DE1696628A1 - Verfahren zum UEberziehen der Oberflaeche eines Gegenstandes mit Silikatglas - Google Patents
Verfahren zum UEberziehen der Oberflaeche eines Gegenstandes mit SilikatglasInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 32
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 title description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 46
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 45
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 37
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 37
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 26
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 25
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 23
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 239000000376 reactant Substances 0.000 claims description 20
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 20
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 16
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 claims description 15
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 13
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 9
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 6
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 4
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 claims description 3
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 2
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical group C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000005056 compaction Methods 0.000 claims 1
- 125000004177 diethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims 1
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical group CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 16
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 4
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005360 phosphosilicate glass Substances 0.000 description 3
- 235000019352 zinc silicate Nutrition 0.000 description 3
- ZFZQOKHLXAVJIF-UHFFFAOYSA-N zinc;boric acid;dihydroxy(dioxido)silane Chemical compound [Zn+2].OB(O)O.O[Si](O)([O-])[O-] ZFZQOKHLXAVJIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004110 Zinc silicate Substances 0.000 description 2
- OLBVUFHMDRJKTK-UHFFFAOYSA-N [N].[O] Chemical compound [N].[O] OLBVUFHMDRJKTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- ZOIVSVWBENBHNT-UHFFFAOYSA-N dizinc;silicate Chemical compound [Zn+2].[Zn+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] ZOIVSVWBENBHNT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- PWKWDCOTNGQLID-UHFFFAOYSA-N [N].[Ar] Chemical compound [N].[Ar] PWKWDCOTNGQLID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- 238000004031 devitrification Methods 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- -1 oxy- Chemical class 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 230000000153 supplemental effect Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
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- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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- H01L21/02129—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC the material being boron or phosphorus doped silicon oxides, e.g. BPSG, BSG or PSG
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Description
Verfahren zum Überziehen der Oberfläche eines Gegenstandes mit
Silikatglas
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überziehen der
Oberfläche eines Gegenstandes, insbesondere eines Halbleiterkörpers,
mit Silikatglas.
In der keramischen Industrie sind verschiedene Verfahren zum Überziehen der Oberfläche eines Gegenstandes mit Silikatglas
bekannt. Diese bekannte Glasurverfahren erfordern jedoch die Anwendung verhältnismässig hoher Temperaturen und eignen
sich nicht zur Herstellung von Silikatglasschichten auf der Oberfläche von Gegenständen, wie Halbleiterbauelementen, die
bei der Einwirkung höherer Temperaturen leiden.
109853/0354
Der vorliegenden Erfindung liegt dementsBrechend die
Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Überziehen der Oberfläche eines Gegenstandes mit Silikatglas anzugeben, bei dem nur verhältnismässig
niedrige Temperaturen erforderlich sind.
Diese Aufgabe wird gemäss der Erfindung dadurch gelöst,
daß der Gegenstand in einer gasförmigen Mischung aus einem Inertgas, Silan, Sauerstoff sowie einem aus mindestens einem
Hydrid des Bors, Phosphors, Antimons und Wismut und/oder Alkyl des Aluminium und Zinks bestehenden Reaktionspartner auf eine
Temperatur erhitzt wird, bei der das Silan sowie der Reaktionspartner
oxydieren und die entstehenden Oxyde auf der Oberfläche des Gegenstandes eine Glasschicht bilden.
Die gewünschte Silikatglasschicht wird insbesondere durch
eine chemische Reaktion in der Dampfphase auf der Oberfläche
des Gegenstandes gebildet, indem dieser auf eine Temperatur im Bereich zwischen 300 und 600°C in einer Atmosphäre erhitzt
wird, die aus einer Mischung eines inerten Trägergases, Silan (SiH2^), das das Silizium zur Bildung von Siliziumdioxyd liefert,
andere Hydride und/oder Alkyle, die Ionen für weitere Oxyde
liefern und Sauerstoff enthält. So kann z.B. ein Borosilikatglas, das aus einer Mischung von Siliziumdioxyd (SiO2) und Bortrioxyd(B20^)
besteht, aus Silan und Diboran (B2Hg) durch Oxy-
10085370364
dation dieser Hydride bei erhöhter Temperatur synthetisiert
werden.
Ternäre Gläser, wie Aluminiumborsilikatgläser, können durch thermische Oxydation eines Metallalkyls , wie Trimethylaluminium,
in Verbindung mit Hydridreaktionen hergestellt werden.
Die Erfindung wird anhand der Zeichnung näher erläutert,
deren einzige Figur beispielsweise eine typische Apparatur zur Durchführung des vorliegenden Verfahrens zeigt.
