WO2017090733A1 - 磁気抵抗効果素子、磁気メモリ、磁化反転方法、及び、スピン流磁化反転素子 - Google Patents

磁気抵抗効果素子、磁気メモリ、磁化反転方法、及び、スピン流磁化反転素子 Download PDF

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    • H01F10/3286—Spin-exchange coupled multilayers having at least one layer with perpendicular magnetic anisotropy

Definitions

  • writing magnetization reversal
  • writing is performed using a magnetic field generated by current
  • writing is performed using spin transfer torque (STT) generated by flowing a current in the stacking direction of the magnetoresistive element.
  • STT spin transfer torque
  • Non-Patent Document 1 magnetization reversal using a pure spin current generated by spin-orbit interaction is also applicable (for example, Non-Patent Document 1).
  • the pure spin current generated by the spin-orbit interaction induces spin-orbit torque (SOT) and can cause magnetization reversal depending on the magnitude of SOT.
  • SOT spin-orbit torque
  • the pure spin current is produced by the same number of upward spin electrons and downward spin electrons flowing in opposite directions, and the electric charge flow is canceled out, so that the current flowing through the magnetoresistive effect element is zero. If the magnetization can be reversed only by this pure spin current, since the current is zero, the lifetime of the magnetoresistive element can be extended.
  • the current used for STT can be reduced by using SOT by pure spin current. It is thought that the life can be extended. Even when both STT and SOT are used, it is considered that the higher the ratio of using SOT, the longer the life of the magnetoresistive effect element.
  • the spin orbit torque wiring may include a nonmagnetic metal having an atomic number of 39 or more having d electrons or f electrons in the outermost shell.
  • a cap layer is provided between the spin orbit torque wiring and the second ferromagnetic metal layer, The orbital torque wiring and the second ferromagnetic metal layer may be joined via the cap layer.
  • the spin orbit torque wiring has a side wall junction that is joined to a side wall of the second ferromagnetic metal layer. May be.
  • the current density flowing through the spin orbit torque wiring is 1 ⁇ 10 7 A / cm 2. Less than.
  • the magnetoresistive effect element described in (1) to (6) above is obtained after a current is applied to the power source of the spin orbit torque wiring. A current is applied to the power supply of the element.
  • a spin current magnetization reversal element includes a second ferromagnetic metal layer having a variable magnetization direction and extending in a direction intersecting with the perpendicular direction of the second ferromagnetic metal layer.
  • a spin orbit torque wiring connected to the second ferromagnetic metal layer, The spin orbit torque wiring includes a pure spin current generation unit made of a material that generates a pure spin current, and a low resistance unit made of a material having an electric resistance smaller than that of the pure spin current generation unit. At least a part of the portion is in contact with the second ferromagnetic metal layer.
  • the magnetoresistance effect element of the present invention it is possible to reduce the density of reversal current flowing through the magnetoresistance effect element.
  • a wiring 30 for flowing a current in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20, a substrate 10 on which the wiring 30 is formed, and a cap layer are also shown.
  • the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20 is the z direction
  • the direction perpendicular to the z direction and parallel to the spin orbit torque wiring 40 is the x direction
  • the direction orthogonal to the x direction and the z direction is the y direction.
  • the magnetoresistive element 20 is a tunneling magnetoresistance (TMR) element when the nonmagnetic layer 22 is made of an insulator, and a giant magnetoresistance (GMR) when the nonmagnetic layer 22 is made of metal. Giant Magnetoresistance) element.
  • TMR tunneling magnetoresistance
  • GMR giant magnetoresistance
  • Heusler alloy such as Co 2 FeSi.
  • the Heusler alloy includes an intermetallic compound having a chemical composition of X 2 YZ, where X is a transition metal element or noble metal element of Co, Fe, Ni, or Cu group on the periodic table, and Y is Mn, V It is a transition metal of Cr, Ti or Ti, and can take the elemental species of X, and Z is a typical element of Group III to Group V. Examples thereof include Co 2 FeSi, Co 2 MnSi, and Co 2 Mn 1-a Fe a Al b Si 1-b .
  • the first ferromagnetic metal layer 21 has [Co (0.24 nm) / Pt (0.16 nm)] 6 / Ru (0.9 nm) / [Pt (0.16 nm) / Co (0.16 nm). )] 4 / Ta (0.2 nm) / FeB (1.0 nm).
  • a ferromagnetic material particularly a soft magnetic material can be applied.
  • a metal selected from the group consisting of Cr, Mn, Co, Fe, and Ni, an alloy containing one or more of these metals, these metals and at least one element of B, C, and N are included. Alloys that can be used can be used. Specific examples include Co—Fe, Co—Fe—B, and Ni—Fe.
  • a known material can be used for the nonmagnetic layer 22.
  • the nonmagnetic layer 22 is made of an insulator (when it is a tunnel barrier layer), as the material, Al 2 O 3 , SiO 2 , Mg, MgAl 2 O 4 O, or the like can be used.
  • materials in which a part of Al, Si, Mg is substituted with Zn, Be, or the like can also be used.
  • MgO and MgAl 2 O 4 are materials that can realize a coherent tunnel, spin can be injected efficiently.
  • the nonmagnetic layer 22 is made of metal, Cu, Au, Ag, or the like can be used as the material.
  • a cap layer 24 is preferably formed on the surface of the second ferromagnetic metal layer 23 opposite to the nonmagnetic layer 22 as shown in FIG.
  • the cap layer 24 can suppress element diffusion from the second ferromagnetic metal layer 23.
  • the cap layer 24 also contributes to the crystal orientation of each layer of the magnetoresistive effect element 20. As a result, by providing the cap layer 24, the magnetism of the first ferromagnetic metal layer 21 and the second ferromagnetic metal layer 23 of the magnetoresistive effect element 20 can be stabilized, and the resistance of the magnetoresistive effect element 20 can be reduced. it can.
  • any one selected from the group consisting of silver, copper, magnesium, and aluminum for the cap layer 24.
  • the cap layer 24 does not dissipate the spin propagating from the spin orbit torque wiring 40. It is known that silver, copper, magnesium, aluminum, and the like have a long spin diffusion length of 100 nm or more and are difficult to dissipate spin.
  • the thickness of the cap layer 24 is preferably equal to or less than the spin diffusion length of the substance constituting the cap layer 24. If the thickness of the cap layer 24 is equal to or less than the spin diffusion length, the spin propagating from the spin orbit torque wiring 40 can be sufficiently transmitted to the magnetoresistive element 20.
  • the upward spin S + (S1) and the downward spin S ⁇ (S2) are bent in directions orthogonal to the current, respectively.
  • the normal Hall effect and the spin Hall effect are common in that the moving (moving) charge (electrons) can bend in the moving (moving) direction, but the normal Hall effect is that the charged particles moving in the magnetic field exert Lorentz force.
  • the direction of motion is bent, but the spin Hall effect is greatly different in that the direction of movement is bent only by the movement of electrons (only the current flows) even though there is no magnetic field.
  • the material of the spin orbit torque wiring does not include a material made only of a ferromagnetic material.
  • the electron flow of the upward spin S + is defined as J ⁇
  • the electron flow of the downward spin S ⁇ as J ⁇
  • the spin current as J S
  • J S J ⁇ ⁇ J ⁇
  • JS flows upward in the figure as a pure spin current.
  • J S is an electron flow having a polarizability of 100%.
  • a current is passed through the spin orbit torque wiring to generate a pure spin current, and the pure spin current is diffused to the second ferromagnetic metal layer in contact with the spin orbit torque wiring.
  • the spin orbit torque wiring 40 may include a nonmagnetic heavy metal.
  • the heavy metal is used to mean a metal having a specific gravity equal to or higher than yttrium.
  • the spin orbit torque wiring 40 may be made of only nonmagnetic heavy metal.
  • the nonmagnetic heavy metal is preferably a nonmagnetic metal having an atomic number of 39 or more having d electrons or f electrons in the outermost shell. This is because such a nonmagnetic metal has a large spin-orbit interaction that causes a spin Hall effect.
  • the spin orbit torque wiring 40 may be made of only a nonmagnetic metal having an atomic number of 39 or more and having d electrons or f electrons in the outermost shell.
  • topological insulator for example, SnTe, Bi 1.5 Sb 0.5 Te 1.7 Se 1.3 , TlBiSe 2 , Bi 2 Te 3 , (Bi 1-x Sb x ) 2 Te 3 are preferable. These topological insulators can generate a spin current with high efficiency.
  • a base layer (not shown) may be formed on the surface of the substrate 10 on the magnetoresistive effect element 20 side.
  • the crystallinity such as crystal orientation and crystal grain size of each layer including the first ferromagnetic metal layer 21 laminated on the substrate 10 can be controlled.
  • the underlayer preferably has an insulating property. This is to prevent current flowing in the wiring 30 and the like from being dissipated.
  • Various layers can be used for the underlayer.
  • the underlayer has a (001) -oriented NaCl structure and is at least one selected from the group consisting of Ti, Zr, Nb, V, Hf, Ta, Mo, W, B, Al, and Ce.
  • a nitride layer containing two elements can be used.
  • the wiring 30 is electrically connected to the first ferromagnetic metal layer 21 of the magnetoresistive effect element 20, and in FIG. 1, the wiring 30, the spin orbit torque wiring 40, and a power source (not shown) constitute a closed circuit. A current flows in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20.
  • 3 to 6 are schematic views for explaining an embodiment of the spin orbit torque wiring, wherein (a) is a cross-sectional view and (b) is a plan view, respectively.
  • the current that flows for the magnetization reversal of the magnetoresistive effect element of the present invention is the current that flows directly to the magnetoresistive effect element in order to use the STT effect (hereinafter referred to as “STT inversion current”
  • STT inversion current the current that flows directly to the magnetoresistive effect element in order to use the STT effect
  • SOT inversion current a current that flows through the spin orbit torque wiring in order to use the SOT effect. Since both currents are normal currents accompanied by the flow of electric charge, Joule heat is generated when the current is passed.
  • the STT reversal current is reduced as compared with the configuration in which the magnetization reversal is performed only by the STT effect, but the energy of the SOT reversal current is reduced. Will consume.
  • the spin orbit torque wiring has a portion with a small electric resistance rather than being made only of a material that can generate a pure spin current. That is, from this point of view, the spin orbit torque wiring includes a portion made of a material that generates a pure spin current (spin current generating portion), and a portion made of a material that has a lower electrical resistance than the spin current generating portion (low resistance portion). Preferably it consists of.
