CN1238159C - 具有判定磨削量的指示符的液晶显示器件及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明中公开了一种具有用来判定一液晶显示板磨削量的指示符的液晶显示器件和采用该指示符的磨削量故障判定方法。该指示符包括：至少一个形成于液晶显示板的一选通衬垫单元和一数据衬垫单元上的定位标记；和至少一个用来检测选通衬垫单元和定位标记的第一端部与数据衬垫单元和定位标记的第二端部之间磨削量的图案。

Description

具有判定磨削量的指示符的液晶显示器件及其检测方法
技术领域
本发明涉及一种液晶显示板，尤其涉及一种用来判定液晶显示板磨削量的指示符和用该指示符检测磨削故障的方法。虽然本发明适于较宽的应用范围，不过本发明尤其适于在把较大的母板衬底切割为多个单位液晶板之后，简化磨削单个液晶显示板的边缘部分中的磨削检测过程。
背景技术
通常，将一液晶显示(LCD)板切割成多个单位LCD板，以提高产量。为了同时生产多个LCD板，在两个不同的母板衬底上形成多个薄膜晶体管和滤色器。之后，将这两个母板衬底相互附着在一起。
按照惯例，通过用一切割轮(wheel)在母板衬底的表面上形成一条划线的方法，进行单位LCD板的切割，该切割轮的硬度大于玻璃并且能在母板衬底上划出一条划线。以下将参照附图描述一种LCD装置的制造方法。
图1是一示意性剖视图，它示出包括薄膜晶体管阵列衬底的第一母板衬底和包括滤色器衬底的第二母板衬底。第一母板衬底和第二母板衬底相互附着在一起，由此形成多个单位LCD板。
参见图1，形成这些单位LCD板，以使薄膜晶体管阵列衬底1的一侧形成得突出于滤色器衬底2。这是因为选通衬垫(gate pad)单元(图中未示)和数据衬垫(data pad)单元(图中未示)形成于未与滤色器衬底2交叠的薄膜晶体管阵列衬底1的边缘部分处。
因此，对于虚拟区31的区域来说，形成于第二母板衬底30上的滤色器衬底2是分开形成的，虚拟区31对应于薄膜晶体管阵列衬底1在第一母板衬底20上伸出的区域。
而且，令各单位LCD板定位于有效利用第一母板衬底20和第二母板衬底30。根据该模型，对于虚拟区32的区域来说，单位LCD板是分开形成的。
包括薄膜晶体管阵列衬底1的第一母板衬底20和包括滤色器衬底2的第二母板衬底30相互附着在一起。之后，将这些LCD板切割成单独的板。此时，同时去除形成第二母板衬底30的滤色器衬底2的虚拟区31和用来分开单位LCD板的虚拟区32。
在将第二母板衬底30切割成多个单位LCD板之后，去除用来阻止静电的一条短线，该短线形成于薄膜晶体管阵列衬底1的边缘部分处。在该方法中，单位LCD板的锐角转角受到磨削。当在薄膜晶体管阵列衬底1上形成导电膜时，短线上可能发生静电。而且，通过磨削LCD板的锐角转角，工件不会因为外力冲撞而与单位LCD板的转角分开，并且能够在制造过程中防止操作人员因单位LCD板锐角转角而受到伤害。
以下将参照附图描述传统单位LCD板的磨削方法和磨削量的检测方法。
图2是该传统单位LCD板的示意性平面图。
参见图2，一单位LCD板10包括：一图像显示单元13，液晶盒以一矩阵形式排列；一选通衬垫单元14，它用来将图像显示单元13的多条选通线GL1至GLm接至选通驱动集成电路(图中未示)，该电路加有一选通信号；和一数据衬垫单元15，它用来将图像显示单元13的多条数据线DL1至DLn接至数据驱动集成电路(图中未示)，该电路加有图像信息。在薄膜晶体管阵列衬底1的边缘部分上，形成选通衬垫单元14和数据衬垫单元15，与滤色器衬底2相比，该边缘部分的两个侧边都是突出的。
在数据线DL1至DLn与选通线GL1至GLm垂直交叉的区域上，其中形成一用来开关液晶盒的薄膜晶体管。形成一象素电极，以使其接至薄膜晶体管，用以驱动液晶盒。在整个表面上形成一钝化膜，以保护数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm、各薄膜晶体管和各电极。
而且，用来电短路导电膜的短线(图中未示)形成于薄膜晶体管阵列衬底1的边缘部分，以去除可能产生于在薄膜晶体管阵列衬底1上形成数据线DL1至DLn、选通线GL1至Glm和电极中的静电。
在图像显示单元13的滤色器衬底2上，通过具有黑色矩阵的液晶盒区涂敷和分开多个滤色器。在薄膜晶体管阵列衬底1上形成与象素电极相对应的公共透明电极。
在薄膜晶体管阵列衬底1与滤色器衬底2之间形成盒间隙，以便两个衬底相互间隔开并且相互面对。通过一密封单元(图中未示)连接薄膜晶体管阵列衬底1和滤色器衬底2，该密封单元形成于图像显示单元13的外部。在薄膜晶体管阵列衬底1与滤色器衬底2之间的空间形成一液晶层(图中未示)。
