JP2007505460A - 極紫外放射又は軟x線放射を生成する方法及び装置 - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 65
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 132
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 132
- 238000001459 lithography Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 10
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 36
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 23
- 239000010408 film Substances 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 9
- 229910001338 liquidmetal Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000001900 extreme ultraviolet lithography Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000000116 mitigating effect Effects 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000005058 metal casting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012768 molten material Substances 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000006833 reintegration Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- -1 tin Chemical class 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
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- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—Production of X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/003—Production of X-ray radiation generated from plasma the plasma being generated from a material in a liquid or gas state
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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Abstract
Description
10 装置
12 放電空間
14 第一電極
16 第二電極
18 領域
20 レーザビーム
22 プラズマ
24 金属溶融物
26 装置、容器
28 装置、ストリッパー
30 手段、加熱装置、冷却装置
34 鏡
36 金属スクリーン
38 構造
40 源地点
42 金属シート
44 スクリーン
46 回転軸
48 コンデンサーバンク
50 給電線
52 金属ピン
54 基板
56 別個の容器
Claims (26)
- 生成されるべき放射線を放射するプラズマを、放電空間中の少なくとも2つの電極間のガス状媒体内で点火するステップを含む、具体的には、極紫外放射リソグラフィ又は測定学のために、電動式放電を用いて極紫外放射又は軟X線放射を生成する方法であって、
前記ガス状媒体は、金属溶融物から生成され、該金属溶融物は、前記放電空間内の表面に塗布され、エネルギービーム、具体的には、レーザビームによって、少なくとも部分的に蒸発させられる、
方法。 - 前記金属溶融物は、前記2つの電極の表面及び/又は前記2つの電極の間に配置された金属スクリーンの表面に塗布される、請求項1に記載の方法。
- 前記電極及び/又は前記金属スクリーンは、動作期間中に回転して配置される、請求項2に記載の方法。
- 前記電極は、回転軸の周りで回転して配置される、請求項3に記載の方法。
- 前記電極及び/又は前記金属スクリーンは、回転中に、前記金属溶融物を収容するために、前記金属溶融物を包含する容器内にディップする、請求項3又は4に記載の方法。
- 前記電極は、前記金属溶融物を介して電力供給される、請求項5に記載の方法。
- 前記金属溶融物は、前記エネルギービームによって、前記2つの電極の前記表面の少なくとも1つの上で蒸発させられる、請求項2乃至6のうちいずれか1項に記載の方法。
- 前記金属溶融物は、前記エネルギービームによって、前記金属スクリーンの前記表面上で蒸発させられる、請求項2乃至6のうちいずれか1項に記載の方法。
- 前記エネルギービームは、ガラス繊維によって送られるレーザビームである、請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の方法。
- 前記エネルギービームは、前記金属溶融物の蒸発のために、前記表面上の円形リング又は多数の地点に亘って分配される、請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載の方法。
- 生成される前記放射は検出器によって検出され、その出力値は前記放射の生成を制御し或いはスイッチオフする、請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載の方法。
- 互いに離間して放電空間内に配置される少なくとも2つの電極を含み、前記放電空間は前記電極間のガス状媒体内のプラズマの点火を可能にする、具体的には、極紫外放射リソグラフィ又は計測学のために、電動式放電を用いて極紫外放射又は軟X線放射を生成するための装置であって、
金属溶融物を前記放電空間内の表面に塗布するための装置と、
前記塗布された金属溶融物を少なくとも部分的に蒸発させるエネルギービームを、前記表面上に向けることによって、前記ガス状媒体を生成するよう構成されたエネルギービーム装置とをさらに含む、
装置。 - 前記装置は、前記金属溶融物を前記電極の表面及び/又は前記電極間に配置された金属スクリーンの表面に塗布するために構成された、請求項12に記載の装置。
- 前記電極及び/又は金属スクリーンを動作期間中に回転して配置し得る、請求項13に記載の装置。
- 前記電極を回転軸の周りに回転して配置可能であり、前記回転軸は互いに傾斜している、請求項14に記載の装置。
- 前記電極及び/又は前記金属スクリーンは、回転中に、前記金属溶融物を収容するために、前記金属溶融物を包含する容器内にディップする、請求項14又は15に記載の装置。
- 前記電極は、前記金属溶融物を介して、電源に電気的に接続されている、請求項16に記載の装置。
- 前記2つの電極及び/又は前記金属スクリーンに塗布される前記金属溶融物の層厚を設定するための装置をさらに含む、請求項16に記載の装置。
- 前記層厚を設定するための装置は、それぞれの前記電極及び/又は前記金属スクリーンの外縁まで到達するストリッパーである、請求項18に記載の装置。
- 前記電極は、極めて熱伝導的な材料から成る少なくとも1つのコアを有する、請求項12乃至19のうちいずれか1項に記載の装置。
- 前記電極は、耐高温シースを具備する少なくとも1つの銅コアを有する、請求項12乃至19のうちいずれか1項に記載の装置。
- 金属蒸気が逃げ出すのを防止する手段をさらに含む、請求項12乃至21のうちいずれか1項に記載の装置。
- 前記手段は、薄壁の蜂の巣構造及び/又は電位を有する薄い金属シート及び/又は電位を有する針金ゲージによって形成される、請求項22に記載の装置。
