DE69630484T2 - Reaktivgasinjektor für Vorrichtung zur chemischen Gasphasenabscheidung - Google Patents
Reaktivgasinjektor für Vorrichtung zur chemischen Gasphasenabscheidung Download PDFInfo
- Publication number
- DE69630484T2 DE69630484T2 DE69630484T DE69630484T DE69630484T2 DE 69630484 T2 DE69630484 T2 DE 69630484T2 DE 69630484 T DE69630484 T DE 69630484T DE 69630484 T DE69630484 T DE 69630484T DE 69630484 T2 DE69630484 T2 DE 69630484T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- reaction
- reaction gas
- ejection head
- gas
- inlet passages
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45512—Premixing before introduction in the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45565—Shower nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/4557—Heated nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/14—Feed and outlet means for the gases; Modifying the flow of the reactive gases
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- Gebiet der Erfindung:
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung, und insbesondere auf einen Reaktionsgasausstoßkopf geeignet zum Abscheiden, in einer Dampf- oder Gasphase eines dünnen Films mit einer hohen dielektrischen Konstante, wie z. B. Barium/Strontiumtitanat und auf eine Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung, die solch einen Reaktionsgasausstoßkopf beinhaltet.
- Beschreibung des Standes der Technik:
- Die letzten Jahre haben wachsende Bemühungen in der Halbleiterindustrie gesehen um den Integrationsgrad von integrierten Schaltungen zu erhöhen. Solche Anstrengungen richten sich unter anderem auf die Forschung und Entwicklung von DRAMs (dynamic random-access memories) im Bereich von gegenwärtigen Megabitspeicherfähigkeiten bis zu zukünftigen Gigabitspeicherfähigkeiten. Um solche DRAMs herzustellen ist es nötig, Vorrichtungen mit großen Speicherfähigkeiten auf kleinen Flächen vorzusehen. Gemäß einem Ansatz um dielektrische Dünnfilme zur Verwendung in solchen Vorrichtungen mit großer Speicherfähigkeit zu erzeugen, haben Forscher ihre Aufmerksamkeit von Siliziumoxidfilmen und Siliziumnitridfilmen, deren Dielektrizitätskonstanten
10 oder weniger betragen, auf vielversprechendere Dünnfilmmetalloxidmaterialien verschoben, und zwar inklusive Tantalpentoxid (Ta2O5) dessen Dielektrizitätskonstante ungefähr bei 20 liegt, sowie Bariumtitanat (BaTiO3), Strontiumtitanat (SrTiO3) und deren Mischung aus Barium/Strontiumtitanat, deren Dielektrizitätskonstanten bei um die 300 liegt. - Zur Abscheidung eines Dünnfilms eines solchen Metalloxids in einer Dampf- oder Gasphase wird ein Gas aus einer oder mehreren organischen Metallverbindungen und ein Sauerstoff enthaltendes Gas miteinander vermischt und in Richtung eines Substrates ausgestoßen, das auf eine bestimmte Temperatur erhitzt wurde. Im Allgemeinen ist der Temperaturbereich zur Verzögerung der Reaktion der Mischung eines Gases aus einer organischen Metallverbindung und einem Sauerstoff enthaltendem Gas so eng, dass die Mischung dazu tendiert zu früh bzw. vorzeitig zu reagieren, und zwar wenn die Mischung Temperaturunregelmäßigkeiten während des Zuführens zu dem Substrat erfährt. Daher wird bevorzugterweise eine Einlassleitung bzw. -rohr zum Zuführen des organischen Metallverbindungsgases und eine Einlasszuleitung zum separaten Zuführen des Sauerstoff enthaltenden Gases in die Umgebung des Substrats positioniert, so dass die Gase zu- bzw. eingeführt durch diese Einlassleitungen, schnell miteinander gleichförmig vermischt werden können, um einen dünnen Film aus Metalloxid auf dem Substrat abzuscheiden.
- Herkömmliche Vorrichtungen zum separaten Ausstoßen der Gase in der Nähe des Substrates sind in den japanischen Veröffentlichungspatentschriften Nummern 5-299351 und 6-10138 zum Beispiel offenbart. In der Vorrichtung, die in der erstgenannten Veröffentlichung offenbart ist, werden das Materialgas und das Sauerstoff enthaltende Gas entlang eines Zwischenwandraumes und eines inneren Raumes eines doppelwandigen Hornes in eine Region geleitet, wo sie in der Nähe des Substrates zusammengemischt werden. Die Vorrichtung, die in der zuletzt genannten Veröffentlichung gezeigt ist, führt das Materialgas und das Sauerstoff enthaltende Gas in eine konusförmige Düse tangential in einen Querschnitt der Düse ein, um turbulente Vortexströmungen der Gase zu generieren.
- In beiden herkömmlichen Vorrichtungen wird das Materialgas und das Sauerstoff enthaltende Gas in einer Reaktionskammer zusammengemischt und reagieren daher nicht miteinander in den Gaseinlassdurchlässen und formen keine Reaktionsprodukte in den Gaseinlassdurchlässen. Die offenbarten Vorrichtungen besitzen jedoch die folgenden Nachteile:
- In der Vorrichtung, die in der japanischen Patentveröffentlichungsschrift Nr. 5-299351 offenbart ist, werden die Gase miteinander an einer Position nahe zu dem Substrat vermischt, und bilden daher keine Reaktionsprodukte während sie zu dem Substrat hingeführt werden. Der Vorrichtung mangelt es jedoch daran, eine gleichförmige Abwärtsströmung vorzusehen, die nötig ist, um einen Dünnfilm über eine breite Substratfläche abzuscheiden und ist relativ groß von der Größe her, da der Aufbau der Vorrichtung hoch genug sein muss, um das doppelwandige Horn aufzunehmen.
- In der Vorrichtung, die in der japanischen Patentveröffentlichungsschrift Nr. 6-10138 offenbart ist, können die Gase nicht ausreichend miteinander vermischt werden, und zwar obwohl sie als die turbulenten Vortexströmungen zugeführt werden. Die Position, wo die Gase miteinander vermischt werden, befindet sich in erheblichem Maße stromaufwärts von dem Substrat. Daher tendieren die Gase dazu miteinander zu reagieren und Reaktionsprodukte zu erzeugen bevor sie das Substrat erreichen, was zu einer geringen Qualität des Filmes, der auf dem Substrat geformt wird, führt.
- Die herkömmlichen Vorrichtungskonfigurationen sind insbesondere nicht in der Lage neuere Anforderungen zur höheren Produktivität zu erfüllen, die durch erhöhte Substratabmessungen und Rotieren des Substrats mit hoher Geschwindigkeit während des Dampfabscheidungsprozesses erreicht werden können.
- Die japanische Patentzusammenfassung Band 9, Nr. 145 (C-287) vom 20. Juni 1985 offenbart eine chemische Reaktionsvorrichtung, die einen Reaktor bzw. Reaktionskammer aufweist, in dem ein Substrat und ein trichterförmiger Gasmischer angeordnet sind. Gaseinlässe sind mit dem trichterförmigen Gasmischer verbunden, der sich in Richtung des Substrats erstreckt.
- Weiterhin offenbart die japanische Patentzusammenfassung Band 14, Nr. 57 (C-0684) der
JP 01 283 375 - Die japanische Patentzusammenfassung Band 11, Nr. 396 (E-568) der
JP 62 158 317 - Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Reaktionsgasausstoßkopf wie er in Anspruch 1 beschrieben ist, vorgesehen. Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung werden in den Unteransprüchen offenbart.
- ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
- Es ist daher ein Ziel der vorliegenden Erfindung einen Reaktionsgasausstoßkopf vorzusehen der in der Lage ist, ein gemischtes Gas mit gleichförmiger Konzentration und Zusammensetzung in Richtung eines Substrats mit einer gesteuerten Strömungsrate bzw. -geschwindigkeit und in eine gesteuerte Richtung auszustoßen.
- Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung ist es, eine Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung vorzusehen, die solch einen Reaktionsgasaustoßkopf beinhaltet.
- Gemäß der vorliegenden Anmeldung wird ein Reaktionsgasausstoßkopf zur Verwendung in einer Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung vorgesehen, der Folgendes aufweist: zumindest zwei Reaktionsgaseinlassdurchlässe zum Einführen von Reaktionsgasen, eine Gasmischkammer zum Mischen der Reaktionsgase, die von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen eingeführt werden und eine Düse, die stromabwärts bezüglich der Gasmischkammer angeordnet ist, zum Richten bzw. Gleichrichten der gemischten Gase von der Gasmischkammer in eine gleichförmige Strömung und zum Anlegen der gleichförmigen Strömung an ein Substrat. Die Reaktionsgase, die durch die Reaktionsgaseinlassdurchlässe eingeführt werden, werden miteinander in der Gasmischkammer vermischt und von der Düse an das Substrat angelegt. Da die Reaktionsgase, d. h. ein Materialgas und ein Oxidationsmittelgas miteinander aktiv (forcibly) in der Gasmischkammer vermischt werden, hat die Mischung der Gase eine gleichförmige Konzentration und Zusammensetzung. Die Gasmischkammer ist nahe an der Düse angeordnet. Daher wird jegliche Reaktion zwischen den Gasen, bevor sie das Substrat erreichen, minimiert und der abgeschiedene Film ist frei von unerwünschten Kontaminierungen. Der abgeschiedene Film ist daher hochgradig zuverlässig. Die Düse weist einen verengten Durchlass verbunden mit der Gasmischkammer auf sowie einen Diffuser, der mit dem verengten Durchlass verbunden ist und sich in eine Richtung weg von dem verengten Durchlass ausweitet. Der verengte Durchlass und der Diffuser dienen dazu, die Reaktionsgase in eine gleichförmige Strömung zu richten bzw. gleichzurichten, und zwar zur Steuerung der Richtung und des Druckes hiervon bevor die Reaktionsgase in Richtung des Substrates ausgestoßen werden.
- Die Gasmischkammer hat eine Umlenkoberfläche, die in gegenüberliegender Beziehung zu offenen Enden der Reaktionsgaseinlassdurchlässe positioniert ist zum Umlenken der von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen in die Gasmischkammern eingeführten Reaktionsgase. Die Reaktionsgase, die durch die Reaktionsgaseinlassdurchlässe eingeführt werden, werden durch die Umlenkoberfläche umgelenkt, was turbulente Strömungen erzeugt, die unterstützen, dass die Reaktionsgase gleichförmig miteinander gemischt werden.
- Die Umlenkoberfläche besitzt eine Querschnittsfläche, die in Richtung des verengten Durchlasses progressiv kleiner wird. Die Umlenkoberfläche ist in der Lage progressiv die Reaktionsgase in den verengten Durchlass zu leiten bzw. zu führen, während die turbulenten Strömungen der Reaktionsgase miteinander vermischt werden.
- Die Umlenkoberfläche kann eine konische Oberfläche aufweisen. Die konische Oberfläche erzeugt die turbulenten Strömungen wenn die Reaktionsgase die konische Oberfläche treffen.
- Die Umlenkoberfläche kann eine flache Oberfläche aufweisen. Die flache Oberfläche erzeugt die turbulenten Strömungen, wenn die Reaktionsgase die flache bzw. ebene Oberfläche treffen.
- Die Reaktionsgaseinlassdurchlässe erstrecken sich parallel zueinander. Die Reaktionsgase, die durch die parallelen Reaktionsgaseinlassdurchlässe in die Gasmischkammer eingeführt werden, werden miteinander in der Gasmischkammer vermischt.
- Die Reaktionsgaseinlassdurchlässe erstrecken sich übereinander und zwar in einem vorbestimmten Winkel. Die Reaktionsgase werden von den sich kreuzenden Reaktionsgaseinlassdurchlässen in die Gasmischkammer eingeführt und werden direkt miteinander in der Gasmischkammer vermischt.
- Der Reaktionsgasausstoßkopf weist weiterhin eine Vielzahl von Gasmischkammern zum Mischen der durch die Reaktionsgaseinlassdurchlässe eingeführten Reaktionsgase und eine Vielzahl von Düsen, die den jeweiligen Gasmischkammern zugeordnet sind, auf. Die Reaktionsgase, die in den Gasmischkammern vermischt werden, werden ruhig bzw. glatt an die jeweiligen Düsen geliefert.
- Der Reaktionsgasausstoßkopf weist weiterhin einen einheitlichen Düsenkörper auf, wobei die Gasmischkammer und die Düse in dem einheitlichen Düsenkörper beinhaltet sind. Die Gasmischkammer wird in einer Oberfläche des Düsenkörpers definiert und ein Diffuser der Düse wird in einer gegenüberliegenden Oberfläche der Düse definiert. Die Gasmischkammer und der Diffuser weiten sich progressiv nach außen auf und sind durch einen verengten Durchlass miteinander verbunden. Da der Düsenkörper eine einheitliche Struktur ist, ist die Anzahl der verwendeten Teile relativ gering und der Reaktionsgasausstoßkopf kann einfach zusammengesetzt werden. Der Reaktionsgasausstoßkopf weist weiterhin eine Vielzahl von einheitlichen Düsenkörpern auf, wobei die Gasmischkammer und die Düse in jedem der einheitlichen Düsenkörper beinhaltet sind. Die Reaktionsgase werden durch die Düsen gleichförmig gemischt und strömungsmäßig gerichtet bzw. gleichgerichtet und dann zu dem Substrat, das eine relativ große Fläche besitzen kann, ausgestoßen.
- Der Reaktionsgasaustoßkopf weist weiterhin eine Düsenbasis, wobei die einheitlichen Düsenkörper in der Düsenbasis beinhaltet sind, auf. Da die einheitlichen Düsenkörper in der Düsenbasis beinhaltet sind, ist der Reaktionsgasausstoßkopf vom Aufbau her relativ einfach und kann leicht hergestellt und zusammengesetzt werden.
- Der Reaktionsgasausstoßkopf weist weiterhin eine Verteilerbasis mit Gaseinlassdurchlässen zum Einführen der Reaktionsgase von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen in die Gasmischkammern auf, wobei die Verteilerbasis auf der Düsenbasis in einer laminierten Struktur angebracht ist. Die durch die Reaktionsgaseinlassdurchlässe eingeführten Reaktionsgase werden durch die Gaseinlassdurchlässe in der Verteilerbasis in die Gasmischkammern geliefert. Die Verteilerbasis weist eine Platte auf mit Nuten, die sich entlang einer Oberfläche der Verteilerbasis erstrecken, sowie eine weitere Platte mit Durchlässen, die sich über die Oberfläche der Verteilerbasis hinweg erstrecken, wobei die Nuten und die Durchlässe als die Gaseinlassdurchlässe dienen. Die Gaseinlassdurchlässe können einfach maschinell als die Nuten und die Durchlässe in den Platten hergestellt bzw. gefräst werden.
- Der Reaktionsgasausstoßkopf weist weiterhin ein Wärmemediumdurchlass zum Hindurchleiten eines Wärmemediums zum Halten der Düsen und/oder der Gasmischkammern auf einer vorbestimmten Temperatur im Bereich von z. B. 250°C bis 260°C auf. Die so erhitzten Reaktionsgase werden daran gehindert, miteinander vorzeitig zu reagieren oder zu kondensieren.
- Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ebenfalls eine Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung vorgesehen, die den Reaktionsgasausstoßkopf, der oben beschrieben wurde beinhaltet und Folgendes aufweist: eine Reaktionskammer, wobei die Düsen sich in die Reaktionskammer öffnen und eine Substratstufe bzw. Plattform zum Halten des Substrats in der Reaktionskammer. In der Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung werden die Reaktionsgase, d. h. ein Materialgas und ein Oxidationsmittelgas aktiv miteinander in den Gasmischkammern vermischt, und zwar bevor dem Erreichen der Düsen, und werden dann strömungsmäßig in dem verengten Durchlass und dem Diffuser gerichtet. Die Mischung der Gase, die eine gleichförmige Konzentration und Zusammensetzung besitzt, wird dann mit einem gesteuerten Druck in eine gesteuerte bzw. kontrollierte Richtung in der Richtung des Substrats in der Reaktionskammer ausgestoßen, so dass ein dünner Film bzw. Dünnfilm mit hoher Qualität auf dem Substrat mit einer hohen Ausbeute abgeschieden werden kann.
- Die obigen und andere Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung offensichtlich, wenn diese in Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen gesehen wird, und wobei die Zeichnungen bevorzugte Ausführungsbeispiele als ein Beispiel der vorliegenden Erfindung darstellen.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
-
1 ist eine schematische Ansicht eines senkrechten Querschnitts einer Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung; -
2 ist eine Querschnittsansicht eines Reaktionsgasausstoßkopfes gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung; -
3 ist eine Querschnittsansicht eines Reaktionsgasstoßkopfes gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung; -
4A ist eine Querschnittsansicht eines Reaktionsgasstoßkopfes gemäß eines dritten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Anmeldung; -
4B ist eine Aufsicht einer Umlenkoberfläche einer Düse des Reaktionsgasausstoßkopfes gezeigt in der4A ; -
5 ist eine perspektivische Ansicht einer Querschnittsansicht des Reaktionsgasausstoßkopfes gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; -
6 ist eine Querschnittsansicht entlang der Linie VI-VI der5 ; -
7 ist eine Querschnittsansicht entlang der Linie VII-VII der5 ; -
8A ,8B ,8C und8D sind Bodenansichten, gesehen aus Richtungen, die durch die Pfeile a, b, c und d in der5 angedeutet sind; -
9 ist eine schematische Querschnittsansicht einer Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und -
10 ist eine perspektivische Ansicht einer Querschnittsansicht eines Reaktionsgasausstoßkopfes gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
- Ähnliche oder entsprechende Teile werden mit ähnlichen oder entsprechenden Bezugszeichen in den verschiedenen Ansichten bezeichnet. Wie in der
1 gezeigt ist, hat einen Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung A gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung, die einen Reaktionsgasausstoßkopf beinhaltet, eine Reaktionskammer3 , die zwischen einem Reaktor1 , der die Form eines umgekehrten Bechers besitzt, und einer Trägerbasis2 angeordnet unterhalb des Reaktors1 definiert ist. Die Reaktions kammer3 ist hermetisch abgedichtet und hat einen Abfluss- bzw. Auslassanschluss4 zum Ablassen von erzeugten Gasen aus der Reaktionskammer3 . Der Reaktor1 hat eine Wand mit einem Wärmemediumdurchlass, der hierin zum Zirkulieren eines Wärmemediums definiert ist, um die Reaktorwand und die Reaktionskammer auf einer vorbestimmten Temperatur zu halten. - Ein Reaktionsgasausstoßkopf
5 ist in dem oberen Ende des Reaktors1 angebracht. Die Trägerbasis2 hat eine darin definierte zentrale Öffnung, die einen senkrechten Mantel bzw. Umhüllung6 definiert, der sich nach unten von der Trägerbasis2 aus erstreckt. Eine Substratplattform7 zum Tragen eines Substrats11 hierauf ist senkrecht beweglich in dem senkrechten Mantel6 angeordnet. Das Substrat11 kann in dem und aus dem senkrechten Mantel6 gebracht werden, und zwar durch einen horizontalen Zufuhrweg9 mit einem Tor bzw. Pforte8 mittels eines Roboterarms10 . Die Substratplattform7 kann in dem senkrechten Mantel6 durch einen Betätigungsmechanismus12 , der an dem unteren Ende des senkrechten Mantels6 angebracht ist, angehoben und gesenkt werden. Die Substratplattform7 ist einer Heizung13 zum Heizen des Substrates11 , das auf der Substratplattform7 montiert ist, auf eine vorbestimmte Reaktionstemperatur, zugewiesen. -
2 zeigt einen Reaktionsgasausstoßkopf5 gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung. Der Reaktionsgasausstoßkopf5 hat eine einzelne Gasmischkammer und eine Düse. Insbesondere beinhaltet der Reaktionsgasausstoßkopf5 eine Verteilerbasis22 mit einem Paar von parallelen senkrechten Einlassdurchlässen21a ,21b , die hierin definiert sind zum Einführen von Reaktionsgasen, d. h. einem Materialgas und einem Oxidierungsmittelgas, sowie einem Düsenkörper23 , der an der unteren Oberfläche der Verteilerbasis22 befestigt ist. Die senkrechten Einlassdurchlässe21a ,21b sind mit jeweiligen Reaktionsgaszufuhrleitungen24a ,24b verbunden, die untere Enden besitzen, die in die Verteilerbasis22 eingeführt sind. - Der Düsenkörper
23 hat eine in der oberen Oberfläche hiervon definierte Gasmischkammer26 mit einer konischen Oberfläche (Umlenkoberfläche)25a sowie einen Diffuser27 , der in einer unteren Oberfläche hiervon definiert ist und eine kegelförmige bzw. sich verjüngende Oberfläche besitzt. Die Gasmischkammer26 hat einen Durchmesser oder eine Querschnittsfläche die sich nach oben progressiv erhöht und der Diffuser27 besitzt einen Durchmesser oder eine Querschnittsfläche, der bzw. die sich nach unten progressiv erhöht. Die Gasmischkammer26 und der Diffuser27 sind miteinander durch einen geraden, sich verengenden Durchlass28 verbunden, der senkrecht, zentral in dem Düsenkörper23 definiert ist. Der Diffuser27 und der verengte, gerade Durchlass28 bilden zusammen eine Düse29 . Die Düse29 und die Gasmischkammer26 bilden zusammen den Düsenkörper23 . Die senkrechten Einlassdurchlässe21a ,21b haben jeweilige untere Enden, die sich in die Gasmischkammer26 an Positionen gegenüberstehend der konischen Oberfläche25a öffnen. - Die Reaktionsgase, d. h. das Materialgas und das Oxidationsmittelgas werden von entsprechenden Quellen durch die Gaszufuhrleitungen
24a ,24b und die Einlassdurchlässe21a ,21b eingeführt und mit vorbestimmten Raten bzw. Geschwindigkeiten in die Gasmischkammer26 ausgestoßen. Die ausgestoßenen Gase werden an die konische Oberfläche25a angelegt und durch sie umgelenkt. Das Materialgas weist verdampfte Gase von Lösungen von organischen Metallen auf, unter anderem Ba(DPM)2, Sr(DPM)2, und Ti(i-OC3H7)4, wobei diese mit einem Trägergas aus Ar oder ähnlichem gemischt sind. Das Oxidationsmittelgas weist ein Sauerstoff enthaltendes Gas wie z. B. O2, N2O, H2O auf, oder ein ähnliches, was Ozon (O3) enthält, das durch einen Ozonisierer generiert wird. - Die Reaktionsgase werden durch die konische Umlenkoberfläche
25a in Richtung der Mitte der Gasmischkammer26 umgelenkt, was turbulente Strömungen erzeugt, die sich miteinander verbinden und gleichförmig miteinander in dem zentralen Bereich der Gasmischkammer26 vermischt werden. Die Reaktionsgase werden dann von der Gasmischkammer26 durch den verengten Durchlass28 in den Diffuser27 geführt. Die Reaktionsgase werden strömungsmäßig gerichtet bzw. ausgerichtet durch den verengten Durchlass28 und den Diffuser27 und dann in die Reaktionskammer3 mit einer vorbestimmten Rate ausgestoßen. In der Reaktionskammer3 reagieren das Materialgas und das Oxidationsmittelgas miteinander und bilden Metalloxidmoleküle aus Bariumtitanat oder Strontiumtitanat, die abgeschieden werden um einen dünnen Film aus Metalloxid auf dem Substrat11 , was ein Halbleiterwafer sein kann, zu bilden. Die Gase, die nach der Reaktion verbleiben, und überschüssige Gase, werden von der Reaktionskammer3 durch den Auslassanschluss4 abgelassen. - Die Reaktionsgase, die von dem Reaktionsgasausstoßkopf
