JP2010232150A - 極端紫外光光源装置 - Google Patents

極端紫外光光源装置 Download PDF

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Abstract

【課題】回転する電極の回転速度を速くすることなく、高い繰り返し周波数で、安定してスズを放電領域に供給し、EUVの安定した発光が可能な極端紫外光光源装置を提供する。
【解決手段】周辺部を対向して配置した第1および第2の円盤状の放電電極と、上記第1および第2の放電電極を、それぞれの円の中心を回転中心として回転させる電極回転手段と、上記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、上記第1および第2の放電電極上に、極端紫外光を放射させるための液体または固体の原料を供給する原料供給手段と、上記放電電極上に供給された上記原料に対しエネルギービームを照射し、当該原料を気化させて上記一対の放電電極間で放電を開始させるエネルギービーム照射手段とを備えた極端紫外光光源装置において、エネルギービームを、上記第1の電極と第2の電極上の上記原料に対して、あらかじめ設定した周波数で交互に照射する。
【選択図】図1

Description

本発明は、放電により生成したプラズマより極端紫外光を発生させる極端紫外光光源装置に関する。特に、放電電極に供給した高温プラズマ原料にエネルギービームを照射して気化させ、気化後の原料から放電により生成したプラズマより極端紫外光を発生させる極端紫外光光源装置に関する。
半導体集積回路の微細化、高集積化につれて、その製造用の投影露光装置においては解像力の向上が要請されている。その要請に応えるため、露光用光源の短波長化が進められ、エキシマレーザ装置に続く次世代の半導体露光用光源として、波長13〜14nm、特に波長13.5nmの極端紫外光(以下、EUV(Extreme Ultra Violet)光ともいう)を放出する極端紫外光光源装置(以下、EUV光源装置ともいう)が開発されている。
EUV光源装置において、EUV光を発生させる方法はいくつか知られているが、そのうちの一つにEUV放射種の加熱励起により高温プラズマを発生させ、このプラズマから放射されるEUV光を取り出す方法がある。
このような方法を採用するEUV光源装置の種類の一つに、DPP(Discharge Produced Plasma:放電生成プラズマ)方式EUV光源装置がある。DPP方式EUV光源装置は、電流駆動によって生成した高温プラズマからのEUV放射光を利用するものである。
EUV光源装置において、強い放射強度の波長13.5nmのEUV光を放出する放射種、すなわち、EUV発生用高温プラズマ原料として、Li(リチウム)とSn(スズ)が注目されている。以下、DPP方式に基づくEUV放射のメカニズムを簡単に説明する。
DPP方式では、例えば内部に電極が配置された放電容器内をガス状の高温プラズマ原料雰囲気とし、当該雰囲気中の電極間において放電を発生させて初期プラズマを生成する。ここで、放電により電極間を流れる電流の自己磁場の作用により、上記した初期プラズマは収縮される。これにより初期プラズマの密度は高くなり、プラズマ温度が急激に上昇する。このような作用を、以下ピンチ効果と称する。ピンチ効果による加熱によって、高温となったプラズマのイオン密度は1017〜1020cm−3、電子温度は20〜30eV程度に到達し、この高温プラズマからEUV光が放射される。
近年、DPP方式において、放電が発生する電極表面に供給された固体もしくは液体のスズやリチウムにレーザ等のエネルギービームを照射して気化させ、その後、放電によって高温プラズマを生成する方法が特許文献1において提案されている。以下、エネルギービームがレーザである場合を説明する。また、上記したこの方式をLAGDPP(Laser Assisted Gas Discharge Produced Plasma)方式と称することにする。
以下、特許文献1に示されたEUV光源装置について説明する。図6は同公報に示されたEUV光源装置の断面図である。
