KR860009431A - Ic평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로 - Google Patents

Abstract

내용 없음

Description

IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명에 의해서 집적회로를 평가하기 위한 추가회로 요소와 동회로를 시험하기 위한 수단을 포함하는 반도체 집적회로의 일 실시예의 회로도.

제2도는 본 발명에 의하여 집적회로를 평가하기 위한 타의 추가회로 요소와 동 회로를 시험하기 위한 수단을 포함하는 반도체 집적회로의 타의 실시예의 회로도.

제3도는 본 발명에 의하여 제1도와 제2도에 표시된 구성 요소들과 결합된 반도체 집적회로의 또다른 실시예의 블록 다이어그램.

Claims (7)

1. 최소한 한 개의 회로(6,8,9,71,72,104-106,118,119); 최소한 한 개의 평가회로 요소(10,11,12); 전술한 회로와 전술한 평가회로 요소에 동작 가능하게 연결될 수 있는 복수의 본딩패드들(31-39), 전술한 회로와 전술한 본딩패드들 간과 전술한 평가회로 요소와 동작 가능하게 전술한 회로에 연결할 수전술한 본딩패드들과 전술한 평가회로 요소간에 제공되어 전술한 본딩패드들과 전술한 평가회로 요소간의 연결을 제어신호에 응하여 스위칭을 하는 스위칭수단(41-49)을 포함하는 것이 특징인 IC평가회로 소자들과 평가회로소자 검사 수단을 갖는 반도체 집적회로.
2. 제1항에서, 전술한 제어신호에 응하여 전술한 본딩 패드부터 보아 최소 한 개의 회로가 고임피던스를 갖도록 제어하기 위한 수단(Q₁₁,Q₁₂,25,58,59)을 더 포함하는 것이 특징인 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로.
3. 제2항에서, 전술한 회로가 전술한 본딩패드에 연결된 출력드라이버를 포함하며, 전술한 고임피던스 제조 수단이 진술한 제어신호에 응하여 전술한 출력드라이버를 비동력화 시키는 스위칭 요소를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사 수단을 갖는 반도체 집적회로.
4. 제2항에서, 전술한 회로가 전술한 본딩패드에 연결되고 전술한 본딩패드에 대하여 저임피던스를 갖는 입력 드라이버로 구성되고 전술한 고임피던스 제조 수단이 전술한 제어 신호에 응하여 전술한 입력드라이버로부터 전술한 본딩패드로의 라인을 전기적으로 분리시키는 한 개의 회로(25,58)를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사 수단을 갖는 반도체 집적회로.
5. 제1항에서, 전술한 선택적 연결수단이 검사요청 신호의 수신에 응하여 전술한 제어신호를 출력하는 수단(2,2')을 포함하는 것을 특징으로 하는 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로.
6. 제5항에서, 전술한 제어신호 출력수단(2,2')이 전술한 검사 요청신호를 수신하기 위하여 전술한 복수의 본딩패드들 중의 한 개의 본딩패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자검사 수단을 갖는 반도체 집적회로.
7. 제6항에서, 전술한 제어신호 출력 수단에 연결된 전술한 본딩패드가 전술한 회로에 연결되고, 전술한 제어신호 출력 수단이 전술한 회로를 동작시키기 위하여 전술한 본딩패드에 공급되는 정상전압보다 높은 임계전압을 갖는 트랜지스터를 포함하며, 전술한 제어신호 출력수단이 전술한 본딩패드에 전술한 정상 전압이 가해지면 동작되지 않고 전술한 임계전압 보다 높은 전압을 갖는 전술한 검사요청 신호가 가해지면 동작되는 것을 특징으로 하는 IC평가회로 소자들과 평가회로 소자 검사 수단을 갖는 반도체 집적회로.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.