  • the heavy metal does not form an alloy with the light metal, but the atoms of the heavy metal are randomly distributed in the light metal. Since the spin-orbit interaction is weak in light metals, a pure spin current is hardly generated by the spin Hall effect. However, when electrons pass through the heavy metal in the light metal, spin is scattered at the interface between the light metal and the heavy metal, so that a pure spin current can be efficiently generated even in a region where the concentration of heavy metal is low. If the concentration of heavy metal exceeds 50%, the proportion of the spin Hall effect in the heavy metal increases, but the effect at the interface between the light metal and heavy metal decreases, so the overall effect decreases. Therefore, the concentration of heavy metal is preferable so that a sufficient interface effect can be expected.
  • the spin current generation portion in the spin orbit torque wiring can be made of an antiferromagnetic metal.
  • the antiferromagnetic metal can obtain the same effect as the case of 100% nonmagnetic metal having an atomic number of 39 or more whose heavy metal has d electrons or f electrons in the outermost shell.
  • the antiferromagnetic metal is preferably, for example, IrMn or PtMn, and more preferably IrMn that is stable against heat.
  • the spin current generation unit in the spin orbit torque wiring can be made of a topological insulator.
  • topological insulator for example, SnTe, Bi 1.5 Sb 0.5 Te 1.7 Se 1.3 , TlBiSe 2 , Bi 2 Te 3 , (Bi 1-x Sb x ) 2 Te 3 are preferable. These topological insulators can generate a spin current with high efficiency.
  • the spin current generation unit In order for the pure spin current generated by the spin orbit torque wiring to effectively diffuse to the magnetoresistive effect element, at least a part of the spin current generation unit needs to be in contact with the second ferromagnetic metal layer. .
  • the cap layer When the cap layer is provided, it is necessary that at least a part of the spin current generator is in contact with the cap layer. In all the embodiments of the spin orbit torque wiring shown in FIGS. 3 to 6, at least a part of the spin current generator is in contact with the second ferromagnetic metal layer.
  • the junction 40 ′ with the second ferromagnetic metal layer is entirely composed of the spin current generator 41, and the spin current generator 41 is connected to the low resistance parts 42A and 42B. It is a sandwiched configuration.
  • the spin current generation unit 41 is superimposed on a part of the junction 23 ′ of the second ferromagnetic metal layer 23 in plan view from the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20.
  • the thickness direction includes only the spin current generation unit 41, and the low resistance portions 42A and 42B are arranged so as to sandwich the spin current generation unit 41 in the direction of current flow.
  • the spin orbit torque wiring 40 shown in FIG. 5 is superimposed so that the spin current generation part 41 includes the junction part 23 ′ of the second ferromagnetic metal layer 23 in plan view from the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20,
  • the spin current generation unit 41 and the low resistance unit 42C are sequentially stacked from the second ferromagnetic metal layer side, and the low resistance units 42A and 42B are stacked in the direction of current flow.
  • the resistor portions 42C are arranged so as to sandwich the portion where the resistor portions 42C are stacked.
  • the second spin current generator is superposed so as to overlap the junction of the second ferromagnetic metal layer in plan view from the stacking direction of the magnetoresistive effect element, and the others Has the same configuration as the spin orbit torque wiring shown in FIG.
  • the nonmagnetic metal since the area where the spin current generation unit 41 and the low resistance unit 42 are in contact with each other is wide, the nonmagnetic metal having a large atomic number that forms the spin current generation unit 41 and the metal that configures the low resistance unit 42 High adhesion.
  • the magnetoresistive effect element of the present invention can be manufactured using a known method. A method for manufacturing the magnetoresistive effect element shown in FIGS. 3 to 6 will be described below.
  • the magnetoresistive element 20 can be formed using, for example, a magnetron sputtering apparatus.
  • the tunnel barrier layer is initially about 0.4 to 2.0 nm of aluminum on the first ferromagnetic metal layer, and divalent cations of a plurality of nonmagnetic elements.
  • the metal thin film to be formed is sputtered and subjected to natural oxidation by plasma oxidation or oxygen introduction, followed by heat treatment.
  • a thin film forming method in addition to a magnetron sputtering method, a thin film forming method such as a vapor deposition method, a laser ablation method, or an MBE method can be used.
  • a thin film forming method such as a vapor deposition method, a laser ablation method, or an MBE method.
  • the spin current generator 41 After forming the magnetoresistive effect element 20 and forming the shape, it is preferable to form the spin current generator 41 first. This is because a structure that can suppress the scattering of pure spin current from the spin current generator 41 to the magnetoresistive element 20 as much as possible leads to high efficiency.
  • the periphery of the processed magnetoresistive effect element 20 is filled with a resist or the like to form a surface including the upper surface of the magnetoresistive effect element 20.
  • FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of the magnetoresistive effect element according to one embodiment of the present invention cut along a yz plane. Based on FIG. 7, an operation of the magnetoresistive element 100 according to one embodiment of the present invention will be described.
  • the current I 2 corresponds to the current I shown in FIG.
  • the upward spin S + and the downward spin S ⁇ are bent toward the end of the spin orbit torque wiring 40 to generate a pure spin current J s .
  • the pure spin current J s is induced in a direction perpendicular to the direction in which the current I 2 flows. That is, a pure spin current Js is generated in the z-axis direction and the x-axis direction in the figure.
  • FIG. 7 only the pure spin current J s in the z-axis direction that contributes to the magnetization direction of the second ferromagnetic metal layer 23 is illustrated.
  • the magnetization M 23 of the second ferromagnetic metal layer 23 is affected. That is, in FIG. 7, the torque that attempts to cause the magnetization reversal of the magnetization M 23 of the second ferromagnetic metal layer 23 oriented in the + x direction by the spin directed in the ⁇ x direction flowing into the second ferromagnetic metal layer 23. (SOT) is added.
  • the SOT effect caused by the pure spin current J s generated by the current flowing through the second current path I 2 is added to the STT effect generated by the current flowing through the first current path I 1 , and the second ferromagnetic metal layer 23. the magnetization M 23 to the magnetization reversal of.
  • the magnetization of the second ferromagnetic metal layer 23 is to be reversed only by the STT effect (that is, a current flows only in the current I 1 ), it is necessary to apply a voltage higher than a predetermined voltage to the magnetoresistive effect element 20.
  • a general drive voltage of a TMR element is relatively small, such as several volts or less, but the nonmagnetic layer 22 is a very thin film of about several nm, and dielectric breakdown may occur. By continuing energization of the nonmagnetic layer 22, a weak portion of the nonmagnetic layer (film quality is poor, film thickness is thin, etc.) is destroyed.
  • the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is preferably less than 1 ⁇ 10 7 A / cm 2 . If the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is too large, heat is generated by the current flowing through the spin orbit torque wiring. When heat is applied to the second ferromagnetic metal layer, the magnetization stability of the second ferromagnetic metal layer is lost, and unexpected magnetization reversal may occur. When such unexpected magnetization reversal occurs, there arises a problem that recorded information is rewritten. That is, in order to avoid unexpected magnetization reversal, it is preferable that the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is not excessively increased. If the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is less than 1 ⁇ 10 7 A / cm 2 , it is possible to avoid at least magnetization reversal caused by generated heat.
  • FIG. 8 shows a magnetoresistive element according to another embodiment of the present invention.
  • the spin orbit torque wiring 50 has a second strong strength in addition to the upper surface joint portion 51 (corresponding to the spin orbit torque wiring 40 described above) provided in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20.
  • Side wall joints 52 that join the side walls of the magnetic metal layer 23 are provided.
  • FIG. 9 shows a magnetoresistive effect element according to another embodiment of the present invention.
  • the magnetoresistive effect element 300 shown in FIG. 9 has a spin orbit torque wiring 40 on the substrate 10 side.
  • the stacking order of the first ferromagnetic metal layer 23 that is a fixed layer and the second ferromagnetic metal layer 24 that is a free layer is opposite to that of the magnetoresistive element 100 shown in FIG.
  • the magnetoresistive element of the present invention may have a top pin structure as in this configuration, or may have a bottom pin structure as shown in FIG.
  • the substrate 10, the spin orbit torque wiring 40, the second ferromagnetic metal layer 23, the nonmagnetic layer 22, the first ferromagnetic metal layer 21, the cap layer 24, and the wiring 30 are arranged in this order. Laminated. Since the second ferromagnetic metal layer 23 is laminated before the first ferromagnetic metal layer 21, the second ferromagnetic metal layer 23 is less likely to be affected by lattice distortion or the like than the magnetoresistive effect element 100. As a result, in the magnetoresistive effect element 300, the perpendicular magnetic anisotropy of the second ferromagnetic metal layer 23 is increased. When the perpendicular magnetic anisotropy of the second ferromagnetic metal layer 23 increases, the MR ratio of the magnetoresistive element can be increased.
  • FIG. 10 shows a first power supply 110 for supplying current in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20 and a second power supply 120 for supplying current to the spin orbit torque wiring 40 in the magnetoresistive effect element 100 shown in FIG. It is a thing.
  • the first power supply 110 is connected to the wiring 30 and the spin orbit torque wiring 40.
  • the first power source 110 can control the current flowing in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 100.
  • the second power source 120 is connected to both ends of the spin orbit torque wiring 40.
  • the second power supply 120 can control the current flowing in the spin orbit torque wiring 40 that is a current flowing in a direction orthogonal to the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20.
  • the current flowing in the stacking direction of the magnetoresistive effect element 20 induces STT.
  • the current flowing through the spin orbit torque wiring 40 induces SOT. Both STT and SOT contribute to the magnetization reversal of the second ferromagnetic metal layer 23.
  • the contribution ratio of SOT and STT contributing to the magnetization reversal is free. Can be controlled.
  • the amount of current flowing from the first power source 110 can be increased, and the amount of current flowing from the second power source 120 can be reduced.
  • the amount of current flowing from the first power source 110 can be reduced, the amount of current flowing from the second power source 120 can be increased, and the contribution rate of SOT can be increased.
  • a well-known thing can be used for the 1st power supply 110 and the 2nd power supply 120.
  • the contribution ratios of STT and SOT can be freely controlled by the amount of current supplied from the first power supply and the second power supply. Therefore, the contribution ratio of STT and SOT can be freely controlled according to the performance required for the device, and it can function as a more versatile magnetoresistive element.
