DE2140092C3 - Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten - Google Patents
Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf SubstratenInfo
- Publication number
- DE2140092C3 DE2140092C3 DE2140092A DE2140092A DE2140092C3 DE 2140092 C3 DE2140092 C3 DE 2140092C3 DE 2140092 A DE2140092 A DE 2140092A DE 2140092 A DE2140092 A DE 2140092A DE 2140092 C3 DE2140092 C3 DE 2140092C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- gas
- substrates
- layers
- chamber
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45512—Premixing before introduction in the reaction chamber
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/001—General methods for coating; Devices therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/225—Nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/23—Oxides
- C03C17/245—Oxides by deposition from the vapour phase
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/401—Oxides containing silicon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/403—Oxides of aluminium, magnesium or beryllium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/404—Oxides of alkaline earth metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/405—Oxides of refractory metals or yttrium
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/406—Oxides of iron group metals
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/407—Oxides of zinc, germanium, cadmium, indium, tin, thallium or bismuth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/408—Oxides of copper or solid solutions thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45593—Recirculation of reactive gases
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/56—After-treatment
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/21—Oxides
- C03C2217/229—Non-specific enumeration
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2218/00—Methods for coating glass
- C03C2218/10—Deposition methods
- C03C2218/15—Deposition methods from the vapour phase
- C03C2218/152—Deposition methods from the vapour phase by cvd
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/24—Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
- Y10T428/24802—Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/29—Coated or structually defined flake, particle, cell, strand, strand portion, rod, filament, macroscopic fiber or mass thereof
- Y10T428/2913—Rod, strand, filament or fiber
- Y10T428/2933—Coated or with bond, impregnation or core
- Y10T428/294—Coated or with bond, impregnation or core including metal or compound thereof [excluding glass, ceramic and asbestos]
- Y10T428/2956—Glass or silicic fiber or filament with metal coating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/29—Coated or structually defined flake, particle, cell, strand, strand portion, rod, filament, macroscopic fiber or mass thereof
- Y10T428/2913—Rod, strand, filament or fiber
- Y10T428/2933—Coated or with bond, impregnation or core
- Y10T428/294—Coated or with bond, impregnation or core including metal or compound thereof [excluding glass, ceramic and asbestos]
- Y10T428/2958—Metal or metal compound in coating
Description
ίο
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten (Keramik, Kunsftoffen.
Metallen, Glas) durch Abscheidung aus einem ein inertes Trägergas und den Dampf einer metallorganischen
Verbindung enthaltenden Gas-Dampfgemisch unter relativ niedrigen Temperaturen und Drücken in
einer Kammer.
Bei einem solchen bekannten Verfahren (US-PS 28 3J676) werden oxidfreie metallische Kupferschichten
auf Substrate aufgebracht, die aus Barium-Titanatkörper bestehen, die das Dielektrikum von Kondensatoren
od. dgl. bilden sollen. Hierzu wird eine Abscheidung aus einer Gas-Atmosphäre vorgeschlagen, die
reich ist an einer Substanz, hier Kupferacetylacetonat,
welche die oxidfreie metallische Kupferschicht auf dem Substrat liefert Mit dieser Methode kann ein festhaftender
Belag erhalten werden, der als elektrische Anschlußelektrode verwendbar ist Eine Erzeugung von
in ihrer Schichtdicke gleichmäßig dünnen und stets in gleicher Weise reproduzierbaren Schichten, die auch
Anforderungen der Optik genügen, ist mit diesem Verfahren nicht möglich. Zu beachten ist auch, daß die
zu beschichtenden Substrate auf eine Temperatur aufgeheizt werden, die wesentlich über der pyrolytischen
Zersetzungstemperatur des Schichtbildners liegt.
Unter diesen Bedingungen sind zwar technisch brauchbare Abscheidungsgeschwindigkeiten erreichbar,
aber es lassen sich keine optisch homogenen und absolut nadellochfreien Schichten herstellen, die frei sind von
eingeschlossenem Kohlenstoff und teilzersetzten Reaktionsprodukten aus den verwendeten teilorganischen
Verbindungen.
Bei einem weiteren bekannten Verfahren zur Herstellung oxidhaltiger Schichten auf Substraten
(US-PS 30 81 200) werden die Substrate hoch (etwa 500° C) erhitzt und dann mit einer, das Schichtmaterial
enthaltenden Lösung besprüht. Dieses Verfahren ist zur Herstellung optischer Filter und elektrooptischer
Schichten, insbesondere vorgeformten, z. B. konvexen oder konkaven Linsen nicht geeignet, da es in der Praxis
nicht in reproduzierbarer Weise möglich ist, eine insbesondere unabhängig von der Kontur des Substrates
gleichförmige Schicht zu erhalten.
Weiter ist ein Beschichtungsverfahren bekannt (US-PS 33 06 768), bei dem mit relativ niedriger
Temperatur (200° C) gearbeitet werden kann, das aber einen hydrolytischen Abscheidungsvorgang vorsieht
und daher hinsichtlich der Zusammensetzung der abgeschiedenen Schicht engen Begrenzungen ausgesetzt
ist.
Ebenfalls bekannt ist ein hydrolytisches Verfahren (DE-AS 10 80 275) zur Aufbringung von Metalloxidschichten,
daß jedoch im Gegensatz zu dem vorerwähnten hydrolytischen Verfahren mit einer Temperatur in
der Größenordnung von 600°C arbeitet.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten zu
schaffen, das zu deren Schonung mit geringeren Temperaturen als 3000C durchführbar ist und dabei in
reproduzierbarer Weise die Erzeugung optisch gleichmäßig dünner Schichten, wie sie für Filter, Fotomasken
oder fotoelektrisch aktive Elemente benötigt werden,
erlaubt und das es gegebenenfalls auch gestattet, eine Mehrzahl solcher Schichten abwechselnd unterschiedlicher
Zusammensetzung in bestimmter Reihenfolge und mit bestimmten Übergangsschichten, auf ein Substrat
aufzubringen.
Diese Aufgabe wird, ausgehend von dem eingangs genannten Verfahren zur Herstellung dünner Schichten
auf Substraten, erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zur Erzeugung von gleichmäßig dünnen, optisch aktiven
Oxid- bzw. Sulfidschichten die Substrate mit der Kammer auf eine Temperatur zwischen 100" und 280" C
aufgeheizt werden, daß neben dem als ersten Reaktanden organische Verbindungen eines oder mehrerer der
Metalle Blei, Chrom, Kobalt, Eisen, Kupfer, Nickel, Mangan, seltene Erden enthaltenden ersten Gas-Dampfgemisch
ein zweites Gas-Dampfgemisch erzeugt wird, das ein inertes Gas (z. B. Kohlendioxid) und als
zweiten Reaktanden Sauerstoff bzw. Schwefelwasserstoff in einem kleinen Volumenprozentsatz enthält, daß
das erste Gas-Dampfgemisch mit dem zweiten Gas-Dampfgemisch innig vermischt wird, wobei die G°samtkonzentration
an niederschlagerzeugenden Bestandteilen (erste und zweite Reaktanden) in dem so erhaltenen
komplexen Gemisch höchstens 5 Vol.-% beträgt, daß das komplexe Gemisch unter einem Druck zwischen 0,1
und 4 Atmosphären (vorzugsweise nahe 1 Atmosphäre) in die Kammer eingebracht wird und in dieser die im
ersten Reaktanden enthaltenen Metalle auf den Substraten als Oxide bzw. Sulfide niedergeschlagen
werden.
