KR20100134123A - 디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 진동 차단 - Google Patents

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KR20100134123A
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브라이언 에스. 메로우
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테라다인 인코퍼레이티드
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Abstract

디스크 드라이브 테스트 슬롯(500)은 테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560)을 한정하는 하우징(550)을 포함한다. 하우징은 또한 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부(561)를 한정한다. 디스크 드라이브 테스트 슬롯은 또한 하우징에 연결된 장착판(504)을 포함한다. 하나 이상의 차단체(520, 530)가 하우징과 장착판 사이에 배치된다. 하나 이상의 차단체는 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다.

Description

디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 진동 차단{VIBRATION ISOLATION WITHIN DISK DRIVE TESTING SYSTEMS}
본 발명은 디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 진동 차단에 관한 것이다.
디스크 드라이브 제조업자는 통상적으로 일군의 요건에 따라 제조된 디스크 드라이브를 테스트한다. 많은 수의 디스크 드라이브를 직렬로 또는 병렬로 테스트하기 위한 테스트 장비와 기술이 존재한다. 제조업자는 많은 수의 디스크 드라이브를 주로 동시에 테스트하거나 배치(batch) 단위로 테스트한다. 통상, 디스크 드라이브 테스트 시스템은 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수납하는 복수개의 테스트 슬롯(test slot)을 구비한 하나 이상의 테스트 받침대(test rack)를 포함한다. 소정의 경우에, 디스크 드라이브는 테스트 받침대에 대해 디스크 드라이브를 적재, 즉, 반입(loading) 및 반출(unloading)하는 데 사용되는 캐리어에 배치된다.
디스크 드라이브 바로 부근의 테스트 환경은 엄밀히 규제된다. 정밀한 테스트 조건과 디스크 드라이브의 안정성을 위해서는 최소의 테스트 환경 온도 변동이 대단히 중요하다. 보다 고용량, 보다 빠른 회전 속도 및 보다 작은 헤드 유격(head clearance)을 지니는 최신 세대의 디스크 드라이브는 진동에 보다 민감하다. 과도한 진동은 테스트 결과의 신뢰성과 전기 접속의 완전성에 영향을 미칠 수 있다. 테스트 조건 하에서는 드라이브 자체가 지지 구조물이나 정착물을 통해 인접 유닛으로 진동을 전파시킬 수 있다. 이러한 진동 "누화(cross-talking)"는 외부 진동원과 함께 충돌 오류, 헤드부 타격(head slap) 및 일회성 이탈(non-repetitive run-out: NRRO)을 야기함으로써 수율을 낮추고 제조 비용을 증가시키는 결과를 가져올 수 있다. 현재의 디스크 드라이브 테스트 시스템은 자동화 및 구조 지지 시스템을 이용하는데, 이런 시스템은 시스템 내에 과도한 진동을 야기하고 그리고/또는 큰 공간을 필요로 한다.
소정의 경우에는, 바람직하지 않은 진동을 방지하기 위해서 디스크 드라이브들이 캐리어 및/또는 테스트 받침대에 진동을 억제하거나 감쇄하는 방식으로 클램프 체결된다. 디스크 드라이브에서 발원한 진동의 영향을 억제하기 위해 공지된 방식은 장착 장치(예컨대 캐리어)의 회전 중심이 디스크 드라이브가 차지하는 공간 외측에 있도록 장착 장치에 디스크 드라이브를 장착하는 것이다. 예컨대 도 1은 종래의 디스크 드라이브 장착 배열체(예컨대 디스크 드라이브 테스트 장치(50)용)를 도시한다. 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 장치(50)는 내부에 디스크 드라이브(600)를 수납하기 위한 디스크 드라이브 수납부(54)를 구비한 캐리어(52)를 포함한다. 디스크 드라이브(600)는 캐리어(52)에 (예컨대, 체결구(56) 및/또는 클램프(57)를 이용하여) 단단히 연결된다. 캐리어(52)는 복수개의 베이(예컨대 복수개의 베이 열 및 행)를 포함할 수 있는 섀시(chassis)(60)의 베이(bay)(62)에 수납된다. 장착 배열체는 캐리어(52)의 회전 중심(58)이 디스크 드라이브 수납부(54)와 디스크 드라이브(600)에서 소정 거리 이격되도록 섀시(60) 내부의 캐리어(52)를 지지한다. 공지된 장착 배열체는 예컨대 핀(64)을 포함하는데, 캐리어(52)는 핀(64)을 중심으로 피봇 운동을 할 수 있다. 화살표 (70)은 캐리어(52) 내에서 디스크 드라이브(600)의 디스크(620)의 회전(화살표 (72))에 따른 섀시(60)에 대한 캐리어(52)의 움직임을 도시한다.
일 측면에서, 디스크 드라이브 테스트 슬롯은 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는(carrying) 디스크 드라이브 이송 장치를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(test compartment)을 한정하는 하우징을 포함한다. 하우징은 또한 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부를 한정한다. 디스크 드라이브 테스트 슬롯은 또한 하우징에 연결된 장착판을 포함한다. 하나 이상의 차단체(isolator)가 하우징과 장착판 사이에 배치된다. 하나 이상의 차단체는 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다.
실시형태들은 하나 이상의 다음과 같은 특징을 포함할 수 있다.
소정의 실시형태에서, 본체 부재는 하나 이상의 차단체 중 적어도 하나에 본체 부재를 연결하는 하나 이상의 자체-클린치 스터드(self-clinching stud)를 포함한다.
소정의 실시형태에서, 하나 이상의 차단체는 암수형 차단체를 포함한다. 암수형 차단체는 우레탄 엘라스토머로 형성된 본체(body)를 포함할 수 있다.
소정의 실시형태에서, 하나 이상의 차단체는 하나 이상의 그로밋(grommet)을 포함한다. 소정의 경우에, 하나 이상의 그로밋은 장착판에 대해 변위 가능하다. 소정의 예에서, 하우징은 각각 대응하는 하나의 그로밋과 결합하는 복수개의 접촉핀을 포함한다. 접촉핀은 개방 단부에 대향하는 하우징의 제1 단부에 배치될 수 있다. 장착판은 본체 부재와 본체 부재에 연결되고 그로밋을 수납 및 지지하도록 구성되는 플랜지 부재를 포함할 수 있다. 플랜지 부재는 본체 부재에서 이격된 위치에서 그로밋을 지지하도록 구성될 수 있다. 소정의 경우에, 플랜지 부재는 각각 하나의 그로밋을 수납 및 지지하도록 구성되는 복수개의 포크형 개구부를 포함한다. 그로밋은 열가소성 비닐로 형성될 수 있다. 소정의 예에서, 하나 이상의 차단체는 또한 하우징과 장착판 사이에 배치되는 하나 이상의 암수형 차단체를 포함한다.
소정의 실시형태에서, 하나 이상의 차단체는 각각 하우징과 장착판 사이에 배치되는 상기 차단체를 복수개 포함하며, 복수개의 차단체는 각각 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다.
소정의 실시형태에서, 디스크 드라이브와 디스크 드라이브 이송 장치가 없을 경우, 테스트 슬롯 하우징은 어떠한 이동 부품도 실질적으로 수반하지 않는다.