5 ausgestoßen werden, wurden bereits aktiv miteinander in der Gasmischkammer26 vermischt und wurden durch die Düse29 strömungsmäßig gerichtet und dann als gleichförmige nach unten gerichtete Strömung auf das Substrat11 auf der Substratplattform7 angeregt. Dies erlaubt es, einen dünnen Film von hoher Qualität, der frei von Kontaminierung ist, mit einer hohen Rate auf dem Substrat11 abzuscheiden. Die konische Umlenkoberfläche25a kann leicht maschinell in dem Düsenkörper23 ausgebildet werden und ist in ausreichendem Maß in der Lage, aktiv die Reaktionsgase miteinander in der Gasmischkammer26 zu mischen. -
3 zeigt einen Reaktionsgasausstoßkopf5 gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung. Der Reaktionsgasausstoßkopf, gezeigt in der3 , hat eine Gasmischkammer26 mit einer unterschiedlichen Form. Insbesondere hat die Gasmischkammer26 eine teilweise kugelförmige Oberfläche25b als Umlenkoberfläche, deren Durchmesser nach oben progressiv zunimmt. -
4A und4B zeigen einen Reaktionsgasausstoßkopf5 gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung. Der Reaktionsgasausstoßkopf, gezeigt in der4 hat eine Gasmischkammer26 mit einer unterschiedlichen Form. Insbesondere hat die Gasmischkammer26 eine abgeschnittene Pyramidenform und flache bzw. ebene Umlenkoberflächen25c , die sich nach oben hin ausweiten. - Die Gasmischkammer gemäß der vorliegenden Erfindung kann jegliche verschiedene Formen und Größen besitzen, die in Abhängigkeit von Bedingungen, gemäß derer die Reaktionsgase in die Reaktionskammer
3 ausgestoßen werden sollen, ausgewählt werden. -
5 bis8A –8D zeigen einen Reaktionsgasausstoßkopf5 gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Der Reaktionsgasausstoßkopf5 beinhaltet eine Düsenbasis37 , die eine Vielzahl von Düsenkörpern 42 zum Anlegen von gleichförmigen Gasströmungen bzw. Strömen auf ein Substrat11 , das eine relativ große Größe besitzt, hat. Wie in der6 gezeigt beinhaltet der Reaktionsgasausstoßkopf5 ebenfalls eine Verteilerbasis34 , die erste, zweite und dritte Platten31 ,32 ,33 angebracht an der Düsenbasis37 besitzt, und zwar zum Verteilen von Reaktionsgasen in die Gasmischkammer. Die Düsenbasis37 ist an einer unteren Oberfläche der untersten dritten Platte33 angebracht. Die Düsenkörper42 sind in einem gleichmäßigen horizontalen, zweidimensionalen Muster in der Düsenbasis37 angeordnet und weisen jeweils eine Gasmischkammer35 und einen Düse36 auf. - Die Gasmischkammer
35 und die Düse36 eines jeden der Düsenkörper42 sind im Aufbau identisch zu den in der2 gezeigten. In dem ersten Ausführungsbeispiel ist die Düsenbasis37 direkt maschinell hergestellt, um die Gasmischkammern35 und die Düsen36 zu schaffen. Jedoch kann eine Vielzahl von separaten Einheiten jeweils mit einer Gasmischkammer35 und einer Düse36 in der Düsenbasis37 zusammengesetzt werden. - Die erste Platte
31 hat hierin definierte Verteilerdurchlässe38 zum Einführen eines Oxidationsmittelgases von einer Gaszufuhrleitung24a (siehe auch7 ), und zwar zu Positionen entsprechend der jeweiligen Gasmischkammern35 . Die zweite Platte32 hat darin definierte Verteilerdurchlässe39 zum Einführen eines Materialgases von einer Gaszufuhrleitung24b zu Positionen bzw. Stellen entsprechend den jeweiligen Gasmischkammern35 . Die dritte Platte33 hat Durchgangslöcher40 ,41 , die als Einlassdurchlässe hierin defi niert sind, die die Verteilerdurchlässe38 ,39 mit den Gasmischkammern35 verbinden. Die ersten, zweiten und dritten Platten31 ,32 ,33 werden als eine laminierte Struktur bzw. Aufbau an der Düsenbasis37 angebracht. Jeder der Verteilerdurchlässe38 ,39 in den ersten und zweiten Platten31 ,32 ist als eine nach unten geöffnete Nut mit einem rechteckigen Querschnitt definiert. Die unteren Öffnungen der Verteilerdurchlässe38 ,39 werden mit den zweiten und dritten Platten32 ,33 abgedeckt mit Ausnahme der Durchgangslöcher40 ,41 , die mit den unteren Öffnungen der Verteilerdurchlässe38 ,39 verbunden sind, wodurch damit die Einlassdurchlässe vorgesehen sind. -
8A bis8D stellen horizontale zweidimensionale Muster der Verteilerdurchlässe38 ,39 , der Durchgangslöcher40 ,41 , der Gasmischkammern35 und der Düsen36 dar. Wie in den8A und8B gezeigt, sind die Verteilerdurchlässe38 ,39 verzweigt, und zwar von den Kreuzungsanschlüssen (junction ports) verbunden mit den Gaszufuhrleitungen24a ,24b . Die Verteilerdurchlässe38 ,39 erstrecken sich in Mustern entsprechend den Düsen36 und den Gasmischkammern35 in der Düsenbasis37 und können sich in beliebige verschiedene Muster verzweigen, insofern als sie den Düsen36 und den Gasmischkammern35 entsprechen. Die Position und Anzahl der Kreuzungsanschlüsse, die mit den Gaszufuhrleitungen24A ,24B verbunden sind, können je nach Wunsch ausgewählt werden. Die ersten, zweiten und dritten Platten31 ,32 ,33 können miteinander durch Schweißen, Pressen, Bolzenbefestigung, Verkleben oder Ähnlichem verbunden werden. - In dem Reaktionsgasausstoßkopf
5 gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel werden die Material- und Oxidationsmittelgase, geliefert durch die Gaszufuhrleitungen24a ,24b , durch die Verteilerdurchlässe38 ,39 und die Durchgangslöcher40 ,41 in die Gasmischkammern35 eingeführt, in denen die Material- und Oxidationsmittelgase vermischt werden. Die Reaktionsgase werden dann strömungstechnisch gerichtet, und zwar durch die verengten Durchlässe43 und Diffuser44 der Düsen36 , und werden dann von dem Reaktionsgasausstoßkopf5 in die Reaktionskammer ausgestoßen. - Gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel können die Düsen
36 , da sie gleichmäßig in der Düsenbasis37 verteilt sind, gesteuerte Gasströmungen in einem weiten räumlichen Bereich auf das Substrat11 anlegen um hierdurch einen dünnen Film auf dem Substrat11 mit hoher Geschwindigkeit und einer hohen Ausbeute anzulegen. - Weiterhin werden die Einlassdurchlässe zum Einführen der Reaktionsgase durch die Nuten in den Platten und durch die Durchgangslöcher in den Platten vorgesehen. Daher kann ein komplexes Muster solcher Einlassdurchlässe auf relativ einfach Weise maschinell in den Platten erzeugt werden. Während die zwei Reaktionsgase, d. h. das Materialgas und das Oxidierungsmittelgas in dem Reaktionsgasausstoßkopf gemäß dem vierten Ausführungsbeispiel verwendet werden, benötigt der Reaktionsgasausstoßkopf drei oder mehrere Gruppen von Verteilerdurchlässen und somit Platten, wenn eine Vielzahl von Materialgasen verwendet wird.
-
9 und10 zeigen eine Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Die Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung gemäß dem anderen Ausführungsbeispiel hat ein Wärmemediumdurchlass51 (siehe10 ), definiert in einem Reaktionsgasausstoßkopf5 , um den Reaktionsgasausstoßkopf5 auf einer konstanten Temperatur zu halten. Insbesondere beinhaltet der Reaktionsgasausstoßkopf5 eine Düsenbasis52 mit einer oberen Platte54 inklusive einer Seitenwand53 , einer unteren Platte55 und einer Vielzahl von Düsenkörpern56 , die in den oberen und unteren Platten54 ,55 eingebaut und hierzwischen angeordnet sind. Jeder der Düsenkörper56 weist einen zylindrischen Körper mit einer Gasmischkammer57 , einem verengten Durchlass58 und einem Diffuser59 auf. Der zylindrische Körper einer jeden der Düsenkörper56 hat einen oberen Flansch bzw. Vorsprung60 , der gegen die obere Platte54 gehalten wird und einen unteren Flansch61 , der gegen die untere Platte55 gehalten wird. Die oberen und unteren Platten54 ,55 sind senkrecht voneinander beabstandet und definieren den Wärmemediumdurchlass51 , wozwischen die Düsenkörper56 aufgenommen sind. Der Wärmemediumdurchlass51 wird mit einem Wär me- bzw. Heizmedium versorgt, und zwar von einer Wärmemediumquelle, die durch eine Wärmemediumleitung62 (siehe9 ) verbunden ist. - Wie in der
9 gezeigt, wird das Wärmemedium ebenfalls durch die Wärmemediumleitung62 zu Wärmemediumdurchlässen, definiert in dem Reaktor1 , der Trägerbasis2 und dem Mantel6 , der die Reaktionskammer3 umgibt, zugeführt. Ein Teil des Wärmemediums, das durch die Wärmemediumleitung62 zugeführt wird, wird ebenfalls dem Reaktionsgasausstoßkopf5 zugeführt. Die Wärmemediumleitung62 wird mit einer Heizung63 zum Heizen des Wärmemediums auf eine vorbestimmte Temperatur und mit einem Extrahierer64 , wie z. B. einer Pumpe zum Extrahieren des Wärmemediums von den Wärmemediumdurchlässen, definiert in dem Reaktor1 der Trägerbasis2 und der Mantelung6 , kombiniert. - Wie in der
10 gezeigt, hat die Reaktion des Gasausstoßkopfes5 erste, zweite und dritte Platten31 ,32 ,33 , die identisch vom Aufbau her mit denen, gezeigt in der6 sind. - Mit der Anordnung der vorliegenden Erfindung kann, da das Materialgas und das Oxidierungsmittelgas aktiv miteinander in den Gasmischkammern vermischt wird, um die Konzentration und Zusammensetzung der gemischten Gase gleichförmig auszubilden, und dann die Gase strömungsmäßig durch die Düse ausgerichtet und auf das Substrat ausgestoßen werden, jede Reaktion zwischen den Gasen bevor sie das Substrat erreichen, minimiert werden und der abgeschiedene Film ist so frei von unerwünschten Kontaminationen. Der abgeschiedene Film ist daher hochgradig zuverlässig. Der Reaktionsgasaussstoßkopf kann Gasströmungen unter einem gesteuerten Druck in eine gesteuerte Richtung erzeugen, und zwar solche, die für die Größe des Substrats und die Materialien des Films, der auf dem Substrat abgelagert werden soll, geeignet sind. Da der Düsenkörper eine einheitliche Struktur mit einer integralen Anordnung der Düsen und der Gasmischkammern beinhaltet, hat er einen einfachen Aufbau und eine kompakte Größe zum Beschleunigen des Mischens der Gase und reduziert wirksam die Kosten des Reaktionsgasaus stoßkopfes und somit auch die Kosten der Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung. In dem Fall, in dem die Düsenbasis eine Vielzahl von Düsen aufweist, kann der Reaktionsgasausstoßkopf eine gleichförmige Abwärtsströmung von Gasen kreieren, die senkrecht auf das Substrat über eine breite Substratoberfläche angelegt wird. Im Ergebnis ist es möglich, dünne Filme auf Substraten oder Halbleiterwafern mit großen Abmessungen abzuscheiden und die Produktionseffizienz und Ausbeute kann erhöht werden. Da der Wärmemediumdurchlass zum Heizen der Düsenbasis einen einfachen Aufbau besitzt, der einfach in dem Reaktionsgasausstoßkopf integriert werden kann, kann die Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung die dielektrischen Dünnfilme mit einer hohen Dielektrizitätskonstante erzeugen, was verlangt, dass die Reaktionsgase stabil hinsichtlich der Temperatur sind.
- Obwohl bestimmte bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung gezeigt wurden und im Detail beschrieben wurden ist anzuerkennen, dass verschiedene Veränderungen und Modifikationen durchgeführt werden 15118 können.
