JP2000077471A - フリップチップ実装基板及びフリップチップ実装構造 - Google Patents

フリップチップ実装基板及びフリップチップ実装構造

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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は接続媒体を介して電子部品に設けられ
たバンプがフリップチップ実装されるフリップチップ実
装基板に関し、接続媒体瘤を接続パッド上に安定して形
成することにより実装信頼性の向上を図ることを課題と
する。 【解決手段】回路基板１２上に、半田を介して半導体チ
ップ１７に設けられたバンプ１８がフリップチップ実装
される導体パターン１３Ａ，１３Ｂを形成してなるフリ
ップチップ実装基板において、導体パターン１３Ａ，１
３Ｂを配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂと、バンプ１
８が接合される接続パッド２０とにより構成する。更
に、配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂの幅寸法（Ｗ
１，Ｗ２）に対し、接続パッド２０の幅寸法（Ｗ１）を
大きく（Ｗ１＞Ｗ２，Ｗ１＞Ｗ３）なるよう構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はフリップチップ実装
基板及びフリップチップ実装構造に係り、特に接続媒体
を介して電子部品に設けられたバンプがフリップチップ
実装されるフリップチップ実装基板に関する。近年、例
えば半導体装置等の電子部品の高密度は急速に進められ
ており、これに伴い電子部品に配設された外部接続端子
となるバンプのバンプ間ピッチも狭ピッチ化してきてい
る。
【０００２】従って、この電子部品がフリップチップ実
装されるフリップチップ実装基板においても、バンプが
接合される接続パッドを高密度に形成する必要があり、
かつ高い信頼性を持ってフリップチップ実装する必要が
ある。
【０００３】
【従来の技術】一般に、半導体チップ等の電子部品をフ
リップチップ実装基板にフリップチップ実装する場合、
予めフリップチップ実装基板に形成されている接続部導
体パターン（以下、単に導体パターンという）に接続媒
体として半田を配設しておく。そして、この導体パター
ンに半導体チップに設けられているバンプ（例えば、金
バンプ）を接合することにより、半導体チップをフリッ
プチップ実装基板にフリップチップ実装することが行な
われている。
【０００４】図１及び図２は従来のフリップチップ実装
基板１の構成を説明するための図であり、また図３及び
図４は従来のフリップチップ実装基板１への半導体チッ
プ７（電子部品）の実装構造を説明するための図であ
る。図１及び図２は、フリップチップ実装基板１の一部
を拡大して示す図である。各図に示すように、フリップ
チップ実装基板１は、大略すると回路基板２、導体パタ
ーン３Ａ，３Ｂ、ソルダーレジスト４、及び半田瘤５等
を有した構成とされている。
【０００５】導体パターン３Ａ，３Ｂは、回路基板２の
上面に所定のパターンで形成されている。この導体パタ
ーン３Ａ，３Ｂの一部には、半導体チップ７に形成され
たバンプ８（例えば、金バンプ）が接合される構成とな
っている。尚、以下の説明において、導体パターン３
Ａ，３Ｂで、金バンプ８が接合される部位を特に接続パ
ッド９というものとする。
【０００６】ここで、接続パッド９の幅寸法に注目する
と、従来では図３に示されるように、接続パッド９を含
めて導体パターン３Ａ，３Ｂの幅寸法は、その全体にわ
たり均一の幅寸法Ｗ３（具体的には、３０〜６０μｍ程
度）となるよう構成されていた。また、回路基板２の上
部には、絶縁材としてソルダーレジスト４が形成されて
いる。このソルダーレジスト４は、導体パターン３Ａ，
３Ｂの半導体チップ７が接合される位置を除き形成され
ている。
【０００７】即ち、ソルダーレジスト４は、半導体チッ
プ７と導体パターン３Ａ，３Ｂとの接合する位置に開口
部４ａを形成しており、この開口部４ａから露出した導
体パターン３Ａ，３Ｂに金バンプ８が接合される構成と
なっている。よって、導体パターン３Ａ，３Ｂの半導体
チップ７が接合されない部位は、ソルダーレジスト４に
より覆われ、これにより導体パターン３Ａ，３Ｂはソル
ダーレジスト４により保護される。
【０００８】尚、図２に示すように、導体パターン３Ａ