다른 측면에 따르면, 디스크 드라이브 테스트 시스템은 복수개의 테스트 슬롯을 포함한다. 각각의 테스트 슬롯은 하우징과 장착판 조립체를 포함한다. 각각의 하우징은 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역과, 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부를 한정한다. 장착판 조립체는 하우징에 연결된다. 디스크 드라이브 테스트 시스템은 또한 각각 하나의 테스트 슬롯을 수납 및 지지하도록 구성되는 복수개의 테스트 슬롯 저장소(test slot receptacle)를 한정하는 섀시를 포함한다. 각각의 테스트 슬롯 저장소는 하나의 장착판 조립체와 착탈식으로 결합하도록 구성되는 대응하는 카드 가이드 조립체를 포함한다.
실시형태들은 하나 이상의 다음과 같은 특징을 포함할 수 있다. 소정의 실시형태에서, 테스트 슬롯은 각각 섀시로부터 독립적으로 분리 가능하다.
소정의 실시형태에서, 장착판 조립체는 테스트 슬롯 하우징과 섀시 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다.
소정의 실시형태에서, 장착판 조립체 중 적어도 하나는 장착판과, 장착판 및 관련된 하나의 테스트 슬롯 하우징 사이에 배치되는 하나 이상의 차단체를 포함한다. 하나 이상의 차단체는 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다. 장착판은 관계된 하나의 테스트 슬롯과 섀시 사이에 기계적 연결을 제공하기 위해 카드 가이드 조립체 중 하나의 카드 가이드 조립체 내에 끼워지는 크기로 된 장착 플랜지를 포함할 수 있다. 하나 이상의 차단체는 하나 이상의 그로밋을 포함한다. 소정의 경우에, 그로밋은 장착판에 대해 변위 가능하다. 하우징은 각각 대응하는 하나의 그로밋과 결합하는 복수개의 접촉핀을 포함할 수 있다. 하나 이상의 차단체는 하나 이상의 암수형 차단체를 포함할 수 있다.
소정의 실시형태에서, 섀시는 테스트 슬롯들 중 하나의 테스트 슬롯 내부의 디스크 드라이브와 기능성 테스트 루틴을 통신시키도록 구성되는 테스트 전자장치를 포함한다. 소정의 예에서, 테스트 슬롯들 중 적어도 하나는 또한 적어도 하나의 해당 테스트 슬롯의 테스트 구역 내부의 디스크 드라이브와 테스트 전자장치 사이에 전기 통신을 제공하도록 구성되는 접속 인터페이스 회로를 포함한다.
소정의 실시형태에서, 테스트 슬롯들은 테스트 슬롯 저장소 내에서 서로 교체 가능하다.
다른 측면에서, 디스크 드라이브 테스트 시스템은 복수개의 테스트 슬롯을 포함한다. 각각의 테스트 슬롯은, 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역과, 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부를 한정하는 하우징을 포함한다. 각각의 테스트 슬롯은 장착판과, 하우징 및 장착판 사이에 배치되는 하나 이상의 차단체를 포함한다. 하나 이상의 차단체는 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다. 디스크 드라이브 테스트 시스템은 또한 각각 하나의 테스트 슬롯을 수납 및 지지하도록 구성되는 복수개의 테스트 슬롯 저장소를 한정하는 섀시를 포함할 수 있다. 소정의 경우에, 테스트 슬롯들은 각각 섀시로부터 독립적으로 분리 가능하다.
실시형태들은 하나 이상의 다음과 같은 특징을 포함할 수 있다. 소정의 실시형태에서, 테스트 슬롯 저장소들은 각각 하나의 테스트 슬롯 장착판과 착탈식으로 결합함으로써 관계된 테스트 슬롯을 섀시에 기계적으로 연결하도록 구성된다.
소정의 실시형태에서, 차단체들은 테스트 슬롯 하우징과 섀시 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능하다.
소정의 실시형태에서, 차단체는 그로밋을 포함한다.
소정의 실시형태에서, 차단체는 암수형 차단체를 포함한다.
소정의 실시형태에서, 디스크 드라이브와 디스크 드라이브 이송 장치가 없을 경우, 테스트 슬롯 하우징은 어떠한 이동 부품도 실질적으로 수반하지 않는다.
소정의 실시형태에서, 섀시는 테스트 슬롯들 중 하나의 테스트 슬롯 내부의 디스크 드라이브와 기능성 테스트 루틴을 통신시키도록 구성되는 테스트 전자장치를 포함한다. 소정의 경우에, 테스트 슬롯들 중 제1 테스트 슬롯은 해당 제1 테스트 슬롯의 테스트 구역 내부의 디스크 드라이브와 테스트 전자장치 사이에 전기 통신을 제공하도록 구성되는 접속 인터페이스 회로를 포함한다.
소정의 실시형태에서, 테스트 슬롯들은 테스트 슬롯 저장소 내에서 서로 교체 가능하다.
다른 측면에서, 디스크 드라이브 테스트 슬롯은 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역과, 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부를 한정하는 하우징을 포함한다. 디스크 드라이브 테스트 슬롯은 또한 하우징에 연결된 장착판과, 하우징 및 장착판 사이에 배치되어 하우징과 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 복수개의 부유 접촉부를 포함한다. 부유 접촉부는 장착판에 대해 변위 가능하다.
본 발명의 하나 이상의 실시형태의 세부 사항에 대하여는 첨부 도면과 이하의 설명에 기술한다. 본 발명의 그 밖의 특징, 목적 및 장점은 발명의 상세한 설명, 첨부 도면 및 특허 청구범위로부터 자명하게 될 것이다. 이하의 각 도면에서 유사한 참조부호는 유사한 요소들을 지시한다.
도 1a는 종래의 디스크 드라이브 장착 배열체의 개략도;
도 2는 디스크 드라이브 시스템의 사시도;
도 3a는 테스트 받침대의 사시도;
도 3b는 도 2a에 도시된 테스트 받침대에서의 슬롯열의 세부 사시도;
도 4는 테스트 슬롯 조립체의 사시도;
도 5a는 이송 스테이션의 사시도;
도 5b는 토트(tote) 및 디스크 드라이브의 사시도;
도 6a는 디스크 드라이브 테스트 시스템의 평면도;
도 6b는 디스크 드라이브 테스트 시스템의 사시도;
도 7a 및 도 7b는 디스크 드라이브 이송 장치의 사시도;
도 8a는 디스크 드라이브를 지지하는 디스크 드라이브 이송 장치의 사시도;
도 8b는 테스트 슬롯 내로의 삽입을 위해 정렬된 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 사시도;
도 9 및 도 10은 자체-테스트 및 기능성 테스트 회로의 개략도;
도 11은 테스트 슬롯의 사시도;
도 12는 장착판 조립체의 사시도;
도 13은 암수형 차단체의 사시도;
도 14a 내지 도 14c는 테스트 슬롯 하우징의 사시도;
도 15a 내지 도 15d는 테스트 슬롯의 조립체를 도시한 도면;
도 16 및 도 17은 테스트 슬롯 하우징에 장착된 접속 인터페이스 기판을 도시하는 것으로 테스트 슬롯의 전방 및 후방 사시도;
도 18은 커버에 의해 둘러싸인 테스트 슬롯 하우징의 후방부를 도시하는 테스트 슬롯의 사시도;
도 19는 내부에 디스크 드라이브를 구비한 테스트 슬롯의 평면도;
도 20a 내지 도 20f는 도 19의 테스트 슬롯의 장착판 조립체에 대한 테스트 하우징의 이동을 도시하는 도면;
도 21a 내지 도 21c는 하우징의 부유 중심부의 이동을 도시하는 도면;
도 22a 내지 도 22d는 테스트 받침대의 슬롯열 내부에 테스트 슬롯들을 장착하는 과정을 도시한 도면.
