JP4977126B2 - 電子機能を備える多層複合体 - Google Patents

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Description

本発明は、電子機能を備える多層複合体、特に、複数の有機電子要素を含む電子サブアセンブリに関する。
電子部品は、例えば、特許文献1に開示されている。電子部品は、一般に、様々な機能層(導電層、半導体層、絶縁層及び再び導電層)を、基板に順次に設けることにより製造される。複数の電子要素は、例えば、特許文献2に記載されるようにプリント基板上で組み合わされることもある。
現在使用されているサブアセンブリの欠点は、複数の個々の要素を、個別に、且つ、順次に製造し、電気的に導通するように接続し、且つ、配置構成して、更に複雑なサブアセンブリを形成するようにしなければならないことである。このような目的で、費用のかかる様々な作業工程及び処理工程が必要とされる。
国際公開第02/15264号パンフレット 独国特許発明第101 51 440 C1号明細書
本発明の目的は、量産に適したやり方で簡単に、且つ、経済的に実現可能なサブアセンブリ用の構造であって、複数の主要電子要素、即ち、トランジスタ、電界効果トランジスタ、電気コンタクト・ビア、抵抗器、相互接続抵抗器、コイル、コンデンサ、整流器、若しくは、それらに類する要素等の能動要素も受動要素も等しく、所望の任意のやり方で組み合わすことができ、特にダイオードと組み合わすことができるような構造を提供することである。
本発明は、それぞれ一工程で設けられ、均一又はパターン化された、少なくとも2つの層を有し、少なくとも2つの異なる有機電子要素を含む多層複合体多層複合体に関する。
本発明による多層複合体の要素に共通している層の1つは、例えば、均一又はパターン化された半導体層、及び/又は、他の層(例えば、高い粘性のために、状況によっては、形成される間に、パターン化されないことのある層でもある)である。
本発明の1つの有利な改善により、この多層複合体の要素、即ち、異なる要素が全て、また、それらの要素が望まれる数だけいくつでも同一基板上に同時に製造され、例えば、連続する処理で製造される。このため、その要素において機能を全く持たない層を含む要素がいくつかもたらされる。
これらの少なくとも2つの層、但し、原理的には5層以上の層のうちの1つは、この多層複合体の要素に共通であって、これもまた、好ましくは、キャリア層、即ち、全ての要素に共通である基板である。
1つの好ましい実施形態により、多層複合体の要素の全ては、凝集層(cohesive layer)から構成されており、それらの凝集層の一部はパターン化され、また他の凝集層は、絶えず均一の層である。これらの層は、この多層複合体中の要素の全てに対して同時に製造され、また必要であれば、それぞれの要素に対して適切にパターン化される。
少なくとも1つのダイオードと、追加の別の要素とを有するサブアセンブリは、好ましくは、この多層複合体を用いて実現される。
例えば、単純な整流器が、この多層複合体として実現され、その場合、少なくとも2つの異なる要素、即ち、ダイオードとコンデンサが、この多層複合体に含まれている。
少なくとも3つの異なる要素、即ち、少なくとも2つのダイオード、コンデンサ、コンタクト・ビアが、この多層複合体を成すサブアセンブリに入っている場合には、複雑な整流器も、この多層複合体で実現されることがある。
変調器付きの単純な整流器を構築するために、その多層複合体は、例えば、少なくとも3つの異なる要素、ダイオード、コンデンサ、トランジスタを備える。
最後に、この多層複合体でトランスポンダを構築する目的で、少なくとも4つの異なる要素、即ち、ダイオード、コンデンサ、トランジスタ、及び、1つ又は複数のコンタクト・ビアがある。
この多層複合体は、原理的には、トランジスタ、電界効果トランジスタ、電気コンタクト・ビア、抵抗器、相互接続抵抗器、コイル、コンデンサ、整流器、若しくはそれらに類する要素等の可能な全ての要素を、所望の数だけいくつでも有し、特に、それらの要素を、1つ又は複数のダイオードと組み合わせられるように有することがある。
この多層複合体は、好ましくは、2つの導電層において、仕事関数に関して異なる2つの材料を備える。このような場合、半導体層と接触している導電層が銀から成り、次に、この対極の材料が、異なる仕事関数を有する材料、特に酸化しやすい(base)方の金属、例えば、銅、ニッケル、クロム、コバルト、若しくはそれに類する金属であることが特に好ましい。
このサブアセンブリを製造しようとするときには、これらの要素の全ては、4つのパターン化された層と、それらの層の充分周致な重ね合わせ(superimposition)を使用して、一製造工程で製造されることが特に好ましい。
このような場合、その代表的な構造は、下から上に、基板、導電層、半導体層、絶縁層、上部導電層の連続したものである。一連の「ボトムアップ」層も想像でき、これは、付随して本発明の考えに含まれる。
このような場合、この多層複合体の2つの導電層は、特に、異なる仕事関数乃至異なるフェルミ・レベルを備える異なる材料で作られることが特に好ましい。これは、例えば、2つの異類の金属及び/又は合金から成る金属層を使用することで得られる。このような場合、半導体層に隣接する電極として、特に半導体層と接触している導電層として銀の使用、また、その対極として、仕事関数が銀とは異なる別の金属/合金の使用が特に好ましい。
本発明はまた、本発明の好ましい実施形態を図式的に描いている4つの図面を用いて、以下で更に詳しく説明されることになる。
図1は、例えば、完成したトランスポンダ回路に必要とされる完全に集積されたプリント可能な電子回路の略横断面を示す。
図2は、ここでもやはり、図1にも見られる要素の全てを示しているが、但し、このような場合、このダイオードの場所での半導体層は、他の要素の上側電極のレベルまでは引き寄せられず、もっと適切に言えば、この場合には、このダイオードの上側電極が更に深くなる。
図3は、電圧を供給する構造を示し、このような場合、ダイオード、コンデンサ、コンタクト・ビアの要素が、基板上で同時に製造される。
図4は、電気コンタクト・ビア、トランジスタ、抵抗器、及び/又は、コイルを組み合わせた複合体を示す。
基板1は、図1の下端に見られる。滑らかな表面を備える全ての絶縁材料は、基板として使用され、また、撓み材料も撓まない材料も等しく使用されることもある。例えば、その場所では、PETフィルム又は他の高分子合成樹脂フィルム等の撓みフィルム、ガラス、石英、セラミック又は他の材料が使用される。
基板1に続く層2は、第1の導電層、又はパターン化された形式で設けられている下部電極2である。1つの有利な改善により、次の半導体層で覆われるソース電極とドレイン電極が、ここで製造される。導電層2には、導電材料しか使用されない場合もある。そのような場合には、これらの導電材料が、有機材料であるか、無機材料であるか、或いは、複合材料であるかどうかは重要でない。1つの好ましい実施形態により、この半導体層と接触している導電層向けの材料として、4.6eV〜5.2eVの範囲内(好ましくは、4.9eV)の仕事関数を備える金属又は合金が使用される。特に好ましくは、その場所では、4.9eVの仕事関数を備える銀が使用される。この材料を選択しようとするときには、この半導体のフェルミ・レベルとの差が好ましくは0.3eV以下となるように、この仕事関数を、その半導体のフェルミ・レベルに確実に合わせるようにする。次に、この電荷キャリア(電荷担体)は、全く問題なく、半導体材料から導電材料中に確実に移動できるようにする。