Claims (15)
- Ein Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) zur Verwendung bei einer Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung, der folgendes aufweist: mindestens zwei Reaktionsgaseinlassdurchlässe (38 ,39 ) zum Einführen von Reaktionsgasen; eine Vielzahl von Gasmischkammern (35 ) zum Mischen von Reaktionsgasen die von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen eingeführt wurden; und eine Vielzahl von Düsen, wobei jede der Düsen (36 ) stromabwärts bezüglich jeder der Gasmischkammern (35 ) angeordnet ist zum Richten bzw. Gleichrichten der gemischten Gase von den Gasmischkammern in eine gleichförmige Strömung und zum Anlegen der gleichförmigen Strömung auf ein Substrat (11 ). - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 1, wobei jede der Düsen (36 ) folgendes aufweist: einen verengten Durchlass (43 ), der mit der Gasmischkammer (35 ) verbunden ist; und einen Diffusor (44 ), der mit dem verengten Durchlass (43 ) verbunden ist und sich in einer Richtung weg von dem verengten Durchlass ausweitet. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 2, wobei jede der Gasmischkammern (35 ) eine Umlenkoberfläche besitzt, die in gegenüberliegender Beziehung zu offenen Enden der Reaktionsgaseinlassdurchlässe positioniert ist zum Umlenken des von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen in die Gasmischkammer eingeführten Reaktionsgasen. - Reaktionsgasausstopfkopf (
5 ) nach Anspruch 3, wobei die Umlenkoberfläche eine Querschnittsfläche besitzt, die zu dem verengten Durchlass progressiv kleiner wird. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 3, wobei die Umlenkoberfläche eine konische Oberfläche aufweist. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 3, wobei die Umlenkfläche eine flache Oberfläche aufweist. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 1, wobei die Reaktionsgaseinlassdurchlässe parallel zueinander ausgerichtet sind. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 1, wobei die Reaktionsgaseinlassdurchlässe zueinander ausgerichtet sind, und zwar so dass sie sich in einem vorbestimmten Winkel überlagern. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 1, der ferner einen einheitlichen Düsenkörper42 aufweist, wobei die Gasmischkammern und die Düsen in dem einheitlichen Düsenkörper beinhaltet sind. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 9, der ferner eine Vielzahl von einheitlichen Düsenkörpern aufweist, wobei die Gasmischkammern und die Düsen in jedem der einheitlichen Düsenkörper beinhaltet sind. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 10, der ferner eine Düsenbasis aufweist, wobei die einheitlichen Düsenkörper in der Düsenbasis (37 ) beinhaltet sind. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 11, der ferner eine Verteilerbasis (34 ) mit Gaseinlassdurchlässen zum Einführen der Reaktionsgase von den Reaktionsgaseinlassdurchlässen in die Gasmischkammern aufweist, wobei die Verteilerbasis an der Düsenbasis in einer laminierten Struktur angebracht ist. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 12, wobei die Verteilerbasis eine Platte aufweist mit Nuten die sich entlang einer Oberfläche der Vertei lerbasis (34 ) erstrecken, sowie einer weiteren Platte mit Durchlässen, die sich über die Oberfläche der Verteilerbasis hinweg erstrecken, wobei die Nuten und die Durchlässe als die Gaseinlassdurchlässe dienen. - Reaktionsgasausstoßkopf (
5 ) nach Anspruch 1, der ferner einen Wärmemediumdurchlass aufweist, zum Hindurchleiten eines Wärmemediums zum Halten der Düsen und/oder der Gasmischkammern auf einer vorbestimmten Temperatur. - Dünnfilmdampfabscheidungsvorrichtung, die einen Reaktionsgasausstoßkopf nach einem der Ansprüche 1 bis 14 und zusätzlich folgendes aufweist: eine Reaktionskammer, wobei sich die Düsen in die Reaktionskammer öffnen, und eine Substratstufe bzw. Plattform zum Halten des Substrats in der Reaktionskammer.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16804095A JP3380091B2 (ja) | 1995-06-09 | 1995-06-09 | 反応ガス噴射ヘッド及び薄膜気相成長装置 |
JP16804095 | 1995-06-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69630484D1 DE69630484D1 (de) | 2003-12-04 |
DE69630484T2 true DE69630484T2 (de) | 2004-08-19 |
Family
ID=15860709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69630484T Expired - Fee Related DE69630484T2 (de) | 1995-06-09 | 1996-06-07 | Reaktivgasinjektor für Vorrichtung zur chemischen Gasphasenabscheidung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5728223A (de) |
EP (1) | EP0747503B1 (de) |
JP (1) | JP3380091B2 (de) |
KR (1) | KR100427426B1 (de) |
DE (1) | DE69630484T2 (de) |
TW (1) | TW301014B (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006043543A1 (de) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Innovent E.V. | Homogenisator für der Beschichtung von Oberflächen dienende Gasströme |
DE102006043542A1 (de) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Innovent E.V. | Verfahren zum Beschichten von Oberflächen |
WO2008148773A1 (de) | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Aixtron Ag | Aus einer vielzahl diffusionsverschweisster scheiben bestehender gasverteiler und ein verfahren zur fertigung eines solchen gasverteilers |
WO2018166802A3 (de) * | 2017-03-14 | 2019-01-17 | Schunk Kohlenstofftechnik Gmbh | Beschichtetes produkt und verfahren zur herstellung |
Families Citing this family (436)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW331652B (en) * | 1995-06-16 | 1998-05-11 | Ebara Corp | Thin film vapor deposition apparatus |
KR100492258B1 (ko) * | 1996-10-11 | 2005-09-02 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 반응가스분출헤드 |
TW415970B (en) * | 1997-01-08 | 2000-12-21 | Ebara Corp | Vapor-phase film growth apparatus and gas ejection head |
US6024799A (en) * | 1997-07-11 | 2000-02-15 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition manifold |
US6176929B1 (en) * | 1997-07-22 | 2001-01-23 | Ebara Corporation | Thin-film deposition apparatus |
KR100328820B1 (ko) * | 1999-02-25 | 2002-03-14 | 박종섭 | 화학기상증착 장비의 가스분사장치 |
DE19921744B4 (de) * | 1999-05-11 | 2008-04-30 | Applied Materials Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Transport von mindestens einer dampfförmigen Substanz durch die Wand einer Vakuumkammer in die Vakuumkammer sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens und deren Verwendung |
US6565661B1 (en) * | 1999-06-04 | 2003-05-20 | Simplus Systems Corporation | High flow conductance and high thermal conductance showerhead system and method |
US6206972B1 (en) * | 1999-07-08 | 2001-03-27 | Genus, Inc. | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
WO2001075188A2 (en) * | 2000-03-30 | 2001-10-11 | Tokyo Electron Limited | Method of and apparatus for gas injection |
US6641673B2 (en) * | 2000-12-20 | 2003-11-04 | General Electric Company | Fluid injector for and method of prolonged delivery and distribution of reagents into plasma |
JP4236882B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2009-03-11 | 東京エレクトロン株式会社 | ガス処理装置およびガス処理方法 |
JP3886424B2 (ja) * | 2001-08-28 | 2007-02-28 | 鹿児島日本電気株式会社 | 基板処理装置及び方法 |
US20030047282A1 (en) * | 2001-09-10 | 2003-03-13 | Yasumi Sago | Surface processing apparatus |
US7204886B2 (en) | 2002-11-14 | 2007-04-17 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for hybrid chemical processing |
KR100438491B1 (ko) * | 2001-11-16 | 2004-07-03 | 주식회사 유진테크 | 박막 제조용 화학기상증착 장치 |
US6933010B2 (en) * | 2001-12-03 | 2005-08-23 | Ulvac, Inc | Mixer, and device and method for manufacturing thin-film |
US6793733B2 (en) * | 2002-01-25 | 2004-09-21 | Applied Materials Inc. | Gas distribution showerhead |
US20040060514A1 (en) * | 2002-01-25 | 2004-04-01 | Applied Materials, Inc. A Delaware Corporation | Gas distribution showerhead |
US7008484B2 (en) * | 2002-05-06 | 2006-03-07 | Applied Materials Inc. | Method and apparatus for deposition of low dielectric constant materials |
JP2003324072A (ja) * | 2002-05-07 | 2003-11-14 | Nec Electronics Corp | 半導体製造装置 |
KR100889758B1 (ko) * | 2002-09-03 | 2009-03-20 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기박막 형성장치의 가열용기 |
US7141483B2 (en) * | 2002-09-19 | 2006-11-28 | Applied Materials, Inc. | Nitrous oxide anneal of TEOS/ozone CVD for improved gapfill |
US7335609B2 (en) * | 2004-08-27 | 2008-02-26 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions introducing hydroxyl-containing precursors in the formation of silicon containing dielectric materials |
US7431967B2 (en) * | 2002-09-19 | 2008-10-07 | Applied Materials, Inc. | Limited thermal budget formation of PMD layers |
US20070212850A1 (en) * | 2002-09-19 | 2007-09-13 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions in the formation of silicon containing dielectric materials |
US7456116B2 (en) | 2002-09-19 | 2008-11-25 | Applied Materials, Inc. | Gap-fill depositions in the formation of silicon containing dielectric materials |
US7018940B2 (en) * | 2002-12-30 | 2006-03-28 | Genus, Inc. | Method and apparatus for providing uniform gas delivery to substrates in CVD and PECVD processes |
KR100509231B1 (ko) * | 2003-01-03 | 2005-08-22 | 주식회사 아이피에스 | 박막증착용 반응용기 |
US7654975B2 (en) * | 2003-04-24 | 2010-02-02 | Northgate Technologies, Inc. | Mixed-gas insufflation system |
KR100626366B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 기상 증착 시스템 |
KR100541050B1 (ko) * | 2003-07-22 | 2006-01-11 | 삼성전자주식회사 | 가스공급장치 및 이를 이용한 반도체소자 제조설비 |
US8152922B2 (en) | 2003-08-29 | 2012-04-10 | Asm America, Inc. | Gas mixer and manifold assembly for ALD reactor |
WO2005035035A1 (en) * | 2003-10-07 | 2005-04-21 | Northgate Technologies Inc. | System and method for delivering a substance to a body cavity |
EP1680173B1 (de) * | 2003-10-31 | 2011-01-12 | Trudell Medical International | System zur manipulierung eines katheters für die ablage einer substanz in einer körperhöhle |
US20050098106A1 (en) * | 2003-11-12 | 2005-05-12 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for improved electrode plate |
US20050147763A1 (en) * | 2003-12-24 | 2005-07-07 | Macronix International Co., Ltd. | Method and apparatus for uniform deposition onto semiconductor wafers |
US20050223986A1 (en) * | 2004-04-12 | 2005-10-13 | Choi Soo Y | Gas diffusion shower head design for large area plasma enhanced chemical vapor deposition |
US7712434B2 (en) * | 2004-04-30 | 2010-05-11 | Lam Research Corporation | Apparatus including showerhead electrode and heater for plasma processing |
US7642171B2 (en) * | 2004-08-04 | 2010-01-05 | Applied Materials, Inc. | Multi-step anneal of thin films for film densification and improved gap-fill |
US20070212847A1 (en) * | 2004-08-04 | 2007-09-13 | Applied Materials, Inc. | Multi-step anneal of thin films for film densification and improved gap-fill |
US7429410B2 (en) * | 2004-09-20 | 2008-09-30 | Applied Materials, Inc. | Diffuser gravity support |
JP2006179770A (ja) * | 2004-12-24 | 2006-07-06 | Watanabe Shoko:Kk | 基板表面処理装置 |
US8298336B2 (en) * | 2005-04-01 | 2012-10-30 | Lam Research Corporation | High strip rate downstream chamber |
KR101153161B1 (ko) * | 2005-04-01 | 2012-06-18 | 주성엔지니어링(주) | 가스분사장치 및 이를 포함하는 액정표시소자의 제조장치 |
KR100599056B1 (ko) * | 2005-07-21 | 2006-07-12 | 삼성전자주식회사 | 포토레지스트 제거 장치 및 방법 |
KR100663369B1 (ko) * | 2005-07-22 | 2007-01-02 | 삼성전자주식회사 | 혼합가스공급유로 및 이를 갖는 반도체 소자 제조용확산설비 |
JP5280861B2 (ja) * | 2006-01-19 | 2013-09-04 | エーエスエム アメリカ インコーポレイテッド | 高温aldインレットマニホールド |
JP2009545417A (ja) * | 2006-08-04 | 2009-12-24 | ノースゲート テクノロジーズ インコーポレイテッド | 体内へアクセスするための留置ポート |
US8702866B2 (en) * | 2006-12-18 | 2014-04-22 | Lam Research Corporation | Showerhead electrode assembly with gas flow modification for extended electrode life |
ES2331489T3 (es) * | 2007-03-05 | 2010-01-05 | Applied Materials, Inc. | Instalacion de revestimiento y sistema de conduccion de gas. |
CN101647103B (zh) * | 2007-03-27 | 2012-05-23 | 佳能安内华股份有限公司 | 真空处理装置 |
US20090095222A1 (en) * | 2007-10-16 | 2009-04-16 | Alexander Tam | Multi-gas spiral channel showerhead |
TW200923125A (en) * | 2007-11-23 | 2009-06-01 | Applied Materials Inc | Coating device and method of producing an electrode assembly |
US7744720B2 (en) * | 2007-12-06 | 2010-06-29 | Tokyo Electron Limited | Suppressor of hollow cathode discharge in a shower head fluid distribution system |
US8137463B2 (en) * | 2007-12-19 | 2012-03-20 | Applied Materials, Inc. | Dual zone gas injection nozzle |
US8409459B2 (en) * | 2008-02-28 | 2013-04-02 | Tokyo Electron Limited | Hollow cathode device and method for using the device to control the uniformity of a plasma process |
JP5231117B2 (ja) * | 2008-07-24 | 2013-07-10 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 成膜装置および成膜方法 |
US10378106B2 (en) | 2008-11-14 | 2019-08-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming insulation film by modified PEALD |
US20100139562A1 (en) * | 2008-12-10 | 2010-06-10 | Jusung Engineering Co., Ltd. | Substrate treatment apparatus |
US8931431B2 (en) * | 2009-03-25 | 2015-01-13 | The Regents Of The University Of Michigan | Nozzle geometry for organic vapor jet printing |
US9394608B2 (en) | 2009-04-06 | 2016-07-19 | Asm America, Inc. | Semiconductor processing reactor and components thereof |
KR100944186B1 (ko) * | 2009-07-14 | 2010-02-24 | 주식회사 시스넥스 | 화학기상증착 반응기의 가스분사장치 |
US8802201B2 (en) | 2009-08-14 | 2014-08-12 | Asm America, Inc. | Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species |
WO2011044451A2 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Applied Materials, Inc. | Multi-gas centrally cooled showerhead design |
KR101084234B1 (ko) | 2009-11-30 | 2011-11-16 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 증착원, 이를 구비하는 증착 장치 및 박막 형성 방법 |
ATE551439T1 (de) * | 2010-02-08 | 2012-04-15 | Roth & Rau Ag | PARALLELER PLATTENREAKTOR ZUR GLEICHMÄßIGEN DÜNNFILMABLAGERUNG MIT REDUZIERTER WERKZEUGAUFSTELLFLÄCHE |
US8845806B2 (en) | 2010-10-22 | 2014-09-30 | Asm Japan K.K. | Shower plate having different aperture dimensions and/or distributions |
US9312155B2 (en) | 2011-06-06 | 2016-04-12 | Asm Japan K.K. | High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules |
JP5095843B1 (ja) * | 2011-06-09 | 2012-12-12 | シャープ株式会社 | シャワープレートの製造方法、シャワープレート及びこれを用いた気相成長装置 |
US9793148B2 (en) | 2011-06-22 | 2017-10-17 | Asm Japan K.K. | Method for positioning wafers in multiple wafer transport |
US10364496B2 (en) | 2011-06-27 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Dual section module having shared and unshared mass flow controllers |
US10854498B2 (en) | 2011-07-15 | 2020-12-01 | Asm Ip Holding B.V. | Wafer-supporting device and method for producing same |
US20130023129A1 (en) | 2011-07-20 | 2013-01-24 | Asm America, Inc. | Pressure transmitter for a semiconductor processing environment |
US9109754B2 (en) * | 2011-10-19 | 2015-08-18 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for providing uniform flow of gas |
US9574268B1 (en) * | 2011-10-28 | 2017-02-21 | Asm America, Inc. | Pulsed valve manifold for atomic layer deposition |
US9017481B1 (en) | 2011-10-28 | 2015-04-28 | Asm America, Inc. | Process feed management for semiconductor substrate processing |
US9941100B2 (en) * | 2011-12-16 | 2018-04-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Adjustable nozzle for plasma deposition and a method of controlling the adjustable nozzle |
US9388492B2 (en) | 2011-12-27 | 2016-07-12 | Asm America, Inc. | Vapor flow control apparatus for atomic layer deposition |
US8946830B2 (en) | 2012-04-04 | 2015-02-03 | Asm Ip Holdings B.V. | Metal oxide protective layer for a semiconductor device |
JP6157061B2 (ja) * | 2012-05-11 | 2017-07-05 | 東京エレクトロン株式会社 | ガス供給装置及び基板処理装置 |
US9558931B2 (en) | 2012-07-27 | 2017-01-31 | Asm Ip Holding B.V. | System and method for gas-phase sulfur passivation of a semiconductor surface |
US9659799B2 (en) | 2012-08-28 | 2017-05-23 | Asm Ip Holding B.V. | Systems and methods for dynamic semiconductor process scheduling |
US9021985B2 (en) | 2012-09-12 | 2015-05-05 | Asm Ip Holdings B.V. | Process gas management for an inductively-coupled plasma deposition reactor |
US9324811B2 (en) | 2012-09-26 | 2016-04-26 | Asm Ip Holding B.V. | Structures and devices including a tensile-stressed silicon arsenic layer and methods of forming same |
US10714315B2 (en) | 2012-10-12 | 2020-07-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Semiconductor reaction chamber showerhead |
US9640416B2 (en) | 2012-12-26 | 2017-05-02 | Asm Ip Holding B.V. | Single-and dual-chamber module-attachable wafer-handling chamber |
US9018108B2 (en) | 2013-01-25 | 2015-04-28 | Applied Materials, Inc. | Low shrinkage dielectric films |
WO2014119177A1 (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-07 | 京セラ株式会社 | ガスノズルおよびこれを用いたプラズマ装置 |
US20160376700A1 (en) | 2013-02-01 | 2016-12-29 | Asm Ip Holding B.V. | System for treatment of deposition reactor |
US9536710B2 (en) * | 2013-02-25 | 2017-01-03 | Applied Materials, Inc. | Tunable gas delivery assembly with internal diffuser and angular injection |
US9589770B2 (en) | 2013-03-08 | 2017-03-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and systems for in-situ formation of intermediate reactive species |
US9484191B2 (en) | 2013-03-08 | 2016-11-01 | Asm Ip Holding B.V. | Pulsed remote plasma method and system |
US8993054B2 (en) | 2013-07-12 | 2015-03-31 | Asm Ip Holding B.V. | Method and system to reduce outgassing in a reaction chamber |
US9018111B2 (en) | 2013-07-22 | 2015-04-28 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor reaction chamber with plasma capabilities |
US9793115B2 (en) | 2013-08-14 | 2017-10-17 | Asm Ip Holding B.V. | Structures and devices including germanium-tin films and methods of forming same |
US9240412B2 (en) | 2013-09-27 | 2016-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor structure and device and methods of forming same using selective epitaxial process |
US9556516B2 (en) | 2013-10-09 | 2017-01-31 | ASM IP Holding B.V | Method for forming Ti-containing film by PEALD using TDMAT or TDEAT |
US10179947B2 (en) | 2013-11-26 | 2019-01-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming conformal nitrided, oxidized, or carbonized dielectric film by atomic layer deposition |
TWI552203B (zh) * | 2013-12-27 | 2016-10-01 | Hitachi Int Electric Inc | A substrate processing apparatus, a manufacturing method of a semiconductor device, and a computer-readable recording medium |
US10683571B2 (en) | 2014-02-25 | 2020-06-16 | Asm Ip Holding B.V. | Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same |
US9572595B1 (en) | 2014-03-05 | 2017-02-21 | Northgate Technologies Inc. | In-dwelling port for access into a body |
US9447498B2 (en) | 2014-03-18 | 2016-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for performing uniform processing in gas system-sharing multiple reaction chambers |
US10167557B2 (en) | 2014-03-18 | 2019-01-01 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same |
US11015245B2 (en) | 2014-03-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof |
US9404587B2 (en) | 2014-04-24 | 2016-08-02 | ASM IP Holding B.V | Lockout tagout for semiconductor vacuum valve |
US10858737B2 (en) | 2014-07-28 | 2020-12-08 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead assembly and components thereof |
US9543180B2 (en) | 2014-08-01 | 2017-01-10 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for transporting wafers between wafer carrier and process tool under vacuum |
US10465288B2 (en) * | 2014-08-15 | 2019-11-05 | Applied Materials, Inc. | Nozzle for uniform plasma processing |
US9890456B2 (en) | 2014-08-21 | 2018-02-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method and system for in situ formation of gas-phase compounds |
US9657845B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-05-23 | Asm Ip Holding B.V. | Variable conductance gas distribution apparatus and method |
US10941490B2 (en) | 2014-10-07 | 2021-03-09 | Asm Ip Holding B.V. | Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same |
KR102300403B1 (ko) | 2014-11-19 | 2021-09-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
KR102263121B1 (ko) | 2014-12-22 | 2021-06-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 및 그 제조 방법 |
US9478415B2 (en) | 2015-02-13 | 2016-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming film having low resistance and shallow junction depth |
US10529542B2 (en) | 2015-03-11 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Cross-flow reactor and method |
US10276355B2 (en) | 2015-03-12 | 2019-04-30 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same |
JP6545053B2 (ja) * | 2015-03-30 | 2019-07-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置および処理方法、ならびにガスクラスター発生装置および発生方法 |
WO2016158054A1 (ja) * | 2015-03-30 | 2016-10-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置および処理方法、ならびにガスクラスター発生装置および発生方法 |
US11384432B2 (en) | 2015-04-22 | 2022-07-12 | Applied Materials, Inc. | Atomic layer deposition chamber with funnel-shaped gas dispersion channel and gas distribution plate |
KR20160147482A (ko) * | 2015-06-15 | 2016-12-23 | 삼성전자주식회사 | 가스 혼합부를 갖는 반도체 소자 제조 설비 |
US10458018B2 (en) | 2015-06-26 | 2019-10-29 | Asm Ip Holding B.V. | Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same |
US10600673B2 (en) | 2015-07-07 | 2020-03-24 | Asm Ip Holding B.V. | Magnetic susceptor to baseplate seal |
US10043661B2 (en) | 2015-07-13 | 2018-08-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for protecting layer by forming hydrocarbon-based extremely thin film |
US9899291B2 (en) | 2015-07-13 | 2018-02-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for protecting layer by forming hydrocarbon-based extremely thin film |
US10083836B2 (en) | 2015-07-24 | 2018-09-25 | Asm Ip Holding B.V. | Formation of boron-doped titanium metal films with high work function |
US10087525B2 (en) | 2015-08-04 | 2018-10-02 | Asm Ip Holding B.V. | Variable gap hard stop design |
US9647114B2 (en) | 2015-08-14 | 2017-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming highly p-type doped germanium tin films and structures and devices including the films |
US9711345B2 (en) | 2015-08-25 | 2017-07-18 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming aluminum nitride-based film by PEALD |
US9960072B2 (en) | 2015-09-29 | 2018-05-01 | Asm Ip Holding B.V. | Variable adjustment for precise matching of multiple chamber cavity housings |
US9909214B2 (en) | 2015-10-15 | 2018-03-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing dielectric film in trenches by PEALD |
US10211308B2 (en) | 2015-10-21 | 2019-02-19 | Asm Ip Holding B.V. | NbMC layers |
US10322384B2 (en) | 2015-11-09 | 2019-06-18 | Asm Ip Holding B.V. | Counter flow mixer for process chamber |
US9455138B1 (en) | 2015-11-10 | 2016-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming dielectric film in trenches by PEALD using H-containing gas |
US9905420B2 (en) | 2015-12-01 | 2018-02-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming silicon germanium tin films and structures and devices including the films |
US9607837B1 (en) | 2015-12-21 | 2017-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon oxide cap layer for solid state diffusion process |
US9735024B2 (en) | 2015-12-28 | 2017-08-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method of atomic layer etching using functional group-containing fluorocarbon |
US9627221B1 (en) | 2015-12-28 | 2017-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Continuous process incorporating atomic layer etching |
US11139308B2 (en) | 2015-12-29 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices |
US9754779B1 (en) | 2016-02-19 | 2017-09-05 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US10529554B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-01-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches |
US10468251B2 (en) | 2016-02-19 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming spacers using silicon nitride film for spacer-defined multiple patterning |
US10501866B2 (en) | 2016-03-09 | 2019-12-10 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution apparatus for improved film uniformity in an epitaxial system |
US10343920B2 (en) | 2016-03-18 | 2019-07-09 | Asm Ip Holding B.V. | Aligned carbon nanotubes |
US9892913B2 (en) | 2016-03-24 | 2018-02-13 | Asm Ip Holding B.V. | Radial and thickness control via biased multi-port injection settings |
CN105695951B (zh) * | 2016-04-20 | 2018-10-02 | 肖志凯 | 一种适用于局部生长薄膜和涂层的装置及其应用 |
US10190213B2 (en) | 2016-04-21 | 2019-01-29 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of metal borides |
US10087522B2 (en) | 2016-04-21 | 2018-10-02 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of metal borides |
US10865475B2 (en) | 2016-04-21 | 2020-12-15 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of metal borides and silicides |
US10367080B2 (en) | 2016-05-02 | 2019-07-30 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a germanium oxynitride film |
US10032628B2 (en) | 2016-05-02 | 2018-07-24 | Asm Ip Holding B.V. | Source/drain performance through conformal solid state doping |
KR102592471B1 (ko) | 2016-05-17 | 2023-10-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 배선 형성 방법 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법 |
US11453943B2 (en) | 2016-05-25 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor |
US10662527B2 (en) | 2016-06-01 | 2020-05-26 | Asm Ip Holding B.V. | Manifolds for uniform vapor deposition |
KR102553629B1 (ko) * | 2016-06-17 | 2023-07-11 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 처리 장치 |
US10388509B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Formation of epitaxial layers via dislocation filtering |
US10612137B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-04-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Organic reactants for atomic layer deposition |
US9859151B1 (en) | 2016-07-08 | 2018-01-02 | Asm Ip Holding B.V. | Selective film deposition method to form air gaps |
CN105970188A (zh) * | 2016-07-11 | 2016-09-28 | 中山德华芯片技术有限公司 | 一种旋转圆盘式mocvd反应室的进气结构 |
US9793135B1 (en) | 2016-07-14 | 2017-10-17 | ASM IP Holding B.V | Method of cyclic dry etching using etchant film |
US10714385B2 (en) | 2016-07-19 | 2020-07-14 | Asm Ip Holding B.V. | Selective deposition of tungsten |
US10381226B2 (en) | 2016-07-27 | 2019-08-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method of processing substrate |
US10395919B2 (en) | 2016-07-28 | 2019-08-27 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
KR102532607B1 (ko) | 2016-07-28 | 2023-05-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 가공 장치 및 그 동작 방법 |
US9887082B1 (en) | 2016-07-28 | 2018-02-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US9812320B1 (en) | 2016-07-28 | 2017-11-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US10177025B2 (en) | 2016-07-28 | 2019-01-08 | Asm Ip Holding B.V. | Method and apparatus for filling a gap |
US10090316B2 (en) | 2016-09-01 | 2018-10-02 | Asm Ip Holding B.V. | 3D stacked multilayer semiconductor memory using doped select transistor channel |
US10410943B2 (en) | 2016-10-13 | 2019-09-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method for passivating a surface of a semiconductor and related systems |
US10643826B2 (en) | 2016-10-26 | 2020-05-05 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for thermally calibrating reaction chambers |
US11532757B2 (en) | 2016-10-27 | 2022-12-20 | Asm Ip Holding B.V. | Deposition of charge trapping layers |
TWI580807B (zh) * | 2016-10-28 | 2017-05-01 | 財團法人工業技術研究院 | 蒸鍍設備與利用此設備之蒸鍍方法 |
US10229833B2 (en) | 2016-11-01 | 2019-03-12 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
US10643904B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-05-05 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures |
US10714350B2 (en) | 2016-11-01 | 2020-07-14 | ASM IP Holdings, B.V. | Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures |
US10435790B2 (en) | 2016-11-01 | 2019-10-08 | Asm Ip Holding B.V. | Method of subatmospheric plasma-enhanced ALD using capacitively coupled electrodes with narrow gap |
US10134757B2 (en) | 2016-11-07 | 2018-11-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method of processing a substrate and a device manufactured by using the method |
KR102546317B1 (ko) | 2016-11-15 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US10340135B2 (en) | 2016-11-28 | 2019-07-02 | Asm Ip Holding B.V. | Method of topologically restricted plasma-enhanced cyclic deposition of silicon or metal nitride |
KR20180068582A (ko) | 2016-12-14 | 2018-06-22 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11581186B2 (en) | 2016-12-15 | 2023-02-14 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus |
US11447861B2 (en) | 2016-12-15 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure |
US9916980B1 (en) | 2016-12-15 | 2018-03-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
KR20180070971A (ko) | 2016-12-19 | 2018-06-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US10269558B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US10867788B2 (en) | 2016-12-28 | 2020-12-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a structure on a substrate |
US11390950B2 (en) | 2017-01-10 | 2022-07-19 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process |
US10655221B2 (en) | 2017-02-09 | 2020-05-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD |
US10468261B2 (en) | 2017-02-15 | 2019-11-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
CN106756887A (zh) * | 2017-03-21 | 2017-05-31 | 北京化工大学 | 一种微分混合式化学气相沉积装置 |
US10283353B2 (en) | 2017-03-29 | 2019-05-07 | Asm Ip Holding B.V. | Method of reforming insulating film deposited on substrate with recess pattern |
US10529563B2 (en) | 2017-03-29 | 2020-01-07 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures |
US10103040B1 (en) | 2017-03-31 | 2018-10-16 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for manufacturing a semiconductor device |
USD830981S1 (en) | 2017-04-07 | 2018-10-16 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate processing apparatus |
KR102457289B1 (ko) | 2017-04-25 | 2022-10-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US10446393B2 (en) | 2017-05-08 | 2019-10-15 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming silicon-containing epitaxial layers and related semiconductor device structures |
US10892156B2 (en) | 2017-05-08 | 2021-01-12 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US10770286B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures |
US10504742B2 (en) | 2017-05-31 | 2019-12-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method of atomic layer etching using hydrogen plasma |
US10886123B2 (en) | 2017-06-02 | 2021-01-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming low temperature semiconductor layers and related semiconductor device structures |
US11306395B2 (en) | 2017-06-28 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus |
US10685834B2 (en) | 2017-07-05 | 2020-06-16 | Asm Ip Holdings B.V. | Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures |
CN107326341B (zh) * | 2017-07-14 | 2019-10-25 | 君泰创新(北京)科技有限公司 | Lpcvd工艺腔匀气装置 |
KR20190009245A (ko) | 2017-07-18 | 2019-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물 |
US11018002B2 (en) | 2017-07-19 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10541333B2 (en) | 2017-07-19 | 2020-01-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US11374112B2 (en) | 2017-07-19 | 2022-06-28 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures |
US10605530B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-31 | Asm Ip Holding B.V. | Assembly of a liner and a flange for a vertical furnace as well as the liner and the vertical furnace |
US10590535B2 (en) | 2017-07-26 | 2020-03-17 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same |
US10312055B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-06-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method of depositing film by PEALD using negative bias |
US10770336B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate lift mechanism and reactor including same |
US10692741B2 (en) | 2017-08-08 | 2020-06-23 | Asm Ip Holdings B.V. | Radiation shield |
US11769682B2 (en) | 2017-08-09 | 2023-09-26 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US10249524B2 (en) | 2017-08-09 | 2019-04-02 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly |
US11139191B2 (en) | 2017-08-09 | 2021-10-05 | Asm Ip Holding B.V. | Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith |
US10236177B1 (en) | 2017-08-22 | 2019-03-19 | ASM IP Holding B.V.. | Methods for depositing a doped germanium tin semiconductor and related semiconductor device structures |
USD900036S1 (en) | 2017-08-24 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Heater electrical connector and adapter |
US11830730B2 (en) | 2017-08-29 | 2023-11-28 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
KR102491945B1 (ko) | 2017-08-30 | 2023-01-26 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US11056344B2 (en) | 2017-08-30 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method |
US11295980B2 (en) | 2017-08-30 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
KR102401446B1 (ko) | 2017-08-31 | 2022-05-24 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
US10607895B2 (en) | 2017-09-18 | 2020-03-31 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for forming a semiconductor device structure comprising a gate fill metal |
KR102630301B1 (ko) | 2017-09-21 | 2024-01-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치 |
US10844484B2 (en) | 2017-09-22 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US10658205B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-05-19 | Asm Ip Holdings B.V. | Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber |
US10403504B2 (en) | 2017-10-05 | 2019-09-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method for selectively depositing a metallic film on a substrate |
US10319588B2 (en) | 2017-10-10 | 2019-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition |
US10923344B2 (en) | 2017-10-30 | 2021-02-16 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures |
US10910262B2 (en) | 2017-11-16 | 2021-02-02 | Asm Ip Holding B.V. | Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure |
KR102443047B1 (ko) | 2017-11-16 | 2022-09-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11022879B2 (en) | 2017-11-24 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer |
WO2019103613A1 (en) | 2017-11-27 | 2019-05-31 | Asm Ip Holding B.V. | A storage device for storing wafer cassettes for use with a batch furnace |
KR102633318B1 (ko) | 2017-11-27 | 2024-02-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 청정 소형 구역을 포함한 장치 |
US10290508B1 (en) | 2017-12-05 | 2019-05-14 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming vertical spacers for spacer-defined patterning |
US10872771B2 (en) | 2018-01-16 | 2020-12-22 | Asm Ip Holding B. V. | Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures |
TW202325889A (zh) | 2018-01-19 | 2023-07-01 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 沈積方法 |
US11482412B2 (en) | 2018-01-19 | 2022-10-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a gap-fill layer by plasma-assisted deposition |
USD903477S1 (en) | 2018-01-24 | 2020-12-01 | Asm Ip Holdings B.V. | Metal clamp |
US11018047B2 (en) | 2018-01-25 | 2021-05-25 | Asm Ip Holding B.V. | Hybrid lift pin |
USD880437S1 (en) | 2018-02-01 | 2020-04-07 | Asm Ip Holding B.V. | Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus |
US10535516B2 (en) | 2018-02-01 | 2020-01-14 | Asm Ip Holdings B.V. | Method for depositing a semiconductor structure on a surface of a substrate and related semiconductor structures |
US11081345B2 (en) | 2018-02-06 | 2021-08-03 | Asm Ip Holding B.V. | Method of post-deposition treatment for silicon oxide film |
US10896820B2 (en) | 2018-02-14 | 2021-01-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process |
EP3737779A1 (de) | 2018-02-14 | 2020-11-18 | ASM IP Holding B.V. | Verfahren zum abscheiden eines ruthenium-haltigen films auf einem substrat durch ein zyklisches abscheidungsverfahren |
US10731249B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-08-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus |
US10658181B2 (en) | 2018-02-20 | 2020-05-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication |
KR102636427B1 (ko) | 2018-02-20 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 장치 |
US10975470B2 (en) | 2018-02-23 | 2021-04-13 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment |
US11473195B2 (en) | 2018-03-01 | 2022-10-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate |
US11629406B2 (en) | 2018-03-09 | 2023-04-18 | Asm Ip Holding B.V. | Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate |
US11114283B2 (en) | 2018-03-16 | 2021-09-07 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same |
KR102646467B1 (ko) | 2018-03-27 | 2024-03-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조 |
US11230766B2 (en) | 2018-03-29 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
US10510536B2 (en) | 2018-03-29 | 2019-12-17 | Asm Ip Holding B.V. | Method of depositing a co-doped polysilicon film on a surface of a substrate within a reaction chamber |
US11088002B2 (en) | 2018-03-29 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate rack and a substrate processing system and method |
KR102501472B1 (ko) | 2018-03-30 | 2023-02-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 |
US10943768B2 (en) * | 2018-04-20 | 2021-03-09 | Applied Materials, Inc. | Modular high-frequency source with integrated gas distribution |
TWI811348B (zh) | 2018-05-08 | 2023-08-11 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構 |
TWI816783B (zh) | 2018-05-11 | 2023-10-01 | 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 | 用於基板上形成摻雜金屬碳化物薄膜之方法及相關半導體元件結構 |
KR102596988B1 (ko) | 2018-05-28 | 2023-10-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치 |
US11718913B2 (en) | 2018-06-04 | 2023-08-08 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution system and reactor system including same |
US11270899B2 (en) | 2018-06-04 | 2022-03-08 | Asm Ip Holding B.V. | Wafer handling chamber with moisture reduction |
US11286562B2 (en) | 2018-06-08 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Gas-phase chemical reactor and method of using same |
US10797133B2 (en) | 2018-06-21 | 2020-10-06 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures |
KR102568797B1 (ko) | 2018-06-21 | 2023-08-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 시스템 |
US11492703B2 (en) | 2018-06-27 | 2022-11-08 | Asm Ip Holding B.V. | Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material |
KR20210027265A (ko) | 2018-06-27 | 2021-03-10 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 금속 함유 재료를 형성하기 위한 주기적 증착 방법 및 금속 함유 재료를 포함하는 막 및 구조체 |
KR20200002519A (ko) | 2018-06-29 | 2020-01-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US10612136B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-04-07 | ASM IP Holding, B.V. | Temperature-controlled flange and reactor system including same |
US10755922B2 (en) | 2018-07-03 | 2020-08-25 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10388513B1 (en) | 2018-07-03 | 2019-08-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition |
US10767789B2 (en) | 2018-07-16 | 2020-09-08 | Asm Ip Holding B.V. | Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components |
US10483099B1 (en) | 2018-07-26 | 2019-11-19 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming thermally stable organosilicon polymer film |
US11053591B2 (en) | 2018-08-06 | 2021-07-06 | Asm Ip Holding B.V. | Multi-port gas injection system and reactor system including same |
US10883175B2 (en) | 2018-08-09 | 2021-01-05 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein |
US10829852B2 (en) | 2018-08-16 | 2020-11-10 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distribution device for a wafer processing apparatus |
US11430674B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-30 | Asm Ip Holding B.V. | Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods |
US11024523B2 (en) | 2018-09-11 | 2021-06-01 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR20200030162A (ko) | 2018-09-11 | 2020-03-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 증착 방법 |
US11049751B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Asm Ip Holding B.V. | Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith |
CN110970344A (zh) | 2018-10-01 | 2020-04-07 | Asm Ip控股有限公司 | 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法 |
US11232963B2 (en) | 2018-10-03 | 2022-01-25 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus and method |
KR102592699B1 (ko) | 2018-10-08 | 2023-10-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치 |
US10847365B2 (en) | 2018-10-11 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD |
US10811256B2 (en) | 2018-10-16 | 2020-10-20 | Asm Ip Holding B.V. | Method for etching a carbon-containing feature |
KR102546322B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-06-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
KR102605121B1 (ko) | 2018-10-19 | 2023-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
USD948463S1 (en) | 2018-10-24 | 2022-04-12 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus |
US10381219B1 (en) | 2018-10-25 | 2019-08-13 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a silicon nitride film |
US11087997B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-08-10 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing apparatus for processing substrates |
KR20200051105A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
US11572620B2 (en) | 2018-11-06 | 2023-02-07 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate |
US11031242B2 (en) | 2018-11-07 | 2021-06-08 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a boron doped silicon germanium film |
US10847366B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-11-24 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process |
US10818758B2 (en) | 2018-11-16 | 2020-10-27 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures |
CN109609929A (zh) * | 2018-11-20 | 2019-04-12 | 沈阳拓荆科技有限公司 | 混气结构及反应设备 |
US10559458B1 (en) | 2018-11-26 | 2020-02-11 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming oxynitride film |
US11217444B2 (en) | 2018-11-30 | 2022-01-04 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film |
KR102636428B1 (ko) | 2018-12-04 | 2024-02-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치를 세정하는 방법 |
US11158513B2 (en) | 2018-12-13 | 2021-10-26 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures |
TW202037745A (zh) | 2018-12-14 | 2020-10-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成裝置結構之方法、其所形成之結構及施行其之系統 |
TW202405220A (zh) | 2019-01-17 | 2024-02-01 | 荷蘭商Asm Ip 私人控股有限公司 | 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法 |
KR20200091543A (ko) | 2019-01-22 | 2020-07-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
CN109518166B (zh) * | 2019-01-28 | 2023-09-22 | 南京爱通智能科技有限公司 | 一种适用于超大规模原子层沉积的气体匀流系统 |
CN111524788B (zh) | 2019-02-01 | 2023-11-24 | Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法 |
KR20200102357A (ko) | 2019-02-20 | 2020-08-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법 |
TW202044325A (zh) | 2019-02-20 | 2020-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備 |
KR102626263B1 (ko) | 2019-02-20 | 2024-01-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치 |
CN111593319B (zh) | 2019-02-20 | 2023-05-30 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于填充在衬底表面内形成的凹部的循环沉积方法和设备 |
JP2020133004A (ja) | 2019-02-22 | 2020-08-31 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 基材を処理するための基材処理装置および方法 |
KR20200108242A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체 |
KR20200108243A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
KR20200108248A (ko) | 2019-03-08 | 2020-09-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법 |
US11492701B2 (en) | 2019-03-19 | 2022-11-08 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor manifolds |
KR20200116033A (ko) | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도어 개방기 및 이를 구비한 기판 처리 장치 |
KR20200116855A (ko) | 2019-04-01 | 2020-10-13 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 소자를 제조하는 방법 |
US11447864B2 (en) | 2019-04-19 | 2022-09-20 | Asm Ip Holding B.V. | Layer forming method and apparatus |
KR20200125453A (ko) | 2019-04-24 | 2020-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
KR20200130121A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기 |
KR20200130118A (ko) | 2019-05-07 | 2020-11-18 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법 |
KR20200130652A (ko) | 2019-05-10 | 2020-11-19 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조 |
CN110158055B (zh) * | 2019-05-15 | 2022-01-14 | 拓荆科技股份有限公司 | 多段喷淋组件 |
JP2020188255A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
JP2020188254A (ja) | 2019-05-16 | 2020-11-19 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法 |
USD975665S1 (en) | 2019-05-17 | 2023-01-17 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD947913S1 (en) | 2019-05-17 | 2022-04-05 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD935572S1 (en) | 2019-05-24 | 2021-11-09 | Asm Ip Holding B.V. | Gas channel plate |
USD922229S1 (en) | 2019-06-05 | 2021-06-15 | Asm Ip Holding B.V. | Device for controlling a temperature of a gas supply unit |
KR20200141002A (ko) | 2019-06-06 | 2020-12-17 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법 |
KR20200143254A (ko) | 2019-06-11 | 2020-12-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조 |
USD944946S1 (en) | 2019-06-14 | 2022-03-01 | Asm Ip Holding B.V. | Shower plate |
USD931978S1 (en) | 2019-06-27 | 2021-09-28 | Asm Ip Holding B.V. | Showerhead vacuum transport |
JP7189862B2 (ja) * | 2019-12-13 | 2022-12-14 | クアーズテック株式会社 | ブレイクフィルタの製造方法 |
KR20210005515A (ko) | 2019-07-03 | 2021-01-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법 |
JP7499079B2 (ja) | 2019-07-09 | 2024-06-13 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法 |
CN112216646A (zh) | 2019-07-10 | 2021-01-12 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板支撑组件及包括其的基板处理装置 |
KR20210010307A (ko) | 2019-07-16 | 2021-01-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
KR20210010820A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법 |
KR20210010816A (ko) | 2019-07-17 | 2021-01-28 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법 |
US11643724B2 (en) | 2019-07-18 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming structures using a neutral beam |
CN112242296A (zh) | 2019-07-19 | 2021-01-19 | Asm Ip私人控股有限公司 | 形成拓扑受控的无定形碳聚合物膜的方法 |
TW202113936A (zh) | 2019-07-29 | 2021-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法 |
CN112309899A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112309900A (zh) | 2019-07-30 | 2021-02-02 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
US11587815B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11587814B2 (en) | 2019-07-31 | 2023-02-21 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
US11227782B2 (en) | 2019-07-31 | 2022-01-18 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly |
CN112323048B (zh) | 2019-08-05 | 2024-02-09 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于化学源容器的液位传感器 |
USD965044S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-09-27 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor shaft |
USD965524S1 (en) | 2019-08-19 | 2022-10-04 | Asm Ip Holding B.V. | Susceptor support |
JP2021031769A (ja) | 2019-08-21 | 2021-03-01 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置 |
USD930782S1 (en) | 2019-08-22 | 2021-09-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor |
USD979506S1 (en) | 2019-08-22 | 2023-02-28 | Asm Ip Holding B.V. | Insulator |
USD949319S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-04-19 | Asm Ip Holding B.V. | Exhaust duct |
USD940837S1 (en) | 2019-08-22 | 2022-01-11 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode |
KR20210024423A (ko) | 2019-08-22 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법 |
US11286558B2 (en) | 2019-08-23 | 2022-03-29 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film |
KR20210024420A (ko) | 2019-08-23 | 2021-03-05 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법 |
KR20210029090A (ko) | 2019-09-04 | 2021-03-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법 |
KR20210029663A (ko) | 2019-09-05 | 2021-03-16 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
FI128855B (en) * | 2019-09-24 | 2021-01-29 | Picosun Oy | FLUID DISTRIBUTOR FOR THIN FILM GROWING EQUIPMENT, RELATED EQUIPMENT AND METHODS |
US11562901B2 (en) | 2019-09-25 | 2023-01-24 | Asm Ip Holding B.V. | Substrate processing method |
CN112593212B (zh) | 2019-10-02 | 2023-12-22 | Asm Ip私人控股有限公司 | 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法 |
KR20210042810A (ko) | 2019-10-08 | 2021-04-20 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법 |
CN112635282A (zh) | 2019-10-08 | 2021-04-09 | Asm Ip私人控股有限公司 | 具有连接板的基板处理装置、基板处理方法 |
KR20210043460A (ko) | 2019-10-10 | 2021-04-21 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체 |
US12009241B2 (en) | 2019-10-14 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette |
TWI834919B (zh) | 2019-10-16 | 2024-03-11 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法 |
US11637014B2 (en) | 2019-10-17 | 2023-04-25 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for selective deposition of doped semiconductor material |
KR20210047808A (ko) | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법 |
KR20210048408A (ko) | 2019-10-22 | 2021-05-03 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반도체 증착 반응기 매니폴드 |
KR20210050453A (ko) | 2019-10-25 | 2021-05-07 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조 |
US11646205B2 (en) | 2019-10-29 | 2023-05-09 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same |
KR20210054983A (ko) | 2019-11-05 | 2021-05-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템 |
US11501968B2 (en) | 2019-11-15 | 2022-11-15 | Asm Ip Holding B.V. | Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps |
KR20210062561A (ko) | 2019-11-20 | 2021-05-31 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템 |
KR20210065848A (ko) | 2019-11-26 | 2021-06-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법 |
CN112951697A (zh) | 2019-11-26 | 2021-06-11 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885692A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
CN112885693A (zh) | 2019-11-29 | 2021-06-01 | Asm Ip私人控股有限公司 | 基板处理设备 |
JP2021090042A (ja) | 2019-12-02 | 2021-06-10 | エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. | 基板処理装置、基板処理方法 |
KR20210070898A (ko) | 2019-12-04 | 2021-06-15 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치 |
TW202125596A (zh) | 2019-12-17 | 2021-07-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成氮化釩層之方法以及包括該氮化釩層之結構 |
US11527403B2 (en) | 2019-12-19 | 2022-12-13 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures |
TW202140135A (zh) | 2020-01-06 | 2021-11-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 氣體供應總成以及閥板總成 |
US11993847B2 (en) | 2020-01-08 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Injector |
JP7325343B2 (ja) * | 2020-01-08 | 2023-08-14 | 東京エレクトロン株式会社 | ガス供給構造及び基板処理装置 |
US11551912B2 (en) | 2020-01-20 | 2023-01-10 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming thin film and method of modifying surface of thin film |
TW202130846A (zh) | 2020-02-03 | 2021-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成包括釩或銦層的結構之方法 |
TW202146882A (zh) | 2020-02-04 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統 |
US11776846B2 (en) | 2020-02-07 | 2023-10-03 | Asm Ip Holding B.V. | Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices |
TW202146715A (zh) | 2020-02-17 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於生長磷摻雜矽層之方法及其系統 |
TW202203344A (zh) | 2020-02-28 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 專用於零件清潔的系統 |
US11876356B2 (en) | 2020-03-11 | 2024-01-16 | Asm Ip Holding B.V. | Lockout tagout assembly and system and method of using same |
KR20210116240A (ko) | 2020-03-11 | 2021-09-27 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치 |
CN113394086A (zh) | 2020-03-12 | 2021-09-14 | Asm Ip私人控股有限公司 | 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法 |
KR20210124042A (ko) | 2020-04-02 | 2021-10-14 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 박막 형성 방법 |
TW202146689A (zh) | 2020-04-03 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip控股公司 | 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法 |
TW202145344A (zh) | 2020-04-08 | 2021-12-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法 |
US11821078B2 (en) | 2020-04-15 | 2023-11-21 | Asm Ip Holding B.V. | Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film |
US11996289B2 (en) | 2020-04-16 | 2024-05-28 | Asm Ip Holding B.V. | Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods |
US11898243B2 (en) | 2020-04-24 | 2024-02-13 | Asm Ip Holding B.V. | Method of forming vanadium nitride-containing layer |
KR20210132605A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리 |
KR20210132600A (ko) | 2020-04-24 | 2021-11-04 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템 |
KR20210134226A (ko) | 2020-04-29 | 2021-11-09 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 고체 소스 전구체 용기 |
KR20210134869A (ko) | 2020-05-01 | 2021-11-11 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환 |
KR20210141379A (ko) | 2020-05-13 | 2021-11-23 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구 |
TW202147383A (zh) | 2020-05-19 | 2021-12-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基材處理設備 |
KR20210145078A (ko) | 2020-05-21 | 2021-12-01 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법 |
TW202200837A (zh) | 2020-05-22 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基材上形成薄膜之反應系統 |
TW202201602A (zh) | 2020-05-29 | 2022-01-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TWI767244B (zh) * | 2020-05-29 | 2022-06-11 | 朗曦科技股份有限公司 | 半導體製程腔體之氣體噴頭 |
TW202218133A (zh) | 2020-06-24 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成含矽層之方法 |
TW202217953A (zh) | 2020-06-30 | 2022-05-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202202649A (zh) | 2020-07-08 | 2022-01-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 基板處理方法 |
TW202219628A (zh) | 2020-07-17 | 2022-05-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於光微影之結構與方法 |
TW202204662A (zh) | 2020-07-20 | 2022-02-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於沉積鉬層之方法及系統 |
TW202212623A (zh) | 2020-08-26 | 2022-04-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 形成金屬氧化矽層及金屬氮氧化矽層的方法、半導體結構、及系統 |
USD990534S1 (en) | 2020-09-11 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Weighted lift pin |
USD1012873S1 (en) | 2020-09-24 | 2024-01-30 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for semiconductor processing apparatus |
US12009224B2 (en) | 2020-09-29 | 2024-06-11 | Asm Ip Holding B.V. | Apparatus and method for etching metal nitrides |
TW202229613A (zh) | 2020-10-14 | 2022-08-01 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 於階梯式結構上沉積材料的方法 |
KR20220053482A (ko) | 2020-10-22 | 2022-04-29 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리 |
TW202223136A (zh) | 2020-10-28 | 2022-06-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統 |
KR20220076343A (ko) | 2020-11-30 | 2022-06-08 | 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. | 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터 |
CN114639631A (zh) | 2020-12-16 | 2022-06-17 | Asm Ip私人控股有限公司 | 跳动和摆动测量固定装置 |
TW202231903A (zh) | 2020-12-22 | 2022-08-16 | 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 | 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成 |
CN112795905B (zh) * | 2020-12-25 | 2022-08-16 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 进气结构及半导体沉积设备 |
USD980814S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas distributor for substrate processing apparatus |
USD980813S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-14 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate for substrate processing apparatus |
USD981973S1 (en) | 2021-05-11 | 2023-03-28 | Asm Ip Holding B.V. | Reactor wall for substrate processing apparatus |
USD1023959S1 (en) | 2021-05-11 | 2024-04-23 | Asm Ip Holding B.V. | Electrode for substrate processing apparatus |
USD990441S1 (en) | 2021-09-07 | 2023-06-27 | Asm Ip Holding B.V. | Gas flow control plate |
CN115386860B (zh) * | 2022-08-31 | 2023-10-13 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 进气装置及半导体工艺腔室 |
WO2024129248A1 (en) * | 2022-12-16 | 2024-06-20 | Lam Research Corporation | Compound orifice inlet nozzle for tuning flow from gas distribution showerheads |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3381114A (en) * | 1963-12-28 | 1968-04-30 | Nippon Electric Co | Device for manufacturing epitaxial crystals |
US4401052A (en) * | 1979-05-29 | 1983-08-30 | The University Of Delaware | Apparatus for continuous deposition by vacuum evaporation |
JPS591671A (ja) * | 1982-05-28 | 1984-01-07 | Fujitsu Ltd | プラズマcvd装置 |
JPS6027690A (ja) * | 1983-07-25 | 1985-02-12 | Ulvac Corp | 気相エピタキシヤル成長用化学反応装置 |
JPS60189928A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-27 | Fujitsu Ltd | 減圧気相成長装置 |
JPS60192323A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-09-30 | Nec Corp | 半導体の気相成長装置 |
JPS62158317A (ja) * | 1985-12-28 | 1987-07-14 | Ulvac Corp | Cvd装置用ガスノズル |
FR2599558B1 (fr) * | 1986-05-27 | 1988-09-02 | Labo Electronique Physique | Procede de realisation d'un dispositif semi-conducteur, incluant le depot en phase vapeur de couches sur un substrat |
DE3715644A1 (de) * | 1987-05-11 | 1988-12-01 | Fraunhofer Ges Forschung | Molekularstrahlepitaxieanlage |
US4854263B1 (en) * | 1987-08-14 | 1997-06-17 | Applied Materials Inc | Inlet manifold and methods for increasing gas dissociation and for PECVD of dielectric films |
US4980204A (en) * | 1987-11-27 | 1990-12-25 | Fujitsu Limited | Metal organic chemical vapor deposition method with controlled gas flow rate |
DD271776A1 (de) * | 1988-05-06 | 1989-09-13 | Elektromat Veb | Vorrichtung zur gaszufuehrung und -ableitung fuer die gasphasenbearbeitung von werkstuecken |
JPH01283375A (ja) * | 1988-05-09 | 1989-11-14 | Fujitsu Ltd | Cvd装置 |
WO1990010092A1 (en) * | 1989-02-24 | 1990-09-07 | Massachusetts Institute Of Technology | A modified stagnation flow apparatus for chemical vapor deposition providing excellent control of the deposition |
JPH0344470A (ja) * | 1989-07-12 | 1991-02-26 | Toshiba Corp | 半導体基板の薄膜形成装置 |
US4993358A (en) * | 1989-07-28 | 1991-02-19 | Watkins-Johnson Company | Chemical vapor deposition reactor and method of operation |
JPH03106039A (ja) * | 1989-09-20 | 1991-05-02 | Fujitsu Ltd | ガス混合装置及びそれを用いた気相エピタキシャル成長装置 |
CA2016970A1 (en) * | 1990-05-16 | 1991-11-16 | Prasad N. Gadgil | Inverted diffusion stagnation point flow reactor for vapor deposition of thin films |
JPH0610138A (ja) * | 1991-07-01 | 1994-01-18 | Kokusai Chodendo Sangyo Gijutsu Kenkyu Center | Mocvd法による酸化物超電導体の製造方法 |
JPH0590169A (ja) * | 1991-09-25 | 1993-04-09 | Hitachi Ltd | ガス供給装置およびそれを備えたマイクロ波プラズマ成膜装置 |
JPH05299351A (ja) * | 1992-04-20 | 1993-11-12 | Nec Kansai Ltd | 気相成長装置 |
-
1995
- 1995-06-09 JP JP16804095A patent/JP3380091B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-06-07 DE DE69630484T patent/DE69630484T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-06-07 KR KR1019960020255A patent/KR100427426B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-06-07 TW TW085106835A patent/TW301014B/zh active
- 1996-06-07 EP EP96109191A patent/EP0747503B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-10 US US08/662,763 patent/US5728223A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006043543A1 (de) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Innovent E.V. | Homogenisator für der Beschichtung von Oberflächen dienende Gasströme |
DE102006043542A1 (de) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Innovent E.V. | Verfahren zum Beschichten von Oberflächen |
DE102006043543B4 (de) * | 2006-09-12 | 2012-05-10 | Innovent E.V. | Homogenisator für der Beschichtung von Oberflächen dienende Gasströme |
DE102006043542B4 (de) * | 2006-09-12 | 2012-05-16 | Innovent E.V. | Verfahren zum Beschichten von Oberflächen |
WO2008148773A1 (de) | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Aixtron Ag | Aus einer vielzahl diffusionsverschweisster scheiben bestehender gasverteiler und ein verfahren zur fertigung eines solchen gasverteilers |
DE102007026349A1 (de) * | 2007-06-06 | 2008-12-11 | Aixtron Ag | Aus einer Vielzahl diffusionsverschweißter Scheiben bestehender Gasverteiler |
WO2018166802A3 (de) * | 2017-03-14 | 2019-01-17 | Schunk Kohlenstofftechnik Gmbh | Beschichtetes produkt und verfahren zur herstellung |
US11932937B2 (en) | 2017-03-14 | 2024-03-19 | Schunk Kohlenstofftechnik Gmbh | Coated product and production method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69630484D1 (de) | 2003-12-04 |
JP3380091B2 (ja) | 2003-02-24 |
KR100427426B1 (ko) | 2004-07-12 |
TW301014B (de) | 1997-03-21 |
JPH08337876A (ja) | 1996-12-24 |
KR970003441A (ko) | 1997-01-28 |
EP0747503B1 (de) | 2003-10-29 |
US5728223A (en) | 1998-03-17 |
EP0747503A1 (de) | 1996-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69630484T2 (de) | Reaktivgasinjektor für Vorrichtung zur chemischen Gasphasenabscheidung | |
DE112010002199B4 (de) | Brausekopf für eine Vakuumschichtabscheidungsvorrichtung | |
DE69433656T2 (de) | Verfahren zum Einleiten reaktiven Gases in eine Substratbearbeitungsvorrichtung | |
DE69629412T2 (de) | Anlage zur Dampfabscheidung von Dünnschichten | |
DE69118337T2 (de) | Vertikal ausgerichtete CVD-Vorrichtung umfassend ein Gas-Einlassrohr mit Gas-Einblasöffnungen | |
DE69007733T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur behandlung eines flachen, scheibenförmigen substrates unter niedrigem druck. | |
DE60035948T2 (de) | Chemischer abscheidungsreaktor und dessen verwendung für die abscheidung eines dünnen films | |
DE1958610C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Zersprengen oder Zerstäuben eines freifallenden Flüssigkeitsstromes | |
WO2004097066A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum abscheiden von halbleiterschichten mit zwei prozessgasen, von denen das eine vorkonditioniert ist | |
DE69127372T2 (de) | Anordnung zum transportieren von substraten in form dünner plättchen | |
DE69200451T2 (de) | Vorrichtung zum Verdampfen und Einspeisen einer Flüssigkeit. | |
DE2850271C3 (de) | Vorrichtung zur intensiven Mischung von Flüssigkeiten | |
DE1696628A1 (de) | Verfahren zum UEberziehen der Oberflaeche eines Gegenstandes mit Silikatglas | |
EP0089382B1 (de) | Plasmareaktor und seine Anwendung beim Ätzen und Beschichten von Substraten | |
EP1349968B1 (de) | Fluidverteilungsvorrichtung für mehrere fluide | |
DE69116033T2 (de) | Reaktor zur Behandlung von Halbleiterscheiben. | |
DE60027935T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer Wolframnitridschicht | |
DE69012409T2 (de) | Vorrichtung zur Herstellung von Halbleitern durch Abscheidung aus der Gasphase. | |
DE69013444T2 (de) | Vorrichtung zur Bildung einer dünnen Schicht. | |
WO2003078681A1 (de) | Vorrichtung zum abscheiden von dünnen schichten auf einem substrat | |
DE19851824C2 (de) | CVD-Reaktor | |
WO2000038220A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum behandeln von substraten | |
DE4142877A1 (de) | Cvd-verfahren und vorrichtung zu dessen durchfuehrung | |
EP0975821B1 (de) | Cvd-reaktor und dessen verwendung | |
DE3209792A1 (de) | Vorrichtung zum aufbringen von duennen schichten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |