KR860006837A - 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로 - Google Patents

내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 반도체 집적회로의 일실시예를 나타내는 회로도. 제3도는 제2도에 보인 반도체 집적회로에 제공된 스위칭 회로의 일예를 나타내는 회로도. 제4도는 제2도에 보인 반도체 집적회로에 제공된 내부회로로부터 출력된 출력신호의 파형의 일예를 나타내는 도면.

Claims (4)

  1. 내부회로와, 상기 내부회로 가통상모드로 동작할 때 상기 내부회로를 동작시키기 위한 기본 클록신호를 발생시키는 발진회로와, 상기 내부회로가 통상모드에서 동작될 때 한쌍의 단자들 사이에 연결되는 상기 발진회로의 입력측과 출력측에 각각 연결된 한쌍의 단자들과, 그리고 상기 내부회로를 동작시키기 위한 검사회로를 포함하되, 상기 검사회로는 통상모드로 상기 주파수 분할기를 통하여 상기 내부회로에 상기 기본 클록신호를 공급하는 제1신호 경로와 검사모드에서 상기 내부회로에 직접 검사용 외부클록신호를 공급하는 제2신호 경로를 선택적으로 폐쇄하는 스위칭 회로를 포함하는 것이 특징인 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 검사용 외부클록신호는 상기 단자들의 쌍중 대응하는 단자를 통하여 상기 내부회로에 공급되는 것이 특징인 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 스위칭 회로는 상기 검사회로내에 발생된 검사용 제어신호 레벨에 따라 상기 제1 및 제2신호 경로들 중 각각을 선택적으로 폐쇄하는 것이 특징인 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로.
  4. 제3항에서, 상기 내부회로를 리세팅시키기 위한 외부리세트신호가 상기 내부회로에 통하여 공급되는 리세트 단자를 더 포함하되 상기 검사용 제어신호는 상기 단자들의 쌍의 어느 하나와 상기 리세트단자를 통하여 상기 검사회로에 공급되는 외부신호들을 논리적으로 처리함에 의해 발생되는 것이 특징인 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860001083A 1985-02-20 1986-02-17 내부회로 검사용 검사회로를 갖는 반도체 집적회로 KR900001242B1 (ko)

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