はその両端部がソルダーレジスト４により覆われた構成
とされており、また導体パターン３Ｂは一端部がソルダ
ーレジスト４により覆われ、他端部はソルダーレジスト
４の手前位置まで形成された構成とされている。半田瘤
５は、金バンプ８と導体パターン３Ａ，３Ｂとを電気的
及び機械的に接合する機能を奏するものである。この半
田瘤５は、半田粉を導体パターン３Ａ，３Ｂの表面にフ
ラックスと共にコーティングし半田粉を加熱溶融するこ
とにより形成する。溶融し液状となった半田には表面張
力が発生する。よって、この表面張力により半田は瘤状
となり、導体パターン３Ａ，３Ｂ上に半田瘤５が形成さ
れる。尚、この半田瘤の高さ（Ｈ）は、２０〜４０μｍ
程度である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体チッ
プ７をフリップチップ実装基板１に確実に実装するため
には、導体パターン３Ａ，３Ｂの接続パッド９に均一な
半田瘤５を形成する必要がある。このように、接続パッ
ド９に均一な半田瘤５を形成するには、半田が形成され
るエリアである接続パッド９の面積を広くすると良い。
これは、接続パッド９の面積が広くなるほど付着する半
田粉の総数が多くなり、半田粉数のバラツキの影響を受
け難くなるためである。
【００１０】一方、近年の半導体チップ７の高密度化に
伴い金バンプ８のバンプ間ピッチは狭ピッチ化し、この
狭ピッチ化に伴い接続パッド９（導体パターン３Ａ，３
Ｂ）の幅寸法Ｗ３も小さくなる傾向にある。従って、接
続パッド９の幅寸法Ｗ３を小さくしつつ、かつ接続パッ
ド９の面積を広くするには、接続パッド９の長さを長く
する必要がある。これは、従来では接続パッド９の幅寸
法Ｗ３は導体パターン３Ａ，３Ｂの幅寸法と等しいた
め、導体パターン３Ａ，３Ｂの長さを長くすることと等
価である。
【００１１】しかるに、接続パッド９（導体パターン３
Ａ，３Ｂ）の幅寸法Ｗ３を小さくしつつ、かつその長さ
を長くすると、半田粉が溶融した際に形成される半田瘤
５が不規則に発生する現象が生じる。例えば、接続パッ
ド９（導体パターン３Ａ，３Ｂ）の幅寸法Ｗ３が６０μ
m 以下で、その長さが３００μm 以上の形状になると、
半田粉を１０〜２０μm 程度の厚さで均一に形成しよう
としても、図１に示すように、導体パターン３Ａ，３Ｂ
上の不特定位置に半田瘤５が偏在してしまい、均一な半
田瘤５が得られない。
【００１２】このように、導体パターン３Ａ，３Ｂ上の
不特定位置に半田瘤５が偏在すると、所定の接続パッド
９の位置に対し、半田瘤５の形成位置がずれてしまう。
よって、図３に示すように半導体チップ７をフリップチ
ップ実装基板１に位置決めして対向させた際、金バンプ
８と半田瘤５の位置もずれてしまう。そして、金バンプ
８と対向する位置には、薄い膜厚の半田薄膜６のみが形
成された状態であるため、図４に示すように半導体チッ
プ７をフリップチップ実装基板１に実装しても、金バン
プ８と接続パッド９との間に十分な接合力を得ることが
できず、実装信頼性が低下してしまうという問題点があ
った。
【００１３】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、接続媒体の瘤を接続パッド上に安定して形成する
ことにより実装信頼性の向上を図ったフリップチップ実
装基板及びフリップチップ実装構造を提供することを目
的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴
とするものである。請求項１記載の発明は、回路基板上
に、接続媒体を介して電子部品に設けられたバンプがフ
リップチップ実装される接続部導体パターンを形成して
なるフリップチップ実装基板において、前記接続部導体
パターンを、配線となる配線パターンと、前記バンプが
接合される位置に前記配線パターンと連続的に形成され
た接続パッドとにより構成し、かつ、前記配線パターン
の幅寸法（Ｗ２）に対し、前記接続パッドの幅寸法（Ｗ
１）を大きく（Ｗ１＞Ｗ２）なるよう構成したことを特
徴とするものである。
【００１５】また、請求項２記載の発明は、前記請求項
１記載のフリップチップ実装用基板に於いて、前記接続
パッドの形状を長方形状とすると共に、前記配線パター
ンの形状を単数或いは複数の矩形からなる形状とし、前
記接続パッドの幅寸法をＷ１とすると共に長さ寸法をＬ
１とした場合、前記接続パッドの幅寸法Ｗ０と長さ寸法
Ｌ１の比（Ｗ１／Ｌ１）が、0.2 ≦（Ｗ１／Ｌ１）≦0.
5 となるよう構成し、かつ、前記配線パターンの幅寸法
をＷ２とすると共に長さ寸法をＬ２とした場合、前記配
線パターンの幅寸法Ｗ２と長さ寸法Ｌ２の比（Ｗ２／Ｌ
２）が、0.1≦（Ｗ２／Ｌ２）≦2.0 となるよう構成し
たことを特徴とするものである。 また、請求項３記載
の発明は、前記請求項１又は２記載のフリップチップ実
装用基板において、前記接続パッドの幅寸法（Ｗ１）と
前記配線パターンの幅寸法（Ｗ２）との差（Ｗ１−Ｗ
２）を１０μm 〜３０μm としたことを特徴とするもの
である。
【００１６】また、請求項４記載の発明は、前記請求項
１乃至３のいずれか１項に記載のフリップチップ実装用
基板において、前記接続パッドのエッジに面取り部を形
状したことを特徴とするものである。また、請求項５記
載の発明は、前記請求項１乃至４のいずれか１項に記載
のフリップチップ実装用基板において、前記接続パッド
上に形成する接続媒体として半田を用いたことを特徴と
するものである。
【００１７】また、請求項６記載の発明は、前記請求項
１乃至５のいずれか１項に記載のフリップチップ実装用
基板において、前記回路基板材料としてプリント基板を
用いたことを特徴とするものである。また、請求項７記
載の発明は、前記請求項１乃至５のいずれか１項に記載
のフリップチップ実装用基板において、前記電子部品の
実装に寄与する部位を除き、前記回路基板上に絶縁膜を
形成したことを特徴とするものである。
【００１８】また、請求項８記載の発明は、前記請求項
７記載のフリップチップ実装用基板において、前記絶縁
膜をソルダーレジストとしたことを特徴とするものであ
る。また、請求項９記載の発明は、前記請求項１乃至８
のいずれか１項に記載のフリップチップ実装用基板にお
いて、前記接続パッドをペリフェラル形状に形成すると
共に、前記接続パッドのピッチを７０μｍ以上で、かつ
１２０μm 以下としたことを特徴とするものである。
【００１９】また、請求項１０記載の発明は、前記請求
項１乃至９のいずれか１項に記載のフリップチップ実装
用基板において、前記電子部品が半導体チップであるこ
とを特徴とするものである。また、請求項１１記載の発
明は、前記請求項１乃至１０のいずれか１項に記載のフ
リップチップ実装用基板において、前記接続パッドに実
装される前記バンプは、金（Ａｕ）を主成分とする材料
で形成されていること特徴とするものである。
【００２０】また、請求項１２記載の発明は、前記請求
項１乃至１０のいずれか１項に記載のフリップチップ実
装用基板において、前記接続パッドに実装される前記バ
ンプは、レベリング処理を行なうことにより均一高さと
されたスタッドバンプであることを特徴とするものであ
る。
【００２１】更に、請求項１３記載の発明は、前記請求
項１乃至１２のいずれか１項に記載のフリップチップ実
装用基板に前記バンプを有した前記電子部品をリップチ
ップ実装するフリップチップ実装構造において、フリッ
プチップ実装された前記フリップチップ実装用基板と前
記電子部品との間に、アンダーフィルレジンを配設した
ことを特徴とするものである。
【００２２】上記した各手段は、次のように作用する。
請求項１記載の発明によれば、接続部導体パターンを配
線パターンとバンプが接合される接続パッドとにより構
成すると共に、接続パッドの幅寸法Ｗ１が配線パターン
の幅寸法Ｗ１より大きく（Ｗ１＞Ｗ２）なるよう構成し
たことにより、接続部導体パターンに配設された接続媒
体が溶融した際、この接続媒体は接続パッド上に集まり
瘤状に形成され（以下、接続パッド上形成された瘤状の
接続媒体を接続媒体瘤という）、配線パターンには接続
媒体の薄膜が形成された構成となる。
【００２３】即ち、接続パッドの幅寸法Ｗ１を配線パタ
ーンの幅寸法Ｗ２より大きくすることにより、接続媒体
瘤は必ず接続パッド上に形成されることとなる。よっ
て、電子部品をフリップチップ実装基板に実装する際、
バンプの接続位置（即ち、接続パッド）には接続媒体瘤
が必ず存在するため、接続媒体を介したバンプと接続パ
ッドとの接合を確実に高い信頼性を持って行なうことが
できる。
【００２４】また、請求項２記載の発明によれば、長方
形状とされた接続パッドの幅寸法をＷ１，長さ寸法をＬ
１とした場合、幅寸法Ｗ１と長さ寸法Ｌ１の比（Ｗ１／
Ｌ１）が、0.2 ≦（Ｗ１／Ｌ１）≦0.5 となるよう構成
すると共に、矩形状とされた配線パターンの幅寸法をＷ
２，長さ寸法をＬ２とした場合、幅寸法Ｗ２と長さ寸法
Ｌ２の比（Ｗ２／Ｌ２）が、0.1 ≦（Ｗ２／Ｌ２）≦2.
