JP2011507206A - 特にeuv放射のためのガス放電光源 - Google Patents

特にeuv放射のためのガス放電光源 Download PDF

Info

Publication number
JP2011507206A
JP2011507206A JP2010539008A JP2010539008A JP2011507206A JP 2011507206 A JP2011507206 A JP 2011507206A JP 2010539008 A JP2010539008 A JP 2010539008A JP 2010539008 A JP2010539008 A JP 2010539008A JP 2011507206 A JP2011507206 A JP 2011507206A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
light source
gas discharge
discharge light
disk
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010539008A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5566302B2 (ja
Inventor
ヤーコブ ダブリュ ネッフ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV, Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2011507206A publication Critical patent/JP2011507206A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5566302B2 publication Critical patent/JP5566302B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G2/00Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
    • H05G2/001X-ray radiation generated from plasma
    • H05G2/003X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G2/00Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
    • H05G2/001X-ray radiation generated from plasma
    • H05G2/003X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas
    • H05G2/005X-ray radiation generated from plasma being produced from a liquid or gas containing a metal as principal radiation generating component

Abstract

本発明は、特にEUV放射及び/又は軟X線放射を生成するためのガス放電光源であって、少なくとも、2つの電極体110、120であって、そのうちの第1の電極体110が回転可能に装着された電極ディスク100を有する、2つの電極体を有するガス放電光源に関する。該光源は更に、該電極ディスクのための回転ドライブ130と、電極ディスク100の径方向外側の表面に目標物質140の液体膜を塗布するための装置と、該目標物質を蒸発させるために、放電領域240において、電極ディスク100の径方向外側の表面に、フォーカスされたレーザと、を有する。該光源は、該電極体の間に中間の空間260が形成され、該中間の空間は、放電領域240の外において、該放電領域における中間の空間よりも小さな、5mm未満の低減された幅を持つことを特徴とする。該光源は、生成される放射が、電極により遮断されることなく、大きな立体角に亘って、単純な態様で発せられることを可能とする。

