する。損耗均等化動作を実行するための基準が満たされたとき、現在指されているブロックに対してプロセスが開始される。それが消去されていなければ、そのコンテンツは当該ゾーン内の消去された状態のブロック、すなわち消去プール内のブロックにコピーされる。その後、コピーされたデータについての記憶位置のこの変更を反映するようにアドレステーブルが更新され、元のブロックが消去される。その後、ポインタは次の損耗均等化サイクルの開始を待つために次のブロックへ移動し、そのときにプロセスはその次のブロックに対して反復される。指されたブロックが最初は消去されている状態であるならば、損耗均等化は行われなくてポインタは単に次のブロックに移るだけである。メモリシステムの寿命が終わる前にポインタが当該ゾーン内の全てのブロックを通ったら、次にポインタはそのサイクルを反復することができる。
物理的ブロックに基づいてホットカウントを維持する代わりに、論理的ブロックに関してホットカウントを維持してもよいことが理解されるべきである。例えば相対的ホットカウントを維持するなどの論理的ブロックについてホットカウントを維持すれば、最近動かされた論理的ブロックと最も前に動かされた論理的ブロックとを追跡することができる。一実施形態では、論理的ブロックを、それらブロックが最近どのように動かされたかによって実際上セットにグループ分けすることができる。ゾーン内の全てのブロックに初期相対的ホットカウント値を与えることができ、そしてブロックが動かされるごとに当該相対的ホットカウントをその最近に動かされたセットまたはグループの値に更新することができ、それは一般にベース値より1つ上である。最近動かされたグループの中に一定数のブロックが存在するようになると、その最近動かされたグループの値をインクリメントすることができ、その後に動かされたブロックをその新しいグループ値に更新することができる。その結果として、最近動かされたブロックと最も前に動かされたブロックとを割合に明瞭に区別して論理的ブロックまたは物理的ブロックの別々のグループまたはビンを作ることができる。一般に、ブロックの相対的ホットカウント値は、割合に小さな数のフィールドの使用を可能にするようにロールオーバーし得るようにされる。最も前に動かされたブロックを指す低い値と、最近ロールオーバーされた数値フィールドを伴う最近動かされたブロックを指す低い値との区別を考慮して、最近使用された値と最も前に使用された値との間に実質的に常に使用されていない値の大きな集合が存在するように、値を管理することができる。
本発明の種々の態様を一般的にセクタのセットに関して説明してきたが、セクタのセット内のセクタの数は1以上の任意の適切な数であってよい。しかし、セクタのセット内の最も効率的なセクタ数は、通常消去の単位の中のセクタ数と、物理的メモリアレイ内の消去の単位数とに依存する。
Claims (10)
- 間にアドレス境界を持って複数のゾーンに組織された連続的な物理的アドレスを有する消去可能で再プログラム可能な不揮発性メモリセルの複数の単位を含み、論理的アドレスの別個の範囲が前記ゾーンの各々にマッピングされるようになっているメモリシステムにおける操作の方法であって、
前記ゾーンの各々から少なくとも1つの単位を削除して、前記個々のゾーンにおける単位の数を変えずに前記少なくとも1つの単位を隣接しているゾーンに付け加えるように境界アドレスを割り当てなおすステップと、
その後、データの論理的アドレスに従って前記ゾーン内の前記割り当てなおされたメモリセル単位にデータをプログラムし、またはそれらメモリセル単位からデータを読み出すために前記ゾーンにアクセスするステップと、
少なくとも前記メモリセル単位が全てそれらゾーンから隣接するゾーンへ動かされるまで前記境界アドレスを繰り返し割り当てなおして前記ゾーンにアクセスし、それにより前記論理的アドレスを通してアクセスされた単位の使用が分散されるステップと、
を含む方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記境界アドレスを割り当てなおすステップは、前記ゾーンの各々から前記ゾーン内の単位の10%未満の数の単位を削除し、前記数の単位を隣接するゾーンに付け加えるステップを含む方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記ゾーンは前記ゾーンのメモリセル単位の部分を個々の複数のメモリプレーンに有して形成され、前記境界アドレスを割り当てなおすステップは、前記メモリプレーンの各々の中の前記ゾーンの各々の部分から少なくとも1つの単位を削除し、前記少なくとも1つの単位を同じプレーン内の他のゾーンの隣接する部分に付け加えるステップを含む方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記メモリセル単位は、複数の同時に消去可能なメモリセルを個々に含む方法。 - 請求項4記載の方法において、
前記メモリセル単位は、データで個々にプログラム可能な複数のページを個々に含む方法。 - 請求項1記載の方法において、
前記境界アドレスを割り当てなおすステップは、前記少なくとも1つの単位に記憶されている任意のデータを前記ゾーンの各々から前記隣接するゾーンの付け加えられた単位内へコピーするステップを含む方法。 - 同時に消去可能な最小数のメモリセルの単位に物理的に組織された消去可能で再プログラム可能な不揮発性メモリセルのシステムを操作する方法であって、
論理的メモリアドレスの3つ以上の重なり合わない範囲のうちの1つの中のデータをプログラムし、または読み出すホストアクセス要求をメモリセル消去単位の対応する数の論理的グループのうちの一意的な1つに向けるステップと、
前記論理的グループからのアクセス要求を複数の消去単位の別個の物理的グループにマッピングするステップと、
ホストアクセス要求により引き起こされたデータプログラミングまたは読み出しの操作と操作の間に、一度に少なくとも1つの消去単位を含む個々の物理的グループの一部を除去し、かつ個々の物理的グループの中の消去単位の均一な個数を維持するように前記除去された消去単位を前記物理的グループのうちの隣接する物理的グループに付け加えることによって前記論理的グループを前記物理的グループに繰り返しマッピングしなおし、これにより時間がたつうちに前記システムでの前記消去単位の使用が均等化されるステップと、
を含む方法。 - 複数のプレーン内で最小数の同時に消去可能なメモリセルの複数のブロックに組織されたフラッシュメモリセルのアレイを操作する方法であって、
複数のプレーンの各々からの複数のブロックの一部を個々に含む複数のゾーンを画定するステップと、
論理的アドレスの1つの範囲の異なる部分を前記ゾーンの各々にマッピングするステップと、
各プレーンにおいて前記ゾーンから少なくとも1つのブロックを除去し、かつ前記複数のプレーンの各々において指定された複数のブロックを有する前記複数のゾーンを維持するようにその除去されたブロックをそれら同じプレーン内の前記ゾーンのうちの他のゾーンに付け加えることによって個々のゾーンを繰り返し画定しなおし、これにより論理的アドレスのいろいろな範囲に存するブロックの使用が時間がたつうちに前記アレイに分散されるステップと、
を含む方法。 - 一緒に消去可能で再プログラム可能な不揮発性メモリセルの複数の単位を個々に含む複数のゾーンを含むメモリシステムが受け取った1つの別個の範囲の論理的アドレスを前記個々のゾーンにマッピングするようになっている前記メモリシステムにおける操作の方法であって、
前記複数のゾーンのうちの第1のゾーンに記憶されているデータを前記複数のゾーンのうちの第2のゾーンに記憶されているデータと交換するステップと、
その後、前記第1および第2のゾーンのうちの一方の中の前記メモリシステムにアクセスするアドレスを前記第1および第2のゾーンのうちの他方にアクセスするアドレスに変換するステップと、
を含む方法。 - 請求項9記載の方法において、
前記データを交換するステップは、
前記第2のゾーンの物理的アドレスの境界に隣接する物理的アドレスを有する前記第2のゾーン内の第1の消去単位から、消去される前記第2のゾーン内の第2の消去単位へデータを動かすステップと、
前記第1のゾーンの物理的アドレスの境界に隣接する物理的アドレスを有する前記第1のゾーンの消去単位から前記第1の単位へデータを動かすステップと、
を含む方法。
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US8171203B2 (en) * | 1995-07-31 | 2012-05-01 | Micron Technology, Inc. | Faster write operations to nonvolatile memory using FSInfo sector manipulation |
US6901498B2 (en) * | 2002-12-09 | 2005-05-31 | Sandisk Corporation | Zone boundary adjustment for defects in non-volatile memories |
TWI243303B (en) * | 2003-11-14 | 2005-11-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for managing flash file stored in a flash memory |
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JP2006024024A (ja) * | 2004-07-08 | 2006-01-26 | Toshiba Corp | 論理ディスク管理方法及び装置 |
JP4561246B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-10-13 | ソニー株式会社 | メモリ装置 |
US7590918B2 (en) * | 2004-09-10 | 2009-09-15 | Ovonyx, Inc. | Using a phase change memory as a high volume memory |
US7509526B2 (en) * | 2004-09-24 | 2009-03-24 | Seiko Epson Corporation | Method of correcting NAND memory blocks and to a printing device employing the method |
US7441067B2 (en) * | 2004-11-15 | 2008-10-21 | Sandisk Corporation | Cyclic flash memory wear leveling |
US7412560B2 (en) * | 2004-12-16 | 2008-08-12 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with multi-stream updating |
US7386655B2 (en) | 2004-12-16 | 2008-06-10 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with improved indexing for scratch pad and update blocks |
US7366826B2 (en) * | 2004-12-16 | 2008-04-29 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory and method with multi-stream update tracking |
US7315916B2 (en) * | 2004-12-16 | 2008-01-01 | Sandisk Corporation | Scratch pad block |
US7395404B2 (en) * | 2004-12-16 | 2008-07-01 | Sandisk Corporation | Cluster auto-alignment for storing addressable data packets in a non-volatile memory array |
US7315917B2 (en) | 2005-01-20 | 2008-01-01 | Sandisk Corporation | Scheduling of housekeeping operations in flash memory systems |
JP4665539B2 (ja) * | 2005-01-31 | 2011-04-06 | ソニー株式会社 | メモリ制御装置、メモリ制御方法、プログラム |
US8108691B2 (en) | 2005-02-07 | 2012-01-31 | Sandisk Technologies Inc. | Methods used in a secure memory card with life cycle phases |
US8321686B2 (en) | 2005-02-07 | 2012-11-27 | Sandisk Technologies Inc. | Secure memory card with life cycle phases |
US8423788B2 (en) | 2005-02-07 | 2013-04-16 | Sandisk Technologies Inc. | Secure memory card with life cycle phases |
US20060236025A1 (en) * | 2005-04-18 | 2006-10-19 | Intel Corporation | Method and apparatus to control number of erasures of nonvolatile memory |
US7685360B1 (en) | 2005-05-05 | 2010-03-23 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for dynamic appended metadata in a dynamically mapped mass storage device |
US7916421B1 (en) * | 2005-05-05 | 2011-03-29 | Seagate Technology Llc | Methods and structure for recovery of write fault errors in a dynamically mapped mass storage device |
US7748031B2 (en) | 2005-07-08 | 2010-06-29 | Sandisk Corporation | Mass storage device with automated credentials loading |
