JP2016195035A - 極端紫外光光源装置 - Google Patents
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- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 57
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 5
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 28
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 20
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 12
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- 230000037237 body shape Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 208000028752 abnormal posture Diseases 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LSGOVYNHVSXFFJ-UHFFFAOYSA-N vanadate(3-) Chemical compound [O-][V]([O-])([O-])=O LSGOVYNHVSXFFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
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- H05G2/00—Apparatus or processes specially adapted for producing X-rays, not involving X-ray tubes, e.g. involving generation of a plasma
- H05G2/001—Production of X-ray radiation generated from plasma
- H05G2/003—Production of X-ray radiation generated from plasma the plasma being generated from a material in a liquid or gas state
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Abstract
【課題】放電電極の回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、放電電極上の高温プラズマ原料の厚みを所望の厚みに維持することができる極端紫外光光源装置を提供する。【解決手段】極端紫外光光源装置は、円盤状の放電電極の曲面上の高温プラズマ原料の膜厚が所定の膜厚となるよう調整する膜厚調整部を備える。膜厚調整部は、放電電極21aの曲面と所定の間隙を介して対向配置する膜厚調整部材(スキマー)30aと、膜厚調整部材30aを曲面に接近する方向に付勢する付勢部材(バネ)32aと、曲面と膜厚調整部材30aとの間隙が所望の膜厚に相当する間隙よりも狭くならないように、付勢部材32aによる付勢方向における膜厚調整部材30aの移動を規制する規制部材(ストッパ)33aと、を備える。【選択図】図3
Description
本発明は、放電により極端紫外光を放射する極端紫外光光源装置に関する。
近年、半導体集積回路の微細化、高集積化につれて、露光用光源の短波長化が進められている。次世代の半導体露光用光源としては、特に波長13.5nmの極端紫外光(以下、「EUV(Extreme Ultra Violet)光」ともいう)を放射する極端紫外光光源装置(以下、「EUV光源装置」ともいう)の開発が進められている。
EUV光源装置において、EUV光を発生させる方法はいくつか知られているが、そのうちの一つに極端紫外光放射種(EUV放射種)を加熱して励起することにより高温プラズマを発生させ、高温プラズマからEUV光を取り出す方法がある。
このような方法を採用するEUV光源装置は、高温プラズマの生成方式により、LPP(Laser Produced Plasma:レーザ生成プラズマ)方式と、DPP(Discharge Produced Plasma:放電生成プラズマ)方式とに分けられる。
EUV光源装置において、EUV光を発生させる方法はいくつか知られているが、そのうちの一つに極端紫外光放射種(EUV放射種)を加熱して励起することにより高温プラズマを発生させ、高温プラズマからEUV光を取り出す方法がある。
このような方法を採用するEUV光源装置は、高温プラズマの生成方式により、LPP(Laser Produced Plasma:レーザ生成プラズマ)方式と、DPP(Discharge Produced Plasma:放電生成プラズマ)方式とに分けられる。
DPP方式のEUV光源装置は、極端紫外光放射源を含む放電ガスが供給された電極間に高電圧を印加して、放電により高密度高温プラズマを生成し、そこから放射される極端紫外光を利用するものである。DPP方式において、放電を発生させる電極表面にSn(スズ)やLi(リチウム)等の原料を供給し、当該原料に対してレーザビーム等のエネルギービームを照射して当該原料を気化し、その後、放電によって高温プラズマを生成する方法が提案されている。このような方式は、LDP(Laser Assisted Discharge Produced Plasma)方式と称されることもある。
LDP方式のEUV光源装置は、例えば金属製の円盤状部材から構成される一対の放電電極を備える。各放電電極は、その一部が液体状の上記原料を収容するコンテナの中に浸されるように配置される。また、各放電電極は、略中心部に連結されたモータによって回転可能である。一対の放電電極の表面上に付着した液体状の原料は、放電電極が回転することで放電領域に輸送される。
放電領域に輸送される電極表面上の原料の厚みは、所望のEUV出力を得るための所定の厚みに調整する必要がある。電極表面上の原料の厚みを調整する機構としては、例えば特許文献1に記載の技術がある。この特許文献1に記載の膜厚調整機構は、ワイパー・エレメントによって、円盤状の放電電極の外周表面上の原料を拭き取り、当該外周表面とワイパー・エレメントとの間に所定のギャップを形成するものである。規定されたギャップ厚を維持するために、ワイパー・エレメントは、バネによって放電電極の外周表面に向けて押圧されている。
放電領域に輸送される電極表面上の原料の厚みは、所望のEUV出力を得るための所定の厚みに調整する必要がある。電極表面上の原料の厚みを調整する機構としては、例えば特許文献1に記載の技術がある。この特許文献1に記載の膜厚調整機構は、ワイパー・エレメントによって、円盤状の放電電極の外周表面上の原料を拭き取り、当該外周表面とワイパー・エレメントとの間に所定のギャップを形成するものである。規定されたギャップ厚を維持するために、ワイパー・エレメントは、バネによって放電電極の外周表面に向けて押圧されている。