Description

本発明は、特に極紫外線(EUV)放射及び/又は軟X線放射を生成するためのガス放電光源であって、少なくとも、2つの電極体であって、そのうちの第1の電極体が回転可能に装着された電極ディスクを有する、2つの電極体と、前記電極ディスクのための回転ドライブと、前記電極ディスクの径方向外側の表面に目標物質の液体膜を塗布するための装置と、前記液体膜から目標物質を蒸発させるために、放電領域において、前記電極ディスクの径方向外側の表面に、フォーカスされたレーザビームを発するためのレーザと、を有するガス放電光源に関する。
本発明によるガス放電光源が一部を形成するようなガス放電ベースの放射源の場合においては、パルス電流によって電極系にプラズマが生成され、該プラズマは、放電領域における目標物質を適切に選択した場合には、EUV放射又は軟X線放射の放射源となり得る。
ドイツ国特許出願公開DE10342239A1は、特殊な構造の電極、電流源及び冷却系を持ち、目標物質を供給するための特殊な手法を利用する、ガス放電光源を示している。図1は、該放射源の図式的な表現を断面図で示し、真空室2における、2つの回転可能に設置されたディスク状の電極1を示している。これら電極は、各々が回転を生成するためのドライブに接続されたそれぞれの回転軸のまわりの自動回転の場合に、例えば錫のような液体金属5を含む2つの槽にこれら電極が浸されるように配置される。該回転は、電極1の円周における薄い金属膜の形成を引き起こす。或る空間的な位置において、2つの電極1は、ガス放電6が点火される領域において、非常に小さな空間を形成する。該点火は、電極1の円周の表面にフォーカスされたカップルインされた(coupled-in)レーザパルス7を用いて引き起こされる。本図は更に、屑を減らすための装置8、電極1間の金属スクリーン9、及び真空室2の壁における外側スクリーン10を示している。加えて、かき取り器が示され、これにより電極上の液体膜の厚さが調節される。電流の供給はコンデンサバンク12及び金属槽への適切に絶縁された導電体13を介して行われる。
当該ガス放電光源を用いると、ガス放電にさらされる電極表面が絶えず再生成され、有利にも電極の基材は磨耗を被らない。更に、金属融液を通した電極ディスクの回転の結果、密接な熱的接触が存在し、ガス放電により加熱されたディスクが、該融液にエネルギーを効率的に放散させることを可能とする。その結果、回転する電極ディスクは、別途の冷却を必要としない。電極ディスクと金属融液との間の電気抵抗は非常に小さいため、該融液を介して電極ディスクへと非常に大きな電流が送られることができ、この非常に大きな電流は、放射を生成するために適切な非常に高温のプラズマを生成するために、ガス放電において必要なものである。このようにして、金属融液への1つ以上の導体を介して、安定的な態様で、電流が外部から電極へと送られることができる。
当該ガス放電光源においては、電極ディスクは好適には、少なくとも10−2Paの基本真空度に達する真空系に配置される。その結果、制御されない絶縁破壊に導くことなく、コンデンサバンクからの例えば2乃至10kVの高電圧が電極に印加され得る。絶縁破壊は、一方の電極ディスクの径方向外側の表面において、電極ディスク間の最も狭い位置において、フォーカスされたレーザパルスにより意図的に引き起こされる。その結果、電極に存在する金属膜の一部が蒸発し、電極間の距離を橋渡しする。絶縁破壊は当該位置において生じ、コンデンサバンクからの非常に大きな電流の流れが生じる。該電流は、金属蒸気を該蒸気がイオン化する温度にまで加熱し、ピンチプラズマにおける所望の放射を発する。
当該ガス放電光源の更なる改善が、ドイツ国特許出願公開102005023060A1に記載されている。本文献においては、2つの電極ディスクは、金属融液を有するそれぞれの大型の槽において、自由には回転しない。金属融液との接触は、ディスク周囲の一部と金属ブロック14との間のギャップ19に限られる。このギャップが十分に狭ければ、毛細管力が液体金属を保持させ、例えば重力により引き起こされる特定の圧力にさらされた場合であっても、液体金属が流れ出ないこととなる。図2は、例として、斯かる構成の電極系を図式的に示す。本例においては、金属ブロックは、液体金属5の蓄えを含む槽15を有する。それぞれの回転の軸3のまわりの電極ディスク1の回転の結果、ギャップ19における金属は回転の方向に上方に移動させられ、ギャップ19の上端における余剰金属は、戻り経路17を介して槽15へと流れ戻る。回転は矢印により示される。液体金属5がギャップ19から流れ出ることを防ぐため、該ギャップは、本例においては入口20及び出口21において、とりわけ狭くされる。供給経路16と戻り経路17との間においては、ギャップ19は、電極1とブロック14との間の摩擦力を最小化するために、1mmの厚さを持つ領域を持っても良い。原則的に、本ガス放電光源の場合においては、液体状の導電物質の循環が、ポンプにより付加的に支援されても良い。液体金属を含む槽は、必ずしも金属ブロック14に位置する必要はない。代替として、適切な供給管により金属ブロック14に接続された別個の容器であっても良い。
図2に示されるように、金属ブロック14に蓄積コンデンサが直接に接続される。このようにして、低抵抗の電気接続が、液体金属5を介して、電極に対して確立される。ガス放電のための光源点18は、本例においては、レーザビーム(図示されていない)の焦点により決定される。このことは、最初のパラグラフに記載されたガス放電光源に関して以上に説明された動作の方法に従う。