  • Magnetic memory The magnetic memory (MRAM) of the present invention includes a plurality of magnetoresistive elements of the present invention.
  • the magnetization reversal method according to an aspect of the present invention is such that the current density flowing through the spin orbit torque wiring is less than 1 ⁇ 10 7 A / cm 2 in the magnetoresistive effect element of the present invention. If the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is too large, heat is generated by the current flowing through the spin orbit torque wiring. When heat is applied to the second ferromagnetic metal layer, the magnetization stability of the second ferromagnetic metal layer is lost, and unexpected magnetization reversal may occur. When such unexpected magnetization reversal occurs, there arises a problem that recorded information is rewritten.
  • the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is not excessively increased. If the current density of the current flowing through the spin orbit torque wiring is less than 1 ⁇ 10 7 A / cm 2 , it is possible to avoid at least magnetization reversal caused by generated heat.
  • the magnetization reversal method is a method of applying a current to a power source of a magnetoresistive effect element after applying a current to a power source of a spin orbit torque wiring in the magnetoresistive effect element of the present invention.
  • the assist process and the magnetization reversal process may be performed simultaneously, or after the assist process is performed in advance, the magnetization reversal process may be added. That is, in the magnetoresistive effect element 200 shown in FIG. 7, the current may be supplied simultaneously from the first power source 110 and the second power source 120, or after the current is supplied from the second current 120, the first power source 110 is added.
  • the current is supplied to the power source of the magnetoresistive effect element. It is preferable to apply. That is, it is preferable to supply current from the first power source 110 after supplying current from the second current 120.
  • FIG. 11 shows a schematic diagram of an example of a spin current magnetization switching element according to an embodiment of the present invention.
  • 11A is a plan view
  • FIG. 11B is a cross-sectional view taken along the line XX which is the center line in the width direction of the spin orbit torque wiring 2 of FIG. 11A.
  • the spin current magnetization reversal element 101 according to one embodiment of the present invention is different from the spin current magnetization reversal element 101 shown in FIG. 1 in that the surface of the second ferromagnetic metal layer 1 and the second ferromagnetic metal layer 1 whose magnetization direction is variable.
  • a spin orbit torque wiring 2 extending in a second direction (x direction) intersecting the first direction (z direction) which is a straight direction and joining to the first surface 1a of the second ferromagnetic metal layer 1; Is provided.
  • the spin orbit torque wiring 2 and the second ferromagnetic metal layer 1 may be joined “directly” or “via another layer” such as a cap layer as described above. If the configuration is such that the pure spin current generated in the spin orbit torque wiring 2 flows into the second ferromagnetic metal layer 1, the junction (connection or coupling) between the spin orbit torque wiring and the first ferromagnetic metal layer is possible. There is no limit to how.
  • the spin orbit torque wiring 2 includes a pure spin current generator 2A made of a material that generates a pure spin current, and a low resistance part 2B made of a material having a smaller electrical resistance than the pure spin current generator.
  • a pure spin current generator 2A made of a material that generates a pure spin current
  • a low resistance part 2B made of a material having a smaller electrical resistance than the pure spin current generator.
  • at least a part of the pure spin current generator can be in contact with the second ferromagnetic metal layer 1.
  • the configuration shown in FIG. 12 is an example in which the configuration of the spin orbit torque wiring shown in FIG. 3 is applied to the spin current magnetization switching element of the present invention.
  • the configuration of the spin orbit torque wiring shown in FIGS. 4 to 6 can be applied to the spin current magnetization switching element of the present invention.
  • a magnetoresistive effect element can be mainly mentioned. Therefore, in the constituent elements included in the spin current magnetization reversal element of the present invention, all the equivalent constituent elements such as the above-described magnetoresistive effect element can be applied.
  • the application of the spin current magnetization reversal element of the present invention is not limited to the magnetoresistive effect element, and can be applied to other applications.
