JP2010232150A - 極端紫外光光源装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】周辺部を対向して配置した第1および第2の円盤状の放電電極と、上記第1および第2の放電電極を、それぞれの円の中心を回転中心として回転させる電極回転手段と、上記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、上記第1および第2の放電電極上に、極端紫外光を放射させるための液体または固体の原料を供給する原料供給手段と、上記放電電極上に供給された上記原料に対しエネルギービームを照射し、当該原料を気化させて上記一対の放電電極間で放電を開始させるエネルギービーム照射手段とを備えた極端紫外光光源装置において、エネルギービームを、上記第1の電極と第2の電極上の上記原料に対して、あらかじめ設定した周波数で交互に照射する。
【選択図】図1
Description
EUV光源装置において、EUV光を発生させる方法はいくつか知られているが、そのうちの一つにEUV放射種の加熱励起により高温プラズマを発生させ、このプラズマから放射されるEUV光を取り出す方法がある。
EUV光源装置において、強い放射強度の波長13.5nmのEUV光を放出する放射種、すなわち、EUV発生用高温プラズマ原料として、Li(リチウム)とSn(スズ)が注目されている。以下、DPP方式に基づくEUV放射のメカニズムを簡単に説明する。
114,116は円盤状の電極であり、所定の圧力に調整された放電空間112内に配置される。電極114および116は所定間隔だけ互いに離間しており、146を回転軸として回転する。124は、波長13.5nmのEUV光を放射する高温プラズマ用原料である。高温プラズマ原料124は、加熱された溶融金属(melted metal)例えば液体状のスズであり、コンテナ126に収容される。溶解金属124の温度は、コンテナ126内に設けられた温度調整手段130により調整される。
溶解金属124が気化した状態で、電極114,116に、パルス電力が印加されることにより、放電空間112においてパルス放電が開始し、プラズマ122が形成される。放電時に流れる大電流によりプラズマ112が加熱励起され高温化すると、この高温プラズマからEUV放射が発生する。EUV放射は図面上側に取り出される。
本方式によれば、常温では固体であるスズやリチウムを放電が発生する放電領域の近傍で気化させることが容易になる。すなわち、放電領域に効率よく気化したスズやリチウムを供給できるので、放電後、効果的に波長13.5nmのEUV放射を取り出すことが可能となる。
その1、常に新しいEUV発生種である固体または液体状の高温プラズマ原料を放電領域に供給することができる。
その2、電極表面における、レーザが照射される位置、高温プラズマが発生する位置(放電部の位置)が常に変化するので、電極の熱負荷が低減し、消耗を防ぐことができる。
PEUV(W)=Edischarge(J)×CE(%)×PRF(Hz)×σ
ここで、Edischarge(J)は放電に注入したエネルギー、CE(%)は変換効率、PRF(Hz)は放電の繰り返し周波数、σは放電領域へのプラズマ原料の供給の安定度である。安定度σは次のように説明することができる。
電極上の高温プラズマ原料(スズ)にレーザを照射しプラズマを発生させると、電極表面の、レーザが照射された部分のスズは気化して消失する。したがって、放電領域に安定してスズを供給するためには、レーザを照射する位置は、電極上にスズが十分に残っている部分でなければならない。
ここで、現状のレーザの照射径(直径)は100μm〜400μmである。仮にレーザの照射径を400μm(0.4mm)、回転する電極の直径を200mmとすると、10kHzの繰り返し周波数で放電する場合、スズが塗布された電極の周辺部が1パルス間(2回のレーザ照射間)に400μm(1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分にまで)移動するための電極の回転速度(Hz)を計算すると、以下のようになる。
電極の回転速度(Hz)=(0.4mm×10kHz)/(200mm×π)=6.37Hz
即ち、直径200mmの電極は約6Hz(1秒間に6回転)以上の回転速度で回転しなければならない。