시스템 개관
도 2에 도시된 바와 같이, 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)은 복수개의 테스트 받침대(100)(예컨대 열개의 테스트 받침대가 도시됨)와, 이송 스테이션(200)과, 로봇(300)을 포함한다. 도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 각각의 테스트 받침대(100)는 일반적으로 섀시(102)를 포함한다. 섀시(102)는 서로 체결되어 복수개의 슬롯열(110)을 함께 한정하는 복수개의 구조용 부재(104)(예컨대 압출 알루미늄, 강관 및/또는 복합 부재)로 구성될 수 있다. 각각의 슬롯열(110)은 복수개의 테스트 슬롯 조립체(120)를 지지할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 각각의 테스트 슬롯 조립체(120)는 디스크 드라이브 이송 장치(400)와 테스트 슬롯(500)을 포함한다. 디스크 드라이브 이송 장치(400)는 (예컨대 이송 스테이션(200)으로부터) 디스크 드라이브(600)를 포획하고 테스트 슬롯(500)들 중 하나로 테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 이송하기 위해 사용된다.
도 5a를 참조하면, 소정의 실시형태에서, 이송 스테이션(200)은 이송 스테이션 하우징(210)과 이송 스테이션 하우징(210) 상에 배치된 복수개의 토트 제시 지지 시스템(220)을 포함한다. 각각의 토트 제시 지지 시스템(220)은 로봇(300)에 의한 작업을 위해 제시 위치에서 디스크 드라이브 토트(260)를 수납 및 지지하도록 구성된다.
소정의 실시형태에서, 토트 제시 지지 시스템(220)들은 각각 이송 스테이션 하우징(210)의 동일 측면 상에 배치되어 서로에 대해 수직하게 배열된다. 각각의 토트 제시 지지 시스템(220)은 서로 다른 높이를 갖는다. 소정의 예에서, 토트 제시 지지 시스템(220)은 도 5a에 도시된 바와 같이 디스크 드라이브 토트(260)에 의해 한정된 각각의 아암 홈(266)(도 5b)에 수납되도록 구성되는 토트 지지 아암(226)을 포함한다.
토트 이동자(230)가 이송 스테이션 하우징(210) 상에 배치되어 이송 스테이션 하우징에 대해 이동하도록 구성된다. 토트 이동자(230)는 (예컨대 로봇(300)에 의해) 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)에 의한 작업을 위한 토트 제시 지지 시스템(220)과 토트(260)들이 (조작자에 의해) 이송 스테이션(200)에 대해 반입 및 반출될 수 있는 곳인 스테이지 영역(250) 사이에서 토트(260)들을 이송하도록 구성된다.
도 5b에 도시된 바와 같이, 토트(260)들은 각각 디스크 드라이브(600)를 수용하도록 구성되는 복수개의 디스크 드라이브 저장소(264)(예컨대 18개가 도시됨)를 한정하는 토트 본체(262)를 포함한다. 각각의 디스크 드라이브 저장소(264)는 비-중심부를 따라서 디스크 드라이브(600)를 조작할 수 있게 하기 위해 수납된 디스크 드라이브(600)의 중심부를 지지하도록 구성된 디스크 드라이브 지지부(265)를 포함한다. 토트 본체(262)는 또한 이송 스테이션 하우징(210)의 토트 지지 아암(226)(도 5a)과 결합함으로써 (예컨대 로봇(300)에 의한 작업을 위해(도 2)) 토트(260)를 지지하도록 구성된 아암 홈(266)을 한정한다.
도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 로봇(300)은 로봇 아암(310)과 로봇 아암(310)의 말단부에 배치된 조작기(312)(도 6a)를 포함한다. 로봇 아암(310)은 바닥면(316)에 수직한 제1 축(314)을 한정하고 제1 축(314)을 중심으로 소정 원호를 따라 회전하도록 작동 가능하고 제1 축(314)에서 방사상으로 연장된다. 로봇 아암(310)은 이송 스테이션(200)과 테스트 받침대(100)들 중 하나 사이에서 디스크 드라이브(600)를 이송함으로써 각각의 테스트 슬롯(500)에 대해 독립적으로 작업하도록 구성된다. 특히, 로봇 아암(310)은 조작기(312)를 이용하여 테스트 슬롯(500)들 중 하나로부터 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 분리한 다음, 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 이용하여 이송 스테이션(200)에 있는 디스크 드라이브 저장소(264)들 중 하나로부터 디스크 드라이브(600)를 픽업하고, 디스크 드라이브(600)의 테스트를 위해 테스트 슬롯(500)으로 디스크 드라이브(600)를 내부에 수납한 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 복귀시키도록 구성된다. 테스트 후, 로봇 아암(310)은 지지된 디스크 드라이브(600)와 함께 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 테스트 슬롯(500)들 중 하나로부터 회수해서, 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 조작에 의해(즉, 조작기(312)를 이용하여) 이송 스테이션(200)에 있는 디스크 드라이브 저장소(264)들 중 하나로 디스크 드라이브 이송 장치를 복귀시킨다.
도 7a 및 도 7b를 참조하면, 디스크 드라이브 이송 장치(400)는 프레임(410)과 파지 기구(450)를 포함한다. 프레임(410)은 정면판(412)을 포함한다. 도 7a에 도시된 바와 같이, 정면판(412)은 제1 면(414)을 따라서 만입부(416)를 한정한다. 만입부(416)에는 로봇 아암(310)의 조작기(312)(도 6a)가 착탈 가능하게 결합될 수 있으며, 이로써 로봇 아암(310)은 이송 장치(400)를 파지하여 이동시킬 수 있게 된다. 도 7b에 도시된 바와 같이, 정면판(412)은 또한 경사 모서리부(417)를 포함한다. 프레임(410)이 테스트 슬롯(500) 중 어느 하나로 삽입되면, 정면판(412)의 경사 모서리부(417)는 테스트 슬롯(500)의 상보적인 경사 모서리부(562)(도 14a)와 접함으로써 밀봉부를 형성하고, 밀봉부는 후술하는 바와 같이 공기가 테스트 슬롯(500) 안팎으로 유동하지 못하도록 돕는다. 이러한 구조는 예컨대 디스크 드라이브 이송 장치(400)가 로봇(300)에 의해 테스트 슬롯(500)에 삽입되고 분리되는 경우 특히 유익할 수 있다. 사용시, 디스크 드라이브 이송 장치(400)들 중 하나는 로봇(300)을 이용하여 (예컨대 로봇(300)의 조작기(312)를 이용하여 이송 장치(400)의 만입부(416)를 파지하거나 다른 방식으로 결합함으로써) 테스트 슬롯(500)들 중 하나로부터 분리된다. 프레임(410)은 측벽(418)들과 기부판(420)에 의해 형성되는 실질적으로 U-형상의 개구부(415)를 한정하는 바, 이들 측벽들과 기부판은 집합적으로 프레임(410)이 토트(260)(도 5b)에서 디스크 드라이브 지지부(265)(도 5b) 주변에 끼워질 수 있도록 함으로써, 디스크 드라이브 이송 장치(400)는 (예컨대 로봇 아암(310)에 의해) 토트(260)의 디스크 드라이브 저장소(264)들 중 하나에 수용된 디스크 드라이브(600)들 중 하나의 하부 위치로 이동될 수 있다. 그 후, 디스크 드라이브 이송 장치(400)는 토트(260)에서 디스크 드라이브 지지부(265)로부터의 분리를 위해 디스크 드라이브(600)와 결합한 위치로 (예컨대 로봇 아암(310)에 의해) 상승될 수 있다.