另一方面，形成多个标记50a至50j并且使其相互分开，用以为数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm定位，以接触选通驱动集成电路和数据驱动集成电路的多个管脚。
必须磨削上面的单位LCD板10，以使其如图2中扩展区EX1所示，自单位LCD板10的端部到磨削线R1有一斜边。但是，单位LCD板10的实际磨削线有一自磨削线R1开始的误差范围D1。若该误差在误差范围D1之外，则确定该磨削有故障。
为了检测该故障，操作人员必须使受磨削的单位LCD板10离开生产线达一预定时间段。然后，应当借助位于测量设备中的高放大率照相机或投影仪，用另外的设备检测单位LCD板10的实际磨削线是否在误差范围D1之外。
如前所述，在操作人员将单位液晶板与生产线分开以测量受切割单位LCD板磨削量之后，用测量设备检验磨削量的操作很复杂，也很麻烦。这样，产量降低得如测量单位LCD板磨削量的时间那么多。
由于额外需要一种昂贵的测量设备，所以增加了安装费用和保养与维修费用，由此提高了产品的成本。
而且，由于在一预定时间段内通过对单位LCD板采样来进行磨削量的测量，所以降低了检测的可靠性。还有，完成的单位LCD板可能会受到处理。操作停止，并且包括未采样板的所有液晶显示板的磨削量都应在磨削出现故障时受到检测。因此严重地浪费了原材料和时间。
发明内容
因此，本发明涉及一种具有判定磨削量的指示符的液晶显示器件及用该指示符检测磨削故障的方法，该方法基本上避免了因已有技术的局限和缺点导致产生的一个或多个问题。
本发明的另一个目的在于提供一种具有判定磨削量的指示符的液晶显示器件及用该指示符检测磨削故障的方法，该方法简化了在切割装配在母板衬底上液晶显示板之后磨削单位LCD板边缘部分过程中的磨削检测过程。
本发明的其他特征和优点将在以下的描述中列出，根据该描述，它们一部分将变得很明显，或者可以通过对本发明的实践得以学会。通过在以下所写的说明书及其权利要求书以及附图中特别指出的结构，可以实现和得到部分的这些目的和其他优点。
为了实现根据本发明目的的这些和其他优点，如所具体实施和概括描述的那样，一种具有用来判定液晶显示板磨削量的指示符的液晶显示器件，包括：具有一选通衬垫单元和一数据衬垫单元的液晶显示板；至少一个形成于液晶显示板的选通衬垫单元和数据衬垫单元上的定位标记；和至少一个用来判定位于选通衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第一端部之间与数据衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第二端部之间磨削量的图案，其中该图案具有可以磨削的预定宽度并且可以通过裸眼观察，从而根据该图案的磨削量判定所述液晶显示板的磨削状态。
在本发明的另一个方面，一种液晶显示板磨削量的判定方法，包括：磨削一液晶显示板的边缘部分，该边缘部分在一选通衬垫单元和一数据衬垫单元上具有至少一个定位标记，并且该边缘部分具有至少一个用来判定位于选通衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第一端部之间与数据衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第二端部之间磨削量的图案，该图案具有可以磨削的预定宽度并且可以通过裸眼观察，从而根据该图案的磨削量判定所述液晶显示板的磨削状态；以及通过检验该图案，判定液晶显示板的磨削量。
应理解的是，前面总的描述和以下详细的描述都是示例和解释性的，意欲用它们提供如所要求保护的本发明的进一步解释。
附图的简要说明
所包括用来提供对本发明进一步理解的附图包括在本申请中，并且构成了本申请的一部分，它们示出了本发明的实施例，并且连同说明书一起用来解释本发明的原理。
这些附图中：
图1是一示意性剖视图，它示出将包括薄膜晶体管阵列衬底的第一母板衬底和包括滤色器衬底的第二母板衬底相互附着以形成多个液晶显示(LCD)板；
图2是一传统单位LCD板的平面图和定位标记部分的放大图；
图3是一示意图，它示出根据本发明第一实施例用于检测一LCD板磨削量的指示符；
图4是一示意图，它示出根据本发明第二实施例用于检测一LCD板磨削量的指示符。
具体实施例
现在将详细描述本发明的实施例，其示例示于附图中。无论如何，在整个附图采用相同的参考数字以作为相同或相似部件的参照。
