CN108883575A - 准确的三维打印 - Google Patents

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CN108883575A
CN108883575A CN201780015079.7A CN201780015079A CN108883575A CN 108883575 A CN108883575 A CN 108883575A CN 201780015079 A CN201780015079 A CN 201780015079A CN 108883575 A CN108883575 A CN 108883575A
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temperature
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本雅明·布勒
叶夫根尼·莱文
塔索·拉帕斯
托马斯·布拉休斯·布雷佐斯基
埃雷尔·米尔施泰因
吕本·约瑟夫·孟德尔斯伯格
扎迦利·赖安·默弗里
谢尔盖·克列帕诺夫
艾伦·里克·拉彭
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Verona 3d
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Abstract

本公开提供了三维(3D)打印方法、仪器和系统，其尤其使用调节至少一个3D物体的形成(例如在3D打印期间实时)的控制器；以及促进其的非暂时性计算机可读介质。例如，调节3D物体的至少一部分的变形的控制器。控制可为原位控制。控制可为在3D打印过程期间的实时控制。例如，控制可在现象脉冲期间。本公开提供了用于评估熔池的基本长度尺度的各种方法、仪器、系统和软件，以及增加3D打印的准确度的各种工具。

Description

准确的三维打印
交叉引用
本申请要求以下的优先权：于2016年2月18日提交的美国临时专利申请序列号62/297,067、于2016年4月8日提交的美国临时专利申请序列号62/320,334、以及于2016年4月20日提交的美国临时专利申请序列号62/325,402，这三个专利申请的名称都为“METHODS，SYSTEMS，APPARATUSES，AND SOFTWARE FOR ACCURATE THREE-DIMENSIONAL PRINTING”；以及于2016年9月29日提交的美国临时专利申请序列号62/401,534和于2017年1月9日提交的美国临时专利申请序列号62/444,069，最后两个临时专利申请的名称为“ACCURATE THREE-DIMENSIONAL PRINTING”，所有五个临时专利申请以引用的方式整体并入本文。
背景技术
三维(3D)打印(例如增材制造)是用于从设计制备任何形状的三维(3D)物体的过程。所述设计可为数据源形式，例如电子数据源，或可为硬拷贝形式。硬拷贝可为3D物体的二维表示。数据源可为电子3D模型。3D打印可通过其中连续的材料层被放置在彼此之上的增材过程来完成。此过程可受控制(例如，计算机控制，手动控制，或两者)。3D打印机可为工业机器人。
3D打印可快速且有效地产生定制零件。各种材料可用于3D打印过程，所述材料包括元素金属、金属合金、陶瓷、元素碳、树脂或聚合物材料。在通常的增材3D打印过程中，形成第一材料层，并且其后逐个添加连续的材料层(或其部分)，其中每个新的材料层添加到预先形成的材料层上，直到整个设计的三维结构(3D物体)被物化。
可利用计算机辅助设计包或经由3D扫描仪来创建3D模型。准备用于3D计算机图形的几何数据的手动建模过程可与造型艺术(例如，雕塑或动画)类似。3D扫描是分析并收集关于实物形状和外观的数字数据的过程。基于此数据，可产生经扫描物体的3D模型。3D模型可包括计算机辅助设计(CAD)。
许多增材过程是目前可用的。所述增材过程可在放置层以产生经物质化结构的方式方面有所不同。所述增材过程可在用于生成经设计的结构的一种或多种材料或材料方面有所变化。一些方法使材料熔融或软化以产生层。3D打印方法的例子包括选择性激光熔融(SLM)、选择性激光烧结(SLS)、直接金属激光烧结(DMLS)、形状沉积制造(SDM)或熔化沉积成型(FDM)。其它方法使用不同的技术(例如，立体光刻(SLA))来加工液体材料。在分层实体制造(LOM)的方法中，薄层(尤其由纸、聚合物、金属制造)经切割为某形状并结合在一起。
发明内容
有时，在3D打印过程期间，打印的三维(本文缩写为“3D”)物体内的层的至少一部分可弯曲、翘曲、卷起、卷曲或以其它方式变形。在一些情况下，期望控制形成硬化材料层(例如3D物体)的至少一部分的方式。例如，有时期望控制3D物体内的至少一层的变形。控制可包括变形程度和/或方向的控制。在一些情况下，可能期望控制3D物体的至少一个表面的变形。可能期望在其形成期间(例如实时)控制3D物体。有时，可能期望使用开环控制、闭环控制或其任何组合来控制3D物体的形成。有时，可能期望使用前馈控制、反馈控制或其任何组合来控制3D物体的形成。本公开使用本文公开的至少一种(例如前述)控制方法，来描绘至少本文公开的(例如前述)变形的检测、控制或者检测和控制两者。本公开描绘了使用各种检测和/或控制方法，来减少(例如减弱和/或阻止)至少本文公开的(例如前述)变形程度和/或方向。
在一些实施例中，本公开描绘了允许用减少量的设计约束(例如无设计约束)的3D物体建模的方法、系统、仪器和/或软件。本公开描绘了允许这些3D物体模型的物化(例如打印)的方法、系统、仪器和软件。
在一个方面，本文描述了用于生成具有受控的变形程度的3D物体的方法、系统、仪器和/或软件。受控程度可包括控制变形的量和/或方向。受控程度可包括控制变形的类型。变形可包括曲率。曲率可为3D物体内的层的至少一部分的曲率。
在另一个方面，本文描述了用于生成具有减少的变形程度(例如基本上不变形)的3D物体的方法、系统、仪器和/或软件。3D物体可没有辅助支撑件(例如，没有一个或多个辅助支撑件)，或者包括一个或多个辅助支撑件。3D物体可没有指示辅助支撑件(例如一个或多个辅助支撑件)的先前存在的标记。
在另一个方面，本文描述了用于生成具有平滑(例如抛光、连续或规则)和/或平面(例如非翘曲)底表面的3D物体的方法、系统、仪器和/或软件。
在另一个方面，用于根据期望模型生成多层物体的方法包括：用能量束转化粉末床的至少一部分以形成多层物体的一部分，测量多层物体中的所测量的曲率变形，并且通过改变转化的至少一个参数来控制多层物体的所测量的曲率变形以实现靶变形曲率，其中所述测量和控制在粉末床的层的一部分的转化期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于期望模型。
曲率可包括翘曲。曲率可包括远离能量束的位置中的多层物体的至少一部分的偏差。远离可为远离能量束在其下与粉末床相互作用的位置。远离可为至少约2毫米。控制可包括控制能量束。所测量的变形曲率可包括在垂直方向上的变形。所测量的变形曲率可包括在水平方向上的变形。靶变形曲率可基本上为零。靶变形曲率可为正的。靶变形曲率可基本上为零。靶变形曲率可为负的。该方法还可包括变形模型，其中所述变形模型包括期望模型的一个或多个变形。可根据变形模型生成多层物体。生成的多层物体可基本上对应于期望模型。可生成变形模型，使得包括靶变形曲率的多层物体的生成将包含校正变形。靶变形可包括校正变形。靶变形可基本上对应于校正变形。靶变形可基本上对应于具有校正变形形状的经转化的材料的硬化和/或冷却的建模。可生成变形模型，使得具有靶变形曲率的多层物体的生成将基本上导致多层物体(例如在硬化和/或冷却时)，使得多层物体基本上对应于期望模型(例如在冷却和/或硬化时)。期望模型可为期望的3D物体的模型。曲率变形可为由于经转化的材料的变形(例如在经转化的材料冷却和/或硬化时)而物化(例如发生)的曲率。硬化可为凝固。转化可为熔融。控制操作可包括控制至少一部分，使得它将基本上对应于靶变形。靶变形可对应于被硬化的至少一部分的建模。
在另一个方面，用于生成多层物体的方法包括：分配第一层粉末材料以形成粉末床；用能量束转化第一层粉末材料的至少一部分，以形成第一经转化的材料部分；分配与第一层粉末材料相邻的第二层粉末材料；用能量束转化第二层粉末材料的至少一部分，以形成第二经转化的材料部分，其中所述第二经转化的材料部分的至少一小部分连接至所述第一经转化的材料部分，以形成多层物体的至少一部分；并且使多层物体变形以包括曲率，所述曲率在第二层粉末材料的至少一部分的转化期间进行测量且控制。
曲率可为正的或负的。多层物体可从粉末床的暴露表面突出。所测量的可包括测量从材料床突出的多层物体的突起的至少一部分。所测量的可包括测量粉末床的高度。所测量的可包括测量在粉末床的暴露表面处的一个或多个位置的高度。所测量的可包括测量粉末床中的经转化的材料部分。所测量的可包括测量粉末床中的经转化的材料部分。经转化的材料部分可包括第一经转化的材料部分或第二经转化的材料部分。所测量的可包括测量在转化位置周围具有至少5mm半径的区域的高度。受控的可包括控制产生能量束的能量源的功率。受控的可包括测量转化位置的温度。受控的可包括在测量转化位置的温度的同时控制能量源的功率。受控的可包括在测量转化位置的温度的同时控制能量束的功率密度。受控的可包括控制能量束的每单位面积的能量。受控的可包括在测量转化位置的温度的同时控制能量束的每单位面积的能量。转化可包括熔化。熔化可包括熔融。受控的可包括控制第二层粉末材料的表面上的熔融区域的尺寸。受控的可包括控制第二经转化的材料部分的尺寸。分配可包括使用包括旋风分离器的层分配机构。
在另一个方面，用于形成多层物体的系统包括：粉末分配器，其配置为分配第一层粉末材料以形成粉末床；配置为生成能量束的能量源，所述能量束被配置为转化(例如能够转化)粉末床的至少一部分，以形成作为多层物体的部分的第一经转化的材料部分；以及至少一个控制器，其可操作地联接到粉末分配器和能量源，并且被编程为：(i)引导粉末分配器以分配第一层粉末材料，以形成粉末床；(ii)引导能量束以转化第一层粉末材料的至少一部分，以形成第一经转化的材料部分；(iii)引导粉末分配器以分配与第一层粉末材料相邻的第二层粉末材料；(iv)引导能量束以转化第二层粉末材料的至少一部分，以形成第二经转化的材料部分，其中所述第二经转化的材料部分的至少一部分连接到第一经转化的材料部分，以形成多层物体的至少一部分，以及(v)引导能量束以使多层物体变形以包括曲率，所述曲率在转化第二层粉末材料的至少一部分期间进行测量且控制。至少一个控制器可包括多个控制器。操作(i)至(v)中的至少两个可由相同控制器引导。操作(i)至(v)中的至少两个可由不同控制器引导。
在另一个方面，用于由所需模型形成多层物体的系统包括：配置为容纳粉末床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束转化粉末床的至少一部分，以形成作为多层物体的部分的经转化的材料，其中所述能量源可操作地联接到粉末床；配置为检测多层物体中的曲率变形的检测器，其中所述检测器可操作地联接到粉末床；以及至少一个控制器，其可操作地联接到粉末床、能量源和检测器，所述控制器被编程为执行下述操作：操作(i)：引导能量束以转化粉末床的至少一部分，以形成作为多层物体部分的经转化的材料；操作(ii)：引导检测器以检测曲率变形；操作(iii)：评估曲率变形程度以产生结果；和操作(iv)：使用所述结果来控制多层物体的曲率变形，以通过改变在操作(i)中转化粉末床的至少一部分的能量束过程的至少一个参数，来实现靶变形曲率，其中在操作(ii)中检测曲率变形的检测器过程和在操作(iv)中控制曲率变形的过程，在操作(i)中转化粉末床的至少一部分的能量束过程期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于所需模型。
在另一个方面，用于由所需(例如所请求的)模型形成多层物体的仪器包括至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为：(a)引导粉末分配器以分配第一层粉末材料，以形成粉末床；(b)引导能量束以转化第一层粉末材料的至少一部分，以形成第一经转化的材料部分；(c)引导粉末分配器以分配与第一层粉末材料相邻的第二层粉末材料；(d)引导能量束以转化第二层粉末材料的至少一部分，以形成第二经转化的材料部分，其中所述第二经转化的材料部分的至少一小部分连接到第一经转化的材料部分，以形成多层物体的至少一部分；并且(e)使多层物体直接变形以包括曲率，所述曲率在转化第二层粉末材料的至少一部分期间进行测量且控制，其中所述控制器可操作地联接到能量束和粉末分配器。操作(e)中的直接变形可通过使用能量束来实现。至少一个控制器可包括多个控制器。操作(a)至(e)中的至少两个可由相同控制器引导。操作(a)至(e)中的至少两个可由不同控制器引导。
在另一个方面，用于从所需模型形成多层物体的仪器包括：至少一个控制器，其被编程为执行下述操作：
操作(i)：引导能量束以转化粉末床的至少一部分，以形成经转化的材料，所述经转化的材料形成多层物体的至少一部分；
操作(ii)：引导检测器以检测多层物体的至少一部分中的曲率变形；操作(iii)：评估曲率变形程度以产生结果；和
操作(iv)：使用所述结果来控制多层物体的曲率变形，以通过改变在操作(i)中转化粉末床的至少一部分的能量束过程的至少一个参数，来实现靶变形曲率，其中在操作(ii)中检测曲率变形的检测器过程和在操作(iv)中控制曲率变形的过程，在操作(i)中转化粉末床的至少一部分的能量束过程期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于所需模型，其中所述至少一个控制器可操作地联接到能量束和检测器。
在另一个方面，用于从所需模型形成多层物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：操作(a)：从传感器接收输入信号，所述传感器通过将能量束投射到粉末床，测量多层物体的至少一部分在其形成期间来自粉末床的至少一部分的曲率变形，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；操作(b)：引导控制多层物体的至少一部分的曲率变形，以通过改变多层物体的形成的至少一个参数来实现靶变形曲率，其中在操作(a)中接收输入信号的过程以及在操作(b)中引导控制的过程在多层物体形成期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于所需模型。
在另一个方面，用于从所需模型生成多层物体的方法包括：用能量束转化粉末床的至少一部分，以形成多层物体的至少一部分，测量多层物体的至少一部分中的(例如曲率)变形，并且通过改变转化的至少一个参数来控制多层物体的至少一部分的(例如曲率)变形，以实现靶变形曲率，其中测量和控制在粉末床的一部分的转化期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于所需模型。
测量变形和控制变形可在作为转化的部分的一个或多个熔池形成期间发生。曲率可包括翘曲。曲率可包括多层物体的至少一部分相对于所请求的模型的偏差，所述偏差位于远离能量束的位置。远离可为至少2毫米。远离可为远离能量束在其下与粉末床相互作用的位置。控制可包括控制能量束。变形曲率可包括在垂直方向上的变形。变形曲率可包括在水平方向上的变形。靶变形曲率可为(例如基本上)零。靶变形曲率可为正的。基本上可相对于多层(例如3D)物体的预期目的。该方法还可包括变形模型。变形模型可包括经历至少一个偏差的所需模型，其中所述多层物体根据变形模型生成，并且其中生成的多层物体(例如基本上)对应于所需模型。可生成变形模型，使得具有靶变形曲率的多层物体的生成将(例如基本上)导致所需模型。控制可包括控制多层物体的至少一部分，使得它将(例如基本上)对应于靶变形。靶变形可对应于多层物体的至少一部分(例如，其为硬化的)的建模。硬化可包括凝固。
在另一个方面，用于由所需模型形成多层物体的系统包括：(例如配置为含有)粉末床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为转化粉末床的至少一部分，以形成作为多层物体的部分的经转化的材料；配置为检测多层物体中的(例如曲率)变形的检测器；以及可操作地联接到粉末床、能量源和检测器的控制器，所述控制器被编程为：(i)引导能量束以转化粉末床的至少一部分，以形成作为多层物体的至少一部分的经转化的材料；(ii)引导检测器以检测(例如曲率)变形；(iii)评估(例如曲率)变形的程度并产生结果；并且(iv)通过改变(i)中的转化的至少一个参数，使用该结果来控制多层物体的(例如曲率)变形，以实现靶变形(例如曲率)，其中在(ii)中的检测和在(iv)中的控制在(i)中的转化期间发生，并且其中所述多层物体(例如基本上)对应于所需模型。可使用与粉末床相邻的静止位置来校准(例如原位)检测器。测量变形和控制变形可在作为转化的部分的一个或多个熔池形成期间发生。能量源、检测器和/或控制器可以可操作地联接到粉末床。
在另一个方面，用于由所需模型形成多层物体的仪器包括：至少一个控制器，其被编程为(a)引导能量束以转化粉末床的至少一部分，以形成经转化的材料，所述经转化的材料形成多层物体的至少一部分；(b)引导检测器以检测多层物体的至少一部分中的(例如曲率)变形；(c)评估(例如曲率)变形的程度以产生结果；并且(d)通过改变(i)中的转化的至少一个参数，使用该结果来控制多层物体的(例如曲率)变形，以实现靶变形(例如曲率)，其中在(ii)中的检测和在(iv)中的控制在(i)中的转化期间发生，并且其中所述多层物体(例如基本上)对应于所需模型，其中所述控制器可操作地联接到能量束和检测器。控制可为闭环控制。基本上可相对于多层物体的预期目的。至少一个控制器可包括多个控制器。操作(a)至(d)中的至少两个可由相同控制器引导。操作(a)至(d)中的至少两个可由不同控制器引导。测量变形和控制变形可在作为转化的部分的一个或多个熔池形成期间发生。
在另一个方面，用于由所需模型形成多层物体的计算机软件产品，所述计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收输入信号，所述传感器通过将能量束投射到粉末床，测量多层物体的至少一部分在其形成期间来自粉末床的至少一部分的(例如曲率)变形，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；(b)引导控制多层物体的至少一部分的(例如曲率)变形，以通过改变形成的至少一个参数来实现靶变形曲率，其中(a)中的接收输入信号和(b)中的引导控制在形成期间发生，并且其中所述多层物体基本上对应于所需模型。
改变形成的至少一个参数可包括基于输入信号与所需(例如曲率)变形的比较来改变能量束的至少一个特征，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到能量束。(b)中的引导可在形成期间。计算机软件产品可包括子计算机软件产品(例如模块)。涉及(a)至(b)的至少两个指令可由相同的子计算机软件产品执行。涉及(a)至(b)的至少两个指令可由不同的子计算机软件产品执行。测量变形和控制变形可在作为转化的部分的一个或多个熔池形成期间发生。
在另一个方面，用于打印3D物体的方法包括将预转化的材料朝向平台(例如在外壳中以形成材料床)设置；用能量束转化预转化的材料(例如，其构成材料床的至少一部分)，以形成作为3D物体的部分的经转化的材料部分，所述转化随时间推移而产生多个物理属性脉冲，其中所述经转化的材料部分包括对应于多个物理属性脉冲的多个熔池；并且在转化期间实时控制多个物理属性脉冲内的物理属性脉冲的至少一部分。
术语“物理属性”和“现象”在本文中可互换使用。控制可包括控制3D打印机的一个或多个机构和/或3D打印的部件，以影响现象脉冲的至少一部分。控制可包括控制检测现象的过程。多个物理属性脉冲中的至少两个可为(例如可控制地和/或有目的地)不同的。物理属性可包括可检测的能量。可检测的能量可为照射的能量。经转化的材料部分可包括对应于多个可测量的能量脉冲的多个熔池。物理属性可对应于多个熔池的温度、与多个熔池相邻的温度、生成能量束的能量源的功率、能量束的功率密度或其任何组合。物理属性可涉及包括熔池的温度或与熔池相邻的区域的温度的温度。该方法还可包括测量辐射的强度和/或波长。该方法还可包括将辐射的强度和/或波长与温度相关联。辐射可来自熔池或来自与熔池相邻的区域。辐射可来自至少一部分上的能量束的覆盖区、或来自与至少一部分上的能量束的覆盖区相邻的区域。该方法还可包括通过检测从至少一部分照射(例如发射)的一个或多个波长来检测多个物理属性脉冲。该方法还可包括检测包含波长或强度的辐射特征，所述辐射从熔池、与熔池相邻的区域或其任何组合发射。该方法还可包括检测包含波长或强度的辐射特征，所述辐射特征从至少一部分上的能量束的覆盖区、或与至少一部分上的能量束的覆盖区相邻的区域、或其任何组合发射。该方法还可包括将辐射的强度、辐射的波长、或者辐射的强度和波长两者与温度值相关联。与熔池相邻可在与熔池的周边至多约两个、三个、四个、五个或六个熔池直径的距离处。多个熔池可具有基本上相同的各自基本长度尺度。实时可包括在多个熔池中的一个或多个形成期间。实时可包括在多个熔池中的两个熔池形成期间。实时可包括在多个熔池中的一个形成期间。该方法还可包括用检测器检测物理属性脉冲。检测器可包括单个像素检测器。检测器可包括图像检测器。检测器可包括光学测量。检测器可包括光纤。检测器可包括光学位置传感器。检测器可包括光电检测器。检测器可包括光电二极管。物理属性可对应于材料床(例如，其暴露表面)的温度、能量源的功率或能量束的功率密度。可测量(例如可检测)的能量可为材料床(例如，其暴露表面)的温度、能量源的功率或能量束的功率密度。材料床的温度可沿着材料床的暴露表面上的能量束的轨迹。实时可在3D打印的至少一部分期间。实时可在3D物体的层形成期间。实时可在阴影线形成期间。实时可在作为3D物体的部分的两个熔池形成期间。实时可在作为3D物体的部分的熔池形成期间。预转化的材料可为粉末材料。预转化的材料可为材料床的至少一部分。材料床可在使用包括旋风分离器的层分配机构的打印期间被平坦化。材料床可为粉末床。预转化的材料可选自金属合金、元素金属、陶瓷和元素碳的同素异形体中的至少一个成员。分配可包括使用层分配机构。层分配机构可包括旋风分离器。经转化的材料部分可包括至少一个熔池，并且其中所述物理属性可包括熔池温度、基本长度尺度(FLS)或反射率。基本长度尺度(FLS)可包括高度、深度或直径(例如，或等效直径)。物理属性脉冲可包括停留时间和间歇。停留时间可包括前缘和/或后缘。该方法还可包括使用控制来随时间推移而维持(例如随时间推移)多个物理属性脉冲的基本上相同的前缘或后缘。该方法还可包括随时间推移(例如通过使用控制)而维持基本上相同的前缘、后缘、平台或其任何组合。停留时间可包括平台。该方法还可包括随时间推移(例如通过使用控制)而维持多个物理属性脉冲的基本上相同的平台。相同可包括在强度、时间跨度或其任何组合方面相同。控制可包括闭环控制。闭环控制可包括至多约20毫秒的循环采样时间。控制可包括计算。计算可在(例如能量束的)停留时间期间执行。计算可在(例如能量束的)间歇期间执行。计算可不在停留时间期间执行。计算可不在间歇期间执行。计算可在至多约20微秒期间发生。该方法还可包括随时间推移(例如通过使用控制)而维持多个物理属性脉冲的基本上相同的分布。该分布可包括能量束的能量分布。该分布可包括随时间推移的材料床的一部分(例如沿着能量束的轨迹)的温度分布。该分布可包括随时间推移的能量束的功率密度分布。该能量分布可包括随时间推移的能量源的功率分布。经转化的材料部分可包括至少一个熔池。该分布可包括熔池的温度。经转化的材料部分可包括至少一个熔池。该分布可包括熔池的基本长度尺度(例如深度、直径或等效直径)。该分布可包括(i)多个熔池的温度分布、或(ii)与多个熔池相邻的位置的温度分布。相邻可在与熔池的周边一段距离处，所述距离为由能量束生成的熔池的至多约六个直径，所述熔池为多个熔池。该分布可包括能量束的功率密度分布。该分布可包括生成能量束的能量源的功率分布。控制可包括使用处理器。处理器可包括平行处理。处理器可包括微处理器、数据处理器、中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、协处理器、网络处理器、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、控制器、可编程逻辑装置(PLD)、芯片组或现场可编程门阵列(FPGA)。处理器可包括图形处理单元(GPU)。处理器可包括现场可编程门阵列(FPGA)。处理器可包括单个物理处理单元中的多重处理单元。多重处理单元可为平行处理单元。多重平行处理单元可包括至少约200个平行处理单元。多重平行处理单元可包括核心或数字信号处理片。多重平行处理单元可包括第一处理单元和第二处理单元，其中所述处理器可包括从第一处理单元到第二处理单元的数据传递中的低延迟。延迟足够低以允许大量的浮点运算/秒(FLOPS)或至少约10TeraFLOPS。延迟足够低以允许至少约10Tera MAC的大量多重累加操作/秒(MAC)。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：配置为含有材料床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为转化材料层的至少一部分，以形成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述经转化的材料随时间推移形成包括多个物理属性脉冲(例如多个可检测的能量脉冲)的脉冲物理属性，所述能量源可操作地联接到材料床；配置为检测物理属性的检测器，所述检测器可操作地联接到材料床；以及至少一个控制器，其可操作地联接到材料床、能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体；(ii)评估(例如，或引导评估)由检测器检测到的物理属性；和(iii)使用该评估来改变能量束的至少一个特征以形成3D物体。能量源可以可操作地联接到材料床。
改变可包括在多重脉冲内维持基本上相同的物理属性脉冲。检测器可使用与材料床(例如，与其暴露表面)相邻的至少一个静止位置进行校准。经转化的材料部分可包括对应于多个物理属性脉冲的多个熔池。至少一个控制器可包括多个控制器。操作(i)至(iii)中的至少两个可由相同控制器控制。操作(i)至(iii)中的至少两个可由不同控制器控制。物理属性可对应于或包括材料床(例如，其暴露表面)的温度、能量源的功率或能量束的功率密度。材料床的温度可沿着材料床的暴露表面上的能量束的轨迹。物理属性脉冲可包含随时间推移而在温度、能量源功率或能量束功率密度中的变化。物理属性可对应于(I)多个熔池的温度，(II)与多个熔池相邻的温度，(III)生成能量束的能量源的功率，(IV)能量束的功率密度，或(V)其任何组合。与熔池相邻可在与熔池的周边至多约六个熔池直径的距离处。改变可包括在多重脉冲内维持(例如基本上)相同的物理属性脉冲。检测到的物理属性(例如包含可检测的能量或可测量的能量)可包含从至少一部分发射的一个或多个波长。检测到的物理属性可包含辐射的波长或辐射的强度，所述辐射(I)从由至少一部分上的能量束的覆盖区占据的区域，(II)与由至少一部分上的能量束的覆盖区占据的区域相邻的区域，或(III)其任何组合发射。检测到的物理属性可包含波长或强度，所述辐射从熔池(I)、(II)与熔池相邻的区域、或(III)其任何组合发射。检测器还可将(A)辐射的强度、(B)辐射的波长、或(C)辐射的强度和波长两者与温度值相关联或引导其关联性。控制可包括使用处理器。处理器可包括微处理器、数据处理器、中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、协处理器、网络处理器、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、控制器、可编程逻辑装置(PLD)、芯片组或现场可编程门阵列(FPGA)。处理器包括在其为平行处理单元的单个物理处理单元中的多重处理单元。多重平行处理单元可包括至少约200个平行处理单元。多重平行处理单元可包括第一处理单元和第二处理单元，其中所述处理器包括从第一处理单元到第二处理单元的数据传递中的低延迟。延迟可足够低以允许大量的浮点运算/秒(FLOPS)或至少约10Tera FLOPS。
在另一个方面，用于打印3D物体的系统包括：配置为含有平台的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料转化为作为3D物体的部分的经转化的材料，所述随时间推移的转化产生多个现象脉冲，其中所述经转化的材料包括对应于多个现象脉冲的多个熔池，所述能量源可操作地联接到平台；配置为检测多个现象脉冲的检测器，所述检测器可操作地联接到平台；以及至少一个控制器，其可操作地联接到平台、能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以将预转化的材料转化成作为3D物体的第一部分的经转化的材料；(ii)通过检测器评估多个现象脉冲或引导多个现象脉冲的评估；并且(iii)使用该评估来改变能量束的至少一个特征，以打印3D物体的第二部分。
在一些实施例中，该现象是人工诱导的。物理属性可包括可检测和/或可测量的能量。该现象可对应于(I)多个熔池的温度，(II)与多个熔池相邻的温度，(III)生成能量束的能量源的功率，(IV)能量束的功率密度，或(V)其任何组合。与熔池相邻可在与熔池的中心至多约六个熔池直径的距离处。改变可包括在多重脉冲内维持基本上相同的现象脉冲。该现象可包括从至少一部分发射的一个或多个波长。该现象可包括辐射的波长或辐射的强度，所述辐射(I)从至少一部分上的能量束的覆盖区、(II)与至少一部分上的能量束的覆盖区相邻的区域、或(III)其任何组合发射。该现象可包括波长或强度，所述辐射从熔池(I)、(II)与熔池相邻的区域、或(III)其任何组合发射。检测器还可对应于以下或引导以下的关联性：(A)辐射的强度、(B)辐射的波长、或(C)辐射的强度和波长两者与温度值。(i)至(iii)中的至少两个可由相同控制器控制。(i)至(iii)中的至少两个可由不同控制器控制。控制可包括使用处理器。处理器可包括微处理器、数据处理器、中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、协处理器、网络处理器、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、控制器、可编程逻辑装置(PLD)、芯片组或现场可编程门阵列(FPGA)。处理器可包括在其为平行处理单元的单个物理处理单元中的多重处理单元。多重平行处理单元可包括至少约200个平行处理单元。多重平行处理单元可包括第一处理单元和第二处理单元，其中所述处理器包括从第一处理单元到第二处理单元的数据传递中的低延迟。延迟可足够低以允许大量的浮点运算/秒(FLOPS)或至少约10Tera FLOPS。该系统还可包括层分配机构，其包括旋风分离器，所述层分配机构配置为使与平台相邻设置的材料床平坦化，所述材料床包括预转化的材料。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括至少一个控制器，其被编程为执行下述操作：操作(a)：引导能量束以从材料床的至少一部分生成经转化的材料，所述经转化的材料形成3D物体的至少一部分，所述生成经转化的材料的过程随着时间推移而形成多个现象脉冲；操作(c)：引导检测器以检测该现象；和
操作(d)：控制多个现象脉冲内的现象脉冲内的至少一部分，所述控制在操作(a)期间发生并且考虑在操作(c)中由检测器检测到的现象，并且其中所述至少一个控制器可操作地联接到检测器和能量束。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括(例如，或至少一个)控制器，其被编程为(a)引导能量束以从预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)生成经转化的材料，所述经转化的材料形成3D物体的至少一部分，所述生成经转化的材料随着时间推移而形成多个现象脉冲；(c)引导检测器以检测该现象；和(d)控制多个现象脉冲的现象脉冲内的至少一部分，所述控制在(a)期间并且考虑到(c)中的检测，并且其中所述至少一个控制器可操作地联接到检测器和能量束。
控制可为闭环控制。(例如至少一个)控制器可根据(c)中的检测来引导能量束的至少一个特征的改变。经转化的材料部分可包括与多个现象脉冲有关的多个熔池。至少一个控制器可包括多个控制器。操作(a)至(d)中的至少两个可由相同控制器控制。操作(a)至(d)中的至少两个可由不同控制器控制。该现象可包括材料床(例如，其暴露表面)的温度、能量源的功率或能量束的功率密度。材料床的温度可沿着材料床的暴露表面上的能量束的轨迹。现象脉冲可包含随着时间推移而在温度、能量源功率或能量束功率密度中的变化。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收输入信号，所述输入信号包括通过将能量投射到材料床，在从预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)形成3D物体期间而出现的脉冲现象，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；(b)在3D物体形成期间实时引导控制多个现象脉冲内的现象脉冲的至少一部分。
引导控制可包括基于输入信号与现象设定点的比较来改变能量束的至少一个特征，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到能量束。引导可在现象脉冲期间。经转化的材料部分包括与多个现象脉冲有关的多个熔池。该现象可包括材料床(例如，其暴露表面)的温度、能量源的功率或能量束的功率密度。材料床的温度可沿着材料床的暴露表面上的能量束的轨迹。现象脉冲可包含随着时间推移而在温度、能量源功率或能量束功率密度中的变化。
在另一个方面，用于打印3D物体的方法包括：(a)将预转化的材料朝向平台设置；(b)用能量束转化预转化的材料以形成作为3D物体的部分的第一熔池，所述第一熔池设置在靶表面(例如，其设置在平台处或平台上方)上；(c)在打印期间检测第一熔池的物理属性，以获得第一物理属性值；(d)在打印期间检测第一熔池附近的物理属性，以获得第二物理属性值；并且(e)使用第一物理属性值、第二物理属性值、或第一物理属性值和第二物理属性值来控制能量束，所述控制在打印期间。
控制能量束可通过使用第一物理属性值和第二物理属性值。物理属性值可与温度相关联。物理属性值可包括从靶表面照射的电磁波束的振幅或波长。电磁波束可包括红外光束。物理属性值可包括从靶表面反射的电磁波束的振幅或波长。检测(例如在操作(c)和/或(d)中)可包括使用与检测器联接的光纤。操作(c)中的检测可包括使用第一检测器。操作(d)中的检测可包括使用第二检测器。第一检测器可不同于第二检测器。操作(c)中的检测可包括使用第一检测器，并且其中在操作(d)中的检测可包括使用第二检测器组，其中所述第一检测器不同于所述第二检测器组。第二检测器组可包括包含多根光纤的光纤束。多根光纤可以(例如各自地)可操作地联接到多个检测器。操作(d)中的检测可包括对从第二检测器组检测到的信号求平均值，以获得第二物理属性值。在打印期间可包括在层、层内的多个熔池、第一熔池或其任何组合形成期间。该层可为3D物体的一部分。控制可包括改变能量束的至少一个特征。能量束的至少一个特征可包括(i)功率密度，(ii)横截面束，(iii)停留时间，或(iv)焦点。控制可包括将第一物理属性值与第二物理属性值进行比较。控制可包括将(i)第一物理属性值与相应的第一物理属性阈值进行比较，(ii)将第二物理属性值与相应的第二物理属性阈值进行比较，或者(iii)将第一物理属性值与第二物理属性阈值进行比较。打印可包括使用打印指令来控制能量束，并且其中所述方法还可包括使用该比较来改变打印指令。改变可在打印期间。改变可在转化以形成第一熔池期间。预转化的材料可为材料床的至少一部分，并且其中在使用包括旋风分离器的层分配机构打印期间使材料床平坦化。附近可为具有第一熔池的至多约六个基本长度尺度(例如直径)的半径的区域，所述区域与第一熔池同心。第一熔池可为基本上各向同性的、均质的或各向同性和均质的。各向同性的可根据形状、横截面(例如垂直和/或水平)、纵横比(例如在水平和垂直横截面中保持基本上相同的半径)、材料性质(例如微观结构)或其任何组合。均质的可根据材料性质(例如微观结构。该方法还可包括重复至少操作(b)以形成第二熔池。第一熔池和第二熔池可在其形状、横截面(例如水平和/或垂直)、基本长度尺度、材料性质(例如微观结构)或其任何组合方面(例如基本上)相同。
在另一个方面，用于打印3D物体的系统包括：配置为含有平台的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料转化成包含熔池的经转化的材料，所述熔池是3D物体的部分，其中所述能量源可操作地联接到平台；配置为检测熔池的物理属性的第一检测器，所述检测器可操作地联接到平台；配置为检测熔池附近的物理属性的第二检测器，所述第二检测器可操作地联接到平台；以及至少一个控制器，其可操作地联接到平台、能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以转化预转化的材料，以形成作为3D物体的部分的熔池；(ii)通过第一检测器引导检测熔池的物理属性，以获得第一物理属性值；(iii)通过第二检测器引导检测熔池附近的物理属性，以获得第二物理属性值，并且(iv)使用或引导使用第一物理属性、第二物理属性值、或第一物理属性值和第二物理属性值，以在打印期间改变能量束的至少一个特征。
附近可为具有熔池的至多约六个基本长度尺度(例如直径)的半径的区域，所述区域与熔池同心。该系统还可包括层分配机构，所述层分配机构包括旋风分离器，所述层分配机构配置为使与平台相邻设置的材料床平坦化，所述材料床可包含预转化的材料。在打印期间可包括在熔池形成期间。物理属性值可与温度相关联。物理属性值可包括从靶表面照射的电磁波束的振幅或波长。电磁波束可包括红外光束。物理属性值可包括从靶表面反射的电磁波束的振幅或波长。检测可包括使用与检测器联接的光纤。第一检测器可不同于第二检测器。第二检测器可包括第二检测器组。第二检测器组可包括包含多根光纤的光纤束。多根光纤可以(例如各自地)可操作地联接到多个检测器。操作(iii)中的检测可包括对从第二检测器组检测到的信号求平均值，以获得第二物理属性值。在打印期间可包括在层、层内的多个熔池或熔池形成期间。该层可为3D物体的一部分。打印可包括使用打印指令来控制能量束。该系统还可包括使用比较来改变打印指令。
能量束的至少一个特征可包括(I)能量束的功率密度，(II)横截面束，(III)停留时间或(IV)焦点。操作中(iv)的改变可在转化以形成熔池期间。操作中(iv)的改变可包括(I)将第一物理属性值与相应的第一物理属性阈值进行比较，(II)将第二物理属性值与相应的第二物理属性阈值进行比较，或者(III)将第一物理属性值与第二物理属性阈值进行比较。操作中(iv)的改变可为控制包含熔池或熔池附近的体积中的温度分布概况。操作(iv)中的使用或引导使用可(例如各自地)包括估计或引导估计包含熔池或熔池附近的体积中的温度分布概况。操作(iv)中的使用或引导使用可(例如各自地)包括调整或引导调整3D模型的打印指令。操作(iv)中的使用或引导使用可(例如各自地)包括改变或引导改变打印的物理模型。操作(iv)中的使用或引导使用可(例如各自地)包括改变或引导改变打印物理模型的至少一个参数。操作(i)至(iv)中的至少两个可由相同控制器引导。操作(i)至(iv)中的至少两个可由不同控制器引导。
用于3D打印的仪器包括至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为：(i)引导能量束以转化预转化的材料，以形成作为3D物体的部分的熔池，其中所述至少一个控制器可操作地联接到能量束；(ii)引导第一检测器以检测熔池的物理属性，以获得第一物理属性值，其中所述至少一个控制器可操作地联接到第一检测器；(iii)引导第二检测器以检测熔池附近的物理属性，以获得第二物理属性值，并且(iv)使用或引导使用第一物理属性值、第二物理属性值、或第一物理属性值和第二物理属性值，以改变在打印期间能量束的至少一个特征。操作(i)至(iv)中的至少两个可由相同控制器引导。操作(i)至(iv)中的至少两个可由不同控制器引导。
用于从所需模型打印3D物体的计算机软件产品，所述计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从第一检测器接收输入信号，所述第一检测器测量通过用能量束照射预转化的材料形成的熔池的物理属性，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到第一检测器；(b)从测量熔池附近的物理属性的第二检测器接收输入信号，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到第二检测器；并且(c)使用第一物理属性值、第二物理属性值、或第一物理属性值和第二物理属性值，以改变3D物体的打印指令。改变打印指令可包括改变能量束的至少一个特征。改变可在打印期间(例如在熔池形成期间)。改变可包括改变打印的计算机模型。改变可包括改变计算机模型中的至少一个参数。
在另一个方面，用于生成3D物体的方法包括：在材料床中生成3D物体的至少第一部分和物理标记(例如标志)，其中根据所请求的(例如所需)3D结构的模型生成3D物体，其中所述物理标记(例如标志)是对所需3D结构的添加，其中所述3D物体可包括易于变形的部分，其中标志附接到易于变形的部分；并且检测物理标记(例如标志)的至少一部分(例如在生成期间)。
该方法还可包括使用物理标记的至少一部分的检测，改变生成3D物体的至少第二部分的方式。检测可在生成(例如打印)期间。物理标记(例如标志)的至少一部分的检测可为实时的。偏差的检测可在生成期间(例如实时)。检测物理标记的至少一部分可在3D物体形成期间(例如实时)。检测可来自材料床外的位置。外部可包含上方。检测可包括光学检测。光学检测可包括通过照相机(例如静物和/或视频照相机)捕获。光学检测可包括激光。光学检测可包括计量映射。光学检测可包括高度映射。映射可为二维或3D映射。光学检测可包括使用振荡辐射束来形成具有相对低强度和相对高强度的重复投射区域。相对可就彼此而言。该方法还可包括检测与振荡辐射束的偏差。物理标记(例如标志)可附接到埋入材料层中的位置处(例如在3D物体形成的至少一部分期间，例如在该部分的变形期间)易于变形的部分。埋入可在该部分的变形期间(例如，以及在打印期间)。该方法还可包括通过检测物理标记的至少一部分来控制变形。控制可包括减少。控制可包括监测。控制变形可包括改变能量束或生成能量束的能量源的至少一个特征。能量束的至少一个特征可包括停留时间、间歇时间、速度、轨迹、横截面、在材料床的暴露表面上的覆盖区、注量、焦点或功率密度。能量源的至少一个特征可包括功率。该方法还可包括(例如原位和/或实时地)使物理标记(例如标志)脱离。原位可包含在粉末床中。实时可包括在3D打印的至少一部分期间，例如在变形发生期间。材料床可包含微粒材料。例如，材料床可为粉末床。粉末材料可选自金属合金、元素金属、陶瓷和元素碳的同素异形体中的至少一个成员。材料可包含微粒材料。微粒材料可包含选自金属合金、元素金属、陶瓷、元素碳的同素异形体和有机材料中的至少一个成员。该方法还可包括使用包括旋风分离器的层分配机构使材料床的暴露表面平坦化。
在另一个方面，用于打印3D物体的系统包括：(例如配置为含有)材料床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为将材料床的至少一部分转化成作为三维物体的部分的经转化的材料和物理标记两者，所述3D物体包括易于变形的部分，其中所述物理标记连接到所述部分，其中所述3D物体根据所请求的3D结构的模型来形成，其中所述物理标记是对所请求的3D结构的添加，其中在变形后，所述物理标记的至少一部分的位置偏差，其中所述能量源可操作地联接到材料床；检测物理标记的至少一部分的检测器，其中所述检测器可操作地联接到材料床；以及控制器，所述控制器可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体的第一部分和物理标记，(ii)评估与物理标记的至少一部分的位置的任何偏差，并且(iii)使用该评估来控制(I)能量束、(II)能量源或(III)能量束和能量源的至少一个特征，以形成3D物体的第二部分。能量源和/或检测器可以可操作地联接到材料床
操作(ii)中的评估可在打印期间。操作(ii)中的评估可为实时的。物理标记可在其形成时连接到该部分。能量束的至少一个特征可包括停留时间、间歇时间、速度、轨迹、横截面、在材料床的暴露表面上的覆盖区、注量、焦点或功率密度。能量源的至少一个特征可包括功率。该系统还可包括通过使用操作(iii)中的评估来控制变形。控制可包括减少。控制可包括监视器。物理标记可附接到埋入材料层中的位置处易于变形的部分，所述埋入在变形期间。材料床可包含微粒材料。微粒材料可包含选自金属合金、元素金属、陶瓷、元素碳的同素异形体和有机材料中的至少一个成员。该系统还可包括包含旋风分离器的层分配机构，所述层分配机构配置为在打印的至少一部分期间使材料床的暴露表面平坦化。
在另一个方面，用于打印3D物体的系统包括：配置为含有材料床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将材料床的至少一部分转化成(A)作为三维物体的部分的经转化的材料和(B)物理标记，所述3D物体包括可变形的部分，其中所述物理标记连接到该部分，其中所述3D物体根据所请求的3D物体的模型形成，其中所述物理标记是对所请求的3D物体的添加，其中在变形后，所述物理标记的至少一部分的位置偏差，其中所述能量源可操作地联接到材料床；检测物理标记的至少一部分的检测器，其中所述检测器可操作地联接到材料床；以及至少一个控制器，其可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且分开地或共同地被编程为：(i)引导能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体的第一部分和物理标记，并且(ii)评估或引导评估与物理标记的至少一部分的位置的任何偏差。
至少一个控制器可(分开地或共同地)被编程，以使用该评估来控制(I)能量束、(II)能量源、(III)能量束和能量源、或者(IV)其任何组合的至少一个特征，以形成3D物体的第二部分。(ii)中的评估或估计可在打印期间。(ii)中的评估或估计可为实时的。能量束的至少一个特征可包括停留时间、间歇时间、速度、轨迹、横截面、在材料床的暴露表面上的覆盖区、注量、焦点或功率密度。能量源的至少一个特征可包括功率。物理标记可在其形成时(例如，以及在打印期间)连接到该部分。该系统还可包括通过使用操作(ii)中的评估(或估计)来控制变形。控制可包括减少。控制可包括监测。物理标记可附接到埋入材料层中(例如在打印期间)的位置处易于变形的部分，所述埋入在变形期间。材料床可包含微粒材料。微粒材料可包含选自金属合金、元素金属、陶瓷、元素碳的同素异形体和有机材料中的至少一个成员。该系统还可包括包含旋风分离器的层分配机构，所述层分配机构配置为在打印的至少一部分期间使材料床的暴露表面平坦化。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：(例如配置为含有)材料床的容器；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为将材料床的至少一部分转化成(a)作为3D物体的部分的经转化的材料和(b)标志，所述3D物体包括易于变形的部分，其中所述标志连接到该部分，其中所述3D物体根据所需3D结构的模型形成，其中所述标志是对所需3D结构的添加，其中在变形后，标志的至少一部分的位置偏差标志的至少一部分的预期位置；配置为检测标志的至少一部分的检测器；以及控制器，其可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体和标志；(ii)评估与标志的至少一部分的预期位置的任何偏差(例如在形成期间)；并且(iii)使用该评估来控制能量束的至少一个特征，以形成3D物体。标志可在其形成时连接到该部分。标志的至少一部分的预期位置对应于未变形的3D物体的附加标志。该标志可为物理标记。能量源和/或检测器可以可操作地联接到材料床。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括：至少一个控制器，其被编程为(a)引导处置材料床；(b)引导能量束以从材料床的至少一部分生成经转化的材料，所述经转化的材料形成3D物体的至少一部分和标志，其中所述3D物体包括易于变形的部分，其中所述标志连接到易于变形的部分；并且(c)引导检测器以检测标志的至少一部分的位置与标志的至少一部分的预期位置的偏差(例如在形成期间)，所述偏差指示变形，并且其中所述至少一个控制器可操作地联接到材料床、检测器和能量束。至少一个控制器可根据偏差来评估变形的程度。至少一个控制器可根据偏差引导能量束的至少一个特征中的改变。改变可导致变形减少。标志的至少一部分的预期位置对应于未变形的3D物体的附加标志。至少一个控制器可包括多个控制器。(a)至(c)中的至少两个可由相同控制器引导。(a)至(c)中的至少两个可由不同控制器引导。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收第一输入信号，所述第一输入信号包括连接到3D物体的至少一部分(例如在形成期间)的标志的至少一部分的位置，所述部分易于变形，所述3D物体至少部分地埋入材料床中；(b)从传感器接收第二输入信号(例如在形成期间)，所述第二输入信号包括与标志的至少一部分的位置的偏差；并且(c)将第一输入信号与第二输入信号进行比较以生成结果，所述结果指示3D物体的该部分的变形。计算机软件产品还可促使计算机执行包括以下的操作：基于结果引导能量束以改变能量束的至少一个特征，所述能量束转化材料床的至少一部分，以形成3D物体的至少一部分，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到能量束。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。比较可在3D物体形成期间。
在另一个方面，用于形成(例如打印)至少一个3D物体的方法包括：(a)在材料床中生成至少一个3D物体，其中所述3D物体的顶表面至少部分地埋入材料床中，所述材料床包括具有平均平坦表面的暴露表面，其中所述至少一个3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平坦表面；(b)使用扫描能量束在暴露表面上投射可检测形状(例如投射可检测形状的图像)；并且(c)检测可检测形状与预期形状的偏差(例如在形成期间，例如在打印期间)。
形状可投射在暴露表面上。该方法还可包括使用该偏差来控制(例如改变)打印的一个或多个部件(例如机构)的功能。3D物体的顶表面可埋入(例如至少部分地)材料床中。检测可包括光学检测。形状中的偏差可包括强度偏差。(例如投射和随后检测到的)形状中的偏差可包括频率偏差。形状中的偏差可包括形状的基本长度尺度(FLS)中的偏差。偏差可为形状的类型(例如预期形状可为矩形并且检测到的形状可为卵形)。形状可为投射在材料床的暴露表面上的区域。FLS可包括横截面、形状或面积。FLS可包括长度或宽度。投射在材料床的暴露表面上的形状可包括具有第一强度的区域，所述第一强度可检测地不同于不占据投影形状的区域，所述区域具有第二强度(例如，其具有(例如基本上)扫描能量束的不可检测的辐射)。第一强度可高于第二强度，哪个更高是可检测的。可检测的可包括光学可检测的。偏差可包括形状类型中的偏差(例如在形状中与预期的矩形形状的偏差)。偏差可包括第一强度或第二强度中的偏差。偏差可用于检测3D物体的位置(例如在材料床中。例如相对于材料床的暴露表面)。位置可包括垂直或水平位置。偏差可用于检测3D物体中的变形。偏差可用于检测和/或评价3D物体的顶表面中的变形。偏差可用于检测和/或评价3D物体的顶表面中的变形。形状类型和/或其相对于暴露表面的位置可随着时间推移而变化。扫描形状相对于暴露表面的位置可根据时间而变化。形状可能看起来在暴露表面上行进(例如随着时间推移)。投影形状类型(例如，被投影形状占据的靶表面上的区域)可随着时间推移而变化。投影形状类型可随着时间推移而(例如基本上)恒定。形状在暴露表面的不同区域中可不同。投影形状在(例如整个)暴露表面上可(例如基本上)相同。投影形状可包含电磁辐射。投影形状可包括第一波长，所述第一波长不同于在3D物体的形成中使用的转化能量束的第二波长。形状可以第一角度投射到暴露表面上，并且转化能量束可以第二角度投射到暴露表面上。第一角度可不同于第二角度。第一角度可与第二角度(例如基本上)相同。产生投影形状的扫描能量束可与用于形成3D物体的转化能量束分开。分开可在位置和/或波长方面。分开可在检测方面。分开可在束轨迹方面。扫描能量束可与转化能量束重合。重合可在轨迹方面。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：包括具有平均平面度的暴露表面的材料床(例如，设置在配置为含有其的外壳中)；生成(例如配置为生成)第一能量束的第一能量源，所述第一能量束将材料床的至少一部分转化(例如配置为转化)成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述3D物体至少部分地埋入材料床中，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度(其中所述第一能量源可操作地联接到材料床)；配置为生成第二能量束的第二能量源，所述第二能量束配置为在暴露表面上投射可检测形状(其中所述第二能量源可操作地联接到材料床)；配置为检测可检测形状的预期形状与可检测形状的检测到形状之间的偏差的检测器，其中所述检测来自暴露表面(其中所述检测器可操作地联接到材料床)；以及控制器(或至少一个控制器)，其可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导第一能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体；(ii)引导第二能量束以生成可检测形状(例如在形成期间)；(iii)评估偏差以产生结果。
