JP3420076B2 - フリップチップ実装基板の製造方法及びフリップチップ実装基板及びフリップチップ実装構造 - Google Patents
フリップチップ実装基板の製造方法及びフリップチップ実装基板及びフリップチップ実装構造Info
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Description
基板の製造方法及びフリップチップ実装基板及びフリッ
プチップ実装構造に係り、特に接続媒体を介して電子部
品に設けられたバンプがフリップチップ実装されるフリ
ップチップ実装基板に関する。近年、例えば半導体装置
等の電子部品の高密度は急速に進められており、これに
伴い電子部品に配設された外部接続端子となるバンプの
バンプ間ピッチも狭ピッチ化してきている。
装されるフリップチップ実装基板においても、バンプが
接合される接続パッドを高密度に形成する必要があり、
かつ高い信頼性を持ってフリップチップ実装する必要が
ある。
リップチップ実装基板にフリップチップ実装する場合、
予めフリップチップ実装基板に形成されている接続部導
体パターン(以下、単に導体パターンという)に接続媒
体として半田を配設しておく。そして、この導体パター
ンに半導体チップに設けられているバンプ(例えば、金
バンプ)を接合することにより、半導体チップをフリッ
プチップ実装基板にフリップチップ実装することが行な
われている。
基板1の構成を説明するための図であり、また図3及び
図4は従来のフリップチップ実装基板1への半導体チッ
プ7(電子部品)の実装構造を説明するための図であ
る。図1及び図2は、フリップチップ実装基板1の一部
を拡大して示す図である。各図に示すように、フリップ
チップ実装基板1は、大略すると回路基板2、導体パタ
ーン3A,3B、ソルダーレジスト4、及び半田瘤5等
を有した構成とされている。
上面に所定のパターンで形成されている。この導体パタ
ーン3A,3Bの一部には、半導体チップ7に形成され
たバンプ8(例えば、金バンプ)が接合される構成とな
っている。尚、以下の説明において、導体パターン3
A,3Bで、金バンプ8が接合される部位を特に接続パ
ッド9というものとする。
と、従来では図2に示されるように、接続パッド9を含
めて導体パターン3A,3Bの幅寸法は、その全体にわ
たり均一の幅寸法W3(具体的には、30〜60μm程
度)となるよう構成されていた。また、回路基板2の上
部には、絶縁材としてソルダーレジスト4が形成されて
いる。このソルダーレジスト4は、導体パターン3A,
3Bの半導体チップ7が接合される位置を除き形成され
ている。
プ7と導体パターン3A,3Bとの接合する位置に開口
部4aを形成しており、この開口部4aから露出した導
体パターン3A,3Bに金バンプ8が接合される構成と
なっている。よって、導体パターン3A,3Bの半導体
チップ7が接合されない部位は、ソルダーレジスト4に
より覆われ、これにより導体パターン3A,3Bはソル
ダーレジスト4により保護される。
はその両端部がソルダーレジスト4により覆われた構成
とされており、また導体パターン3Bは一端部がソルダ
ーレジスト4により覆われ、他端部はソルダーレジスト
4の手前位置まで形成された構成とされている。半田瘤
5は、金バンプ8と導体パターン3A,3Bとを電気的
及び機械的に接合する機能を奏するものである。この半
田瘤5は、半田粉を導体パターン3A,3Bの表面にフ
ラックスと共にコーティングし半田粉を加熱溶融するこ
とにより形成する。溶融し液状となった半田には表面張
力が発生する。よって、この表面張力により半田は瘤状
となり、導体パターン3A,3B上に半田瘤5が形成さ
れる。尚、この半田瘤の高さ(H)は、20〜40μm
程度である。
プ7をフリップチップ実装基板1に確実に実装するため