도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 디스크 드라이브(600)가 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 프레임(410) 내부의 배치된 상태에서, 디스크 드라이브 이송 장치(400)와 디스크 드라이브(600)는 테스트 슬롯(500)들 중 하나의 내부에 배치하기 위해 로봇 아암(310)(도 6a)에 의해 함께 이동될 수 있다. 또한, 조작기(312)(도 6a)는 디스크 드라이브 이송 장치(400)에 배치된 파지 기구(450)의 가동을 개시하도록 구성된다. 조작기를 비롯한 본 명세서에 설명된 구성요소들과 조합 가능한 그 밖의 세부 사항들과 특징들에 대한 상세한 설명은 그 전체 내용이 참조로서 원용된 것으로 일련번호가 18523-073001인 본 출원과 함께 출원되고 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 디스크 드라이브 이송(Transferring Disk Drives Within Disk Drive Testing Systems"이고 발명자가 이브게니 폴리아코프(Evegeny Polyakov) 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/104,536호에서 확인할 수 있다. 이는 이동 동안 디스크 드라이브 이송 장치(400)에 대한 디스크 드라이브(600)의 이동을 억제하기 위해 이송 장치(400)가 토트(260)로부터 테스트 슬롯(500)으로 이동되기 전에 파지 기구(450)를 가동시킨다. 테스트 슬롯(500) 내에 삽입하기에 앞서, 조작기(312)는 다시 파지 기구(450)를 가동시켜서 프레임(410) 내부의 디스크 드라이브(600)를 배출할 수 있다. 이는 디스크 드라이브(600)가 테스트 슬롯 커넥터(574)(도 16)와 결합된 테스트 위치에 있을 때까지 디스크 드라이브 이송 장치(400)가 테스트 슬롯(500)들 중 하나 안으로 삽입될 수 있도록 한다. 파지 기구(450)는 또한 일단 내부에 수납되면 테스트 슬롯(500)과 결합함으로써 테스트 슬롯(500)에 대한 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 이동을 억제하도록 구성될 수 있다. 이러한 실시형태에서, 디스크 드라이브(600)가 테스트 위치에 있게 되면, 파지 기구(450)가 (예컨대 조작기(312)에 의해) 다시 결합됨으로써 테스트 슬롯(500)에 대한 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 이동을 억제한다. 이러한 방식으로 이송 장치(400)의 파지는 테스트 중에 진동을 저감하도록 도울 수 있다. 파지 기구(450)를 비롯한 본 명세서에 설명된 구성요소들과 조합 가능한 그 밖의 세부 사항들과 특징들에 대한 상세한 설명은 그 전체 내용이 참조로서 원용된 것으로 일련번호가 18523-067001인 2007년 12월 18일 출원되고 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 이송, 파지 및 테스트(DIDK DRIVE TRANSPORT, CLAMPING AND TESTING)"이고 발명자가 브라이언 메로우(Brian Merrow) 등인 양도된 미국 특허 출원 제11/959,133호에서 확인할 수 있다.
도 9를 참조하면, 소정의 실시형태에서, 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)은 또한 테스트 슬롯(500)과 통신하는 적어도 하나의 컴퓨터(130)를 포함한다. 컴퓨터(130)는 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)을 제어하기 위해 디스크 드라이브(600)의 목록 제어 및/또는 자동화 인터페이스를 제공하도록 구성될 수 있다. 테스트 전자 장치(160)는 각각의 테스트 슬롯(500)과 통신한다. 테스트 전자 장치(160)는 테스트 슬롯(500) 내부에 수납된 디스크 드라이브(600)와 통신하도록 구성된다.
도 10을 참조하면, 전원 시스템(170)은 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)으로 전력을 공급한다. 전원 시스템(170)은 테스트 슬롯(500)에 수납된 디스크 드라이브(600)로 공급되는 전력을 감시 및/또는 조절할 수 있다. 도 10에 도시된 예에서, 각각의 테스트 받침대(100) 내부의 테스트 전자 장치(160)는 적어도 하나의 테스트 슬롯(500)과 통신하는 적어도 하나의 자체-테스트 시스템(180)을 포함한다. 자체-테스트 시스템(180)은 테스트 받침대(100) 및/또는 테스트 슬롯(500)과 같은 특정 보조-시스템이 적절히 기능하는지 여부를 테스트한다. 자체-테스트 시스템(180)은 클러스터 제어부(181)와, 각각 테스트 슬롯(500)에 수납된 디스크 드라이브(600)와 전기 통신하는 하나 이상의 접속 인터페이스 회로(182)와, 접속 인터페이스 회로(182)와 전기 통신하는 하나 이상의 블록 인터페이스 회로(183)를 포함한다. 소정의 예에서, 클러스터 제어부(181)는 디스크 드라이브(600)에 대한 대략 120회의 자체-테스트 및/또는 60회의 기능성 테스트의 용량을 갖는 하나 이상의 테스트 프로그램을 운행하도록 구성된다. 접속 인터페이스 회로(182)와 블록 인터페이스 회로(들)(183)는 자체 테스트를 하도록 구성된다. 그러나, 자체-테스트 시스템(180)은 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)의 하나 이상의 구성요소 상에서 자체-테스트 루틴을 실행 및 제어하도록 구성된 자체-테스트 회로(184)를 포함할 수 있다. 클러스터 제어부(181)는 범용 비동기화 송수신기(universal asynchronous receiver/transmitter, UART) 직렬 링크를 거쳐 블록 인터페이스 회로(들)(183)과 접속 인터페이스 회로(들)(182) 및 디스크 드라이브(들)(600)과 통신할 수 있는 이더넷(예컨대, 기가비트 이더넷)을 매개로 자체-테스트 회로(184)와 통신할 수 있다. UART는 일반적으로 컴퓨터 또는 주변 장치 직렬 포트 상에서의 직렬 통신을 위해 사용되는 개별 집적 회로(또는 그 일부)이다. 블록 인터페이스 회로(들)(183)는 하나 이상의 테스트 슬롯(500)으로 공급되는 전력과 그 온도를 제어하도록 구성되며, 각각의 블록 인터페이스 회로(183)는 하나 이상의 테스트 슬롯(500)들 및/또는 디스크 드라이브(600)들을 제어할 수 있다.