WO2007013372A1 (ja) | 2005-07-29 | 2007-02-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システム及び不揮発性メモリのアドレス管理方法 |
US7680980B2 (en) * | 2005-08-12 | 2010-03-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image forming apparatus |
KR101014179B1 (ko) * | 2005-09-14 | 2011-02-14 | 디스크레틱스 테크놀로지스 엘티디. | 플래시 대용량 저장 메모리를 가진 보안 장치를 위한 보안 및 적응형 시스템 구조 |
US7536540B2 (en) * | 2005-09-14 | 2009-05-19 | Sandisk Corporation | Method of hardware driver integrity check of memory card controller firmware |
US7934049B2 (en) | 2005-09-14 | 2011-04-26 | Sandisk Corporation | Methods used in a secure yet flexible system architecture for secure devices with flash mass storage memory |
US8291295B2 (en) | 2005-09-26 | 2012-10-16 | Sandisk Il Ltd. | NAND flash memory controller exporting a NAND interface |
US7631245B2 (en) | 2005-09-26 | 2009-12-08 | Sandisk Il Ltd. | NAND flash memory controller exporting a NAND interface |
KR100848315B1 (ko) * | 2005-12-08 | 2008-07-24 | 한국전자통신연구원 | 이중 저널링을 이용한 데이터 저장 공간 확보 방법 |
JP2007164318A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Renesas Technology Corp | 記憶装置 |
US20070150644A1 (en) * | 2005-12-28 | 2007-06-28 | Yosi Pinto | System for writing non-volatile memories for increased endurance |
US7245556B1 (en) * | 2005-12-28 | 2007-07-17 | Sandisk Corporation | Methods for writing non-volatile memories for increased endurance |
US7599261B2 (en) * | 2006-01-18 | 2009-10-06 | International Business Machines Corporation | Removable storage media with improved data integrity |
US20070174549A1 (en) * | 2006-01-24 | 2007-07-26 | Yevgen Gyl | Method for utilizing a memory interface to control partitioning of a memory module |
US8756399B2 (en) * | 2006-01-25 | 2014-06-17 | Seagate Technology Llc | Mutable association of a set of logical block addresses to a band of physical storage blocks |
US20070208904A1 (en) * | 2006-03-03 | 2007-09-06 | Wu-Han Hsieh | Wear leveling method and apparatus for nonvolatile memory |
US8296497B2 (en) * | 2006-03-14 | 2012-10-23 | Stmicroelectronics Pvt. Ltd. | Self-updating memory controller |
US20070255889A1 (en) * | 2006-03-22 | 2007-11-01 | Yoav Yogev | Non-volatile memory device and method of operating the device |
JP4863749B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2012-01-25 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリを用いた記憶装置、その消去回数平準化方法、及び消去回数平準化プログラム |
KR101185617B1 (ko) | 2006-04-04 | 2012-09-24 | 삼성전자주식회사 | 외부 메모리의 부하를 줄일 수 있는 웨어 레벨링 기법에의한 플래시 파일 시스템의 동작 방법 |
US7451264B2 (en) * | 2006-04-13 | 2008-11-11 | Sandisk Corporation | Cycle count storage methods |
US7467253B2 (en) * | 2006-04-13 | 2008-12-16 | Sandisk Corporation | Cycle count storage systems |
FR2901035B1 (fr) * | 2006-05-11 | 2008-07-11 | St Microelectronics Sa | Procede et dispositif de gestion d'une table de correspondance d'acces a une memoire |
JP4804218B2 (ja) * | 2006-05-11 | 2011-11-02 | 株式会社日立製作所 | 記憶媒体への書き込み回数を管理する計算機システム及びその制御方法 |
US7778077B2 (en) * | 2006-05-15 | 2010-08-17 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory system with end of life calculation |
US7523013B2 (en) * | 2006-05-15 | 2009-04-21 | Sandisk Corporation | Methods of end of life calculation for non-volatile memories |
EP2024839B1 (en) | 2006-05-15 | 2014-07-02 | SanDisk Technologies Inc. | Non-volatile memory system with end of life calculation |
US7349254B2 (en) * | 2006-05-31 | 2008-03-25 | Qimonda Flash Gmbh & Co. Kg | Charge-trapping memory device and methods for its manufacturing and operation |
US20080046630A1 (en) * | 2006-08-21 | 2008-02-21 | Sandisk Il Ltd. | NAND flash memory controller exporting a logical sector-based interface |
US20080046641A1 (en) * | 2006-08-21 | 2008-02-21 | Sandisk Il Ltd. | NAND flash memory controller exporting a logical sector-based interface |
US20080072058A1 (en) * | 2006-08-24 | 2008-03-20 | Yoram Cedar | Methods in a reader for one time password generating device |
US20080052524A1 (en) * | 2006-08-24 | 2008-02-28 | Yoram Cedar | Reader for one time password generating device |
US20080091901A1 (en) * | 2006-10-12 | 2008-04-17 | Alan David Bennett | Method for non-volatile memory with worst-case control data management |
US20080091871A1 (en) * | 2006-10-12 | 2008-04-17 | Alan David Bennett | Non-volatile memory with worst-case control data management |
US20080126685A1 (en) * | 2006-11-24 | 2008-05-29 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for reducing memory write operations using an instruction set |
US7904764B2 (en) * | 2006-11-24 | 2011-03-08 | Sandforce, Inc. | Memory lifetime gauging system, method and computer program product |
US7747813B2 (en) * | 2006-11-24 | 2010-06-29 | Sandforce, Inc. | Multi-memory device system and method for managing a lifetime thereof |
US7809900B2 (en) * | 2006-11-24 | 2010-10-05 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for delaying an operation that reduces a lifetime of memory |
US7904619B2 (en) * | 2006-11-24 | 2011-03-08 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for reducing memory write operations using difference information |
US7904672B2 (en) * | 2006-12-08 | 2011-03-08 | Sandforce, Inc. | System and method for providing data redundancy after reducing memory writes |
US8090980B2 (en) * | 2006-12-08 | 2012-01-03 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for providing data redundancy in a plurality of storage devices |
US9153337B2 (en) * | 2006-12-11 | 2015-10-06 | Marvell World Trade Ltd. | Fatigue management system and method for hybrid nonvolatile solid state memory system |
KR100881669B1 (ko) * | 2006-12-18 | 2009-02-06 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 데이터 저장장치의 정적 데이터 영역 검출 방법,마모도 평준화 방법 및 데이터 유닛 병합 방법과 그 장치 |
US7710777B1 (en) | 2006-12-20 | 2010-05-04 | Marvell International Ltd. | Semi-volatile NAND flash memory |
DE112006004187B4 (de) * | 2006-12-27 | 2015-09-10 | Intel Corporation | Verfahren, nicht-flüchtige Speichervorrichtung und Computersystem zum initiativen Abnutzungsausgleich für einen nicht-flüchtigen Speicher |
TW200828320A (en) * | 2006-12-28 | 2008-07-01 | Genesys Logic Inc | Method for performing static wear leveling on flash memory |
US8423794B2 (en) | 2006-12-28 | 2013-04-16 | Sandisk Technologies Inc. | Method and apparatus for upgrading a memory card that has security mechanisms for preventing copying of secure content and applications |
CN100504814C (zh) * | 2007-01-17 | 2009-06-24 | 忆正存储技术(深圳)有限公司 | 闪存的区块管理方法 |
KR20080072201A (ko) * | 2007-02-01 | 2008-08-06 | 삼성전자주식회사 | 메모리 포맷이 가능한 디지털 전자기기, 메모리 포맷 방법,그리고, 저장기능을 가지는 디지털 전자기기 및 저장방법 |
KR100882740B1 (ko) * | 2007-02-22 | 2009-02-09 | 삼성전자주식회사 | 맵 히스토리 기반의 불휘발성 메모리의 매핑 방법 및 저장장치 |
US7731365B2 (en) * | 2007-03-19 | 2010-06-08 | Johnson&Johnson Vision Care, Inc. | Method of fitting contact lenses |