  • Other applications include, for example, a spatial light modulator that spatially modulates incident light using a magneto-optic effect by arranging a spin current magnetization reversal element in each pixel,
  • the magnetic field applied to the easy axis of the magnet may be replaced with a spin current magnetization reversal element.
  • Magnetoresistance effect element 101 ... Spin current magnetization reversal element, I ... current, S1 ... up spin, S2 ... down spin, M 21, M 23 ... magnetization, I 1 ... first current path, I 2 ... second current path, 110 ... first power supply, 120 ... second Power supply

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Abstract

この磁気抵抗効果素子では、磁化の向きが固定された第１強磁性金属層と、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層と、第１強磁性金属層及び第２強磁性金属層に挟持された非磁性層とを有する磁気抵抗効果素子と、該磁気抵抗効果素子の積層方向に対して交差する方向に延在し、前記第２強磁性金属層に接合するスピン軌道トルク配線と、を備え、前記磁気抵抗効果素子と前記スピン軌道トルク配線とが接合する部分において、前記磁気抵抗効果素子に流れる電流と前記スピン軌道トルク配線に流れる電流が合流し、または、分配されるものである。

Description

磁気抵抗効果素子、磁気メモリ、磁化反転方法、及び、スピン流磁化反転素子
本発明は、磁気ヘッドや高周波フィルタなどの高周波電子部品、及び磁気メモリなどに適用できる磁気抵抗効果素子、磁気メモリ、磁化反転方法及び、スピン流磁化反転素子に関する。
　本願は、２０１５年１１月２７日に、日本に出願された特願２０１５－２３２３３４号、２０１６年３月１６日に、日本に出願された特願２０１６－５３０７２号、２０１６年３月１８日に、日本に出願された特願２０１６－５６０５８号、２０１６年１０月２７日に、日本に出願された特願２０１６－２１０５３１号、２０１６年１０月２７日に、日本に出願された特願２０１６－２１０５３３号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
　強磁性層と非磁性層の多層膜からなる巨大磁気抵抗（ＧＭＲ）素子及び非磁性層として絶縁層（トンネルバリア層、バリア層）を用いたトンネル磁気抵抗（ＴＭＲ）素子が知られている。一般に、ＴＭＲ素子はＧＭＲ素子と比較して素子抵抗が高いものの、ＴＭＲ素子の磁気抵抗（ＭＲ）比はＧＭＲ素子のＭＲ比より大きい。そのため、磁気センサ、高周波部品、磁気ヘッド及び不揮発性ランダムアクセスメモリ（ＭＲＡＭ）用の素子として、ＴＭＲ素子に注目が集まっている。
　ＭＲＡＭの書き込み方式としては、電流が作る磁場を利用して書き込み（磁化反転）を行う方式や磁気抵抗素子の積層方向に電流を流して生ずるスピントランスファートルク（ＳＴＴ）を利用して書き込み（磁化反転）を行う方式が知られている。
磁場を利用する方式では、素子サイズが小さくなると、細い配線に流すことができる電流では書き込みができなくなるという問題がある。
　これに対して、スピントランスファートルク（ＳＴＴ）を利用する方式では、一方の強磁性層（固定層、参照層）が電流をスピン分極させ、その電流のスピンがもう一方の強磁性層（自由層、記録層）の磁化に移行され、その際に生じるトルク（ＳＴＴ）によって書き込み（磁化反転）が行われるが、素子サイズが小さくなるほど書き込みに必要な電流が小さくて済むという利点がある。
Ｉ．Ｍ．Ｍｉｒｏｎ，Ｋ．Ｇａｒｅｌｌｏ，Ｇ．Ｇａｕｄｉｎ，Ｐ．－Ｊ．Ｚｅｒｍａｔｔｅｎ，Ｍ．Ｖ．Ｃｏｓｔａｃｈｅ，Ｓ．Ａｕｆｆｒｅｔ，Ｓ．Ｂａｎｄｉｅｒａ，Ｂ．Ｒｏｄｍａｃｑ，Ａ．Ｓｃｈｕｈｌ，ａｎｄ　Ｐ．Ｇａｍｂａｒｄｅｌｌａ，Ｎａｔｕｒｅ，４７６，１８９（２０１１）．
　ＳＴＴを用いたＴＭＲ素子の磁化反転はエネルギーの効率の視点から考えると効率的ではあるが、磁化反転をさせるための反転電流密度が高い。
 ＴＭＲ素子の長寿命の観点からはこの反転電流密度は低いことが望ましい。この点は、ＧＭＲ素子についても同様である。
従って、ＴＭＲ素子及びＧＭＲ素子のいずれの磁気抵抗効果素子においても、この磁気抵抗効果素子に流れる電流密度を低減することが望まれる。
　近年、スピン軌道相互作用して生成された純スピン流を利用した磁化反転も応用上可能であると提唱されている（例えば、非特許文献１）。スピン軌道相互作用によって生じた純スピン流は、スピン軌道トルク（ＳＯＴ）を誘起し、ＳＯＴの大きさにより磁化反転を起こすことができる。純スピン流は上向きスピンの電子と下向きスピン電子が同数で互いに逆向きに流れることで生み出されるものであり、電荷の流れは相殺されているため磁気抵抗効果素子を流れる電流としてはゼロである。この純スピン流だけで磁化反転させることができれば、電流はゼロなので磁気抵抗効果素子の長寿命化を図ることができる。あるいは、磁化反転にＳＴＴも利用し、かつ、純スピン流によるＳＯＴを利用することができれば、純スピン流によるＳＯＴを利用する分、ＳＴＴに使う電流を低減することができ、磁気抵抗効果素子の長寿命化を図ることができると考えられる。ＳＴＴ及びＳＯＴを両方利用する場合も、ＳＯＴを利用する割合が高いほど、磁気抵抗効果素子の長寿命化を図ることができると考えられる。
　本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、純スピン流による磁化反転を利用するスピン流磁化反転素子、磁気抵抗効果素子及び磁気メモリを提供することを目的とする。また磁気抵抗効果素子の磁化反転を純スピン流を利用して行う磁化反転方法を提供することを目的とする。
　本発明は、上記課題を解決するため、以下の手段を提供する。
（１）本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子は、磁化の向きが固定された第１強磁性金属層と、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層と、第１強磁性金属層及び第２強磁性金属層に挟持された非磁性層とを有する磁気抵抗効果素子と、該磁気抵抗効果素子の積層方向に対して交差する方向に延在し、前記第２強磁性金属層に接合するスピン軌道トルク配線と、を備え、前記磁気抵抗効果素子と前記スピン軌道トルク配線とが接合する部分において、前記磁気抵抗効果素子に流れる電流と前記スピン軌道トルク配線に流れる電流が合流し、または、分配される。
（２）上記（１）に記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線は、最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の非磁性金属を含んでもよい。
（３）上記（１）又は（２）のいずれかに記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線は、純スピン流を生成する材料からなる純スピン流生成部と、該純スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる低抵抗部とからなり、該純スピン流生成部の少なくとも一部が前記第２強磁性金属層と接していてもよい。
（４）上記（１）～（３）に記載の磁気抵抗効果素子において、記スピン軌道トルク配線は、磁性金属を含んでもよい。
（５）上記（１）～（４）のいずれか一つに記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線と前記第２強磁性金属層との間にキャップ層を有し、前記スピン軌道トルク配線と前記第２強磁性金属層とは前記キャップ層を介して接合されていてもよい。
（６）上記（１）～（５）のいずれか一つに記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線は、前記第２強磁性金属層の側壁に接合する側壁接合部を有してもよい。
（７）本発明の一態様に係る磁気メモリは、上記（１）～（６）のいずれか一つに記載の磁気抵抗効果素子を複数備える。
（８）本発明の一態様に係る磁化反転方法は、上記（１）～（６）に記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線に流れる電流密度が１×１０７Ａ／ｃｍ２未満とする。
（９）本発明の一態様に係る磁化反転方法は、上記（１）～（６）に記載の磁気抵抗効果素子において、前記スピン軌道トルク配線の電源に電流が印加した後に、前記磁気抵抗効果素子の電源に電流を印加する。
（１０）本発明の一態様に係るスピン流磁化反転素子は、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層と、前記第２強磁性金属層の面直方向に対して交差する方向に延在し、前記第２強磁性金属層に接合するスピン軌道トルク配線と、を備え、
前記スピン軌道トルク配線は、純スピン流を生成する材料からなる純スピン流生成部と、該純スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる低抵抗部とからなり、該純スピン流生成部の少なくとも一部が前記第２強磁性金属層と接している。
本発明の磁気抵抗効果素子によれば、磁気抵抗効果素子を流れる反転電流密度を低減できる。
本発明の一実施形態に係る磁気抵抗効果素子を模式的に示した斜視図である。 スピンホール効果について説明するための模式図である。 スピン軌道トルク配線の一実施形態を説明するための模式図であり、（ａ）は断面図であり、（ｂ）は平面図である。 スピン軌道トルク配線の他の実施形態を説明するための模式図であり、（ａ）は断面図であり、（ｂ）は平面図である。 スピン軌道トルク配線の他の実施形態を説明するための模式図であり、（ａ）は断面図であり、（ｂ）は平面図である。 スピン軌道トルク配線の他の実施形態を説明するための模式図であり、（ａ）は断面図であり、（ｂ）は平面図である。 本発明の一実施形態に係る磁気抵抗効果素子をｙｚ平面で切断した断面模式図である。 本発明の他の実施形態に係る磁気抵抗効果素子をｙｚ平面で切断した断面模式図である。 本発明の他の実施形態に係る磁気抵抗効果素子をｙｚ平面で切断した断面模式図である。 本発明の一実施形態に係る磁気抵抗効果素子を模式的に示した斜視図である。 本発明の一実施形態に係るスピン流磁化反転素子を模式的に示した斜視図である。 本発明の他の実施形態に係るスピン流磁化反転素子を模式的に示した斜視図である。
　以下、本発明について、図を適宜参照しながら詳細に説明する。以下の説明で用いる図面は、本発明の特徴をわかりやすくするために便宜上特徴となる部分を拡大して示している場合があり、各構成要素の寸法比率などは実際とは異なっていることがある。以下の説明において例示される材料、寸法等は一例であって、本発明はそれらに限定されるものではなく、本発明の効果を奏する範囲で適宜変更して実施することが可能である。
（磁気抵抗効果素子）
　図１は、本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子を模式的に示した斜視図である。
本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子１００は、磁気抵抗効果素子２０と、該磁気抵抗効果素子２０の積層方向に対して交差する方向に延在し、磁気抵抗効果素子２０に接合するスピン軌道トルク配線４０とを有する。
図１を含めて以下では、スピン軌道トルク配線が磁気抵抗効果素子の積層方向に対して交差する方向に延在する構成の例として、直交する方向に延在する構成の場合について説明する。
図１においては、磁気抵抗効果素子２０の積層方向に電流を流すための配線３０と、その配線３０を形成する基板１０と、キャップ層も示している。
以下、磁気抵抗効果素子２０の積層方向をｚ方向、ｚ方向と垂直でスピン軌道トルク配線４０と平行な方向をｘ方向、ｘ方向及びｚ方向と直交する方向をｙ方向とする。
＜磁気抵抗効果素子＞
　磁気抵抗効果素子２０は、磁化の向きが固定された第１強磁性金属層２１と、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層２３と、第１強磁性金属層２１及び第２強磁性金属層２３に挟持された非磁性層２２とを有する。
第１強磁性金属層２１の磁化が一方向に固定され、第２強磁性金属層２３の磁化の向きが相対的に変化することで、磁気抵抗効果素子２０として機能する。保磁力差型（擬似スピンバルブ型；Pseudo spin valve 型）のＭＲＡＭに適用する場合には、第１強磁性金属層の保持力は第２強磁性金属層の保磁力よりも大きいものであり、また、交換バイアス型（スピンバルブ；spin valve型）のＭＲＡＭに適用する場合には、第１強磁性金属層では反強磁性層との交換結合によって磁化の向きが固定される。
　また、磁気抵抗効果素子２０は、非磁性層２２が絶縁体からなる場合は、トンネル磁気抵抗（ＴＭＲ：Tunneling Magnetoresistance）素子であり、非磁性層２２が金属からなる場合は巨大磁気抵抗（ＧＭＲ：Giant Magnetoresistance）素子である。
　本発明が備える磁気抵抗効果素子としては、公知の磁気抵抗効果素子の構成を用いることができる。例えば、各層は複数の層からなるものでもよいし、第１強磁性金属層の磁化の向きを固定するための反強磁性層等の他の層を備えてもよい。
第１強磁性金属層２１は固定層や参照層、第２強磁性金属層２３は自由層や記憶層などと呼ばれる。
　第１強磁性金属層２１及び第２強磁性金属層２３は、磁化方向が層に平行な面内方向である面内磁化膜でも、磁化方向が層に対して垂直方向である垂直磁化膜でもいずれでもよい。
　第１強磁性金属層２１の材料には、公知のものを用いることができる。例えば、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃｏ、Ｆｅ及びＮｉからなる群から選択される金属及びこれらの金属を１種以上含み強磁性を示す合金を用いることができる。またこれらの金属と、Ｂ、Ｃ、及びＮの少なくとも１種以上の元素とを含む合金を用いることもできる。具体的には、Ｃｏ－ＦｅやＣｏ－Ｆｅ－Ｂが挙げられる。
また、より高い出力を得るためにはＣｏ２ＦｅＳｉなどのホイスラー合金を用いることが好ましい。ホイスラー合金は、Ｘ２ＹＺの化学組成をもつ金属間化合物を含み、Ｘは、周期表上でＣｏ、Ｆｅ、Ｎｉ、あるいはＣｕ族の遷移金属元素または貴金属元素であり、Ｙは、Ｍｎ、Ｖ、ＣｒあるいはＴｉ族の遷移金属でありＸの元素種をとることもでき、Ｚは、ＩＩＩ族からＶ族の典型元素である。例えば、Ｃｏ２ＦｅＳｉ、Ｃｏ２ＭｎＳｉやＣｏ２Ｍｎ１－ａＦｅａＡｌｂＳｉ１－ｂなどが挙げられる。
また、第１強磁性金属層２１の第２強磁性金属層２３に対する保磁力をより大きくするために、第１強磁性金属層２１と接する材料としてＩｒＭｎ，ＰｔＭｎなどの反強磁性材料を用いてもよい。さらに、第１強磁性金属層２１の漏れ磁場を第２強磁性金属層２３に影響させないようにするため、シンセティック強磁性結合の構造としてもよい。
さらに第１強磁性金属層２１の磁化の向きを積層面に対して垂直にする場合には、ＣｏとＰｔの積層膜を用いることが好ましい。具体的には、第１強磁性金属層２１は［Ｃｏ（０．２４ｎｍ）／Ｐｔ（０．１６ｎｍ）］６／Ｒｕ（０．９ｎｍ）／［Ｐｔ（０．１６ｎｍ）／Ｃｏ（０．１６ｎｍ）］４／Ｔａ（０．２ｎｍ）／ＦｅＢ（１．０ｎｍ）とすることができる。
　第２強磁性金属層２３の材料として、強磁性材料、特に軟磁性材料を適用できる。例えば、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｃｏ、Ｆｅ及びＮｉからなる群から選択される金属、これらの金属を１種以上含む合金、これらの金属とＢ、Ｃ、及びＮの少なくとも１種以上の元素とが含まれる合金等を用いることができる。具体的には、Ｃｏ－Ｆｅ、Ｃｏ－Ｆｅ－Ｂ、Ｎｉ－Ｆｅが挙げられる。
第２強磁性金属層２３の磁化の向きを積層面に対して垂直にする場合には、第２強磁性金属層の厚みを２．５ｎｍ以下とすることが好ましい。第２強磁性金属層２３と非磁性層層２２の界面で、第２強磁性金属層２３に垂直磁気異方性を付加することができる。また、垂直磁気異方性は第２強磁性金属層２３の膜厚を厚くすることによって効果が減衰するため、第２強磁性金属層２３の膜厚は薄い方が好ましい。
非磁性層２２には、公知の材料を用いることができる。
例えば、非磁性層２２が絶縁体からなる場合（トンネルバリア層である場合）、その材料としては、Ａｌ２Ｏ３、ＳｉＯ２、Ｍｇ、及び、ＭｇＡｌ２Ｏ４Ｏ等を用いることができる。またこれらの他にも、Ａｌ，Ｓｉ，Ｍｇの一部が、Ｚｎ、Ｂｅ等に置換された材料等も用いることができる。これらの中でも、ＭｇＯやＭｇＡｌ２Ｏ４はコヒーレントトンネルが実現できる材料であるため、スピンを効率よく注入できる。
また、非磁性層２２が金属からなる場合、その材料としては、Ｃｕ、Ａｕ、Ａｇ等を用いることができる。
また、第２強磁性金属層２３の非磁性層２２と反対側の面には、図１に示すようにキャップ層２４が形成されていることが好ましい。キャップ層２４は、第２強磁性金属層２３からの元素の拡散を抑制することができる。またキャップ層２４は、磁気抵抗効果素子２０の各層の結晶配向性にも寄与する。その結果、キャップ層２４を設けることで、磁気抵抗効果素子２０の第１強磁性金属層２１及び第２強磁性金属層２３の磁性を安定化し、磁気抵抗効果素子２０を低抵抗化することができる。
キャップ層２４には、導電性が高い材料を用いることが好ましい。例えば、Ｒｕ、Ｔａ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ等を用いることができる。キャップ層２４の結晶構造は、隣接する強磁性金属層の結晶構造に合せて、ｆｃｃ構造、ｈｃｐ構造またはｂｃｃ構造から適宜設定することが好ましい。
また、キャップ層２４には、銀、銅、マグネシウム、及び、アルミニウムからなる群から選択されるいずれかを用いることが好ましい。詳細は後述するが、キャップ層２４を介してスピン軌道トルク配線４０と磁気抵抗効果素子２０が接続される場合、キャップ層２４はスピン軌道トルク配線４０から伝播するスピンを散逸しないことが好ましい。銀、銅、マグネシウム、及び、アルミニウム等は、スピン拡散長が１００ｎｍ以上と長く、スピンが散逸しにくいことが知られている。
キャップ層２４の厚みは、キャップ層２４を構成する物質のスピン拡散長以下であることが好ましい。キャップ層２４の厚みがスピン拡散長以下であれば、スピン軌道トルク配線４０から伝播するスピンを磁気抵抗効果素子２０に十分伝えることができる。
＜スピン軌道トルク配線＞
スピン軌道トルク配線は、磁気抵抗効果素子の積層方向に対して交差する方向に延在する。スピン軌道トルク配線は、該スピン軌道トルク配線に磁気抵抗効果素子の積層方向に対して直交する方向に電流を流す電源に電気的に接続され、その電源と共に、磁気抵抗効果素子に純スピン流を注入するスピン注入手段として機能する。
スピン軌道トルク配線４０は、第２強磁性金属層２３に直接接続されていてもよいし、他の層を介して例えば、図１に示すようにキャップ層２４を介して接続されていてもよい。
スピン軌道トルク配線は、電流が流れるとスピンホール効果によって純スピン流が生成される材料からなる。かかる材料としては、スピン軌道トルク配線中に純スピン流が生成される構成のものであれば足りる。従って、単体の元素からなる材料に限らないし、純スピン流が生成される材料で構成される部分と純スピン流が生成されない材料で構成される部分とからなるもの等であってもよい。
スピンホール効果とは、材料に電流を流した場合にスピン軌道相互作用に基づき、電流の向きに直交する方向に純スピン流が誘起される現象である。
図２は、スピンホール効果について説明するための模式図である。図２に基づいてスピンホール効果により純スピン流が生み出されるメカニズムを説明する。
図２に示すように、スピン軌道トルク配線４０の延在方向に電流Ｉを流すと、上向きスピンＳ＋（Ｓ１）と下向きスピンＳ－（Ｓ２）はそれぞれ電流と直交する方向に曲げられる。通常のホール効果とスピンホール効果とは運動（移動）する電荷（電子）が運動（移動）方向を曲げられる点で共通するが、通常のホール効果は磁場中で運動する荷電粒子がローレンツ力を受けて運動方向を曲げられるのに対して、スピンホール効果では磁場が存在しないのに電子が移動するだけ（電流が流れるだけ）で移動方向が曲げられる点で大きく異なる。
非磁性体（強磁性体ではない材料）では上向きスピンＳ＋の電子数と下向きスピンＳ－の電子数とが等しいので、図中で上方向に向かう上向きスピンＳ＋の電子数と下方向に向かう下向きスピンＳ－の電子数が等しい。そのため、電荷の正味の流れとしての電流はゼロである。この電流を伴わないスピン流は特に純スピン流と呼ばれる。
これに対して、強磁性体中に電流を流した場合にも上向きスピン電子と下向きスピン電子が互いに反対方向に曲げられる点は同じであるが、強磁性体中では上向きスピン電子と下向きスピン電子のいずれかが多い状態であるため、結果として電荷の正味の流れが生じてしまう（電圧が発生してしまう）点で異なる。従って、スピン軌道トルク配線の材料としては、強磁性体だけからなる材料は含まれない。
ここで、上向きスピンＳ＋の電子の流れをＪ↑、下向きスピンＳ－の電子の流れをＪ↓、スピン流をＪＳと表すと、ＪＳ＝Ｊ↑－Ｊ↓で定義される。図２においては、純スピン流としてＪＳが図中の上方向に流れる。ここで、ＪＳは分極率が１００％の電子の流れである。
図２において、スピン軌道トルク配線４０の上面に強磁性体を接触させると、純スピン流は強磁性体中に拡散して流れ込むことになる。
本発明では、このようにスピン軌道トルク配線に電流を流して純スピン流を生成し、その純スピン流がスピン軌道トルク配線に接する第２強磁性金属層に拡散する構成とすることで、従来のＳＴＴを利用する磁気抵抗効果素子において強磁性金属層の磁化反転のアシスト手段あるいは主力手段として用いることもできるし、純スピン流によるＳＯＴのみで強磁性金属層の磁化反転を行う新規の磁気抵抗効果素子において用いることもできる。。
　磁化反転をアシストする方法としては、外部磁場を印加する方法、電圧を加える方法、熱を加える方法及び物質の歪みを利用する方法が知られている。しかしながら、外部磁場を印加する方法、電圧を加える方法及び熱を加える方法の場合、外部に新たに配線、発熱源等を設ける必要があり、素子構成が複雑化する。また、物質の歪みを利用する方法の場合、一旦生じた歪みを使用態様中に制御することが難しく、制御性よく磁化反転を行うことができない。