图3是一示意图，它示出根据本发明第一实施例具有用于检测一LCD板磨削量图案的指示符。
如图3所示，一单位LCD板100包括：图像显示单元113，它具有以矩阵形式排列的液晶盒；选通衬垫单元114，它用来将图像显示单元113的多条选通线GL1至GLm接至选通驱动集成电路(图中未示)，该电路上加有一选通信号；和一数据衬垫单元115，它用来将图像显示单元113的多条数据线DL1至DLn接至数据驱动集成电路(图中未示)，该电路上加有图像信息。此时，在薄膜晶体管阵列衬底101突出得比滤色器衬底102长的边缘部分上，形成选通衬垫单元114和数据衬垫单元115。
在数据线DL1至DLn与选通线GL1至GLm垂直相交的区域，形成一用于开关液晶盒的薄膜晶体管。形成一象素电极，以使其接至该薄膜晶体管，用以驱动液晶盒。在整个表面上形成一钝化膜，以保护数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm、各薄膜晶体管和各电极。
而且，用来电短路导电膜的短线(图中未示)形成于薄膜晶体管阵列衬底101的边缘部分，以消除可能产生于在薄膜晶体管阵列衬底101上形成导电膜如一数据线、一选通线和一电极中的静电。
在图像显示单元113的滤色器衬底102上，通过具有黑色矩阵的液晶盒区涂敷和分开多个滤色器。在薄膜晶体管阵列衬底101上形成与象素电极相对应的公共透明电极。
在薄膜晶体管阵列衬底101与滤色器衬底102之间形成盒间隙，以便两个衬底相互间隔开并且相互面对。通过一密封层(图中未示)连接薄膜晶体管阵列衬底101和滤色器衬底102，该密封层形成于图像显示单元113的外部。在薄膜晶体管阵列衬底101与滤色器衬底102之间的空间形成一液晶层(图中未示)。
另一方面，形成预定数目的敲制标记(tap mark)150a至150j并且使其相互分开，用以为数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm定位，以接触选通驱动集成电路和数据驱动集成电路的多个管脚。例如，如图3所示，在选通衬垫单元114上形成三个敲制标记150a至150c并且使其相互分开，在数据衬垫单元115上形成7个敲制标记150d至150j以使其相互分开。
必须磨削上面的单位LCD板100，以使其如图3中扩展区EX1所示，自单位LCD板100的端部到磨削线R1有一斜边。但是，单位LCD板100的实际磨削线有一自磨削线R1开始的误差范围D1。这样，若该误差在误差范围D1之外，则确定该磨削有故障。
按照惯例，操作人员必须从生产线上取出受磨削的单位液晶显示板100达一预定时间段。用另外的设备检测所选的单位液晶显示板，以用位于该检测设备上的高放大率照相机或投影仪确定该单位LCD板100的实际磨削线是否在误差范围D1之外。
但是，在本发明的实施例中，如图3所示，在与误差范围D1相对应的区上形成判断磨削量的图案120。在误差范围D1的中间形成磨削线R1。此时，将误差范围D1设定为从磨削线R1起约±100μm。理想的是，当在选通衬垫单元114上形成判断磨削量120的图案时，同时形成该图案和选通线GL1至GLm。当在数据衬垫单元115上形成判断磨削量120的图案时，同时形成该图案和数据线DL1至DLn。
所以，用裸眼确定单位液晶显示板100的实际磨削线是否在误差范围D1之外。
也就是说，如果用来判定完成的单位LCD板100磨削量120的所观察的图案根本没有受到磨削，那么应当进行更进一步的磨削。如果所观察的图案弯曲受到了磨削以致没有留下图案的任何一部分，那么磨削得过度了。
采用根据本发明第一实施例用来判定LCD板磨削量的图案和用该图案检测磨削故障的方法，无需另外的测量仪器，并且与传统的LCD及其方法不同，对所有的单位LCD板100确定磨削故障。
图4是一示意图，它示出了具有根据本发明第二实施例用来检测LCD板磨削量的图案的指示符。
图4中的单位LCD板100包括：图像显示单元113，它具有以矩阵形式排列的液晶盒；选通衬垫单元114，它用来将图像显示单元113的多条选通线GL1至GLm接至选通驱动集成电路(图中未示)，该电路上加有一选通信号；和一数据衬垫单元115，它用来将图像显示单元113的多条数据线DL1至DLn接至数据驱动集成电路(图中未示)，该电路上加有图像信息。在薄膜晶体管阵列衬底101从滤色器衬底102伸出的垂直和水平边构成的边缘部分上，形成选通衬垫单元114和数据衬垫单元115。