0 となるよう構成したことにより、接続媒体瘤をより確
実に接続パッド上に形成することが可能となる。
【００２５】また、請求項３記載の発明によれば、接続
パッドの幅寸法Ｗ１と配線パターンの幅寸法Ｗ２との差
（Ｗ１−Ｗ２）を１０μm 〜３０μm としたことによ
り、接続媒体瘤をより確実に接続パッド上に形成するこ
とが可能となる。請求項５記載の発明のように、接続パ
ッド上に形成する接続媒体としては、半田を用いること
が可能である。
【００２６】また、請求項６記載の発明のように、回路
基板材料としては、プリント基板を用いることが可能で
ある。また、請求項７記載の発明によれば、電子部品の
実装に寄与する部位を除き、回路基板上に絶縁膜を形成
したことにより、接続部導体パターンの電子部品が実装
されない部位を絶縁膜で保護することができる。
【００２７】また、請求項８記載の発明のように、絶縁
膜としては、ソルダーレジストを用いることができる。
また、請求項９記載の発明によれば、接続パッドをペリ
フェラル形状に形成すると共に、接続パッドのピッチを
７０μｍ〜１２０μm としたことにより、高密度化され
た電子部品に対しても十分対応することができる。
【００２８】また、請求項１０記載の発明のように、電
子部品としては、半導体チップを用いることが可能であ
る。また、請求項１１記載の発明のように、接続パッド
に実装されるバンプの材料としては、金（Ａｕ）を主成
分とする材料を用いることが可能である。
【００２９】また、請求項１２記載の発明によれば、接
続パッドに実装されるバンプをスタッドバンプとすると
共に、レベリング処理を行なうことにより均一高さとし
たことにより、フリップチップ実装基板に実装する際、
バンプ高さに起因して接合不良が発生することを抑制で
き、信頼性の高い実装を行なうことができる。
【００３０】更に、請求項１３記載の発明によれば、フ
リップチップ実装されたフリップチップ実装用基板と電
子部品との間に、アンダーフィルレジンを配設したこと
により、フリップチップ実装用基板と電子部品との熱膨
張差が存在しても、アンダーフィルレジンにより熱膨張
差に起因した接合位置の破損を防止でき、実装信頼性を
向上させることができる。
【００３１】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面と共に説明する。図５及び図６は本発明の一実施
例であるフリップチップ実装基板１０の構成を説明する
ための図であり、また図７及び図８は本発明の一実施例
であるフリップチップ実装構造を説明するための図であ
る。
【００３２】先ず、図５及び図６を用いてフリップチッ
プ実装基板１０の構成について説明する。図５はフリッ
プチップ実装基板１０の一部を拡大して示す斜視図であ
り、図６はフリップチップ実装基板１０の一部を拡大し
て示す平面図である。各図に示すように、フリップチッ
プ実装基板１０は、大略すると回路基板１２、接続部導
体パターン１３Ａ，１３Ｂ（以下、導体パターン１３
Ａ，１３Ｂという）、ソルダーレジスト１４、及び半田
瘤１５等を有した構成とされている。
【００３３】回路基板１２は例えばプリント配線基板で
あり、その上面には導体パターン１３Ａ，１３Ｂが形成
されている。この導体パターン１３Ａ，１３Ｂは例えば
銅により形成されており、エッチング法等により所定の
パターンにパターニングされている。また、導体パター
ン１３Ａ，１３Ｂは、配線となる配線パターン１９，１
９Ａ，１９Ｂと、半導体チップ１７に設けられたバンプ
１８が接合される位置に形成された接続パッド２０とに
より構成されている。この配線パターン１９，１９Ａ，
１９Ｂと接続パッド２０は、連続的に形成された構成と
されている。
【００３４】尚、配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂと
接続パッド２０の具体的な寸法については、説明の便宜
上後述するものとする。また、回路基板１２の上部に
は、絶縁材としてソルダーレジスト１４が形成されてい
る。このソルダーレジスト１４は、導体パターン１３
Ａ，１３Ｂの半導体チップ１７が接合される位置を除き
形成されている。
【００３５】即ち、ソルダーレジスト１４は、半導体チ
ップ１７と導体パターン１３Ａ，１３Ｂとの接合する位
置に開口部２１を形成しており、この開口部２１から露