Beim vorliegenden Verfahren wird der zu beschichtende
Gegenstand in einer Reaktionszone auf eine bestimmte Temperatur erhitzt. Die Erhitzungstemperatur muß für eine thermische Oxydation
der Hydride und Alkyle der Kationen der in dem herzustellenden
Glas enthaltenen Oxyde ausreichen. Die Temperaturen, bei denen die Reaktionen durchgeführt werden, hängen von den verwendeten
Reaktionspartnern ab, sie liegen jedoch gewöhnlich im Bereich zwischen 300 und 600°C, wobei für die meisten Zusammensetzungen
eine Temperatur um 450 C bevorzugt wird. Die
Temperaturen sind also verhältnismässig niedrig und es können
daher die meisten Halbleitereinrichtungen ohne nennenswerte Beeinflussung ihrer elektrischen Eigenschaften überzogen werden.
Es sei darauf hingewiesen, daß es sich bei den oben angegebenen Temperaturen um die Temperaturen des Gegenstandes, also des Substratmateriales,
handelt und daß die Temperaturen der Gase
1.098-53/0-354
in der Reaktionsatmosphäre etwas niedriger sind.
Die Reaktionszone wird-normalerweise auf Atmosphärendruck oder einem schwachen Überdruck gehalten und sie kann
mit Mitteln versehen sein, um die gut miteinander vermischten
Reaktionsgase dem den erhitzten Gegenstand umgebenden. Bereich zuzuführen, wie in Verbindung mit der Beschreibung der Apparafc
tür noch näher erläutert wird.
Das vorliegende Verfahren eignet sich zum tiberziehen
der verschiedensten Gegenstände. Es wurde beispielsweise bei Halbleitereinrichtungen, z.B. Halbleiterkristallen, mono- und
polykristallinen Isoliermaterialien, Metallen , u.a.m. mit.Erfolg angewandt. Das Material des zu überziehenden Gegenstandes beeinflußt
die Wahl der Glaszusammensetzung, das Glas soll insbesondere so gewählt werden, daß sein Wärmeausdehnungskoeffizient
so gut wie möglich mit dem des Substratmateriales übereinstimmt. f ' Bei großen Unterschieden in den Wärmeausdehnungskoeffizienten
können zwar im allgemeinen dünne Überzüge hergestellt werden, bei relativ dicken Überzügen besteht jedoch die Gefahr, daß
das Glas springt. Wenn z.B. reines Siliziumdioxyd auf Silizium niedergeschlagen wird, beginnen bei einer Schichtdicke von etwa
2,5 yum Sprünge aufzutreten. Die für das Überziehen eines bestimmten
Substratmaterials am besten geeignete Glaszusammensetzung kann empirisch bestimmt werden.
Die im folgenden angegebenen Gläser haben sich besonders
für den Einschluß und den Schutz von .Halbleitereinrichtungen
aus Silizium geeignet erwiesen. Es handelt sich hierbei insbesondere
um Borsilikat- , Phosphorsilikat-, Aluminiumborsilikat-
und Zinkborsilikat-Gläser. Andere Gläser* die zum Überziehen von Körpern aus SiBziuni In Frage kommen, sind Antimon- , Wismut-,
Aluminium- und Zinksilikate.
Siliziumdioxyd., das einen Bestandteil aller dieser
Gläser darstellt, wird durch thermische Oxydation von Silan
erhalten. Die Ausgangsmaterialien für eine Boroxyd und Siliziumdioxyd
enthaltende Zusammensetzung sind Diboran und Silan. Wenn ein Phosphorsilikat gewünscht wird, bildet Phosphorpenthoxyd
(P2Oj-) den Nebenbestandteil des Glases, der aus Phosphin (PH,)
gebildet werden kann« Wismutsilikat und Antimonsilikatgläser können in ähnlicher Weise durch Kombination von Siliziumdioxyd
mit Oxyden, die aus Wismuthydriden oder Antimonhydriden hergestellt wurden, erzeugt werden.
Weitere Ionen zur Herstellung noch komplexerer Gläser,
wie z.B. Aluminiumborsilikaten und Zinkborsilikaten, können
mit Hilfe von Metalläkylen eingeführt werden. Die Alkyle können
bei den gleichen Temperaturen oxydiert werden wie die Hydride. Die niedrigeren Alkyle werden bei dem vorliegenden Verfahren
bevorzugt, da sie unter Bildung sauberer Oxyde reagieren.
1098 53/0354 SAD OPHGINAL
Bei den höheren Alkylen ist die Oxydation häufig unvollständig
und es treten dann Zwischenverbindungen, wie Metallalkoxyde auf.
In der Zeichnung ist eine zur Durchführung des vorliegenden Verfahrens geeignete Apparatur 10 dargestellt. Diese Apparatur
enthält eine Reaktionskammer 12 mit einem etwa glockenförmigen
W Glasgefäß 13, das , ζ .B. durch nach unten reichende Füße I2I- ,
so auf einer Grundplatte 15 gelagert ist, daß ein^e Verbindung
zur Atmosphäre besteht.
Im unteren Teil des Gefässes 13 befindet sieh ein Substrathalter 16, auf den ein zu Überziehender Gegenstand 17 angeordnet ist. Die den Substrathalter 16 tragende Vorrichtung ist
nicht dargestellt, um die Zeichnung Übersichtlicher zu machen. Der Substrathalter 16 kann ruhen oder beweglich gelagert sein,
ein beweglicher Substrathalter wird bevorzugt, da sich gleich-'
förmigere Überzüge ergeben, wenn die Lage des Gegenstandes Xf
während des Überziehens laufend geändert wird.
Die Apparatur 10 enthält eine Widerstandsheizvorrichtung mit einer Schaltungsanordnung 18, die ein in der Nähe des Sub- *
strathalters 16 angeordnetes Widerstandsheizelement 19, eine als Batterie dargestellte Spannungsquelle und einen verstellbaren Widerstand 21 enthält.
10985370354 original inspected
Der Reaktionskammer 12 werden die Reaktionsgase über
Leitungen 22, 23, die an einen den oberen Teil des Gefässes
IJ bildenden Hals 24 radial ansetzen, oder über eine Leitung 25
zugeführt, welche axial in das Gefäss IJ hineinreicht und in
einem sich nach unten erweiternden trichterförmigen Ende 26 mündet,
welches sich senkrecht oberhalb des Gegenstandes 17 befindet.
Die Leitung 25 ist in einem Präzisionsschliff 27 am oberen Ende des Gefässes IJ verschiebbar gelagert, so daß der vertikale
Abstand des trichterförmigen Endes 26 bezüglich des Gegenstandes
17 eingestellt werden kann. Durch das seitliehe Einführen der Reaktionsgase in den ein verhältnismässig kleines
Volumen aufweisenden Hals 24 des Gefässes gewährleistet eine
wirksame Mischung dieser Gase bevor sie den Gegenstand 17. erreichen. Wenn die Gase von den Leitungen 22, 2J dann nach unten
zum Gegenstand 17 strömen, werden sie durch die Aussenwand des trichterförmigen Endes 26 der Leitung 25 abgelenkt und strömen
radial von allen Richtungen turbulent ζμΐη Gegenstand 17.
Die Leitungen 23, 25 dienen wahlweise zum Einleiten von Sauerstoff
und die Leitung 22 dient zum Einleiten der zu oxydierenden Gase. Die Leitung 22 ist über einen Absperrhahn 28 mit einer
-Hauptleitung JO verbunden. Dem stromaufwärts gelegenen Ende der Leitung 2J wird ein Trägergas, z.B. Stickstoff, über eine Verteilerleitung
32, eine Abzweigleitung 34 und eine Regelvorrichtung
35 zugeführt, Die Regelvorrichtung 35 enthält ein Präzisionsregelventil
36, ein geeichtes Strömungsmeßgerät 37 und ein Ab-
109853/0354
sperrventll 38, die hintereinander geschaltet sind. Auch die
anderen Regelvorrichtungen der Apparatur, die noch erwähnt werden, enthalten in entsprechender Weise eine Reihenschaltung aus einem Einstellventil, einem Strömungsmeßgerät und
einem Absperrhahn. Mit der Hauptleitung 30 ist kurz hinter der Regelvorrichtung 35 ein Vakuumanschluß 40 verbunden, der zur
Reinigung der Apparatur dient. Bei der Reinigung der Apparatur wird diese z.B. abwechselnd mit Stickstoff durchgespült und
dann wieder evakuiert.
Die bei der Reaktion verwendeten Hydride, die bei Raumtemperatur gasförmig sind, werden in die Hauptleitung aus Druckbehältern
42, 44 eingespeist. Die Hydride sind in verdünnter Form , also als Mischung mit einem Inertgas, wie Argon, im Handel
erhältlich. Der eine Druckbehälter 42 enthält ein Zusatzhydrid der allgemeinen Formel ΜχΗ , z.B. Diboran oder Phosphin. Dieses
Hydrid kann über eine Leitung 43 und eine Regelvorrichtung
in die Hauptleitung 30 eingespeist werden. Der andere Behälter enthält Silan und ist mit der Hauptleitung 30 über eine Leitung
45 und eine Regelvorrichtung 46 verbunden. Wenn, die verschiedenen
Ventile offen sind, führt die Hauptleitung also hinter der Regelvorrichtung 48 eine Mischung , die Stickstoff, Silan
und das Zusatzhydrid enthält.
Einige der oben als Reaktionspartner erwähnten Metallalkyle
sind bei Raumtemperatur flüssig. Um diese Reaktionspartner
ir ■■"' 1098 5 3/0354 „.;.
in Dampfform in das Reaktionsgefäß 13 einzuführen, ist eine
Blasenvorlage 50 vorgesehen, die mit der Hauptleitung 30 über
ein Regelventil 51 und eine Anschlußleitung 52 verbunden ist.
Der untere Teil der Vorlage 50 enthält Flüssigkeit 54, die von einem Behälter 56" zugeführt werden kann. Bei dem Behälter
kann es sich um ein handelsübliches Druckgefäß handeln, das die als Reaktionspartner benötigte flüssige Verbindung enthält.
Der Behälter §6 ist mit der Vorlage 50 über eine Leitung 58
verbunden, die Ventile 59* 60 * ein Ausgleichsgefäß 61 und ein
bis unter den Plüssigkeitsspiegel in der Vorlage reichendes Rohr 62 enthält.
Der Vorlage 50 wird als Trägergas für die Dämpfe der
Flüssigkeit 54 Stickstoff von der Verteilerleitung 32 über
eine Regelvorrichtung 65, eine Leitung 66 und ein Ventil 68
un den unteren Teil der Leitung 58 zugeführt. Wenn die Regel- 1 vorrichtung 63 und die Ventile 60 und 68 richtig eingestellt
sind, strömt Stickstoff durch das Ausgleichsgefäß 61 und das .
Rohr 62 in die Vorlage, wo er durch die Flüssigkeit perlt und \
Plüssigkeitsdämpfe mitnimmt. Die Mischung aus Dampf und Stick- '■
stoff gelangt dann durch die Leitung 52 in die Häuptleitung 30 <
und mfcht sich in dieser mit den anderen Gasen aus den Hydrid- |
behältern 42 und 44. I
Wie erwähnt, dienen die Leitungen 23 und.25 wahlweise
109853/0354
zum Einführen von Sauerstoff. Welcher Anschluß verwendet wird, hängt von der Zusammensetzung des jeweiligen Glases ab. Bei
manchen Zusammensetzungen wird der Sauerstoff mit den anderen Reaktionspartner vorzugsweise schon im Hals 24 des Reaktionsgefäßes 13 gemischt und man verwendet in diesem Falle dann die
Leitung 23. Bei anderen Gläsern erhält man bessere Resultate, wenn der Sauerstoff näher am Gegenstand 17 in das Reaktionsgefäß
eingeführt wird und in diesem Falle verwendet man dann die
Leitung 25 mit dem trichterförmigen Ende 26. Die Leitungen 23 und 25 sind über! ein Dreiwegeventil 68 und ein Absperrventil
an eine Sauerstoff leitung 70 angeschlossen. Das Dreiwegeventil 68 .·
gestattet die gewünschte Leiteög 23 oder 25 niit der Sauerstoffleitung
70 zu verbinden.
Bei der Sypthese bestimmter Gläser ist es wünschenswert,
das Gesamtvolumen der in das Gefäß 13 strömenden Gase wenigstens
annähernd konstant zu halten, gleichzeitig jedoch die verfügbare
Sauerstoffmenge zu ändern. Zu diesem Zweck wird der Sauerstoff
vor der Einspeisung in die Leitung fO mit Stickstoff verdünnt
und das Verhältnis von Sauerstoff zu Stickstoff ist einstellbar. Der Sauerstoff wird hierfür von einer nicht dargestell- ;
ten Quelle über #ine Leitung 72 und Abzweigleitungen 73* 74 l·
zwei Regelvorrichtungen 75* 76 zugeführt, die für eine relativ \-1
niedrige bzw. relativ hohe Strömungsgeschwindigkeit ausgelegt sind*t
t09853/0354 original
Die Abzweigleitungen 73>
72J- sind mit diesen Regelvorrichtungen
75 bzw. 76 über jeweils ein Dreiwegeventil 78 bzw. 80 verbunden,
die einen wahlweisen Anschluß an die Sauerstoff- bzw. die Stickstoffquelle
(über Leitungen 82,84) erlauben. Wenn sich also die beiden Dreiwegeventile 78,80 in der dargestellten Stellung
befinden, strömt Stickstoff durch die für eine niedrige Strömungsgeschwindigkeit
ausgelegte Regelvorrichtung 75 und Sauerstoff durch die für die hohe Strömungsgeschwindigkeit ausgelegte
Regelvorrichtung 76 und es entsteht eine Sauerstoff-Stickst
off mischung, die überwiegend aus Sauerstoff besteht.
Wenn die beiden Dreiwegeventile 78, 80 dagegen umgeschaltet
werden, strömt der Sauerstoff durch die für eine geringe Strömungsgeschwindigkeit ausgelegte Regelvorrichtung 75 und
der Stickstoff durch die für eine hohe Strömungsgeschwindigkeit ausgelegte Regelvorrichtung 76 und die resultierende Mischung
besteht überwiegend aus Stickstoff» Durch entsprechende Einstellung
der Regelvorrichtungen 75, 76 kann also das pro Zeiteinheit
zugeführte Volumen der Sauerstoff-Stickstoff-Mischung konstantgehalten
und gleichzeitig das Verhältnis der beiden Mischungsanteile in weiten Grenzen geändert werden.
Wenn das vorliegende Verfahren" auf das Kapseln von Halbleitereinrichtungen,
die Metallschichten enthalten, angewendet
10985370 35A
: Wird, sind vor dem Aufbringen der umhüllenden Glasschicht gewisse
Vorsichtsmaßnahmen erforderlich. Erstens soll der zu überziehende Gegenstand in Abwesenheit von Sauerstoff auf die
zum Überziehen erforderliche Temperatur erhitzt werden, um ein Oxydieren der Metallisierung des Gegenstandes zu verhindern.
Zweitens Sollen die Reaktionspartner in einer solchen Reihen- ^ folge in die Reaktionskammer eingeleitet werden, da& das Entstehen von Sauerstoffverarmten Schichten verhindert wird. Bezüglich
dieser zweiten Forderung sei erwähnt, daß sich schlecht
isolierende Schichten ergeben, wenn beim Einführen von Diboran
und Silan in die·Reaktionskammer nur Spuren von Sauerstoff anwesend.'
Das Entstehen von sauerstoffverarmten Schichten wird
verhindert, wenn die Gase in der folgenden Reihenfolge eingeführt werdent
Zuerst wird das Heizelement 18 eingeschaltet, um die
) f Apparatur auf die übliche Beschichtungstemperatur zu bringen,
z.B. auf etwa 4500C . Die Regelvorrichtung 35 wird dann geöffnet,
so daß Stickstoff in das Gefäß 13 zu- strömen beginnt; die
Strömungsgeschwindigkeit; des Stickstoffs wird dabei auf einen
solchen Wert eingestellt, daß der Druck im Gefäß 13 etwas grosser
als der Atmosphärendruck ist und atmosphärische Luft dem- -;■ eat sprechend nicht in das Gefäß 13 einströmen kann. Das Gehäuse
13 wird dann kurz von der Grundplatte abgehoben, der zu beschichtende
Gegenstand 17 wird auf den Substrathalt er 16 gelegt und
1.098-5 3/-03S 4
ORIGINAL
das Gefäß 13 wird dann wieder auf die Grundplatte aufgesetzt.
Nachdem der Gegenstand gewünschte Temperatur erreicht
hat, wird die Strömungsgeschwindigkeit des Stickstoffes durch die Regelvorrichtung 35. auf den für das Aufbringen der Glasschicht
gewünschten Wert eingestellt. Als nächstes wird die Regelvorrichtung 46 für das Silan geöffnet. In Abwesenheit
von Sauerstoff bildet sich bei der Arbeitstemperatur kein Niederschlag
auf der Oberfläche des Gegenstandes 17·
Eine kurze Zeitspanne, z.B. etwa 20 Sekunden,. nach dem
Anstellen der SiIanströmung, wird die Sauerstoffzufuhr geöffnet.
Wie erwähnt, kann der Sauerstoff je nach der Zusammensetzung des zu bildenden Gases entweder durch die seitliche Leitung
oder durch den Trichter 26 eingeführt werden. Wenn die Gase in dieser Reihenfolge eingeführt werden, reagiert dfci? Sauerstoff
mit dem Silan bevor er etwa auf dem Gegenstand 17 vorhandenes
Metall oxydieren kann.
Da die Borsilikat- und Phosphorsilikat-Gläser, die bei
dem -vorliegenden Verfahren gebildet werden können. Elemente
enthalten, die in Silizium als Dotierungsstoffe wirken, wird
empfohlen, zuerst eine Grundschicht aus Siliziumnitrit oder Siliziumdioxyd als Diffusionssperre auf der Oberfläche des
Gegenstandes 17 zu bilden, wenn der Gegenstand aus Silizium besteht.
Hierfür können z.B. ausschließlich Silan und Sauerstoff
10985 3/03
in die Reaktionskammer 12 eingeleitet werden, bis eine etwa
1 /um dicke Schicht entstanden ist, die als Diffusionssperre
wirkt.
Nachdem die z.B. aus Siliziumdioxyd bestehende Grundschicht die gewünschte Dicke erreicht hat, kann eine Umhüllungsschicht aus einem binären oder ternären Glas in folgender Weise
gebildet werden: Die Regelvorrichtung, die den Fluß des Gases
zur Bildung des sekundären Oxydes für ein binäres Glas steuert,
wird geöffnet, wenn die Siliziumdioxydschieht die gewünschte Dicke erreicht. Wichtig ist hierbei, daß genügend Sauerstoff
in die Reaktionskammert strömt, um sowohl das Silan als auch
den weiteren Reaktionspartner im gewünschten Grade zu oxydieren. Wenn dies nicht der Fall ist, entsteht eine schlecht isolierende Schicht.
Zur Bildung ternärer Gläser wird als weiterer Reaktionspartner
Metallalkyl unmittelbar nach dem Beginn der Strömung des zweiten Reaktionspartners eingeführt.
Die Strömungsgeschwindigkeiten der verschiedenen Bestandteile
bestimmen das Verhältnis dieser Anteile in der Reaktionsmischung und damit die Anteile der Oxydbestandteile des Glases.
In den Tabellen I und II sind Strömungsgeschwindigkeiten für
mehrere typische Gläser angegeben, wie sie mittels des vorliegenden
Verfahrens hergestellt werden können. Die Tabelle I
109853/0354
und Tabelle II entjhäit Angaben Über die äfcröjmingsgesehwindigkBit
des Sauerstoffs und Stickstoffs durch die entsprechenden Regelvorrichtungen
75 bzw. 76.
In allen angegebenen Fällen wird Stickstoff als Trägergas
mit einer StrÖmungsgeschwindigM.t von etwa 1900 cnr/tnin*
durch die Regelvorrichtung 35 zugeführt und die Substrattemperatur wird auf einer Temperatur zwischen 450 und 475° gehalten.
Die Schichtbildung erfolgt gewöhnlieh mit einer Geschwindigkeit
zwischen 800 und 1200 AE pro Minute. Alle angegebenen Beispiele
liefern qualitativ hochwertige Gläser.
Wenn die Regelvorrichtungen während der Beschichtung nicht verstellt werden, ergibt sich ein gleichförmiger Überzug. Die
verschiedenen Regelvorrichtungen können jedoch während der Beschichtung
verstellt werden, um die Struktur der Glasschicht während ihrer Bildung zu ändern. So kann beispielsweise, wie
bereits erwähnt wurde, zwischen der endgültigen umhüllenden Silikatglasschicht und dem umhüllten Gegenstand eine als Diffusionssperre
wirkende Siliziumdioxydschicht gebildet werden. Man kann ganz allgemein also unterschiedliche Schichten aus
verschiedenen Gläsern in beliebiger Zahl aufbringen, indem man die Anteile der an der Reaktion beteiligten Gase ,diskontinuierlich
ändert, also bestimmte Bestandteile zu bestimmten Zeiten
10 9 8 5 3 / 0 3 5 4
hinzufügt oder wegläßt.
Die Apparatur 10 kann auch so betrieben werden, daß sich die Zusammensetzung der Glasschicht allmählich ändert. Die
verschiedenen Regelvorrichtungen werden dann während der Bildung der Glasschicht entsprechend einem vorgegebenen Programm kontinuierlich verstellt.
verschiedenen Regelvorrichtungen werden dann während der Bildung der Glasschicht entsprechend einem vorgegebenen Programm kontinuierlich verstellt.
Unabhängig von den Änderungen der Strömungsgeschwindigkeiten
während des Aufbringens der Schicht oder Schichten sollten am Schluß die verschiedenen Gase in der folgenden Reihenfolge
abgestellt werden; Wenn Diboran oder Phosphin den zweiten
Bestandteil bildet, werden diese immer zuerst abgestellt, anschliessend das Metallalkyl und dann das Silan. Der Sauerstoffstrom
wird kurz nach dem letzten gasförmigen Reaktionspartner
abgestellt. Gewöhnlich wird dann die Stickstoffströmung durch,
die Regelvorrichtung 35 verstärkt, um Gasreste aus der Apparatur
) t zu spülen.
Die in der oben beschriebenen Weise gebildeten Gläser können
ohne Nachbehandlung für viele Zwecke verwendet werden. Es hat sich jedoch gezeigt, daß gewisse Gläser bei Einwirkung hoher
Temperaturen und hoher Feuchtigkeit zum Entglasen neigen. Da
solche Bedingungen beim Betrieb von Halbleitereinrichtungen
häufig anzutreffen sind, ist es zweckmässig, die Gläser nach-
solche Bedingungen beim Betrieb von Halbleitereinrichtungen
häufig anzutreffen sind, ist es zweckmässig, die Gläser nach-
1^98-5 3/0
1690028
zubehandeln, um die Gefahr eines Entglasens zu beseitigen.
Die Nachbehandlung besteht insbesondere in einer Wärmebehand- '
lung nach der Beschichtung, die folgendermassen durchgeführt wird:
Nachdem eine Glassehicht auf einem Gegenstand gebildet worden ist, wird dieser Gegenstand in einen Ofen gebracht und
so lange und so hoch erhitzt, daß sich die physikalische' Struktur
des Glases ändert, was sich als Verdichtung und "Verringerung der Leitfähigkeit zeigt. Im allgemeinen soll die Temperatur so
hoch sein, wie es ohne Beeinträchtigung der Metallisierung des Bauelementes und ohne unerwünschte zusätzliche Eindiffusion
von Dotierungsstoffen in den Halbleiter möglich ist. Gewöhnlich braucht die Temperatur bei der Wärmebehandlung 9000C nicht
zu überschreiten.
Bei hohen Temperaturen verdichtet sich das Glas relativ schnell, so daß nur kurze Nachbehandlungszeiten erforderlich
sind. Wenn es andererseits erforderlich ist, mit niedrigen Temperaturen zu arbeiten, um Änderungen der inneren Struktur des
beschichteten Gegenstandes zu vermeiden, muss man mit längeren Nachbehandlungszeiten arbeiten.
Die Nachbehandlung und deren Wirkung können am folgenden
Beispiel gezeigt: Die Ätzgeschwindigkeit eines gewöhnlichen Borsilikatglases, wie dem mittleren Borsilikatglas in Tabelle I,
109853/0354
' ' -18-
in einer gepufferten Ätzlösung betrug 7 AE pro Sekunde. Die Ätzlösung enthielt eine Mischung aus 454 g Ammoniumfluorid,
680 Milliliter destilliertem Wasser und I63 Milliliter 49#iger
Flußsäurelösung. Der- beschichtete Gegenstand wurde anschliessend
etwa 10 Minuten auf 85O0C erhitzt und anschliessend wurde
die Ätzgeschwindigkeit erneut gemessen. Sie betrug nun nach der Wärmebehandlung etwa 4 AE pro Sekunde, was zeigt, daß das
Glas durch die Wärmebehandlung verdichtet worden ist.
109853/0 354
Strömungsgeschwindigkeiten der Reaktionspartner bei der Synthese typischer Gläser
( ern5/min bet 1,05 kp/cm2, 240C)
-ν O CO
Glasart | in Argon | 10* B2H6 in Argagu |
iOj6 PH, in Argon |
Stickstoff durch Al(CH,), |
Stickstoff durch Zn(CpH1-) 0 |
I. Siliziumdioxid | 40 | - ■ ■ | - | - | - |
II. Schweres Borosilikatglas mittleres Borosilikatglas leichtes Borosilikatglas Phosphosilikatglas Aluminosilikatglas Zinksilikatglas Bleisilikatglas |
40 40 40 40 40 40 40 |
U 13.3 6.8 |
7.5 | 80 |
I OO I I I Il
O ir · |
III.Aluminoborosilikatglas Zinkborosilikatglas |
40 40 |
13.3 | 80 | ||
+) Der Diboranbehälter war etwa 1 Jahr alt
CD CO CT) CD N) CO
Strömungsgeschwindigkeiten des Sauerstoffs und des zusätzlichen Stickstoffs für
die Gläser gemäss Tabelle I
CD „
(cnP/min bei 1,05 kp/cm2 , 24°c)
Glasart | Sauerstoff durch Leitung 25 |
Sauerstoff durch Leitung 25 |
Sauerstoff durch Trichter |
Stickstoff durch Trichter |
1 ;- | ||||
I. Siliziumdioxyd | 90 | O bis 10 | - | - |
II. Schweres Borosilikatglas j Mittl. Borosilikatglas Leichtes Borosilikatglas Phosphosilikatglas Aluminosilikatglas Zinksilikatglas |
• 158 125 ΙΟδ 90 90 |
O bis 10 O bis 10 |
90 | _ ■ ■■» 0 bis 10 9*J O ■♦ |
III.Alurainoborosilikatglas I Zinkborosilikatglas |
125 125 |
0 0 |
- |
co cn co
Claims (17)
1. Verfahren zum überziehen der Oberfläche eines
Gegenstandes mit Eilikatglas, dadurch gekennzeichnet, daß der Gegenstand in einer gasförmigen
Mischung aus einem Inertgas, Silan, Sauerstoff sowie einsn
aus mindestens einem Hydrid des Bors und/oder Phosphors und/cd"?
Antimons und/oder V/israuts, und/oder einem Alkyl de3 AluaisütiED ι
und/oder Zinlcs bestehenden Reaktionspartner auf eine Temperatur·
erhitzt wird, bsi der das Silan ßovde der Reaktlonspartnas*
oxydiert werden und öle entstehenden Oxyde eine Glasschiclit
auf der Oberfläche des Gegenstandes bilden*
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h ge*
kennzeichnet, daß die gasförmige Mischung das Sil£n»
den Sauerstoff und den Reaftbionspartner in solchen Anteilen
enthalt, daß die entstehende Sohl ent einen V/ärmeausdehnun^skocffizienten
hat, der wenigstens annähernd mit dem des Gegenstandes
Übereinstimmt.
j3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch g e k e η η ζ e i c h η e t , daß als Reaktionspartner Diboran
verwendet wird·
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
«ΛΛΛ ' BAD OR!GINAU
109853/0354
-22- ■ .
gekennzeichnet , dad als Reaktionspartner Phosphin
verwendet wird«
5 · Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet , daß als Reaktionspartner eins
Mischung aus Diboran und Aluminlumtriinethyl verwendet wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß ale Reaktionspartner eine
Mischung aus Diboran und Zinkdläthyl verwendet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet , daß als ReaktionspBrtner Antimonhydrid
verwendet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2« d a d u r c h
gekennzeichnet , daß das als Reaktionspartner WIsmutüydrid
verwendet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2* d a du r c h
gekennzeichnet« daß als Reaktionspartner Aluminlucitrlmethyl
verwendet wird.
10. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch , gekennzeichnet t daß als Reaktionspartner ZInIc- :
diäthyl verwendet wird. - \
10 9 8 5 3 / 0 3 5 4 BAD ORIGINAL
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprache«
dadurch gekennzeichnet, da3 der su
beschichtende Gegenstand auf eine Temperatur zwischen etwa 2CG°C
und etwa 600°C erhitzt wird· ,
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden AnsprUcho«
dadurch Gekennzeichnet, daß dor Gegenstand au3serdem noch εο lange und so hoch erhitzt wird« daß
eine Verdichtung der Glasschicht eintritt.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche«
dadurch gekennzeichnet« daß der Gegen«
stand vor dem Auf bringen der Olasschicht in einer gasförmigem
Mischung aus einem Inertgas« Silan und Sauerstoff erhitzt wird,
um die Oberfläche zuerst mit einer Schicht aus Sillziuadloxyd
zu Überziehen.
14. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche« dadurch gekennzeichnet, daß die Mengen-Verhältnisse des Silans« des Sauerstoffe und des Reaktionopart-ners in der Mischung während der Bildung der Schicht eo geändert
v/ird, daß die entstehende Schicht Lagen verschiedener Zusammensetzung aufweist.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet« daß die Mengenverhältnisse diskontinuierlich geändert vrerden.
9853/0354
16. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch Gekennzeichnet* daS die Mengenverhältnisse korßi«
nulerlich ge&ndert werden.
17. Verfahren nach einem der vorhergehenden AnnprUchc,
dadurch g e Ic ο η η ζ e 1 C h η e t , daß die folgenden VerfahrensGChritte der Reihe nach ausgeführt Werdens
Erhitzen dee Gegenstandes in einer Reaktionskaosc? (1.2]
unter strömendem Stickstoff auf eine Temperatur zwischen c'wa
3000C und etwa 600°C;
Einleiten von Silan ssit bestimmter Stroraur^sseschuln»
dlgkeit in die Realctionalcaianier;
Einleiten von Sauerstoff mit bestimmter Strönninssgeßchwindigkeit
In die lHeaktionskamsier;
Einleiten eines Reaktionspartners mit bestimmter Stromungsgeßchwindigkeit
in die Heaktlonskamnier· nämlich einen
oder mehrere der folgenden Verbindungen: Hydride des Eora,
Phosphors« Antimons und Wismuts; Alkyle des Aluminiums und
Zinks sowie Mischungen solcher Hydride und Alkylej
nach einer ßevrtlnschten Boschichtungsdauer Abstellen
der Strömungen des Reaktionspartners , des Silans, des Sauerstoffs
und des Stickstoffs.
18 i Verfahren nach Anspruch 17« dadurch 5 e -
kennzeioh η e t , daß als Koalitionspartner eir.3 ll^Crl"
109853/035A
1896628
Alkyl-Mlcchuns verwendet wird und daß die Strömung des
Kydrldantolles dor Mischung vor der Strümur$3 des Alkylanicl·
lea ance-steilt und vor öcin Abstellen deo Alkylanteiles ai:so·
stellt
109 853/0354 BAD
Lee rs e i t e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US62390567A | 1967-03-17 | 1967-03-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1696628A1 true DE1696628A1 (de) | 1971-12-30 |
DE1696628B2 DE1696628B2 (de) | 1972-08-31 |
Family
ID=24499855
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681696628 Pending DE1696628B2 (de) | 1967-03-17 | 1968-03-18 | Verfahren zum ueberziehen der oberflaeche eines gegenstandes mit silikatglas |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3481781A (de) |
DE (1) | DE1696628B2 (de) |
ES (1) | ES351638A1 (de) |
FR (1) | FR1561537A (de) |
GB (1) | GB1202631A (de) |
MY (1) | MY7300266A (de) |
SE (1) | SE322104B (de) |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4817792B1 (de) * | 1967-03-29 | 1973-05-31 | ||
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-
1967
- 1967-03-17 US US623905A patent/US3481781A/en not_active Expired - Lifetime
-
1968
- 1968-02-27 GB GB9416/68A patent/GB1202631A/en not_active Expired
- 1968-03-15 SE SE3432/68A patent/SE322104B/xx unknown
- 1968-03-15 FR FR1561537D patent/FR1561537A/fr not_active Expired
- 1968-03-15 ES ES351638A patent/ES351638A1/es not_active Expired
- 1968-03-18 DE DE19681696628 patent/DE1696628B2/de active Pending
-
1973
- 1973-12-30 MY MY266/73A patent/MY7300266A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1202631A (en) | 1970-08-19 |
FR1561537A (de) | 1969-03-28 |
MY7300266A (en) | 1973-12-31 |
SE322104B (de) | 1970-03-23 |
ES351638A1 (es) | 1969-06-01 |
DE1696628B2 (de) | 1972-08-31 |
US3481781A (en) | 1969-12-02 |
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