JP7468858B2 - 粉末層の形成方法および形成装置 - Google Patents

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本発明は、三次元物体成形技術などに用いて好適な粉末層の形成方法および形成装置に関する。
積層造形法による三次元物体の成形法として、原料粉末(金属粉末、セラミックス粉末、樹脂粉末、医薬品原料粉末、食品原料粉末等)をパウダーベッド上に積層しながら、1層を積層(リコートと称する)するごとにレーザビームや電子ビームあるいはLED収束光をその1層の原料粉末に向けて選択的に照射して直接焼結することを繰り返して、焼結部分を結合させ目的の三次元形状として得る選択的焼結法や、積層した原料粉末にバインダを選択的に吐出して原料粉末とバインダとの結合体を造形し、この後その結合体を焼結して三次元の焼結体を得るバインダジェット法による焼結体の製造方法が提案、開発され、実用化が図られている(特許文献1、2等参照)。
このような粉末積層による三次元の造形技術においては、ホッパー等によりパウダーベッド上に供給した原料粉末をローラやスキージ等により平坦化し薄層状の1層を積層する積層装置が用いられる。原料粉末の1層の厚さは、一般的には50~300μmであり、装置の仕様によって適切な厚さが設定されている。
特開2005-120475号公報 特開2014-522331号公報
粉末積層造形に用いられる原料粉末は、パウダーベッド上に均質で緻密な状態、すなわち密度が均一、かつ高密度で整然とした配列状態で積層されることが焼結体の品質向上の面から望ましい。そのためには、流動性等の動的特性が優れた原料粉末の使用が必要になる。しかし、原料粉末の中には、付着性が高く、ハンドリングの難しい材料が多く存在する。粉末積層造形において、造形体の内部構造は、1層ごとに積層される粉末層の状況に大きく左右される。
例えば、敷き詰めた原料粉末の表面が荒れた状態になれば、その影響を受けた状態で、さらに上方に原料粉末が積層されることになり、内部構造が不規則で粗密な状況となってしまう。このように、積層される粉末層の状況は造形体の品質に密接に関与する。しかしながら、使用する原料によって粉末特性は様々であるにも関わらず、現状は装置オペレータ自身の経験や勘、過去の実績等に従って運転条件を決め、さらには目視にて表面状態を確認する等、何ら定量的な測定値を用いて、運転条件を決定することはなかった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、均質で緻密な状態に粉末層を形成することを、人手に頼ることなく高精度かつ定常的に行うことができる粉末の形成方法および形成装置を提供することを目的とする。
均質で緻密な構造を持つ粉末造形体を得るためには、リコートする1層の粉末層も同様に均質で緻密な構造が必要となる。本発明者は、リコートにより形成された粉末層の表面粗さをリアルタイムでレーザ変位計等の粗さ測定手段により測定することにより、粉末層の均質さと緻密さを評価できることを見出した。
本発明は上記知見に基づいてなされたものであり、粉末層の形成方法としては、粉末供給手段により原料粉末を供給して1層の粉末層を形成する粉末層形成工程と、前記1層の粉末層の表面を平坦化手段で平坦化する平坦化工程と、備える粉末層の形成方法であって、第1次工程として、前記粉末層形成工程と前記平坦化工程を行った後に、粉末層の表面粗さを測定する第1次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、該表面粗さ測定値が所定値以下となるまで、前記粉末層の表面をさらに平坦化させる平坦化促進工程と、前記第1次表面粗さ測定工程と、を繰り返すフィードバック制御を行行い、表面粗さ測定の回数が所定回数を超えた場合に運転を停止することを特徴とする。
本発明において、前記平坦化促進工程は、前記平坦化手段による粉末層の表面の平坦化であって、該平坦化手段の運転条件の変更であることを特徴とする。
本発明において、前記平坦化手段はローラであり、前記運転条件は、該ローラの回転数および送り速度のうちの少なくとも一つであることを特徴とする。
本発明において、前記平坦化手段はスキージであり、前記運転条件は、該スキージの送り速度であることを特徴とする。
本発明において、前記平坦化促進工程は、原料粉末の動的特性の改質を行うことを特徴とする。
本発明は、前記第1次工程において前記表面粗さ測定値が所定値以下となったら、第2次工程として、前記粉末層形成工程と前記平坦化工程とを繰り返して、多層の粉末層を積層する工程をさらに備えることを特徴とする。
本発明は、前記第2次工程において、前記平坦化工程と前記粉末層形成工程との間に、積層粉末層の表面の表面粗さを測定する第2次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、所定の処理を行うことを特徴とする。
本発明において、前記原料粉末は、金属粉末、セラミックス粉末、樹脂粉、医薬品原料粉、食品原料粉のうちの少なくともいずれか一つであって、その粒子径が1~1000μmであることを特徴とする。
本発明の粉末層の形成装置は、原料粉末を層状に供給して粉末層を形成する粉末供給手段と、前記粉末層の表面を平坦化する平坦化手段と、を備え、前記粉末供給手段による原料粉末の供給と、前記平坦化手段による粉末層の表面の平坦化を繰り返し行って多層の粉末層を形成する粉末層の形成装置であって、平坦化された前記粉末層の表面粗さを測定する表面粗さ測定手段と、前記表面粗さ測定手段の測定値が入力されるとともに、その測定値に応じて前記平坦化手段の運転条件を制御する制御手段と、を有し、前記制御手段は、前記平坦化手段の運転条件を、入力される表面粗さ測定値が所定値以下になるようにフィードバック制御し、かつ、前記表面粗さ測定手段による測定値の入力回数が所定回数を超えた場合に運転を停止することを特徴とする。
本発明によれば、均質で緻密な状態に粉末層を形成することを、人手に頼ることなく高精度かつ定常的に行うことができる粉末層の形成方法および形成装置を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る粉末層の形成装置を概略的に示すブロック図である。 一実施形態に係る粉末層の形成装置により原料粉末を供給し、粉末層の表面を平坦化する状況を示す断面図である。 一実施形態に係る粉末層の形成方法および形成装置を用いて三次元焼結体を成形する工程を模式的に示す図である。 一実施形態に係る粉末層の形成方法および形成装置を用いて三次元焼結体を成形する方法を示すフローチャートである。 平坦化手段をスキージに代えた粉末層の形成装置の変形例を示す図である。
以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。
図1は、一実施形態に係る粉末層の形成装置1を概略的に示すブロック図である。図1に示すように、形成装置1は、ホッパー(粉末供給手段)12と、ローラ(平坦化手段)13と、インクジェットディスペンサ14と、制御部(制御手段)20と、表面粗さ測定装置(表面粗さ測定手段)30と、を備えている。また、図2に示すように、形成装置1は、パウダーベッド11を備えている。制御部20は、ホッパー12、ローラ13、インクジェットディスペンサ14および表面粗さ測定装置30の動作を制御する。
図2に示すように、形成装置1は、所定の面積を有する水平にセットされたパウダーベッド11上に、ホッパー12から原料粉末Pを自然落下させつつ供給して敷き詰め、所定厚さの1層の粉末層PLを形成する。粉末層PLは、図2に示すように、ホッパー12と連動して移動するローラ13により表面が加圧されることで、平坦、かつ均一な厚さになるよう均される。1層の粉末層PLの厚さは例えば40~50μm程度とされるが、概ね100μm以下の範囲で適宜に設定される。
ローラ13の回転数は、例えば0~2000rpm程度で調整可能とされる。原料粉末Pの付着力が高く流動性が低い場合は、比較的高速で回転させたローラ13で均すことで粉末層PLの表面粗さを低減することができる。また、ローラ13の送り速度は、0~600mm/s程度まで制御が可能である。ローラ13の送り速度を速くすると、原料粉末Pの付着力が高い場合は、粉末層PLの表面が波状になる傾向があるため、低速でローラ13を移動させることにより粉末層PLの表面の平滑度が高くなる。しかし、ローラ13の送り速度は、使用する原料粉末Pによってそれぞれの適正値が存在し、これを的確に適用する条件を探索するために、粉末層PLの表面粗さを指標とする。ローラ13の運転条件である回転速度および送り速度は、制御部20で制御される。
表面粗さ測定装置30は、粉末層PLの表面粗さを測定するものである。表面粗さ測定装置30の種類は限定されないが、本実施形態では非接触式のレーザ変位計を用いて表面を走査する形式のものが用いられる。表面粗さ測定装置30はシーケンサを具備し、レーザ変位計からデータを受け取り、表面粗さRaを瞬時に割り出す。表面粗さの指標はRaに限るものではなく、Rz等でもよい。表面粗さ測定装置30のレーザ変位計は、移動ステージ(不図示)により移動しながら、上方から粉末層PLの表面を走査する。表面粗さを取得する範囲は、積層面の全面が好ましいが、例えば代表的な場所で50mm程度でもよい。レーザ変位計は、レーザを暴露しても安全性が担保されるクラス2以下のものを使用することが望ましく、レーザの出力ワット数は、1mW以下が望ましい。
一般にレーザ変位計は、センサヘッドから対象物までの距離が長いほど分解能が低下する傾向があるので、粉末層PLの表面までの距離とレーザ変位計の精度はトレードオフの関係となる。分解能としては、例えば0.1μm程度のものが用いられる。また、レーザ変位計は、スポットレーザ光を放射して直線状のデータを取得する形式であってもよく、一定幅のラインレーザ光を放射して走査することで面としてのデータを取得する形式(インラインプロファイル測定器等)であってもよい。
レーザ変位計を移動ステージで駆動させる測定開始のタイミングは、ローラ13がパウダーベッド11の端部に達した際に位置を感知する光電センサによりタイミングを得るようにするとよい。表面粗さデータは、例えば0.1mmごとに検出され、複数点の測定を行い、測定後にRa値が計算される。ディスプレイに表面粗さ測定値が即時に表示され、良好(所定値以下)であるかが即時に判断できるようになっていると好ましい。表面粗さ測定装置30の動作は、制御部20で制御される。
図3は、形成装置1を用いて、バインダジェット法により三次元物体を積層造形し、造形した目的形状の結合体を焼結して焼結体を成形する方法の工程を模式的に示している。図4は、制御部20による制御動作例を示すフローチャートである。
まず、図3により、形成装置1の動作を説明する。はじめに、図3(A)に示すように、パウダーベッド11上に、ホッパー12から原料粉末Pを供給し、所定厚さの1層の粉末層PLを形成(リコート)する。粉末層PLは、ローラ13により表面が加圧され均される。次に、図3(B)に示すように、粉末層PLの表面粗さを、表面粗さ測定装置30のレーザ変位計からレーザLを照射して測定する。表面粗さ測定装置30により測定された表面粗さ測定値が所定値以下であった場合には、図3(C)に示すように、粉末層PLに、インクジェットディスペンサ14からバインダBを選択的に吐出させる。バインダBの吐出を受けた部分の原料粉末PはバインダBによって結合し硬化する。インクジェットディスペンサ14は、目的とする三次元の焼結体の形状に応じた三次元データに基づき制御部20により制御されて、粉末層PL上を駆動させられる。
次に、選択的にバインダBで結合させられた最初の粉末層PLの上に、再びホッパー12から原料粉末Pを供給するとともにローラ13で平坦化し、2層目の粉末層PLを積層する。次いで、2層目の粉末層PLに、インクジェットディスペンサ14からバインダBを選択的に吐出させ、原料粉末をバインダBによって結合させる。このように、選択的にバインダBによる結合部分が形成された粉末層PL上に原料粉末Pを積層(リコート)して次の粉末層PLを形成し、次いでその粉末層PLにバインダBを選択的に吐出させるという工程を多数回繰り返して、多層の粉末層PLの内部に、バインダBと原料粉末Pとの結合体Gを造形する(図3(D)に示す)。一体の三次元結合体を造形するため、上下に隣接して重畳する粉末層PLは少なくとも部分的にバインダBの供給部分が重畳して互いに結合し、これにより上下に連続する結合体Gが造形される。
次に、図3(E)に示すように、上記結合体Gを粉末層PLの内部から取り出す。結合体Gを粉末層PLの内部から取り出すには、結合体Gを囲んでおりバインダBが印刷されておらず結合されていない積層された原料粉末Pを、例えば吸入ノズルを用いて吸入するなどの方法で除去することができる。バインダBで結合されていない原料粉末Pの除去方法はこれに限られず適宜方法が選択される。次いで、取り出した結合体Gを所定の焼結条件で焼結し、焼結体を得る。
ここで、具体的な原料粉末PおよびバインダBを例示する。
[原料粉末]
原料粉末は、微細な原料粉末中に、流動化剤として、超微粒子のSiO粉末、TiO粉末、Al粉末のうちの一種、または2種以上の混合粉末を微量添加したものとする。
・原料粉末
原料粉末としては、金属粉末またはセラミックス粉末が用いられる。金属粉末としては、ステンレス、高速度鋼、ニッケル基耐熱鋼、低炭素鋼等の粉末冶金や金属射出成形法(MIM:Metal Injection Molding)等で使用されている粉末全般が挙げられる。また、セラミックス粉末としては、アルミナや炭化ケイ素等が挙げられる。また、樹脂材料としてナイロン等が挙げられ、さらに他の原料粉末としては、医薬品や食品に用いられる粉末が挙げられる。
原料粉末の粒度は、その粒子径が1~1000μmとされるが、この範囲の中では、平均粒径が5~25μmのものが好適に用いられる。例えば、金属粉末の場合、5μm未満では、微細粉末の均質な流動性と積層状態を得ることが困難であり、25μm超では、バインダジェット法で得た三次元の粉末成形体を通常の金属粉末の焼結温度で焼結した場合において、焼結密度が工業的に要求される95%以上を確保しにくいという理由からである。この範囲中では、5~15μmが好ましく、7~10μmがさらに好ましい。例えば-22μmと表記される平均粒径が10μm程度の粉末、あるいは-15μmと表記される平均粒径が7.5μm程度の粉末が市販されており、これらが好適であって入手可能である。例えば、平均粒径が10μm(-22μm)のSUS316Lは、原料粉末として好適とされる。
・流動化剤
本発明の流動化剤の粒度は、一次粒子径が7~40nmのものが用いられる。これは、7nm未満では、粒子の凝集が生じて原料粉末との混合時に均質な分散状態が得られず、40nm超では、製造する上で球状のナノ粒子が不規則化するため原料粉末に対する潤滑効果が低下するという理由からである。この範囲中では、7~30nmが好ましく、10~20nmがさらに好ましい。本発明の流動化剤としては、上記のようにSiO粉末、TiO粉末、Al粉末のうちの一種、または2種以上の混合粉末が用いられ、これらはいずれのものも同等の効果を示す。
流動化剤の上記原料粉末に対する添加量は、0.01~0.15wt%とされる。これは、0.01wt%未満では、流動性を改善させる効果がなく、0.15wt%超では、積層時にホッパーからの適切な切り出しができず流体状となってホッパーから流失し、適切な積層、ひいては成形が不可能になるおそれがあるからである。この範囲中では、0.02~0.07wt%が好ましく、0.025~0.05wt%がさらに好ましい。なお、流動化剤の添加は任意であってもよく、場合によっては添加が省略される。
[バインダ]
バインダは、エチレングリコールを10~25%含む混合溶液や、エチレングリコールモノブチルエーテルを2.5~10%含む混合溶液等が用いられるが、これらに限定はされず、適宜なものが選択される。
(1)制御
次に、図4を参照して、制御部20による制御動作の一例を説明する。
(1-1)第1次工程
はじめに、パウダーベッド11上に、ホッパー12から原料粉末Pを供給し、所定厚さの1層の粉末層PLを形成(リコート)する(ステップS1:粉末層形成工程)。また、粉末層PLを、ローラ13により表面を加圧して均す(ステップS2:平坦化工程)。次に、粉末層PLの表面粗さ(Ra)を、表面粗さ測定装置30により測定し(ステップS3:表面粗さ測定工程)、表面粗さ測定値が所定値以下であるか否かを判断する(ステップS4)。ここで、表面粗さの所定値は制限されないが、例えば、10μm、5μm、1μmといった値が挙げられる。
ステップS4で表面粗さ測定値が所定値以下であると判断された場合は、粉末層PLにインクジェットディスペンサ14からバインダBが選択的に吐出される(ステップS6)。
ステップS4で表面粗さ測定値が所定値以下ではない(所定値を上回っている)と判断されると、表面粗さ測定の回数が所定回数をオーバーしているか否かが判断され(ステップS5)、オーバーしていない場合はステップS2に戻り、粉末層表面平坦化として平坦化促進工程が行われる。平坦化促進工程では、粉末層PLの表面をさらに平坦化させる動作が行われる。ここでは、ローラ13の運転条件の変更、具体的には、ローラ13の回転数および送り速度のうちの少なくとも一つを行う。
例えば、制御部20は、ローラ13の回転数および送り速度の双方の設定値を、表面粗さRaを微細にするためにはどのように調整すればよいかを、シーケンサのプログラムにより解析し、ローラ13の回転数および送り速度を適宜変更して、表面粗さ測定値が低減して所定値以下になるように制御する。
例えば、表面粗さを微細にする動作としては、ローラ13の回転数を増加させたり、ローラ13の送り速度を減少させたりすることが挙げられる。原料粉末Pが、流動性が低く、かつ付着力が高い場合には、標準的な運転条件よりもローラ13の回転数を上げ、ローラ13の送り速度を減少させることで、平滑化を促進できる。
原料粉末Pの種類によって流動性や付着性が異なるため、リアルタイムで表面粗さを測定しながらフィードバック制御を行い、平滑な表面を得られる運転条件を得る。
ステップS5で表面粗さ測定の回数が所定回数をオーバーしていると判断されたら、ここで形成装置1の運転が一旦停止され、原料粉末Pの変更による材料の表面改質などの工程を加える。表面粗さ測定の所定回数は限定されないが、例えば5回程度とされる。
このように第1次工程では、粉末層PLの表面粗さ測定値が所定値以下となるまで、粉末層PLの表面をさらに平坦化させる平坦化促進工程と、第1次表面粗さ測定工程とを繰り返すフィードバック制御を行い、規定回数の試行制御(リトライ)を経ても、表面粗さ測定値が所定値以下とならない場合には、材料の表面改質などの工程を加えることで、均質で平滑なリコート面を得ることができる。
(1-2)第2次工程
バインダBの吐出を受けた部分の原料粉末PはバインダBによって結合し硬化する。次に、選択的にバインダBで結合させられた2層目の粉末層PLの上に、ホッパー12から原料粉末Pを供給し(ステップS7)、表面をローラ13で平坦化する(ステップS8)。次いで、粉末層PLの表面粗さ(Ra)を表面粗さ測定装置30で測定し(ステップS9:第2次表面粗さ測定工程)、表面粗さ測定値が所定値以下であるか否かを判断する(ステップS10)。
ステップS10で表面粗さ測定値が所定値以下であると判断された場合は、バインダBが吐出され(ステップS11)、次いで、次のバインダ吐出が最後の吐出であるか否かが判断される(ステップS12)。そして、最後でない場合はステップS7に戻り、ステップS7~S12が繰り返される。すなわち、バインダ吐出と原料粉末Pの供給による粉末層PLの積層、表面粗さ測定と表面粗さ測定値の判断が繰り返され、内部に結合体Gが形成されつつ多層の粉末層PLが積層される。
ステップS12でバインダ吐出が最後であったと判断されると、第2次工程を終了する。この後は上述したように結合体Gが粉末層PLの内部から取り出される。
さて、ステップS10で表面粗さ測定値が所定値以下ではない(所定値を上回っている)と判断される場合がある。その場合は、第2次ステップS9での第2次表面粗さ測定の回数が所定回数をオーバーしているか否かが判断され(ステップS13)、オーバーしていない場合はステップS8に戻り、ローラ13によって粉末層PLの表面の平坦化が再度なされる。ステップS8でのローラ13の運転条件は、変更せずに繰り返し行ってもよいし、上記第1次工程で行ったような平坦化促進工程を行ってもよい。
ステップS13で第2次表面粗さ測定の回数が所定回数をオーバーしていると判断されたら、ここで形成装置1の運転が停止される。ステップS9での表面粗さ測定の所定回数は限定されないが、例えば5回程度とされる。第2次工程での一時的な停止は、何らかのトラブルによるものと考えられ、原料ロスの防止や品質担保につながる重要な機能となる。
以上が形成装置1を用いたバインダジェット法による三次元形状の焼結体の成形方法である。以下、本実施形態に係る粉末層の形成方法および形成装置1の効果について説明する。
本実施形態の粉末層の形成方法は、ホッパー12により原料粉末Pを供給して1層の粉末層PLを形成する粉末層形成工程と、1層の粉末層PLの表面をローラ13で平坦化する平坦化工程と、を備え、第1次工程として、最初の粉末層形成工程と平坦化工程を行った後に、粉末層PLの表面粗さを測定する第1次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、該表面粗さ測定値が所定値以下となるまで、粉末層PLの表面をさらに平坦化させる平坦化促進工程と、第1次表面粗さ測定工程とを繰り返すフィードバック制御を行う。
これにより、均質で緻密な状態に粉末層PLを形成することを、人手に頼ることなく高精度かつ定常的に行うことができる。
上記平坦化促進工程は、ローラ13による粉末層PLの表面の平坦化であって、該ローラ13の運転条件の変更である。運転条件は、具体的にはローラ13の回転数および送り速度のうちの少なくとも一つである。これにより、粉末層PLの表面をさらに平坦化させることを適格に行うことができ、その結果、フィードバック制御を効率的に行うことができる。
本実施形態では、第1次工程での第1次表面粗さ測定工程における表面粗さ測定値が所定値以下となったら、第2次工程として、粉末層形成工程と平坦化工程とを繰り返して、多層の粉末層PLを積層する工程をさらに備える。第1次工程で形成された粉末層PLの表面粗さは所定値以下となって所定の平滑な状態が確保されているため、その粉末層PLの上に積層されて多層化される粉末層PLも、均質で緻密な状態となる。その結果、粉末層PLにバインダBを吐出して得られる結合体Gならびに結合体Gの焼結体は、高い品質を示す。
本実施形態では、第2次工程において、平坦化工程と粉末層形成工程との間に、積層粉末層(粉末層PL)の表面の表面粗さを測定する第2次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、所定の処理を行う。本実施形態では、所定の処理として、第2次表面粗さ測定工程を複数回行って、その測定回数が所定回数をオーバーすると、運転を停止する。これにより、第2次工程で所定の表面粗さが得られない場合は、自動的に運転が安全に停止される。なお、本実施形態では停止の処理を行うとしているが、停止の前に警告を発するなどの処理を行うようにしてもよい。
本実施形態では、原料粉末Pは、金属粉末またはセラミックス粉末からなる無機粉末または有機粉末であって、その粒子径が1~1000μmである。これにより、表面粗さが微細で適切な粉末層PLを得やすい。
本実施形態に係る粉末層の形成装置1は、原料粉末Pを層状に供給して粉末層PLを形成するホッパー12と、粉末層PLの表面を平坦化するローラ13と、を備え、ホッパー12による原料粉末Pの供給と、ローラ13による粉末層PLの表面の平坦化を繰り返し行って多層の粉末層PLを形成するものであって、平坦化された粉末層PLの表面粗さを測定する表面粗さ測定装置30と、表面粗さ測定装置30の測定値が入力されるとともに、その測定値に応じてローラ13の運転条件を制御する制御部20と、を有し、制御部20は、ローラ13の運転条件を、入力される表面粗さ測定値が所定値以下になるようにフィードバック制御する。
本実施形態の形成装置1によれば、図4のフローチャートのようにして多層の原料粉末層PLを形成する方法を好適に実施することができる。
図5は、ローラ13に代えてスキージ19を平坦化手段として備えた積層装置1の変形例を示している。スキージ19は、ホッパー12と一体でもよく、ホッパー12と分離し単独に作動するように構成されていてもよい。スキージ19は、その下端が原料粉末層PLの表面を掻くことにより原料粉末層PLを平坦、かつ均一な厚さになるよう均す。
平坦化手段としてスキージ19を採用した場合、制御部20が制御するスキージ19の運転条件は送り速度である。送り速度を低速とすることで、平坦化が促進される。
以上が本発明の実施形態であるが、本発明は当該実施形態に制限されず、本発明の範囲内であればいかなる形態の変更が可能である。
例えば、平坦化促進工程は、原料粉末Pの動的特性の改質であってもよい。具体的には、上記流動化剤の追加や変更などが挙げられる。また、流動化剤を元々使用しなかった場合には、流動化剤を適宜に添加することが平坦化促進工程となる。
制御部20の制御としては、第1次工程で得られたローラ13の運転条件の信用性が高い場合は、図4に示すフローチャートのステップS9、ステップS10を省略し、原料粉末Pの供給の後にバインダBを吐出するようにしてもよい。また、第1次工程において第1次表面粗さ測定での表面粗さ測定値が所定値以下である場合が続く際を考慮し、第2次工程と同様に測定回数の上限を決めておき、その測定回数をオーバーしたら、装置の停止や警告を発する等の処理を行うようにしてもよい。
また、原料粉末Pの種類に合わせて、ローラ12を、原料粉末Pに対する表面摩擦係数が低いものを選択することで、より効率的に表面粗さを低減させ、円滑にリコートを実施することができる。例えば、粉体層せん断力測定装置など用いて、JIS-Z8835に準じる試験を行い原料粉末Pの壁面摩擦係数を取得し、より摩擦係数の低い表面のローラを採用することで、より効率的に粉末層の表面を平坦化することができる。
本発明は、三次元物体成形技術において粉末積層体を形成する際に用いて好適な粉末層の形成方法および形成装置である。
1…積層装置、11…パウダーベッド、12…ホッパー(粉末供給手段)、13…ローラ(平坦化手段)、14…インクジェットディスペンサ、19…スキージ(平坦化手段)、20…制御部(制御手段)、30…表面粗さ測定装置(表面粗さ測定手段)、B…バインダ、G…結合体、P…原料粉末、PL…原料粉末層

Claims (9)

  1. 粉末供給手段により原料粉末を供給して1層の粉末層を形成する粉末層形成工程と、前記1層の粉末層の表面を平坦化手段で平坦化する平坦化工程と、を備える粉末層の形成方法であって、
    第1次工程として、前記粉末層形成工程と前記平坦化工程を行った後に、粉末層の表面粗さを測定する第1次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、該表面粗さ測定値が所定値以下となるまで、前記粉末層の表面をさらに平坦化させる平坦化促進工程と、前記第1次表面粗さ測定工程と、を繰り返すフィードバック制御を行い、
    表面粗さ測定の回数が所定回数を超えた場合に運転を停止することを特徴とする粉末層の形成方法。
  2. 前記平坦化促進工程は、前記平坦化手段による粉末層の表面の平坦化であって、該平坦化手段の運転条件の変更であることを特徴とする請求項1に記載の粉末層の形成方法。
  3. 前記平坦化手段はローラであり、前記運転条件は、該ローラの回転数および送り速度のうちの少なくとも一つであることを特徴とする請求項2に記載の粉末層の形成方法。
  4. 前記平坦化手段はスキージであり、前記運転条件は、該スキージの送り速度であることを特徴とする請求項2に記載の粉末層の形成方法。
  5. 前記平坦化促進工程は、原料粉末の動的特性の改質を行うことを特徴とする請求項1に記載の粉末層の形成方法。
  6. 前記第1次工程において前記表面粗さ測定値が所定値以下となったら、第2次工程として、前記粉末層形成工程と前記平坦化工程とを繰り返して、多層の粉末層を積層する工程をさらに備えることを特徴とする請求項1~5のいずれかに記載の粉末層の形成方法。
  7. 前記第2次工程において、前記平坦化工程と前記粉末層形成工程との間に、積層粉末層の表面の表面粗さを測定する第2次表面粗さ測定工程を行い、その表面粗さ測定値が所定値を上回っている場合、所定の処理を行うことを特徴とする請求項6に記載の粉末層の形成方法。
  8. 前記原料粉末は、金属粉末、セラミックス粉末、樹脂粉、医薬品原料粉、食品原料粉のうちの少なくともいずれか一つであって、その粒子径が1~1000μmであることを特徴とする請求項1~7のいずれかに記載の粉末層の形成方法。
  9. 原料粉末を層状に供給して粉末層を形成する粉末供給手段と、
    前記粉末層の表面を平坦化する平坦化手段と、を備え、
    前記粉末供給手段による原料粉末の供給と、前記平坦化手段による粉末層の表面の平坦化を繰り返し行って多層の粉末層を形成する粉末層の積層装置であって、
    平坦化された前記粉末層の表面粗さを測定する表面粗さ測定手段と、
    前記表面粗さ測定手段の測定値が入力されるとともに、その測定値に応じて前記平坦化手段の運転条件を制御する制御手段と、を有し、
    前記制御手段は、前記平坦化手段の運転条件を、入力される表面粗さ測定値が所定値以下になるようにフィードバック制御し、かつ、前記表面粗さ測定手段による測定値の入力回数が所定回数を超えた場合に運転を停止することを特徴とする粉末層の形成装置。
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