JP6616037B2 - 発光装置 - Google Patents
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- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
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- H01L29/7869—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film having a semiconductor body comprising an oxide semiconductor material, e.g. zinc oxide, copper aluminium oxide, cadmium stannate
-
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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-
- H—ELECTRICITY
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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-
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- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
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-
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- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
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Description
に関する。また、そのような発光装置を搭載した電子機器に関する。
型化に関しては市場のニーズも後押しし、著しい進歩を遂げている。
されている。実際に、ディスプレイのフレキシブル化に関しては、様々な提案がなされて
いる(例えば特許文献1参照)。また、フレキシブルな基板を用いた発光装置は、ガラス
などを用いた場合と比較して軽量化することが可能である。
。
向上させることが効果的である。
ため、フレキシブルな基板を用いてフルカラーディスプレイを作製する場合、表示部の適
切な領域に発光層を高精細に塗り分けたり、カラーフィルタを設置するのは困難であると
いう問題があった。
スプレイであっても、高精細なフルカラー表示が可能な発光装置を提供することを課題と
する。
ジスタを含む素子形成層を形成し、次いで、当該素子形成層をプラスチック基板に転置し
た後、白色発光を呈する発光素子を形成することで解決することができる。
を介して形成された絶縁層と、該絶縁層上に形成された薄膜トランジスタと、該薄膜トラ
ンジスタ上に形成された保護絶縁膜と、該保護絶縁膜上に形成されたカラーフィルタと、
該カラーフィルタ上に形成された層間絶縁膜と、該層間絶縁膜上に形成され、当該薄膜ト
ランジスタと電気的に接続する白色発光素子と、を有する発光装置である。このような発
光装置は、フレキシブルな発光装置でありながら、高精細なフルカラー表示が可能である
。
を介して形成された絶縁層と、該絶縁層上に形成された薄膜トランジスタと、該薄膜トラ
ンジスタ上に形成された第1の保護絶縁膜と、該第1の保護絶縁膜上に形成されたカラー
フィルタと、該カラーフィルタ上に形成された第2の保護絶縁膜と、該第2の保護絶縁膜
上に形成された層間絶縁膜と、該層間絶縁膜上に形成され、当該薄膜トランジスタと電気
的に接続する白色発光素子と、を有する発光装置である。該発光装置は、フレキシブルな
発光装置でありながら、高精細なフルカラー表示が可能である。また、本構成を有する発
光装置は、第2の保護絶縁膜によって、カラーフィルタから放出されたガスから白色発光
素子を保護することができるため、より信頼性の高い発光装置である。
に対応させて形成され、当該カラーフィルタの外周部分において、第1の保護絶縁膜と、
第2の保護絶縁膜とが接する発光装置も本発明の他の一態様である。当該発光装置では、
カラーフィルタから放出されたガスやその他汚染から有効に白色発光素子及び薄膜トラン
ジスタを保護することができる。そのため、さらに信頼性の向上した発光装置である。
汚染物質やカラーフィルタから放出されたガスの拡散をより有効に抑制することができる
ためである。
を介して形成された第1の絶縁層と、該第1の絶縁層上に形成されたカラーフィルタと、
該カラーフィルタを覆って形成された第2の絶縁層上に形成された薄膜トランジスタと、
該薄膜トランジスタ上に形成され、当該薄膜トランジスタに電気的に接続する白色発光素
子と、を有する発光装置である。このような構成を有する発光装置であっても、フレキシ
ブル且つ高精細なフルカラー表示を実現できる。
ンジスタを形成することから、薄膜トランジスタの半導体層は、アモルファスシリコン、
有機半導体、酸化物半導体、又は微結晶シリコンのいずれかで形成されていることが好ま
しい。
ー表示が可能である。
の異なる態様で実施することが可能であり、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱すること
なくその形態及び詳細を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従っ
て、本実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
本発明の一態様の発光装置は、TFTや発光素子の電極などを含む素子形成層が、接着
剤を介してプラスチック基板によって支持されており、プラスチック基板と発光素子の間
にカラーフィルタを有することを特徴としている。
まず、ガラスやセラミックなどを材料とする可撓性の小さい作製基板上に剥離層を介して
、TFT、カラーフィルタ、及び発光素子の第1の画素電極を含む素子形成層を形成する
。次いで、剥離層において、作製基板と素子形成層とを分離し、分離した素子形成層を接
着剤を用いてプラスチック基板と接着する。
タが形成される。そのため、高精細なフルカラー表示を行う表示装置を意図した画素配置
であっても、アライメントが大きくずれることが無い。これによって、フレキシブル且つ
高精細なフルカラー表示が可能になる。
に、カラーフィルタ上に保護絶縁膜を設けても良い。
ている。接着剤111は絶縁層112と接するように設けられ、素子形成層113と、プ
ラスチック基板110とを接着している。素子形成層113には画素TFT114や駆動
回路部のTFT115、カラーフィルタ116、画素TFT114に電気的に接続する発
光素子121の第1の画素電極117、及び隔壁118が設けられており、図1(A)で
はそれらの一部が示されている。発光素子121は、隔壁118から露出した第1の画素
電極117と、少なくとも第1の画素電極117を覆って形成された発光物質を含むEL
層119と、EL層119を覆って設けられた第2の画素電極120とによって形成され
ている。
れの波長領域にピークを有する光が好ましい。発光素子121のEL層119及び第2の
画素電極120は、素子形成層113がプラスチック基板110に接着された後に形成さ
れる。なお、発光素子121のEL層119及び第2の画素電極120は、全画素共通で