114,116は円盤状の電極であり、所定の圧力に調整された放電空間112内に配置される。電極114および116は所定間隔だけ互いに離間しており、146を回転軸として回転する。124は、波長13.5nmのEUV光を放射する高温プラズマ用原料である。高温プラズマ原料124は、加熱された溶融金属(melted metal)例えば液体状のスズであり、コンテナ126に収容される。溶解金属124の温度は、コンテナ126内に設けられた温度調整手段130により調整される。
上記電極114,116は、その一部が溶融金属124を収容するコンテナ126の中に浸されるように配置される。電極114,116の表面上に乗った液体状の溶融金属124は、電極114,116が回転することにより、放電空間112に輸送される。上放電空間112輸送された溶解金属124に対して(すなわち、放電空間112において、所定間隔だけ互いに離間した電極114,116の表面に存在する溶解金属124に対して)、図示を省略したレーザ照射装置よりレーザ120が照射される。レーザ120が照射された溶解金属124は気化する。
溶解金属124が気化した状態で、電極114,116に、パルス電力が印加されることにより、放電空間112においてパルス放電が開始し、プラズマ122が形成される。放電時に流れる大電流によりプラズマ112が加熱励起され高温化すると、この高温プラズマからEUV放射が発生する。EUV放射は図面上側に取り出される。
すなわち、上記した特許文献1に記載されているLAGDPP方式では、固体や液体等のターゲット(高温プラズマ原料)に対してレーザを照射し、原料を気化してガス状の高温プラズマ原料雰囲気(初期プラズマ)を生成する。DPP方式同様、初期プラズマにおけるイオン密度は、例えば、1016cm−3程度、電子温度は、例えば、1eV以下程度である。その後、放電電流駆動による加熱によって、高温となったプラズマのイオン密度は1017〜1020cm−3、電子温度は20〜30eV程度に到達し、この高温プラズマからEUVが放射される。すなわち、この特許文献1に記載されているLAGDPP方式における放電電流駆動による加熱は、DPP方式と同様、ピンチ効果が利用されている。
なお、148は電源に相当するキャパシターバンクであり、絶縁性のフィードライン150を介してコンテナ126に収容された溶融金属124と電気的に接続されている。溶融金属124は導電性であるので、キャパシターバンク148より、溶融金属124を介して、一部が溶融金属124に浸漬している電極114,116に電気エネルギーが供給される。
本方式によれば、常温では固体であるスズやリチウムを放電が発生する放電領域の近傍で気化させることが容易になる。すなわち、放電領域に効率よく気化したスズやリチウムを供給できるので、放電後、効果的に波長13.5nmのEUV放射を取り出すことが可能となる。
また、特許文献1に記載されたEUV光源装置においては、電極を回転させているので、次のような利点がある。
その1、常に新しいEUV発生種である固体または液体状の高温プラズマ原料を放電領域に供給することができる。
その2、電極表面における、レーザが照射される位置、高温プラズマが発生する位置(放電部の位置)が常に変化するので、電極の熱負荷が低減し、消耗を防ぐことができる。
特表2007−505460号公報 特開2007−5124号公報 特開2007−5542号公報
高温プラズマから放射されるEUVの出力PEUV(W)は、以下のような式で表される。
EUV(W)=Edischarge(J)×CE(%)×PRF(Hz)×σ
ここで、Edischarge(J)は放電に注入したエネルギー、CE(%)は変換効率、PRF(Hz)は放電の繰り返し周波数、σは放電領域へのプラズマ原料の供給の安定度である。安定度σは次のように説明することができる。
電極上の高温プラズマ原料(スズ)にレーザを照射しプラズマを発生させると、電極表面の、レーザが照射された部分のスズは気化して消失する。したがって、放電領域に安定してスズを供給するためには、レーザを照射する位置は、電極上にスズが十分に残っている部分でなければならない。
例えば、図7に示すように、レーザを照射する位置が、1回前のレーザ照射によりスズが消失している部分(a)や、スズが消失した部分のエッジの部分(b)であると、放電領域へのスズの供給量が減ったり、スズが供給される方向(位置)が変わったりして、放電領域へのスズ供給の安定度σが低下する。放電領域に安定して所望の量のスズを供給するためには、常に1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分(c)に対して行われなければならない。