回転する電極ディスク間の最も狭い位置の領域において放射プラズマが生成される、これらガス放電光源の電極系の構造の結果、発せられる放射の広がりは、電極自体により少なくとも部分的に妨げられる。影効果により、放射は単純には、幾つかの用途には望ましいものとなり得る2πsrの立体角に広がることはできない。
本発明の目的は、あまり複雑でない構造を持ち、同程度の磨耗で、ガス放電により生成される放射を、2πsrの立体角で放射することを可能とする、ガス放電光源を提供することにある。
本目的は、請求項1に記載のガス放電光源により達成される。該ガス放電光源の有利な実施例は下位請求項に開示され、以下の説明及び実施例から推論され得る。
提案されるガス放電光源は、2つの電極体であって、そのうちの第1の電極体が回転可能に装着された電極ディスクを有する、2つの電極体を有する。更に、該ガス放電光源は、前記電極ディスクのための回転ドライブと、前記電極ディスクの径方向外側の表面に目標物質の液体膜を塗布するための装置と、前記液体膜から目標物質を蒸発させるために、放電領域において、前記電極ディスクの径方向外側の表面に、フォーカスされたレーザビームを発するための少なくとも1つのレーザと、を有する。該ガス放電光源は、前記電極体(110、120)の間に、中間の空間(160)が形成され、前記空間の幅は、前記放電領域(240)の外において、前記放電領域(240)における距離に比べて、5mm未満に低減されたことを特徴とする。該中間の空間は好適には、電極体間の自由ギャップの形をとるが、例えばセラミック物質のような絶縁体によって部分的に又は完全に満たされていても良い。
本実施例及び電極体の構成により、ガス放電工程におけるパッシェン曲線の左側の分岐において動作が行われることができ、この動作において、例えば電極体の周囲のガスが、少なくとも1Paの圧力を呈する。該ガス放電工程の間、電極体間の狭いギャップにおけるイオン化されたガスが中和され、一方で、2つの放電パルスの間で、放電領域における及び放電領域の上のイオン化されたガスは中和する十分な可能性を持たず、それ故少なくとも部分的にイオン化されたまま残る。従って、該放電領域においては、事前のイオン化が放電を保証するが、狭いギャップにおけるフラッシュオーバ又はガス放電が防止される。該ギャップが絶縁物質で満たされる場合には、該領域におけるフラッシュオーバは絶対的に不可能である。斯くして、先行技術とは異なり、電極はもはや、電極ディスク間の非常に小さな空間の領域により放電領域が形成されるように構成される必要はなく、他の全ての位置において更に離されて配置される必要がある。斯くして、提案されるガス放電光源は、電極体による影効果が先行技術に比べて低減されたガス放電工程が達成されることを可能とする。
好適な実施例においては、2つの電極体は、第2の電極体が、放電領域において、ディスクの径方向外側の表面に対して垂直な方向に、電極ディスクの上に突出しないように構成及び配置される。電極ディスクが、放電領域におけるディスクの径方向外側の表面に対して垂直な方向に、第2の電極体の上に突出することが、特に好適である。このようにして、放射生成プラズマが、2πsr又はそれ以上の立体角で放射を発することが、有利に達成される。
電極系の斯かる実施例においては、ガス放電光源の動作のための2つの電極体の一方を介した目標物質の供給で、完全に十分であることが分かっている。本ガス放電光源の場合においては、当該供給は回転する電極ディスクを介して行われ、液体目標物質を利用する。この場合、第2の電極体は、完全に固定されたものとなるように設計されても良い。
好適な実施例においては、第2の電極体は、第1の電極体を横方向に包囲する。例えば、第2の電極体は、電極ディスクの通過を可能とするため放電領域に面する部分にギャップを有しても良いし、そうでなければ、好適には第1の電極体を中心に回転対称となるように設計されても良い。第2の電極体は、例えばドーム型であっても良い。
上述した実施例は、内部の第1の電極体の形成を可能とし、目標物質を利用するための回転する電極ディスクは、径方向外側に配置され、第1の電極体は、外側の第2の電極体により横方向に包囲され、それにより前記空間、例えば小さなギャップ寸法を持つギャップを形成する。内部の第1の電極体は例えば電極系の陰極として利用されても良いし、外側の第2の電極体は陽極として利用されても良い。2つの電極体間のギャップの小さな寸法は、有利にも放電領域の位置において増大しても良い。
提案されるガス放電光源において、回転する電極ディスク、及び該電極ディスクの径方向外側の表面に目標物質の液体膜を塗布するための装置は、最初のパラグラフで言及された2つの特許出願公開DE10342239A1及びDE102005023060A1に記載されたように設計されても良い。ここで言及された一方の場合においては、電極ディスクは、目標物質の薄膜により湿らせられるように、液体目標物質を含む容器に部分的に浸される。他方の場合においては、該電極ディスクの円周の一部が金属ブロックにより囲まれ、該金属ブロックを介して、周囲の液体目標物質の一部が、同様の方法で電極ディスクを液体物質膜で湿らせるために、金属ブロックと電極ディスクとの間のギャップに供給される。電極ディスクは好適には、第1の電極体のように、金属ブロックに回転可能に装着される。両方の実施例において、電極ディスクの径方向外側の表面における薄膜の厚さを制限するために、上述した刊行物と同じ態様で、1つ以上のかき取り器が備えられる。加えて、液体目標物質の供給は、冷却装置により、目標物質の融点を超える所望の温度で維持され得る。電極ディスクの電気的接触は、金属融液を介して同様の態様で行われることができ、これによりエネルギー供給のために、移動する部分が必要とされない。勿論、上述した刊行物に記載されるように、電極物質の径方向外側の表面に目標物質を供給するための他の実施例も利用され得る。更に、好適には電極もが、冷却装置により、例えば目標物質の融点を僅かに超える温度で維持される。