電極周辺部の速度(m/s)=200mm×π×6Hz=3.77m/s
即ち、電極の周辺部の速度は約3.7m/sとなり、この値は、上記したスズが電極からはがれる移動(回転)速度(4m/s)とほとんど等しい。
しかし、繰り返し周波数を10kHz以上にして、かつ安定度σを低下させない(レーザ照射の間に電極を400μm以上移動する)ためには、電極の直径が同じであれば回転速度を4m/s以上にしなければならず、そのようにするとスズが電極からはがれてしまう。そのため放電の繰り返し周波数を上げられないという問題が生じる。
即ち、本発明においては、極端紫外光光源装置を次のように構成する。
エネルギービームの照射を、第1の電極と第2の電極に対して交互に行うので、ひとつの電極に関してみると、エネルギービームが照射される時間間隔が2倍に伸び、したがって、その間に電極が移動する距離も2倍になる。
したがって、回転速度が同じであっても(速くしなくても)、電極のスズが供給されている部分は、2回のレーザ照射の間に、1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分にまで移動することができ、放電領域へのスズの供給が不安定になることなく、放電の繰り返し周波数を上げることができる。
図1、図2に示すEUV光源装置は、放電容器であるチャンバ1を有する。チャンバ1は、開口を有する隔壁1cを介して、大きく2つの空間に分割される。一方の空間には放電部が配置される。放電部は、EUV放射種を含む高温プラズマ原料を加熱して励起する加熱励起手段である。放電部は、一対の電極11,12等により構成される。
以下、本実施例のEUV光源装置の各部の構成について説明する。
(1) 放電部
放電部は、金属製の円盤状部材である第1の放電電極11、同じく金属製の円盤状部材である第2の放電電極12とからなる。
第1および第2の放電電極11,12は、例えば、タングステン、モリブデン、タンタル等の高融点金属からなり、所定距離だけ離間して互いに向かい合うように配置される。ここで、2つの電極11,12のうち一方が接地側電極であり、他方が高電圧側電極である。
両電極11,12は、その表面が同一平面上になるように配置してもよいが、図2に示すように、放電が発生しやすいように、電力印加時に電界が集中する周辺部のエッジ部分が、所定距離だけ離間して互いに向かい合うように配置することが好ましい。すなわち、各電極表面を含む仮想平面が交差するように各電極を配置することが好ましい。なお上記所定距離は、両電極の周辺部のエッジ部分間距離が最も短い部分での距離である。
両電極11,12にパルス電力供給手段8よりパルス電力が印加されると、上記エッジ部分において放電が発生する。一般的には、両電極11,12のエッジ部分間距離が最も短い部分で多く放電が発生する。以下、両電極間の放電が発生する空間を放電領域と呼ぶことにする。
本実施例のEUV光源装置は、エネルギービームの照射により気化した高温プラズマを原料とし、放電による電流駆動によって生成した高温プラズマからのEUV放射光を利用するものである。高温プラズマ原料の加熱励起手段は、一対の電極11,12間に発生した放電による大電流である。電極11,12は、放電と、電極近傍に発生した高温プラズマにより大きな熱的負荷を受ける。このような熱的負荷により電極は徐々に磨耗し金属デブリが発生する。
また、電極11,12は徐々に磨耗することにより形状が変化する。これにより、一対の電極11,12間で発生する放電が徐々に不安定になり、その結果、EUV光の発生も不安定となる。EUV光源装置を量産型の半導体露光装置の光源として用いる場合、上記したような電極の消耗を抑制し、電極寿命をできるだけ長くすることが必要となる。
なお、図示を省略したが、第1のコンテナ11b、第2のコンテナ12bには、スズを溶融状態に維持する温度調節手段が備えられている。
第1のコンテナ11b、第2のコンテナ12bは、第1の回転電極11および第2の回転電極12の表面に、高温プラズマ原料であるスズ11a,12aを供給する原料供給手段でもある。
上記したように、第1の回転電極11および第2の回転電極12は、一部(周辺部)が液体状のスズを収容する上記コンテナの中に浸されるように配置されている。コンテナ11b,12b内で、スズ11a,12aは電極の周辺部表面に付着する。電極に付着したスズ11a,12aは、電極が回転することにより、放電領域に輸送される。放電領域に輸送されたスズ11a,12aにレーザが照射され、スズ11a,12aが気化することにより放電が開始する。