現在のところ、電極上のスズにレーザを照射すると、レーザの照射径とほぼ同等の領域のスズがなくなると考えられている。したがって、1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分とは、前回のレーザ照射位置から少なくともレーザの照射径(直径)だけ移動した部分である。
ここで、現状のレーザの照射径(直径)は100μm〜400μmである。仮にレーザの照射径を400μm(0.4mm)、回転する電極の直径を200mmとすると、10kHzの繰り返し周波数で放電する場合、スズが塗布された電極の周辺部が1パルス間(2回のレーザ照射間)に400μm(1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分にまで)移動するための電極の回転速度(Hz)を計算すると、以下のようになる。
電極の回転速度(Hz)=(0.4mm×10kHz)/(200mm×π)=6.37Hz
即ち、直径200mmの電極は約6Hz(1秒間に6回転)以上の回転速度で回転しなければならない。
しかし、電極の回転速度が速いと、その分電極の周辺に塗布されているスズに加わる遠心力も大きくなる。そして、この遠心力がスズの表面張力よりも勝ると、スズは回転する電極からはがれて周囲に飛び散る。電極の回転速度がどの程度速くなるとスズが飛び散るのかについては、今のところ、電極のスズが塗布されている周辺部の移動(回転)速度が、4m/sを超えると、スズが電極からはがれる(飛び散る)可能性があると考えられている。
上記例に示した、直径200mmの電極を6Hzで回転させると、電極周辺部の速度(m/s)は以下の式から求められる。
電極周辺部の速度(m/s)=200mm×π×6Hz=3.77m/s
即ち、電極の周辺部の速度は約3.7m/sとなり、この値は、上記したスズが電極からはがれる移動(回転)速度(4m/s)とほとんど等しい。
一方、今後はEUVの出力を大きくするために、放電の繰り返し周波数(PRF)を10kHz以上に上げることが考えられている。
しかし、繰り返し周波数を10kHz以上にして、かつ安定度σを低下させない(レーザ照射の間に電極を400μm以上移動する)ためには、電極の直径が同じであれば回転速度を4m/s以上にしなければならず、そのようにするとスズが電極からはがれてしまう。そのため放電の繰り返し周波数を上げられないという問題が生じる。
本発明は、上記の問題点に鑑み、回転する電極の回転速度を速くすることなく、高い繰り返し周波数で、安定して高温プラズマ原料(スズ)を放電領域に供給し、EUVの安定した発光が可能な極端紫外光光源装置を提供することを目的とする。
発明者は、上記課題解決するために検討を重ねた結果、電極上の原料にレーザを照射するとその照射径とほぼ同等の領域のスズが消失するが、レーザを照射しない側の電極上の原料はほとんど消失せず、したがって、レーザの照射を両方の電極上の原料に対して交互に行えば、電極の回転速度を速くすることなく、高い繰り返し周波数で、安定してスズを放電領域に供給することができることを見出した。
即ち、本発明においては、極端紫外光光源装置を次のように構成する。
周辺部を対向して配置した第1および第2の円盤状の放電電極と、上記第1および第2の放電電極を、それぞれの円の中心を回転中心として回転させる電極回転手段と、上記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、上記第1および第2の放電電極上に、極端紫外光を放射させるための液体または固体の原料を供給する原料供給手段と、上記放電電極上に供給された上記原料に対しエネルギービームを照射し、当該原料を気化させて上記一対の放電電極間で放電を開始させるエネルギービーム照射手段とを備えた極端紫外光光源装置において、上記極端紫外光光源装置は、上記エネルギービーム照射手段からのエネルギービームを、上記第1の電極と第2の電極上の上記原料に対して、あらかじめ設定した周波数で上記第1の電極と第2の電極に対して交互に照射する制御部を備える。