粘性のために、状況によっては、パターン化されない形式で設けられることもある半導体層3は、第1の下部電極層の次に設けられる。好ましくは、この半導体層用の材料として、P3AT、P3DHTT、立体規則ポリアルキルチオフェン(regioregular polyalkylthiophene)、ポリフルオレン誘導体(derivative)、PPV等の有機材料一般、及び/又は、他のポリマー、例えば、共役主鎖又は、共役主鎖での自由移動電子対を備えるポリマーが、使用される。半導体層3はまた、例えば、プリンティング(転写)を用いて、パターン化された形式で設けられることがある。
ほとんどの電子要素では、この次に絶縁層4が設けられる。絶縁層4は、ダイオード又はコンタクト・ビアが製造される基板上の該当場所(1つ又は複数)では、誘電体層又は絶縁層が邪魔することになるから、その誘電体層又は絶縁層を省かなければならない限りにおいてのみ、パターン化された形式で設けられる必要がある。この絶縁層4は、例えば、溶解できるプリント可能(転写可能)な材料から成っている。好ましくは、絶縁層向けの材料として、有機溶解可能材料、例えば、ポリスチレン誘導体、PMMA、又は一般に絶縁するポリマーが使用される。
これらの電子要素の主要部分の終端として、このパターン化された絶縁層4の次に、上部導電層5がきて、更に、その上部導電層5が好ましくはパターン化される。この場合、導電性の有機及び無機の材料及び/又は複合材料が使用される。好ましくは、仕事関数が、下側導電層(対極)の材料のものとは異なる金属が特に使用される。一実施形態により、仕事関数が、この場合、3eV〜5eVの範囲、特に3.0eV〜4.6eVの範囲、或いは、それ以上である材料が使用される。例えば、このような場合、銅、ニッケル、クロム、コバルト、マンガン等を使用することができる。
次に、以下の要素が、図1の基板1上で左から右に実現される。即ち、電気コンタクト・ビアa、電気コンタクト・ビアaの次に設けられ、且つ、例えば、上部導電層5を用いて電気コンタクト・ビアaに接続されているものはトランジスタbであり、そのトランジスタbのソース/ドレイン電極は下側導電層2内にある。半導体層3が、対極5のレベルまで引き寄せられて、電流/電圧の損失を全く発生させないようにしているダイオードcが、トランジスタbの近傍に配置されている。コンデンサdは、ダイオードcの右側に設けられ、次に、抵抗器又はコイルeは、上記コンデンサの右側、即ち、その外面上の最右側に位置している。
これらの要素の全て、及び、同様に図1に見られる層の全ては、図2でもやはり示されているが、但し、この場合には、ダイオードcの場所での半導体層3は、電気コンタクト・ビアa、トランジスタb、コンデンサd、抵抗器eの他の要素の上側電極5のレベルまでは引き寄せられてなく、もっと適切に言えば、ダイオードcの上側電極5は、この場合には、絶縁層4のレベルにおいて、更に深い。
図3では、整流器に電圧を供給するのに必要とされる主要要素の全てが、基板上に共に実装され、また、これらの層の全てが、これらの主要要素の全てにおいて共通である場合には、これらの主要要素を同時に製造できる。この一連の層は、図1からのものに対応し、その場合、同一材料又は他の対応する材料も使用できる。従って、層1は基板であり、パターン化された層2は導電層であり、層3は半導体層であり、4は絶縁層であり、更に、層5は対極であり、更に、その対極がパターン化される。
このような場合、以下の一連の要素が提供される。外面上の最左側にあるものは、コンタクト・ビア1であり、コンタクト・ビア1の次にダイオードcがあり、更に、ダイオードcの次にコンデンサdが設けられる。アンテナから供給される交流電圧は、例えば、本明細書に示される複合体を用いて整流されることもある。この半導体は、タイオード領域c内では、やや厚い形態で設けられる。これは、これらの要素の同時製造中に、例えば、装飾的プリント(decorative print)を使用することにより、実装されることがある。
図4は、電気コンタクト・ビア、トランジスタ、抵抗器又はコイルを組み合わせた多層複合体を示している。この層構造と、このような電気コンタクト・ビアa、トランジスタb、抵抗器又はコイルeの要素の配置を使用して、少なくともPFET(ポリマ電界効果トランジスタ)、インバータ、リングオシレータ、フリップフロップ、分周器及び/又はカウンタが構築されることもある。
この層構造は、この場合も、他の図から理解できるものに対応している。この場合には、ダイオードは実装されないが、上側電極5及び下側電極2の導電材料は、特にその仕事関数に関して、全く異なることがある。
それでも、このデバイス及び/又はこれらの材料の感度のために、多種多様な材料及び/又は積層物(laminate)を含むかもしれないこれらの要素のカプセル封止材料(パッケージ、encapsulation)及び/又は封止材料は、最上部の層又は終端として、推奨される。このカプセル封止材料/封止材料は、撓まない材料、又は撓み材料から構成することもできる。
トランジスタ、電界効果トランジスタ、電気コンタクト・ビア、抵抗器、相互接続抵抗器、インダクタ(コイル、inductance)、ダイオード、コンデンサ、整流器等の電子デバイスの主要要素が実装される。これらの主要要素は、この構造を使用して、プレーナ法で、且つ/又は、パターン化された層の形式で連続的に設けられる層を用いて、基板上で互いに隣り合った位置に、且つ/又は、互いに前後する位置に設けられることもある。
好ましくは、このサブアセンブリ中の全ての要素を同時に、また連続する方法で量産するのに適した経済的な製造により、個々の要素は、特に、そこでは機能を全く持たない層を有することができ、例えば、電界効果トランジスタでは、且つ/又は、コンデンサでは、そのゲート電極は、ソース/ドレイン電極のものとは異なる仕事関数を備える場合があり、このような場合、その仕事関数の差が全く機能を持たない。
コンデンサと相互接続抵抗器、更にコンタクト・ビアは、例えば、その場所で不必要であって、且つ、機能的でない半導体を有する。
電界効果トランジスタ、電気コンタクト・ビア、抵抗器、相互接続抵抗器、コイル、ダイオード、コンデンサ、整流器等の複雑な電子デバイスの主要部分は、プレーナ法で、且つ/又は、パターン化された層の形式で連続的に設けられる層を用いて、これらの図に示される構造を用いて、基板上で、互いに隣り合った位置に、且つ/又は互いに前後する位置に製造されることもある。
本発明は、初めて、RFIDタグ等のサブアセンブリ全体の構造に対して可能性を与え、これらの要素の全てを備えるタグ全体を、1つの製造工程で実装することができる。その結果、量産に適した経済的な製造方法が、初めて述べられる。
例えば、完成したトランスポンダ回路に必要とされる完全に集積されたプリント可能な電子回路の略横断面 ここでもやはり、図1にも見られる要素の全てを示しているが、但し、このような場合、このダイオードの場所での半導体層は、他の要素の上側電極のレベルまでは引き寄せられず、もっと適切に言えば、この場合には、このダイオードの上側電極が更に深くなる。 電圧を供給する構造を示し、このような場合、ダイオード、コンデンサ、コンタクト・ビアの要素が、基板上で同時に製造される。 電気コンタクト・ビア、トランジスタ、抵抗器、及び/又は、コイルを組み合わせた複合体
符号の説明
1 基板
2 下部導電層
3 半導体層
4 絶縁層
5 上部導電層

Claims (8)

  1. 少なくともダイオード及びトランジスタと、少なくとも2つの電極層と、前記少なくとも2つの電極層の間にある少なくとも1つの有機半導体層とを備えた多層複合体であって、少なくとも2つの電極層は、それぞれが均一又はパターン化された、前記ダイオードと前記トランジスタとに共通の層であり前記2つの電極層の1つは、前記有機半導体層と接触し、且つ、実質的に銀からなり、前記2つの電極層の1つは、実質的に銅からなる多層複合体。
  2. 前記2つの電極層が、電極と対向電極を構成する請求項1に記載の多層複合体。
  3. 前記複合体における1つの別の要素としてコンデンサが実装される請求項1又は2に記載の多層複合体。
  4. 少なくとも2つのダイオードと1つのコンデンサが実装される請求項1乃至3の何れか1項に記載の多層複合体。
  5. ダイオード、コンデンサ、トランジスタ、コンタクト・ビアの少なくとも4つの異なる要素が実装される請求項1乃至4の何れか1項に記載の多層複合体。
  6. 界効果トランジスタ、電気コンタクト・ビア、抵抗器、相互接続抵抗器、コイル、コンデンサ、及び/又は、整流器の要素を含むグループから選択された前記電子要素の少なくとも1つが、前記ダイオード及び前記トランジスタと共に実装される請求項1乃至5の何れか1項に記載の多層複合体。
  7. 前記電極層の少なくとも1つを、基板上で、連続して製造することができる請求項1乃至6の何れか1項に記載の多層複合体。
  8. 前記電極層の少なくとも1つがプリントされる請求項1乃至7の何れか1項に記載の多層複合体。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005031448A1 (de) 2005-07-04 2007-01-11 Polyic Gmbh & Co. Kg Aktivierbare optische Schicht
JP2009540418A (ja) * 2006-06-07 2009-11-19 エヌエックスピー ビー ヴィ 半導体チップ、トランスポンダおよびトランスポンダの製造方法
DE102007046679B4 (de) 2007-09-27 2012-10-31 Polyic Gmbh & Co. Kg RFID-Transponder
DE102008036736B4 (de) * 2008-08-07 2010-04-29 Abb Ag Elektrisches Installationsschaltgerät mit einer elektronischen Baugruppe
DE102008061928A1 (de) * 2008-12-15 2010-06-17 Polylc Gmbh & Co. Kg Organisch elektronische Schaltung
DE102013102052B4 (de) 2013-03-01 2018-07-26 Infineon Technologies Ag Chip-Anordnung

Family Cites Families (253)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US65757A (en) * 1867-06-11 Improved lifter foe the lids of pitchers
GB723598A (en) 1951-09-07 1955-02-09 Philips Nv Improvements in or relating to methods of producing electrically conductive mouldings from plastics
US3512052A (en) * 1968-01-11 1970-05-12 Gen Motors Corp Metal-insulator-semiconductor voltage variable capacitor with controlled resistivity dielectric
DE2102735B2 (de) 1971-01-21 1979-05-10 Transformatoren Union Ag, 7000 Stuttgart Einrichtung zur Regelung des Mengendurchsatzes von Mühlen und Brechern
US3769096A (en) 1971-03-12 1973-10-30 Bell Telephone Labor Inc Pyroelectric devices
AU488652B2 (en) 1973-09-26 1976-04-01 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Improvements in or relating to security tokens
JPS543594B2 (ja) * 1973-10-12 1979-02-24
DE2407110C3 (de) 1974-02-14 1981-04-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Sensor zum Nachweis einer in einem Gas oder einer Flüssigkeit einthaltenen Substanz
JPS54101176A (en) 1978-01-26 1979-08-09 Shinetsu Polymer Co Contact member for push switch
US4442019A (en) * 1978-05-26 1984-04-10 Marks Alvin M Electroordered dipole suspension
US4246298A (en) * 1979-03-14 1981-01-20 American Can Company Rapid curing of epoxy resin coating compositions by combination of photoinitiation and controlled heat application
JPS5641938U (ja) 1979-09-10 1981-04-17
US4340057A (en) * 1980-12-24 1982-07-20 S. C. Johnson & Son, Inc. Radiation induced graft polymerization
US4472627A (en) 1982-09-30 1984-09-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Treasury Authenticating and anti-counterfeiting device for currency
EP0108650A3 (en) 1982-11-09 1986-02-12 Zytrex Corporation Programmable mos transistor
DE3321071A1 (de) 1983-06-10 1984-12-13 Basf Ag Druckschalter
DE3338597A1 (de) 1983-10-24 1985-05-02 GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München Datentraeger mit integriertem schaltkreis und verfahren zur herstellung desselben
US4554229A (en) 1984-04-06 1985-11-19 At&T Technologies, Inc. Multilayer hybrid integrated circuit
JPS6265472A (ja) 1985-09-18 1987-03-24 Toshiba Corp Mis型半導体素子
US4726659A (en) 1986-02-24 1988-02-23 Rca Corporation Display device having different alignment layers
DE3768112D1 (de) * 1986-03-03 1991-04-04 Toshiba Kawasaki Kk Strahlungsdetektor.
EP0268370B1 (en) 1986-10-13 1995-06-28 Canon Kabushiki Kaisha Switching device
GB2215307B (en) 1988-03-04 1991-10-09 Unisys Corp Electronic component transportation container
KR900702481A (ko) 1988-06-21 1990-12-07 원본미기재 휴대용 전자 토큰 제조방법
US5364735A (en) 1988-07-01 1994-11-15 Sony Corporation Multiple layer optical record medium with protective layers and method for producing same
US4937119A (en) * 1988-12-15 1990-06-26 Hoechst Celanese Corp. Textured organic optical data storage media and methods of preparation
US5892244A (en) * 1989-01-10 1999-04-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Field effect transistor including πconjugate polymer and liquid crystal display including the field effect transistor
FR2644920B1 (fr) 1989-03-21 1993-09-24 France Etat Dispositif d'affichage polychrome a memoire du type photoconducteur-electroluminescent
US6331356B1 (en) * 1989-05-26 2001-12-18 International Business Machines Corporation Patterns of electrically conducting polymers and their application as electrodes or electrical contacts
EP0418504B1 (en) 1989-07-25 1995-04-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Organic semiconductor memory device having a MISFET structure and its control method
FI84862C (fi) 1989-08-11 1992-01-27 Vaisala Oy Kapacitiv fuktighetsgivarkonstruktion och foerfarande foer framstaellning daerav.
DE3942663A1 (de) 1989-12-22 1991-06-27 Gao Ges Automation Org Datentraeger mit einem fluessigkristall-sicherheitselement
US5206525A (en) 1989-12-27 1993-04-27 Nippon Petrochemicals Co., Ltd. Electric element capable of controlling the electric conductivity of π-conjugated macromolecular materials
FI91573C (sv) 1990-01-04 1994-07-11 Neste Oy Sätt att framställa elektroniska och elektro-optiska komponenter och kretsar
JP2969184B2 (ja) 1990-04-09 1999-11-02 カシオ計算機株式会社 薄膜トランジスタメモリ
FR2664430B1 (fr) 1990-07-04 1992-09-18 Centre Nat Rech Scient Transistor a effet de champ en couche mince de structure mis, dont l'isolant et le semiconducteur sont realises en materiaux organiques.
US5202677A (en) * 1991-01-31 1993-04-13 Crystal Images, Inc. Display apparatus using thermochromic material
DE4103675C2 (de) 1991-02-07 1993-10-21 Telefunken Microelectron Schaltung zur Spannungsüberhöhung von Wechselspannungs-Eingangssignalen
FR2673041A1 (fr) 1991-02-19 1992-08-21 Gemplus Card Int Procede de fabrication de micromodules de circuit integre et micromodule correspondant.
EP0501456A3 (en) 1991-02-26 1992-09-09 Sony Corporation Video game computer provided with an optical disc drive
US5408109A (en) * 1991-02-27 1995-04-18 The Regents Of The University Of California Visible light emitting diodes fabricated from soluble semiconducting polymers
US5332315A (en) 1991-04-27 1994-07-26 Gec Avery Limited Apparatus and sensor unit for monitoring changes in a physical quantity with time
JP3224829B2 (ja) 1991-08-15 2001-11-05 株式会社東芝 有機電界効果型素子
JPH0580530A (ja) 1991-09-24 1993-04-02 Hitachi Ltd 薄膜パターン製造方法
US5173835A (en) 1991-10-15 1992-12-22 Motorola, Inc. Voltage variable capacitor
DE59105477D1 (de) * 1991-10-30 1995-06-14 Fraunhofer Ges Forschung Belichtungsvorrichtung.
JP2709223B2 (ja) * 1992-01-30 1998-02-04 三菱電機株式会社 非接触形携帯記憶装置
FR2696043B1 (fr) 1992-09-18 1994-10-14 Commissariat Energie Atomique Support à réseau d'éléments résistifs en polymère conducteur et son procédé de fabrication.
EP0603939B1 (en) 1992-12-21 1999-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. N-type conductive polymer and method of preparing such a polymer
DE4243832A1 (de) 1992-12-23 1994-06-30 Daimler Benz Ag Tastsensoranordnung
JP3457348B2 (ja) * 1993-01-15 2003-10-14 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
FR2701117B1 (fr) * 1993-02-04 1995-03-10 Asulab Sa Système de mesures électrochimiques à capteur multizones, et son application au dosage du glucose.
EP0615256B1 (en) 1993-03-09 1998-09-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of manufacturing a pattern of an electrically conductive polymer on a substrate surface and method of metallizing such a pattern
US5567550A (en) 1993-03-25 1996-10-22 Texas Instruments Incorporated Method of making a mask for making integrated circuits
DE4312766C2 (de) 1993-04-20 1997-02-27 Telefunken Microelectron Schaltung zur Spannungsüberhöhung
JPH0722669A (ja) * 1993-07-01 1995-01-24 Mitsubishi Electric Corp 可塑性機能素子
EP0722563A4 (en) 1993-08-24 1998-03-04 Metrika Lab Inc NEW ELECTRONIC DISPOSABLE ANALYSIS DEVICE
JP3460863B2 (ja) 1993-09-17 2003-10-27 三菱電機株式会社 半導体装置の製造方法
FR2710413B1 (fr) * 1993-09-21 1995-11-03 Asulab Sa Dispositif de mesure pour capteurs amovibles.
US5556706A (en) * 1993-10-06 1996-09-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive layered product and method of manufacturing the same
IL111151A (en) 1994-10-03 1998-09-24 News Datacom Ltd Secure access systems
US6028649A (en) * 1994-04-21 2000-02-22 Reveo, Inc. Image display systems having direct and projection viewing modes
DE69531477T2 (de) * 1994-05-16 2004-07-15 Koninklijke Philips Electronics N.V. Halbleiteranordnung aus halbleitendem, organischem material
IL110318A (en) 1994-05-23 1998-12-27 Al Coat Ltd Solutions containing polyaniline for making transparent electrodes for liquid crystal devices
US5684884A (en) 1994-05-31 1997-11-04 Hitachi Metals, Ltd. Piezoelectric loudspeaker and a method for manufacturing the same
JP3246189B2 (ja) * 1994-06-28 2002-01-15 株式会社日立製作所 半導体表示装置
US5528222A (en) * 1994-09-09 1996-06-18 International Business Machines Corporation Radio frequency circuit and memory in thin flexible package
US5574291A (en) 1994-12-09 1996-11-12 Lucent Technologies Inc. Article comprising a thin film transistor with low conductivity organic layer
US5630986A (en) * 1995-01-13 1997-05-20 Bayer Corporation Dispensing instrument for fluid monitoring sensors
DE19506907A1 (de) 1995-02-28 1996-09-05 Telefunken Microelectron Schaltungsanordnung zur Variation eines Eingangssignals mit bestimmter Eingangsspannung und bestimmtem Eingangsstrom
JP3068430B2 (ja) * 1995-04-25 2000-07-24 富山日本電気株式会社 固体電解コンデンサ及びその製造方法
JPH08328031A (ja) * 1995-06-02 1996-12-13 Sharp Corp フルカラー液晶表示装置およびその製造方法
JPH0933645A (ja) 1995-07-21 1997-02-07 Oki Electric Ind Co Ltd トランスポンダの電源回路
US5652645A (en) * 1995-07-24 1997-07-29 Anvik Corporation High-throughput, high-resolution, projection patterning system for large, flexible, roll-fed, electronic-module substrates
US5707894A (en) * 1995-10-27 1998-01-13 United Microelectronics Corporation Bonding pad structure and method thereof
US5625199A (en) 1996-01-16 1997-04-29 Lucent Technologies Inc. Article comprising complementary circuit with inorganic n-channel and organic p-channel thin film transistors
US6469683B1 (en) * 1996-01-17 2002-10-22 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Liquid crystal optical device
US6326640B1 (en) 1996-01-29 2001-12-04 Motorola, Inc. Organic thin film transistor with enhanced carrier mobility
GB2310493B (en) * 1996-02-26 2000-08-02 Unilever Plc Determination of the characteristics of fluid
JP3080579B2 (ja) 1996-03-06 2000-08-28 富士機工電子株式会社 エアリア・グリッド・アレイ・パッケージの製造方法
DE19610284A1 (de) 1996-03-15 1997-08-07 Siemens Ag Antennenspule
US6566156B1 (en) * 1996-06-12 2003-05-20 The Trustees Of Princeton University Patterning of thin films for the fabrication of organic multi-color displays
DE19629656A1 (de) * 1996-07-23 1998-01-29 Boehringer Mannheim Gmbh Diagnostischer Testträger mit mehrschichtigem Testfeld und Verfahren zur Bestimmung von Analyt mit dessen Hilfe
US5693956A (en) 1996-07-29 1997-12-02 Motorola Inverted oleds on hard plastic substrate
DE19648937A1 (de) 1996-11-26 1997-05-15 Meonic Sys Eng Gmbh Elektronisches Etikett
US6259506B1 (en) * 1997-02-18 2001-07-10 Spectra Science Corporation Field activated security articles including polymer dispersed liquid crystals, and including micro-encapsulated field affected materials
US5946551A (en) * 1997-03-25 1999-08-31 Dimitrakopoulos; Christos Dimitrios Fabrication of thin film effect transistor comprising an organic semiconductor and chemical solution deposited metal oxide gate dielectric
US6344662B1 (en) * 1997-03-25 2002-02-05 International Business Machines Corporation Thin-film field-effect transistor with organic-inorganic hybrid semiconductor requiring low operating voltages
US5841325A (en) 1997-05-12 1998-11-24 Hewlett-Packard Company Fully-integrated high-speed interleaved voltage-controlled ring oscillator
KR100248392B1 (ko) 1997-05-15 2000-09-01 정선종 유기물전계효과트랜지스터와결합된유기물능동구동전기발광소자및그소자의제작방법
WO1999010939A2 (en) * 1997-08-22 1999-03-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. A method of manufacturing a field-effect transistor substantially consisting of organic materials
EP1296280A1 (en) 1997-09-11 2003-03-26 Precision Dynamics Corporation Rf-id tag with integrated circuit consisting of organic materials
AU764920B2 (en) 1997-09-11 2003-09-04 Precision Dynamics Corporation Radio frequency identification tag on flexible substrate
US6251513B1 (en) * 1997-11-08 2001-06-26 Littlefuse, Inc. Polymer composites for overvoltage protection
JPH11142810A (ja) 1997-11-12 1999-05-28 Nintendo Co Ltd 携帯型情報処理装置
JP2001510670A (ja) 1997-12-05 2001-07-31 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 識別トランスポンダ
US5997817A (en) 1997-12-05 1999-12-07 Roche Diagnostics Corporation Electrochemical biosensor test strip
US5998805A (en) 1997-12-11 1999-12-07 Motorola, Inc. Active matrix OED array with improved OED cathode
US6083104A (en) * 1998-01-16 2000-07-04 Silverlit Toys (U.S.A.), Inc. Programmable toy with an independent game cartridge
CA2319430C (en) * 1998-01-28 2004-05-11 Thin Film Electronics Asa A method for generating electrical conducting or semiconducting structures in two or three dimensions, a method for erasing the same structures and an electric field generator/modulator for use with the method for generating
US6087196A (en) * 1998-01-30 2000-07-11 The Trustees Of Princeton University Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing
US6045977A (en) * 1998-02-19 2000-04-04 Lucent Technologies Inc. Process for patterning conductive polyaniline films
DE19816860A1 (de) 1998-03-06 1999-11-18 Deutsche Telekom Ag Chipkarte, insbesondere Guthabenkarte
US6033202A (en) 1998-03-27 2000-03-07 Lucent Technologies Inc. Mold for non - photolithographic fabrication of microstructures
US6369793B1 (en) * 1998-03-30 2002-04-09 David C. Zimman Printed display and battery
EP1105772B1 (en) * 1998-04-10 2004-06-23 E-Ink Corporation Electronic displays using organic-based field effect transistors
GB9808061D0 (en) * 1998-04-16 1998-06-17 Cambridge Display Tech Ltd Polymer devices
JP3466954B2 (ja) * 1998-04-24 2003-11-17 キヤノン株式会社 発光ダイオード装置及びその製造方法
US6350996B1 (en) 1998-04-24 2002-02-26 Canon Kabushiki Kaisha Light emitting diode device
GB9808806D0 (en) 1998-04-24 1998-06-24 Cambridge Display Tech Ltd Selective deposition of polymer films
TW410478B (en) 1998-05-29 2000-11-01 Lucent Technologies Inc Thin-film transistor monolithically integrated with an organic light-emitting diode
US6107920A (en) * 1998-06-09 2000-08-22 Motorola, Inc. Radio frequency identification tag having an article integrated antenna
US5967048A (en) 1998-06-12 1999-10-19 Howard A. Fromson Method and apparatus for the multiple imaging of a continuous web
KR100282393B1 (ko) 1998-06-17 2001-02-15 구자홍 유기이엘(el)디스플레이소자제조방법
US6528816B1 (en) * 1998-06-19 2003-03-04 Thomas Jackson Integrated inorganic/organic complementary thin-film transistor circuit and a method for its production
DE19836174C2 (de) 1998-08-10 2000-10-12 Illig Maschinenbau Adolf Heizung zum Erwärmen von thermoplastischen Kunststoffplatten und Verfahren zum Einstellen der Temperatur dieser Heizung
US6215130B1 (en) * 1998-08-20 2001-04-10 Lucent Technologies Inc. Thin film transistors
EP2325622B1 (en) 1998-08-26 2014-03-12 Sensors for Medicine and Science, Inc. Optical-based sensing device
JP4493741B2 (ja) 1998-09-04 2010-06-30 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
EP0996176B8 (en) 1998-10-13 2005-10-19 Sony Deutschland GmbH Method of fabricating an active matrix light-emitting display device
DE19851703A1 (de) 1998-10-30 2000-05-04 Inst Halbleiterphysik Gmbh Verfahren zur Herstellung von elektronischen Strukturen
US6384804B1 (en) * 1998-11-25 2002-05-07 Lucent Techonologies Inc. Display comprising organic smart pixels
US6506438B2 (en) * 1998-12-15 2003-01-14 E Ink Corporation Method for printing of transistor arrays on plastic substrates
US6321571B1 (en) 1998-12-21 2001-11-27 Corning Incorporated Method of making glass structures for flat panel displays
US6114088A (en) * 1999-01-15 2000-09-05 3M Innovative Properties Company Thermal transfer element for forming multilayer devices
DE60003281T2 (de) 1999-01-15 2004-05-06 3M Innovative Properties Co., Saint Paul Thermisches Übertragungsverfahren.
DE19902029A1 (de) 1999-01-20 2000-07-27 Philips Corp Intellectual Pty Spannungsfester Dünnschichtkondensator mit Interdigitalstruktur
GB2347013A (en) * 1999-02-16 2000-08-23 Sharp Kk Charge-transport structures
KR100441413B1 (ko) * 1999-02-22 2004-07-27 신닛뽄세이테쯔 카부시키카이샤 도금 밀착성 및 프레스 성형성이 우수한 고강도 용융 아연도금 강판과 고강도 합금화 용융 아연 도금 강판 및 그제조방법
US6300141B1 (en) 1999-03-02 2001-10-09 Helix Biopharma Corporation Card-based biosensor device
US6180956B1 (en) 1999-03-03 2001-01-30 International Business Machine Corp. Thin film transistors with organic-inorganic hybrid materials as semiconducting channels
US6207472B1 (en) * 1999-03-09 2001-03-27 International Business Machines Corporation Low temperature thin film transistor fabrication
WO2000059267A1 (fr) 1999-03-29 2000-10-05 Seiko Epson Corporation Composition, procede de preparation d'un film, et element fonctionnel et son procede de preparation
JP4042327B2 (ja) 1999-03-30 2008-02-06 セイコーエプソン株式会社 薄膜トランジスタの製造方法
US6498114B1 (en) 1999-04-09 2002-12-24 E Ink Corporation Method for forming a patterned semiconductor film
US6072716A (en) * 1999-04-14 2000-06-06 Massachusetts Institute Of Technology Memory structures and methods of making same
US6387736B1 (en) * 1999-04-26 2002-05-14 Agilent Technologies, Inc. Method and structure for bonding layers in a semiconductor device
FR2793089B3 (fr) 1999-04-28 2001-06-08 Rene Liger Transpondeur a antenne integree
DE19919448A1 (de) 1999-04-29 2000-11-02 Miele & Cie Kühlgerät und Verfahren zur Verkeimungsindikation
US6736985B1 (en) * 1999-05-05 2004-05-18 Agere Systems Inc. High-resolution method for patterning a substrate with micro-printing
DE19921024C2 (de) 1999-05-06 2001-03-08 Wolfgang Eichelmann Videospielanlage
US6383664B2 (en) * 1999-05-11 2002-05-07 The Dow Chemical Company Electroluminescent or photocell device having protective packaging
JP4136185B2 (ja) 1999-05-12 2008-08-20 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネッセンス多色ディスプレイ及びその製造方法
EP1052594A1 (de) 1999-05-14 2000-11-15 Sokymat S.A. Transponder und Spritzgussteil sowie Verfahren zu ihrer Herstellung
AU2363900A (en) 1999-05-17 2000-12-05 Goodyear Tire And Rubber Company, The Programmable modulation index for transponder
TW556357B (en) 1999-06-28 2003-10-01 Semiconductor Energy Lab Method of manufacturing an electro-optical device
DE50013674D1 (de) 1999-07-06 2006-12-14 Elmos Semiconductor Ag CMOS kompatibler SOI-Prozess
JP2001085272A (ja) 1999-07-14 2001-03-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 可変容量コンデンサ
US6366017B1 (en) * 1999-07-14 2002-04-02 Agilent Technologies, Inc/ Organic light emitting diodes with distributed bragg reflector
DE19933757A1 (de) 1999-07-19 2001-01-25 Giesecke & Devrient Gmbh Chipkarte mit integrierter Batterie
AU7137800A (en) * 1999-07-21 2001-02-13 E-Ink Corporation Preferred methods for producing electrical circuit elements used to control an electronic display
DE19935527A1 (de) 1999-07-28 2001-02-08 Giesecke & Devrient Gmbh Aktive Folie für Chipkarten mit Display
DE19937262A1 (de) 1999-08-06 2001-03-01 Siemens Ag Anordnung mit Transistor-Funktion
US6593690B1 (en) * 1999-09-03 2003-07-15 3M Innovative Properties Company Large area organic electronic devices having conducting polymer buffer layers and methods of making same
JP4595143B2 (ja) * 1999-09-06 2010-12-08 双葉電子工業株式会社 有機elデバイスとその製造方法
EP1085320A1 (en) * 1999-09-13 2001-03-21 Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw A device for detecting an analyte in a sample based on organic materials
US6517995B1 (en) * 1999-09-14 2003-02-11 Massachusetts Institute Of Technology Fabrication of finely featured devices by liquid embossing
KR100477146B1 (ko) 1999-09-28 2005-03-17 스미도모쥬기가이고교 가부시키가이샤 레이저천공 가공방법 및 가공장치
US6340822B1 (en) * 1999-10-05 2002-01-22 Agere Systems Guardian Corp. Article comprising vertically nano-interconnected circuit devices and method for making the same
WO2001027998A1 (en) * 1999-10-11 2001-04-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. Integrated circuit
US6335539B1 (en) * 1999-11-05 2002-01-01 International Business Machines Corporation Method for improving performance of organic semiconductors in bottom electrode structure
US6284562B1 (en) 1999-11-17 2001-09-04 Agere Systems Guardian Corp. Thin film transistors
JP2001147659A (ja) 1999-11-18 2001-05-29 Sony Corp 表示装置
EP1103916A1 (de) 1999-11-24 2001-05-30 Infineon Technologies AG Chipkarte
US6621098B1 (en) 1999-11-29 2003-09-16 The Penn State Research Foundation Thin-film transistor and methods of manufacturing and incorporating a semiconducting organic material
US6136702A (en) 1999-11-29 2000-10-24 Lucent Technologies Inc. Thin film transistors
US6197663B1 (en) * 1999-12-07 2001-03-06 Lucent Technologies Inc. Process for fabricating integrated circuit devices having thin film transistors
CN100483774C (zh) * 1999-12-21 2009-04-29 造型逻辑有限公司 半导体器件及其形成方法
JP5073141B2 (ja) 1999-12-21 2012-11-14 プラスティック ロジック リミテッド 内部接続の形成方法
BR0016670A (pt) * 1999-12-21 2003-06-24 Plastic Logic Ltd Métodos para formar um circuito integrado e para definir um circuito eletrônico, e, dispositivo eletrônico
US7002451B2 (en) 2000-01-11 2006-02-21 Freeman Jeffrey R Package location system
JP2002162652A (ja) 2000-01-31 2002-06-07 Fujitsu Ltd シート状表示装置、樹脂球状体、及びマイクロカプセル
US6706159B2 (en) 2000-03-02 2004-03-16 Diabetes Diagnostics Combined lancet and electrochemical analyte-testing apparatus
TW497120B (en) * 2000-03-06 2002-08-01 Toshiba Corp Transistor, semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device
JP3614747B2 (ja) 2000-03-07 2005-01-26 Necエレクトロニクス株式会社 昇圧回路、それを搭載したicカード及びそれを搭載した電子機器
DE10012204A1 (de) 2000-03-13 2001-09-20 Siemens Ag Einrichtung zum Kennzeichnen von Stückgut
EP1134694A1 (de) 2000-03-16 2001-09-19 Infineon Technologies AG Dokument mit integrierter elektronischer Schaltung
JP2001267578A (ja) 2000-03-17 2001-09-28 Sony Corp 薄膜半導体装置及びその製造方法
ES2252212T3 (es) 2000-03-28 2006-05-16 Diabetes Diagnostics, Inc. Procedimiento de fabricacion en continuo de sensor electroquimico desechable.
AU2001264879A1 (en) 2000-05-24 2001-12-03 Schott Donnelly Llc Electrochromic devices
US6535057B2 (en) 2000-05-29 2003-03-18 Stmicroelectronics Ltd. Programmable glitch filter
US6329226B1 (en) 2000-06-01 2001-12-11 Agere Systems Guardian Corp. Method for fabricating a thin-film transistor
WO2001093652A2 (en) * 2000-06-06 2001-12-13 Koninklijke Philips Electronics N.V. Liquid crystal display device and method of manufacturing such
DE10032260B4 (de) 2000-07-03 2004-04-29 Texas Instruments Deutschland Gmbh Schaltungsanordnung zur Verdoppelung der Spannung einer Batterie
DE10033112C2 (de) * 2000-07-07 2002-11-14 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung und Strukturierung organischer Feldeffekt-Transistoren (OFET), hiernach gefertigter OFET und seine Verwendung
US6483473B1 (en) 2000-07-18 2002-11-19 Marconi Communications Inc. Wireless communication device and method
DE10120687A1 (de) 2001-04-27 2002-10-31 Siemens Ag Verkapseltes organisch-elektronisches Bauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung
JP2004506985A (ja) * 2000-08-18 2004-03-04 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 封入された有機電子構成素子、その製造方法および使用
JP2004507096A (ja) * 2000-08-18 2004-03-04 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 有機電界効果トランジスタ(ofet),該有機電界効果トランジスタの製造方法、前記有機電界効果トランジスタから形成される集積回路、及び該集積回路の使用
JP2002068324A (ja) 2000-08-30 2002-03-08 Nippon Sanso Corp 断熱容器
DE10043204A1 (de) 2000-09-01 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor, Verfahren zur Strukturierung eines OFETs und integrierte Schaltung
US6699728B2 (en) * 2000-09-06 2004-03-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Patterning of electrodes in oled devices
DE10044842A1 (de) 2000-09-11 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Gleichrichter, Schaltung, RFID-Tag und Verwendung eines organischen Gleichrichters
DE10045192A1 (de) * 2000-09-13 2002-04-04 Siemens Ag Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers
DE10047171A1 (de) 2000-09-22 2002-04-18 Siemens Ag Elektrode und/oder Leiterbahn für organische Bauelemente und Herstellungverfahren dazu
KR20020036916A (ko) * 2000-11-11 2002-05-17 주승기 실리콘 박막의 결정화 방법 및 이에 의해 제조된 반도체소자
DE10058559A1 (de) 2000-11-24 2002-05-29 Interactiva Biotechnologie Gmb System zur Abwicklung eines Warentransfers und Warenvorrats-Behälter
US6924688B1 (en) * 2000-11-28 2005-08-02 Precision Dynamics Corporation Rectifying charge storage device with antenna
US6414543B1 (en) * 2000-11-28 2002-07-02 Precision Dynamics Corporation Rectifying charge storage element
KR100390522B1 (ko) * 2000-12-01 2003-07-07 피티플러스(주) 결정질 실리콘 활성층을 포함하는 박막트랜지스터 제조 방법
DE10061297C2 (de) * 2000-12-08 2003-05-28 Siemens Ag Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs
EP1215725A3 (de) 2000-12-18 2005-03-23 cubit electronics Gmbh Anordnung zur Aufnahme elektrischer Bauteile und kontaktloser Transponder
KR100388272B1 (ko) * 2000-12-26 2003-06-19 삼성에스디아이 주식회사 티알에스 소자
GB2371910A (en) * 2001-01-31 2002-08-07 Seiko Epson Corp Display devices
DE10105914C1 (de) * 2001-02-09 2002-10-10 Siemens Ag Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung
EP1237207B1 (en) 2001-03-02 2012-01-04 FUJIFILM Corporation Method for producing organic thin film device
JP2002289355A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Pioneer Electronic Corp 有機半導体ダイオード及び有機エレクトロルミネセンス素子表示装置
DE10117663B4 (de) 2001-04-09 2004-09-02 Samsung SDI Co., Ltd., Suwon Verfahren zur Herstellung von Matrixanordnungen auf Basis verschiedenartiger organischer leitfähiger Materialien
EP1382075A1 (en) * 2001-04-17 2004-01-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Led comprising a conductive transparent polymer layer with low sulfate and high metal ion content
DE10120686A1 (de) 2001-04-27 2002-11-07 Siemens Ag Verfahren zur Erzeugung dünner homogener Schichten mit Hilfe der Siebdrucktechnik, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahren und ihre Verwendung
US6781868B2 (en) 2001-05-07 2004-08-24 Advanced Micro Devices, Inc. Molecular memory device
US20020170897A1 (en) 2001-05-21 2002-11-21 Hall Frank L. Methods for preparing ball grid array substrates via use of a laser
AU2002310593A1 (en) 2001-05-23 2002-12-03 Plastic Logic Limited Laser parrering of devices
DE10126859A1 (de) 2001-06-01 2002-12-12 Siemens Ag Verfahren zur Erzeugung von leitfähigen Strukturen mittels Drucktechnik sowie daraus hergestellte aktive Bauelemente für integrierte Schaltungen
DE10126860C2 (de) 2001-06-01 2003-05-28 Siemens Ag Organischer Feldeffekt-Transistor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung zum Aufbau integrierter Schaltungen
US6870180B2 (en) 2001-06-08 2005-03-22 Lucent Technologies Inc. Organic polarizable gate transistor apparatus and method
JP2003017248A (ja) 2001-06-27 2003-01-17 Sony Corp 電界発光素子
DE20111825U1 (de) 2001-07-20 2002-01-17 Lammering Thomas Printmedium
DE10141440A1 (de) 2001-08-23 2003-03-13 Daimler Chrysler Ag Tripodegelenk
JP2003089259A (ja) 2001-09-18 2003-03-25 Hitachi Ltd パターン形成方法およびパターン形成装置
US7351660B2 (en) * 2001-09-28 2008-04-01 Hrl Laboratories, Llc Process for producing high performance interconnects
US6679036B2 (en) * 2001-10-15 2004-01-20 Shunchi Crankshaft Co., Ltd. Drive gear shaft structure of a self-moving type mower
DE10151440C1 (de) * 2001-10-18 2003-02-06 Siemens Ag Organisches Elektronikbauteil, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung
DE10153656A1 (de) 2001-10-31 2003-05-22 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Verringerung des Kontaktwiderstandes in organischen Feldeffekttransistoren durch Aufbringen einer reaktiven, die organische Halbleiterschicht im Kontaktbereich regio-selektiv dotierenden Zwischenschicht
DE10160732A1 (de) * 2001-12-11 2003-06-26 Siemens Ag Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu
US6819181B2 (en) * 2001-12-21 2004-11-16 Motorola, Inc. Method and structure for integrated circuit interference isolation enhancement
DE10163267A1 (de) 2001-12-21 2003-07-03 Giesecke & Devrient Gmbh Blattgut mit einem elektrischen Schaltkreis sowie Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung des Blattguts
DE10209400A1 (de) 2002-03-04 2003-10-02 Infineon Technologies Ag Transponderschaltung mit einer Gleichrichterschaltung sowie Verfahren zur Herstellung einer Transponderschaltung mit einer Gleichrichterschaltung
US6596569B1 (en) * 2002-03-15 2003-07-22 Lucent Technologies Inc. Thin film transistors
US7204425B2 (en) * 2002-03-18 2007-04-17 Precision Dynamics Corporation Enhanced identification appliance
DE10212640B4 (de) * 2002-03-21 2004-02-05 Siemens Ag Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren
DE10219905B4 (de) 2002-05-03 2011-06-22 OSRAM Opto Semiconductors GmbH, 93055 Optoelektronisches Bauelement mit organischen funktionellen Schichten und zwei Trägern sowie Verfahren zur Herstellung eines solchen optoelektronischen Bauelements
DE10229168A1 (de) 2002-06-28 2004-01-29 Infineon Technologies Ag Laminat mit einer als Antennenstruktur ausgebildeten elektrisch leitfähigen Schicht
US6812509B2 (en) * 2002-06-28 2004-11-02 Palo Alto Research Center Inc. Organic ferroelectric memory cells
EP1383179A2 (en) * 2002-07-17 2004-01-21 Pioneer Corporation Organic semiconductor device
AT502890B1 (de) 2002-10-15 2011-04-15 Atomic Austria Gmbh Elektronisches überwachungssystem zur kontrolle bzw. erfassung einer aus mehreren sportartikeln bestehenden sportartikelkombination
US6870183B2 (en) * 2002-11-04 2005-03-22 Advanced Micro Devices, Inc. Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating
CN1726604A (zh) 2002-11-05 2006-01-25 波尔伊克两合公司 具有高分辨率结构的有机电子元件及其制造方法
US7442954B2 (en) 2002-11-19 2008-10-28 Polyic Gmbh & Co. Kg Organic electronic component comprising a patterned, semi-conducting functional layer and a method for producing said component
EP1563554B1 (de) 2002-11-19 2012-01-04 PolyIC GmbH & Co. KG Organisches elektronisches bauelement mit gleichem organischem material für zumindest zwei funktionsschichten
US7088145B2 (en) * 2002-12-23 2006-08-08 3M Innovative Properties Company AC powered logic circuitry
EP1434281A3 (en) 2002-12-26 2007-10-24 Konica Minolta Holdings, Inc. Manufacturing method of thin-film transistor, thin-film transistor sheet, and electric circuit
WO2004063806A1 (de) * 2003-01-09 2004-07-29 Polyic Gmbh & Co. Kg Platine oder substrat für ein organisches elektronikgerät, sowie verwendung dazu
US8665247B2 (en) 2003-05-30 2014-03-04 Global Oled Technology Llc Flexible display
US6950157B2 (en) 2003-06-05 2005-09-27 Eastman Kodak Company Reflective cholesteric liquid crystal display with complementary light-absorbing layer
DE10330063A1 (de) 2003-07-03 2005-02-03 Siemens Ag Verfahren zur Strukturierung und Integration organischer Schichten unter Schutz
DE10330064B3 (de) 2003-07-03 2004-12-09 Siemens Ag Logikgatter mit potentialfreier Gate-Elektrode für organische integrierte Schaltungen
DE10335336B4 (de) * 2003-08-01 2011-06-16 Polyic Gmbh & Co. Kg Feldeffektbauelemente und Kondensatoren mit Elektrodenanordnung in einer Schichtebene
DE10338277A1 (de) 2003-08-20 2005-03-17 Siemens Ag Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität
DE10340641A1 (de) 2003-09-03 2005-04-07 Siemens Ag Strukturierung von Gate-Dielektrika in organischen Feldeffekt-Transistoren
JP4400327B2 (ja) * 2003-09-11 2010-01-20 セイコーエプソン株式会社 タイル状素子用配線形成方法
US7122828B2 (en) * 2003-09-24 2006-10-17 Lucent Technologies, Inc. Semiconductor devices having regions of induced high and low conductivity, and methods of making the same
US7358530B2 (en) * 2003-12-12 2008-04-15 Palo Alto Research Center Incorporated Thin-film transistor array with ring geometry

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