Dieses erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht eine Herstellung von optisch homogenen und absolut
nadellochfreien Schichten auf Substraten, z. B. konvex oder konkav geformten Linsen, wobei es möglich ist,
gleichmäßig reproduzierbare Schichten zu erhalten.
In Weiterbildung der Erfindung betragen die Einzelkonzentrationen an niederschlagerzeugenden Bestandteilen
(erste und zweite Reaktanden) in dem komplexen Gemisch jeweils höchstens 1 VoI.-%.
Zur Erzeugung einer Oxidschicht beträgt vorzugsweise die Konzentration des als zweiter Reaktand in dem
komplexen Gemisch enthaltenen Sauerstoff höchstens 0,1 Vol.-%.
Dadurch, daß die Einzelkonzentrationen der einzelnen Reaktanden sehr niedrig gehalten sind und
insbesondere bei der Erzeugung einer Oxidschicht der zweite Reaktand Sauerstoff mit nur einer Konzentration
von 0,1 Vol.-% gewählt wird, ist eine genauestens steuerbare Dicke der gewünschten Schichten auf den
Substraten möglich.
In Weiterbildung des erfindnngsgemäßen Verfahrens wird einem der Gas-Dampfgemische ein Dotierungsmittel in einer Konzentration von höchstens 0,1 Vol.-%
beigemischt.
Vorteilhaft können durch alternierendes Beschicken der Kammer mit einem ersten und einem zweiten
komplexen Gemisch abwechselnd erste und zweite Schichten in beliebiger Anzahl erzeugt werden, welche
durch Zwischenschichten sich stetig ändernder Zusammensetzung getrennt sind.
Dieses erfindungsgemäße Verfahren gestattet es, in stets reproduzierbarer Weise die Substrate, z. B.
konvexe oder konkave optische Linsen mit mehreren, verschiedenen optischen Schichten zu belegen, zwischen
denen sich besti.nmte, optisch wirksame Zwischenschichten bilden. Wesentlich ist, daß diese optisch
homogenen Schichten frei sind von eingeschlossenem Kohlenstoff und teilzersetzten Reaktionsprodukten der
verwendeten metallorganischen Verbindungen.
In Weiterbildung der Erfindung können zur Erzeugung
eines lichtundurchlässigen Films Substrate mit
ι einer Oxidschicht versehen und dann mit einem inerten
Trägergas in Berührung gebracht werden, welches einen reduzierenden Bestandteil enthält
In vorteilhafter Weiterbildung ist der reduzierende Bestandteil Wasserstoff, Kohlenmonoxid oder Methan
in und die beschichteten Substrate werden anschließend
durch einen Kohlendioxidstrom oder durch eine Siliziumdioxidschicht passiviert
Erfindungsgemäß können die Substrate dergestalt durch Masken hindurch beschichtet werden, daß sich die
dünnen Schichten lediglich auf ausgewählten Flächen niederschlagen. Hierdurch ist es möglich, mikroskopisch
kleine Muster, z. B. Mikrominiaturmuster auf den Substraten zu bilden. Die für die Bildung solcher Muster
notwendigen, auf den Substraten vor der Beschichtung
2i) anzubringenden Masken oder Schablonen können z. B.
durch fotografische Techniken erzeugt „irden.
Ein nichtbeschränkendes Ausführungsbdspiel der
Erfindung ist nachstehend in den Zeichnungen beschrieben. Es zeigt
is F i g. 1 die Seitenansicht einer als dichroitischer Filter
beschichteten optischen Linse,
Fig.2 einen Querschnitt entlang der Linie H-II in F i g. 1 in vergrößertem Maßstab,
F i g. 3 die graphische Darstellung der prozentualen
F i g. 3 die graphische Darstellung der prozentualen
jo Transmission in Abhängigkeit von der Wellenlänge, aus
der die optische Eigenschaft des dichroitischen Filters hervorgeht und
F i g. 4 die schematische Darstellung einer bevorzugten Ausführungsform der Vorrichtung zur Durchfüh-
j> rung des Verfahrens.
Fig. 1 zeigt eine optische Linse 10 mit summarisch mit 12 bezeichneten dichroitischen Mehrfach-Filterschichten
auf ihrer konvexen Oberfläche 14. E>ie Schichten 12 sind nach dem erfindungsgemäüen
Verfahren hergestellt worden.
Der in Fig.2 gezeigte Filterausschnitt weist ein Glassuostrat 16 auf, das mit einer ersten Schicht 18 aus
Eisenoxid, einer zweiten Schicht 20 aus Chromoxid, einer dritten Schicht 22 aus Eisenoxid, einer vierten
Schicht 24 aus Chromoxid und einer äußeren Schicht 26 aus Eisenoxid, versehen ist. In dem gezeigten Ausschnitt
ist eine ziemlich scharfe Grenzlinie 28 zwischen Glassubstrat 16 und Schicht 20 erkennbar. Zwischen den
Schichten 18 und 20 tritt jedoch eine Übergangszone 30
so auf, und zwischen den Schichten 20 und 22, 22 und 24, sowie 24 und 26 sind Übergangszonen 32, 34 und 36
erkennbar. Die Übergangszonen bilden eine relativ dünne Zwischenschicht mit ausgehend vom Substrat
abnehmender Konzentration an Material der inneren Schicht und zunehmender Konzentration an Materiel
der nächstäußeren Schicht.
F i g. 3 zeigt die Eigenschaften der in den F i g. 1 und 2 dargestellten beschichteten Linse im Diagramm. Die
prozentuale Transmission von Licht mit Wellenlängen
w) größer als 0,7 μ weist einen praktisch konstanten Wert
von etwa 58Q/o auf. Sie ist jedoch bei Wellenlängen unterhalb 0,4 μ nahezu Null.