本発明の極端紫外光光源装置において、以下の効果を得ることができる。
エネルギービームの照射を、第1の電極と第2の電極に対して交互に行うので、ひとつの電極に関してみると、エネルギービームが照射される時間間隔が2倍に伸び、したがって、その間に電極が移動する距離も2倍になる。
したがって、回転速度が同じであっても(速くしなくても)、電極のスズが供給されている部分は、2回のレーザ照射の間に、1回前のレーザ照射の影響を受けていない部分にまで移動することができ、放電領域へのスズの供給が不安定になることなく、放電の繰り返し周波数を上げることができる。
本発明の実施例の極端紫外光(EUV)光源装置の構成(正面の断面図)を示す図である。 本発明の実施例の極端紫外光(EUV)光源装置の構成(上面の断面図)を示す図である。 本発明の極端紫外光(EUV)光源装置の動作の概念ついて説明する図である。 回転電極の回転速度に対して、電極が2回のレーザ照射の間にレーザの径の幅分移動できるための繰り返し周波数を示した図である(レーザの径は400μm)。 電極の回転速度に対して、2回のレーザ照射間で電極が移動する距離を示した図である(レーザ照射の繰り返し周波数は10kHz)。 従来の極端紫外光(EUV)光源装置の構成を示す図である。 電極上のスズに対してレーザを照射する位置を説明する図である。
図1、図2に、本発明の実施例の極端紫外光(EUV)光源装置の構成(断面図)を示す。図1は本実施例のEUV光源装置の正面図であり、EUV放射は同図左側から取り出される。図2は、本実施例のEUV光源装置の上面図である。
図1、図2に示すEUV光源装置は、放電容器であるチャンバ1を有する。チャンバ1は、開口を有する隔壁1cを介して、大きく2つの空間に分割される。一方の空間には放電部が配置される。放電部は、EUV放射種を含む高温プラズマ原料を加熱して励起する加熱励起手段である。放電部は、一対の電極11,12等により構成される。
他方の空間には、高温プラズマ原料が加熱励起されて生成した高温プラズマから放出されるEUV光を集光して、チャンバ1に設けられたEUV取出し部7より図示を省略した露光装置の照射光学系へ導くEUV集光鏡2、および、放電によるプラズマ生成の結果生じるデブリがEUV光の集光部へ移動するのを抑制するためのデブリトラップが配置される。本実施例においては、図1、図2に示すようにデブリトラップは、ガスカーテン13bならびにホイルトラップ3から構成される。
以下、放電部が配置される空間を放電空間1a、EUV集光鏡が配置される空間を集光空間1bと呼ぶことにする。放電空間1aには真空排気装置4、集光空間1bには真空排気装置5がそれぞれ連結され、放電空間1aと集光空間1bをそれぞれあらかじめ設定された圧力に維持する。なお、ホイルトラップ3は、例えば、ホイルトラップ保持用隔壁3aによりチャンバ1の集光空間1b内に保持される。
なお、図1、図2においては、放電部がEUV集光部より大きいように示されているが、これは理解を容易にするためであり、実際の大小関係は図1、図2の通りではない。実際は、集光空間1bが放電空間1aより大きい。
以下、本実施例のEUV光源装置の各部の構成について説明する。
(1) 放電部
放電部は、金属製の円盤状部材である第1の放電電極11、同じく金属製の円盤状部材である第2の放電電極12とからなる。
第1および第2の放電電極11,12は、例えば、タングステン、モリブデン、タンタル等の高融点金属からなり、所定距離だけ離間して互いに向かい合うように配置される。ここで、2つの電極11,12のうち一方が接地側電極であり、他方が高電圧側電極である。
第1の放電電極11と第2の放電電極12は周辺部を対向して配置する。
両電極11,12は、その表面が同一平面上になるように配置してもよいが、図2に示すように、放電が発生しやすいように、電力印加時に電界が集中する周辺部のエッジ部分が、所定距離だけ離間して互いに向かい合うように配置することが好ましい。すなわち、各電極表面を含む仮想平面が交差するように各電極を配置することが好ましい。なお上記所定距離は、両電極の周辺部のエッジ部分間距離が最も短い部分での距離である。
両電極11,12にパルス電力供給手段8よりパルス電力が印加されると、上記エッジ部分において放電が発生する。一般的には、両電極11,12のエッジ部分間距離が最も短い部分で多く放電が発生する。以下、両電極間の放電が発生する空間を放電領域と呼ぶことにする。