出した導体パターン１３Ａ，１３Ｂにバンプ１８が接合
される構成となっている。また、この開口部２１内に前
記した配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂ及び接続パッ
ド２０は形成された構成となっている。
【００３６】よって、導体パターン１３Ａ，１３Ｂの半
導体チップ１７が接合されない部位はソルダーレジスト
１４により覆われ、これにより導体パターン１３Ａ，１
３Ｂはソルダーレジスト１４により保護された構成とな
る。尚、図６に示すように、導体パターン１３Ａはその
両端部がソルダーレジスト１４により覆われた構成とさ
れている。従って、接続パッド２０を挟んで、図中右側
に配線パターン１９Ａが形成され、図中左側に配線パタ
ーン１９Ｂが形成された構成となっている。また、導体
パターン１３Ｂは一端部がソルダーレジスト１４により
覆われ、他端部はソルダーレジスト１４の手前位置まで
形成された構成とされている。
【００３７】半田瘤１５は、バンプ１８と導体パターン
１３Ａ，１３Ｂとを電気的及び機械的に接合する接続媒
体として機能を奏する。この半田瘤１５の高さＨは、半
田層形成条件にもよるが２０〜４０μm 程度が適切であ
る。ここで、図６を用いて導体パターン１３Ａ，１３Ｂ
を構成する配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂ及び接続
パッド２０の寸法について詳述する。
【００３８】接続パッド２０は、その幅寸法Ｗ１が３０
〜６０μm 程度に設定されており、またその長さ寸法Ｌ
１は２００〜３００μm 程度に設定されている。また、
配線パターン２の幅寸法Ｗ２，Ｗ３は、２０〜５０μm
程度に設定されている。この際、接続パッド２０の幅寸
法Ｗ１と配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂの幅寸法Ｗ
２，Ｗ３との差（Ｗ１−Ｗ２，またはＷ１−Ｗ３）は、
１０μm 〜３０μm 程度となるよう設定されている。
【００３９】即ち、本実施例に係るフリップチップ実装
基板１０では、接続パッド２０の幅寸法Ｗ１が、配線パ
ターン１９，１９Ａ，１９Ｂの幅寸法Ｗ２，Ｗ３に対し
て大きく（Ｗ１＞Ｗ２，Ｗ１＞Ｗ３）なるよう構成され
ている。更に、導体パターン１３Ａ，１３Ｂを構成する
配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂの形状、及び接続パ
ッド２０の形状に注目する。
【００４０】すると、導体パターン１３Ａは複数（２
個）の配線パターン１９Ａ，１９Ｂを有しており、各配
線パターン１９Ａ，１９Ｂの形状は夫々矩形（図６に示
す例では長方形状）とされている。また、導体パターン
１３Ｂは単数（１個）の配線パターン１９を有してお
り、この形状の形状も矩形（図６に示す例では長方形）
とされている。更に、各導体パターン１３Ａ，１３Ｂを
構成する接続パッド２０の形状は、長方形状とされてい
る。
【００４１】また、長方形状とされた接続パッド２０の
幅寸法Ｗ１と、その長さ寸法Ｌ１との関係に注目する
と、本実施例ではこの接続パッド２０の幅寸法Ｗ１と長
さ寸法Ｌ１の比（Ｗ１／Ｌ１）が、0.2 ≦（Ｗ１／Ｌ
１）≦0.5 となるよう構成されている。更に、矩形状と
された各配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂの幅寸法Ｗ
２，Ｗ３と、その長さ寸法Ｌ２，Ｌ３との関係に注目す
ると、本実施例ではこの配線パターン１９，１９Ａ，１
９Ｂの幅寸法Ｗ２，Ｗ３と長さ寸法Ｌ２の比（Ｗ２／Ｌ
２），（Ｗ３／Ｌ３）が、0.1 ≦（Ｗ２／Ｌ２）≦2.0
，0.1 ≦（Ｗ３／Ｌ３）≦2.0 となるよう構成されて
いる。
【００４２】尚、上記説明において、接続パッド２０の
形状を長方形状に限定しているのに対し、各配線パター
ン１９，１９Ａ，１９Ｂの形状を矩形状と述べているの
は、配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂでは（Ｗ２／Ｌ
２）＝１，（Ｗ３／Ｌ３）＝１である形状、即ち正方形
状が含まれるためである。上記のように、接続パッド２
０の幅寸法Ｗ０が配線パターン１９，１９Ａ，１９Ｂの
幅寸法Ｗ２より大きく（Ｗ１＞Ｗ２）なるよう構成した
ことにより、前記のように導体パターン１３Ａ，１３Ｂ
に配設された半田粉が溶融した際、この半田は接続パッ
ド２０上に集まり半田瘤１５を形成し、配線パターン１
９，１９Ａ，１９Ｂには半田の薄膜（半田薄膜１６）の
みが形成される現象が発生する。
【００４３】この現象は、特に接続パッド２０の幅寸法
Ｗ１と長さ寸法Ｌ１との比（Ｗ１／Ｌ１）が、0.2 ≦
（Ｗ１／Ｌ１）≦0.5 となるよう構成し、かつ、配線パ
ターン１９，１９Ａ，１９Ｂ幅寸法Ｗ２，Ｗ３と長さ寸
法Ｌ２，Ｌ３との比（Ｗ２／Ｌ２），（Ｗ３／Ｌ３）
が、0.1 ≦（Ｗ２／Ｌ２）≦2.0 ，0.1 ≦（Ｗ３／Ｌ
３）≦2.0 となるよう構成した場合に顕著に現れる。
【００４４】よって、接続パッド２０及び配線パターン
１９，１９Ａ，１９Ｂを形成する際、上記した条件を満
たすよう形成することにより、必ず半田瘤１５を接続パ
ッド２０上に形成することが可能となる。図７及び図８
は、上記構成とされたフリップチップ実装基板１０に半
導体チップ１７を実装する様子を示している。
【００４５】半導体チップ１７は、複数のバンプ１８が
形成されている。このバンプ１８は例えば金（Ａｕ）を
主成分とする材料で形成されており、ワイヤボンディン
グ技術を用いて形成されている。具体的には、バンプ１
８は金（Ａｕ）を主成分とする材料よりなるワイヤをワ
イヤボンディング装置により半導体チップ１７の電極部
（図示せず）にボンディングし、その後にワイヤを切断
することにより形成されるスタッドバンプである。ま
た、スタッドバンプ形成後、レベリング処理を行なうこ
とにより、各バンプ１８の高さは均一の高さとされてい
る。
【００４６】このように、バンプ１８をスタッドバンプ
としても、レベリング処理を行なうことによりその高さ
は均一化され、よってフリップチップ実装基板１０に実
装する際、バンプ高さに起因して接合不良が発生するこ
とを防止でき、信頼性の高い実装を行なうことができ
る。また、バンプ１８は半導体チップ１７にペリフェラ
ル状に形成されている。また、半導体チップ１７は高密
度化が図られており、各バンプ１８のバンプ間ピッチは
７０μｍ以上で、かつ１２０μm 以下とされている。よ
って、前記した接続パッド２０も、回路基板１２上にペ
リフェラル形状に形成されており、そのパッド間ピッチ
も７０μｍ以上で、かつ１２０μm 以下となるよう形成
されており、高密度化された半導体チップ１７に対応す
るよう構成されている。
【００４７】ここで図７に注目すると、前記のように本
実施例に係るフリップチップ実装基板１０では半田瘤１
５が必ず接続パッド２０上に存在した構成であるため、
半導体チップ１７をフリップチップ実装基板１０に位置
決めして対向させた際、バンプ１８と半田瘤１５は必ず
対向した状態となる。よって、半導体チップ１７をフリ
ップチップ実装基板１０にフェイスダウンしフリップチ
ップ実装すると、バンプ１８は必ず半田瘤１５と接合す
る。よって、図８に示すように、半田（半田瘤１５）を
介して全てのバンプ１８と接続パッド２０を確実に接合
することができ、半導体チップ１７をフリップチップ実
装基板１０に高い信頼性を持って実装することができ
る。
【００４８】また図８に示すように、本実施例では、半
導体チップ１７の実装後、半導体チップ１７とフリップ
チップ実装基板１０との間にアンダーフィルレジン２３
を配設している。このように、半導体チップ１７とフリ
ップチップ実装用基板１０との間にアンダーフィルレジ
ン２３を配設したことにより、半導体チップ１７とフリ
ップチップ実装用基板１０との間に熱膨張差が存在して
も、アンダーフィルレジン２３によりこの熱膨張差に起
因した接合位置の破損を防止することができる。よっ
て、アンダーフィルレジン２３を配設することにより、
更に実装信頼性の向上を図ることができる。
【００４９】図９は、前記したフリップチップ実装用基
板１０を実際に形成した時の一例を示している。同図に
示すように、フリップチップ実装用基板１０の形成時に
おいて接続パッド２０をパターン形成する際、実際にエ
ッジが直角に形成されることはなく、結果的に接続パッ
ド２０のエッジには面取り部２２が形状される。尚、上
記した実施例では、接続媒体として半田を用いた例を示
したが、接続媒体は半田に限定されるものではなく、鉛