には、導体パターン3A,3Bの接続パッド9に均一な
半田瘤5を形成する必要がある。このように、接続パッ
ド9に均一な半田瘤5を形成するには、半田が形成され
るエリアである接続パッド9の面積を広くすると良い。
これは、接続パッド9の面積が広くなるほど付着する半
田粉の総数が多くなり、半田粉数のバラツキの影響を受
け難くなるためである。
伴い金バンプ8のバンプ間ピッチは狭ピッチ化し、この
狭ピッチ化に伴い接続パッド9(導体パターン3A,3
B)の幅寸法W3も小さくなる傾向にある。従って、接
続パッド9の幅寸法W3を小さくしつつ、かつ接続パッ
ド9の面積を広くするには、接続パッド9の長さを長く
する必要がある。これは、従来では接続パッド9の幅寸
法W3は導体パターン3A,3Bの幅寸法と等しいた
め、導体パターン3A,3Bの長さを長くすることと等
価である。
A,3B)の幅寸法W3を小さくしつつ、かつその長さ
を長くすると、半田粉が溶融した際に形成される半田瘤
5が不規則に発生する現象が生じる。例えば、接続パッ
ド9(導体パターン3A,3B)の幅寸法W3が60μ
m 以下で、その長さが300μm 以上の形状になると、
半田粉を10〜20μm 程度の厚さで均一に形成しよう
としても、図1に示すように、導体パターン3A,3B
上の不特定位置に半田瘤5が偏在してしまい、均一な半
田瘤5が得られない。
不特定位置に半田瘤5が偏在すると、所定の接続パッド
9の位置に対し、半田瘤5の形成位置がずれてしまう。
よって、図3に示すように半導体チップ7をフリップチ
ップ実装基板1に位置決めして対向させた際、金バンプ
8と半田瘤5の位置もずれてしまう。そして、金バンプ
8と対向する位置には、薄い膜厚の半田薄膜6のみが形
成された状態であるため、図4に示すように半導体チッ
プ7をフリップチップ実装基板1に実装しても、金バン
プ8と接続パッド9との間に十分な接合力を得ることが
できず、実装信頼性が低下してしまうという問題点があ
った。
あり、接続媒体の瘤を接続パッド上に安定して形成する
ことにより実装信頼性の向上を図ったフリップチップ実
装基板の製造方法及びフリップチップ実装基板及びフリ
ップチップ実装構造を提供することを目的とする。
めに本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴
とするものである。請求項1記載の発明に係るフリップ
チップ実装基板の製造方法は、配線となる配線パターン
と、該配線パターンと連続的に形成されると共にバンプ
が接合される接続パッドとを有する接続部導体パターン
を、前記配線パターンの幅寸法(W2)に対し、前記接
続パッドの幅寸法(W1)が大きく(W1>W2)なる
よう回路基板上に形成し、前記配線パターンと前記接続
パッドとの表面に接続媒体を設け、該接続媒体を溶融さ
せ、前記配線パターン表面上の前記接続媒体を前記接続
パッド表面に集めることにより、前記接続パッド上に接
続媒体瘤を設けることを特徴とするものである。
に、接続媒体を介して電子部品に設けられたバンプがフ
リップチップ実装される接続部導体パターンを形成して
なるフリップチップ実装基板において、前記接続部導体
パターンを、配線となる配線パターンと、前記バンプが
接合される位置に前記配線パターンと連続的に形成され
た接続パッドとにより構成し、かつ、前記配線パターン
の幅寸法(W2)に対し、前記接続パッドの幅寸法(W
1)を大きく(W1>W2)なるよう構成し、前記接続
パッドの形状を長方形状とすると共に、前記配線パター
ンの形状を単数或いは複数の矩形からなる形状とし、前
記接続パッドの幅寸法をW1とすると共に長さ寸法をL
1とした場合、前記接続パッドの幅寸法W1と長さ寸法
L1の比(W1/L1)が、0.2 ≦(W1/L1)≦0.
5 となるよう構成し、かつ、前記配線パターンの幅寸法
をW2とすると共に長さ寸法をL2とした場合、前記配
線パターンの幅寸法W2と長さ寸法L2の比(W2/L
2)が、0.1≦(W2/L2)≦2.0 となるよう構成し
たことを特徴とするものである。また、請求項3記載の
発明は、前記請求項1又は2記載のフリップチップ実装
用基板において、前記接続パッドの幅寸法(W1)と前
記配線パターンの幅寸法(W2)との差(W1−W2)
を10μm 〜30μm としたことを特徴とするものであ
る。
2乃至3のいずれか1項に記載のフリップチップ実装用
基板において、前記接続パッドのエッジに面取り部を形
成したことを特徴とするものである。また、請求項5記
載の発明は、前記請求項2乃至4のいずれか1項に記載
のフリップチップ実装用基板において、前記接続パッド
上に形成する接続媒体として半田を用いたことを特徴と
するものである。
2乃至5のいずれか1項に記載のフリップチップ実装用
基板において、前記回路基板材料としてプリント基板を
用いたことを特徴とするものである。また、請求項7記
載の発明は、前記請求項2乃至5のいずれか1項に記載
のフリップチップ実装用基板において、前記電子部品の
実装に寄与する部位を除き、前記回路基板上に絶縁膜を
形成したことを特徴とするものである。
7記載のフリップチップ実装用基板において、前記絶縁
膜をソルダーレジストとしたことを特徴とするものであ
る。また、請求項9記載の発明は、前記請求項2乃至8
のいずれか1項に記載のフリップチップ実装用基板にお
いて、前記接続パッドをペリフェラル形状に形成すると
共に、前記接続パッドのピッチを70μm以上で、かつ
120μm 以下としたことを特徴とするものである。
項2乃至9のいずれか1項に記載のフリップチップ実装
用基板において、前記電子部品が半導体チップであるこ
とを特徴とするものである。また、請求項11記載の発
明は、前記請求項2乃至10のいずれか1項に記載のフ
リップチップ実装用基板において、前記接続パッドに実
装される前記バンプは、金(Au)を主成分とする材料
で形成されていること特徴とするものである。
項2乃至10のいずれか1項に記載のフリップチップ実
装用基板において、前記接続パッドに実装される前記バ
ンプは、レベリング処理を行なうことにより均一高さと
されたスタッドバンプであることを特徴とするものであ
る。
項2乃至12のいずれか1項に記載のフリップチップ実
装用基板に前記バンプを有した前記電子部品をリップチ
ップ実装するフリップチップ実装構造において、フリッ
プチップ実装された前記フリップチップ実装用基板と前
記電子部品との間に、アンダーフィルレジンを配設した
ことを特徴とするものである。
請求項1及び請求項2記載の発明によれば、接続部導体
パターンを配線パターンとバンプが接合される接続パッ
ドとにより構成すると共に、接続パッドの幅寸法W1が
配線パターンの幅寸法W1より大きく(W1>W2)な
るよう構成したことにより、接続部導体パターンに配設
された接続媒体が溶融した際、この接続媒体は接続パッ
ド上に集まり瘤状に形成され(以下、接続パッド上形成
された瘤状の接続媒体を接続媒体瘤という)、配線パタ
ーンには接続媒体の薄膜が形成された構成となる。
ーンの幅寸法W2より大きくすることにより、接続媒体
瘤は必ず接続パッド上に形成されることとなる。よっ
て、電子部品をフリップチップ実装基板に実装する際、
バンプの接続位置(即ち、接続パッド)には接続媒体瘤
が必ず存在するため、接続媒体を介したバンプと接続パ
ッドとの接合を確実に高い信頼性を持って行なうことが
できる。
法をW1,長さ寸法をL1とした場合、幅寸法W1と長
さ寸法L1の比(W1/L1)が、0.2 ≦(W1/L
1)≦0.5 となるよう構成すると共に、矩形状とされた
配線パターンの幅寸法をW2,長さ寸法をL2とした場
合、幅寸法W2と長さ寸法L2の比(W2/L2)が、
0.1 ≦(W2/L2)≦2.0 となるよう構成したことに
より、接続媒体瘤をより確実に接続パッド上に形成する
ことが可能となる。
パッドの幅寸法W1と配線パターンの幅寸法W2との差
(W1−W2)を10μm 〜30μm としたことによ
り、接続媒体瘤をより確実に接続パッド上に形成するこ