上記特許文献1に記載の技術では、放電電極が定常回転している際に外周表面上の原料の厚みが規定された厚みとなるように、バネの力が調整されている。すなわち、バネの力は、放電電極が定常回転しているときの遠心力により電極表面上の原料がワイパー・エレメントに及ぼす力と同等に設定されている。ところが、放電電極が静止している状態から定常回転に至るまでの間は、遠心力により原料がワイパー・エレメントに及ぼす力は、バネの力よりも小さい。そのため、放電電極が静止している状態から定常回転に至るまでの間、ワイパー・エレメントは、バネの付勢力により放電電極の外周表面と接触した状態となる。
したがって、EUV光源装置の停止と稼動(すなわち、放電電極の回転動作の停止と稼動)とを繰り返すうちに、ワイパー・エレメントは放電電極の外周表面との接触よって次第に磨耗する。摩耗が生じると、この摩耗の分だけバネが伸びることになる。よって、放電電極が定常回転するとき、バネの力が、遠心力により電極表面上の原料がワイパー・エレメントに及ぼす力よりも弱くなる。その結果、放電電極の外周表面上の原料の厚みが所望の厚みよりも厚くなってしまう。すると、放電電極が回転したときに外周表面上の原料が遠心力により飛散し、EUV光源装置内部の不所望な部位に付着しやすくなったり、原料にエネルギービームを照射したときに生じる気化原料の量が過剰となり、所望の光出力が得られなくなったりするおそれがある。
そこで、本発明は、放電電極の回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、放電電極上の高温プラズマ原料の厚みを所望の厚みに維持することができる極端紫外光光源装置を提供することを課題としている。
そこで、本発明は、放電電極の回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、放電電極上の高温プラズマ原料の厚みを所望の厚みに維持することができる極端紫外光光源装置を提供することを課題としている。
上記課題を解決するために、本発明に係る極端紫外光光源装置の一態様は、互いに離間して配置される一対の円盤状の回転可能な放電電極と、前記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給部と、前記放電電極の回転運動によって当該放電電極の一部を容器内に充填された液体状の高温プラズマ原料を通過させることにより、前記放電電極上に前記高温プラズマ原料を供給する原料供給部と、前記放電電極の曲面上の前記高温プラズマ原料にエネルギービームを照射して当該高温プラズマ原料を気化するエネルギービーム照射部と、前記曲面上の前記高温プラズマ原料の膜厚が所定の膜厚となるよう調整する膜厚調整部と、を備え、前記膜厚調整部は、前記放電電極の前記曲面と所定の間隙を介して対向配置する膜厚調整部材と、前記膜厚調整部材を前記曲面に接近する方向に付勢する付勢部材と、前記曲面と前記膜厚調整部材との間隙が前記所定の膜厚に相当する間隙よりも狭くならないように、前記付勢部材による付勢方向における前記膜厚調整部材の移動を規制する規制部材と、を備える。
このように、規制部材を設けることで、放電電極の静止時や回転始動して定常回転に至るまでの間に、付勢部材の付勢力により膜厚調整部材が放電電極の曲面に接触することを回避することができる。また、このときの放電電極の曲面と膜厚調整部材との間隙を、所望の間隙とすることができる。さらに、放電電極が定常回転している間は、膜厚調整部材が放電電極上の高温プラズマ原料から受ける浮力によって上記間隙が広くなる方向に移動するのを付勢部材によって規制し、当該間隙を所望の間隙に維持することができる。したがって、常に放電電極の曲面上の高温プラズマ原料の膜厚を所望の膜厚に維持することができる。
また、上記の極端紫外光光源装置において、前記規制部材は、前記膜厚調整部材と点接触で当接して当該膜厚調整部材の移動を規制してもよい。これにより、規制部材と膜厚調整部材との摩擦を少なくすることができる。
さらに、上記の極端紫外光光源装置において、前記規制部材は、前記付勢部材による付勢方向に延在し、先端部を前記膜厚調整部材に当接させて当該膜厚調整部材の移動を規制する六角穴付き止めねじであってもよい。これにより、膜厚調整部材の位置決めを容易且つ適切に行うことができる。また、構造を単純化することができるので、その分のコストダウンが図れる。
さらに、上記の極端紫外光光源装置において、前記規制部材は、前記付勢部材による付勢方向に延在し、先端部を前記膜厚調整部材に当接させて当該膜厚調整部材の移動を規制する六角穴付き止めねじであってもよい。これにより、膜厚調整部材の位置決めを容易且つ適切に行うことができる。また、構造を単純化することができるので、その分のコストダウンが図れる。
本発明によれば、放電電極の回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、放電電極の曲面と膜厚調整部材との間隙を一定の間隙に維持することができる。したがって、放電電極上の高温プラズマ原料の厚みを、常に所望の厚みに維持することができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態の極端紫外光光源装置を示す概略構成図である。
極端紫外光光源装置(EUV光源装置)100は、半導体露光用光源として使用可能な、例えば波長13.5nmの極端紫外光(EUV光)を放出する装置である。
本実施形態のEUV光源装置100は、DPP方式のEUV光源装置であり、より具体的には、放電を発生させる電極表面に供給された高温プラズマ原料に対してレーザビーム等のエネルギービームを照射して当該高温プラズマ原料を気化し、その後、放電によって高温プラズマを発生するLDP方式のEUV光源装置である。
EUV光源装置100は、図1に示すように、放電容器であるチャンバ11を有する。チャンバ11は、開口を有する隔壁11aによって、大きく2つの空間に分割されている。一方の空間は放電空間11bであり、他方の空間は集光空間11cである。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態の極端紫外光光源装置を示す概略構成図である。
極端紫外光光源装置(EUV光源装置)100は、半導体露光用光源として使用可能な、例えば波長13.5nmの極端紫外光(EUV光)を放出する装置である。
本実施形態のEUV光源装置100は、DPP方式のEUV光源装置であり、より具体的には、放電を発生させる電極表面に供給された高温プラズマ原料に対してレーザビーム等のエネルギービームを照射して当該高温プラズマ原料を気化し、その後、放電によって高温プラズマを発生するLDP方式のEUV光源装置である。