US7689762B2 (en) | 2007-05-03 | 2010-03-30 | Atmel Corporation | Storage device wear leveling |
US20080294813A1 (en) * | 2007-05-24 | 2008-11-27 | Sergey Anatolievich Gorobets | Managing Housekeeping Operations in Flash Memory |
US20080294814A1 (en) * | 2007-05-24 | 2008-11-27 | Sergey Anatolievich Gorobets | Flash Memory System with Management of Housekeeping Operations |
JP4444314B2 (ja) | 2007-07-13 | 2010-03-31 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ情報蓄積装置とその書き込み制御方法 |
KR100857761B1 (ko) * | 2007-06-14 | 2008-09-10 | 삼성전자주식회사 | 웨어 레벨링을 수행하는 메모리 시스템 및 그것의 쓰기방법 |
CN100538662C (zh) * | 2007-07-05 | 2009-09-09 | 炬力集成电路设计有限公司 | 一种基于局部采样的存储器的磨损平衡方法 |
JP5039463B2 (ja) * | 2007-07-12 | 2012-10-03 | 株式会社日立製作所 | 記録装置および記録方法 |
KR101447188B1 (ko) * | 2007-07-31 | 2014-10-08 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리에 최적화된 입출력 제어 방법 및 장치 |
TWI373772B (en) * | 2007-10-04 | 2012-10-01 | Phison Electronics Corp | Wear leveling method and controller using the same |
CN101409108B (zh) * | 2007-10-09 | 2011-04-13 | 群联电子股份有限公司 | 平均磨损方法及使用此方法的控制器 |
US20090106522A1 (en) * | 2007-10-18 | 2009-04-23 | Sony Corporation | Electronic system with dynamic selection of multiple computing device |
CN101419834B (zh) * | 2007-10-22 | 2011-03-30 | 群联电子股份有限公司 | 平均磨损方法及使用此方法的控制器 |
US8296498B2 (en) * | 2007-11-13 | 2012-10-23 | Sandisk Technologies Inc. | Method and system for virtual fast access non-volatile RAM |
CA2706099C (en) * | 2007-11-19 | 2014-08-26 | Nexxus Lighting, Inc. | Apparatus for housing a light assembly |
WO2009067556A2 (en) * | 2007-11-19 | 2009-05-28 | Nexxus Lighting, Inc. | Apparatus and methods for thermal management of light emitting diodes |
US7849275B2 (en) * | 2007-11-19 | 2010-12-07 | Sandforce, Inc. | System, method and a computer program product for writing data to different storage devices based on write frequency |
US7903486B2 (en) | 2007-11-19 | 2011-03-08 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for increasing a lifetime of a plurality of blocks of memory |
US9183133B2 (en) | 2007-11-28 | 2015-11-10 | Seagate Technology Llc | System, method, and computer program product for increasing spare space in memory to extend a lifetime of the memory |
US7636258B2 (en) * | 2007-12-12 | 2009-12-22 | Qimonda Flash Gmbh | Integrated circuits, memory controller, and memory modules |
US8656083B2 (en) * | 2007-12-21 | 2014-02-18 | Spansion Llc | Frequency distributed flash memory allocation based on free page tables |
US8352671B2 (en) | 2008-02-05 | 2013-01-08 | Spansion Llc | Partial allocate paging mechanism using a controller and a buffer |
US8275945B2 (en) | 2008-02-05 | 2012-09-25 | Spansion Llc | Mitigation of flash memory latency and bandwidth limitations via a write activity log and buffer |
US8209463B2 (en) * | 2008-02-05 | 2012-06-26 | Spansion Llc | Expansion slots for flash memory based random access memory subsystem |
US8332572B2 (en) * | 2008-02-05 | 2012-12-11 | Spansion Llc | Wear leveling mechanism using a DRAM buffer |
US8095724B2 (en) * | 2008-02-05 | 2012-01-10 | Skymedi Corporation | Method of wear leveling for non-volatile memory and apparatus using via shifting windows |
US8423739B2 (en) * | 2008-02-06 | 2013-04-16 | International Business Machines Corporation | Apparatus, system, and method for relocating logical array hot spots |
US8914340B2 (en) * | 2008-02-06 | 2014-12-16 | International Business Machines Corporation | Apparatus, system, and method for relocating storage pool hot spots |
DE102008009768B4 (de) * | 2008-02-19 | 2011-04-07 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Inkrementierender Zähler mit verlängerter Schreiblebensdauer |
JP5010505B2 (ja) * | 2008-03-01 | 2012-08-29 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
US8560761B2 (en) * | 2008-03-31 | 2013-10-15 | Spansion Llc | Memory resource management for a flash aware kernel |
KR101437123B1 (ko) * | 2008-04-01 | 2014-09-02 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 시스템 및 그것의 마모도 관리 방법 |
US20090254729A1 (en) * | 2008-04-07 | 2009-10-08 | Skymedi Corporation | Method of wear leveling for a non-volatile memory |
US20090259819A1 (en) * | 2008-04-09 | 2009-10-15 | Skymedi Corporation | Method of wear leveling for non-volatile memory |
JP4439569B2 (ja) * | 2008-04-24 | 2010-03-24 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
US8082385B2 (en) * | 2008-05-02 | 2011-12-20 | Sony Corporation | Systematic memory shift for pre-segmented memory |
US8055835B2 (en) * | 2008-06-23 | 2011-11-08 | International Business Machines Corporation | Apparatus, system, and method for migrating wear spots |
US8843691B2 (en) * | 2008-06-25 | 2014-09-23 | Stec, Inc. | Prioritized erasure of data blocks in a flash storage device |
US20100017566A1 (en) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for interfacing computing device hardware of a computing device and an operating system utilizing a virtualization layer |
US20100017588A1 (en) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for providing an extended capability to a system |
US20100017807A1 (en) * | 2008-07-15 | 2010-01-21 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for transparent communication between a storage device and an application |
TWI389125B (zh) * | 2008-07-18 | 2013-03-11 | A Data Technology Co Ltd | 記憶體儲存裝置及其控制方法 |
KR20100013485A (ko) | 2008-07-31 | 2010-02-10 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 웨어 레벨링 방법 |
CN101640069B (zh) * | 2008-08-01 | 2013-12-18 | 群联电子股份有限公司 | 用于闪速存储器的平均磨损方法与平均磨损系统 |
US20100064093A1 (en) * | 2008-09-09 | 2010-03-11 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for converting data in a binary representation to a non-power of two representation |
MX2011002697A (es) * | 2008-09-11 | 2011-04-12 | Nexxus Lighting Inc | Luz y proceso para manufacturar una luz. |
TWI364661B (en) * | 2008-09-25 | 2012-05-21 | Silicon Motion Inc | Access methods for a flash memory and memory devices |
KR100974215B1 (ko) * | 2008-10-02 | 2010-08-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 스토리지 시스템 및 그 제어 방법 |
TWI470428B (zh) * | 2008-10-03 | 2015-01-21 | Phison Electronics Corp | 用於非揮發性記憶體的資料程式規劃系統、記憶體管理方法及其控制器 |
US9128821B2 (en) * | 2008-10-10 | 2015-09-08 | Seagate Technology Llc | Data updating in non-volatile memory |
US8285970B2 (en) | 2008-11-06 | 2012-10-09 | Silicon Motion Inc. | Method for managing a memory apparatus, and associated memory apparatus thereof |
US8275933B2 (en) * | 2008-11-10 | 2012-09-25 | Fusion-10, Inc | Apparatus, system, and method for managing physical regions in a solid-state storage device |