控制器(或至少一个控制器)还可被编程为(iv)使用(例如至少部分地)该结果，以控制第一能量束的至少一个特征和/或至少一个机构以形成3D物体。该系统可包括使用该评估来控制(例如改变)打印的一个或多个部件(例如机构)的功能。操作(iv)中的使用可实时在3D物体形成期间。第一能量源可不同于第二能量源。第一能量源和第二能量源可为相同能量源。第一能量束可不同于第二能量束。第一能量源可具有与第二能量源(例如基本上)相同的特征。第一能量束可具有与第二能量束(例如基本上)相同的特征。与第二能量束相比，第一能量束可具有不同的特征。被编程以实现(i)至(iv)的至少一个控制器中的至少两个可为相同控制器。至少一个控制器可为多个控制器。被编程以实现(i)至(iv)的至少一个控制器中的至少两个可为不同控制器。第二能量束、第一能量束、或第一能量束和第二能量束两者可包括电磁辐射。第一能量束可为激光束。第二能量束可为发光二极管束。第二能量束可为可见光束。第一能量束可包括激光束。第二能量束可包括LED。第二能量源可包括数位镜。
在另一个方面，用于检测3D物体的仪器包括：包括具有平均平面度的暴露表面的材料床；配置为生成第一能量束的第一能量源，所述第一能量配置为将材料床的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述3D物体至少部分地埋入材料床中，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度，其中所述第一能量源可操作地联接到材料床和/或与材料床相邻设置；配置为生成(例如在三维物体形成期间)第二能量束的第二能量源，所述第二能量束配置为在暴露表面上投射可检测形状，其中所述第二能量源可操作地联接到材料床和/或与材料床相邻设置；以及配置为检测可检测形状的预期形状与可检测形状的检测到形状之间的偏差的检测器，所述偏差指示与3D物体的所请求的结构和/或位置的变化。该变化可指示3D物体的至少一部分中的变形。该仪器可包括使用该偏差来控制(例如改变)3D物体形成(例如作为转化的部分)的一个或多个部件(例如机构)的功能。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收第一输入信号，所述第一输入信号包括投射在材料床的暴露表面上的可检测形状，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；(b)从传感器接收第二输入信号，所述第二输入信号包括可检测形状的预期形状与可检测形状的检测到形状之间的偏差(例如在形成期间)，其中所述材料床包括至少部分地埋入材料床中的3D物体的至少一部分；并且(c)将第一输入信号与第二输入信号进行比较以生成结果，所述结果指示与3D物体的所请求的结构或位置的变化。计算机软件产品还可促使计算机执行包括以下的操作：基于结果引导能量束以改变能量束的至少一个特征，所述能量束转化材料床的至少一部分，以形成3D物体的至少一部分。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。比较可在3D物体形成期间。操作可包括使用结果来控制(例如改变)3D物体形成的一个或多个部件(例如机构)的功能。计算机软件产品还可促使计算机执行包括以下的操作：基于结果引导形成机构以改变至少一个特征。该机构可包括层分配机构或光学系统。投射的扫描能量束可随着时间推移而沿着暴露表面的至少一部分平移。可检测形状可随着时间推移而沿着暴露表面平移。可检测形状的预期形状可随着时间推移而保持不变。可检测形状的预期形状可随着时间推移而改变(例如，以已知和/或预定的方式)。
在另一个方面，用于形成(例如打印)至少一个3D物体的方法包括：(a)在材料床中生成至少一个3D物体，其中所述3D物体的顶表面至少部分地埋入材料床中，所述材料床包括具有平均平坦表面的暴露表面，其中所述至少一个3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平坦表面；(b)在暴露表面上投射振荡波束，所述振荡波束包括可检测的振荡图案；并且(c)检测可检测振荡图案中的偏差(例如在形成期间)。
该方法还可包括使用该偏差来控制(例如改变)打印的一个或多个部件(例如机构)的功能。3D物体的顶表面可埋入(例如至少部分地)材料床中。检测可包括光学检测。振荡图案中的偏差可包括强度偏差。振荡图案中的偏差可包括频率偏差。振荡图案中的偏差可包括振荡图案内的重复区域的基本长度尺度(FLS)中的偏差。重复区域可为投射在材料床的暴露表面上的区域。FLS可包括横截面、形状或面积。FLS可包括长度或宽度。投射在材料床的暴露表面上的振荡图案可包括具有第一强度和第一形状的区域、以及具有第二强度和第二形状的区域。第一强度可高于第二强度，哪个更高是可检测的。可检测的可包括光学可检测的。偏差可包括第一形状或第二形状中的偏差。偏差可包括第一强度或第二强度中的偏差。偏差可用于检测3D物体的位置(例如在材料床中。例如相对于材料床的暴露表面)。位置可包括垂直或水平位置。偏差可用于检测3D物体中的变形。偏差可用于检测3D物体的顶表面中的变形。偏差可用于检测3D物体的顶表面中的变形。该方法还可包括检测第一强度或第二强度中的偏差。振荡波束可及时改变。投射的振荡图案可根据时间而变化。振荡波束可能看起来在暴露表面上行进(例如随着时间推移)。振荡波束可随着时间推移而变化。振荡波束可随着时间推移而(例如基本上)恒定。振荡波束在暴露表面的不同区域中可不同。振荡波束在(例如整个)暴露表面上可(例如基本上)相同。振荡波束可包括电磁辐射。振荡波束可包括第一波长，所述第一波长不同于在3D物体的形成中使用的转化能量束的第二波长。振荡波束可以第一角度投射到暴露表面上，并且转化能量束可以第二角度投射到暴露表面上。第一角度可不同于第二角度。第一角度可与第二角度(例如基本上)相同。振荡波束可与在3D物体的形成中使用的转化能量光束分开。分开可在位置和/或波长方面。分开可在检测方面。分开可在束轨迹方面。振荡波束可与转化能量束重合。重合可在轨迹方面。
在另一个方面，用于形成三维物体的系统包括：包括具有平均平面度的暴露表面的材料床；配置为生成第一能量束的第一能量源，所述第一能量束将材料床的至少一部分转化成作为三维物体的部分的经转化的材料，所述三维物体至少部分地埋入材料床，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度；配置为生成第二能量束的第二能量源，所述第二能量束是投射在暴露表面上的振荡波束，形成至少可检测图案；配置为检测与可检测图案的任何偏差的检测器；以及可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器的至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为：(i)引导第一能量束以从材料床的至少一部分生成三维物体；(ii)评估与可检测图案的任何偏差以产生结果；并且(iii)使用该结果来控制第一能量束的至少一个特征，以形成三维物体。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：(例如配置为含有)包括具有平均平面度的暴露表面的材料床；生成(例如配置为生成)第一能量束的第一能量源，所述第一能量束将材料床的至少一部分转化(例如配置为转化)成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述3D物体至少部分地埋入材料床中，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度(其中所述第一能量源可操作地联接到材料床)；配置为生成第二能量束的第二能量源，所述第二能量束是配置为在暴露表面上投射并且配置为形成至少一个可检测图案的振荡波束(其中所述第二能量源可操作地联接到材料床)；配置为检测与可检测图案的偏差的检测器(其中所述检测器可操作地联接到材料床)；以及控制器(或至少一个控制器)，其可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导第一能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体；(ii)引导第二能量束以生成可检测图案(例如在形成期间)；(iii)评估与可检测图案的偏差；并且(iv)使用(例如至少部分地)该评估(例如估计)来控制第一能量束的至少一个特征，以形成3D物体。能量源和/或检测器可以可操作地联接到材料床。
该系统可包括使用该评估来控制(例如改变)打印的一个或多个部件(例如机构)的功能。操作(iv)中的使用可实时在3D物体形成期间。第一能量源可不同于第二能量源。第一能量源和第二能量源可为相同能量源。第一能量束可不同于第二能量束。第一能量源可具有与第二能量源(例如基本上)相同的特征。第一能量束可具有与第二能量束(例如基本上)相同的特征。与第二能量束相比，第一能量束可具有不同的特征。被编程以实现(i)至(iv)的至少一个控制器中的至少两个可为相同控制器。至少一个控制器可为多个控制器。被编程以实现(i)至(iv)的至少一个控制器中的至少两个可为不同控制器。第二能量束、第一能量束、或第一能量束和第二能量束两者可包括电磁辐射。第一能量束可为激光束。第二能量束可为发光二极管束。第二能量束可为可见光束。第一能量束可包括激光束。第二能量束可包括LED。第二能量源可包括数位镜。
在另一个方面，用于打印三维物体的系统包括：配置为含有包括具有平均平面度的暴露表面的材料床的外壳；配置为生成第一能量束的第一能量源，所述第一能量束将材料床的至少一部分转化成作为三维物体的部分的经转化的材料，所述三维物体至少部分地埋入材料中，其中所述三维物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度，其中所述第一能量源可操作地联接到材料床；配置为生成第二能量束的第二能量源，所述第二能量束是在暴露表面上投射以形成可检测图案的振荡波束，其中所述第二能量源可操作地联接到材料床；配置为检测与可检测的振荡图案中的偏差的检测器，其中所述检测器可操作地联接到材料床；以及至少一个控制器，其可操作地联接到材料床、第一能量源、第二能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导第一能量束以从材料床的至少一部分生成三维物体；(ii)例如在形成期间，引导第二能量束以生成可检测图案；(iii)评估与可检测的振荡图案的任何偏差；并且(iv)至少部分地基于与可检测的振荡图案的任何偏差，控制第一能量束的至少一个特征，以形成三维物体。操作(iv)中的控制可实时在三维物体形成期间。第二能量束、第一能量束、或第一能量束和第二能量束两者可包括电磁辐射。第一能量源可包括激光器。第二能量源可包括数位镜。第一能量源可不同于第二能量源。第一能量束可不同于第二能量束。振荡波束可包括第一波长，所述第一波长不同于在3D物体的形成中使用的转化能量束的第二波长。振荡波束可以第一角度投射到暴露表面上，并且转化能量束可以第二角度投射到暴露表面上。第一角度可不同于第二角度。第二能量束可与第一能量分开。分开可在位置、波长、检测、束轨迹或其任何组合方面。(i)至(iv)中的至少两个可由相同控制器执行。(i)至(iv)中的至少两个可由不同控制器执行。
在另一个方面，用于检测3D物体的仪器包括：包括具有平均平面度的暴露表面的材料床；配置为生成第一能量束的第一能量源，所述第一能量配置为将材料床的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述3D物体至少部分地埋入材料床中，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度，其中所述第一能量源可操作地联接到材料床和/或与材料床相邻设置；配置为生成(例如在三维物体形成期间)第二能量束的第二能量源，所述第二能量束是配置为在暴露表面上投射以形成至少可检测图案的振荡波束，其中所述第二能量源可操作地联接到材料床和/或与材料床相邻设置；以及配置为检测与可检测图案的偏差的检测器，所述偏差指示与3D物体的所需结构和/或位置的变化。该变化可指示3D物体的至少一部分中的变形。该仪器可包括使用该偏差来控制(例如改变)3D物体形成(例如作为转化的部分)的一个或多个部件(例如机构)的功能。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括：控制器(例如，或至少一个控制器)，其被编程为引导：(a)处置具有平均平坦暴露表面的材料床；(b)第一能量束，以从材料床的至少一部分生成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述3D物体至少部分地埋入材料床中，其中所述3D物体引起暴露表面的至少一部分偏离平均平面度；(c)第二能量束，以生成投射在暴露表面上的图案(例如在形成期间)；并且(e)检测器，以检测与暴露表面上的图案的偏差，所述偏差指示与3D物体的所需结构或位置的变化，并且其中所述控制器可操作地联接到材料床、检测器、第一能量束和第二能量束。引导(a)至(e)的至少一个控制器中的至少两个可为相同控制器。引导(a)至(e)的至少一个控制器中的至少两个可为不同控制器。至少一个控制器可为多个控制器。该仪器可包括使用该偏差来控制(例如改变)3D物体形成的一个或多个部件(例如机构)的功能。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收第一输入信号，所述第一输入信号包括投射在材料床的暴露表面上的图案，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；(b)从传感器接收第二输入信号，所述第二输入信号包括与投射在材料床的暴露表面上的图案的偏差(例如在形成期间)，其中所述材料床包括至少部分地埋入材料床中的3D物体的至少一部分；并且(c)将第一输入信号与第二输入信号进行比较以生成结果，所述结果指示与3D物体的所需结构或位置的变化。计算机软件产品还可促使计算机执行包括以下的操作：基于结果引导能量束以改变能量束的至少一个特征。能量束可转化材料床的至少一部分，以形成3D物体的至少一部分。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。比较可在3D物体形成期间。操作可包括使用结果来控制(例如改变)3D物体形成的一个或多个部件(例如机构)的功能。计算机软件产品还可促使计算机执行包括以下的操作：基于结果引导能量束以改变形成的至少一个机构的功能。
在另一个方面，用于生成3D物体的方法包括：(a)通过3D打印生成3D物体的(例如作为部分的第一层的)第一部分；(b)在3D打印期间执行暴露表面的至少一个位置的测量；(c)基于测量来评价3D打印的至少一个特征的改变，所述评价在3D打印期间；并且(d)通过3D打印生成3D物体的(例如作为部分的第一层或第二层的)第二部分，所述生成根据评价结果。
第二层可不同于第一层。第二层可在第一层之后。随后可为直接随后。第一层的至少一部分可与第二层的至少一部分接触。第一部分的至少一部分可与第二部分的至少一部分接触。3D打印可为基于粉末的3D打印。粉末可包含元素金属、金属合金、陶瓷或元素碳的同素异形体。3D打印可包括使粉末熔化。熔化可包括熔融或烧结。熔化可包括使用能量束来熔化粉末的至少一部分，以形成经转化的材料，所述经转化的材料作为3D物体的部分硬化成硬化材料。能量束可为电磁波束或带电粒子束。电磁波束可为激光。带电粒子束可为电子枪。3D打印可为增材制造。增材制造可包括选择性激光熔融、选择性激光烧结或直接金属激光烧结。第一部分可设置在材料床中，并且其中所述暴露表面可包括材料床的暴露表面。第一部分可设置在材料床中，并且其中所述暴露表面可包括3D物体的暴露表面。3D物体的暴露表面可包括第一部分的暴露表面。执行测量可包括原位执行测量。执行测量可包括在3D打印期间实时执行测量。执行测量可包括光学测量。光学测量可包括使用光敏材料，所述光敏材料改变其性质中的至少一种作为对辐射的响应。光敏材料可包括p型掺杂的金属氧化物半导体(MOS)或互补型MOS(CMOS)。光学测量可包括使用电荷耦合器件(CCD)照相机。光学测量可包括使用叠加波。光学测量可包括使用干涉仪。执行测量可包括测量至少一个位置的温度。执行测量可包括测量至少一个位置的定位和温度。执行测量可包括执行在至少一个位置处的定位测量。位置可包括垂直或水平位置。执行测量可包括测量至少一个位置的曲率。执行测量可以至少约为每一秒(1赫兹)的频率。执行测量可包括用扫描能量束扫描暴露表面。扫描能量束可包括形状。扫描能量束可包括波动图案。波动图案可在时间和/或空间上波动。扫描能量束可在暴露表面上产生波动图案。扫描能量束可包括可检测的辐射。评价可包括将扫描能量束的检测形状与扫描能量束的预期形状进行比较，以产生结果。该方法还可包括基于结果控制3D打印的至少一个特征。至少一个特征可包括控制层分配机构(例如材料分配器、平整机构和/或材料去除机构)、能量束、能量源和/或光学系统。评价可包括使用处理单元处理从测量获得的至少一个信号，以生成结果。处理单元在最多一分钟的时间内生成结果。该过程可包括图像处理。评价可包括基于至少一个位置的测量来生成地图。该地图可为拓扑地图。该地图可为温度地图。该地图可为材料床、材料床的暴露表面、3D物体、硬化材料层、熔池或其任何组合的地图。拓扑地图可使用计量传感器形成。计量传感器可包括条纹图案的投射。计量传感器可包括条纹投射轮廓测量装置。计量传感器可为高度测绘仪。计量传感器可包括感测能量束(例如发射器)和接收器。发射器可包括投影仪。发射器可将感测能量束投射到靶表面上。靶表面可包括材料床的暴露表面、硬化材料层、3D物体或熔池。感测能量束可在暴露表面上形成图案。该图案可包括不同水平的光强度的区域。光强度分布可包括开关模式。光强度分布可包括波动图案。波动图案可包括逐渐波动的强度分布或突然波动的强度分布。波动图案可为多重正弦波的叠加。波动图案可为多重频率函数(例如，正弦函数和/或余弦函数)的叠加。波动图案可包括正弦波递减函数的叠加。递减函数可为线性递减、对数递减、指数递减或其任何组合。波动图案可包括多重功能(例如，其为叠加的)。功能的多重性可转变(例如通过相)。检测器可包括多重感测能量束。多重能量束可形成干涉图案。波动图案可包括干涉图案。投射的感测能量束可具有相同或不同的颜色。投射的感测能量束可具有相同或不同的频率。可同时或序贯地投射各种多重投射感测能量束。检测系统可包括多重检测器(例如多重接收器和/或发射器)。多重接收器和/或发射器可从多重空间位置观察靶位置。多重空间位置可形成多视角图像。计量检测器(例如高度测绘仪)可确定靶表面(例如粉末床的暴露表面、3D物体或熔池)的均匀性。均匀性可包括靶表面的标准差、平均值或平均高度。均匀性可包括靶表面内的高度歪曲、趋势或阶梯。计量检测器可区分沿着粉末床的长度和宽度的均匀性。粉末床的长度可为层分配器机构沿着其平移的方向。粉末床的宽度可为与层分配器机构沿着其平移的方向垂直的方向。
3D打印可包括使用能量束来转化材料床的至少一部分，以形成作为3D物体的部分的经转化的材料。转化操作可为熔融、烧结或固化。至少一个特征可包括由能量束转化的区域。至少一个特征可包括经转化的材料中的熔池的尺寸。至少一个特征可为能量束或材料床。至少一个特征可包括能量束和材料床的相对位置。至少一个特征可包括材料床的温度。能量束的至少一个特征可包括其平移速度、平移加速度、束焦点、阴影线、路径、波长、能量/单位面积、功率、横截面、横截面能量分布或同质性。同质性特征可包括经过停留时间的能通量同质性、或跨越能量束的横截面的同质性。3D打印还可包括使用扫描仪改变能量束与材料床之间的相对位置，并且其中所述至少一个特征可包括扫描仪的特征。扫描仪的至少一个特征可包括其平移速度、加速度、路径或阴影线。路径特征可包括路径连续性、曲率或方向。阴影线特征可包括阴影线间距、曲率或方向。至少一个位置基本上包括暴露表面的所有位置。至少一个位置可在远离能量束约一毫米的距离处。执行测量还可包括测量在其和能量束的相互作用处或与其和能量束的相互作用相邻的经转化的材料的温度。至少一个特征可包括能量束的每单位面积的能量。3D打印可包括使用能量束来转化材料床的至少一部分，以形成作为第二部分的部分的经转化的材料，并且其中所述至少一个特征可包括经转化的材料的基本长度尺度。3D打印可包括使用能量束来转化材料床的至少一部分，以形成作为第二部分的部分的经转化的材料，并且其中所述至少一个特征包括在经转化的材料中形成的熔池的基本长度尺度。3D打印的至少一个特征的改变可包括改变用于生成至少一个3D物体的生成装置的至少一个特征。生成装置可在3D打印中的至少一个形成参数下生成3D物体。改变至少一个特征可包括改变生成装置的至少一个形成参数。形成参数可为与3D物体形成有关的参数。
在另一个方面，用于打印至少一个3D物体的系统包括：(a)接收材料床的平台，其中在使用期间，材料床的至少一部分用于生成至少一个3D物体，其中所述材料床与平台相邻；(b)生成信号的装置，所述装置包括第一传感器，所述第一传感器感测一个或多个输入信号并生成第一输出信号，所述信号在3D物体的(例如作为部分的第一层的)第一部分生成期间生成；(c)用于使用3D打印在至少一个形成参数下生成3D物体的生成装置，其中所述生成装置与材料床相邻设置；以及(d)包括处理单元的控制器，所述处理单元被编程为：(i)处理输出信号以在作为3D物体的部分的第一层的生成期间，生成指示形成参数的结果；并且(ii)引导生成装置以在作为3D物体的部分的第一层或第二层的第二部分的生成期间，基于结果来改变生成装置的功能。生成装置可包括能量束或材料床。生成装置可包括扫描仪。生成装置可包括层分配机构或散热片。
在另一个方面，用于打印一个或多个3D物体的仪器包括控制器，所述控制器被编程为：(a)引导处理单元以处理从传感器接收的输出信号，并且在作为由3D打印方法形成的3D物体的部分的第一层形成期间，生成指示形成参数的结果，其中所述传感器在第一层的第一部分形成期间感测输入信号，其中所述控制器可操作地联接到传感器和处理单元；并且(b)引导在3D打印(例如方法)中使用的机构，以在3D物体的(第一层或第二层的)第二部分形成之前或形成期间，基于结果来改变机构的功能，其中所述控制器可操作地联接到机构。
在另一个方面，装置包括：计算机可读介质以及一个或多个处理器，所述处理器联接到所述计算机可读介质并且配置为促使装置：(a)获得第一敲击事件，所述第一敲击事件响应通过第一通信信道从至少一个感测装置接收信息而生成，所述感测装置感测第一暴露表面，所述一个或多个处理器通过第一通信信道可操作地联接到至少一个感测装置；(b)从第一敲击事件中提取第一感测装置标识符；(c)获得响应通过第一通信信道从至少一个感测装置接收的信息而生成的第二敲击事件，所述第二敲击事件从第二暴露表面获得，所述第二敲击事件在作为由3D打印生成的3D物体的部分的第一层的第一部分形成期间获得；(d)从第二敲击事件中提取第二感测装置标识符；(e)将第二感测装置标识符与第一感测装置标识符进行比较以确定变化；并且(f)基于变化，通过第二通信信道向3D打印中使用的至少一个机构发送打印变更操作请求，以改变机构的至少一个功能，所述打印变更操作请求在作为3D物体的部分的第一层或第二层的第二部分的形成之前或形成期间发送，其中所述一个或多个处理器通过第二通信信道可操作地联接到机构。感测装置包括位置或温度传感器。该机构可包括能量束。该信息可为传感器输出。“比较”操作可包括图像比较。
在另一个方面，计算机程序产品包括其上具有计算机代码的非暂时性计算机可读介质，所述计算机代码用于操纵3D打印过程，所述计算机代码包括：(a)第一程序代码，用于接收来自传感器的至少一个第一输入，其中所述传感器在作为由3D打印过程形成的3D物体的至少一部分的第一层的第一部分形成之前生成第一输入信号，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接传感器；(b)第二程序代码，用于接收来自传感器的至少一个第二输入，其中所述传感器在(例如第一层的)第一部分形成期间生成第二输入信号；(c)第三程序代码，用于将第一输入信号与第二输入信号进行比较并生成结果；以及(d)第四程序代码，用于在由3D打印过程形成的3D物体的(例如第一层或第二层的)的第二部分形成之前或形成期间，基于结果引导3D打印过程中使用的机构，以改变机构的功能，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到机构。
在另一个方面，计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)接收来自传感器的(例如至少一个)第一输入信号，其中所述传感器在由3D打印过程形成的3D物体的(例如作为其至少一部分的第一层)的第一部分形成之前生成第一输入信号，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接传感器；(b)从传感器接收(例如至少一个)第二输入信号，其中所述传感器在(例如第一层的)第一部分形成期间生成第二输入信号；(c)将第一输入信号与第二输入信号进行比较并生成结果；并且(d)在由3D打印过程形成的3D物体的(例如，其第一层或第二层的)的第二部分形成之前或形成期间，基于结果引导3D打印过程中使用的机构，以改变机构的功能，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到机构。
在另一个方面，用于生成至少一个3D物体的方法包括：设置预转化的材料(例如在外壳中以形成材料床)；用能量束转化预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)，以形成作为3D物体的部分的经转化的材料部分；并且使用闭环控制在转化期间实时控制能量束的至少一个特征，其中实时包括至多20微秒的循环采样时间。
预转化的材料可为微粒材料(例如粉末材料)。材料床可为粉末床。预转化的材料可选自金属合金、元素金属、陶瓷、元素碳的同素异形体、树脂和聚合物中的至少一个成员。预转化的材料可选自金属合金、元素金属、陶瓷和元素碳的同素异形体中的至少一个成员。能量束的至少一个特征可包括停留时间、横截面、覆盖区、功率/单位面积、平移速度、注量、通量或强度。闭环控制可使用包括温度的设定点或FLS设定点。经转化的材料可包含熔池。温度可包括材料床、转化材料、熔池、远离材料床的暴露表面上的能量束的覆盖区的位置、或其任何组合的温度。远离可为远离覆盖区的中心至多约20毫米。远离可为远离覆盖区的中心至多约10毫米。远离可为远离覆盖区的中心至多约5毫米。远离可为远离覆盖区的中心至多约1毫米。经转化的材料可包含熔池，并且其中所述FLS可包含材料床、经转化的材料或熔池的FLS。FLS可包含高度、深度、直径、等效直径、宽度或长度。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：设置在平台上方的预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将材料床的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料；配置为(a)感测现象并(b)生成输出信号的传感器；以及控制器，其可操作地联接到靶表面(例如，以及材料床)、传感器和能量束，并且被编程为：(i)引导能量束以从预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)生成3D物体；并且(ii)通过使用闭环控制，在(i)期间使用输出信号实时控制能量束的至少一个特征，其中实时包括至多20微秒的循环采样时间。
在另一个方面，用于形成3D物体的系统包括：配置为含有材料床的外壳；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将材料床的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料；配置为感测现象并生成输出信号的传感器；以及可操作地联接到材料床、传感器和能量束的至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为执行下述操作：操作(i)：引导能量束以从材料床的至少一部分生成3D物体；和操作(ii)：通过使用闭环控制，在操作(i)期间使用传感器的输出信号实时控制能量束的至少一个特征，其中实时包括至多20微秒的循环采样时间。能量源和/或传感器可以可操作地联接到材料床。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括：(例如，或至少一个)控制器，其被编程为(a)引导预转化的材料的设置(例如，并且因此引导材料床的生成)；(b)引导能量束以从预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)生成经转化的材料；(c)通过使用来自检测现象的检测器的信号，在(b)期间实时控制能量束的至少一个特征，所述控制包括使用该信号的闭环控制，所述闭环控制具有至多20微秒的采样时间，并且其中所述至少一个控制器可操作地联接到靶表面(例如，以及材料床)、检测器和能量束。(a)至(c)中的至少两个可由相同控制器实现。(a)至(c)中的至少两个可由不同控制器实现。至少一个控制器可包括多个控制器。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括：至少一个控制器，其被编程为执行下述操作：操作(a)：引导材料床的生成；操作(b)：引导能量束以从材料床的至少一部分生成经转化的材料；操作(c)通过使用来自检测现象的检测器的信号，在操作(b)期间实时控制能量束的至少一个特征，所述操作(c)中的控制包括使用该信号的闭环控制，所述闭环控制具有至多20微秒的采样时间，并且其中所述至少一个控制器可操作地联接到材料床、检测器和能量束。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)从传感器接收第一输入信号，其中所述传感器在3D物体形成期间(例如在材料床中)生成第一输入信号，其中所述传感器感测与3D物体的形成(例如对应于一个或多个熔池的形成)相关(例如对应)的现象，其中所述形成包括使用能量束来转化预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；(b)将输入信号与现象的设定点进行比较并生成结果；(d)基于结果引导生成能量束的能量源，以改变能量束的至少一个特征，所述比较(例如实时)在3D物体形成期间，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到能量源；并且(e)从传感器接收第二输入信号，其中从接收第一输入信号到接收第二输入信号所经过的时间为至多20微秒。非暂时性计算机可读介质可以可操作地联接到能量束。
在另一个方面，用于形成至少一个三维物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：操作(a)：从传感器接收第一输入信号，其中所述传感器在材料床中3D物体形成期间生成第一输入信号，其中所述传感器感测与3D物体的形成有关的现象，其中所述形成包括使用能量束来转化材料床的至少一部分，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到传感器；操作(b)：将输入信号与现象的设定点进行比较并生成结果；操作(d)基于结果引导生成能量束的能量源，以改变能量束的特性，其中所述操作(b)中的比较过程在3D物体形成期间发生，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到能量源；以及操作(e)从传感器接收第二输入信号，其中从接收第一输入信号到接收第二输入信号所经过的时间为至多20微秒。
在另一个方面，用于照射控制的系统包括：包含材料类型的靶表面；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为将靶表面的至少一部分转化成经转化的材料，所述能量束促使材料类型的至少一部分与靶表面分离；配置为检测靶表面的温度的检测器；以及至少一个控制器，其可操作地联接到靶表面、能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以在一个位置处照射靶表面；(ii)引导检测器以检测在位置处或位置附近的温度；(iii)评估在位置处的温度与靶温度值之间的偏差；并且(iv)使用评估控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量。该位置可在靶表面上的能量束的覆盖区内。与该位置相邻可包括半径等于从覆盖区的中心测量的至多约六个覆盖区FLS(例如直径)的区域。(i)至(iv)中的至少两个可由相同控制器控制。(i)至(iv)中的至少两个可由不同控制器控制。能量源和/或检测器可以可操作地联接到靶表面。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的系统包括：配置为生成导向靶表面的能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使经转化的材料的一小部分与靶表面分开；配置为检测在靶表面的位置处的温度的检测器，其中所述检测器可操作地联接到靶表面；以及可操作地联接到靶表面、能量源和检测器的至少一个控制器，其中所述至少一个控制器被编程为：(i)引导能量束以照射预转化的材料；(ii)使用检测器来检测在位置处的温度；(iii)评估检测到的温度与靶温度分布之间的偏差；并且(iv)至少部分地基于任何偏差，控制能量束的至少一个特征，以改变与靶表面分开的一小部分的量。
检测器可以可操作地联接到能量源。温度分布可为单个值、温度范围或温度函数。至少一个控制器可被编程以控制能量束的至少一个特征，以基本上消除或阻止一小部分与靶表面的分开。基本上可相对于能量束的预期操作。基本上可相对于影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。(i)至(iv)中的至少两个可由相同控制器控制。(i)至(iv)中的至少两个可由不同控制器控制。靶表面可为材料床的暴露表面。暴露表面可通过包括旋风分离器的层分配机构来平坦化。预转化的材料可包括由元素金属、金属合金、陶瓷、元素碳的同素异形体和有机材料组成的组中的至少一个成员。预转化的材料可包括由元素金属、金属合金、陶瓷和元素碳的同素异形体组成的组中的至少一个成员。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末材料。分开可包括变成气载的，蒸发或形成等离子体。该位置可包括由靶表面上的能量束的覆盖区占据的区域、或与由覆盖区占据的区域相邻的位置。相邻在半径为覆盖区的至多约六个基本长度尺寸的区域中，所述区域在覆盖区处集中。至少一部分可包含熔池。改变可包括减少。改变可包括增加。随后分开的一小部分可形成碎片。碎片可包含碳烟。靶表面设置在外壳中。分开的一小部分还可与外壳中的一种或多种气体反应。一种或多种气体可包含氧或水。反应可包含化学反应。化学反应可包含氧化。碎片可影响将预转化的材料转化成经转化的材料。控制可包括使用处理器。控制可包括3D打印的物理过程的计算机模型。计算机模型可评估3D打印的物理过程的物理参数。靶温度值可小于(I)在其下一小部分与靶表面分开(例如分离)的温度，(II)材料类型的蒸发温度，(III)材料类型的等离子体形成温度，或(IV)其任何组合。能量束的至少一个特征可包括停留时间、覆盖区、横截面、功率/单位面积、平移速度、焦点、注量、通量或强度。
在另一个方面，用于至少一个三维物体的三维打印的系统包括：配置为含有包括预转化的材料的材料床的外壳，所述预转化的材料包含材料类型；配置为生成能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料的至少一部分转化成作为三维物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离；配置为检测材料床的温度的检测器；以及可操作地联接到材料床、能量源和检测器的至少一个控制器，其中所述至少一个控制器被编程为：(i)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分；(ii)检测在材料床的位置处的温度；(iii)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差以产生结果；并且(iv)使用结果控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，特别是通过蒸发或形成等离子体。能量源可以可操作地联接到材料床。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的系统包括：(例如配置为含有)包括预转化的材料的材料床，所述预转化的材料包含材料类型；配置为生成能量束的能量源，所述能量束配置为将预转化的材料的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离；配置为检测材料床的温度的检测器；以及至少一个控制器，其可操作地联接到材料床、能量源和检测器，并且被编程为：(i)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分；(ii)引导检测器以检测在材料床的位置处的温度；(iii)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差；并且(iv)使用评估控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量。
检测器可以可操作地联接到材料床。材料床可包括暴露表面。暴露表面可具有平均或均值平面度。材料类型可包含元素。材料类型可包含元素金属、金属合金、陶瓷或元素碳的同素异形体。材料类型可包含聚合物。材料类型可包含有机材料。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末材料。从材料床分离的材料类型可蒸发和/或形成等离子体。材料床的位置可包括与至少一部分相邻的位置。相邻可包括至少一部分的一个或多个FLS倍数。至少一部分可包含熔池。改变可包括减少。改变可包括增加。从材料床分离的材料类型的量可随后形成碎片。材料床可设置在外壳内，并且从材料床分离的材料类型的量还可与外壳中的一种或多种气体反应。一种或多种气体可包含氧或水。反应可包含化学反应。化学反应可包含氧化。碎片可包含碳烟。改变可包括基本上消除。基本上可相对于能量束的预期操作。碎片可影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。改变可包括(例如基本上)减少碎片的量。改变可包括(例如基本上)消除碎片。基本上可相对于影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。控制可包括使用处理器。该系统还可包括3D打印的物理过程的计算机模型。计算机模型可评估3D打印的物理过程的物理参数。靶温度可小于在其下材料类型从材料床分离的温度。靶温度可小于材料类型的蒸发温度。靶温度可小于材料类型的等离子体形成温度。能量束的特征可包括停留时间、覆盖区、横截面、功率/单位面积、平移速度、焦点、注量、通量或强度。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的仪器包括至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为：(a)引导包括预转化的材料的材料床的生成，所述预转化的材料包含材料类型；(b)引导生成能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离；(c)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分，并且将预转化的材料转化成作为3D物体的部分的经转化的材料；(d)引导检测器以检测在材料床的位置处的温度；(e)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差；并且(f)使用评估控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，其中所述至少一个控制器可操作地联接到材料床、检测器和能量源。被编程为执行(a)至(f)的至少一个控制器中的至少两个可为不同控制器。(a)至(f)中的至少两个可由相同控制器执行。至少一个控制器可为多个控制器。在另一个方面，用于至少一个三维物体的三维打印的仪器包括：至少一个控制器，其被编程为(a)引导包括预转化的材料的材料床的生成，所述预转化的材料包含材料类型；(b)引导生成能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离，特别是通过蒸发或形成等离子体；(c)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分，并且将预转化的材料转化成作为三维物体的部分的经转化的材料；(d)引导检测器以检测在材料床的位置处的温度；(e)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差以产生结果；并且(f)使用结果控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，其中所述至少一个控制器可操作地联接到材料床、检测器和能量源。
材料床可包括暴露表面。暴露表面可具有平均或均值平面度。材料类型可包含元素。材料类型可包含元素金属、金属合金、陶瓷或元素碳的同素异形体。材料类型可包含聚合物。材料类型可包含有机材料。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末材料。从材料床分离的材料类型可蒸发和/或形成等离子体。材料床的位置可包括与至少一部分相邻的位置。相邻可包括至少一部分的一个或多个FLS倍数。至少一部分可包含熔池。改变可包括减少。改变可包括增加。从材料床分离的材料类型的量可(例如随后)形成碎片。材料床可设置在外壳内，并且从材料床分离的材料类型的量还可与外壳中的一种或多种气体反应。一种或多种气体可包含氧或水。反应可包含化学反应。化学反应可包含氧化。碎片可包含碳烟。改变可包括减少(例如基本上消除，其中基本上可相对于能量束的预期操作)。碎片可影响预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。改变可包括减少碎片(例如基本上消除碎片，其中基本上可相对于影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料)。控制可包括使用处理器。该仪器还可包括3D打印的物理过程的计算机模型。计算机模型可评估3D打印的物理过程的物理参数。靶温度可小于在其下材料类型从材料床分离的温度。靶温度可小于材料类型的蒸发温度。靶温度可小于材料类型的等离子体形成温度。能量束的特征可包括停留时间、覆盖区、横截面、功率/单位面积、平移速度、焦点、注量、通量或强度。
控制器(例如至少一个控制器)可包括处理器。控制器可包括比例积分微分(PID)控制器。控制器可包括嵌套控制器。控制器可被编程为执行闭环控制。控制器可被编程为执行开环控制。控制器可包括反馈控制。控制器可包括前馈控制。PID控制器可包括温度控制器。PID控制器可包括计量控制器。嵌套控制器可包括温度控制器或计量控制器。嵌套控制器可包括第一温度控制器或第二温度控制器。嵌套控制器可包括第一计量控制器或第二计量控制器。
在另一个方面，用于至少一个三维物体的三维打印的方法包括：(a)将包含材料类型的预转化的材料设置在外壳中，以形成材料床；(b)投射能量束，所述能量束将预转化的材料的至少一部分转化成作为三维物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离，特别是通过蒸发或形成等离子体；(c)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分；(d)检测在材料床的位置处的温度；(e)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差以产生结果；并且(f)控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，所述控制使用结果。
在另一个方面，用于照射控制的方法包括：投射能量束，所述能量束将靶表面的至少一部分转化成经转化的材料，所述能量束促使材料类型的至少一部分从靶表面分离；检测在靶表面的位置处的温度；评估在位置处的温度与靶温度值之间的偏差；并且控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，所述控制使用评估。该位置可在靶表面上的能量束的覆盖区内。与该位置相邻可包括半径等于从覆盖区的中心测量的至多约六个覆盖区FLS(例如直径)的区域。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的方法包括：(a)将预转化的材料设置在平台上方；(b)将能量束导向预转化的材料，以将预转化的材料转化成产生3D物体的至少一部分的经转化的材料；(c)在位置处用能量束照射3D物体的至少一部分，其中所述能量束任选促使经转化的材料的一小部分与3D物体的至少一部分分开；(d)检测在位置处的温度；(e)评估在位置处在(d)中检测到的温度与靶温度分布之间的偏差；并且(f)使用评估来控制能量束的至少一个特征，以改变从3D物体的至少一部分分离的一小部分的量。
在操作(f)中，可控制能量束的至少一个特征，以基本上消除或阻止一小部分与3D物体的至少一部分分开。基本上可相对于能量束的预期操作。基本上可相对于影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。靶表面可为材料床的暴露表面。该方法还可包括通过使用包括旋风分离器的层分配机构使暴露表面平坦化。预转化的材料可包括由元素金属、金属合金、陶瓷、元素碳的同素异形体和有机材料组成的组中的至少一个成员。预转化的材料可包括由元素金属、金属合金、陶瓷和元素碳的同素异形体组成的组中的至少一个成员。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末材料。分开可包括变成气载的，蒸发或形成等离子体。该位置可包括由靶表面上的能量束的覆盖区占据的区域、或与由覆盖区占据的区域相邻的位置，其中相邻可在半径为覆盖区的至多约六个基本长度尺寸的区域中，所述区域在覆盖区处集中。至少一部分可包含熔池。改变可包括减少。改变可包括增加。随后分开的一小部分形成碎片。碎片可包含碳烟。靶表面可设置在外壳中，并且其中所述分开的一小部分还与外壳中的一种或多种气体反应。一种或多种气体可包含氧或水。反应可包含化学反应。化学反应可包含氧化。碎片可影响(例如在操作(a)中)将预转化的材料转化成经转化的材料。靶温度值可小于(I)在其下一小部分与靶表面分开的温度，(II)材料类型的蒸发温度，(III)材料类型的等离子体形成温度，或(IV)其任何组合。能量束的至少一个特征可包括停留时间、覆盖区、横截面、功率/单位面积、平移速度、焦点、注量、通量或强度。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的方法包括：(a)将包含材料类型的预转化的材料设置在外壳中，以形成材料床；(b)投射能量束，所述能量束将预转化的材料的至少一部分转化成作为3D物体的部分的经转化的材料，所述能量束任选促使材料类型的至少一部分从材料床分离；(c)引导能量束以照射预转化的材料的至少一部分，并且将预转化的材料转化为作为3D物体的部分的经转化的材料；(d)检测在材料床的位置处的温度；(e)评估在位置处的温度与靶温度之间的偏差；并且(f)控制能量束的至少一个特征，以改变从材料床分离的材料类型的量，所述控制使用评估。
材料床可包括暴露表面。暴露表面可具有平均或均值平面度。材料类型可包含元素。材料类型可包含元素金属、金属合金、陶瓷或元素碳的同素异形体。材料类型可包含聚合物。材料类型可包含有机材料。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末材料。从材料床分离的材料类型可蒸发或形成等离子体。材料床的位置可包括与至少一部分相邻的位置。相邻可包括至少一部分的一个或多个FLS倍数。至少一部分可包含熔池。改变可包括减少。改变可包括增加。从材料床分离的材料类型的量可随后形成碎片。材料床可设置在外壳内，并且从材料床分离的材料类型的量还可与外壳中的一种或多种气体反应。一种或多种气体可包含氧或水。反应可包含化学反应。化学反应可包含氧化。碎片可包含碳烟。改变可包括减少(例如基本上消除，其中基本上可相对于能量束的预期操作)。碎片可影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。改变可包括减少(例如基本上消除)碎片，其中基本上可相对于影响将预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。控制可包括使用至少一个处理器。3D打印的物理过程的计算机模型可评估3D打印的物理过程的至少一个物理参数。靶温度可小于在其下材料类型从材料床分离的温度。靶温度可小于材料类型的蒸发温度。靶温度可小于材料类型的等离子体形成温度。能量束的特征可包括停留时间、覆盖区(例如在材料床的暴露表面上)、横截面、功率/单位面积、平移速度、焦点、注量、通量或强度。
在另一个方面，用于从物理模型生成多层物体的方法包括：(a)用能量束转化材料床的至少一部分，以形成多层物体的一部分；(b)测量在材料床上的位置处的物理性质，所述位置与多层物体的一部分相邻；(c)评估物理性质的测量值与靶值的偏差以产生结果，所述靶值从物理模型获得；并且(d)控制能量束的至少一个特征，以实现物理性质的靶值，所述控制使用结果。
在另一个方面，用于(从物理模型)生成多层(例如3D)物体的方法包括：(a)用能量束将预转化的材料的至少一部分(例如，其形成材料床)转化为经转化的材料，以形成多层物体的一部分；(b)测量在材料床上的位置处的物理性质，所述位置与多层物体的一部分相邻；(c)评估物理性质的测量值与靶值的偏差，所述靶值从(3D物体的)物理模型获得；并且(d)控制能量束的至少一个特征，以实现物理性质的靶值，其中控制使用评估。
物理模型可为相似模型。相似模型可包括电模型。相似模型可包括电子模型。相似模型可包括电路。相似模型可包括电阻器。相似模型可包括电容器。相似模型可包括接地元件。相似模型可包括电流源。相似模型可包括电压元件。相似模型可包括电支路。电支路可包括耦合(例如并联)到电容器的电阻器。电分支可表示多层(例如3D)物体的至少一部分的物理性质。物理性质可包括(i)能量束、(ii)成形多层物体和/或(iii)材料床随着时间推移的热分布。物理性质可包括(i)能量束、(ii)成形多层物体和/或(iii)材料床的热历史。物理性质可包括(i)能量束、(ii)成形多层物体和/或(iii)材料床随着时间推移的能量分布。物理性质可包括(i)能量束、(ii)成形多层物体和/或(iii)材料床的停留时间序列。成形多层物体(例如3D物体)可包括多层物体的先前形成的部分。电子模型以电子方式(例如基本上)模仿影响3D物体打印的物理性质。预转化的材料可用于材料床(或可为材料床的一部分)。可使用包括旋风分离器的仪器使材料床平坦化。转化可在将预转化的材料引导到平台期间。预转化的材料可包含液体、固体或半固体。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可选自元素金属、金属合金、陶瓷和元素碳的同素异形体中的至少一个成员。物理性质可为物理属性。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的系统包括：设置在外壳中的平台；配置为提供能量束的能量源，所述能量束将预转化的材料转化为经转化的材料，所述能量束被导向平台，并且所述能量源可操作地联接到平台；配置为检测经转化的材料的物理性质的检测器，所述检测器可操作地联接到平台；以及可操作地联接到能量源和检测器的控制器，其中所述控制器被编程为(i)引导能量束以将预转化的材料的至少一部分转化为经转化的材料，以形成三维物体的一部分；(ii)引导检测器以测量在3D物体的一部分处或与3D物体的一部分相邻的位置处的物理性质；(iii)评估物理性质的测量值与靶值的偏差，所述靶值从包括电模型的3D物体的物理模型获得；并且(iv)使用(iii)中的评估来控制能量束的至少一个特征，以达到物理性质的靶值。
物理模型可在至少一个3D物体形成期间实时调整。实时可在沿着形成熔池的阴影线的能量束的停留时间期间。控制器可包括闭环、开环、前馈或反馈控制。物理模型可包括在至少一个3D物体形成期间实时优化的一个或多个自由参数。控制器可包括内部状态模型，其提供至少一个3D物体的形成的内部状态的估计。内部状态可源自一个或多个测量，其包括控制变量的测量或输入参数的测量。内部状态模型可包含状态观测器。控制器可包括图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、可编程逻辑装置(PLD)或现场可编程门阵列(FPGA)。电气部件可包括有源、无源或机电部件。机电部件可包括压电装置、晶体、谐振器、端子、连接器、电缆组件、开关、保护装置、机械附件、印刷电路板、忆阻器或波导。电子部件可包括可变或不可变部件。电子部件可能不是可变的。控制模型可包括多个电气部件。控制模型可包括模拟和/或模仿多个电气部件的操作的软件(例如，其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质)。预转化的材料可为材料床的至少一部分。使用包括旋风分离器的层分配机构使材料床平坦化。转化可在将预转化的材料引导到平台期间。预转化的材料可包含液体、固体或半固体。预转化的材料可包含微粒材料。微粒材料可选自元素金属、金属合金、陶瓷和元素碳的同素异形体中的至少一个成员。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的系统包括：(a)将预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)转化为经转化的材料的能量束；(b)包括与所请求的3D物体有关的控制模型的控制器，所述控制模型配置在控制器中，所述控制器可操作地联接到能量束，并且被编程为引导能量束，以转化预转化的材料(例如，其为材料床的至少一部分)，以使用控制模型形成至少一个3D物体，所述控制模型包括电子元件。