スピン軌道トルク配線４０は、非磁性の重金属を含んでもよい。ここで、重金属とは、イットリウム以上の比重を有する金属の意味で用いている。スピン軌道トルク配線４０は、非磁性の重金属だけからなってもよい。
この場合、非磁性の重金属は最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の原子番号が大きい非磁性金属であることが好ましい。かかる非磁性金属は、スピンホール効果を生じさせるスピン軌道相互作用が大きいからである。スピン軌道トルク配線４０は、最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の原子番号が大きい非磁性金属だけからなってもよい。
通常、金属に電流を流すとすべての電子はそのスピンの向きに関わりなく、電流とは逆向きに動くのに対して、最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号が大きい非磁性金属はスピン軌道相互作用が大きいためにスピンホール効果によって電子の動く方向が電子のスピンの向きに依存し、純スピン流ＪＳが発生しやすい。
また、スピン軌道トルク配線４０は、磁性金属を含んでもよい。磁性金属とは、強磁性金属、あるいは、反強磁性金属を指す。非磁性金属に微量な磁性金属が含まれるとスピン軌道相互作用が増強され、スピン軌道トルク配線４０に流す電流に対するスピン流生成効率を高くできるからである。スピン軌道トルク配線４０は、反強磁性金属だけからなってもよい。
スピン軌道相互作用はスピン軌道トルク配線材料の物質の固有の内場によって生じるため、非磁性材料でも純スピン流が生じる。スピン軌道トルク配線材料に微量の磁性金属を添加すると、磁性金属自体が流れる電子スピンを散乱するためにスピン流生成効率が向上する。ただし、磁性金属の添加量が増大し過ぎると、発生した純スピン流が添加された磁性金属によって散乱されるため、結果としてスピン流が減少する作用が強くなる。したがって、添加される磁性金属のモル比はスピン軌道トルク配線における純スピン生成部の主成分のモル比よりも十分小さい方が好ましい。目安で言えば、添加される磁性金属のモル比は３％以下であることが好ましい。
また、スピン軌道トルク配線４０は、トポロジカル絶縁体を含んでもよい。スピン軌道トルク配線４０は、トポロジカル絶縁体だけからなってもよい。トポロジカル絶縁体とは、物質内部が絶縁体、あるいは、高抵抗体であるが、その表面にスピン偏極した金属状態が生じている物質である。物質にはスピン軌道相互作用という内部磁場のようなものがある。そこで外部磁場が無くてもスピン軌道相互作用の効果で新たなトポロジカル相が発現する。これがトポロジカル絶縁体であり、強いスピン軌道相互作用とエッジにおける反転対称性の破れにより純スピン流を高効率で生成することができる。
トポロジカル絶縁体としては例えば、ＳｎＴｅ，Ｂｉ１．５Ｓｂ０．５Ｔｅ１．７Ｓｅ１．３，ＴｌＢｉＳｅ２，Ｂｉ２Ｔｅ３，（Ｂｉ１－ｘＳｂｘ）２Ｔｅ３などが好ましい。これらのトポロジカル絶縁体は、高効率でスピン流を生成することが可能である。
＜基板＞
　基板１０は、平坦性に優れることが好ましい。平坦性に優れた表面を得るために、材料として例えば、Ｓｉ、ＡｌＴｉＣ等を用いることができる。
　基板１０の磁気抵抗効果素子２０側の面には、下地層（図示略）が形成されていてもよい。下地層を設けると、基板１０上に積層される第１強磁性金属層２１を含む各層の結晶配向性、結晶粒径等の結晶性を制御することができる。
　下地層は、絶縁性を有していることが好ましい。配線３０等に流れる電流が散逸しないようにするためである。下地層には、種々のものを用いることができる。
例えば１つの例として、下地層には（００１）配向したＮａＣｌ構造を有し、Ｔｉ，Ｚｒ，Ｎｂ，Ｖ，Ｈｆ，Ｔａ，Ｍｏ，Ｗ，Ｂ，Ａｌ，Ｃｅの群から選択される少なくとも１つの元素を含む窒化物の層を用いることができる。
他の例として、下地層にはＡＢＯ３の組成式で表される（００２）配向したペロブスカイト系導電性酸化物の層を用いることができる。ここで、サイトＡはＳｒ、Ｃｅ、Ｄｙ、Ｌａ、Ｋ、Ｃａ、Ｎａ、Ｐｂ、Ｂａの群から選択された少なくとも１つの元素を含み、サイトＢはＴｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｇａ、Ｎｂ、Ｍｏ、Ｒｕ、Ｉｒ、Ｔａ、Ｃｅ、Ｐｂの群から選択された少なくとも１つの元素を含む。
他の例として、下地層には（００１）配向したＮａＣｌ構造を有し、かつＭｇ、Ａｌ、Ｃｅの群から選択される少なくとも１つの元素を含む酸化物の層を用いることができる。
他の例として、下地層には（００１）配向した正方晶構造または立方晶構造を有し、かつＡｌ、Ｃｒ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｒｈ、Ｐｄ、Ａｇ、Ｉｒ、Ｐｔ、Ａｕ、Ｍｏ、Ｗの群から選択される少なくとも１つの元素を含む層を用いることができる。
また、下地層は一層に限られず、上述の例の層を複数層積層してもよい。下地層の構成を工夫することにより磁気抵抗効果素子２０の各層の結晶性を高め、磁気特性の改善が可能となる。
＜配線＞
配線３０は、磁気抵抗効果素子２０の第１強磁性金属層２１に電気的に接続され、図１においては、配線３０とスピン軌道トルク配線４０と電源（図示略）とで閉回路を構成し、磁気抵抗効果素子２０の積層方向に電流が流される。
配線３０は、導電性の高い材料であれば特に問わない。例えば、アルミニウム、銀、銅、金等を用いることができる。
　図３～図６は、スピン軌道トルク配線の実施形態を説明するための模式図であり、それぞれ、（ａ）は断面図であり、（ｂ）は平面図である。
　本発明の磁気抵抗効果素子において、純スピン流によるＳＯＴのみで磁気抵抗効果素子の磁化反転を行う構成（以下、「ＳＯＴのみ」構成ということがある）であっても、従来のＳＴＴを利用する磁気抵抗効果素子において純スピン流によるＳＯＴを併用する構成（以下、「ＳＴＴ及びＳＯＴ併用」構成ということがある）であっても、スピン軌道トルク配線に流す電流（以下、「ＳＯＴ反転電流」ということがある。）は電荷の流れを伴う通常の電流であるため、電流を流すとジュール熱が発生する。
　図３～図６に示すスピン軌道トルク配線の実施形態は、上述の材料以外の構成によって、ＳＯＴ反転電流によるジュール熱を低減する構成の例である。
　「ＳＴＴ及びＳＯＴ併用」構成において、本発明の磁気抵抗効果素子の磁化反転のために流す電流としては、ＳＴＴ効果を利用するために磁気抵抗効果素子に直接流す電流（以下、「ＳＴＴ反転電流」ということがある。）の他に、ＳＯＴ効果を利用するためにスピン軌道トルク配線に流す電流（「ＳＯＴ反転電流」）がある。いずれの電流も電荷の流れを伴う通常の電流であるため、電流を流すとジュール熱が発生する。
　この構成においては、ＳＴＴ効果による磁化反転とＳＯＴ効果による磁化反転を併用するため、ＳＴＴ効果だけで磁化反転を行う構成に比べてＳＴＴ反転電流は低減されるが、ＳＯＴ反転電流の分のエネルギーを消費することになる。
　純スピン流を生成しうる材料である重金属は、通常の配線として用いられる金属に比べて電気抵抗が大きい。
そのため、ＳＯＴ反転電流によるジュール熱を低減する観点では、スピン軌道トルク配線はすべてが純スピン流を生成しうる材料だけからなるよりも、電気抵抗が小さい部分を有することが好ましい。すなわち、この観点では、スピン軌道トルク配線は純スピン流を生成する材料からなる部分（スピン流生成部）と、このスピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる部分（低抵抗部）とからなるのが好ましい。
スピン流生成部は、純スピン流を生成しえる材料からなっていればよく、例えば、複数種類の材料部分からなる構成等であってもよい。
低抵抗部は、通常の配線として用いられる材料を用いることができる。例えば、アルミニウム、銀、銅、金等を用いることができる。低抵抗部は、スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなっていればよく、例えば、複数種類の材料部分からなる構成等であってもよい。
なお、低抵抗部において純スピン流が生成されても構わない。この場合、スピン流生成部と低抵抗部との区別は、本明細書中にスピン流生成部及び低抵抗部の材料として記載したものからなる部分はスピン流生成部または低抵抗部であるとして区別できる。また、純スピン流を生成する主要部以外の部分であって、その主要部より電気抵抗が小さい部分は低抵抗部として、スピン流生成部と区別できる。
スピン流生成部は、非磁性の重金属を含んでもよい。この場合、純スピン流を生成しうる重金属を有限に含んでいればよい。さらにこの場合、スピン流生成部は、スピン流生成部の主成分よりも純スピン流を生成しうる重金属が十分少ない濃度領域であるか、または、純スピン流を生成しうる重金属が主成分例えば、９０％以上であることが好ましい。この場合の重金属は、純スピン流を生成しうる重金属が最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の非磁性金属１００％であることが好ましい。
　ここで、スピン流生成部の主成分よりも純スピン流を生成しうる重金属が十分少ない濃度領域とは、例えば、銅を主成分とするスピン流生成部において、モル比で重金属の濃度が１０％以下を指す。スピン流生成部を構成する主成分が上述の重金属以外からなる場合、スピン流生成部に含まれる重金属の濃度はモル比で５０％以下であることが好ましく、１０％以下であることがさらに好ましい。これらの濃度領域は、電子のスピン散乱の効果が有効に得られる領域である。重金属の濃度が低い場合、重金属よりも原子番号が小さい軽金属が主成分となる。なお、この場合、重金属は軽金属との合金を形成しているのではなく、軽金属中に重金属の原子が無秩序に分散していることを想定している。軽金属中ではスピン軌道相互作用が弱いため、スピンホール効果によって純スピン流は生成しにくい。しかしながら、電子が軽金属中の重金属を通過する際に、軽金属と重金属の界面でもスピンが散乱される効果があるため重金属の濃度が低い領域でも純スピン流が効率よく発生させることが可能である。重金属の濃度が５０％を超えると、重金属中のスピンホール効果の割合は大きくなるが、軽金属と重金属の界面の効果が低下するため総合的な効果が減少する。したがって、十分な界面の効果が期待できる程度の重金属の濃度が好ましい。
また、上述のスピン軌道トルク配線が磁性金属を含む場合、スピン軌道トルク配線におけるスピン流生成部を反強磁性金属をからなるものとすることができる。反強磁性金属は重金属が最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の非磁性金属１００％の場合と同等の効果を得ることができる。反強磁性金属は、例えば、ＩｒＭｎやＰｔＭｎが好ましく、熱に対して安定なＩｒＭｎがより好ましい。
また、上述のスピン軌道トルク配線がトポロジカル絶縁体を含む場合、スピン軌道トルク配線におけるスピン流生成部をトポロジカル絶縁体からなるものとすることができる。トポロジカル絶縁体としては例えば、ＳｎＴｅ，Ｂｉ１．５Ｓｂ０．５Ｔｅ１．７Ｓｅ１．３，ＴｌＢｉＳｅ２，Ｂｉ２Ｔｅ３，（Ｂｉ１－ｘＳｂｘ）２Ｔｅ３などが好ましい。これらのトポロジカル絶縁体は高効率でスピン流を生成することが可能である。