を用いない各種接続媒体，他の導電性金属等を用いるこ
とも可能である。
【００５０】また、上記した実施例では、電子部品とし
て半導体チップを用いた例を示したが、バンプ或いはリ
ードを有する他の構成の電子部品を本発明に係るフリッ
プチップ実装基板に実装することも可能である。
【００５１】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、次に述べる
種々の効果を実現することができる。請求項１，請求項
５，請求項６，請求項８，請求項１０，及び請求項１１
記載の発明によれば、接続媒体は接続パッド上に集まり
接続媒体瘤を形成するため、電子部品をフリップチップ
実装基板に実装する際、バンプの接続位置（即ち、接続
パッド）には接続媒体瘤が必ず存在することとなり、よ
って接続媒体を介したバンプと接続パッドとの接合を確
実に高い信頼性を持って行なうことができる。
【００５２】また、請求項２及び請求項３記載の発明に
よれば、接続媒体瘤をより確実に接続パッド上に形成す
ることが可能となる。また、請求項７記載の発明によれ
ば、接続部導体パターンの電子部品が実装されない部位
は絶縁膜で保護されるため、この部位が損傷することを
防止でき、フリップチップ実装基板の信頼性を向上させ
ることができる。また、絶縁膜を接続媒体の広がりを防
止するダムとして機能させることができる。
【００５３】また、請求項９記載の発明によれば、高密
度化された電子部品に対しても十分対応することが可能
となる。また、請求項１２記載の発明によれば、フリッ
プチップ実装基板に実装する際、バンプ高さに起因して
接合不良が発生することを抑制でき、信頼性の高い実装
を行なうことができる。
【００５４】更に、請求項１３記載の発明によれば、フ
リップチップ実装用基板と電子部品との熱膨張差が存在
しても、アンダーフィルレジンにより熱膨張差に起因し
た接合位置の破損を防止でき、実装信頼性を向上させる
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の一例であるフリップチップ実装基板の斜
視図である。
【図２】従来の一例であるフリップチップ実装基板の平
面図である。
【図３】従来フリップチップ実装基板の問題点を説明す
るための図である（その１）。
【図４】従来フリップチップ実装基板の問題点を説明す
るための図である（その２）。
【図５】本発明の一実施例であるフリップチップ実装基
板の斜視図である。
【図６】本発明の一実施例であるフリップチップ実装基
板の平面図である。
【図７】本発明の一実施例であるフリップチップ実装基
板に半導体チップを実装する様子を示す図である。
【図８】本発明の一実施例であるフリップチップ実装構
造を示す図である。
【図９】本発明の一実施例であるフリップチップ実装基
板の変形例を示す図である。
【符号の説明】
１０ フリップチップ実装基板 １２ 回路基板 １３Ａ，１３Ｂ 導体パターン １４ ソルダーレジスト １５ 半田瘤 １６ 半田薄膜 １７ 半導体チップ １８ 金バンプ １９，１９Ａ，１９Ｂ 配線パターン ２０ 接続パッド ２２ 面取り部 ２３ アンダーフィルレジン Ｌ０ 接続部導体パターン長さ（３００〜７００μm ） Ｌ１ 接続パッド長さ（２００〜３００μm ） Ｌ２，Ｌ３ 配線パターン長さ（１００〜５００μm ） Ｗ０ 接続パッド幅（３０〜６０μm ） Ｗ１，Ｗ２ 配線パターン幅（２０〜５０μm ） Ｈ 半田瘤高さ（２０〜４０μm ）

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 回路基板上に、接続媒体を介して電子部
    品に設けられたバンプがフリップチップ実装される接続
    部導体パターンを形成してなるフリップチップ実装基板
    において、 前記接続部導体パターンを、配線となる配線パターン
    と、前記バンプが接合される位置に前記配線パターンと
    連続的に形成された接続パッドとにより構成し、かつ、
    前記配線パターンの幅寸法（Ｗ２）に対し、前記接続パ
    ッドの幅寸法（Ｗ１）を大きく（Ｗ１＞Ｗ２）なるよう
    構成したことを特徴とするフリップチップ実装用基板。
  2. 【請求項２】 請求項１記載のフリップチップ実装用基
    板に於いて、 前記接続パッドの形状を長方形状とすると共に、前記配