EUV光源装置100は、図1に示すように、放電容器であるチャンバ11を有する。チャンバ11は、開口を有する隔壁11aによって、大きく2つの空間に分割されている。一方の空間は放電空間11bであり、他方の空間は集光空間11cである。
放電空間11bには、各々独立して回転可能な一対の放電電極21a,21bが互いに離間して対向配置されている。放電電極21a,21bは、EUV放射種を含む高温プラズマ原料を加熱して励起するための放電部材である。
放電空間11bの圧力は、高温プラズマ原料を加熱励起するための放電が良好に発生するように、真空雰囲気に維持されている。
集光空間11cには、EUV集光鏡(集光ミラー)12と、デブリトラップ13とが配置されている。
EUV集光鏡12は、高温プラズマ原料が加熱励起されることで放出されるEUV光を集光し、チャンバ11に設けられたEUV取出部11dから、例えば露光装置の照射光学系(不図示)へ導くものである。
放電空間11bの圧力は、高温プラズマ原料を加熱励起するための放電が良好に発生するように、真空雰囲気に維持されている。
集光空間11cには、EUV集光鏡(集光ミラー)12と、デブリトラップ13とが配置されている。
EUV集光鏡12は、高温プラズマ原料が加熱励起されることで放出されるEUV光を集光し、チャンバ11に設けられたEUV取出部11dから、例えば露光装置の照射光学系(不図示)へ導くものである。
EUV集光鏡12は、例えば、斜入射型の集光鏡であり、複数枚の薄い凹面ミラーを入れ子状に高精度に配置した構造を有する。各凹面ミラーの反射面の形状は、例えば、回転楕円面形状、回転放物面形状、ウォルター型形状であり、各凹面ミラーは回転体形状である。ここで、ウォルター型形状とは、光入射面が、光入射側から順に回転双曲面と回転楕円面、もしくは、回転双曲面と回転放物面からなる凹面形状である。
EUV集光鏡12は、反射面形状が回転楕円面形状、ウォルター型形状等いずれかの形状であって、径が互いに異なる回転体形状の凹面ミラーを複数枚備える。EUV集光鏡を構成するこれらの凹面ミラーは、同一軸上に、焦点位置が略一致するように回転中心軸を重ねて配置される。このように凹面ミラーを入れ子状に高精度に配置することにより、EUV集光鏡12は、25°程度以下の斜入射角度のEUV光を良好に反射し、且つ一点に集光することが可能となる。
EUV集光鏡12は、反射面形状が回転楕円面形状、ウォルター型形状等いずれかの形状であって、径が互いに異なる回転体形状の凹面ミラーを複数枚備える。EUV集光鏡を構成するこれらの凹面ミラーは、同一軸上に、焦点位置が略一致するように回転中心軸を重ねて配置される。このように凹面ミラーを入れ子状に高精度に配置することにより、EUV集光鏡12は、25°程度以下の斜入射角度のEUV光を良好に反射し、且つ一点に集光することが可能となる。
また、上記した各凹面ミラーの基体材料は、例えば、ニッケル(Ni)等である。波長が非常に短いEUV光を反射させるため、凹面ミラーの反射面は、非常に良好な平滑面として構成される。この平滑面に施される反射材は、例えば、ルテニウム(Ru)、モリブデン(Mo)、およびロジウム(Rh)などの金属膜である。各凹面ミラーの反射面には、このような金属膜が緻密にコーティングされている。
デブリトラップ13は、放電によるプラズマ生成の結果生じるデブリを捕捉し、当該デブリがEUV光の集光部へ移動するのを抑制する。当該デブリトラップ13は、デブリを捕捉してEUV光のみを通過させる働きをする。
デブリトラップ13は、放電によるプラズマ生成の結果生じるデブリを捕捉し、当該デブリがEUV光の集光部へ移動するのを抑制する。当該デブリトラップ13は、デブリを捕捉してEUV光のみを通過させる働きをする。
放電空間11bに配置された一対の放電電極21a,21bは、金属製の円盤状部材である。放電電極21a,21bは、例えば、タングステン、モリブデン、タンタル等の高融点金属からなる。ここで、2つの放電電極21a,21bのうち、一方の放電電極21aがカソードであり、他方の放電電極21bがアノードである。
放電電極21aは、その一部が液体状の高温プラズマ原料22aを収容する容器であるコンテナ23aの中に浸されるように配置される。放電電極21aの略中心部には、モータ24aの回転軸25aが取り付けられている。すなわち、モータ24aが回転軸25aを回転させることにより、放電電極21aは回転する。モータ24aは、制御部40によって駆動制御される。
放電電極21aは、その一部が液体状の高温プラズマ原料22aを収容する容器であるコンテナ23aの中に浸されるように配置される。放電電極21aの略中心部には、モータ24aの回転軸25aが取り付けられている。すなわち、モータ24aが回転軸25aを回転させることにより、放電電極21aは回転する。モータ24aは、制御部40によって駆動制御される。
また、回転軸25aは、例えば、メカニカルシール26aを介してチャンバ11内に導入される。メカニカルシール26aは、チャンバ11内の減圧雰囲気を維持しつつ、回転軸25aの回転を許容する。
放電電極21bも、放電電極21aと同様に、その一部が高温プラズマ原料22bを収容するコンテナ23bの中に浸されるように配置される。放電電極21bの略中心部には、モータ24bの回転軸25bが取り付けられている。すなわち、モータ24bが回転軸25bを回転させることにより、放電電極21bは回転する。モータ24bは、制御部40によって駆動制御される。
放電電極21bも、放電電極21aと同様に、その一部が高温プラズマ原料22bを収容するコンテナ23bの中に浸されるように配置される。放電電極21bの略中心部には、モータ24bの回転軸25bが取り付けられている。すなわち、モータ24bが回転軸25bを回転させることにより、放電電極21bは回転する。モータ24bは、制御部40によって駆動制御される。
また、回転軸25bは、例えば、メカニカルシール26bを介してチャンバ11内に導入される。メカニカルシール26bは、チャンバ11内の減圧雰囲気を維持しつつ、回転軸25bの回転を許容する。
放電電極21a,21bの表面上に乗った液体状の高温プラズマ原料22a,22bは、放電電極21a,21bが回転することで放電領域に輸送される。
ここで、放電領域とは、両電極21a,21b間の放電が発生する空間であり、両電極21a,21bが最も近接した部分である。本実施形態では、放電電極21a,21bは、周縁部のエッジ部分を互いに一定距離離間して対向配置されている。したがって、上記放電領域は、放電電極21a,21bの周縁部のエッジ部分間距離が最も短い部分となる。
放電電極21a,21bの表面上に乗った液体状の高温プラズマ原料22a,22bは、放電電極21a,21bが回転することで放電領域に輸送される。
ここで、放電領域とは、両電極21a,21b間の放電が発生する空間であり、両電極21a,21bが最も近接した部分である。本実施形態では、放電電極21a,21bは、周縁部のエッジ部分を互いに一定距離離間して対向配置されている。したがって、上記放電領域は、放電電極21a,21bの周縁部のエッジ部分間距離が最も短い部分となる。