形成されるため、プラスチック基板110上において形成されたとしてもアライメントが
問題になることはない。
した後に形成される。なお、カラーフィルタ116は、TFT上に設けられた第1の保護
絶縁膜122の上に形成されることが好ましい。第1の保護絶縁膜122によって、TF
Tをカラーフィルタ116からの汚染物から保護することができるためである。
。この構成では、カラーフィルタ116から放出されたガスが発光素子121に及ぼす悪
影響を軽減することができるため、より信頼性の高い発光装置を提供することができる。
ルタ124を設けた構成である。この構成では、少なくともカラーフィルタ124の外周
において、第1の保護絶縁膜122と、カラーフィルタ124を覆って形成した第2の保
護絶縁膜123とが接する構成となり、カラーフィルタ124が保護絶縁膜によって完全
に覆われた状態となる。これによって、カラーフィルタ124からガスなどの汚染物質が
発生して拡散することをより有効に防ぐことができる。なお、第1の保護絶縁膜122と
、第2の保護絶縁膜123とは、同じ材料で形成することが好ましい。さらにはこれらを
窒化シリコンもしくは酸素より窒素の含有量の多い酸化窒化シリコンで形成するとより好
ましい。
至(C)を用いて説明する。
ルタ、及び第1の画素電極等を含む素子形成層113を形成する(図3(A)参照)。
表面に絶縁層が形成された金属基板などを用いることができる。発光装置の作製工程にお
いて、その工程に合わせて作製基板200を適宜選択することができる。
板を用いていることから、高精細の表示に適した配置で画素TFTやカラーフィルタを設
けることができる。
テン(W)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、タンタル(Ta)、ニオブ(Nb)
、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ジルコニウム(Zr)、亜鉛(Zn)、ルテニ
ウム(Ru)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウ
ム(Ir)、シリコン(Si)から選択された元素、これらの元素を主成分とする合金材
料、又はこれらの元素を主成分とする化合物材料からなる層の単層構造又は積層構造によ
り形成する。シリコンを含む層の結晶構造は、非晶質、微結晶、多結晶のいずれの場合で
もよい。なお、ここでは、塗布法は、スピンコーティング法、液滴吐出法、ディスペンス
法、ノズルプリンティング法、スロットダイコーティング法を含む。
ステンとモリブデンの混合物を含む層、タングステンの酸化物若しくは酸化窒化物を含む
層、モリブデンの酸化物若しくは酸化窒化物を含む層、又はタングステンとモリブデンの
混合物の酸化物若しくは酸化窒化物を含む層を形成する。なお、タングステンとモリブデ
ンの混合物とは、例えば、タングステンとモリブデンの合金に相当する。
ン層、又はタングステンとモリブデンの混合物を含む層を形成し、2層目として、タング
ステンの酸化物、窒化物、酸化窒化物、若しくは窒化酸化物を含む層、モリブデンの酸化
物、窒化物、酸化窒化物、若しくは窒化酸化物を含む層、又はタングステンとモリブデン
の混合物の酸化物、窒化物、酸化窒化物、若しくは窒化酸化物を含む層を形成する。
造を形成する場合、タングステンを含む層を形成し、その上層に酸化物で形成される絶縁
層(例えば、酸化シリコン層)を形成することで、タングステン層と絶縁層との界面に、
タングステンの酸化物を含む層が形成されることを活用してもよい。さらには、タングス
テンを含む層の表面を、熱酸化処理、酸素プラズマ処理、オゾン水等の酸化力の強い溶液
での処理等を行ってタングステンの酸化物を含む層を形成してもよい。また、プラズマ処
理や加熱処理は、酸素、窒素、一酸化二窒素、又はこれらのガスとその他のガスとの混合
気体雰囲気下で行ってもよい。これは、タングステンの窒化物、酸化窒化物、及び窒化酸
化物を含む層を形成する場合も同様であり、タングステンを含む層を形成後、その上層に
窒化物、酸化窒化物、又は窒化酸化物で形成される絶縁層(例えば、窒化シリコン層、酸
化窒化シリコン層、窒化酸化シリコン層)を形成するとよい。
シリコンなどの無機絶縁膜を用い、単層又は複数層にて作製することができる。
)半導体、多結晶半導体、微結晶(セミアモルファス若しくはマイクロクリスタル、以下
「SAS」ともいう)半導体、又は有機材料を主成分とする半導体などを用いることがで
きる。また、半導体層は、スパッタ法、LPCVD法、またはプラズマCVD法等により
成膜することができる。
な準安定状態に属するものである。すなわち、自由エネルギー的に安定な第3の状態を有
する半導体であって、短距離秩序を持ち格子歪みを有する。柱状または針状結晶が基板表
面に対して法線方向に成長している。微結晶半導体の代表例である微結晶シリコンは、そ
のラマンスペクトルが単結晶シリコンを示す520cm−1よりも低波数側に、シフトし
ている。即ち、単結晶シリコンを示す520cm−1とアモルファスシリコンを示す48
0cm−1の間に微結晶シリコンのラマンスペクトルのピークがある。また、未結合手(
ダングリングボンド)を終端するため水素またはハロゲンを少なくとも1原子%またはそ
れ以上含ませている。さらに、ヘリウム、アルゴン、クリプトン、ネオンなどの希ガス元
素を含ませて格子歪みをさらに助長させることで、安定性が増し良好な微結晶半導体膜が
得られる。
または周波数が1GHz以上のマイクロ波プラズマCVD法により形成することができる
。代表的には、SiH4、Si2H6、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4、S
iF4などの水素化シリコンやハロゲン化シリコンを水素で希釈したガスを用いて形成す
ることができる。また、水素化シリコン及び水素を含むガスをヘリウム、アルゴン、クリ
プトン、ネオンから選ばれた一種または複数種の希ガス元素で希釈して用いることで微結
晶半導体膜を形成することができる。このときの水素化シリコンに対して水素の流量比を
5倍以上200倍以下、好ましくは50倍以上150倍以下、更に好ましくは100倍と
する。
としては代表的にはポリシリコンなどがあげられる。ポリシリコン(多結晶シリコン)に
は、800℃以上のプロセス温度を経て形成されるポリシリコンを主材料として用いた所
謂高温ポリシリコンや、600℃以下のプロセス温度で形成されるポリシリコンを主材料
として用いた所謂低温ポリシリコン、また結晶化を促進する元素などを用いて、非晶質シ
リコンを結晶化させたポリシリコンなどを含んでいる。もちろん、前述したように、微結
晶半導体又は半導体層の一部に結晶相を含む半導体を用いることもできる。
かGaAs、InP、SiC、ZnSe、GaN、SiGeなどのような化合物半導体も
用いることができる。また、酸化物半導体である酸化亜鉛、酸化スズ、酸化マグネシウム
亜鉛、酸化ガリウム、インジウム酸化物、及び上記酸化物半導体の複数より構成される酸
化物半導体などを用いることができる。例えば、酸化亜鉛と、インジウム酸化物と、酸化
ガリウムとから構成される酸化物半導体なども用いることができる。なお、酸化亜鉛を半
導体層に用いる場合、ゲート絶縁膜を酸化イットリウム、酸化アルミニウム、酸化チタン
、それらの積層などを用いるとよく、ゲート電極層、ソース電極層、ドレイン電極層とし
ては、ITO、Au、Tiなどを用いるとよい。また、酸化亜鉛にInやGaなどを添加
することもできる。
方法(レーザ結晶化法、熱結晶化法、またはニッケルなどの結晶化を助長する元素を用い
た熱結晶化法等)を用いれば良い。また、SASである微結晶半導体をレーザ照射して結
晶化し、結晶性を高めることもできる。結晶化を助長する元素を導入しない場合は、非晶