スピン軌道トルク配線で生成された純スピン流が実効的に磁気抵抗効果素子に拡散していくためにはスピン流生成部の少なくとも一部が第２強磁性金属層に接触している必要がある。キャップ層を備える場合には、スピン流生成部の少なくとも一部がキャップ層に接触している必要がある。図３～図６に示すスピン軌道トルク配線の実施形態はすべて、スピン流生成部は少なくとも一部が第２強磁性金属層に接触した構成である。
　図３に示す実施形態では、スピン軌道トルク配線４０は、第２強磁性金属層との接合部４０’がすべてスピン流生成部４１からなり、スピン流生成部４１が低抵抗部４２Ａ、４２Ｂに挟まれた構成である。
　ここで、スピン流生成部と低抵抗部とが電気的に並列に配置する場合には、スピン軌道トルク配線に流れる電流はスピン流生成部及び低抵抗部の抵抗の大きさの逆比の割合に分かれてそれぞれの部分を流れることになる。
ＳＯＴ反転電流に対する純スピン流生成効率の観点で、スピン軌道トルク配線に流れる電流がすべてスピン流生成部を流れるようにするためには、スピン流生成部と低抵抗部とが電気的に並列に配置する部分がなく、すべて電気的に直列に配置するようにする。
　図３～図６に示すスピン軌道トルク配線は、磁気抵抗効果素子の積層方向からの平面視で、スピン流生成部と低抵抗部とが電気的に並列に配置する部分がない構成であり、（ａ）で示す断面を有する構成の中で、ＳＯＴ反転電流に対する純スピン流生成効率が最も高い構成の場合である。
　図３に示すスピン軌道トルク配線４０は、そのスピン流生成部４１が磁気抵抗効果素子２０の積層方向から平面視して第２強磁性金属層２３の接合部２３’を含むように重畳し、かつ、その厚さ方向はスピン流生成部４１だけからなり、電流の流れる方向に低抵抗部４２Ａ、４２Ｂがスピン流生成部４１を挟むように配置する構成である。図３に示すスピン軌道トルク配線の変形例として、スピン流生成部が磁気抵抗効果素子の積層方向から平面視して第２強磁性金属層の接合部に重なるように重畳し、それ以外は図３に示すスピン軌道トルク配線と同じ構成がある。
図４に示すスピン軌道トルク配線４０は、そのスピン流生成部４１が磁気抵抗効果素子２０の積層方向から平面視して第２強磁性金属層２３の接合部２３’の一部に重畳し、かつ、その厚さ方向はスピン流生成部４１だけからなり、電流の流れる方向に低抵抗部４２Ａ、４２Ｂがスピン流生成部４１を挟むように配置する構成である。
図５に示すスピン軌道トルク配線４０は、そのスピン流生成部４１が磁気抵抗効果素子２０の積層方向から平面視して第２強磁性金属層２３の接合部２３’を含むように重畳し、かつ、その厚さ方向には第２強磁性金属層側からスピン流生成部４１と低抵抗部４２Ｃが順に積層し、電流の流れる方向に低抵抗部４２Ａ、４２Ｂがスピン流生成部４１及び低抵抗部４２Ｃが積層する部分を挟むように配置する構成である。図５に示すスピン軌道トルク配線の変形例として、スピン流生成部が磁気抵抗効果素子の積層方向から平面視して第２強磁性金属層の接合部に重なるように重畳し、それ以外は図５に示すスピン軌道トルク配線と同じ構成がある。
図６に示すスピン軌道トルク配線４０は、スピン流生成部４１が第２強磁性金属層側の一面全体に形成された第１スピン流生成部４１Ａと、第１スピン流生成部の上に積層され、磁気抵抗効果素子２０の積層方向から平面視して第２強磁性金属層２３の接合部２３’を含むように重畳し、かつ、その厚さ方向はスピン流生成部だけからなる第２スピン流生成部４１Ｂと、電流の流れる方向に第２スピン流生成部４１Ｂを挟むように配置する低抵抗部４２Ａ、４２Ｂとからなる構成である。図６に示すスピン軌道トルク配線の変形例として、第２スピン流生成部が磁気抵抗効果素子の積層方向から平面視して第２強磁性金属層の接合部を重なるように重畳し、それ以外は図６に示すスピン軌道トルク配線と同じ構成がある。
図６に示す構成では、スピン流生成部４１と低抵抗部４２とが接する面積が広いため、スピン流生成部４１を構成する原子番号の大きい非磁性金属と低抵抗部４２を構成する金属との密着性が高い。
　本発明の磁気抵抗効果素子は公知の方法を用いて製造することができる。以下、図３～図６に図示した磁気抵抗効果素子の製造方法について説明する。
　まず、磁気抵抗効果素子２０例えば、マグネトロンスパッタ装置を用いて形成することができる。磁気抵抗効果素子２０がＴＭＲ素子の場合、例えば、トンネルバリア層は第１強磁性金属層上に最初に０．４～２．０ｎｍ程度のアルミニウム、及び複数の非磁性元素の二価の陽イオンとなる金属薄膜をスパッタし、プラズマ酸化あるいは酸素導入による自然酸化を行い、その後の熱処理によって形成される。成膜法としてはマグネトロンスパッタ法のほか、蒸着法、レーザアブレーション法、ＭＢＥ法等の薄膜作成法を用いることができる。
磁気抵抗効果素子２０の成膜及び形状の形成を行った後、スピン流生成部４１を最初に形成することが好ましい。これはスピン流生成部４１から磁気抵抗効果素子２０に純スピン流の散乱をできるだけ抑制できる構造にすることが高効率化に繋がるからである。
磁気抵抗効果素子２０の成膜及び形状の形成を行った後、加工後の磁気抵抗効果素子２０の周囲をレジスト等で埋めて、磁気抵抗効果素子２０の上面を含む面を形成する。この際、磁気抵抗効果素子２０の上面を平坦化することが好ましい。平坦化することで、スピン流生成部４１と磁気抵抗効果素子２０の界面におけるスピン散乱を抑制することができる。
次に、平坦化した磁気抵抗効果素子２０の上面にスピン流生成部４１の材料を成膜する。成膜はスパッタ等を用いることができる。
次に、スピン流生成部４１を作製したい部分にレジストまたは保護膜を設置し、イオンミリング法または反応性イオンエッチング（ＲＩＥ）法を用いて不要部を除去する。
次に、低抵抗部４２を構成する材料をスパッタ等で成膜し、レジスト等を剥離することで、スピン軌道トルク配線４０が作製される。スピン流生成部４１の形状が複雑な場合は、レジストまたは保護膜の形成と、スピン流生成部４１の成膜を複数回に分けて形成してもよい。
　図７は、本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子をｙｚ平面で切断した断面模式図である。
図７に基づいて、本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子１００の作用について説明する。
図７に示すように磁気抵抗効果素子１００には２種類の電流がある。一つは、磁気抵抗効果素子２０をその積層方向に流れ、スピン軌道トルク配線４０及び配線３０に流れる電流Ｉ１（ＳＴＴ反転電流）である。図７においては、電流Ｉ１はスピン軌道トルク配線４０、磁気抵抗効果素子２０、配線３０の順に流れるものとする。この場合、電子は配線３０、磁気抵抗効果素子２０、スピン軌道トルク配線４０の順に流れる。
もう一つは、スピン軌道トルク配線４０の延在方向に流れる電流Ｉ２（ＳＯＴ反転電流）である。
電流Ｉ１と電流Ｉ２とは互いに交差（直交）するものであり、磁気抵抗効果素子２０とスピン軌道トルク配線４０とが接合する部分（符号２４’は磁気抵抗効果素子２０（キャップ層２４）側の接合部を示し、符号４０’はスピン軌道トルク配線４０側の接合部を示す）において、磁気抵抗効果素子２０に流れる電流とスピン軌道トルク配線４０に流れる電流が合流し、または、分配される。
電流Ｉ１を流すことより、第１強磁性金属層（固定層）２１の磁化と同じ方向を向いたスピンを有する電子が第１強磁性金属層（固定層）２１からスピンの向きを維持したまま、非磁性層２２を通過し、この電子は、第２強磁性金属層（自由層）２３の磁化Ｍ２３の向きを第１強磁性金属層（固定層）２１の磁化Ｍ２１の向きに対して反転して平行にするようにトルク（ＳＴＴ）を作用する。
一方、電流Ｉ２は図２に示す電流Ｉに対応する。すなわち、電流Ｉ２を流すと、上向きスピンＳ＋と下向きスピンＳ－がそれぞれスピン軌道トルク配線４０の端部に向かって曲げられ純スピン流Ｊｓが生じる。純スピン流Ｊｓは、電流Ｉ２の流れる方向と垂直な方向に誘起される。すなわち、図におけるｚ軸方向やｘ軸方向に純スピン流Ｊｓが生じる。図７では、第２強磁性金属層２３の磁化の向きに寄与するｚ軸方向の純スピン流Ｊｓのみを図示している。
スピン軌道トルク配線４０に図の手前側に電流Ｉ２を流すことにより生じた純スピン流Ｊｓは、キャップ層２４を介して第２強磁性金属層２３に拡散して流れ込み、流れ込んだスピンは第２強磁性金属層２３の磁化Ｍ２３に影響を及ぼす。すなわち、図７では、－ｘ方向に向いたスピンが第２強磁性金属層２３に流れ込むことで＋ｘ方向に向いた第２強磁性金属層２３の磁化Ｍ２３の磁化反転を起こそうとするトルク（ＳＯＴ）が加わる。
以上の通り、第１電流経路Ｉ１に流れる電流によって生じるＳＴＴ効果に、第２電流経路Ｉ２に流れる電流によって生じた純スピン流ＪｓによるＳＯＴ効果が加わって、第２強磁性金属層２３の磁化Ｍ２３を磁化反転させる。
　ＳＴＴ効果のみで第２強磁性金属層２３の磁化を反転させようとする（すなわち、電流Ｉ１のみに電流が流れる）と、磁気抵抗効果素子２０には所定の電圧以上の電圧を印加する必要がある。ＴＭＲ素子の一般的な駆動電圧は数Ｖ以下と比較的小さいが、非磁性層２２は数ｎｍ程度の非常に薄い膜であり、絶縁破壊が生じることがある。非磁性層２２に通電を続けることで、確率的に非磁性層の弱い部分（膜質が悪い、膜厚が薄い等）が破壊される。
これに対して、本発明の「ＳＴＴ及びＳＯＴ併用」構成の場合の磁気抵抗効果素子は、ＳＴＴ効果の他に、ＳＯＴ効果を利用する。これにより、磁気抵抗効果素子に印加する電圧を小さくすることができ、かつスピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度も小さくすることができる。磁気抵抗効果素子に印加する電圧を小さくすることで、素子の長寿命化を図ることができる。またスピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度を小さくすることで、エネルギー効率が著しく低下することを避けることができる。
スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度は１×１０７Ａ／ｃｍ２未満であることが好ましい。スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度が大きすぎると、スピン軌道トルク配線に流れる電流によって熱が生じる。熱が第２強磁性金属層に加わると、第２強磁性金属層の磁化の安定性が失われ、想定外の磁化反転等が生じる場合がある。このような想定外の磁化反転が生じると、記録した情報が書き換わるという問題が生じる。すなわち、想定外の磁化反転を避けるためには、スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度が大きくなりすぎないようにすることが好ましい。スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度は１×１０７Ａ／ｃｍ２未満であれば、少なくとも発生する熱により磁化反転が生じることを避けることができる。
　図８は、本発明の他の実施形態に係る磁気抵抗効果素子を示すものである。
図８に示す磁気抵抗効果素子２００において、スピン軌道トルク配線５０は磁気抵抗効果素子２０の積層方向に備えた上面接合部５１（上述のスピン軌道トルク配線４０に相当）の他に、第２強磁性金属層２３の側壁に接合する側壁接合部５２を有する。
スピン軌道トルク配線５０に電流を流すと、上面接合部５１で生成される純スピン流Ｊｓに加えて、側壁接合部５２で純スピン流Ｊｓ’が生成される。