    線パターンの形状を単数或いは複数の矩形からなる形状
    とし、 前記接続パッドの幅寸法をＷ１とすると共に長さ寸法を
    Ｌ１とした場合、前記接続パッドの幅寸法Ｗ１と長さ寸
    法Ｌ１の比（Ｗ１／Ｌ１）が、0.2 ≦（Ｗ１／Ｌ１）≦
    0.5 となるよう構成し、 かつ、前記配線パターンの幅寸法をＷ２とすると共に長
    さ寸法をＬ２とした場合、前記配線パターンの幅寸法Ｗ
    ２と長さ寸法Ｌ２の比（Ｗ２／Ｌ２）が、0.1≦（Ｗ２
    ／Ｌ２）≦2.0 となるよう構成したことを特徴とするフ
    リップチップ実装用基板。
  3. 【請求項３】 請求項１又は２記載のフリップチップ実
    装用基板において、 前記接続パッドの幅寸法（Ｗ１）と前記配線パターンの
    幅寸法（Ｗ２）との差（Ｗ１−Ｗ２）を１０μm 〜３０
    μm としたことを特徴とするフリップチップ実装用基
    板。
  4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の
    フリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドのエッジに面取り部を形状したことを特
    徴とするフリップチップ実装用基板。
  5. 【請求項５】 請求項１乃至４のいずれか１項に記載の
    フリップチップ実装用基板において、 前記接続パッド上に形成する接続媒体として半田を用い
    たことを特徴とするフリップチップ実装用基板。
  6. 【請求項６】 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の
    フリップチップ実装用基板において、 前記回路基板材料としてプリント基板を用いたことを特
    徴とするフリップチップ実装用基板。
  7. 【請求項７】 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の
    フリップチップ実装用基板において、 前記電子部品の実装に寄与する部位を除き、前記回路基
    板上に絶縁膜を形成したことを特徴とするフリップチッ
    プ実装用基板。
  8. 【請求項８】 請求項７記載のフリップチップ実装用基
    板において、 前記絶縁膜をソルダーレジストとしたことを特徴とする
    フリップチップ実装用基板。
  9. 【請求項９】 請求項１乃至８のいずれか１項に記載の
    フリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドをペリフェラル形状に形成すると共に、 前記接続パッドのピッチを７０μｍ以上で、かつ１２０
    μm 以下としたことを特徴とするフリップチップ実装用
    基板。
  10. 【請求項１０】 請求項１乃至９のいずれか１項に記載
    のフリップチップ実装用基板において、 前記電子部品が半導体チップであることを特徴とするフ
    リップチップ実装用基板。
  11. 【請求項１１】 請求項１乃至１０のいずれか１項に記
    載のフリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドに実装される前記バンプは、金（Ａｕ）
    を主成分とする材料で形成されていること特徴とするフ
    リップチップ実装用基板。
  12. 【請求項１２】 請求項１乃至１０のいずれか１項に記
    載のフリップチップ実装用基板において、 前記接続パッドに実装される前記バンプは、レベリング
    処理を行なうことにより均一高さとされたスタッドバン
    プであることを特徴とするフリップチップ実装用基板。
  13. 【請求項１３】 請求項１乃至１２のいずれか１項に記
    載のフリップチップ実装用基板に前記バンプを有した前
    記電子部品をリップチップ実装するフリップチップ実装
    構造において、 フリップチップ実装された前記フリップチップ実装用基
    板と前記電子部品との間に、アンダーフィルレジンを配
    設したことを特徴とするフリップチップ実装構造。
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