とが可能となる。請求項5記載の発明のように、接続パ
ッド上に形成する接続媒体としては、半田を用いること
が可能である。
基板材料としては、プリント基板を用いることが可能で
ある。また、請求項7記載の発明によれば、電子部品の
実装に寄与する部位を除き、回路基板上に絶縁膜を形成
したことにより、接続部導体パターンの電子部品が実装
されない部位を絶縁膜で保護することができる。
膜としては、ソルダーレジストを用いることができる。
また、請求項9記載の発明によれば、接続パッドをペリ
フェラル形状に形成すると共に、接続パッドのピッチを
70μm〜120μm としたことにより、高密度化され
た電子部品に対しても十分対応することができる。
子部品としては、半導体チップを用いることが可能であ
る。また、請求項11記載の発明のように、接続パッド
に実装されるバンプの材料としては、金(Au)を主成
分とする材料を用いることが可能である。
続パッドに実装されるバンプをスタッドバンプとすると
共に、レベリング処理を行なうことにより均一高さとし
たことにより、フリップチップ実装基板に実装する際、
バンプ高さに起因して接合不良が発生することを抑制で
き、信頼性の高い実装を行なうことができる。
リップチップ実装されたフリップチップ実装用基板と電
子部品との間に、アンダーフィルレジンを配設したこと
により、フリップチップ実装用基板と電子部品との熱膨
張差が存在しても、アンダーフィルレジンにより熱膨張
差に起因した接合位置の破損を防止でき、実装信頼性を
向上させることができる。
て図面と共に説明する。図5及び図6は本発明の一実施
例であるフリップチップ実装基板10の構成を説明する
ための図であり、また図7及び図8は本発明の一実施例
であるフリップチップ実装構造を説明するための図であ
る。
プ実装基板10の構成について説明する。図5はフリッ
プチップ実装基板10の一部を拡大して示す斜視図であ
り、図6はフリップチップ実装基板10の一部を拡大し
て示す平面図である。各図に示すように、フリップチッ
プ実装基板10は、大略すると回路基板12、接続部導
体パターン13A,13B(以下、導体パターン13
A,13Bという)、ソルダーレジスト14、及び半田
瘤15等を有した構成とされている。
あり、その上面には導体パターン13A,13Bが形成
されている。この導体パターン13A,13Bは例えば
銅により形成されており、エッチング法等により所定の
パターンにパターニングされている。また、導体パター
ン13A,13Bは、配線となる配線パターン19,1
9A,19Bと、半導体チップ17に設けられたバンプ
18が接合される位置に形成された接続パッド20とに
より構成されている。この配線パターン19,19A,
19Bと接続パッド20は、連続的に形成された構成と
されている。
接続パッド20の具体的な寸法については、説明の便宜
上後述するものとする。また、回路基板12の上部に
は、絶縁材としてソルダーレジスト14が形成されてい
る。このソルダーレジスト14は、導体パターン13
A,13Bの半導体チップ17が接合される位置を除き
形成されている。
ップ17と導体パターン13A,13Bとの接合する位
置に開口部21を形成しており、この開口部21から露
出した導体パターン13A,13Bにバンプ18が接合
される構成となっている。また、この開口部21内に前
記した配線パターン19,19A,19B及び接続パッ
ド20は形成された構成となっている。
導体チップ17が接合されない部位はソルダーレジスト
14により覆われ、これにより導体パターン13A,1
3Bはソルダーレジスト14により保護された構成とな
る。尚、図6に示すように、導体パターン13Aはその
両端部がソルダーレジスト14により覆われた構成とさ
れている。従って、接続パッド20を挟んで、図中右側
に配線パターン19Aが形成され、図中左側に配線パタ
ーン19Bが形成された構成となっている。また、導体
パターン13Bは一端部がソルダーレジスト14により
覆われ、他端部はソルダーレジスト14の手前位置まで
形成された構成とされている。
13A,13Bとを電気的及び機械的に接合する接続媒
体として機能を奏する。この半田瘤15の高さHは、半
田層形成条件にもよるが20〜40μm 程度が適切であ
る。ここで、図6を用いて導体パターン13A,13B
を構成する配線パターン19,19A,19B及び接続
パッド20の寸法について詳述する。
〜60μm 程度に設定されており、またその長さ寸法L
1は200〜300μm 程度に設定されている。また、
配線パターン2の幅寸法W2,W3は、20〜50μm
程度に設定されている。この際、接続パッド20の幅寸
法W1と配線パターン19,19A,19Bの幅寸法W
2,W3との差(W1−W2,またはW1−W3)は、
10μm 〜30μm 程度となるよう設定されている。
基板10では、接続パッド20の幅寸法W1が、配線パ
ターン19,19A,19Bの幅寸法W2,W3に対し
て大きく(W1>W2,W1>W3)なるよう構成され
ている。更に、導体パターン13A,13Bを構成する
配線パターン19,19A,19Bの形状、及び接続パ
ッド20の形状に注目する。
個)の配線パターン19A,19Bを有しており、各配
線パターン19A,19Bの形状は夫々矩形(図6に示
す例では長方形状)とされている。また、導体パターン
13Bは単数(1個)の配線パターン19を有してお
り、この形状の形状も矩形(図6に示す例では長方形)
とされている。更に、各導体パターン13A,13Bを
構成する接続パッド20の形状は、長方形状とされてい
る。
幅寸法W1と、その長さ寸法L1との関係に注目する
と、本実施例ではこの接続パッド20の幅寸法W1と長
さ寸法L1の比(W1/L1)が、0.2 ≦(W1/L
1)≦0.5 となるよう構成されている。更に、矩形状と
された各配線パターン19,19A,19Bの幅寸法W
2,W3と、その長さ寸法L2,L3との関係に注目す
ると、本実施例ではこの配線パターン19,19A,1
9Bの幅寸法W2,W3と長さ寸法L2の比(W2/L
2),(W3/L3)が、0.1 ≦(W2/L2)≦2.0
,0.1 ≦(W3/L3)≦2.0 となるよう構成されて
いる。
形状を長方形状に限定しているのに対し、各配線パター
ン19,19A,19Bの形状を矩形状と述べているの
は、配線パターン19,19A,19Bでは(W2/L
2)=1,(W3/L3)=1である形状、即ち正方形
状が含まれるためである。上記のように、接続パッド2
0の幅寸法W0が配線パターン19,19A,19Bの
幅寸法W2より大きく(W1>W2)なるよう構成した
ことにより、前記のように導体パターン13A,13B
に配設された半田粉が溶融した際、この半田は接続パッ
ド20上に集まり半田瘤15を形成し、配線パターン1
9,19A,19Bには半田の薄膜(半田薄膜16)の
みが形成される現象が発生する。
W1と長さ寸法L1との比(W1/L1)が、0.2 ≦
(W1/L1)≦0.5 となるよう構成し、かつ、配線パ
ターン19,19A,19B幅寸法W2,W3と長さ寸
法L2,L3との比(W2/L2),(W3/L3)
が、0.1 ≦(W2/L2)≦2.0 ,0.1 ≦(W3/L
3)≦2.0 となるよう構成した場合に顕著に現れる。
19,19A,19Bを形成する際、上記した条件を満
たすよう形成することにより、必ず半田瘤15を接続パ
ッド20上に形成することが可能となる。図7及び図8
は、上記構成とされたフリップチップ実装基板10に半
導体チップ17を実装する様子を示している。
形成されている。このバンプ18は例えば金(Au)を
主成分とする材料で形成されており、ワイヤボンディン
グ技術を用いて形成されている。具体的には、バンプ1
8は金(Au)を主成分とする材料よりなるワイヤをワ
イヤボンディング装置により半導体チップ17の電極部
(図示せず)にボンディングし、その後にワイヤを切断
することにより形成されるスタッドバンプである。ま
た、スタッドバンプ形成後、レベリング処理を行なうこ
とにより、各バンプ18の高さは均一の高さとされてい
る。
としても、レベリング処理を行なうことによりその高さ
は均一化され、よってフリップチップ実装基板10に実
装する際、バンプ高さに起因して接合不良が発生するこ
とを防止でき、信頼性の高い実装を行なうことができ
る。また、バンプ18は半導体チップ17にペリフェラ
ル状に形成されている。また、半導体チップ17は高密
度化が図られており、各バンプ18のバンプ間ピッチは
70μm以上で、かつ120μm 以下とされている。よ
って、前記した接続パッド20も、回路基板12上にペ
リフェラル形状に形成されており、そのパッド間ピッチ
も70μm以上で、かつ120μm 以下となるよう形成
されており、高密度化された半導体チップ17に対応す
るよう構成されている。
実施例に係るフリップチップ実装基板10では半田瘤1
5が必ず接続パッド20上に存在した構成であるため、
半導体チップ17をフリップチップ実装基板10に位置
決めして対向させた際、バンプ18と半田瘤15は必ず
対向した状態となる。よって、半導体チップ17をフリ
ップチップ実装基板10にフェイスダウンしフリップチ
ップ実装すると、バンプ18は必ず半田瘤15と接合す
る。よって、図8に示すように、半田(半田瘤15)を
介して全てのバンプ18と接続パッド20を確実に接合
することができ、半導体チップ17をフリップチップ実
装基板10に高い信頼性を持って実装することができ
る。
導体チップ17の実装後、半導体チップ17とフリップ
チップ実装基板10との間にアンダーフィルレジン23
を配設している。このように、半導体チップ17とフリ
ップチップ実装用基板10との間にアンダーフィルレジ
ン23を配設したことにより、半導体チップ17とフリ
ップチップ実装用基板10との間に熱膨張差が存在して
も、アンダーフィルレジン23によりこの熱膨張差に起
因した接合位置の破損を防止することができる。よっ
て、アンダーフィルレジン23を配設することにより、
更に実装信頼性の向上を図ることができる。
板10を実際に形成した時の一例を示している。同図に
示すように、フリップチップ実装用基板10の形成時に
おいて接続パッド20をパターン形成する際、実際にエ
ッジが直角に形成されることはなく、結果的に接続パッ
ド20のエッジには面取り部22が形状される。尚、上
記した実施例では、接続媒体として半田を用いた例を示
したが、接続媒体は半田に限定されるものではなく、鉛
を用いない各種接続媒体,他の導電性金属等を用いるこ
とも可能である。
て半導体チップを用いた例を示したが、バンプ或いはリ
ードを有する他の構成の電子部品を本発明に係るフリッ
プチップ実装基板に実装することも可能である。
種々の効果を実現することができる。請求項1,請求項
2,請求項3,請求項5,請求項6,請求項8,請求項
10,及び請求項11記載の発明によれば、接続媒体は
接続パッド上に集まり接続媒体瘤を形成するため、電子
部品をフリップチップ実装基板に実装する際、バンプの
接続位置(即ち、接続パッド)には接続媒体瘤が必ず存
在することとなり、よって接続媒体を介したバンプと接
続パッドとの接合を確実に高い信頼性を持って行なうこ
とができる。
上に形成することが可能となる。また、請求項7記載の
発明によれば、接続部導体パターンの電子部品が実装さ
れない部位は絶縁膜で保護されるため、この部位が損傷
することを防止でき、フリップチップ実装基板の信頼性
を向上させることができる。また、絶縁膜を接続媒体の
広がりを防止するダムとして機能させることができる。
度化された電子部品に対しても十分対応することが可能
となる。また、請求項12記載の発明によれば、フリッ
プチップ実装基板に実装する際、バンプ高さに起因して
接合不良が発生することを抑制でき、信頼性の高い実装
を行なうことができる。
リップチップ実装用基板と電子部品との熱膨張差が存在
しても、アンダーフィルレジンにより熱膨張差に起因し
た接合位置の破損を防止でき、実装信頼性を向上させる
ことができる。
視図である。
面図である。
るための図である(その1)。
るための図である(その2)。
板の斜視図である。
板の平面図である。
板に半導体チップを実装する様子を示す図である。
造を示す図である。
板の変形例を示す図である。
Claims (13)
- 【請求項1】 配線となる配線パターンと、該配線パタ
ーンと連続的に形成されると共にバンプが接合される接
続パッドとを有する接続部導体パターンを、前記配線パ
ターンの幅寸法(W2)に対し、前記接続パッドの幅寸
法(W1)が大きく(W1>W2)なるよう回路基板上
に形成し、 前記配線パターンと前記接続パッドとの表面に接続媒体
を設け、 該接続媒体を溶融させ、前記配線パターン表面上の前記
接続媒体を前記接続パッド表面に集めることにより、前
