TW201643110A - 氮化硼凝集粒子、含有該粒子之組成物、以及含有該粒子或該組成物之成形體 - Google Patents

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Abstract

本發明係提供一種三維積體電路用之組成物，其使用熱傳導之等向性、耐崩壞性、與樹脂間之混練性優越的氮化硼凝集粒子，可形成厚度方向之熱傳導性亦優越的層間填充層。 本發明為一種三維積體電路用之組成物，其含有：氮化硼凝集粒子，係比表面積為10m2/g以上之氮化硼凝集粒子，該氮化硼凝集粒子之表面係由平均粒徑0.05μm以上且1μm以下之氮化硼一次粒子所構成，且為球狀之氮化硼凝集粒子；與120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)。

Description

氮化硼凝集粒子、含有該粒子之組成物、以及含有該粒子或該組成物之成形體
本發明係關於三維積體電路用之含有氮化硼凝集粒子之組成物及其塗佈液，以及含有該組成物之三維積體電路用積層體及使用了上述塗佈液之三維積體電路的製造方法。
近年來，由於半導體裝置之進一步高速化、高容量化等之性能提升，除了電晶體或佈線之細微化之外，亦進行將半導體裝置晶片積疊2層以上而經三維(3D)積層化的三維積體電路的研究開發。
三維積體電路係具有使半導體裝置晶片彼此於其晶片間藉由焊錫凸塊等電氣信號端子等所連接，同時藉由填充層間填充材而形成之層間填充層所接黏的構造。
具體而言，係提案了在晶圓上，塗佈組成物(層間填充層形成用之組成物)之塗佈液而形成薄膜後，予以加熱以進行B階段化(Cure for B-stage)，接著藉切割切出晶片，積層複數片該晶片，重複由加壓加熱所進行的假性接合，最終於加壓加熱條件下進行實際接合(焊錫接合)的製程(例如參照非專利文獻1)。
在此種三維積體電路裝置之實用化方面，已被指摘出各種課題，其中之一在於由電晶體或佈線等裝置所發生之熱的放熱問題。此問題的起因一般係相較於金屬或陶瓷等，半導體裝置晶片之積層時所使用 之組成物的熱傳導率屬於非常低，故有因積層裝置晶片內之蓄熱造成性能降低之虞。
作為解決此課題之一手法，可舉例如層間填充層形成用之組成物的高熱傳導化。具體而言，作為構成組成物之接黏成分的熱硬化性樹脂，係使用高熱傳導性之環氧樹脂，或使此種高熱傳導性樹脂與高熱傳導性無機填充材經複合化，以進行組成物的高熱傳導化。
例如，專利文獻1中記載，調配球狀之氮化硼凝集體作為填充材的組成物。
另外，對於組成物，除了熱傳導性之提升之外，尚要求對3D積層製程之適合性或薄膜化，進而要求半導體裝置晶片間之電氣信號端子的接合性等，而需要更進一步的技術開發。
亦即，習知之對半導體裝置晶片之中介層(Interposer)等之搭載的製程中，係先將半導體裝置晶片側之焊錫凸塊等電氣信號端子藉助焊劑(Flux)進行活性化處理，接著接合至具有連接盤(電氣接合電極/Land)的基板後，於基板間填充液狀樹脂或於液狀樹脂中添加了無機填充材之底部填充材並使其硬化，而進行接合。
於此，對於助焊劑，係要求焊錫凸塊等金屬電氣信號端子及連接盤之表面氧化膜去除或濕潤性之提升，進而要求金屬端子表面之再氧化防止等之活性化處理機能。
另一方面，於半導體裝置晶片之3D積層製程中，若先進行使用了助焊劑之焊錫凸塊等電氣信號端子的活性化處理，則於端子表面形成熱傳導性低之助焊劑層，而有成為阻礙組成物之積層基板間之熱傳導性、或因助焊劑成分之殘留造成接合端子之腐蝕劣化等之要因之虞。
因此，要求可直接混合至具有高熱傳導性之組成物中、且對金屬 端子之腐蝕性低的助焊劑。
作為此種助焊劑，習知除了電氣信號端子之金屬氧化膜溶解能力優越的含鹵素之無機金屬鹽之外，尚使用有機酸或有機酸鹽、有機鹵化合物或胺類、松香或其構成成分之單獨或複數的組合(例如參照非專利文獻2)。
如此，習知之層間填充材組成物，一般係含有作為接黏成分的熱硬化性樹脂、無機填充材與助焊劑，此組成物通常係被分散或溶解於適當之有機溶媒而調整為適度黏度，作成塗佈液而塗佈於半導體基板。
近年來，尤其是隨著電氣．電子領域的積體電路的高密度化的發熱成為大問題，如何使熱發散成為緊急課題。
習知之組成物中，係使用氮化硼(BN)作為填充材。
氮化硼(BN)為絕緣性之陶瓷，已知有具有鑽石構造的c-BN、具石墨構造之h-BN(六方晶氮化硼)、具無序重疊構造之α-BN、β-BN等各種結晶型。
其中，具石墨構造之h-BN係具有與石墨相同的層狀構造，並具備合成較容易且熱傳導性、固體潤滑性、化學穩定性、耐熱性優越的特徵，廣泛利用於電氣．電子材料領域。
另外，h-BN不僅為絕緣性，尚活用具有高熱傳導性之特徵，作為此種放熱構件用熱傳導性填充材而受到矚目，被認為可形成放熱性優越的層間填充層。
上述專利文獻1以外，過去已知有使用氮化硼粉體的技術，作為此種氮化硼，已知有例如具有特定粒徑、粒度分佈的氮化硼粉體(例如參照專利文獻3)。又，另外已知有使用表面積、粒度、振實密度等之粒子特性相異的二種類的混合氮化硼之技術(例如參照專利文獻4)。
另外，h-BN粉體已知可作為熱傳導性優越的材料，已知藉由將粗六方晶氮化硼粉體水洗後，於惰性氣體氣流中以1500~1800℃進行加熱處理，而製作高結晶性氮化硼的技術(例如參照專利文獻5)。此技術中，係使氮化硼之微晶之100面之微晶尺寸(La)成長。
另外，專利文獻6中記載，係藉由對粗製六方晶氮化硼粉末實施特定處理，而得到粒徑大、潤滑性優越之六方晶氮化硼粉末。
另外，專利文獻7記載，於相同之粗製六方晶氮化硼粉末中混合以鑭為主成分的化合物，於非氧化性氣體環境下依特定之溫度範圍進行加熱處理，藉此使002面之微晶尺寸(Lc)成長而得到六方晶氮化硼粉末，該六方晶氮化硼粉末係分散性優越，具有高結晶性。
另外，關於六方晶氮化硼，專利文獻8中記載，將粗製六方晶氮化硼粉末於大氣環境中依60℃以下熟化(curing)1週以上後，進行特定之燒成，則得到粒徑大且高結晶性物。
專利文獻9記載，對粗製六方晶氮化硼粉末於大氣環境中依60℃以下熟化1週以上後，進行洗淨再進行特定之燒成處理，藉此得到平均粒徑成長為10μm以上的六方晶氮化硼粉末。
然而，h-BN為板狀之粒子形狀，於其板面方向(C面方向或(002)面方向)雖顯示高熱傳導性(通常，以熱傳導率計為250W/mK左右)，但於板厚方向(C軸方向)則僅顯示較低之熱傳導性(通常，以熱傳導率計為2~3W/mK左右)，故若將其調配於樹脂中作為組成物之塗佈液並塗佈於基板表面而形成塗膜，將其加熱進行B階段化，進而進行暫時接合及實際接合以製造三維積體電路，則在所製造之三維積體電路中，板狀之BN粒子朝塗膜之膜面方向進行配向，所形成之層間填充層雖然於層間方向上的熱傳導率優越，但存在有於厚度方向上僅顯示 低熱傳導率的問題。
習知，為了改良此種BN粒子之熱傳導性的異向性，已研討了即使填充於樹脂中而上述般之配向仍較少、具有鱗片狀以外之形狀的h-BN粉末。作為此種h-BN粉末，有如藉噴霧乾燥等所造粒之h-BN粒子、將h-BN燒結並將燒結體粉碎而製造的h-BN粒子等(例如參照專利文獻2、10)。
另一方面，作為其他之凝集粒子，亦提案有使由硼酸與三聚氰胺之混合物所製造的h-BN粒子未經配向而凝集之松毬狀BN粒子(例如參照專利文獻11)。
[先前技術文獻] [專利文獻]
專利文獻1：日本專利特表2008-510878號公報
專利文獻2：日本專利特開2006-257392號公報
專利文獻3：日本專利特開2008-189818號公報
專利文獻4：日本專利特表2010-505729號公報
專利文獻5：日本專利特開昭61-7260號公報
專利文獻6：日本專利特開平9-263402號公報
專利文獻7：日本專利特開平9-295801號公報
專利文獻8：日本專利特開2010-37123號公報
專利文獻9：日本專利特開2010-42963號公報
專利文獻10：日本專利特表2008-510878號公報
專利文獻11：日本專利特開平9-202663號公報
[非專利文獻]
非專利文獻1：Electronics安裝學會演講大會演講論文集，61，23， 2009
非專利文獻2：焊接之基礎與應用(工業調查會)
習知之h-BN造粒粒子係為了達成高熱傳導性，所構成之h-BN一次粒子的尺寸大至數微米以上，且由於無規地凝集，故雖然作成造粒粒子而改善了熱傳導異向性，但造粒形狀容易崩壞，與樹脂進行混練時發生崩壞，結果在製作成形體時，有h-BN粒子之低熱傳導面於厚度方向上配向的問題。又，習知技術所揭示之球狀凝集體中，構成凝集體之h-BN一次粒子係使用數μ以上尺寸的粒子。此係由於成為原料之h-BN粒子亦使用高結晶性者以確保作為凝集體的熱傳導性，但在如此使用了高結晶性之h-BN原料時，h-BN一次粒子的尺寸受到制約，難以製作25μm以下之凝集BN粒子。再者，即使施行熱處理以促進結晶化，仍由於屬於原料之h-BN本身之結晶性高，故難以預期更進一步的結晶成長，亦無法控制結晶之成長方向。
專利文獻11等所揭示之松毬狀凝集體構造，雖然由於未使用結合劑而可期待純度高、熱傳導異向性亦較小，但所構成之h-BN粒子尺寸大至數μ至數百μ，而有與樹脂進行混練時發生崩壞、低熱傳導面於成形體之厚度方向上配向的問題。又，依然存在有無法控制構成凝集粒子之h-BN一次粒子之結晶成長方向的問題。
另一方面，將h-BN之燒結體粉碎而製造的粉末，係在h-BN燒結體製造過程中之熱壓製或預備成形時使h-BN一次粒子配向，由於依一次粒子經配向之狀態所集合的粒子的比例變多，故雖然多少有改善效果，但仍有h-BN之低熱傳導面於成形體之厚度方向上配向的問題。
如上述，藉由h-BN之凝集粉末，迄今尚無法達成控制構成凝集粉末之h-BN一次粒子之結晶成長方向(BN結晶之一次粒子以a軸朝外之方式向法線方向成長)與尺寸，得到改良了熱傳導率異向性及與樹脂之混練所造成之凝集構造之崩壞性的氮化硼粒子。
本發明之目的在於提供一種特定之氮化硼粒子(以下有時稱為BN粒子)，並提供具有特定結晶構造之氮化硼粒子(以下有時稱為特定結晶BN粒子)、於表面具有具特定平均粒徑之氮化硼一次粒子的氮化硼凝集粒子(以下有時稱為凝集BN粒子)，並提供熱傳導之等向性、耐崩壞性、與樹脂間之混練性優越的BN粒子。又，目的在於提供使用該BN粒子，而可形成厚度方向之熱傳導性亦優越之層間填充層的三維積體電路用之組成物與其塗佈液(有時稱為組成物塗佈液)，使用了該塗佈液之三維積體電路用積層體及三維積體電路的製造方法。
本發明者等人為了解決上述問題而經潛心研究，結果發現，作為填充於三維積體電路用積層體之層間的組成物中所使用之填充材的氮化硼，藉由使用選自特定結晶BN粒子及凝集BN粒子的至少一種BN粒子，則可解決上述課題。
本發明所使用之凝集BN粒子，係具有特定之比表面積及總細孔容積，於表面配置著極小之h-BN結晶之一次粒子，或放射狀(h-BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式於法線方向上配置)地配置著。作為組成物之填充材，若使用此種凝集BN粒子，則於粒子彼此的表面，h-BN結晶之高熱傳導面(C面)經由a軸而接觸的頻率增加，結果發現所形成之層間填充層之厚度方向的熱傳導率獲得大幅改善。
本發明係根據此種見解而達成者，其要旨如以下。
(1)一種氮化硼凝集粒子，係比表面積為10m2/g以上，總細孔容積為2.15cm3/g以下，且該氮化硼凝集粒子之表面係由平均粒徑0.05μm以上且1μm以下之氮化硼一次粒子所構成。
(2)一種氮化硼凝集粒子，係球狀之氮化硼凝集粒子，於該氮化硼凝集粒子表面，使平均粒徑為1μm以下之氮化硼一次粒子放射狀地配置。
(3)如(1)或(2)之氮化硼凝集粒子，其中，體積基準之最大粒徑為0.1μm以上且25μm以下之範圍。
(4)如(1)至(4)中任一項之氮化硼凝集粒子，其中，整體密度為0.3g/cm3以上。
(5)一種氮化硼凝集粒子之製造方法，係具有使用含原料氮化硼粉末之漿料而進行造粒之步驟者，上述漿料中之原料氮化硼粉末之體積基準之平均粒徑D50，係所造粒之造粒粒子之體積基準之平均粒徑D50的1/5以下。
(6)如(5)之氮化硼凝集粒子之製造方法，其中，上述原料氮化硼粉末之總氧含量為1重量%以上且10重量%以下。
(7)如(5)或(6)之氮化硼凝集粒子之製造方法，其中，上述原料氮化硼粉末係滿足下述條件<1>及/或<2>；<1>總細孔容積為1.0cm3/g以下；<2>比表面積為20m2/g以上。
(8)如(5)至(7)中任一項之氮化硼凝集粒子之製造方法，其中，在將含上述原料氮化硼粉末之漿料藉噴霧乾燥法造粒成球形後，將所得之造粒粒子於非氧化性氣體環境下進行加熱處理。
(9)如(5)至(8)中任一項之氮化硼凝集粒子之製造方法，其中，含有 上述原料氮化硼粉末之漿料，係相對於原料氮化硼粉末，依1重量%以上且30重量%以下之範圍含有金屬氧化物。
(10)一種組成物，係含有：120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)；與由上述(1)至(4)中任一項之氮化硼凝集粒子所構成的填充材(B)。
(11)如(10)之組成物，其中，樹脂(A)每100重量份中，含有上述填充材(B)40重量份以上且400重量份以下。
(12)一種組成物，係含有：由上述(5)至(9)中任一項之氮化硼凝集粒子之製造方法所製造的氮化硼凝集粒子所構成的填充材(B)；與120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)。
(13)如(12)之組成物，其中，上述填充材(B)之體積平均粒徑為10μm以下。
(14)如(12)或(13)之組成物，其中，樹脂(A)每100重量份中，含有上述填充材(B)40重量份以上且400重量份以下。
(15)一種組成物，係含有：120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)；與填充材(B)，係由002面之微晶徑(Lc)為450[Å]以上，100面之微晶徑(La)為500[Å]以上，上述微晶徑(Lc)與上述微晶徑(La)滿足下式(i)，氧含量為0.30重量%以下之氮化硼所構成；0.70≦Lc/La...(i)
(16)如(15)之組成物，其中，上述填充材(B)之體積平均粒徑為10μm以下。
(17)如(15)或(16)之組成物，其中，樹脂(A)每100重量份中，含有上述填充材(B)40重量份以上且400重量份以下。
(18)如(10)至(17)中任一項之組成物，其中，進一步含有硬化劑(C)。
(19)如(10)至(18)中任一項之組成物，其中，進一步含有助焊劑(D)。
(20)如(10)至(19)中任一項之組成物，其中，上述樹脂(A)為熱硬化性樹脂。
(21)如(20)之組成物，其中，上述熱硬化性樹脂為環氧樹脂(a)。
(22)如(21)之組成物，其中，上述環氧樹脂(a)係含有環氧當量為100g/當量以上且未滿650g/當量的環氧樹脂(a1)。
(23)如(21)或(22)之組成物，其中，上述環氧樹脂(a)係含有環氧當量為650g/當量以上且30000g/當量以下的環氧樹脂(a2)。
(24)如(21)至(23)中任一項之組成物，其中，上述環氧樹脂(a)係具有雙酚A骨架、雙酚F骨架或聯苯骨架中至少一種以上骨架的苯氧基樹脂。
(25)一種組成物塗佈液，係含有上述(10)至(24)中任一項之組成物、與有機溶媒(E)而成。
(26)一種三維積體電路之製造方法，係含有：於複數之半導體基板表面，使上述(25)之組成物塗佈液進行成膜後，將此等半導體基板加壓接合而予以積層的步驟。
(27)一種三維積體電路，係具有：將形成有半導體裝置層之半導體基板積層了至少2層以上的半導體基板積層體；與含有(10)至(24)中任一項之組成物的層。
根據本發明，可容易控制h-BN之結晶成長方向而得到特定結晶BN。又，可容易控制構成凝集BN粒子之h-BN一次粒子之結晶成長方向與粒徑，製造於粒子表面，配置了特定粒徑之h-BN一次粒子之結晶、或將其配置為放射狀的既定粒徑之顯示等向性之熱傳導性的凝集 BN粒子。
再者，根據本發明之三維積體電路用之含有BN粒子之組成物及塗佈液，可形成厚度方向之熱傳導性亦良好的層間填充層。又，使用作為填充材之BN粒子，由於與樹脂間之混練性優越，故使用含有此種填充材之本發明之組成物塗佈液所形成的塗膜，成為膜性狀優越的均質塗膜，將此塗膜進行B階段化則可形成均質之B階段化膜。
因此，由於使該B階段化膜加熱硬化，可形成良好之層間填充層，故可實現高品質之熱傳導性優越的三維積體電路。
圖1(a)為實施例1-1之凝集BN粒子(BN-A)及調製例3-1之凝集BN粒子之加熱處理前的SEM照片，圖1(b)為同一加熱處理後之SEM照片。
圖2(a)為實施例1-2之凝集BN粒子(BN-B)之加熱處理前的SEM照片，圖2(b)為同一加熱處理後之SEM照片。
圖3(a)為比較例1-1之凝集BN粒子(BN-C)之加熱處理前的SEM照片，圖3(b)為同一加熱處理後之SEM照片。
以下詳細說明本發明，本發明之解釋並不限定於下述說明，可於其要旨之範圍內實施。
[氮化硼之粒子(BN粒子)]
作為本發明之氮化硼之粒子(BN粒子)，可為具有特定結晶構造的氮化硼粒子(特定結晶BN粒子)，亦可為藉造粒使氮化硼凝集之氮化硼凝集粒子(凝集BN粒子)。特定結晶BN粒子亦可使用作為凝集BN粒子的原料，但作為凝集BN粒子之原料，並不限定於特定結晶BN粒子， 亦可使用之後詳細說明的特定之原料一次粒子。本發明之BN粒子係在被含於三維積體電路之層間時，表現特別顯著的效果。
<特定結晶BN粒子>
本發明中所謂微晶之尺寸，係指002面及100面各別的微晶徑，002面之微晶徑(Lc)係測定X射線之2θ=26.5°之波峰的半寬度，藉下述(ii)式而求得。關於100面之微晶徑(La)，亦同樣地測定X射線之2θ=41.5°之波峰的半寬度，藉下述(ii)式而求得。
L(Å)=(0.9λ．180)/(β．cosθ．π)...(ii)
λ：1.54056Å
β：波峰半寬度
本發明之特定結晶BN粒子，係100面之微晶徑(La)為500[Å]以上。藉由使此La為500[Å]以上，則微晶界面變得充分少，得到高熱電導性。此La係由更加提高熱傳導性的觀點而言，較佳為550[Å]以上、特佳600[Å]以上。
另一方面，由工業生產性的觀點而言，此La較佳為2000[Å]以下、更佳1000[Å]以下。
此La係在本發明之特定結晶BN粒子之製造時，例如將La為未滿500Å之h-BN於非氧化性氣體中，依通常1300~2300℃、較佳1500~2100℃、更佳1800~2000℃之溫度進行熱處理則可予以調製，在增大La時，可採取依上述溫度範圍之儘可能高溫的條件下，進行長時間熱處理的方法。
本發明之特定結晶BN粒子，係002面之微晶尺寸(Lc：六角網面積層方向)為450[Å]以上。藉由使此Lc為450[Å]以上，則微晶界面變得充分少，得到高熱電導性。此Lc係由更加提高熱傳導性的觀點而言， 較佳為470[Å]以上、特佳500[Å]以上。
另一方面，由工業生產性的觀點而言，此Lc較佳為2000[Å]以下、更佳1000[Å]以下。
此Lc係在本發明之凝集BN粒子之製造時，例如將Lc為未滿450Å之h-BN於非氧化性氣體中，依通常1500~2300℃、較佳1800~2100℃之溫度進行熱處理則可予以調製，在增大Lc時，較佳係採用使用上述原料之h-BN含氧量為未滿1.0重量%者的方法。
本發明之凝集BN粒子中，上述Lc與La之關係係滿足以下關係式(i)。
0.70≦Lc/La...(i)
上述關係式(i)，係顯示本發明之特定結晶BN粒子之形狀異向性者，Lc/La越接近1，則顯示越小的形狀異向性。
本發明之特定結晶BN粒子係藉由滿足上述關係式(i)，則在其與樹脂一起被含於組成物中時，可防止該組成物之黏度上升。又，在將本發明之特定結晶BN粒子使用作為原料的氮化硼凝集粒子與樹脂一起被含於組成物中時，亦可防止該組成物的黏度上升。
Lc與La之關係較佳係0.75≦Lc/La、特佳0.78≦Lc/La。另一方面，由減小形狀異向性的觀點而言，Lc與La之關係較佳係Lc/La≦1.2。
本發明之特定結晶BN粒子，其氧含量為0.30重量%以下。藉由使特定結晶BN粒子之氧含量為0.30重量%以下，則在其與樹脂一起被含於組成物中時，該組成物之熱傳導率變得較佳。該氧含量更佳為0.25重量%以下，特佳0.15重量%以下。另一方面，該氧含量之下限值通常為0.01重量%。
為了使本發明之特定結晶BN粒子之氧含量成為此種範圍時，係 於特定結晶BN粒子之製造步驟中，可藉由於非氧化性氣體環境下進行燒成而達成。為了減少氧含量，特佳係於氮氣體環境下進行燒成。
尚且，本發明之特定結晶BN粒子之氧含量可藉由惰性氣體熔解-紅外線吸收法，使用HORIBA製氧．氮分析計而測定。
本發明之特定結晶BN粒子較佳係平均粒徑為10μm以下。又，本發明之特定結晶BN粒子更佳係平均粒徑為7μm以下，平均粒徑再更佳為5μm以下、特佳4μm以下。另一方面，由得到良好之熱傳導性及良好之流動性的觀點而言，較佳係平均粒徑為0.1μm以上。
本發明之特定結晶BN粒子之平均粒徑，例如可將其分散於適當之溶劑中，藉堀場製作所公司製之雷射繞射/散射式粒度分佈測定裝置LA-920進行測定。由所得之粒度分佈求得特定結晶BN粒子之平均粒徑。於此所謂平均粒徑，係指體積基準之平均粒徑。關於層間填充材組成物中之特定結晶BN粒子的平均粒徑，亦可同樣地使其分散於適當溶劑中，依與上述相同之裝置進行測定。
(特定結晶BN粒子之製造方法)
作為用於獲得本發明之特定結晶BN粒子的原料，可無限制地使用市售之六方晶氮化硼、市售之α及β-氮化硼、藉由硼化合物與氨之還原氮化法所製作的氮化硼、由硼化合物與三聚氰胺等之含氮化合物所合成的氮化硼、由硼氫鈉與氯化銨所製作之氮化硼等，特佳係使用六方晶氮化硼。
此等原料之中，為了使本發明之特定結晶BN粒子具有既定之微晶尺寸，作為原料，係使用六方晶氮化硼，尤其是La為300[Å]以上、更佳係進一步Lc為250[Å]以上，特佳係使用Lc/La為0.8~1.0者。
本發明之特定結晶BN粒子可藉由將上述原料於非氧化性氣體之 環境下，依1800~2300℃之溫度進行燒成而獲得。
作為非氧化性氣體，可使用氮氣、氦氣、氬氣、氨氣、一氧化矽等，特佳為使用氮氣。
燒成時間為1~20小時左右、更佳3~15小時、特佳5~15小時。
燒成溫度或燒成時間可依使本發明之特定結晶BN粒子之Lc及La同時變大之方式進行適當調整而決定。
另外，燒成所使用的爐，特佳為碳爐，在燒成時置入六方晶氮化硼的坩堝，特佳為碳製。
另外，在燒成時不妨礙六方晶氮化硼之所需結晶成長的範圍內，亦可加入添加劑而進行。
尚且，特定結晶BN粒子係有在剛製造後所得粒子進一步凝集而未能滿足上述粒徑範圍的情形。因此，特定結晶BN粒子較佳係粉碎為滿足上述粒徑範圍而使用。
特定結晶BN粒子之粉碎方法並無特別限定，可應用與氧化鋯珠球等之粉碎用介質一起攪拌混合的方法、或噴流噴射等之習知公知的粉碎方法。
在使本發明之特定結晶BN粒子含於組成物中而使用的情形，特定結晶BN粒子可單獨使用1種，亦可將物性不同之特定結晶BN粒子之2種以上任意組合而使用，進而亦可併用本發明之凝集BN粒子。
<凝集BN粒子>
本發明之氮化硼凝集粒子(凝集BN粒子)，係比表面積為10m2/g以上，總細孔容積為2.15cm3/g以下，且該氮化硼凝集粒子之表面係由平均粒徑0.05μm以上且1μm以下之氮化硼一次粒子所構成者。
本發明之凝集BN粒子係平均粒徑較佳為10μm以下、平均粒徑 更佳為7μm以下、再更佳5μm以下、特佳4μm以下。另一方面，由得到良好之熱傳導性及良好之流動性的觀點而言，平均粒徑為較佳為0.1μm。
本發明之凝集BN粒子之平均粒徑例如可將其分散於適當溶劑中，藉堀場製作所公司製雷射繞射/散射式粒度分佈測定裝置LA-920所測定。由所得之粒度分佈可求得凝集BN粒子之平均粒徑。
於此所謂平均粒徑，係體積基準之平均粒徑。關於組成物中之凝集BN粒子之平均粒徑，亦可同樣地將其分散於適當溶劑中，藉與上述相同之裝置所測定。
本發明之凝集BN粒子通常係總細孔容積為2.15cm3/g以下。藉由減小總細孔容積，則凝集BN粒子內變得緻密，而可減少阻礙熱傳導的境界面，可得到熱傳導性更高的凝集BN粒子。
凝集BN粒子之總細孔容積通常為2.15cm3/g以下，較佳0.3cm3/g以上且2.00cm3/g以上，更佳0.5cm3/g以上且1.95cm3/g以下。又，凝集BN粒子之比表面積通常為20m2/g以上、較佳20m2/g以上且50m2/g以下、更佳25m2/g以上且30m2/g以下。
尚且，凝集BN粉末之總細孔容積可藉水銀壓入法進行測定，比表面積可藉BET1點法(吸附氣體：氮)進行測定。
凝集BN粉末之總細孔容積及比表面積具體而言可依後述實施例之項目所記載之方法進行測定。
本發明之凝集BN粒子較佳為球狀。本發明中所謂「球狀」，係指將後述原料BN粉末凝集並造粒成縱橫比(長徑與短徑之比)為1以上且2以下、較佳為1以上且1.5以上之形狀的粒子，並非一次粒子。亦即，本發明中，所謂「球狀」或「球形」，係表示縱橫比為1以上且2以下 者。又，此縱橫比較佳為1以上且1.5以下。所造粒之凝集BN粒子之縱橫比係由掃描型電子顯微鏡(SEM)所拍攝之影像中任意選擇200個以上粒子，分別求取長徑與短徑之比並算出平均值而決定。
尚且，由造粒所得之造粒粒子的粒徑，在加熱處理後作成本發明之凝集BN粒子，為了使較佳之體積基準之最大粒徑之範圍成為0.1~25μm，體積基準之平均粒徑D50較佳為2~20μm、特佳5~10μm。於此，造粒粒子之體積基準之平均粒徑D50可例如藉日機裝公司製「MICROTRAC HRA」進行測定。
尚且，凝集BN粒子係有在剛製造後所得粒子進一步凝集而未能滿足上述粒徑範圍的情形。因此，凝集BN粒子較佳係粉碎為滿足上述粒徑範圍而使用。
凝集BN粒子之粉碎方法並無特別限定，可應用與氧化鋯珠球等之粉碎用介質一起攪拌混合的方法、或噴流噴射等之習知公知的粉碎方法。
在使本發明之凝集BN粒子含於組成物中而使用的情形，凝集BN粒子可單獨使用1種，亦可將物性不同之凝集BN粒子之2種以上任意組合而使用，進而亦可併用本發明之特定結晶BN粒子。
例如，亦可使用平均粒徑相異之2種以上之凝集BN粒子。亦即，藉由併用平均粒徑較小之例如0.1~2μm、較佳0.2~1.5μm之凝集BN粒子，與平均粒徑較大之例如1~5μm、較佳1~3μm之凝集BN粒子，將平均粒徑較大之凝集BN粒子彼此的熱傳導路徑，藉由平均粒徑較小之凝集BN粒子所連繫，則相較於僅使用同一平均粒徑者的情形，可進行高填充、得到更高之熱傳導性。
此時，由熱傳導路徑之形成方面而言，較佳係將平均粒徑較小之 凝集BN粒子與平均粒徑較大之凝集BN粒子依重量比為10：1~1：10之比例所使用。
另外，在使用凝集BN粒子作為含有後述樹脂(A)之組成物中所使用的填充材(B)時，為了提高於樹脂(A)或塗佈液中的分散性，亦可適當進行表面處理。
<凝集BN粒子之製造方法>
本發明中，作為製造凝集BN粒子的方法，並無限制，特佳係將成為原料之氮化硼(以下有時與將其經粉碎者一起稱為原料BN粉末)藉粉碎步驟進行粉碎後，於造粒步驟使其凝集而進行造粒，進而經過進行加熱處理的加熱步驟。更具體而言，較佳係使原料BN粉末暫時分散於媒體中而作成原料BN粉末之漿料(以下有時稱為「BN漿料」)後，施行粉碎處理，使用其後所得之漿料而造粒為球形粒子，為了進行所造粒之凝集BN造粒粒子之結晶化而施行加熱處理。
(原料BN粉末)
本發明中，作為製造凝集BN粒子時之成為原料的氮化硼(原料BN粉末)，可無限制地使用市售之h-BN、市售之α及β-BN、藉由硼化合物與氨之還原氮化法所製作的BN、由硼化合物與三聚氰胺等之含氮化合物所合成的BN、由硼氫鈉與氯化銨所製作之BN等，特佳係使用h-BN。
由h-BN結晶成長的觀點而言，較佳係於成為原料之h-BN等之原料BN粉末中存在某程度的氧，本發明之凝集BN粒子中，作為原料BN粉末，較佳係使用總氧含量為1重量%以上且10重量%以下者，更佳係總氧含量為3重量%以上且10重量%以下，再更佳係總氧含量為3重量%以上且9重量%以下。
總氧含量為上述範圍內的原料BN粉末，由於一次粒徑較小、結晶未發達者較多，故藉由加熱處理容易使結晶成長。本發明中，較佳係藉由對藉造粒使原料BN粉末凝集之凝集BN粒子進行加熱處理，使BN結晶成長，但藉由使用上述總氧含量之範圍的原料BN粉末，可使BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式於法線方法上成長，亦即使BN一次粒子於凝集BN粒子表面配置成放射狀。
原料BN粉末之總氧含量為未滿上述下限時，由於原料BN粉末本身之純度、結晶性佳，故C面之結晶成長變得不足，於凝集BN粒子表面，BN一次粒子無法配置成放射狀；相反地若超過上述上限，則加熱處理後亦成為氧含量較高之狀態，在使用作為組成物之填充材(B)時，無法達到高熱傳導化，故不佳。
然而，在將此種凝集BN粒子使用作為組成物之熱傳導性填充材(B)而形成層間填充層時，由於層間填充層中，h-BN之高熱傳導面(C面)經由a軸接觸而容易形成熱傳導路徑，故於層間填充層之厚度方向上亦可得到高熱傳導性。
作為將原料BN粉末之總氧含量調製為上述範圍的方法，可舉例如使BN合成時之合成溫度為1800℃以下之低溫進行的方法等。
另外，作為總氧含量為上述較佳範圍之原料BN粉末，亦可使用市售物，可舉例如日新REFRATECH公司製之h-BN「ABN」或MARUKA公司製之h-BN「AP170S」等。
尚且，本發明中所使用之原料BN粉末之氧含量，若藉由惰性氣體熔解-紅外線吸收法、使用HORIBA製氧．氮分析計進行測定。
另外，原料BN粉末較佳係滿足下述(1)及/或(2)。
(1)總細孔容積為1.0cm3/g以下
(2)比表面積為20m2/g以上
藉由使總細孔容積為1.0cm3/g以下，則在為了使原料BN粉末變得緻密而使用作為構成凝集BN粒子之一次粒子時，可進行球形度高之造粒。又，藉由使比表面積為20m2/g以上，則可減小造粒之球形化時所使用之BN漿料中之分散粒徑，故較佳。
通常，原料BN粉末之總細孔容積為1.0cm3/g以下，較佳為0.3cm3/g以上且1.0cm3/g以下，更佳0.5cm3/g以上且1.0cm3/g以下。又，通常，原料BN粉末之比表面積為20m2/g以上，較佳為20m2/g以上且500m2/g以下，更佳50m2/g以上且200m2/g以下。
尚且，原料BN粉末之總細孔容積可藉水銀壓入法所測定，比表面積可藉由BET1點法(吸著氣體：氮)所測定。
原料BN粉末之總細孔容積及比表面積，具體而言係依後述實施例之項目所記載之方法進行測定。
另外，上述原料BN粉末中，為了使本發明之凝集BN粒子具有既定之微晶尺寸，特佳係使用La為300[Å]以上，Lc為250[Å]以上，Lc/La為0.8~1.0者。
(BN漿料之調製)
作為BN漿料之調製中所使用的媒體，並無特別限制，可使用水及/或各種有機溶媒，但由噴霧乾燥之容易度、裝置之簡單化等觀點而言，較佳係使用水(純水)。
水之使用量若過多，則噴霧乾燥時之負荷增大，若過少，則均勻分散變得困難，故相對於原料BN粉末，較佳係設為1~20重量倍、特佳1~10重量倍。
(界面活性劑)
BN漿料係由抑制後述之粉碎處理時之漿料的黏度上升、與BN粒子之分散穩定性(凝集抑制)的觀點而言，亦可添加各種之界面活性劑。
作為界面活性劑，可使用陰離子系界面活性劑、陽離子系界面活性劑、非離子性界面活性劑等，此等可單獨使用1種，亦可混合2種以上使用。
於BN漿料中添加界面活性劑而使用時，較佳係依BN漿料之界面活性劑濃度成為0.1重量%以上且10重量%以下、特佳0.5重量%以上且5重量%以下之比例而使用。藉由使BN漿料之濃度為上述下限以下，則可充分獲得添加界面活性劑所造成之上述效果，而且，藉由為上述上限以下，則在調製原料BN粉末含量石之BN漿料後，進行造粒、進而施行加熱處理時，可減小殘存碳的影響。
尚且，界面活性劑可於以下之粉碎處理前進行添加，亦可於粉碎處理後添加。
(黏結劑)
BN漿料係為了將原料BN粉末有效地造粒為凝集粒子，較佳係含有黏結劑。黏結劑原本之作用在於將粒子彼此間不具接黏性之原料BN粉末牢固地接合，使造粒粒子之形狀穩定化。
作為BN漿料中所使用之黏結劑，若為可提高BN粒子彼此間之接黏性者即可，本發明中，由於造粒粒子係於凝集化後進行加熱處理，故較佳係於對此加熱處理中之高溫條件具有耐熱性。
作為此種黏結劑，較佳為金屬氧化物，具體而言，較佳係使用氧化鋁、氧化鎂、氧化銦、氧化釔、氧化鈣、氧化矽、氧化硼、氧化鈰、氧化鋯、氧化鈦等。此等之中，由作為氧化物之熱傳導性與耐熱性、結合BN粒子彼此間之結合力等觀點而言，較佳為氧化鋁、氧化釔。 又，黏結劑亦可使用氧化鋁溶膠般之液狀黏結劑。
此種黏結劑可單獨使用1種，亦可混合2種以上而使用。
黏結劑之使用量(在液狀黏結劑之情況，係指作為固形份的使用量)，係相對於BN漿料中之原料BN粉末，較佳為1重量%以上且30重量%以下，更佳1重量%以上且20重量%以下，再更佳5重量%以上且20重量%以上。在黏結劑之使用量未滿上述下限的情況，由於使BN彼此黏結的效果變小，故有造粒粒子無法確保造粒後之形狀之虞，若超過上述上限，則造粒粒子中之BN含量變少，不僅影響到結晶成長，在使用作為熱傳導性之填充材時，有熱傳導率改善效果變小之虞。
(粉碎處理)
BN漿料係可直接供於噴霧乾燥之造粒步驟中，但較佳係在造粒前，將漿料中之原料BN粉末之BN粒子進行粉碎處理予以細微化，藉由將BN粒子粉碎而細微化，可使凝集化順利地進行。
亦即，雖與原料BN粉末之粒徑亦有關，在使原料BN粉末直接分散於媒體中時，由於BN粒子呈平板狀，故有於凝集化之步驟中未受造粒之粒子變多的傾向，但藉由BN粒子之細微化，可進行有效之凝集化。
於粉碎時，可使用珠磨、球磨、柱磨等通常之粉碎方法，由作為漿料可大量地進行循環粉碎並容易控制粉碎粒徑的觀點而言，較佳為珠磨。又，藉由以粉碎將BN粒子微粒子化，BN漿料之黏度上升，故可依更高濃度、高黏度進行粉碎，此外，由於隨著粉碎進行、亦發生BN漿料之溫度上升，故較佳係具備冷卻系統。作為此種裝置，可舉例如FREUND TURBO公司製「OB MILL」、ASHIZAWA FINETECH公司製「STAR MILL MZ系列」等。
本發明中，藉由粉碎，依將BN漿料中之原料BN粉末之體積基準之平均粒徑D50，較佳係相對於造粒為球形時之BN造粒粒子之體積基準之平均粒徑D50為1/5以下之粒徑的方式進行粉碎。若BN漿料中之原料BN粉末之體積基準之平均粒徑D50大於造粒粒子之體積基準之平均粒徑D50的1/5，則由於BN粒子為平板狀，故於球形化之造粒步驟中未被造粒為球形的粒子變多，故不佳。且造粒後之粒子強度亦變弱，故不佳。在考慮到粉碎效果與粉碎之負荷時，供於造粒之BN漿料中之原料BN粉末的體積基準之平均粒徑D50，較佳係將該BN漿料進行造粒而得之造粒粒子之體積基準之平均粒徑D50的1/100~1/5，特佳1/50~1/5。
尚且，BN漿料中之原料BN粉末之體積基準之平均粒徑D50，可例如將粉碎後之漿料分散於適當之溶劑中，藉雷射繞射/散射式粒度分佈測定裝置(堀場製作所公司製「LA-920」、日機裝公司製MICROTRAC「FRA」、「HRA」、「MT3300EX」、「UPA-EX150」、日機裝公司製NANOTRAC「UPA-EX150」等)所測定。
BN漿料中之原料BN粉末之體積基準之平均粒徑D50，具體而言係由後述實施例之項目中記載的方法所測定。
(造粒(凝集化))
在由BN漿料獲得屬於凝集BN粒子之造粒粒子時，適合使用噴霧乾燥法。噴霧乾燥法中，藉由成為原料之漿料的濃度、導入至裝置之每單位時間的送液量與將所送液之漿料進行噴霧時之壓空壓力及壓空量，可製造所需尺寸的造粒粒子，亦可得到球狀之造粒粒子。球狀化時所使用之噴霧乾燥裝置並無限制，為了作成更微小尺寸之球狀BN造粒粒子，最佳為四流體噴嘴所進行者。作為此種裝置，可舉例如藤 崎電機公司製「MDL-050M」等。
(加熱處理)
由上述造粒所得之氮化硼之造粒粒子，較佳係進一步於非氧化性氣體環境下進行加熱處理。
於此，所謂非氧化性氣體環境，係指氮氣、氦氣、氬氣、氨氣、氫氣、甲烷氣體、丙烷氣體、一氧化碳氣體等之環境。根據於此所使用之環境氣體的種類，凝集BN粒子之結晶化速度亦有差異，例如在氬氣時，結晶化之速度變慢、加熱處理時間需要長時間。為了依短時間進行結晶化，特佳係使用氮氣、或併用了氮氣與其他氣體的混合氣體。適當選擇此加熱處理的條件，對於使本發明之凝集BN粒子之比表面積或總細孔容積成為特定範圍，且於表面上配置平均粒徑1μm以下之氮化硼一次粒子、而且配置成放射狀而言，非常重要。
加熱處理溫度通常為1300~2100℃、較佳1300~2000℃、更佳1400~2000℃。加熱處理溫度為未滿下述下限時，h-BN之結晶化變得不足，殘留結晶化未發達之非晶型部分，作成熱傳導性填充材時之熱傳導率改善效果變小。加熱處理溫度若超過上述上限，則所添加之黏結劑成分發生熔融．分解而凝集BN粒子彼此凝集，有無法保有原本之形狀、發生BN之分解等之虞。
加熱處理時間通常為1小時以上且50小時以下，較佳為3~40小時，特佳5~30小時。再者，上述加熱處理時間內，特佳係依1300~1500℃導入3小時以上之保持步驟。藉由依上述溫度範圍導入保持步驟，由於可更有效率地進行h-BN之結晶化，故有可降低上限之加熱處理溫度的傾向。在加熱處理時間未滿上述下限的情況，有結晶化變得不足之虞，若超過上述上限，則有h-BN部分分解之虞。
加熱處理較佳係於非氧化性氣體環境下進行，因此，較佳係通常藉真空泵使爐內抽空並加熱，進行排氣至加熱所伴隨之分解氣體等變少為止後，一邊導入非氧化性氣體，一邊繼續進行加熱使其升溫至所需溫度。作為藉真空泵進行排氣之溫度的基準，較佳係依30~60分鐘左右進行加熱升溫至200~500℃、例如400℃附近後，一邊保持於該溫度、一邊繼續排氣30~60分鐘左右，進行真空抽引至真空度成為10Pa以下，其後，導入非氧化性氣體。非氧化性氣體之流量係視爐尺寸而異，通常若為2L(升)/分鐘以上則無問題。其後，一邊導入非氧化性氣體、一邊依50~100℃/小時升溫至1500℃左右，其後，由1500℃依30~50℃/小時升溫至既定之加熱處理溫度。於此溫度下於上述加熱處理時間中進行了加熱後，較佳係依5~50℃/分鐘左右降溫至室溫。
例如，藉由在氮氣環境下進行加熱處理時設為依2000℃左右、5小時左右之條件，在氬氣環境下時設為依2000℃左右、5~15小時左右之條件，則可使BN結晶之一次粒子成為平均1μm以下，成長為放射狀。
施行加熱處理之燒成爐，可舉例如回熱爐、管狀爐、環境爐等之批次式爐，或旋窯、螺旋運送爐、隧道式爐、帶狀爐、推式爐、直立式連續爐，配合目的而分別使用。
(分級)
上述加熱處理後之凝集BN粒子，為了減小平均粒徑、而且抑制調配於組成物中時的黏度上升，故較佳係進行分級處理。此分級通常係於造粒粒子之加熱處理後進行，但亦可對加熱處理前之造粒粒子進行，其後供於加熱處理。
分級可為濕式或乾式之任一種，由抑制h-BN之分解的觀點而言， 較佳為乾式之分級。尤其是在黏結劑具有水溶性的情況，特佳係使用乾式分級。
在乾式之分級時，除了由篩所進行之分級之外，亦有藉離心力與流體阻力之差進行分級的風力分級等，由分級精度的觀點而言，較佳為風力分級，可使用迴旋氣流式分級機、強制旋渦離心式分級機、半自由旋渦離心式分級機等之分級機而進行。此等之中，可配合所分級之粒子粒徑分別適當使用，例如對次微米至單微米領域之較小微粒子進行分級時，使用迴旋氣流式分級機，對其以上之較大粒子進行分級時，使用半自由旋渦離心式分級機等。
本發明中，為了得到體積基準之最大粒徑為0.1μm以上且25μm以下之凝集BN粒子，較佳係使用迴旋氣流式分級機進行分級操作。
<凝集BN粒子>
如上述，藉由將原料BN粉末進行造粒、並進行加熱處理，則可在保持其形狀之下使h-BN之結晶成長，使比表面積或總細孔容積成為特定範圍，並可於表面配置平均粒徑1μm以下之氮化硼一次粒子，而且，於凝集粒子表面，使平均1μm以下之BN一次粒子由凝集粒子之中心側起朝表面側配置成放射狀、亦即使BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式配置於法線方向上，可調製成本發明之凝集BN粒子。
尚且，於本發明之凝集BN粒子表面，存在平均粒徑1μm以下之氮化硼一次粒子，「平均1μm以下之BN一次粒子」之「1μm以下」，係指相當於該BN一次粒子之粒徑的長度。該BN一次粒子之結晶尺寸，可使用掃描型電子顯微鏡(SEM)，依2萬倍左右之倍率觀察，計測在表面所觀察到之任意100個粒子之最大粒子尺寸，求得平均值而測定。
本發明之凝集BN粒子中，結晶如何成長係在作為高熱傳導性填充材之用途方面的重要要件。
本發明之凝集BN粒子，係藉由此種特異之結晶成長，而發揮熱傳導性之異向性、與樹脂間之混練性、耐崩壞性優越的效果。
本發明之凝集BN粒子的最大特徵在於，表面被平均1μm以下之細微之BN一次結晶所被覆，再者係比表面積及總細孔容積為特定範圍。又，平均1μm以下之細微之BN一次結晶，係配置成放射狀，亦即使BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式配置於方線方向上。
作為其調製方法之一手段，重要的是於原料中使用總氧含量1重量%以上且10重量%以下之h-BN粉末，進而將加熱處理條件控制如上述。
亦即，以總氧含量為未滿1重量%之h-BN粉末作為原料而製作之凝集BN粒子與本發明之凝集BN粒子，係凝集BN表面之結晶構造完全相異，h-BN之結晶成長方向亦完全不同。
具體而言，本發明之凝集BN粒子中，h-BN之結晶成長方向係相對於球由中心成長為放射狀，亦即BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式於法線方向上成長；相對於此，在使用總氧含量未滿1重量%之原料h-BN時，於圓周方向上進行結晶成長(使h-BN之C面朝外而成長)，其結果比表面積小，總細孔容積亦較大。
再者，在將本發明之凝集BN作為填充材(B)而調配至組成物中時，若依同一填充量進行比較，則可急遽地改善所形成之層間填充層之厚度方向的熱傳導率。推論此係由於本發明之h-BN中，球表面之細微之h-BN一次粒子之高熱傳導面(C面或002面)係經由a軸彼此間之接觸，而於層間填充層中容易形成有效之熱傳導路徑所致。此種結晶 成長係原料h-BN粉末本身之總氧含量較高，藉由使其由結晶性較低之狀態進行再結晶化而獲得者，在使用總氧含量低、結晶性佳之h-BN原料時，幾乎不引起放射狀之h-BN結晶成長。
另外，藉由使用總氧含量高、結晶性低之原料，可使粉碎時之微粒子化順利進行，並達成造粒之球形度提升，在熱處理後之分級步驟中，亦容易效率佳地分級為體積基準之最大粒徑0.1μm以上且25μm以下之範圍。
另外，本發明之凝集BN粒子，由於將金屬氧化物使用作為黏結劑，作成造粒物時可得到具有較小之細孔容量與較高之整體密度者，故與樹脂之混練性優越，可進行高填充，進而亦防止與樹脂之混練時的崩壞。
如上述，在將使凝集BN粒子中之BN結晶由球狀粒子之中心側起成長為放射狀之、本發明之凝集BN粒子用於組成物中時，藉由來自BN結晶之成長方向的熱傳導路徑的形成，則不僅呈微粒子，亦可得到顯著較高之熱傳導性的改善效果。
再者，使用本發明之凝集BN粒子所形成的層間填充層，亦大幅改善了習知以來即為課題的熱傳導性的異向性。
(凝集BN粒子之結晶構造、其表面及平均粒徑)
本發明中，凝集BN粒子之結晶構造可藉由粉末X射線繞射測定而確認，凝集BN粒子之表面之BN一次粒子之結晶的成長方向，可藉由掃描型電子顯微鏡(SEM)予以確認。
另外，凝集BN之平均粒徑，可對於在含有六甲基磷酸鈉作為分散穩定劑之純水媒體中使凝集BN粒子分散而成的試料，使用雷射繞射/散射式粒度分佈測定裝置等進行測定。
(體積基準之最大粒徑)
本發明之凝集BN粒子，較佳係體積基準之最大粒徑為0.1~25μm、更佳2~10μm、特佳4~10μm之範圍。藉由使凝集BN粒子之最大粒徑為上述上限以下，則在使用作為組成物之填充材(B)時，可形成無表面粗糙的層間填充層。又，亦可形成較薄之層間填充層，可適合用於薄膜塗佈，並可提高其厚度方向的熱傳導性。在最大粒徑小於上述下限之凝集BN時，作為熱傳導性填充材之熱傳導性提升效果變小。
尚且，對於本發明之凝集BN粒子之體積基準之平均粒徑D50並無特別限制，但基於與上述積體基準之最大粒徑之值相同的理由，較佳為1~20μm、特佳1~10μm。
尤其是作為填充材(B)之凝集BN粒子，較佳係平均粒徑D50為0.1~5μm，且最大粒徑為10μm以下，更佳係平均粒徑D50為0.3~4.5μm，且最大粒徑為9.5μm以下，再更佳係平均粒徑D50為0.5~4μm，且最大粒徑為9μm以下。
一般而言，三維積體電路係為了更進一步之高速化．高容量化等之性能提升，而使各晶片間之距離小至晶片間距離10~50μm左右，但在晶片間之層間填充層中，所調配之填充材之最大粒徑較佳係層間填充層之厚度的1/2至1/3以下。
若填充材(B)之最大粒徑超過10μm，則填充材(B)突出至硬化後之層間填充層表面，而有層間填充層之表面形狀惡化的傾向。
另一方面，若填充材(B)之粒徑過小，則必要之熱傳導路徑數增加，晶片間之厚度方向上之由下至下的連繫機率變小，即使與熱傳導性高之樹脂(A)組合，層間填充層於厚度方向上的熱傳導率仍不足。
另外，若填充材(B)之粒徑過小，則填充材(B)容易凝集，在組成物 或塗佈液中之分散性變差。藉由將填充材(B)之平均粒徑D50設為上述範圍，則抑制填充材彼此之過度凝集，可得到於厚度方向上具有充分之熱傳導率的層間填充層。
尚且，本發明之凝集BN粒子之體積基準之最大粒徑及平均粒徑D50，具體係依後述實施例之項目所記載的方法進行測定。
(總細孔容積)
本發明之凝集BN粒子中，總細孔容積係在層間填充層用之組成物之作為熱傳導性填充材(B)的用途方面屬於重要因子。
本發明之凝集BN粒子之總細孔容積，通常為2.15cm3/g以下。若凝集BN粒子之總細孔容積大於2.15cm3/g，則在作為組成物中之填充材(B)時，則樹脂被捲入至細孔中，外觀之黏度上升，組成物之成形加工或塗佈液之塗佈變得困難。
凝集BN粒子之總細孔容積的下限值並無特別限制，通常為0.1cm3/g。
尚且，凝集BN之總細孔容積可藉水銀壓入法所測定，具體而言係依後述實施例之項目中記載之方法進行測定。
(整體密度)
本發明之凝集BN粒子中，整體密度亦在層間填充層用之組成物之作為填充材(B)的用途方面屬於重要因子。
在將本發明之凝集BN粒子使用作為填充材(B)時，為了使樹脂之捲入成為最小限度，凝集BN之整體密度以較大者為佳，通常為0.3g/cm3以上、較佳0.35g/cm3以上、更佳0.4g/cm3以上。
在凝集BN粒子之整體密度未滿0.3g/cm3時，粉末之處理性明顯惡化，故不佳。關於凝集BN粒子之整體密度的上限並無特別限制， 通常為0.95g/cm3以下。
尚且，凝集BN之整體密度可使用測定粉體之整體密度的一般裝置或方法所求得，具體而言係依後述實施例之項目記載的方法進行測定。
尚且，上述凝集BN粒子可單獨使用1種，亦可將物性相異之凝集BN粒子之2種以上任意組合使用。
例如，可使用平均粒徑D50相異之2種以上之凝集BN粒子。亦即，藉由併用平均粒徑D50較小之例如0.1~2μm、較佳0.2~1.5μm的凝集BN粒子，與平均粒徑D50較大之例如1~5μm、較佳1~3μm的凝集BN粒子，則因藉平均粒徑D50較小凝集BN粒子連接平均粒徑D50較大之凝集BN粒子彼此間的熱傳導路徑，故相較於僅使用同一平均粒徑D50者的情況，可進行高填充，而可得到更高之熱傳導性。
此時，由熱傳導路徑之形成而言，較佳係將平均粒徑D50較小之凝集BN粒子與平均粒徑D50較大之凝集BN粒子依重量比10：1~1：10之比例使用。
另外，作為填充材(B)之凝集BN粒子，係為了提高於樹脂(A)或塗佈液中的分散性，亦可適當進行表面處理。
[三維積體電路用之組成物]
本發明之三維積體電路用之組成物，係含有120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)、與本發明之BN粒子而成者。
以下，針對各成分進行說明。
[樹脂(A)]
作為可適合應用本發明組成物之三維積體電路，係具有將形成了半導體裝置層之半導體基板積層了至少2層以上的半導體基板積層 體，於該半導體基板間，具有含本發明組成物的層。通常，為了將半導體基板彼此進行電氣性接合，係在於半導體基板之間形成含有本發明組成物的層而予以暫時接合後，實施實際接合。在實施實際接合時，為了藉加熱使樹脂熔融而連接電氣接合端子，樹脂(A)必須是120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下，較佳係該熔融黏度為20Pa．s以下。亦即，藉由使樹脂(A)之120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下，則在焊錫凸塊熔解前使樹脂熔融而大幅減低黏度，故可藉加熱壓製進行焊錫凸塊與連接盤端子的暫時接合，進而將形成於半導體基板上之填充材膜依200℃以上進行加壓接黏，藉此使焊錫凸塊熔解而可實現與連接盤間之電氣連接。本發明中之熔融黏度的測定方法，並不限制為特定方法，可使用Anton-Paar Japan公司製之黏彈性測定裝置Physica MCR301測定熔融黏度(平行板動態黏度)。
具體而言，例如可由屬於測定對象之樹脂餾除溶媒而得到固形物，其後，對此固形物進行壓製成形，成形為厚約1mm的板狀樣本。將該樣本載置於平行板盤與平行板( 25mm)之間，進行平行板動態黏度測定。作為測定條件，較佳係使用對上述樣本賦予正弦波應變20%，該應變之角頻率設為10rad/sec，在依1分鐘為3℃之比例進行升溫的過程中，於40~200℃測定黏度。
尚且，此時，藉由添加後述之硬化劑(C)，則在B階段化或焊錫凸塊之接合溫度下不發生硬化，於焊錫凸塊之接合後具有短時間之流動性後進行凝膠化，其後進行完全硬化，藉此可形成穩定之層間填充層，而較佳。
另外，在半導體基板上形成組成物的薄膜後，為了在暫時接合前進行與接合對象之基板間的對位，樹脂(A)較佳係50℃下之熔融黏度為 2000Pa．s以上，此熔融黏度更佳為1000Pa．s以下。亦即，藉由使樹脂(A)之50℃下之熔融黏度為2000Pa．s以上，則減低B階段化後之室溫下的黏性，藉由實現基板之重疊時的對位，則使三維積體電路之積層基板彼此間的暫時接合變得容易。
另外，為了在與作為層間填充材之填充材(B)間的複合化得到高熱傳導性，本發明組成物中之樹脂(A)的熱傳導率較佳為0.2W/mK以上，特佳0.22W/mK以上。
尚且，本發明中，樹脂(A)之熱傳導率係在構成本發明組成物的成分中，僅使用樹脂(A)與有機溶媒，進而在塗佈液中含有硬化劑(C)的情況下使用硬化劑(C)，依通常之硬化方法形成硬化膜，對此硬化膜依以下方法所求得之值。
<樹脂之熱傳導率的測定方法>
針對樹脂之硬化膜，使用以下裝置，測定熱擴散率、比重、及比熱，藉由將此3個測定值相乘而求得熱傳導率。
(1)熱擴散率：ai-Phase公司製「ai-Phase-Mobile 1μ」
(2)比重：Mettler-Toledo「平秤SX-204」(使用固體比重測定套組)
(3)比熱：Seiko Instruments公司製「DSC320/6200」
本發明中，作為組成物之成為基質的樹脂(A)，可無限制地使用硬化性樹脂、熱可塑性樹脂之任一種。作為硬化性樹脂，可為熱硬化性、光硬化性、電子束硬化性等之可交聯者，由耐熱性、吸水性、尺寸穩定性等觀點而言，較佳係使用熱硬化性樹脂。
作為熱硬化性樹脂，可舉例如聚醯亞胺樹脂、聚胺基雙馬來醯亞胺(聚雙馬來醯亞胺)樹脂、雙馬來醯亞胺、三樹脂、聚醯胺醯亞胺樹脂、聚醚醯亞胺樹脂等之聚醯亞胺系樹脂；聚苯并唑系樹脂；聚醚 樹脂；苯并環丁烯樹脂；聚矽氧系樹脂；酚系環氧樹脂、醇系環氧樹脂等之環氧系樹脂等。又，亦可為成為此等樹脂原料之對應的單體、二元體、寡聚物等之前驅物。
其中，由於高熱傳導性、對有機溶媒之溶解性亦良好，故較佳為環氧樹脂或聚醚樹脂、苯并環丁烯樹脂、聚矽氧樹脂，特佳為環氧樹脂。
此等樹脂可單獨使用1種，亦可將2種以上依任意的組合及比率併用。
另外，本發明組成物中所使用之樹脂，亦可為熱可塑性樹脂。作為熱可塑性樹脂，可舉例如聚乙烯樹脂、聚丙烯樹脂、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物樹脂等之聚烯烴樹脂，聚對苯二甲酸乙二酯樹脂、聚對苯二甲酸丁二酯樹脂、液晶聚酯樹脂等之聚酯樹脂，聚氯乙烯樹脂、苯氧基樹脂、丙烯酸樹脂、聚碳酸酯樹脂、聚苯硫樹脂、聚伸苯基醚樹脂、聚醯胺樹脂、聚醯胺醯亞胺樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚醚醯胺醯亞胺樹脂、聚醚醯胺樹脂及聚醚醯亞胺樹脂等。又，亦包括此等之嵌段共聚物、接枝共聚物等之共聚物。此等可單獨使用1種，亦可混合2種以上使用。
另外，樹脂可為橡膠成分，作為橡膠成分，可舉例如天然橡膠、聚異戊二烯橡膠、苯乙烯-丁二烯共聚物橡膠、聚丁二烯橡膠、乙烯-丙烯共聚物橡膠、乙烯-丙烯-二烯共聚物橡膠、丁二烯-丙烯腈共聚物橡膠、異丁烯-異戊二烯共聚物橡膠、氯平橡膠、矽橡膠、氟橡膠、氯．碸化聚乙烯、聚胺基甲酸酯橡膠等。此等可單獨使用1種，亦可混合2種以上使用。
<環氧樹脂>
以下，針對作為樹脂(A)之較佳環氧樹脂(以下有時稱為環氧樹脂(a))進行說明。
環氧樹脂(a)亦可為僅具有1種構造單位的環氧樹脂，若滿足上述熔融黏度條件，則亦可組合構造單位相異的複數之環氧樹脂。
為了兼具塗膜性或成膜性與接黏性，減低接合時之空隙而得到高熱傳導性的硬化膜，同時於接合時得到膜之流動性，較佳係至少含有後述之苯氧基樹脂作為環氧樹脂(a)。所謂苯氧基樹脂，通常係指使表鹵醇與2元酚化合物反應所得的樹脂，或使2價之環氧化合物與2元酚化合物反應所得的樹脂。
本發明中，此等之中，較佳係於分子內具有2種以上環氧基之環氧樹脂(以下有時稱為「環氧樹脂(a1)」)，環氧樹脂(a1)係由熔融黏度控制的觀點而言，其環氧當量較佳係100g/當量以上且未滿650g/當量，更佳係125g/當量以上且600g/當量以下。在環氧當量下於100時，有耐熱性劣化的傾向，若大於650，則有環氧樹脂之熔點變高、作業性降低的傾向。
環氧樹脂(a1)可舉例如雙酚A型環氧樹脂、雙酚F型環氧樹脂、萘型環氧樹脂、酚酚醛清漆型環氧樹脂、甲酚酚醛清漆型環氧樹脂、酚芳烷基型環氧樹脂、聯苯型環氧樹脂、三苯基甲烷型環氧樹脂、二環戊二烯型環氧樹脂、環氧丙基酯型環氧樹脂、環氧丙基胺型環氧樹脂、多官能酚型環氧樹脂等之各種環氧樹脂。
由熔融黏度控制的觀點而言，環氧樹脂(a1)之重量平均分子量較佳為100~5000，更佳200~2000。重量平均分子量低於100者，有耐熱性劣化的傾向，高於5000時，則環氧樹脂之熔點變高、有作業性降低的傾向。
如上述般，環氧樹脂(a)亦可含有構造單位相異之複數的環氧樹脂。作為上述環氧樹脂(a1)以外之環氧樹脂，特佳係屬於環氧當量為650g/當量以上且30000g/當量以下之環氧樹脂的苯氧基樹脂(以下有時稱為環氧樹脂(a2))。
作為環氧樹脂(a2)，較佳係具有選自由萘骨架、茀骨架、聯苯骨架、蒽骨架、芘骨架、骨架、金鋼烷骨架及二環戊二烯骨架所組成群之至少一種骨架的苯氧基樹脂。其中，由進一步提高耐熱性的觀點而言，特佳係具有茀骨架及/或聯苯骨架的苯氧基樹脂。
本發明中，此等之中，特佳為重量平均分子量10000以上之高分子量環氧樹脂的苯氧基樹脂。
於此，所謂重量平均分子量，係指由凝膠滲透層析法(GPC，Gel Permeation Chromatography)所測定之聚苯乙烯換算的值。
環氧樹脂(a1)及環氧樹脂(a2)分別可單獨使用1種，亦可將2種以上依任意組合及比率予以併用。
另外，環氧樹脂(a)係在不損及其目的的範圍內，亦可含有環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)以外之環氧樹脂(以下稱為「其他之環氧樹脂」)。其他之環氧樹脂的含量，係相對於環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)之合計，通常為50重量%以下、較佳30重量%以下。
本發明中，含有環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)之總環氧樹脂(a)中，環氧樹脂(a1)的比例係在將其合計設為100重量%時，較佳為5~95重量%、更佳10~90重量%、再更佳20~80重量%。又，所謂「含有環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)之總環氧樹脂(a)」，係在環氧樹脂(a)僅為環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)的情況，意指環氧樹脂(a1)與環氧樹脂(a2)的合計；在進一步含有其他之環氧樹脂的情況，則意指環氧樹脂(a1)、環氧 樹脂(a2)及其他之環氧樹脂的合計。
藉由使環氧樹脂(a)中之環氧樹脂(a1)的比例為上述下限以上，則可充分獲得調配環氧樹脂(a1)所造成的流動性提升效果，可得到所需之流動性及高熱傳導性。藉由使環氧樹脂(a2)中之環氧樹脂(a)的比例為上述上限以下且環氧樹脂(a2)尤其為10重量%以上，則發揮環氧樹脂(a2)之調配效果，成為硬化性、硬化膜之物性充足者。
另外，本發明中所使用之環氧樹脂(a)，較佳係含有環氧當量為100g/當量以上且未滿650g/當量的環氧樹脂(a1)，更佳係含有環氧當量為650g/當量以上且30000g/當量以下的環氧樹脂(a2)。
上述環氧樹脂(a1)可有效用於對組成物賦予流重性，且屬於適合使多官能酚性環氧樹脂具有硬化性或交聯性的成分；環氧樹脂(a2)則適合用於改善膜物性。
另外，為了使組成物低黏度化、使填充材(B)可高充填，並提高熱傳導性，較佳係使用具有雙酚A/雙酚F構造的環氧樹脂，為了控制由分子之自我配列所得之高次構造而達到組成物的高熱傳導性，較佳係具有液晶原(mesogen)的聯苯構造的環氧樹脂。
[填充材]
本發明之三維積體電路用之組成物，係含有選自本發明之氮化硼粒子、氮化硼凝集粒子、及依特定方法所製造之氮化硼凝集粒子的至少一者作為填充材(B)。
近年來，三維積體電路係為了更進一步的高速化．高容量化等之性能提升，而使各晶片間之距離減小至晶片間距離10~50μm左右，但在晶片間之層間填充層中，所調配之填充材之最大粒徑較佳為層間填充層之厚度的1/3以下左右。
若填充材(B)之最大粒徑超過10μm，則填充材(B)突出至硬化後之層間填充層的表面，而有層間填充層之表面形狀惡化的傾向。
另一方面，若填充材(B)之粒徑過小，則必要之熱傳導路徑數增加、在晶片間之厚度方向由上至下的連接機率變小，即使組合熱傳導性高之樹脂(A)，於層間填充層之厚度方向上的熱傳導率仍不足。
另外，若填充材(B)之粒徑過小，則填充材(B)容易凝集，於組成物或塗佈液中的分散性變差。
本發明中，藉由將使用作為填充材(B)之凝集BN粒子之平均粒徑設為上述範圍，則抑制填充材彼此之過度凝集，可得到具有良好熱傳導率的層間填充層。
{填充材(B)}
作為本發明所使用之填充材(B)，係比表面積為10m2/g以上的氮化硼凝集粒子，可舉例如其表面由平均粒徑0.05μm以上且1μm以下之氮化硼一次粒子所構成的氮化硼凝集粒子；使用特定原料或製造方法所製造之氮化硼凝集粒子；002面之微晶徑(Lc)為450[Å]以上，100面之微晶徑(La)為500[Å]以上，上述微晶徑(Lc)與上述微晶徑(La)滿足下式(i)，氧含量為0.30重量%以下之氮化硼凝集粒子。
0.70≦Lc/La...(i)
本發明之組成物係藉由含有熱傳導率之等向性優越的填充材(B)，而對所形成之層間填充層之厚度方向亦可賦予高熱傳導性，促進半導體基板間之熱傳導而使半導體裝置基板之溫度降低以防止蓄熱，藉此可使半導體裝置穩定地作動。
{其他之填充材(B’)}
進而，在不損及本發明效果的範圍內，本發明之組成物亦可含有 填充材(B)以外之填充材(以下稱為「其他之填充材(B’)」)之1種或2種以上。例如亦可使用本發明之BN粒子以外的熱傳導性填充材。
作為此種熱傳導性填充材，可舉例如熱傳導率為2W/mK以上之無機材料的鋁(Al2O3：熱傳導率30W/mK)、氮化鋁(AlN：熱傳導率260W/mK)、本發明之BN粒子以外之氮化硼(BN：熱傳導率3W/mK(厚度方向)，275W/mK(面內方向))、氮化矽(Si3N4：熱傳導率23W/mK)等。
另外，作為填充材(B’)，除了高熱傳導率以外，由所接黏之裝置的可靠性的觀點而言，較佳係進一步兼具有對氧或水之高溫曝露的穩定性與低介電性。上述無機材料中，作為填充材(B’)，較佳為化學穩定性高之Al2O3、本發明之BN粒子以外的BN，特佳係介電係數較低之本發明之BN粒子以外的氮化硼。
另外，即使並非提升熱傳導性，亦可以黏度調節為目的而添加其他之填充材(B’)，此時，可使用熱傳導率不如上述高、屬於通用之填充材的二氧化矽(SiO2：熱傳導率1.4W/mK)。
其中，其他之填充材(B’)之平均粒徑及最大粒徑必須與填充材(B)為相同範圍。
{含量}
本發明中，填充材(B)之含量係相對於樹脂(A)100重量份，設為40重量份以上且400重量份以下、特佳45~350重量份、更佳50~300重量份。藉由設為此種重量份，於本發明之組成物中，可得到充分之熱傳導性，且可保有能夠形成均一塗膜之程度的黏度。
填充材(B)之含量在未滿上述下限時，有於所形成之層間填充層無法得到充分之熱傳導性的情形，又，若超過上述上限，則組成物或塗佈液的黏度變高，而有發生無法形成均一塗膜等問題的可能性。
尚且，在併用上述其他之填充材(B’)的情形，填充材(B)與上述之填充材(B’)的合計含量，較佳係設為上述上限以下，為了充分得到使用填充材(B)所造成的熱傳導性提升效果，其他之填充材(B’)係相對於與填充材(B)之合計的總填充材，較佳係50重量%以下、特佳40重量%以下，例如設為5~40重量%。
[硬化劑(C)]
本發明之組成物中，視需要亦可含有硬化劑(C)。
本發明所使用之硬化劑(C)，係表示有助於環氧樹脂之環氧基等之、樹脂(A)之交聯基間之交聯反應的物質。
環氧樹脂中，視需要可與環氧樹脂用之硬化劑、硬化促進劑一起使用。
硬化促進劑可配合所使用之樹脂或硬化劑的種類而適當選擇。例如作為上述酸酐系硬化劑用的硬化促進劑，可舉例如三氟硼單乙基胺、2-乙基-4-甲基咪唑、1-異丁基-2-甲基咪唑、2-苯基-4-甲基咪唑。此等可單獨使用1種，亦可混合2種以上使用。此等之硬化促進劑通常係相對於環氧樹脂100重量份，依0.1~5重量份之範圍使用。
作為硬化劑(C)並無特別限制，係配合所使用之熱硬化性樹脂的種類而選擇使用。在熱硬化性樹脂為環氧樹脂的情形，可使用一般已知為環氧樹脂硬化劑的所有物。可舉例如酚系硬化劑、脂肪族胺、聚醚胺、脂環式胺、脂環式胺、芳香族胺等之胺系硬化劑、酸酐系硬化劑、醯胺系硬化劑、3級胺、咪唑及其衍生物、有機膦類、鏻鹽、四苯基硼鹽、有機酸二肼、鹵化硼胺錯合物、聚硫醇系硬化劑、異氰酸酯系硬化劑、嵌段異氰酸酯系硬化劑等。
作為酚系硬化劑的具體例，可例示雙酚A、雙酚F、4,4’-二羥基二 苯基甲烷、4,4’-二羥基二苯基醚、1,4-雙(4-羥基苯氧基)苯、1,3-雙(4-羥基苯氧基)苯、4,4’-二羥基二苯基硫、4,4’-二羥基二苯基酮、4,4’-二羥基二苯基碸、4,4’-二羥基聯苯、2,2’-二羥基聯苯、10-(2,5-二羥基苯基)-10H-9-氧雜-10-磷菲-10-氧化物、酚酚醛清漆、雙酚A酚醛清漆、鄰甲酚酚醛清漆、間甲酚酚醛清漆、對甲酚酚醛清漆、茬酚酚醛清漆、聚對羥基苯乙烯、氫醌、間苯二酚、鄰苯二酚、第三丁基鄰酚苯二酚、第三丁基氫醌、氟單乙醇胺(glycinol)、五倍子酚、第三丁基五倍子酚、烯丙基化五倍子酚、聚烯丙基化五倍子酚、1,2,4-苯三醇、2,3,4-三羥基二苯基酮、1,2-二羥基萘、1,3-二羥基萘、1,4-二羥基萘、1,5-二羥基萘、1,6-二羥基萘、1,7-二羥基萘、1,8-二羥基萘、2,3-二羥基萘、2,4-二羥基萘、2,5-二羥基萘、2,6-二羥基萘、2,7-二羥基萘、2,8-二羥基萘、上述二羥基萘之烯丙基化物或聚烯丙基化物、烯丙基化雙酚A、烯丙基化雙酚F、烯丙基化酚酚醛清漆、烯丙基化五倍子酚等。
作為胺系硬化劑之具體例，作為脂肪族胺類可例示乙二胺、1,3-二胺基丙烷、1,4-二胺基丙烷、六亞甲基二胺、2,5-二甲基六亞甲基二胺、三甲基六亞甲基二胺、二乙三胺、亞胺基雙丙基胺、雙(六亞甲基)三胺、三乙四胺、四乙五胺、五乙六胺、N-羥基乙基乙二胺、四(羥基乙基)乙二胺等。作為聚醚胺類，可例示三乙二醇二胺、二乙二醇二胺、二乙二醇雙(丙基胺)、聚氧丙二胺、聚氧丙三胺類等。作為脂環式胺類，可例示異佛酮二胺、二胺、N-胺基乙基哌、雙(4-胺基-3-甲基環己基)甲烷、雙((胺基甲基)環己烷、3,9-雙(3-胺基丙基)-2,4,8,10-四螺(5,5)十一烷、降烯二胺等。作為芳香族胺類，可例示四氯對茬二胺、間茬二胺、對茬二胺、間苯二胺、鄰苯二胺、對苯二胺、2,4-二胺基苯甲醚、2,4-甲苯二胺、2,4-二胺基二苯基甲烷、4,4’-二胺基二苯基甲烷、 4,4’-二胺基-1,2-二苯基乙烷、2,4-二胺基二苯基碸、4,4’-二胺基二苯基碸、間胺基酚、間胺基苄基胺、苄基二甲基胺、2-二甲基胺基甲基)酚、三乙醇胺、甲基苄基胺、α-(間胺基苯基)乙基脾、α-(對胺基苯基)乙基胺、二胺基二乙基二甲基二苯基甲烷、α,α’-雙(4-胺基苯基)-對二異丙基苯等。
作為酸酐系硬化劑的具體例，可例示十二烯基琥珀酸酐、聚己二酸酐、聚壬二酸酐、聚癸二酸酐、聚(乙基十八烷二酸)酐、聚(苯基十六烷二酸)酐、甲基四氫酞酸酐、甲基六氫酞酸酐、六氫酞酸酐、甲基降烯二酸酐、四氫酞酸酐、三烷基四氫酞酸酐、甲基環己烯二羧酸酐、甲基環己烯四羧酸酐、酞酸酐、偏苯三甲酸酐、苯均四酸酐、二苯基酮四羧酸酐、乙二醇雙三偏苯三甲酸二酐、氯橋酸酐、納迪克酸酐、甲基納迪克酸酐、5-(2,5-二側氧基四氫-3-呋喃基)-3-甲基-3-環己烷-1,2-二羧酸酐、3,4-二羧基-1,2,3,4-四氫-1-萘琥珀二酸、1-甲基-二羧基-1,2,3,4-四氫-1-萘琥珀二酸等。
作為醯胺系硬化劑，可例示二氰二醯胺、聚醯胺樹脂等。
作為3級胺，可例示1,8-二吖雙環(5,4,0)十一烯-7、三乙二胺、苄基二甲基胺、三乙醇胺、二甲基胺基乙醇、參(二甲基胺基甲基)酚等。
作為咪唑及其衍生物，可例示1-氰基乙基-2-苯基咪唑、2-苯基咪唑、2-乙基-4(5)-甲基咪唑、2-苯基-4-甲基咪唑、1-苄基-2-甲基咪唑、1-苄基-2-苯基咪唑、1-氰基乙基-2-十一基咪唑、1-氰基-2-苯基咪唑、1-氰基乙基-2-十一基咪唑偏苯三甲酸酯、1-氰基乙基-2-苯基咪唑鎓三偏苯三甲酸酯、2,4-二胺基-6-[2’-甲基咪唑基-(1’)]-乙基-s-三、2,4-二胺基-6-[2’-乙基-4’-甲基咪唑基-(1’)]-乙基-s-三、2,4-二胺基-6-[2’-甲基咪唑基-(1’)]-乙基-s-三異三聚氰酸加成物、2-苯基咪唑基三聚氰 酸加成物、2-苯基-4,5-二羥基甲基咪唑、2-苯基-4-甲基-5-羥基甲基咪唑、及環氧樹脂與上述咪唑類的加成物等。
作為有機膦類，可例示三丁基膦、甲基二苯基膦、三苯基膦、二苯基膦、苯基膦等；作為鏻鹽，可例示四苯基鏻．四苯基硼酸鹽、四苯基鏻．乙基三苯基硼酸鹽、四丁基鏻．四丁基硼酸鹽等；作為四苯基硼烷鹽，可例示2-乙基-4-甲基咪唑．四苯基硼酸鹽、N-甲基啉．四苯基硼酸鹽等。
此等之硬化劑(C)可單獨使用1種，亦可將2種以上依任意組合及比率混合使用。
上述硬化劑中，適合使用咪唑或其衍生物或二氰二胺化合物。
尚且，作為後述之助焊劑(D)，在使用了其分解生成物之有機羧酸具有環氧樹脂硬化作用的有機羧酸酯的情況，亦可使用該有機羧酸酯作為硬化劑(C)。
本發明之組成物中之硬化劑(C)的含量，係相對於樹脂(A)100重量份，較佳設為0.1~60重量份、更佳0.5~40重量份。
尤其在硬化劑(C)為酚系硬化劑、胺系硬化劑、酸酐系硬化劑的情況，以環氧樹脂中之環氧基與硬化劑中之官能基的當量比計，較佳係使用成為0.8~1.5的範圍。若脫離此範圍，則未反應之環氧基或硬化劑之官能基殘留，而有無法得到所需物性的情形。
另外，在硬化劑為醯胺系硬化劑、3級胺、咪唑及其衍生物、有機膦類、鏻鹽、四苯基硼烷鹽、有機酸二肼、鹵化硼胺錯合物、聚硫醇系硬化劑、異氰酸酯系硬化劑、嵌段異氰酸酯系硬化劑等的情形，相對於環氧樹脂100重量份，較佳係依0.1~20重量份之範圍使用、更佳0.5~10重量份。
另外，在二氰二胺化合物的情況，係相對於環氧樹脂(A1)100重量份，較佳係依0.1~10重量份之範圍使用，更佳0.5~6重量份。
[助焊劑(D)]
本發明之組成物亦可含有助焊劑(D)。
所謂助焊劑(D)，具體而言，係指在金屬端子之焊接時，具有焊錫凸塊等之金屬電氣信號端子及連接盤之表面氧化膜的溶解去除、或焊錫凸塊於連接盤表面之濕潤性的提升、進而焊錫凸塊之金屬端子表面的再氧化防止等之助焊劑機能的化合物。
更具體而言，係指在實施例中之參考例2-1中，於焊錫球熔解性之評價時，可得到良好結果者。
助焊劑(D)較佳係對環氧樹脂(A1)等之樹脂(A)成分的單體、寡聚物及聚合物、或有機溶媒之溶解性高、藉混合可形成均一之組成物者。又，助焊劑(D)若對環氧樹脂(A1)等之樹脂(A)成分呈現作為硬化劑的作用，則在B階段化或焊錫凸塊接合前的溫度下，由於引起樹脂硬化、妨礙焊錫凸塊等與連接盤的接合，故較佳係不具有此種作為硬化劑的作用者。
作為本發明所使用之助焊劑(D)，可舉例如乳酸、醋酸、丙酸、酪酸、油酸、硬脂酸、苯甲酸、松脂酸、松香等之單羧酸；草酸、丙二酸、琥珀酸、戊二酸、己二酸、蘋果酸、酒石酸、異酞酸、苯均四酸、順丁烯二酸、反丁烯二酸、衣康酸等之二羧酸；檬檸酸、1,2,4-偏苯三甲酸、參(2-羧基乙基)異三聚氰酸酯等之三羧酸；苯均四酸或丁烷四羧酸等之四羧酸；及屬於使有機羧酸與烷基乙烯基醚類反應而轉換之半縮醛酯的有機羧酸酯；戊二酸鹽酸鹽、苯胺鹽酸鹽、肼鹽酸鹽、溴化鯨蠟基吡啶、苯基肼鹽酸鹽、四氯萘、甲基肼鹽酸鹽、甲基胺鹽酸鹽、 乙基胺鹽酸鹽、二乙基胺鹽酸鹽、丁基胺鹽酸鹽等之有機鹵化合物；尿素、二乙三胺肼等之胺類；乙二醇、二乙二醇、三乙二醇、四乙二醇、六乙二醇、甘油、三羥甲基乙烷、三羥甲基丙烷、2,3,4-三羥基二苯基酮、三乙醇胺、丁四醇、季戊四醇、雙(2-羥基甲基)亞胺基參-(羥基甲基)甲烷、核糖苷等之多元醇類；鹽酸、氟酸、磷酸、硼氟化氫酸等之無機酸；氟化鉀、氟化鈉、氟化銨、氟化銅、氟化鎳、氟化鋅等之氟化物；氯化鉀、氯化鈉、氯化銅、氯化鎳、氯化銨、氯化鋅、氯化錫等之氯化物；溴化鉀、溴化鈉、溴化銨、溴化錫、溴化鋅等之溴化物等。此等化合物可直接使用，亦可使用利用了由有機聚合物或無機化合物等所構成之被覆劑而經微膠囊化者。此等化合物可單獨使用1種，亦可將2種以上依任意組合及比率混合使用。
其中，由對環氧樹脂(A1)等之樹脂(A)或各種有機溶媒的溶解性而言，較佳係多元醇類、有機羧酸及羧酸酯等之有機羧酸衍生物。又，由對環氧樹脂(A1)等之樹脂(A)於加溫時的發泡性較少而言，特佳為有機羧酸。其中，由作為助焊劑的反應性而言，特佳為具有2個以上羧基的有機羧酸類。
有機羧酸酯可藉由依下式(1)，使有機羧酸與烷基乙烯基醚類於常溫、常壓或視需要於加熱下，進行反應而可獲得。
尚且，由於式(1)之反應為平衡反應，故在提高轉化為有機羧酸酯之有機羧酸的比例時，較佳係相對於有機羧酸中之羧基，添加等量以上之烷基乙烯基醚類進行反應。
(式(1)中，R1表示羧酸中之去除了1個羧基而剩餘的分子鏈。R2表示碳數1~6之烷基。)
有機羧酸酯係在組成物或塗佈液中因加熱而分解，生成有機羧酸及乙烯基醚。因分解所產生之有機羧酸係顯示對焊錫球的表面活性化作用(助焊劑作用)。
另外，因分解所產生之有機羧酸中，有對環氧樹脂等之樹脂(A)呈現硬化作用的可能性。此係由於羧基中，有因其解離而釋出之氫離子對環氧樹脂呈現硬化作用的可能性。為了抑制因此羧基之解離所造成之氫原子發生，較佳係使用將有機羧酸藉烷基乙烯基醚所保護的有機羧酸酯。
另外，即使在使用了有機羧酸酯的情況，若其分解溫度過低，則在製造時之加壓、加熱所進行的暫時接合時，有環氧樹脂等之樹脂(A)硬化之虞。
因此，作為助焊劑(D)之有機羧酸酯的分解溫度，係為了迴避或抑制暫時接合時之分解，較佳為130℃以上、更佳140℃以上、再更佳160℃以上、最佳180℃以上。又，分解溫度之上限為220℃。
作為成為有機羧酸酯之原料的有機羧酸，可使用乳酸、醋酸、丙酸、酪酸、油酸、硬脂酸、苯甲酸、松脂酸、松香等之單羧酸；草酸、丙二酸、琥珀酸、戊二酸、己二酸、蘋果酸、酒石酸、異酞酸、苯均四酸、順丁烯二酸、反丁烯二酸、衣康酸等之二羧酸；檸檬酸、1,2,4-偏苯三甲酸、參(2-羧基乙基)三聚異氰酸酯等之三羧酸；苯均四酸或丁烷四羧酸等之四羧酸等。此等之中，由作為助焊劑的反應性而言，較佳係具有2個以上羧基的有機羧酸類。
另外，作為成為有機羧酸酯之原料的烷基乙烯基醚類，上述式(1) 之R2較佳為碳數1~6之烷基，其中更佳係R2為甲基、乙基、丙基、丁基。此等烷基中，由電子賦予性越低之烷基、越顯示高溫解離性而言，作為烷基較佳係2級及1級。
作為有機羧酸酯，市售物可適合使用日油公司製之Suntacid G(二烷基乙烯基醚嵌段2官能聚合物型羧酸)、Suntacid H(單烷基乙烯基醚嵌段2官能低分子量型羧酸)、Suntacid I(單烷基乙烯基醚嵌段2官能羧酸)等。
本發明之組成物中，助焊劑(D)之含量係樹脂(A)每100重量份，通常為0.1重量份以上且10重量份以下、較佳0.5重量份以上且8重量份以下。助焊劑(D)之含量未滿上述下限時，則有因氧化膜去除性降低而造成焊接不良之虞，又，若超過上述上限，則有因塗佈液之黏度上升而造成連接不良之虞。
[其他添加劑]
本發明之組成物中，以更加提升機能性為目的，在不損及本發明效果之範圍內，亦可含有各種添加劑(其他添加劑)。
作為其他添加劑，可舉例如液晶性環氧樹脂等之對上述樹脂賦予機能性的機能性樹脂、氮化鋁、氮化矽、纖維狀氮化硼等之氮化物粒子、氧化鋁、纖維狀氧化鋁、氧化鋅、氧化鎂、氧化鈹、氧化鈦等之絕緣性金屬氧化物、鑽石、富勒烯等之絕緣性碳成分、樹脂硬化劑、樹脂硬化促進劑、黏度調整劑、分散穩定劑。
再者，作為其他之添加劑，用於提升與基材間之接黏性或基質樹脂與無機填充材間之接黏性的添加成分，可舉例如矽烷偶合劑或鈦酸酯偶合劑等之偶合劑，用於提升保存穩定性之抗紫外線劑、抗氧化劑、可塑劑、難燃劑、著色劑、分散劑、流動性改良劑、與基材間之密黏 性提升劑等。
另外，由成形時之流動性改良或與基材間之密黏性提升的觀點而言，本發明之組成物中亦可添加熱可塑性之寡聚物類。
其他，亦可添加使各成分於組成物或塗佈液中之分散性的界面活性劑、或乳化劑、低彈性化劑、稀釋劑、消泡劑、離子捕捉劑等。
此等可單獨使用任一種，亦可依任意組合或比率混合使用2種以上。
另外，於本發明之組成物中，在不損及其效果的前提下，亦可添加氫氧化鋁、氫氧化鎂等之無機填充材、改善無機填充材與基質樹脂之界面接黏強度的矽烷偶合劑等之表面處理劑、還原劑等。
尚且，關於上述無機填充材，在維持複合材組成物中之成形加工性方面，較佳係其與組成物中之本發明之凝集BN粒子的合計含量為90重量%以下。
其他添加劑之調配量並無特別限制，可於能獲得必要之機能性的程度，依通常之樹脂組成物的調配量予以使用。
上述添加劑中，由提升樹脂成分與填充材(B)間之密黏性的觀點而言，較佳係含有偶合劑。
於此，作為矽烷偶合劑，可舉例如：γ-環氧丙氧基丙基三甲氧基矽烷、γ-環氧丙氧基丙基三乙氧基矽烷、β-(3,4-環氧環己基)乙基三甲氧基矽烷等之環氧矽烷；γ-胺基丙基三乙氧基矽烷、N-β(胺基乙基)γ-胺基丙基三甲氧基矽烷、N-β(胺基乙基)γ-胺基丙基甲基二甲氧基矽烷、γ-胺基丙基三甲氧基矽烷、γ-脲丙基三乙氧基矽烷等之胺基矽烷；3-巰基丙基三甲氧基矽烷等之巰基矽烷；對苯乙烯基三甲氧基矽烷、乙烯基三氯矽烷、乙烯基參(β-甲氧基乙氧基)矽烷、乙烯基三甲氧基矽烷、乙 烯基三乙氧基矽烷、γ-甲基丙烯醯基丙基三甲氧基矽烷等之乙烯基矽烷；進而環氧系、胺基系、乙烯基系之高分子形式的矽烷等。
另一方面，作為鈦酸酯偶合劑，可舉例如異丙基三異硬脂醯基鈦酸酯、異丙基三(N-胺基乙基．胺基乙基)鈦酸酯、二異丙基雙(二辛基磷酸酯)鈦酸酯、四異丙基雙(二辛基亞磷酸酯)鈦酸酯、四辛基雙(二(十三基)亞磷酸酯)鈦酸酯、四(2,2-二烯丙基氧基甲基-1-丁基)雙(二(十三基)亞磷酸酯鈦酸酯、雙(二辛基焦磷酸酯)氧基乙酸酯鈦酸酯、雙(二辛基焦磷酸酯)伸乙基鈦酸酯等。
偶合劑可單獨使用1種，亦可依任意組合及比率混合使用2種以上。
偶合劑之添加量，較佳係相對於組成物，設為0.1~2.0重量%左右，更佳0.5~1.5重量%。若偶合劑之調配量較少，則無法充分獲得因調配偶合劑所造成之基質樹脂與無機填充材間之密黏性提升效果；若過多，則有偶合劑由所得硬化膜滲出的問題。
作為熱可塑性之寡聚物類，可例示C5系及C9系之石油樹脂、苯乙烯樹脂、茚樹脂、茚．苯乙烯共聚合樹脂、茚．苯乙烯．酚共聚合樹脂、茚．香豆酮共聚合樹脂、茚．苯并噻吩共聚合樹脂等。其添加量係相對於樹脂(A)100重量份，通常為2~30重量份、較佳5~15重量份的範圍。
作為界面活性劑，可使用習知之陰離子系界面活性劑、非離子系界面活性劑、陽離子系界面活性劑之任一種。
可舉例如聚氧乙烯烷基醚類、聚氧乙烯烷基芳基醚類、聚氧乙烯烷基酯類、山梨醇烷基酯類、單甘油酯烷基酯類、烷基苯磺酸鹽類、烷基萘磺酸鹽類、烷基硫酸鹽類、烷基磺酸鹽類、磺酸基琥珀酸酯鹽 類、烷基甜菜鹼類、胺基酸類等。
另外，此等界面活性劑中，亦可適合使用C-H鍵之一部分或全部成為C-F鍵的氟界面活性劑。
此等界面活性劑可單獨使用1種，亦可依任意組合及比率混合使用2種以上。
作為界面活性劑之添加量，較佳係相對於組成物，設為0.001~5重量%左右、更佳0.005~3重量%。界面活性劑之添加量未滿上述下限時，則有無法得到既定之膜厚均勻性的情形，又，若超過上述上限，則有引起與熱硬化性樹脂成分間之相分離等的情形，故不佳。
另外，本發明之組成物中，為了提高組成物或塗佈液中之填充材(B)的分散性、使填充材(B)均勻分散，以改善塗佈液之塗佈性、所形成之塗膜之膜性狀、表面平滑性，較佳係使用胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)作為分散劑。
作為胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)，若為可達成本發明目的者即可，並無特別限制，由塗佈液之塗佈性的提升效果、塗膜性狀之改善效果優越而言，較佳係具有3級胺基作為官能基者。
若分散劑(F)之胺基小於10mg-KOH/g，則填充材(B)之分散性不足，若大於300mg-KOH/g，則有引起填充材之凝集等情形，任一情況均無法達成本發明目的。
分散劑(F)之胺基較佳為20~200mg-KOH/g、特佳30~100mg-KOH/g。
尚且，於此所謂「胺價」，係指藉由酸對鹼性基進行中和滴定，對應至酸價而以KOH之mg數所表示的值。
作為此種分散劑之一例，可舉例如丙烯酸系分散劑及/或胺基甲酸乙酯系分散劑。
作為胺基甲酸乙酯系分散劑，較佳係藉由使聚異氰酸酯化合物、於同一分子內具有1個或2個羥基之數量平均分子量300~10,000之化合物、與於同一分子具有活性氫與3級胺基之化合物進行反應而獲得的分散樹脂。
作為上述聚異氰酸酯化合物之例子，可舉例如：對伸苯基二異氰酸酯、2,4-伸甲苯基二異氰酸酯、2,6-伸甲苯基二異氰酸酯、4,4’-二苯基甲烷二異氰酸酯、萘-1,5-二異氰酸酯、聯甲苯胺二異氰酸酯等之芳香族二異氰酸酯；六亞甲基二異氰酸酯、離胺酸甲基酯二異氰酸酯、2,2,4-三甲基六亞甲基二異氰酸酯、二聚物酸二異氰酸酯等之脂肪族二異氰酸酯；異佛酮二異氰酸酯、4,4’-亞甲基雙(環己基異氰酸酯)、ω,ω’-二異氰酸酯二甲基環己烷等之脂環族二異氰酸酯；二甲苯二異氰酸酯、α,α,α’,α’-四甲基二甲基二異氰酸酯等之具有芳香環的脂肪族二異氰酸酯；離胺酸酯三異氰酸酯、1,6,11-十一烷三異氰酸酯、1,8-二異氰酸酯-4-異氰酸酯甲基辛烷、1,3,6-六亞甲基三異氰酸酯、雙環庚烷三異氰酸酯、參(異氰酸酯苯基甲烷)、參(異氰酸酯苯基)硫磷酸酯等之三異氰酸酯；及此等之三聚物、水加成物、以及此等之多元醇加成物等。作為聚異氰酸酯，較佳為有機二異氰酸酯之三聚物，最佳為伸甲苯基二異氰酸酯之三聚物或異佛酮二異氰酸酯之三聚物。此等可單獨使用1種，亦可混合使用2種以上。
作為異氰酸酯之三聚物的製造方法，可舉例如對上述聚異氰酸酯類，使用例如3級胺類、膦類、烷氧化物類、金屬氧化物、羧酸鹽類等進行異氰酸酯基之部分性三聚物化，藉由添加觸媒毒而停止三聚物 化後，將未反應之聚異氰酸酯進行溶劑萃取，並藉薄膜蒸餾予以去除，得到目標之含有三聚異氰酸酯基的聚異氰酸酯的方法。
作為於同一分子內具有1個或2個羥基之數量平均分子量300~10,000之化合物，可舉例如聚醚二醇、聚酯二醇、聚碳酸酯二醇、聚烯烴二醇之二醇類、此等化合物之單末端羥基被碳數1~25之烷基所烷氧基化的化合物、以及此等2種以上的混合物。
作為聚醚二醇，可舉例如聚醚二醇、聚醚酯二醇、以及此等2種以上的混合物。
作為聚醚二醇，有如使伸烷基氧化物均聚合或共聚合而得者，可舉例如聚乙二醇、聚丙二醇、聚乙烯-丙二醇、聚氧基四亞甲二醇、聚氧基六亞甲二醇、聚氧基八亞甲二醇及此等之2種以上的混合物。
作為聚醚酯二醇，有如使含醚基之二醇或與其他二醇的混合物，與二羧酸或此等之酐進行反應，或使聚酯二醇與伸烷基氧化物進行反應而獲得者，可舉例如聚(聚氧基四亞甲基)己二酸酯等。
作為聚醚二醇，最佳係聚乙二醇、聚丙二醇、聚氧基四亞甲二醇、或使此等化合物之單末端羥基被碳數1~25之烷基所烷氧基化的化合物。
作為聚酯二醇，可舉例如：二羧酸(琥珀酸、戊二酸、己二酸、癸二酸、反丁烯二酸、順丁烯二酸、酞酸等)或此等之酐，與二醇(乙二醇、二乙二醇、三乙二醇、丙二醇、二丙二醇、三丙二醇、1,2-丁二醇、1,3-丁二醇、1,4-丁二醇、2,3-丁二醇、3-甲基-1,5-戊二醇、新戊二醇、2-甲基-1,3-丙二醇、2-甲基-2-丙基-1,3-丙二醇、2-丁基-2-乙基-1,3-丙二醇、1,5-戊二醇、1,6-己二醇、2-甲基-2,4-戊二醇、2,2,4-三甲基-1,3-戊二醇、2-乙基-1,3-己二醇、2,5-二甲基-2,5-己二醇、1,8-辛亞甲二醇、 2-甲基-1,8-辛亞甲二醇、1,9-壬二醇等之脂肪族二醇；雙羥基甲基環己烷等之脂環族二醇；二甲苯二醇、雙羥基乙氧基苯等之芳香族二醇；N-甲基二乙醇胺等之N-烷基二烷醇胺等)進行聚縮合而得者。可舉例如聚乙烯己二酸酯、聚丁烯己二酸酯、聚六亞甲基己二酸酯、聚乙烯/丙烯己二酸酯等之己二酸酯類；將上述二醇類或碳數1~25之一元醇使用作為起始劑而得之聚內酯二醇或聚內酯單醇，例如聚己內酯二醇、聚甲基戊內酯；及此等之2種以上的混合物。作為聚酯二醇，最佳為聚己內酯二醇、或以碳數1~25之醇作為起始劑的聚己內酯。更具體而言，有如對單醇使ε-己內酯進行開環加成聚合而得的化合物。
作為聚碳酸酯二醇，可舉例如聚(1,6-伸己基)碳酸酯、聚(3-甲基-1,5-伸戊基)碳酸酯等。
作為聚烯烴二醇，可舉例如聚丁二醇、氫化型聚丁烯二醇、氫化型聚異戊二烯二醇等。
於同一分子內具有1個或2個羥基之化合物的數量平均分子量為300~10,000、較佳500~6,000、更佳1,000~4,000。
本發明中所使用之於同一分子內具有活性氫與3級胺基之化合物中，所謂活性氫、亦即直接鍵結於氧原子、氮原子或硫原子之氫原子，可舉例如羥基、胺基、硫醇基等之官能基中的氫原子，其中較佳為胺基、特佳為1級胺基之氫原子。3級胺基並無特別限定。又，作為3級胺基，可舉例如具有碳數1~4之烷基的胺基，或雜環構造、更具體而言為咪唑環或三唑環。
若例示此種於同一分子內具有活性氫與3級胺基之化合物，有如N,N-二甲基-1,3-丙烷二胺、N,N-二乙基-1,3-丙二胺、N,N-二丙基-1,3-丙二胺、N,N-二丁基-1,3-丙二胺、N,N-二甲基乙二胺、N,N-二乙基乙 二胺、N,N-二丙基乙二胺、N,N-二丁基乙二胺、N,N-二甲基-1,4-丁二胺、N,N-二乙基-1,4-丁二胺、N,N-二丙基-1,4-丁二胺、N,N-二丁基-1,4-丁二胺等。
另外，作為3級胺基為含氮雜環者，可舉例如吡唑環、咪唑環、三唑環、四唑環、吲哚環、咔唑環、吲唑環、苯并咪唑環、苯并三唑環、苯并唑環、苯并噻唑環、苯并噻二唑環等之含N雜5員環，吡啶環、嗒環、嘧啶環、三環、喹啉環、吖啶環、異喹啉環等之含氮雜6員環。作為此等含氮雜環，較佳為咪唑環或三唑環。
若具體例示具有此等咪唑環與一級胺基之化合物，可舉例如1-(3-胺基丙基)咪唑、組胺酸、2-胺基咪唑、1-(2-胺基乙基)咪唑等。又，若具體例示具有三唑環與胺基之化合物，可舉例如3-胺基-1,2,4-三唑、5-(2-胺基-5-氯苯基)-3-苯基-1H-1,2,4-三唑、4-胺基-4H-1,2,4-三唑-3,5-二醇、3-胺基-5-苯基-1H-1,3,4-三唑、5-胺基-1,4-二苯基-1,2,3-三唑、3-胺基-1-苄基-1H-2,4-三唑等。其中，較佳為N,N-二甲基-1,3-丙二胺、N,N-二乙基-1,3-丙二胺、1-(3-胺基丙基)咪唑、3-胺基-1,2,4-三唑。
上述胺基甲酸乙酯系分散劑原料的較佳調配比率，係相對於聚異氰酸酯化合物100重量份，於同一分子內具有1個或2個羥基之數量平均分子量300~10,000的化合物為10~200重量份、較佳20~190重量份、更佳30~180重量份，於同一分子內具有活性氫與3級胺基之化合物為0.2~25重量份、較佳0.3~24重量份。
此種胺基甲酸乙酯系分散劑的GPC(凝膠滲透層析法)所測定之聚苯乙烯換算的重量平均分子量(Mw)，通常為1,000~200,000、較佳2,000~100,000、更佳3,000~50,000之範圍。此分子量未滿1,000時，則分散性及分散穩定性差，若超過200,000，則溶解性降低、分散性惡 化且反應控制困難。
此種胺基甲酸乙酯系分散劑的製造，係依照聚胺基甲酸酯樹脂製造之公知方法所進行。作為製造時之溶媒，通常使用丙酮、甲基乙基酮、甲基異丁基酮、環戊酮、環己酮、異佛酮等之酮類；醋酸乙酯、醋酸丁酯、醋酸賽珞蘇等之酯類；苯、甲苯、二甲苯、己烷等之烴類；二丙酮醇、異丙醇、第二丁醇、第三丁醇等之一部分醇類；二氯甲烷、氯仿等之氯化物；四氫呋喃、二乙基醚等之醚類；二甲基甲醯胺、N-甲基吡咯啶酮、二甲基亞碸等之非質子性極性溶媒等之1種或2種以上。
上述製造時，係使用通常之胺基甲酸乙酯化反應觸媒。作為此觸媒，可舉例如二月桂酸二丁基錫、二月桂酸二辛基錫、二辛酸二丁基錫、辛酸亞錫等之錫系；乙醯乙酸鐵、氯化鐵等之鐵系；三乙基胺、三乙二胺等之3級胺系；等。
於同一分子內具有活性氫與3級胺基之化合物的導入量，係以反應後之胺價計，較佳控制為10~300mg-KOH/g之範圍。更佳為20~200mg-KOH/g之範圍。若胺價低於上述範圍，則有分散能力降低的傾向，又，若超過上述範圍，則顯影性容易降低。
尚且，在於藉以上反應所得之分散樹脂中殘存異氰酸酯基的情況，進而若藉醇或胺化合物保護異氰酸酯基，則由於生成物之經時穩定性變高，故較佳。
作為丙烯酸系分散劑，較佳係由在側鏈具有4級銨鹽基之A嵌段物、與不具4級銨鹽基之B嵌段物所構成的A-B嵌段共聚物及/或B-A-B嵌段共聚物。
丙烯酸系分散劑之構成嵌段共聚物的A嵌段物，係具有4級銨鹽 基、較佳為-N+R1R2R3．Y-(其中，R1、R2及R3分別獨立表示氫原子或亦可經取代之環狀或鏈狀的烴基，R1、R2及R3中之2個以上亦可彼此鍵結形成環狀構造。Y-表示對陰離子。)所示之4級銨鹽基。此4級銨鹽基可直接鍵結於主鏈，亦可經由2價之連結基而鍵結於主鏈上。
-N+R1R2R3中，作為R1、R2及R3中之2個以上彼此鍵結形成的環狀構造，可舉例如5~7員環之含氮雜環單環或此等2個進行縮合而成的縮合環。該含氮雜環較佳係不具有芳香性，更佳為飽和環。具體可舉例如下述者。
此等環狀構造亦可進一步具有取代基。
作為-N+R1R2R3中之R1、R2及R3，更佳係分別獨立為亦可具有取代基之碳數1~3之烷基、亦可具有取代基之苯基、或亦可具有取代基的苄基。
A嵌段物特佳係具有下述一般式(I)所示之部分構造者。
(式中，R1、R2及R3分別獨立為氫原子或亦可經取代之環狀或鏈狀之烴基，R1、R2及R3中之2個以上亦可彼此鍵結形成環狀構造。R4表示氫原子或甲基。X表示2價之連結基，Y-表示對陰離子。)
上述一般式(I)中，作為2價之連結基X，可舉例如碳數1~10之伸烷基、伸芳基、-CONH-R7-基、-COO-R8-基(其中，R7及R8分別獨立為直接鍵、碳數1~10之伸烷基、或碳數1~10之醚基(-R’-O-R”-：R’及R”分別獨立為伸烷基))等，較佳為-COO-R8-基。
含有特定之4級銨鹽基的部分構造，亦可於1個A嵌段物中含有2種以上。此時，含有2種以上之4級銨鹽基的部分構造，係於該A嵌段物中，可依無規共聚合或嵌段共聚合之任一態樣所含有。又，不含該4級銨鹽基的部分構造，亦可含於A嵌段物中，作為該部分構造之例子，可舉例如來自後述之(甲基)丙烯酸酯系單體的部分構造等。此種不含4級銨鹽基之部分構造於A嵌段物中的含量，較佳為0~50重量%、更佳0~20重量%，此種不含4級銨鹽基之部分構造，最佳係於A嵌段物中不含有。
另一方面，作為丙烯酸系分散劑之構成嵌段共聚物的B嵌段物，可舉例如苯乙烯、α-甲基苯乙烯等之苯乙烯系單體；(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、(甲基)丙烯酸異丙酯、(甲基)丙烯酸丁酯、(甲基)丙烯酸辛酯、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯、(甲基)丙烯酸環氧丙酯、(甲基)丙烯酸苄酯、(甲基)丙烯酸羥乙酯、乙基(甲基)丙烯酸環氧丙酯、(甲基)丙烯酸N,N-二甲基胺基乙酯等之(甲基)丙烯酸酯系單體；(甲基)丙烯酸氯化物等之(甲基)丙烯酸氯系單體；(甲基)丙烯醯胺、N-羥甲基丙烯醯胺、N,N-二甲基丙烯醯胺、N,N-二甲基胺基乙基丙烯醯胺等之(甲基)丙烯醯胺系單體；醋酸乙烯酯；丙烯腈；烯丙 基環氧丙基醚、丁烯酸環氧丙基醚；N-甲基丙烯醯基啉等之使共聚單體進行了共聚合的聚合物構造。
B嵌段物特佳係由下述一般式(II)所示之來自(甲基)丙烯酸酯系單體的部分構造。
(式中，R5表示氫原子或甲基。R6為亦可具有取代基之環狀或鏈狀之烷基、亦可具有取代基之烯丙基、或亦可具有取代基之芳烷基。)
上述來自(甲基)丙烯酸酯系單體的部分構造，亦可於1個B嵌段物中含有2種以上。當然，該B嵌段物亦可進一步含有此等以外的部分構造。在2種以上之來自單體的部分構造存在於不含4級銨鹽基之B嵌段物中的情況，各部分構造可於該B嵌段物中依無規共聚合或嵌段共聚合之任一態樣所含有。在B嵌段物中含有上述來自(甲基)丙烯酸酯系單體之部分構造以外的部分構造時，該(甲基)丙烯酸酯系單體以外之部分構造於B嵌段物中的含量，較佳為0~50重量%、更佳0~20重量%，但此種(甲基)丙烯酸酯系單體以外之部分構造最佳係不含於B嵌段物中。
本發明所使用之丙烯酸系分散劑，較佳係由此種A嵌段物與B嵌段物所構成之、A-B嵌段或B-A-B嵌段共聚合型高分子化合物，此種嵌段共聚物可例如依以下所示之活性聚合法所調製。
活性聚合法有如陰離子活性聚合法、陽離子活性聚合法、自由基活性聚合法，其中，陰離子活性聚合法係其聚合活性種為陰離子，例如由下述流程所示。
上式中，一般而言，Ar1為亦可具有取代基的苯基，M為鹼金屬。s及t表示整數。
自由基活性聚合法係聚合活性種為自由基，例如由下述流程所示。
上式中，一般而言，Ar1及Ar2為亦可具有取代基之苯基，M為鹼金屬，p及q表示整數。
另外，一般而言，Ra及Rb為烷基，Me表示甲基。
在合成此種丙烯酸系分散劑時，可採用日本專利特開平9-62002號公報，或P.Lutz,P.Masson et al,Polym.Bull.12,79(1984)、B.C.Anderson,G.D.Andrews et al,Macromolecules,14,1601(1981)、K.Hatada,K.Ute,et al,Polym.J.17,977(1985)、18,1037(1986)，右手浩一、畑田耕一，高分子加工，36,366(1987)，東村敏延、沢本光男，高分子論文集，46,189(1989)、M.Kuroki,T.Aida,J.Am.Chem.Sic,109,4737(1987)、相田卓三、井上祥平，有機合成化學，43,300(1985)、D.Y.Sogoh,W.R.Hertler et al,Macromolecules,20,1473(1987)等記載的公知方法。
本發明所使用之丙烯酸系分散劑不論是A-B嵌段共聚物、或B-A-B嵌段共聚物，其構成共聚物之A嵌段物/B嵌段物比為1/99~80/20、特佳5/95~60/40(重量比)。在此範圍外時，有無法兼具良好之耐熱性與分散性的情形。
另外，本發明之A-B嵌段共聚物、及B-A-B嵌段共聚物1g中之4級銨鹽基的量，通常為0.1~10mmol、更佳2~8mmol。在此範圍外時，有無法兼具良好之耐熱性與分散性的情形。
尚且，此種嵌段共聚物中，通常有含有在製造過程中所產生之胺基的情形，其胺價為5~500mg-KOH/g、較佳10~300mg-KOH/g左右。又，胺價係如上述般，藉由酸對鹼性基進行中和滴定，對應至酸價而以KOH之mg數所表示的值。
另外，此嵌段共聚物之酸價，雖視成為該酸價之來源的酸性基的有無及種類而異，一般較佳係較低者，通常為300mg-KOH/g以下。
其分子量係以藉GPC所測定之苯乙烯換算的重量平均分子量計 (Mw)，較佳為1,000~100,000之範圍，更佳5000~50,000之範圍。若嵌段共聚物之重量平均分子量未滿1,000，則分散穩定性降低，若超過100,000，則有顯影性、解像性降低的傾向。
本發明中，作為胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)，亦可應用具有與上述者相同構造的市售胺基甲酸乙酯系及/或丙烯酸系分散劑。
此等胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)，可單獨使用1種，亦可依任意組合及比率混合使用2種以上。
本發明之組成物中，胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)的含量，係相對於組成物之總固形份，為0.05重量%以上且10重量%以下，特佳為0.25重量%以上且5重量%以下；相對於含有填充材(B)之組成物中之填充材的合計量100重量份，較佳為使用0.1重量份以上且20重量份以下、特佳0.5重量份以上且10重量份以下。胺價(mg-KOH/g)為10以上且300以下之分散劑(F)的含量未滿上述下限時，則塗膜性狀之改善提升效果不足，又，若超過上述上限，則有引起填充材之層分離或凝集的情形。
[組成物塗佈液]
本發明之組成物中所含有之本發明之凝集BN粒子的含量，通常為20重量%以上且90重量%以下，更佳20重量%以上且80重量%以下，再更佳30重量%以上且70重量%以下。組成物中之凝集BN粒子的含量未滿上述下限時，則作為組成物的黏度低，雖然成形加工性良好但熱傳導性的賦予效果較小。若組成物中之凝集BN粒子的含量超過上述上限值，則組成物之黏度變高、有難以成形的傾向。
另外，本發明之組成物塗佈液，係於上述本發明之組成物中進一 步含有有機溶媒(E)者。亦即，本發明之組成物係不含有機溶媒，而於本發明之組成物中添加了有機溶媒者即為本發明之組成物塗佈液。
[有機溶媒(E)]
作為本發明之組成物塗佈液之有機溶媒(E)，若為可使組成物塗佈液之固形份(為組成物塗佈液之有機溶媒(E)以外的成分，相當於本發明之組成物)均勻地溶解或分散者即可，並無特別限制。作為有機溶媒(E)，較佳係含有沸點60℃以上且未滿120℃之有機溶媒(Ea)，更佳係含有沸點120℃以上之有機溶媒(Eb)。
作為有機溶媒(E)，可由例如以下例示之醇系溶媒、芳香族系溶媒、醯胺系溶媒、烷烴系溶媒、乙二醇醚及醚．酯系溶媒、丙二醇醚及醚．酯系溶媒、酮系溶媒、酯系溶媒中選擇較佳沸點物而使用。
(醇系溶媒)
甲醇(沸點64.7℃)、乙醇(沸點78.4℃)、丁醇(沸點117℃)、異丙醇(沸點82.4℃)、正丙醇(沸點97.15℃)、第三丁醇(沸點82.4℃)、1,4-丁二醇(沸點230℃)、2-乙基己醇(沸點183~185℃)、六氟異丙醇等。
(芳香族系溶媒)
甲苯(沸點110.6℃)、二甲苯(沸點114℃)、單氯苯、二氯苯、三氯苯、苯酚等。
(醯胺系溶媒)
N,N-二甲基甲醯胺(沸點153℃)、N,N-二甲基乙醯胺(沸點165℃)等。
(烷烴系溶媒)
正己烷(沸點69℃)、異己烷(沸點68~70℃)、環己烷(沸點80.74℃)、甲基環己烷(沸點101℃)、正庚烷(沸點98℃)、異庚烷(沸點99℃)、正 癸烷(沸點174.2℃)等。
(乙二醇醚及醚．酯系溶媒)
乙二醇單甲基醚(沸點124℃)、乙二醇乙基醚(沸點135℃)、乙二醇正丁基醚(沸點171℃)、乙二醇異丁基醚(沸點160℃)、乙二醇己基醚(沸點208℃)、乙二醇苯基醚(沸點242℃)、乙二醇單丙基醚(沸點149.5℃)、乙二醇單異丙基醚(沸點141℃)、二乙二醇單甲基醚(沸點194℃)、二乙二醇二甲基醚(沸點162℃)、二乙二醇單乙基醚(沸點202℃)、二乙二醇二乙基醚(沸點189℃)、二乙二醇正丁基醚(沸點231℃)、二乙二醇單異丁基醚(沸點220℃)、二乙二醇二丁基醚(沸點256℃)、二乙二醇己基醚(沸點259℃)、三乙二醇單甲基醚(沸點249℃)、三乙二醇單乙基醚(沸點256℃)、三乙二醇單丁基醚(沸點271℃)、聚乙二醇單甲基醚(沸點295℃)等。
(丙二醇醚及醚．酯系溶媒)
丙二醇甲基醚(沸點120℃)、二丙二醇甲基醚(沸點190℃)、三丙二醇甲基醚(沸點242℃)、丙二醇正丙基醚(沸點150℃)、二丙二醇正丙基醚(沸點212℃)、三丙二醇正丙基醚(沸點274℃)、丙二醇正丁基醚(沸點170℃)、丙二醇異丁基醚(沸點157℃)、二丙二醇正丁基醚(沸點229℃)、三丙二醇正丁基醚(沸點274℃)、丙二醇苯基醚(沸點243℃)、二丙二醇二甲基醚(沸點175℃)、丙二醇苯基醚(沸點243℃)等。
(酮系溶媒)
酮(沸點56℃)、甲基乙基酮(以下簡稱為「MEK」)(沸點80℃)、甲基丙基酮(沸點102℃)、甲基正丁基酮(沸點128℃)、甲基異丁基酮(沸點118℃)、甲基異戊基酮(沸點145℃)、甲基正戊基酮(沸點152℃)、乙基丁基酮(沸點149℃)、乙基第二戊基酮(沸點159℃)、乙醯基丙酮(沸 點140℃)、二丙酮醇(沸點166℃)、二異丁基酮(沸點169℃)、環己酮(以下簡稱為「CHN」)(沸點157℃)、環己基環己酮(沸點261℃)等。
(酯系溶媒)
乙酸甲酯(沸點57℃)、乙酸乙酯(沸點77℃)、乙酸丙酯(沸點102℃)、乙酸異丙酯(沸點88℃)、乙酸丁酯(沸點126℃)、乙酸異丁酯(沸點117℃)、乙酸第二丁酯(沸點112℃)、乙酸戊酯(沸點146℃)、乙酸甲基戊酯(沸點146℃)、乙酸2-乙基己酯(沸點199℃)、乙二醇醚乙酸甲酯(沸點145℃)、乙二醇醚乙酸甲酯(沸點145℃)、乙二醇醚乙酸乙酯(沸點156℃)、乙二醇醚乙酸正丁酯(沸點188℃)、二乙二醇醚乙酸乙酯(沸點217℃)、二乙二醇醚乙酸正丁酯(沸點245℃)、乙二醇二乙酸酯(沸點191℃)、異丁酸異丁酯(沸點147℃)、丁酸乙酯(沸點154℃)、丁酸丁酯(沸點188℃)、乙酸3-甲基-3-甲氧基丁酯(沸點188℃)、乳酸乙酯(沸點155℃)、丙二醇甲基醚乙酸酯(以下簡稱為「PGMEA」)(沸點146℃)、丙二醇二乙酸酯(沸點190℃)、丙烯單甲基醚乙酸甲酯(沸點188℃)等。
有機溶媒(E)係相對於環氧樹脂等之樹脂100重量份，依0~10,000重量份、較佳0~1,000重量份之範圍使用。
<有機溶媒(Ea)>
本發明之組成物塗佈液中，藉由使用沸點未滿120℃之有機溶媒(Ea)，可提高B階段化步驟中之有機溶媒的蒸發效率。其中，若此有機溶媒(Ea)之沸點過低，則產生蒸發混亂的問題，故較佳係有機溶媒(Ea)之沸點為60℃以上、特佳65~115℃。
作為此種有機溶媒(Ea)，上述各種有機溶媒中，可選擇使用沸點為未滿120℃者。尤其是由沸點為上述較佳範圍，或與有機溶媒(Ea)之均 勻混合性或樹脂溶解性良好而言，較佳係丙醇、異丙醇、第三丁醇、甲基乙基酮、甲基丙基酮、甲基異丁基酮、乙酸丙酯、乙酸異丁酯。
有機溶媒(Ea)可單獨使用1種，亦可依任意組合及比率併用2種以上。
<有機溶媒(Eb)>
本發明之組成物塗佈液中，可與上述沸點未滿120℃之有機溶媒(Ea)一起併用沸點為120℃以上的有機溶媒(Eb)。藉由使用沸點為120℃以上之有機溶媒(Eb)，則防止B階段化時之有機溶媒的急遽蒸發所造成的蒸發混亂，可形成更均質之B階段化膜。
亦即，用於B階段化之加熱處理中的加熱溫度，通常為50~150℃、較佳70~120℃，故相對於此溫度條件，若為沸點120℃以上之有機溶媒，則依不發生蒸發混亂的適當速度予以蒸發去除。其中，若該有機溶媒(Eb)之沸點過高，則在B階段化之加熱處理時，難以有效且高度地將塗膜中之有機溶媒予以蒸發去除，故有機溶媒(Eb)之沸點較佳為未滿180℃，特佳為130℃以上且未滿180℃，更佳為140~170℃。
作為有機溶媒(Eb)，上述各種有機溶媒中，可選擇使用沸點為120℃以上者。尤其是由沸點為上述較佳範圍，或樹脂之溶解性良好、混合液之混合性亦良好而言，作為有機溶媒(Eb)較佳係丙二醇甲基醚、甲基正戊基酮、環己酮、PGMEA、乳酸乙酯。
有機溶媒(Eb)可單獨使用1種，亦可依任意組合及比率併用2種以上。
<含量>
本發明之組成物塗佈液中，有機溶媒(E)相對於有機溶媒以外之其他成分(為組成物塗佈液之有機溶媒(E)以外的成分，相當於本發明之組 成物)的混合比例，並無特別限制，較佳係相對於其化成分為20重量%以上且70重量%以下，特佳30重量%以上且60重量%以下。
另外，作為塗佈液中之固形份濃度，設為10~80重量%、特佳20~70重量%。
藉由設為上述混合比例，則可作成能藉任意之塗佈法形成良好的塗膜、具有適當黏度、操作性優越的塗佈液。
有機溶媒(E)之混合比例為上述下限以下時，則塗佈液之黏度上升、有無法得到良好塗膜的情形，又，若超過上述上限，則有發生無法得到既定膜厚等問題的可能性。
作為有機溶媒(E)，在併用有機溶媒(Ea)與有機溶媒(Eb)的情形，此等之合計之混合比例，較佳為上述範圍內。又，為了藉由有機溶媒(Ea)與有機溶媒(Eb)之併用以獲得相乘效果，以重量%計，有機溶媒(Ea)與有機溶媒(Eb)較佳係依有機溶媒(Ea)：有機溶媒(Eb)=95~50：5~50、特佳90~60：10~40之比例(將有機溶媒(Ea)與有機溶媒(Eb)之合計設為100重量%)使用。
[組成物及組成物塗佈液之調製方法]
本發明之組成物及組成物塗佈液之調製方法並無特別限定，可使用習知方法，可藉由混合組成物及組成物塗佈液之構成成分而製造。又，此時，以組成物或組成物塗佈液之均勻性提升、脫泡等為目的，較佳係使用塗料振盪機或珠磨機、行星式混合機、攪拌型分散機、自公轉攪拌混合機、三輥、捏合機、單軸或雙軸混練機等一般之混練裝置等。
各調配成分的混合順序係在不發生產生反應或沉澱物等特殊問題之前提下，可為任意，組成物及組成物塗佈液之構成成分中，可事先 將任意2成分或3成分以上混合，其後混合剩餘成分，亦可一次全部混合。
[成形體之製造方法]
本發明之成形體係將本發明之組成物進行成形而成者。成形體之成形方法可使用樹脂組成物之成形時一般所使用的方法。
例如，在本發明之組成物具有可塑性或流動性時，可將該組成物依所需形狀、例如填充至模具中之狀態而予以硬化，藉此進行成形。作為此種成形體之製造方法，可使用射出成形法、射出壓縮成形法、擠出成形法及壓縮成形法。
另外，本發明之組成物為環氧樹脂或聚矽氧樹脂等之熱硬化性樹脂組成物時，成形體之成形、亦即硬化可依配合各組成之硬化溫度條件進行。
另外，在本發明之組成物為熱可塑性樹脂組成物時，成形體之組成可依熱可塑性樹脂之熔融溫度以上之溫度及既定之成形速度或壓力條件進行。
另外，本發明之成形體亦可藉由從將本發明組成物經成形硬化的固狀材料削出為所需形成而獲得。
[三維積體電路之製造方法]
以下，說明本發明之三維積體電路的製造方法。
使用本發明之組成物，於複數之半導體基板間，將本發明之組成物塗佈液進行成膜後，將此等半導體基板進行加壓接合而予以積層，藉此可製造三維積體電路。
另外，使用本發明之組成物塗佈液，於複數之半導體基板間，塗佈本發明之組成物塗佈液予以成膜後，將此等半導體基板進行加壓接 合而予以積層，藉此可製造三維積體電路。此時，更具體而言，係包含：於半導體基板表面，塗佈本發明之組成物塗佈液以形成塗膜的塗佈步驟；與將形成了塗膜之半導體基板，與其他半導體基板進行積層並加壓的接合步驟；於塗佈步驟與接合步驟之間，具有將上述塗膜加熱以進行B階段化的步驟(以下稱為「B階段化步驟」)。
以下，使用本發明之組成物塗佈液，具體說明本發明之三維積體電路的製造方法。
<塗佈步驟>
首先，於半導體基板之表面，形成本發明之組成物塗佈液的塗膜。
亦即，使用本發明之組成物塗佈液，藉由浸塗法、旋塗法、噴塗法、刮塗法、其他任意方法形成塗膜。
在本發明之組成物塗佈液的塗佈時，藉由使用旋塗器、狹縫塗佈器、模塗器、刮塗器等之塗佈裝置，可於半導體基板上均勻形成既定膜厚的塗膜，故較佳。
<B階段化步驟>
對藉由塗佈本發明之塗佈液所形成的塗膜，為了去除溶媒或低分子成分，通常依50~150℃、較佳70~120℃之任意溫度，進行10~120分鐘左右的加熱處理，形成B階段化膜。
若此B階段化之加熱溫度過低、或加熱時間過短，則無法充分去除塗膜中之有機溶媒，於所得之B階段化膜中殘留有機溶媒，殘留之有機溶媒因其次之接合步驟中之高溫處理而蒸發，殘留溶媒之蒸發痕跡成為空隙，無法形成具有高熱傳導性、高絕緣性、既定物理強度等的層間填充層。相反地，若B階段化之加熱溫度過高、或加熱時間過長，則樹脂硬化進行、無法作成良好之B階段化膜。因此，B階段化 之加熱條件，雖因所形成之B階段化膜之膜厚或塗佈液中之有機溶媒的沸點、所使用之熱硬化性樹脂的種類而異，但在B階段化膜之膜厚為1~50μm時，設為70~110℃、較佳80~100℃下30~120分鐘左右；若B階段化膜之膜厚為50~200μm，則設為80~120℃、較佳90~110℃下60~120分鐘左右。
此時，可於一定溫度下進行加熱處理，但為了使塗佈液中之有機溶劑的揮發成分的去除順利地進行，亦可於減壓條件下進行加熱處理。又，在樹脂(A)之硬化不進行的範圍，亦可進行階段性升溫的加熱處理。例如，首先依50~70℃、例如60℃，接著70~90℃、例如80℃，再依90~150℃、例如120℃，實施各5~30分鐘左右的加熱處理。
另外，本發明之組成物或組成物塗佈液，由於具有適合薄膜成形之充分的延伸性，故亦可進行薄膜成形，藉由將該薄膜設置於半導體基板上而進行成膜。本發明之組成物或組成物塗佈液，可防止因薄膜成形時之蒸發混亂所造成的膜質降低、形成均質之薄膜。
<接合步驟>
接著，將所形成之B階段化膜進行加熱而使黏性表現後，與接合對象之半導體基板進行暫時接合。作為暫時接合之溫度，係視所使用之樹脂(A)而異，較佳係於80~150℃、尤其90~140℃之溫度進行1秒~120秒左右。
半導體基板之接合為複數層時，可重複基板層數次之上述暫時接合，亦可將形成了B階段化膜之基板重疊複數層後，進行加熱而一起進行暫時接合。暫時接合時，視需要可對積層基板間施加1gf/cm2~5kgf/cm2、較佳10gf/cm2~3kgf/cm2之加熱而實施。
暫時接合後，進行半導體基板之實際接合。
實際接合係藉下述般進行：將經暫時接合之半導體基板依200℃以上、較佳220℃以上之溫度進行10~60秒左右之加壓，藉此使B階段化膜中之樹脂(A)的熔融黏度降低，促進半導體基板間之電氣端子的連接，同時使B階段化膜中之助焊劑(D)活性化，使半導體基板間之焊接進展。又，實際接合之加熱溫度之上限，係所使用之樹脂(A)不發生分解、變質的溫度，可依樹脂之種類、等級而適當決定，通常於300℃下進行。
另外，在加熱接黏時，視需要較佳係於基板間施加10gf/cm2~10kgf/cm2之加重而實施，更佳係施加100gf/cm2~5kgf/cm2之加重而實施。
在使用本發明之組成物製造三維積體電路時，除了藉由將本發明組成物藉點膠塗佈於半導體基板上而進行成膜，將其藉由加熱板之加熱或溫風爐之加熱處理，進行溶媒餾除之外，其餘與上述同樣地進行B階段化及接合，可製造三維積體電路。
(實施例)
以下，針對本發明，使用實施例更詳細進行說明，但本發明係在不脫離其要旨之前提下，並不限定解釋於以下實施例。
[調配成分]
實施例中所使用之組成物的調配成分，係如下述。
{樹脂(A)} <環氧樹脂(a1)>
環氧樹脂(a1-1)：三菱化學公司製 品名「YL-6800」
(環氧當量180g/當量)
環氧樹脂(a1-2)：三菱化學公司製 品名「YX4000」
(環氧當量186g/當量)
環氧樹脂(a1-3)：三菱化學公司製 品名「1001」
(環氧當量475g/當量)
<環氧樹脂(a2)>
環氧樹脂(a2-1)：依下述製造例1所製造之苯氧基樹脂
重量平均分子量：26,000
環氧當量：4,600g/當量
30重量%甲基乙基酮/環己酮溶液
環氧樹脂(a2-2)：三菱化學公司製 品名「1006」
(環氧當量1000g/當量)
<環氧樹脂(a3)>
環氧樹脂(a3-1)：三菱化學公司製 品名「1032H60」
(環氧當量169g/當量)
[填充材(B)]
填充材(B-1)：依下述調製例2-2所製造之氮化硼粒子
填充材(B-2)：日新REFRATECH公司製BN製 品名「R-BN」
(熱傳導率3W/mK(厚度方向)，275W/mK(面內方向))
填充材(B-3)：龍森公司製 品名「PLV-4」
[硬化劑(C)]
四國化成工業公司製2-苯基-4,5-二羥基甲基咪唑，品名「2PHZ-PW」
[助焊劑(D)]
和光純藥工業公司製己二酸 試藥特級
[有機溶媒(E)]
有機溶媒(Ea)：和光純藥工業公司製甲基乙基酮(MEK)
(沸點80℃)試藥特級
有機溶媒(Eb)：和光純藥工業公司製環己酮(CHN)
(沸點155℃)試藥特級
{物性之測定方法}
各種物性之測定方法等係如下述。又，以下中，「體積基準之平均粒徑D50」簡記為「D50」
另外，原料BN粉末之總氧含量係採用商品型錄值。
<原料h-BN粉末之總細孔容積>
使用Micromeritics公司製「Autopore IV9520型」，將h-BN粉末於減壓下(50μmHg以下)進行了10分鐘減壓處理後，測定水銀壓入退出曲線，求得孔尺寸10nm~500μm的總細孔容積。
<原料h-BN粉末之比表面積>
對h-BN粉末進行250℃ 15分鐘之氮氣流通的前處理後，使用MOUNTECH公司製「Macsorb HM MODEL-1201」，依BET1點法(吸附氣體：氮)測定比表面積。
<BN漿料中之h-BN粒子的D50>
於六甲基磷酸鈉0.2重量%水溶液30ml中，依穿透率成為90%以上之方式添加BN漿料，再將Aldrich公司製非離子系界面活性劑「TritonX100」之10重量%水溶液加入0.1g後，照射150W超音波1分鐘，調製粒徑分佈測定用之分散液。對此分散液使用日機裝公司製「NANOTRAC UPA-EX150」進行測定。
<造粒粒子之D50>
於六甲基磷酸鈉0.2重量%水溶液30ml中，依穿透率成為90%以上之方式添加造粒粒子，再將Aldrich公司製非離子系界面活性劑「TritonX100」之10重量%水溶液加入0.1g後，照射150W超音波1分鐘，調製粒徑分佈測定用之分散液。對此分散液使用日機裝公司製「MICROTRAC HRA」進行測定。
<加熱處理、分級後之凝集BN粒子的D50及最大粒徑>
於六甲基磷酸鈉0.2重量%水溶液30ml中，依穿透率成為90%以上之方式添加分級後之凝集BN粒子，再將Aldrich公司製非離子系界面活性劑「TritonX100」之10重量%水溶液加入0.1g後，照射150W超音波1分鐘，調製粒徑分佈測定用之分散液。對此分散液使用日機裝公司製雷射繞射/散射式粒度分佈測定裝置「MICROTRAC MT3300EX」測定D50。又，於所測定之體積基準之粒徑分佈中，將最大粒子之粒徑作為最大粒徑。
<加熱處理、分級後之凝集BN粒子之總細孔容積>
使用Micromeritics公司製「Autopore IV9520型」，將各凝集BN粒子於減壓下(50μmHg以下)進行了10分鐘減壓處理後，測定水銀壓入退出曲線，求得孔尺寸10nm~500μm的總細孔容積。
<加熱處理、分級後之凝集BN粒子之整體密度>
使用Micromeritics公司製「Autopore IV9520型」，於將事先測定了容積之專用槽中裝入所秤量的凝集BN粒子，與槽一起測定重量，將此槽於減壓下(50μmHg以下)依室溫進行10分鐘脫氣處理。接著，於經處理之槽中導入水銀，秤量水銀導入後之槽，由所導入之水銀重量算出水銀容量，由事先求得之槽的容量減去該水銀量而算出粉體試料的體積，以此體積除以凝集BN粒子試料的重量，藉此予以求得。
<組成物之黏度的測定方法>
使用TA Instruments公司製動態黏彈性測定裝置ARES，依下述條件測定組成物之黏度。於此，黏度係指複數黏度的絕對值。
溫度：25℃
角頻率：1rad/s
應變：9.5%
|η*|={(G”/ω)2+(G’/ω)2}1/2
於此，η*為複數黏度(單位Pa．s)，G”為損失彈性係數(單位Pa)，G’為貯藏彈性係數(單位Pa)，ω為角頻率(單位rad/s)。
<硬化物之厚度方向的熱傳導率>
對硬化物樣本，藉以下裝置測定熱擴散率、比重及比熱，藉由將此3個測定值相乘而求得。
(1)熱擴散率：切出樣本，成形為直徑12mm、厚約0.5mm的圓盤狀檢體後，使用ULVAC理工公司製之全自動雷射閃光法熱常數測定裝置「TC-7000」，測定厚度方向之熱擴散率。
(2)比重：Mettler Toledo公司製之天秤「XS204」(使用「固體比重測定套組」)進行測定。
(3)比熱：使用Perkin Elmer公司製之示差掃描熱量計「DSC7」，於10℃/分鐘之升溫條件下，使用DSC7之軟體求得25℃下之比熱。
<組成物膜之熱傳導率>
對組成物膜，使用以下裝置，測定熱擴散率、比重及比熱，將此3個測定值相乘，藉此求得熱傳導率。
(1)熱擴散率：切出樣本，成形為直徑10mm、厚約0.5mm的圓盤狀檢體後，使用ai-Phase公司製之「ai-Phase．Mobile 1u」，測定厚度 方向之熱擴散率。
(2)比重：Mettler Toledo公司製之天秤「XS-204」(使用「固體比重測定套組」)進行測定。
(3)比熱：使用精工裝置公司製之「DSC320/6200」，於10℃/分鐘之升溫條件下，使用DSC7之軟體求得25℃下之比熱。
<X射線繞射所進行之氮化硼粒子之結晶子尺寸的測定>
氮化硼粒子之002面之結晶子徑(Lc)，係測定X射線繞射之2θ=26.5°之波峰的半高寬，藉上述(2)式所求得。同樣地，100面之結晶子徑(La)，亦測定X射線繞射之2θ=41.5°之波峰的半高寬，藉上述式(ii)所求得。使用PANalytical公司製PW1700作為X射線繞射裝置。
<氮化硼粒子之含氧量的測定>
藉由惰性氣體熔解-紅外線吸收法的定量分析，測定氮化硼粒子之含氧量。使用HORIBA公司製之氧．氮分析裝置(EMGA-620W)作為分析裝置。
<熔融黏度之測定方法>
使用Anton-Paar Japan公司製黏彈性測定裝置Physica MCR301測定熔融黏度(平行板動態黏度)。
首先，由屬於測定對象之環氧樹脂餾除溶媒而得到固形物，其後，對此固形物進行壓製成形，得到厚約1mm之板狀樣本。將此樣本載置於平行板盤與平行板( 25mm)之間而進行平行板動態黏度測定。測定條件係對上述樣本賦予正弦波應變20%，該應變之角頻率設為10rad/sec，在依1分鐘為3℃之比例進行升溫的過程中，測定40℃~200℃為止的黏度。
[實施例1-1、實施例1-2及比較例1-1] (BN漿料之調製及粉碎) <BN漿料A>
依以下調配比例調製BN漿料A
(BN漿料A之調配)
h-BN粉末(日新REFRATECH公司製「ABN」，總氧含量4重量%)：500g，純水：4250g，黏結劑(日產化學公司製「ALUMINASOL520」，固形份濃度20重量%)：250g，界面活性劑(花王公司製陰離子系界面活性劑「DEMOL NL」)：50g。
將所得BN漿料均勻混合，投入至FREUND TURBO公司製之「OB Mill」中，依轉子旋轉數2000rpm、循環送液量0.5L/min進行循環粉碎160分鐘。粉碎時係使用0.5mm 之氧化鋯製珠球。
BN漿料A之調製中所使用的原料h-BN粉末的總氧含量、總細孔容積及比表面積、與所得BN漿料A中之h-BN之分散粒子的D50，係如表1-A所示。
<BN漿料B>
依以下之調配比例調製漿料B。
(BN漿料B之調配)
h-BN粉末(MARUKA公司製「AP170S」，總氧含量7.5重量%)：500g，純水：4250g，黏結劑(日產化學公司製「ALUMINASOL520」，固形份濃度20重 量%)：250g，界面活性劑(花王公司製陰離子系界面活性劑「DEMOL NL」)：50g。
將所得BN漿料均勻混合，投入至FREUND TURBO公司製之「OB Mill」中，依轉子旋轉數2000rpm、循環送液量0.5L/min進行循環粉碎120分鐘。粉碎時係使用1.0mm 之氧化鋯製珠球。
BN漿料B之調製中所使用的原料h-BN粉末的總氧含量、總細孔容積及比表面積、與所得BN漿料B中之h-BN之分散粒子的D50，係如表1-A所示。
<BN漿料C>
依以下之調配比例調製漿料C。
(BN漿料C之調配)
h-BN粉末(日新REFRATECH公司製「RBN」，總氧含量0.4重量%)：500g，純水：4250g，黏結劑(日產化學公司製「ALUMINASOL520」，固形份濃度20重量%)：250g，界面活性劑(花王公司製陰離子系界面活性劑「DEMOL NL」)：50g。
將所得BN漿料均勻混合，投入至FREUND TURBO公司製之「OB Mill」中，依轉子旋轉數2800rpm、循環送液量0.5L/min進行循環粉碎160分鐘。粉碎時係使用0.30mm 之氧化鋯製珠球。
BN漿料C之調製中所使用的原料h-BN粉末的總氧含量、總細孔容積及比表面積、與所得BN漿料C中之h-BN之分散粒子的D50，係 如表1-A所示。
[球狀化]
將BN漿料A~C，使用藤崎電機公司製之噴霧乾燥機「MDL-050M」，設定以10μm為造粒粒徑D50之造粒條件，分別進行噴霧乾燥而予以球狀化。任一漿料均依送液量30ml/min(15ml/min×2)、壓空壓力0.7MPa、空氣流量92L/min(46L/min×2)進行噴霧，噴嘴噴射後之乾燥溫度設定為200℃。
由各漿料所得之造粒粒子的D50係如表1-A所示。
[加熱處理]
將上述球狀化之各BN造粒粒子，使用環境爐依2000℃、5小時、氮氣流通下進行加熱處理。
加熱處理時之升溫及降溫係如以下般進行。
由室溫起邊一邊進行真空吸引、一邊歷時20分鐘升溫至400℃，於真空吸引下於400℃保持30分鐘。真空度設為10-1~10-2Pa。其後，導入2.0L/分鐘之氮氣予以復壓，直接一邊導入氮氣、一邊依100℃/小時升溫至1500℃，再依50℃/小時由1500℃升溫至2000℃。到達2000℃後，保持5小時。其後，依7℃/分鐘冷卻至室溫。
[分級]
將上述加熱處理後之各BN造粒粒子，使用日清ENGINEERING公司製之回旋氣流式分級機「Aerofine Classifier(AC-20)」進行分級。
以下，將由BN漿料A所得之凝集BN粒子記載為「BN-A」，將由BN漿料B所得之凝集BN粒子記載為「BN-B」，將由BN漿料C所得之凝集BN粒子記載為「BN-C」。
尚且，BN-A為實施例1-1之凝集BN粒子，BN-B為實施例1-2 之凝集BN粒子，BN-C為比較例1-1之凝集BN粒子。
將各凝集BN粒子的D50、最大粒徑、總細孔容積及整體密度之測定結果示於表1-B。
[凝集BN粒子之結晶性及形態觀察]
為了確認原料h-BN粉末之結晶成長方向的差異，針對使用總氧含量為4重量%之h-BN粉末所製作的BN-A、使用總氧含量為7.5重量%之h-BN粉末所製作的BN-B、及使用總氧含量為0.4重量%之h-BN粉末所製作的BN-C，進行加熱處理前後之結晶性確認(XRD)、及SEM之形態變化觀察。
其結果，可知以總氧含量為1重量%以上之h-BN粉末作為原料的BN-A及BN-B，係於凝集BN粒子表面h-BN進行結晶成長為放射狀，亦即BN結晶之一次粒子依a軸朝外之方式向法線方向結晶成長，且形成平均1μm以下之細微之BN一次粒子的結晶。
另一方面，可知以總氧含量為未滿1重量%之h-BN粉末作為原料的BN-C，係結晶成長方向為圓周方向，亦即h-BN之C面朝外。
圖1表示BN-A之加熱處理前後的SEM照片，圖2表示BN-B之加熱處理前後的SEM照片，圖3表示BN-C之加熱處理前後的SEM照片。
另外，將上述結果整合示於表1-1A及表1-1B。
[實施例1-3、1-4、比較例1-2、1-3、1-4] (組成物之調製及評價) <組成物之調製>
使用BN-A、BN-B、BN-C，分別依表2所示比例進行調配。
作為環氧樹脂，係使用將三菱化學公司製之環氧樹脂「1750」與三菱化學公司製之環氧樹脂「YED216」，依「1750」：「YED216」=90：10(重量比)所混合的環氧樹脂組成物。
將上述環氧樹脂組成物與BN-A、BN-B、或BN-C依表1-2所示比例，使用自公轉攪拌機(THINKY公司製，ARV-310)進行混合。
將所得混合物通過間隙間隔調整為20μm的3輥(小平製作所公司製)進行混練，藉此得到組成物(實施例1-3、1-4及比較例1-2)。
於所得組成物2.5g中，相對於環氧樹脂100重量份，添加2重量份之作為硬化劑的2-乙基甲基咪唑，使用上述自公轉攪拌機予以均勻地攪拌混合，將所得之混入了硬化劑的組成物，於玻璃板上舖敷離型PET，利用聚矽氧橡膠挾入至將間隙調整為500μm的模具內，依100℃下1小時、接著150℃下4小時進行加熱硬化，得到表1-2所示厚度之熱傳導率評價用的硬化物樣本(3cm×4cm×表2所示厚度)。接著，對此硬化物樣本測定厚度方向之熱傳導率。
作為比較例1-3及1-4，係使用市售之板狀BN之MOMENTIVE公司製之「PT110」或市售之凝集BN粒子之MOMENTIVE公司製之「PTX25」，分別與上述同樣地依表2所示配方調製組成物，進行與上述相同的處理，進行熱傳導率的測定。
關於「PT110」，係藉粉碎調整為D50=11.0μm而使用。此物之粒徑分佈亦存在最大粒徑大至100μm的粒子。
關於「PTX25」，係使用日清ENGINEERING公司製之「Aerofine Classifier(AC-20)」進行分級，調整為D50=7.9μm(最大粒徑25μm以下)而使用。「PTX25」之分級前雖呈球狀，但分級後所測定之SEM觀察的結果，球形崩壞，成為一次粒子之板狀粒子。構成凝集BN粒子之h-BN一次粒子較大(10μm以上)，故不具有充分強度，無法得到與本發明相同尺寸的凝集BN粒子。
將上述結果與所使用之凝集BN粒子之物性等一起整合示於表1-2。
由表1-2可知，藉由使用本發明之凝集BN粒子，可依較習知品更少的調配量，達成厚度方向的高熱傳導率。
<調製例2-1>
作為上述環氧樹脂(a2-1)的苯氧基樹脂溶液，係如下述般所調製。
將YL6121H(環氧當量171g/當量)、4,4’-聯苯基環氧樹脂與3,3’,5,5’-四甲基-4,4’-聯苯型環氧樹脂的1：1混合物(三菱化學公司製)215重量份、3,3’-二甲基-4,4’-聯苯(OH當量107g/當量，本州化學公司製)127重量份、27重量%四甲基銨氫氧化物水溶液0.32重量份、及作為反應用溶媒之環己酮228重量份，置入具有攪拌機之耐壓反應容器中，於氮氣環境下，依180℃進行反應5小時。其後，加入作為稀釋用溶劑之環己酮171重量份及甲基乙基酮399重量份以調整固形份濃度。由反應生成物藉常法去除溶劑，得到30重量%的樹脂溶液。
<調製例2-2>
如下述般製造作為填充材(B-1)的氮化硼粒子。
將日新REFRATECH公司製之R-BN(X射線繞射中之002面之結晶子尺寸為299Å與100面之結晶子尺寸為339Å的六方晶氮化硼)200g置入碳製坩堝中，使用碳爐依2100℃、15小時、氮氣環境下進行燒成。所得氮化硼粒子之平均粒徑為3.5μm。
燒成前之日新REFRATECH公司製之R-BN(填充材(B-2))、與藉燒成所得之氮化硼粒子(填充材(B-1))的物性評價結果示於表2-1。
<參考例2-1>
將表2-2所示之助焊劑與有機溶劑(將甲基乙基酮與環己酮依調配重量比(35：65)混合者)依表2-2記載之助焊劑濃度進行調配後，攪拌混合，得到助焊劑溶液。
將此助焊劑溶液於10mm×10mm銅基板上滴下50μL後，於此助焊劑液滴中，添加焊球(Sn3.0Ag0.5Cu，直徑300μm)。將此基板於加熱板上依120℃加熱1分鐘以餾除溶媒。
接著，將此基板於250℃之加熱板上，依250℃進行10秒加熱，評價焊球對銅基板之熔解性的良(○)否(×)。結果示於表2-2。
由表2-2可闡明，若使用有機羧酸及有機羧酸酯作為助焊劑，則焊球在既定溫度下熔解，與銅基板形成良好的接合。另一方面，胺基酸類對溶媒的溶解性低，或咪唑類之作為助焊劑的作用較低，而焊球與銅基板無法接合。
※3 Suntacid H：單烷基乙烯基醚嵌段2官能低分子型羧酸(日油公司製)※4 Suntacid I：單烷基乙烯基醚嵌段2官能羧酸(日油公司製)※5 2E4MZ：2-乙基-4-甲基咪唑(四國化成工業公司製)※6 C11Z-CN：1-氰基乙基-2-十一基咪唑(四國化成工業公司製)
<實施例2-1>
於作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a1-1)2.50g、環氧樹脂(a1-3)1.43g(70重量%環己烷溶液)、環氧樹脂(a2-1)3.33g(30重量%甲基乙基酮/環己酮=5/5溶液)、及環氧樹脂(a3-1)0.63g(80重量%環己酮溶液)中，加入有機溶媒(Eb)5.81g，使用自公轉攪拌機(THINKY公司製，ARV-310)進行攪拌混合。於其中加入填充材(B-1)5.00g，再添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)24.0g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌33分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.20g及助焊劑(D)0.10g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此實施例2-1中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為2.1Pa．s。
將此塗佈液塗佈至經離型處理的玻璃基板，於減壓下依120℃加熱30分鐘，餾除溶媒而形成塗膜。於此膜上再載放經離型處理之玻璃基板而予以挾持後，依150℃下1小時、接著200℃下1小時進行壓製(壓力1MPa)，藉此使其成形、硬化而得到膜厚500μm的組成物膜。
測定所得膜之熱傳導率，結果為1.4W/(m．K)。
<比較例2-1>
除了使用填充材(B-2)作為填充材之外，其餘與實施例2-1同樣進行而得到組成物膜。與實施例2-1同樣地測定熱傳導率，結果熱傳導率為0.9W/(m．K)。
<比較例2-2>
除了使用填充材(B-3)作為填充材之外，其餘與實施例2-1同樣進行而得到組成物膜。與實施例2-1同樣地測定熱傳導率，結果此膜之熱傳導率為0.4W/(m．K)。
<實施例2-2>
於作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a1-1)2.50g、環氧樹脂(a1-3)0.71g(70重量%環己烷溶液)、環氧樹脂(a2-1)3.33g(30重量%甲基乙基酮/環己酮=5/5溶液)、及環氧樹脂(a3-1)1.25g(80重量%環己酮溶液)中，加入分散劑(F)0.10g及有機溶媒(Eb)5.90g，使用自公轉攪拌機進行攪拌混合。於其中加入填充材(B-1)5.00g，再添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)24.0g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌33分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.20g及助焊劑(D)0.10g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此實施例2-2中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為2.1Pa．s。
使用此組成物塗佈液與實施例2-1同樣地形成膜厚50μm的組成物膜，與實施例2-1同樣地測定熱傳導率，結果熱傳導率為1.2W/(m．K)。
另外，將此組成物塗佈液塗佈至WALTS公司製之矽製焊錫凸塊基板(CC80Modell)25μL後，於加熱板上依60℃下15分鐘、80℃下15分鐘及120℃下30分鐘進行加熱，餾除溶媒。再於加熱板上依150℃進行10分鐘加熱，作成B階段化膜。
將上述焊錫凸塊基板及WALTS公司製之有機中介板(CC80Modell)，使用東麗Engineering公司製之覆晶接合機(FC3000S)，升溫至250℃進行加熱壓黏接合，其後予以冷卻，依165℃硬化2小時， 形成積層體。藉由數位萬用表(Keithley公司製2400)測定積層體內部之菊鏈(Daisy Chain)之電阻，結果為10Ω以下。
<比較例2-3>
除了使用填充材(B-2)作為填充材之外，其餘與實施例2-2同樣進行而得到組成物膜。與實施例2-1同樣地測定熱傳導率，結果熱傳導率為0.9W/(m．K)。
<實施例2-3>
將作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a3-1)2.50g、環氧樹脂(a1-2)6.25g及環氧樹脂(a2-2)3.75g，攪拌溶解於有機溶媒(Eb)12.5g。於其中加入分散劑(F)0.25g、助焊劑(D)0.25g及溶媒(E1)11.75g，再添加填充材(B-1)12.5g及直徑0.5mm之氧化鋯球(YTZ-0.5)100g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.25g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此實施例2-3中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為未滿2Pa．s。
另外，使用此組成物塗佈液與實施例2-2同樣地進行B階段化，進而形成積層體，測定積層體內部之菊鏈的電阻，結果為20Ω以下。
[調製例3-1]
調製例3-1中作為環氧樹脂(a2-1)的苯氧基樹脂溶液，係與調製例2-1同樣地進行調製。
[調製例3-2]
作為填充材(B-1)的凝集BN粒子，係與[實施例1-1]之凝集BN粒子的[BN-A]同樣地進行調製、評價。所得凝集BN粒子之結晶性及評 價結果係與實施例1-1之BN-A相同。
尚且，所得凝集BN粒子之D50為4.1μm，最大粒徑為9.3μm，總細孔容積為2.00cm3/g，整體密度為0.36g/cm3。
<實施例3-1>
於作為環氧樹脂(A1)之上述環氧樹脂(a1-1)3.50g、環氧樹脂(a1-3)1.00g(70重量%環己烷溶液)、環氧樹脂(a2-1)4.67g(30重量%甲基乙基酮/環己酮=5/5溶液)、及環氧樹脂(a3-1)1.75g(80重量%環己酮溶液)中，加入分散劑(F)0.60g及有機溶媒(Eb)5.05g，使用自公轉攪拌機進行攪拌混合。於其中加入填充材(B-1)3.01g，再添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)24.0g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.28g及助焊劑(D)0.14g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此實施例3-1中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為2.1Pa．s。
將此組成物塗佈液塗佈至WALTS公司製之矽製焊錫凸塊基板(CC80Modell)25μL後，於加熱板上依60℃下15分鐘、80℃下15分鐘及120℃下30分鐘進行加熱，餾除溶媒。再於加熱板上依150℃進行10分鐘加熱，作成B階段化膜。
將上述焊錫凸塊基板及WALTS公司製之有機中介板(CC80Modell)，使用東麗Engineering公司製之覆晶接合機(FC3000S)，升溫至250℃進行加熱壓黏接合，其後予以冷卻，依165℃硬化2小時，形成積層體。藉由數位萬用表測定積層體內部之菊鏈之電阻，結果為10Ω以下。
<實施例3-2>
於作為環氧樹脂(A1)之上述環氧樹脂(a1-1)2.50g、環氧樹脂(a1-3)0.71g(70重量%環己烷溶液)、環氧樹脂(a2-1)3.33g(30重量%甲基乙基酮/環己酮=5/5溶液)、及環氧樹脂(a3-1)1.25g(80重量%環己酮溶液)中，加入分散劑(F)0.10g及溶媒(Eb)5.90g，使用自公轉攪拌機進行攪拌混合。於其中加入填充材(B-1)5.00g，再添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)24.0g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，加入硬化劑(C)0.20g及助焊劑(D)0.10g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。尚且，此實施例3-2中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為2.1Pa．s。
將此塗佈液塗佈至經離型處理的玻璃基板，於減壓下依120℃加熱30分鐘，餾除溶媒而形成塗膜。於此膜上再載放經離型處理之玻璃基板而予以挾持後，依150℃下1小時、接著200℃下1小時進行壓製(壓力1MPa)，藉此使其成形、硬化而得到膜厚500μm的組成物膜。
測定所得膜之熱傳導率，結果為1.4W/(m．K)。
<實施例3-3>
將作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a3-1)1.00g、環氧樹脂(a1-2)2.50g及環氧樹脂(a2-2)1.50g，攪拌溶解於有機溶媒(Eb)5.00g。於其中加入分散劑(F)0.05g、助焊劑(D)0.10g及有機溶媒(Eb)2.44g，再添加填充材(B-1)2.14g，並添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)24.0g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，加入硬化劑(C)0.10g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此實施例3-3中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為未滿2Pa．s。
另外，使用此塗佈液與實施例3-1同樣地進行B階段化，進而形 成積層體，測定積層體內部之菊鏈的電阻，結果為20Ω以下。
<比較例3-1>
於作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a3-1)2.50g、環氧樹脂(a1-2)6.25g及環氧樹脂(a2-2)3.75g中，加入有機溶媒(Eb)12.5g攪拌溶解。於其中加入分散劑(F)0.25g、助焊劑(D)0.25g及有機溶媒(Eb)11.75g，再添加填充材(B-3)12.5g及直徑0.5mm之氧化鋯球(YTZ-0.5)100g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.25g，以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此比較例3-1中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為未滿2Pa．s。
使用此塗佈液，與實施例3-2同樣地形成膜厚50μm之組成物膜，測定膜之熱傳導率，結果為0.4W/(m．K)。
<比較例3-2>
除了使用填充材(B-2)作為填充材之外，其餘與比較例3-1同樣進行而調製糊膏(組成物塗佈液)。使用此組成物塗佈液，與實施例3-2同樣地形成膜厚50μm之組成物膜，測定膜之熱傳導率，結果為0.9W/(m．K)。
<比較例3-3>
除了使用填充材(B-2)作為填充材，添加直徑2mm之氧化鋯球(YTZ-2)25g，以自公轉攪拌機依2000rpm攪拌33分鐘。其後，藉過濾去除珠球，再加入硬化劑(C)0.20g及助焊劑(D)0.10g，以自公轉攪拌機攪拌6分鐘之外，其餘與實施例3-2同樣進行得到糊膏(組成物塗佈液)。
接著，使用此組成物塗佈液，與實施例3-2同樣地形成膜厚50μm之組成物膜。與實施例3-2同樣地測定膜之熱傳導率，結果為0.9W/(m．K)。
<比較例3-4>
將作為環氧樹脂(A1)之環氧樹脂(a3-1)2.50g、環氧樹脂(a1-2)6.25g及環氧樹脂(a2-2)3.75g，攪拌溶解於有機溶媒(Eb)12.5g。於其中加入分散劑(F)0.25g、助焊劑(D)0.25g及有機溶媒(Eb)11.75g，再添加填充材(B-2)12.5g及直徑0.5mm之氧化鋯球(YTZ-0.5)100g，使用自公轉攪拌機依2000rpm攪拌10分鐘。攪拌結束後，藉過濾去除珠球，加入硬化劑(C)0.25g，再以自公轉攪拌機攪拌6分鐘，得到糊膏(組成物塗佈液)。
尚且，此比較例3-4中所使用之環氧樹脂(A1)於120℃下之熔融黏度為未滿2Pa．s。
接著，使用此組成物塗佈液，與實施例3-2同樣地形成膜厚50μm之組成物膜。與實施例3-2同樣地測定膜之熱傳導率，結果為0.9W/(m．K)。
(產業上之可利用性)
藉由使用本發明之組成物及組成物塗佈液，在半導體裝置基板間之焊錫凸塊等與連接盤的接合的同時，可形成熱傳導性高、高品質之層間填充層，具有該層間填充層之半導體基板積層體可用於作為三維積體電路用積層體。
尚且，2011年11月29日申請之日本專利申請案2011-260238號、2012年4月27日申請之日本專利申請案2012-103216號、及2012年4月27日申請之日本專利申請案2012-103217號之說明書、申請專利 範圍、圖式及摘要的所有內容係引用於此，作為本發明說明書之揭示。

Claims (15)

  1. 一種氮化硼凝集粒子，係六方晶氮化硼一次粒子凝集而成者，其中，該氮化硼凝集粒子中之一次粒子彼此間具有卡屋構造(card-house structure)。
  2. 如請求項1之氮化硼凝集粒子，其中，上述氮化硼凝集粒子為球狀。
  3. 如請求項1或2之氮化硼凝集粒子，其中，具有上述氮化硼凝集粒子中的上述氮化硼一次粒子之板狀面與端面部接觸的構造。
  4. 如請求項1或2之氮化硼凝集粒子，其中，上述氮化硼凝集粒子之100面之微晶尺寸(La)為500[Å]以上。
  5. 如請求項1或2之氮化硼凝集粒子，其中，上述氮化硼凝集粒子之氧含量為0.30重量%以下。
  6. 如請求項1或2之氮化硼凝集粒子，其中，上述氮化硼凝集粒子之總細孔容積為2.15cm3/g以下。
  7. 如請求項1或2之氮化硼凝集粒子，其中，整體密度為0.3g/cm3以上。
  8. 一種組成物，係含有：由請求項1至7中任一項之氮化硼凝集粒子所構成之填充材(B)；與120℃下之熔融黏度為100Pa．s以下之樹脂(A)。
  9. 如請求項8之組成物，其中，樹脂(A)每100重量份中，含有上述填充材(B)40重量份以上且400重量份以下。
  10. 如請求項8或9之組成物，其中，進一步含有硬化劑(C)。
  11. 如請求項8或9之組成物，其中，進一步含有助焊劑(D)。
  12. 如請求項8或9之組成物，其中，上述樹脂(A)為熱硬化性樹脂。
  13. 一種組成物塗佈液，係含有請求項8或9之組成物、與有機溶媒(E)而成。
  14. 一種積層體之製造方法，係含有：於板表面使請求項13之組成物塗佈液進行成膜後，將此等加壓接合並積層於基板的步驟。
  15. 一種成形體，係含有：請求項1至7中任一項之氮化硼凝集粒子或請求項8至12中任一項之組成物。
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