JP2012114422A5 - 半導体装置 - Google Patents

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  1. I行(Iは2以上の自然数)J列(Jは自然数)に配列された複数のメモリセルを有し、
    前記メモリセルは、
    第1の半導体層と、
    第2の半導体層と、
    前記第1の半導体層上方及び前記第2の半導体層上方の第1の絶縁層と、
    前記第1の絶縁層上方の第1の導電層と、
    前記第1の絶縁層上方の第3の半導体層と、
    前記第3の半導体層上方の第2の導電層と、
    前記第3の半導体層上方の第3の導電層と、
    前記第3の半導体層上方、前記第2の導電層上方及び前記第3の導電層上方の第2の絶縁層と、
    前記第2の絶縁層上方の第4の導電層と、
    を有し、
    前記第1の半導体層は、第1のトランジスタのチャネル形成領域として機能する領域を有し、
    前記第2の半導体層は、前記第1の半導体層と同じ材料を有し、
    前記第2の半導体層は、前記第1の半導体層と同層であり、
    前記第2の半導体層は、前記第1の半導体層と離間しており、
    前記第2の半導体層は、第2のトランジスタの第1のゲートとして機能する領域を有し、
    前記第1の導電層は、前記第1の半導体層と重なる領域を有し、
    前記第3の半導体層は、前記第2の半導体層と重なる領域を有し、
    前記第3の半導体層は、前記第2のトランジスタのチャネル形成領域として機能する領域を有し、
    前記第2の導電層は、前記第3の半導体層と電気的に接続され、
    前記第3の導電層は、前記第3の半導体層と電気的に接続され、
    前記第3の導電層は、前記第1の導電層と電気的に接続され、
    前記第4の導電層は、前記第3の半導体層と重なる領域を有し、
    前記第4の導電層は、前記第2のトランジスタの第2のゲートとしての機能する領域を有し、
    前記第1の半導体層及び前記第2の半導体層のそれぞれは、シリコンを有し、
    前記第3の半導体層は、酸化物半導体を有し、
    同じ列に配置されたメモリセルにおいて、k行目(kは2以上I以下の自然数)のメモリセルの前記第2の導電層は、k−1行目のメモリセルの前記第3の半導体層と電気的に接続されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1において、
    前記第3の半導体層は、c軸が表面に対して垂直な方向に配向した結晶を有することを特徴とする半導体装置。
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