TW550775B - Conductor-frame and casing for a radiation-emitting component, radiation-emitting component and its manufacturing method - Google Patents
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550775 五、發明說明(1) 本發明涉及申請專利範圍第1項前言之導線架,第 1 4項前言之外罩,第23項前言之發出輻射之組件及第 3 3項前言之發出輻射之組件之製造方法。 發出輻射之半導體組件用之導線架由DE19636454 中已爲人所知。此處所述之半導體組件具有一種外罩 基體(其具有埋入於其中之導線架)以及發出輻射之半 導體本體(其安裝在導線架上)。導線架及外罩基體同 時作爲所產生之輻射用之反射器。 此外,導線架之由外罩基體所突出之部份區域構成外 部電性連接條且須形成外罩,使此組件適合用於表面安 裝。特別是在高功率之半導體組件中,爲了使所產生之 熱損耗可良好地排出,則反射器之一部份可由外罩基體 中伸出而成爲熱終端。 在光學功率較高以及功率損耗亦較大之組件中,需要 有一種更有效之排熱方式。 本發明之目的是在發出輻射之組件中使排熱效果改 良,特別是允許組件中可產生較高之光學功率。本發明 之另一目的是提供該組件之製造方法。 此目的藉由申請專利範圍第1項之導線架,第1 4項 之外罩,第2 3項之發出輻射之組件或第3 3項之方法來 達成。本發明有利之其它形式描述在申請專利範圍各 肘屬項中。 本發明之設計方式是:形成一發出輻射之組件(較佳 550775 五、發明說明(2) 是發光二極體)用之導線架,其包含至少一晶片安裝區, 至少一接線連接區及至少一外部電性連接條,其例如用 來使此組件之電性終端安裝在電路板上;設有一種承載 件,其具有接線連接區及電性連接條且此承載件中牢固 著一種與其餘之導線架相隔開而製成之熱終端件,其上 配置著晶片安裝區。在一種具有此種導線架之組件中 使操作中所產生之熱損耗主要經由熱終端件而排出。 熱終端件較佳是導電性地與承載件相連且同時用作此 晶片之電性終端。 與其餘之導線架相隔開而製成之熱終端件所具有之 優點是:就較大之熱損耗量之吸收及排除而言其最佳化 已較單件式之導線架改良很多。因此,在此種熱終端件 中厚度,導熱性,熱膨脹係數及熱終端面可被最佳化而 廣泛地與導線架上之其餘需求無關。在熱終端件中特 別是可有利地達成一種高的熱容量,使熱終端件形成一 種有效之散熱件。大的熱終端面使熱接面電阻變小,因 此使對環境之熱導及排熱都可獲改良。 在本發明之較佳形式中,承載件具有一種插入口,其 外形像夾子或小圏,其中牢固著熱終端件。熱終端件插 入導線架之插入口中且周邊是與導線架相連。 熱終端件因此可夾在承載件中及/或與其鉚接或壓 接。本發明中較佳是在熱終端件及承載件之間形成一 種壓接區,其特徵爲高的機械強度及良好之導電性。此 -4 - 550775 五、号务明說明(3) 種壓接區例如可以下述方式形成:承載件及熱終端件互 相定位,例如,藉由終端件插入該承載件之插入口中,然 後使熱終端件變形,使熱終端件在機械上固定地座落在 承載件中。可使用一種鎚子形或圖章形式之工具來達 成變形作用。 須形成該終端件,使其可依據鉚釘之形式而與承載件 相連。情況需要時該終端件之各別條片或支柱之變形 亦須足夠大以便在終端件及承載件之間形成足夠強度 之壓接。 本發明中可在終端件及承載件之間形成其它之連 接。例如,此種連接可由焊接或熔接來達成。此外,終 端件可與承載件相黏合。 有利的是形成半導體組件用之機械式穩定之支架,其 在技術上可以較少之費用來製成。 熱終端件較佳是具有一種反射井。在這樣所形成之 組件中,熱終端件可改良輻射上之效益及改良此組件之 輻射束。在本發明之其它形式中,較佳是使用一種金屬 式熱終端件,此乃因金屬面由於有較小之吸收損耗及較 佳對準性(情況需要時是鏡面式)之反射而可良好地用 作反射面。 爲了提高機械穩定性,特別是在以下仍將詳述之外罩 或組件中須測定該熱終端件之反射并之高度,使此高度 未超過晶片安裝區上所配置之晶片之高度之二倍。 550775 五、發明說明(4) 金屬(特別是銅,鋁或其所形成之合金)由於較高之導 熱性而適合用作熱終端件用之材料。其它較佳之材料 是銦,鐵,鎳及鎢以及鎳-鐵-合金及銅-鎢-合金,其熱膨脹 係數良好地與半導體材料(例如,GaAs,GaN)及以這些材 料爲主之系統之熱膨脹係數相匹配。陶瓷及半導體(例 如,砂)亦適合用作熱終端件之材料。熱終端件亦可以 多層方式構成,例如,以金屬-陶瓷-複合系統構成。 熱終端件之晶片安裝面較佳是設有一種調質區 (V e r gtitung),其在晶片安裝時可改良表面特性(連結 性)。此種調質區例如可包含銀層或金層。使焊接連接 條或接線連接區設有一種使焊接特性或連結特性改良 所用之表面調質區(例如,Au-,Ag-,Sn或Ζιι層),則這樣 亦是有利的。 承載件較佳是含有銅或軟鐵且例如可由適當之箔沖 製而成。本發明中有利的是承載件不作排熱用且因此 對電流供應之功能及其以下仍將詳述之成型物質之彎 曲特性及黏合而言均可被最佳化。 這例如包含:承載件須以一種厚度構成,使其可由捲 筒之承載帶而製成,可輕易地沖製且彎曲成型。這些加 工特性允許一*種自動化之製造過程且使各單一組件可 密集地配置(SP,節距(pitch)較小)在承載帶上。 承載帶此處所需之較小之厚度通常會使晶片不易達 成足夠之冷谷卩。特別是由於機械穩定性之原因而會使 55〇775 五、發明說明(5) 熱終端件之橫切面受到限制。此種缺點 藉由牢固之熱終端件而去除。 本發明中導線架較佳是由外罩基體所 發出輻射之組件所用之外罩。導線架較 該外罩基體所用之成型物質(例如,噴鍍 鍍壓製物質)中。這樣允許以噴鍍澆注 以成本有利之方式來製成此外罩。該成 以環氧樹脂或丙烯酸樹脂爲主之塑料所 適用於此一目的之每一種其它之材料所 熱,則有利之方式是埋置此熱終端件,使 蕈基體突出或形成該外罩表面之一部份 使熱排出。 外罩基體中較佳是形成一種輻射發出 口且熱終端件須埋入外罩基體中,使晶片 _射發出視窗中。例如,晶片安裝區可死 If見窗之界面。 此種外罩形式特別適用於可表面安裝 外罩基體之面對輻射發出視窗之側面形 虞面。已埋入之熱終端件較佳是延伸至 由安置面亦可使熱損耗排出至冷卻體或 板)上。須形成此熱終端件,使其表面之-成該安置面或該安置面之一部份,則這榡 爲了提高輻射效益,則輻射發出視窗π 丨在本發明中可 f圍繞以形成一 佳是埋在形成 澆注物質或噴 δ或噴鍍壓製法 型物質例如由 構成,但亦可由 構成。爲了排 其一部份由外 ,因此可由外部 視窗形式之凹 〃安裝區配置在 3成此輻射發出 之組件,其中此 成此組件之安 此安置面,使經 PCB(印届IJ電路 -部份同時形 :是有利的。 ί以錐形方式形 550775 五、發明說明(6) 成在外罩基體中,使該視窗之側壁形成一種反射器。藉 由此種反射器,則可使由晶片安裝區上之輻射源所發出 之至側面上之輻射成份轉向至主發射方向。這樣可使 輻射效益提高而形成一種較佳之輻射束。 在反射器中,有利的是形成一種造型(其中該熱終端 件形成此反射器之第一部份),由輻射發出視窗之側壁 所形成之反射器之第二部份則鄰接於第一部份。反射 器之總高度較佳是小於固定在晶片安裝區上之晶片之 高度之4倍。這樣可確保一種高的機械穩定性且可使 溫度改變所產生之應力(就像焊接過程中所產生者一樣) 限制於一可容許之値。 在本發明中,利用本發明之導線架及外罩另形成一發 出輻射之組件(其排熱效果較佳)。此種組件具有一發 出輻射之晶片(較佳是半導體晶片),此晶片配置在熱終 端件之晶片安裝區上。 晶片之至少一部份較佳是以澆注物質來封裝。對外 罩特別有利之實施形式是使晶片配置在輻射發出視窗 中,該輻射發出視窗中完全或只一部份以澆注物質塡 入。等別是反應樹脂(例如,環氧樹脂,丙烯酸樹脂或矽 樹脂或這些樹脂之混合物)適合作爲澆注用。可廣泛地 添加一些發光物質至此澆注物質中,這些發光物質可使 晶片所產生之輻射轉換成另一種波長。此種實施形式 待別適合用於發出混合彩色或白色光之組件中。 550775 五、發明說明(7) 爲了使外罩,晶片及繞注物質之間之熱應力保持很小 且特別是爲了使澆注覆蓋層不會脫層(d e 1 a m丨n a t i 0 n ),則 有利之方式是須選取該澆注體積V,使晶片之高度H滿 足 V ^ q · Η 之關係。q是一種校準因數,其値小於1 0腦2且較佳是 7 mm 2 0 在本發明有利之其它形式中,導線架劃分成第一及第 二電性終端件,其中熱終端件牢固在第一電性終端件中 且接線連接區形成在第二電性終端件上。一種接線由 晶片之接觸面延伸至接線連接區以達成供電作用。 製造本發明之組件所用之方法以製備一種承載件開 始,其首先由一種帶或一種箔沖製而成。 在下一步驟中,已製成之熱終端件牢固在承載件之開 口中。此晶片隨後安裝在熱終端件上,這例如以導電性 之黏合劑來進行黏合或藉由焊接來達成。這樣所形成 之導線架然後以適當之外罩成型物質來封裝以形成該 外罩,這例如以噴鍍澆注法或噴鍍壓製法來達成。 在噴鍍之前使晶片安裝在導線架上時所具有之優點 是:此時亦可使用一種高溫方法(例如,焊接法)。已噴鍍 之外罩組件在此種溫度中會受損。若這樣並無關緊要, 則此方法之各步驟當然亦可用在其它之程序中。 在噴鍍之前使晶片安裝在導線架上,則特別是在溫度 550775 五、發明說明(8 ) 超過260 °C時可藉由硬焊法來施加此晶片。因此可在 晶片及導線架之間形成特別小之熱阻。同時可在晶片 及熱終端件之間形成一種很耐溫之連接,特別是在至 2 6 0 °C之典型之溫度中在焊接此組件時不會使晶片分 開。 本發明之其它特徵,優點及適用性以下將依據圖式中 第 1至5圖之5個實施例來說明。圖式簡單說明: 第1 a,1 b圖本發明之導線架之實施例之俯視圖或切 面圖。 • 第2圖本發明之外罩之第一實施例之切面透視圖。 第3圖本發明之外罩之第二實施例之透視圖。 第4圖本發明之組件之第一實施例之透視圖。 第5圖本發明之組件之第二實施例之橫切面。 第1 a,1 b圖中所示之導線架2包含一分成二個電性 終端件1 2a,1 2b之承載件及一種熱終端件4。電性終端 件 12a,12b分別結束於焊接連接條3a,3b中。 電性終端件1 2 a具有一種小圈形式之開口。熱終端 件4牢固在/J、圈開口中。熱終端件4因此可準確地嵌 入電性終端件1 2 a之小圈開口中且隨後依據鉚釘之形 式而與電性終端件1 2 a相壓接。在熱終端件4及電性 端終件1 2a之間例如藉由鉚接,焊接或熔接所形成之其 它形式之周邊側之連接同樣是可能的。 熱終端件4是轉動對稱的且具有凸出區1 9,其可使 -10- 550775 五、發明說明(9) 導線架2穩定地固定在外罩中。此外,熱終端件4中形 成一種反射并16形式之中央凹入區,其底面上設有一 種晶片安裝區1 1以容納一種發出輻射之晶片。凹入區 之側面用作反射面。 電性終端件1 2a之小圈環具有一種空白區} 3,其是 與第二電性終端件1 2b之舌片形之接線連接區! 〇相重 疊。接線連接區1 0在高度上配置成與該反射井之發出 輻射之邊緣相偏移。這樣在晶片安裝時可在晶片及接 線連接區1 0之間形成較短之接線連接而不需在熱終端 件中在反射并之邊緣上形成一種空白區。 弟2 0疋本發明之外罩之縱切面之透視圖。外罩具 有一由塑料成型物質所構成之基體1,其例如可藉由噴 鍍澆注法或噴鍍壓製法而製成。成型物質例如由以環 氧樹脂或丙烯酸樹脂爲主之塑料所構成,但亦可由適用 於此目的之其它材料所構成。 基體1中埋入一與第1圖相對應之導線架2,其包含: 二個電性終端件12a,12b,一個牢固於其中之熱終端件 4以及多個焊接連接條,其中各焊接連接條由外罩基體 中突出。在晶片連接區1 1之側面上以廣泛地成牛坦之 方式形成熱終端件4而不需上述之反射井。 熱終端件4因此須配置在外罩基體1之內部,使熱終 端件4之底面6形成此基體安置面7之一部份。熱終 端件設有一些配置於周邊側之凸出區1 9以便可在機械 -11- 550775 五、發明說明(1〇) 上穩定地固定在外罩基體中。 在安置面7之對面於外罩基體中形成一種凹口 8而 成爲輻射發出視窗,此凹口 8延伸至熱終端件4上之晶 片安裝區11,使固定於晶片安裝區Η上之發出輻射之 晶片位於輻射發出視窗8之內部。輻射發出視窗8之 側面9成傾斜狀且在操作時作爲晶片所產生之輻射用 之反射器。 第3圖是本發明之外罩之另一實施例之安置面上之 透視圖。就像前述之實施例一樣,熱終端件4之底面6 由外罩基體突出。熱終端件4之底面6因此稍微由基 體1突出,使得在安裝狀態時在熱終端件4及相對應之 承載件(例如,電路板或冷卻體)之間可確保一種可靠之 安置及一種較佳之熱傳送。 與先前之實施例不同之處是,外罩基體1具有一由熱 終端件4延伸至外罩基體1之側面之側面槽20。若外 罩安裝在承載件上,則此槽20在安裝狀態時可控制外 罩及承載件之間之連接。因此,特別是可測試該承載件 及熱終端件之間之焊接。 第4圖是本發明發出輻射之組件之實施例之透視 圖。 就像先前之實施例一樣,導線架2及牢固之熱終端件 4廣泛地埋置於外罩基體1中,因此只有焊接連接條 3 a,3b在側面由外罩基體1中突出。熱終端件4以未顯 -12- 550775 五、發明說明(11 ) 示之方式形成該外罩基體之安置面7之一部份且因此 可由外部達成熱接觸。 發出輻射之晶片5 (例如,發光二極體)固定在熱終端 件 4之晶片安裝區1 1上。晶片5較佳是半導體晶片, 例$口,LED晶片或雷射晶片,其藉由硬焊而焊接在熱終 端件4上。另一^方式是晶片可以黏合劑(其具有足夠大 之導熱性且較佳是亦具有導電性)而黏合在晶片安裝區 1 1 上。 特別是以 GaAs,GaP 及 GaN(例如,GaAlAs,InGaAs, InGaAlAs,InGaAlP,GaN,GaAlN,InGaN 及 InGaAIN)爲 主之半導體材料適合用作有效之輻射源。 此組件之外殻對應於第2或3圖中所示之外殼,但不 同處是該熱終端件4具有一種圍繞晶片5之反射井1 6, 其反射面無縫隙地轉換成輻射發出視窗8之側面9,因 此形成一種總反射器,其由熱終端件4所形成之部份區域 及輻射發出視窗8之側面所形成之部份區域所組成。 此外,輻射發出視窗8在此組件之縱向中擴展且在導 線架2之未與熱終端件電性相連之電性終端件1 2 b上 包含一種接線連接區1 〇。接線1 7由接線連接區1 〇延 伸至一施加在晶片5上之接觸面。 接線連接區1 〇在高度上對熱終端件之反射井1 6之 發射側之邊緣成偏移而配置者。這樣可在晶片5及接 線連接區1 〇之間形成一種短而機械穩定之接線,此乃 -13- 550775 五、發明說明(12) 因接線連接區1 0幾乎可延伸至晶片5。此外,這樣所形 成之接線弧之高度可保持很小且可使短路(其例如可在 以澆注物質覆蓋該晶片時由於接線側向折疊至熱終端 件而發生)之危險性減小。 第5圖是本發明之阻件另一實施例之橫切面。此切 面外形對應於第4圖中所示之線A-A所切割者。 如第3圖之實施例所示者,熱終端件在中央下降至晶 片5用之安裝側,因此形成該晶片5所產生之輻射用之 反射井16,其上連接該輻射發出視窗8之反射側壁9。 與先前之實施例不同之處是:這樣所形成之總反射器 1 5在部份反射器9,1 6之間之接面位置上具有一種彎曲 處。藉由此種造型,則總反射器1 5可較佳地近似於一 種旋轉拋物體而可達成有利之發射特性。由晶片以一 種較陡峭之角度發射至該井之底面之光強裂地轉向至 此組件之主發射方向2 7中。 爲了保護此晶片,則輻射發出視窗8中須以澆注物質 1 4 (例如,反應性樹脂,其可爲環氧樹脂或丙烯酸樹脂)塡 入。爲了使所產生之輻射成束,則澆注物質1 4依據透 鏡之形式而形成,其具有輕微成拱形之表面1 8。 爲了使澆注物質14,外罩基體1及導線架2達成機 械上穩定之連接,則選取熱終端件之反射井1 6之高度 A使小於晶片5之高度Η之二倍時是有利的。由熱端 件4及外罩基體1所形成之總反射器1 5之高度Β應小 -14- 550775 五、發明說明(13) 於晶片5之高度Η之4倍。最後,有 該輻射發出視窗8,使澆注物質之體If 係式: V ^ q · Η ,其中q大約是7腿2。由於滿足此 穩定性提高,此組件之可負載性及壽ί 這樣對該熱終端件4藉由凸出區1 9 1中同樣有幫助。 爲了製成此種組件,則對此導線架 —種開口於承載件(其例如由承載帶ί 後熱終端件4插入該承載件之開口中 行壓接。 在下一步驟中,使發出輻射之晶片 4上,這例如以焊接或黏合來完成。爲 體 1,則由承載件及熱終端件4所形成 預安裝之晶片5須以成型物質來封裝 繞此晶片5所用之區域且可節省該接 例如可以噴鍍澆注法或噴鍍壓接法來 接線1 7由接線連接區1 〇延伸至晶片 另一方式是可在承載件及熱終端件 先使這樣所形成之導線架2由成型物 便晶片5固定在晶片連接區1 1上而无 以黏合法來達成。 利之方式是須形成 I V滿足以下之關 !關係,則可使機械 命因此亦可提高。 而固定在外罩基體 2而言首先須提供 中製而成)中。然 1且以承載件來進 5施加在熱終端件 丨了形成該外罩基 :之導線架2及已 ,其中可節省該圍 線連接區1 0。這 達成。最後,一種 5之接觸面。 ‘ 4已連接之後首 質所封裝且然後 杉成接觸,這例如 -15- 550775 五、發明說明(14) 本發明依據上述之實施例來詳述,這當然不表示本發 明只限制於該實施例中。本發明之導線架及外罩亦可 適用於其它組件(其需要有效之排熱或在其它半導體基 體中用作晶片)中。 上述之方法包含:製備一種導線架,在導線架以一種 成型物質封裝之前施加晶片(較佳是以黏合方式),其中 晶片之周圍空出,此種方法中亦可使用另一種不具備熱 終端件之外罩且仍屬本發明之範圍。 上述方法之優點是:晶片之固定可被最佳化而與成型 物質之特性無關。焊接過程例如可在較大之溫度範圍 中進行。較佳是使用一種熔化溫度大於260 °C之焊劑 (例如,硬焊齊α ),其可在晶片及導線架之間形成一種熱阻 很小之連接。此外,在焊接相對應之組件於電路板上時, 晶片發生脫離之危險性較小。 符號說明 2 · ·.導線架 4 · ·.熱終端件 5 ·…晶片 3a,3b...焊接連接條 6…·底面 8 ···凹口,輻射發出視窗 9…側面 1 〇 ...接線連接區 -16- 550775 五、發明說明(15) 1 1 ...晶片安裝區 1 2 a,b...電性終端件 1 3 ...空白區 1 4 ...澆注物質 1 5 ...總反射器 1 6 ...反射井 1 7 ...接線 1 8 ...表面 1 9 ...凸出區 -17-
Claims (1)
- 550775六、申請專利範圍 第9 1 106478號「發出輻射之組件,其製造方法及其所用之 導線架和外罩」專利案 …… (92年5月修正) 六、申請專利範_ = 1. 一種發出輻射之組件用之導線架(2),此組件較佳是一 種發光二極體組件,其包含:至少一晶片安裝區(11),至 少一接線連接區(1 0 )及至少一外部電性連接條(3 a,3b ), 其特徵爲:設有一承載件,其具有接線連接區(1 Ο )及連 接條(3a,3b )且承載件中牢固一種各別製成之熱終端件 (4),此熱終端件具有晶片安裝區(11)。 2. 如申請專利範圍第1項之導線架(2 ),其中承載件具有 一種夾子或小圈,其中牢固著該熱終端件(4 )。 3·如申請專利範圍第1或2項之導線架(2 ),其中在熱終 端件(4 )及承載件之間形成一種壓接,鉚接,焊接或熔接 〇 4·如申請專利範圍第1項之導線架(2 ),其中該熱終端件 (4)具有一種反射井(16),其包含一晶片安裝區(11)。 5·如申請專利範圍第4項之導線架(2),其中接線連接區 (10)由晶片安裝區(11 )觀看時較晶片安裝區(1 1 )還高 〇 6·如申請專利範圍第5項之導線架(2 ),其中接線連接區 (10)由晶片安裝區(11)觀看時配置在反射井(16)之邊 緣上方。 550775 六、申請專利範圍 7. 如申請專利範圍第4 , 5或6項之導線架(2 ),其中反射 井(1 6)之高度未超過一安裝在晶片安裝區(11)上之晶 片(5)之高度(Η )之二倍。 8. 如申請專利範圍第1項之導線架(2 ),其中熱終端件(4 ) 含有 Cu,A1,Mo ,Fe,Ni 或 W。 9. 如申請專利範圍第1或4項之導線架(2 ),其中晶片安 裝區(1 1 )設有一種表面調質區以改良晶片之安裝。 10. 如申請專利範圍第9項之導線架(2 ),其中晶片安裝用 之表面調質區包含一種Ag層或Au層。 11. 如申請專利範圍第1 項之導線架(2 ),其中導線架(2 ) 含有Cu或Fe。 12. 如申請專利範圍第1項之導線架(2 ),其中該外部之電 性連接條(3 a , 3b )具有表面調質區以改良組件之安裝特 性。 13. 如申請專利範圍第1 2項之導線架(2 ),其中表面調質區 包含Ag-,Au_,Sn-或Zn層以改良此組件之安裝特性。 14. 一種發出輻射之組件用之外罩,此組件較佳是發光二極 體,其特徵爲其包含一導線架(2 ),其具有至少一晶片 安裝區(1 1 );至少一接線連接區(1 〇 )及至少一外部電 性連接條(3 a,3b ),其中設有一承載件,其具有接線連 接區(1 0 )及連接條(3 a,3 b )且承載件中牢固一種各別製 成之熱終端件(4 ),此熱終端件具有晶片安裝區(1 1 )。 15. 如申請專利範圍第1 4項之外罩,其中該外罩(1 )具有 550775 六、申請專利範圍 外罩基體(1 ),其由成型物質所形成且其中須埋置該導 線架(2 ),使電性連接條(3 a,3 b ),由外罩基體伸出,且該 熱終端件(4 )之熱終端面可由外部達成熱接觸。 16.如申請專利範圍第1 4或1 5項之外罩,其中該外罩基體 (1 )具有一輻射發出視窗(8 )且熱終端件(4 )須埋置在外 罩基體中,使晶片安裝區(1 1 )配置在輻射發出視窗(8 ) 中。 17·如申請專利範圍第1 6項之外罩,其中輻射發出視窗(8 ) 之側壁(9 )形成各反射面。 18·如申請專利範圍第1 7項之外罩,其中熱終端件(4 )具有 一種反射井(1 6 ),其形成該反射器(1 5 )之第一部份,此 第一部份轉換成反射器(1 5 )之由輻射發出視窗(8 )之側 壁(9)所形成之第二部份。 如申請專利範圍第! 8項之外罩,其中反射器(1 5 )之總 高度(B)未超過一安裝在晶片安裝區(11)上之晶片(5) 之咼度(H)之4倍。 20·如申請專利範圍第1 8項之外罩,其中反射井(1 6 )之反 射壁及輻射發出視窗(8 )之反射面對該組件之主發射方 向(27)形成不同之角度。 21·如申請專利範圍第20項之外罩,其中由反射井(1 6 )之 反射壁與主發射方向(27)所形成之角度大於由輻射發 出視窗之反射面與主發射方向(27)所形成之角度。 22·如申請專利範圍第1 4 或1 5項之外罩,其中此外罩可 550775 六、申請專利範圍 表面安裝。 23. —種發出輻射之組件,其包含一發出輻射之晶片(5 ),其 特徵爲其 包含一導線架(2 ),其具有至少一晶片安裝 區(11 );至少一接線連接區(1 〇 )及至少一外部電性連 接條(3 a,3 b ),其中設有一承載件,其具有接線連接區 (10)及連接條(3 a,3b )且承載件中牢固一種各別製成之 熱終端件(4),此熱終端件具有晶片安裝區(11)。 24. —種發出輻射之組件,其包含一發出輻射之晶片(5 ),其 特徵爲其包含一外罩,該外罩之導線架具有:至少一 晶片安裝區(11 );至少一導線架(2 ),其具有至少一晶 片安裝區(1 1 );至少一接線連接區(1 0 )及至少一外部 電性連接條(3a,3b),其中設有一承載件,其具有接線 連接區(1 0 )及連接條(3 a , 3b )且承載件中牢固一種各 別製成之熱終端件(4 ),此熱終端件具有晶片安裝區 ⑴)。 25·如申請專利範圍第23項之發出輻射之組件,其中晶片 (5)是半導體晶片。 26如申請專利範圍第23或25項之發出輻射之組件,其 中晶片(5 )至少一部份以可透過輻射之物質(1 4 ),特別 是塑膠物質,例如,澆注樹脂或壓製物質,來封裝。 27.如申請專利範圍第2 6項之發出輻射之組件,其中塑膠 物質含有環氧樹脂,丙烯酸樹脂,矽樹脂或這些樹脂之 混合物。 550775 六、申請專利範圍 28.如申請專利範圍第26項之發出輻射之組件,其中可透過 輻射之物質(1 4 )之體積(V )滿足 V ^ q · Η ,其中Η是晶片(5 )之高度且q是校準因數,其値小於 1 0臟2且較佳是7 mm 2。 29·如申請專利範圍第23或25項之發出輻射之組件,其中 晶片(5 )固定在熱終端件(4 )之晶片安裝區(1 1 )上。 30.如申請專利範圍第29項之發出輻射之組件,其中晶片 (5 )焊接或黏合在晶片安裝區(1 1 )上。 31•如申請專利範圍第30項之發出輻射之組件,其中晶片 (5)藉由硬焊劑而固定在晶片安裝區(11)上。 32如申請專利範圍第31項之發出輻射之組件,其中硬焊劑 之熔化溫度大於260°C。 33.如申請專利範圍第23項之發出輻射之組件,其中晶片 (5 )藉由接線(1 7 )而導電性地與接線連接區(1 0 )相連。 34—種半導體組件之製造方法,此組件是申請專利範圍第 23至33項中任一項所述者,本方法之特徵爲: -製備一種承載件, -使熱終端件(4)(其具有晶片安裝區(11))牢固在承 載件中, -於晶片安裝區(11 )上施加一發出輻射之晶片(5 ), -使承載件(2 )及熱終端件(4 )埋置於外罩成型物質 中。 550775 六、申請專利範圍 35如申請專利範圍第34項之製造方法,其中熱終端件(4 ) 藉由鉚接,壓接或焊接而與承載件相連。 3S如申請專利範圍第34或35項之製造方法,其中在使熱 終端件(4 )及承載件埋置於外罩成型物質中之前此晶片 (5)施加至晶片安裝區(11)上。 37如申請專利範圍第34項之製造方法,其中晶片焊接至 晶片安裝區(11)上,焊接溫度大於26(TC。 38·如申請專利範圍第37項之製造方法,其中晶片(5 )藉由 硬焊劑而固定在晶片安裝區(11 )上。 39.如申請專利範圍第34或35項之製造方法,其中該承載 件(2)及熱終端件(4)埋置於外罩成型物質中晏藉由噴 鍍澆注法或噴鍍壓製法來達成。 550775 1/3第lb圖
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