高温プラズマ原料22a,22bとしては、溶融金属、例えば液体状のスズ(Sn)を用いる。この高温プラズマ原料22a,22bは、放電電極21a,21bに電力を供給する給電用の導電体としても働く。
コンテナ23a,23bは、チャンバ11内の減圧雰囲気を維持可能な絶縁性の電力導入部11e,11fを介して、パルス電力供給部27に接続されている。コンテナ23a及び23b、並びに高温プラズマ原料であるスズ22a及び22bは導電性である。放電電極21aの一部及び放電電極21bの一部はそれぞれスズ22a,22bに浸漬しているので、コンテナ23a,23b間にパルス電力供給部27からパルス電圧を印加することで、放電電極21a,21b間にパルス電力を供給することができる。
なお、特に図示しないが、コンテナ23a及び23bには、スズ22a,22bを溶融状態に維持する温度調節機構が設けられている。
コンテナ23a,23bは、チャンバ11内の減圧雰囲気を維持可能な絶縁性の電力導入部11e,11fを介して、パルス電力供給部27に接続されている。コンテナ23a及び23b、並びに高温プラズマ原料であるスズ22a及び22bは導電性である。放電電極21aの一部及び放電電極21bの一部はそれぞれスズ22a,22bに浸漬しているので、コンテナ23a,23b間にパルス電力供給部27からパルス電圧を印加することで、放電電極21a,21b間にパルス電力を供給することができる。
なお、特に図示しないが、コンテナ23a及び23bには、スズ22a,22bを溶融状態に維持する温度調節機構が設けられている。
パルス電力供給部27は、コンテナ23a及び23b間、すなわち放電電極21a及び21b間にパルス幅の短いパルス電圧を印加する。パルス電力供給部27は、制御部40によって駆動制御される。
レーザ源28は、放電領域に輸送された放電電極21a上のスズ22aに対してレーザ光(エネルギービーム)を照射するエネルギービーム照射部である。レーザ源28は、例えばNd:YVO4レーザ装置(Neodymium-doped Yttrium Orthovanadate レーザ装置)である。このレーザ源28が放出するレーザ光Lは、レーザ光集光部等を介してチャンバ11の窓部11gに入射し、放電電極21a上に導かれる。レーザ源28によるレーザ光の照射タイミングは、制御部40が制御する。
レーザ源28は、放電領域に輸送された放電電極21a上のスズ22aに対してレーザ光(エネルギービーム)を照射するエネルギービーム照射部である。レーザ源28は、例えばNd:YVO4レーザ装置(Neodymium-doped Yttrium Orthovanadate レーザ装置)である。このレーザ源28が放出するレーザ光Lは、レーザ光集光部等を介してチャンバ11の窓部11gに入射し、放電電極21a上に導かれる。レーザ源28によるレーザ光の照射タイミングは、制御部40が制御する。
パルス電力供給部27により放電電極21a,21bにパルス電力を供給した状態で、放電領域に輸送された高温プラズマ原料22aに対してレーザ光が照射されると、当該高温プラズマ原料が気化し、両電極21a,21b間でパルス放電が開始される。その結果、高温プラズマ原料22a,22bによるプラズマPが形成される。そして、放電時に流れる大電流によりプラズマPが加熱励起され高温化すると、この高温プラズマPからEUV光が放射される。
なお、上述したように放電電極21a,21b間にはパルス電力を供給するため、上記放電はパルス放電となり、放射されるEUV光はパルス状に放射されるパルス光となる。
なお、上述したように放電電極21a,21b間にはパルス電力を供給するため、上記放電はパルス放電となり、放射されるEUV光はパルス状に放射されるパルス光となる。
本実施形態では、放電電極21a,21bの表面上に乗った液体状の高温プラズマ原料22a,22bの膜厚を所望の膜厚(例えば、10μm)に調整するために、放電電極21a,21bにそれぞれ膜厚調整機構(膜厚調整手段)30a,30bを備える。
放電領域に輸送される電極表面上の液体状の高温プラズマ原料22a,22bの厚みが薄すぎると、レーザビーム等のエネルギービームを照射した際に生じる気化原料(低温プラズマ)の量が不足し、その後、放電によって高温プラズマを生成する際、プラズマの強度(密度)が不十分となる。よって、所望の強度のEUVをプラズマから取り出せなくなる。
放電領域に輸送される電極表面上の液体状の高温プラズマ原料22a,22bの厚みが薄すぎると、レーザビーム等のエネルギービームを照射した際に生じる気化原料(低温プラズマ)の量が不足し、その後、放電によって高温プラズマを生成する際、プラズマの強度(密度)が不十分となる。よって、所望の強度のEUVをプラズマから取り出せなくなる。
一方、高温プラズマ原料22a,22bの厚みが厚すぎると、電極回転の際に生じる遠心力により、電極表面上の高温プラズマ原料22a,22bの一部が飛散し、デブリとなってEUV光源装置100内部の不所望な部位に付着するおそれが生じる。また、厚みが厚すぎる高温プラズマ原料22a,22bにレーザビーム等のエネルギービームを照射した場合、生じる気化原料(低温プラズマ)の量が過剰となる。そして、その後、放電によって高温プラズマを生成する際、プラズマの密度が高くなりすぎ、プラズマから放出されるEUVの一部がこの高密度プラズマによって吸収されたり、プラズマからEUV以外の波長を有する光の放出量が多くなったりする。
したがって、放電領域に輸送される電極表面上の液体状の高温プラズマ原料22a,22bの厚みは、所定の厚みに調整する必要がある。
したがって、放電領域に輸送される電極表面上の液体状の高温プラズマ原料22a,22bの厚みは、所定の厚みに調整する必要がある。
以下、膜厚調整機構30a,30bについて具体的に説明する。なお、放電電極21aの膜厚調整機構30aと放電電極21bの膜厚調整機構30bとは同一構成を有するため、ここでは放電電極21aの膜厚調整機構30aについてのみ説明する。
膜厚調整機構30aは、図2に示すように、放電電極21aの周縁部の一部を包囲する膜厚調整部材(以下、「スキマー」という。)31aを備える。ここで、スキマー31aは、例えばタングステンやモリブデン等、高温プラズマ原料であるスズ22aに対して不活性な材料で構成する。
膜厚調整機構30aは、図2に示すように、放電電極21aの周縁部の一部を包囲する膜厚調整部材(以下、「スキマー」という。)31aを備える。ここで、スキマー31aは、例えばタングステンやモリブデン等、高温プラズマ原料であるスズ22aに対して不活性な材料で構成する。
スキマー31aは、放電電極21aの対向する2つの円形表面と、これら2つの円形表面の間に存在する側面(曲面)との間に、それぞれ上記所望の膜厚に相当するギャップ(間隙)を形成する凹部を有する。スキマー31aは、上記凹部の底面を放電電極21aの側面に対向させて配置される。すなわち、放電電極21aが回転することで当該放電電極21a上に付着した高温プラズマ原料22aは、スキマー31aを通過する際に、放電電極21aの側面上の膜厚が上記ギャップに対応する膜厚となるように調整される。