소정의 예에서, 테스트 전자 장치(160)는 또한 적어도 하나의 테스트 슬롯(500)과 통신하는 적어도 하나의 기능성 테스트 시스템(190)을 포함할 수 있다. 기능성 테스트 시스템(190)은 디스크 드라이브 이송 장치(400)에 의해 테스트 슬롯(500)에서 보유 및/또는 지지되는 수납된 디스크 드라이브(600)가 적절히 기능하는지 여부를 테스트한다. 기능성 테스트는 디스크 드라이브(600)가 받는 전력량과, 동작 온도와, 데이터 판독 및 기록 능력과, 다양한 온도(예컨대 고온에서의 판독 및 저온에서의 기록, 또는 그 반대인 경우)에서의 데이터 판독 및 기록 능력을 포함할 수 있다. 기능성 테스트는 디스크 드라이브(600)의 모든 메모리 섹터를 테스트하거나 무작위 추출 섹터만을 테스트할 수 있다. 기능성 테스트는 디스크 드라이브(600) 주변 공기의 동작 온도와 디스크 드라이브(600)와의 통신하는 데이터의 완전성도 테스트할 수 있다. 기능성 테스트 시스템(190)은 클러스터 제어부(181)와 해당 클러스터 제어부(181)와 전기 통신하는 적어도 하나의 기능성 인터페이스 회로(191)를 포함한다. 접속 인터페이스 회로(182)는 테스트 슬롯(500)에 수납된 디스크 드라이브(600) 및 기능성 인터페이스 회로(191)와 전기 통신한다. 기능성 인터페이스 회로(191)는 기능성 테스트 루틴을 디스크 드라이브(600)와 통신하도록 구성된다. 기능성 테스트 시스템(190)은 클러스터 제어부(181) 및 하나 이상의 기능성 인터페이스 회로(191) 사이에 전기 통신을 제공하는 통신 스위치(192)(예컨대 기가비트 이더넷)를 포함할 수 있다. 바람직하게는, 컴퓨터(130), 통신 스위치(192), 클러스터 제어부(181) 및 기능성 인터페이스 회로(191)는 이더넷 네트워크 상에서 통신한다. 그러나, 다른 형태의 통신도 사용될 수 있다. 기능성 인터페이스 회로(191)는 병렬 AT Attachment(IDE, ATA, ATAPI, UDMA 및 PATA로도 알려진 하드 디스크 인터페이스), SATA 또는 SAS(Serial Attached SCSI)를 통해 접속 인터페이스 회로(182)와 통신할 수 있다.
테스트 슬롯
도 11에 도시된 바와 같이, 각각의 테스트 슬롯(500)은 장착판 조립체(502)에 장착되어 지지되는 하우징(550)을 포함한다. 도 12에 도시된 바와 같이, 장착판 조립체(502)는 본체 부재(506), 플랜지 부재(508) 및 핸들(510)을 포함하는 장착판(504)을 포함한다. 본체 부재(506)는 또한 본체 부재(506)에 형성된 관통공(514)에 압입되는 미국 펜실베니아주 댄보로(Danboro) 소재, 펜엔지니어링(PennEngineering)에서 구입 가능한 것과 같은 한 쌍의 자체-클린치 스터드(512)(하나가 도시됨)를 포함한다. 자체-클린치 스터드(512)는 일반적으로 나사부(516)와 해당 나사부(516)의 제1 단부(517)에 배치된 헤드부(518)를 포함한다. 도 12에 도시된 바와 같이, 나사부는 본체 부재(506)에 형성된 관통공(514)을 통과하며 헤드부(518)는 압입 방식으로 본체 부재(506)와 결합함으로써, 본체 부재(506)에 대해 움직이지 못하도록 자체-클린치 스터드(512)를 고정한다.
장착판 조립체(502)는 또한 한 쌍의 차단체(예컨대, 암수형 차단체(520))를 포함한다. 도 13에 도시된 바와 같이, 일반적으로, 암수형 차단체(520)는 예컨대 약 45 쇼어 A 내지 약 60 쇼어 A 사이의 경도를 갖는 우레탄 엘라스토머와 같은 기계적 진동 차단재로 형성된 본체부(522)를 포함한다. 본체부(522)는 본체부(522)의 제1 단부(525)에 배치된 암나사 체결구(524)와 본체부(522)의 제2 단부(527)에 배치된 수나사 체결구(526) 사이에 개재된다. 도 12에 도시된 바와 같이, 암수형 차단체(520)는 해당 암수형 차단체(520)의 암형 체결구(524)를 자체-클린치 스터드(512)들 중 하나에 나사 체결함으로써 본체 부재(506)에 체결된다.
계속해서 도 12를 참조하면, 장착판 조립체(502)는 또한 한 쌍의 차단체(예컨대 그로밋(530))를 포함한다. 그로밋(530)은 예컨대 약 45 쇼어 A 내지 약 60 쇼어 A 사이의 경도를 갖는 열가소성 비닐과 같은 기계적 진동 차단재로 형성될 수 있다.
이러한 다수의 차단체 배열은 또한 관심 축선 및 특정 주파수를 보다 잘 차단하도록 (예컨대 차단체 선택을 거쳐) 테스트 슬롯(500)을 조율하는 능력을 제공한다. 예컨대, 드라이브가 y축 회전(드라이브의 장축 둘레의 회전)에 민감하다면, 차단체(예컨대 암수형 차단체(520) 및/또는 그로밋(530))는 y축 회전을 제한하기 위해 보다 강성으로 제조(예컨대 보다 경질인 부품으로 대체)될 수 있다. 도 12에 도시된 바와 같이, 플랜지 부재(508)는 각각 하나의 그로밋(530)을 수납 및 지지하도록 구성되는 한 쌍의 U-형 만입부 또는 포크형 개구부(532)를 한정한다. 본체 부재(506)는 또한 후술하는 바와 같이 테스트 받침대 섀시(102)와의 장착 연결부를 형성하도록 구성되는 한 쌍의 장착 플랜지(534)를 한정한다.
도 14a 및 도 14b를 참조하면, 상술한 바와 같이, 각각의 테스트 슬롯(500)은 또한 기부(552), 제1 및 제2 직립 벽부(553a, 553b) 및 제1 및 제2 커버부(554a, 554b)를 구비한 하우징(550)을 포함한다. 도시된 실시예에서, 제1 커버부(554a)는 기부(552) 및 직립 벽부(553a, 553b)와 일체로 성형된다. 하우징(550)은 후방부(557) 및 전방부(558)을 포함하는 내부 공동(556)을 한정한다. 전방부(558)는 디스크 드라이브 이송 장치(400)들 중 하나를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560)을 한정한다. 기부(552), 직립 벽부(553a, 553b) 및 제1 커버부(514a)는 서로 제1 개방 단부(561)와 경사 모서리(562)들을 한정하는데, 제1 개방 단부(561)는 테스트 구역(560)에 대한 (예컨대 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 삽입 및 분리를 위한) 진입부를 제공하고 경사 모서리(562)들을 테스트 슬롯(500)에 삽입된 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 정면판(412)과 접하여 제1 개방 단부(561)을 통해서 테스트 슬롯(500) 안팎으로 흐르는 공기 흐름을 억제하는 밀봉부를 제공한다. 제1 직립 벽부(553a)는 유입구(551) 및 유출구(555)를 한정한다. 유입구(551) 및 유출구(555)는 하우징(550)의 외면(599)(도 14b 및 도 14c)과 내부 공동(556) 사이에서 연장된다.
도 14a에 도시된 바와 같이, 내부 공동(556)의 후방부(557)는 내부에 암수형 차단체(520)의 수나사 체결구(526)(예컨대 도 12 및 도 13 참조)를 수납하도록 구성되는 한 쌍의 관통공(563)을 포함한다. 도 14b에 도시된 바와 같이, 관통공(563)은 내부 공동(556)으로부터 하우징(550)의 기부(552)의 저면(565)을 따라 형성되는 한 쌍의 카운터보어 리세스(564)를 통해 연장된다. 아래에 보다 상세히 설명하는 바와 같이, 카운터보어 리세스(564)들은 각각 내부에 대응하는 암수형 차단체(520)의 본체부(522)를 수납하도록 구성된다. 하우징(550)은 또한 하우징(550)에 제2 커버 부재(554b)와 접속 인터페이스 기판(570)(후술함, 예컨대 도 16 참조)을 장착하기 위해 예컨대 나사와 같은 장착 하드웨어를 수납하기 위해 복수개의 장착공(549)을 포함한다.
도 14c를 참조하면, 하우징(550)은 또한 하우징(550)의 제2 단부(567)를 따라 배치되는 한 쌍의 접촉핀(566)을 포함한다. 접촉핀(566)들은 장착판 조립체(502)의 그로밋(530)과 결합하는 크기로 되어 있다. 하우징(550)은 도 15a에 도시된 바와 같이 우선 접촉핀(566) 둘레에 그로밋(530)을 배치함으로써 장착판 조립체(502)에 장착된다. 그 후, 도 15b에 도시된 바와 같이, 하우징(550)의 제2 단부(567)는 접촉핀(566)과 그로밋(530)이 플랜지 부재(508)의 포크형 개구부(532)와 실질적으로 정렬되도록 장착판(504)과 정렬된다. 적절히 정렬되면, 암수형 차단체(520)는 적어도 부분적으로 카운터보어 리세스(564)(도 14b) 내에 안착될 것이다. 도 15c에 도시된 바와 같이, 정렬한 다음, 하우징(550)은 그로밋(530)과 접촉핀(566)이 포크형 개구부(532)에 안착되고 수나사 체결구(526)가 관통공(563)을 통해 내부 공동(556) 안으로 연장되도록 화살표 (568)에 의해 지시되는 바와 같이 장착판(504)에 대해 변위된다. 도 15d에 도시된 바와 같이, 그로밋(530)과 접촉핀(566)이 포크형 개구부(532) 내부에 배치되고 차단체(520)의 수나사 체결구(526)가 내부 공동(556) 내로 연장된 상태에서, 나사 너트(569)가 수나사 체결구(526)에 체결됨으로써 하우징(550)과 장착판 조립체(502) 간의 확실한 기계적 연결을 제공한다.
도 16에 도시된 바와 같이, 내부 공동(556)의 후방부(557)는 접속 인터페이스 회로(182)(도 9 및 도 10)를 수반하는 접속 인터페이스 기판(570)을 수용한다. 접속 인터페이스 기판(570)은 하우징(550)의 테스트 구역(560)과 제2 단부(567) 사이에서 연장된다. 복수개의 전기 커넥터(572)가 접속 인터페이스 기판(570)의 말단부(573)를 따라 배치된다. 전기 커넥터(572)들은 관계된 테스트 받침대(100) 내에서 접속 인터페이스 회로(182)와 테스트 전자 장치(160)(예컨대 자체 테스트 시스템(180) 및/또는 기능성 테스트 시스템(190)) 간의 전기 통신을 제공한다. 접속 인터페이스 기판(570)은 또한 테스트 슬롯(500)의 디스크 드라이브(600)와 접속 인터페이스 회로(182) 간의 전기 통신을 제공하는 접속 인터페이스 기판(570)의 말단부(575)에 배열된 테스트 슬롯 커넥터(574)를 포함한다. 도 16에 도시된 바와 같이, 테스트 슬롯 하우징(550)은 또한 내부 공동(556)에 배치된 도관(540)을 포함할 수 있다. 도관(540)은 유입구(551), 즉 하우징(550) 외부의 소스로부터 테스트 구역(560)을 향해 공기 흐름을 전달하도록 구성된다. 도관(540)은 테스트 구역(560) 내부에 배치된 디스크 드라이브(600) 하부의 공기 흐름을 진행시키되, 복귀하는 공기 흐름이 디스크 드라이브(600) 위로 유동하여 유출구(555) 쪽으로 복귀하도록 구성된다. 전열 조립체(726)가 도관(540)의 제1 개구부(542) 내부에 배치되며 도관(540)을 통해 전달되는 공기 흐름을 가열하도록 구성된다. 전열 조립체(726)는 히터 히트싱크(728)와 전열 장치(예컨대 저항 히터(729))를 포함한다. 저항 히터(729)는 접속 인터페이스 기판(570)에 전기 연결되며 (예컨대 접속 인터페이스 회로(182)를 통해) 테스트 전자 장치(160)와 전기 통신하도록 구성된다. 저항 히터(729)는 (테스트 전자 장치(160)가 제공하는) 전류를 열 에너지로 전환하도록 작동 가능하며, 열 에너지는 히터 히트싱크(728)을 가열하기 위해 사용되고, 히터 히트싱크(728)는 다시 도관(540)을 통과하는 공기 흐름을 가열하는 데 사용된다. 디스크 드라이브(600)와 디스크 드라이브 이송 장치(400)가 없을 경우, 하우징(500)은 실질적으로 어떠한 이동 부품도 수반하지 않는다. 전열 조립체(726)를 비롯한 본 명세서에 설명된 구성요소들과 조합 가능한 그 밖의 세부 사항들과 특징들에 대한 상세한 설명은 그 전체 내용이 참조로서 원용된 것으로 일련번호가 18523-063001인 본 출원과 함께 출원되고 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 온도 제어(Temperature Control within Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 브라이언 메로우(Brian Merrow)인 양도된 미국 특허 출원 제12/105,103호에서 확인할 수 있다.
도 17에 도시된 바와 같이, 접속 인터페이스 기판(570)은 하우징(500)의 제2 단부(567)를 따라 그로밋(530)과 중첩됨으로써 그로밋(530) 또는 적어도 그 일부를 플랜지 부재(508)와 접속 인터페이스 기판(570) 사이에 개재시킨다. 접속 인터페이스 기판(570)은 그로밋(530)을 사전 설치하는 방식으로 예컨대 체결구(576)를 이용하여 하우징(500)에 체결된다. 그로밋(530)은 진동 및 충격에 대한 최적의 저항 성능을 달성하기 위해 기계적으로 사전 설치된다. 진동 및 충격에 대한 최적의 성능은 일반적으로 그로밋(530)을 최고 5%까지 사전 설치함으로써 달성된다.
도 18을 참조하면, 일단 조립되면, 암수형 차단체(520)(도 12)는 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 이동을 모두 6의 자유도(즉, X, Y, Z, 롤(roll), 피치(pitch), 요(yaw))로 허용한다. 그로밋(530)은 포크형 개구부(532) 내부에서 음의 Y 방향을 제외한 모든 방향으로 실질적으로 억제된다. 도 20a에 도시된 바와 같이, 그로밋(530)과 포크형 개구부(532)는 한 쌍의 부유 접촉부(도 20a에는 하나가 도시됨), 즉 제1 및 제2 부유 접촉부(580a, 580b)(도 19 참조)를 효과적으로 형성하며, 하우징은 이들 부유 접촉부를 중심으로 장착판(504)에 대해 이동(즉 요동 운동)할 수 있다.
도 19를 참조하면, 화살표 (581)에 의해 지시된 바와 같이 진동이 디스크 드라이브(600) 내에서 디스크(620)(예컨대 자성 디스크)의 회전에 의한 결과로서 발생하는 경우가 있다. 그 결과, 테스트 동안에, 테스트 대상인 디스크 드라이브(600)에서 디스크(620)의 회전과 헤드 이동은 하우징(550)의 이동을 야기한다. 도 20a 내지 도20c에 도시된 바와 같이, 이러한 배열은 그로밋(530)과 접촉핀(566)이 대응하는 포크형 개구부(532)(도 12 참조) 내에서 이동할 수 있도록 함으로써, 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 위치 변위를 허용한다. 특히, 그로밋(530)은 포크형 개구부(532) 내에서 선형 운동을 하는데, 예컨대 X축을 따라 (도 20a의 화살표 (535)에 의해 지시된 바와 같이) 좌우로 그리고/또는 Y축을 따라 (도 20b의 화살표 (536)에 의해 지시된 바와 같이) 전후로 이동할 수 있다. 그로밋(530)은 도 20c의 화살표 (537)에 의해 지시된 바와 같이 대응하는 포크형 개구부(532)의 모서리(533)를 따라 이동할 수도 있다. 이는 그로밋(530)과 차단체(520)의 유연한 특성과 더불어 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 회전뿐만 아니라 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 위치 변위도 허용한다. 예컨대, 각각 도 20d 내지 도 20f에 도시된 바와 같이, 이러한 구성은 하우징(550)이 (도 20d의 화살표 (538)에 의해 지시된 바와 같이) X축, (도 20e의 화살표 (539)에 의해 지시된 바와 같이) Y축 및/또는 (도 20f의 화살표 (541)에 의해 지시된 바와 같이) Z축을 따라서 또는 이들 축을 중심으로 장착판(504)에 대해 회전할 수 있도록 한다. 그 결과, 하우징(550)은 장착판(504)에 대해 복잡한 이동을 하게 되는데, 이러한 이동은 도 20a 내지 도 20f와 관련하여 도시되고 설명된 모든 이동을 포괄한다. 이러한 탄력성(compliance)는 하나의 테스트 슬롯(500)에서 해당 테스트 슬롯(500)에 인접한 다른 테스트 슬롯으로의 진동 전달을 억제하는 작용을 한다. 그러나, 도시된 구성에는 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 임의의 가능한 운동을 임의의 특정 축을 중심으로 하거나 임의의 고정점을 중심으로 한 하나의 회전으로 제한하게 될 어떠한 제약도 없다.
예컨대, 도 21a 내지 도 21c는, 부분적으로 X축 및 Y축을 따라 또는 이들 축을 중심으로 한 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 병진 운동으로 인해 하우징(550)은 Z축을 따라 또는 이를 중심으로 회전식으로 진동하기 때문에, 회전 중심을 부유 위치로 가정할 때 어떻게 단일 또는 고정된 회전 중심이 X-Y 평면에 존재하지 않는지를 도시한다. 도 21a 내지 도 21c에 도시된 바와 같이, 하우징(550)이 제1 및 제2 부유 접촉부(580a, 580b) 사이에서 화살표 (582)(도 21a), 584(도 21b) 및 586(도 21c)에 의해 지시되는 바와 같이 전후로 요동함에 따라, 하우징(550)의 회전 중심은 제1 지점(P1)(도 21a 참조)에서 제2 지점(P2)(도 21b 참조)으로 그리고 다시 제3 지점(P3)(도 21c 참조) 등으로 변위된다. 장착판(504)에 대한 하우징(550)의 이동은 (각각 도 20d 및 도 20e에 나타낸 바와 같이) X축 및/또는 Y축을 따라 또는 이들 축을 중심으로 한 하우징(550)의 회전에 의해 보다 구현될 수 있으며, 그 결과 회전 운동은 입체적으로 부유한다.
또한, 그로밋(530)과 접촉핀(566)을 양의 Y 방향으로 억제함으로써, 플랜지 부재(508)는 또한 테스트 하우징 내에서 회전할 기회 없이 하우징(550)의 테스트 구역(560) 내로 (내부에 디스크 드라이브(600)를 구비하거나 구비하지 않은) 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 삽입하는 동안 하우징이 접할 수 있는 한 세트의 고정면을 제공한다. 도 22a 내지 도 22c에 도시된 바와 같이, 각각의 슬롯열(110)은 복수개의 테스트 슬롯 저장소(122)를 포함하되, 각각의 테스트 슬롯 저장소는 하나의 테스트 슬롯(500)을 수납 및 지지하도록 구성된다. 각각의 테스트 슬롯 저장소(122)는 한 쌍의 카드 가이드 조립체(124)를 포함한다. 카드 가이드 조립체(124)는 내부에 장착판(504)의 장착 플랜지(534)(예컨대 도 18 참조)를 수납하는 크기로 되어 있다. 카드 가이드 조립체(124)는 카드 가이드 조립체(124)와 장착판 조립체(502) 사이에 기계적 연결을 제공함으로써 장착판 조립체(502)들을 지면에 구속하기 위해 예컨대 캠 로크(cam lock) 또는 나비형 수나사(thumbscrew)를 포함할 수 있다. 카드 가이드 조립체(124)는 단지 장착판 조립체(502)와만 결합하고 테스트 슬롯 하우징(550)과 결합하지 않기 때문에, 하우징(550)은 각각의 장착판(504)에 대해서 뿐만 아니라 테스트 받침대 섀시(102)에 대해서도 이동할 수 있다. 이러한 방식으로, 장착판 조립체(502)는 차단체(예컨대 암수형 차단체(520) 및 그로밋(530))을 거쳐 테스트 받침대 섀시(102)와 각각의 테스트 슬롯(500) 간의 차단 상태를 지지하도록 작용하며, 이들 간에는 강성 연결부가 없다. 그 결과, 공통의 테스트 받침대(100) 내에서 하나의 테스트 슬롯(500)에서 다른 테스트 슬롯(500)으로의 진동 전달이 저감된다. 이러한 진동은 예컨대 어느 하나의 테스트 슬롯(500) 내의 디스크 드라이브(600)의 회전 또는 어느 하나의 테스트 슬롯(500)에 대한 (내부에 디스크 드라이브(600)를 구비하거나 구비하지 않은) 디스크 드라이브 이송 장치(400)의 삽입 및/또는 분리에 기인할 수 있다. 테스트 받침대(100) 자체 내에서 발생하는 예컨대 테스트 받침대(100) 내에서 냉각팬의 회전으로 인한 진동도 테스트 슬롯(500) 내부의 개별 테스트 구역(560)에 도달하기 전에 차단되거나 감쇄된다. 이러한 구성은 또한 도 22d에 도시된 바와 같이 테스트 받침대(100)에 대한 개별 테스트 슬롯(500)의 삽입 및 분리를 허용한다.
본 명세서에 설명된 구성요소들과 조합 가능한 그 밖의 세부 사항들과 특징들은, 일련번호가 18523-064001인 2007년 12월 18일 출원되고 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트(Disk Drive Testing)"이고 발명자가 에드워드 가르시아(Edward Garcia) 등인 양도된 미국 특허 출원 제11/958,817호와, 함께 출원된 것으로 일련번호 18523-062001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트"이고 발명자가 에드워드 가르시아 등인 양도된 미국 특허 출원 제11/958,788호에서 확인할 수 있다. 본 명세서에 설명된 구성과 조합된 그 밖의 세부 사항들과 특징들은 또한, 일련번호 18523-065001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 에뮬레이터 및 그 사용 방법(Disk Drive Emulator and Method of Use Thereof)"이고 발명자가 에드워드 가르시아(Edward Garcia) 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/104,594호와, 일련번호 18523-073001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 디스크 드라이브 이송(Transferring Disk Drives Within Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 에브가니 폴리야코프(Evgeny Polyakov) 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/104,536호와, 일련번호 18523-076001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 온도 제어(Temperature Control within Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 브라이언 메로우(Brian Merrow) 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/105,061호와, 일련번호 18523-077001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템으로의 디스크 드라이브 벌크 공급(Bulk Feeding Disk Drives To Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 스코트 노블(Scotte Noble) 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/104,869호와, 일련번호 18523-078001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 온도 의존성 제어(Dependent Temperature Control within Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 브라이언 메로우 등인 양도된 미국 특허 출원 제12/105,069호와, 일련번호 18523-079001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템을 위한 폐쇄 동작 영역(Enclosed Operating Area for Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 브라이언 메로우인 양도된 미국 특허 출원 제12/105,041호와, 일련번호 18523-081001인 발명의 명칭이 "디스크 드라이브 테스트 시스템 내에서의 온도 제어(Temperature Control within Disk Drive Testing Systems)"이고 발명자가 브라이언 메로우인 양도된 미국 특허 출원 제12/105,107호에서 확인할 수 있다. 상술한 특허 출원의 모든 내용은 본 명세서에서 참조 원용된다.
이상 다수의 실시형태가 기재되어 있지만, 본 발명의 정신과 범위로부터 벗어나는 일없이 각종 변형이 행해질 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 기타 구현예도 이하의 특허청구범위의 범주 내이다.

Claims (28)

  1. 디스크 드라이브 테스트 슬롯(500)으로서,
    테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560) 및 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 상기 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부(561)를 한정하는 하우징(550);
    상기 하우징에 연결된 장착판(504); 및
    상기 하우징과 상기 장착판 사이에 배치되는 하나 이상의 차단체(520, 530)를 포함하되,
    상기 하나 이상의 차단체는 상기 하우징과 상기 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  2. 제1항에 있어서, 상기 장착판은 상기 하나 이상의 차단체 중 적어도 하나에 상기 장착판을 연결하는 하나 이상의 자체-클린치 스터드(self-clinching stud)(512)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 하나 이상의 차단체는 하나 이상의 그로밋(grommet)(530)을 포함하며, 상기 하나 이상의 그로밋은 상기 장착판에 대해 변위 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  4. 제3항에 있어서, 상기 하우징은 각각 대응하는 하나의 그로밋과 결합하는 복수개의 접촉핀(566)을 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  5. 제4항에 있어서, 상기 접촉핀은 상기 개방 단부에 대향하는 상기 하우징의 제1 단부(567)에 배치되는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  6. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장착판은 본체 부재(506); 및 상기 본체 부재에 연결되어 상기 그로밋을 수납 및 지지하도록 구성되는 플랜지 부재(508)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  7. 제6항에 있어서, 상기 플랜지 부재는 상기 본체 부재에서 이격된 위치에서 상기 그로밋을 지지하도록 구성되는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 플랜지 부재는 각각 하나의 그로밋을 수납 및 지지하도록 구성되는 복수개의 포크형 개구부(532)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  9. 제3항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하우징은 상기 그로밋을 사전 설치하는 방식으로 상기 그로밋에 연결되는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  10. 제3항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 그로밋은 열가소성 비닐로 형성되는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  11. 제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하나 이상의 차단체는 상기 하우징과 상기 장착판 사이에 배치되는 하나 이상의 암수형 차단체(520)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 하나 이상의 차단체는 각각 상기 하우징과 상기 장착판 사이에 배치되는 상기 차단체를 복수개 포함하며, 상기 복수개의 차단체는 각각 상기 하우징과 상기 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 디스크 드라이브와 디스크 드라이브 이송 장치가 없을 경우, 상기 테스트 슬롯 하우징은 어떠한 이동 부품도 실질적으로 수반하지 않는 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
  14. 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)으로서,
    복수개의 테스트 슬롯(500); 및
    각각 하나의 테스트 슬롯을 수납 및 지지하도록 구성된 복수개의 테스트 슬롯 저장소(test slot receptacle)(122)를 한정하는 섀시(102)를 포함하되,
    각각의 테스트 슬롯은,
    테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560) 및 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 상기 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부(561)를 한정하는 하우징(550); 및
    상기 하우징에 연결된 장착판 조립체(502)를 포함하며,
    각각의 상기 테스트 슬롯 저장소(122)는 하나의 장착판 조립체와 착탈식으로 결합하도록 구성되는 대응하는 카드 가이드 조립체(124)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  15. 제14항에 있어서, 상기 장착판 조립체는 상기 테스트 슬롯 하우징과 상기 섀시 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  16. 제14항 또는 제15항에 있어서, 상기 장착판 조립체 중 적어도 하나는 장착판(504)과, 상기 장착판 및 관계된 하나의 테스트 슬롯 하우징 사이에 배치되는 하나 이상의 차단체(520, 530)를 포함하되, 상기 하나 이상의 차단체는 상기 관계된 하나의 테스트 슬롯 하우징과 상기 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  17. 제16항에 있어서, 상기 장착판은 상기 카드 가이드 조립체 중 하나에 끼워짐으로써 상기 관계된 테스트 슬롯과 상기 섀시 사이에 기계적 연결을 제공하는 크기로 된 장착 플랜지(534)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  18. 제16항 또는 제17항에 있어서, 상기 하나 이상의 차단체는 하나 이상의 그로밋(530)을 포함하며, 상기 그로밋은 상기 장착판에 대해 변위 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  19. 제18항에 있어서, 상기 하우징은 각각 대응하는 하나의 그로밋과 결합하는 복수개의 접촉핀(566)을 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  20. 제14항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스트 슬롯은 각각 상기 섀시로부터 독립적으로 분리 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  21. 디스크 드라이브 테스트 시스템(10)으로서,
    복수개의 테스트 슬롯(500); 및
    각각 하나의 테스트 슬롯을 수납 및 지지하도록 구성된 복수개의 테스트 슬롯 저장소(122)를 한정하는 섀시(102)를 포함하되,
    각각의 테스트 슬롯은,
    테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560) 및 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 상기 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부(561)를 한정하는 하우징(550);
    장착판(504); 및
    상기 하우징과 상기 장착판 사이에 배치되어 상기 하우징과 상기 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 하나 이상의 차단체(520, 530)를 포함하며,
    상기 테스트 슬롯은 각각 상기 섀시로부터 독립적으로 분리 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  22. 제21항에 있어서, 상기 테스트 슬롯 저장소는 각각 하나의 테스트 슬롯 장착판과 착탈식으로 결합함으로써 상기 관계된 테스트 슬롯을 상기 섀시에 기계적으로 연결하도록 구성되는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  23. 제21항 또는 제22항에 있어서, 상기 차단체들은 상기 테스트 슬롯 하우징과 상기 섀시 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  24. 제14항 내지 제17항 또는 제20항 내지 제23항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 차단체는 그로밋(530)을 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  25. 제14항 내지 제24항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 차단체는 암수형 차단체(520)를 포함하는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  26. 제14항 내지 제25항 중 어느 한 항에 있어서, 디스크 드라이브와 디스크 드라이브 이송 장치가 없을 경우, 상기 테스트 슬롯 하우징은 어떠한 이동 부품도 실질적으로 수반하지 않는 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  27. 제14항 내지 제26항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 테스트 슬롯들은 상기 테스트 슬롯 저장소 내에서 서로 교체 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 시스템.
  28. 디스크 드라이브 테스트 슬롯(500)으로서,
    테스트 대상인 디스크 드라이브(600)를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치(400)를 수납 및 지지하기 위한 테스트 구역(560); 및 테스트 대상인 디스크 드라이브를 수반하는 디스크 드라이브 이송 장치의 삽입 및 분리를 위해 상기 테스트 구역에 대한 진입부를 제공하는 개방 단부(561)를 한정하는 하우징(550);
    상기 하우징에 연결된 장착판(504); 및
    상기 하우징과 상기 장착판 사이에 배치되어 상기 하우징과 상기 장착판 간의 진동 에너지 전달을 억제하도록 작동 가능한 복수개의 부유 접촉부(530, 532)를 포함하되,
    상기 부유 접촉부들은 상기 장착판에 대해 변위 가능한 것인 디스크 드라이브 테스트 슬롯.
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