Fig.4 zeigt eine bevorzugte Ausführungsform der
Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen
hi Verfahrens. Zwei Verdampfer 40 und 42, mit einem
inneren Volumen von etwa 0,5 Litern, werden beheizt durch Heizmittel 44 und 46, welche schematisch als
Widerstandswindungen dargestellt sind. Es kann jedoch
auch jede andere passende, anwendbare Methode bzw. Vorrichtung zum Heizen der Verdampfer 40 und 42
benutzt werden. Vorteilhaft sind die HeizmiUel 44 und 46 mit Vorrichtungen zur automatischen Temperaturregelung
der Verdampfer 40 und 42 versehen. Jeder der beiden Verdampfer 40 und 42 oder auch beide können
durch die Sammelleitung 50 und die Zuführung 52 bzw. 54 mit Helium oder einem anderen Inertgas beschickt
werden. Die Elemente 53 bzw. 55 bedeuten Zufuhr- und Meßsysteme, mit deren Hilfe den Mischräumen der
Verdampfer 40 bzw. 42 flüchtige (oder gasförmige) Reaklanden zugeführt werden. Zur genauen Steuerung
der Verdampferleistiing werden die Verdampfer vorzugsweise
nahezu mit durchlaufendem Gasstrom trocken gefahren, wobei die flüchtige Flüssigkeit mittels
eines konventionellen Konstantvorschubkolbens, der vorzugsweise in bekannter Art von einem nicht
dargestellten, mittels Getriebe untersetzten Elektromotor variabler Geschwindigkeit angetrieben wird. Die
Elemente 56 und 58 zeigen schematisch Gasdurchllußmeß- und Steuergeräte.
Im vorliegenden Beispiel wird der Strom durch die Verdampfer durch versenkte, poröse Platten 59, 59'
geführt. Es können ebenso irgendwelche anderen konventionellen Mittel zur innigen Berührung des
Verdampfer-Trägergases mit dem verdampfenden Material verwendet werden, beispielsweise ein eintauchender
Einlaß, frittierte Platten u. a. Die Leitungen 60 und 62 führen das den Verdampfern 40 bzw. 42 entströmende
Gasgemisch in eine zweite Sammelleitung 64, wobei der Durchfluß mittels der Ventile 66, 68 gesteuert wird.
Die Vorrichtungen 69 bzw. 69' zeigen schematisch Überdruck-Sicherheitsventile. Zuleitungen 70, 72 und
74. durch die reagierende Gase oder Spülgase zugeführt werden, beispielsweise CO?. O2 oder Nj münden in die
Sammelleitung 64. Die Elemente 76, 78 und 80 sinJ schematisch angedeutete Durchflußmeß- und -regelgeräte
zum Messen und Regeln der entsprechenden Gasströme in den Leitungen 70, 72 und 74. Die Leitung
74 wird ebenso wie die Leitung 84. die mit einem Ventil 86 ".ersehen ist. von einem Gasstrom aus der
Sammelleitung 82 gespeist.
Die Sammelleitung 64 mündet in die Mischkammer 90. welche ein relativ großes Volumen (etwa 4 dm!) und
vorzugsweise ein Labyrinth aufweist. Die Mischkammer 90 ist mit einer schematisch dargestellten regelbaren
Heizung 94 versehen. Das der Mischkammer 90 entströmende Gas-Danipfgemisch wird durch die
Leitung 96 und hinter dem Ventil 98 in die Leitung 99 geführt, die hermetisch mit der Kammer 100 verbunden
ist. in der die Beschichtung der Substrate erfolgt.
Die Temperatur des zur Kammer 100 geführten verdünnten Gas-Dampfgemisches wird unterhalb der
Abscheidungstemperatur und unterhalb derjenigen
Temperatur gehalten, bei welcher in der Dampfphase nennenswerte chemische Reaktionen vor sich gehen.
Die Kammer 100 weist ein relativ großes Volumen (etwa 110 dm3 einschließlich der in ihr enthaltenen
Bestandteile) auf und umfaßt Halter 102, 104 zur Aufnahme einer Mehrzahl von Linsen 10. Die Halter
102, 104 sind stark perforiert, damit die Gasbewegung
um die Linsen 10 herum erleichtert wird. Die Linsen 10 sind in der Kammer 100 räumlich so voneinander
getrennt angeordnet, daß ihre Oberflächen dem Gas-Dampfgemisch gut zugänglich sind.
Die Kammer 100 wird entlüftet durch den Auslaß 106. der mittels eines Ventils 108 reguliert werden kann.
Die Linsen 10 in der Kammer 100 werden durch die Heizung 110 auf nahezu konstanter Temperatur, z.B.
2000C. gehalten. Die Heizung kann eine Widerstands-,
Mikrowellen- oder ähnliche Heizung sein.
Eine mechanische Pumpe 112 kann verwendet werden, um das Strömen der Gasgemische durch die
Kammer 100 zu erleichtern und um den nötigen Druck zur Zurückführung eines Teils oder auch des ganzen
Gasstromes. durch die Rückführleitung 116 in das System herzustellen. Das Element 114 stellt eine
konventionelle Kühlfalle mit flüssigem Stickstoff zur Abtrennung aller kondensierbarer Bestandteile aus dem
zurückgeführten Gemisch dar.
Damit die Leitung 99 nicht von der Kammer 100 durch Wärmeleitung zu heiß wird, ist ein als
wassergekühlte Rohrschlange schematisch angedeutetes Kühlelement 120 vorgesehen. Tritt bei der Leitung
99 Rauch auf, ist die Temperatur des Gasstromes in dieser Leitung zu hoch und die Wärmezufuhr stromaufwärts
muß reduziert werden. Das erfindungsgcmäße Verfahren wird nachstehend am Beispiel der Herstellung
einer großen Anzahl von Glasfiltern, z. B. Filter für Sonnenbrillen, mit Durchlaßeigenschaften im sichtbaren,
jedoch starker Absorption im ultravioletten Bereich des Spektrums näher erläutert.
Die Linsen werden in starker Säure, z. B. konzentrierter Schwefel- oder Salpetersäure, gewaschen, um alle
möglichen organischen oder anorganischen Verunreinigungen zu entfernen. Dieser Säurebehandlung folgt eine
Spülung mit Wasser und ein neutralisierender Schritt. Zur Neutralisierung werden die Gläser in eine Lösung
von Ammoniumhydroxid und Wasserstoffperoxid getaucht. Es folgt eine z.weite Wasserspülung, danach
werden die Gläser in einem Lösungsmittelgemisch, das an den Gläsern haftendes Wasser absorbiert und eine
rückstandsfreie Schnelltrocknung gestattet, getrocknet. Eine bevorzugte Mischung zum Trocknen ist eine solche
aus Äthanol. Methanol. Isoamylacetat und Isobutanol im Verhältnis 5 : 1 : 0.5 : 0.4.
Die auf die o. a. Weise gereinigten Glä'-er werden auf
die Halter 102, 104 in der Kammer 100 gesetzt, wobei
darauf zu achten ist, daß die zu beschichtenden Oberflächen nicht erneut verunreinigt werden, und
sodann auf 200" C aufgeheizt.
