JPS5735329A
(en)
*
|
1980-08-11 |
1982-02-25 |
Matsushita Electric Ind Co Ltd |
Manufacture of semiconductor device
|
JPS60198861A
(ja)
|
1984-03-23 |
1985-10-08 |
Fujitsu Ltd |
薄膜トランジスタ
|
JPH0244256B2
(ja)
|
1987-01-28 |
1990-10-03 |
Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho |
Ingazn2o5deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho
|
JPH0244260B2
(ja)
|
1987-02-24 |
1990-10-03 |
Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho |
Ingazn5o8deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho
|
JPS63210023A
(ja)
|
1987-02-24 |
1988-08-31 |
Natl Inst For Res In Inorg Mater |
InGaZn↓4O↓7で示される六方晶系の層状構造を有する化合物およびその製造法
|
JPH0244258B2
(ja)
|
1987-02-24 |
1990-10-03 |
Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho |
Ingazn3o6deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho
|
JPH0244262B2
(ja)
|
1987-02-27 |
1990-10-03 |
Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho |
Ingazn6o9deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho
|
JPH0244263B2
(ja)
|
1987-04-22 |
1990-10-03 |
Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho |
Ingazn7o10deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho
|
JPH05251705A
(ja)
|
1992-03-04 |
1993-09-28 |
Fuji Xerox Co Ltd |
薄膜トランジスタ
|
JP3479375B2
(ja)
|
1995-03-27 |
2003-12-15 |
科学技術振興事業団 |
亜酸化銅等の金属酸化物半導体による薄膜トランジスタとpn接合を形成した金属酸化物半導体装置およびそれらの製造方法
|
WO1997006554A2
(en)
|
1995-08-03 |
1997-02-20 |
Philips Electronics N.V. |
Semiconductor device provided with transparent switching element
|
JP3625598B2
(ja)
*
|
1995-12-30 |
2005-03-02 |
三星電子株式会社 |
液晶表示装置の製造方法
|
JP4170454B2
(ja)
|
1998-07-24 |
2008-10-22 |
Hoya株式会社 |
透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法
|
JP2000150861A
(ja)
*
|
1998-11-16 |
2000-05-30 |
Tdk Corp |
酸化物薄膜
|
JP3276930B2
(ja)
|
1998-11-17 |
2002-04-22 |
科学技術振興事業団 |
トランジスタ及び半導体装置
|
TW460731B
(en)
*
|
1999-09-03 |
2001-10-21 |
Ind Tech Res Inst |
Electrode structure and production method of wide viewing angle LCD
|
JP4089858B2
(ja)
|
2000-09-01 |
2008-05-28 |
国立大学法人東北大学 |
半導体デバイス
|
KR20020038482A
(ko)
*
|
2000-11-15 |
2002-05-23 |
모리시타 요이찌 |
박막 트랜지스터 어레이, 그 제조방법 및 그것을 이용한표시패널
|
JP3997731B2
(ja)
*
|
2001-03-19 |
2007-10-24 |
富士ゼロックス株式会社 |
基材上に結晶性半導体薄膜を形成する方法
|
JP2002289859A
(ja)
|
2001-03-23 |
2002-10-04 |
Minolta Co Ltd |
薄膜トランジスタ
|
JP3925839B2
(ja)
|
2001-09-10 |
2007-06-06 |
シャープ株式会社 |
半導体記憶装置およびその試験方法
|
JP4090716B2
(ja)
|
2001-09-10 |
2008-05-28 |
雅司 川崎 |
薄膜トランジスタおよびマトリクス表示装置
|
US7061014B2
(en)
*
|
2001-11-05 |
2006-06-13 |
Japan Science And Technology Agency |
Natural-superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film
|
JP4164562B2
(ja)
|
2002-09-11 |
2008-10-15 |
独立行政法人科学技術振興機構 |
ホモロガス薄膜を活性層として用いる透明薄膜電界効果型トランジスタ
|
JP4083486B2
(ja)
*
|
2002-02-21 |
2008-04-30 |
独立行政法人科学技術振興機構 |
LnCuO(S,Se,Te)単結晶薄膜の製造方法
|
CN1445821A
(zh)
*
|
2002-03-15 |
2003-10-01 |
三洋电机株式会社 |
ZnO膜和ZnO半导体层的形成方法、半导体元件及其制造方法
|
JP3933591B2
(ja)
*
|
2002-03-26 |
2007-06-20 |
淳二 城戸 |
有機エレクトロルミネッセント素子
|
US7339187B2
(en)
*
|
2002-05-21 |
2008-03-04 |
State Of Oregon Acting By And Through The Oregon State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University |
Transistor structures
|
JP2004022625A
(ja)
*
|
2002-06-13 |
2004-01-22 |
Murata Mfg Co Ltd |
半導体デバイス及び該半導体デバイスの製造方法
|
US7105868B2
(en)
*
|
2002-06-24 |
2006-09-12 |
Cermet, Inc. |
High-electron mobility transistor with zinc oxide
|
US7067843B2
(en)
*
|
2002-10-11 |
2006-06-27 |
E. I. Du Pont De Nemours And Company |
Transparent oxide semiconductor thin film transistors
|
JP4166105B2
(ja)
|
2003-03-06 |
2008-10-15 |
シャープ株式会社 |
半導体装置およびその製造方法
|
JP2004273732A
(ja)
|
2003-03-07 |
2004-09-30 |
Sharp Corp |
アクティブマトリクス基板およびその製造方法
|
JP4108633B2
(ja)
|
2003-06-20 |
2008-06-25 |
シャープ株式会社 |
薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス
|
US7262463B2
(en)
*
|
2003-07-25 |
2007-08-28 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Transistor including a deposited channel region having a doped portion
|
US7145174B2
(en)
*
|
2004-03-12 |
2006-12-05 |
Hewlett-Packard Development Company, Lp. |
Semiconductor device
|
US7282782B2
(en)
*
|
2004-03-12 |
2007-10-16 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Combined binary oxide semiconductor device
|
US7297977B2
(en)
*
|
2004-03-12 |
2007-11-20 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Semiconductor device
|
JP4620046B2
(ja)
*
|
2004-03-12 |
2011-01-26 |
独立行政法人科学技術振興機構 |
薄膜トランジスタ及びその製造方法
|
US7211825B2
(en)
*
|
2004-06-14 |
2007-05-01 |
Yi-Chi Shih |
Indium oxide-based thin film transistors and circuits
|
JP2006100760A
(ja)
*
|
2004-09-02 |
2006-04-13 |
Casio Comput Co Ltd |
薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
US7285501B2
(en)
*
|
2004-09-17 |
2007-10-23 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Method of forming a solution processed device
|
US7060594B2
(en)
|
2004-10-19 |
2006-06-13 |
Macronix International Co., Ltd. |
Memory device and method of manufacturing including deuterated oxynitride charge trapping structure
|
US7298084B2
(en)
*
|
2004-11-02 |
2007-11-20 |
3M Innovative Properties Company |
Methods and displays utilizing integrated zinc oxide row and column drivers in conjunction with organic light emitting diodes
|
JP5126729B2
(ja)
|
2004-11-10 |
2013-01-23 |
キヤノン株式会社 |
画像表示装置
|
US7453065B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2008-11-18 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Sensor and image pickup device
|
WO2006051995A1
(en)
*
|
2004-11-10 |
2006-05-18 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Field effect transistor employing an amorphous oxide
|
JP5126730B2
(ja)
*
|
2004-11-10 |
2013-01-23 |
キヤノン株式会社 |
電界効果型トランジスタの製造方法
|
US7863611B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2011-01-04 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Integrated circuits utilizing amorphous oxides
|
AU2005302963B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2009-07-02 |
Cannon Kabushiki Kaisha |
Light-emitting device
|
US7791072B2
(en)
*
|
2004-11-10 |
2010-09-07 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Display
|
US7829444B2
(en)
|
2004-11-10 |
2010-11-09 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Field effect transistor manufacturing method
|
CA2708335A1
(en)
*
|
2004-11-10 |
2006-05-18 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Amorphous oxide and field effect transistor
|
US7579224B2
(en)
*
|
2005-01-21 |
2009-08-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Method for manufacturing a thin film semiconductor device
|
US7608531B2
(en)
*
|
2005-01-28 |
2009-10-27 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device
|
TWI562380B
(en)
*
|
2005-01-28 |
2016-12-11 |
Semiconductor Energy Lab Co Ltd |
Semiconductor device, electronic device, and method of manufacturing semiconductor device
|
US7858451B2
(en)
*
|
2005-02-03 |
2010-12-28 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof
|
US7948171B2
(en)
*
|
2005-02-18 |
2011-05-24 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Light emitting device
|
US20060197092A1
(en)
*
|
2005-03-03 |
2006-09-07 |
Randy Hoffman |
System and method for forming conductive material on a substrate
|
US8681077B2
(en)
*
|
2005-03-18 |
2014-03-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device, and display device, driving method and electronic apparatus thereof
|
WO2006105077A2
(en)
*
|
2005-03-28 |
2006-10-05 |
Massachusetts Institute Of Technology |
Low voltage thin film transistor with high-k dielectric material
|
US7645478B2
(en)
*
|
2005-03-31 |
2010-01-12 |
3M Innovative Properties Company |
Methods of making displays
|
US8300031B2
(en)
*
|
2005-04-20 |
2012-10-30 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device comprising transistor having gate and drain connected through a current-voltage conversion element
|
JP2006344849A
(ja)
*
|
2005-06-10 |
2006-12-21 |
Casio Comput Co Ltd |
薄膜トランジスタ
|
US7402506B2
(en)
*
|
2005-06-16 |
2008-07-22 |
Eastman Kodak Company |
Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby
|
US7691666B2
(en)
*
|
2005-06-16 |
2010-04-06 |
Eastman Kodak Company |
Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby
|
US7507618B2
(en)
*
|
2005-06-27 |
2009-03-24 |
3M Innovative Properties Company |
Method for making electronic devices using metal oxide nanoparticles
|
KR100711890B1
(ko)
*
|
2005-07-28 |
2007-04-25 |
삼성에스디아이 주식회사 |
유기 발광표시장치 및 그의 제조방법
|
JP2007059128A
(ja)
*
|
2005-08-23 |
2007-03-08 |
Canon Inc |
有機el表示装置およびその製造方法
|
US20070044714A1
(en)
|
2005-08-31 |
2007-03-01 |
Applied Materials, Inc. |
Method and apparatus for maintaining a cross sectional shape of a diffuser during processing
|
JP4850457B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2012-01-11 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタ及び薄膜ダイオード
|
JP4280736B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2009-06-17 |
キヤノン株式会社 |
半導体素子
|
JP5116225B2
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2013-01-09 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体デバイスの製造方法
|
JP2007073705A
(ja)
*
|
2005-09-06 |
2007-03-22 |
Canon Inc |
酸化物半導体チャネル薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
EP3614442A3
(en)
|
2005-09-29 |
2020-03-25 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufactoring method thereof
|
JP5037808B2
(ja)
*
|
2005-10-20 |
2012-10-03 |
キヤノン株式会社 |
アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置
|
KR101117948B1
(ko)
*
|
2005-11-15 |
2012-02-15 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
액정 디스플레이 장치 제조 방법
|
JP5250929B2
(ja)
*
|
2005-11-30 |
2013-07-31 |
凸版印刷株式会社 |
トランジスタおよびその製造方法
|
KR100690925B1
(ko)
|
2005-12-01 |
2007-03-09 |
삼성전자주식회사 |
나노 크리스탈 비휘발성 반도체 집적 회로 장치 및 그 제조방법
|
TWI292281B
(en)
*
|
2005-12-29 |
2008-01-01 |
Ind Tech Res Inst |
Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same
|
US7867636B2
(en)
*
|
2006-01-11 |
2011-01-11 |
Murata Manufacturing Co., Ltd. |
Transparent conductive film and method for manufacturing the same
|
JP4977478B2
(ja)
*
|
2006-01-21 |
2012-07-18 |
三星電子株式会社 |
ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法
|
US7576394B2
(en)
*
|
2006-02-02 |
2009-08-18 |
Kochi Industrial Promotion Center |
Thin film transistor including low resistance conductive thin films and manufacturing method thereof
|
US7977169B2
(en)
*
|
2006-02-15 |
2011-07-12 |
Kochi Industrial Promotion Center |
Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof
|
KR20070101595A
(ko)
*
|
2006-04-11 |
2007-10-17 |
삼성전자주식회사 |
ZnO TFT
|
US20070252928A1
(en)
*
|
2006-04-28 |
2007-11-01 |
Toppan Printing Co., Ltd. |
Structure, transmission type liquid crystal display, reflection type display and manufacturing method thereof
|
JP5028033B2
(ja)
*
|
2006-06-13 |
2012-09-19 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体膜のドライエッチング方法
|
JP4999400B2
(ja)
|
2006-08-09 |
2012-08-15 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体膜のドライエッチング方法
|
JP4609797B2
(ja)
*
|
2006-08-09 |
2011-01-12 |
Nec液晶テクノロジー株式会社 |
薄膜デバイス及びその製造方法
|
US20080038922A1
(en)
*
|
2006-08-10 |
2008-02-14 |
Lamers Kristina L |
Etch-stop layer and method of use
|
JP5128792B2
(ja)
*
|
2006-08-31 |
2013-01-23 |
財団法人高知県産業振興センター |
薄膜トランジスタの製法
|
JP4332545B2
(ja)
*
|
2006-09-15 |
2009-09-16 |
キヤノン株式会社 |
電界効果型トランジスタ及びその製造方法
|
JP4274219B2
(ja)
*
|
2006-09-27 |
2009-06-03 |
セイコーエプソン株式会社 |
電子デバイス、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機薄膜半導体装置
|
JP5164357B2
(ja)
*
|
2006-09-27 |
2013-03-21 |
キヤノン株式会社 |
半導体装置及び半導体装置の製造方法
|
US7622371B2
(en)
*
|
2006-10-10 |
2009-11-24 |
Hewlett-Packard Development Company, L.P. |
Fused nanocrystal thin film semiconductor and method
|
JP5116290B2
(ja)
|
2006-11-21 |
2013-01-09 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタの製造方法
|
US7772021B2
(en)
*
|
2006-11-29 |
2010-08-10 |
Samsung Electronics Co., Ltd. |
Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays
|
JP2008140684A
(ja)
*
|
2006-12-04 |
2008-06-19 |
Toppan Printing Co Ltd |
カラーelディスプレイおよびその製造方法
|
JP5105842B2
(ja)
|
2006-12-05 |
2012-12-26 |
キヤノン株式会社 |
酸化物半導体を用いた表示装置及びその製造方法
|
JP5305630B2
(ja)
|
2006-12-05 |
2013-10-02 |
キヤノン株式会社 |
ボトムゲート型薄膜トランジスタの製造方法及び表示装置の製造方法
|
KR101146574B1
(ko)
|
2006-12-05 |
2012-05-16 |
캐논 가부시끼가이샤 |
산화물 반도체를 이용한 박막 트랜지스터의 제조방법 및 표시장치
|
WO2008069255A1
(en)
|
2006-12-05 |
2008-06-12 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Method for manufacturing thin film transistor using oxide semiconductor and display apparatus
|
KR101303578B1
(ko)
*
|
2007-01-05 |
2013-09-09 |
삼성전자주식회사 |
박막 식각 방법
|
US8207063B2
(en)
*
|
2007-01-26 |
2012-06-26 |
Eastman Kodak Company |
Process for atomic layer deposition
|
KR101312259B1
(ko)
*
|
2007-02-09 |
2013-09-25 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 및 그 제조방법
|
JP5121254B2
(ja)
*
|
2007-02-28 |
2013-01-16 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタおよび表示装置
|
KR100851215B1
(ko)
*
|
2007-03-14 |
2008-08-07 |
삼성에스디아이 주식회사 |
박막 트랜지스터 및 이를 이용한 유기 전계 발광표시장치
|
JP5244331B2
(ja)
*
|
2007-03-26 |
2013-07-24 |
出光興産株式会社 |
非晶質酸化物半導体薄膜、その製造方法、薄膜トランジスタの製造方法、電界効果型トランジスタ、発光装置、表示装置及びスパッタリングターゲット
|
JP4727684B2
(ja)
*
|
2007-03-27 |
2011-07-20 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタおよびそれを用いた表示装置
|
US7795613B2
(en)
*
|
2007-04-17 |
2010-09-14 |
Toppan Printing Co., Ltd. |
Structure with transistor
|
KR101325053B1
(ko)
*
|
2007-04-18 |
2013-11-05 |
삼성디스플레이 주식회사 |
박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법
|
KR20080094300A
(ko)
*
|
2007-04-19 |
2008-10-23 |
삼성전자주식회사 |
박막 트랜지스터 및 그 제조 방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판 디스플레이
|
KR101334181B1
(ko)
*
|
2007-04-20 |
2013-11-28 |
삼성전자주식회사 |
선택적으로 결정화된 채널층을 갖는 박막 트랜지스터 및 그제조 방법
|
WO2008133345A1
(en)
*
|
2007-04-25 |
2008-11-06 |
Canon Kabushiki Kaisha |
Oxynitride semiconductor
|
KR101345376B1
(ko)
*
|
2007-05-29 |
2013-12-24 |
삼성전자주식회사 |
ZnO 계 박막 트랜지스터 및 그 제조방법
|
TWI453915B
(zh)
*
|
2007-09-10 |
2014-09-21 |
Idemitsu Kosan Co |
Thin film transistor
|
JP4759598B2
(ja)
|
2007-09-28 |
2011-08-31 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタ、その製造方法及びそれを用いた表示装置
|
KR101270174B1
(ko)
*
|
2007-12-03 |
2013-05-31 |
삼성전자주식회사 |
산화물 반도체 박막 트랜지스터의 제조방법
|
JP5213422B2
(ja)
|
2007-12-04 |
2013-06-19 |
キヤノン株式会社 |
絶縁層を有する酸化物半導体素子およびそれを用いた表示装置
|
JP5215158B2
(ja)
*
|
2007-12-17 |
2013-06-19 |
富士フイルム株式会社 |
無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス
|
US20100295042A1
(en)
*
|
2008-01-23 |
2010-11-25 |
Idemitsu Kosan Co., Ltd. |
Field-effect transistor, method for manufacturing field-effect transistor, display device using field-effect transistor, and semiconductor device
|
JP4555358B2
(ja)
|
2008-03-24 |
2010-09-29 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタおよび表示装置
|
KR100941850B1
(ko)
|
2008-04-03 |
2010-02-11 |
삼성모바일디스플레이주식회사 |
박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
|
JP2009266938A
(ja)
*
|
2008-04-23 |
2009-11-12 |
Rohm Co Ltd |
半導体素子
|
JP5704790B2
(ja)
|
2008-05-07 |
2015-04-22 |
キヤノン株式会社 |
薄膜トランジスタ、および、表示装置
|
US20090278120A1
(en)
|
2008-05-09 |
2009-11-12 |
Korea Institute Of Science And Technology |
Thin Film Transistor
|
JP5305730B2
(ja)
|
2008-05-12 |
2013-10-02 |
キヤノン株式会社 |
半導体素子の製造方法ならびにその製造装置
|
JP5288141B2
(ja)
*
|
2008-05-22 |
2013-09-11 |
出光興産株式会社 |
スパッタリングターゲット、それを用いたアモルファス酸化物薄膜の形成方法、及び薄膜トランジスタの製造方法
|
KR101510212B1
(ko)
|
2008-06-05 |
2015-04-10 |
삼성전자주식회사 |
산화물 반도체 박막 트랜지스터의 제조방법
|
JP5430248B2
(ja)
|
2008-06-24 |
2014-02-26 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタおよび表示装置
|
KR100963026B1
(ko)
|
2008-06-30 |
2010-06-10 |
삼성모바일디스플레이주식회사 |
박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
|
KR100963027B1
(ko)
|
2008-06-30 |
2010-06-10 |
삼성모바일디스플레이주식회사 |
박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
|
JP5584960B2
(ja)
|
2008-07-03 |
2014-09-10 |
ソニー株式会社 |
薄膜トランジスタおよび表示装置
|
KR100963104B1
(ko)
|
2008-07-08 |
2010-06-14 |
삼성모바일디스플레이주식회사 |
박막 트랜지스터, 그의 제조 방법 및 박막 트랜지스터를구비하는 평판 표시 장치
|
JP5250322B2
(ja)
*
|
2008-07-10 |
2013-07-31 |
富士フイルム株式会社 |
金属酸化物膜とその製造方法、及び半導体装置
|
JP5096250B2
(ja)
*
|
2008-07-18 |
2012-12-12 |
出光興産株式会社 |
酸化物焼結体の製造方法、酸化物焼結体、スパッタリングタ−ゲット、酸化物薄膜、薄膜トランジスタの製造方法及び半導体装置
|
TWI626744B
(zh)
|
2008-07-31 |
2018-06-11 |
半導體能源研究所股份有限公司 |
半導體裝置及半導體裝置的製造方法
|
JP5322530B2
(ja)
*
|
2008-08-01 |
2013-10-23 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタの製造方法及び該製造方法によって製造された薄膜電界効果型トランジスタ
|
JP5480554B2
(ja)
|
2008-08-08 |
2014-04-23 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置
|
TWI424506B
(zh)
*
|
2008-08-08 |
2014-01-21 |
Semiconductor Energy Lab |
半導體裝置的製造方法
|
JP5345456B2
(ja)
|
2008-08-14 |
2013-11-20 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタ
|
JP2010045263A
(ja)
*
|
2008-08-15 |
2010-02-25 |
Idemitsu Kosan Co Ltd |
酸化物半導体、スパッタリングターゲット、及び薄膜トランジスタ
|
CN102132414B
(zh)
|
2008-08-27 |
2013-05-22 |
出光兴产株式会社 |
场效应型晶体管、其制造方法和溅射靶
|
JP5627071B2
(ja)
|
2008-09-01 |
2014-11-19 |
株式会社半導体エネルギー研究所 |
半導体装置の作製方法
|
US9082857B2
(en)
|
2008-09-01 |
2015-07-14 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device comprising an oxide semiconductor layer
|
JP5339825B2
(ja)
|
2008-09-09 |
2013-11-13 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜電界効果型トランジスタおよびそれを用いた表示装置
|
US9269573B2
(en)
*
|
2008-09-17 |
2016-02-23 |
Idemitsu Kosan Co., Ltd. |
Thin film transistor having crystalline indium oxide semiconductor film
|
JP4623179B2
(ja)
*
|
2008-09-18 |
2011-02-02 |
ソニー株式会社 |
薄膜トランジスタおよびその製造方法
|
JP5451280B2
(ja)
*
|
2008-10-09 |
2014-03-26 |
キヤノン株式会社 |
ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置
|
JP4752927B2
(ja)
|
2009-02-09 |
2011-08-17 |
ソニー株式会社 |
薄膜トランジスタおよび表示装置
|
US8247276B2
(en)
|
2009-02-20 |
2012-08-21 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Thin film transistor, method for manufacturing the same, and semiconductor device
|
TWI535023B
(zh)
|
2009-04-16 |
2016-05-21 |
半導體能源研究所股份有限公司 |
半導體裝置和其製造方法
|
JP4571221B1
(ja)
|
2009-06-22 |
2010-10-27 |
富士フイルム株式会社 |
Igzo系酸化物材料及びigzo系酸化物材料の製造方法
|
JP4415062B1
(ja)
|
2009-06-22 |
2010-02-17 |
富士フイルム株式会社 |
薄膜トランジスタ及び薄膜トランジスタの製造方法
|
KR101928402B1
(ko)
*
|
2009-10-30 |
2018-12-12 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치 및 반도체 장치의 제작방법
|
CN104795323B
(zh)
*
|
2009-12-04 |
2017-12-29 |
株式会社半导体能源研究所 |
半导体装置及其制造方法
|
JP2011138934A
(ja)
|
2009-12-28 |
2011-07-14 |
Sony Corp |
薄膜トランジスタ、表示装置および電子機器
|
JP2011187506A
(ja)
|
2010-03-04 |
2011-09-22 |
Sony Corp |
薄膜トランジスタおよびその製造方法、並びに表示装置
|
CN102822980B
(zh)
|
2010-03-26 |
2015-12-16 |
株式会社半导体能源研究所 |
半导体装置的制造方法
|
KR102436902B1
(ko)
|
2010-04-02 |
2022-08-25 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치
|
US8884282B2
(en)
|
2010-04-02 |
2014-11-11 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device
|
CN105810752B
(zh)
|
2010-04-02 |
2019-11-19 |
株式会社半导体能源研究所 |
半导体装置
|
US9196739B2
(en)
|
2010-04-02 |
2015-11-24 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device including oxide semiconductor film and metal oxide film
|
US9190522B2
(en)
|
2010-04-02 |
2015-11-17 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device having an oxide semiconductor
|
US9147768B2
(en)
|
2010-04-02 |
2015-09-29 |
Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. |
Semiconductor device having an oxide semiconductor and a metal oxide film
|
KR101465192B1
(ko)
|
2010-04-09 |
2014-11-25 |
가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 |
반도체 장치
|