質シリコン膜にレーザ光を照射する前に、窒素雰囲気下500℃で1時間加熱することに
よって非晶質シリコン膜の含有水素濃度を1×1020atoms/cm3以下にまで低
下させる。これは水素を多く含んだ非晶質シリコン膜にレーザ光を照射すると非晶質シリ
コン膜が破壊されてしまうからである。
面又はその内部に存在させ得る手法であれば特に限定はない。例えば、スパッタ法、CV
D法、プラズマ処理法(プラズマCVD法も含む)、吸着法、又は金属塩の溶液を塗布す
る方法などを使用することができる。このうち溶液を用いる方法は簡便であり、金属元素
の濃度調整が容易であるという点で有用である。また、このとき非晶質半導体層の表面の
濡れ性を改善し、非晶質半導体層の表面全体に水溶液を行き渡らせるため、酸素雰囲気下
でのUV光の照射処理、熱酸化処理、又はヒドロキシラジカルを含むオゾン水若しくは過
酸化水素による処理等により、酸化膜を形成することが望ましい。
導体層に結晶化を促進する元素(触媒元素、金属元素とも示す)を添加し、熱処理(55
0℃〜750℃で3分〜24時間)により結晶化を行ってもよい。結晶化を助長(促進)
する元素としては、鉄(Fe)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ルテニウム(R
u)、ロジウム(Rh)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir
)、白金(Pt)、銅(Cu)、及び金(Au)から選ばれた一種又は複数種類を用いる
ことができる。
接して、不純物元素を含む半導体層を形成し、ゲッタリングシンクとして機能させる。不
純物元素としては、n型を付与する不純物元素、p型を付与する不純物元素や希ガス元素
などを用いることができる。例えば、リン(P)、窒素(N)、ヒ素(As)、アンチモ
ン(Sb)、ビスマス(Bi)、ボロン(B)、ヘリウム(He)、ネオン(Ne)、ア
ルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、及びキセノン(Xe)から選ばれた一種又は複数
種を用いることができる。具体的には、結晶化を促進する元素を含む結晶性半導体層に接
するように上述した不純物元素を含む半導体層を形成し、熱処理(550℃〜750℃で
3分〜24時間)を行う。結晶性半導体層中に含まれる結晶化を促進する元素は、不純物
元素を含む半導体層中に移動し、結晶性半導体層中の結晶化を促進する元素は除去又は低
減される。その後、ゲッタリングシンクとなった不純物元素を含む半導体層を除去する。
もよく、熱処理やレーザ光照射を単独で、複数回行っても良い。
ラズマ処理法を用いて、結晶性半導体層を選択的に基板に形成してもよい。
ができる。具体的には、ペンタセン、テトラセン、チオフェンオリゴマ誘導体、ポリフェ
ニレン誘導体、フタロシアニン化合物、ポリアセチレン誘導体、ポリチオフェン誘導体、
シアニン色素等が挙げられる。
絶縁膜は、酸化シリコンの単層又は酸化シリコンと窒化シリコンの積層構造など、公知の
構造で作製すればよい。また、ゲート電極は、CVD法やスパッタ法、液滴吐出法などを
用い、Ag、Au、Cu、Ni、Pt、Pd、Ir、Rh、W、Al、Ta、Mo、Cd
、Zn、Fe、Ti、Si、Ge、Zr、Baから選ばれた元素、又はこれらの元素を主
成分とする合金材料もしくは化合物材料で形成すればよい。また、リン等の不純物元素を
ドーピングした多結晶シリコン膜に代表される半導体膜や、AgPdCu合金を用いても
よい。また、単層構造でも複数層の構造でもよい。
その他、ボトムゲート構造や公知の他の構造のトランジスタを用いても構わない。
縁膜122は、酸化シリコン膜、酸化窒化シリコン膜、窒化酸化シリコン膜、及び窒化シ
リコン膜のいずれか、又はこれらを組み合わせた積層膜により形成すればよい。いずれに
しても第1の保護絶縁膜122は無機絶縁材料から形成する。第1の保護絶縁膜122を
設けることによって、後に形成するカラーフィルタ116からのTFTの汚染を軽減させ
ることができる。第1の保護絶縁膜122は、窒化シリコン膜若しくは窒素の含有量が酸
素の含有量よりも多い窒化酸化シリコン膜を用いることが、カラーフィルタ116からの
汚染物を有効にブロック出来るため好ましい構成である。
)では1色のカラーフィルタしか示していないが、赤色光を透過するカラーフィルタ、青
色光を透過するカラーフィルタ、及び緑色光を透過するカラーフィルタが適宜所定の配置
及び形状で形成されている。カラーフィルタ116の配列パターンは、ストライプ配列、
斜めモザイク配列、三角モザイク配列、又はRGBW四画素配列などがあるが、どのよう
な配列をとっても良い。RGBW4画素配列は、赤色光を透過するカラーフィルタが設け
られた画素、青色光を透過するカラーフィルタが設けられた画素、及び緑色光を透過する
カラーフィルタが設けられた画素と、カラーフィルタが設けられていない画素とを有する
画素配置であり、消費電力の低減などに効果を発揮する。
16のパターンは、感光性の樹脂を使う場合はカラーフィルタ116そのものを露光、現
像して形成してもよい。また、微細なパターンを形成する際には、ドライエッチングによ
ってパターンを形成することが好ましい。
からなる層間絶縁膜を形成する。有機絶縁材料としては、アクリル、ポリイミド、ポリア
ミド、ポリイミドアミド、ベンゾシクロブテン系樹脂等を使用することができる。
スの影響を抑制するために、第2の保護絶縁膜123を設けても良い(図1(B)参照)
。第2の保護絶縁膜123は、第1の保護絶縁膜122と同様の材料によって形成するこ
とができる。また、第2の保護絶縁膜123は、窒化シリコン膜若しくは窒素の含有量が
酸素の含有量よりも多い窒化酸化シリコン膜を用いることが、カラーフィルタ116から
放出されたガスの拡散を有効に抑制出来るため好ましい構成である。なお、パターン化さ
れたカラーフィルタ124の外周部において、第1の保護絶縁膜122と第2の保護絶縁
膜123が接する構造(図1(C)参照)とすると、より汚染物やカラーフィルタから放
出されたガスの影響を抑制することができるため、好ましい構成である。なお、この際、
第1の保護絶縁膜122と第2の保護絶縁膜123を同じ材料で形成することによって、
密着性が向上し、さらに汚染物やカラーフィルタから放出されたガスの影響を削減するこ
とができる。汚染物やカラーフィルタから放出されたガスの影響を軽減させることによっ
て、発光装置の信頼性を向上させることができる。
の画素電極117が陽極である場合は、透明導電膜の材料は、酸化インジウムや酸化イン
ジウム酸化スズ合金(ITO)などを用いることができる。酸化インジウム酸化亜鉛合金
(IZO)を用いても良い。また、酸化亜鉛も適した材料であり、さらに可視光の透過率
や導電率を高めるためにガリウム(Ga)を添加した酸化亜鉛(GZO)などを用いるこ
ともできる。第1の画素電極117を陰極とする場合には、アルミニウムなど仕事関数の
低い材料の極薄膜を用いるか、そのような物質の薄膜と上述のような透明導電膜との積層
構造を用いることができる。なお、第1の画素電極117は、スパッタ法や真空蒸着法な
どを用いて形成することができる。
1の保護絶縁膜122、及びゲート絶縁膜にエッチングを行うことによって、TFTの半
導体層に達するコンタクトホールを形成する。さらに、導電性の金属膜をスパッタ法又は
真空蒸着法によって成膜した後に、エッチングによって、TFTの電極及び配線を形成す
る。なお、画素TFT114のソース電極及びドレイン電極の一方は、第1の画素電極1
17と重なる部分を設け、電気的に接続するように形成する。
用いて絶縁膜を形成し、当該絶縁膜を第1の画素電極117の表面が露出し且つ第1の画
素電極117の端部を覆うように加工して隔壁118を形成する。
、剥離層201において、素子形成層113を作製基板200より剥離する。これにより
素子形成層113は、仮支持基板202側に設けられる(図3(B)参照)。
に絶縁層が形成された金属基板などを用いることができる。また、本実施の形態の作製工
程における処理温度に耐えうる耐熱性を有するプラスチック基板を用いてもよいし、フィ
ルムのような可撓性基板を用いても良い。
の照射により可塑化が可能であるなど、必要時に仮支持基板202と素子形成層113と
を化学的もしくは物理的に分離することが可能な接着剤を用いる。
成層113の間に剥離層201を形成し、剥離層201と素子形成層113の間に金属酸
化膜を設け、当該金属酸化膜を結晶化により脆弱化して、素子形成層113を剥離する方
法、耐熱性の高い作製基板200と素子形成層113の間に水素を含む非晶質シリコン膜
を設け、レーザ光の照射またはエッチングにより当該非晶質シリコン膜を除去することで
、素子形成層113を剥離する方法、作製基板200と素子形成層113の間に剥離層2
01を形成し、剥離層201と素子形成層113の間に金属酸化膜を設け、当該金属酸化
膜を結晶化により脆弱化し、剥離層201の一部を溶液やNF3、BrF3、ClF3等
のフッ化ハロゲンガスによりエッチングで除去した後、脆弱化された金属酸化膜において
剥離する方法、又は素子形成層113が形成された作製基板200を機械的に削除若しく
は溶液やNF3、BrF3、ClF3等のフッ化ハロゲンガスによるエッチングで除去す
る方法等を適宜用いることができる。また、剥離層201として窒素、酸素、又は水素等
を含む膜(例えば、水素を含む非晶質シリコン膜、水素含有合金膜、酸素含有合金膜など
)を用い、剥離層201にレーザ光を照射して剥離層201内に含有する窒素、酸素、又
は水素をガスとして放出させ素子形成層113と作製基板200との剥離を促進する方法
を用いてもよい。
レーザ光の照射、ガスや溶液などによる剥離層201のエッチング、鋭いナイフやメスな
どによる機械的な削除を行い、剥離層201と素子形成層113とを剥離しやすい状態に
してから、物理的な力(機械等による)によって剥離を行うこともできる。
素子形成層113を剥離してもよい。
た素子形成層113に第1の接着剤203とは異なる第2の接着剤204を用いてプラス
チック基板110を接着する(図3(C)参照)。
剤など光硬化型の接着剤や嫌気型接着剤など各種硬化型接着剤を用いることができる。
ィルムなどを用いることができる。また、繊維体と有機樹脂からなる構造体であっても良
い。プラスチック基板110として繊維体と有機樹脂からなる構造体を用いると、曲げに
よる破損に対する耐性が向上し、信頼性が向上するため、好ましい構成である。
体と有機樹脂からなる構造体を用いることが出来る。この際、当該構造体の有機樹脂とし
ては、反応硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、紫外線硬化型樹脂など、追加処理を施すことによ
って硬化が進行するものを用いると良い。
若しくは可塑化させて、仮支持基板202を取り除く。仮支持基板202を取り除いたら
、発光素子の第1の画素電極117が露出するように第1の接着剤203を水などの溶媒
で除去する(図3(D)参照)。
素電極117等が形成された素子形成層113をプラスチック基板110上に作製するこ
とができる。
19の積層構造については特に限定されず、電子輸送性の高い物質を含む層、正孔輸送性
の高い物質を含む層、電子注入性の高い物質を含む層、正孔注入性の高い物質を含む層、
バイポーラ性(電子及び正孔の輸送性の高い物質)の物質を含む層等を適宜組み合わせて
構成すればよい。例えば、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層等
を適宜組み合わせて構成することができる。本実施の形態では、EL層119が正孔注入
層、正孔輸送層、発光層、電子輸送層を有する構成について説明する。各層を構成する材
料について以下に具体的に示す。
には、モリブデン酸化物、バナジウム酸化物、ルテニウム酸化物、タングステン酸化物、
又はマンガン酸化物等を用いることができる。この他、フタロシアニン(略称:H2Pc
)、銅フタロシアニン(CuPc)等のフタロシアニン系の化合物、4,4’−ビス[N
−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DPA
B)、4,4’−ビス(N−{4−[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ
]フェニル}−N−フェニルアミノ)ビフェニル(略称:DNTPD)等の芳香族アミン
化合物、又はポリ(エチレンジオキシチオフェン)/ポリ(スチレンスルホン酸)(PE
DOT/PSS)等の高分子等によっても正孔注入層を形成することができる。
合材料を用いることができる。なお、正孔輸送性の高い物質にアクセプター性物質を含有
させたものを用いることにより、電極の仕事関数に依らず電極を形成する材料を選ぶこと
ができる。つまり、陽極として仕事関数の大きい材料だけでなく、仕事関数の小さい材料
を用いることができる。アクセプター性物質としては、7,7,8,8−テトラシアノ−
2,3,5,6−テトラフルオロキノジメタン(略称:F4−TCNQ)、クロラニル等
を挙げることができる。また、遷移金属酸化物を挙げることができる。また、元素周期表
における第4族乃至第8族に属する金属の酸化物を挙げることができる。具体的には、酸
化バナジウム、酸化ニオブ、酸化タンタル、酸化クロム、酸化モリブデン、酸化タングス
テン、酸化マンガン、酸化レニウムは電子受容性が高いため好ましい。中でも特に、酸化
モリブデンは大気中でも安定であり、吸湿性が低く、扱いやすいため好ましい。
誘導体、芳香族炭化水素、高分子化合物(オリゴマー、デンドリマー、ポリマー等)など
、種々の有機化合物を用いることができる。なお、複合材料に用いる有機化合物の正孔移
動度は、10−6cm2/Vs以上であることが好ましい。但し、電子よりも正孔の輸送
性の高い物質であれば、これら以外のものを用いてもよい。以下では、複合材料に用いる
ことのできる有機化合物を具体的に列挙する。
ェニル−p−フェニレンジアミン(略称:DTDPPA)、4,4’−ビス[N−(4−
ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DPAB)、4
,4’−ビス(N−{4−[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ]フェニ
ル}−N−フェニルアミノ)ビフェニル(略称:DNTPD)、1,3,5−トリス[N
−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ベンゼン(略称:DPA3
B)等が挙げられる。
ル)−N−フェニルアミノ]−9−フェニルカルバゾール(略称:PCzPCA1)、3
,6−ビス[N−(9−フェニルカルバゾール−3−イル)−N−フェニルアミノ]−9
−フェニルカルバゾール(略称:PCzPCA2)、3−[N−(1−ナフチル)−N−
(9−フェニルカルバゾール−3−イル)アミノ]−9−フェニルカルバゾール(略称:
PCzPCN1)、4,4’−ジ(N−カルバゾリル)ビフェニル(略称:CBP)、1
,3,5−トリス[4−(N−カルバゾリル)フェニル]ベンゼン(略称:TCPB)、
9−[4−(10−フェニル−9−アントリル)フェニル]−9H−カルバゾール(略称
:CzPA)、1,4−ビス[4−(N−カルバゾリル)フェニル]−2,3,5,6−
テトラフェニルベンゼン等が挙げられる。
)アントラセン(略称:t−BuDNA)、2−tert−ブチル−9,10−ジ(1−
ナフチル)アントラセン、9,10−ビス(3,5−ジフェニルフェニル)アントラセン
(略称:DPPA)、2−tert−ブチル−9,10−ビス(4−フェニルフェニル)
アントラセン(略称:t−BuDBA)、9,10−ジ(2−ナフチル)アントラセン(
略称:DNA)、9,10−ジフェニルアントラセン(略称:DPAnth)、2−te
rt−ブチルアントラセン(略称:t−BuAnth)、9,10−ビス(4−メチル−
1−ナフチル)アントラセン(略称:DMNA)、2−tert−ブチル−9,10−ビ
ス[2−(1−ナフチル)フェニル]アントラセン、9,10−ビス[2−(1−ナフチ
ル)フェニル]アントラセン、2,3,6,7−テトラメチル−9,10−ジ(1−ナフ
チル)アントラセン、2,3,6,7−テトラメチル−9,10−ジ(2−ナフチル)ア
ントラセン、9,9’−ビアントリル、10,10’−ジフェニル−9,9’−ビアント
リル、10,10’−ビス(2−フェニルフェニル)−9,9’−ビアントリル、10,
10’−ビス[(2,3,4,5,6−ペンタフェニル)フェニル]−9,9’−ビアン
トリル、アントラセン、テトラセン、ルブレン、ペリレン、2,5,8,11−テトラ(
tert−ブチル)ペリレン等が挙げられる。また、この他、ペンタセン、コロネン等も
用いることができる。なお、上記芳香族炭化水素が蒸着法によって成膜される場合には、
蒸着時の蒸着性や、成膜後の膜質の観点から、縮合環を形成している炭素数が14〜42
であることがより好ましい。
い。ビニル基を有している芳香族炭化水素としては、例えば、4,4’−ビス(2,2−
ジフェニルビニル)ビフェニル(略称:DPVBi)、9,10−ビス[4−(2,2−
ジフェニルビニル)フェニル]アントラセン(略称:DPVPA)等が挙げられる。
リ(4−ビニルトリフェニルアミン)(略称:PVTPA)、ポリ[N−(4−{N’−
[4−(4−ジフェニルアミノ)フェニル]フェニル−N’−フェニルアミノ}フェニル
)メタクリルアミド](略称:PTPDMA)、ポリ[N,N’−ビス(4−ブチルフェ
ニル)−N,N’−ビス(フェニル)ベンジジン](略称:Poly−TPD)等が挙げ
られる。
、例えば、4,4’−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(
略称:NPB)、N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−N,N’−ジフェニル−[1
,1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミン(略称:TPD)、4,4’,4’’−トリ
ス(N,N−ジフェニルアミノ)トリフェニルアミン(略称:TDATA)、4,4’,
4’’−トリス[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ]トリフェニルアミ
ン(略称:MTDATA)、4,4’−ビス[N−(スピロ−9,9’−ビフルオレン−
2−イル)−N―フェニルアミノ]ビフェニル(略称:BSPB)などの芳香族アミン化
合物等が挙げられる。ここに述べた物質は、主に10−6cm2/Vs以上の正孔移動度
を有する物質である。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外の
ものを用いてもよい。なお、正孔輸送性の高い物質を含む層は、単層のものだけでなく、
上記物質からなる層が二層以上積層したものとしてもよい。
4−ビニルトリフェニルアミン)(略称:PVTPA)等の高分子化合物を用いることも
できる。
するいわゆる単膜の発光層であっても、ホスト材料中に発光物質が分散された、いわゆる
ホスト−ゲスト型の発光層であってもどちらでも構わない。発光層からの発光が可視光領
域をできるだけ広くカバーする、あるいは赤、青、緑各々の波長範囲においてピークを与
えるような構成が好ましい。例えば、ブロードな発光スペクトルを有する発光物質を含む
発光層(図6(A)参照)や、発光波長範囲の異なる複数の発光物質を含む発光層(図6
(B)参照)、複数層から構成され各々の層には発光波長範囲の異なる発光物質が含まれ
ている発光層(図6(C)参照)等を挙げることができる。また、これらを組合せること
も可能である。なお、図6(A)乃至図6(C)中、600は発光素子の第1の画素電極
、601は発光素子の第2の画素電極、602はEL層、603、603−1、603−
2は発光層、604、604−1、604−2は発光物質を表している。
では発光物質604−1、発光物質604−2。2種類とは限らない)の組合せとしては
補色の関係(例えば青と黄色など)にある2種類の発光物質を組み合わせる方法や、赤、
青、緑の3種類を組み合わせる方法が一般的である。
合には、図7(A)のように発光層603を第1の画素電極600側から第1の発光層6
03−1、第2の発光層603−2、第3の発光層603−3からなる3層構造とし、短
波長の光を発する発光物質604−1を含む層(第1の発光層603−1、第3の発光層
603−3)で長波長の光を発する発光物質604−2を含む層(第2の発光層603−
2)を挟んだ構成とすることが好ましい。なお、図7(A)の構成においては、各発光層
の輸送性を、ホスト材料を適宜選択することにより調節して発光物質604−2を含む層
(第2の発光層603−2)における第2の画素電極601側の界面(第2の発光層60
3−2と第3の発光層603−3の界面)近傍で電子と正孔の再結合が起こるようにする
。このような構成を用いることで、発光素子の寿命が向上し且つ長波長の発光物質の発光
と、短波長の発光物質との発光のバランスがとりやすくなる。
光を発する発光物質を含む層における第2の画素電極側の界面近傍で電子と正孔の再結合
が起こるようにする」には、第1の画素電極600を陽極、第2の画素電極601を陰極
とした場合は、第2の画素電極601側の短波長の光を発する発光物質604−1を含む
層(第3の発光層603−3)の輸送性を電子輸送性、陽極側の短波長の光を発する発光
物質604−1を含む層(第1の発光層603−1)及び長波長の光を発する発光物質6
04−2を含む層(第2の発光層603−2)の輸送性を正孔輸送性とすればよい。なお
、第1の画素電極600を陰極、第2の画素電極601を陽極とした場合は、輸送性を反
対にすればよい。
る陰極側の界面(第2の発光層603−2と第3の発光層603−3の界面)近傍で再結
合に関与しなかった電子は、陽極側の短波長の光を発する発光物質を含む層(第1の発光
層603−1)で再び再結合に関与する機会が与えられることとなる。このことからキャ
リア(電子若しくは正孔)が反対のキャリア輸送性を有するキャリア輸送層に抜けてしま
うことによって引き起こされる劣化を軽減させることができ、発光素子の寿命を向上させ
ることができるようになる。
ら、長波長の光を発する物質に移動してしまう場合があり、このような場合、長波長の光
が強くなってしまい、短波長の光とのバランスがとりにくかったが、上記構成を採用する
ことで、第2の発光層603−2と第3の発光層603−3の界面近傍で再結合に関与し
なかった電子が陽極側の短波長の光を発する発光物質を含む層(第1の発光層603−1
)で再結合することができ、短波長の光を発する。そのため、発光のバランスがとりやす
く、所望の色の発光を得ることが容易となる。
光物質が分散されたホスト材料として、正孔輸送性と共に、電子輸送性も有するアントラ
セン誘導体を用いた場合、有効な寿命の向上効果がより有効に得られる。
場合には、図7(B)のように発光層603を第1の画素電極600側から第1の発光層
603−1、第2の発光層603−2、第3の発光層603−3、及び第4の発光層60
3−4からなる4層構造とし、青色の発光物質604−5を含む層(第1の発光層603
−1、第4の発光層603−4)で緑色の発光物質604−7を含む層(第3の発光層6
03−3)、赤色の発光物質604−6を含む層(第2の発光層603−2)を挟んだ構
成とすることが好ましい。なお、図7(B)の構成においては、各発光層の輸送性を調整
して電子と正孔の再結合領域を陰極側の青色の発光物質604−5を含む層(第4の発光
層603−4)と、緑色の発光物質604−7を含む層(第3の発光層603−3)との
界面近傍とする。このような構成を有する発光素子は寿命が向上し且つ長波長側の発光物
質の発光と、短波長側の発光物質との発光のバランスがとりやすくなる。
るには、第1の画素電極600が陽極、第2の画素電極601が陰極である場合には、陰
極側の青色の発光物質604−5を含む層(第4の発光層603−4)の輸送性を電子輸
送性、緑色の発光物質604−7を含む層(第3の発光層603−3)、赤色の発光物質
604−6を含む層(第2の発光層603−2)、及び陽極側の青色の発光物質604−
5を含む層(第1の発光層603−1)の輸送性を正孔輸送性とすればよい。第1の画素
電極600が陰極、第2の画素電極601が陽極である場合には各層の輸送性は反対にす
ればよい。なお、各発光層の輸送性は、当該発光層に最も多く含まれる物質の輸送性によ
って決定することができる。
と緑色の発光物質604−7を含む層(第3の発光層603−3)の界面近傍で再結合に
関与しなかった電子は、陽極側の青色の発光物質604−5を含む層(第1の発光層60
3−1)で再び再結合に関与する機会が与えられることとなる。このことからキャリア(
正孔又は電子)が反対のキャリア輸送性を有するキャリア輸送層に抜けてしまうことによ
って引き起こされる劣化を軽減させることができ、発光素子の寿命を向上させることがで
きるようになる。
ら、長波長の光を発する物質に移動してしまう場合があり、このような場合、長波長の光
が強くなってしまい、短波長の光とのバランスがとりにくかったが、上述した構造を採用
することで、再結合に関与しなかった電子が陽極側の青色の発光物質604−5を含む層
(第1の発光層603−1)で再結合することによって短波長の光を発するため、発光の
バランスがとりやすく、所望の色の発光を得ることが容易となる。
きる。蛍光発光性物質としては、例えばN,N’−ビス[4−(9H−カルバゾール−9
−イル)フェニル]−N,N’−ジフェニルスチルベン−4,4’−ジアミン(略称:Y
GA2S)、4−(9H−カルバゾール−9−イル)−4’−(10−フェニル−9−ア
ントリル)トリフェニルアミン(略称:YGAPA)、等の他、発光波長が450nm以
上の4−(9H−カルバゾール−9−イル)−4’−(9,10−ジフェニル−2−アン
トリル)トリフェニルアミン(略称:2YGAPPA)、N,9−ジフェニル−N−[4
−(10−フェニル−9−アントリル)フェニル]−9H−カルバゾール−3−アミン(
略称:PCAPA)、ペリレン、2,5,8,11−テトラ−tert−ブチルペリレン
(略称:TBP)、4−(10−フェニル−9−アントリル)−4’−(9−フェニル−
9H−カルバゾール−3−イル)トリフェニルアミン(略称:PCBAPA)、N,N’
’−(2−tert−ブチルアントラセン−9,10−ジイルジ−4,1−フェニレン)
ビス[N,N’,N’−トリフェニル−1,4−フェニレンジアミン](略称:DPAB
PA)、N,9−ジフェニル−N−[4−(9,10−ジフェニル−2−アントリル)フ
ェニル]−9H−カルバゾール−3−アミン(略称:2PCAPPA)、N−[4−(9
,10−ジフェニル−2−アントリル)フェニル]−N,N’,N’−トリフェニル−1
,4−フェニレンジアミン(略称:2DPAPPA)、N,N,N’,N’,N’’,N
’’,N’’’,N’’’−オクタフェニルジベンゾ[g,p]クリセン−2,7,10
,15−テトラアミン(略称:DBC1)、クマリン30、N−(9,10−ジフェニル
−2−アントリル)−N,9−ジフェニル−9H−カルバゾール−3−アミン(略称:2
PCAPA)、N−[9,10−ビス(1,1’−ビフェニル−2−イル)−2−アント
リル]−N,9−ジフェニル−9H−カルバゾール−3−アミン(略称:2PCABPh
A)、N−(9,10−ジフェニル−2−アントリル)−N,N’,N’−トリフェニル
−1,4−フェニレンジアミン(略称:2DPAPA)、N−[9,10−ビス(1,1
’−ビフェニル−2−イル)−2−アントリル]−N,N’,N’−トリフェニル−1,
4−フェニレンジアミン(略称:2DPABPhA)、9,10−ビス(1,1’−ビフ
ェニル−2−イル)−N−[4−(9H−カルバゾール−9−イル)フェニル]−N−フ
ェニルアントラセン−2−アミン(略称:2YGABPhA)、N,N,9−トリフェニ
ルアントラセン−9−アミン(略称:DPhAPhA)クマリン545T、N,N’−ジ
フェニルキナクリドン、(略称:DPQd)、ルブレン、5,12−ビス(1,1’−ビ
フェニル−4−イル)−6,11−ジフェニルテトラセン(略称:BPT)、2−(2−
{2−[4−(ジメチルアミノ)フェニル]エテニル}−6−メチル−4H−ピラン−4
−イリデン)プロパンジニトリル(略称:DCM1)、2−{2−メチル−6−[2−(
2,3,6,7−テトラヒドロ−1H,5H−ベンゾ[ij]キノリジン−9−イル)エ
テニル]−4H−ピラン−4−イリデン}プロパンジニトリル(略称:DCM2)、N,
N,N’,N’−テトラキス(4−メチルフェニル)テトラセン−5,11−ジアミン(
略称:p−mPhTD)、7,13−ジフェニル−N,N,N’,N’−テトラキス(4
−メチルフェニル)アセナフト[1,2−a]フルオランテン−3,10−ジアミン(略
称:p−mPhAFD)、2−{2−イソプロピル−6−[2−(1,1,7,7−テト
ラメチル−2,3,6,7−テトラヒドロ−1H,5H−ベンゾ[ij]キノリジン−9
−イル)エテニル]−4H−ピラン−4−イリデン}プロパンジニトリル(略称:DCJ
TI)、2−{2−tert−ブチル−6−[2−(1,1,7,7−テトラメチル−2
,3,6,7−テトラヒドロ−1H,5H−ベンゾ[ij]キノリジン−9−イル)エテ
ニル]−4H−ピラン−4−イリデン}プロパンジニトリル(略称:DCJTB)、2−
(2,6−ビス{2−[4−(ジメチルアミノ)フェニル]エテニル}−4H−ピラン−
4−イリデン)プロパンジニトリル(略称:BisDCM)、2−{2,6−ビス[2−
(8−メトキシ−1,1,7,7−テトラメチル−2,3,6,7−テトラヒドロ−1H
,5H−ベンゾ[ij]キノリジン−9−イル)エテニル]−4H−ピラン−4−イリデ
ン}プロパンジニトリル(略称:BisDCJTM)などが挙げられる。燐光発光性物質
としては、例えば、ビス[2−(4’,6’−ジフルオロフェニル)ピリジナト−N,C
2’]イリジウム(III)テトラキス(1−ピラゾリル)ボラート(略称:FIr6)
、の他、発光波長が470nm〜500nmの範囲にある、ビス[2−(4’,6’−ジ
フルオロフェニル)ピリジナト−N,C2’]イリジウム(III)ピコリナート(略称
:FIrpic)、ビス[2−(3’,5’−ビストリフルオロメチルフェニル)ピリジ
ナト−N,C2’]イリジウム(III)ピコリナート(略称:Ir(CF3ppy)2
(pic))、ビス[2−(4’,6’−ジフルオロフェニル)ピリジナト−N,C2’
]イリジウム(III)アセチルアセトナート(略称:FIracac)、発光波長が5
00nm(緑色発光)以上のトリス(2−フェニルピリジナト)イリジウム(III)(
略称:Ir(ppy)3)、ビス(2−フェニルピリジナト)イリジウム(III)アセ
チルアセトナート(略称:Ir(ppy)2(acac))、トリス(アセチルアセトナ
ト)(モノフェナントロリン)テルビウム(III)(略称:Tb(acac)3(Ph
en))、ビス(ベンゾ[h]キノリナト)イリジウム(III)アセチルアセトナート
(略称:Ir(bzq)2(acac))、ビス(2,4−ジフェニル−1,3−オキサ
ゾラト−N,C2’)イリジウム(III)アセチルアセトナート(略称:Ir(dpo
)2(acac))、ビス[2−(4’−パーフルオロフェニルフェニル)ピリジナト]
イリジウム(III)アセチルアセトナート(略称:Ir(p−PF−ph)2(aca
c))、ビス(2−フェニルベンゾチアゾラト−N,C2’)イリジウム(III)アセ
チルアセトナート(略称:Ir(bt)2(acac))、ビス[2−(2’−ベンゾ[
4,5−α]チエニル)ピリジナト−N,C3’]イリジウム(III)アセチルアセト
ナート(略称:Ir(btp)2(acac))、ビス(1−フェニルイソキノリナト−
N,C2’)イリジウム(III)アセチルアセトナート(略称:Ir(piq)2(a
cac))、(アセチルアセトナト)ビス[2,3−ビス(4−フルオロフェニル)キノ
キサリナト]イリジウム(III)(略称:Ir(Fdpq)2(acac))、(アセ
チルアセトナト)ビス(2,3,5−トリフェニルピラジナト)イリジウム(III)(
略称:Ir(tppr)2(acac))、2,3,7,8,12,13,17,18−
オクタエチル−21H,23H−ポルフィリン白金(II)(略称:PtOEP)、トリ
ス(1,3−ジフェニル−1,3−プロパンジオナト)(モノフェナントロリン)ユーロ
ピウム(III)(略称:Eu(DBM)3(Phen))、トリス[1−(2−テノイ
ル)−3,3,3−トリフルオロアセトナト](モノフェナントロリン)ユーロピウム(
III)(略称:Eu(TTA)3(Phen))等が挙げられる。以上のような材料又
は他の公知の材料の中から、各々の発光層における発光色(もしくは発光のピーク波長)
を考慮し選択すれば良い。
)(略称:Alq)、トリス(4−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III)
(略称:Almq3)、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]キノリナト)ベリリウム(
II)(略称:BeBq2)、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(4−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III)(略称:BAlq)、ビス(8−キノリノラト)亜鉛
(II)(略称:Znq)、ビス[2−(2−ベンゾオキサゾリル)フェノラト]亜鉛(
II)(略称:ZnPBO)、ビス[2−(2−ベンゾチアゾリル)フェノラト]亜鉛(
II)(略称:ZnBTZ)などの金属錯体、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t
ert−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(略称:PBD)、1,3−
ビス[5−(p−tert−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール−2−イ
ル]ベンゼン(略称:OXD−7)、3−(4−ビフェニリル)−4−フェニル−5−(
4−tert−ブチルフェニル)−1,2,4−トリアゾール(略称:TAZ)、2,2
’,2’’−(1,3,5−ベンゼントリイル)トリス(1−フェニル−1H−ベンゾイ
ミダゾール)(略称:TPBI)、バソフェナントロリン(略称:BPhen)、バソキ
ュプロイン(略称:BCP)、9−[4−(5−フェニル−1,3,4−オキサジアゾー
ル−2−イル)フェニル]−9H−カルバゾール(略称:CO11)などの複素環化合物
、NPB(またはα−NPD)、TPD、BSPBなどの芳香族アミン化合物が挙げられ
る。また、アントラセン誘導体、フェナントレン誘導体、ピレン誘導体、クリセン誘導体
、ジベンゾ[g,p]クリセン誘導体等の縮合多環芳香族化合物が挙げられ、具体的には
、9,10−ジフェニルアントラセン(略称:DPAnth)、N,N−ジフェニル−9
−[4−(10−フェニル−9−アントリル)フェニル]−9H−カルバゾール−3−ア
ミン(略称:CzA1PA)、4−(10−フェニル−9−アントリル)トリフェニルア
ミン(略称:DPhPA)、4−(9H−カルバゾール−9−イル)−4’−(10−フ
ェニル−9−アントリル)トリフェニルアミン(略称:YGAPA)、N,9−ジフェニ
ル−N−[4−(10−フェニル−9−アントリル)フェニル]−9H−カルバゾール−
3−アミン(略称:PCAPA)、N,9−ジフェニル−N−{4−[4−(10−フェ
ニル−9−アントリル)フェニル]フェニル}−9H−カルバゾール−3−アミン(略称
:PCAPBA)、N,9−ジフェニル−N−(9,10−ジフェニル−2−アントリル
)−9H−カルバゾール−3−アミン(略称:2PCAPA)、6,12−ジメトキシ−
5,11−ジフェニルクリセン、N,N,N’,N’,N’’,N’’,N’’’,N’
’’−オクタフェニルジベンゾ[g,p]クリセン−2,7,10,15−テトラアミン
(略称:DBC1)、9−[4−(10−フェニル−9−アントリル)フェニル]−9H
−カルバゾール(略称:CzPA)、3,6−ジフェニル−9−[4−(10−フェニル
−9−アントリル)フェニル]−9H−カルバゾール(略称:DPCzPA)、9,10
−ビス(3,5−ジフェニルフェニル)アントラセン(略称:DPPA)、9,10−ジ
(2−ナフチル)アントラセン(略称:DNA)、2−tert−ブチル−9,10−ジ
(2−ナフチル)アントラセン(略称:t−BuDNA)、9,9’−ビアントリル(略
称:BANT)、9,9’−(スチルベン−3,3’−ジイル)ジフェナントレン(略称
:DPNS)、9,9’−(スチルベン−4,4’−ジイル)ジフェナントレン(略称:
DPNS2)、3,3’,3’’−(ベンゼン−1,3,5−トリイル)トリピレン(略
称:TPB3)などを挙げることができる。ホスト材料は、これら及び公知の物質の中か
ら、発光層中に分散された発光物質のエネルギーギャップ(燐光発光の場合は三重項エネ
ルギー)より大きなエネルギーギャップ(三重項エネルギー)を有し、且つ各々の発光層
が有すべきキャリア輸送性を示す物質を選択すればよい。
ラト)アルミニウム(略称:Alq)、トリス(4−メチル−8−キノリノラト)アルミ
ニウム(略称:Almq3)、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]キノリナト)ベリリ
ウム(略称:BeBq2)、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(4−フェニルフェ
ノラト)アルミニウム(略称:BAlq)など、キノリン骨格またはベンゾキノリン骨格
を有する金属錯体等からなる層である。また、この他ビス[2−(2−ヒドロキシフェニ
ル)ベンズオキサゾラト]亜鉛(略称:Zn(BOX)2)、ビス[2−(2−ヒドロキ
シフェニル)ベンゾチアゾラト]亜鉛(略称:Zn(BTZ)2)などのオキサゾール系
、チアゾール系配位子を有する金属錯体なども用いることができる。さらに、金属錯体以
外にも、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル)−1,3,