US20100125696A1 (en) * | 2008-11-17 | 2010-05-20 | Prasanth Kumar | Memory Controller For Controlling The Wear In A Non-volatile Memory Device And A Method Of Operation Therefor |
US20100146236A1 (en) * | 2008-12-08 | 2010-06-10 | Radoslav Danilak | System, method, and computer program product for rendering at least a portion of data useless in immediate response to a delete command |
WO2010067361A1 (en) | 2008-12-10 | 2010-06-17 | Amir Ban | Method and device of managing a reduced wear memory |
US8316201B2 (en) * | 2008-12-18 | 2012-11-20 | Sandisk Il Ltd. | Methods for executing a command to write data from a source location to a destination location in a memory device |
US7940568B1 (en) | 2008-12-30 | 2011-05-10 | Micron Technology, Inc. | Dynamic polarization for reducing stress induced leakage current |
US20100174845A1 (en) * | 2009-01-05 | 2010-07-08 | Sergey Anatolievich Gorobets | Wear Leveling for Non-Volatile Memories: Maintenance of Experience Count and Passive Techniques |
US8094500B2 (en) * | 2009-01-05 | 2012-01-10 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory and method with write cache partitioning |
US8700840B2 (en) * | 2009-01-05 | 2014-04-15 | SanDisk Technologies, Inc. | Nonvolatile memory with write cache having flush/eviction methods |
US8040744B2 (en) | 2009-01-05 | 2011-10-18 | Sandisk Technologies Inc. | Spare block management of non-volatile memories |
US8244960B2 (en) | 2009-01-05 | 2012-08-14 | Sandisk Technologies Inc. | Non-volatile memory and method with write cache partition management methods |
US8250293B2 (en) * | 2009-01-19 | 2012-08-21 | Qimonda Ag | Data exchange in resistance changing memory for improved endurance |
US20100199020A1 (en) * | 2009-02-04 | 2010-08-05 | Silicon Storage Technology, Inc. | Non-volatile memory subsystem and a memory controller therefor |
KR20100091544A (ko) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그 마모도 관리 방법 |
JP5185156B2 (ja) * | 2009-02-24 | 2013-04-17 | 株式会社東芝 | メモリコントローラおよび半導体記憶装置 |
US8239614B2 (en) | 2009-03-04 | 2012-08-07 | Micron Technology, Inc. | Memory super block allocation |
US8090899B1 (en) | 2009-03-04 | 2012-01-03 | Western Digital Technologies, Inc. | Solid state drive power safe wear-leveling |
KR101038991B1 (ko) * | 2009-03-10 | 2011-06-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 영역의 균등한 사용을 위한 반도체 스토리지 시스템및 그 제어 방법 |
KR101586047B1 (ko) * | 2009-03-25 | 2016-01-18 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
US8090905B2 (en) * | 2009-03-27 | 2012-01-03 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for converting logical block address de-allocation information in a first format to a second format |
US8671258B2 (en) | 2009-03-27 | 2014-03-11 | Lsi Corporation | Storage system logical block address de-allocation management |
US8230159B2 (en) | 2009-03-27 | 2012-07-24 | Lsi Corporation | System, method, and computer program product for sending logical block address de-allocation status information |
US20100250830A1 (en) * | 2009-03-27 | 2010-09-30 | Ross John Stenfort | System, method, and computer program product for hardening data stored on a solid state disk |
US8176295B2 (en) | 2009-04-20 | 2012-05-08 | Imation Corp. | Logical-to-physical address translation for a removable data storage device |
US8065469B2 (en) | 2009-04-20 | 2011-11-22 | Imation Corp. | Static wear leveling |
US8250282B2 (en) * | 2009-05-14 | 2012-08-21 | Micron Technology, Inc. | PCM memories for storage bus interfaces |
US20100318719A1 (en) * | 2009-06-12 | 2010-12-16 | Micron Technology, Inc. | Methods, memory controllers and devices for wear leveling a memory |
US8639877B2 (en) * | 2009-06-30 | 2014-01-28 | International Business Machines Corporation | Wear leveling of solid state disks distributed in a plurality of redundant array of independent disk ranks |
US20110004720A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Chun-Ying Chiang | Method and apparatus for performing full range random writing on a non-volatile memory |
US20110004718A1 (en) | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Ross John Stenfort | System, method, and computer program product for ordering a plurality of write commands associated with a storage device |
US9792074B2 (en) * | 2009-07-06 | 2017-10-17 | Seagate Technology Llc | System, method, and computer program product for interfacing one or more storage devices with a plurality of bridge chips |
US8140712B2 (en) * | 2009-07-17 | 2012-03-20 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for inserting a gap in information sent from a drive to a host device |
US8516166B2 (en) * | 2009-07-20 | 2013-08-20 | Lsi Corporation | System, method, and computer program product for reducing a rate of data transfer to at least a portion of memory |
US8601202B1 (en) * | 2009-08-26 | 2013-12-03 | Micron Technology, Inc. | Full chip wear leveling in memory device |
US8036016B2 (en) * | 2009-09-01 | 2011-10-11 | Micron Technology, Inc. | Maintenance process to enhance memory endurance |
US8234520B2 (en) | 2009-09-16 | 2012-07-31 | International Business Machines Corporation | Wear leveling of solid state disks based on usage information of data and parity received from a raid controller |
US8169833B2 (en) * | 2009-10-01 | 2012-05-01 | Micron Technology, Inc. | Partitioning process to improve memory cell retention |
US8108737B2 (en) * | 2009-10-05 | 2012-01-31 | Sandforce, Inc. | System, method, and computer program product for sending failure information from a serial ATA (SATA) solid state drive (SSD) to a host device |
US8526605B2 (en) * | 2009-10-09 | 2013-09-03 | Seagate Technology Llc | Data encryption to provide data security and memory cell bit wear leveling |
EP2317443A1 (en) | 2009-10-29 | 2011-05-04 | Incard SA | Method for executing data updates in an IC Card |
US8013762B2 (en) * | 2009-11-03 | 2011-09-06 | Seagate Technology Llc | Evaluating alternative encoding solutions during data compression |
US8560770B2 (en) * | 2009-11-13 | 2013-10-15 | Seagate Technology Llc | Non-volatile write cache for a data storage system |
US8495281B2 (en) * | 2009-12-04 | 2013-07-23 | International Business Machines Corporation | Intra-block memory wear leveling |
US8285946B2 (en) | 2009-12-15 | 2012-10-09 | International Business Machines Corporation | Reducing access contention in flash-based memory systems |
TWI484334B (zh) * | 2009-12-24 | 2015-05-11 | Univ Nat Taiwan | 非揮發記憶體的區域式管理方法 |
US8443263B2 (en) | 2009-12-30 | 2013-05-14 | Sandisk Technologies Inc. | Method and controller for performing a copy-back operation |
US8595411B2 (en) * | 2009-12-30 | 2013-11-26 | Sandisk Technologies Inc. | Method and controller for performing a sequence of commands |
