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  1. 第1の絶縁膜上のゲート電極層と、
    前記ゲート電極層上の第の絶縁膜と、
    前記第の絶縁膜上の第1の酸化物半導体層と、
    前記第1の酸化物半導体層と電気的に接続されるソース電極層及びドレイン電極層と、
    前記第1の酸化物半導体層上の第の絶縁と、
    前記第の絶縁上の画素電極と、
    前記第1の絶縁膜上の第2の酸化物半導体層と、を有し、
    前記画素電極は、前記第1の酸化物半導体層と電気的に接続され
    前記第酸化物半導体層は容量素子の一方の電極として機能することを特徴とする半導体装置。
  2. 第1の絶縁膜上のゲート電極層と、
    前記ゲート電極層上の第の絶縁膜と、
    前記第の絶縁膜上の第1の酸化物半導体層と、
    前記第1の酸化物半導体層と電気的に接続されるソース電極層及びドレイン電極層と、
    前記第1の酸化物半導体層上の第の絶縁と、
    前記第の絶縁上の画素電極と、
    前記第1の絶縁膜上の第2の酸化物半導体層と、を有し、
    前記画素電極は、前記第1の酸化物半導体層と電気的に接続され、
    前記画素電極、前記第2の酸化物半導体層と重なる第1の領域を有し、
    前記第1の領域は容量素子として機能することを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1または請求項2において、
    前記画素電極は、透光性導電膜を有することを特徴とする半導体装置。
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