スキマー31aは、放電電極21aのレーザ光Lが照射される領域において、高温プラズマ原料22aの膜厚が所望の膜厚となる位置に配置する。また、スキマー31aは、例えば水平方向や重力方向等をそれぞれバネ等によって支持されている。ここで、スキマー31aは、放電電極21aの回転時も静止時も、上記ギャップが所望の膜厚に相当する大きさに維持されるように支持されている。
スキマー31aは、放電電極21aのレーザ光Lが照射される領域において、高温プラズマ原料22aの膜厚が所望の膜厚となる位置に配置する。また、スキマー31aは、例えば水平方向や重力方向等をそれぞれバネ等によって支持されている。ここで、スキマー31aは、放電電極21aの回転時も静止時も、上記ギャップが所望の膜厚に相当する大きさに維持されるように支持されている。
図3は、膜厚調整機構30aの構成を示す図である。この図3に示すように、膜厚調整機構30aは、スキマー31aの他に、バネ32aと、ストッパ33aとを備える。
バネ32aは、スキマー31aを放電電極21aの側面に接近させる方向(図3の矢印の方向)に付勢する付勢部材である。バネ32aの一端はスキマー31aに固定され、他端は例えばチャンバ11に固定されている。ここで、バネ32aの付勢力は、放電電極21aが定常回転しているとき(最も回転数が大きいとき)に、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップが、所望の膜厚Dに相当する値となる大きさに設定する。
バネ32aは、スキマー31aを放電電極21aの側面に接近させる方向(図3の矢印の方向)に付勢する付勢部材である。バネ32aの一端はスキマー31aに固定され、他端は例えばチャンバ11に固定されている。ここで、バネ32aの付勢力は、放電電極21aが定常回転しているとき(最も回転数が大きいとき)に、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップが、所望の膜厚Dに相当する値となる大きさに設定する。
また、スキマー31aを挟んでバネ32aが配置された側とは反対側には、ストッパ33aが配置されている。ストッパ33aは、例えばチャンバ11に固定された支持部材11hに固定されており、スキマー31aと対向する側の端部は、スキマー31aと当接可能な当接部となっている。ストッパ33aは、放電電極21aの側面とスキマー31aとのギャップが所望の膜厚Dに相当する値よりも小さくならないように、バネ32aによる付勢方向におけるスキマー31aの移動を規制する規制部材である。
ここで、ストッパ33aの先端形状は、例えば球面形状であり、スキマー31aと点接触で当接するようになっている。なお、ストッパ33aの先端形状は、例えば平面形状等であってもよい。ストッパ33aとしては、例えばステンレス鋼によって構成された、例えば六角穴付き止めねじ(イモネジ)を用いることができる。この場合、バネ32aの付勢方向に延在するようにストッパ33aであるイモネジを配置し、イモネジの先端部をスキマー31aに当接させて当該スキマー31aの移動を規制するようにすればよい。
放電電極21aが回転すると、図4に示すように、放電電極21a上の液体状のスズ22aは矢印方向の遠心力CFを受ける。このとき、スキマー31aは、遠心力CFの影響により、液体状の高温プラズマ原料であるスズ22aによって矢印方向の力を受ける。すなわち、スキマー31aは、スズ22aから、スキマー31aと放電電極21a表面との距離が大きくなる方向の浮力を受けることになる。
回転体に作用する遠心力は、回転体の角速度ωの二乗に比例する。そのため、放電電極21aの回転中にスキマー31aがスズ22aから受ける力は、放電電極21aの回転数が最も高くなる定常回転時に最大となる。
ここで、仮にスキマー31aがフリーに保持されていると、スキマー31aは上記浮力の分だけ図4の右側へ移動してしまう。すなわち、放電電極21aの回転数が高くなるにつれて、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面との間のギャップが大きくなる方向に変化し、放電電極21a上のスズ22aの厚みが所望の膜厚Dよりも厚くなってしまう。
ここで、仮にスキマー31aがフリーに保持されていると、スキマー31aは上記浮力の分だけ図4の右側へ移動してしまう。すなわち、放電電極21aの回転数が高くなるにつれて、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面との間のギャップが大きくなる方向に変化し、放電電極21a上のスズ22aの厚みが所望の膜厚Dよりも厚くなってしまう。
また、放電電極21aは、放電動作を繰り返すうちに加熱され、熱膨張により径方向に大きくなる。そのため、仮にスキマー31aが、放電電極21aとの位置関係が固定されるようにリジットに保持されていると、放電電極21aの熱膨張により、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面との間のギャップが小さくなり、放電電極21a上のスズ22aの厚みが所望の膜厚Dよりも薄くなってしまう。スズ22aの所望の膜厚Dは、例えば10μmと薄いため、上記熱膨張により放電電極21aの側面がスキマー31aの底面と接触するおそれもある。場合によっては、スキマー31aにより回転する放電電極21aが不所望な制動力を受けるといった不具合も発生し得る。
これに対して、本実施形態では、弾性体であるバネ32aを用いてスキマー31aを保持する。そして、バネ32aの付勢力を、放電電極21aが定常回転しているときに、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップが、所望の膜厚Dに相当する値となる大きさに設定する。したがって、放電電極21aが回転し、遠心力によりスキマー31aが浮力を受けたとしても、スキマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップを所望の膜厚Dに維持することができる。また、放電動作を繰り返し、放電電極21aが熱膨張したとしても、放電電極21aの側面とスキマー31aの底面との接触を回避することができる。
すなわち、所定のEUV光出力を得る定常運転中は、上記したように放電動作が繰り返されて放電電極21a自体も加熱され、当該放電電極21aの熱膨張が発生する。その結果、図5に示すように、スキマー31aは、放電電極21aの熱膨張分だけストッパ33aから浮き上がるが、バネ32aによって、スキマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップの大きさが所望の膜厚Dとなる位置で保持される。
また、定常運転開始時における放電電極21aの温度が低く、熱膨張の影響が小さい場合においては、図6に示すように、スキマー31aはストッパ33aに当接する位置で保持される。この場合にも、スキマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップの大きさは、所望の膜厚Dとなる。