2つの電極体は真空室に配置され、ガス放電光源の動作に適切な不活性ガス又は動作ガスの圧力が維持される。該圧力は、ガス放電光源の動作が、パッシェン曲線の左側の分岐において行われるように選択される。このようにして、2つの電極体間の狭いギャップにおけるガス放電が防止される。電極ディスクの回転駆動のためのモータは好適には、真空室の外側に配置され、適切な潤滑のないベルトを介して好適に電極ディスクを駆動する。該ベルトは、250℃を超える温度のために設計されるべきであり、例えば金属により作られても良い。
該ガス放電光源の動作の結果、金属物質は電極ディスクから絶えず除去され、第2の電極体の表面に堆積される。該物質の除去は例えば、ガス放電自体のスパッタリング効果により、液体として該物質を排出することにより、又は十分に高い表面温度の結果としての蒸発によって、行われても良い。更なる実施例においては、第2の電極体は、放電領域にまで延在する1つ以上の回転可能な構成要素を有する。これら回転可能な構成要素に堆積されるいずれの物質もが、これら構成要素の回転により放電領域から除去され、例えば適切なかき取り器により他の位置へと運び去られる。
提案されるガス放電光源は、実施例により及び添付図面を参照しながら以下に説明されるが、これにより請求項により与えられる保護範囲が限定されることはない。
先端技術による既知のガス放電光源の図である。 先端技術による更なる既知のガス放電光源を図式的に示す。 提案されるガス放電光源の実施例を、2つのビューで図式的に示す。 提案される更なるガス放電光源の実施例を図式的に示す。 提案される更なるとり得るガス放電光源の実施例を図式的に示す。
図1及び2に示された先行技術によるガス放電光源は、最初のパラグラフにおいて既に説明された。前記ガス放電光源の電極系の構成及び動作は、生成される放射が発せられる立体角を明らかに小さくさせる。提案されるガス放電光源により、この立体角が明らかに拡大されることができる。
例えば、図3は、提案されるガス放電光源のとり得る実施例の第1の例を、電極系を通り90°でとられた2つの断面図で示す。液体目標物質の取り扱い、コンデンサバンク、又は電極ディスク(以下陰極ホイールとも呼ばれる)のドライブのような外部要素は、それぞれ図式的な態様で一度だけ示される。ガス放電光源の当該非常に有利な実施例においては、陰極のみが回転可能な陰極ホイール100となるよう構成され、陰極体110に回転可能に設置される。陰極ホイール100は、回転ドライブ130により駆動され、液体錫を供給するための装置140により供給される薄い錫膜により常に湿らせられる。
液体錫を供給するための装置140は、陰極体110に形成された錫の槽であっても良く、該槽に陰極ホイール100が部分的に浸される。更に、陰極体110は代替として、ドイツ国特許出願公開DE102205023060A1に記載されるように、金属ブロックの形をとっても良く、陰極ホイールの周囲の一部を囲み、それにより、中間ギャップを形成し、更には陰極ホイール100の径方向外側の表面に対して該中間ギャップを介して液体錫を供給するために、少なくとも該中間ギャップに対する供給路を有する。
陰極体110は、本例においてはドーム型に設計された陽極体120により、横方向に囲まれている。上側において、該陽極体120は、図3に示されるように、陰極ホイール100の通過を可能とするためのギャップを形成する。上方向に突出した陰極ホイール100の領域を除いて、陽極体120及び陰極体110は、軸150を中心に回転対称となるように構成され、それにより、本例においては2nm幅の狭いギャップ160が、陽極体120と陰極体110との間に形成される。
陰極体110と陽極体120とは、例えばセラミックのリング170により、互いに対して絶縁されても良い。該リングは同時に、電極系を囲む(本図には示されていない)真空容器とのインタフェースを形成しても良い。加えて、2つの電極体が、絶縁リング180により、真空容器自体に対して絶縁されると有利となり得る。斯くして、放電電流の一部が、電極から真空容器の壁へと流れることが防がれる。
陰極ホイール100の径方向外側の表面から少量の錫を蒸発させるためのレーザパルス190は例えば、図3に示されるように、上から下方向へと直接に発せられても良い。陰極から陽極への電流の流れは、電極の上の点により示されたプラズマにより引き起こされるが、該プラズマは、電極空間におけるイオン化されたガスにより、錫の蒸気の結果として、形成される。本例におけるように、陰極ホイール100が、該ホイールの最も高い位置において、陽極体120の輪郭よりも上に突出する場合には、上半分の空間全体において生成されるEUV放射は、電極によって遮断されない。
勿論、当該電極系は、対応する半分の空間が照射されるように、異なる態様で空間的に配置又は方向付けされることもできる。電極は原則として、放射がいずれの空間的な方向においても利用され得るように、いずれの方向にも配置されても良い。
電極に約10乃至20kAのパルス電流を供給するエネルギー貯蔵部は、例えばコンデンサバンク200における複数のコンデンサの並列配置から成っても良い。これらコンデンサは有利にも、低インダクタンスの遷移を実現するために、陰極及び陽極に非常に近くに環状に配置される。
陰極ホイール100は有利にも、真空容器の外に配置されたモータにより駆動される。図3に示されたような構成の場合には、回転の方向は、例えば90°そらされる必要がある。真空における潤滑のない歯車の磨耗により、斜交歯車は適切ではない。それ故、駆動のため、250℃を超える温度にも耐えるよう構成された歯付きベルト又は同様の構造が有利に利用される。斯くして、例えば、1つ又は2つのディスク220は、陰極ホイール100の軸210に取り付けられても良く、該ディスクは径方向外側に延在するピンの列を呈する。このとき、駆動ベルトのために、例えばディスク220上で動作し前記ピンを介して該ディスクを駆動する、開口を備えた薄い金属ベルトが利用されても良い。該ベルトは、真空容器の外に配置された回転ドライブ130のモータに接続される。回転軸210の軸受は、例えば電極体の領域において、真空シールとして実施化されても良い。この場合、駆動ベルトを備えたディスク220もまた、真空の外に配置される。
これを達成するため、レーザパルス190の放射及び関連する錫の除去に陰極ホイール100をさらした後に、陽極への電流の流れが引き起こされ、導電性のプラズマが電極間に成長するか又は電極間に既に存在している必要がある。真空容器が例えば数Paの低圧でガスを含む場合には、該ガスはガス放電光源の動作により自動的にイオン化される。例えば2mmの陰極体110と陽極体120との間の小さな距離のため、該ギャップにおいて互いに向き合って配置された陽極体120及び陰極体110の壁において、2つの放電パルス間で、当該イオン化されたガスが再結合する。電極の上の領域においては、電極体の壁までの距離が増大し、それにより少なくとも1kHzの高いパルス反復速度では、完全な再結合が起こることができない。そのため、後続する放電パルス又はレーザパルスの先頭から、電流輸送のための導電プラズマが利用可能である。設定され得る他の適切なパラメータは例えば、ガス圧、ガスのタイプ、又はガス放電光源の最適な動作のための反復周波数である。加えて、例えばDC放電又は高周波放電を用いて、事前のイオン化のための装置により、放電領域240においてプラズマを継続的に維持することも可能である。高周波放電はパルス状の態様で引き起こされても良く、コンデンサの放電及びレーザパルスと時間的に適切に同期されても良い。該放電は更に、スパッタリングの結果として、固定された陽極に堆積した錫が再び除去され、それにより、例えば数十マイクロメートルの一定の厚さを持つ「保護膜」のみが形成されることを特徴としても良い。
図4は、提案されるガス放電光源の更なるとり得る実施例を示す。本図においても、装着された陰極ホイール100を有する陰極体110が示され、該陰極体は、本例においては、陰極ホイール100の一部が浸される錫の槽250を有する。放電領域240の下の領域においては、陰極体110が陽極体120により横方向に囲まれる。図に示されるように、陰極ホイール100の径方向外側の表面に垂直な方向において、陰極ホイール100は、放電が起こる領域240において、陽極体120の上に突出する。本例においてはまた、陽極体と陰極体とは、陰極ホイール100の領域を除いて、回転対称となるように構成される。本図はまた、環状に配置されたコンデンサバンク200を示す。本例においては、陽極体120の上に中間板260が配置される。該中間板260は、陰極ホイール100の通過を可能とするための中央ギャップと、少なくとも1つの孔を備える。これらの孔は、陰極と陽極との間の電流経路のための規定路として働く。図の左下部分に、当該中間板260の平面図が示され、個々の孔、陰極ホイール100が通過するギャップ、及び電流経路270が示されている。中間板260は金属からできたものであっても良いが、その場合には、他の構成要素に対して絶縁されるべきである。本図においては、該絶縁は絶縁リング290により達成される。
図5は、提案されるガス放電光源の更なるとり得る実施例を示す。その構造は、特に陰極の形状に関して、図4に示されたものに類似する。しかしながら、本例においては、陽極体120は、放電領域240の近くの上部の領域において、放電領域240にまで延在する2つの陽極ホイール280を有する。これら回転する陽極ホイール280により、レーザ及び放電により陰極から除去され他の表面に堆積された錫が運び去られ、陽極の効率的な冷却が達成され得る。駆動機構、及び陽極ホイール280から錫を除去するための手段は、本図には図示されていない。
1 電極ディスク
2 真空室
3 回転軸
4 槽
5 液体金属
6 ガス放電
7 レーザパルス
8 屑を減らすための装置
9 金属スクリーン
10 スクリーン
11 かき取り器
12 コンデンサバンク
13 導電体
14 金属ブロック
15 槽
16 供給経路
17 戻り経路
18 光源点
19 ギャップ
20 入口
21 出口
100 陰極ホイール
110 陰極体
120 陽極体
130 回転ドライブ
140 液体錫を供給するための装置
150 軸
160 ギャップ
170 セラミックのリング
180 絶縁体リング
190 レーザパルス
200 コンデンサバンク
210 軸
220 ディスク
240 放電領域
250 錫の槽
260 中間板
270 電流経路
280 陽極ホイール
290 絶縁体リング

