KR890001076A - 게이트어레이 및 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치 - Google Patents

게이트어레이 및 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR890001076A
KR890001076A KR1019880008000A KR880008000A KR890001076A KR 890001076 A KR890001076 A KR 890001076A KR 1019880008000 A KR1019880008000 A KR 1019880008000A KR 880008000 A KR880008000 A KR 880008000A KR 890001076 A KR890001076 A KR 890001076A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
input
interconnection
output
integrated circuit
memory
Prior art date
Application number
KR1019880008000A
Other languages
English (en)
Other versions
KR910007409B1 (en
Inventor
미쯔야 가와따
Original Assignee
야마모도 다꾸마
후지쓰 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 야마모도 다꾸마, 후지쓰 가부시끼가이샤 filed Critical 야마모도 다꾸마
Publication of KR890001076A publication Critical patent/KR890001076A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR910007409B1 publication Critical patent/KR910007409B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/54Arrangements for designing test circuits, e.g. design for test [DFT] tools

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

게이트어레이 및 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 종래의 반도체 집적회로장치의 일예를 나타내는 시스템 개통도,
제 2 도는 본 발명에 의해 반도체 집적회로 장치의 일실시예를 나타내는 시스템 개통도,
제 3 도는 제 2 도에 보인 장치의 상호결선을 나타내는 평면도.

Claims (4)

  1. 정상모드와 메모리 테스팅을 위한 테스트 모드를 갖는 반도체 집적회로 장치에서, 입/출력단자들을 갖는 입/출력 버퍼부와, 적어도 하나의 게이트 어레이와, 적어도 하나의 메모리와, 상기 입/출력 퍼버부, 상기 게이트어레이 및 상기 메모리를 연결하기 위해 상기 반도체 집적회로에 의해 수행될 논리 동작에 따라 루트되는 제 1 상호결선과, 그리고 상기 입/출력 버퍼부, 상기 게이트 어레이 및 상기 메모리를 연결하기 위해 상기 반도체 집적회로에 의해 수행될 논리동작에 따라 루트되는 제 1 상호결선과, 그리고 상기 입/출력 버퍼부, 상기 게이트 어레이 및 상기 메모리를 연결하기 위해 상기 반도체 집적회로에 의해 수행될 논리동작과 무관하게 고정되는데 제 2 상호결선을 포함하며, 상기 입/출력 버퍼부는 정상모드시에 정상입력 신호를 수신하기 위한 상기 제 1 상호결선의 입력단자와 테스트모드시에 테이트 신호를 수신하기 위한 상기 제 2 상호결선의 입력단자로서 공통으로 사용되는 제 1 입/출력부와, 상기 제 1 상호결선의 출력단자와, 상기 제 2 상호결선의 출력단자로서 공통으로 사용되는 제 2 단자를 갖는 제 2 입력/출력부를 포함하는 것이 특징인 게이트 어레이와 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치.
  2. 제 1 항에서, 상기 제 1 상호결선은 상기 제 2 상호결선이 제공되는 상호결선 영역과 상이한 결선 영역내에 제공되는 것이 특징인 게이트 어레이와 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치.
  3. 제 1 항에서, 상기 제 1 입/출력부는 제 1 단자에 의해 수신된 입력신호를 제 1 상호결선에 그리고 제 1 단자에 의해 수신된 테스트 신호를 제 2 상호결선에 각각 공급하기 위한 퍼버들을 더 포함하는 것이 특징인 게이트 어레이와 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치.
  4. 제 1 항에서, 상기 제 2 입/출력부는 그의 출력신호를 제 2 단자에 공급하기 위해 상기 제 1 및 제 2 상호결선들의 출력신호들을 공급받는 NOR회로를 더 포함하는 것이 특징인 게이트 어레이와 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR8808000A 1987-06-30 1988-06-30 Semiconductor integrated device with gate array and memory KR910007409B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62-163542 1987-06-30
JP62163542A JP2659095B2 (ja) 1987-06-30 1987-06-30 ゲートアレイ及びメモリを有する半導体集積回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR890001076A true KR890001076A (ko) 1989-03-18
KR910007409B1 KR910007409B1 (en) 1991-09-25

Family

ID=15775866

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR8808000A KR910007409B1 (en) 1987-06-30 1988-06-30 Semiconductor integrated device with gate array and memory

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4825414A (ko)
EP (1) EP0297821A3 (ko)
JP (1) JP2659095B2 (ko)
KR (1) KR910007409B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100394575B1 (ko) * 2001-04-11 2003-08-14 삼성전자주식회사 반도체 메모리의 테스트용 핀을 통한 내부정보 선택적출력방법 및 그에 따른 출력회로

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2521774B2 (ja) * 1987-10-02 1996-08-07 株式会社日立製作所 メモリ内蔵型論理lsi及びそのlsiの試験方法
KR910003593B1 (ko) * 1987-12-30 1991-06-07 삼성전자 주식회사 고집적도 메모리용 모드 선택회로
US5146428A (en) * 1989-02-07 1992-09-08 Hitachi, Ltd. Single chip gate array
JP2519580B2 (ja) * 1990-06-19 1996-07-31 三菱電機株式会社 半導体集積回路
US5550782A (en) * 1991-09-03 1996-08-27 Altera Corporation Programmable logic array integrated circuits
US20020130681A1 (en) * 1991-09-03 2002-09-19 Cliff Richard G. Programmable logic array integrated circuits
US6759870B2 (en) 1991-09-03 2004-07-06 Altera Corporation Programmable logic array integrated circuits
US6049223A (en) 1995-03-22 2000-04-11 Altera Corporation Programmable logic array integrated circuit with general-purpose memory configurable as a random access or FIFO memory
US5757207A (en) * 1995-03-22 1998-05-26 Altera Corporation Programmable logic array integrated circuit incorporating a first-in first-out memory
US6028446A (en) * 1995-06-06 2000-02-22 Advanced Micro Devices, Inc. Flexible synchronous and asynchronous circuits for a very high density programmable logic device
US5594694A (en) * 1995-07-28 1997-01-14 Micron Quantum Devices, Inc. Memory circuit with switch for selectively connecting an input/output pad directly to a nonvolatile memory cell
US6184709B1 (en) 1996-04-09 2001-02-06 Xilinx, Inc. Programmable logic device having a composable memory array overlaying a CLB array
US6346824B1 (en) 1996-04-09 2002-02-12 Xilinx, Inc. Dedicated function fabric for use in field programmable gate arrays
US5796269A (en) * 1996-04-09 1998-08-18 Xilinx, Inc. Composable memory array for a programmable logic device and method for implementing same
US5977791A (en) * 1996-04-15 1999-11-02 Altera Corporation Embedded memory block with FIFO mode for programmable logic device
US5625631A (en) * 1996-04-26 1997-04-29 International Business Machines Corporation Pass through mode for multi-chip-module die
US6005410A (en) * 1996-12-05 1999-12-21 International Business Machines Corporation Interconnect structure between heterogeneous core regions in a programmable array
US6011744A (en) * 1997-07-16 2000-01-04 Altera Corporation Programmable logic device with multi-port memory
US6034857A (en) * 1997-07-16 2000-03-07 Altera Corporation Input/output buffer with overcurrent protection circuit
US6020760A (en) 1997-07-16 2000-02-01 Altera Corporation I/O buffer circuit with pin multiplexing
US6467017B1 (en) 1998-06-23 2002-10-15 Altera Corporation Programmable logic device having embedded dual-port random access memory configurable as single-port memory
US6262933B1 (en) 1999-01-29 2001-07-17 Altera Corporation High speed programmable address decoder
GB2351824B (en) 1999-07-02 2004-03-31 Altera Corp Embedded memory blocks for programmable logic
US7240254B2 (en) * 2000-09-21 2007-07-03 Inapac Technology, Inc Multiple power levels for a chip within a multi-chip semiconductor package
US6812726B1 (en) * 2002-11-27 2004-11-02 Inapac Technology, Inc. Entering test mode and accessing of a packaged semiconductor device
US7444575B2 (en) * 2000-09-21 2008-10-28 Inapac Technology, Inc. Architecture and method for testing of an integrated circuit device
US6694463B2 (en) 2001-01-16 2004-02-17 Atmel Corporation Input/output continuity test mode circuit
US6720796B1 (en) 2001-05-06 2004-04-13 Altera Corporation Multiple size memories in a programmable logic device
US7313740B2 (en) * 2002-07-25 2007-12-25 Inapac Technology, Inc. Internally generating patterns for testing in an integrated circuit device
US8001439B2 (en) * 2001-09-28 2011-08-16 Rambus Inc. Integrated circuit testing module including signal shaping interface
US8286046B2 (en) 2001-09-28 2012-10-09 Rambus Inc. Integrated circuit testing module including signal shaping interface
US8166361B2 (en) * 2001-09-28 2012-04-24 Rambus Inc. Integrated circuit testing module configured for set-up and hold time testing
JP2003316321A (ja) 2002-04-25 2003-11-07 Dainippon Printing Co Ltd 表示装置および電子機器
EP2315502B1 (en) 2002-06-06 2020-10-14 UDC Ireland Limited Electroluminescent device
US8063650B2 (en) 2002-11-27 2011-11-22 Rambus Inc. Testing fuse configurations in semiconductor devices
US7111110B1 (en) * 2002-12-10 2006-09-19 Altera Corporation Versatile RAM for programmable logic device
JP4887602B2 (ja) 2003-12-16 2012-02-29 大日本印刷株式会社 有機機能素子の製造方法
US7604277B2 (en) 2005-12-28 2009-10-20 Yanmar Co., Ltd. Working vehicle equipped with assist grip
AU2006332048B2 (en) 2005-12-28 2012-03-15 Yanmar Co., Ltd. Tractor
US7466603B2 (en) 2006-10-03 2008-12-16 Inapac Technology, Inc. Memory accessing circuit system
JP5770720B2 (ja) * 2010-05-19 2015-08-26 パナソニック株式会社 Ic電流測定用装置、及びic電流測定用アダプタ

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3961251A (en) * 1974-12-20 1976-06-01 International Business Machines Corporation Testing embedded arrays
JPS6076141A (ja) * 1983-10-03 1985-04-30 Nec Corp 集積論理回路
JPS6085500A (ja) * 1983-10-18 1985-05-14 Fujitsu Ltd 高集積回路素子内蔵メモリの試験方式
US4617479B1 (en) * 1984-05-03 1993-09-21 Altera Semiconductor Corp. Programmable logic array device using eprom technology
US4608669A (en) * 1984-05-18 1986-08-26 International Business Machines Corporation Self contained array timing
US4724531A (en) * 1984-07-18 1988-02-09 Hughes Aircraft Company Gate array with bidirectional symmetry
US4758476A (en) * 1984-12-12 1988-07-19 Hitachi Chemical Company, Ltd. Polyimide precursor resin composition and semiconductor device using the same
EP0186040B1 (de) * 1984-12-28 1990-03-21 Siemens Aktiengesellschaft Integrierter Halbleiterspeicher
US4697241A (en) * 1985-03-01 1987-09-29 Simulog, Inc. Hardware logic simulator
JPS61253918A (ja) * 1985-05-02 1986-11-11 Fujitsu Ltd 論理回路
US4691161A (en) * 1985-06-13 1987-09-01 Raytheon Company Configurable logic gate array
JPS61292755A (ja) * 1985-06-20 1986-12-23 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
US4768167A (en) * 1986-09-30 1988-08-30 International Business Machines Corporation High speed CMOS latch with alternate data storage and test functions

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100394575B1 (ko) * 2001-04-11 2003-08-14 삼성전자주식회사 반도체 메모리의 테스트용 핀을 통한 내부정보 선택적출력방법 및 그에 따른 출력회로

Also Published As

Publication number Publication date
US4825414A (en) 1989-04-25
KR910007409B1 (en) 1991-09-25
JPS647635A (en) 1989-01-11
EP0297821A2 (en) 1989-01-04
JP2659095B2 (ja) 1997-09-30
EP0297821A3 (en) 1990-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR890001076A (ko) 게이트어레이 및 메모리를 갖는 반도체 집적회로 장치
US5012185A (en) Semiconductor integrated circuit having I/O terminals allowing independent connection test
KR900006484B1 (ko) Ic평가회로 소자와 평가회로 소자 검사수단을 갖는 반도체 집적회로
US5509019A (en) Semiconductor integrated circuit device having test control circuit in input/output area
KR910000738B1 (ko) 동작 테스트실행에 적합한 반도체 집적회로
US5859442A (en) Circuit and method for configuring a redundant bond pad for probing a semiconductor
KR940025183A (ko) 액티브-레벨로 배치가능한 핀을 갖는 집적회로 및 그 배치 방법
KR880014482A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR930006876A (ko) 집적 회로의 입력 및 출력의 전기적 패러미터 검사 회로
KR960005600A (ko) 모듈카드
US6369599B1 (en) Circuit and a method for configuring pad connections in an integrated device
KR850000875A (ko) 비데오 성분 상호 연결장치
KR940006230A (ko) 반도체 집적회로장치 및 그 기능시험방법
US5225774A (en) Semiconductor integrated circuit
US5406197A (en) Apparatus for controlling test inputs of circuits on an electronic module
US5625631A (en) Pass through mode for multi-chip-module die
KR920017246A (ko) 반도체 집적 회로 장치
KR0146186B1 (ko) 멀티 칩 패키지 추진시 집적 회로 테스트 장치
KR960043068A (ko) 테스트 회로를 내장한 집적회로
US4814639A (en) Super integration circuit device having a plurality of IC-chip equivalent regions formed on a single semiconductor substrate
KR960701371A (ko) 일정 논리값을 출력하는 수단의 출력과 회로 입력간의 접속 테스팅 소자(Device for testing connection between an output of a means which outputs a fixed logic value and the input of a circuit)
KR910020722A (ko) 집적 반도체 메모리
KR970051140A (ko) 어드레스 핀과 데이타 핀을 공유하는 반도체 메모리 장치
KR970012784A (ko) 노말/테스트 겸용 본딩 패드를 가진 반도체 메모리 장치
KR890016468A (ko) 반도체 집적회로장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030915

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee