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  1. 第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、光電変換素子と、を有し、
    前記第1のトランジスタは、単結晶半導体基板にチャネルが形成され、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体層にチャネルが形成される半導体装置であって、
    前記単結晶半導体基板の上方に、前記第1のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第1のトランジスタのゲート電極の上方に、第1の絶縁層を有し、
    前記第1の絶縁層の上方に、前記酸化物半導体層を有し、
    前記酸化物半導体層の上方に、前記第2のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第2のトランジスタのゲート電極の上方に、第2の絶縁層を有し、
    前記第2の絶縁層の上方に、前記光電変換素子を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、光電変換素子と、を有し、
    前記第1のトランジスタは、SOI基板にチャネルが形成され、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体層にチャネルが形成される半導体装置であって、
    前記SOI基板の上方に、前記第1のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第1のトランジスタのゲート電極の上方に、第1の絶縁層を有し、
    前記第1の絶縁層の上方に、前記酸化物半導体層を有し、
    前記酸化物半導体層の上方に、前記第2のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第2のトランジスタのゲート電極の上方に、第2の絶縁層を有し、
    前記第2の絶縁層の上方に、前記光電変換素子を有することを特徴とする半導体装置。
  3. 第1のトランジスタと、第2のトランジスタと、光電変換素子と、を有し、
    前記第1のトランジスタは、結晶性シリコンにチャネルが形成され、
    前記第2のトランジスタは、酸化物半導体層にチャネルが形成される半導体装置であって、
    前記結晶性シリコンの上方に、前記第1のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第1のトランジスタのゲート電極の上方に、第1の絶縁層を有し、
    前記第1の絶縁層の上方に、前記酸化物半導体層を有し、
    前記酸化物半導体層の上方に、前記第2のトランジスタのゲート電極を有し、
    前記第2のトランジスタのゲート電極の上方に、第2の絶縁層を有し、
    前記第2の絶縁層の上方に、前記光電変換素子を有することを特徴とする半導体装置。
  4. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記光電変換素子は、前記第2のトランジスタと重なる領域を有することを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
    前記光電変換素子は、前記第1のトランジスタと重なる領域と、前記第2のトランジスタと重なる領域と、を有することを特徴とする半導体装置。
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