上記したように、各電極11,12のエッジ部分が所定距離だけ離間して互いに向かい合うように配置した場合、図2に示すように、上方から俯瞰すると、第1および第2の放電電極の表面を含む仮想平面が交差する位置を中心として、両電極は放射状に配置されることになる。
本実施例のEUV光源装置は、エネルギービームの照射により気化した高温プラズマを原料とし、放電による電流駆動によって生成した高温プラズマからのEUV放射光を利用するものである。高温プラズマ原料の加熱励起手段は、一対の電極11,12間に発生した放電による大電流である。電極11,12は、放電と、電極近傍に発生した高温プラズマにより大きな熱的負荷を受ける。このような熱的負荷により電極は徐々に磨耗し金属デブリが発生する。
EUV光源装置は、露光装置の光源装置として使用される場合、高温プラズマから放出されるEUV放射光をEUV集光鏡2より集光し、この集光したEUV放射光を露光装置側へ放出する。上記の金属デブリは、EUV集光鏡2にダメージを与え、EUV集光鏡2におけるEUV光反射率を劣化させる。
また、電極11,12は徐々に磨耗することにより形状が変化する。これにより、一対の電極11,12間で発生する放電が徐々に不安定になり、その結果、EUV光の発生も不安定となる。EUV光源装置を量産型の半導体露光装置の光源として用いる場合、上記したような電極の消耗を抑制し、電極寿命をできるだけ長くすることが必要となる。
このような要求に対応するため、図1、図2に示すEUV光源装置においては、第1の電極11、第2の電極12の形状を円盤状とし、放電時に回転するように構成している。すなわち、第1および第2の電極11,12を回転させることにより、両電極においてパルス放電が発生する位置はパルス毎に変化する。よって、第1および第2の電極11,12が受ける熱的負荷は小さくなり、電極11,12の磨耗スピードが減少し、電極の長寿命化が可能となる。以下、第1の電極11を第1の回転電極、第2の電極12を第2の回転電極ともいう。
具体的には、円盤状の第1の回転電極11、第2の回転電極12の中心部には、それぞれ、第1のモータ22aの回転軸22e、第2のモータ22bの回転軸22fが取り付けられている。第1のモータ22a、第2のモータ22bが、それぞれ回転軸22e,22fを回転させることにより、第1の回転電極11、第2の回転電極12は回転する。なお、回転の方向は特に規制されない。ここで、回転軸22e,22fは、例えば、メカニカルシール22c,22dを介してチャンバ1内に導入される。メカニカルシール22c,22dは、チャンバ1内の減圧雰囲気を維持しつつ、回転軸22e,22fの回転を許容する。
図1に示すように、第1の回転電極11と第2の回転電極12は、その一部が、第1のコンテナ11bと第2のコンテナ12b内の溶融したスズ11a,12aの中に浸されるように配置される。このスズ11a,12aは、波長13.5nmのEUV光を放射する高温プラズマ用原料であるとともに、第1の回転電極11、第2の回転電極12に電力を供給する給電用の金属としても働く。
第1のコンテナ11bおよび第2のコンテナ12bは、チャンバ1内の減圧雰囲気を維持可能な絶縁性の電力導入部11c,12cを介して、パルス電力供給手段である電力発生器8と接続される。第1、第2のコンテナ11b,12b、および、スズ11a,12aは導電性であり、第1の回転電極11の一部および第2の回転電極12の一部は、上記スズ11a,12aに浸漬され、第1のコンテナ11bおよび第2のコンテナ12b間にパルス電力発生器8からパルス電力を印加することにより、第1の回転電極11および第2の回転電極12間にパルス電力が印加される。
なお、図示を省略したが、第1のコンテナ11b、第2のコンテナ12bには、スズを溶融状態に維持する温度調節手段が備えられている。
(2) 原料供給手段
第1のコンテナ11b、第2のコンテナ12bは、第1の回転電極11および第2の回転電極12の表面に、高温プラズマ原料であるスズ11a,12aを供給する原料供給手段でもある。