エネルギービーム照射手段は、第1のレーザ23を照射する第1のレーザ照射装置23aと、第2のレーザ24を照射する第2のレーザ照射装置24aとを備える。
レーザ23,24を放出するレーザ照射装置23a,24aのレーザ源としては、例えば、炭酸ガスレーザ源や、YAGレーザ、YVO4 レーザ、YLFレーザ等の固体レーザ源、ArFレーザ、KrFレーザ、XeClレーザ等のエキシマレーザ源等を採用することができる。
また本実施例では、放電領域の所定の地点に照射するエネルギービームとしてレーザを照射しているが、レーザの代わりにイオンビーム、電子ビームを電極上の高温プラズマ原料(スズ)に照射するようにしてもよい。
回転電極11,12上の高温プラズマ原料(スズ11a,12a)へのレーザ23,24の照射は、第1の回転電極11への照射の次は第2の電極12への照射、その次は第1の回転電極11への照射というように、交互に行う。
一方の回転電極上の高温プラズマ原料(スズ)対してレーザを照射することにより、レーザを照射された高温プラズマ原料(スズ)は気化する。気化したスズは対向配置されている他方の回転電極に達し放電が開始する。
パルス電力供給手段であるパルス電力発生器8は、コンデンサと磁気スイッチとからなる磁気パルス圧縮回路部を介して、負荷である第1のコンテナ11bと第2のコンテナ12b、すなわち、第1の回転電極11と第2の回転電極12との間にパルス幅の短いパルス電力を印加する。
(5) EUV光集光部
放電部により放出されるEUV光は、EUV光集光部に設けられた斜入射型のEUV集光鏡2により集光され、チャンバ1に設けられたEUV光取出部7より図示を省略した露光装置の照射光学系へ導かれる。
上記した各凹面ミラーの基体材料は、例えば、ニッケル等である。波長が非常に短いEUV光を反射させるので、凹面ミラーの反射面は、非常に良好な平滑面として構成される。この平滑面に施される反射材は、例えば、ルテニウム、モリブデン、およびロジウムなどの金属膜である。各凹面ミラーの反射面には、このような金属膜が緻密にコーティングされる。
(6) デブリトラップ
上記した放電部とEUV光集光部との間には、電極の磨耗や高温プラズマ原料に起因するデブリ等からEUV集光鏡2のダメージを防ぐために、デブリ等を捕捉してEUV光のみを通過させるためのデブリトラップが設置される。
前記したように、図1、図2に示す本実施例のEUV光源装置においては、デブリトラップはガスカーテン13bおよびホイルトラップ3から構成されている。
ガスカーテン13bとEUV集光鏡2との間には、ホイルトラップ3が設けられる。ホイルトラップ3は、高温プラズマから放射されるEUV光を遮らないように、高温プラズマ発生領域の径方向に設置される複数のプレートと、そのプレートを支持するリング状の支持体とから構成されている。このようなホイルトラップの例として、特許文献2や特許文献3に記載された「デブリトラップ」がある。
本実施例のEUV光源装置は、露光用光源として用いられる場合、例えば、以下のように動作する。なお、ここでは、10kHzの繰り返し周波数で高温プラズマを生成し、EUV光を発生させる場合を考える。
第1の回転電極11と第2の回転電極12に対して、パルス電力発生装置8から10kHzの繰り返し周波数で電力が加えられる。従来であれば、図3(a)に示すように、一方の電極(例えば第1の電極)に対してのみ、上記電力の供給に合わせて10kHzの繰り返し周波数でレーザを照射する。レーザ照射により、電極上の高温プラズマ原料(スズ)が気化し、高温プラズマが生成される。
これに対して本発明においては、図3(b)に示すように、両方の電極に対して、交互にレーザを照射する。
このとき、レーザ23を照射された第1の回転電極11では、レーザ23の照射径とほぼ同等の領域のスズ11aが消失する。しかし、対向する第2の回転電極12上のスズ12aはほとんど消失しない。
レーザ24を照射された第2の回転電極12上の高温プラズマ原料(スズ12a)は気化し、電力が加えられている電極間で高温プラズマを形成しEUV光を発生する。