従って、純スピン流Ｊｓが磁気抵抗効果素子２０の上面からキャップ層２４を介して第２強磁性金属層２３に流れ込むだけでなく、純スピン流Ｊｓ’が第２強磁性金属層２３の側壁から流れ込むので、ＳＯＴ効果が増強される。
　図９は、本発明の他の実施形態に係る磁気抵抗効果素子を示すものである。
　図９に示す磁気抵抗効果素子３００では、基板１０側にスピン軌道トルク配線４０を有する。この場合、固定層である第１強磁性金属層２３と自由層である第２強磁性金属層２４の積層順が図１に示す磁気抵抗効果素子１００とは逆になる。
　このように、本発明の磁気抵抗効果素子は、この構成のようにトップピン構造であってもよいし、図１に示したようなボトムピン構造であってもよい。
　図９に示す磁気抵抗効果素子３００では、基板１０、スピン軌道トルク配線４０、第２強磁性金属層２３、非磁性層２２、第１強磁性金属層２１、キャップ層２４、配線３０の順で積層される。第２強磁性金属層２３は、第１強磁性金属層２１よりも先に積層されるため、格子歪等の影響を受ける可能性が磁気抵抗効果素子１００より低い。その結果、磁気抵抗効果素子３００では、第２強磁性金属層２３の垂直磁気異方性を高められている。第２強磁性金属層２３の垂直磁気異方性が高まると、磁気抵抗効果素子のＭＲ比を高めることができる。
　図１０は、図１に示した磁気抵抗効果素子１００において、磁気抵抗効果素子２０の積層方向に電流を流す第１電源１１０と、スピン軌道トルク配線４０に電流を流す第２電源１２０とを示したものである。
　第１電源１１０は、配線３０とスピン軌道トルク配線４０とに接続される。第１電源１１０は磁気抵抗効果素子１００の積層方向に流れる電流を制御することができる。
第２電源１２０は、スピン軌道トルク配線４０の両端に接続されている。第２電源１２０は、磁気抵抗効果素子２０の積層方向に対して直交する方向に流れる電流である、スピン軌道トルク配線４０に流れる電流を制御することができる。
上述のように、磁気抵抗効果素子２０の積層方向に流れる電流はＳＴＴを誘起する。これに対して、スピン軌道トルク配線４０に流れる電流はＳＯＴを誘起する。ＳＴＴ及びＳＯＴはいずれも第２強磁性金属層２３の磁化反転に寄与する。
　このように、磁気抵抗効果素子２０の積層方向と、この積層方向に直行する方向に流れる電流量を２つの電源によって制御することで、ＳＯＴとＳＴＴが磁化反転に対して寄与する寄与率を自由に制御することができる。
　例えば、デバイスに大電流を流すことができない場合は磁化反転に対するエネルギー効率の高いＳＴＴが主となるように制御することができる。すなわち、第１電源１１０から流れる電流量を増やし、第２電源１２０から流れる電流量を少なくすることができる。
　また、例えば薄いデバイスを作製する必要があり、非磁性層２２の厚みを薄くせざる得ない場合は、非磁性層２２に流れる電流を少なくことが求められる。この場合は、第１電源１１０から流れる電流量を少なくし、第２電源１２０から流れる電流量を多くし、ＳＯＴの寄与率を高めることができる。
　第１電源１１０及び第２電源１２０は公知のものを用いることができる。
　上述のように、本発明の一態様に係る磁気抵抗効果素子によれば、ＳＴＴ及びＳＯＴの寄与率を、第１電源及び第２電源から供給される電流量により自由に制御することができる。そのため、デバイスに要求される性能に応じて、ＳＴＴとＳＯＴの寄与率を自由に制御することができ、より汎用性の高い磁気抵抗効果素子として機能することができる。
　（磁気メモリ）
　本発明の磁気メモリ（ＭＲＡＭ）は、本発明の磁気抵抗効果素子を複数備える。
（磁化反転方法）
本発明の一態様に係る磁化反転方法は、本発明の磁気抵抗効果素子において、スピン軌道トルク配線に流れる電流密度が１×１０７Ａ／ｃｍ２未満とするものである。
スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度が大きすぎると、スピン軌道トルク配線に流れる電流によって熱が生じる。熱が第２強磁性金属層に加わると、第２強磁性金属層の磁化の安定性が失われ、想定外の磁化反転等が生じる場合がある。このような想定外の磁化反転が生じると、記録した情報が書き換わるという問題が生じる。すなわち、想定外の磁化反転を避けるためには、スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度が大きくなりすぎないようにすることが好ましい。スピン軌道トルク配線に流す電流の電流密度は１×１０７Ａ／ｃｍ２未満であれば、少なくとも発生する熱により磁化反転が生じることを避けることができる。
本発明の一態様に係る磁化反転方法は、本発明の磁気抵抗効果素子において、スピン軌道トルク配線の電源に電流を印加した後に、磁気抵抗効果素子の電源に電流を印加するものである。
アシスト工程と磁化反転工程は、同時に行ってもよいし、アシスト工程を事前に行った後に磁化反転工程を加えて行ってもよい。すなわち、図７に示す磁気抵抗効果素子２００においては、第１電源１１０と第２電源１２０から電流を同時に供給してもよいし、第２電流１２０から電流を供給後に、加えて第１電源１１０から電流を供給してもよいが、ＳＯＴを利用した磁化反転のアシスト効果をより確実に得るためには、スピン軌道トルク配線の電源に電流が印加した後に、磁気抵抗効果素子の電源に電流を印加することが好ましい。すなわち、第２電流１２０から電流を供給後に、加えて第１電源１１０から電流を供給することが好ましい。
　（スピン流磁化反転素子）
　図１１に、本発明の一実施形態に係るスピン流磁化反転素子の一例の模式図を示す。図１１（ａ）は平面図であり、図１１（ｂ）は図１１（ａ）のスピン軌道トルク配線２の幅方向の中心線であるＸ－Ｘ線で切った断面図である。
　本発明の一態様に係るスピン流磁化反転素子は、図１に示すスピン流磁化反転素子１０１は、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層１と、第２強磁性金属層１の面直方向である第１方向（ｚ方向）に対して交差する第２方向（ｘ方向）に延在し、第２強磁性金属層１の第１面１ａに接合するスピン軌道トルク配線２と、を備える。
　ここで、スピン軌道トルク配線２と第２強磁性金属層１との接合は、「直接」接合してもよいし、上述したようにキャップ層のような「他の層を介して」接合してもよく、スピン軌道トルク配線２で発生した純スピン流が第２強磁性金属層１に流れ込む構成であれば、スピン軌道トルク配線と第１強磁性金属層との接合（接続あるいは結合）の仕方に限定はない。
　　スピン軌道トルク配線２は、図１２に示すように、純スピン流を生成する材料からなる純スピン流生成部２Ａと、該純スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる低抵抗部２Ｂとからなり、該純スピン流生成部の少なくとも一部が第２強磁性金属層１と接する構成にすることができる。
　図１２に示す構成は、図３に示したスピン軌道トルク配線の構成を本発明のスピン流磁化反転素子に適用した例である。本発明のスピン流磁化反転素子に図４～図６に示したスピン軌道トルク配線の構成を適用することができる。
本発明のスピン流磁化反転素子の適用例として、主に磁気抵抗効果素子を挙げることができる。従って、本発明のスピン流磁化反転素子が備える構成要素において、上述の磁気抵抗効果素子等の構成要素と同等のものはすべて適用することができる。
また、本発明のスピン流磁化反転素子の用途としては磁気抵抗効果素子に限られず、他の用途にも適用できる。他の用途としては、例えば、スピン流磁化反転素子を各画素に配設して、磁気光学効果を利用して入射光を空間的に変調する空間光変調器においても用いることができるし、磁気センサにおいて磁石の保磁力によるヒステリシスの効果を避けるために磁石の磁化容易軸に印可する磁場をスピン流磁化反転素子に置き換えてもよい。
１…第２強磁性金属層、２…スピン軌道トルク配線、１０…基板、２０…磁気抵抗効果素子、２１…第１強磁性金属層、２２…非磁性層、２３…第２強磁性金属層、２３’…接合部（第２強磁性金属層側）、２４…キャップ層、２４’…接合部（キャップ層側）、３０…配線、４０、５０、５１、５２…スピン軌道トルク配線、４０’…接合部（スピン軌道トルク配線側）、４１、４１Ａ、４１Ｂ…スピン流生成部、４２Ａ、４２Ｂ、４２Ｃ…低抵抗部、１００，２００，３００…磁気抵抗効果素子、１０１…スピン流磁化反転素子、Ｉ…電流、Ｓ１…上向きスピン、Ｓ２…下向きスピン、Ｍ２１，Ｍ２３…磁化、Ｉ１…第１電流経路、Ｉ２…第２電流経路、１１０…第１電源、１２０…第２電源

Claims (10)

  1. 磁化の向きが固定された第１強磁性金属層と、磁化の向きが可変な第２強磁性金属層と、第１強磁性金属層及び第２強磁性金属層に挟持された非磁性層とを有する磁気抵抗効果素子と、
    該磁気抵抗効果素子の積層方向に対して交差する方向に延在し、前記第２強磁性金属層に接合するスピン軌道トルク配線と、を備え、
    前記磁気抵抗効果素子と前記スピン軌道トルク配線とが接合する部分において、前記磁気抵抗効果素子に流れる電流と前記スピン軌道トルク配線に流れる電流が合流し、または、分配される磁気抵抗効果素子。
  2. 　前記スピン軌道トルク配線は、最外殻にｄ電子又はｆ電子を有する原子番号３９以上の非磁性金属を含む請求項１に記載の磁気抵抗効果素子。
  3. 　前記スピン軌道トルク配線は、純スピン流を生成する材料からなる純スピン流生成部と、該純スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる低抵抗部とからなり、該純スピン流生成部の少なくとも一部が前記第２強磁性金属層と接している請求項１又は２のいずれかに記載の磁気抵抗効果素子。
  4. 　前記スピン軌道トルク配線は、磁性金属を含む請求項１～３のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果素子。
  5. 　前記スピン軌道トルク配線と前記第２強磁性金属層との間にキャップ層を有し、前記スピン軌道トルク配線と前記第２強磁性金属層とは前記キャップ層を介して接合されている請求項１～４のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果素子。
  6. 前記スピン軌道トルク配線は、前記第２強磁性金属層の側壁に接合する側壁接合部を有する請求項１～５のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果素子。
  7. 　請求項１～６のいずれか一項に記載の磁気抵抗効果素子を複数備えた磁気メモリ。
  8. 　前記スピン軌道トルク配線に流れる電流密度が１×１０７Ａ／ｃｍ２未満とすることを特徴とする請求項１～６に記載の磁気抵抗効果素子における磁化反転方法。
  9. 　前記スピン軌道トルク配線の電源に電流を印加した後に、前記磁気抵抗効果素子の電源に電流を印加することを特徴とする請求項１～６に記載の磁気抵抗効果素子における磁化反転方法。
  10. 　磁化の向きが可変な第２強磁性金属層と、
    　前記第２強磁性金属層の面直方向に対して交差する方向に延在し、前記第２強磁性金属層に接合するスピン軌道トルク配線と、を備え、
    前記スピン軌道トルク配線は、純スピン流を生成する材料からなる純スピン流生成部と、該純スピン流生成部よりも電気抵抗が小さい材料からなる低抵抗部とからなり、該純スピン流生成部の少なくとも一部が前記第２強磁性金属層と接しているスピン流磁化反転素子。
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