TWI447735B (zh) * | 2010-02-05 | 2014-08-01 | Phison Electronics Corp | 記憶體管理與寫入方法及其可複寫式非揮發性記憶體控制器與儲存系統 |
JP2011164994A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Toshiba Corp | メモリシステム |
US8856488B2 (en) | 2010-02-11 | 2014-10-07 | Memory Technologies Llc | Method for utilizing a memory interface to control partitioning of a memory module |
JP5130313B2 (ja) * | 2010-04-02 | 2013-01-30 | 株式会社日立製作所 | 管理システム及び計算機システムの管理方法 |
CN102375693A (zh) * | 2010-08-16 | 2012-03-14 | 成都市华为赛门铁克科技有限公司 | 损耗均衡处理方法和系统以及固态硬盘 |
CN102446071B (zh) * | 2010-09-30 | 2014-10-08 | 环鸿科技股份有限公司 | 取得一存储器状态资讯的接取方法、电子装置及程序产品 |
WO2012065112A2 (en) * | 2010-11-12 | 2012-05-18 | Apple Inc. | Apparatus and methods for recordation of device history across multiple software emulations |
TWI473105B (zh) * | 2011-01-18 | 2015-02-11 | Macronix Int Co Ltd | 具有錯誤自動檢查與更正位元之三維記憶體結構 |
US9286204B2 (en) | 2011-01-31 | 2016-03-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Memory controller |
WO2012106362A2 (en) | 2011-01-31 | 2012-08-09 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing eviction of data |
CN102081576B (zh) * | 2011-03-01 | 2012-07-11 | 华中科技大学 | 一种闪存的磨损平衡方法 |
US8732538B2 (en) | 2011-03-10 | 2014-05-20 | Icform, Inc. | Programmable data storage management |
JP2012203443A (ja) | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Toshiba Corp | メモリシステムおよびメモリシステムの制御方法 |
US8495386B2 (en) | 2011-04-05 | 2013-07-23 | Mcafee, Inc. | Encryption of memory device with wear leveling |
US8762625B2 (en) * | 2011-04-14 | 2014-06-24 | Apple Inc. | Stochastic block allocation for improved wear leveling |
US8862902B2 (en) * | 2011-04-29 | 2014-10-14 | Seagate Technology Llc | Cascaded data encryption dependent on attributes of physical memory |
US8806171B2 (en) * | 2011-05-24 | 2014-08-12 | Georgia Tech Research Corporation | Systems and methods providing wear leveling using dynamic randomization for non-volatile memory |
US20120303878A1 (en) * | 2011-05-26 | 2012-11-29 | International Business Machines Corporation | Method and Controller for Identifying a Unit in a Solid State Memory Device for Writing Data to |
US9514838B2 (en) * | 2011-05-31 | 2016-12-06 | Micron Technology, Inc. | Apparatus including memory system controllers and related methods for memory management using block tables |
KR20120136197A (ko) * | 2011-06-08 | 2012-12-18 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리에 대한 웨어 레벨링 방법 |
CN102841852B (zh) | 2011-06-24 | 2015-06-17 | 华为技术有限公司 | 磨损均衡方法、存储装置及信息系统 |
US8626991B1 (en) * | 2011-06-30 | 2014-01-07 | Emc Corporation | Multi-LUN SSD optimization system and method |
JP5673396B2 (ja) * | 2011-07-04 | 2015-02-18 | 富士通株式会社 | 情報処理システム、情報処理プログラム、情報処理方法 |
CN102955743A (zh) * | 2011-08-25 | 2013-03-06 | 建兴电子科技股份有限公司 | 固态储存装置及其损耗平均控制方法 |
CN102439572B (zh) * | 2011-10-27 | 2014-04-02 | 华为技术有限公司 | 控制缓存映射的方法及缓存系统 |
CN103959258B (zh) * | 2011-12-05 | 2017-03-29 | 英特尔公司 | 背景重排序——具有有限开销的预防性的磨损控制机制 |
US9208070B2 (en) * | 2011-12-20 | 2015-12-08 | Sandisk Technologies Inc. | Wear leveling of multiple memory devices |
US9767032B2 (en) | 2012-01-12 | 2017-09-19 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for cache endurance |
JP5952036B2 (ja) * | 2012-03-13 | 2016-07-13 | 株式会社メガチップス | 半導体メモリのリユース処理装置、及び半導体メモリ |
JP5956791B2 (ja) * | 2012-03-13 | 2016-07-27 | 株式会社メガチップス | 半導体メモリのリユース処理装置、及び半導体メモリ |
US11024352B2 (en) | 2012-04-10 | 2021-06-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system for access concentration decrease management and access concentration decrease method |
US8750045B2 (en) | 2012-07-27 | 2014-06-10 | Sandisk Technologies Inc. | Experience count dependent program algorithm for flash memory |
TWI509615B (zh) * | 2012-08-03 | 2015-11-21 | Phison Electronics Corp | 資料儲存方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置 |
KR20140031688A (ko) * | 2012-09-05 | 2014-03-13 | 삼성전자주식회사 | 스토리지 시스템을 위한 마모 관리 장치 및 방법 |
US20140129758A1 (en) * | 2012-11-06 | 2014-05-08 | Spansion Llc | Wear leveling in flash memory devices with trim commands |
US8954694B2 (en) | 2012-11-15 | 2015-02-10 | Western Digital Technologies, Inc. | Methods, data storage devices and systems for fragmented firmware table rebuild in a solid state drive |
US9430339B1 (en) | 2012-12-27 | 2016-08-30 | Marvell International Ltd. | Method and apparatus for using wear-out blocks in nonvolatile memory |
CN103914401B (zh) * | 2013-01-06 | 2017-05-10 | 北京忆恒创源科技有限公司 | 具有多处理器的存储设备 |
CN103914409B (zh) * | 2013-01-06 | 2017-05-10 | 北京忆恒创源科技有限公司 | 用于具有多处理器的存储设备的方法 |
US10445229B1 (en) | 2013-01-28 | 2019-10-15 | Radian Memory Systems, Inc. | Memory controller with at least one address segment defined for which data is striped across flash memory dies, with a common address offset being used to obtain physical addresses for the data in each of the dies |
US11249652B1 (en) | 2013-01-28 | 2022-02-15 | Radian Memory Systems, Inc. | Maintenance of nonvolatile memory on host selected namespaces by a common memory controller |
US9465732B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-10-11 | Sandisk Technologies Llc | Binning of blocks for dynamic linking |
US9195590B2 (en) * | 2013-08-29 | 2015-11-24 | Micron Technology, Inc. | Sub-sector wear leveling in memories |
US10019352B2 (en) | 2013-10-18 | 2018-07-10 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for adaptive reserve storage |
GB201322075D0 (en) | 2013-12-13 | 2014-01-29 | Ibm | Device for selecting a level for at least one read voltage |
KR20150095360A (ko) * | 2014-02-13 | 2015-08-21 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 저항성 메모리 장치 및 동작 방법 |
TWI548991B (zh) * | 2014-02-14 | 2016-09-11 | 群聯電子股份有限公司 | 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置 |
US9230689B2 (en) | 2014-03-17 | 2016-01-05 | Sandisk Technologies Inc. | Finding read disturbs on non-volatile memories |
US10068639B2 (en) | 2014-04-29 | 2018-09-04 | International Business Machines Corporation | Out-of-place presetting based on indirection table |
US9471428B2 (en) | 2014-05-06 | 2016-10-18 | International Business Machines Corporation | Using spare capacity in solid state drives |
US20150339223A1 (en) * | 2014-05-22 | 2015-11-26 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system and method |
US9471451B2 (en) | 2014-06-18 | 2016-10-18 | International Business Machines Corporation | Implementing enhanced wear leveling in 3D flash memories |
US10261899B2 (en) * | 2014-09-03 | 2019-04-16 | Infineon Technologies Ag | Method, device and system for data processing using dedicated mapping between logical and physical addresses |
US9542118B1 (en) | 2014-09-09 | 2017-01-10 | Radian Memory Systems, Inc. | Expositive flash memory control |
