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2013-11-05 |
삼성디스플레이 주식회사 |
박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법
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KR20080094300A
(ko)
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2007-04-19 |
2008-10-23 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 및 그 제조 방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판 디스플레이
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KR101334181B1
(ko)
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2007-04-20 |
2013-11-28 |
삼성전자주식회사 |
선택적으로 결정화된 채널층을 갖는 박막 트랜지스터 및 그제조 방법
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WO2008133345A1
(en)
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2007-04-25 |
2008-11-06 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Oxynitride semiconductor
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KR101345376B1
(ko)
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2007-05-29 |
2013-12-24 |
삼성전자주식회사 |
ZnO 계 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
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US8354674B2
(en)
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2007-06-29 |
2013-01-15 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device wherein a property of a first semiconductor layer is different from a property of a second semiconductor layer
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JP4537434B2
(ja)
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2007-08-31 |
2010-09-01 |
株式会社日立製作所 |
酸化亜鉛薄膜、及びそれを用いた透明導電膜、及び表示素子
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JP5215158B2
(ja)
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2007-12-17 |
2013-06-19 |
富士フイルム株式会社 |
無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス
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JP5121478B2
(ja)
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2008-01-31 |
2013-01-16 |
株式会社ジャパンディスプレイウェスト |
光センサー素子、撮像装置、電子機器、およびメモリー素子
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JP5305696B2
(ja)
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2008-03-06 |
2013-10-02 |
キヤノン株式会社 |
半導体素子の処理方法
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JP5480554B2
(ja)
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2008-08-08 |
2014-04-23 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
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JP4623179B2
(ja)
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2008-09-18 |
2011-02-02 |
ソニー株式会社 |
薄膜トランジスタおよびその製造方法
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KR101623958B1
(ko)
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2008-10-01 |
2016-05-25 |
삼성전자주식회사 |
인버터 및 그의 동작방법과 인버터를 포함하는 논리회로
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JP5451280B2
(ja)
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2008-10-09 |
2014-03-26 |
キヤノン株式会社 |
ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置
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JP5781720B2
(ja)
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2008-12-15 |
2015-09-24 |
ルネサスエレクトロニクス株式会社 |
半導体装置及び半導体装置の製造方法
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JPWO2010097862A1
(ja)
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2009-02-24 |
2012-08-30 |
パナソニック株式会社 |
半導体メモリセル及びその製造方法並びに半導体記憶装置
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KR101772150B1
(ko)
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2009-12-28 |
2017-08-28 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
기억 장치와 반도체 장치
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