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  1. 第1のトランジスタを有する画素部と、第2のトランジスタを有する駆動回路と、を有し、
    前記第1のトランジスタは、
    基板上の第1のゲート電極と、
    前記第1のゲート電極上の第1の絶縁層と、
    前記第1の絶縁層上の、第1のソース電極及び第1のドレイン電極と、
    前記第1の絶縁層を介して前記第1のゲート電極と重なる領域を有する第1の酸化物半導体層と、を有し、
    前記第1の酸化物半導体層は、画素電極と電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタは、
    前記基板上の第2のゲート電極と、
    前記第2のゲート電極上の前記第1の絶縁層と、
    前記第1の絶縁層を介して前記第2のゲート電極と重なる領域を有する第2の酸化物半導体層と、
    前記第2の酸化物半導体層上の、第2のソース電極及び第2のドレイン電極と、を有し、
    前記第1のゲート電極、前記第1のソース電極、前記第1のドレイン電極、及び前記画素電極は、可視光に対して透光性を有し、
    前記第2のソース電極及び前記第2のドレイン電極は、金属を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記第2のゲート電極は、可視光に対して透光性を有することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1において、
    前記第2のゲート電極は、金属を有することを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一において、
    前記第2のソース電極及び前記第2のドレイン電極上の第2の絶縁層と、
    前記第2の絶縁層を介して前記第2の酸化物半導体層と重なる領域を有する導電層と、を有することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項4において、
    前記導電層は、前記第2のゲート電極と電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項4において、
    前記導電層は、前記第2のゲート電極に与えられる電位と異なる電位を有することを特徴とする半導体装置。
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