JP2020027599A - 3dスキャンシステム - Google Patents

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Abstract

【課題】3Dスキャンシステムを提供することを課題とする。【解決手段】3Dスキャンシステムであって、投射用光源と画像キャプチャ装置と信号処理装置と、を含む。投射用光源は、対象物に空間周波数を有する2次元光を投射するために用いられる。画像キャプチャ装置は、2次元光から照射された対象物の画像をキャプチャするために用いられる。信号処理装置は、投射用光源と画像キャプチャ装置にカップリングして画像の鮮明度を分析し、画像の鮮明度が要求基準より低い場合、2次元光の空間周波数を低下させるために用いられる。【選択図】図1

Description

本発明は、スキャンシステムに関し、特に、3Dスキャンシステムに関する。
3Dスキャンは、主に対象物をスキャンして前記対象物の表面上の空間座標を得るために用いられ、現在の3Dモデリングの主な方法である。3Dスキャンの方式は、接触式及び非接触式に分けることができ、非接触式が最も幅広く使用されている。非接触式光学測定において、往々にしてレンズの被写界深度特性により、スキャン範囲が制限を受ける。この制限を克服するため、比較的大きな対象物への3Dスキャナとして、分割スキャン方式を用いる人もいる。しかしながら、この方式は、スキャン後の結果をつなぎ合わせるという後のステップが増える。又、対象物の表面に反射材質がある場合、3Dスキャンに対し容易に干渉を引き起こす。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、キャプチャした画像の鮮明度を改善でき、高さの異なる対象物のスキャンに適する3Dスキャンシステムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、投射用光源と画像キャプチャ装置と信号処理装置とを含む3Dスキャンシステムを提供する。
投射用光源は、対象物に空間周波数を持つ2次元光を投射するために用いられる。画像キャプチャ装置は、2次元光から照射された対象物の画像をキャプチャするために用いられる。信号処理装置は、投射用光源と画像キャプチャ装置にカップリングして画像の鮮明度を分析し、画像の鮮明度が要求基準より低い場合、2次元光の空間周波数を低下させるために用いられる。
本発明では、投射用光源と画像キャプチャ装置と信号処理装置とを含む3Dスキャンシステムを更に提供する。
投射用光源は、対象物に対して時間とともに第1パターンから第2パターンに転換する2次元光を投射するために用いられる。画像キャプチャ装置は、各々第1パターンから照射された対象物の第1画像及び第2パターンから照射された対象物の第2画像をキャプチャするために用いられる。信号処理装置は、投射用光源と画像キャプチャ装置にカップリングし、また第1画像と第2画像を相互参照することで、3Dモデルを生成する。
上述をまとめると、本発明の実施例に係る3Dスキャンシステムは、必要性に応じて2次元光の空間周波数を調整することで、キャプチャした画像の鮮明度を改善でき、高さの異なる対象物のスキャンに適する。また、パターン特徴の異なる2次元光の投射を通じて、反射しやすい対象物に対しスキャンすることもできる。
本発明の一実施例に係る3Dスキャンシステムを示す模式図である。 投射用光源の焦平面における変調伝達関数図である。 投射用光源のデフォーカス時1cmまで近づけた位置の変調伝達関数図である。 投射用光源のデフォーカス時1cmから離れた位置の変調伝達関数図である。 異なる空間周波数の異なる位置における測定結果(1)である。 異なる空間周波数の異なる位置における測定結果(2)である。 異なる空間周波数の異なる位置における測定結果(3)である。 本発明の一実施例に係る周波数の組み合わせを示す模式図である。 本発明の他の実施例に係る周波数の組み合わせを示す模式図である。 本発明の他の実施例に係る第1パターン及び第2パターンを示す模式図である。
図1は本発明の一実施例に係る3Dスキャンシステムを示す模式図である。3Dスキャンシステムは、投射用光源100と画像キャプチャ装置200と信号処理装置300とを含む。
投射用光源100は、対象物(図示せず)に2次元光Lを投射するために用いられる。投射用光源100は、1個或いは複数個のプロジェクタを含むことができる。2次元光Lとは、2次元空間上に投射して照射範囲を形成できるものをいう。2次元光Lは、空間周波数(或いは「空間分解能」という)を有し、すなわち、2次元光Lが単位長さ当たりに繰り返して現れる同一の幾何学的構造を含み、繰り返す周波数が空間周波数である。
図1に示すように、2次元光Lは、平面において四辺形の照射範囲を投射でき、この四辺形の照射範囲内に明暗を繰り返す縞模様が現れる。
画像キャプチャ装置200は、前記2次元光Lから照射された対象物の画像をキャプチャできる。画像キャプチャ装置200は、1つ又は複数の撮像用レンズユニットを含み、前記撮像用レンズユニットが電荷結合素子(CCD)或いは相補型金属酸化膜半導体(CMOS)イメージセンサとすることができる。
1台又は複数台のプロジェクタ及び1台又は複数台の画像キャプチャ装置200は、スケジューリングを通じて運転できる。例えば、投射用光源100が2台のプロジェクタを含む場合、1台目のプロジェクタから2次元光Lが出力されると同時に、1つ又は複数の撮像用レンズユニットが同時に画面をキャプチャし、2台目のプロジェクタから別の2次元光Lが出力されると同時に、1つ又は複数の撮像用レンズユニットが同時に画面をキャプチャする。
信号処理装置300は、投射用光源100及び画像キャプチャ装置200にカップリングし、投射用光源100をコントロールすると共に前記画像を取得することで、画像を分析し、また画像に基づき三角測距原理を利用して逆に推定して深度情報を得て、これをもって該対象物の3Dモデルを生成するために用いられる。信号処理装置300は、演算能力を持つ計算機、例えばコンピュータとすることができ、前記演算を実行するプロセッサ、該演算プログラムコードを保存する媒体等の電子デバイス、メモリ等を含む。
図2乃至図4を参照する。焦点距離50ミリメートル、絞り範囲F/4、倍率−0.3xのレンズを例にし、図2は、投射用光源100の焦平面における変調伝達関数(MTF)図であり、図3が投射用光源のデフォーカス時1cmまで近づけた位置の変調伝達関数図であり、図4が投射用光源のデフォーカス時1cmから離れた位置の変調伝達関数図である。
図からも分かるように、空間周波数が高ければ高いほど、画像の鮮明度がデフォーカス距離の影響を益々容易に受けてしまう。
図5乃至図7は各々が異なる空間周波数の異なる位置における測定結果である。入力された弦波信号は投射用光源100から出力され、明暗の間隔の2次元光Lを出力させる。図5に示すように、線Aは、焦平面の測定結果であり、線Bがデフォーカス平面から5cmの測定結果であり、線Cがデフォーカス平面から10cmの測定結果である。縦軸は、測定した信号幅の値(規準化処理を経た後の数値であるため、ここではパーセントで示す)であり、横軸が空間長さである。
図からも分かるように、空間周波数が比較的高い時、デフォーカス平面が遠ければ遠いほど、測定した画像が益々不鮮明となる。更に図5を図6及び図7と比較すると分かるように、空間周波数が低下した時、焦平面でずれた位置に十分鮮明な画像も測定できる。
上記測定結果から分かるように、空間周波数の低下を通じて、測定範囲を不鮮明から非常に鮮明に変えることで識別させることができる。よって、信号処理装置300は画像キャプチャ装置200でキャプチャした画像を取得した後で、先に該画像の鮮明度を分析する。画像の鮮明度が要求基準より低い場合、2次元光Lの空間周波数を低下することで、画像の鮮明度を上げる。
幾つかの実施例において、信号処理装置300は、空間周波数を自ら低下してから空間周波数の低下後の画像が該要求基準に適合しているかどうかを測定し、まだ適合しない場合、再度空間周波数を低下する。幾つかの実施例において、操作者が信号処理装置300を操作して空間周波数の低下数値を指定する。
幾つかの実施例において、2次元光Lの空間周波数は、単一周波数に保持される。
幾つかの実施例において、2次元光Lの空間周波数は、変化でき、1つの周波数の組み合わせとし、該周波数の組み合わせが時間とともに異なる空間周波数を変更する。
図8は本発明の一実施例に係る周波数の組み合わせを示す模式図である。ここで、2次元光Lが順次1つの明領域Z1及び1つの暗領域Z2で構成される2次元光L1から交替する2つの明領域Z1と2つの暗領域Z2で構成される2次元光L2に変化し、交替する4つの明領域Z1と4つの暗領域Z2で構成される2次元光L3に変化する。こうして、照射範囲に対して空間符号化することで、照射範囲内の各位置に対して追跡できる。このように、前記明領域、暗領域の境界線は、鮮明或いは漸変とすることができる。
幾つかの実施例において、空間周波数の異なる2次元光Lを順次出力でき、また画像キャプチャ装置200で対応する画像をキャプチャし、信号処理装置300がキャプチャしたそれら画像から適した空間周波数画像を選別する。例えば、多少の高低差のある対象物については、比較的高い位置からデフォーカスが生じるため、最高の空間周波数画像は採用しない。
図9は、本発明の他の実施例に係る周波数の組み合わせを示す模式図である。図8と比較すると、図8は、第1方向k1におけるインターバル発光方式で生成され、図9は第2方向k2におけるインターバル発光方式で生成される。
幾つかの状況において、対象物の表面に高反射材質がある場合、三角測距アルゴリズムの結果に容易に影響を与える可能性がある。よって、幾つかの実施例において、2次元光は、時間とともに第1パターンから第2パターンに転換する。例えば、第1パターンは、図8に示すように第1方向k1におけるインターバル発光方式で空間周波数を持つ明暗間隔のパターンを生成し、第2パターンが図9に示すように第2方向k2におけるインターバル発光方式で空間周波数を持つ明暗間隔のパターンを生成する。第1パターンと第2パターンの空間周波数は、同じことができるが、本発明の実施例は、これに限定されない。
画像キャプチャ装置200は、各々第1パターンから照射された対象物の第1画像及び第2パターンから照射された対象物の第2画像をキャプチャする。信号処理装置300は、第1画像と第2画像を相互参照して、2つの画像における対象物の同一位置が対応する計算結果を比較し、結果が異なる場合、3Dモデルを生成するため、その結果を除去し、実質的に同じ或いは近い計算結果のみを残し、不足部分は補間法を通じて補足できる。
幾つかの実施例において、第1パターンと第2パターンの空間周波数は、異なる。
図10は本発明の他の実施例に係る第1パターンP1及び第2パターンP2を示す模式図である。ここで、言及すべき点は、前記第1方向k1及び第2方向k2が必ずしも垂直及び水平方向ではない点である。第1方向k1及び第2方向k2はその他の方向とすることができ、例えば±45度である。ただし本発明は、第1方向k1と第2方向k2の間の交角θが必ず90度であると制限されず、その他の角度とすることができる。すなわち、第1方向k1と第2方向k2との交角θは0度〜180度の範囲内にあり、かつ0度、90度或いは180度ではない。言い換えると、幾つかの実施例において、投射用光源100は、2次元に配列された複数の発光ユニット110を含み、これら発光ユニット110を正方形とすることができ、また菱形といったその他の形状としてもよい。前記第1方向k1と第2方向k2の方向及び交角は、投射用光源100から出力される2次元光の出射面における第1方向k1と第2方向k2の方向及び交角をいう。
上述をまとめると、本発明の実施例に係る3Dスキャンシステムは、必要性に応じて2次元光の空間周波数を調整することで、キャプチャした画像の鮮明度を改善でき、高さの異なる対象物のスキャンに適する。また、パターン特徴の異なる2次元光の投射を通じて、反射しやすい対象物に対しスキャンすることもできる。
100 投射用光源
110 発光ユニット
200 画像キャプチャ装置
300 信号処理装置
A、B、C 線
L、L1、L2、L3 2次元光
Z1 明領域
Z2 暗領域
P1 第1パターン
P2 第2パターン
k1 第1方向
k2 第2方向
θ 交角

Claims (9)

  1. 対象物に空間周波数を持つ2次元光を投射するための投射用光源と、
    前記2次元光から照射された前記対象物の画像をキャプチャするための画像キャプチャ装置と、
    前記投射用光源と前記画像キャプチャ装置にカップリングして前記画像の鮮明度を分析し、前記画像の前記鮮明度が要求基準より低い場合、前記2次元光の前記空間周波数を低下させるための信号処理装置と、を含むことを特徴とする、
    3Dスキャンシステム。
  2. 前記2次元光の前記空間周波数が、単一周波数であることを特徴とする、請求項1に記載の3Dスキャンシステム。
  3. 前記2次元光の前記空間周波数が、周波数の組み合わせであり、前記周波数の組み合わせは時間に伴い異なる空間周波数を変更することを特徴とする、請求項1に記載の3Dスキャンシステム。
  4. 前記2次元光は、時間とともに第1パターンから第2パターンに転換し、画像キャプチャ装置が各々前記第1パターンから照射された前記対象物の第1画像及び前記第2パターンから照射された前記対象物の第2画像をキャプチャし、信号処理装置が第1画像と第2画像を相互参照することで、3Dモデルを生成することを特徴とする、請求項1に記載の3Dスキャンシステム。
  5. 前記投射用光源は、2次元に配列された発光ユニットを備え、前記第1パターンが第1方向におけるインターバル発光方式で生成され、前記第2パターンが第2方向におけるインターバル発光方式で生成されることを特徴とする、請求項4に記載の3Dスキャンシステム。
  6. 対象物に対して時間とともに第1パターンから第2パターンに転換する2次元光を投射するための投射用光源と、
    各々前記第1パターンから照射された前記対象物の第1画像及び前記第2パターンから照射された前記対象物の第2画像をキャプチャするための画像キャプチャ装置と、
    前記投射用光源と前記画像キャプチャ装置にカップリングし、また前記第1画像と前記第2画像を相互参照することで、3Dモデルを生成するための信号処理装置と、を含むことを特徴とする、
    3Dスキャンシステム。
  7. 前記投射用光源は、2次元に配列された発光ユニットを備え、前記第1パターンが第1方向におけるインターバル発光方式で生成され、前記第2パターンが第2方向におけるインターバル発光方式で生成されることを特徴とする、請求項6に記載の3Dスキャンシステム。
  8. 前記第1方向と前記第2方向との間の交角は、90度であることを特徴とする、請求項7に記載の3Dスキャンシステム。
  9. 前記第1方向と前記第2方向との間の交角は、0度〜180度の範囲内にあり、かつ0度、90度或いは180度ではないことを特徴とする、請求項7に記載の3Dスキャンシステム。
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