US9875039B2 (en) | 2014-09-30 | 2018-01-23 | Sandisk Technologies Llc | Method and apparatus for wear-leveling non-volatile memory |
US9563373B2 (en) | 2014-10-21 | 2017-02-07 | International Business Machines Corporation | Detecting error count deviations for non-volatile memory blocks for advanced non-volatile memory block management |
US10365859B2 (en) * | 2014-10-21 | 2019-07-30 | International Business Machines Corporation | Storage array management employing a merged background management process |
US9830087B2 (en) * | 2014-11-13 | 2017-11-28 | Micron Technology, Inc. | Memory wear leveling |
CN107077883B (zh) | 2014-11-25 | 2021-04-27 | 三星电子株式会社 | 基于概率信息检测半导体存储器的被最频繁存取的地址的方法 |
US9990279B2 (en) | 2014-12-23 | 2018-06-05 | International Business Machines Corporation | Page-level health equalization |
US10339048B2 (en) | 2014-12-23 | 2019-07-02 | International Business Machines Corporation | Endurance enhancement scheme using memory re-evaluation |
US10055267B2 (en) * | 2015-03-04 | 2018-08-21 | Sandisk Technologies Llc | Block management scheme to handle cluster failures in non-volatile memory |
US10013177B2 (en) * | 2015-04-20 | 2018-07-03 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Low write amplification in solid state drive |
US9760437B2 (en) | 2015-07-01 | 2017-09-12 | International Business Machines Corporation | Error correction based on thermal profile of flash memory device |
KR102513491B1 (ko) * | 2015-07-15 | 2023-03-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법 |
US9942324B2 (en) * | 2015-08-05 | 2018-04-10 | Futurewei Technologies, Inc. | Rebalancing and elastic storage scheme with elastic named distributed circular buffers |
WO2017058184A1 (en) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Remapping operations |
US9971685B2 (en) * | 2016-04-01 | 2018-05-15 | Intel Corporation | Wear leveling based on a swapping operation between sets of physical block addresses of a non-volatile memory |
US10031845B2 (en) * | 2016-04-01 | 2018-07-24 | Intel Corporation | Method and apparatus for processing sequential writes to a block group of physical blocks in a memory device |
US9842059B2 (en) * | 2016-04-14 | 2017-12-12 | Western Digital Technologies, Inc. | Wear leveling in storage devices |
US10121555B2 (en) * | 2016-05-26 | 2018-11-06 | Advanced Micro Devices, Inc. | Wear-limiting non-volatile memory |
US10248571B2 (en) * | 2016-08-11 | 2019-04-02 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Saving position of a wear level rotation |
US11556462B2 (en) * | 2016-08-24 | 2023-01-17 | Futurewei Technologies, Inc. | Wear-leveling method for cross-point memory for multiple data temperature zones |
US10261876B2 (en) * | 2016-11-08 | 2019-04-16 | Micron Technology, Inc. | Memory management |
US10430085B2 (en) | 2016-11-08 | 2019-10-01 | Micron Technology, Inc. | Memory operations on data |
US10248333B1 (en) * | 2017-02-07 | 2019-04-02 | Crossbar, Inc. | Write distribution techniques for two-terminal memory wear leveling |
US10409714B1 (en) | 2017-02-09 | 2019-09-10 | Crossbar, Inc. | Logical to physical translation for two-terminal memory |
US10019332B1 (en) * | 2017-03-10 | 2018-07-10 | Western Digital Technologies, Inc. | Non-volatile memory with program failure recovery |
US10198195B1 (en) * | 2017-08-04 | 2019-02-05 | Micron Technology, Inc. | Wear leveling |
US10459662B1 (en) | 2017-09-27 | 2019-10-29 | Amazon Technologies, Inc. | Write failure handling for a memory controller to non-volatile memory |
US10642727B1 (en) | 2017-09-27 | 2020-05-05 | Amazon Technologies, Inc. | Managing migration events performed by a memory controller |
US20190129627A1 (en) * | 2017-10-31 | 2019-05-02 | EMC IP Holding Company LLC | Method and system for wear-leveling using a multi-gap progress field |
US10606743B2 (en) * | 2017-12-05 | 2020-03-31 | Micron Technology, Inc. | Data movement operations in non-volatile memory |
US11048644B1 (en) | 2017-12-11 | 2021-06-29 | Amazon Technologies, Inc. | Memory mapping in an access device for non-volatile memory |
CN107918530A (zh) * | 2018-01-12 | 2018-04-17 | 江苏华存电子科技有限公司 | 一种非易失性存储器的磨损均衡方法和装置 |
US10635327B2 (en) * | 2018-01-31 | 2020-04-28 | Western Digital Technologies, Inc. | Data availability during memory inaccessibility |
US10585795B2 (en) * | 2018-05-31 | 2020-03-10 | Micron Technology, Inc. | Data relocation in memory having two portions of data |
CN108920386B (zh) * | 2018-07-20 | 2020-06-26 | 中兴通讯股份有限公司 | 面向非易失性内存的磨损均衡及访问方法、设备和存储介质 |
US10761739B2 (en) * | 2018-08-23 | 2020-09-01 | Micron Technology, Inc. | Multi-level wear leveling for non-volatile memory |
US11537307B2 (en) * | 2018-08-23 | 2022-12-27 | Micron Technology, Inc. | Hybrid wear leveling for in-place data replacement media |
KR102545189B1 (ko) | 2018-09-07 | 2023-06-19 | 삼성전자주식회사 | 스토리지 장치, 스토리지 시스템 및 스토리지 장치의 동작 방법 |
US10902929B1 (en) * | 2019-08-29 | 2021-01-26 | Micron Technology, Inc. | Zone swapping for wear leveling memory |
WO2021113420A1 (en) * | 2019-12-03 | 2021-06-10 | Burlywood, Inc. | Adaptive wear leveling using multiple partitions |
CN111639041B (zh) * | 2020-05-29 | 2022-04-08 | 深圳宏芯宇电子股份有限公司 | 存储器控制方法、存储器存储装置及存储器控制器 |
US11429543B2 (en) * | 2020-10-22 | 2022-08-30 | Micron Technology, Inc. | Managed NAND flash memory region control against endurance hacking |
CN112558878B (zh) * | 2020-12-16 | 2023-07-04 | 北京华弘集成电路设计有限责任公司 | 一种基于不同类型存储机制的空间调换方法 |
US11842062B2 (en) | 2022-02-09 | 2023-12-12 | Western Digital Technologies, Inc. | Method of handling irregular MetaBlock wear leveling and UGSD boot time improvement |
Family Cites Families (119)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4093985A (en) * | 1976-11-05 | 1978-06-06 | North Electric Company | Memory sparing arrangement |
DE2840305C3 (de) | 1978-09-15 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum Programmieren von wiederholt beschreibbaren Festwertspeichern |
JPS5580164A (en) * | 1978-12-13 | 1980-06-17 | Fujitsu Ltd | Main memory constitution control system |
JPS5764383A (en) * | 1980-10-03 | 1982-04-19 | Toshiba Corp | Address converting method and its device |
DE3123444A1 (de) * | 1981-06-12 | 1983-01-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und anordnung zum nichtfluechtigen speichern des zaehlerstandes einer elektronischen zaehlschaltung |
DE3123654A1 (de) * | 1981-06-15 | 1983-01-20 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Schaltungsanordnung zur speicherung eines mehrstelligen dekadischen zaehlwerts einer von einem fahrzeug zurueckgelegten wegstrecke |
US4430727A (en) * | 1981-11-10 | 1984-02-07 | International Business Machines Corp. | Storage element reconfiguration |
DE3200872A1 (de) | 1982-01-14 | 1983-07-21 | Sartorius GmbH, 3400 Göttingen | Elektronische waage |
US4530054A (en) * | 1982-03-03 | 1985-07-16 | Sperry Corporation | Processor-addressable timestamp for indicating oldest written-to cache entry not copied back to bulk memory |
JPS58189890A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Hitachi Ltd | 階層記憶装置 |
JPS58215795A (ja) | 1982-06-08 | 1983-12-15 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ装置 |
JPS58215794A (ja) | 1982-06-08 | 1983-12-15 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ装置 |
NL8202365A (nl) * | 1982-06-11 | 1984-01-02 | Philips Nv | Serie-parallel-serie schuifregistergeheugen, hetwelk redundante parallelgeschakelde opslagregisters bevat, en afbeeldtoestel, voorzien van een zodanig georganiseerd beeldgeheugen. |
JPS5945695A (ja) | 1982-09-07 | 1984-03-14 | Fujitsu Ltd | Icメモリ |
JPS59162695A (ja) | 1983-03-07 | 1984-09-13 | Nec Corp | 記憶装置 |
JPS6049218A (ja) * | 1983-08-30 | 1985-03-18 | Nippon Denso Co Ltd | 車両用走行距離計 |
US4612640A (en) * | 1984-02-21 | 1986-09-16 | Seeq Technology, Inc. | Error checking and correction circuitry for use with an electrically-programmable and electrically-erasable memory array |
JPS60179857A (ja) | 1984-02-28 | 1985-09-13 | Fujitsu Ltd | キヤツシユ装置の制御方式 |
GB2171543B (en) * | 1985-02-27 | 1988-04-20 | Hughes Microelectronics Ltd | Counting circuit which provides for extended counter life |
US4718041A (en) * | 1986-01-09 | 1988-01-05 | Texas Instruments Incorporated | EEPROM memory having extended life |
US4953073A (en) * | 1986-02-06 | 1990-08-28 | Mips Computer Systems, Inc. | Cup chip having tag comparator and address translation unit on chip and connected to off-chip cache and main memories |
JPH07109717B2 (ja) | 1986-05-31 | 1995-11-22 | キヤノン株式会社 | メモリ書き込み制御方法 |
JP2685173B2 (ja) | 1986-05-31 | 1997-12-03 | キヤノン株式会社 | メモリ書き込み制御方法 |
JPS63183700A (ja) | 1987-01-26 | 1988-07-29 | Mitsubishi Electric Corp | Eepromアクセス方法 |
US4899272A (en) * | 1987-10-23 | 1990-02-06 | Chips & Technologies, Inc. | Addressing multiple types of memory devices |
US4924375A (en) | 1987-10-23 | 1990-05-08 | Chips And Technologies, Inc. | Page interleaved memory access |
JPH0778997B2 (ja) * | 1987-10-30 | 1995-08-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
US4803707A (en) * | 1987-12-21 | 1989-02-07 | Ncr Corporation | Nonvolatile electronic odometer with excess write cycle protection |
JPH0793823B2 (ja) * | 1988-02-01 | 1995-10-09 | 株式会社日立製作所 | 電圧形インバータのpwm制御装置 |
US5053990A (en) * | 1988-02-17 | 1991-10-01 | Intel Corporation | Program/erase selection for flash memory |
JPH01235075A (ja) | 1988-03-14 | 1989-09-20 | Fuji Xerox Co Ltd | ディスクメモリ制御装置 |
US4922456A (en) * | 1988-04-29 | 1990-05-01 | Scientific-Atlanta, Inc. | Method of reducing wearout in a non-volatile memory with double buffer |
US5043940A (en) * | 1988-06-08 | 1991-08-27 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM memory systems having multistate storage cells |
US5168465A (en) * | 1988-06-08 | 1992-12-01 | Eliyahou Harari | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
US5095344A (en) | 1988-06-08 | 1992-03-10 | Eliyahou Harari | Highly compact eprom and flash eeprom devices |
US5268870A (en) * | 1988-06-08 | 1993-12-07 | Eliyahou Harari | Flash EEPROM system and intelligent programming and erasing methods therefor |
JP2685825B2 (ja) * | 1988-08-12 | 1997-12-03 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
JPH0283892A (ja) * | 1988-09-20 | 1990-03-23 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US5193071A (en) * | 1988-12-22 | 1993-03-09 | Digital Equipment Corporation | Memory apparatus for multiple processor systems |
JPH02189790A (ja) | 1989-01-18 | 1990-07-25 | Mitsubishi Electric Corp | ダイナミック形半導体記憶装置 |
US4947410A (en) * | 1989-02-23 | 1990-08-07 | General Motors Corporation | Method and apparatus for counting with a nonvolatile memory |
DE69033438T2 (de) * | 1989-04-13 | 2000-07-06 | Sandisk Corp., Santa Clara | Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze |
US5163021A (en) * | 1989-04-13 | 1992-11-10 | Sundisk Corporation | Multi-state EEprom read and write circuits and techniques |
US5172338B1 (en) * | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
WO1994027382A1 (en) | 1993-05-11 | 1994-11-24 | Norand Corporation | Premises, peripheral and vehicular local area networking |
JPH0373496A (ja) | 1989-05-16 | 1991-03-28 | Seiko Epson Corp | Eeprom書込装置 |
JPH0692898B2 (ja) * | 1989-05-31 | 1994-11-16 | 日本精機株式会社 | 電子式オドメータ |
FR2647941B1 (fr) * | 1989-06-06 | 1991-08-30 | Gemplus Card Int | Procede d'effacement de points memoire, dispositif destine a sa mise en oeuvre, et son utilisation dans un dispositif a memoire non alimente |
JPH0325798A (ja) | 1989-06-23 | 1991-02-04 | Ricoh Co Ltd | Eepromを使用した記憶装置 |
JPH0330034A (ja) | 1989-06-28 | 1991-02-08 | Hitachi Ltd | 光デイスクフアイル管理方法 |
JPH0748320B2 (ja) * | 1989-07-24 | 1995-05-24 | セイコー電子工業株式会社 | 半導体不揮発性メモリ |
US5065364A (en) * | 1989-09-15 | 1991-11-12 | Intel Corporation | Apparatus for providing block erasing in a flash EPROM |
US5200959A (en) | 1989-10-17 | 1993-04-06 | Sundisk Corporation | Device and method for defect handling in semi-conductor memory |
US5134589A (en) * | 1989-10-30 | 1992-07-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device having a flash write function |
JPH03283094A (ja) | 1990-03-29 | 1991-12-13 | Nec Corp | 半導体メモリ |
JPH0498342A (ja) * | 1990-08-09 | 1992-03-31 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPH04123243A (ja) | 1990-09-14 | 1992-04-23 | Toshiba Corp | データ書込装置 |
US5303198A (en) * | 1990-09-28 | 1994-04-12 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of recording data in memory card having EEPROM and memory card system using the same |
US5222193A (en) * | 1990-12-26 | 1993-06-22 | Intel Corporation | Training system for neural networks and the like |
US5222109A (en) | 1990-12-28 | 1993-06-22 | Ibm Corporation | Endurance management for solid state files |
GB2251324B (en) | 1990-12-31 | 1995-05-10 | Intel Corp | File structure for a non-volatile semiconductor memory |
GB2251323B (en) | 1990-12-31 | 1994-10-12 | Intel Corp | Disk emulation for a non-volatile semiconductor memory |
JP3137993B2 (ja) | 1991-01-16 | 2001-02-26 | 富士通株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US5272669A (en) * | 1991-02-20 | 1993-12-21 | Sundisk Corporation | Method and structure for programming floating gate memory cells |
US5295255A (en) * | 1991-02-22 | 1994-03-15 | Electronic Professional Services, Inc. | Method and apparatus for programming a solid state processor with overleaved array memory modules |
US5270979A (en) * | 1991-03-15 | 1993-12-14 | Sundisk Corporation | Method for optimum erasing of EEPROM |
US5663901A (en) * | 1991-04-11 | 1997-09-02 | Sandisk Corporation | Computer memory cards using flash EEPROM integrated circuit chips and memory-controller systems |
FR2675287B1 (fr) | 1991-04-15 | 1993-06-18 | Bull Sa | Circuit coupleur et son utilisation dans une carte et procede. |
DE4215063C2 (de) | 1991-05-10 | 1999-11-25 | Intel Corp | Einrichtung und Verfahren zum Seitenwechsel bei einem nicht-flüchtigen Speicher |
JP2582487B2 (ja) | 1991-07-12 | 1997-02-19 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 半導体メモリを用いた外部記憶システム及びその制御方法 |
JP2549034B2 (ja) | 1991-07-22 | 1996-10-30 | 株式会社メルコ | 記憶装置 |
US5430859A (en) * | 1991-07-26 | 1995-07-04 | Sundisk Corporation | Solid state memory system including plural memory chips and a serialized bus |
US5245572A (en) * | 1991-07-30 | 1993-09-14 | Intel Corporation | Floating gate nonvolatile memory with reading while writing capability |
US6230233B1 (en) * | 1991-09-13 | 2001-05-08 | Sandisk Corporation | Wear leveling techniques for flash EEPROM systems |
US5263003A (en) * | 1991-11-12 | 1993-11-16 | Allen-Bradley Company, Inc. | Flash memory circuit and method of operation |
JP3231832B2 (ja) | 1991-11-26 | 2001-11-26 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリを記憶媒体とした半導体ディスク |
JPH05151097A (ja) | 1991-11-28 | 1993-06-18 | Fujitsu Ltd | 書換回数制限型メモリのデータ管理方式 |
JP3122201B2 (ja) | 1991-11-30 | 2001-01-09 | 株式会社東芝 | メモリカード装置 |
JPH05176564A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-13 | Aisin Seiki Co Ltd | 放射圧を利用したアクチュエータ |
US5267218A (en) * | 1992-03-31 | 1993-11-30 | Intel Corporation | Nonvolatile memory card with a single power supply input |
US5341489A (en) * | 1992-04-14 | 1994-08-23 | Eastman Kodak Company | Memory card with programmable interleaving |
KR0121800B1 (ko) | 1992-05-08 | 1997-11-22 | 사또오 후미오 | 메모리 카드장치 |
US5280447A (en) * | 1992-06-19 | 1994-01-18 | Intel Corporation | Floating gate nonvolatile memory with configurable erasure blocks |
JP3105092B2 (ja) * | 1992-10-06 | 2000-10-30 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ装置 |
JP3177015B2 (ja) * | 1992-10-14 | 2001-06-18 | 株式会社東芝 | 半導体メモリ装置の制御方法 |
EP0680634B1 (en) * | 1993-01-21 | 1997-05-14 | Apple Computer, Inc. | Apparatus and method for backing up data from networked computer storage devices |
US5388083A (en) * | 1993-03-26 | 1995-02-07 | Cirrus Logic, Inc. | Flash memory mass storage architecture |
DE69321245T2 (de) * | 1993-12-29 | 1999-04-29 | Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza, Mailand/Milano | Integrierte Programmierschaltung für eine elektrisch programmierbare Halbleiterspeicheranordnung mit Redundanz |
US5726937A (en) * | 1994-01-31 | 1998-03-10 | Norand Corporation | Flash memory system having memory cache |
JP3507132B2 (ja) * | 1994-06-29 | 2004-03-15 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリを用いた記憶装置およびその記憶制御方法 |
JP3219699B2 (ja) * | 1996-09-17 | 2001-10-15 | 三洋電機株式会社 | 半導体メモリ装置 |
GB2317721B (en) * | 1996-09-30 | 2001-09-12 | Nokia Mobile Phones Ltd | Memory device |
JP3130258B2 (ja) * | 1996-10-25 | 2001-01-31 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | ディスク装置及びデータ・リアサイン方法 |
US5890192A (en) * | 1996-11-05 | 1999-03-30 | Sandisk Corporation | Concurrent write of multiple chunks of data into multiple subarrays of flash EEPROM |
US6034897A (en) * | 1999-04-01 | 2000-03-07 | Lexar Media, Inc. | Space management for managing high capacity nonvolatile memory |
DE19718479C1 (de) * | 1997-04-30 | 1998-09-24 | Siemens Ag | Chipkarte mit Speicherzugriffsmaximierung und Protokollierung |
US5930167A (en) * | 1997-07-30 | 1999-07-27 | Sandisk Corporation | Multi-state non-volatile flash memory capable of being its own two state write cache |
JP4079506B2 (ja) * | 1997-08-08 | 2008-04-23 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリシステムの制御方法 |
US6000006A (en) * | 1997-08-25 | 1999-12-07 | Bit Microsystems, Inc. | Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage |
US6085102A (en) * | 1997-08-29 | 2000-07-04 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for providing coverage in a selective messaging system |
JP3544859B2 (ja) * | 1998-05-11 | 2004-07-21 | 富士通株式会社 | 不揮発性半導体メモリを使用した2次記憶装置 |
FR2787601A1 (fr) * | 1998-12-22 | 2000-06-23 | Gemplus Card Int | Systeme de memorisation comprenant des moyens de gestion d'une memoire avec anti-usure et procede de gestion anti-usure d'une memoire |
JP2000285688A (ja) * | 1999-04-01 | 2000-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2001067258A (ja) * | 1999-08-25 | 2001-03-16 | Mitsubishi Electric Corp | フラッシュメモリ内蔵半導体装置及びフラッシュメモリアドレス変換方法 |
US6141251A (en) * | 2000-01-28 | 2000-10-31 | Silicon Storage Technology, Inc. | Non-volatile memory array having an index used in programming and erasing |
US6535851B1 (en) * | 2000-03-24 | 2003-03-18 | Speechworks, International, Inc. | Segmentation approach for speech recognition systems |
KR100644602B1 (ko) * | 2000-10-11 | 2006-11-10 | 삼성전자주식회사 | 플래시메모리를 위한 재사상 제어방법 및 그에 따른플래시 메모리의 구조 |
US6763424B2 (en) * | 2001-01-19 | 2004-07-13 | Sandisk Corporation | Partial block data programming and reading operations in a non-volatile memory |
US6676281B2 (en) * | 2001-05-23 | 2004-01-13 | Sea Gull Lighting Products, Inc. | Rail lighting system |
US6675281B1 (en) * | 2002-01-22 | 2004-01-06 | Icreate Technologies Corporation | Distributed mapping scheme for mass storage system |
US6985992B1 (en) * | 2002-10-28 | 2006-01-10 | Sandisk Corporation | Wear-leveling in non-volatile storage systems |
US7103732B1 (en) * | 2002-10-28 | 2006-09-05 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for managing an erase count block |
US7039788B1 (en) * | 2002-10-28 | 2006-05-02 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for splitting a logical block |
US6973531B1 (en) * | 2002-10-28 | 2005-12-06 | Sandisk Corporation | Tracking the most frequently erased blocks in non-volatile memory systems |
US7096313B1 (en) * | 2002-10-28 | 2006-08-22 | Sandisk Corporation | Tracking the least frequently erased blocks in non-volatile memory systems |
US6831865B2 (en) * | 2002-10-28 | 2004-12-14 | Sandisk Corporation | Maintaining erase counts in non-volatile storage systems |
US7035967B2 (en) * | 2002-10-28 | 2006-04-25 | Sandisk Corporation | Maintaining an average erase count in a non-volatile storage system |
US7254668B1 (en) * | 2002-10-28 | 2007-08-07 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for grouping pages within a block |
US7234036B1 (en) * | 2002-10-28 | 2007-06-19 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for resolving physical blocks associated with a common logical block |
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