Claims (14)

  1. 特にEUV放射及び/又は軟X線放射を生成するためのガス放電光源であって、少なくとも、
    2つの電極体であって、そのうちの第1の電極体が回転可能に装着された電極ディスクを有する、2つの電極体と、
    前記電極ディスクのための回転ドライブと、
    前記電極ディスクの径方向外側の表面に目標物質の液体膜を塗布するための装置と、
    前記液体膜から目標物質を蒸発させるために、放電領域において、前記電極ディスクの径方向外側の表面に、フォーカスされたレーザビームを発するためのレーザと、
    を有するガス放電光源において、前記電極体の間に、中間の空間が形成され、前記空間の幅は、前記放電領域の外において、前記放電領域における距離に比べて、5mm未満に低減されたことを特徴とする、ガス放電光源。
  2. 第2の電極体が、前記放電領域において、前記ディスクの径方向外側の表面に対して垂直な方向に、前記電極ディスクの上に突出しないことを特徴とする、請求項1に記載のガス放電光源。
  3. 前記電極ディスクは、前記放電領域において、前記ディスクの径方向外側の表面に対して垂直な方向に、前記第2の電極体よりも上に突出することを特徴とする、請求項2に記載のガス放電光源。
  4. 前記第2の電極体は、前記第1の電極体を横方向に囲むことを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  5. 前記第2の電極体は、前記電極ディスクの通過を可能とするための、前記放電領域に面する部分におけるギャップを有し、又は、前記第1の電極体を中心に回転対称となるように構成されたことを特徴とする、請求項4に記載のガス放電光源。
  6. 前記第2の電極体はドーム型であることを特徴とする、請求項4又は5に記載のガス放電光源。
  7. 前記回転ドライブはベルトを有し、前記ベルトを介してモータが前記電極ディスクを駆動することを特徴とする、請求項1乃至6のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  8. 前記電極体は、1Pa以上のガス圧が設定された真空容器のなかに配置されたことを特徴とする、請求項1乃至7のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  9. 前記中間の空間が、前記電極体の間のギャップとなるように構成されたことを特徴とする、請求項1乃至8のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  10. 前記中間の空間は、絶縁物質により部分的に又は完全に満たされることを特徴とする、請求項1乃至8のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  11. 前記放電領域の位置において、前記電極ディスクの通過を可能とするためのスロットと、前記電極体の間の電流経路を規定するための1つ以上の開口と、を持つ中間板が配置されたことを特徴とする、請求項1乃至10のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  12. 前記第2の電極体は固定されるように構成されることを特徴とする、請求項1乃至11のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  13. 前記第2の電極体は、前記放電領域まで延在する1つ以上の回転可能な構成要素を有することを特徴とする、請求項1乃至11のいずれか一項に記載のガス放電光源。
  14. 前記放電領域に存在するガスを予めイオン化するための装置を有することを特徴とする、請求項1乃至13のいずれか一項に記載のガス放電光源。
JP2010539008A 2007-12-18 2008-12-16 特にeuv放射のためのガス放電光源 Active JP5566302B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007060807.3 2007-12-18
DE102007060807A DE102007060807B4 (de) 2007-12-18 2007-12-18 Gasentladungsquelle, insbesondere für EUV-Strahlung
PCT/IB2008/055344 WO2009077980A1 (en) 2007-12-18 2008-12-16 Gas discharge source, in particular for euv-radiation

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011507206A true JP2011507206A (ja) 2011-03-03
JP5566302B2 JP5566302B2 (ja) 2014-08-06

Family

ID=40409912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010539008A Active JP5566302B2 (ja) 2007-12-18 2008-12-16 特にeuv放射のためのガス放電光源

Country Status (9)

Country Link
US (1) US8227779B2 (ja)
EP (1) EP2223574B1 (ja)
JP (1) JP5566302B2 (ja)
KR (1) KR101505827B1 (ja)
CN (1) CN101971709B (ja)
AT (1) ATE509506T1 (ja)
DE (1) DE102007060807B4 (ja)
TW (1) TWI445458B (ja)
WO (1) WO2009077980A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021229902A1 (ja) * 2020-05-15 2021-11-18 ウシオ電機株式会社 極端紫外光光源装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8686381B2 (en) 2010-06-28 2014-04-01 Media Lario S.R.L. Source-collector module with GIC mirror and tin vapor LPP target system
CA2846201C (en) 2013-03-15 2021-04-13 Chevron U.S.A. Inc. Ring electrode device and method for generating high-pressure pulses
US9585236B2 (en) 2013-05-03 2017-02-28 Media Lario Srl Sn vapor EUV LLP source system for EUV lithography
DE102013017655B4 (de) * 2013-10-18 2017-01-05 Ushio Denki Kabushiki Kaisha Anordnung und Verfahren zum Kühlen einer plasmabasierten Strahlungsquelle
JP6477179B2 (ja) * 2015-04-07 2019-03-06 ウシオ電機株式会社 放電電極及び極端紫外光光源装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006123270A2 (en) * 2005-05-19 2006-11-23 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Gas discharge source, in particular for euv radiation
WO2006134513A2 (en) * 2005-06-14 2006-12-21 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Method of protecting a radiation source producing euv-radiation and/or soft x-rays against short circuits
JP2007505460A (ja) * 2003-09-11 2007-03-08 コニンクリユケ フィリップス エレクトロニクス エヌ.ブイ. 極紫外放射又は軟x線放射を生成する方法及び装置
JP2007179881A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
JP2007200919A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
JP2007273454A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Xtreme Technologies Gmbh 電気的に作動するガス放電による極紫外線発生装置
JP2007280950A (ja) * 2006-03-31 2007-10-25 Xtreme Technologies Gmbh 電気的に作動するガス放電に基づく極紫外線発生装置
JP2007305908A (ja) * 2006-05-15 2007-11-22 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
WO2007135587A2 (en) * 2006-05-16 2007-11-29 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh A method of increasing the conversion efficiency of an euv and/or soft x-ray lamp and a corresponding apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10139677A1 (de) * 2001-04-06 2002-10-17 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von extrem ultravioletter Strahlung und weicher Röntgenstrahlung
TW589924B (en) * 2001-04-06 2004-06-01 Fraunhofer Ges Forschung Process and device for producing extreme ultraviolet ray/weak x-ray
DE10256663B3 (de) * 2002-12-04 2005-10-13 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Gasentladungslampe für EUV-Strahlung
DE102006015541A1 (de) * 2006-03-31 2007-10-04 List Holding Ag Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von zähviskosen Produkten
TW200808134A (en) * 2006-07-28 2008-02-01 Ushio Electric Inc Light source device for producing extreme ultraviolet radiation and method of generating extreme ultraviolet radiation

