KR920007178A - 반도체 집적회로 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 한 실시예를 개략적으로 도시한 회로도,
제2도, 제3도는 제1도의 주요부를 도시한 것으로,
제2도는 평면도,
제3도는 측단면도.
Claims (7)
- 기판(11)상에 배설된 복수의 스탠다드ㆍ셀(121-12n), 이들 스탠다드ㆍ셀 상호간을 접속하는 제1배선층(161-16n), 제1배선층을 따라 설치되고, 스탠다드ㆍ셀에는 접속되지 않으며, 제1배선층과 함께 캐패시터를 구성하는 제2배선층(171-17n,31,41, 51,61,71,81 및 91),및 이들 제1,제2 배선층을 접속하는 관통구멍(21,32,43,53,62, 73,84,85 및 92)를 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제2배선층을 복수로 분할해서 제1배선층의 하측 또는 상측에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1배선층이 병렬로 복수개 설치되고, 상기 제2배선층이 이들 제1배선층의 상호간에서 제1배선층 보다 하측 또는 상측에 설치되고,제2배선층에는 제1배선층의 하측 또는 상측에 설치되어 관통구멍을 통해 제1배선층에 접속되는 콘택트부에 설치되어 있는것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1배선층이 병렬로 복수개 설치되고, 제2배선층이 이들 제1배선층의 상호간에서 제1배선층에서 하측 또는 상측에 분할해서 설치되고, 분할된 제2배선층 각각에는 제1배선층의 하측 또는 상측으로 돌출되어 관통구멍을 통해 제1배선층에 접속되는 콘택트부가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1배선층에 관통구멍을 통해서 접속되는 제2배선층이 분할되어 그 가로 방향이 제1배선층과 직교되어 이들 제1배선층에서 하측 또는 상측에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1배선층이 병렬로 복수개 설치되고, 이들제1배선층에 관통구멍을 통해 접속되는 제2배선층의 이들 제1배선층에 직교되고, 제1배선층보다 하측 또는 상측에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1배선층이 상하방향에 복수개의 설치된 다충배선 구조로 되고, 제1배선에 관통구멍을 통해 접속되는 제2배선층이 이들 제1배선층의 상호간에 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25908590A JP3238395B2 (ja) | 1990-09-28 | 1990-09-28 | 半導体集積回路 |
JP90-259085 | 1990-09-28 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR920007178A true KR920007178A (ko) | 1992-04-28 |
KR960000514B1 KR960000514B1 (ko) | 1996-01-08 |
Family
ID=17329112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019910016884A KR960000514B1 (ko) | 1990-09-28 | 1991-09-27 | 반도체 집적회로 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5294837A (ko) |
JP (1) | JP3238395B2 (ko) |
KR (1) | KR960000514B1 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05283467A (ja) * | 1992-03-30 | 1993-10-29 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
US5446410A (en) * | 1992-04-20 | 1995-08-29 | Matsushita Electric Industrial Co.,Ltd. | Semiconductor integrated circuit |
JP3392477B2 (ja) * | 1993-09-06 | 2003-03-31 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US5471416A (en) * | 1994-11-14 | 1995-11-28 | National Semiconductor Corporation | Method of programming a CMOS read only memory at the second metal layer in a two-metal process |
US5760478A (en) * | 1996-08-20 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Clock skew minimization system and method for integrated circuits |
US5798568A (en) * | 1996-08-26 | 1998-08-25 | Motorola, Inc. | Semiconductor component with multi-level interconnect system and method of manufacture |
USRE38550E1 (en) * | 1996-10-18 | 2004-07-06 | California Micro Devices, Inc. | Method for programmable integrated passive devices |
JPH10150037A (ja) * | 1996-11-18 | 1998-06-02 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
US6172528B1 (en) * | 1999-01-20 | 2001-01-09 | Fairchild Semiconductor Corporation | Charge sharing circuit for fanout buffer |
JP2002026132A (ja) | 2000-07-07 | 2002-01-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の配置配線方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2002357636A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | スキャンテスト用フリップフロップ回路、論理マクロ、スキャンテスト回路及びそのレイアウト方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54101282A (en) * | 1978-01-27 | 1979-08-09 | Hitachi Ltd | Two layer rolysilicon semiconductor device |
JPS58213450A (ja) * | 1982-06-04 | 1983-12-12 | Toshiba Corp | 半導体装置の多層配線構造 |
JPS6450443A (en) * | 1987-08-20 | 1989-02-27 | Toshiba Corp | Semiconductor device |
JPH073840B2 (ja) * | 1987-08-31 | 1995-01-18 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JPH0831458B2 (ja) * | 1987-09-08 | 1996-03-27 | 三菱電機株式会社 | 超電導配線集積回路 |
US5025303A (en) * | 1988-02-26 | 1991-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Product of pillar alignment and formation process |
JPH02220464A (ja) * | 1989-02-22 | 1990-09-03 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
JPH03129738A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-06-03 | Nec Corp | 半導体装置 |
-
1990
- 1990-09-28 JP JP25908590A patent/JP3238395B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-09-27 KR KR1019910016884A patent/KR960000514B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1992
- 1992-11-18 US US07/978,046 patent/US5294837A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR960000514B1 (ko) | 1996-01-08 |
US5294837A (en) | 1994-03-15 |
JPH04137652A (ja) | 1992-05-12 |
JP3238395B2 (ja) | 2001-12-10 |
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