上記したように、第2の回転電極12上のスズ12aは、前回の第1の回転電極11上のスズ11aへのレーザ23の照射において消失しないので、レーザ24はスズ12aが十分に存在する部分に照射することができ、放電領域へのスズの供給を安定して行うことができる。
レーザ23を照射された第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)は気化し、電力が加えられている電極間で高温プラズマを形成しEUV光を発生する。
以下、これらの動作を繰り返す。
図5は、10kHzの繰り返し周波数で放電を行う場合の、電極の周辺部の移動速度に対して、2回のレーザ照射間で電極の周辺部が移動する距離を示したものである。横軸は回転電極のスズが塗布される周辺部の移動速度(単位はm/s)であり、縦軸は電極の移動距離(単位はμm)である。
図4,5に示すように、例えば、10kHzの繰り返し周波数で放電を行う場合、従来の片側の電極にのみレーザ照射を行うのでは、4m/s以上の速度で電極を回転させなければ、2回のレーザ照射の間にレーザの径である400μmを移動できないので、安定した放電を得ることができない。
しかし、上記したように、スズが電極からはがれないようにするためには、電極の回転速度は4m/sが上限である。したがって、放電の繰り返し周波数を10kHz以上に上げることができない。
したがって、電極の回転速度が4m/sの場合、電極は2回のレーザ照射の間に800μm移動することができる。したがって、電極の回転速度を4m/s以上に早くすることなく、放電の繰り返し周波数を20kHzにまで上げることができる。
放電の繰り返し周波数を20kHzに上げても、片方の電極に対しては、10kHzの繰り返し周波数でレーザを照射することになるので、電極の周辺部は、2回のレーザ照射の間にレーザの径である400μmを移動でき、安定した放電を得ることができる。
1a 放電空間
1b 集光空間
2 EUV集光鏡
3 ホイルトラップ
4 放電空間の真空排気装置
5 集光空間の真空排気装置
7 EUV取出し部
8 パルス電力発生器
11 第1の放電電極
11a スズ
11b 第1のコンテナ
12 第2の放電電極
12a スズ
12b 第2のコンテナ
23 第1のレーザ
23a 第1のレーザ照射装置
24 第2のレーザ
24a 第2のレーザ照射装置
26 制御部
Claims (1)
- 周辺部を対向して配置した第1および第2の円盤状の放電電極と、上記第1および第2の放電電極を、それぞれの円の中心を回転中心として回転させる電極回転手段と、上記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、上記第1および第2の放電電極上に、極端紫外光を放射させるための液体または固体の原料を供給する原料供給手段と、上記放電電極上に供給された上記原料に対しエネルギービームを照射し、当該原料を気化させて上記一対の放電電極間で放電を開始させるエネルギービーム照射手段とを備えた極端紫外光光源装置において、
上記極端紫外光光源装置は、上記エネルギービーム照射手段からのエネルギービームを、上記第1の電極と第2の電極上の上記原料に対して、あらかじめ設定した周波数で上記第1の電極と第2の電極に対して交互に照射する制御部を備えることを特徴とする極端紫外光光源装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009081484A JP5504673B2 (ja) | 2009-03-30 | 2009-03-30 | 極端紫外光光源装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010232150A true JP2010232150A (ja) | 2010-10-14 |
JP5504673B2 JP5504673B2 (ja) | 2014-05-28 |
Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP5504673B2 (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130425 |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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