在数据线DL1至DLn与选通线GL1至GLm垂直相交的区域，形成一用于开关液晶盒的薄膜晶体管。形成一象素电极，以使其接至该薄膜晶体管，用以驱动液晶盒。在整个表面上形成一钝化膜，以保护数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm、各薄膜晶体管和各电极。
而且，用来电短路导电膜的短线(图中未示)形成于薄膜晶体管阵列衬底101的边缘部分，以去除可能产生于在薄膜晶体管阵列衬底101上形成导电膜如一数据线、一选通线和一电极中的静电。
在图像显示单元113的滤色器衬底102上，形成通过具有黑色矩阵的液晶盒区分开的多个滤色器，并且在薄膜晶体管阵列衬底101上形成与象素电极相对应的公共透明电极。
在薄膜晶体管阵列衬底101与滤色器衬底102之间形成盒间隙，以便两个衬底相互间隔开并且相互面对。通过一密封层(图中未示)连接薄膜晶体管阵列衬底101和滤色器衬底102，该密封层形成于图像显示单元113的外部。在薄膜晶体管阵列衬底101与滤色器衬底102之间的空间形成一液晶层(图中未示)。
形成多个敲制标记150a至150j并且使其相互分开，用以为数据线DL1至DLn、选通线GL1至GLm定位，以接触选通驱动集成电路和数据驱动集成电路的多个管脚。例如，如图4所示，在选通衬垫单元114上形成三个敲制标记150a至150c并且使其相互分开，在数据衬垫单元115上均匀地分开形成7个敲制标记150d至150j。
必须磨削上面的单位LCD板100，以使其如图3中扩展区EX1所示，自单位LCD板100的端部END1到磨削线R1有一斜边。单位LCD板100的实际磨削线可以有一自磨削线R1开始的误差范围D1。若该实际磨削线在误差范围D1之外，则确定该磨削有故障。
在本发明的第二实施例中，在误差范围D1的区上分开形成判断磨削量的多个图案220a至220o，该误差范围D1包括在误差范围区中间的磨削线R1。
通过将一距离划分成一恒定的标度，用裸眼检验用来检测一磨削量的图案220a至220o，该距离例如是从误差范围D1的中间部分内磨削线R1起约±100μm。这样，这些图案可以有约200μm的宽度。
例如，如图4所示，当在中央部分形成用来检测一磨削量的三个图案220g至220i时，第一区处于向单位LCD板100的端部END1的方向上，第二区处于向敲制标记150j的方向上。用磨削线R1分开第一区和第二区。
具有用来检测一磨削量的图案220b至220f的第一区形成得更靠近敲制标记150j。与图案220b相同的图案220a形成于距中央图案220g至220i最远处。
具有用来检测一磨削量的图案220j至220n的第二区在一恒定距离水平上形成得更靠近单位LCD板100的端部END1。类似地，与图案220n相同的图案220o形成于距中央图案220g至220i最远处。
形成在最远处外侧形成的图案220a和220o，用以可靠地判断磨削故障，同时形成于中央部分上的三个图案220g至220i用来确定单位LCD板100的实际受磨削的线和磨削线R1是否彼此相同。
可以用多个显示标记检测单位LCD板100的实际磨削量。例如，可以在对应于图案220a至220o形成敲制标记150j的区的边缘部分以一恒定的标度采用数字符号如(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)。如果误差范围D1是从磨削线R1起约±100μm，则数字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)的标度约为10μm。
根据本发明的第二实施例，可以通过裸眼的检验确定单位LCD板100的实际磨削线是否在误差范围D1之外。
例如，当没有观察到侧边缘部分处的图案220a和220b而观察到完成的单位LCD板100的图案220a至220o时，确定发生故障，因为磨削过量。相反，若另一个侧边缘部分处的图案220a和220o根本没有受到磨削，则确定发生故障，因为需要进一步磨削。
可以通过用裸眼检验来检测单位LCD板100实际受到磨削的线和磨削线R1。此外，可以通过用高放大率的照相机检测与图案220a至220o相对应的数字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)，在约20μm的误差范围内检测单位LCD板100的实际磨削量。
当形成划分区以具有更多的图案200a至200o从而形成更细小的标度时，可以减小约20μm的误差范围。
因此，当开始将误差范围D1设定到从磨削线R1起约±100，然后变至约±80μm时，根据本发明第二实施例，仍然可以通过用高放大率的照相机检测与图案220a至220o相对应的数字(-10，-8，-6，-4，-2，-0，2，4，6，8，10)来进行操作。