Der Beschichtungsprozeß beginnt mit einer Durchspülung des Systems, bestehend aus Sammelleitung 82,
Leitungen 74 und 84. Sammelleitung 64, Mischkammer 90. Leitung 99. Kammer 100 und Auslaß 106 mit einem
Stickstoffstrom Anstelle von Stickstoff kann auch jedes andere inerte Gas, wie z. B. Helium. Neon oder ein
anderes Edelgas, zum Spülen verwendet werden. Vorzugsweise werden zu Beginn des Prozesses
ebenfalls die Leitungen zu und von den Verdampfern 40 bzw. 42 mit einem inerten Gas durchgespült. Nach
Beendigung der Spülung wird der Stickstoffstrom durch Schließen der Ventile 80 und 86 unterbrochen.
Das Ventil 76 wird geöffnet und so eingestellt daß sich ein Durchfluß von 5000 ml CO2/min ergibt. Das
Ventil 78 wird so eingestellt, daß 5 ml 02/min in die
Sammelleitung 64 strömt
Der Verdampfer 40 wird beschickt mit Eisenacetylacetonat und aufgeheizt auf eine erhöhte Temperatur,
die etwas unter dem Siedepunkt von Eisenacetylacetonat bei Athmosphärendruck liegt. Danach wird Helium
aus der Sammelleitung 50 durch die Zuleitung 52 durch den Verdampfer 40 geleitet, wobei mittels der Meß- und
Regelvorrichtung 56 ein Durchsatz von 5000 ml/min eingestellt wird. Darauf werden in der Sammelleitung 64
und in der Mischkammer 90 das Kohlendioxid, der
Sauerstoff und das das gasförmige Eisenacetylacetonat
tragende Helium gründlich vermischt. In der Mischkammer 90 gewährleistet der Weg des Gemisches durch das
Labyrinth 92 nicht nur eine gründliche Durchmischung der Gase, sondern gleichermaßen das Erreichen eines
thermischen Gleichgewichts. Das sich so ergebende Gas-Dampfgemisch wird durch die Leitungen 96 und 99
in die leaktions- oder Beschichtungskammer 100 geführt.
In der Kammer 100 nimmt die Konzentration des noch vom Spülvorgang vorhandenen inertem Spülgases
in dem Maße allmählich ab, wie wachsende Mengen des ersten, eben beschriebenen Gas-Dampfgemisches zugeführt werden. Umgekehrt nimmt die Konzentration des
Gas-Dampfgemisches in der Kammer 100 in dem Maße zu, wie mehr und mehr des anfänglichen Spülgases
abgeführt wird. Die Temperatur der Glassubstrate wird während des ganzen Beschichtungsvorganges auf etwa
2000C gehalten. Während des nun folgenden Zeitabschnittes bildet sich auf den Oberflächen der Substrate
10 ein einheitlicher Überzug höchster Qualität aus Eisenoxid.
Nach Ablauf einer vorbestimmten Zeit werden die Ventile 56 und 66 geschlossen und die Ventile 68 und 58
geöffnet. Das Ventil 58 wird so eingestellt, daß sich ein Trägergasstrom durch den Verdampfer 42 von etwa
5000 ml/min einstellt. Der Verdampfer 42 ist vorher mit Chromcarbonyl beschickt worden und wird auf einer
Temperatur etwas unter dem Siedespunkt von Chromcarbonyl gehalten.
Weg~n der hohen Durchsatzrate an Trägergas werden die Verdampfer 40 und 42 bei einer Temperatur
unterhalb der Siedetemperatur des verdampften Materials bei Atmosphärendruck gehalten.
Nun wird der mit Chromcarbonyl beladene primäre Heliumstrom, der durch die Leitung 62 in die
Sammelleitung 64 einströmt, in gleicher Weise wie der zuvor mit Eisenacetylacetonat beladene Heliumstrom
mit dem Sekundärstrom aus Kohlendioxid und Sauerstoff, dessen oben festgelegte Durchflußraten beibehalten werden, vermischt, und der Primär- und der
Sekundärstrom werden in der Mischkammer 90 unter gleichzeitigem Temperaturausgleich gründlich durchmischt Das aus Primär- und Sekundärstrom resultierende Gemisch kann als ein »Tertiärstrom« mit geringen
Konzentrationen an Chromcarbonyl und Sauerstoff angesehen werden. In dem Gas in der Sammelleitung 64
und der Mischkammer 90 fällt die Konzentration an Eisenacetylacetonat abrupt ab und diejenige an
Chromcarbonyl steigt rasch bis zum Gleichgewichtswert an. Der Chromcarbonyl enthaltende Tertiärstrom
wird durch die Leitung 99 in die Kammer 100 geführt Die Konzentration an Eisenacetylacetonat in der
Kammer 100, wird allmählich abnehmen, während die Konzentration an Chromcarbonyl allmählich ansteigt,
bis das Gleichgewichtsniveau, d h. etwa der Wert der
Konzentration im Tertiärstrom, erreicht wird
Die Abscheidung der entsprechenden Schichten auf den Substraten 10 führt während dieses relativ kurzen
Zeitabschnitts, währenddessen ein Gemisch von Eisenacetylacetonat und Chromcarbonyl vorliegt, zur Bildung
von Obergangszonen 30,32,34 und 36. Bei dieser Stufe
des Verfahrens hängt die Dauer der Periode, während der die Konzentration an Eisenacetylacetonat in der
Kammer 100 ab- und diejenige an Chromcarbonyl zunimmt, in erster Linie von den Gasdurchsatzraten ab,
da das Volumen der Kammer 100 konstant bleibt Daraus folgt zuverlässig, daß bei jedem Durchlauf
zwischen den Schichten 18 und 20 die gleiche Zone 30
gebildet wird, vorausgesetzt, daß jedesmal gleiche
entfernt ist und das Chromcarbonyl seine Gleichgewichtskonzentration erreicht hat, wird eine im wesentlichen aus Chromoxid bestehende Schicht abgeschieden.
Nach Ablauf eines weiteren vorbestimmten Zeitabschnitts, währenddessen eine Chromoxidschicht hoher
Qualität abgeschieden wird, werden die Ventile 68 und 58 geschlossen.
Unmittelbar danach werden die Ventile 56 und 66 wieder geöffnet und der Heliumstrom durch den
Verdampfer 40 wieder auf 5000 ml/min eingestellt Die
Konzentration an Chromcarbonyl in der Sammelleitung
64 und in der Mischkammer 90 sinkt abrupt auf nahezu Null und die Konzentration an Eisenacetylacetonat
steigt sehr rasch auf ihren Gleichgewichtswert Bei diesem Verfahrensschritt enthält Her Primärgas«?rom
wieder Eisenacetylacetonat, der Sekundärgasstrom enthält weiterhin geringe Anteile Sauerstoff, und der die
Mischkammer 90 verlassende Tertiärstrom ist ein homogenes Gemisch von Primär- und Sekundärstrom.
Wenn nun der neue eisenacetylacetonathaltige Tertiär
strom in die Kammer 100 geführt wird, ergibt sich dort
wiederum ein relativ allmähliches Ansteigen der Konzentration an Eisenacetylacetonat und ein allmähliches Absinken der Konzentration an Chromcarbonyl.