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007505460A (ja) * 2003-09-11 2007-03-08 コニンクリユケ フィリップス エレクトロニクス エヌ.ブイ. 極紫外放射又は軟x線放射を生成する方法及び装置
WO2006123270A2 (en) * 2005-05-19 2006-11-23 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Gas discharge source, in particular for euv radiation
WO2006134513A2 (en) * 2005-06-14 2006-12-21 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Method of protecting a radiation source producing euv-radiation and/or soft x-rays against short circuits
JP2007179881A (ja) * 2005-12-28 2007-07-12 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
JP2007200919A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
JP2007273454A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Xtreme Technologies Gmbh 電気的に作動するガス放電による極紫外線発生装置
JP2007280950A (ja) * 2006-03-31 2007-10-25 Xtreme Technologies Gmbh 電気的に作動するガス放電に基づく極紫外線発生装置
JP2007305908A (ja) * 2006-05-15 2007-11-22 Ushio Inc 極端紫外光光源装置
WO2007135587A2 (en) * 2006-05-16 2007-11-29 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh A method of increasing the conversion efficiency of an euv and/or soft x-ray lamp and a corresponding apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021229902A1 (ja) * 2020-05-15 2021-11-18 ウシオ電機株式会社 極端紫外光光源装置
JP2021179579A (ja) * 2020-05-15 2021-11-18 ウシオ電機株式会社 極端紫外光光源装置
JP7156331B2 (ja) 2020-05-15 2022-10-19 ウシオ電機株式会社 極端紫外光光源装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2223574B1 (en) 2011-05-11
WO2009077980A8 (en) 2010-12-09
US8227779B2 (en) 2012-07-24
KR20100093609A (ko) 2010-08-25
ATE509506T1 (de) 2011-05-15
US20100264336A1 (en) 2010-10-21
TW200944060A (en) 2009-10-16
JP5566302B2 (ja) 2014-08-06
DE102007060807B4 (de) 2009-11-26
KR101505827B1 (ko) 2015-03-25
TWI445458B (zh) 2014-07-11
CN101971709A (zh) 2011-02-09
EP2223574A1 (en) 2010-09-01
DE102007060807A1 (de) 2009-07-02
WO2009077980A1 (en) 2009-06-25
CN101971709B (zh) 2013-09-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101058067B1 (ko) 극자외 방사선 또는 연질 x 방사선을 생성하기 위한 장치및 방법
US7531820B2 (en) Arrangement and method for the generation of extreme ultraviolet radiation
JP5216772B2 (ja) コンベアベルトターゲットを備えたeuvプラズマ放電ランプ
JP5566302B2 (ja) 特にeuv放射のためのガス放電光源
US9686846B2 (en) Extreme UV radiation light source device
JP4810351B2 (ja) ガス放電による放射線発生装置
JP5379953B2 (ja) 電気的に作動するガス放電による極紫外線発生装置
JP4879974B2 (ja) 特にeuv放射のための、ガス放電源
JP4876059B2 (ja) 電気的に作動するガス放電により極紫外放射線を発生するための方法及び装置
EP4152097A1 (en) Extreme ultraviolet light source device
JP6790709B2 (ja) プラズマ光源
JP2007308787A (ja) アーク蒸着源、成膜装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130326

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130618

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130625

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130906

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140520

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140617

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5566302

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250