記接続パッド上に接続媒体瘤を設けることを特徴とする
フリップチップ実装基板の製造方法。 - 【請求項2】 回路基板上に、接続媒体を介して電子部
品に設けられたバンプがフリップチップ実装される接続
部導体パターンを形成してなるフリップチップ実装基板
において、 前記接続部導体パターンを、配線となる配線パターン
と、前記バンプが接合される位置に前記配線パターンと
連続的に形成された接続パッドとにより構成し、 かつ、前記配線パターンの幅寸法(W2)に対し、前記
接続パッドの幅寸法(W1)を大きく(W1>W2)な
るよう構成し、 前記接続パッドの形状を長方形状とすると共に、前記配
線パターンの形状を単数或いは複数の矩形からなる形状
とし、 前記接続パッドの幅寸法をW1とすると共に長さ寸法を
L1とした場合、前記接続パッドの幅寸法W1と長さ寸
法L1の比(W1/L1)が、0.2 ≦(W1/L1)≦
0.5 となるよう構成し、 かつ、前記配線パターンの幅寸法をW2とすると共に長
さ寸法をL2とした場合、前記配線パターンの幅寸法W
2と長さ寸法L2の比(W2/L2)が、0.1≦(W2
/L2)≦2.0 となるよう構成したこと を特徴とするフ
リップチップ実装用基板。 - 【請求項3】 請求項2記載のフリップチップ実装用基
板において、 前記接続パッドの幅寸法(W1)と前記
配線パターンの幅寸法(W2)との差(W1−W2)を
10μm 〜30μm としたことを特徴とするフリップチ
ップ実装用基板。 - 【請求項4】 請求項2または3記載のフリップチップ
実装用基板において、 前記接続パッドのエッジに面取り部を形成したことを特
徴とするフリップチップ実装用基板。 - 【請求項5】 請求項2乃至4のいずれか1項に記載の
フリップチップ実装用基板において、 前記接続パッド上に形成する接続媒体として半田を用い
たことを特徴とするフリップチップ実装用基板。 - 【請求項6】 請求項2乃至5のいずれか1項に記載の
フリップチップ実装用基板において、 前記回路基板材料としてプリント基板を用いたことを特
徴とするフリップチップ実装用基板。 - 【請求項7】 請求項2乃至5のいずれか1項に記載の
フリップチップ実装用基板において、 前記電子部品の実装に寄与する部位を除き、前記回路基
板上に絶縁膜を形成したことを特徴とするフリップチッ
プ実装用基板。 - 【請求項8】 請求項7記載のフリップチップ実装用基
板において、 前記絶縁膜をソルダーレジストとしたことを特徴とする
フリップチップ実装用基板。 - 【請求項9】 請求項2乃至8のいずれか1項に記載の
フリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドをペリフェラル形状に形成すると共に、 前記接続パッドのピッチを70μm以上で、かつ120
μm 以下としたことを特徴とするフリップチップ実装用
基板。 - 【請求項10】 請求項2乃至9のいずれか1項に記載
のフリップチップ実装用基板において、 前記電子部品が半導体チップであることを特徴とするフ
リップチップ実装用基板。 - 【請求項11】 請求項2乃至10のいずれか1項に記
載のフリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドに実装される前記バンプは、金(Au)
を主成分とする材料で形成されていること特徴とするフ
リップチップ実装用基板。 - 【請求項12】 請求項2乃至10のいずれか1項に記
載のフリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドに実装される前記バンプは、レベリング
処理を行なうことにより均一高さとされたスタッドバン
プであることを特徴とするフリップチップ実装用基板。 - 【請求項13】 請求項2乃至12のいずれか1項に記
載のフリップチップ実装用基板に前記バンプを有した前
記電子部品をフリップチップ実装するフリップチップ実
装構造において、 フリップチップ実装された前記フリップチップ実装用基
板と前記電子部品との間に、アンダーフィルレジンを配
設したことを特徴とするフリップチップ実装構造。
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