Während dieser Zeit, in welcher die Atmosphäre in der
Kammer 100 sowohl Eisenacetylacetonat als auch
Chromcarbonyl enthält, wird die zweite Übergangsschicht 32 zwischen den Schichten 20 und 22 gebildet
Der vorstehend beschriebene Vorgang, bei welchem der Heliumstrom abwechselnd durch die Verdampfer 42
und 40 geleitet wird, wird so oft wiederholt, bis insgesamt fünf Schichten abgeschieden sind, nämlich
drei aus Eisenoxid und zwei aus Chromoxid, jeweils mit relativ dünnen Übergangsschichten dazwischen. Der
Zeitbedarf dafür belief sich insgesamt auf weniger als
eine Stunde; alle Linsen in der Kammer 100 waren
identisch und gleichförmig beschichtet
Die Anzahl der verwendeten Verdampfer und diejenige der Schichtarten kann größer sein als zwei.
Ohne weiteres kann im Rahmen des Verfahrens eine
größere Anzahl von Verbindungen zur Bildung von
optischen Filtern abgeschieden werden.
Zur Erzeugung einer Eisenoxidschicht kann jede beliebige flüchtige organische Eisenverbindung verwendet werden, so z. B. Eisenpentacorbonyl in Verbindung
mit Sauerstoff im zweiten Trägerstrom. Entsprechend kann im Verdampfer 42 irgendeine flüchtige Chromverbind jng verwendet werden.
Die in diesem Verfahren verwendbaren Metallverbindungen sind solche, mit einem nennenswerten Dampf-
druck, vorzugsweise über etwa 40 mm Hg bei relativ
niednger Temperatur, beispielsweise 200° C Jedoch
können Verbindungen mit kleineren Dampfdrücken
ebenfalls verwendet werden.
auch Stickstoff oder ein ähnliches Gas sein. Sauerstoff
wird nur in sehr kleinen Konzentrationen zugesetzt und
nur dann, wenn eine Oxidbeschichtung erwünscht ist
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel wird der metallhaltige Primärgasstrom mit einem Sekundärgas
strom vermischt, der in niednger Konzentration einen
zweiten Reaktanzen enthält Der im obigen Beispiel zur
Erzeugung einer Oxidschicht gewählte zweite Reaktand war Sauerstoff. Soll jedoch die abgeschiedene Schicht
809634/171
ein Sulfid sein, so braucht man den kleinen Gehalt an
Sauerstoff im Sekundärstrom lediglich durch einen relativ kleinen Gehalt an Schwefelwasserstoff zu
ersetzen. Die Art des Materials, das zur Erzeugung der optischen Schicht abgeschieden wird, kann geändert
werden durch Veränderung der Zusammensetzung des in die Beschicldtungskammer geleiteten Gasstromes,
indem entweder d'z Verdampfer 40, 42 mit einem
anderen zu verdampfenden Material beschickt oder aber das aus den Verdampfern, z. B. aus dem
Verdampfer 40, in die Sammelleitung strömende Material unverändert gelassen wird. Im letzteren Fall
wird der zweite Reaktand, z. B. der mit dem Kohlendioxid vermischte Sauerstoff, entfallen und
durch ähnliche Mengen eines dritten Reaktanden, z. B. Schwefelwasserstoff, ersetzt werden, der mit dem CO2
vermischt einen r^S-CCVSekundärstrom liefert. Durch
alternierende Veränderung der Zusammensetzung des Sekundärstrnmcs in Her angegebenen Weise lassen sich
beispielsweise abwechselnd Schichten aus Eisenoxid und Eisensulfid erhalten.
Nach dem Verfahren können auch dotierte Schichten abgeschieden werden. Hierzu werden entweder der
Verbindung im Verdampfer oder dem Sekundärgasstrom sehr kleine Anteile flüchtiger aktivierender
Metallverbindungen zugesetzt Beispielsweise kann lOleitetraäthyl bei einer Verdampfertemperatur von
25" C in einem Stickstoffstrom von 5000 ml/min verdampft werden. Der zweite Reaktand kann H2S
anstelle O2 in einer Rate von 5 ml/min sein. Statt CO2
wird Argon verwendet Im zweiten Verdampfer wird eine aktivatorerzeugende Kupferverbindung verdampft, z. B. Kupferformiat bei 1000C, in Argon oder
Helium, um so eine Bleisulfidschicht mit niedriger Kupferdotierung zu erzeugen. Das entstehende, mit
Kupfer dotierte Bleisulfid kann dann als optischer Fühler mit elektrischer Anzeige arbeiten.
Selbstverständlich können auch Substrate mit nur einer Schicht nach dem Verfahren hergestellt werden,
beispielsweise Filter mit einer einzigen optischen Filterschicht
Im folgenden wird die Anwendung des Verfahrens bei der Abscheidung einer Deckschicht mit kontinuierlichem Obergang von einer Dichte zu einer anderen am
Beispiel der Beschichtung von optischen Glasfasern beschrieben. Entsprechend dem oben ausführlich
beschriebenen Beispiel wird zu Beginn eine Schicht eines Materials mit einem relativ niedrigen Brechungsindex auf die Glasfasern aufgebracht Dann wird die
Konzentration des schichtbildenden Bestandteils in der Gasphase während eines relativ langen Zeitabschnittes,
beispielsweise einer halben Stunde, allmählich erniedrigt. Gleichzeitig wird die Konzentration eines zweiten
schichtbfldenden Bestandteils, der eine Schicht mit
einem relativ hohen Brechungsindex erzeugt, allmählich erhöht Dadurch wird auf den Glasfasern eine
Übergangsschicht gebildet, die einen kleinen, mit wachsendem Abstand vom Substrat zunehmenden
Brechungsindex aufweist Wenn gewünscht, kann auf der Oberfläche der so beschichteten Glasfasern noch
eine Spiegelschicht abgeschieden werden Derartige Schichten verbessern die Reflexions- und Absorptionseigenschaften und verhindern damit Interferenzen
zwischen benachbarten Fasern.
Das Verfahren ist gleicherweise vorteilhaft für das Abscheiden von undurchsichtigen Schichten oder
Spiegelschichten wie für das Abscheiden von transparenten Schichten. Beispielsweise wird wie beschrieben
eine äußere Oxidschicht eines gewünschten Metalls abgeschieden. Dann wird das Oxid in sauerstoffreier
Atmosphäre reduziert, z. B. mit Wasserstoff, Kohlenmonoxid, wobei das reduzierende Gas vorzugsweise in
geringer Konzentration in einen Trägergasstrom hoher Geschwindigkeit eingebracht wird, z. B. mit 5 ml/min in
einem Strom von 10 000 ml/min.