控制模型可在至少一个三维物体形成期间实时调整。实时可在沿着形成熔池的阴影线的能量束的停留时间期间。参数可包含温度、高度或功率密度。至少一个3D物体可为多个3D物体。多个3D物体可在相同材料床中形成。多个3D物体可平行形成。控制器可包括闭环控制或开环控制。控制器可包括反馈控制或前馈控制。控制模型可包括在至少一个3D物体形成期间实时优化的一个或多个自由参数。控制器可包括内部状态系统(例如内部状态模型)，其提供至少一个3D物体的形成的内部状态的估计。内部状态可源自一个或多个测量，其包括控制变量的测量或输入参数的测量。内部状态系统可包括状态观察器。控制模型可包括状态观察器模型。控制器可包括图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、可编程逻辑装置(PLD)或现场可编程门阵列(FPGA)。(至少一个)3D物体可基本上类似于所请求的(至少一个)3D物体。基本上可相对于(至少一个)3D物体的预期目的。电气部件可包括有源、无源或机电部件。有源部件可包括二极管、晶体管、集成电路、光电器件、显示装置、真空管、放电装置或电源。无源部件可包括电阻器、电容器、磁性装置、忆阻器、网络、换能器、传感器、检测器、天线、振荡器、显示装置、滤波器、绕线或实验电路板。机电部件可包括机械附件、印刷电路板或忆阻器。电子部件可能是可变的。电子部件可能不是可变的。控制模型可包括多个电气部件。控制模型可以电子方式基本上模仿影响成形3D物体的物理性质。基本上可相对于3D物体的预期目的。
在另一个方面，用于至少一个3D物体的3D打印的系统包括：(a)将预转化的材料转化为经转化的材料的能量束；以及(b)包括与所请求的3D物体有关的计算机模型的控制器，所述控制器可操作地联接到能量束，并且被编程为引导能量束，以使用计算机模型将预转化的材料转化为经转化的材料，所述计算机模型包括模仿3D打印的至少一部分的电子元件。
包括电子元件的计算机模型可在3D打印期间进化。进化可为实时的。实时可包括在3D物体形成期间。实时可包括在3D物体的层形成期间。实时可包括在形成3D物体的层的阴影线期间。实时可在能量束沿着其传播以形成3D物体的层的路径期间。实时可在作为3D物体的部分的至多两个连续熔池形成期间。实时可在作为3D物体的部分的至多一个熔池形成期间。计算机模型可包括自适应控制。计算机模型可包括模型预测控制。计算机模型可基于达到阈值所需的时间跨度进化。阈值可为作为3D物体的部分的熔池的温度。熔池的温度可从熔池的暴露表面测量。阈值可为在熔池的附近处的位置的温度。附近可为熔池的至多五个FLS。在附近处的位置可在材料床的暴露表面中。计算机模型可包括多个电子元件，其共同模仿3D物体的至少一部分的3D打印的至少一部分。计算机模型可包括多个电子元件的体系结构，其模仿3D物体的至少一部分的3D打印的至少一部分。模仿可包括在其3D打印期间3D物体的至少一部分的机械或热行为。机械行为可包括塑性或弹性行为。计算机模型可考虑3D物体的至少一部分的材料性质。控制模型可在3D打印的至少一部分期间实时调整。实时可在形成熔池的能量束的停留时间(例如沿着阴影线)期间。参数可包含温度、高度或功率密度。至少一个3D物体可为多个3D物体。多个3D物体可在相同材料床中形成。多个3D物体可平行形成。控制器可包括闭环控制或开环控制。控制器可包括反馈控制或前馈控制。控制模型可包括在至少一个3D物体形成期间实时优化的一个或多个自由参数。控制器可包括内部状态系统，其提供至少一个3D物体的形成的内部状态的估计。控制可包括自适应控制。控制可包括模型预测控制。控制算法可在3D打印期间实时进化。实时可在3D物体的层形成期间。内部状态可源自一个或多个测量，其包括控制变量的测量或输入参数的测量。内部状态系统可包括状态观察器。控制模型可包括状态观察器模型。控制器可包括图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、可编程逻辑装置(PLD)或现场可编程门阵列(FPGA)。3D物体可(例如基本上)类似于所请求的3D物体。基本上可相对于3D物体的预期目的。电气部件可包括有源、无源或机电部件。有源部件可包括二极管、晶体管、集成电路、光电器件、显示装置、真空管、放电装置或电源。无源部件可包括电阻器、电容器、磁性装置、忆阻器、网络、换能器、传感器、检测器、天线、振荡器、显示装置、滤波器、绕线或实验电路板。机电部件可包括机械附件、印刷电路板或忆阻器。电子部件可能是可变的。电子部件可能不是可变的。控制模型可包括多个电气部件。控制模型可以电子方式基本上模仿影响成形3D物体的物理性质。基本上可相对于3D物体的预期目的。
在另一个方面，用于形成3D物体的方法包括：(a)用能量束转化材料床的一部分，以形成3D物体的至少一部分；并且(b)用包括与所请求的3D物体有关的控制模型的控制器，(例如实时)控制能量束的至少一个特征，所述控制模型配置在控制器中，其中所述3D物体基本上类似于所请求的3D物体，其中所述控制模型包括电气部件。
控制模型可在3D物体形成期间实时调整。实时可在形成熔池的能量束的停留时间(例如沿着阴影线)期间。根据基准，控制可使用包括至少3次Tera浮点运算/秒的处理器。用能量束转化材料床的一部分以形成3D物体的至少一部分，并且用包括与所请求的3D物体有关的控制模型的控制器实时控制能量束的至少一个特征，可在调整能量束的至少一个特征之后重复。闭环控制可使用至少一个阈值。控制模型可包括相对于所请求的3D物体模型的简化模型。基本上可相对于3D物体的预期目的。控制模型可包括状态观察器模型。控制模型可包括模拟。模拟可包括3D打印的(例如在其3D打印期间成形3D物体的相应行为的)温度或机械模拟。该模拟可包括3D物体的材料性质。该模拟可包括3D物体的几何形状。物理模型、控制模型和/或计算机模型可在3D物体形成期间(例如在能量束的照射期间)实时动态调整。电气部件可包括有源、无源或机电部件。有源部件可包括二极管、晶体管、集成电路、光电器件、显示装置、真空管、放电装置或电源。无源部件可包括电阻器、电容器、磁性装置、忆阻器、网络、换能器、传感器、检测器、天线、振荡器、显示装置、滤波器、绕线或实验电路板。机电部件可包括机械附件、印刷电路板或忆阻器。电子部件可能是可变的。电子部件可能不是可变的。物理模型可包括多个电气部件。物理模型可以电子方式(例如基本上)模仿影响成形3D物体的物理性质。基本上可相对于3D物体的预期目的。
在另一个方面，用于形成3D物体的仪器包括至少一个控制器，所述至少一个控制器被编程为(a)引导能量束以转化材料床的一部分，以形成3D物体的至少一部分；并且(b)(例如实时)控制能量束的至少一个特征，其中所述控制器包括与所请求的3D物体有关的计算机模型，所述计算机模型配置在控制器中，其中所述3D物体基本上类似于所请求的3D物体，其中所述计算机模型包括电气部件。操作(a)和(b)可由相同控制器引导。操作(a)和(b)可由不同控制器(例如，其是彼此可操作地联接的)引导。计算机模型可模仿和/或类似于(例如成形3D物体的)热机械模型。
在另一个方面，用于形成至少一个3D物体的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)引导能量束以转化材料床的一部分以形成3D物体的至少一部分；并且(b)使用计算机模型来(例如实时)控制能量束的至少一个特征，所述计算机模型与所请求的3D物体有关，所述计算机模型可操作地联接到控制器，其中所述3D物体基本上类似于所请求的3D物体，其中所述计算机模型包括电气部件。计算机模型可模仿和/或类似于(例如成形3D物体的)热机械模型。
在另一个方面，用于评估熔池的基本长度尺度的方法包括：将能量束引导到靶表面，所述能量束通过靶表面上的至多约50百分比的能量束覆盖区的空间振幅在空间上振荡；并且在振荡期间：(a)使用温度值来评估基本长度尺度，其包括：(I)将生成能量束的能量源的功率保持在恒定值或基本上恒定的值；(II)(例如实时)测量当它振荡时与覆盖区重合的靶表面处的位置的第一温度，并且通过随着时间推移重复测量来收集温度值，直到熔池在靶表面处形成；并且(III)通过使用温度值的平均最小值和温度值的平均最大值推导出熔池的基本长度尺度；或(b)使用功率值来评估基本长度尺度，其包括：(i)将第二温度(例如实时)控制在恒定温度值下，所述第二温度是当它振荡时与覆盖区重合的靶表面的位置具有的；(ii)(例如实时)测量生成能量束的能量源的功率，并且通过随着时间推移重复测量来收集功率值，直到熔池在靶表面处形成；并且(iii)从测量功率的平均最小值和测量功率的最大值推导出熔池的基本长度尺度。
靶表面可为材料床的暴露表面。材料床可包含微粒材料。微粒材料可包含粉末。材料床可包括选自元素金属、金属合金、陶瓷和元素碳的同素异形体的至少一种材料。转化可包括熔融或烧结。熔融可包括完全熔融。移动可为覆盖区的基本长度尺度的至多约10百分比。能量束可包括激光束或电子束。能量束可包括激光束。能量源可包括激光器或电子枪。能量源可包括激光器。实时包括在熔池形成期间。控制可包括闭环控制或反馈控制。使用可包括从温度值的平均最大值中减去温度值的平均最大值。使用可包括从温度值的平均最小值中减去功率值的平均最大值。能量束可以靶表面上的至多约30百分比的能量束覆盖区的空间振幅振荡。能量束可以靶表面上的至多约20百分比的能量束覆盖区的空间振幅振荡。能量束可以靶表面上的至多约10百分比的能量束覆盖区的空间振幅振荡。(a)中基本上恒定的值相对于诱导对测量温度的可忽略或不可检测的作用。(b)中基本上恒定的值相对于对可检测的功率变化的可忽略的作用。(III)中的包括考虑与温度值相关的覆盖区位置。(III)中的包括考虑与功率值相关的覆盖区位置。空间振荡可为沿着一个方向来回移动。方向可为形成熔池的线(例如直线)。熔池中的至少两个可至少部分重叠。基本长度尺度可包括直径或等效直径。
在另一个方面，用于评估熔池的基本长度尺度的系统包括：靶表面；配置为生成照射靶表面的振荡能量束的能量源，所述能量束在靶表面上的横截面是能量束的覆盖区，所述能量束配置为转化靶表面以形成熔池，所述能量束配置为通过靶表面上的至多约50百分比的能量束覆盖区的空间振幅在空间上振荡，其中所述能量源可操作地联接到靶表面；传感器包括：(A)配置为检测能量源的功率的功率传感器，或(B)配置为检测在靶表面处的覆盖区的位置处的温度的温度传感器，其中所述传感器可操作地联接到靶表面；以及至少一个控制器，其可操作地联接到能量源和能量束，并且被编程为：将空间振荡能量束引导到靶表面并且评估基本长度尺度，其包括：(a)(I)将电源的操作控制在恒定值或基本上恒定的值下，(II)引导当它振荡时与覆盖区重合的靶表面处的位置的第一温度的(例如实时)测量，并且引导通过随着时间推移重复测量的温度值收集，直到熔池在靶表面处形成，并且(III)引导通过使用温度值的平均最小值和温度值的平均最大值推导熔池的基本长度尺度；或(b)(i)将第二温度(例如实时)控制在恒定温度值下，所述第二温度是当它振荡时与覆盖区重合的靶表面的位置具有的；(ii)引导能量源的功率值的(例如实时)测量，并且引导通过随着时间推移重复测量的功率值收集，直到熔池在靶表面处形成；并且(iii)引导从测量功率的平均最小值和测量功率的最大值推导熔池的基本长度尺度。(I)至(III)中的至少两个可由相同控制器引导。(I)至(III)中的至少两个可由不同控制器引导。(i)至(iii)中的至少两个可由相同控制器引导。(i)至(iii)中的至少两个可由不同控制器引导。至少一个控制器包括闭环控制或反馈控制。靶表面可设置在外壳中。
在另一个方面，用于评估熔池的基本长度尺度的仪器包括至少一个控制器，所述至少一个控制器可操作地联接到(A)配置为生成能量束的能量源、以及(B)配置为照射且转化靶表面的一部分以形成熔池的能量束，所述能量束配置为通过靶表面上的至多约50百分比的能量束覆盖区的空间振幅振荡，所述至少一个控制器被编程为：将能量束引导至靶表面并且评估熔池的基本长度尺度，其包括：(a)(I)将电源的操作控制在恒定的功率值或基本上恒定的功率值下，(II)引导当它振荡时与覆盖区重合的靶表面处的位置的第一温度的(例如实时)测量，并且引导通过随着时间推移重复测量的温度值收集，直到熔池在靶表面处形成，并且(III)引导通过使用温度值的平均最小值和温度值的平均最大值推导熔池的基本长度尺度；或(b)(i)将第二温度(例如实时)控制在恒定温度值下，所述第二温度是当它振荡时与覆盖区重合的靶表面的位置具有的；(ii)引导能量源的功率值的(例如实时)测量，并且引导通过随着时间推移重复测量的功率值收集，直到熔池在靶表面处形成；并且(iii)引导从测量功率的平均最小值和测量功率的最大值推导熔池的基本长度尺度。(I)至(III)中的至少两个可由相同控制器引导。(I)至(III)中的至少两个可由不同控制器引导。(i)至(iii)中的至少两个可由相同控制器引导。(i)至(iii)中的至少两个可由不同控制器引导。至少一个控制器可包括闭环控制或反馈控制。至少一个控制器可包括开环控制或前馈控制。
在另一个方面，用于评估熔池的基本长度尺度的计算机软件产品包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使计算机执行包括以下的操作：(a)通过使用温度值的平均最小值和温度值的平均最大值推导出熔池的基本长度尺度，其中所述温度值是在靶表面处与第一能量束的覆盖区重合的位置，所述第一能量束照射靶表面并且通过靶表面上的至多约50百分比的覆盖区的空间振幅在空间上振荡，所述能量束由能量源生成，所述能量源保持在恒定或基本上恒定的功率值下；或(b)通过使用功率值的平均最小值和功率值的平均最大值推导出熔池的基本长度尺度，其中所述功率值是生成第二能量束的第二能量源具有的，所述第二能量束照射靶表面，其中在靶表面处与覆盖区重合的位置处的温度被控制在恒定温度值或基本上恒定的温度值下。
本公开的另一个方面提供了包括机器可执行代码的非暂时性计算机可读介质，所述机器可执行代码在由一个或多重计算机处理器执行时，实现上文或本文其它地方中的任何方法。
本公开的另一个方面提供了计算机系统，所述计算机系统包括一个或多重计算机处理器以及与其联接的非暂时性计算机可读介质。非暂时性计算机可读介质包括机器可执行代码，所述机器可执行代码在由一个或多重计算机处理器执行时，实现上文或本文其它地方中的任何方法。
在其它方面，系统或仪器可包括用于执行至少本文公开的方法的手段。
在另一个方面，计算机程序可促使本文公开的方法得以执行。
本发明的额外方面及优势将从以下详细描述对本领域的技术人员显而易见，其中仅展示并描述本发明的说明性实施例。将意识到，本发明能够具有其它及不同实施例，且其若干细节在各个其它方面能够加以修改，其皆不脱离本发明。因此，图式及描述本质上被视为说明性的，而非限制性的。
以引用方式并入
本说明书中所提到的所有公开案、专利及专利申请案在本文中以引用的方式以相同的程度并入，如每一个别公开案、专利、专利申请案明确地及个别地经指示以引用方式并入。
附图说明
本发明的创新特征在随附权利要求书中特别阐述。通过参考阐述其中利用本发明的原理的说明性实施例的下述详细描述，以及附图或图(在本文中也称为“FIG.”和“FIGs.”)，将获得本发明的特征和优点的更佳理解，其中：
图1显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图2示意性地示出了光学系统；
图3显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图4显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图5显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图6显示了3D物体的示意图；
图7显示了不同3D物体的各种垂直横截面视图的示意图；
图8显示了3D物体的水平视图；
图9示意性地示出了坐标系；
图10A-10C显示了各种3D物体及其方案；
图11示意性地示出了被编程为或以其它方式配置为促进一个或多个3D物体形成的计算机控制系统；
图12示出了路径；
图13示出了各种路径；
图14示出了3D打印系统部分的示意性侧视图(作为垂直横截面)；
图15示出了3D打印系统部分的示意性侧视图(作为垂直横截面)；
图16示出了3D打印系统部分的示意性侧视图(例如垂直横截面)；
图17显示了不同3D物体的各种垂直横截面视图的示意图；
图18显示了3D物体的图示；
图19显示了材料床的暴露表面；
图20显示了控制方案的表示；
图21A-21D显示了根据时间的强度的各种图示；
图22A-22D显示了根据时间测量的现象分布的各种图示；
图23A-23B显示了材料床中的示意性3D物体；
图24示意性地示出了用于形成一个或多个3D物体的控制系统；
图25示意性地示出了被编程为或以其它方式配置为在一个或多个3D物体形成期间促进碎片减少(例如避免)的控制系统；
图26A-26B显示了材料床的图示；
图27A-27B示意性地示出了各种相似(例如物理)模型；
图28A-28D显示了随着时间推移测量的物理分布的各种图示；
图29显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图30A-30D示意性地示出了3D打印过程中的各个步骤；并且图30E示意性地示出了与3D打印过程相关的图；
图31显示了材料层的示意性俯视图；
图32A-32D显示了根据时间测量的现象分布的各种图示；
图33显示了3D打印系统和仪器的示意性侧视图；
图34显示了3D物体中的横截面；
图35显示了3D物体；
图36示意性地示出了3D物体的一部分中的横截面；和
图37示意性地示出了光学检测系统的一部分中的垂直横截面。
图和其中的部件可不按比例绘制。本文描述的图的各种部件可不按比例绘制。各个附图中的任何尺寸仅用于说明性目的，并不预期是限制性的。没有列出或显现的其它尺寸和比例被考虑并预期包括在本发明的范围内。
具体实施方式
虽然本发明的各种实施例已在本文中展示并描述，但仅以实例提供的此类实施例对于本领域的技术人员来说将显而易见。许多改变、变化及替代可在不脱离本发明的情况下被本领域的技术人员想到。应理解，可采用本文中所描述的发明的实施例的各种替代方案。
术语例如“一个”、“一种”和“该/所述”不预期仅指单数实体，而是包括其中具体例子可用于示出的一般类别。本文的术语用于描述本发明的具体实施例，但它们的使用不限定本发明。
当提到范围时，除非另有说明，否则范围意指包含在内。例如，值1和值2之间的范围意指包含在内，并且包括值1和值2。包含在内的范围将跨越从约值1到约值2的任何值。除非另外指定，否则本文中使用的术语“在...之间”意谓包含性的。例如，在X和Y之间在本文中理解为意指从X到Y。如本文使用的，术语“相邻”或“与......相邻”包括‘紧靠’、‘邻接’、‘接触’和‘接近’。在一些情况下，相邻可为‘上方’或‘下方’。
术语“可操作地联接”或“可操作地连接”指第一机构联接(或连接)到第二机构，以允许第二机构和/或第一机构的预期操作。
三维打印(也称为“3D打印”)一般指用于产生3D物体的过程。例如，3D打印可指以受控方式序贯添加材料层或材料层(或材料层的部分)的相连，以形成3D结构。受控方式可包括自动控制。在3D打印过程中，设置的材料可被转化(例如熔化、烧结、熔融、粘结或以其它方式连接)，以(例如随后)硬化且形成3D物体的至少部分。熔化(例如烧结或熔融)结合或以其它方式连接材料在本文中统称为转化预转化的材料(例如粉末材料)。熔化预转化的材料可包括熔融或烧结预转化的材料。粘结可包括化学键合。化学键合可包括共价键结。3D打印的例子可包括增材打印(例如逐层打印或增材制造)。3D打印可包括分层制造。3D打印可包括快速原型制造。3D打印可包括固体自由成型。3D打印可包括直接材料沉积。3D打印可进一步包括消减打印。
在一些实施例中，3D物体包括悬挂结构。悬挂结构可为平面样结构(在本文中称为“三维平面”或“3D平面”)。与相对大的表面积相反，3D平面可具有相对小的宽度。例如，3D平面可具有相对于大水平投影(例如平面)的小高度。3D平面可为平面的、弯曲的、或采取无定形3D形状。3D平面可为条、叶片或凸耳。3D平面可包括曲率。3D平面可为弯曲的。3D平面可为平面的(例如平坦的)。3D平面可具有弯曲围巾的形状。3D物体可包括金属丝。
3D打印方法可包括挤出、金属丝、颗粒、层压、光聚合或粉末床和喷墨头3D打印。挤压3D打印可包括机器浇铸、熔融沉积成型(FDM)或熔丝制造(FFF)。金属丝3D打印可包括电子束自由制造(EBF3)。颗粒3D打印可包括直接金属激光烧结(DMLS)、电子束熔化(EBM)、选择性激光熔化(SLM)、选择性热烧结(SHS)或选择性激光烧结(SLS)。粉末床和喷墨头3D打印可包括基于石膏的3D打印(PP)。层压3D打印可包括层压物体制造(LOM)。光聚合3D打印可包括立体光刻(SLA)、数字光处理(DLP)或层压物体制造(LOM)。3D打印方法可包括直接材料沉积(DMD)。直接材料沉积可包括激光金属沉积(LMD，也称为激光沉积焊接)。3D打印方法可包括粉末进料或线沉积。
3D打印方法可不同于半导体装置制造中传统使用的方法(例如气相沉积、蚀刻、退火、掩模或分子束外延)。在一些例子中，3D打印可进一步包括传统用于半导体装置制造的一个或多个打印方法论。3D打印方法可与气相沉积方法(例如，化学气相沉积、物理气相沉积或电化学沉积)不同。在一些例子中，3D打印还可包括气相沉积方法。
本公开的方法、仪器、软件和系统可用于形成用于各种用途和应用的3D物体。这种用途和应用包括但不限于电子、电子部件(例如壳体)、机器、机器零件、工具、植入物、假体、时尚物品、服装、鞋或珠宝。植入物可引导(例如整合)至硬组织、软组织、或硬组织和软组织的组合。植入物可与硬组织和/或软组织形成粘附。机器可包括电机或电机零件。机器可包括交通工具。机器可包括航空航天相关的机器。机器可包括航空机。交通工具可包括飞机、无人机、汽车、火车、自行车、船或航天飞机(例如太空飞船)。机器可包含卫星或导弹。用途和应用可包括与本文列出的行业和/或产品有关的3D物体。
本公开提供了用于从预转化的材料(例如粉末材料)3D打印所需3D物体的系统、仪器、软件和/或方法。如本文理解的，预转化的材料是在3D打印过程期间通过能量束(例如转化能量束)转化之前的材料。预转化的材料可为在其用于3D打印过程之前转化或未经转化的材料。该物体可预订购、预设计、预建模或实时设计(即，在3D打印过程期间)。3D打印方法可为增材方法，其中打印硬化材料的第一层，并且其后将一定体积的预转化的材料作为分开的序贯层(或其部分)加入第一层。通过将预转化的材料的一小部分转化(例如熔化(例如熔融))成经转化的材料，可将每个另外的序贯层(或其部分)加入先前的硬化材料层。经转化的材料可为硬化材料。可替代地，经转化的材料随后可硬化(例如固体粉末可熔融并随后固化)。硬化层可为(硬)3D物体的至少一部分。硬化可被主动诱导(例如通过冷却)或可无需干预(例如天然地)而发生。预转化的材料的转化可通过使用一个或多个能量束来实现。预转化的材料可在其转化之前(例如通过能量束)设置在材料床中。有时，将预转化的材料注入到平台上，并且在接触平台之前(例如在其到平台的途中)或正好在接触平台时进行转化。可使用层分配机构(例如包括材料分配机构、平整机构和/或材料去除机构)来设置预转化的材料层。材料床的温度(例如内部和/或其暴露表面)可由控制器控制。材料床(例如，其暴露表面)的计量参数可由控制器控制。硬化材料层(例如，其暴露表面)的计量参数可由控制器控制。3D物体(例如，其暴露表面)的计量参数可由控制器控制。计量参数可包括高度、宽度或长度。
在一些实施例中，3D打印包括使用至少一个转化能量源加热材料床的至少一部分和/或先前形成的硬化材料区域。在一些实施例中，加热区域可包括经转化的材料的区域。加热区域可涵盖底部蒙皮层。加热区域可包括热影响区带(例如图26A，2610)。加热区域可允许在底部蒙皮层处的平行位置达到高于在底部蒙皮层处的材料的固相线温度(例如，并且处于或低于液相线温度)的高温，转化(例如烧结或熔融)，变成液相和/或塑性屈服，所述平行位置平行于暴露表面处的照射位置。例如，加热区域可允许包括底部蒙皮层的层达到高于材料的固相线温度(例如，并且处于或低于在先前形成的层例如底部蒙皮层处的材料的液相线温度)的高温，转化，变成液相和/或塑性屈服。通过转化能量束的加热可允许达到高于以下的高温：材料的固相线温度(例如，并且处于或低于其液相线温度)，转化(例如熔融)温度，液化温度，变成液相的温度，和/或硬化材料的加热层和/或在加热层之下的一个或多个层(例如底部蒙皮层)的塑性屈服温度。例如，加热可穿透一个、两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个硬化材料层(例如不仅是暴露的层，而且在3D物体内更深的层)、或到达底部蒙皮层的整个3D物体(例如，或其无支撑部分)。例如，加热可穿透一个、两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个预转化的材料层(例如不仅是在材料层中暴露的层，而且在材料床内更深的层)、或材料床的整个深度(例如熔化材料床的整个深度)。
3D物体中的最初形成的硬化材料层在本文中称为“底部蒙皮”。在一些实施例中，底部蒙皮层是3D物体的无支撑部分中的第一层。无支撑部分可不被辅助支撑件支撑。无支撑部分可连接到3D物体的中心(例如核心)，并且可在其它方面不被平台支撑或锚定到平台。例如，无支撑部分可为悬挂结构(例如凸耳)或空腔天花板。
在一些实施例中，3D物体包括第一部分和第二部分。第一部分可在一个、两个或三个侧面处连接到子结构(例如核心)(例如，如从顶部观察的)。子结构可为3D物体的剩余部分。第二部分可在一个、两个或三个侧面处连接到子结构(例如，如从顶部观察的)。例如，第一部分和第二部分可连接到3D物体的子结构(例如柱、杆或壁)。例如，第一部分和第二部分可连接到其为3D物体的部分的外盖。第一部分和/或第二部分可为线或3D平面。第一部分和/或第二部分可不同于线或3D平面。第一部分和/或第二部分可为叶片(例如涡轮或叶轮叶片)。第一部分和第二部分可在结构、几何形状、体积和/或材料组成方面(例如基本上)相同。第一部分和第二部分可在结构、几何形状、体积、材料组成或其任何组合方面(例如基本上)相同。第一部分可包括顶表面。顶部可处于远离平台和/或与引力场相反的方向。第二部分可包括底表面(例如底部蒙皮表面)。底部可处于朝向平台的方向和/或重力场的方向。图36显示了第一(例如顶)表面3610和第二(例如底)表面3620的例子。第一表面和第二表面的至少一部分由间隙分开。第一表面的至少一部分被第二表面的至少一部分分开(例如，以构成间隙)。在3D物体形成期间，间隙可用预转化或经转化(例如，并且随后硬化)的材料填充。第二表面可为底部蒙皮层。图36显示了使第一表面3610与第二表面3620分离的垂直间隙距离3640的例子。垂直间隙距离可等于本文公开的两个相邻3D平面之间的距离。如本文公开的，垂直间隙距离可等于间隙的垂直距离。间隙的垂直距离可为至少约30μm、35μm、40μm、50μm、60μm、70μm、80μm、90μm、100μm、150μm、200μm、0.05mm、0.1mm、0.25mm、0.5mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm或10mm。间隙的垂直距离可为至多约0.05mm、0.1mm、0.25mm、0.5mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm、10mm或20mm。间隙的垂直距离可为上述值之间的任何值(例如约30μm至约200μm、约100μm至约200μm、约30μm至约100mm、约80mm至约150mm、约0.05mm至约20mm、约0.05mm至约0.5mm、约0.2mm至约3mm、约0.1mm至约10mm、或约3mm至约20mm)。点A(例如在图36中)可位于第一部分的顶表面上。点B可位于第二部分的底表面上。第二部分可为作为3D物体的部分的空腔天花板或悬挂结构。点B(例如在图36中)可位于点A上方。该间隙可为点A和点B之间的(例如最短)距离(例如垂直距离)。图36显示了构成点A和B之间的最短距离dAB的间隙3640的例子。在点B处可存在第二部分的底表面的第一法线。图36显示了在点B处表面3620的第一法线3612的例子。第一法线3612与重力加速度矢量3600的方向(例如重力场的方向)之间的角度可为任何角度γ。点C可位于第二部分的底表面上。在点C处可存在第二部分的底表面的第二法线。图36显示了在点C处表面3620的第二法线3622的例子。第二法线3622与重力加速度矢量3600的方向之间的角度可为任何角度δ。矢量3611和3621平行于重力加速度矢量3600。角度γ和δ可相同或不同。第一法线3612和/或第二法线3622与重力加速度矢量3600的方向之间的角度可为任何角度α。第一法线3612和/或第二法线3622相对于基材的法线之间的角度可为任何角度α。角度γ和δ可为任何角度α。例如，α可为至多约45°、40°、30°、20°、10°、5°、3°、2°、1°或0.5°。点B和C之间的最短距离可为本文提到的辅助支撑件特征间隔距离的任何值。例如，最短距离BC(例如dBC)可为至少约0.1毫米(mm)、0.5mm、1mm、1.5mm、2mm、3mm、4mm、5mm、10mm、15mm、20mm、25mm、30mm 35mm、40mm、50mm、100mm、200mm、300mm、400mm或500mm。作为另一个例子，最短距离BC可为至多约500mm、400mm、300mm、200mm、100mm、50mm、40mm、35mm、30mm、25mm、20mm、15mm、10mm、5mm、4mm、3mm、2mm、1.5mm、1mm、0.5mm或0.1mm。图36显示了最短距离BC(例如3630，dBC)的例子。底部蒙皮层可为第一表面和/或第二表面。底部蒙皮层可为3D物体的第一形成层。底部蒙皮层可为3D物体中的第一形成的悬挂层(例如，其通过间隙与3D物体的先前形成的层分开)。
如本文理解的：材料的固相线温度是其中材料在给定压力下处于固态的温度。材料的液化温度是在其下预转化的材料的至少部分在给定压力下从固体转变为液相的温度。液化温度等于其中整个材料在给定压力下处于液态的液相线温度。
在一些实施例中，3D打印机包括一个或多个传感器。传感器可在3D打印期间感测、检测和/或观察物理属性。物理属性可关联和/或直接检测(i)在靶表面处的一个或多个位置处的温度，(例如转化)能量束的功率密度，(iii)生成能量束的能量源的功率，或(iv)其任何组合。物理属性可包括来自靶表面的束(例如电磁波束)的照射(例如反射)。例如，物理属性可包括(例如电磁)束的波长、强度或持续时间。物理属性可被包括在光谱测量中。物理属性可被包括在(例如光学)图像中。物理属性可包括用转化能量束在靶表面处(例如图26A，2605)和/或其附近(例如2610)形成的熔池的FLS。(一个或多个)传感器测量可用于：(i)提供打印的3D物体的质量保证，(ii)提供可用于调整与3D打印相关的计算机模型的历史数据，(iii)实时控制3D打印的一个或多个方面，或(iv)其任何组合。
在一些实施例中，传感器测量和/或其它3D打印处理参数可允许用户、委托人端和/或客户确定3D物体是否通过性能阈值(例如，以阻止3D物体在其预期目的中的性能失败和/或错误)。传感器测量和/或其它3D打印处理参数可提供满足3D物体的质量要求的置信度。传感器测量和/或其它3D打印处理参数可允许用户、委托人和/或客户确保3D物体的质量。质量保证可包括(i)与标准的比较，(ii)3D打印过程的监测，或(iii)反馈和/或闭环控制。标准可基于先前打印和/或以其它方式制造的各自的3D物体的历史数据。标准可涉及工业标准。质量保证可包括3D物体的质量控制。质量保证可包括3D打印的统计过程控制。质量保证可提供用于打印所得到的3D物体的过程的指纹。过程指纹可允许用户、委托人和/或客户鉴定所需3D物体特征。过程指纹可允许用户、委托人和/或客户基于过程指纹分选3D物体。过程指纹可与用检测到的和/或记录的过程参数构建的3D物体相关联。
在一些实施例中，3D打印机包括基于所请求的3D物体的计算机模型。计算机模型可包括所请求的3D物体的3D打印指令。计算机模型可包括在3D打印期间对应于材料(例如预转化的材料和/或经转化的材料)的行为的物理模型，其中所述材料的至少一部分形成3D物体。物理模型可基于模拟(例如热机械模拟)。物理模型可包括在3D打印期间发生的物理表现的模仿。物理模型可包括在3D打印期间发生的物理表现的近似。近似可为粗略的近似。历史数据可由控制器系统(例如包括计算机模型)用作学习工具，以形成学习控制系统。历史数据可用于改变(例如物理模型的)计算机模型的一个或多个参数。历史数据可用于响应传感器测量(例如，如与相应的过程参数相关)来调整一个或多个计算机模型(例如物理模型)参数。计算机模型(例如物理模型)可使用由传感器测量(例如，其涉及过程参数或一组过程参数)提供的历史数据来调整、校正和/或微调。
在一些实施例中，3D打印机包括控制系统。控制系统可为实时控制系统。来自一个或多个传感器的测量可用于在其打印期间实时改变3D物体的打印指令。测量可包括(i)在3D物体的一个或多个层的打印期间累积的信号的测量，(ii)在3D物体的层内的一个或多个路径(例如阴影线或矢量)的打印期间累积的信号的测量，(iii)在3D物体的层内形成路径(例如阴影线或矢量)的多个熔池的打印期间累积的信号的测量，或(iv)在单个熔池的打印期间信号的测量。多个熔池可为几个(例如少于十个熔池)、数十个熔池、数百个熔池或数千个熔池。例如，多个熔池可为至少约100、200、300、400或500个熔池。多个熔池可为前述数目之间的任意数目的熔池(例如几个至数千个熔池、数十个至数百个熔池、或100至500个熔池)。实时测量可用于(i)改变由3D打印指令所规定的参数值，(ii)通过使用所测量的信号来改变计算机模型(例如改变计算机模型的一个或多个参数)，(iii)实时(例如使用反馈和/或闭环控制)改变一个或多个打印参数。改变由3D打印指令所规定的参数值可包括观察与一个或多个打印参数(例如，达到某个温度阈值所需的能量源的功率和/或能量束的功率密度)的系统偏差。例如，打印指令(例如包括计算机模型)可规定达到温度阈值的第一功率值。在3D打印期间，传感器指示用第二功率值达到阈值温度，所述第二功率值比第一规定功率(例如系统地)低一定百分比。打印指令因此可将规定功率调节得更低。调整可在获得整体调整所需的置信度之后。调整可在与计算机模型预测的系统偏差的(例如实时)观察之后。调整可通过值(例如百分比)或函数。函数可包括线性、多项式或对数函数。在一些实施例中，可基于测量来调整计算机模型参数。置信度可与传感器测量的噪声水平有关。例如，靶表面的温度测量可受到加热飞溅材料的影响，所述飞溅材料从靶表面分开并且阻碍了检测器。不可靠的测量可局限于能量束相对于靶表面的某个角度(或角度范围)。例如，与靶表面成至少约80°或90°的角度；与靶表面成至多约90°或100°的角度，或能量束相对于靶表面(例如图5，510)成约80°至约100°的角度范围。
在一些实施例中，熔池的形成在其形成期间是实时控制的。在一些实施例中，传感器(例如检测器)可联接到至少一根光纤(例如，联接到检测器的纤维)。有时，检测器可包括多重检测器。每个多重检测器可各自联接到不同的光纤。有时，光纤可联接到单个检测器。有时，至少两个检测器可联接到光纤。有时，至少两根光纤可联接到检测器。不同的光纤可形成光纤束。光纤检测器可包括联接到纤维的放大镜和/或去放大镜(de-magnifier)。光纤束可为相干纤维束。光纤可拆分为两个或更多个检测器。光纤检测器可定位在检测器之前以及在光学元件(例如滤波器、反射镜或分束器，无论哪个设置在光纤之前)之后。有时，检测器可为单个(例如像素)检测器。检测器可没有(例如，不包括或排除)空间信息。
在一些实施例中，纤维束内的不同纤维组感测靶表面中的不同位置。例如，中心纤维(例如图37，3710)可感测熔池(例如图26A，2605)，并且周围纤维(例如图37，3720)可感测熔池的附近(例如图26A，2610)。图37显示了光纤束(例如3700)的例子。在一些例子中，中心纤维(例如3710)可检测(例如形成)熔池(例如图26A，2605)，而紧密围绕的纤维(例如3720)检测熔池周围的环中的位置(例如，其远离中心距离d1)；更远的周围纤维(例如3730)检测与中心距离d2等的环上的位置。纤维束内的至少两根(例如每根)纤维可具有不同的横截面(例如，其直径)。纤维束内的至少两根纤维可具有(例如基本上)相同的横截面。例如，纤维环(例如围绕中心纤维)内的至少两根纤维可具有不同的横截面(例如，其直径)。纤维环(例如围绕中心纤维)内的至少两根纤维可具有(例如基本上)相同的横截面。在一些实施例中，纤维束内的不同纤维组被引导至不同的检测器。例如，中心光纤(例如3710)可被引导至第一检测器。围绕中心纤维的第一纤维环(例如3720)可被引导至第二检测器。围绕中心纤维的第二纤维环(例如3730)可被引导至第三检测器。围绕中心纤维的第三纤维环(例如3740)可被引导至第四检测器。不同的检测器可形成一组检测器。检测器组内的至少两个(例如每个)检测器可各自检测与靶表面的不同区域有关的信号。例如，检测器组内的至少两个(例如每个)检测器可各自检测与相对于熔池(例如，其中心)不同距离的环有关的信号。检测器可连接到控制系统，所述控制系统可控制一个或多个3D打印参数。例如，一个或多个检测器可用于控制材料床中一个或多个位置处的温度。
光纤束可包括一个或多个单一(例如像素)检测器。每个像素检测器可任选联接到光纤。光纤束可包括中心纤维(例如3710)。联接到一根或多根独立光纤(例如至少1、2、3，4、5、6、7、8、9或10根光纤)的一个或多个独立单个检测器(例如至少1、2、3、4、5、6、7、8、9或10个检测器)可各自地与中心纤维相邻设置。例如，一根或多根独立光纤可包围(例如围绕)中心纤维。包围中心纤维的独立光纤的数目可变化(例如，中心纤维可被至少1、2、3、4、5、6、7、8、9或10根光纤包围)。被包围的光纤可被一根或多根独立光纤包围(例如，与中心纤维相邻的第一一根或多根独立纤维可被至少1、2、3、4、5、6、7、8、9或10根光纤包围)。包围可处于至少一个横截面圆形排列(例如图37)。在一些实施例中，光纤束包括(i)具有与中心光纤的横截面(例如基本上)相同的横截面的另一根光纤，或(ii)具有与中心光纤的横截面不同(例如更小或更大)的横截面的另一根光纤。在一些实施例中，一根或多根独立光纤具有与中心光纤的横截面(例如3710)(例如基本上)相同的横截面(例如3720)。在一些实施例中，一根或多根独立光纤具有与中心光纤的横截面不同的横截面。例如，一根或多根独立光纤可具有比中心光纤的横截面(例如3710)更大的横截面(例如3730、3740)。光纤的较大横截面可促进撞击光纤的较大横截面的返回能量束的检测，并且因此允许检测较低强度的能量束。相邻的一个或多个单个检测器可允许检测能量束，所述能量束撞击的区域大于由中心纤维检测的区域。例如，最外面的单个检测器(例如3740)可检测(例如，收集来自其的照射)的区域大于由中心纤维检测的区域。更大可包含比由中心纤维检测的区域大至少约2、3、5、10、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95或100倍的区域。更大可包含比由中心纤维检测的区域大至多约2、3、5、10、20、25、30、35、40、45、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95或100倍的区域。最外面的单个检测器可检测的区域大于由中心纤维检测的区域，其中更大可在上述值中任意者之间(例如2倍至100倍、约2倍至约30倍、约35倍至约70倍、或约75倍至约100倍)。中心纤维可以其最高分辨率检测像素。随着检测区域在周围单个检测器中增加，周围纤维可检测到一个或多个较低分辨率像素。束中的至少一根光纤可与能量束中具有最强信号强度(例如辐射能量)的部分对齐。一根光纤可对齐(例如实时)以成为中心光纤。随着纤维检测器的检测区域增加，信号强度可下降。检测器的面积增加可允许信号的改善(例如随着信噪比降低)。纤维束可允许(例如光学)信息的收集速率最大化(例如通过选择光纤检测器的样品，通过改变检测器的采样频率)。光纤束可为热成像检测器(例如InGaAs或Ge)的较低成本的替代物。光纤束(例如具有不同横截面的光纤)可允许更快的聚焦和/或信号检测。
在一些实施例中，第一检测器(例如可操作地联接到纤维，图37，3710)可例如在其形成期间感测熔池(例如图26A，2605)的至少一个物理属性。例如，第一检测器可感测从熔池发射和/或反射的辐射。例如，第一检测器可感测熔池的温度、形状和/或FLS。FLS可为熔池的暴露表面具有的。形状可为圆形、卵形或不规则的。第一检测器可联接到靶表面上的能量束覆盖区。在一些实施例中，第二检测器(例如图37，可操作地联接到包含3720的纤维的检测器的等半径环)可感测例如在其加热期间熔池附近(例如图26A，2610)的至少一个物理属性。第二检测器可包括一组传感器。例如，第二检测器可包括检测器环。第二检测器可为环形的。第二检测器可与第一检测器同心。第二检测器的检测区域可包括或排除熔池区域。由第二检测器的检测器组检测到的信号可求平均值，以产生物理属性值(例如，与温度值相关联的振幅值)。控制系统可将第一检测器的信号与第二检测器进行比较，以接收物理属性的比较值。比较值可促进以下的估计：(i)熔池内热分布的各向同性，(ii)熔池形状的各向同性(例如熔池的水平和/或垂直横截面)，(iii)熔池内的温度梯度，或(iv)其任何组合。
有时，可控制熔池以达到第一最大物理属性(例如温度)阈值。第一检测器可促进(例如原位和/或实时引导)控制熔池的物理属性(例如温度)。例如，使用熔池温度、尺寸和/或形状，能量束和/或源可被减弱。减弱可包括改变能量束和/或能量源的至少一个特征。例如，当熔池的温度达到第一温度阈值时，减少(例如停止)能量源的功率。例如，当熔池的温度达到第一温度阈值时，减少(例如停止)能量束的功率密度。例如，当熔池达到熔池直径阈值时，减少(例如停止)能量束的横截面。
有时，可控制熔池以达到第二最大物理属性(例如温度)阈值。第二检测器(例如检测器组)可促进(例如原位和/或实时引导)控制熔池附近的物理属性(例如温度)。例如，使用加热的熔池附近的温度、尺寸和/或形状，能量束和/或源可被减弱。减弱可包括改变能量束和/或能量源的至少一个特征。例如，当熔池附近的温度达到第二温度阈值时，减少(例如停止)能量源的功率。例如，当熔池附近的温度达到第二温度阈值时，减少(例如停止)能量束的功率密度。例如，当熔池附近达到熔池附近直径阈值时，减少(例如停止)能量束的横截面。
在一些实施例中，使用第一检测器(检测熔池的物理属性)和第二检测器(检测熔池附近的物理属性)。控制系统可减弱能量束和/或能量源，以允许熔池达到、维持和/或不超过第一物理属性(例如温度)阈值，同时允许熔池附近达到、维持和/或不超过第二物理属性(例如温度)阈值。控制可通过改变能量束和/或源的一个或多个特征。例如，可使用第一检测器(检测熔池的温度)和第二检测器(检测熔池附近的温度)。控制系统可减弱能量束，以允许熔池达到、维持和/或不超过第一温度阈值，同时允许熔池附近达到、维持和/或不超过第二温度阈值。例如，通过改变(例如减少)能量束的功率密度、通过改变能量源的功率、通过改变能量束的直径、通过改变能量束的焦点、通过改变能量束的停留时间、或其任何组合。改变可包括减少或增加。减少可包括中止。在一些实施例中，所得到的熔池在(i)温度分布梯度、(ii)形状、(iii)微观结构分布、或(iv)其任何组合方面是同质的。实时熔池控制(例如使用两个检测器)可允许形成相继的(例如基本上)同质和/或各向同性的熔池(例如图35)。(例如基本上)同质和/或各向同性的熔池可在整个3D物体内的阴影线、路径、层中。有时，两个检测器的使用可允许各向异性熔池的(例如受控)形成，其各向异性可为请求的。例如，有时可能要求形成纵横比不同于1∶1(其中垂直横截面半径等于水平横截面半径)的熔池。
在一些例子中，转化能量束将能量照射(例如注入)到一个或多个预形成的硬化材料层(例如较深层)内，所述硬化材料层设置在被转化能量束照射的靶层(例如预转化的材料层)下方。能量注入一个或多个较深层内可将这些较深层加热。较深层的加热可允许这些较深层释放应力(例如弹性地和/或塑性地)。例如，较深层的加热允许这些层超出应力点变形。例如，较深层的加热可允许与被照射位置平行的较深层的位置达到高于固相线温度(例如，并且处于或低于液相线温度)的高温，液化(例如，部分变成液体)，转化(例如熔融)，变成液相(例如完全液体)和/或塑性屈服(例如应力屈服)。
转化能量束的控制可包括当在底部蒙皮处的温度达到靶温度时基本上中止(例如停止)以照射靶区域。靶温度可包括这样的温度，在其下材料(例如预转化的或硬化的)达到高于固相线温度的高温，转化(例如再次转化，例如再次熔融)，变成液相和/或塑性屈服。照射能量的控制可包括当在底部蒙皮处的温度达到靶温度时基本上减少供应至(例如注入)靶区域的能量。照射能量的控制可包括分别改变能量束和/或通量的能量分布。与更远离底部蒙皮层的层(例如超出如本文公开的临界层厚度)相比，对于更接近底部蒙皮层的层的控制可不同(例如可变化)。控制可包括打开和关闭照射能量(例如在指定的和/或控制的时间)。控制可包括减少转化能量束的功率/单位面积、横截面、聚焦、功率。控制可包括改变转化能量束的至少一个性质，所述性质可包括照射能量的功率、功率/单位面积、横截面、能量分布、聚焦、扫描速度、脉冲频率(当适用时)或停留时间。在间歇(例如“关闭”)时间时期，与其在停留时间(例如“开启”时间)的值相比，能量束的功率和/或功率/单位面积可基本上减少。基本上可与在靶表面处材料的转化有关。在间歇期间，照射能量可从铺设的区域重新定位到材料床中与铺设的区域相距基本上远离的不同区域(参见实例1)。在停留时间期间，照射能量可重新定位到与刚铺设的区域相邻的位置(例如作为转化能量束路径的部分)。控制可为实时控制(例如在3D打印过程期间)。控制可为动态控制。控制可使用至少一种算法。控制可包括闭环控制或开环控制。控制可为闭环控制、开环控制或其任何组合。
图24显示了被编程为或以其它方式配置为促进一个或多个3D物体形成的(例如自动)控制系统2400的示意性例子。控制系统2400包括(例如PID)控制器2440，成形3D物体2450，一个或多个传感器(例如温度传感器)2460，用于3D打印的物理过程的一个或多个计算机模型2470(例如包括物理模型或控制模型)。控制系统可任选包括反馈控制环路例如2430或2442。反馈控制环路可包括一个或多个逻辑开关(例如2480)。逻辑开关可改变(例如，“打开”或“关闭”)反馈环路控制。改变可利用计算的变量(例如温度)。计算的变量可包括阈值。计算的变量可与各自的测量变量进行比较。计算的温度可源自计算机模型(例如所述计算机模型的至少部分可在2470中)。例如，控制方案(例如图24)可包括控制模型(例如包括在2470中)。控制模型可包括控制变量(例如温度)的一个或多个计算。控制模型可包括将测量变量与其各自的控制变量(例如计算的变量值、阈值变量值和/或关键变量值)进行比较。
控制系统(例如2400)可配置为(例如实时)控制能量源的功率、能量束的速度、能量束的功率密度、能量束的停留时间、能量束覆盖区(例如在材料床的暴露表面上)和/或能量束的横截面，以维持一个或多个成形3D物体的靶参数。靶参数可包括能量束和/或源的温度或功率。在一些例子中，维持用于维持一个或多个熔池的一个或多个特征的靶温度。熔池的特征可包括其FLS、温度、流动性、粘度、(例如熔池横截面的)形状、体积或总体形状。控制系统(例如2400)可配置为(例如实时)控制温度，以维持一个或多个成形3D物体的靶参数，例如材料床的一个或多个位置的靶温度，以维持一个或多个熔池。一个或多个位置可包括在熔池内、与熔池相邻或远离熔池的位置。与熔池相邻可在至少约1、2、3、4或5个平均熔池直径的距离(例如半径)内。与熔池相邻可在至多约1、2、3、4或5个平均熔池直径的距离内。与熔池相邻可为上述距离之间的任何距离(例如约1至约5个平均熔池直径)。图26A显示了具有直径d1、作为俯视图显示的熔池2605的例子。在图26A中所示的例子中的熔池2605被以熔池为中心的区域围绕，并且在熔池2605的边缘之后延伸(例如)两个熔池直径，指定为d2和d3，其中d1、d2和d3是(例如基本上)相等的。图26B显示了其中设置了熔池2615的材料床2625中的垂直横截面的例子，其用于观察具有直径d1的熔池2615。材料床2625具有暴露表面2629。围绕熔池2620的区域延伸超出熔池(例如进入材料床内)。如从熔池2615的边缘测量的，区域2620通过(例如)两个熔池俯视图直径d2和d3延伸远离熔池，其中d1、d2和d3是(例如基本上)相等的。控制系统可使用从在熔池处的一个或多个位置和/或与熔池相邻的位置(例如图26A)检测到的一个或多个信号。信号可用于确定在一个或多个位置处的温度。一个或多个信号可用于形成物理模型(例如可操作地联接到控制模型)。材料床可为盒子、圆柱体或棱镜(例如直角棱镜)。圆柱体可为椭圆柱体(例如圆柱体)。柱体可为直柱。棱镜可具有多边形横截面。例如，棱镜可为三角形、矩形、五边形、六边形或七边形棱镜。材料床的FLS(例如宽度、深度和/或高度)可为至少约50毫米(mm)、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm、200mm、250mm、280mm、400mm、500mm、800mm、900mm、1米(m)、2m或5m。材料床的FLS(例如宽度、深度和/或高度)可为至多约50毫米(mm)、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm、200mm、250mm、280mm、400mm、500mm、800mm、900mm、1meter(m)、2m或5m。材料床的FLS可在上述值中任意者之间(例如约50mm至约5m、约250mm至约500mm、约280mm至约1m、或约500mm至约5m)。
一个或多个成形3D物体可(例如基本上)同时或序贯形成。一个或多个3D物体可在(例如单个)材料床中形成。控制器可接收靶参数(例如2405)(例如温度)，以维持成形3D物体的至少一个特征。成形3D物体的特征的例子包括熔池的温度和/或计量属性(例如信息)。熔池的计量属性(例如信息)可包括其FLS。成形3D物体的特征的例子包括成形3D物体的计量属性(例如信息)。例如，成形3D物体的几何属性(例如信息，例如高度)。成形3D物体的特征的例子包括材料特征，例如成形3D物体的硬、软和/或流体(例如液相线)状态。靶参数可为时间变化的或位置变化的，或者是每个位置或时间的一系列值。靶参数可在时间和/或位置上不同。控制器可(例如进一步)接收来自控制环路，例如前馈控制(例如2410)的预定控制变量(例如功率/能量束的单位面积)靶值。在一些例子中，控制变量控制成形3D物体的靶参数的值。例如，功率/能量束的单位面积的预定值(例如阈值)可控制形成3D物体的熔池的温度(例如范围)。
计算机模型(例如包括预测模型、统计模型、热模型或热机械模型)可预测和/或估计成形3D物体的一个或多个物理参数。计算机模型可包括几何模型(例如包括OPC)或物理模型。计算机模型可向控制器提供前馈信息。计算机模型可提供开环控制。可存在超过一个计算机模型(例如至少1、2、3、4、5、6、7、8、9或10个不同的计算机模型)。控制器可在计算机模型之间(例如动态地)转换，以预测和/或评估成形3D物体的一个或多个物理参数。动态包括基于用户输入或基于控制器决策来(例如实时)改变计算机模型，所述控制器决策依次又可基于成形3D物体的监测靶变量。动态转换可实时执行(例如在3D物体形成期间)。实时可为例如在经转化的材料层形成期间，在硬化材料层形成期间，在3D物体的一部分形成期间，在熔池形成期间，在整个3D物体形成期间或其任何组合。控制器可配置(例如重新配置)为包括另外的一个或多个计算机模型和/或重新调整现有的一个或多个计算机模型。成形3D物体的一个或多个参数的预测可离线(例如预定)和/或实时完成。至少一个计算机模型可接收来自一个或多个传感器的感测参数值。感测参数值可包括在一个或多个熔池内和/或附近感测到的温度。附近可在与成形熔池至少约1、2、3、4或5个平均熔池FLS的半径内。计算机模型可(例如实时)使用感测参数值用于靶参数的预测和/或调整。计算机模型可(例如实时)使用与所请求的和/或成形3D物体相关联的几何信息(例如熔池几何形状)。使用可为实时和/或离线的。实时可包括在能量束和/或源的操作期间。离线可在3D物体未被打印的时间期间和/或在能量束和/或源的“关闭”时间期间。计算机模型可将感测值(例如通过一个或多个传感器)与靶参数的估计值进行比较。计算机模型可(例如进一步)计算误差项(例如2426)，并且重新调整至少一个计算机模型以实现(例如所需或所请求的3D模型与打印的3D物体的)会聚。
计算机模型可估计靶变量(例如2472)。靶变量可为物理现象具有的，所述物理现象可能是或可能不是(例如直接)可检测的。例如，靶变量可为温度具有的，所述温度可能是或可能不是(例如直接)可测量的。例如，靶变量可为物理位置具有的，所述物理位置可能是或可能不是(例如直接)可测量的。例如，物理位置可在3D物体内部处于可能不被一个或多个传感器直接测量的深度处。靶变量的估计值可(例如进一步)与靶变量的临界值进行比较。有时，靶值超过临界值，并且计算机模型可向控制器提供反馈，以减弱(例如，关闭或减少其强度)能量束(例如特定时间量)。计算机模型可例如通过提供前馈信息来建立反馈控制环路(例如2430)。反馈控制环路可用于调整一个或多个靶参数，以实现(例如所需或所请求的3D模型与打印的3D物体的)会聚的目的。在一些实施例中，计算机模型可预测(i)熔池的估计温度，(ii)成形3D物体内的局部变形，(iii)总体变形和/或(iv)温度场。计算机模型可(例如进一步)预测校正能量束调整(例如，与温度靶阈值有关)。调整预测可基于(i)在成形3D物体(例如成形熔池)上的第一位置处测量和/或监测的温度信息、和/或(ii)在第二位置处(例如在成形熔池的附近)、和/或(iii)成形3D物体的几何信息(例如高度)。能量束调整可包括调整与能量束的特征有关的至少一个控制变量(例如功率/单位面积、停留时间、横截面直径和/或速度)。在一些实施例中，控制系统可包括闭环(例如，以及前馈)控制，其可压倒通过计算机模型的一个或多个(例如任何)校正和/或预测。压倒可通过强制向(例如材料床和/或3D物体的)该部分供应的预定量的能量(例如功率/单位面积)来完成。实时可在以下中的至少一个的形成期间：3D物体、3D物体内的层、沿着路径的能量束的停留时间、沿着阴影线的能量束的停留时间、形成熔池的能量束的停留时间或其任何组合。控制可包括控制(例如材料床、3D物体或其一部分的)的冷却速率，控制经转化的材料部分的微观结构，或控制3D物体的至少一部分的微观结构。控制微观结构可包括控制经转化的(例如，以及随后固化的)材料部分的相、形态、FLS、体积或总体形状。材料部分可为熔池。
在一些实施例中，控制系统包括第一温度传感器和第二温度传感器。第一温度传感器可将感测到的信息提供给控制系统(例如PID控制器)。第二温度传感器可与控制模型中的临界温度阈值进行比较。控制模型可基于来自第二温度传感器和/或第一温度传感器的输入而改变。第一温度传感器可感测对于熔池(例如图26A，2605)指定的温度。第二温度传感器可感测对于熔池附近(例如图26A，2610)指定的温度。在一些实施例中，当由第一传感器和/或第二传感器感测到的温度达到和/或超过某个(例如各自的)阈值时，通过转化能量束照射该区域可改变(例如减少，例如中止)。改变的照射可包括具有改变的功率密度、横截面、停留时间和/或焦点的照射。由两个传感器感测到的温度可用于评估(例如计算)对于熔池指定的区域附近的温度梯度(例如在2605和2610之间的温度梯度)。控制模型可以可操作地联接(例如通知)控制器(例如包括闭环或反馈控制环路)。(例如2442、2426和/或2430)。
3D物体可通过在外壳中提供第一层预转化的材料(例如粉末)来生成；转化第一层中的预转化的材料的至少一部分，以形成经转化的材料。3D物体可通过向靶表面(例如平台)提供预转化的材料(例如流)来生成；(i)在到达靶表面之前或(ii)在靶表面处转化预转化的材料的至少一部分，以形成经转化的材料。流可为微粒材料的流。借助于能量束可完成(例如进行)转化。能量束可沿着路径行进。路径可包括阴影线。路径可包括矢量或光栅路径。用于生成3D物体的方法还可包括使经转化的材料硬化，以形成作为3D物体的部分的硬化材料。在一些实施例中，经转化的材料可为作为3D物体的部分的硬化材料。该方法还可包括提供与第一层相邻(例如上方)的第二层预转化的材料，并且重复本文描述的转化过程(例如上文)。该方法还可包括提供与第一层硬化材料(作为3D物体的部分)相邻(例如上方)的预转化的材料，并且重复本文描述的转化过程。
3D物体可为广泛的和/或复杂的3D物体。3D物体可为大型3D物体。3D物体可包括大的悬挂结构(例如金属丝、凸耳或搁板)。大型可为具有至少约1厘米(cm)、1.5cm、2cm、10cm、20cm、30cm、40cm、50cm、60cm、70cm、80cm、90cm、1m、2m、3m、4m、5m、10m、50m、80m或100m的基本长度尺度的3D物体。在一些情况下，打印的3D物体的基本长度尺度(例如直径，球形等效直径，边界圆的直径，或者高度、宽度和长度中的最大者；在本文中缩写为“FLS”)可为至少约25微米(μm)、50μm、80μm、100μm、120μm、150μm、170μm、200μm、230μm、250μm、270μm、300μm、400μm、500μm、600μm、700μm、800μm、1毫米(mm)、1.5mm、2mm、5mm、1厘米(cm)、1.5cm、2cm、10cm、20cm、30cm、40cm、50cm、60cm、70cm、80cm、90cm、1m、2m、3m、4m、5m、10m、50m、80m或100m。打印的3D物体的FLS可为至多约1000m、500m、100m、80m、50m、10m、5m、4m、3m、2m、1m、90cm、80cm、60cm、50cm、40cm、30cm、20cm、10cm或5cm。在一些情况下，打印的3D物体的FLS可在上述FLS中任意者之间(例如约50μm至约1000m、约120μm至约1000m、约120μm至约10m、约200μm至约1m、约1cm至约100m、约1cm至约1m、约1m至约100m、或约150μm至约10m)。硬化材料层的FLS(例如水平FLS)可具有本文对于3D物体的FLS所列出的任何值(例如约25μm至约2000μm)。图10C中的例子显示了硬化材料层(例如10C方案中的顶层)的水平部分1001。图8中的例子显示了硬化材料层的俯视图，所述硬化材料层是硬化材料层的水平部分。图5中的例子显示了硬化材料层546的垂直部分“h|”，指示其高度。
方法、系统、软件和/或仪器可包括测量、控制和/或监测成形和/或形成的硬化材料层(例如，当其形成时)的变形(例如曲率)。方法、系统、软件和/或仪器可包括测量、控制和/或监测成形和/或形成的硬化材料层或其一部分(例如在3D物体形成期间)的变形。在3D物体形成期间可包括在层或其一部分形成期间。在3D物体形成期间，在一些情况下，可包括在整个3D物体形成之后(例如硬化期)。在3D物体形成期间，在一些情况下，可排除在整个3D物体形成之后(例如，排除在其下3D物体已形成的时期，并且它留下用于完全硬化)。
有时，3D物体的一些部分可在其形成期间(例如在转化和/或硬化期间)变形。变形可包括不希望的或所需变形。在一些情况下，变形是不希望的。变形可促使3D物体(例如基本上)偏离所需(例如所请求的)3D物体。例如，3D物体的至少一些部分可变形。变形可包括以基本和/或不希望的方式的翘曲、压弯、弯曲、扭曲、收缩或扩张(例如在形成期间或其之后)。基本可相对于3D物体的预期目的。例如，3D物体的一些部分可形成基本和/或不期望的翘曲、压弯、弯曲、扭曲、收缩或扩张部分。在一些情况下，期望控制(例如调节和/或操纵)其中3D物体的至少一部分形成的方式(例如，关于与所需3D物体的任何变形和/或偏差)。控制包括调节、操纵、限制、引导、监测、调整或管理。在一些情况下，期望控制其中3D物体的至少一部分形成(例如硬化)的方式。在一些情况下，期望在其形成(例如，以及硬化)时，控制3D物体的至少一部分的至少一个特征。该部分可为3D物体的层的至少一部分。该部分可为3D物体的层的一部分或其整个层。3D物体的至少一部分的至少一个特征可包括曲率。曲率可为形成3D物体的至少一个层(或其一部分)具有的。曲率可为正曲率或负曲率。曲率可具有曲率半径。
曲线在一个点处的曲率半径“r”可为在该点处最接近曲线的圆弧半径的量度(例如图7，716)。曲率半径可为曲率的倒数。在3D曲线(在本文中也称为“空间曲线”)的情况下，曲率半径可为曲率矢量的长度。曲率矢量可包括具有特定方向的曲率(例如曲率半径的倒数)。例如，特定方向可为朝向平台的方向(例如在本文中被指定为负曲率)、或远离平台的方向(例如在本文中被指定为正曲率)。例如，特定方向可为朝向重力场方向的方向(例如在本文中被指定为负曲率)、或与重力场方向相反的方向(例如在本文中被指定为正曲率)。曲线(在此也称为“弯曲的线”)可为类似于无需为直的线的物体。直线可为其中曲率(例如基本上)为零的曲线的特殊情况。(例如基本上)零曲率的线具有(例如基本上)无穷大的曲率半径。曲线可在二维(例如平面的垂直横截面)或三维(例如平面的曲率)中。曲线可表示弯曲平面的横截面。直线可表示平坦(例如平面)平面的横截面。平台可为构建平台。平台可包括基部、基材或外壳的底部。材料床可以可操作地联接到平台和/或与平台相邻(例如在平台上)设置。
方法、系统、软件和/或仪器可包括预料(例如计算)变形。预料可考虑来自至少一个传感器的位置和/或温度测量。传感器可测量靶表面(例如材料床的暴露表面)的至少一个位置(例如，如本文所述)。
在一些实施例中，能量束在材料床的暴露表面的位置上照射(例如闪光、闪耀、发光或流注)能量一段时间(例如预定时间段)，以将材料床中的预转化的材料的至少一部分转化成经转化的材料。未被照射的材料床的剩余部分可处于平均(或均值)环境温度下。未被照射的材料床的剩余部分可被冷却(例如使用冷却构件)。未被照射的材料床的剩余部分可不被主动加热(例如使用辐射加热器)。将预转化的材料转化成经转化的材料的能量束被指定为“转化能量束”。转化能量束可沿着路径(例如矢量或光栅路径)行进。经转化的材料可为焊接材料。经转化的材料可为熔化材料。熔化可包括熔融(例如完全熔融)或烧结。在其间转化能量束照射材料床的时间可被称为(转化)能量束的停留时间。通过转化能量束照射材料床可在材料床内形成预转化的材料的经转化的部分。例如，通过转化能量束(例如激光)照射粉末床可在粉末床内形成粉末材料的熔化部分。在这个时间段(即停留时间)期间，转化能量束的能通量可为基本上同质的。不希望受理论束缚，能通量可指每单位面积的能量传递速率(例如具有SI单位：W·m-2＝J·m-2·s-1)。同质可指在停留时间期间的能通量。同质可指跨越能量束的横截面的功率密度分布。在一些情况下，跨越能量束的横截面的功率密度分布可基本上类似高斯分布。
在一些实施例中，在特定时间段，跨越能量束的横截面的能量分布可与高斯分布显著不同。在这个时间段期间，转化能量束可(例如基本上)不平移(例如既不以光栅形式也不以矢量形式)。在这个时间段期间，跨越转化能量束的横截面的功率密度可为(例如基本上)恒定的。在一些实施例中(例如在这个时间段期间)，转化能量束的功率密度可变化。在一些实施例中(例如在这个时间段期间)，生成转化能量束的能量源的功率可变化。该变化可为预定的。该变化可为受控的(例如，由控制器)。控制器可基于由一个或多个传感器(例如温度和/或位置传感器)接收的信号来确定变化。控制器可基于算法来确定变化。
在一些实施例中，至少一个控制器用于完成(例如使用控制)仪器和/或系统的所需行为(例如使用至少一个传感器)。控制可包括闭环控制。控制可包括反馈控制。控制可包括前馈控制。闭环控制可基于从一个或多个传感器获得的数据。闭环控制可包括在处理在材料床内设置的一个或多个层(例如构建平面)时的闭环控制。闭环控制可包括在处理一个或多个构建平面的至少一部分(例如整个构建)时的闭环控制。受控变化可基于闭环和/或开环控制。例如，受控变化可基于(例如利用)闭环控制。闭环控制可在3D打印过程期间执行。闭环控制可依赖(例如暴露表面的)原位测量。原位测量可在其中生成3D物体的腔室(例如处理腔室)中。闭环控制可依赖实时测量(例如在至少一个3D物体的3D打印过程期间)。闭环控制可依赖实时测量(例如在3D物体的层形成期间)。该变化可基于从温度传感器和/或位置传感器(例如成像)获得的一个或多个信号来确定。位置传感器可为计量传感器(例如，如本文所述)。该变化可基于高度变化测量来确定。该变化可通过材料床的暴露表面、其一部分或来自其的任何突出物体的高度评估来确定。该变化可通过材料床的暴露表面、其一部分或来自其的任何突出物体的温度测量来确定。该变化可通过经转化的材料(例如，其中的熔池)的温度测量来确定。该变化可通过经转化的材料的熔池尺寸(例如FLS)评估来确定。
在一些实施例中，控制系统在3D打印的至少一部分期间(例如实时，例如如本文描绘的)进化。进化可利用实时变化(例如在熔池或两个相继熔池形成期间)的一个或多个参数。进化可使用不确定的参数值(例如所述不确定的参数值可为粗略估计的)。(例如实时)进化可依赖在3D打印的至少一部分期间的至少一种改变条件。改变条件可包括在靶表面(例如能量束的覆盖区的靶表面积、和/或其附近)处的一部分的温度、能量束的至少一个特征、和/或能量源的功率。改变条件可包括在靶表面上方(例如在处理腔室的大气中)的等离子体、氧和/或湿气的量。控制系统可包括自适应控制。自适应控制可包括前馈自适应控制或反馈自适应控制。自适应控制可包括直接自适应控制方法(例如估计参数直接用于自适应控制器中)、或间接自适应控制方法(例如估计参数用于计算控制器参数)。自适应控制可包括参数估计。例如，计算机模型可包括初始参数估计。例如，物理模型和/或控制模型可包括初始参数估计。所估计的参数可为几何形状、温度(例如从靶表面发射的)、能量源的功率和/或能量束的功率密度。自适应控制可包括递归参数估计。自适应控制可包括参考自适应控制方案(MRAC)。MRAC可包括一步超前自适应控制(OSAAC)方案。在一些实施例中，控制系统可包括在(例如实时)控制期间进化(例如改变)的控制算法。自适应控制可包括参数控制方案。
在一些实施例中，控制系统包括模型预测控制。模型预测控制可包括自适应控制。控制系统可实时改变物理模型。物理模型可包括电子电路。物理模型可包括实时改变电子电路。例如，(i)实时改变电子电路中的电子连通性，和/或(ii)实时改变电子电路的部件(例如在类型、数目和/或配置方面)。控制系统可包括基于3D打印中测量的一个或多个事件(例如，如实时感测和/或检测到的)的时机来改变物理模型(例如实时)。计算机模型(例如物理模型)可为3D打印的一个或多个方面的粗预测。测量的(例如感测和/或检测到的)一个或多个参数可允许(例如实时)微调该粗预测，以更准确地预测3D打印。模型预测控制可包括任意模型(例如任何物理模型，例如电子电路模型)。任意模型可包括3D打印过程的模仿。任意模型可包括3D打印过程的模拟。模仿和/或预测可为粗(例如简单化)预测。测量的一个或多个参数可允许微调任意模型，以更好地模仿和/或预测3D打印。物理模型可实时动态地改变(例如在3D物体的层的打印期间)。
在一些实施例中，控制系统包括鲁棒控制。控制系统可包括一个或多个变量的界限。在一些实施例中，控制系统包括在(例如实时)控制期间不变的算法。鲁棒控制可包括非参数控制方案。
在一些实施例中，控制包括闭环控制或开环控制(例如基于包括算法的能量计算)。闭环控制可包括反馈控制或前馈控制。控制可包括生成3D物体的所需模型的切片规划。控制可包括生成特定3D模型切片的路径规划(例如包括阴影线规划)，能量束(例如转化能量束)可沿着所述路径行进。各种路径规划在以下中描述：于2016年4月1日提交的名称为“APPARATUSES，SYSTEMS AND METHODS FOR EFFICIENT THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的临时专利申请序列号62/317,070，以及于2016年12月9日提交的名称为“SKILLFUL THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的PCT申请号PCT/US16/66000，所述两个专利均以引用的方式全文并入。路径规划可用于生成至少一个3D打印方向，3D打印根据其进行和/或控制。控制可包括使用算法(例如包含在脚本中)。该算法可嵌入脚本中。在一些例子中，脚本是算法的语言特异性计算机可读介质(例如软件)实现。例如，模型可基于算法组合反馈或前馈控制。该算法可考虑一个或多个温度测量(例如，如本文描绘的)、一个或多个功率测量、一个或多个功率密度测量、3D物体的至少部分的几何形状、3D物体的至少部分的热耗尽/导电率概况、或其任何组合。控制器可调制能量束(例如转化能量束)。该算法可考虑物体的几何预校正(即，物体预打印校正，OPC)，以补偿最终3D物体的任何失真(例如在其硬化之后)。图6显示了OPC的各种例子。该算法可包括形成校正变形物体的指令。该算法可包括应用于所需3D物体的模型的修改。修改(例如校正变形)的例子可在以下中找到：于2015年10月9日提交的名称为“SYSTEMS，APPARATUSES AND METHODS FOR THREE-DIMENSIONAL PRINTING，AS WELLAS THREE-DIMENSIONAL OBJECTS”的专利申请号62/239805，以及于2016年5月27日提交的名称为“THREE-DIMENSIONAL PRINTING AND THREE-DIMENSIONAL OBJECTS FORMED USINGTHE SAME”的PCT申请号PCT/US16/34857，所述两个专利均以引用的方式全文并入本文。该算法可考虑3D物体的一个或两个不同部分的几何形状。该算法对于3D物体的至少两个(例如几何上不同的)部分可不同。3D物体的不同部分可包括3D物体的主体(例如内部)、底部蒙皮层、3D物体的表面、紧邻表面的3D物体的内部。该算法可根据底部蒙皮层相对于平台的角度而不同。3D物体的主体可包括经转化的(例如，以及硬化)材料，其足够厚以在向其添加经转化的材料(例如，另外的经转化的材料层)时承受应力变形。例如，控制可包括热塑性模拟。热机械模拟可包括弹性或塑性模拟。热塑性模拟可包括在(例如先前形成的硬化材料层的)3D打印过程期间采取的计量和/或温度测量。热塑性模拟可用于修改3D打印规划、路径规划和/或路径方向性。分析(例如热塑性模拟)可在形成硬化材料层之前、形成硬化材料层期间和/或形成硬化材料层之后执行。转化能量束可为临时专利申请序列号62/317,070中描述的任何能量束，所述临时专利申请以引用的方式整体并入本文。
在一些实施例中，关于3D物体的两个几何不同部分的打印指令可不同。不同可通过至少一个打印参数。例如，不同可通过转化能量束和/或能量源的至少一个特征。打印指令对于3D物体的至少两个(例如几何不同)部分是不同的。3D物体的不同部分可包括3D物体的主体(例如内部)、底部蒙皮层、3D物体的表面、紧邻表面的3D物体的内部。打印指令可根据底部蒙皮层相对于平台的角度而不同。
有时，通过包括算法的操作来调整一个或多个3D模型切片，以形成经调整的3D模型切片(例如包括OPC的算法)。切片是所请求的3D物体的模型的虚拟部分，其被物化为打印的(例如物理)3D物体中的层。切片可为所请求的3D物体的模型的横截面。经调整的3D模型切片可被送入控制器内，以控制3D物体的打印。例如，经调整的3D模型切片可被送入控制器内，以控制3D打印系统内的至少一个仪器(例如能量源和/或束)。
在一些实施例中，控制(例如开环控制)包括计算。控制可包括使用算法。控制可包括反馈环路控制。在一些例子中，控制可包括开环(例如经验计算)、闭环(例如前馈和/或反馈环路)控制或其任何组合。控制设定点可包括计算的(例如预测的)设定点值。设定点可包括根据闭环控制的调整。控制器可使用计量和/或温度测量。控制器可使用材料测量。例如，控制器可使用(例如硬化材料层的)孔隙度和/或粗糙度测量值。控制器可引导3D打印系统中的一个或多个系统、软件模块和/或仪器的调整。例如，控制器可引导由材料去除机构施加的力(例如，真空吸引器的力)的调整。
有时，材料床内的材料的一部分(例如图1，104)或材料床的暴露材料的一部分(例如图1，106)可从材料床分离(例如，由于加热)。能量束可照射材料床并引起至少一部分加热(例如过热)。至少一部分的分开可在暴露表面上方的大气中形成悬浮材料。(例如在外壳116中)。从材料床分离可促使至少一部分变成气载的。加热可促使至少一部分经历相变。相变可包括转化成气体或等离子体。相变可在一个或多个3D物体形成期间(例如在转化和/或硬化期间)发生。从材料床分离(例如蒸发)可导致碎片的生成(例如在反应和/或冷凝时)。例如，3D打印过程可包括通过使其暴露于转化能量束(例如预限定)时间段，将预转化的材料转化为经转化的材料。在其下能量源发射转化能量束的时间在本文中可被称为“停留时间”。停留时间可为至少约1μsec、2μsec、3μsec、4μsec、5μsec、10μsec、20μsec、30μsec、40μsec、50μsec、60μsec、70μsecs、80μsec、90μsec、100μsec、200μsec、500μsec、1毫秒(msec)、3msec、5msec或10msec。停留时间可为上述值之间的任何值(例如约1μsec至约60μsec、约1μsec至约500μsec、约1μsec至约10msec、约500μsec至约5msec、或约60μsec至约1001μsec)。能量束的功率/单位面积可为至少约100瓦/平方毫米(W/mm2)、200W/mm2、300W/mm2、400W/mm2、500W/mm2、600W/mm2、700W/mm2、800W/mm2、900W/mm2、1000W/mm2、2000W/mm2、3000W/mm2、5000W/mm2、7000W/mm2或10000W/mm2。能量束的功率/单位面积可为上述值之间的任何值(例如约100W/mm2至约3000W/mm2、约100W/mm2至约5000W/mm2、约100W/mm2至约10000W/mm2、约100W/mm2至约500W/mm2、约1000W/mm2至约3000W/mm2、约1000W/mm2至约3000W/mm2、或约500W/mm2至约1000W/mm2)。能量束的功率/单位面积可为本文公开的每单位的任何功率。停留时间或由能量束设置的热量可用于将预转化的材料转化为经转化的材料。转化可在可导致材料床的至少一部分的一个或多个相变(例如形成液体、蒸发和/或等离子体形成)的温度下发生。在一些情况下，(例如通过能量束)加热的至少一部分可包括预转化的材料或经转化的材料。有时，(例如通过能量束)加热的至少一部分可包括硬化材料。
一些材料(例如预转化和/或经转化的)包含元素(例如铬)，所述材料相对于其氧化物态具有在其元素态(例如金属态)下不同的蒸气压。当预转化的材料被转化时，元素(作为预转化的材料的部分)可蒸发和/或形成等离子体。蒸发的材料和/或其等离子体可化学反应。化学反应可包含氧化(例如形成氧化物)。化学反应可包括与气体(例如在外壳中)的反应。化学反应可包括与残留化学物质(例如在外壳中)的反应。化学反应可包括与氧(例如分子或根)的反应。化学反应可包括与氧和/或水分子的反应。这种(例如金属)材料的蒸发和/或等离子体形成以及其(例如随后的)冷凝和/或化学反应，可导致碎片(例如以碳烟的形式)的生成。不希望受理论束缚，碎片的生成可能是缩合和/或化学反应(例如氧化)的结果。有时，材料的反应产物相对于其各自的元素态可具有更高的蒸气压。例如，元素的氧化物相对于其各自的元素态可具有更高的蒸气压。有时，以其元素态的材料趋于比其各自的反应产物(例如氧化物)更快地蒸发和/或形成等离子体。材料例子包括钼或钨，与它们对应的氧化物相比，它们在其元素态(例如金属)下具有低蒸气压。金属可包含元素金属或金属合金。
为了减少(例如避免)材料的蒸发和/或等离子体形成(例如，以及因此的碎片形成)，(例如通过能量束)加热区域的温度可使用控制器(例如包括GPU、CPU、FPGA或任何其它此类计算元件，例如，如本文所述)加以控制。图25显示了使用控制器2540(例如，如图24中所示的控制系统)，用于调整加热区域2550的温度的系统的示意性例子。加热区域(例如熔池)可位于材料床(例如2560)中，和/或位于靶表面上。加热区域可包括材料床的暴露表面的一部分。可使用一个或多个传感器2530(例如光学传感器和/或热传感器)来监测加热区域(例如转化位置)的温度。在一些例子中，将监测的温度与作为控制参数的预定阈值温度值(或范围)进行比较(例如通过控制器)。预定阈值可由前馈控制元件(例如2505)提供。控制参数可包括转化的特定位置和/或特定时间。当监测的温度偏离预定阈值(或范围)时，可(例如使用反馈控制)调整温度以改变(例如减少)温度偏差。以类似于温度调整的方式，可另外或替代地调整生成能量束的能量源的功率和/或能量束的至少一个特征(例如，其功率密度)。
在一些例子中，控制包括闭环控制。闭环控制可包括反馈控制或前馈控制。能量束(例如2515)的控制变量(例如功率/单位面积)可例如通过调整能量源(例如2510)参数(例如通过控制器)来调整。能量束的控制变量(例如功率/单位面积)可为预编程的。预编程可用于能量束的特定路径。在一些实施例中，前馈控制和反馈控制两者可组合使用。能量束的控制变量(例如功率/单位面积)可局部调整。局部可指特定加热区域、与特定加热区域相邻、路径内的阴影线、能量束的路径或层。控制变量(例如温度)可通过闭环控制(例如2545)进行控制。控制可依赖温度测量(例如通过一个或多个传感器)。
控制可包括关于控制变量(例如功率/单位面积分布、功率分布和/或温度分布)的预定值或一组值。控制变量可对于靶表面上的一个或多个转化位置预限定。控制可包括实时控制与转化位置有关的控制变量(例如温度、功率和/或功率/单位面积)。控制可包括调节、监测、调制、变化、改变、限定、管理、检查和/或引导。实时可在转化能量束覆盖区、阴影线、路径或切片内的材料的至少一部分期间。实时可在3D物体或其一部分形成期间。在一些实施例中，控制可包括调整(例如校正)加热区域处的温度、生成能量束的能量源的功率、和/或引导至加热区域的能量束的功率/单位面积的至少一个偏差。调整可分别相对于预限定的功率、功率/单位面积(例如，值和/或分布)或在加热区域处的温度(例如，值和/或分布)。前馈控制器可预鉴定所请求的3D物体的(虚拟)模型处的一个或多个位置，这对使用反馈控制(例如U形转弯、长阴影线和/或短阴影线)校正可能更具挑战性。预鉴定位置(例如，以及操作)可包括执行与所需3D物体相关的3D打印模型的几何分析。打印模型可包括所需3D物体的OPC。
在一些实施例中，控制包括生成物理模型。在一些实施例中，控制模型包括物理模型。在一些实施例中，计算机模型包括物理模型。在一些实施例中，控制模型排除物理模型。在一些实施例中，计算机模型排除物理模型。物理模型可模仿和/或类似于(例如3D打印的)热机械模型。物理模型可包括一个或多个元件，其表示(例如，类似于或模仿)与构建3D物体的过程中涉及的一种或多种部件(例如能量束、预转化的材料或经转化的材料)相关的一个或多个物理性质(例如能量束的热分布、能量束的热历史、能量束的停留时间序列、能量束随着时间推移的能量分布、能量束分布(即，斑点大小))。物理模型可用于预确定一个或多个靶参数(例如靶表面上的一个或多个点处的温度阈值、能量束的功率密度、靶表面上的能量束覆盖区的FLS、能量束覆盖区的焦点、能量束的停留时间、能量束的间歇时间)。
在一些实施例中，物理模型是复杂模型。复杂模型可包括高阶模型(例如高维数学模型和/或高阶多项式模型)。高维指大于一的维度。例如，具有二、三、四或更多幂的数学多项式。复杂模型可包括与(i)成形3D物体(或其一部分)的一个或多个计量性质，(ii)预转化的材料和/或经转化的材料的物理性质，或(iii)能量束的热性质(例如沿着用于构建3D物体的路径的至少一部分)有关的信息。复杂模型可包括与3D物体的超过一个维度相关的性质。复杂模型可包括与3D物体的一个或多个层(例如先前形成的和/或将要形成的层)相关的性质。复杂模型可包括要构建的所请求的3D物体的几何参数(例如，轮廓、曲线、切片)。复杂模型可包括一个或多个预测模型。预测可涉及在预转化的材料转化期间和/或预转化的材料转化之后，使3D物体的至少一部分硬化的方式，所述预转化的材料形成3D物体的至少一部分。预测模型可在其形成期间(例如在构建3D物体的一个或多个层期间)预测至少一个物理性质(例如3D物体的热图)、和/或能量束的停留时间序列(例如，跨越形成3D物体的一个或多个层)。
在一些实施例中，物理模型是简化(例如简单)模型。简化模型可包括与3D物体的至少构建部分(例如3D物体的单个维度或3D物体的两个维度)有关的一个或多个性质。简化模型可包含一个或多个假设。假设可包括关于3D物体的一个或多个属性的预确定值(例如，假设稳定的值)。假设可包括简化3D物体的几何形状(例如3D物体的一部分的单个维度)。假设可包括预测至少一个物理性质(例如随时间推移的温度、3D物体的至少一部分内的温度分布(例如随时间推移)、随时间推移的能量束的功率密度、随时间推移的材料床的热分布、和/或材料床内的热分布(例如随时间推移))。简化模型可为复杂模型的离散版本(例如可包括3D物体的几何形状的一部分的预测)。简化模型可为复杂模型的子集(例如可包括单个性质)。复杂模型可包括多个简化模型。
在一些实施例中，物理模型由相似模型(例如电模型、电子模型和/或机械模型)表示。图27A-27B示出了电相拟模型的例子。图27A示出了简化的电相似模型(例如，复杂度模型的第一阶)的例子。电模型可包括一个或多个基础元件，例如电流源(例如图27A，2760)、电阻器(例如图27A，2768)、电容器(例如图27A，2777)、电感器和/或接地部件(例如图27A。2784)。基础元件可表示构建3D物体的一个或多个物理性质。有时，基础元件可表示3D打印机的一个或多个部件。例如，能量束可由电流源表示。在一些例子中，3D物体的至少一部分(例如，其突出端)的角度可影响表示3D物体的该至少一部分(例如，该突出端)的边缘上的点的电容和/或电阻值。例如，相对于靶(例如暴露)表面(例如，步进器突出端)的突出端角度越大，物理模型中的电阻器越小，并且物理模型中的电容越大。至少一个电阻器和/或电容的值可与(i)离散化距离和/或(ii)形成3D物体的基本材料性质有关。离散化距离可为由基础离散元件表示的单元元件(例如电元件)的物理长度。构建材料的基本材料性质可包括构建材料(例如形成3D物体的材料)的导热率、热容量或密度。在一些例子中，测量的电压探测点(在物理模型中)例如2765表示表面温度(在成形/形成的3D物体中)的测量。闭环和/或反馈控制可通过在探测点(例如2765)处，作为对测量电压变化的响应的电流源变化来建模。该模型还可预测测量的电压(例如，其可表示测量的温度)。在构建期间测量温度水平和/或将其与建模电压进行比较，可允许(i)物理模型中的误差的(例如系统)研究、(ii)模型的微调、(iii)找到3D打印的物理过程与表示其的(例如简化)物理模型之间的关系、或(iv)其任何组合。可在电流源与电阻器和/或电容器的分支的交点处测量电压(例如图27A，2765)。简化(例如减少)模型可不限于简单和/或恒定值分量。作为例子，电容器和/或电阻器可分别取决于电压C(V)和/或R(V)。可使用的另外部件是例如电流倍增器。电流倍增器的值可在物理模型中表示3D打印中通过材料的能量束的吸收效率变化。例如，由于电流倍增器的值可取决于电压(模仿可取决于温度的吸收的物理性质)。电压可用于模拟电容器和/或电阻器(例如C(V)和/或R(V))的依赖性(例如温度)。相似模型可包括来自至少一个传感器和/或检测器的输入。传感器和/或检测器可检测靶表面上的至少一个位置的物理性质(例如靶表面处的位置的温度、能量束的功率、和/或能量束的路径的热图)。传感器输入可被送入物理模型的一个或多个分支内。
在一些实施例中，物理模型包括相似或数字模型。该模型可包括电子模型。该模型可包括基础元件。基础元件可为电(例如电子)元件。电元件可包括有源、无源或机电部件。有源部件可包括二极管、晶体管、集成电路、光电器件、显示装置、真空管、放电装置或电源。无源部件可包括电阻器、电容器、磁性(感应)装置、忆阻器、网络、换能器、传感器、检测器、天线、振荡器、显示装置、滤波器(例如电子滤波器)、绕线或实验电路板。机电部件可包括机械附件、(例如印刷)电路板或忆阻器。基础元件可为可变器件和/或具有可变值(例如可变电阻器和/或可变电容器)。电阻器可为线性电阻器、非线性电阻器、碳合成电阻器、绕线电阻器、薄膜电阻器、碳膜电阻器、金属膜电阻器、厚膜电阻器、金属氧化物电阻器、金属陶瓷氧化物电阻器、可熔电阻器、可变电阻器、电位器、变阻器、微调器、热敏电阻器、压敏电阻器、光敏电阻器、光电阻器、光导电池或表面安装电阻器。电容器可为陶瓷、薄膜、纸、极化、非极化、铝电解、钽电解、铌电解、聚合物、双层、伪、混合、银、云母、硅、气隙或真空电容器。电感器可为空芯电感器、铁磁芯电感器、铁芯电感器、铁氧体磁芯电感器、环形铁芯电感器、基于绕线管的电感器、多层电感器、薄膜电感器、耦合电感器、塑料模制电感器、陶瓷模制电感器、功率电感器、高频电感器、射频电感器、扼流圈、表面安装电感器或叠层铁芯电感器。物理模型可被并入处理器(例如计算机)中。物理模型可包括电路模拟(例如在处理器中)。例如，物理模型可包括虚拟电路模拟。物理模型可包括有形电路。物理模型可包括电路板。电路板可包括一个或多个电元件。
图27B示出了相对于图27A中的那种，更复杂的电相似模型(例如，复杂度模型的第二阶)的例子。更复杂的电相似模型可包括一个或多个基础电元件(例如电流源2705、电阻器2720、电容器2740和/或接地元件2745)。基础元件可包括倍增器(例如图27B中表示的恒定值，如“a”用于电容器或‘b”用于电阻器)。倍增器可为可变的。倍增器可为调整的。调整可在3D物体构建之前、3D物体构建之后或3D物体构建期间(例如实时)完成。调整可手动和/或自动(例如通过控制器)完成。有时，复杂的电相似模型可为(例如基本上)完整的(例如包括所有维度和/或3D物体的物理模型的性质的表示)。基本上可相对于3D物体的预期目的。复杂的(例如更复杂的)电模拟模型可包括来自一个或多个传感器和/或检测器的输入。传感器或检测器可(相应地)感测或检测靶表面上的至少一个位置的物理性质(例如靶表面的温度(例如，其温度分布)、能量束的功率密度、能量束的路径的热图、成形3D物体的热图、和/或材料床的热图)。传感器/检测器输入可被送入(例如图27B，2710、2715、2725)相似电模型的一个或多个分支(例如图27B，2730)内(例如单个分支可接收来自单个传感器的输入，单个分支可接收来自超过一个传感器的输入，或者多个分支可接收来自单个传感器的输入)。一个或多个传感器输入可提供构建3D物体的过程的(例如基本上)准确测量。传感器输入可使用使用至少一根光纤(例如光纤束)感测的信号。连接到传感器/检测器的至少一根光纤(例如，纤维束)的例子在于2017年1月5日提交的名称为“OPTICAL CALIBRATION IN THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的临时专利申请序列号62/442,896中描述，所述临时专利申请以引用的方式全文并入本文。
在一些实施例中，详细描述了基于传感器/检测器输入的测量(例如热或功率密度)(例如来自一个或多个传感器的精确测量，比一阶复杂度模型更少数目的假设)。详细的测量可允许观察复杂的物理性质(例如热通过成形3D物体和/或材料床的扩散)。可基于详细测量来做出详细(例如，准确和/或关于超过一个物理性质的)调整。详细调整可使不确定性(例如，与物理性质的假设有关的不确定性、例如能量束位置的不确定性、与能量束的温度分布有关的不确定性、与成形3D物体的几何形状有关的不确定性)最小化。调整可由控制器完成。相似模型(例如物理模型)可充当状态观测器。相似模型可向控制器提供一个或多个测量。基于测量，控制器可调整3D打印机的一个或多个部件。例如，控制器可调整能量束的一个或多个特征。控制器可调整一个或多个物理性质(例如电荷，例如光学元件的位置)。调整可在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间完成。控制器可为处理(例如计算机)系统的部分。控制器可包括处理器。控制器可为本文描述的任何控制器。处理器和/或处理系统可为本文描述的任何计算机和/或计算机系统。
在一些例子中，一个或多个传感器/检测器用于(相应地)感测/检测3D打印机系统内的一个或多个物理参数。感测和/或检测可实时(例如在3D物体的构建期间)完成。感测和/或检测可离线(例如在构建3D物体之前和/或构建3D物体之后)完成。传感器可为本文所述的任何传感器。检测器可为检测器阵列。传感器和/或检测器可联接到光纤。检测器阵列和/或传感器阵列可联接到光纤束。各种传感器和/或检测器可在于2016年12月6日提交的名称为“OPTICS，DETECTORS，AND THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的临时专利申请号62/430,723中找到，所述临时专利申请以引用的方式全文并入本文。传感器和/或检测器可(相应地)感测和/或检测成形3D物体的至少一个层的一个或多个物理参数。传感器和/或检测器可为可平移的(例如可移动的，例如附接到万向节)。传感器和/或检测器可来回移动(例如沿着能量束的路径)。移动可为受控的(例如手动或自动，例如使用控制器)。
图30A-30E示出了逆向扫描(retro scan)的例子。逆向扫描可包括沿着路径(例如线)在(例如靶表面的)相同总平面上来回移动照射能量。移动照射能量可包括在前进方向上移动一个或多个阶梯。阶梯可为连续的或不连续的。阶梯可为分离的。例如，阶梯可为分块(例如重叠或不重叠的分块)。例如，图30A示出了沿着线在靶表面(例如3005)上在前进方向(例如3020)上以六个阶梯(例如3010)移动照射能量(例如3015)的例子。图30B示出了沿着线在靶表面(例如3025)上在后退方向(例如3040)上将照射能量(例如3035)移动四个阶梯(例如3030)的例子。图30C示出了沿着线在靶表面(例如3045)上在前进方向(例如3060)上将照射能量束(例如3055)移动六个阶梯(例如3050)的例子。在逆向扫描程序中，执行图30A中所示的操作，随后为图30B中所示的操作，其随后接着为图30C中的操作。移动照射能量可包括移动选自以下的一个或多个阶梯：(i)在前进方向上移动以形成第一前进路径，(ii)在后退方向上照射，以至少部分地重叠第一前进路径以形成后退路径，以及(iii)在前进方向上照射，以至少部分地重叠后退路径。操作(i)至(iii)可序贯进行。在一些实施例中，后退路径(至少)部分地重叠第一前进路径。在一些实施例中，第二前进路径(至少)部分地重叠后退路径。移动能量束可包括在前进方向上整体移动(例如前进两个阶梯和后退一个阶梯)。例如，当非重叠的第二前进路径在前进移动的方向上超过第一前进路径(例如在图30E中在时间15-16时照射的靶表面上的位置7-8之间的差异)时。例如，图30D示出了以三次迭代移动能量束的例子，其中圆圈(例如3080)显示了在靶表面3065上的照射位置叠加的扩展。在第一次迭代中，能量束在前进方向上移动六个阶梯(例如3080)。在第二次迭代中，能量束从先前迭代在后退方向(例如3075)上移动四个阶梯。在第三步中，能量束从较早迭代在前进方向(例如3070)上移动六个阶梯，因此在靶表面(例如3025)上在前进方向上总体移动八个阶梯。在所示的例子中，最早的照射位置(例如第一阶梯)由最暗的灰色圆圈指示。灰色阴影在迭代中减轻，以指示随后的阶梯(从最早到最近的照射位置，例如阶梯二到阶梯六)，并且最后的照射位置由白色圆圈指示。图30E示出了逆向扫描的图形表示，其中图形表示示出了在靶表面上照射能量的位置(例如3085，例如沿着X轴的位置)随着时间(例如3090)进展。逆向扫描可用具有椭圆形(例如圆形)横截面的转化能量束来执行。逆向扫描可用具有卵形(例如笛卡尔卵形)横截面的转化能量束来执行。逆向扫描可连续执行(例如在3D打印转化操作或其一部分期间)。逆向扫描可在3D物体的打印期间执行。能量束的移动可静态地控制(例如在3D物体的打印之前或3D物体的打印之后)。能量束的移动可动态地控制(例如在3D物体的打印期间)。逆向扫描可用本文公开的照射能量(例如转化能量)的任何横截面来执行。例如，逆向扫描可使用圆形横截面能量束(例如，聚焦的、散焦的；具有小或大FLS)或椭圆形横截面能量束(例如使用像散机构)来执行。用于逆向扫描的能量束可为本文公开的任何转化能量束(例如，聚焦的、散焦的；具有小或大FLS)。
在一些实施例中，硬化材料层(作为3D物体的部分)由扫描能量束、铺设能量束或其任何组合形成。铺设能量束可具有比扫描能量束更大的横截面。更大可为至少约1.5*、2*、5*、10*、25*、50*或100*。符号“*”指定数学运算“乘”。扫描能量束可具有的功率/单位面积大于铺设能量束的功率/单位面积。铺设能量束可具有比扫描能量束更长的停留时间。与由铺设能量束形成的特征相比，扫描能量束可形成具有更小FLS的特征。图31显示了其为3D物体的至少部分的层3120的例子。该层使用形成分块(例如3123)的铺设能量束以及形成阴影线(例如3122)和边缘(例如3121)的扫描能量束形成。图33显示了包括构建模块3350和包含大气3326的处理腔室的3D打印机的例子。3D打印机3300包括生成扫描能量束3301的扫描能量源3321，所述扫描能量束3301行进通过扫描仪3320、光学窗口3315，以将材料床3304的一部分转化为经转化的材料3317(例如，以形成3D物体)。3D打印机3300包括生成铺设能量束3308的铺设能量源3322，所述铺设能量束3308行进通过扫描仪3314、光学窗口3335，以将材料床3304的一部分转化为经转化的材料3317(例如，以形成3D物体)。3D打印机可包括一个或多个能量源。能量源可生成一个或多个能量束。能量束可行进通过相同或不同的光学窗口。能量束可由相同或不同的扫描仪引导。分块可由(例如基本上)静止的铺设能量束形成，所述铺设能量束沿着路径(例如分块的路径)周期性地移动。铺设能量束可具有比扫描能量束更低的功率密度。阴影线可通过连续移动的扫描能量束而形成。形成分块的铺设能量束在靶表面的位置处的停留时间可长于形成阴影线的扫描能量束在靶表面的位置处的停留时间。铺设能量束的横截面可大于扫描能量束的横截面。
有时，单个传感器和/或检测器可用于(相应地)感测和/或检测多个物理参数(例如属性)，例如能量束随着时间推移的功率密度、能量束随着时间推移的温度、和/或随着时间推移的能量源功率。有时，单个像素传感器和/或检测器可用于(相应地)感测和/或检测物理属性(例如能量束的功率密度(例如随着时间推移)、能量束的温度(例如随着时间推移)、和/或能量源功率(例如随着时间推移)。图28A-28D示出了表示根据时间(例如使用单个传感器/检测器)，用于测量位置、功率和温度的各种方法的曲线图。图28A显示在三个位置X1、X2、X3处照射能量束的例子。在位置处的照射可形成三个熔池。在位置处的照射可形成三个分块。在位置处的照射可通过非振荡能量束(例如沿着路径2825行进)。照射可通过使用能量束的振荡(例如，逆向扫描、抖动)能量，所述能量束沿着振荡路径2820行进。能量束可为转化能量束。例如，能量束可为铺设能量束。能量束(例如图28A，2810)的位置可根据时间(例如图28A，2815)进行测量，例如，当振荡(例如，逆向扫描)能量束执行振荡2820时，或者当非振荡能量束沿着其路径2810行进时。振荡能量束可执行包括沿着非振荡能量束的路径来回移动的振荡。振荡可具有等于或小于熔池直径的振幅。振荡可具有等于或小于熔池直径的振幅，所述熔池直径小于能量束横截面的直径。与在时期t1-t2期间在位置X1处照射的非振荡能量束(例如2825)相比，振荡波束(例如2820)在X1-d和X1+d之间来回行进，如图28A的例子中所示。图28B示出了在形成分块(例如具有图28A，X1、X2和X3的中心位置)时，描绘了根据时间2835的温度测量2830的例子。在图28B中所示的例子中，在能量束(例如2820)的空间振荡期间，在能量束的覆盖区处从靶表面发射的测量温度2840同样振荡。当在靶表面处的振荡能量束的覆盖区在由能量束加热的区域中心(例如图28A，X1，例如分块中心)与该中心的边界(例如图28A，X1-d或X1+d，例如分块边界)之间振荡时，在覆盖区处从靶表面发射的测量温度在最大温度值(例如在分块中心处)和最小温度值(在分块边界处)之间波动。图28B显示了在t1至t2期间，沿着路径2825(在图28A中)行进的非振荡能量束根据时间的温度测量曲线2845。在图28B中所示的例子中，在从t1到t2的时期期间，功率保持(例如基本上)恒定。图28D示出了在形成以X1为中心的分块(在图28A中)时，描绘了根据时间2885的温度测量2880的例子。在图28D中所示的例子中，在能量束的空间振荡期间，在能量束的覆盖区处从靶表面测量的温度同样振荡2850。当在靶表面处的振荡能量束覆盖区在由能量束加热的区域中心(例如图28A，X1，例如铺设中心)与该中心的边界(例如图28A，X1-d或X1+d，例如铺设边界)之间振荡时，在能量束覆盖区2850处从靶表面测量的温度在局部最大温度值(例如在分块中心处)和最小温度值(在分块边界处)之间波动。图28B显示了在t1至t2期间，沿着路径2825行进的非振荡能量束根据时间的温度测量曲线2855。在图28B中所示的例子中，生成能量束的能量源的功率2857在从t1到t1+d的时期期间保持(例如基本上)恒定，直到温度接近T4的(例如预定的)值；并且在从t1+d到t2的时期期间降低，以便将温度保持在(例如基本上)恒定的值T4。一个或多个检测器可通过检测温度来测量沿着(例如，扫描和/或非扫描能量束的)路径的温度分布。振荡波束的后退和前进移动的速度(例如，移动速度)和/或振幅相对于彼此可为(例如基本上)类似的或不同的。振荡波束的至少两个前进移动的速度和/或振幅沿着路径可不同。振荡波束的至少两个后退移动的速度和/或振幅沿着路径可(例如基本上)类似。
在一些实施例中，靶表面上的振荡能量束的覆盖区在靶表面的位置(例如分块的中心)周围来回平移。振荡的振幅可小于或等于分块的FLS(例如直径)。在一些实施例中，使用(例如，相同或另一种特征的)测量值，在振荡期间使用闭环控制将能量束的至少一个特征保持在(例如基本上)恒定的值。例如，使用在靶表面处的一个或多个位置处的温度测量(例如在一个位置处和/或当能量束沿着路径行进时)，生成能量束的能量源的功率可保持在恒定值下。例如，在照射位置(例如能量束覆盖区)处的温度保持在(例如基本上)恒定的最大值(例如使用控制器)，并且测量并且和/或观察生成能量束的能量源的功率。通过改变能量源的功率可将温度保持在恒定的最大值下。能量源功率可保持在恒定值下，导致在能量束覆盖区的靶表面位置处的温度改变。加热区域的面积范围可从功率和/或温度测量(例如，的波动)外推。加热区域可包括熔池(例如图26A，2605)或其附近(例如2610)。在一些实施例中，保持在闭环控制中的振荡能量束可促进控制熔池的至少一个特征(例如温度和FLS)。在一些实施例中，能量束的功率变化可在能量束的照射期间(例如在3D打印期间)在靶表面处循环和/或可下降。图28C示出了例如使用单个传感器/检测器，根据时间(例如2865)测量能量源的功率(例如2860)的示例方法。在该示例方法中，可指定阈值温度(例如在靶表面处要维持的温度)。阈值温度可保持(例如基本上)恒定。传感器/检测器可监测在离散时间点时的温度。控制系统可通过将监测温度与阈值温度进行比较，调整生成能量束的能量源的至少一个特征(例如，其功率)，以维持阈值温度。控制系统可通过将监测温度与阈值温度进行比较，调整能量束的至少一个特征，以维持阈值温度。例如，控制系统可通过将监测温度与阈值温度进行比较，调整能量源的功率和/或能量束的功率密度，以维持阈值温度。因此，随着时间推移的功率可变化以维持阈值温度值。图28C示出了随着时间改变功率的例子，因为能量束在从时间t1到t2的时期内随着时间推移在空间上振荡(图28A，2820)。随着时间推移的功率可为周期性的并随着时间推移而下降(例如2875和2870)，以在从t1到t2的时期期间维持振荡能量束的恒定温度值。图28D显示了非振荡能量束随时间推移的功率曲线2857及其随时间推移而提供的各自温度2855的例子，所述非振荡能量束旨在将温度值维持在T4下。有时，靶表面的一个或多个物理性质(例如熔池特征)可相应地由单个传感器和/或检测器来感测和/或检测。例如，控制系统可通过比较(i)监测的温度与阈值温度、(ii)监测的功率密度与阈值功率密度、(iii)监测的功率与阈值功率、(iv)或其任何组合，来调整能量束和/或能量源的至少一个特征。功率可为生成能量束的能量源具有的。功率密度可为能量束具有的。温度可为靶表面处(例如在能量束的覆盖区处)的位置具有的。
碎片的减少可允许减少(例如消除)至少一个机构的使用，所述至少一个机构将3D打印机(或其任何部件)维持在减少的碎片水平下(例如，不含碎片)。例如，碎片的减少可减少(例如消除)光学窗口(例如图1，115)清洁机构的利用。
硬化材料(例如3D物体)可具有至多约0.05百分比(％)、0.1％0.2％、0.3％、0.4％、0.5％、0.6％、0.7％、0.8％、0.9％、1％、2％、3％、4％、5％、6％、7％、8％、9％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％或80％的孔隙度。硬化材料可具有至少约0.05百分比(％)、0.1％、0.2％、0.3％、0.4％、0.5％、0.6％、0.7％、0.8％、0.9％、1％、2％、3％、4％、5％、6％、7％、8％、9％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％或80％的孔隙率。硬化材料可具有在上述孔隙率百分比中任意者之间的孔隙率(例如约0.05％至约0.2％、约0.05％至约0.5％、约0.05％至约20％、约0.05％至约50％、或约30％至约80％)。在一些情况下，孔可横切形成的物体。例如，孔可在平坦物体的一个面处开始，并且在硬化材料的相对面(例如，底部蒙皮)处终止。孔可包括从平坦物体的一个面延伸并且在硬化材料的相对面上终止的通道。在一些情况下，孔可不横切形成的物体。孔可在形成的3D物体中形成空腔。孔可在形成的3D物体的一个面(例如3D物体的面)上形成空腔。例如，孔可在3D平面的一个面上开始，而不是延伸到该3D平面的相对面。3D物体中的硬化材料的第一形成层在本文中可被称为“底部蒙皮”。术语“底部蒙皮”也可指悬挂结构或空腔天花板的第一形成层(例如，最底层)。
在一些实施例中，控制可由至少一个控制器(例如，如本文公开的)来实现。控制器可控制能量束和/或传感器(例如，气体传感器)。控制器可控制外壳包括其压力、湿度、氧或温度。控制器可控制安全相关参数、系统和/或仪器(例如，联锁和/或加载锁)。联锁和/或加载锁可将处理腔室(例如包含大气2926)与构建模块(例如，图29，2940)分开。控制器可控制系统和/或仪器的“健康”(例如，正确操作)。控制器可控制系统和/或仪器的指定(例如，正确)操作(例如，其正确移动(例如堵塞或流动)、任何气体泄漏和/或功率稳定性)。控制器可控制与通信系统(例如，互联网)的连接。控制器可包括经由云(例如，互联网)连接的两个或更多个处理器。控制器可警告在存储信息、日志、成像、过程信号或其任何组合中的任何错误。控制器可包括用户界面软件。该软件可为非暂时性计算机可读介质(例如，其中存储程序指令)。控制器可(例如实时)控制系统和/或仪器。例如，控制器可在测试和/或3D打印模式下控制(例如，操作和/或调节)系统和/或仪器。控制器可控制一个或多个3D打印参数。控制器可保存和/或加载文件。控制器(例如，其软件)可鉴定难以构建(例如无法构建)的所需物体的各部分。控制器可推荐方案来围绕困难部分的打印进行设计。控制器可推荐用于3D打印的替代设计方案。控制器(例如软件)可执行3D物体(或其各部分)的风险评估。控制器(例如软件)可包括切片和/或阴影线方案的可视化(例如实时、在打印3D物体之前和/或在打印3D物体之后)。系统和/或仪器可实现打印的3D物体的可视化(例如实时、在打印3D物体之前和/或在打印3D物体之后)。可视化可包括其中硬化材料层将从其各自(例如虚拟)切片形成的方式。控制器(例如，其软件)可评估(例如检查)3D打印期间中的任何错误。控制器(例如软件)可评估(例如检查)3D物体与所需(例如所请求的)3D物体的任何偏差。评估可在3D物体形成之前、3D物体形成期间和/或3D物体形成之后。评估可以是3D打印期间的实时评估。控制器可控制能量束、材料床的暴露表面的至少一个位置的温度、材料床的内部的至少一个位置的温度(例如基于预测模型)、或其任何组合(例如在3D打印期间实时)。
在一些实施例中，控制器包括一个或多个部件。控制器可包括处理器。控制器可包括专用硬件(例如电子电路)。控制器可为比例积分微分控制器(PID控制器)。控制可包括动态控制(例如在3D打印过程期间实时)。例如，(例如转化)能量束的控制可为动态控制(例如在3D打印过程期间)。PID控制器可包括PID调节软件。PID控制可包括恒定的和/或动态的PID控制参数。PID参数可将变量与在任何给定时间维持和/或达到变量的设定点所需的需要功率相关。计算可包括计算过程值。过程值可为在给定时刻要控制的变量的值。例如，过程控制器可通过改变能量束的功率来控制温度，其中所述温度是变量，并且能量束的功率是过程值。例如，过程控制器可通过改变能量源的功率和/或能量束的功率密度，控制硬化材料层的至少一部分的高度，所述硬化材料层偏离靶表面的平均表面(例如材料床的暴露表面)，其中所述高度测量是变量，并且所述能量源的功率和/或能量束的功率密度是过程值。变量可包括温度或计量值。参数可使用历史(例如，过去)3D打印过程来获得和/或计算。参数可在3D打印过程期间实时获得。在3D打印过程期间，可包括在3D物体形成期间、在硬化材料层形成期间、或在硬化材料层的一部分形成期间。计算的输出可为能量源的功率和/或能量束的功率密度。计算输出可为材料床(例如，与冷却机构、外壳的底部、光学窗口、能量源或其任何组合)的相对距离(例如高度)。
在一些实施例中，控制器包括PID控制器。PID控制器(例如，控制算法)可包括比例积分控制器(即，PI控制器)、死区、设定点阶梯改变、前馈控制、无扰操作、PID增益调度、模糊逻辑或计算动词逻辑。设定点可为靶值(例如靶温度、材料床的暴露表面的靶高度或能量源的靶功率)。在一些实施例中，控制器可包括多个设定点(例如，其具有不同类型)。
在一些例子中，计算可考虑(例如某些类型的3D物体几何形状的)历史数据、现有3D结构(例如3D物体)、要打印的所需3D物体的未来3D部分、或其任何组合。要打印的所需3D物体的未来部分可包括应该稍后被打印的3D物体的一部分(例如在所需3D物体的3D打印过程期间将来要打印的层)。计算可利用化学建模(氧化物、化学相互作用)。化学建模可用于理解各种反应产物(例如氧化物)和化学相互作用对3D物体的3D打印的作用。例如，理解由于该层的氧化减少的润湿(例如，其缺乏)。3D打印可利用蚀刻(例如，等离子蚀刻)来减少成形3D物体上的氧化物(例如，氧化物层)的量。蚀刻可在3D打印期间执行。
在一些实施例中，设定点被改变(例如动态地)。改变设定点可包括设定点斜坡(setpoint ramping)、设定点权重或过程变量的导数。无扰操作可包括“无扰”初始化特征，所述特征重新计算积分累加器项以维持通过参数变化的一致过程输出。控制可包括高采样率、测量精度或测量准确度，其(个别或组合)实现3D打印的方法、系统和/或仪器的足够控制性能。控制(例如，控制算法)可包括通过使用积分器和/或微分器的分数阶来增加自由度。
在一些实施例中，控制器包括温度控制器(例如温度PID控制器)或计量控制器(例如计量PID控制器)。控制器可为嵌套控制器。嵌套可为在第二控制器内控制的第一控制器。例如，温度PID控制器可包括计量PID控制器。例如，计量PID控制器可包括温度PID控制器。例如，第一温度PID控制器可包括第二温度PID控制器。例如，第一计量PID控制器可包括第二计量PID控制器。计量控制器可使用来自温度控制器的输入和/或反之亦然。温度控制器可接收来自计量检测器(例如在它包括嵌套计量控制器的情况下)和/或来自温度检测器的输入。计量检测器(metrology detector)在本文中也可被称为“计量检测器(metrologicaldetector)”。温度控制器可考虑任何校正变形。温度控制器可考虑物体预校正(OPC；例如图6)。嵌套控制器可掺入来自计量检测器和/或温度检测器的校正变形(例如，OPC)数据。嵌套控制器可控制成形3D物体的变形程度。计量检测器和/或温度检测器(例如，以及控制器)可解决成形3D物体(例如高度小于约1μm、5μm、8μm、10μm、15μm、20μm、30μm或40μm)的不规则性。不规则性可包括材料床不规则性和/或高度不规则性。
在一些实施例中，计量检测器用于3D打印的控制。计量检测器可包括成像检测器(例如CCD、照相机)，以监测不规则性。成像装置(例如，如本文公开的)可包括成像检测器。成像检测器在本文中也被称为“图像检测器”。图像检测器可包括检测成形3D物体的区域，并且将其转换为X-Y(例如水平)平面中的像素。该区域的高度(Z平面)可使用一个或多个计算机算法(例如相移算法)来测量。该算法可包括通过改变(例如调制)参考信号(例如，载波)的相，来输送数据的(例如数字)调制方案。成像检测器可捕获至少约40μm、50μm、60μm、70μm、80μm、90μm、100μm、200μm、500μm、1毫米或2毫米的FLS的区域。由成像检测器捕获的区域的FLS可在上述尺寸中任意者之间(例如约40μm至约2毫米、约100μm至约1毫米、约40μm至约70μm、或约70μm至约80μm)。成像检测器的像素(X，Y)可检测至少约40μm、50μm、60μm、70μm、80μm、90μm、100μm、200μm、500μm、1毫米、2毫米、10毫米、20毫米、50毫米、100毫米、200毫米、250毫米、300毫米或500毫米的至少一个FLS(例如，长度或宽度)。成像检测器的像素内的捕获区域的至少一个FLS(例如，长度或宽度)可在上述FLS值中任意者之间(例如约40μm至约200毫米、约100μm至约300毫米、约40微米至约500毫米、或约100至约300毫米、约150毫米至约170毫米)。成像检测器可以至少约0.1赫兹(Hz)、0.2Hz、0.5Hz、0.7Hz、1Hz、1.5Hz、2Hz、3Hz、4Hz、5Hz、6Hz、7Hz、8Hz、10Hz、20Hz、50Hz、100Hz、200Hz、300Hz、400Hz或500Hz的频率操作。成像检测器的频率可在上述频率中任意者之间(例如约0.1Hz至约500Hz、约1Hz至约500Hz、约1Hz至约100Hz、约0.1Hz至约100Hz、约0.1Hz至约1Hz、约0.5Hz至约8Hz、或约1Hz至约8Hz)。计量检测器可执行位置检测。为了执行位置检测，计量检测器可安装在载物台(例如升降机或校准板)上。载物台可为可移动的和/或受控的(例如，手动和/或自动地；在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间)。可替代地或另外地，计量检测器可从3D打印机的一个或多个仪器接收计量和/或校准信息。一个或多个仪器可天然或另外地包括载物台，计量检测器可使用绝对校准信息。图20显示了由嵌套控制器使用的逻辑序列的例子，其中来自物体预打印校正(OPC)程序2003的数据由计量检测器2002加以考虑，所述计量检测器2002依次又将其输出送入温度控制器2001，所述温度控制器2001以闭环控制操作，并考虑温度控制器的测量。OPC数据可由(由温度控制器和/或计量控制器例如直接)加以考虑。嵌套控制器可掺入计量控制器和/或温度控制器。(例如，嵌套)控制器可考虑OPC数据。
在一些实施例中，控制系统使用来自计量检测器的数据。控制系统可使用数据来控制3D打印的一个或多个参数。例如，控制系统可使用计量数据来控制层分配机构(例如材料分配器、平整机构和/或材料去除机构)的一个或多个参数。例如，计量测量可促进材料床的暴露表面相对于平台和/或水平线的粗糙度和/或倾斜度的确定和/或随后补偿。倾斜度可包括倾斜、歪斜或歪曲。倾斜度可包括偏离与平台和/或水平线平行的平坦表面。粗糙度可包含随机或系统偏差。系统偏差可包括波度。系统偏差可沿着材料分配机构的路径(例如沿着平台和/或材料床的暴露表面)，和/或垂直于该路径。例如，控制器可引导材料分配器以改变分配的预转化的材料的量和/或速率。例如，控制器可引导靶高度的改变，根据所述靶高度的改变，平整机构使材料层的暴露表面平坦化。例如，控制器可引导材料去除构件，以改变从材料床去除的预转化的材料的量和/或速率(例如在其平坦化期间)。控制系统可使用计量数据来控制能量源和/或能量束的一个或多个参数。来自计量检测器的一个或多个测量可用于(例如实时和/或离线)改变计算机模型。例如，计量检测器测量可用于改变OPC数据。例如，计量检测器测量可用于改变一个或多个相继层的打印指令(例如在3D物体的打印期间)。
在一些实施例中，检测器和/或控制器将随着时间推移(例如，时期)检测到的信号的至少一部分求平均值。在一些实施例中，检测器和/或控制器(至少部分地)减小来自检测到的信号的噪声(例如随着时间推移)。噪声可包括检测器噪声、传感器噪声、来自靶表面的噪声或其任何组合。来自靶表面的噪声可起于与靶表面的平面度的偏差(例如，当靶表面包含微粒材料(例如粉末)时)。噪声的减少可包括使用滤波器、降噪算法、随着时间推移的信号的求平均值或其任何组合。
在一些实施例中，计量检测器被校准。例如，计量检测器可在外壳中(例如在处理腔室中，例如包含大气，图29，2926)中原位检测和/或校准。计量检测器可使用静止结构来校准至少一个高度位置。例如，计量检测器可使用处理腔室的地板(例如图29，2950)作为计量(例如高度)参考点。计量检测器可使用在处理腔室的侧壁处的一个或多个位置作为计量参考点。处理腔室可包括未设置在处理腔室的壁和/或地板上的一个或多个参考静止点。例如，处理腔室可包括固定尺，其包括在指定位置处的狭缝和/或阶梯，以用作计量校准的参考点。
图19显示了计量检测器(例如高度测绘器)的例子，所述计量检测器在材料床(例如粉末床)的暴露表面上投射条纹图像，所述图像包括较暗条纹1901和较亮条纹1902。计量检测器可在3D打印的至少一部分期间操作。例如，计量检测器可在转化能量束的操作之前、转化能量束的操作之后和/或转化能量束的操作期间投射其图像。投影图像可包括形状。形状可为几何形状。形状可为矩形形状。形状可包含线。形状可横向地(例如从靶表面的一侧到其相对侧)扫描靶表面(例如材料床的暴露表面)。形状可扫描靶表面的至少一部分(例如在横向扫描中)。扫描可沿着暴露表面的长度。投影形状可跨越(例如，占据)靶表面宽度的至少一部分。例如，形状可跨越靶表面宽度的一部分、靶表面的宽度或超过靶表面的宽度。形状可在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间扫描靶表面的至少一部分。扫描可手动和/或自动控制(例如通过控制器)。控制可在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间。例如，形状可在转化能量束操作之前、转化能量束操作之后和/或转化能量束操作期间扫描暴露表面。形状可为可检测的(例如使用光学和/或光谱传感器)。扫描能量束可包括该形状。投影形状可为电磁辐射(例如可见光)具有的。投影形状可为可检测的。投影形状可以至少约0.1赫兹(Hz)、0.2Hz、0.5Hz、0.7Hz、1Hz、1.5Hz、2Hz、3Hz、4Hz、5Hz、6Hz、7Hz、8Hz、10Hz、20Hz、50Hz、100Hz、200Hz、300Hz、400Hz或500Hz的频率扫描靶表面。投影形状可以上述频率中任意者之间的频率(例如约0.1Hz至约500Hz、约1Hz至约500Hz、约1Hz至约100Hz、约0.1Hz至约100Hz、约0.1Hz至约1Hz、约0.5Hz至约8Hz、或约1Hz至约8Hz)扫描靶表面。图像可包括(例如，交替)条纹。条纹之间的距离可为恒定的。条纹之间的距离可为恒定的。条纹之间的距离可为可变的。条纹之间的距离可实时改变(例如，手动或通过控制器)。实时可在执行计量检测时。实时可在构建(例如打印)3D物体时。与条纹的规律性(例如，线性)的偏差可揭示与(例如材料床的)平均(或均值)暴露表面高度的高度偏差。在图19中所示的例子中的材料床是铬镍铁合金718粉末床。在图19中所示的例子中，3D物体1905被部分地埋入材料床中，并且提升材料床的预转化的材料(例如粉末)的一部分，使得与条纹的线性的偏差是可见。与规律性(例如，线性)的偏差的形状可揭示埋入的3D物体部分(其被埋入材料床中)的形状特征。例如，在3D物体1904上方的线是(例如基本上)线性的，而在3D物体1905上方的线是弯曲的。在3D物体上方的偏差的(例如，弯曲的)线可涉及(紧)在下面的3D物体(例如1905)的翘曲。在3D物体上方检测到的线的规律性(例如，线性)可涉及(紧)在下面的3D物体(例如1904)的顶表面的平面度。例如，与投影图像的规律性相匹配的在3D物体(无论是埋入材料床中还是暴露的)上方的线可揭示3D物体的平坦顶表面。例如，与在3D物体(无论是埋入材料床中还是暴露的)上方的投影图像的规律性的偏差可揭示3D物体的顶表面中的变形。例如，当计量投影仪投射条纹时，在3D物体上方的线性线可揭示3D物体的平坦顶表面。例如，当计量投影仪投射条纹时，在3D物体上方的非线性(例如弯曲)线可揭示3D物体的非平坦(例如弯曲)顶表面。靶表面的反射率可指示暴露表面的平面均匀性。图19，1903显示了在材料床中的3D物体，所述3D物体是反射性的，而材料床基本上更少反射性。
有时，通过3D打印方法形成3D物体引起3D物体的一个或多个部分变形。变形可包括弯曲、翘曲、拱起、挠曲、扭曲、成球、开裂、错位或其任何组合。变形可在当前正在生成的层中发生。变形可在先前构建的3D物体的至少一部分中发生(例如，当它硬化时)。变形可在3D打印期间发生。先前构建的部分可设置在材料床内。例如，该部分可埋入材料床中。该部分从材料床的暴露表面可能是不可见的(例如光学地)。正在构建的层的位移可为可见的(例如光学地)。可见性可使用光学传感器(例如照相机)来引导。照相机可为高分辨率照相机。可见性可为间接的(例如使用计量检测器例如高度测绘仪(例如图19)。
在一些例子中，临时夹具(在本文中被称为“标志”)帮助控制(例如监测)变形，所述变形在材料床内体现自身并且通过外部手段(例如计量和/或光学传感器)不可见。一个或多个夹具可被附接到3D物体的一个或多个部分，所述部分被设置在材料床内时易于变形。一个或多个夹具可为在3D打印完成后可去除的临时夹具。夹具可能不是所请求的3D物体的部分。夹具可具有3D物体由其形成的相同材料。图23A显示了在材料床2314中正在形成的所请求的3D物体2312的例子，所述3D物体被设置在平台2310上并且具有易于变形的部分，标志2313在位置2315处附接到所述部分。标志可在3D打印过程期间形成。标志可作为3D物体的3D打印过程的部分形成。标志可与3D物体的打印同时打印。标志可为可脱离的。标志可为线材。标志可具有的FLS基本上类似或小于它与之附接的3D物体的一部分的FLS。标志的顶部部分(例如，标志的尖端、标志的最顶部部分)通过光学和/或计量传感器可为可见的。标志的位移(例如，移动)可由它与之附接的3D部分的位移引起。位移可相对于标志的预期位置(例如，其附接到未变形的3D物体部分)。标志的位移可指示它与之附接的3D物体的一部分的至少一次移动。该移动(例如从其形成位置)可能是由于变形(例如在其硬化和/或软化期间)。图23B显示了图23A的3D物体2312的例子，所述3D物体2312构建成3D物体2322，所述3D物体2322在材料床2324中形成，所述3D物体设置在平台2320上并且具有易于变形的部分，标志2323在位置2325处附接到所述部分。当3D物体2312构建成3D物体2322时，附接到该标志的部分变形，并且从位置2325水平地和垂直地移动到位置2326，导致标志从位置2323位移到位置2328。在图23B中所示的例子中，标志2328的尖端从材料床的暴露表面突出并且可光学检测。
3D物体可附接到平台。图23A显示了在位置2311处附接到平台2310的3D物体。3D物体可不接触平台。3D物体可不锚定到平台。3D物体可在材料床中(例如无锚地)浮动。3D物体可在材料床中(例如无锚地)悬浮。3D物体可包括辅助支撑件或者可没有辅助支撑件。辅助支撑件可包括平台和/或与平台的锚固件。辅助支撑件可与平台接触或不接触。辅助支撑件可与平台连接或不连接。具有辅助支撑件的物体可在材料床中无锚浮动。材料床可包括在3D打印期间的可流动材料。材料床在3D打印期间可没有压力梯度。材料床在3D打印期间可处于环境温度和/或压力下。环境温度和/或压力可分别包括室温和/或压力。
在一些实施例中，方法、系统、仪器和/或软件可包括预测和/或鉴定所需3D物体表面的表面上的一个或多个点的算法，所述一个或多个点易于(例如倾向于)变形(例如，翘曲)。该方法、系统、仪器和/或软件可包括生成方向(例如打印指令)，和/或引导连接到易于变形的3D物体的部分的标志结构的形成(例如打印)。该部分可为设置在材料床中的部分。该部分可为通过(例如光学和/或计量)传感器无法检测的部分。该方法、系统、仪器和/或软件可包括计算(calculating)(例如计算(computing))“标志放大率”。标志放大率可包括标志的位移和(埋入、覆盖，和/或隐藏的)3D物体部分的变形之间的关系。位移可为水平和/或垂直的(例如在X、Y和/或Z方向上)。标志放大率可指示在标志的可检测部分(例如标志的尖端)的位移和(隐藏的)物体部分的变形之间的关系。
在一些实施例中，控制器包括PID控制器。制器可包括级联控制(例如多重PID控制器的使用)。控制可包括使用多重(例如两个)PID控制器。与单个PID控制器的使用相比，多重PID控制器的使用可产生更好的动态性能。级联控制可包括控制第二PID控制器的设定点的第一PID控制器。第一PID控制器可为外部环路控制器。第二PID控制器可为内部环路控制器。
有时，控制器采样测量的过程变量。控制器可利用测量的过程变量执行计算(computations)(例如计算(calculations))。控制器可传送控制器输出信号(例如，来源于计算)。控制器可具有循环采样时间。循环采样时间可(i)包括在其下控制器采样测量的过程变量的时间，(ii)使用测量的过程变量执行计算，(iii)传送新的控制器输出信号，或(iv)其任何组合或排列。循环采样时间可为至多约1微秒(μsec)、2μsec、3μsec、4μsec、5μsec、6μsec、7μsec、8μsec、9μsec、10μsec、11μsec、12μsec、13μsec、14μsec、15μsec、20μsec、25μsec、30μsec、40μsec、50μsec、60μsec、70μsec、80μsec、90μsec、1毫秒(msec)、5msec或10msec。循环采样时间可在上述采样时间中任意者之间(例如约1μsec至约90μsec、约1μsec至约5μsec、约5μsec至约15μsec、约15μsec至约30μsec、约30μsec至约90μsec、约1μsec至约10msec、或50μsec至10msec)。计算可在(例如基本上)等于上述循环采样时间中任意者的时间下执行。计算可在(例如转化)能量束的停留时间、(例如转化)能量束的间歇时间或其任何组合期间执行。计算可在一个或多个(例如，相继)熔池形成期间、在两个(例如，相继)熔池的形成之间(例如，“在......之间”可为包含在内的或排他的)或其任何组合执行。例如，计算可在单个熔池形成期间执行。计算可在材料床的至少一部分的转化期间执行。计算可在两层硬化材料的形成之间、在硬化材料层形成期间、在3D物体形成期间、在3D打印过程期间或其任何组合执行。停留时间、间歇时间和/或转化能量束(例如扫描能量束和/或铺设能量束)可为专利申请序列号PCT/US16/66000和临时专利申请序列号62/317,070中所述的任一种，所述两个专利申请均以引用的方式全文并入本文。在间歇时间期间，能量束可具有降低的功率密度，其不使预转化的材料和/或靶表面升高到至少转化温度或更高。例如，在间歇期间，能量束可具有允许在靶表面处的照射位置加热但不转化的功率密度。例如，在间歇期间，能量束可具有可忽略不计地加热在靶表面处的照射位置的功率密度。可忽略不计的是相对于3D打印过程。例如，在间歇期间，能量束可被关闭。
在一些情况下，控制器包括控制环路带宽。控制环路带宽可为在其下受控变量的闭环响应从设定点(例如，闭环振幅响应)减弱约3dB的频率。控制环路带宽可被近似为在其下系统的开环增益为一的点(在本文中也被称为“交叉”频率)。闭环控制系统的带宽可为其中闭环增益幅度不下降低于约-3分贝(dB)的频率范围。控制系统的带宽ωB可为其中闭环频率响应的幅度大于约-3dB的频率范围。频率ωB可为截止频率。在大于ωB的频率下，闭环频率响应可减弱超过约-3dB。控制环路带宽的频率ωB可为至少约0.1赫兹(Hz)、0.2Hz、0.5Hz、0.7Hz、1Hz、1.5Hz、2Hz、3Hz或5Hz。控制环路带宽的频率ωB可在上述频率中任意者之间(例如约0.1Hz至约5Hz、约0.1Hz至约1Hz、约0.5Hz至约1.5Hz、或约1Hz至约5Hz)。
在一些例子中，第二PID控制器读取第一(例如外环)控制器的输出作为设定点。与由第二PID控制器控制的参数相比，第一PID控制器可控制更快速的变化，或者更不快速变化的参数(例如，参数特征)。在一些例子中，第二PID控制器和第一PID控制器可控制以基本上相同的速度变化的参数。在一些实施例中，与使用单个PID控制器相比，级联控制器的工作频率增加。有时，与使用单个PID控制器相比，通过使用级联PID控制器可减少时间常数。代替直接控制参数(例如温度参数、功率参数和/或功率密度参数)，外部PID控制器可对于内部PID控制器设定参数设定点。内部PID控制器可直接控制参数。内部控制器的误差项可包括参数设定点和直接测量的参数特征(例如温度)之间的差异。外部PID控制器可包括长时间常数(例如可具有过长的响应时间)。内部环路可在较短时标下响应。参数特征可包括位置、高度、功率、功率密度或温度。参数特征可包括能量束的停留时间、脉冲模式、脉冲频率、覆盖区、加速度、横截面、注量和/或速度。覆盖区可为靶表面(例如材料床的暴露层)上的能量束的覆盖区。
在一些实施例中，控制器在控制时间期间连续计算误差值。误差值可为所需设定点与测量的过程变量之间的差异。控制可为连续控制(例如在3D打印过程期间、在3D物体形成期间和/或在硬化材料层形成期间)。控制可为不连续的。例如，控制可引起一系列离散事件的发生。控制可包括连续、离散或批量控制。所需设定点可包括温度、功率、功率密度或计量(例如高度)设定点。计量设定点可涉及靶表面(例如材料床的暴露表面)。计量设定点可涉及靶表面(例如材料床的暴露(例如，顶)表面)的一个或多个高度设定点。温度设定点可涉及(例如可为)材料床的温度(例如在材料床的暴露表面处或与材料床的暴露表面相邻)。温度设定点可涉及(例如可为)经转化的材料(例如熔池)的温度或与其相邻的温度。控制器可尝试通过控制变量的调整，随着时间推移最小化误差(例如温度和/或计量误差)。控制变量可包括供应给3D打印仪器和/或系统的任何部件的方向和/或(电)功率。例如，方向和/或功率供应给以下：能量束、扫描仪、平移平台的电机、光学系统部件、光漫射器或其任何组合。
在一些实施例中，设定点(在本文中也是“设定点(set point)”或“设定点(set-point)”)是3D打印系统、方法、算法、软件和/或仪器的基本变量的所需或靶值。设定点可用于描述系统、方法、算法、软件和/或仪器的标准配置或规范。变量与其设定点的背离可为错误控制调节的基础。错误控制调节可包括反馈和/或前馈环路，以将该系统、方法、算法、软件和/或仪器改变(例如返回)为其所需(例如，正常)状态(例如，条件)。
在一些实施例中，转化能量束在靶表面(例如材料床的暴露表面)的位置上以第一功率P1(例如，以其最大功率)照射。该(第一)位置的温度可由温度传感器感测。该(第一)位置的温度可由控制器控制。随后照射的(第二)位置的温度可由控制器控制(例如，并且影响第一位置中的温度)。当达到该位置的靶温度时(例如，如通过温度传感器测量的)，控制器可用于将该靶温度保持在(例如基本上)恒定的值下，例如通过减少转化能量束的功率(例如，至值P2，其小于P1)。能量束的功率可测量为能量束的功率密度。在一些实施例中，由于通过控制器的温度控制，能量束的功率达到最小功率Pmin(例如预定的最小功率)。有时，转化能量束的功率可达到最小功率；在大约那时：转化能量束的功率可(例如基本上)关闭，转化能量束的功率可(例如基本上)减少到非转化功率，转化能量束可重新定位到另一个(例如，远侧)位置，或其任何组合。
在一些例子中，控制是主动控制。控制可包括控制能量束的FLS(例如覆盖区或斑点大小)。控制可包括控制束(例如能量)分布。束分布控制可包括使用漫射、微透镜、折射或衍射元件(例如光学元件)。束分布控制可包括控制能量束的能量分布(例如平顶、高斯或其任何组合)。束分布(例如，横截面的FLS和/或能量分布)在3D打印期间(例如在3D物体形成期间)可改变。在3D物体形成期间可包括在硬化材料层或其一部分形成期间。
在一些例子中，转化能量束在轨迹(例如，路径)中沿着靶表面行进。转化能量束可以变化和/或恒定的功率密度照射靶表面。转化能量束可由具有变化和/或恒定功率的电源生成。图32A显示了根据时间的能量源功率、或根据时间的能量束的功率密度的例子；其中所述现象分布相应地与能量源的功率或能量束的功率密度有关。例如，图32A显示了在t1时功率密度(例如在打开能量束时)中的初始增加，随后为在从t1到t2的时期期间的平台期(例如，当以恒定的功率密度照射时)，随后为在从t2到t3的时期期间的减少(例如，当经转化的/转化材料加热超过阈值温度时降低功率密度的同时)，随后为在从t3到t4的时期期间的第二平台期(例如在能量束关闭的间歇期间)的例子。例如，图32A显示了在t1时能量源的功率中的初始增加(例如在打开能量源以生成能量束时)，随后为在从t1到t2的时期期间的平台期(例如，当以恒定功率生成能量束时)，随后为在从t2到t3的时期期间的减少(例如，当经转化的/转化材料加热超过阈值温度时降低功率的同时)，随后为在从t3到t4的时期期间的第二平台期(例如在能量源关闭的间歇期间)的例子。转化能量束可沿着靶(例如暴露)表面行进，同时具有(例如基本上)恒定或可变的功率密度(即功率/单位面积)。该变化可包括功率密度中的初始增加，随后为功率密度中的减少，或其任何组合。该变化可包括功率密度中的初始增加，随后为平台期，随后为功率密度中的随后降低，或其任何组合。增加可为线性、对数、指数、多项式的或者其任何组合或排列。减少和/或增加可为线性、对数、指数、多项式的或者其任何组合或排列。平台可包括(例如基本上)恒定的能量密度。图32B显示了根据时间的能量源功率、或根据时间的能量束的功率密度的例子；其中所述现象分布分别与能量源的功率或能量束的功率密度有关。例如，图32B显示了具有三个峰值平台功率密度3221、3222和3223的能量束功率密度中的变化(例如振荡)，其中每个峰值(平台)随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。例如，图32B显示了具有三个峰值(平台)功率值3221、3222和3223的能量源功率中的变化，其中每个峰值随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。在图32B中所示的例子中，所有峰值都对应于相同的最大现象(例如，功率)值，并且所有谷平台都对应于相同的最小现象值，并且现象分布随着时间推移的变化方式是相同的(例如方式和发作时间、峰值平台期、衰退方式和谷平台时期都是相同的)。转化能量束的功率密度中的变化方式(例如使用的函数)可受以下影响：(i)测量(例如一个或多个传感器的信号)、(ii)理论上(例如通过模拟)、(iii)或其任何组合。转化能量束的功率密度平台的持续时间和峰值可受以下影响：(i)测量(例如一个或多个传感器的信号)、(ii)理论上(例如通过模拟)、(iii)或其任何组合。能量束的功率密度可根据形成(例如，间歇时间和停留时间的)序列的(例如在照射位置处或接近于其的温度的)传感器测量而波动。波动的功率密度可包括停留时间和间歇时间。序列中的至少两个间歇时间可为(例如基本上)相同的持续时间或不同的持续时间。序列中的至少两个间歇时间可为(例如基本上)相同或不同的最小功率密度值。序列中的至少两个停留时间可为(例如基本上)相同的持续时间或不同的持续时间。序列中的至少两个间歇时间可为(例如基本上)相同或不同的最大功率密度值。能量源的功率可根据(例如在照射位置处或接近于其的温度的)传感器测量而波动，形成(例如，最小功率(例如，关闭)时间和最大功率时间的)功率序列。序列中的至少两个最小功率时间可为(例如基本上)相同的持续时间或不同的持续时间。序列中的至少两个最小功率时间可为(例如基本上)相同或不同的最小功率密度值。序列中的至少两个最大功率时间可为(例如基本上)相同的持续时间或不同的持续时间。序列中的至少两个最大功率时间可为(例如基本上)相同或不同的最大功率密度值。图32C显示了根据时间的能量源功率、或根据时间的能量束的功率密度的例子；其中所述现象分布分别与能量源的功率或能量束的功率密度有关。例如，图32C显示了具有三个峰值(峰值平台)3231、3232和3233的能量束的功率密度中的变化(例如波动、振荡或脉冲)，其中每个峰值随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。例如，图32C显示了具有三个峰值(平台)功率值3231、3232和3233，生成能量束的能量源功率中的变化，其中每个峰值随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。在图33C中所示的例子中，峰值对应于不同的最大现象值，谷值对应于不同的最小现象值，并且每个现象脉冲的时间周期是相同的(例如在峰值平台、谷平台和其间的过渡期间的时间周期在所有现象脉冲中各自是相同的)。图32D显示了根据时间的能量源功率、或根据时间的能量束的功率密度的例子；其中所述现象分布分别与能量源的功率或能量束的功率密度有关。例如，图32D显示了具有三个峰值(平台)功率密度3241、3242和3243的能量束功率密度中的变化(例如振荡)，其中每个峰值随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。例如，图32D显示了具有三个峰值(平台)功率值3241、3242和3243，生成能量束的能量源功率中的变化，其中每个峰值随后为具有三个谷(谷平台)的减少(例如，遵循图32A中的例子)。在图33D中所示的例子中，峰值对应于相同的最大现象值(例如相应的能量束的功率密度或能量源的功率)，谷值对应于相同的最小现象值，并且现象脉冲的时间周期变化(例如在峰值平台、谷平台和其间的过渡期间的时间周期在所有现象脉冲中变化)。可检测的能量脉冲可对应于形成熔池。例如，每个可检测的能量脉冲可对应于熔池的形成。可检测的能量脉冲可对应于形成分块。例如，每个可检测的能量脉冲可对应于分块的形成。
图1显示了3D打印系统100和仪器的例子。转化能量束101通过能量源121生成。所生成的能量束可朝向材料床104行进通过光学机构120和/或光学窗口115。转化能量束101可沿着路径行进，以将材料床104的至少一部分转化成经转化的材料。经转化的材料可硬化成3D物体的至少一部分。在图1中所示的例子中，部分106表示材料床104内的经转化的材料层。材料床可设置在平台上方。平台可包括基材109和/或基部102。平台可使用平移机构(例如升降机105)来(例如垂直地112)平移。平移机构可在朝向或远离外壳111的底部的方向上(例如垂直地)行进。例如，在通过材料分配机构(例如116)分配新的预转化的材料层之前，平台的高度可减少。材料床119的顶表面可使用平整机构(例如包括零件117和118)来平整。该机构(例如3D打印机100)还可包括冷却构件(例如散热片113)。外壳126的内部可包括惰性气体和/或氧和/或湿度减少的大气。该大气可为于2015年6月19日提交的名称为“APPARATUSES，SYSTEMS AND METHODS FOR THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的专利申请号PCT/US15/36802中公开的任何大气，所述专利申请以引用的方式全文并入本文。
在增材制造的一个例子中，使用预转化的材料分配机构(例如116)，将一层预转化的材料(例如粉末材料)可操作地联接到平台和/或与平台相邻设置；使用平整机构(例如共同地117和118)使层平整；将能量束101导向材料床以转化材料床的至少一部分，以形成经转化的材料；使平台降低；将新的预转化的材料层设置到材料床内；并且该新层被平整并随后被照射。该过程可序贯重复，直到由相继生成的经转化的材料层(例如，与所请求的3D物体的虚拟模型有关)形成所需3D物体。在一些例子中，随着经转化的材料层硬化，它们可在硬化时(例如在冷却时)变形。本文公开的方法、系统、仪器和/或软件可控制硬化材料层(或其一部分)的至少一个特征，例如其平面度、分辨率和/或变形。例如，本文公开的方法、系统、仪器和/或软件可控制变形的程度。控制可为原位控制。控制可为在3D物体的至少一部分形成期间的控制。控制可包括闭环控制。该部分可为表面、层、多层、层的一部分和/或多层的一部分。3D物体内的硬化材料层可包括多重熔池。层的特征可包括层(或其一部分)的平面度、曲率或曲率半径。特征可包括层(或其一部分)的厚度。特征可包括层(或其一部分)的光滑度(例如平面度)。
本文描述的方法、系统、仪器和/或软件可包括在外壳中提供第一层预转化的材料(例如粉末)，以形成材料床(例如粉末床)。第一层可在基材或基部上提供。第一层可在先前形成的材料床(例如预转化的材料层)上提供。可通过使用能量束来转化第一层预转化的材料的至少一部分。例如，能量束可照射第一层预转化的材料的至少一部分，以形成第一经转化的材料。第一经转化的材料可包含熔融材料。该方法、系统、仪器和/或软件还可包括将第二层预转化的材料与第一层相邻(例如在上方)设置。第二层的至少一部分可被转化(例如借助于能量束)以形成第二经转化的材料。第二经转化的材料可至少部分地连接到第一经转化的材料，以形成多层物体(例如3D物体)。连接可包括熔化、焊接、粘结和/或附接。第一层和/或第二层经转化的材料可各自包括第一层和/或第二层硬化材料。第一层和/或第二层经转化的材料可各自硬化成第一层和/或第二层硬化材料。
方法、系统、仪器和/或软件可包括控制至少第一层或第二层硬化材料的至少一部分变形。该方法、系统、仪器和/或软件可包括控制第一层和/或第二层硬化材料的至少一部分的至少一部分变形。该方法、系统、仪器和/或软件可包括控制至少第一层或第二层硬化材料的变形。该方法、系统、仪器和/或软件可包括控制多层材料的变形。变形可包括曲率(或平面度)。
在一些实施例中，变形可在3D物体的形成(例如3D物体层的一部分的形成)期间进行测量和/或控制(例如调节)。在一些实施例中，曲率(或平面度)可在3D物体形成期间进行测量和/或控制。在一些实施例中，变形可在转化操作期间进行测量和/或控制。在一些实施例中，曲率(或平面度)可在转化操作期间(例如实时)进行测量和/或控制。在一些实施例中，曲率(或平面度)可在转化第一层的一部分和/或转化第二层的第二部分期间进行测量和/或控制。第一层和第二层可为不同的层。
在一些实施例中，能量束和/或源的至少一个特征被控制(例如调节)和/或被监测。控制可在3D物体形成期间。例如，控制可在转化操作(例如转化预转化的材料层的至少一部分)期间。控制可包括控制变形。控制可包括控制(例如层的至少一部分)的平面度。控制可包括控制(例如层的至少一部分的)曲率。控制可包括控制(例如层的至少一部分的)变形程度和/或方向。与非受控过程相比，控制可导致变形减少。例如，与非受控过程相比，控制可导致曲率减少。与非受控过程相比，控制可导致曲率半径增加。与导致变形的非受控过程相比，控制可导致(例如基本上)无变形。与导致曲率的非受控过程相比，控制可导致(例如基本)无曲率。与将层的至少一部分生成为非平面的非受控过程相比，控制可导致层的至少一部分是平面的(例如平坦的)。与非受控过程(生成基本上粗糙的各自表面)相比，控制可导致(例如基本上)光滑的表面。
控制可包括控制(例如调节)能量束的能量、能通量、停留时间、脉冲模式、脉冲频率、覆盖区、加速度和/或速度。控制可包括控制(例如调节)能量源的功率。覆盖区可为靶表面(例如材料床的暴露层)上的能量束的覆盖区。加速度和/或速度可(相应地)为其中能量沿着靶表面(例如材料床的暴露表面)(例如横向)行进的加速度和/或速度。能量束可沿着路径行进。能量束可为脉冲能量束。控制可包括控制脉冲的模式、每个脉冲内的停留时间、和/或脉冲之间的延迟长度(例如间歇时间或束关闭时间)。
在一些实施例中，可(例如实时和/或原位)控制(例如转化)能量束的能量分布。在一些实施例中，可(例如实时和/或原位)控制测量的现象分布。在一些实施例中，可(例如实时和/或原位)控制测量的现象分布。测量的现象分布可为测量信号分布。现象分布可包含(i)温度、(ii)能量束覆盖区(在靶表面上)的FLS、(iii)(靶表面的)计量、(iv)生成转化能量束的能量源的功率、(v)转化能量束的功率密度、(vi)来自靶表面(例如在覆盖区处或与覆盖区相邻)的辐射或(vii)光反射。光反射可包括散射光反射或镜面光反射。照射可为热照射(例如IR照射)。所测量的现象可为(例如对应于)例如熔池或材料床的经转化的部分。控制可为本文公开的任何控制。例如，控制可包括闭环控制。控制可包括反馈控制。控制可在3D打印期间(例如实时)。能量束可包括包含一个或多个脉冲(例如，两个或更多个脉冲)的脉冲能量束。该脉冲可为根据测量现象(例如，与其相关和/或影响其)的脉冲。根据(例如，关于)测量现象的脉冲(在本文中也被称为“现象脉冲”)可包括(例如转化)能量束的一个或多个脉冲。例如，现象脉冲可为单个能量束脉冲或能量束的多个脉冲的结果。现象脉冲可通过能量束的脉冲宽度调制(缩写为“PWM”)来实现。现象脉冲可对应于熔池的形成，其中每个现象脉冲对应于熔池的形成。该现象可为人工诱发的(例如通过能量束的照射)。图22B显示了随着时间推移的脉冲(测量的)现象分布的例子。在图22B中所示的例子中，该现象可为温度。图32B显示了随着时间推移的脉冲测量现象分布的例子。在图32B中所示的例子中，该现象可为生成能量束的能量源的功率、或能量束的功率密度。测量的现象分布可被控制在现象脉冲内(例如经过现象脉冲时间周期)。在3D打印过程期间，能量束的能量分布可在现象脉冲内实时(例如原位)控制。在一些实施例中，可在其脉冲时间期间(例如实时)控制一个或多个个别脉冲。例如，可控制现象脉冲或其任何部分的形状。各部分可被个别(例如实时)控制。现象脉冲部分可包括前缘、平台(如果有的话)、后缘、停留时间、间歇或其任何组合。在一些实施例中，现象脉冲不包括所有下述部件：前缘、平台(如果有的话)、后缘、停留时间和间歇。图22A显示了根据时间的测量现象脉冲(例如温度变化)分布的例子，其具有从t1到t4的停留时间和从t4到t5的间歇时间。图22A中所示的例子中的停留时间被分成前缘2211、平台2212和后缘2213。图22A中所示的例子中的间歇是2214。随着时间推移的现象分布(例如温度分布)可沿着靶表面上的转化能量束的轨迹。现象分布可源自传感器测量。传感器可为本文描述的任何传感器或检测器(例如温度传感器)。温度传感器可感测从靶表面处的区域发射的辐射(或辐射范围)，所述区域与转化能量束覆盖区一致或与其相邻(例如在等于从覆盖区的中心测量的至多约2、3、4、5或6个覆盖区直径的半径内)。辐射可为IR辐射。从区域发射的辐射的强度和/或波长可与该区域处的温度相关联。
控制可依赖至少一种现象(例如方面、情况、事件、经历、事故、现实、事实、事故、情形、环境或其任何组合)的至少一个测量。现象可易受由能量束发射的能量的量和/或密度的影响。现象可根据由能量束发射的能量和/或密度而变化。在一些实施例中，至少一个现象类型可在现象脉冲期间实时控制(例如调节、监测、调制、变化、改变、限定、管理、检查和/或引导)。实时可在3D物体形成期间、在硬化材料层形成期间、在线材(例如形成硬化材料层的至少一部分)形成期间、在阴影线形成期间(例如在形成硬化材料层的至少一部分的同时)、在熔池形成期间、在现象脉冲期间、或其任何组合。
在一些实施例中，在现象脉冲期间(例如在3D打印过程期间实时)控制的(例如人工诱发的)现象包括温度、(例如熔池的)FLS、晶相、固体形态(例如金相)、应力、应变、缺陷、表面粗糙度、光散射(例如来自表面)、镜面反射(例如来自表面)、反射光的偏振变化(例如来自表面)、表面形态或表面形貌。(例如人工诱发的)现象可对应于至少一个熔池。表面可为靶表面。表面可为材料床的暴露表面、3D物体、熔池、经转化的材料的一部分或其任何组合。缺陷可包括开裂或变形。变形可包括弯曲、压弯和/或翘曲。该现象可在材料床、熔池、与熔池紧邻的区域、靶表面(例如材料床的暴露表面)或其任何组合处发生。例如，温度现象可包括材料床、熔池、与熔池(例如紧)相邻的区域、材料床的暴露表面或其任何组合的温度。相邻可在基本上等于或等于熔池FLS的至多约5％、10％、20％、30％、40％或50％的距离内。相邻可在上述熔池FLS的百分比之间的任何距离内(例如，熔池的相应FLS的约5％至约50％、约5％至约30％、或约5％至约10％)。FLS现象可包括熔池的FLS、阴影线、阴影间距、预转化的材料层(例如粉末材料)或其任何组合。例如，熔池的FLS可包括熔池的直径或深度。在一些实施例中，由于在现象脉冲内的不同时间部分期间辐射到材料床内的能量的量，(例如材料床、熔池、与熔池紧邻的区域、材料床的暴露表面或其任何组合的)加热曲线和/或冷却曲线可在现象脉冲期间加以控制。在一些实施例中，(例如熔池、阴影线、阴影线间距或预转化的材料层(例如粉末材料)或其任何组合的)扩张和/或收缩曲线可在现象脉冲内的不同时间部分期间加以控制。现象脉冲的形状可被控制(例如在3D打印过程期间实时和/或原位)。现象脉冲可包括停留时间和间歇。停留时间可包括时间间隔。在一些例子中，可控制现象脉冲的至少一个时间间隔。时间间隔可为现象脉冲停留时间的一部分(例如图22A中从t1到t2)或整个现象脉冲停留时间(例如在图22A中从t1到t5)。
控制可包括形成至少两个现象脉冲(例如所有现象脉冲)，所述至少两个现象脉冲在测量的现象分布(根据时间)方面基本上相同(例如完全相同或几乎相同)。图22B显示了三个现象脉冲(2221、2222和2223，其中可检测的能量根据时间与温度相关联)的例子，所述三个现象脉冲在测量的现象(根据时间)方面相同。控制可包括以受控方式(例如通过保持温度现象和/或FLS现象受控)形成至少两个现象脉冲，所述至少两个现象脉冲在测量的现象分布(根据时间)方面彼此不同。不同可在测量的现象振幅、其持续时间或其任何组合方面。不同可在达到最大值的测量现象方式、达到最小值的方式或其任何组合方面。不同可在测量现象的峰值最大值和/或峰值最小值方面。图22C显示了三个脉冲(2231、2232和2233)的例子，所述三个脉冲在测量的现象振幅方面不同，并且在脉冲的时间周期方面(例如基本上)相同。图22D显示了三个现象脉冲(2241、2242和2243)的例子，所述三个现象脉冲在其测量现象的脉冲持续时间中不同，并且在最大和最小峰值强度(例如最小和最大温度)方面(例如基本上)相同)。图22C显示了在其最小峰值强度位置(例如最小温度)中不同的两个脉冲(2231和2232)的例子。
控制可包括形成至少两个现象脉冲(例如所有现象脉冲)，所述至少两个现象脉冲在根据时间的温度分布方面(例如基本上)相同。控制可包括以受控方式(例如通过保持能量束的能量分布和/或FLS现象受控)形成至少两个现象脉冲，所述至少两个现象脉冲在相对于时间的温度分布方面不同。FLS现象可包括熔池的FLS、阴影线、阴影间距、预转化的材料层(例如粉末材料)或其任何组合。控制可包括形成至少两个现象脉冲(例如所有脉冲)，所述至少两个现象脉冲在相对于(例如根据)时间的(例如熔池的)FLS分布方面相同。控制可包括以受控方式(例如通过保持能量束的能量分布和/或温度现象受控)形成至少两个现象脉冲(例如所有脉冲)，所述至少两个现象脉冲在相对于(例如根据)时间的温度分布方面不同。温度现象可包括材料床、熔池、与熔池紧邻的区域、材料床的暴露表面(例如，其中的位置)或其任何组合的温度。
现象分布可包括熔池的温度分布。现象脉冲可为材料床的暴露表面(例如，其中的区域)的温度脉冲。例如，在时间t1时(例如在图22A中)，其中待形成熔池的粉末床中的位置的温度开始上升，并且在t2时(例如在图22A中)达到最大水平；熔池的温度然后保持在(例如基本上)相同的最大水平，直到时间t3(例如在图22A中)；这之后它开始下降(例如随着熔池冷却)，直到它在t4时(例如在图22A中)达到某个最小水平。材料床的暴露表面的温度可保持在(例如基本上)相同的温度下，直到时间t5(例如在图22A中)，其中形成新的熔池并且生成新的现象脉冲。指名t1-5可参考图22A中的那些。
在一些实施例中，现象分布包括生成能量束的能量源的功率脉冲分布。例如，在时间t1时(例如在图32A中)，能量源的功率可被打开以达到最大功率阈值；可将功率保持在该最大功率值下，直到在时间t2时(例如在图32A中)，受能量束影响的不同现象(例如对应于在照射位置处的温度)达到该不同现象(例如对应于温度)的所需阈值；为了将该不同现象(例如基本上)保持在其所需阈值下，能量源的功率可减少，直到它在t4时(例如在图32A中)达到最小水平。功率可保持在该最小值下，或者完全关闭直到时间t5(例如在图32A中)，其中可生成新的功率脉冲。图22A中的时间t1-t5可与图32A中的时间t1-t5相同。
在一些实施例中，现象分布包括生成经转化的材料的能量束的功率密度脉冲分布。例如，在时间t1时(例如在图32A中)，能量束的功率密度可被打开以达到最大功率密度阈值；可将功率密度保持在该最大值下，直到在时间t2时(例如在图32A中)，受能量束辐射影响的不同现象(例如在照射位置处的温度)达到所需阈值；为了将该不同现象(例如基本上)保持在该不同现象的所需阈值下，能量束的功率密度可减少，直到它在t4时(例如在图32A中)达到最小水平。功率密度可保持在该最小值下，或者完全关闭直到时间t5(例如在图32A中)，其中可生成新的功率密度脉冲。图22A中的时间t1-t5可与图32A中的时间t1-t5相同。现象可包含发生或事件。现象可包含可检测和/或可测量的能量。
现象分布可包括熔池的直径分布。现象脉冲可为熔池的直径脉冲。例如，在时间t1时(例如在图22A)中，在靶表面(例如材料床的暴露表面，例如粉末床)的位置处的区域开始转化成熔池；熔池的直径开始扩张，并且在t2时达到最大水平(例如在图22A中，其中现象是熔池直径)；熔池的直径然后保持在(例如基本上)相同的最大直径，直到时间t3(例如在图22A中)；这之后它开始收缩(例如，当熔池冷却时)，直到它在t4时达到某个最小水平(例如在图22A中)。熔池的直径可保持在(例如基本上)相同的温度下，直到时间t5(例如在图22A中)，其中形成新的熔池并且生成新的现象脉冲。通过控制现象脉冲的一个或多个部分的形状(例如通过控制在靶表面处的温度、能量束的至少一个特征和/或能量源的至少一个特征，例如其功率)，可控制熔池的大小。例如，可控制多个熔池的大小(例如，(例如基本上)相同，参见图35)。指名t1-5可参考图22A中的那些。控制可包括直接(例如逐渐)调整能量束的功率。另外地或可替代地，控制可包括通过使用脉冲宽度调制(PWM)来调制能量束。控制可包括生成(例如照射)相对于现象脉冲的持续时间较短的能量束的脉冲。控制可改变3D打印的一个或多个功能。例如，控制可改变经转化的区域的大小。大小可为体积和/或FLS。经转化的区域可作为3D物体的部分位于层的至少一部分的表面上。经转化的区域可为材料床中的经转化的区域。经转化的区域可为靶表面中的经转化的区域。经转化的区域可包括熔池。经转化的区域可为熔池。经转化的区域可包括与上述区域相邻的区域(例如在至少约2、3、4、5、6、7或8个熔池直径内)。控制可考虑在照射位置处和/或与其相邻的至少一个温度测量。照射位置可为其中能量束与靶表面相互作用的位置(例如，将其一部分转移到经转化的材料内)。相邻可在距照射位置(例如照射位置的中心或边缘)至少约0.1微米(μm)、0.5μm、1μm、1.5μm、2μm、3μm、4μm、5μm、6μm、7μm、8μm、9μm或10μm内。相邻可在距照射位置至多约50μm、10μm、9μm、8μm、7μm、6μm、5μm、4.5μm、4μm、3.5μm、3μm、2.5μm、2μm、1.5μm、1μm、0.75μm、0.5μm、0.4μm、0.3μm、0.2μm或0.1μm内。相邻可为上述值之间的任何值(例如约0.1μm至约1μm、约1μm至约10μm、或约0.1μm至约50μm)。这些值可对应于“与照射位置相邻”、或“与经转化的区域相邻”。
在一个方面，一个或多个传感器感测靶(例如暴露)表面的一个或多个位置。暴露表面可为材料床、经转化的材料、3D物体或其任何组合具有的。材料床的暴露表面可包括在3D物体形成之前设置的材料层。材料床的暴露表面可包括用于形成3D物体的最后(例如先前)形成的硬化层的材料层。材料床的暴露表面可包括在3D物体的最后形成的硬化层形成之后设置的材料层。图14显示了具有暴露表面1412的材料床1410的例子；并且所述暴露表面1412在3D物体1400的最后硬化层形成之前被设置。材料床的暴露表面可包括在材料床中新分配的预转化的材料层。在一些情况下，3D物体可从新分配的预转化的材料层突出。在一些情况下，3D物体可被新分配的预转化的材料层完全覆盖。图15显示了具有暴露表面1514的材料床1510的例子；表面1512是先前分配的预转化的材料层具有的；并且暴露表面1514是新分配的预转化的材料层(例如在3D物体1500的最后一层硬化材料形成之后)具有的。在图15的例子中，3D物体突出新分配的预转化的(例如粉末)材料层。来自一个或多个传感器的数据可用于(例如，由控制器和/或处理单元)提供靶表面的至少一部分的地图。该地图可在打印(例如形成)3D物体的过程期间生成。处理单元可为控制器的部分。处理单元可与控制器分开。该地图可在3D打印过程期间生成。该地图可在3D打印过程期间更改(例如基于传感器输入)。该地图可在3D打印过程期间生成和/或更改。该地图可以相对高的频率和/或分辨率来生成。例如，对于传感器测量频率，频率可基本上等于本文所列举的任何频率。分辨率可为本文提到的任何分辨率。例如，传感器的分辨率可为材料床中微粒材料的平均或均值FLS的约10％至约190％。
在一些实施例中，一个或多个传感器感测3D物体的至少一部分的一个或多个位置。一个或多个传感器可感测3D物体的至少一部分的一个或多个位置，所述3D物体从材料床的暴露表面突出。图14显示了3D物体1400的例子，所述3D物体1400从材料床1410的暴露表面1412突出，所述材料床1410可操作地联接到平台1411和/或与平台1411相邻设置。在图14的例子中，3D物体从材料床1410的暴露表面1412突出高度1413。使用接触方法、非接触方法或其任何组合，一个或多个传感器可测量暴露表面的一个或多个位置。暴露表面的一个或多个位置可包括垂直位置、水平位置和/或角度位置。角度位置可包括复合或平面角度。测量可包括设置在硬化材料层上方的预转化的材料的高度(例如，厚度)。传感器可感测能量束。由一个或多个传感器感测的位置可通过感测能量束来实现。能量束可包括转化能量束或感测能量束。能量束可从靶(例如暴露)表面反射。反射的能量束可由一个或多个传感器感测。图4显示了能量束420的例子，所述能量束420从靶表面408反射并且由传感器接收器零件418感测。暴露表面可包括材料床或3D物体的至少一部分的暴露表面。暴露表面可为材料床的经转化的部分具有的，所述经转化的部分不是3D物体的一部分(例如，碎片、标志或辅助支撑件)。暴露表面可包括由于3D物体的至少一部分的形成而改变其位置的材料层的暴露表面，所述部分被作为材料床的部分(例如在其内)的预转化的材料覆盖。例如，暴露表面可包括由于3D物体的至少一部分的形成而改变其位置的粉末床的暴露表面，所述3D物体被粉末床内的粉末材料覆盖。图16显示了被材料床1610覆盖的3D物体1600的例子，所述3D物体的形成引起材料床的暴露表面的一部分在箭头1613的方向上改变。
有时，新的硬化材料层设置在3D物体的一部分上。3D物体的该部分可包括(例如硬化材料的)一个或多个层。3D物体的该部分可基本上坚持(例如基本上不偏离)所需3D物体的模型。3D物体的该部分内的一个或多个层可基本上坚持(例如基本上不偏离)所需3D物体的模型。3D物体的一个或多个层可基本上不变形。基本上可相对于3D物体的预期目的。
在一些情况下，3D物体的该部分偏离所需3D物体的模型。偏差可包含校正偏差。偏差可包括校正变形。3D物体的该部分可偏离所需3D物体的模型。3D物体的该部分内的一个或多个层可偏离所需3D物体的模型。与所需3D物体的模型中的相应的一个或多个切片相比，3D物体的一个或多个层可为基本上变形的。形成(例如打印)一个或多个层的方式可偏离所需3D物体的模型。潜在转化能量束进展的路径可偏离所需3D物体的模型的切片。所需3D物体的模型可为所需模型。在一些例子中，偏差模型可用于提供(3D打印)指令，用于材料床的至少一部分的转化(例如，以形成3D物体)。在一些例子中，偏差模型可用于提供能量束路径的指令。偏差模型可允许经转化的材料采取(例如基本上)对应于所需3D物体的形状(例如在硬化时，例如在固化时)。所需模型(例如，其切片)的至少一部分可经历偏离转换，以形成偏差模型。偏差可为校正偏差。偏差可为大量的(例如可测量的)。偏差可为受控的(例如通过3D打印中使用的至少一个功能)。在打印(例如材料转化)操作期间实现的经转化的材料的一部分的偏差可基本上对应于由偏差模型推荐的偏差。经历偏差的所请求的3D物体的(虚拟)模型在本文中可被称为“偏差模型”。当根据偏差模型(例如，其切片)生成的经转化的材料(例如层)的一部分硬化(例如冷却)时，可实现该部分(例如层)的所需偏差。经转化的材料的料部分的所需偏差在本文中可被称为“靶偏差”。靶偏差可被测量，通过建模(例如热机械模型)预料，根据历史数据预料，或者其任何组合或排列。靶偏差可达到生成经转化的材料。靶偏差可在硬化(和/或冷却)经转化的材料的一部分时达到。可控制转化材料的料部分的偏差(例如在空间取向和/或量级上)。控制操作可包括控制转化材料的一部分，使得它将(例如基本上)对应于靶变形(例如在硬化和/或冷却时)。图6显示了在硬化(通过冷却)前和在硬化后的3D物体的例子。3D物体601表示未完全硬化的中间3D物体，而3D物体602表示已完全硬化的物体601。在一些实施例中，物体603可表示所请求3D物体的虚拟模型中的垂直横截面的例子，描绘了切片(例如，用于打印3D物体的层指令)。在一些实施例中，603可表示被打印但未完全硬化的3D物体的横截面的例子。物体604表示完全硬化的3D物体(例如，最终3D物体)中的横截面的例子。物体604表示打印的3D物体中的垂直横截面的例子，所述打印的3D物体基本上对应于(例如匹配)所需3D物体，其中线描绘了层边界。切片605被打印为偏离所需3D物体模型的层，所述打印根据来自偏差模型的指令。在完全硬化后，层呈现允许打印的3D物体基本上对应于所需3D物体的形状(例如606)。呈现的形状可(例如基本上)对应于经转化的材料(例如经转化的材料层)的硬化建模。靶变形可使用历史数据和/或(例如硬化和/或冷却的)建模来确定。呈现的形状可(例如基本上)对应于靶变形(例如靶形状)。呈现至少一层的最终形状的方式可被控制。控制可为本文公开的任何控制方法。控制可为3D打印中涉及的至少一个功能的控制。例如，控制可为能量束的至少一个特征的控制。例如，控制可为硬化材料和/或材料床的温度的控制(例如在3D打印期间)。
本文描述的方法、软件和系统可包括所需3D结构的3D模型的校正变形，其基本上导致所请求的3D结构。校正变形可考虑包括以下的特征：(i)成形结构内的应力、(ii)当材料硬化以形成3D物体的至少一部分时的材料变形、(iii)在3D打印期间的温度耗尽的方式、或(iv)根据材料床内的材料密度(例如粉末床内的粉末材料)的经转化的材料的变形方式。该修改可包括在3D模型中层(或其一部分)的路径改变。路径改变可包括填充层的至少一部分(例如3D物体的横截面)的路径改变，例如，所述路径可包括阴影线。路径(例如阴影线)改变可包括路径(例如阴影线)的方向、路径(例如阴影)线的密度、路径(例如阴影)线的长度、或路径(例如阴影)线的形状的改变。该修改可包括例如在其转化状态期间(例如在完全硬化之前)，改变3D物体(或其一部分，例如层)的厚度。该修改可包括通过角度(例如平面或复合角度)来改变3D模型的横截面(例如，切片)的至少一部分，或者使横截面的至少一部分产生曲率半径(即，弯曲3D模型的横截面的至少一部分)。校校正变形可为专利申请号62/239,805和PCT申请号PCT/US16/34857中公开的任何校正变形，所述两个申请均以引用的方式整体并入本文。与预期3D结构的校正偏差在本文中可被称为“几何校正”。图17显示了表示为三层(例如在物体1703中编号为1-3)的3D物体1703形成中的各个阶段的例子，所述3D物体1703显示为垂直横截面并且位于平台1704上。第一形成层形成为物体1701的负弯曲层#1。一旦形成第二层(物体1702的#2)，第一层#1就可变平坦(例如，其曲率半径增加，其曲率减少(例如接近零))。一旦形成第三层(物体1703的#3)，3D物体的层就变得基本上平坦(例如平面)。层#1可被形成为校正变形层。校正变形可使得(例如基本上)不变形的3D物体能够形成。将一个或多个后续层打印到校正变形层的方式可考虑来自一个或多个传感器的(例如原位和/或实时)测量。校正变形可为整个硬化材料层或其一部分。校正变形可为作为3D物体的部分的硬化材料层的至少一部分。
、在一些实施例中，传感器包括成像装置。成像装置可包括多光谱成像、单光谱成像或非光谱成像。非光谱成像可包括声学、电或磁性成像(例如电磁成像)。多光谱成像可包括检测红体辐射(例如从靶表面发射的)。成像装置可包括照相机。成像装置可使靶表面(例如材料床、3D物体或熔池的暴露表面)成像。成像装置可使温度和/或计量(例如维度)成像。成像装置可使熔池温度、形状和/或FLS(例如直径或深度)成像。成像装置可使熔池温度、形状和/或FLS(例如直径或深度)的附近成像。成像装置可使受熔池(例如，其热)影响的区带成像。受熔池的热影响的区带在本文中被称为“热影响区带”(例如图26A，2610)。成像装置可使熔池的至少一部分的生成和/或硬化成像。
在一些实施例中，非接触测量包括至少一个光学测量。光学测量(例如通过光学传感器)可包括通过图像传感器(例如CCD照相机)、光纤(例如光纤束)、激光扫描仪或干涉仪的测量。干涉仪可包括白光或部分相干干涉仪。
在一些实施例中，光学测量和/或其分析包括(例如叠加)波(例如电磁波)。叠加波可用于从靶表面提取关于这些波的反射的信息。该信息可包括相对位置、位置改变(例如位移)、折射率改变或表面变化(例如不规则性)。反射和/或其分析的光学测量可包括使用(例如连续波的)傅里叶变换光谱学。反射和/或其分析的光学测量可包括组合两个或更多个波(例如超定位波)。光学传感器可包括反射镜或分束器。反射镜可为基本上完全反射的或部分反射的(例如半镀银反射镜)。反射镜可为(例如可控制的)平移的(例如水平、垂直和/或旋转，例如沿着轴线)。部分反射的反射镜可为分束器。干涉仪可包括零差或外差检测。干涉仪可包括双重路径或共光路干涉仪。干涉仪可包括波前分路或振幅分路。干涉仪可包括Michelson、Twyman-Green、Mach-Zehnder、Sagnac(例如零面积Sagnac)、点衍射、横向剪切、菲涅耳双棱镜、散射板、Fizeau、Mach-Zehnder、Fabry-Pérot、Laser Unequal Path或Linnik干涉仪。干涉仪可包括光纤陀螺仪或Zernike相差显微镜。
传感器(例如光学或温度)可为于2015年12月11日提交的名称为“FEEDBACKCONTROL SYSTEMS FOR THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的专利申请号PCT/US15/65297中描述的任何传感器，所述专利申请以引用的方式全文并入。
在一些实施例中，3D物体在3D打印期间被支撑。例如，3D物体可由基部支撑。例如，3D物体可锚定到外壳(例如，到基部)。3D物体可包括辅助支撑件。辅助支撑件可为外壳(例如基部)和/或结构，所述结构将3D物体连接到外壳(例如基部)，并且不是预期(例如所需)3D物体的部分。3D物体可没有辅助支撑件。3D物体可由熔化材料床的至少一部分支撑。熔化材料床(或其一部分)可或可不完全包围(例如围绕)3D物体。3D物体可悬浮于材料床中，所述材料床包含可流动材料(例如粉末和/或液体)。3D物体(例如具有或不具有辅助支撑件)可在材料床中浮动，而不锚定到外壳(例如，到基部)。在一些实施例中，3D物体没有辅助支撑件。
在一些实施例中，3D物体可包括在3D打印期间减少量的约束(例如，支撑件)。减少的量可相对于流行的3D打印方法(例如各自的方法)。3D物体可为较少的约束(例如，相对于流行的3D打印方法)。3D物体在3D打印期间可为无约束的(例如无支撑的)。
在一些实施例中，控制包括使表面成像。成像可包括静物或视频成像。成像可在垂直于材料床的暴露层的平均或中间平面的方向上。成像可在与材料床的暴露层的平均或中间平面不垂直的方向上。成像可在关于材料床的暴露层的平均或中间平面的掠射角处。成像可以相对于材料床的暴露层的平均或均值平面至少约1°、5°、10°、15°、20°、30°、40°、50°、60°、70°或80°的锐角检测。符号“°”指定单词度。成像可以相对于材料床的暴露层的平均或均值平面至多约1°、5°、10°、15°、20°、30°、40°、50°、60°、70°或80°的锐角检测。成像可以相对于材料床的暴露层的平均或均值平面在上述角度中任意者之间(例如约1°至约80°、约1°至约40°、或约40°至约80°)的锐角检测。
在一些例子中，成像在3D物体形成期间执行。控制可包括处理从一个或多个传感器获得的图像。处理可包括图像处理。图像处理可揭示表面(例如，其平面度)中的变化。揭示的变化可触发3D打印过程(例如参与其的部件)的至少一个功能的调制。3D打印过程的至少一个功能可包括如本文公开的能量束的一个或多个特征。
在一些实施例中，成像包括一个或多个成像装置(例如照相机)的使用。控制可包括位置传感器的使用。位置传感器可包括绝对位置传感器。位置传感器可包括相对位置传感器。位置传感器可为计量传感器。相对位置传感器可考虑在表面的两个或更多个图像之间的比较，所述图像在不同(例如已知)时间拍摄。
在一些实施例中，传感器包括投射感测能量束。图3显示了包括传感器的3D打印机360的例子，所述传感器包括零件317(发射器)和318(接收器)，所述传感器(例如零件317)朝向材料床304的暴露表面308发射感测能量束。感测能量束可从材料床的暴露层上方的方向(例如从零件317)投射。上方可为与重力方向、平台(例如基材309和/或基部302)、和/或外壳的底部(例如305)相反的方向。在暴露层上方的方向可与暴露层形成一定角度。该角度可为(例如基本上)垂直的。该角度可为锐角。在一些例子中，传感器设置在材料床的暴露层上方(例如图3，传感器零件317(发射器)和318(接收器))。在一些实施例中，传感器设置在外壳的侧面处(例如图4，传感器零件417和418)。传感器可设置在外壳的天花板处(例如图3，传感器零件317和318)。在一些实施例中，传感器的零件可设置在外壳的侧面处，并且其它零件可设置在外壳的天花板处。传感器可设置在外壳内(例如图3，传感器零件317和318)。传感器可设置在外壳的外部。传感器的至少部分可设置在外壳的壁内和/或外部。传感器的至少部分可设置在外壳内。在外壳的壁内可指其中零件可形成壁的整体部分的情形。壁可包括外壳的侧壁、天花板或底部。在外壳内可指在外壳的内部。感测能量束可从在外壳的侧面上的方向(例如407)投射。图4显示了包括传感器的3D打印机400的例子，所述传感器包括零件417(发射器)和418(接收器)。在图4的例子中，感测能量束从外壳的侧面(例如从零件417)发射。感测能量束可从位于外壳的天花板上的方向投射(例如图3，从零件317)。天花板可或可不基本平行于材料床的暴露层、基材和/或外壳的底部。感测能量束可从位于外壳的侧面的方向投射(例如图4，从零件417)。侧面可基本上垂直于材料层的暴露层、基材和/或外壳的底部。
在一些实施例中，传感器可感测来自表面(例如材料床或3D物体的暴露表面)的辐射(例如电磁辐射)，所述辐射进展到在材料床的暴露层上方的方向。图3显示了3D打印机360的例子，其中辐射320从材料床304的暴露表面308朝向外壳300的天花板投射，并且在传感器零件318(例如接收器)中检测到。在暴露层上方的方向可在相对于材料床的暴露层的一定角度处。该角度可为(例如基本上)垂直的。该角度可为锐角。传感器可感测来自表面的辐射，所述辐射朝向外壳的侧面进展。图4显示了其中辐射420从材料床404的暴露表面408朝向外壳407的侧面投射，并且在传感器零件418(例如接收器)中检测到的例子。传感器可感测来自表面的辐射，所述辐射朝向外壳的天花板进展。
在一些实施例中，由传感器感测到的辐射是从靶表面反射的转化能量的辐射。
外壳可包括窗口。该窗口可为光学窗口。图1显示了具有外壳的3D打印机100的例子，所述外壳包括光学窗口115。光学窗口可允许来自表面的辐射经过(例如，而无基本改变和/或损失)。光学窗口可允许感测能量束和/或转化能量束行进通过(例如，而无基本改变和/或损失)。
传感器具有分辨率。传感器的分辨率可比形成材料床的微粒材料(例如粉末床中的粉末颗粒)的平均或均值FLS更低(例如更粗糙)。更低可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的至少约1％、5％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％或90％。更低可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的至多约1％、5％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％或90％。更低可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的上述百分比值之间的任何值(例如约1％至约90％、约1％至约50％、或约40％至约90％)。降低材料床中微粒材料的平均或均值FLS的约1％至约90％的值，意味着传感器的分辨率可相应地为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的101％至190％。
在一些实施例中，传感器检测一个或多个移动，所述移动是材料床中的特定材料(例如粉末床中的粉末颗粒)的平均或均值FLS的分数。该分数可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的至少约1％、5％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％或90％。该分数可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的至多约1％、5％、10％、20％、30％、40％、50％、60％、70％、80％或90％。该分数可为材料床中的微粒材料的平均或均值FLS的上述百分比值之间的任何值(例如约1％至约90％、约1％至约50％、或约40％至约90％)。
在一些实施例中，控制系统(例如计算装置)跟踪在表面处检测到的位置改变。作为对位置改变的反应，控制器可引导3D打印的一个或多个功能的调整(例如使用软件)。例如，控制器可引导转化(例如熔化)操作的一个或多个特征的调整(例如改变)。控制器可基于位置改变来引导至少一个机构的至少一个功能的调整(例如改变)。调整可在3D物体的随后部分形成之前或3D物体的随后部分形成期间。例如，控制器可引导转化能量束的一个或多个特征的调整。
在一些实施例中，传感器测量表面的一小部分。在一些实施例中，传感器测量整个表面(例如整个突出表面、材料床的整个暴露表面和/或整个靶表面)。控制器可考虑整个表面中的位置(无论是改变的还是未改变的)。控制器可考虑表面的一小部分的传感器测量。该一小部分可包括至少约1mm2、2mm2、3mm2、4mm2、5mm2、6mm2、8mm2、9mm2、10mm2、50mm2、100mm2或1000mm2的面积。该一小部分可包括至多约1mm2、2mm2、3mm2、4mm2、5mm2、6mm2、8mm2、9mm2、10mm2、50mm2、100mm2、1000mm2的面积，或材料床的整个暴露面积。该一小部分可包括在上述值之间的任何值的面积(例如约1mm2至约1000mm2、约1mm2至约5mm2、约5mm2至约10mm2、约10mm2至约50mm2、约50mm2至约1000mm2、或约1mm2至约材料床的整个暴露表面积)。
在一些实施例中，控制器考虑远离在其处转化能量束与材料床相互作用的位置(例如照射位置)的传感器测量。远离可为至多约最后形成的硬化材料层的边缘。远离可在最后形成的经转化的(例如，和/或硬化)材料层的边缘附近。远离可在材料床的暴露表面上距转化能量束覆盖区的中心至少约1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm或10mm。远离可在材料床的暴露表面上距转化能量束覆盖区的中心至多约1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm或10mm。远离可为相对于材料床的暴露表面上的转化能量束覆盖区的中心在上述值之间的任何值(例如约1mm至约10mm、约1mm至约5mm、或约5mm至约10mm)。
在一些实施例中，控制器可考虑位于最后形成的硬化材料层边缘的位置附近的一个或多个传感器测量。在最后形成的硬化材料层边缘的位置附近可为至少约1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm或10mm。在最后形成的硬化材料层边缘的位置附近可为至多约1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、9mm或10mm。在最后形成的硬化材料层边缘的位置附近可为上述值之间的任何值(例如约1mm至约10mm、约1mm至约5mm、或约5mm至约10mm)。传感器可感测由控制器考虑的位置和/或区域。
在一些实施例中，传感器进行频繁的测量。传感器可以至少每1秒(sec)、2sec、3sec、4sec、4sec、5sec、6sec、7sec、8sec、9sec、10sec、15sec、20sec、25sec、30sec、35sec、40sec、45sec、50sec、60sec、70sec、75sec、80sec、90sec、95sec或100sec的频率进行测量。传感器可以至多约每1sec、2sec、3sec、4sec、4sec、5sec、6sec、7sec、8sec、9sec、10sec、15sec、20sec、25sec、30sec、35sec、40sec、45sec、50sec、60sec、70sec、75sec、80sec、90sec、95sec或100sec的频率进行测量。传感器可以上述频率中任意者的频率(例如约每1sec至约每100sec、约每5sec，至约每50sec、约每5sec至约每30sec、约每30sec至约每50sec、约每20sec至约每40sec、或约每50sec至约每100sec)进行测量。控制器可被编程为引导考虑在相应频率下的测量。控制器可被编程以引导以相应频率执行测量的图像处理。控制器可被编程以引导以相应频率改变3D打印过程的一个或多个功能(例如转化能量束特征)。
在一些实施例中，图像处理提供表面的至少一部分的位置地图。位置地图可包括垂直、水平或角度(例如平面或复合)位置。位置地图可以本文提到的任何频率提供。位置地图可以至少约5次/秒(*/sec)、10*/see、20*/sec、30*/sec、40*/sec、50*/sec、60*/sec、70*/sec、80*/sec、90*/sec或100*/sec的频率提供。位置地图可以至多约5*/sec、10*/sec、20*/sec、30*/sec、40*/sec、50*/sec、60*/sec、70*/sec、80*/sec、90*/sec或100*/sec的频率提供。位置地图可以上述频率中任意者之间的频率(例如约5*/sec至约100*/sec、约5*/sec至约50*/sec、约50*/sec至约100*/sec、或约10*/sec至约1000*/sec)提供。字符“*”指定数学运算“乘”。
在一些实施例中，辐射能从靶表面(例如材料床的至少一部分的暴露表面、或3D物体的至少一部分的暴露表面)反射。3D物体可被嵌入(例如埋入)材料床中。图16显示了完全嵌入材料床1610中的3D物体1600的例子。图14显示了3D物体1400的例子，所述3D物体1400部分嵌入材料床1410中，并且包括突出(例如，伸出)材料床的暴露表面1412距离1413的一部分。
在一些实施例中，辐射能量可通过光学检测器来检测。辐射能量可通过成像装置(例如照相机)和/或通过光谱分析仪来检测。控制器可基于传感器的输出来改变转化能量束的一个或多个特征。控制器可基于传感器的输出，改变涉及3D打印的至少一个机构(例如转化能量源、扫描仪、层分配机构或其任何组合)的一个或多个功能(例如特征)。转化能量束的特征可包括材料床的暴露表面上的功率/单位面积、速度、横截面或平均覆盖区。控制器可包括使用传感器(例如光学传感器和/或成像装置)的输出执行图像分析(例如图像处理)，以提供结果。图像分析可通过非暂时性计算机可读介质来进行。可从一个或多个角度(例如，序贯、同时或随机地)感测(例如成像)辐射能量。结果可用于控制3D打印的至少一个功能(例如改变转化能量束(例如改变其至少一个特征))、和/或改变与转化能量束相关的至少一个机构。与转化能量束相关联的机构可为光学机构(例如包括扫描仪、透镜或反射镜)和/或能量源。结果可用于评估在靶表面处的一个或多个位置。结果可用于评估在靶表面的各个位置处的高度。高度可相对于已知高度(例如高度基线或预定高度)、平台、处理腔室的地板、或者3D物体内或靶表面内的其它位置。结果可用于评估与靶表面的平面度的偏差。结果可提供靶表面的垂直和/或水平高度分布。结果可提供靶表面的高度和/或平面度分布。高度和/或平面度分布的分辨率可对应于感测能量束的横截面的FLS、或在靶表面上的感测能量束的覆盖区的FLS。高度和/或平面度分布的分辨率可对应于传感器分辨率。高度和/或平面度分布的分辨率可对应于转化能量束的横截面的FLS、或靶表面上的转化能量束的覆盖区的FLS。
在一些实施例中，由计量(例如位置)传感器感测的辐射能量束是来自靶表面的转化能量束的反射。在一些例子中，由计量传感器感测的辐射能量是不同于转化能量束的反射的能量束。例如，辐射能量可为来自靶表面的感测能量束的反射。检测器(例如图3，图318)可联接到控制器。例如，检测器(例如图3，318)可联接到计算机(例如通过通信信道)。控制器可分析由检测器检测到的信号。由于检测器输出的分析，检测器的输出可由系统、软件和/或仪器(例如通过控制器)加以考虑，以引导3D打印的至少一个功能的改变。至少一个功能可包括转化能量束的至少一个特征。
在一些实施例中，光学检测器(例如温度检测器)包括光学设置。光学设置可包括透镜布置。光学设置可包括分束器。检测器可包括聚焦透镜。检测器可观察(例如检测)(例如材料床的暴露表面的)聚焦点。光学设置可为由转化能量束所使用的相同的光学设置(例如转化能量束行进通过其)。光学设置可与由转化能量束使用的光学设置不同。感测(例如，以及检测)能量束和转化能量束可为共焦的。感测能量束和转化能量束可在不同的路径中行进。感测能量束和转化能量束可行进通过相同的不同光学窗口。感测能量束和转化能量束可由相同或不同的扫描仪平移。例如，转化能量束可由第一扫描仪平移，并且感测能量束可由第二扫描仪平移，其中所述第二扫描仪跟踪(例如追踪)第一能量束。检测器(例如光学检测器)可控制(例如监测和/或调节)来自靶表面(例如材料床的暴露表面)的反射能量。检测器能量束(例如来自靶表面的反射感测能量束)可与转化能量束的反射同轴或非同轴。从靶表面(例如从材料层的暴露表面和/或硬化材料的形成层)反射的检测能量束可用于使这些相应的暴露表面成像。
在一些实施例中，光学传感器用于温度测量和/或用于计量测量。温度传感器和/或位置传感器可包括光学传感器。光学传感器可包括模拟装置(例如CCD)。光学传感器可包括p型掺杂的金属氧化物半导体(MOS)电容器、电荷耦合器件(CCD)、有源像素传感器(APS)、基于微/纳米机电系统(MEMS/NEMS)的传感器或其任何组合。APS可为互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器。MEMS/NEMS传感器可包括MEMS/NEMS惯性传感器。MEMS/NEMS传感器可基于硅、聚合物、金属、陶瓷或其任何组合。光学传感器可包括激光扫描仪或干涉仪。干涉仪可包括相干(例如白)光或部分相干干涉仪。温度传感器(例如热传感器)可感测IR辐射(例如光子)。热传感器可感测至少一个熔池的温度。计量传感器可包括测量至少一个熔池的FLS(例如深度)的传感器。转化能量束和感测能量束(例如热传感器束和/或计量传感器能量束)可在(例如基本上)相同的位置上聚焦。转化能量束和感测能量束(例如热传感器束和/或计量传感器能量束)可为共焦的。
本文描述的方法、系统、软件和/或仪器可考虑(例如通过控制器)来自(例如暴露的材料床和/或从材料床突出的3D物体的)表面的至少一部分。信号可对应于位置信号。位置可包括垂直位置、水平位置和/或角度位置。信号可对应于相对应表面位置的高度和/或横向差异。
在一些实施例中，本文描述的方法、系统、仪器和/或软件可考虑至少一个或多个传感器测量。由于测量，控制器可引导3D打印过程的(例如转化能量束的)一个或多个功能的改变。引导可包括通过第一通信信道联接到传感器的软件的使用。该软件可通过第二通信信道联接到3D打印机的至少一个功能。第一通信信道和第二通信信道可为相同的通信信道或不同的通信信道。
在一些实施例中，本文描述的方法、系统、仪器和/或软件可考虑至少一个或多个温度传感器测量。由于温度测量，控制器可引导3D打印过程的(例如转化能量束的)一个或多个功能的改变。温度测量可包括表面(例如靶表面，例如材料床和/或3D物体的暴露表面)的温度测量。温度测量可包括接触或非接触温度测量。控制器可考虑位置传感器测量和温度传感器测量。由于温度测量，3D打印过程的(例如转化能量束的)一个或多个功能可被改变(例如由控制器引导)。温度测量可包括表面的一个或多个位置的温度测量。
在一些实施例中，本文描述的方法、系统、软件和/或仪器可考虑转化能量束的至少一个或多个测量。测量可包括测量能量束的横截面(例如在垂直于其传播的方向上)、材料床的暴露表面上的覆盖区、能通量、能量/单位面积、停留时间、延迟时间(例如束关闭时间)、脉冲束频率、波长或转化能量束在其下在材料床的暴露表面上行进的速度。测量可包括测量在靶表面(例如材料床的暴露表面)上行进的转化能量束路径的路径(例如阴影线)间距。例如，控制器可考虑转化能量束特征的至少一个或多个测量。由于转化能量束特征测量，控制器可引导3D打印过程(例如，转化能量束的和/或与转化能量束相关)的一个或多个功能的改变。控制器可考虑以下中的两个或更多个：(i)位置传感器测量、(ii)温度传感器测量、(iii)能量源功率测量和(iv)转化能量束的至少一个特征的测量。例如，方法、系统、软件和/或仪器可考虑位置传感器测量和转化能量束特征测量两者。由于转化能量束特征测量，3D打印过程(例如，转化能量束的和/或与转化能量束相关)的一个或多个功能可被改变。该改变可由控制器引导。例如，该改变可使用软件。例如，该改变可通过通信信道。
本文描述的方法、系统、仪器和/或软件可通过控制3D打印的至少一个功能(例如转化能量束和/或其能量源的至少一个特征)来控制(例如调节)3D物体的至少一部分的变形，同时测量表面的位置和/或同时测量表面的温度。控制可在3D物体形成期间。控制可在3D打印过程期间。控制可为实时控制。控制可为原位控制。控制可至少在转化操作期间。控制可至少在经转化的材料的硬化期间。控制可至少在作为3D物体的部分的硬化层(或其一部分)形成期间。
在一些实施例中，材料(例如预转化的材料、经转化的材料或硬化材料)包含元素金属、金属合金、陶瓷或元素碳的同素异形体。元素碳的同素异形体可包括非晶碳、石墨、石墨烯、金刚石或富勒烯。富勒烯可选自球形、椭圆形、线形和管状富勒烯。富勒烯可包括巴基球或碳纳米管。陶瓷材料可包含水泥。陶瓷材料可包含氧化铝。材料可包含沙子、玻璃或石头。在一些实施例中，材料可包括有机材料，例如，聚合物或树脂。有机材料可包含烃。聚合物可包含苯乙烯。有机材料可包含碳原子和氢原子、碳原子和氧原子、碳原子和氮原子、碳原子和硫原子、或其任何组合。在一些实施例中，材料可排除有机材料(例如聚合物)。聚合物可包含塑料、聚氨酯或蜡。聚合物可包含树脂。材料可包括固体或液体。在一些实施例中，材料可包含硅基材料，例如硅基聚合物或树脂。材料可包含有机硅基材料。料可包含硅原子和氢原子、硅原子和碳原子、或其任何组合。在一些实施例中，材料可排除硅基材料。材料可包含微粒材料。微粒材料可包含固体或半固体(例如凝胶)。微粒材料可包含粉末。粉末材料可包含固体。粉末材料可由涂层(例如，有机涂层，例如有机材料(例如，塑料涂层)涂布。材料可缺乏有机材料。在一些例子中，材料可不通过有机和/或硅基材料涂布。液体材料可被划分到反应器、囊泡或液滴内。可在成一个或多个层中划分经划分材料。材料可为包含次级材料的复合材料。第二材料可为增强材料(例如，形成纤维的材料)。增强材料可包括碳纤维、超高分子量聚乙烯，或玻璃纤维。材料可包括粉末(例如，颗粒材料)或金属丝。
在一些实施例中，预转化的材料包含粉末材料。预转化的材料可包含固体材料。预转化的材料可包含一个或多个颗粒或簇。如本文使用的，术语“粉末”一般指具有精细颗粒的固体。粉末可为颗粒状材料。粉末颗粒可包含微粒。粉末颗粒可包含纳米颗粒。在一些例子中，粉末包含具有至少约5纳米(nm)、10nm、20nm、30nm、40nm、50nm、100nm、200nm、300nm、400nm、500nm、1μm、5μm、10μm、15μm、20μm、25μm、30μm、35μm、40μm、45μm、50μm、55μm、60μm、65μm、70μm、75μm、80μm或100μm的平均FLS的颗粒。包括粉末的颗粒可具有至多约100μm、80μm、75μm、70μm、65μm、60μm、55μm、50μm、45μm、40μm、35μm、30μm、25μm、20μm、15μm、10μm、5μm、1μm、500nm、400nm、300nm、200nm、100nm、50nm、40nm、30nm、20nm、10nm或5nm的平均FLS。在一些情况下，粉末可具有在上文列出的平均颗粒基本长度尺度值中任意者之间(例如约5nm至约100μm、约1μm至约100μm、约15μm至约45μm、约5μm至约80μm、约20μm至约80μm或约500nm至约50μm)的平均基本长度尺度。粉末可由各个颗粒组成。各个颗粒可为球形、卵形、棱柱形、立方形、线材或不规则形状。颗粒可具有FLS。粉末可由均匀形状的颗粒混合物组成，使得所有颗粒都具有基本上相同的形状，以及在至多1％、5％、8％、10％、15％、20％、25％、30％、35％、40％、50％、60％或70％的FLS分布内的FLS量级。在一些情况下，粉末可为非均质混合物，使得颗粒具有可变的形状和/或FLS量级。
在一些实施例中，层的至少一部分可转化为经转化的材料(例如使用能量束)，所述经转化的材料随后可形成硬化(例如固化)的3D物体的至少一小部分(在本文中也使用“一部分”或“部分”)。有时，转化或硬化材料层可包括3D物体的横截面(例如水平横截面)。该层可对应于所需3D物体的横截面。有时，经转化或硬化的材料层可包含与所请求的3D物体模型的横截面的偏差。偏差可包括垂直和/或水平偏差。预转化的材料可为粉末材料。在一些实施例中，预转化的材料设置在(例如平坦的)一个或多个平面层中的平台上方。预转化的材料层(或其一部分)可具有至少约0.1微米(μm)、0.5μm、1.0μm、10μm、50μm、100μm、150μm、200μm、300μm、400μm、500μm、600μm、700μm、800μm、900μm或1000μm的厚度(例如层高度)。预转化的材料层(或其一部分)可具有至多约1000μm、900μm、800μm、700μm、600μm、500μm、450μm、400μm、350μm、300μm、250μm、200μm、150μm、100μm、75μm、50μm、40μm、30μm、20μm、10μm、5μm、1μm或0.5μm的厚度。预转化的材料层(或其一部分)可具有在上述层厚度值之间的任何值(例如约1000μm至约0.1μm、800μm至约1μm、约600μm至约20μm、约300μm至约30μm、或约1000μm至约10μm)。有时，控制器引导调节预转化的材料层(例如，其设置以形成材料床)的厚度(例如高度，例如，图15，从表面1512到表面1514的距离)。材料床内的至少一个层的材料组成可不同于材料床中的至少一个其它层内的材料组成。差异(例如变化)可包括晶体或晶粒结构中的差异。变化可包括晶粒取向、材料密度、化合物偏聚至晶界的程度、元素偏聚至晶界的程度、材料相、金相、材料孔隙度、晶相或晶体结构中的变化。打印物体的微观结构可包括平面结构、胞状结构、圆柱状树枝结构或等轴树枝结构。控制器可引导在3D打印期间要(例如占优势地)形成的某种类型的金相微观结构的形成。该系统、仪器和/或方法可在3D打印(例如特定阶段)期间形成所需金相结构。
在一些例子中，材料床的一个或多个层中的预转化的材料不同于材料床的不同的一个或多个层中的预转化的材料。例如，材料床中至少一层的预转化的材料在其颗粒(例如粉末颗粒)的FLS中不同于材料床中至少一个其它层内的预转化的材料的FLS。例如，材料床中至少一层的预转化的材料在材料类型和/或组成方面可(各自)不同于材料床中至少一个其它层内的预转化的材料的材料类型和/或组成。层可包括处于任何组合的两种或更多种材料类型。例如，两种或更多种元素金属、两种或更多种金属合金、两种或更多种陶瓷、两种或更多种元素碳的同素异形体。例如，元素金属和金属合金、元素金属和陶瓷、元素金属和元素碳的同素异形体、金属合金和陶瓷、金属合金和元素碳的同素异形体、或陶瓷和元素碳的同素异形体。在3D打印过程期间设置的所有预转化的材料层都可具有(例如基本上)相同的材料类型和/或组成。在一些情况下，金属合金在转化材料床的至少一部分的过程期间原位形成。在一些情况下，金属合金在转化材料床的至少一部分的过程期间并非原位形成。在一些情况下，金属合金在转化材料床的至少一部分的过程之前形成。在多重预转化的(例如粉末)材料(例如混合物)中，一种预转化的材料可用作支撑件(即，支撑性粉末)、绝缘体、冷却构件(例如散热片)、或其任何组合。
在一些情况下，材料床中的相邻部件通过一个或多个介入层彼此分开。在一个例子中，当第一层与第二层直接接触时，第一层与第二层相邻。在另一个例子中，当第一层以至少一个层(例如，第三层)与第二层分开时，第一层与第二层相邻。介入层可具有任何层尺寸。
在一些实施例中，选择预转化的材料(例如粉末材料)，使得材料是(或原位形成)用于3D物体的所需和/或在其它方面预定的材料。3D物体的层包含单个类型的材料。例如，3D物体的层可包含单个元素金属类型或单个金属合金类型。在一些例子中，在3D物体内的层可包含几个类型的材料(例如元素金属和合金、合金和陶瓷、或合金和元素碳的同素异形体)。在某些实施例中，每一类型的材料仅包括那种类型的单个成员。例如：元素金属的单个成员(例如，铁)、金属合金的单个成员(例如，不锈钢)、陶瓷材料的单个成员(例如，碳化硅或碳化钨)或元素碳(例如，石墨)的单个成员(例如，同素异形体)。在一些情况下，3D物体的层包括超过一种类型的材料。在一些情况下，3D物体的层包括材料类型的超过一种成员。
元素金属可为碱金属、碱土金属、过渡金属、稀土元素金属或另一种金属。碱金属可为锂、钠、钾、铷、铯或钫。碱土金属可为铍、镁、钙、锶、钡或镭。过渡金属可为钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、钇、锆、铂、金、钅杜、钅喜、铍、钅黑、钅麦、鎶、铌、铱、钼、锝、钌、铑、钯、银、镉、铪、钽、钨、铼或锇。过渡金属可为汞。稀土金属可为镧系元素或锕系元素。镧系金属可为镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱或镥。锕系金属可为锕、钍、镤、铀、镎、钚、镅、锔、锫、锎、锿、镄、钔、锘或铹。其它金属可为铝、镓、铟、锡、铊、铅或铋。
金属合金可为铁基合金、镍基合金、钴基合金、铬基合金、钴铬基合金、钛基合金、镁基合金、铜基合金或其任何组合。合金可包括耐氧化或耐蚀合金。合金可包括超合金(例如，铬镍铁合金)。超合金可包含铬镍铁合金。例如，超合金可包括铬镍铁合金600、617、625、690、718或X-750。镍基合金可包含MAR-246。金属(例如合金或元素)可包含用于行业中的应用的合金，所述行业包括航空航天(例如航空航天超合金)、喷气发动机、导弹、汽车、船舶、机车、卫星、国防、石油和天然气、能量源生产、半导体、时尚、建筑、农业、印刷或医疗。金属(例如合金或元素)可包含用于产品的合金，所述产品包括装置、叶轮、医疗装置(人和兽医)、机器、手机、半导体设备、发电机、发动机、活塞、电子学(例如电路)、电子设备、农业设备、电机、齿轮、传动装置、通信设备、计算设备(例如笔记本电脑、手机、i-pad)、空调、发电机、家具、音乐设备、艺术品、珠宝、烹饪设备或运动齿轮。金属(例如合金或元素)可包含用于人和/或兽医应用产品的合金，所述产品包含植入物或假体。金属合金可包含用于领域中的应用的合金，所述领域包括人和/或兽医外科、植入物(例如牙科)或假体。金属(例如合金或元素)可包括用于包含旋转零件的产品的合金。旋转零件可为离心泵、压缩机或设计为通过旋转来移动流体(例如燃料)的其它机器具有的。
合金可包括超合金。合金可包括高性能合金。合金可包括显示出优异的机械强度、耐热蠕变变形性、良好的表面稳定性、耐腐蚀性和耐氧化性或其任何组合的合金。合金可包括面心立方奥氏体晶体结构。合金可包括哈氏合金、铬镍铁合金、沃斯帕洛伊合金、Rene合金(例如Rene-80、Rene-77、Rene-220或Rene-41)、海钠合金、Incoloy、MP98T、TMS合金、MTEK(例如MTEK级MAR-M-247、MAR-M-509、MAR-M-R41或MAR-MX-45)、或CMSX(例如CMSX-3或CMSX-4)。合金可为单晶合金。
在一些例子中，铁合金包括铁镍铬合金、铁镍钴合金、铁合金、因钢、铁氢化物、科瓦铁镍钴合金、镜铁、穿刺合金(不锈钢)或钢。在一些情况下，金属合金是钢。铁合金可包括硼铁、铈铁、铬铁、亚铁镁、锰铁、钼铁、镍铁、磷铁、硅铁、钛铁、铀铁或钒铁。铁合金可包含铸铁或生铁。钢可包含布拉特钢(Bulat steel)、铬钼钢、坩埚钢、大马士革钢(Damascussteel)、哈德菲钢(Hadfield steel)、高速钢、HSLA钢、马氏体时效钢(Maraging steel)、雷诺兹(Reynolds)531、硅钢、弹簧钢、不锈钢、工具钢、耐候钢或乌兹钢(Wootz steel)。高速钢可包含马歇特钨钢(Mushet steel)。不锈钢可包含AL-6XN、合金20、斯莱丝特母(celestrium)、海洋级不锈钢、马氏体不锈钢、手术不锈钢或泽龙(Zeron)100。工具钢可包含银钢。钢可包括不锈钢、镍钢、镍铬钢、钼钢、铬钢、铬钒钢、钨钢、镍铬钼钢或硅锰钢。钢可由任何美国汽车工程师协会(Society of Automotive Engineers)(SAE)等级钢组成，例如440F、410、312、430、440A、440B、440C、304、305、304L、304L、301、304LN、301LN、2304、316、316L、316LN、316、316LN、316L、316L、316、317L、2205、409、904L、321、254SMO、316Ti、321H或304H。钢可包含选自下述的至少一种晶体结构的不锈钢：奥氏体、超奥氏体、铁素体、马氏体、双相和沉淀硬化马氏体或其任何组合。双相不锈钢可包含节约型双相、标准双相、超级双相或超双相。不锈钢可包括手术级不锈钢(例如，奥氏体316、马氏体420或马氏体440)。奥氏体316不锈钢可包含316L或316LVM。钢可包含17-4沉淀硬化钢(例如630型、铬铜沉淀硬化不锈钢或17-4PH钢)。
钛基合金可包含α合金、近α合金、α和β合金或β合金。钛合金可包括1、2、2H、3、4、5、6、7、7H、8、9、10、11、12、13、14、15、16、16H、17、18、19、20、21、2、23、24、25、26、26H、27、28、29、30、31、32、33、34、35、36、37、38或更高等级。在一些情况下，钛基合金包含Ti-6Al-4V或Ti-6Al-7Nb。
镍合金可包含铝镍钴合金、铝合金、铬镍合金、白铜、镍铁、德银、哈氏合金、铬镍铁合金、蒙乃尔合金、镍铬、镍碳、Nicrosil、镍硅、镍钛诺或磁性“软”合金。磁性“软”合金可包括高导磁合金、透磁合金、超透磁合金或黄铜。黄铜可包含氢化镍、不锈钢或硬币银。钴合金可包含Megallium、钨铬钴合金(例如Talonite)、Ultimet或钴铬钼合金。铬合金可包含氢氧化铬或镍铬。
铝合金可包含AA-8000、Al-Li(铝锂)、铝镍钴合金、硬铝、海度铝合金、KryronMagnalium、Nambe、钪铝或Y合金。镁合金可包含Elektron、镁诺克斯合金或T-Mg-Al-Zn(伯格曼相)合金。
铜合金可包括砷铜、铍铜、比朗金合金、黄铜、青铜、康铜、铜氢化物、铜钨、科林斯青铜、铜镍铁合金、白铜、铙钹合金、德瓦达铜铝锌合金(Devarda′s alloy)、银金矿、合盘提泽(Hepatizon)、赫斯勒合金(Heusler alloy)、锰铜、铜铅合金(Molybdochalkos)、镍银、北欧金、赤土或铜金合金。黄铜可包含炉甘石黄铜、中国银、荷兰合金、仿金合金、孟兹合金、铜锌合金、王子金属(Prince′s metal)或铜锌合金。青铜可包含铝青铜、砷青铜、钟铜、佛罗伦萨青铜、Guanín、炮铜、铍青铜、磷青铜、铜锌锡合金或制镜合金。
在一些例子中，材料(例如粉末材料)包含材料，其中该材料的组成成分(例如原子或分子)容易失去其外壳电子，导致在其它方面固体布置内自由流动的电子云。在一些例子中，材料的特征在于具有高导电率、低电阻率、高导热率和/或高密度(例如，如在环境温度(例如R.T.或20℃)下测量的)。高导电率可为至少约1*105姆欧(Siemens)每米(S/m)、5*105S/m、1*106S/m、5*106S/m、1*107S/m、5*107S/m或1*108S/m。符号“*”指定数学运算“乘”或“乘以”。高导电率可为在上述导电率值之间的任何值(例如约1*105至约1*108S/m)。低电阻率可为至多约1*10-5欧姆乘以米(Ω*m)、5*10-6Ω*m、1*10-6Ω*m、5*10-7Ω*m、1*10-7Ω*m、5*10-8、或1*10-8Ω*m。低电阻率可为在上述电阻率值之间的任何值(例如约1X10-5Ω*m至约1X10-8Ω*m)。高热导率可为至少约20瓦特每米乘以凯氏度数(W/mK)、50W/mK、100W/mK、150W/mK、200W/mK、205W/mK、300W/mK、350W/mK、400W/mK、450W/mK、500W/mK、550W/mK、600W/mK、700W/mK、800W/mK、900W/mK或1000W/mK。高导热率可为在上述导热率值之间的任何值(例如约20W/mK至约1000W/mK)。高密度可为至少约1.5克/立方厘米(g/cm3)、2g/cm3、3g/cm3、4g/cm3、5g/cm3、6g/cm3、7g/cm3、8g/cm3、9g/cm3、10g/cm3、11g/cm3、12g/cm3、13g/cm3、14g/cm3、15g/cm3、16g/cm3、17g/cm3、18g/cm3、19g/cm3、20g/cm3、或25g/cm3。高密度可为在上述密度值之间的任何值(例如约1g/cm3至约25g/cm3)。
金属材料(例如元素金属或金属合金)可包含少量的非金属材料，例如包含元素氧、硫或氮。在一些情况下，金属材料可包含以痕量的非金属材料(例如，和/或元素)。痕量可为至多约100000份/百万(ppm)、10000ppm、1000ppm、500ppm、400ppm、200ppm、100ppm、50ppm、10ppm、5ppm或lppm(在重量的基础上，w/w)的非金属材料。痕量可包含至少约10ppt、100ppt、1ppb、5ppb、10ppb、50ppb、100ppb、200ppb、400ppb、500ppb、1000ppb、1ppm、10ppm、100ppm、500ppm、1000ppm或10000ppm(基于重量，w/w)的非金属材料(和/或元素)。痕量可为在上述痕量之间的任何值(例如约10份/万亿(ppt)至约100000ppm、约1ppb至约100000ppm、约1ppm至约10000ppm、或约1ppb至约1000ppm)。
3D物体内的一个或多个层可为基本上平面的(例如平坦的)。层的平面性可为基本上均匀的。在一定位置处的层的高度可与该层的平均平面相比较。平均平面可通过硬化材料层的表面的最高部分的最小二乘平面拟合限定。平均平面可为通过将在硬化材料层的顶表面上的每个点处的材料高度求平均值计算的平面。与在硬化材料的平面层的表面处的任何点的偏差可为硬化材料层的高度(例如厚度)的至多20％、15％、10％、5％、3％、1％或0.5％。基本上平坦的一个或多个层可具有大的曲率半径。图7显示了3D物体712的垂直横截面的例子，所述3D物体包括具有曲率半径的平面层(层编号1-4)和非平面层(例如层编号5-6)。图7，716和717是具有曲率半径“r”的圆圈715上的弯曲层的叠加。一个或多个层可具有的曲率半径(例如基本上)等于层表面的曲率半径。曲率半径可等于无限(例如当层是平面时)。层表面(例如3D物体的所有层)的曲率半径可具有至少约0.1厘米(cm)、0.2cm、0.3cm、0.4cm、0.5cm、0.6cm、0.7cm、0.8cm、0.9cm、1cm、3cm、5cm、10cm、20cm、30cm、40cm、50cm、60cm、70cm、80cm、90cm、1米(m)、1.5m、2m、2.5m、3m、3.5m、4m、4.5m、5m、10m、15m、20m、25m、30m、50m或100m的值。层表面(例如3D物体的所有层)的曲率半径可具有在上述曲率半径值中任意者之间的任何值(例如约0.1cm至约100m、约10cm至约90m、约50cm至约10m、约5cm至约1m、约50cm至约5m、约5cm至无限、或约40cm至约50m)。在一些例子中，一个或多个层可包括在3D物体的平面截面中，或可为平面3D物体(例如平坦平面)。在一些情况下，在3D物体内的至少一个层的部分可具有本文提到的任何曲率半径，其将指定该层部分的曲率半径。
3D物体可包括分层结构的分层平面N。图10C显示了具有分层结构的3D物体的例子，其中1005显示了平面的侧视图的例子，其中1001显示了分层平面的例子。分层平面可为硬化材料层(作为3D物体的部分)的平均或均值平面。图8显示了在3D物体的表面上的点X和Y的例子。在一些实施例中，X通过辅助特征间隔距离与Y间隔开(例如，如本文描述的)。以X为中心的半径XY的球体可缺少一个或多个辅助支撑件或者指示一个或多个辅助支撑件特征的存在或去除的一个或多个辅助支撑件标记(例如在3D打印完成之后)。直线XY和与N正交的方向之间的锐角可为约45度至约90度。在直线XY和与分层平面正交的方向之间的锐角可具有锐角α的值(例如，如本文描述的)。当直线XY与垂直于N的方向之间的角度大于90度时，可考虑互补的锐角。层结构可包括用于3D打印的任何材料。3D结构的层可由单一材料或多种材料制成。有时，层的一部分可包括一种材料，且另一部分可包括与第一材料不同的第二材料。3D物体的层可由复合材料组成。3D物体可由复合材料组成。3D物体可包含功能梯度材料(例如包含功能梯度微观结构)。
在一些实施例中，关于所请求的3D物体的(虚拟)模型，关于3D物体(例如所需3D物体)的模型，所生成的3D物体可以至少约5μm、10μm、15μm、20μm、25μm、30μm、35μm、40μm、45μm、50μm、55μm、60μm、65μm、70μm、75μm、80μm、85μm、90μm、95μm、100μm、150μm、200μm、250μm、300μm、400μm、500μm、600μm、700μm、800μm、900μm、1000μm、1100μm或1500μm的精度生成。关于3D物体的模型，所生成的3D物体可以在上述值之间的任何精度值(例如约5μm至约100μm、约15μm至约35μm、约100μm至约1500μm、约5μm至约1500μm、或约400μm至约600μm)的精度生成。
经转化的材料的硬化层可变形。变形可引起与所需均匀平面层的垂直(例如高度)和/或水平(例如宽度和/或长度)偏差。硬化材料层的表面与平面度的垂直和/或水平偏差可为至少约100μm、90μm、80μm、70μm、60μm、50μm、40μm、30μm、20μm、10μm或5μm。硬化材料层的表面与平面度的水平和/或垂直偏差可为至多约100μm、90μm、80、70μm、60μm、50μm、40μm、30μm、20μm、10μm或5μm。硬化材料层的表面与平面度的水平和/或垂直偏差可为上述高度偏差值之间的任何值(例如约100μm至约5μm、约50μm至约5μm、约30μm至约5μm、or约20μm至约5μm)。高度均匀性可包括高精确度均匀性。3D物体的分辨率可为至少约100点/英寸(dpi)、300dpi、600dpi、1200dpi、2400dpi、3600dpi或4800dpi。3D物体的分辨率可为在上述值之间的任何值(例如100dpi至4800dpi、300dpi至2400dpi、或600dpi至4800dpi)。点可为熔池。点可为阶梯(例如层高度)。点可为硬化材料层的高度。阶梯可具有至多硬化材料层的高度的值。硬化材料层的垂直(例如高度)均匀性可跨越层表面的一部分持续，所述层表面的一部分具有至少约1mm、2mm、3mm、4mm、5mm或10mm的FLS(例如宽度和/或长度)；并且具有至少约10mm、9mm、8mm、7mm、6mm、5mm、4mm、3mm、2mm、1mm、500μm、400μm、300μm、200μm、100μm、90μm、80μm、70μm、60μm、50μm、40μm、30μm、20μm或10μm的高度偏差。硬化材料层的高度均匀性可跨越靶表面的一部分持续，所述靶表面的一部分具有在上述宽度和/或长度值之间的任何值的FLS(例如宽度和/或长度)(例如约10mm至约10μm、约10mm至约100μm、或约5mm至约500μm)。靶表面可为硬化材料层(例如作为3D物体的部分)。
3D物体(例如硬化材料)和/或其任何部分(例如硬化材料层)的特征可通过下述测量方法中的任一种来测量。例如，3D物体层及其任何部件(例如硬化材料层)的(例如宽度、高度均匀性、辅助支撑件空间和/或曲率半径的)FLS值可通过下述测量方法中的任一种来测量。测量方法可包括显微镜方法(例如本文所述的任何显微镜方法)。测量方法可包括坐标测量机(CMM)、测量投影仪、视觉测量系统和/或量规。量规可为测距计(例如卡钳)。量规可为止规(go-no-go gauge)。测量方法可包括卡钳(例如游标卡钳)、正透镜、干涉仪或激光器(例如跟踪器)。测量方法可包括接触或通过非接触方法。测量方法可包括一个或多个传感器(例如光学传感器和/或计量传感器)。测量方法可包括计量测量仪器(例如使用计量传感器)。测量可包括电机编码器(例如旋转和/或线性)。测量方法可包括使用电磁波束(例如可见光或IR)。显微镜方法可包括超声或核磁共振。显微镜方法可包括光学显微镜。显微镜方法可包括电磁、电子或近端探针显微镜。电子显微镜可包括扫描、隧道、X射线拍照或俄歇电子显微镜。电磁显微镜可包括共焦、立体镜或复合显微镜。显微镜方法可包括倒置或非倒置显微镜。近端探针显微镜可包括原子力、扫描隧道显微镜、或任何其它显微镜方法。显微镜测量可包括使用图像分析系统。测量可在环境温度(例如R.T.)、(例如预转化的材料的)熔点温度或低温温度下进行。
3D物体(例如熔池)的微观结构可通过显微镜方法(例如本文所述的任何显微镜方法)来测量。微结构可通过接触或通过非接触方法来测量。微结构可通过使用电磁波束(例如可见光或IR)来测量。微结构测量可包括评估枝晶臂间距和/或二次枝晶臂间距(例如使用显微镜)。显微镜测量可包括图像分析系统。测量可在环境温度(例如R.T.)、(例如预转化的材料的)熔点温度或低温温度下进行。
与腔室有关的各种距离可使用测量技术中的任一种来测量。例如，间隙距离(例如从冷却构件到材料床的暴露表面)可使用测量技术中的任一种来测量。例如，测量技术可包括干涉测量和/或共焦色度测量。测量技术可包括至少一个电机编码器(旋转、线性)。测量技术可包括一个或多个传感器(例如光学传感器和/或计量传感器)。测量技术可包括至少一个电感式传感器。测量技术可包括电磁波束(例如可见光或IR)。测量可在环境温度(例如R.T.)、(例如预转化的材料的)熔点温度或低温温度下进行。
在一些实施例中，本文描述的方法提供了跨越材料床的暴露表面(例如粉末床的顶部)的表面均匀性。例如，表面均匀性可为这样的，使得彼此通过约1mm至约10mm的距离分开、包含分配材料的暴露表面的各部分，具有约100μm至约5μm的垂直(例如高度)偏差。与在材料床的暴露表面(例如粉末床的顶部)处产生(例如形成)的平均或均值平面(例如水平面)相比，和/或与平台(例如构建平台)相比，本文所述的方法可实现在至少一个平面(例如水平面)中与预转化的材料(例如粉末)层的平面均匀性至多约20％、10％、5％、2％、1％或0.5％的偏差。垂直偏差可通过使用一个或多个传感器(例如光学传感器)来测量。
3D物体可具有各种表面粗糙度轮廓，所述轮廓可适用于各种应用。在一些例子中，表面粗糙度是真实表面(例如3D物体的暴露表面的平均或均值平面度)与其理想形式的法向矢量方向中的偏差。表面可为硬化材料层的暴露的顶表面或底表面。表面可为硬化材料的凸耳的暴露的顶表面或底表面。凸耳可为(例如基本上)平坦的，或者包含关于平台的角度(例如上升或下降的凸耳)。表面粗糙度可经测量为粗糙度轮廓的算术平均数(下文“Ra”)。3D物体可具有至少约300μm、200μm、100μm、75μm、50μm、45μm、40μm、35μm、30μm、25μm、20μm、15μm、10μm、7μm、5μm、3μm、1μm、500nm、400nm、300nm、200nm、100nm、50nm、40nm或30nm的Ra值。所形成的物体可具有至多约300μm、200μm、100μm、75μm、50μm、45μm、40μm、35μm、30μm、25μm、20μm、15μm、10μm、7μm、5μm、3μm、1μm、500nm、400nm、300nm、200nm、100nm、50nm、40nm或30nm的Ra值。3D物体可具有在上述Ra值中任意者之间的Ra值(例如约300μm至约50μm、约50μm至约5μm、约5μm至约300nm、约300nm至约30nm、或约300μm至约30nm)。Ra值可通过粗糙度测试仪和/或通过显微镜检查方法(例如本文描述的任何显微镜检查方法)来测量。测量可在环境温度(例如R.T.)、(例如预转化的材料的)熔点温度或低温温度下进行。粗糙度(例如Ra值)可通过接触或通过非接触方法来测量。粗糙度测量可包括一个或多个传感器(例如光学传感器)。粗糙度测量可包括计量测量装置(例如使用计量传感器)。粗糙度可使用电磁波束(例如可见光或IR)来测量。
3D物体可由源自经转化的材料(例如，其随后硬化)的相继固体材料层组成。相继的固体材料层可对应于所需3D物体的相继横截面(例如虚拟切片)。经转化的材料可连接(例如焊接)到硬化(例如固化)材料。硬化材料可位于与经转化的材料相同的层内，或位于另一层(例如先前层)中。在一些例子中，硬化材料包括3D物体的断开部分，所述断开部分随后通过新近转化的材料连接(例如在随后形成的层中)。转化可包括熔化、粘结或以其它方式连接预转化的材料(例如连接微粒材料)。熔化可包括烧结或熔融。
所产生(即，形成)3D物体的横截面(例如，垂直截面)可展示指示分层沉积的微观结构或颗粒结构。不希望受理论束缚，由于3D打印方法的典型和/或指示的经转化的(例如粉末)材料的固化，微观结构或晶粒结构可出现。例如，横截面可揭示类似波纹或波浪的微观结构，所述波纹或波浪指示在3D打印过程期间可形成的(例如相继)固化熔池。图10A和10B显示了排列成行(例如层)的3D物体中的相继熔池的例子。
由于熔池的设置在基本上水平的平面中，固化熔池相对于3D物体的外平面的重复分层结构可揭示在其下打印部分的取向。图10C显示了通过分层沉积形成的3D物体的例子，关于3D物体的外平面的所述层取向揭示了在其3D打印期间物体的取向。例如，具有外平面1001的3D物体以外平面1001和硬化材料层(例如1005)两者基本平行于平台1003形成的方式形成。例如，具有外平面1002的3D物体以外平面1002与平台1003形成角度的方式形成，而硬化材料层(例如1006)基本上平行于平台1003形成(例如根据分层沉积技术)。具有外平面1004的3D物体显示了3D物体的例子，所述3D物体这样生成，使得其外平面1004与平台1003形成角度(例如α)；所述打印的3D物体在其生成完成后(例如，以其天然取向)放置在平台1003上；其中在其生成(例如构建)期间，硬化材料层(例如1007)基本平行于平台1003取向。天然取向是其中3D物体在日常使用期间预期停留的取向。图10A和10B显示了包括凝固熔池层的3D物体，所述凝固熔池层布置在具有分层平面(例如1020)的层中。
在一些实施例中，3D物体的(例如垂直和/或水平)横截面揭示了基本上重复的微观结构(或晶粒结构)。微观结构(或晶粒结构)可包含材料组成、晶粒取向、材料密度、化合物偏聚或元素偏聚至晶界的程度、材料相、金相、晶相、晶体结构、材料孔隙度或其任何组合中(例如基本上)重复的变化。微观结构(或晶粒结构)可包含分层熔池的(例如基本上)重复的固化。(例如图10A-10B)。(例如基本上)重复的微观结构可具有至少约0.5μm、1μm、5μm、10μm、20μm、30μm、40μm、50μm、60μm、70μm、80μm、90μm、100μm、150μm、200μm、250μm、300μm、350μm、400μm、450μm、500μm或1000μm的平均高度。(例如基本上)重复的微观结构可具有至多约1000μm、500μm、450μm、400μm、350μm、300μm、250μm、200μm、150μm、100μm、90μm、80μm、70μm、60μm、50μm、40μm、30μm、20μm或10μm的平均高度。基本上重复的微观结构可具有在上述值之间的任何值的平均高度(例如约0.5μm至约1000μm、约15μm至约50μm、约5μm至约150μm、约20μm至约100μm、或约10μm至约80μm)。微观结构(例如熔池)高度可对应于硬化材料层的高度。层高度可在图5的例子中看到，显示了高度指定为“h|”的硬化材料层。
在一些例子中，在材料床内的预转化的材料(例如，其未被转化以形成3D物体)可配置为对3D物体提供支撑。例如，支撑性预转化的材料(例如粉末)可具有3D物体由其生成的相同类型的预转化的材料、不同类型的预转化的材料或其任何组合。预转化的材料可为微粒材料(例如粉末)。在3D打印的至少一部分期间(例如在整个3D打印期间)，预转化的材料可为可流动的。在3D打印期间，材料床可处于(例如基本上)恒定的压力下。在3D打印期间，材料床可无压力梯度。在3D打印期间，材料床内的预转化的材料(例如，其未被转化以形成3D物体)可处于环境温度下。材料床中的任何层中的预转化的材料可为可流动的。在3D打印过程之前、3D打印过程期间和/或3D打印过程结束时，未被转化以形成3D物体的预转化的材料(例如粉末)可为可流动的。未被转化以形成3D物体(或其一部分)的预转化的材料可被称为“剩余部分”。在一些情况下，低流动性预转化的材料能够比高流动性预转化的材料更好地支撑3D物体。低流动性微粒材料尤其可用下述实现：由相对小颗粒组成的微粒材料、具有不均匀尺寸的颗粒或彼此吸引的颗粒。预转化的材料可具有低、中或高流动性。响应施加的15千帕(kPa)的力，预转化的材料可具有至少约1％、2％、3％、4％、5％、6％、7％、8％、9％或10％的可压缩性。响应施加的15千帕(kPa)的力，预转化的材料可具有至多约9％、8％、7％、6％、5％、4.5％、4.0％、3.5％、3.0％、2.5％、2.0％、1.5％、1.0％或0.5％的可压缩性。预转化的材料可具有至少约100毫焦耳(mJ)、200mJ、300mJ、400mJ、450mJ、500mJ、550mJ、600mJ、650mJ、700mJ、750mJ、800mJ或900mJ的基本流动能。预转化的材料可具有至多约200mJ、300mJ、400mJ、450mJ、500mJ、550mJ、600mJ、650mJ、700mJ、750mJ、800mJ、900mJ或1000mJ的基本流动能。预转化的材料可具有在上文列出的基本流动能值之间(例如约100mj至约1000mJ、约100mj至约600mJ、或约500mj至约1000mJ)的基本流动能。预转化的材料可具有至少约1.0毫焦耳/克(mJ/g)、1.5mJ/g、2.0mJ/g、2.5mJ/g、3.0mJ/g、3.5mJ/g、4.0mJ/g、4.5mJ/g或5.0mJ/g的比能。粉末可具有最多5.0mJ/g、4.5mJ/g、4.0mJ/g、3.5mJ/g、3.0mJ/g、2.5mJ/g、2.0mJ/g、1.5mJ/g或1.0mJ/g的比能。预转化的材料可具有在上述比能值中任意者之间(例如约1.0mJ/g至约5.0mJ/g、约3.0mJ/g至约5mJ/g、或约1.0mJ/g至约3.5mJ/g)的比能。
在一些实施例中，在其形成(例如分层生成)期间，3D物体具有一个或多个辅助特征。在一些实施例中，在其形成(例如分层生成)期间，3D物体没有任何辅助特征。辅助特征可由材料(例如粉末)床和/或外壳支撑。在一些情况下，辅助支撑件可连接(例如锚定)到外壳(例如平台)。在一些情况下，辅助支撑件可不连接(例如不锚定)到外壳(例如平台)。在一些情况下，辅助支撑件可不连接到外壳，但与外壳接触。包括一个或多个辅助支撑件或没有辅助支撑件的3D物体可在材料床中悬浮(例如无锚浮动)。浮动3D物体(具有或不具有一个或多个辅助支撑件)可与外壳接触。
如本文使用的，术语“辅助特征”或“辅助支撑件”一般指其为打印的3D物体的部分的特征，但不是递送给请求实体的所需、预期、设计、订购、建模、所请求或最终的3D物体的部分。辅助特征(例如辅助支撑件)可在3D物体形成期间和/或3D物体形成之后提供结构支撑。辅助特征可使得能够在3D物体形成时从其中去除能量。辅助特征的例子包括(热)翅片、金属丝、锚定件、柄状物、支撑件、柱状物、柱、框架、基脚、支架、凸缘、突出、突起、模具(又名模子)、平台(例如基部)或任何其它稳定特征。在一些情况下，辅助支撑件是包围3D物体或其部分的支架。支架可包含轻微烧结或轻微熔化的预转化的(例如粉末)材料。支架可包括跨越至多约1毫米(mm)、2mm、5mm或10mm的连续烧结(例如轻微烧结)结构。支架可包括跨越至少约1毫米(mm)、2mm、5mm或10mm的连续烧结结构。支架可包括具有在上述尺寸中任意者之间的FLS(例如约1mm至约10mm、或约1mm至约5mm)的连续烧结结构。在一些例子中，3D物体可无需支撑支架被打印。支撑支架可包围3D物体的至少一部分(例如整个3D物体)。例如，支撑支架在材料床中无锚浮动，或与外壳的至少一部分连接。支撑支架可包括支撑结构的密集排列(例如阵列)。支撑件或支撑件标记可起源于或出现在3D物体的表面上。辅助支撑件或支撑件标记可起源于或出现在外表面上和/或内表面(例如3D物体内的空腔)上。3D物体可具有辅助特征，所述辅助特征由材料床(例如粉末床)支撑，并且不触及基部、基材、容纳材料床的容器和/或外壳的底部。处于完全或部分形成状态的3D部分(3D物体)可完全由材料床支撑(例如无需锚定到基材、基部、容纳粉末床的容器或以其它方式至外壳)。处于完全或部分形成状态的3D物体可(完全)由材料床支撑(例如无需触及除了构成材料床的材料之外的任何事物)。处于完全或部分形成状态的3D物体可无锚地悬浮于材料床中，而无需放在任何另外的支撑结构上。在一些情况下，处于完全或部分形成状态的3D物体可在材料床中自由地浮动(例如无锚地)(例如在3D打印的至少一部分期间(例如在整个3D打印期间))。悬浮可包括浮动、断开、无锚、脱离、不粘附或游离。在一些例子中，3D物体可不锚定(例如连接)到外壳的至少部分(例如在3D物体形成期间，和/或在3D物体的至少一个层形成期间)。外壳可包括限定材料床的平台或壁。3D物体可不触及和/或不接触外壳(例如在3D物体的至少一个层形成期间)。
打印的3D物体可无需使用辅助特征来打印，可使用减少数目的辅助特征来打印，或使用间隔开的辅助特征来打印。在一些实施例中，打印的3D物体可没有(一个或多个)辅助支撑件特征、或者指示辅助支撑件特征的(例如先前)存在和/或去除的辅助支撑件特征标记。3D物体可没有一个或多个辅助支撑件特征、以及被去除(例如在3D物体的生成之后或与3D物体的生成同时)的辅助特征(包括基础结构)的一个或多个标记。打印的3D物体可包括单个辅助支撑件标记。单个辅助特征(例如辅助支撑件或辅助结构)可为平台(例如构建平台，例如基部或基材)或模具。辅助支撑件可粘附到平台和/或模具。3D物体可包括属于一个或多个(例如先前存在的)辅助结构的标记。3D物体可包括属于辅助特征的两个或更多个标记。3D物体可以没有属于至少一个辅助支撑件的标记。3D物体可以没有一个或多个辅助支撑件。该标记可包括晶粒取向中的变化、分层取向中的变化、分层厚度、材料密度、化合物偏聚至晶界的程度、材料孔隙度、元素偏聚至晶界的程度、材料相、金相、晶相、晶体结构或其任何组合；其中所述变化可能仍未通过所述3D物体的几何形状单独产生，并且因此可指示被去除的先前存在的辅助支撑件。变化可通过支撑件的几何形状强加给所生成的3D物体。在一些情况下，打印物体的3D结构可通过辅助支撑件(例如通过模具)压迫。例如，标记可为未由3D物体的几何形状解释的不连续点和/或区域，所述3D物体不包括任何辅助支撑件。不连续点和/或区域可起于辅助支撑件的(例如，机械和/或光学)修整。图34显示了3D物体的垂直横截面的例子，所述3D物体包括两个基本上水平的层(例如3401和3402)以及垂直辅助支撑件，所述垂直辅助支撑件包含不连续区域3404并且在层3401和3402中引入几何变形(例如3403)，所述几何变形通过辅助支撑件的存在而引起，并且不能以其它方式解释(并且因此指示其存在)。标记可为无法由3D物体的几何形状解释的表面特征，如果所述3D物体不包括任何辅助支撑件(例如模具)。两个或更多个辅助特征或辅助支撑件特征标记可间隔开至少1.5毫米(mm)、2mm、2.5mm、3mm、3.5mm、4mm、4.5mm、5mm、5.5mm、6mm、6.5mm、7mm、7.5mm、8mm、8.5mm、9mm、9.5mm、10mm、10.5mm、11mm、11.5mm、12mm、12.5mm、13mm、13.5mm、14mm、14.5mm、15mm、15.5mm、16mm、20mm、20.5mm、21mm、25mm、30mm、30.5mm、31mm、35mm、40mm、40.5mm、41mm、45mm、50mm、80mm、100mm、200mm 300mm或500mm的间隔距离(例如XY)。两个或更多个辅助支撑件特征或辅助支撑件特征标记可间隔开在上述辅助支撑件间隔值之间的任何值的间隔距离(例如1.5mm至500mm、2mm至100mm、15mm至50mm、或45mm至200mm)。该距离在本文中统称为“辅助特征间隔距离”。
3D物体可包括叶轮，例如在一个3D打印过程期间作为单件(例如包括叶片和盖)产生的闭式(例如覆盖)叶轮。叶轮可用于泵(例如涡轮泵)。3D物体可包括涡轮机、定子、电机或转子。3D物体可包括在材料床中形成的叶片(例如3D平面)，使得至少一个叶片(例如所有叶片)基本平行(例如，完全平行或几乎平行)，或者在3D物体形成期间相对于平台成至多约10°、20°、30°、40°、45°或90°的角度。3D物体可包括在材料床中形成的叶片(例如3D平面)，使得叶片在3D物体形成期间处于上述角度之间的任何角度(例如相对于平台约0°至约10°、约0°至约20°、约0°至约30°、约0°至约40°、约0°至约45°、或约0°至约90°)。3D物体可包括在材料床中形成的叶片(例如3D平面)，使得叶片基本上垂直(例如，完全垂直或几乎垂直)或相对于3D物体的旋转轴成至多80°、70°、60°、50°或0°的角度(例如，当3D物体是叶轮、涡轮机、定子、电机或转子时)。3D物体可包括在材料床中形成的叶片(例如3D平面)，使得叶片处于上述角度之间的任何角度(例如相对于3D物体的旋转轴约90°至约80°、约90°至约70°、约90°至约60°、约90°至约50°、约90°至约0°)。在一些例子中，悬挂结构(例如叶片)不包括辅助支撑件(例如，除了旋转轴之外)。在一些例子中，悬挂结构(例如叶片)包括至少一个辅助支撑件，其中每两个辅助支撑件之间的距离或辅助支撑件与旋转轴之间的距离具有等于辅助特征间隔距离的值(例如本文公开的)。3D物体可包括复杂的内部结构。3D物体可包括多个叶片。两个叶片之间的距离可为至多约0.1mm、0.2mm、0.5mm、1mm、2mm、3mm、4mm、5mm、6mm、7mm、8mm、10mm、20mm、50mm或100mm。两个叶片之间的距离可为上述值之间的任何值(例如约0.1mm至约100mm、约0.1mm至约5mm、约0.1mm至约10mm、约0.1mm至约50mm、或约10mm至约100mm)。叶片之间的距离可指垂直距离。叶片之间的距离可构成大气间隙。
图9显示了坐标系的例子。线904表示分层平面的垂直横截面。线903表示连接两个辅助支撑件或辅助支撑件标记的(例如，最短的)直线。线902表示分层平面的法线。线901表示重力场的方向。连接两个辅助支撑件或辅助支撑件标记的直(例如，最短的)线和与分层平面正交的方向之间的锐角(即，尖锐)α角可为至少约45度(°)、50°、55°、60°、65°、70°、75°、80°或85°。连接两个辅助支撑件或辅助支撑件标记的直线与垂直于分层平面的方向之间的锐角α可为最多约90°、85°、80°、75°、70°、65°、60°、55°、50°或45°。连接两个辅助支撑件或辅助支撑件标记的直线和与分层平面正交的方向之间的锐角α可为在上述角度之间的任何角度范围(例如约45度(°)、to about 90°、约60°至约90°、约75°至约90°、约80°至约90°、或约85°至约90°)。图18显示了包含相继材料层的3D物体的例子。每个层具有(例如平均)分层平面(例如1806)。分层平面可基本上彼此平行。3D物体具有顶表面1802，并且设置在平台1803上方(例如，以及在其之上)。3D物体包括两个辅助支撑件1808。3D物体包括辅助支撑件1808与之连接的外(例如，底)表面。两个辅助支撑件之间的最短距离在线1807上。线1807与分层平面(例如1806)的法线1804形成锐角α。连接两个辅助支撑件(或辅助支撑件标记)的最短线和与分层平面正交的方向之间的锐角α可为约87°至约90°。分层平面的例子在图7中可见，所述图7显示了包括层1至6的3D物体711的垂直横截面，所述层各自为基本上平坦的。在图7的示意性例子中，层的分层平面可为层。例如，层1可对应于层1的层和分层平面两者。当层不是平面时(例如图7，3D物体712的层5)，分层平面为层的平均或均值平面。两个辅助支撑件或辅助支撑件特征标记可在相同表面(例如3D物体的外表面)上。相同表面可为外表面或内表面(例如3D物体内的空腔的表面)。当连接两个辅助支撑件或辅助支撑件标记的最短直线和与分层平面正交的方向之间的角度大于90度时，可考虑互补的锐角。在一些实施例中，任何两个辅助支撑件或辅助支撑件标记间隔开至少约10.5毫米或更多。在一些实施例中，任何两个辅助支撑件或辅助支撑件标记间隔开至少约40.5毫米或更多。在一些实施例中，任何两个辅助支撑件或辅助支撑件标记间隔开辅助特征间隔距离
在一些实施例中，在3D物体形成期间，一个或多个辅助特征(其可包括基部支撑件)用于保持和/或约束3D物体。这种约束可阻止3D物体在其形成期间和/或在其(例如完全)硬化期间变形。在一些情况下，辅助特征可用于锚定和/或保持材料床中的3D物体或3D物体的一部分(例如，接触或不接触外壳，和/或连接或不连接到外壳)。一个或多个辅助特征可对于3D物体是特定性的，并且可增加形成3D物体所需的时间、能量、材料和/或成本。一个或多个辅助特征可在3D物体使用或递送(例如分配)之前去除。辅助特征的(例如水平)横截面的最长尺寸可为至多约50nm、100nm、200nm、300nm、400nm、500nm、600nm、700nm、800nm、900nm或1000nm、1μm、3μm、10μm、20μm、30μm、100μm、200μm、300μm、400μm、500μm、700μm、1mm、3mm、5mm、10mm、20mm、30mm、50mm、100mm或300mm。辅助特征的(例如水平)横截面的最长尺寸(例如FLS)可为至少约50nm、100nm、200nm、300nm、400nm、500nm、600nm、700nm、800nm、900nm或1000nm、1μm、3μm、10μm、20μm、30μm、100μm、200μm、300μm、400μm、500μm、700μm、1mm、3mm、5mm、10mm、20mm、30mm、50mm、100mm或300mm。辅助特征的(例如水平)横截面的最长尺寸可为上述值之间的任何值(例如约50nm至约300mm、约5μm至约10mm、约50nm至约10mm、或约5mm至约300mm)。消除对于辅助特征的需要可降低与生成3D物体(例如3D部分)相关的时间、能量、材料和/或成本。在一些例子中，可形成具有辅助特征的3D物体。在一些例子中，3D物体可在连接到容纳材料床的容器(例如容器的侧面和/或底部)时形成。
在一些例子中，辅助支撑件的数目缩减或者缺少一个或多个辅助支撑件提供了与商购可得的3D打印过程相比，需要更少量的材料、能量、材料和/或成本的3D打印过程。在一些例子中，辅助支撑件的数目缩减或者缺少一个或多个辅助支撑件提供了与商购可得的3D打印过程相比，产生更少量的材料浪费的3D打印过程。更少的量可减少至少约1.1、1.3、1.5、2、3、4、5、6、7、8、9或10。更少的量可减少在上述值之间的任何值(例如，约1.1至约10、或约1.5至约5)。
在3D打印期间，3D物体的至少一部分可在材料床中垂直位移(例如下沉)。在3D打印期间：3D物体的至少一部分可被材料床内的预转化的材料包围(例如浸没)。3D物体的至少一部分可停留在预转化的材料中，而无(例如显著)垂直移动(例如位移)。(例如显著)垂直位移的缺乏可总计至多约40％、20％、10％、5％或1％层厚度的垂直移动(例如下沉)。(例如显著)下沉的缺乏可总计至多约100μm、30μm、10μm、3μm或1μm。显著可相对于对3D打印过程的作用。显著下沉和/或垂直移动的缺乏可指下沉和/或垂直移动对3D打印的可忽略不计的作用。3D物体的至少一部分可停留在预转化的材料中，而无显著移动(例如水平、垂直和/或角度)。显著移动的缺乏可总计至多100μm、30μm、10μm、3μm或1μm的移动。当3D物体垂直位移(例如沉入)或浸没在材料床中时，3D物体可停留在平台(例如基材)上方(例如在其上)。
图1描绘了可使用本文公开的3D打印方法(例如3D打印机)用于生成3D物体的系统的例子。该系统可包括外壳(例如包括壁107的腔室)。系统中的部件的至少一小部分(例如3D打印机的部件)可封闭在腔室中。腔室的至少一小部分可填充有气体，以产生气体环境(即，大气126)。气体可为惰性气体(例如氩、氖、氦、氮)。腔室可填充有至少一种其它气体(例如，气体的混合物)。气体可为非反应性气体(例如，惰性气体)。气体环境可包含氩、氮、氦、氖、氪、氙、氢、一氧化碳或二氧化碳。有时，大气的(气体)组成可受控变化。控制可在3D打印之前、3D打印期间和/或3D打印之后。控制可为自动的(例如使用控制器)或手动的。在3D打印期间，可包括在通过能量束照射靶表面之前、通过能量束照射靶表面之后和/或通过能量束照射靶表面期间。改变大气可包括减少氧和/或水含量。改变大气可包括引入反应试剂(例如氢)。反应试剂可为还原剂。反应试剂可与大气中的氧和/或水反应，以降低它在其中的浓度。试剂可为吸收试剂(例如，或者氧和/或水)。3D打印机可包括低温仪器(例如，低温指(cryogenic finger))，其可减少来自大气(例如，水和/或氧可在其上冷凝和/或结晶)中的氢和/或氧含量。例如，大气可包含成形气体。在大气中的还原剂(例如氢)(体积/体积)百分比可为至多约10％、8％、5％、2％、1％、0.5％、0.1％或0.05％。在大气中的还原剂(体积/体积)百分比可为上述值之间的任何值(例如约10％至约0.1％、约2％至约0.1％、或约5％至约0.05％)。在一些实施例中，处理腔室可被加压到高于环境大气压力。腔室内的压力可为至少约10-7托、10-6托、10-5托、10-4托、10-3托、10-2托、10-1托、1托、10托、100托、1巴、2巴、3巴、4巴、5巴、10巴、20巴、30巴、40巴、50巴、100巴、200巴、300巴、400巴、500巴或1000巴。腔室内的压力可为至少约100托、200托、300托、400托、500托、600托、700托、720托、740托、750托、760托、900托、1000托、1100托或1200托。腔室中的压力可为至多约10-8托、10-7托、10-6托、10-5托、or 10-4托、10-3托、10-2托、10-1托、1托、10托、100托、200托、300托、400托、500托、600托、700托、720托、740托、750托、760托、900托、1000托、1100托或1200托。腔室中的压力可为上述压力值中任意者之间的范围下的任何值(例如约10-7托至约1200托、约10-7托至约1托、约1托至约1200托、约10-2托至约10托、约10-7托至约10巴、约10-7托至约1巴、或约1巴至约10巴)。压力可通过压力计进行测量。压力可在环境温度(例如R.T.)、低温温度或预转化的材料的熔点温度下进行测量。在一些情况下，腔室中的压力可为标准大气压。在一些情况下，腔室内的压力可为环境压力(例如中性压力)。在一些实例中，腔室可处于真空压力下。在一些例子中，腔室可处于正压下(例如高于环境压力)。在3D打印过程期间，压力可为环境压力。本文提到的腔室压力可在3D打印的至少一部分期间。在一些例子中，在3D打印过程期间，外壳和/或其任何一部分(例如材料床)可处于(例如基本上)恒定的压力值下。在一些实施例中，在3D打印过程期间，外壳和/或其任何一部分(例如材料床)可处于不变(例如非渐变)的压力下。环境压力可为标准大气压。在3D打印过程的至少一部分(例如整个)期间，外壳和/或其任何一部分(例如材料床)可经历在外壳各处(例如基本上)的均匀压力分布。腔室可包括两个或更多个气态层，如例如临时专利申请序列号62/444,069中公开的，所述临时专利申请的整体并入本文。在一些实施例中，预处理预转化的材料以去除氧和/或水。在至少一个3D打印周期期间，预转化的材料可保持在(例如基本上)干燥和/或无氧的环境中。
气态环境可包含选自氩、氮、氦、氖、氪、氙、氢、一氧化碳、二氧化碳和氧的气体。气态环境可包含空气。气体可为超高纯度气体。超高纯度气体可为至少约99％、99.9％、99.99％或99.999％纯。气体可包含小于约2ppm的氧、小于约3ppm的水分、小于约1ppm的烃或小于约6ppm的氮。在一些实施例中，可在3D打印开始之前(例如在其通过转化能量束的第一次照射之前)，对预转化的材料(例如在材料床中)进行脱气。外壳可维持在真空下或在惰性、干燥、非反应性和/或氧减少(或在其它方面受控)的大气下。在一些例子中，外壳在真空下。大气可通过提供惰性、干燥、非反应性和/或氧减少的气体(例如Ar)来提供。大气可通过使气体流过外壳(例如腔室)来提供。
材料层可在平台上支撑。该平台可包括基材(例如109)。基板可具有圆形、矩形、正方形或不规则形状的横截面。该平台可包括设置在基材上方的基部(例如102)。平台可包括设置在基材和材料层(或要被材料层占据的空间)之间的基部(例如102)。一个或多个材料床密封件(例如103)可阻止材料从材料床(例如104)泄漏。可在其中形成3D物体的区域或与其中形成3D物体的区域相邻(例如在上方)的区域的内部提供热控制单元(例如冷却构件，例如散热片或冷却板，或加热板113)。热控制单元可包括恒温器。另外地或可替代地，热控制单元可在其中形成3D物体的区域的外部(例如在预定距离处)提供。在一些情况下，热控制单元可形成其中形成3D物体的边界区域(例如，容纳材料床的容器)的至少一个区段。热控制单元(例如冷却构件)的例子可在专利申请序列号PCT/US15/36802中找到，所述专利申请的整体以引用的方式并入本文。
在一些实施例中，3D打印机部件中的一个或多个包含在外壳(例如腔室)中。该外壳可包括适合于引入前体以形成3D物体的反应空间，例如预转化的(例如粉末)材料。外壳可为真空腔室、正压腔室或环境压力腔室。外壳可包括具有受控压力、温度和/或气体组成的气态环境。控制可在3D打印之前、3D打印期间和/或3D打印之后。控制可为自动的和/或手动的。
在一些实施例中，外壳(例如腔室)中的氧浓度和/或湿度被最小化(例如低于预定的阈值)。腔室的气体组成可包含至多约100份/十亿(ppb)、10ppb、1ppb、0.1ppb、0.01ppb、0.001ppb、100份/百万(ppm)、10ppm、1ppm、0.1ppm、0.01ppm或0.001ppm的氧和/或湿度水平。腔室的气体组成可包含在上述值中任意者之间(例如约100ppb至约0.001ppm、约1ppb至约0.01ppm、或约1ppm至约0.1ppm)的氧和/或湿度水平)。外壳中的环境中的气体组成可包含(例如基本上)无氧环境。基本上可相对于氧对3D打印的作用，其中基本上不含可指对3D打印的可忽略不计的作用。例如，气体组合物可含有至多约100,000份/百万(ppm)、10,000ppm、1000ppm、500ppm、400ppm、300ppm、200ppm、100ppm、50ppm、30ppm、10ppm、5ppm、1ppm、100,000份/十亿(ppb)或10,000ppb的氧。在外壳内包含的环境中的气体组成可包括基本上不含水分(例如水)的环境。气态环境可包含至多约100,000ppm、10,000ppm、1000ppm、500ppm、400ppm、300ppm、200ppm、100ppm、50ppm、30ppm、10ppm、5ppm、1ppm、100,000ppb或10,000ppb的水。
在3D打印之前、3D打印期间和/或3D打印之后，气体组成可由一个或多个传感器(例如氧和/或湿度传感器)测量。腔室可在3D物体的形成完成时打开。当腔室打开时，含有氧和/或湿气的环境空气可进入腔室。在一些实施例中，通过加载锁定机构来接近处理腔室，所述加载锁定机构减少处理腔室(包含大气126)被环境大气(例如，含有氧和/或湿气)的污染。通过例如在腔室打开的同时流动惰性气体(例如，以阻止环境空气的进入)、或使通过位于靶表面(例如材料床的暴露表面)的表面上的重气体(例如氩)流动，来减少腔室中的一个或多个部件对环境大气(例如空气)的暴露。在一些情况下，在外壳(例如腔室)打开(例如，至周围环境)的同时，可密封在其表面上吸收氧和/或湿气的部件。
在一些实施例中，腔室配置为使得腔室(例如126)内部的气体具有从腔室到腔室外部的环境的相对低的泄漏速率。在一些情况下，泄漏速率可为至多约100毫托/分钟(mTorr/min)、50mTorr/min、25mTorr/min、15mTorr/min、10mTorr/min、5mTorr/min、1mTorr/min、0.5mTorr/min、0.1mTorr/min、0.05mTorr/min、0.01mTorr/min、0.005mTorr/min、0.001mTorr/min、0.0005mTorr/min或0.0001mTorr/min。泄漏速率可在上述泄漏速率中任意者之间(例如约0.0001mTorr/min至约100mTorr/min、约1mTorr/min至约100mTorr/min、或约1mTorr/min至约100mTorr/min)。在3D打印之前、3D打印期间和/或3D打印之后，泄漏速率可通过一个或多个压力计和/或传感器(例如在环境温度下)来测量。外壳可被密封(例如使用至少一个气密密封件)，使得从腔室内部到腔室外部的环境的气体泄漏速率很低(例如低于阈值水平)。气密密封件可包括O型环、橡胶密封件、金属密封件、加载锁或活塞上波纹管。在一些情况下，腔室可具有控制器，所述控制器配置为在3D打印之前、3D打印期间和/或3D打印之后，检测高于指定泄漏速率的泄漏(例如通过使用至少一个传感器)。检测可使用至少一个传感器。传感器可以可操作地联接到控制器。在一些情况下，控制器可鉴定和/或控制(例如引导和/或调节)气体泄漏。例如，控制器能够通过检测经过给定时间间隔腔室侧中的压力降低来鉴定气体泄漏。控制器还可通知(例如用户和/或软件)检测到的泄漏和/或执行3D打印机的紧急关闭。
在一些实施例中，本文描述的系统和/或仪器组件适于和/或配置为生成3D物体。3D物体可通过3D打印过程生成。可在平台附近提供第一层预转化的材料(例如粉末)。平台(例如基部)可为3D物体的先前形成的层或任何其它表面，在其上方(例如在其上)铺展、保持、放置、粘附、附着或支撑包含预转化的材料的层或材料床。当生成3D物体的第一层时，该第一材料层可无需平台(例如基部)、无需一个或多个辅助支撑件特征(例如杆)、和/或无需除预转化的材料(例如在材料床内)外的其它支撑结构而在材料床中形成。后续层或硬化材料可形成为使得后续层的至少一部分熔化(例如熔融或烧结)、粘结和/或以其它方式连接到先前形成的硬化材料层(或其一部分)的至少一部分。先前形成的硬化材料层的至少一部分(例如硬化材料的完整层)可充当用于形成3D物体(例如剩余部分)的平台(例如基部)。在一些情况下，第一形成的硬化材料层包括和/或形成平台(例如基部)的至少一部分。该平台可为牺牲层或形成3D物体的底部蒙皮层。预转化的材料层可包含均匀或不均匀尺寸和/或形状的颗粒。第一形成的硬化材料层可在其形成期间和/或在3D物体形成期间无锚地浮动在材料床中。第一形成的硬化材料层可为平坦的或可为不平坦的。
在一些实施例中，本文描述的系统、方法和/或仪器可包括至少一个能量源(例如，生成转化能量束的转化能量源、和/或生成感测能量束的感测能量源)。转化能量束可为在专利申请号62/265,817和专利申请号62/317,070中公开的任何能量束(例如，扫描能量束或铺设能量束)，所述专利申请以引用的方式全文并入本文(在那些申请中，铺设能量束可被称为“(铺设)能通量”)。能量源可为专利申请号62/265,817或62/317,070中公开的任何能量源，所述专利申请以引用的方式全文并入本文。能量束可沿着路径行进(例如扫描)。该路径可为预定的(例如通过控制器)。该方法、系统和/或仪器可包括至少一个第二能量源。第二能量源可生成第二能量(例如第二能量束)。第一能量束和/或第二能量束(例如，扫描和/或铺设能量束)可将材料床中预转化的材料的至少一部分转化为经转化的材料。在一些实施例中，第一能量源和/或第二能量源可加热但不转化材料床中预转化的材料的至少一部分。在一些情况下，该系统可包括1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、30、100、300、1000个或更多个能量束和/或源。该系统可包括能量源阵列(例如激光二极管阵列)。可替代地或另外地，表面、材料床、3D物体(或其部分)或其任何组合可通过加热机构进行加热。加热机构可包括分散的能量束。在一些情况下，至少一个能量源是单个(例如第一)能量源。
在一些实施例中，能量源是配置为将能量传递到靶区域(例如受限区域)的源。能量源可通过辐射热传递将能量(例如辐射，例如束)传递到受限区域。能量源可投射能量(例如热能)。生成的能量(例如束)可与材料床中的至少一部分材料相互作用。在预转化的(例如粉末)材料被转化(例如熔融)之前、期间和/或之后，能量可加热材料床中的材料。能量可在3D物体形成期间的任何点时加热(例如，而不转化)3D物体的至少一小部分。可替代地或另外地，材料床可通过投射能量(例如使用辐射热和/或能量束)的加热机构进行加热。能量可包括能量束和/或分散的能量(例如辐射器或灯)。能量可包括辐射热。辐射热可通过分散能量源(例如加热机构)投射，所述加热机构包括灯、带状加热器(例如云母带状加热器或其任何组合)、加热棒(例如石英棒)、或辐射器(例如面板辐射器)。加热机构可包括感应加热器。加热机构可包括电阻器(例如可变电阻器)。电阻器可包括变阻器或可变电阻。多重电阻器可以串联、并联或其任何组合配置。在一些情况下，该系统可具有用于转化材料床的至少一部分的单个(例如第一)能量源。
在一些实施例中，能量束包括包含电磁波束或带电粒子束的辐射。能量束可包括辐射，所述辐射包含电磁、电子、正电子、质子、等离子体、原子团或离子辐射。电磁波束可包括微波、红外、紫外或可见辐射。能量束可包括电磁能量束、电子束、粒子束或离子束。离子束可包括阳离子或阴离子。粒子束可包括自由基。电磁束可包含激光束。能量束可包含等离子体。能量源可包括激光源。能量源可包括电子枪。能量源可包括能够将能量传递到点或区域(例如受限区域)的能量源。在一些实施例中，能量源可为激光源。激光源可包括CO2、Nd：YAG、钕(例如钕玻璃)、镱或准分子激光。激光器可包括纤维激光器。能量源可包括能够将能量传递到点或区域的能量源。能量源(例如转化能量源)可提供具有至少约50焦耳/cm2(J/cm2)、100J/cm2、200J/cm2、300J/cm2、400J/cm2、500J/cm2、600J/cm2、700J/cm2、800J/cm2、1000J/cm2、1500J/cm2、2000J/cm2、2500J/cm2、3000J/cm2、3500J/cm2、4000J/cm2、4500J/cm2或5000J/cm2的能量密度的能量束。能量源可提供具有至多约50J/cm2、100J/cm2、200J/cm2、300J/cm2、400J/cm2、500J/cm2、600J/cm2、700J/cm2、800J/cm2、1000J/cm2、500J/cm2、1000J/cm2、1500J/cm2、2000J/cm2、2500J/cm2、3000J/cm2、3500J/cm2、4000J/cm2、4500J/cm2或5000J/cm2的能量密度的能量束。能量源可提供具有在上述值之间的值(例如约50J/cm2至约5000J/cm2、约200J/cm2至约1500J/cm2、约1500J/cm2至约2500J/cm2、约100J/cm2至约3000J/cm2、或约2500J/cm2至约5000J/cm2)的能量密度的能量束。在一个例子中，激光可提供在至少约100纳米(nm)、500nm、750nm、1000nm、1010nm、1020nm、1030nm、1040nm、1050nm、1060nm、1070nm、1080nm、1090nm、1100nm、1200nm、1500nm、1600nm、1700nm、1800nm、1900nm或2000nm的峰值波长处的光能。在一个例子中，激光可提供在至多约2000nm、1900nm、1800nm、1700nm、1600nm、1500nm、1200nm、1100nm、1090nm、1080nm、1070nm、1060nm、1050nm、1040nm、1030nm、1020nm、1010nm、1000nm、750nm、500nm或100nm的峰值波长处的光能。激光可提供在上述峰值波长值中任意者之间的峰值波长处的光能(例如约100nm至约2000nm、约500nm至约1500nm、或约1000nm至约1100nm)。能量源(例如激光)可具有至少约0.5瓦特(W)、1W、2W、3W、4W、5W、10W、20W、30W、40W、50W、60W、70W、80W、90W、100W、120W、150W、200W、250W、300W、350W、400W、500W、750W、800W、900W、1000W、1500W、2000W、3000W或4000W的功率。能量源可具有至多约0.5W、1W、2W、3W、4W、5W、10W、20W、30W、40W、50W、60W、70W、80W、90W、100W、120W、150W、200W、250W、300W、350W、400W、500W、750W、800W、900W、1000W、1500、2000W、3000W或4000W的功率。能量源可具有在上述激光功率值中任意者之间的功率(例如约0.5W至约100W、约1W至约10W、约100W至约1000W、或约1000W至约4000W)。第一能量源(例如产生转化能量束)可具有第二能量源的至少一个特征。第一能量源(例如产生转化能量束)可在至少一个特征方面与第二能量源不同。
由能量源生成的能量束可在靶表面上入射或垂直于靶表面引导。靶表面可包括材料床的暴露表面或硬化材料的暴露表面。硬化材料可为3D物体或其一部分。能量束可在以锐角引导，所述锐角在范围为从相对于靶表面和/或平台的平均或均值平面平行到垂直的值内。能量束可被引导至靶表面的至少一部分的指定区域上指定时间段(例如停留时间)。靶表面中的材料(例如，例如粉末床的顶表面中的粉末材料)可吸收来自能量束的能量，并且因此，在靶表面处的至少材料的局部区域可增加温度。能量束可为可移动的，使得它可平移(例如水平、垂直和/或以一定角度)。能量源可为可移动的，使得它可相对于靶表面平移。能量束可经由扫描仪移动(例如，如本文公开的)。能量束中的至少两个(例如全部)可用相同扫描仪移动。能量源和/或束中的至少两个可彼此独立地平移。在一些情况下，能量源和/或束中的至少两个可以不同速率(例如速度)平移。在一些情况下，能量束中的至少两个可包括至少一个不同特征。该特征可包括波长、电荷、功率密度、振幅、轨迹、覆盖区、横截面、焦点、强度、能量、路径或阴影线方案。电荷可为电荷和/或磁荷。在一些实施例中，能量源可为非平移的(例如在3D打印期间)。能量源可为(例如基本上)静止的(例如在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间)。在一些实施例中，能量源可平移(例如在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间)。
在一些实施例中，能量源包括能量源的阵列或矩阵(例如激光器阵列)。阵列或矩阵中的至少两个(例如每个)能量源可独立地控制(例如通过控制机构)，使得能量束可独立地关闭和打开。可共同控制能量源(例如在阵列或矩阵中)中的至少两个，使得能量源中的至少两个(例如全部)可同时关闭和打开。矩阵或阵列中的至少两个能量源的能量/单位面积或强度可独立地调制(例如通过控制器)。有时，能量源(例如在矩阵或阵列中)中的至少两个(例如全部)的能量/单位面积或强度可共同调制(例如通过控制器)。控制可为手动的或自动的。控制可在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间。
在一些实施例中，能量束相对于靶表面平移。光学机构(例如扫描仪)可促进能量束可沿着靶表面的平移。能量束可通过能量源、一个或多个可调节反射镜、一个或多个多边形光扫描仪、或者其任何组合或排列的机械移动沿着靶表面扫描。能量源可使用DLP调制器、一维扫描仪、二维扫描仪或其任何组合将能量投射到靶表面。能量源可为静止的。材料床(例如靶表面)可垂直、水平或以一定角度(例如平面或复合)平移。平移可使用一个或多个电机来实现。平移可使用机械移动载物台来实现。
在一些实施例中，能量源和/或束是可移动的，使得它可相对于靶表面(例如材料床)平移。在一些情况下，能量源和/或束可为可移动的，使得它可平移跨越(例如横向地)材料床的暴露(例如顶)表面。能量束可经由扫描仪移动。扫描仪可包括检流计扫描仪、多边形、机械台(例如XY台)、压电装置、万向节或其任何组合。检流计可包括反射镜。扫描仪可包括调制器。扫描仪可包括多面镜。扫描仪可为用于两个或更多个能量源和/或束的相同扫描仪。扫描仪可包括光学设置。至少两个(例如每个)能量束可具有分开的扫描仪。能量源可彼此独立地平移。在一些情况下，至少两个能量源和/或束可以不同的速率和/或沿着不同的路径平移。例如，与第二能量源的移动相比，第一能量源的移动可更快速(例如更大的速率)。例如，与第二能量束的移动相比，第一能量束的移动可更快速(例如更大的速率)。本文公开的系统和/或仪器可包括一个或多个快门(例如安全快门)。可移动能量束、能量源和/或平台(如可应用的，例如通过电机，例如通过扫描仪)。检流计扫描仪可包括双轴检流计扫描仪。扫描仪可包括调制器(例如，如本文描述的)。能量源可使用DLP调制器、一维扫描仪、二维扫描仪或其任何组合来投射能量。能量源可为静止的或可平移的。能量源可垂直、水平或以一定角度(例如平面或复合角度)平移。平移可在3D打印的至少一部分之前、之后和/或期间。平移可手动和/或自动(例如通过控制器)控制。能量源可被调制。扫描仪可被包括在光学系统中和/或可包括光学系统(例如光学设置或光学机构)，所述光学系统配置为将来自能量源的能量引导到靶表面(例如材料床的暴露表面)上的预定位置。控制器可被编程为借助于光学系统来控制能量源的轨迹。控制器可调节从能量源到材料(例如在靶表面处)的能量供应，以形成经转化的材料。控制器可在3D打印的至少一部分之前、之后和/或期间(例如实时)进行操作。
在一些实施例中，能量源被调制。通过能量源发射的能量束可被调制。调制器可包括调幅器、调相器或偏振调制器。调制可改变能量束的强度和/或功率密度。调制可改变供应给能量源的电流(例如直接调制)。调制可影响能量束(例如外部调制，例如外部光调制器)。调制可包括直接调制(例如通过调制器)。调制可包括外部调制器。调制器可包括声光调制器或电光调制器。调制器可包括吸收调制器或折射调制器。调制可改变用于调制能量束的材料的吸收系数。调制器可改变用于调制能量束的材料的折射率。能量束的焦点可被控制(例如调制)。该调制可被控制(例如手动和/或自动)。可在3D打印的至少一部分之前、之后和/或期间(例如实时)控制调制。
在一些实施例中，本文公开的仪器和/或系统可包括光漫射器。光漫射器可(例如基本上)同质地漫射光。光漫射器可去除高强度能量(例如光)分布，并且跨越(例如转化)能量束的覆盖区形成更平均的光分布。光漫射器可降低能量束和/或通量的强度(例如充当屏蔽)。例如，光漫射器可将具有高斯分布的能量束改变为具有顶帽分布的能量束。光漫射器可包括漫射器轮组件。能量分布改变装置可包括漫射器轮(也称为漫射轮)。漫射器轮可包括滤波器轮。漫射器轮可包括滤波器或漫射器。漫射器轮可包括多个滤波器和/或多个漫射器。漫射器轮中的滤波器和/或漫射器可以线性、非线性或其任何组合布置。能量分布改变装置和/或其任何部件可控制(例如监测和/或调节)，并且与其可操作地联接。控制可为手动和/或自动的(例如通过控制器)。控制可在3D打印的至少一部分之前、之后和/或期间。漫射器轮可包括能量射线(例如束和/或通量)可行进自/至其传播的一个或多个端口(例如开口和/或出口端口)。漫射器轮可包括面板。面板可阻断(例如完全或部分)能量束。能量分布改变装置可包括快门轮。在一些例子中，漫射器轮(例如可控制地)旋转。在一些例子中，漫射器轮可在几个位置之间(例如可控制地)切换(例如交替)。漫射器轮的位置可对应于滤波器。滤波器可在硬化材料层或其一部分形成期间维持。滤波器可在硬化材料层或其一部分形成期间变化。漫射器轮可在硬化材料层或其一部分形成期间在位置之间变化(例如在至少2、3、4、5、6、7个位置之间变化)。漫射器轮可在硬化材料层或其一部分形成期间维持位置。有时，在3D物体形成期间，漫射器轮的某些位置可不使用。有时，在3D物体形成期间，漫射器轮的所有位置都可使用。
能量束具有一个或多个特征。能量束(例如转化能量束)可包括高斯能量束。能量束可具有包括椭圆形(例如圆形)或多边形的任何横截面形状。能量束可具有FLS为上述值之间的任意值(例如约50μm至约250μm、约50μm至约150μm、或约150μm至约250μm)的横截面。能量束可为连续的或不连续的(例如脉冲的)。能量束可在作为3D物体的部分的经转化的材料形成之前和/或形成期间进行调制。能量束可在3D打印过程之前和/或3D打印过程期间进行调制。
铺设能通量可包括(i)扩展的暴露区域，(ii)延长的暴露时间，(iii)低功率密度(例如功率/单位面积)，或(iv)可以平坦(例如顶部头部)能量分布填充区域的强度分布。扩展可与扫描能量束相比较。延长的暴露时间可为至少约1毫秒并且至多100毫秒。在一些实施例中，铺设能量源的能量分布可排除高斯光束或圆顶光束。在一些实施例中，铺设能量源的能量分布可包括高斯光束或圆顶光束。在一些实施例中，3D打印机包括第一扫描能量束和/或第二扫描能量束。在一些实施例中，第一扫描能量和/或第二扫描能量的能量分布可包括高斯能量束。在一些实施例中，第一扫描能量束和/或第二扫描能量束的能量分布可排除高斯能量束。第一扫描能量束和/或第二扫描能量束可具有包括椭圆形(例如圆形)或多边形(例如，如本文公开的)的任何横截面形状。扫描能量束可具有直径至少约50微米(μm)、100μm、150μm、200μm或250μm的横截面。扫描能量束可具有直径至多约60微米(μm)，100μm，150μm，200μm，or 250μm的横截面。扫描能量束可具有直径在上述值之间的任何值的横截面(例如约50μm至约250μm、约50μm至约150μm、或约150μm至约250μm)。扫描能量束的功率密度(例如功率/单位面积)可为至少约5000W/mm2、10000W/mm2、20000W/mm2、30000W/mm2、50000W/mm2、60000W/mm2、70000W/mm2、80000W/mm2、90000W/mm2或100000W/mm2。扫描能量束的功率密度可为至多约5000W/mm2、10000W/mm2、20000W/mm2、30000W/mm2、50000W/mm2、60000W/mm2、70000W/mm2、80000W/mm2、90000W/mm2或100000W/mm2。扫描能量束的功率密度可为上述值之间的任何值(例如约5000W/mm2至约100000W/mm2、约10000W/mm2至约50000W/mm2、或约50000W/mm2至约100000W/mm2)。扫描能量束的扫描速度可为至少约50毫米/秒(mm/sec)、100mm/sec、500mm/sec、1000mm/sec、2000mm/sec、3000mm/sec、4000mm/sec或50000mm/sec。扫描能量束的扫描速度可为至多约50mm/sec、100mm/sec、500mm/sec、1000mm/sec、2000mm/sec、3000mm/sec、4000mm/sec或50000mm/sec。扫描能量束的扫描速度可为上述值之间的任何值(例如约50mm/sec至约50000mm/sec、约50mm/sec至约3000mm/sec、或约2000mm/sec至约50000mm/sec)。扫描能量束可为连续的或不连续的(例如脉冲的)。在一些实施例中，扫描能量束在热铺设过程(例如通过利用铺设能量束形成分块)之后补偿在靶表面的边缘处的热损失。
在一些实施例中，铺设能量束具有扩展的横截面。例如，铺设能量束具有大于扫描能量束的FLS(例如横截面)。铺设能量束的横截面的FLS可为至少约0.2毫米(mm)、0.3mm、0.4mm、0.5mm、0.8mm、1mm、1.5mm、2mm、2.5mm、3mm、3.5mm、4mm、4.5mm或5mm。铺设能量束的横截面的FLS可在上述值中任意者之间(例如约0.2mm至约5mm、约0.3mm至约2.5mm、或约2.5mm至约5mm)。铺设能量束的横截面可为至少约0.1平方毫米(mm2)或0.2。铺设能量束的直径可为至少约300微米、500微米或600微米。第一位置和第二位置之间的距离可为至少约100微米、200微米或250微米。FLS可在能量束的全宽半最大强度下测量。FLS可在能量束的1/e2强度下测量。在一些实施例中，铺设能量束是聚焦能量束。在一些实施例中，铺设能量束是散焦能量束。铺设能量束的能量分布可为(例如基本上)均匀的(例如在形成分块的束横截面积中)。铺设能量束的能量分布在暴露时间期间(例如在本文中也称为铺设时间或停留时间)可为(例如基本上)均匀的。铺设能量束的暴露时间(例如在靶表面处)可为至少约0.1毫秒(msec)、0.5msec、1msec、10msec、20msec、30msec、40msec、50msec、60msec、70msec、80msec、90msec、100msec、200msec、400msec、500msec、1000msec、2500msec或5000msec。铺设能量束的暴露时间(例如在靶表面处)可为至多约10msec、20msec、30msec、40msec、50msec、60msec、70msec、80msec、90msec、100msec、200msec、400msec、500msec、1000msec、2500msec或5000msec。暴露时间可在上述暴露时间中任意者之间(例如约0.1msec至约5000msec、约0.1至约1msec、约1msec至约50msec、约50msec至约100msec、约100msec至约1000msec、约20msec至约200msec、或约1000msec至约5000msec)。暴露时间可为停留时间。铺设能量束的功率/单位面积可为至少约100瓦/平方毫米(W/mm2)、200W/mm2、300W/mm2、400W/mm2、500W/mm2、600W/mm2、700W/mm2、800W/mm2、900W/mm2、1000W/mm2、2000W/mm2、3000W/mm2、5000W/mm2或7000W/mm2。铺设能量束的功率/单位面积可为至多约100W/mm2、200W/mm2、300W/mm2、400W/mm2、500W/mm2、600W/mm2、700W/mm2、800W/mm2、900W/mm2、1000W/mm2、2000W/mm2、3000W/mm2、5000W/mm2、7000W/mm2、8000W/mm2、9000W/mm2或10000W/mm2。铺设能量束的功率/单位面积可为上述值之间的任何值(例如约100W/mm2至约3000W/mm2、约100W/mm2至约5000W/mm2、约100W/mm2至约9000W/mm2、约100W/mm2至约500W/mm2、约500W/mm2至约3000W/mm2、约1000W/mm2至约7000W/mm2、或约500W/mm2至约8000W/mm2)。铺设能量束可以步进和重复顺序朝向靶表面发射能量流。
在一些实施例中，铺设能量源与扫描能量源相同。在一些实施例中，铺设能量源与扫描能量源不同。铺设能量源和/或扫描能量源可设置在外壳内、外壳外部或外壳的至少一个壁内。铺设能通量和/或扫描能量束行进通过其的光学机构可设置在外壳内、外壳外部或外壳的至少一个壁内。
能量可从材料床排空。能量的排空可利用冷却构件。能量(例如热)可从材料床传递到冷却构件(例如散热片，图1，113)。冷却构件在以下中描述：于2015年12月10日提交的临时专利申请序列号62/265，817，以及于2016年4月1日的临时专利申请号62/317,070了，所述两个临时专利申请的名称为“APPARATUSES，SYSTEMS AND METHODS FOR EFFICIENTTHREE-DIMENSIONAL PRINTING”；以及于2016年12月9日提交的名称为“SKILLFUL THREE-DIMENSIONAL PRINTING”的专利申请序列号PCT/US16/66000，所有三个专利申请都以引用的方式整体并入本文。
在一些实施例中，层分配机构分配预转化的材料(例如，朝向平台)、平坦化、分布、扩展和/或去除预转化的材料(例如在材料床中)。层分配机构可用于(例如分层)形成材料床。层分配机构可用于形成预转化的材料层(或其一部分)。层分配机构可用于平整(例如平坦化)预转化的材料层(或其一部分)。平整可至预定高度。层分配机构可包括以下中的至少一个、两个或三个：(i)材料分配机构(例如图1，116)，(ii)材料平整机构(例如图1，117)和(iii)材料去除机构(例如图1，118)。材料去除机构可包括旋风分离器(例如旋风分离系统)。旋风分离器可将预转化的材料(例如粉末)从携带预转化的材料的一种或多种气体分离到材料去除机构内(例如旋风分离器内)。预转化的材料可为微粒(例如粉末)材料。层分配机构可手动和/或通过控制器(例如在3D打印之前、在3D打印之前之后和/或在3D打印之前期间)进行控制。层分配机构及其任何部件可为专利申请号62/265,817或专利申请号PCT/US15/36802中公开的那些中的任一种，所述两个专利申请均以引用的方式整体并入本文。层分配系统可包括料斗。层分配系统可包括(例如可为)重涂器。
在一些实施例中，一个或多个传感器(至少一个传感器)检测材料床的暴露表面和/或3D物体的暴露表面(或其任何一部分)的拓扑结构。传感器可检测材料床中设置的预转化的材料的量。传感器可包括接近传感器。例如，传感器可检测设置在平台和/或材料床的暴露表面上的预转化的(例如粉末)材料的量。传感器可检测设置在靶表面上的材料的物理状态(例如液体或固体(例如粉末或主体))。传感器能够检测设置在靶表面上的预转化的材料的微观结构(例如结晶度)。传感器可检测由层分配机构(例如粉末分配器)设置的预转化的材料的量。传感器可检测由层分配机构(例如由平整机构)重新定位的预转化的材料的量。传感器可检测材料床中的预转化的和/或经转化的材料的温度。传感器可检测材料(例如粉末)分配机构中和/或材料床中的预转化的材料的温度。传感器可在预转化的材料转化期间和/或预转化的材料转化后检测其温度。传感器可检测外壳(例如腔室)内的大气的温度和/或压力。传感器可检测在一个或多个位置处的材料(例如粉末)床的温度。
在一些实施例中，使用至少一个计量传感器来形成拓扑地图。计量传感器可包括静态或时变振荡(例如条纹)图案的投影。计量传感器可包括条纹投射轮廓测量装置。计量传感器可为高度映射器的至少部分。计量传感器可包括生成感测能量束的发射器(例如，如图3，317中的发射器)和接收器(例如图3，318)。发射器可包括投影仪。发射器可将感测能量束投射到靶表面上。靶表面可包括材料床的暴露表面、硬化材料层、3D物体和/或熔池。感测能量束可在靶(例如暴露)表面上形成图案。该图案可包括不同水平的光强度的区域。图21A-21D显示了根据时间的各种光强度分布。光强度分布可包括开启模式(例如图21A)。光强度分布可包括波动图案。波动图案可包括逐渐波动的强度模式(例如图21B)或突然波动的强度模式(例如图21A)。波动图案可包括多个正弦波的叠加(例如图21D)。波动图案可包括多个频率函数(例如，正弦函数和/或余弦函数)的叠加。波动图案可包括正弦波和递减函数的叠加(例如21C)。递减函数可为线性递减、对数递减、指数递减或其任何组合。波动图案可包括多重功能(例如，其为叠加的)。多重函数可被移位(例如通过相位和/或边缘)。多重函数可相对于彼此移位(例如通过相位和/或边缘)。多重函数中的至少两个(例如所有函数)可被共同地移位(例如通过相位和/或边缘)。在一些例子中，波动图案被移位(例如通过相位和/或边缘)。例如，波动图案可在计量检测器(例如高度映射器)使用期间移位。例如，波动图案可在计量检测器的操作(例如通过其检测)期间移位。该移位可为感测能量束的(例如整个)波长(λ)的至少一部分。该移位可为至少约λ/10、λ/9、λ/8、λ/7、λ/6、λ/5、λ/4、λ/3或λ/2。该移位可为至多约λ/10、λ/9、λ/8、λ/7、λ/6、λ/5、λ/4、λ/3或λ/2。该移位可为上述值之间的任何值(例如约λ至约λ/10、约λ/2至约λ/10、约λ/2至约λ/5、约λ/5至约λ/10、或约λ/2至约λ/4)。波动图案可跨越靶表面移位(例如基本上)相同(例如δ)值。波动图案可跨越靶表面移动不同的值。例如，靶表面的至少第一区域可通过约λ/3的移位波动图案被感测，并且靶表面的至少第二区域(其不同于第一区域)可通过约λ/5的移位波动图案被感测。波动图案可以以下移位：(i)在第一时间(或第一时间段)下，跨越靶表面第一值，以及(ii)在第二时间(或第二时间段)下，跨越靶表面第二值。例如，靶表面可用在时间周期t1下λ/3的移位和波动图案来感测，并且靶表面可用在时间周期t2(其不同于t1)下λ/5的移位波动图案来感测。在一些实施例中，在靶表面的特定区域处使用波动图案的某种移位涉及在该特定区域处的某个灵敏度(例如分辨率)的检测。在靶表面的不同区域处使用波动图案的不同移位值可允许以不同灵敏度(例如分辨率)检测这些不同区域。波动图案的不同移位可与材料性质(例如相位)的不同相关联。例如，可在包含预转化的材料的靶表面区域上使用与包含经转化的材料的靶表面区域上不同的移位值。检测器可包括多重感测能量束。多重能量束可形成干涉图案。波动图案可包括干涉图案。投射的感测能量束可具有相同或不同的颜色。投射的感测能量束中的至少两个可具有相同或(例如基本上)相同的颜色。投射的感测能量束中的至少两个可具有不同的颜色。投射的感测能量束可具有相同或不同的频率。投射的感测能量束中的至少两个可具有不同的频率。投射的感测能量束中的至少两个可具有相同或(例如基本上)相同的频率。可同时或序贯地投射各种多重投射感测能量束。投射的感测能量束中的至少两个可为序贯投射的。投射的感测能量束中的至少两个可(例如基本上)同时投射。基本上可相对于对检测的作用(例如对检测的分辨率的作用)。波动图案可扫描靶表面(例如通过投射一个或多个形状)。有时，波动图案在靶表面的至少一部分上可为显而易见的(例如图19，其显示了各种强度的波动矩形(例如粗线))。在一些实施例中，波动图案在靶表面的至少一部分上是可检测的(例如可出现)，其中所述波动强度模式根据(例如靶表面的至少一部分的)位置呈现。波动位置强度函数可类似于图21A-21B中所示的函数，其中“时间”标签改变为“位置”标签。另外地或可替代地，波动位置模式可根据时间而改变(例如，如图21A-21B中所示)。
在一些实施例中，(例如计量或温度)传感器(或检测器)包括滤波器(例如图3，图326)。用于将预转化的材料转化为经转化的材料的能量束(例如，扫描能量束和/或铺设能量束)在本文中可被称为“转化能量束”。滤波器可过滤来自转化能量束的感测能量束(例如图3，340)。感测能量束可包括电磁辐射(例如来自发光二极管)。感测能量束可包括准直或非准直的光。滤波可在构建3D物体之前、构建3D物体期间和/或构建3D物体之后执行。滤波可减少由传感器感测到的转化能量束的量。例如，在3D物体构建期间，滤波可保护传感器免受转化能量束(例如具有高强度)。滤波可允许在转化能量束的操作期间(例如形成3D物体的至少一部分)实时测量感测能量束。另外，滤波可允许实时感测和/或检测(例如在3D物体构建期间)。图29显示了与转化能量束2901分开的感测能量束2908的例子。图29显示了与构建模块(例如2940)接合以形成外壳的处理腔室(例如具有壁2907和大气2926)的例子。构建模块可包括靶表面(例如2910)。通过用转化能量束(例如2901)照射材料床2904，可在其中构建3D物体。图29还显示了在靶表面上照射的感测能量束(例如2908)。感测能量束可用于感测(例如构建3D物体的)靶表面的一个或多个位置的特征。感测能量束可由光能量源(例如图29，2922，例如LED灯)生成。光源可包括数字光投影仪。光源可包括数字光成像器。计量检测系统可包括数字光处理。光源可包括数位镜(例如微镜)装置。光源可包括透镜(例如透镜阵列)。光源可包括反射镜(例如显微反射镜)。光源可包括(例如显微)反射镜的阵列。阵列可为矩形的。阵列中的反射镜可为可移动的(例如可控制地)。控制可包括电(例如静电)控制。光源可包括微光机电系统(例如数位微镜装置或DMD)。反射镜可包含硅或铝。数位光投影仪可包括数位微镜装置。
感测能量束可包含与转化能量束不同的波长。感测能量束可包含低于热辐射束(例如，低于红色或红外辐射)的波长。感测能量束可包含高于等离子体生成辐射(例如高于紫外线辐射，例如从紫色到橙色可见光辐射)的波长。感测能量束的波长可高于约100nm、200nm、300nm、350nm、400nm、450nm、500nm、550nm、600nm或650nm。感测能量束的波长可低于约1000nm、950nm、900nm、850nm、800nm、750nm或700nm。感测能量束的波长可为上述波长之间的任何波长(例如100nm至1000nm、300nm至800nm、或400nm至500nm)。感测能量可为本文描述的任何能量束。有时，转化能量束(例如2901)可通过第一光学窗口(例如2915)投射。感测能量束可通过第二光学窗口(例如2918)投射(例如任选地)。在一些实施例中，第一光学窗口和第二光学窗口是相同的光学窗口。在一些实施例中，第一光学窗口不同于第二光学窗口。从到达接收器(例如2925，检测器)的靶表面(例如2930)反射的能量束可行进通过第一光学窗口(例如2915)和/或第二光学窗口(例如2918)。检测器可通过光学窗口(例如2925)与处理腔室(例如在大气上)分开。有时，检测器可具有与处理腔室相同的大气(例如图3，318和317)。第一光学窗口和/或第二光学窗口可在其相应表面中的至少一个上具有涂层。例如，第一光学窗口和/或第二光学窗口可至少在其面向处理腔室内部的表面上具有涂层(例如图29，2926)。涂层可包括抗反射、电介质、波长过滤、透明、导电和/或透明导电涂层。波长过滤涂层可包括紫外线(例如超紫外线)过滤涂层。有时，涂层可施加在光学窗口的两个表面上。
在一些实施例中，检测系统包括多重检测系统(例如多重接收器和/或发射器)。多重接收器和/或发射器可从多重空间位置观察靶位置。多重空间位置可形成多视角图像。多重检测系统的例子可在于2015年12月11日提交、名称为“FEEDBACK CONTROL SYSTEMS FORTHREE-DIMENSIONAL PRINTING”的专利申请序列号PCT/US15/65297中看到，所述专利申请全文以引用的方式并入本文。
在一些实施例中，至少一个传感器可操作地联接控制系统(例如计算机控制系统)。传感器可包括光传感器、声传感器、振动传感器、化学传感器、电传感器、磁传感器、流动性传感器、运动传感器、速度传感器、位置传感器、压力传感器、力传感器、密度传感器、距离传感器或接近传感器。传感器可包括温度传感器、重量传感器、材料(例如粉末)水平传感器、计量传感器、气体传感器或湿度传感器。计量传感器可包括测量传感器(例如高度、长度、宽度、角度和/或体积)。计量传感器可包括磁性、加速度、取向或光学传感器。传感器可传送和/或接收声音(例如回声)、磁性、电子或电磁信号。电磁信号可包括可见光、红外线、紫外线、超声波、无线电波或微波信号。计量传感器可测量靶表面的至少一部分的垂直、水平和/或角度位置。计量传感器可测量间隙。计量传感器可测量材料层的至少一部分。材料层可为预转化的材料(例如粉末)、经转化的材料或硬化材料。计量传感器可测量3D物体的至少一部分。计量传感器可测量至少一个熔池的FLS(例如深度)。计量传感器可测量从材料床的暴露表面突出的3D物体的高度。计量传感器可测量偏离材料床的暴露表面的平均和/或均值的3D物体高度。气体传感器可感测任何气体。距离传感器可为一类计量传感器。距离传感器可包括光学传感器或电容传感器。温度传感器可包括测辐射热计、双金属条、量热计、废气温度计、火焰检测仪、戈登计(Gardon gauge)、戈利辐射计、热流传感器、红外测温仪、微测辐射热计、微波辐射计、净辐射计、石英温度计、电阻式温度检测器、电阻温度计、硅带隙温度传感器、专用传感器微波/成像仪、温度仪、热敏电阻、热电偶、温度计(例如电阻温度计)或高温计。温度传感器可包括光学传感器。温度传感器可包括图像处理。温度传感器可联接到通过使用至少一个传感器生成的信号来执行图像处理的处理器。温度传感器可包括照相机(例如IR照相机、CCD照相机)。
在一些实施例中，光传感器包括半导体装置。光传感器可包括p型掺杂的金属氧化物半导体(MOS)或互补型MOS(CMOS)。在一些实施例中，光传感器包含对光敏感的材料。对光敏感的材料可改变其至少一个性质，作为对入射光子的响应。例如，对光敏感的材料可改变其温度、颜色、折射率、导电率、磁场和/或体积，作为对入射光子的响应。对光敏感的材料可改变其电子的能级群体，作为对入射光子的响应。交替可发生在暴露于光线的区域(例如吸收光子的区域)中。
在一些实施例中，本文描述的系统和/或仪器包括温度传感器。温度传感器可包括气体传感器。温度传感器可对波长至少约0.5μm、1μm、1.5μm、2.5μm、3μm、3.5μm、4μm、4.5μm、5μm、5.5μm、6μm、6.5μm、7μm、8μm或9μm的辐射(例如电磁辐射)敏感。温度传感器可对波长在上述值之间的任何值(例如约0.5μm至约9μm、约0.5μm至约3μm、约1μm至约5μm、约1μm至约2.5μm、或约5μm至约9μm)的辐射(例如电磁辐射)敏感。压力传感器可包括气压仪、气压计、增压计、波尔登管式压力计(Bourdon gauge)、热灯丝电离真空计、电离真空计、麦克劳德压力计(McLeod gauge)、U形振荡管、永久井下压力计、压强计、皮拉尼压力计(Piranigauge)、压力传感器、压力计、触感传感器或时间压力计。位置传感器可包括生长计、电容式位移传感器、电容感应、自由下落传感器、重力计、陀螺传感器、碰撞传感器、倾角计、集成电路压电传感器、激光测距仪、激光表面速度计、LIDAR、线性编码器、线性可调差动变压器(LVDT)、液体电容倾角计、里程计、光电传感器、压电加速度计、速率传感器、旋转编码器、旋转可调差动变压器、自动同步机、冲击检测器、冲击数据记录器、倾斜传感器、转速计、超声波测厚仪、可变磁阻传感器或速度接收器。检测器可包括光学传感器阵列。光学传感器可包括电荷耦合装置、色度计、接触图像传感器、电光传感器、红外传感器、动态电感器、发光二极管(例如，光传感器)、用光电位传感器、尼科尔斯辐射计(Nichols radiometer)、光纤传感器、光学位置传感器、光检器、光电二极管、光电倍增管、光电晶体管、光电传感器、光化电离检测器、光电倍加管、光敏电阻器、光敏开关、光电管、闪烁计数器、夏克哈特曼波前传感器(Shack-Hartmann)、单光子雪崩二极管、超导纳米线单光子检测器、过渡边缘传感器、可见光光子计数器或波前传感器。材料床的重量可通过一个或多个重量传感器来监测。重量传感器可设置在材料床中和/或与材料床相邻。设置在材料床中的重量传感器可设置在材料床的底部(例如与平台相邻)。重量传感器可位于外壳的底部(例如图1，111)和基材(例如图1，109)之间，基部(例如图1，102)或材料床(例如图1，104)可设置在所述基材上。重量传感器可位于外壳的底部和其上可设置材料床的基部之间。重量传感器可位于外壳的底部和材料床之间。重量传感器可包括压力传感器。重量传感器可包括弹簧秤、液压秤、气动秤或天平。压力传感器的至少一部分可暴露在材料床的底表面上。重量传感器可包括按钮测力传感器。按钮测力传感器可感测来自与测力传感器相邻的预转化的材料(例如，粉末)的压力。在一个例子中，一个或多个传感器(例如光学传感器，例如光学液位传感器)可与材料床相邻提供，例如在材料床的上方、下方和/或侧面。在一些例子中，一个或多个传感器可感测材料床中的预转化的材料的水平(例如高度或量)。预转化的材料(例如粉末)水平传感器可与材料分配机构(例如粉末分配器)连通。传感器可配置为通过监测包含材料床的结构的重量来监测材料床的重量。一个或多个位置传感器(例如高度传感器)可测量材料床相对于平台(例如在多个位置之一处)的高度。位置传感器可为光学传感器。位置传感器可确定一个或多个能量束(例如激光或电子束)与材料(例如粉末)床的暴露表面之间的距离。一个或多个传感器可连接到控制系统(例如处理器和/或计算机)。
在一些实施例中，本文公开的系统和/或仪器包括一个或多个电机。电机可包括伺服电机。伺服电机可包括致动的线性导螺杆传动电机。电机可包括皮带传动电机。电机可包括旋转编码器。仪器和/或系统可包括开关。开关可包括复位或限位开关。电机可包括致动器。电机可包括线性致动器。电机可包括皮带传动的致动器。电机可包括导螺杆传动的致动器。致动器可包括线性致动器。本文公开的系统和/或仪器可包括一个或多个活塞。
在一些实例中，压力系统与外壳流体连通。压力系统可经配置以调控外壳中的压力。在一些例子中，压力系统包括一个或多个泵。一个或多个泵可包括正排量泵。正排量泵可包括旋转式正排量泵、往复式正排量泵或直线式正排量泵。正排量泵可包括旋转凸轮泵、螺杆泵、旋转齿轮泵、活塞泵、隔膜泵、螺旋泵、齿轮泵、液压泵、旋转叶片泵、再生(涡流)泵、蠕动泵、绳泵或柔性叶轮。旋转式正排量泵可包括齿轮泵、螺旋泵或旋转叶片泵。往复泵包括柱塞泵、隔膜泵、活塞泵、排量泵或径向活塞泵。泵可包括无阀泵、蒸汽泵、重力泵、喷射泵、混流泵、波纹管泵、轴流泵、径流泵、速度泵、水锤泵、冲击泵、绳泵、压缩空气动力双隔膜泵、三缸式柱塞泵、柱塞泵、蠕动泵、罗茨式泵、螺杆泵、螺旋泵或齿轮泵。
在一些例子中，压力系统包括选自机械泵、旋片泵(rotary vain pump)、涡轮分子泵、离子泵、低温泵和扩散泵的一个或多个真空泵。一个或多个真空泵可包括旋转叶片泵、隔膜泵、液环泵、活塞泵、涡旋泵、螺旋泵、汪克尔(Wankel)泵、外置叶片泵、罗茨(roots)鼓风机、多级罗茨泵、拓普勒(Toepler)泵或凸轮泵。一个或多个真空泵可包括动量传输泵、再生泵、储气式泵、文丘里(Venturi)真空泵或团队喷射器。压力系统可包括阀；如节流阀。压力系统可包含用于测量腔室的压力且将压力中继到控制器的压力传感器，所述压力传感器可在压力系统的一个或多个真空泵的辅助下调控压力。压力传感器可与控制系统(例如控制器)联接。可电子地或手动地控制压力。
在一些实施例中，本文描述的系统、仪器和/或方法包括材料再循环机构。再循环机构可收集至少未使用的预转化的材料，并且将未使用的预转化的材料送回到材料分配机构的储库(例如材料分配储库)，或者是进料到材料分配机构的主体储库。再循环机构和主体储库在专利申请号62/265,817和专利申请号62/317,070中描述，所述两个专利申请均以引用的方式整体并入本文。
在一些情况下，未使用的材料(例如剩余部分)围绕材料床中的3D物体。未使用的材料可从3D物体中基本上去除。未使用的材料可包含预转化的材料。基本去除可指在去除后材料覆盖3D物体表面的至多约20％、15％、10％、8％、6％、4％、2％、1％、0.5％或0.1％。基本去除可指设置在材料床中并且在3D打印过程结束时保持作为预转化的材料(即剩余部分)的所有材料的去除，除了剩余部分的重量的至多约10％、3％、1％、0.3％或0.1％之外。基本去除可指所有剩余部分的去除，除了所打印的3D物体的重量的至多约50％、10％、3％、1％、0.3％或0.1％之外。未使用的材料可被去除，以允许无需挖穿材料床而取回3D物体。例如，未使用的材料可通过以下从材料床吸出：与材料床相邻构建的一个或多个真空端口(例如喷嘴)、刷去未使用材料的剩余部分、从未使用材料中提起3D物体、允许未使用的材料从3D物体流出(例如通过打开未使用材料可从其中离开的材料层的侧面和/或底部上的出口开口端口)。在未使用的材料被排空之后，3D物体可被取出。未使用的预转化的材料可被再循环到材料储库用于未来的构建。再循环可在新构建之前，构建完成之后，和/或(例如连续地)在3D打印期间。剩余部分的去除可如专利申请号62/265,817或专利申请号PCT/US15/36802中所述实现，所述两个专利申请均以引用的方式整体并入本文。在一些情况下，冷却气体可被引导至硬化材料(例如3D物体)，用于在其取回期间和/或取回之后(例如从构建模块)冷却硬化材料。
在一些情况下，用一组转化能量束制造(例如打印)3D物体。该组转化能量束可包括一个或多个转化能量束(例如扫描和/或铺设能量束)。该组转化能量束组制造3D物体的速率可为至少1立方厘米/小时(cm3/h)、5cm3/h、10cm3/h、20cm3/h、30cm3/h、40cm3/h、50cm3/h、60cm3/h、70cm3/h、80cm3/h、90cm3/h、100cm3/h、110cm3/h、120cm3/h、130cm3/h、140cm3/h或150cm3/h。该组转化能量束组制造3D物体的速率可为上述值之间的值(例如约1cm3/h至约150cm3/h、约20cm3/h至约120cm3/h、约30cm3/h至约90cm3/h、或约40cm3/h至约80cm3/h)。
在一些例子中，3D物体的最终形式在最后的硬化材料层冷却之后不久被取回。冷却后不久可为至多约1天、12小时(h)、6h、5h、4h、3h、2h、1h，30分钟，15分钟，5分钟，240s、220s、200s、180s、160s、140s、120s、100s、80s、60s、40s、20s、10s、9s、8s、7s、6s、5s、4s、3s、2s或1s。冷却后不久可在上述时间值中任意者之间(例如约1s至约1天、约1s至约1小时、约30分钟至约1天、约20s至约240s、约12h至约1s、约12h至约30min、约1h至约1s、或约30min至约40s)。在一些情况下，冷却可通过包括通过对流的主动冷却的方法来发生，使用包含氩、氮、氦、氖、氪、氙、氢、一氧化碳、二氧化碳或氧的冷却气体或气体混合物。冷却可冷却到处理温度(例如环境温度)。冷却可冷却到允许个人处理3D物体的温度。
在一些例子中，所生成的3D物体在其取回之后需要非常少的进一步加工或不需要进一步加工。在一些例子中，减少的进一步加工(或其缺乏)将提供与商购可得的3D打印过程相比，需要更少量的能量和/或更少浪费的3D打印过程。更少的量可减少至少约1.1、1.3、1.5、2、3、4、5、6、7、8、9或10。更少的量可减少在上述值之间的任何值(例如，约1.1至约10、或约1.5至约5)。进一步加工可包括修整(例如消融)。进一步加工可包括抛光(例如，砂磨)。可取回且完成所生成的3D物体，而无需去除经转化的材料和/或辅助特征(例如，因为3D物体不包括任何特征)。当由硬化(例如固化)材料组成的3D物体处于适合于允许从材料床取出其而无其基本变形的处理温度下时，可取回3D物体。处理温度可为适合于3D物体的包装的温度。处理温度可为至多约120℃、100℃、80℃、60℃、40℃、30℃、25℃、20℃、10℃或5℃。处理温度可为在上述温度值之间的任何值(例如约120℃至约20℃、约40℃至约5℃、或约40℃至约10℃)。
在一些实施例中，本文提供的方法、仪器、软件和系统导致3D物体的快速和/或有效形成。在一些情况下，3D物体可在物体的最后一层硬化(例如固化)后至多约120min、100min、80min、60min、40min、30min、20min、10min或5min内运输。在一些情况下，3D物体可在物体形成(例如硬化)的最后一层之后至少约120min、100min、80min、60min、40min、30min、20min、10min或5min内运输。在一些情况下，3D物体可在上述值之间的任何时间内(例如约5min至约120min、约5min至约60min、或约60min至约120min)运输。一旦3D物体冷却到至多约100℃、90℃、80℃、70℃、60℃、50℃、40℃、30℃、25℃、20℃、15℃、10℃或5℃的温度，它就可被运输。一旦3D物体冷却到在上述温度值之间的温度值(例如约5℃至约100℃、约5℃至约40℃、或约15℃到约40℃)，它就可被运输。运输3D物体可包括将3D物体打包和/或贴标签。在一些情况下，3D物体可直接运输给客户。
在一些例子中，本文呈现的方法、系统、仪器和/或软件促进形成用于客户的定制和/或库存3D物体。客户可为个人、企业、组织、政府、非营利组织、公司、医院、医学从业者、工程师、零售商、任何其它实体或个人。客户可为对接收3D物体和/或订购3D物体感兴趣的客户。客户可提交对3D物体的形成的要求。客户可提供值钱的物品作为3D物体的交换。客户可提供关于3D物体的设计或模型。客户可提供呈立体光刻(STL)文件的形式的设计。客户可提供设计，其中所述设计可为对以任何其它数字或物理形式的3D物体的形状和/或尺寸的限定。在一些情况下，客户可以提供3D模型、草图和/或图像作为待生成对象的设计。设计可转换成可由打印系统使用以附加地产生3D物体的指令。客户可提供从特定材料或材料组(例如，如本文描述的材料)形成3D物体的请求。在一些情况下，设计可不包含辅助特征(或辅助支撑件特征的任何过去存在的标记)。响应客户请求，可用如本文所述的打印方法、系统和/或仪器来形成或生成3D物体。在一些情况下，3D物体可通过增材3D打印过程(例如增材制造)来形成。增材生成3D物体可包括连续地设置和转化(例如熔融)包含如由客户指定的一种或多种材料的预转化的材料(例如粉末)。3D物体随后可交付给客户。3D物体可无需辅助特征(例如，其指示辅助支撑件特征的存在或去除)的生成或去除而形成。辅助特征可为阻止3D物体在3D物体形成期间移位、变形或移动的支撑件特征。
在一些例子中，以基本上准确的方式产生3D物体，其中基本上相对于3D物体的预期目的。对于客户生成的3D物体(例如固化材料)可具有与预期尺寸(例如由客户指定、或根据3D物体的模型指定)至多约0.5微米(μm)、1μm、3μm、10μm、30μm、100μm、300μm或更小的平均偏差值。该偏差可为在上述值之间的任何值(例如约0.5μm至约300μm、约10μm至约50μm、约15μm至约85μm、约5μm至约45μm或约15μm至约35μm)。根据式Dv+L/Kdv，3D物体在特定方向上可与预期尺寸具有偏差，其中Dv为偏差值，L为3D物体在特定方向上的长度，且Kdv为常数。Dv可具有最多约300μm、200μm、100μm、50μm、40μm、30μm、20μm、10μm、5μm、1μm或0.5μm的值。Dv可具有至少约0.5μm、1μm、3μm、5μm、10μm、20μm、30μm、50μm、70μm、100μm、300μm的值。Dv可具有在上述值之间的任何值(例如约0.5μm至约300μm、约10μm至约50μm、约15μm至约85μm、约5μm至约45μm、或约15μm至约35μm)。KDV可具有至多约3000、2500、2000、1500、1000或500的值。KDV可具有至少约500、1000、1500、2000、2500或3000的值。KDV可具有在上述值之间的任何值(例如约3000至约500、约1000至约2500、约500至约2000、约1000至约3000、或约1000至约2500)。
在一些例子中，3D物体的预期尺寸从3D物体的模型设计推导出。3D零件可在其形成后立即具有所述的准确度值，而无需另外的处理或操作。接收物体的订单、物体的形成以及将物体交付给客户可花费至多约7天、6天、5天、3天、2天、1天、12小时、6小时、5小时、4小时、3小时、2小时、1小时、30分钟、20分钟、10分钟、5分钟、1分钟、30秒或10秒。接收物体的订单、物体的形成以及将物体交付给客户可花费在上述时间段中任意者之间的一段时间(例如约10秒至约7天、约10秒到约12小时、约12小时至约7天、或约12小时至约10分钟)。在一些情况下，3D物体可在上述时间段中任意者之间的时期内生成(例如约10秒至约7天、约10秒至约12小时、约12小时至约7天、或约12小时至约10分钟)。时间可根据物体的物理特性(包含物体的大小和/或复杂度)而改变。
在一些实施例中、系统、方法、软件和/或仪器包括至少一个控制机构(例如，控制器)。本文公开的方法、系统、仪器和/或软件可掺入至少一个控制器，其控制本文所述的一个或多个(例如3D打印机)部件。在一些实施例中，一个控制器控制两个或更多个部件。在一些实施例中，至少两个部件由不同控制器控制。控制器可包括计算机处理单元(例如计算机)，其可操作地联接到系统和/或仪器中的任一个或其相应部件(例如能量源)。可替代地或另外地，本文公开的系统和/或仪器可联接到处理单元。可替代地或另外地，该方法和/或软件可掺入处理单元的操作。计算机可通过有线和/或通过无线连接可操作地联接。在一些情况下，计算机可在用户装置上。用户装置可为膝上型计算机、台式计算机、平板计算机、智能手机或另一计算装置。控制器可与云计算机系统和/或服务器通信。控制器可被编程，以(例如选择性地)引导能量源以功率/单位面积对靶表面的至少一部分施加能量。控制器可与光学系统(例如扫描仪)连通，所述光学系统配置为接合能量源，以功率/单位面积对靶表面的至少一部分施加能量。该光学系统可包括光学设置。
控制器可控制层分配机构和/或其任何部件。控制器可控制平台。控制器可控制一个或多个传感器。控制器可控制3D打印系统和/或仪器的部件中的任一个。控制器可控制用于实现本文描述的方法的机构中的任一个。控制可包括控制(例如引导和/或调节)3D打印机构和/或部件中的任一个的移动速度(速率)。移动可为水平的、垂直的和/或以一定角度(平面和/或复合)。控制器可控制转化能量束的至少一个特征。控制器可控制转化能量束的移动(例如根据路径)。控制器可控制(例如转化和/或感测)能量束的源。能量束(例如转化能量束、和/或感测能量束)可行进通过光学设置。该光学设置可包括反射镜、透镜、聚焦装置、棱镜或光学窗口。图2显示了光学设置的例子，其中能量束从能量源206投射，并且被两个反射镜205偏转，并且行进通过光学元件204。光学元件204可为光学窗口，在所述情况下入射束207在穿过光学窗口之后基本上未改变203。光学元件204可为焦点改变装置(例如透镜)，在所述情况下，入射束207的焦点(例如横截面)在经过光学元件204并作为束203出现之后被改变。控制器可控制引导转化能量束和/或平台的移动的扫描仪。焦点改变装置可会聚或发散透镜。焦点改变装置可动态地改变焦点(例如在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间)。动态焦点改变可导致能量束的焦点改变范围。焦点改变装置可为静态的或动态的。动态焦点改变装置可为控制器(例如，由控制器手动和/或自动地)。动态焦点改变可为机动化的(例如使用至少一个电机)。
在一些实施例中，控制器控制材料去除机构材料分配机构和/或外壳(例如腔室)中的压力水平(例如真空、环境压力或正压)。压力水平(例如真空、环境压力或正压)可为恒定或变化的。压力水平可手动和/或自动地(例如通过控制器)打开和关闭。控制器可控制层分配机构的至少一个特征和/或部件。例如，控制器可控制层分配机构及其任何部件相对于靶表面的移动方向和/或速率。控制器可控制冷却构件(例如外部和/或内部)。层分配机构或其任何部件的移动可为预定的。层分配机构或其任何部件的移动可根据算法。其它控制例子可在专利申请号62/265,817或专利申请号PCT/US15/36802中找到，所述两个专利申请均以引用的方式整体并入本文。控制可为手动和/或自动的。控制可被编程和/或一时兴起时实现。控制可根据算法。该算法可包括3D打印算法或运动控制算法。该算法可考虑3D物体的(虚拟)模型。
在一些实施例中，控制器包括处理单元。处理单元可为中央的。处理单元可包括中央处理单元(在本文中“CPU”)。控制器或控制机构(例如包括计算机系统)可被编程以实现本公开的方法。控制器可控制本文公开的系统和/或仪器的至少一个部件。图11是计算机系统1100的示意性例子，所述计算机系统1100被编程为或以其它方式配置为促进根据本文提供的方法形成3D物体。计算机系统1100可控制(例如引导和/或调节)本公开的打印方法、软件、仪器和系统的各种特征，例如调节力、平移、加热、冷却和/或维持材料床(例如粉末床)的温度、工艺参数(例如腔室压力)、(例如能量束和/或平台的)扫描速率、能量源的扫描路线、冷却构件的位置和/或温度、发射到所选位置的能量的量的应用、或其任何组合。计算机系统1101可为打印系统或仪器例如本公开的3D打印系统或仪器的部分或者与之连通。计算机可以可操作地联接到本文公开的一个或多个机构、和/或其任何部分。例如，计算机可以可操作地联接到一个或多个传感器、阀门、开关、电机、泵、光学部件或其任何组合。
在一些实施例中，计算机系统1100包括处理单元1106(本文也使用“处理器”、“计算机”和“计算机处理器”)。计算机系统可包括存储器或存储器位置1102(例如随机存取存储器、只读存储器、闪速存储器)、电子存储单元1104(例如硬盘)、用于与一个或多个其它系统连通的通信接口1103(例如网络适配器)、外围设备1105，例如高速缓冲存储器、其它存储器、数据存储单元和/或电子显示适配器。存储器1102、存储单元1104、接口1103和外围设备1105通过通信总线(实线)例如母板与处理单元1106通信。存储单元可为用于存储数据的数据存储单元(或数据储库)。计算机系统可借助于通信接口可操作地联接到计算机网络(“网络”)1101。网络可为因特网和/或因特网和/或外联网(例如与因特网通信的内联网和/或外联网)。在一些情况下，网络是远程通信和/或数据网络。网络可包括一个或多个计算机服务器，其可使得能够分布式计算，例如云计算。网络在一些情况下借助于计算机系统可实现对等网络，所述对等网络可使得联接到计算机系统的装置能够充当客户端或服务器。
在一些实施例中，处理单元执行一系列机器可读指令，其可在程序或软件中体现。指令可存储在存储器位置例如存储器1102中。指令可引导至处理单元，该处理单元随后可被编程为或以其它方式配置处理单元，以实现本公开的方法。由处理单元执行的操作的例子可包括读取、解码、执行和/或写回。处理单元可解释和/或执行指令。处理器可包括微处理器、数据处理器、中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、协处理器、网络处理器、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、控制器、可编程逻辑装置(PLD)、芯片集或现场可编程门阵列(FPGA)或其任何组合。处理单元可为电路例如集成电路的部分。系统1100的一个或多个其它部件可包括在电路中。
在一些实施例中，存储单元(例如1104)存储文件，例如驱动程序、文库和/或保存的程序。存储单元可存储用户数据，例如用户偏好和用户程序。在一些情况下，计算机系统可包括一个或多个另外数据存储单元，其对于计算机系统是外部的，例如位于通过内联网或因特网与计算机系统通信的远程服务器上。
在一些实施例中，计算机系统通过网络与一个或多个远程计算机系统通信。例如，计算机系统可与用户(例如操作员)的远程计算机系统通信。远程计算机系统的例子包含个人计算机(例如，便携式PC)、板或平板PC(例如，iPad、Galaxy Tab)、手机、智能手机(例如，iPhone、Android-enabled装置、)或个人数字助理。用户可经由网络访问计算机系统。
在一些实施例中，本文描述的方法通过机器(例如计算机处理器)可执行代码来实现，所述可执行代码存储在计算机系统的电子存储位置上，例如存储器(例如1102)或电子存储单元(例如1104)上。机器可执行或机器可读代码可以软件的形式提供。在使用期间，处理器(例如1106)可执行该代码。在一些情况下，代码可从存储单元检索且存储在存储器上用于由处理器随时访问。在一些情况下，可排除电子存储单元，并且将机器可执行指令存储在存储器中。代码可预编译并且配置用于与具有适于执行代码的处理器的机器一起使用，或者可在运行时间进行编译。代码可以编程语言提供，可选择所述编程语言以使得代码能够以预编译或已编译方式执行。
在一些实施例中，处理单元包括一个或多个核。计算机系统可包括单核处理器、多核处理器或用于平行处理的多个处理器。处理单元可包括一个或多个中央处理单元(CPU)和/或图形处理单元(GPU)。多重核可设置在物理单元(例如中央处理单元或图形处理单元)中。处理单元可包括一个或多个处理单元。物理单元可为单个物理单元。物理单元可为内核(die)。物理单元可包括高速缓冲存储器一致性电路。多重核可紧密接近设置。物理单元可包括集成电路芯片。集成电路芯片可包括一个或多个晶体管。集成电路芯片可包括至少约2亿个晶体管(BT)、0.5BT、1BT、2BT、3BT、5BT、6BT、7BT、8BT、9BT、10BT、15BT、20BT、25BT、30BT、40BT或50BT。集成电路芯片可包括至多约7BT、8BT、9BT、10BT、15BT、20BT、25BT、30BT、40BT、50BT、70BT或100BT。集成电路芯片可包括在上述数目之间的任何数目的晶体管(例如约0.2BT至约100BT、约1BT至约8BT、约8BT至约40BT、或约40BT至约100BT)。集成电路芯片可具有至少约50mm2、60mm2、70mm2、80mm2、90mm2、100mm2、200mm2、300mm2、400mm2、500mm2、600mm2、700mm2或800mm2的面积。集成电路芯片可具有至多约50mm2、60mm2、70mm2、80mm2、90mm2、100mm2、200mm2、300mm2、400mm2、500mm2、600mm2、700mm2或800mm2的面积。集成电路芯片可具有在上述值之间的任何值的面积(例如约50mm2至约800mm2、约50mm2至约500mm2、或约500mm2至约800mm2)。紧密接近可允许基本上保存在核之间行进的通信信号。紧密接近可减少通信信号退化。如本文理解的，核是具有独立中央处理能力的计算部件。计算系统可包括设置在单个计算部件上的多重核。多重核可包括两个或更多个独立的中央处理单元。独立的中央处理单元可构成读取并执行程序指令的单元。独立的中央处理单元可构成一个或多个平行处理单元。平行处理单元可为核和/或数字信号处理切片(DSP切片)。多重核可为平行核。多重DSP切片可为平行的DSP切片。多重核和/或DSP切片可平行运行。多重核可包括至少约2、10、40、100、400、1000、2000、3000、4000、5000、6000、7000、8000、9000、10000、11000、12000、13000、14000或15000个核。多重核可包括至多约1000、2000、3000、4000、5000、6000、7000、8000、9000、10000、11000、12000、13000、14000、15000、20000、30000或40000个核。多重核可包括在上述数目之间的任何数目的核(例如约2至约40000、约2至约400、约400至约4000、约2000至约4000、约4000至约10000、约4000至约15000、或约15000至约40000个核)。在一些处理器(例如FPGA)中，核可等价于多重数字信号处理器(DSP)切片(例如切片)。多重DSP切片可等于本文提到的多个核值中的任一个。处理器可包括数据传送中的低延时(例如从一个核到另一个核)。延时可指处理器中的物理变化(例如信号)的原因和效果之间的时间延迟。延时可指从发送数据包的源(例如第一核)到接收数据包的目的地(例如第二核)所经过的时间(也称为两点延时)。一点延时可指从发送数据包(例如信号)的源(例如第一核)到接收数据包的目的地(例如第二核)所经过的时间，以及指定将数据包发送回源(例如，数据包往返)。延时可足够低以允许大量的浮点运算/秒(FLOPS)。FLOPS的数目可为至少约0.1Tera FLOPS (T-FLOPS)、0.2T-FLOPS、0.25T-FLOPS、0.5T-FLOPS、0.75T-FLOPS、1T-FLOPS、2T-FLOPS、3T-FLOPS、5T-FLOPS、6T-FLOPS、7T-FLOPS、8T-FLOPS、9T-FLOPS或10T-FLOPS。flops的数目可为至多约0.2T-FLOPS、0.25T-FLOPS、0.5T-FLOPS、0.75T-FLOPS、1T-FLOPS、2T-FLOPS、3T-FLOPS、5T-FLOPS、6T-FLOPS、7T-FLOPS、8T-FLOPS、9T-FLOPS、10T-FLOPS、20T-FLOPS、30T-FLOPS、50T-FLOPS、100T-FLOPS、1P-FLOPS、2P-FLOPS、3P-FLOPS、4P-FLOPS、5P-FLOPS、10P-FLOPS、50P-FLOPS、100P-FLOPS、1EXA-FLOP、2EXA-FLOPS或10EXA-FLOPS。FLOPS的数目可为在上述值之间的任何值之间的任何值(例如约0.1T-FLOP至约10EXA-FLOPS、约0.1T-FLOPS至约1T-FLOPS、约1T-FLOPS至约4T-FLOPS、约4T-FLOPS至约10T-FLOPS、约1T-FLOPS至约10T-FLOPS、约10T-FLOPS至约30T-FLOPS、约50T-FLOPS至约1EXA-FLOP、或约0.1T-FLOP至约10EXA-FLOPS)。在一些处理器(例如FPGA)中，每秒的操作可被测量为(例如Giga)乘加累加操作/秒(例如MAC或GMAC)。MAC值可等于本文提到的任何T-FLOPS值，相应地测量为Tera-MAC(T-MAC)而不是T-FLOPS。FLOPS可根据基准进行测量。基准可为HPC挑战基准。基准可包括数学运算(例如等式计算例如线性方程)、图形操作(例如渲染)或加密/解密基准。基准可包括高性能LINPACK、矩阵乘法(例如DGEMM)、往/来存储器的持续存储器带宽(例如STREAM)、阵列转置速率测量(例如PTRANS)、随机存取、快速傅里叶变换速率(例如在使用广义Cooley-Tukey算法的大型一维向量上)、或通信带宽和延时(例如基于有效带宽/延时基准的MPI中心性能测量)。LINPACK可指用于在数字计算机上执行数字线性代数的软件库。DGEMM可指双精度通用矩阵乘法。STREAM基准可指设计为测量关于四个简单向量内核(复制、缩放、添加和三元组)的可持续存储器带宽(以MB/s为单位)和相应计算速率的合成基准。PTRANS基准测试可指在其下系统可调换大型阵列(总体)的速率测量。MPI指消息传递接口。
计算机系统可包括超线程技术。计算机系统可包括具有集成转化、照明、三角形设置、三角形裁剪、渲染引擎或其任何组合的芯片处理器。渲染引擎能够处理至少约1000万次计算/秒。渲染引擎能够处理至少约1000万个多边形/秒。例如，GPU可包括通过Nvidia、ATITechnologies、S3Graphics、Advanced Micro Devices(AMD)或Matrox的GPU。处理单元能够处理包括矩阵或向量的算法。核可包括复杂指令集计算核(CISC)或精简指令集计算(RISC)。
在一些例子中，计算机系统包括可重编程的电子芯片(例如现场可编程门阵列(FPGA))。例如，FPGA可包含Tabula、Altera或Xilinx FPGA。电子芯片可包括一个或多个可编程逻辑块(例如阵列)。逻辑块可计算组合函数、逻辑门或其任何组合。计算机系统可包括定制硬件。定制硬件可包括算法。
在一些实施例中，计算机系统包括可配置计算、部分可重构计算、可重构计算或其任何组合。计算机系统可包括FPGA。计算机系统可包括执行算法的集成电路。例如，可重构计算系统可包括FPGA、CPU、GPU或多核微处理器。可重构计算系统可包括高性能可重构计算架构(HPRC)。部分可重构计算可包括基于模块的部分重构或基于差异的部分重构。可重构的计算环境可包括重新配置用于3D打印的一个或多个模型(例如物理模型)。FPGA可包括可配置的FPGA逻辑和/或固定功能硬件，其包括：乘法器、存储器、微处理器核、先进先出(FIFO)和/或纠错码(ECC)逻辑、数字信号处理(DSP)块、外围部件互连快件(PCI Express)控制器、以太网媒体访问控制(MAC)块或高速串行收发器。DSP块可为DSP切片。
在一些实施例中，计算系统包括执行算法(例如控制算法)的集成电路。物理单元(例如在其内的高速缓冲存储器一致性电路)可具有至少约0.1吉比特/秒(Gbit/s)、0.5Gbit/s、1Gbit/s、2Gbit/s、5Gbit/s、6Gbit/s、7Gbit/s、8Gbit/s、9Gbit/s、10Gbit/s或50Gbit/s的时钟时间。物理单元可具有在上述值之间的任何值的时钟时间(约0.1Gbit/s至约50Gbit/s、或约5Gbit/s至约10Gbit/s)。物理单元可在至多0.1微秒(μs)、1μs、10μs、100μs或1毫秒(ms)内产生算法输出。物理单元可在上述时间之间的任何时间内产生算法输出(例如约0.1μs至约1ms、约0.1μs至约100μs、或约0.1μs至约10μs)。
在一些情况下，控制器使用计算、实时测量或其任何组合来调节能量束和/或能量源的至少一个特征。传感器(例如温度和/或计量传感器)可以至少约0.1KHz、1KHz、10KHz、100KHz、1000KHz或10000KHz)的速率提供信号(例如，用于控制器和/或处理器的输入)。传感器可以在上述速率的任意者之间的速率(例如约0.1KHz至约10000KHz、约0.1KHz至约1000KHz、或约1000KHz至约10000KHz)提供信号。处理单元的存储器带宽可为至少约1吉位/秒(Gbytes/s)、10Gbytes/s、100Gbytes/s、200Gbytes/s、300Gbytes/s、400Gbytes/s、500Gbytes/s、600Gbytes/s、700Gbytes/s、800Gbytes/s、900Gbytes/s或1000Gbytes/s。处理单元的存储器带宽可为至多约1吉位/秒(Gbytes/s)、10Gbytes/s、100Gbytes/s、200Gbytes/s、300Gbytes/s、400Gbytes/s、500Gbytes/s、600Gbytes/s、700Gbytes/s、800Gbytes/s、900Gbytes/s或1000Gbytes/s。处理单元的存储器带宽可为在上述值之间的任何值(例如约1Gbytes/s至约1000Gbytes/s、约100Gbytes/s至约500Gbytes/s、约500Gbytes/s至约1000Gbytes/s、或约200Gbytes/s至约400Gbytes/s)。传感器测量可为实时测量。实时测量可在3D打印过程期间进行。实时测量可为3D打印系统和/或仪器中的原位测量。实时测量可在3D物体形成的至少一部分期间。在一些情况下，处理单元可使用从至少一个传感器获得的信号来提供处理单元输出，所述输出由处理系统以至多约100min、50min、25min、15min、10min、5min、1min、0.5min(即30sec)、15sec、10sec、5sec、1sec、0.5sec、0.25sec、0.2sec、0.1sec、80毫秒(msec)、50msec、10msec、5msec、1msec、80微秒(μsec)、50μsec、20μsec、10μsec、5μsec或1μsec的速度提供。在一些情况下，处理单元可使用从至少一个传感器获得的信号来提供处理单元输出，所述输出以上述值之间的任何值的速度(例如约100min至约1μsec、约100min至约10min、约10min至约1min、约5min至约0.5min、约30sec至约0.1sec、约0.1sec至约1msec、约80msec至约10μsec、约50μsec至约1μsec、约20μsec至约1μsec、或约10μsec至约1μse)提供。
处理单元输出可包括以下的评估：在定位处的温度、在定位处的温度地图、在定位处的位置(例如垂直和/或水平)、或在定位处的位置地图。该位置可为水平的和/或垂直的。该位置可在空间中(例如包括X Y和Z坐标)。该位置可在靶表面上。该地图可包括拓扑和/或温度地图。温度传感器可包括温度成像装置(例如IR成像装置)。
在一些实施例中，处理单元在算法中使用从至少一个传感器获得的信号，所述算法用于控制能量束(例如在3D打印指令中)。该算法可包括能量束的路径。在一些情况下，该算法可用于改变靶表面上的能量束的路径(例如轨迹)。路径可偏离与所需3D物体对应的(虚拟)模型的横截面。处理单元可在算法中使用输出，所述算法用于确定其中所需3D物体的模型可被切片的方式。在一些实施例中，处理单元在算法中使用从至少一个传感器获得的信号，所述算法用于配置涉及3D打印过程的一个或多个参数、系统和/或仪器。参数可包括能量束的特征。参数可包括平台和/或材料床的移动。参数可包括能量束与材料床的相对移动。在一些情况下，能量束、平台(例如，设置在平台上的材料床)或两者可平移。可替代地或另外地，控制器可使用历史数据来进行控制。可替代地或另外地，处理单元可在其一个或多个算法中使用历史数据。参数可包括设置在外壳中的预转化的(例如粉末)材料层的高度和/或冷却元件(例如散热片)通过其与靶表面分开的间隙的高度。靶表面可为材料床的暴露层。
在一些实施例中，本文提供的系统、仪器和/或方法例如计算机系统的各方面在编程(例如使用软件)中体现。技术的各方面可视为通常以机器(或处理器)可执行代码和/或相关数据的形式的“产品”、“物体”或“制造物品”，所述可执行代码和/或相关数据在一类机器可读介质上携带或以一类机器可读介质体现。机器可执行代码可存储在电子存储单元、这种存储器(例如只读存储器、随机存取存储器、闪速存储器)或硬盘上。存储单元可包括非易失性存储介质。“存储”型介质可包括计算机、处理器等等的任何或所有有形存储器，或其相关模块例如各种半导体存储器、磁带驱动器、磁盘驱动器、外部驱动器等等，其可在任何时候提供非暂时性存储用于软件编程。存储器可包括随机存取存储器(RAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、同步动态随机存取存储器(SDRAM)、铁电随机存取存储器(FRAM)、只读存储器(ROM)、可编程只读存储器(PROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器或其任何组合。闪速存储器可包括与非(NAND)或者或非(NOR)逻辑门。NAND门(与非)可为逻辑门，只有当它的所有输入都为真时，它才产生错误的输出。NAND门的输出可与AND门的输出互补。存储器可包括硬盘(例如磁盘、光盘、磁光盘、固态盘等)、光碟(CD)、数字多功能盘(DVD)、软盘、盒式磁带、磁带和/或另一类计算机可读介质连同相应的驱动器。
在一些实施例中，软件的至少一部分(例如全部)有时可通过因特网或各种其它远程通信网络来通信。例如，这样的通信可使得软件能够从一个计算机或处理器装载到另一个，例如从管理服务器和/或主机装载到应用服务器的计算机平台中。因此，可承载软件元件的另一类介质包含光波、电波或电磁波；例如跨本地装置之间的物理接口使用，通过有线和光学陆上网络和/或经过各种空中链路使用的那些。携带这种波的物理元件(例如有线或无线链路、光链路等等)也可视为承载该软件的介质。如本文中所使用，除非限制为非暂时性、有形“存储”介质，例如计算机或机器“可读介质”的术语是指参与向处理器提供指令以用于执行的任何介质。因此，机器可读介质例如计算机可执行代码可采取许多形式，包括但不限于有形存储介质、载波介质或物理传输介质。非易失性存储介质包括例如光盘或磁盘，例如任何计算机等等中的任何存储装置，例如可用于实现数据库。易失性存储介质可包括动态存储器，例如计算机平台的主存储器。有形传输介质可包括同轴电缆、导线(例如铜线)和/或光纤，包括包含计算机系统内的总线的导线。载波传输介质可采取电信号或电磁信号、或声波或光波的形式，例如在射频(RF)及红外(IR)数据通信期间产生的那些信号和波。计算机可读介质的常见形式因此包括例如：软盘、软磁盘、硬盘、磁带、任何其它磁性介质、CD-ROM、DVD或DVD-ROM、任何其它光学介质、打孔卡纸带、具有孔图案的任何其它物理存储介质、RAM、ROM、PROM和EPROM、FLASH-EPROM、任何其它存储芯片或盒式磁带、传输数据或指令的载波、传输这种载波的电缆或链路、计算机可从其中读取编程代码和/或数据的任何其它介质、或其任何组合。存储器和/或存储单元可包括对于装置外部和/或可从装置移除的存储装置，例如通用串行总线(USB)记忆棒或/或硬盘。计算机可读介质的这些形式中的许多可涉及将一个或多个指令的一个或多个序列携载到处理器以用于执行。
在一些实施例中，计算机系统包括电子显示器和/或与电子显示器通信。电子显示器可包括用于提供例如待打印的3D物体(例如在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间(例如实时))的模型设计或图形表示的用户界面(UI)。UI的例子包含(但不限于)图形用户界面(GUI)和基于网络的用户界面。计算机系统可监测和/或控制3D打印系统的各个方面。控制可为手动和/或被编程的。控制可依赖一个或多个反馈机构(例如使用来自一个或多个传感器的信号)。控制可考虑历史数据。控制机构可为预编程的。控制机构可依赖来自传感器(本文描述的)的输入，所述传感器连接到控制单元(即，控制系统或控制机构)。计算机系统可存储关于3D打印机操作的各个方面的历史数据。历史数据可在预定时间或一时兴起时检索。历史数据可由操作员和/或用户访问。历史数据、传感器和/或操作数据可在输出单元(例如显示单元)中提供。输出单元(例如监视器)可实时和/或以延迟的时间(例如在3D打印之前、3D打印之后和/或3D打印期间)输出3D打印系统的各种参数(如本文描述的)。输出单元可输出当前3D打印物体(例如构建的)、所请求的(例如订购的)3D打印物体或两者。输出单元可输出3D打印物体(例如实时)的打印进度。输出单元可输出关于打印3D物体的总时间、剩余时间和扩展时间中的至少一个。输出单元可输出(例如显示、说出和/或打印)传感器的状态、其读数和/或关于其校准或维护的时间。输出单元可输出所使用的材料的类型和材料的各种特征，例如预转化的材料的温度和流动性。输出单元可输出打印腔室(即，正在打印3D物体的腔室)中的氧、水和压力的量。计算机可在预定时间、根据(例如来自操作者的)请求和/或一时兴起时生成包括3D打印系统、方法和或物体的各种参数的报告。输出单元可包括屏幕、打印机或扬声器。控制系统可提供报告。该报告可包括描述为由输出单元的输出的任何项目。
在一些实施例中，本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件包括输出和/或输入装置。输入装置可包括键盘、触摸板或麦克风。输出装置可为感官输出装置。输出装置可包括视觉、触觉或音频装置。音频装置可包括扬声器。视觉输出装置可包括屏幕和/或打印硬拷贝(例如纸)。输出装置可包括(例如二维)打印机(例如纸打印机)。该仪器可记录系统和/或仪器的一个或多个操作和/或规格。该记录可用于工艺优化、认证和/或规范。输入装置可包括照相机、麦克风、键盘或(例如触摸)屏。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括蓝牙技术。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括通信端口。通信端口可为串行端口或并行端口。通信端口可为通用串行总线端口(即，USB)。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括USB端口。USB可为微型或迷你USB。USB端口可涉及包含00h、01h、02h、03h、05h、06h、07h、08h、09h、0Ah、0Bh、0Dh、0Eh、0Fh、10h、11h、DCh、E0h、EFh、FEb或FFh的装置类别。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括插头和/或插座(例如电、AC电源、DC电源)。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括适配器(例如AC和/或DC电源适配器)。本文描述的系统和/或仪器(例如控制器)和/或其任何部件可包括电力连接器。电力连接器可为电源连接器。电力连接器可包括磁耦合的(例如附接的)电力连接器。电力连接器可为对接连接器。连接器可为数据和电力连接器。连接器可包括销。连接器可包括至少10、15、18、20、22、24、26、28、30、40、42、45、50、55、80或100个销。
在一些例子中，本文公开的系统、方法、软件和/或仪器可包括接收关于3D物体(例如来自客户)的请求。该请求可包括所需3D物体的模型(例如CAD)。可替代地或另外地，可生成所需3D物体的(虚拟)模型。该模型可用于生成3D打印指令。在一些例子中，3D打印指令可排除3D模型(例如，并且包括其修改，例如几何修改)。3D打印指令可基于3D模型。3D打印指令可考虑3D模型。可替代地或另外地，3D打印指令可基于模拟(例如热机械模拟)。3D打印指令可使用3D模型。3D打印指令可包括使用算法(例如嵌入在软件中)，所述算法考虑到3D模型、模拟、历史数据、传感器输入或其任何组合。控制可具有能量束的至少一个特征(例如，如本文公开的)。控制可包括使用模拟。计算机模型(例如物理模型)可包括一个或多个模拟。该模拟可包括3D打印(例如，所需和/或所请求的3D物体的)的温度或机械模拟。该模拟可包括热机械模拟。该模拟可包括所请求的3D物体的材料性质。热机械模拟可包括弹性或塑性模拟。控制可包括使用图形处理单元(GPU)、芯片上系统(SOC)、专用集成电路(ASIC)、专用指令集处理器(ASIP)、可编程逻辑装置(PLD)或现场可编程门阵列(FPGA)。处理器可在3D打印过程期间(例如实时)、在3D物体形成期间、在3D打印过程之前、在3D打印过程之后、或其任何组合中计算算法的至少一部分。处理器可在(例如转化)能量束的脉冲之间的间隔、在能量束的停留时间期间、在能量束平移到新的位置之前、在能量束不平移时、在能量束不照射靶表面时、在能量束照射靶表面时、或其任何组合计算算法。例如，处理器可在能量束平移并且基本上不照射暴露表面时计算算法。例如，处理器可在能量束不平移和/或不照射暴露表面时计算算法。例如，处理器可在能量束基本上不平移并且基本上不照射暴露表面时计算算法。例如，处理器可在能量束的确平移和/或照射暴露表面时计算算法。能量束的平移可为沿着整个路径或其一部分的平移。该路径可对应于所请求的3D物体的模型的横截面。能量束的平移可为沿着路径内的至少一条阴影线平移。图13显示了各种路径的例子。图13中的箭头方向表示根据其能量束扫描靶表面的方向。该路径可对应于能量束与之相互作用的材料床的暴露表面中的位置。图13，1314中描绘的各种向量显示了各种阴影线的例子。能量束相对于材料床的相应移动可在沿着路径行进时振荡。例如，能量束沿着路径的传播可为小路径偏差(例如变化，例如振荡)。图12显示了路径1201的例子。子路径1202是显示了路径偏差(例如振动)的路径1201的一部分的放大。
实例
以下内容为本发明的方法的说明性及非限制性实例。
实例1
在25cm×25cm×30cm容器中，在环境温度和压力下，设置平均粒度为32μm的铬镍铁合金718粉末，以形成粉末床。200W 1060nm纤维激光束制造了包括近似尺寸为6mm×30mm的细长表面的多个矩形3D物体，3D物体通过熔融粉末床的各自部分而形成。制造的3D物体在其制造期间及其制造之后无锚地悬浮在粉末床中。如图19所示，表面表现出各种程度的翘曲(例如1903、1904和1905)。可见光发射二极管在包含这些表面的粉末床的暴露表面上投射正弦波，可见地显示其平面度或与表面各个部分的平面度的偏差程度。偏差可与振荡光(例如1901和1902)的预期投射的偏差方式(例如振幅和方向)或其缺乏相关联。含有表面的粉末床的一部分用4Mega像素互补金属氧化物半导体(CMOS)照相机成像。照相机上的正弦波图像具有大约16个像素的周期性。
实例2
在处于环境大气和温度下的处理腔室中以及在高于大气压约3,000Pa的压力下，将由铬镍铁合金718制成的平面3D物体设置在基部上方，所述平面3D物体宽6mm、长25mm和厚770微米。400W纤维1060nm激光束制造如下的一系列分块：(a)在停留时间t1期间，3D物体的平坦暴露表面用横截面直径为约0.5mm的散焦高斯光束(以1/e2的高斯光束测量)进行照射，以形成第一分块(例如图35，3501)；(b)在间歇时间t2期间，将激光束平移到未来的第二分块的位置；和(c)在停留时间t3期间，能量束在第二位置处照射，以形成第二分块(例如图35，3502)。当能量束以预定的停留时间方案(例如使用开环控制)沿着预定轨迹移动，以形成图35显示为俯视图的铺设表面时，重复步骤(a)-(c)，所述俯视图描绘了一系列基本上相同的分块。延迟时间t2在铺设表面形成期间基本上恒定。停留时间(例如t1和t3)变为预定时间，以形成基本上恒定尺寸的熔池。这在克服先前形成的熔池的预热效应以及在熔池阵列边缘处的边缘效应时完成。在激光照射期间，3D物体未锚定至基部。在其照射期间，激光器的功率保持基本上恒定。图35在光学显微镜下由2Mega像素电荷耦合器件(CCD)照相机成像。
尽管本发明的优选实施例已在本文中展示并描述，但对于本领域的技术人员将显而易见的是仅以实例提供此类实施例。并不旨在使本发明受限于说明书内提供的特定实例。虽然已参考上述说明书描述本发明，但对本文中的实施例的描述及说明并不意味着限制意义。许多改变、变化及替代现将在不脱离本发明的情况下被本领域的技术人员想到。此外，应该理解，本发明的所有方面并不限于本文中阐述的取决于各种条件和变量的特定描写、配置或相对比例。应理解，可在本发明的实践中采用本文中所描述的本发明的实施例的各种替代方案。因此，预期本发明还应涵盖任何此类替代方案、修改、变化或等效物。预期以下权利要求定义本发明的范围，且从而涵盖这些权利要求及其等效物内的方法和结构。

Claims (15)

1.一种用于生成三维物体的方法，其包括：
(a)通过在包括暴露表面的材料床中的三维打印而生成三维物体的第一部分；
(b)在所述三维打印期间执行所述暴露表面的至少一个位置的测量，其中执行所述测量包括光学测量在所述暴露表面上形成图案的感测能量束，所述图案包括不同水平的光强度的区域，其中所述测量对应于计量测量；
(c)基于所述测量来评价所述三维打印的至少一个特征的改变，所述评价在所述三维打印期间；和
(d)通过三维打印生成所述三维物体的第二部分，所述生成根据所述评价的结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述计量测量包括使用确定所述暴露表面的均匀性的计量检测器。
3.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，其中所述计量检测器区分沿着所述材料床的长度和宽度的均匀性。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中所述计量检测器在材料床的暴露表面上投射条纹图像。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中所述计量检测器在所述暴露表面上投射光强度分布，所述光强度分布包括波动图案。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中所述均匀性可以包括所述靶表面内的高度歪曲、趋势或阶梯。
7.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其中改变至少一个特征包括改变所述生成装置的至少一个参数。
8.在另一个方面，用于打印至少一个三维物体的系统包括：
平台，所述平台配置成接收材料床，其中在使用期间，所述材料床的至少一部分用于生成至少一个三维物体，其中所述材料床与所述平台相邻；
第一装置，所述第一装置配置成生成信号，所述装置包括第一传感器，所述第一传感器配置成感测一个或多个输入信号，以生成第一输出信号，所述信号在所述三维物体的第一部分生成期间生成，其中所述信号包括在暴露表面上的图案，所述图案包括不同水平的光强度的区域；
第二装置，所述第二装置配置成使用三维打印在至少一个形成参数下生成所述三维物体，其中所述第二装置与所述材料床相邻设置；和
包括处理单元的控制器，所述处理单元被编程为：(i)处理所述输出信号，以在作为三维物体的部分的第一部分生成期间生成指示所述形成参数的结果；并且(ii)基于所述结果，引导所述第二装置以改变所述第二装置的功能，以生成所述三维物体的第二部分，其中所述控制器可操作地联接到所述第一装置和所述第二装置。
9.根据权利要求8所述的系统，其中处理包括图像处理。
10.根据权利要求8和9中任一项所述的系统，其中所述图像处理提供所述表面的至少一小部分的位置地图。
11.一种用于打印一个或多个三维物体的仪器，其包括被编程为执行下述操作的控制器：操作(a)在作为由三维打印形成的三维物体的部分的第一部分形成期间，引导处理单元以处理从传感器接收的输出信号并生成指示形成参数的结果，其中所述传感器在所述第一部分形成期间感测输入信号，其中所述信号包括通过三维打印从其打印三维物体的材料床的暴露表面上的图案，所述图案包括不同水平的光强度的区域，其中所述控制器可操作地联接到所述传感器和所述处理单元；和操作(b)在所述三维物体的第二部分形成之前或形成期间，基于所述结果引导所述三维打印中使用的机构，以改变所述机构的功能，其中所述控制器可操作地联接到所述机构。
12.根据权利要求11所述的仪器，其中所述控制器包括闭环或反馈控制。
13.根据权利要求11至12中任一项所述的仪器，其中结果包括所述材料床的暴露表面、其一部分或来自其的任何突出物体的高度评估。
14.一种计算机软件产品，其包括其中存储程序指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在被计算机读取时，促使所述计算机执行包括以下的操作：操作(a)从传感器接收第一输入信号，其中所述传感器在由三维打印工艺形成的所述三维物体的第一部分形成之前生成所述第一输入信号，其中所述第一信号包括所述暴露表面上的图案，所述图案包括不同水平的光强度的区域，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到所述传感器；操作(b)从传感器接收第二输入信号，其中所述传感器在所述第一部分形成期间生成所述第二输入信号，其中所述第二信号包括所述暴露表面上的图案，所述图案包括不同水平的光强度的区域；操作(c)将所述第一输入信号与所述第二输入信号进行比较并生成结果；和操作(d)在由所述三维打印形成的三维物体的第二部分形成之前或形成期间，基于所述结果引导所述三维打印方法中使用的机构，以改变所述机构的功能，其中所述非暂时性计算机可读介质可操作地联接到所述机构和所述传感器。
15.根据权利要求14所述的计算机软件产品，其中所述机构包括用于形成所述材料床的层分配机构。
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