所以，根据本发明，提高了产量，因为操作人员不必从生产线上取出单位LCD板以检验所切割单位LCD板的磨削量，从而测量磨削量。而且，由于无需测量设备，所以降低了安装费用和保养与维修费用。
此外，由于可以通过用裸眼简单地检验来确定所有单位LCD板的磨削故障，所以与需要取出单位LCD板达一时间段的传统方法不同，它提高了检验的可靠性。
按照惯例，当发生磨削故障时，必须停止制造过程以检验包括采样和未采样板的整个板。因此，可能会因磨削故障不得不处理某些已经完成的单位板。所以，大大浪费了原材料和时间。但是，本发明通过在生产线上检查整个单位产品，避免了以上的问题。
借助用来判定LCD板磨削量的图案和用该图案检测磨削故障的方法，在误差范围变窄时也不难执行检测过程，因为用与判断磨削量的图案相对应的数字检测单位LCD板的实际磨削量。
对本领域普通技术人员来说很明显的是，在不脱离本发明实质或范围的情况下，可以在用来判定一液晶显示板磨削量的指示符和用本发明的该指示符检测磨削故障的方法中作各种修改和变换。这样，假定本发明的这些修改和变换落在所附权利要求书的范围内，则意欲使本发明覆盖它们及其等同物。

Claims (23)

1.一种具有用来判定一液晶显示板磨削量的指示符的液晶显示器件，包括：
具有一选通衬垫单元和一数据衬垫单元的液晶显示板；
至少一个形成于液晶显示板的选通衬垫单元和数据衬垫单元上的定位标记；和
至少一个用来判定位于选通衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第一端部之间与数据衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第二端部之间磨削量的图案，
其中该图案具有可以磨削的预定宽度并且可以通过裸眼观察，从而根据该图案的磨削量判定所述液晶显示板的磨削状态。
2.权利要求1的液晶显示器件，其中定位标记是一敲制标记。
3.权利要求1的液晶显示器件，其中磨削量最佳位于该图案在磨削方向上的中部。
4.权利要求3的液晶显示器件，其中该图案的宽度在磨削量误差范围之内。
5.权利要求4的液晶显示器件，其中该误差范围是从图案的中部起约±100μm。
6.权利要求1的液晶显示器件，其中该图案形成为具有一不连续形状。
7.权利要求1的液晶显示器件，其中该图案沿一最佳磨削线分为第一区和第二区。
8.权利要求7的液晶显示器件，其中第一区自最佳磨削线起比第二区更靠近液晶显示板的端部。
9.权利要求7的液晶显示器件，其中第二区自最佳磨削线起比第一区更靠近定位标记。
10.权利要求7的液晶显示器件，还包括对应于每一个图案显示在第二区以下的一个标记，以表示一磨削量。
11.一种液晶显示板磨削量的判定方法，包括：
磨削一液晶显示板的边缘部分，该边缘部分在一选通衬垫单元和一数据衬垫单元上具有至少一个定位标记，并且该边缘部分具有至少一个用来判定位于选通衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第一端部之间与数据衬垫单元的外侧边缘和定位标记的第二端部之间磨削量的图案，该图案具有可以磨削的预定宽度并且可以通过裸眼观察，从而根据该图案的磨削量判定所述液晶显示板的磨削状态；以及
通过检验该图案，判定液晶显示板的磨削量。
12.权利要求11的方法，其中液晶显示板具有多条选通线和数据线。
13.权利要求11的方法，其中同时形成其选通衬垫单元和选通线中的图形。
14.权利要求11的方法，其中同时形成在数据衬垫单元和数据线中的图形。
15.权利要求11的方法，其中定位标记是一敲制标记。
16.权利要求11的方法，其中磨削量最佳位于该图案在磨削方向上的中部。
17.权利要求16的方法，其中该图案的宽度在磨削量误差范围之内。
18.权利要求17的方法，其中该误差范围是从图案的中部起约±100μm。
19.权利要求11的方法，其中该图案形成为具有一不连续形状。
20.权利要求11的方法，其中该图案沿一最佳磨削线分为第一区和第二区。
21.权利要求20的方法，其中第一区自最佳磨削线起比第二区更靠近液晶显示板的端部。
22.权利要求20的方法，其中第二区自最佳磨削线起比第一区更靠近定位标记。
23.权利要求20的方法，其中通过显示在第二区以下的一个标记区分该图案。
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