Um die reduzierte Metallschicht vor atmosphärischer Korrosion zu schützen ist es zweckmäßig, darauf eine
zusätzliche Oxidschicht vorzusehen. Eine bevorzugte Deckschicht für Spiegelschichten bildet Siliziumdioxid.
Bei manchen Spiegeln, z. B. Eisenspiegeln, kann das Spiegelmetall, bevor man es dem atmosphärischen
Sauerstoff aussetz, durch Passivieren mit Kohlendioxid
wenigstens zeitweilig vor Korrosion geschützt werden.
aufzubringen, bevor man das Metall dem Luftsauerstoff
aussetzt.
teilen für die elektrooptischen Abtastung u.dgl, z.B.
von Gittern, verwendet werden, so kann ein nach dem oben angeführten Beispiel gereinigtes Glassubstrat mit
einem dünnen photosensitiven Resistfilm versehen werden. Nach konventionellen Methoden wird das
Substrat mit einer Maske versehen, in die Beschichtungskammer 100 gebracht und nach dem obigen
Beispiel eine Schicht aufgebracht, wonach die Maske mittels einer konventionellen Methode entfernt wird.
Zur Erzeugung transparenter Gitter oder Muster
JO werden vorzugsweise Metalloxidschichten abgeschieden. Geht es nur um die Absorptionscharakteristik, so
kann eine einzige Schicht genügen. Wenn es um Reflexion oder dichroitische Eigenschaften geht, kommen Mehrfachschichten in Betracht Für undurchsichti-
ge Muster wird eine Zusammensetzung der Reaktanden gewählt, die zur Bildung eines Oxids führt, welches dann
durch verdünntes reduzierendes Gas zu einer metallischen Spiegelschicht reduziert wird.
Überzuges aus Siliziumdioxid über einer Spiegelschicht besteht im Rahmen der Erfindung dann, daß r-.an in
einem von Inertgas durchströmten Verdampfer Tetraäthoxysilan verdampft, einem zweiten Trägergas
Sauerstoff beimengt und beide Ströme wie oben
« ausführlich beschrieben vermischt
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung besteht darin, wenigstens einen Teil der durch den Auslaß
106 abgeführten Gase wieder der Sammelleitung 64 zuzuführen, beispielsweise durch die Rückführleitung
116 und die Leitung 70. Wenn man beabsichtigt, von der
Abscheidung einer Schicht auf die einer anderen zu wechseln, so ist es zur Verkürzung der Zeit, während der
eine Übergangsschicht (z.B. 30, 32, 34 oder 36) abgeschieden wird, notwendig, die Kammer 100
wenigstens teilweise zu entlüften. Andernfalls muß eine
zur Entfernung kondensierbarer Bestandteile der ersten
eo beispiel einer bevorzugten Anwendung automatisch
relativ enge Übergangszonen abgeschieden werden, so ist es doch keineswegs unumgänglich, daß immer
derartige Übergangszonen gebildet werden. So kann beispielsweise, nachdem die gewünschte Stärke der
abgeschiedenen Schicht, z. B. 18, erreicht ist, das ganze
System mit einem Strom Inertgas (z. B. CO2 oder N2)
durchgespült werden (oder wenn die Kühlfalle 114 arbeitet und mit Rückführung gearbeitet wird, mit
geschlossenen Ventilen 66 und 68 gefahren werden); danach wird das zweite Beschichturigsmaterial, z. B.
Chromcarbon)! in verdünntem Gasstrom mit niedrigem Sauerstoffgehalt, in die Kammer 100 geschickt, mit dem
Erfolg, daß während der Abscheidung der zwtiten Schicht, hier Chromoxid, kein Eisenacetylacetonat
zugegen ist. Eine solche Arbeitsweise führt zu scharfen Grenzen zwischen den Schichten aus Eisenoxid und
Chromoxid.
Weiterhin ist es im Rahmen der Erfindung möglich, <o
die Dicke der Zonen 30, 32, 34 und 36 dadurch zu vergrößern, daß man den Zeitabschnitt, während dem
gleichzeitig verschiedene niederschlagerzeugende Bestandteile in die Sammelleitung 64 gegeben werden (im
Beispiel durch die Leitungen 60 und 62), länger wählt '5
Eine derartige Arbeitsweise, bei der gleichzeitig verschiedene Materialien verdampft werden, bedarf
jedoch einer sorgfältigen Regelung der Speisung der Verriamnfpr. um urin ChE!*aC ZU 0!"!2!""C ein hohes Maß
an Reproduzierbarkeit zu gewährleisten. Da im gegebenen Auslahrungsbeispiel die Durchflußraten
konstant sind und eine gegebene Apparatur hinsichtlich ihres Nutzvolumens und ihrer sonstigen Dimensionen
ebenfalls konstant bleibt, genügt es, die übrigen Parameter, wie Zeit und Temperatur, zu regeln, damit
sich gut reproduzierbare Dimensionen von Schichten und Übergangszonen ergeben. Wenn die Substrattemperatur
von Schicht zu Schicht konstant gehalten wird, so ist die Dicke der auf den Linsen 10 abgeschiedenen
Schichten exakt und reproduzierbar regelbar durch Regelung derjenigen Zeiten, während denen Beschichtungsmaterial
in die Sammelleitung 64 geschickt wird.
Für das Verfahren können Substrate aus Glas, Keramik, Metall (z. B. rostfreier Stahl), sowie auch
solche aus Kunststoffen, z. B. aus Tetrafluoräthylenpolymerem
oder Phenolharzen, verwendet werden. Im Fall der Verwendung von Kunststoffen werden vorzugsweise
solche genommen, die zur Gruppe der Thermodure gehören.
In den Ausführungen wurde ein kontinuierlicher Bes^hichtungsprozeß als Beispiel angeführt. Es liegt
jedoch auch im Bereich dieser Erfindung, diskontinuierliche Abscheidungen vorzunehmen.
Weiterhin ergibt sich aus der Beschreibung, daß die notwendigen Vorrichtungen sehr ähnlich denjenigen
Dampfphasenprozessen, verwendet werden, und daß die Art der Steuerung des Prozesses sich sehr gut zur
Automatisierung eignet. Darüber hinaus sind die Anforderungen an die technischen Fähigkeiten des
Dedienungspersonals niedrig, ohne daß davon die hohe Reproduzierbarkeit und das hohe Maß an Prozeßkontrolle
beeinträchtigt wurden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (9)
1. Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten (Keramik, Kunststoffen, Metallen, Glas)
durch Abscheidung aus einem ein inertes Trägergas und den Dampf einer metallorganischen Verbindung
enthaltenden Gas-Dampfgemisch unter relativ niedrigen Temperaturen und Drücken in einer Kammer,
dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung von gleichmäßig dünnen, optisch aktiven Oxidbzw.
Sulfidschichten die Substrate mit der Kammer auf eine Temperatur zwischen 100 und 2800C
aufgeheizt werden, daß neben dem als ersten Reaktandein organische Verbindungen eines oder
mehrerer der Metalle Blei, Chrom, Kobalt, Eisen, Kupfer, Nickel, Mangan, Seltene Erden enthaltenden
ersten Gas- Dampfgemisch ein zweites Gas-Dampfgemisch erzeugt wird, das ein inertes Gas (z. B.
Kohlendioxid) und als zweiten Reaktanden Sauerstoff bzw. Schwefelwasserstoff in einem kleinen
Volumenprozectsatz enthält, daß das erste Gas-Dampfgemisch
mit dem zweiten Gas-Dampfgemisch innig vermischt wird, wobei die Gesamtkonzentration
an niederschlagerzeugenden Bestandteilen (erste und zweite Reaktanden) in dem so
erhaltenen komplexen Gemisch höchstens 5 Vol.-% beträgt), daß das komplexe Gemisch unter einem
Druck zwischen 0,1 und 4 Atmosphären (vorzugsweise nahe 1 Atmosphäre) in die Kammer
eingebracht wird und in dieser die im ersten Reaktanden enthaltenen Metalle auf den Substraten
als Oxide bzw. Sulfide niedergeschlagen werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, Jadurch gekennzeichnet,
daß die Einzelkonrentrationen an niederschlagerzeugenden
Bestandteilen (e-ste und zweite Reaktanden) in dem komplexen Gemisch jeweils höchstens 1 VoI.-% betragen.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2 zur Erzeugung einer Oxidschicht, dadurch gekennzeichnet,
daß die Konzentration des als zweiter Reaktand in dem komplexen Gemisch enthaltenen Sauerstoff
höchstens 0,1 Vol.-°/o beträgt.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß einem der Gas-Dampfgemische ein
Dotierungsmittel in einer Konzentration von höchstens 0,1 Vol.-°/o beigemischt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch alternierendes Beschicken der
Kammer mit einem ersten und einem zweiten komplexen Gemisch abwechselnd erste und zweite
Schichten in beliebiger Anzahl erzeugt werden, welche durch Zwischenschichten sich stetig ändernder
Zusammensetzung getrennt sind.
6. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzeugung eines lichtundurchlässigen
Films Substrate mit einer Oxidschicht versehen und dann mit einem inerten Trägergas in Berührung
gebracht werden, welches einen reduzierenden Bestandteil enthält.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, diiß als reduzierender Bestandteil Wasser·
stoff, Kohlenmonoxid oder Methan verwendet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die beschichteten Substrate
anschließend durch einen Kphlendioxidstrom oder durch eine Siliziumdioxidschicht passiviert werden.
9. Verfahren nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet,
daß die Substrate dergestalt durch Masken hindurch beschichtet werden, daß sich die dünnen
Schichten lediglich auf ausgewählten Flächen niederschlagen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00096428A US3808035A (en) | 1970-12-09 | 1970-12-09 | Deposition of single or multiple layers on substrates from dilute gas sweep to produce optical components, electro-optical components, and the like |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2140092A1 DE2140092A1 (de) | 1972-06-22 |
DE2140092B2 DE2140092B2 (de) | 1977-12-15 |
DE2140092C3 true DE2140092C3 (de) | 1978-08-24 |
Family
ID=22257309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2140092A Expired DE2140092C3 (de) | 1970-12-09 | 1971-08-10 | Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3808035A (de) |
JP (1) | JPS5318530B1 (de) |
BE (1) | BE774932A (de) |
CH (1) | CH558837A (de) |
DE (1) | DE2140092C3 (de) |
FR (1) | FR2117849B1 (de) |
GB (1) | GB1356040A (de) |
IT (1) | IT941737B (de) |
NL (1) | NL7113284A (de) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ZA735383B (en) * | 1972-12-15 | 1975-03-26 | Ppg Industries Inc | Coating composition vaporizer |
US4140814A (en) * | 1977-12-01 | 1979-02-20 | Texas Instruments Incorporated | Plasma deposition of transparent conductive layers |
CA1134214A (en) * | 1978-03-08 | 1982-10-26 | Roy G. Gordon | Deposition method |
JPS5772318A (en) * | 1980-10-24 | 1982-05-06 | Seiko Epson Corp | Vapor growth method |
JPS57201527A (en) * | 1981-06-01 | 1982-12-10 | Toshiba Corp | Ion implantation method |
US4451503A (en) * | 1982-06-30 | 1984-05-29 | International Business Machines Corporation | Photo deposition of metals with far UV radiation |
JPS5950027A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-22 | Hitachi Ltd | 二硫化チタン薄膜およびその形成法 |
US4416725A (en) * | 1982-12-30 | 1983-11-22 | International Business Machines Corporation | Copper texturing process |
JPS59217964A (ja) * | 1983-05-26 | 1984-12-08 | Hitachi Ltd | 薄膜電池の正極構造 |
US4545646A (en) * | 1983-09-02 | 1985-10-08 | Hughes Aircraft Company | Process for forming a graded index optical material and structures formed thereby |
DE3471918D1 (en) * | 1983-10-19 | 1988-07-14 | Marconi Co Ltd | Tellurides |
JPS6089573A (ja) * | 1983-10-20 | 1985-05-20 | Ricoh Co Ltd | 透明導電膜 |
DE3585901D1 (de) * | 1984-02-13 | 1992-05-27 | Iii Jerome J Schmitt | Verfahren und vorrichtung fuer gasstrahlniederschlag von leitfaehigen und dielektrischen duennen festfilmen und so hergestellte erzeugnisse. |
FR2570392B1 (fr) * | 1984-09-19 | 1987-01-02 | Dme | Procede de depot sur substrats optiques de couches antireflechissantes susceptibles d'etre gravees |
US4717596A (en) * | 1985-10-30 | 1988-01-05 | International Business Machines Corporation | Method for vacuum vapor deposition with improved mass flow control |
EP0256035B1 (de) * | 1986-02-24 | 1992-03-18 | Hughes Aircraft Company | Verfahren zur herstellung einer atmosphärbeständigen optischen beschichtung, sowie dadurch gefertigte bauteile |
US4965093A (en) * | 1988-07-05 | 1990-10-23 | Ppg Industries, Inc. | Chemical vapor deposition of bismuth oxide |
US5789086A (en) * | 1990-03-05 | 1998-08-04 | Ohmi; Tadahiro | Stainless steel surface having passivation film |
US5431800A (en) * | 1993-11-05 | 1995-07-11 | The University Of Toledo | Layered electrodes with inorganic thin films and method for producing the same |
US5534314A (en) * | 1994-08-31 | 1996-07-09 | University Of Virginia Patent Foundation | Directed vapor deposition of electron beam evaporant |
US5571332A (en) * | 1995-02-10 | 1996-11-05 | Jet Process Corporation | Electron jet vapor deposition system |
FR2758318B1 (fr) * | 1997-01-15 | 1999-02-05 | Air Liquide | Procede et installation d'elaboration d'un melange gazeux comportant un gaz porteur, un gaz oxydant et un silane |
WO2001004590A1 (en) * | 1999-07-09 | 2001-01-18 | Wavefront Sciences, Inc. | Sub-lens spatial resolution shack-hartmann wavefront sensing |
US6613385B2 (en) * | 2001-04-23 | 2003-09-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Highly spin-polarized chromium dioxide thin films prepared by CVD using chromyl chloride precursor |
US6936086B2 (en) * | 2002-09-11 | 2005-08-30 | Planar Systems, Inc. | High conductivity particle filter |
KR20050040969A (ko) * | 2003-10-29 | 2005-05-04 | 삼성전자주식회사 | 확산 시스템 |
US20050147749A1 (en) * | 2004-01-05 | 2005-07-07 | Msp Corporation | High-performance vaporizer for liquid-precursor and multi-liquid-precursor vaporization in semiconductor thin film deposition |
US20090304918A1 (en) * | 2005-04-25 | 2009-12-10 | Georg Mayer | Method and apparatus for coating objects |
DE102010000479A1 (de) | 2010-02-19 | 2011-08-25 | Aixtron Ag, 52134 | Vorrichtung zur Homogenisierung eines verdampften Aerosols sowie Vorrichtung zum Abscheiden einer organischen Schicht auf einem Substrat mit einer derartigen Homogenisierungseinrichtung |
US20150225845A1 (en) * | 2014-02-12 | 2015-08-13 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method for forming metal oxide thin film and device for printing metal oxide thin film |
WO2016074750A1 (en) | 2014-11-13 | 2016-05-19 | Gerresheimer Glas Gmbh | Glass forming machine particle filter, a plunger unit, a blow head, a blow head support and a glass forming machine adapted to or comprising said filter |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2847330A (en) * | 1954-07-28 | 1958-08-12 | Ohio Commw Eng Co | Method and apparatus for gas plating printing circuits |
DE1055193B (de) * | 1955-04-21 | 1959-04-16 | Du Pont | Verfahren zum Erhoehen der Ritzhaerte und Festigkeit von Glasoberflaechen bzw. Glasgegenstaenden |
US3032397A (en) * | 1957-01-25 | 1962-05-01 | Du Pont | Preparation of metal nitride pigment flakes |
NL113384C (de) * | 1957-11-04 | |||
US3081200A (en) * | 1959-04-10 | 1963-03-12 | Armour Res Found | Method of applying an oxide coating onto a non-porous refractory substrate |
US3142586A (en) * | 1961-12-11 | 1964-07-28 | Clairex Corp | Method for the manufacture of photosensitive elements |
US3511703A (en) * | 1963-09-20 | 1970-05-12 | Motorola Inc | Method for depositing mixed oxide films containing aluminum oxide |
US3306768A (en) * | 1964-01-08 | 1967-02-28 | Motorola Inc | Method of forming thin oxide films |
DE1812455C3 (de) * | 1968-12-03 | 1980-03-13 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren zum Herstellen einer aus einem Metalloxyd bestehenden isolierenden Schutzschicht an der Oberfläche eines Halbleiterkristalls |
-
1970
- 1970-12-09 US US00096428A patent/US3808035A/en not_active Expired - Lifetime
-
1971
- 1971-08-06 CH CH1160971A patent/CH558837A/de not_active IP Right Cessation
- 1971-08-10 DE DE2140092A patent/DE2140092C3/de not_active Expired
- 1971-08-13 GB GB3816871A patent/GB1356040A/en not_active Expired
- 1971-09-28 NL NL7113284A patent/NL7113284A/xx unknown
- 1971-10-01 FR FR7135435A patent/FR2117849B1/fr not_active Expired
- 1971-11-02 JP JP8682771A patent/JPS5318530B1/ja active Pending
- 1971-11-04 BE BE774932A patent/BE774932A/xx not_active IP Right Cessation
- 1971-11-10 IT IT30901/71A patent/IT941737B/it active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5318530B1 (de) | 1978-06-15 |
FR2117849B1 (de) | 1976-02-13 |
NL7113284A (de) | 1972-06-13 |
BE774932A (fr) | 1972-03-01 |
CH558837A (de) | 1975-02-14 |
US3808035A (en) | 1974-04-30 |
DE2140092B2 (de) | 1977-12-15 |
IT941737B (it) | 1973-03-10 |
DE2140092A1 (de) | 1972-06-22 |
GB1356040A (en) | 1974-06-12 |
FR2117849A1 (de) | 1972-07-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2140092C3 (de) | Verfahren zur Herstellung dünner Schichten auf Substraten | |
DE2439301A1 (de) | Verfahren zum aufbringen transparenter, elektrisch leitender zinnoxid-schichten auf einem substrat | |
DE2151809A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung duenner Schichten | |
DE10064178A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ausbildung einer Dünnschicht | |
DE1696628B2 (de) | Verfahren zum ueberziehen der oberflaeche eines gegenstandes mit silikatglas | |
DE2716182A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur ausbildung einer beschichtung aus einem metall oder einer metallverbindung | |
DE3249203C2 (de) | ||
DE2839057A1 (de) | Transparente leitende schichten und verfahren zur herstellung von transparenten leitenden schichten | |
DE3525211C2 (de) | ||
DE2300813A1 (de) | Verfahren zum niederschlagen von stickstoffdotiertem beta-tantal sowie eine beta-tantal-duennschicht aufweisender artikel | |
DE2951453A1 (de) | Verfahren zur erzeugung eines films unter anwendung von glimmentladung | |
DE3744368C1 (de) | Verfahren zur Herstellung von festen optischen Einfach- und Mehrfach-Interferenz-Schichten | |
DE1496641B2 (de) | Verfahren zum gleichmaessigen faerben von glas durch reduk tion von in die glasoberflaeche eingebrachten faerbenden metallkomponenten | |
DE3644654C2 (de) | ||
DE10394037B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Metallsulfidschicht | |
DE2540053C2 (de) | Verfahren zum Dotieren von III/V-Halbleiterkörpern | |
DE2258906A1 (de) | Filterelement und verfahren zu dessen herstellung | |
EP0410401A1 (de) | Verfahren zum Beschichten einer Substratfläche | |
DE2125921A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur BiI dung von Metallüberzügen | |
DE2123197B2 (de) | ||
DE2352063C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Kupfer mit einem Boratglas | |
DE3439001C1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen metallischer Überzüge | |
DE2300481C3 (de) | Pyrolytisches Verfahren zur Herstellung einer als Widerstandsschicht und/oder Kontaktschicht auf einem Trägerkörper dienenden bandförmigen Metallisierung | |
DE1421903C (de) | Verfahren zur Herstellung einer photoempfindlichen Halbleiterschicht auf einem wärmebeständigen, nicht leitenden Träger | |
CH654029A5 (de) | Verfahren zur herstellung einer selektiv absorbierenden schicht fuer solarkollektoren. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |