JP6512912B2 - 被計測物の形状を計測する計測装置 - Google Patents
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- 被計測物の形状を計測する計測装置であって、
互いの線を識別するための識別部が設けられた複数の線を含むパターン光を前記被計測物に投影する投影部と、
前記パターン光が投影された前記被計測物を撮像して画像を取得する撮像部と、
前記画像に基づいて前記被計測物の形状の情報を求める処理部と、を有し、
前記処理部は、前記線に交差する方向における前記画像の輝度分布において輝度が極大の位置および極小の位置を含む複数の位置を取得し、
前記識別部の位置によって前記極大の位置および極小の位置のうち少なくとも1つの位置を特定して、特定された位置を除いた前記複数の位置に基づいて前記被計測物の形状の情報を求める、ことを特徴とする計測装置。 - 前記特定された位置は、前記識別部及び前記識別部の周囲にある、前記極大の位置および極小の位置のうち少なくとも1つの位置である、ことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記特定された位置は、前記識別部によって位置ずれの影響を受ける位置である、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の計測装置。
- 前記パターン光は、明線と暗線とを交互に含み、
前記識別部は、前記明線又は前記暗線を識別するための識別部である、ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の計測装置。 - 前記識別部は、明線に設けられた暗部であって、
前記特定された位置は、前記識別部が設けられた第1明線と前記第1明線の隣りの第2明線との間の位置である、ことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。 - 前記識別部は、明線に設けられた暗部であって、
前記特定された位置は、前記識別部の周囲にある前記極小の位置である、ことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。 - 前記識別部は、暗線に設けられた明部であって、
前記特定された位置は、前記識別部が設けられた第1暗線と前記第1暗線の隣りの第2暗線との間の位置である、ことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。 - 前記識別部は、暗線に設けられた明部であって、
前記特定された位置は、前記識別部の周囲にある前記極大の位置である、ことを特徴とする請求項4に記載の計測装置。 - 前記複数の位置は、前記極大の位置と前記極小の位置との間の中間位置を含み、
前記特定された位置は、前記中間位置を含むことを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の計測装置。 - 前記中間位置は、前記線に交差する方向における前記画像の輝度分布から得られる輝度勾配の評価値から定まる位置である、ことを特徴とする請求項9に記載の計測装置。
- 前記中間位置は、前記輝度勾配が極値となる位置である、ことを特徴とする請求項10に記載の計測装置。
- 前記中間位置は、前記極大の位置と前記極小の位置との中点の位置である、ことを特徴とする請求項9に記載の計測装置。
- 被計測物の形状を計測する計測装置であって、
互いの線を識別するための識別部が設けられた複数の線を含むパターン光を前記被計測物に投影する投影部と、
前記パターン光が投影された前記被計測物を撮像して画像を取得する撮像部と、
前記画像に基づいて前記被計測物の形状の情報を求める処理部と、を有し、
前記処理部は、前記線に交差する方向における前記画像の輝度分布において輝度が極大又は極小の位置と、前記極大の位置と前記極小の位置との間の中間位置と、を含む複数の位置を取得し、
前記識別部の位置によって少なくとも1つの前記中間位置を特定して、特定された位置を除いた前記複数の位置に基づいて前記被計測物の形状の情報を求める、ことを特徴とする計測装置。 - 前記処理部は、前記画像の輝度分布から前記識別部の位置を検出し、
検出された識別部の位置によって前記複数の位置のうち少なくとも1つの位置を特定する、ことを特徴とする請求項1乃至13の何れか1項に記載の計測装置。
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