KR900019186A - 기판에 설치된 복수개의 lsi 회로칩을 포함하는 lsi시스템 - Google Patents

기판에 설치된 복수개의 lsi 회로칩을 포함하는 lsi시스템 Download PDF

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KR900019186A
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Abstract

내용 없음

Description

기판에 설치된 복수개의 LSI 회로칩을 포함하는 LSI시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본발명에 따라, LSI시스템을 포함하는 테스트 시스템의 전체구성을 설명하는 블록 다이어그램, 제4도는 제3도에서 보여준 LSI의 주요부분의 구성을 설명하는 회로 다이어그램, 제5a도와 제5b도는 본발명에 따라, LSI시스템의 구성을 설명하는 개략도.

Claims (2)

  1. 다층인쇄기판(300) 및 상기 다층인쇄회로기판에 설치되며, 각각이 복수개의 핀(E, 520), 기준전압단자(F), 핀스캔아웃단자(G)와, 상기 핀들에 일대일로 대응하고, 대응하는 핀에 나타나는 핀전압(VLP)을, 기준전압단자에 나타나는 기준전압(VRER)과 비교하고, 핀선택번호(PSS, PSS1,PSS2)에 응답하여 상기 비교의 결과를 나타내는 신호를 출력시키는 복수개의 핀스캔아웃 회로들을 포함하며, 각 핀스캔아웃회로로 부터의 상기 회로출력이, 대응하는 LSI회로칩의 선택상태에서, 상기 핀스캔아웃단자로 보내지는 복수개의 LSI회로칩(100에서103까지)으로 구성되며, 상기 다층인쇄회로기판은 그물망 또는 얇은 판의 형태로 그안에 형성된 기준전압 피딩층(310)을포함하고, 상기 복수개의 LSI회로칩의 각 기준전압단자는 대응하는 관통구멍을 통하여 상기 기준전압 피딩층에 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 LSI시스템
  2. 제1항에 있어서, 상기 복수개의 핀스캔아웃회로(130i)의 각각은 상기 핀전압과 상기 기준전압에 응답하는 비교기(131)를 포함하며, 상기 복수개의 핀스캔아웃회로의 각 비교기는 반도체칩(510)에 배열된 에미터결함 로직게이트셀(530)의 특정한 부분에 의해 구성되고, 상기 특정한 부분은 상기 복수개의 핀(520,E)의 근방에서 선택되는 것을 특징으로 하는 LSI시스템
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR8906733A 1988-05-19 1989-05-19 Lsi system including a plurality of lsi circuit chips mounted on a board KR920004536B1 (en)

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