- 前記エネルギービーム装置は、前記レーザビームを送るガラス繊維を含むレーザビーム装置である、請求項12乃至23のうちいずれか1項に記載の装置。
- 前記塗布された金属溶融物を蒸発するために前記エネルギービームを多数の地点に亘って或いは前記表面上の円形リングに亘って分配するための手段が設けられている、請求項12乃至24のうちいずれか1項に記載の装置。
- 金属スクリーンが前記電極間に配置された、請求項12に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10342239.0A DE10342239B4 (de) | 2003-09-11 | 2003-09-11 | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von Extrem-Ultraviolettstrahlung oder weicher Röntgenstrahlung |
PCT/IB2004/051651 WO2005025280A2 (en) | 2003-09-11 | 2004-09-01 | Method and apparatus for producing extreme ultraviolett radiation or soft x-ray radiation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007505460A true JP2007505460A (ja) | 2007-03-08 |
JP4667378B2 JP4667378B2 (ja) | 2011-04-13 |
Family
ID=34258623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006525971A Expired - Lifetime JP4667378B2 (ja) | 2003-09-11 | 2004-09-01 | 極紫外放射又は軟x線放射を生成する方法及び装置 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7427766B2 (ja) |
EP (1) | EP1665907B1 (ja) |
JP (1) | JP4667378B2 (ja) |
KR (1) | KR101058067B1 (ja) |
CN (1) | CN100420352C (ja) |
AT (1) | ATE356531T1 (ja) |
DE (2) | DE10342239B4 (ja) |
TW (1) | TWI382789B (ja) |
WO (1) | WO2005025280A2 (ja) |
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DE102015003418A1 (de) | 2014-04-15 | 2015-10-15 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Gerät und Verfahren zur Positionsausrichtung von Energiestrahlen |
US9232621B2 (en) | 2014-04-15 | 2016-01-05 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for energy beam position alignment |
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JP2016082015A (ja) * | 2014-10-15 | 2016-05-16 | ウシオ電機株式会社 | ホイルトラップ及びマスク検査用極端紫外光光源装置 |
JPWO2016121040A1 (ja) * | 2015-01-28 | 2017-11-09 | ギガフォトン株式会社 | ターゲット供給装置、その処理装置および処理方法 |
US10237961B2 (en) | 2015-01-28 | 2019-03-19 | Gigaphoton Inc. | Target supply device, processing device and processing method therefor |
US10285253B2 (en) | 2015-04-07 | 2019-05-07 | Ushio Denki Kabushiki Kaisha | Discharge electrodes and light source device |
JP2017212185A (ja) * | 2016-05-27 | 2017-11-30 | ウシオ電機株式会社 | 高温プラズマ原料供給装置および極端紫外光光源装置 |
WO2017203988A1 (ja) * | 2016-05-27 | 2017-11-30 | ウシオ電機株式会社 | 高温プラズマ原料供給装置および極端紫外光光源装置 |
WO2021229902A1 (ja) * | 2020-05-15 | 2021-11-18 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置 |
JP2021179579A (ja) * | 2020-05-15 | 2021-11-18 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置 |
JP7156331B2 (ja) | 2020-05-15 | 2022-10-19 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置 |
KR20220154224A (ko) * | 2020-05-15 | 2022-11-21 | 우시오덴키 가부시키가이샤 | 극단 자외광 광원 장치 |
KR102706654B1 (ko) | 2020-05-15 | 2024-09-13 | 우시오덴키 가부시키가이샤 | 극단 자외광 광원 장치 |
JP7503159B1 (ja) | 2023-02-03 | 2024-06-19 | レーザーテック株式会社 | 光源装置 |
WO2024161845A1 (ja) * | 2023-02-03 | 2024-08-08 | レーザーテック株式会社 | 光源装置 |
WO2024203834A1 (ja) * | 2023-03-31 | 2024-10-03 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置及び発光ユニット |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060119962A (ko) | 2006-11-24 |
TWI382789B (zh) | 2013-01-11 |
DE602004005225D1 (de) | 2007-04-19 |
DE10342239A1 (de) | 2005-06-16 |
DE10342239B4 (de) | 2018-06-07 |
US7427766B2 (en) | 2008-09-23 |
CN100420352C (zh) | 2008-09-17 |
EP1665907A2 (en) | 2006-06-07 |
ATE356531T1 (de) | 2007-03-15 |
WO2005025280A3 (en) | 2005-06-16 |
US20070090304A1 (en) | 2007-04-26 |
CN1849850A (zh) | 2006-10-18 |
TW200511900A (en) | 2005-03-16 |
WO2005025280A2 (en) | 2005-03-17 |
KR101058067B1 (ko) | 2011-08-24 |
JP4667378B2 (ja) | 2011-04-13 |
EP1665907B1 (en) | 2007-03-07 |
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