また、定常運転開始時における放電電極21aの温度が低く、熱膨張の影響が小さい場合においては、図6に示すように、スキマー31aはストッパ33aに当接する位置で保持される。この場合にも、スキマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップの大きさは、所望の膜厚Dとなる。
一方、上記したように、バネ32aの付勢力は、放電電極21aが定常回転しているときに、放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップが、所望の膜厚Dに相当する値となる大きさに設定されているので、当然ながら放電電極21aが定常回転しているとき、キマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップの大きさが所望の膜厚Dとなる位置で保持される。
また、放電電極21aの静止時や回転始動時等、回転数が比較的小さい状態では、遠心力よりもバネ32aの力の方が大きくなるため、スキマー31aの凹部底面は放電電極21aの側面に接近するような力を受ける。しかしながら、上記したようにストッパ33aを設けたので、図6に示すように、スキマー31aはストッパ33aに当接する位置で保持される。この場合にも、スキマー31aと放電電極21aの側面との間のギャップの大きさは、所望の膜厚Dとなる。
このように、膜厚調整機構30aは、放電電極21aの熱膨張の度合、回転数に左右されず常に放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップを、所望の膜厚Dに相当する値に維持し、側面上のスズ22aの膜厚を所望の膜厚Dに維持することができる。
このように、膜厚調整機構30aは、放電電極21aの熱膨張の度合、回転数に左右されず常に放電電極21aの側面とスキマー31aの凹部底面とのギャップを、所望の膜厚Dに相当する値に維持し、側面上のスズ22aの膜厚を所望の膜厚Dに維持することができる。
比較例として、本実施形態におけるストッパ33aに相当する規制部材を備えていない膜厚調整機構について、図7〜図12を参照しながら説明する。
図7に示すように、比較例の膜厚調整機構130は、スキマー131aと、バネ132aとを備える。ここで、スキマー131aは、本実施形態におけるスキマー31aと同様の構成を有する。また、バネ132aは、本実施形態におけるバネ32aと同様に、スキマー131aを放電電極21aの側面に接近させる方向(図7の矢印の方向)に付勢する。ここで、バネ132aの付勢力は、放電電極21aが定常回転している際に、スキマー131aと放電電極21aの側面とのギャップが所望の膜厚Dとなるように設定されているものとする。
この場合、放電電極21aが定常回転している間は、図8に示すように、スキマー131aと放電電極21aの側面とのギャップが所望の膜厚Dとなり、側面上のスズ22aの膜厚は所望の膜厚Dとなる。
図7に示すように、比較例の膜厚調整機構130は、スキマー131aと、バネ132aとを備える。ここで、スキマー131aは、本実施形態におけるスキマー31aと同様の構成を有する。また、バネ132aは、本実施形態におけるバネ32aと同様に、スキマー131aを放電電極21aの側面に接近させる方向(図7の矢印の方向)に付勢する。ここで、バネ132aの付勢力は、放電電極21aが定常回転している際に、スキマー131aと放電電極21aの側面とのギャップが所望の膜厚Dとなるように設定されているものとする。
この場合、放電電極21aが定常回転している間は、図8に示すように、スキマー131aと放電電極21aの側面とのギャップが所望の膜厚Dとなり、側面上のスズ22aの膜厚は所望の膜厚Dとなる。
しかしながら、放電電極21aが静止している状態からある程度の回転数に至るまでの間は、スズ22aに作用する遠心力(スキマー131aに作用する浮力)よりもバネ132aの付勢力の方が大きくなる。そのため、放電電極21aの回転始動時は、図9に示すように、スキマー131aの凹部底面が放電電極21aの側面に接触した状態となる。したがって、EUV光源装置の停止と稼動(すなわち、放電電極21aの回転の停止と稼動)とを繰り返すうちに、スキマー131aは回転始動時に接触している放電電極21aによって次第に磨耗する。
スキマー131aの磨耗が進むと、図10に示すように、スキマー131aが放電電極21aの側面と接触しているときのバネ132aの長さは、磨耗前と比べてスキマー131aの磨耗分Δxだけ長くなる。すなわち、バネ132aがスキマー131aを押す力が弱くなる。
遠心力によるスズ22aからの浮力に対して、バネ132aのスキマー131aを押す力が弱くなると、図11に示すように、放電電極21aの定常回転時における側面上のスズ22aの厚みが 所望の膜厚Dよりも大きい膜厚D1となる。このように、放電電極21aの側面上のスズ22aの厚みが増すと、放電電極21aが回転したときに、遠心力により放電電極21aからスズ22aの一部が飛散しやすくなる。飛散したスズ22aは、デブリとなってEUV光源装置内部の不所望な部位に付着する。また、飛散したスズ22aは、電極間のショートの原因にもなり得る。
遠心力によるスズ22aからの浮力に対して、バネ132aのスキマー131aを押す力が弱くなると、図11に示すように、放電電極21aの定常回転時における側面上のスズ22aの厚みが 所望の膜厚Dよりも大きい膜厚D1となる。このように、放電電極21aの側面上のスズ22aの厚みが増すと、放電電極21aが回転したときに、遠心力により放電電極21aからスズ22aの一部が飛散しやすくなる。飛散したスズ22aは、デブリとなってEUV光源装置内部の不所望な部位に付着する。また、飛散したスズ22aは、電極間のショートの原因にもなり得る。
上記のようなスキマー131aが磨耗した際のスズ22aの飛散を防止するためには、放電電極21aの回転数を減少させる必要がある。すなわち、比較例においては、図12に示すように、EUV光源装置の稼働時間が長いほど、放電電極21aの定常回転時の回転数(回転速度)を小さくする必要がある。
しかしながら、放電電極21aの回転数が小さくなると、ある時点での放電電極21aにおけるレーザビーム照射位置と、次回のEUV発生動作時の放電電極21aにおけるレーザ照射位置との距離が接近してしまう。この場合、次回のEUV発生動作の際のレーザビーム照射時に、照射地点(放電電極21a上)に十分な量のスズ22aが存在せず、EUV発光特性が悪化してしまうおそれがある。
しかしながら、放電電極21aの回転数が小さくなると、ある時点での放電電極21aにおけるレーザビーム照射位置と、次回のEUV発生動作時の放電電極21aにおけるレーザ照射位置との距離が接近してしまう。この場合、次回のEUV発生動作の際のレーザビーム照射時に、照射地点(放電電極21a上)に十分な量のスズ22aが存在せず、EUV発光特性が悪化してしまうおそれがある。
さらに、図9に示すように放電電極21aとスキマー131aとが接触した場合、必ずしも図10に示すように、放電電極21aの側面に対してスキマー131aの凹部底面が平行に磨耗するとは限らない。例えば、図13に示すように、放電電極21aに対してスキマー131aが傾いた姿勢でスキマー131aが放電電極21aに接触することもある。
この場合、放電電極21aがスキマー131aから不所望な制動力を受けて放電電極21aの回転が減速したり、図13の矢印方向(放電電極21aの回転軸方向)のスキマー131aの磨耗が発生したりする。このような磨耗が発生すると、スキマー131aと放電電極21aとのギャップが設定値(所望の膜厚D)以上により大きくなり、上述したような不具合(スズ22aの飛散、EUV発光特性の悪化等)がより顕著になる。
この場合、放電電極21aがスキマー131aから不所望な制動力を受けて放電電極21aの回転が減速したり、図13の矢印方向(放電電極21aの回転軸方向)のスキマー131aの磨耗が発生したりする。このような磨耗が発生すると、スキマー131aと放電電極21aとのギャップが設定値(所望の膜厚D)以上により大きくなり、上述したような不具合(スズ22aの飛散、EUV発光特性の悪化等)がより顕著になる。
これに対して、本実施形態では、膜厚調整機構30aを、放電電極21aの側面(曲面)と所望の膜厚Dに相当するギャップ(間隙)を介して対向配置するスキマー31aと、スキマー31aを放電電極21aの側面に接近する方向に付勢するばね32aと、上記ギャップが所望の膜厚Dに相当する値よりも小さくならないように、バネ32aによる付勢方向におけるスキマー31aの移動を規制するストッパ33aと、を含んで構成する。
そのため、放電電極21aの回転始動時においても、定常回転時においても、常にスキマー31aは放電電極21aとは接触せず、しかも放電電極21aとスキマー31aとのギャップを所望の膜厚Dに相当する値に維持することが可能となる。
このように、回転始動時(静止時も含む)に放電電極21aとスキマー31aとが接触しないため、スキマー31aの磨耗を抑制することができる。また、スキマー31aの磨耗に伴うバネ32aの力の減少に起因する上記ギャップの増大も生じない。したがって、図11に示すような、不所望なスズ22aの飛散は発生しない。
このように、回転始動時(静止時も含む)に放電電極21aとスキマー31aとが接触しないため、スキマー31aの磨耗を抑制することができる。また、スキマー31aの磨耗に伴うバネ32aの力の減少に起因する上記ギャップの増大も生じない。したがって、図11に示すような、不所望なスズ22aの飛散は発生しない。
さらに、スズ22aの飛散抑制のために、定常回転時の電極回転数を減少させる必要もない。そのため、EUV発光特性の悪化を回避し、安定したEUV発光特性を実現することができる。
また、放電電極21aに対するスキマー31aの姿勢を、両者が接触しない状態で安定に保つことができるので、図13に示すような異常な姿勢でスキマー31aが放電電極21aに接触(干渉)することを防止することができる。したがって、放電電極21aとスキマー31aとが接触(干渉)して放電電極21aの回転が減速する等の不具合を回避することができる。
また、放電電極21aに対するスキマー31aの姿勢を、両者が接触しない状態で安定に保つことができるので、図13に示すような異常な姿勢でスキマー31aが放電電極21aに接触(干渉)することを防止することができる。したがって、放電電極21aとスキマー31aとが接触(干渉)して放電電極21aの回転が減速する等の不具合を回避することができる。
また、スキマー31aと放電電極21aとのギャップが維持されるように、スキマー31aの移動を規制するストッパ33aを設けるので、スキマー31aを付勢するバネ32aとして、上述した比較例のバネ132aよりも弾性力の強いばねを採用することもできる。
バネ32aの弾性力が強化され、バネ32aからスキマー31aに対して放電電極21aに押し付けられる方向の比較的強い力が印加されても、ストッパ33aは、上記ギャップが所望値を下回る位置にはスキマー31aが移動できないように、スキマー31aの移動を規制する。そのため、放電電極21aの熱膨張が無視できる程度である場合、上述した比較例のバネ132aよりも弾性力の強いばねを採用することができる。これにより、遠心力の変化に十分に対応することが可能となり、放電電極21aの回転数を上げることが可能となる。
バネ32aの弾性力が強化され、バネ32aからスキマー31aに対して放電電極21aに押し付けられる方向の比較的強い力が印加されても、ストッパ33aは、上記ギャップが所望値を下回る位置にはスキマー31aが移動できないように、スキマー31aの移動を規制する。そのため、放電電極21aの熱膨張が無視できる程度である場合、上述した比較例のバネ132aよりも弾性力の強いばねを採用することができる。これにより、遠心力の変化に十分に対応することが可能となり、放電電極21aの回転数を上げることが可能となる。
さらに、ストッパ33aの先端形状を球面形状とし、スキマー31aと点接触で当接する構成とするので、ストッパ33aとスキマー31aとの摩擦を少なくすることができる。また、ストッパ33aとして六角穴付き止めねじ(イモネジ)を用いることで、スキマー31aの位置決めを容易且つ適切に行うことができ、上記ギャップが所望値となるように調整することができる。また、構造を単純化することができるので、その分のコストダウンが図れる。
以上のように、本実施形態におけるEUV光源装置100は、放電電極21aの回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、スキマー31aと放電電極21aとの接触が生じず、且つ放電電極21a上の液体状の高温プラズマ原料(スズ)22aの厚みを所望の膜厚Dに維持することができる。
以上のように、本実施形態におけるEUV光源装置100は、放電電極21aの回転動作の停止と稼動とが繰り返されても、スキマー31aと放電電極21aとの接触が生じず、且つ放電電極21a上の液体状の高温プラズマ原料(スズ)22aの厚みを所望の膜厚Dに維持することができる。
(応用例)
上記実施形態においては、高温プラズマ原料に照射するエネルギービームとしてレーザを用いる場合について説明したが、レーザに代えてイオンビームや電子ビーム等を用いることもできる。
さらに、上記実施形態においては、EUV光源装置を半導体露光用光源として用いる場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、露光用マスクの検査装置等の光源として用いることもできる。
上記実施形態においては、高温プラズマ原料に照射するエネルギービームとしてレーザを用いる場合について説明したが、レーザに代えてイオンビームや電子ビーム等を用いることもできる。
さらに、上記実施形態においては、EUV光源装置を半導体露光用光源として用いる場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、露光用マスクの検査装置等の光源として用いることもできる。
11…チャンバ、12…EUV集光鏡、13…ホイルトラップ、21a,21b…放電電極、22a,22b…高温プラズマ原料、23a,23b…コンテナ、24a,24b…モータ、27…パルス電力発供給部、28…レーザ源、30a,30b…膜厚調整機構、31a…スキマー(膜厚調整部材)、32a…バネ(付勢部材)、33a…ストッパ(規制部材)、100…極端紫外光光源装置(EUV光源装置)
Claims (3)
- 互いに離間して配置される一対の円盤状の回転可能な放電電極と、
前記放電電極にパルス電力を供給するパルス電力供給手段と、
前記放電電極の回転運動によって当該放電電極の一部を容器内に充填された液体状の高温プラズマ原料を通過させることにより、前記放電電極上に前記高温プラズマ原料を供給する原料供給手段と、
前記放電電極の曲面上の前記高温プラズマ原料にエネルギービームを照射して当該高温プラズマ原料を気化するエネルギービーム照射手段と、
前記曲面上の前記高温プラズマ原料の膜厚が所定の膜厚となるよう調整する膜厚調整手段と、を備え、
前記膜厚調整手段は、
前記放電電極の前記曲面と所定の間隙を介して対向配置する膜厚調整部材と、
前記膜厚調整部材を前記曲面に接近する方向に付勢する付勢部材と、
前記曲面と前記膜厚調整部材との間隙が前記所定の膜厚に相当する間隙よりも狭くならないように、前記付勢部材による付勢方向における前記膜厚調整部材の移動を規制する規制部材と、を備えることを特徴とする極端紫外光光源装置。 - 前記規制部材は、前記膜厚調整部材と点接触で当接して当該膜厚調整部材の移動を規制することを特徴とする請求項1に記載の極端紫外光光源装置。
- 前記規制部材は、前記付勢部材による付勢方向に延在し、先端部を前記膜厚調整部材に当接させて当該膜厚調整部材の移動を規制する六角穴付き止めねじであることを特徴とする請求項1または2に記載の極端紫外光光源装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015074231A JP2016195035A (ja) | 2015-03-31 | 2015-03-31 | 極端紫外光光源装置 |
US15/083,372 US10143075B2 (en) | 2015-03-31 | 2016-03-29 | Device for emitting extreme ultraviolet light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015074231A JP2016195035A (ja) | 2015-03-31 | 2015-03-31 | 極端紫外光光源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016195035A true JP2016195035A (ja) | 2016-11-17 |
Family
ID=57017798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015074231A Pending JP2016195035A (ja) | 2015-03-31 | 2015-03-31 | 極端紫外光光源装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10143075B2 (ja) |
JP (1) | JP2016195035A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179578A (ja) * | 2020-05-15 | 2021-11-18 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置および極端紫外光の生成方法 |
WO2024122179A1 (ja) * | 2022-12-09 | 2024-06-13 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置及び膜厚調整機構 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11862922B2 (en) * | 2020-12-21 | 2024-01-02 | Energetiq Technology, Inc. | Light emitting sealed body and light source device |
CN113960019A (zh) * | 2021-10-26 | 2022-01-21 | 天津大学 | 一种双转盘电极原子发射光谱油液元素装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6815700B2 (en) * | 1997-05-12 | 2004-11-09 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with improved pulse power system |
JP4949516B2 (ja) | 2007-09-07 | 2012-06-13 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ガス放電光源用の電極デバイス、及びこの電極デバイスをもつガス放電光源を作動させる方法 |
WO2014115733A1 (ja) * | 2013-01-22 | 2014-07-31 | 日新電機株式会社 | プラズマ装置、それを用いたカーボン薄膜の製造方法およびコーティング方法 |
-
2015
- 2015-03-31 JP JP2015074231A patent/JP2016195035A/ja active Pending
-
2016
- 2016-03-29 US US15/083,372 patent/US10143075B2/en active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021179578A (ja) * | 2020-05-15 | 2021-11-18 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置および極端紫外光の生成方法 |
JP7405000B2 (ja) | 2020-05-15 | 2023-12-26 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光光源装置および極端紫外光の生成方法 |
WO2024122179A1 (ja) * | 2022-12-09 | 2024-06-13 | ウシオ電機株式会社 | 光源装置及び膜厚調整機構 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20160295674A1 (en) | 2016-10-06 |
US10143075B2 (en) | 2018-11-27 |
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