上記したように、第1の回転電極11および第2の回転電極12は、一部(周辺部)が液体状のスズを収容する上記コンテナの中に浸されるように配置されている。コンテナ11b,12b内で、スズ11a,12aは電極の周辺部表面に付着する。電極に付着したスズ11a,12aは、電極が回転することにより、放電領域に輸送される。放電領域に輸送されたスズ11a,12aにレーザが照射され、スズ11a,12aが気化することにより放電が開始する。
電極表面に付着したスズ11a,12aはレーザの照射により消費されるが、回転して再び第1のコンテナ11b、第2のコンテナ12b内のスズ11a,12aに浸されることにより、電極表面にスズ11a,12aが供給される。なお、本実施例においては、原料供給手段として上記のようなスズを溜めたコンテナを用いているが、電極表面に形成した溝や孔の中に、溶融したスズを滴下する、あるいは流し込むようなものを用いることもできる。
(3) 原料を気化させるエネルギービーム照射手段
エネルギービーム照射手段は、第1のレーザ23を照射する第1のレーザ照射装置23aと、第2のレーザ24を照射する第2のレーザ照射装置24aとを備える。
レーザ23,24を放出するレーザ照射装置23a,24aのレーザ源としては、例えば、炭酸ガスレーザ源や、YAGレーザ、YVO4 レーザ、YLFレーザ等の固体レーザ源、ArFレーザ、KrFレーザ、XeClレーザ等のエキシマレーザ源等を採用することができる。
また本実施例では、放電領域の所定の地点に照射するエネルギービームとしてレーザを照射しているが、レーザの代わりにイオンビーム、電子ビームを電極上の高温プラズマ原料(スズ)に照射するようにしてもよい。
図2に示すように、第1のレーザ23は、第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)対して照射される。また、第2のレーザ24は、第2の回転電極12上の高温プラズマ原料(スズ12a)対して照射される。集光光学系23c,24cとしては、例えば凸レンズが使用される。
回転電極11,12上の高温プラズマ原料(スズ11a,12a)へのレーザ23,24の照射は、第1の回転電極11への照射の次は第2の電極12への照射、その次は第1の回転電極11への照射というように、交互に行う。
一方の回転電極上の高温プラズマ原料(スズ)対してレーザを照射することにより、レーザを照射された高温プラズマ原料(スズ)は気化する。気化したスズは対向配置されている他方の回転電極に達し放電が開始する。
(4) パルス電力発生器
パルス電力供給手段であるパルス電力発生器8は、コンデンサと磁気スイッチとからなる磁気パルス圧縮回路部を介して、負荷である第1のコンテナ11bと第2のコンテナ12b、すなわち、第1の回転電極11と第2の回転電極12との間にパルス幅の短いパルス電力を印加する。
(5) EUV光集光部
放電部により放出されるEUV光は、EUV光集光部に設けられた斜入射型のEUV集光鏡2により集光され、チャンバ1に設けられたEUV光取出部7より図示を省略した露光装置の照射光学系へ導かれる。
この斜入射型のEUV集光鏡2は、一般に、複数枚の薄い凹面ミラーを入れ子状に高精度に配置した構造である。各凹面ミラーの反射面の形状は、例えば、回転楕円面形状、回転放物面形状、ウォルター型形状であり、各凹面ミラーは回転体形状である。ここで、ウォルター型形状とは、光入射面が、光入射側から順に回転双曲面と回転楕円面、もしくは、回転双曲面と回転放物面からなる凹面形状である。
上記した各凹面ミラーの基体材料は、例えば、ニッケル等である。波長が非常に短いEUV光を反射させるので、凹面ミラーの反射面は、非常に良好な平滑面として構成される。この平滑面に施される反射材は、例えば、ルテニウム、モリブデン、およびロジウムなどの金属膜である。各凹面ミラーの反射面には、このような金属膜が緻密にコーティングされる。
このように構成することにより、EUV集光鏡は、0°〜25°の斜入射角度のEUV光を良好に反射し、かつ、集光することが可能となる。
(6) デブリトラップ
上記した放電部とEUV光集光部との間には、電極の磨耗や高温プラズマ原料に起因するデブリ等からEUV集光鏡2のダメージを防ぐために、デブリ等を捕捉してEUV光のみを通過させるためのデブリトラップが設置される。
前記したように、図1、図2に示す本実施例のEUV光源装置においては、デブリトラップはガスカーテン13bおよびホイルトラップ3から構成されている。
ガスカーテン13bは、ガス供給ユニット13からノズル13aを介してチャンバ1内に供給されるガスにより構成される。ガスカーテン13bに使用されるガスは、EUV光に対して透過率の高いガスが望ましく、例えば、ヘリウム、アルゴン等の希ガスや水素などが用いられる。
ガスカーテン13bとEUV集光鏡2との間には、ホイルトラップ3が設けられる。ホイルトラップ3は、高温プラズマから放射されるEUV光を遮らないように、高温プラズマ発生領域の径方向に設置される複数のプレートと、そのプレートを支持するリング状の支持体とから構成されている。このようなホイルトラップの例として、特許文献2や特許文献3に記載された「デブリトラップ」がある。
次に、本発明の極端紫外光(EUV)光源装置の動作ついて、図3を用いて説明する。
本実施例のEUV光源装置は、露光用光源として用いられる場合、例えば、以下のように動作する。なお、ここでは、10kHzの繰り返し周波数で高温プラズマを生成し、EUV光を発生させる場合を考える。
第1の回転電極11と第2の回転電極12に対して、パルス電力発生装置8から10kHzの繰り返し周波数で電力が加えられる。従来であれば、図3(a)に示すように、一方の電極(例えば第1の電極)に対してのみ、上記電力の供給に合わせて10kHzの繰り返し周波数でレーザを照射する。レーザ照射により、電極上の高温プラズマ原料(スズ)が気化し、高温プラズマが生成される。
これに対して本発明においては、図3(b)に示すように、両方の電極に対して、交互にレーザを照射する。
第1と第2の両電極11,12に対しては、従来と同様に、パルス電力発生装置8から10kHzの繰り返し周波数で電力が加えられる。これに合わせて、第1のレーザ23は、5kHzの繰り返し周波数で第1の回転電極11に照射され、また第2のレーザ24は、第1のレーザ23の照射と照射の中間時に、5kHzの繰り返し周波数で第2の回転電極12に照射される。したがって、レーザの照射は、第1のレーザ照射→第2のレーザ照射→第1のレーザ照射→第2のレーザ照射→・・・の順となり、その繰り返し周波数は10kHzとなる。
詳しくは、図1、図2に戻り、制御部26は、第1回目のレーザ照射の指令信号を第1のレーザ照射装置23aに送る。その信号により、第1のレーザ照射装置23aは第1のレーザ23を出射する。出射した第1のレーザ23は集光光学系23cにより集光され、窓部23dを介して、第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)に照射される。レーザ23を照射された第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)は気化し、電力が加えられている電極間で高温プラズマを形成しEUV光を発生する。
このとき、レーザ23を照射された第1の回転電極11では、レーザ23の照射径とほぼ同等の領域のスズ11aが消失する。しかし、対向する第2の回転電極12上のスズ12aはほとんど消失しない。
続いて、制御部26は、第2回目のレーザ照射の指令信号を第2のレーザ照射装置24aに送る。その信号により、第2のレーザ照射装置24aはレーザ24を出射する。出射したレーザ24は集光光学系24cにより集光され、窓部24dを介して、第2の回転電極12上の高温プラズマ原料(スズ12a)に照射される。
レーザ24を照射された第2の回転電極12上の高温プラズマ原料(スズ12a)は気化し、電力が加えられている電極間で高温プラズマを形成しEUV光を発生する。
上記したように、第2の回転電極12上のスズ12aは、前回の第1の回転電極11上のスズ11aへのレーザ23の照射において消失しないので、レーザ24はスズ12aが十分に存在する部分に照射することができ、放電領域へのスズの供給を安定して行うことができる。
続いて、制御部26は、第3回目のレーザ照射の指令信号を第1のレーザ照射装置23aに送る。その信号により、第1のレーザ照射装置23aは第1のレーザ23を出射する。出射した第1のレーザ23は集光光学系23cにより集光され、窓部23dを介して、第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)に照射される。
レーザ23を照射された第1の回転電極11上の高温プラズマ原料(スズ11a)は気化し、電力が加えられている電極間で高温プラズマを形成しEUV光を発生する。
同様に、第1の回転電極11上のスズ11aはその前の第2の回転電極12上のスズ12aへのレーザ24の照射において消失せず、また、第1回目のレーザ照射によりスズ11aが消失した部分は、第2回目の第2の電極12へのレーザ照射と放電が行われている間に遠くに移動しているので、レーザ23はスズ11aが十分に存在する部分に照射することができ、放電領域へのスズの供給を安定して行うことができる。
以下、これらの動作を繰り返す。
図4は、電極上のスズに対して照射するレーザの径が400μmである場合の、回転電極の回転速度に対して、電極が2回のレーザ照射の間に400μm移動するための繰り返し周波数を示したものである。横軸は回転電極のスズが塗布される周辺部の移動速度(単位はm/s)であり、縦軸は放電の繰り返し周波数(単位はkHz)である。
図5は、10kHzの繰り返し周波数で放電を行う場合の、電極の周辺部の移動速度に対して、2回のレーザ照射間で電極の周辺部が移動する距離を示したものである。横軸は回転電極のスズが塗布される周辺部の移動速度(単位はm/s)であり、縦軸は電極の移動距離(単位はμm)である。
両方の図とも、◆は一方の電極に対してのみレーザ照射を行う従来の場合であり、■は両方の電極に対してレーザ照射を行う本発明の場合である。
図4,5に示すように、例えば、10kHzの繰り返し周波数で放電を行う場合、従来の片側の電極にのみレーザ照射を行うのでは、4m/s以上の速度で電極を回転させなければ、2回のレーザ照射の間にレーザの径である400μmを移動できないので、安定した放電を得ることができない。
しかし、上記したように、スズが電極からはがれないようにするためには、電極の回転速度は4m/sが上限である。したがって、放電の繰り返し周波数を10kHz以上に上げることができない。
これに対して、本発明の場合、レーザの照射は2つの電極に対して交互に行うので、10kHzの繰り返し周波数で放電を行なう場合、片方の電極に対しては、5kHzの繰り返し周波数でレーザを照射する。
したがって、電極の回転速度が4m/sの場合、電極は2回のレーザ照射の間に800μm移動することができる。したがって、電極の回転速度を4m/s以上に早くすることなく、放電の繰り返し周波数を20kHzにまで上げることができる。
放電の繰り返し周波数を20kHzに上げても、片方の電極に対しては、10kHzの繰り返し周波数でレーザを照射することになるので、電極の周辺部は、2回のレーザ照射の間にレーザの径である400μmを移動でき、安定した放電を得ることができる。
1 チャンバ
1a 放電空間
1b 集光空間
2 EUV集光鏡
3 ホイルトラップ
4 放電空間の真空排気装置
5 集光空間の真空排気装置
7 EUV取出し部
8 パルス電力発生器
11 第1の放電電極
11a スズ
11b 第1のコンテナ
12 第2の放電電極
12a スズ
12b 第2のコンテナ
23 第1のレーザ
23a 第1のレーザ照射装置
24 第2のレーザ
24a 第2のレーザ照射装置
26 制御部

Claims (1)

  1. 周辺部を対向して配置した第1および第2の円盤状の放電電極と、上記第1および第2の放電電極を、それぞれの円の中心を回転中心として回転させる電極回転手段と、上記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、上記第1および第2の放電電極上に、極端紫外光を放射させるための液体または固体の原料を供給する原料供給手段と、上記放電電極上に供給された上記原料に対しエネルギービームを照射し、当該原料を気化させて上記一対の放電電極間で放電を開始させるエネルギービーム照射手段とを備えた極端紫外光光源装置において、
    上記極端紫外光光源装置は、上記エネルギービーム照射手段からのエネルギービームを、上記第1の電極と第2の電極上の上記原料に対して、あらかじめ設定した周波数で上記第1の電極と第2の電極に対して交互に照射する制御部を備えることを特徴とする極端紫外光光源装置。
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