4−オキサジアゾール(略称:PBD)や、1,3−ビス[5−(p−tert−ブチル
フェニル)−1,3,4−オキサジアゾール−2−イル]ベンゼン(略称:OXD−7)
、3−(4−ビフェニリル)−4−フェニル−5−(4−tert−ブチルフェニル)−
1,2,4−トリアゾール(略称:TAZ)、バソフェナントロリン(略称:BPhen
)、バソキュプロイン(略称:BCP)なども用いることができる。ここに述べた物質は
、主に10−6cm2/Vs以上の電子移動度を有する物質である。なお、正孔よりも電
子の輸送性の高い物質であれば、上記以外の物質を電子輸送層として用いても構わない。
ものとしてもよい。
子の移動を制御する層とは、上述したような電子輸送性の高い物質を含む層に、電子トラ
ップ性の高い物質を少量添加した層である。当該電子の移動を制御する層が、電子の移動
を抑制することによって、キャリアバランスを調節することが可能となる。このような構
成は、発光層を電子が突き抜けてしまうことにより発生する問題(例えば素子寿命の低下
)の抑制に大きな効果を発揮する。
カリ金属、アルカリ土類金属、又はフッ化リチウム(LiF)、フッ化セシウム(CsF
)、フッ化カルシウム(CaF2)等のようなアルカリ金属若しくはアルカリ土類金属の
化合物を用いることができる。例えば、電子輸送性を有する物質からなる層中にアルカリ
金属、アルカリ土類金属、又はそれらの化合物を含有させたもの、例えばAlq中にマグ
ネシウム(Mg)を含有させたもの等を用いることができる。なお、電子注入層として、
電子輸送性を有する物質からなる層中にアルカリ金属又はアルカリ土類金属を含有させた
ものを用いることにより、陰極からの電子注入を効率良く行うことができる。
いる場合には、仕事関数の小さい(具体的には3.8eV以下)金属、合金、電気伝導性
化合物、又はこれらの混合物などを用いることができる。このような陰極材料の具体例と
しては、元素周期表の第1族または第2族に属する元素、すなわちリチウム(Li)やセ
シウム(Cs)等のアルカリ金属、およびマグネシウム(Mg)、カルシウム(Ca)、
ストロンチウム(Sr)等のアルカリ土類金属、若しくはこれらを含む合金(MgAg、
AlLiなど)、又はユウロピウム(Eu)、イッテルビウム(Yb)等の希土類金属、
若しくはこれらを含む合金等が挙げられる。しかしながら、陰極と電子輸送層との間に、
電子注入層を設けることにより、仕事関数の大小に関わらず、Al、Ag、ITO、シリ
コン若しくは酸化シリコンを含有した酸化インジウム−酸化スズ等様々な導電性材料を陰
極として用いることができる。これら導電性材料の膜は、スパッタ法やインクジェット法
、スピンコート法等を用いて形成することが可能である。
には4.0eV以上)金属、合金、導電性化合物、又はこれらの混合物などを用いること
が好ましい。具体的には、例えば、酸化インジウム−酸化スズ(ITO:Indium
Tin Oxide)、シリコン若しくは酸化シリコンを含有した酸化インジウム−酸化
スズ、酸化インジウム−酸化亜鉛(IZO:Indium Zinc Oxide)、酸
化タングステン及び酸化亜鉛を含有した酸化インジウム(IWZO)等が挙げられる。こ
れらの導電性金属酸化物膜は、通常スパッタ法により成膜されるが、ゾル−ゲル法などを
応用して作製しても構わない。例えば、酸化インジウム−酸化亜鉛(IZO)は、酸化イ
ンジウムに対し1〜20wt%の酸化亜鉛を加えたターゲットを用いてスパッタ法により
形成することができる。また、酸化タングステン及び酸化亜鉛を含有した酸化インジウム
(IWZO)は、酸化インジウムに対し酸化タングステンを0.5〜5wt%、酸化亜鉛
を0.1〜1wt%含有したターゲットを用いたスパッタ法により形成することができる
。この他、金(Au)、白金(Pt)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、クロム
(Cr)、モリブデン(Mo)、鉄(Fe)、コバルト(Co)、銅(Cu)、パラジウ
ム(Pd)、または金属の窒化物(例えば、窒化チタン)等が挙げられる。また、上述の
複合材料を陽極に接して設けることによって、仕事関数の高低にかかわらず陽極の材料を
選択することができる。
に複数積層されていても良い。この場合、積層されたEL層800とEL層801の間に
は、電荷発生層803を設けることが好ましい。電荷発生層803は、上述の複合材料で
形成することができる。また、電荷発生層803は、複合材料よりなる層と、他の材料よ
りなる層との積層構造をなしていてもよい。この場合、他の材料よりなる層としては、電
子供与性物質と、電子輸送性の高い物質とを含む層や、透明導電材料よりなる層などを用
いることができる。このような構成を採用することで高い発光効率と、長い寿命とを併せ
持つ発光素子を得ることができる。また、一方のEL層で燐光発光、他方で蛍光発光を得
ることも容易である。この構造は上述のEL層の構造と組み合わせて用いることができる
。例えば、図6(C)の構造を有するEL層と図6(A)の構造を有するEL層との積層
も可能である。具体的には、図6(C)の構造を有するEL層800において青と緑の発
光を蛍光で得、電荷発生層803を挟んで、図6(A)の構造を有するEL層801にお
いて赤の発光を燐光で得る、ということも容易に実現できる。同様に、図6(C)の構造
を有するEL層800において緑と赤の発光を燐光で得、電荷発生層803を挟んで、図
6(A)の構造を有するEL層801において青の発光を蛍光で得る、ということも容易
に実現できる。特に、緑及び赤の発光を燐光で得、青の発光を蛍光で得る構成は、発光効
率のバランスがよい白色発光が得られるため好ましい。
400、保護膜401などで封入することによって発光素子を外部から遮断し、外部から
EL層の劣化を促す物質が侵入することを防ぐことが好ましい。また、有機樹脂400又
は保護膜401の代わりに、封止基板を用いても良い。但し、後でFPC等と接続する必
要のある入出力端子には保護膜401を設けなくとも良い。
像を提供するため、上述の有機樹脂400、保護膜401、封止基板は着色しているもの
若しくは可視光を透過しにくいものであっても使用が可能である。一方で、これら有機樹
脂400、保護膜401、封止基板に光を透過する材料を用いた場合、第2の画素電極を
透光性を有する材料、形状で作製すれば、封止基板側からもモノカラーの映像を提供する
ことができる。封止基板は、プラスチック基板110と同様のものを用いることができる
。
トサーキット)を貼り付ける。必要があればICチップなどを実装させても良い。
射を行わない場合には、図2のような構成を採ることもできる。
12上の素子形成層とプラスチック基板110を接着している。そして、カラーフィルタ
300は、第1の絶縁層112上に設けられており、カラーフィルタ300上に設けられ
た第2の絶縁層301を介してTFT302が設けられている。第2の絶縁層301は、
酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化シリコン、又は窒化酸化シリコンのような無機絶
縁材料によって形成しても良いし、アクリル、ポリイミドなどの有機絶縁材料によって形
成しても良いが、有機絶縁材料を用いると、カラーフィルタ300を設けたことによる段
差を緩和することが出来るため好ましい構成である。また、カラーフィルタ300から発
生したガスなどの汚染物がTFT302に悪影響を及ぼさないように、第2の絶縁層30
1上には、保護絶縁膜を設けることが好ましい。保護絶縁膜は、酸化シリコン、酸化窒化
シリコン、窒化シリコン、又は窒化酸化シリコンのような無機絶縁材料によって形成する
と良い。特に、窒化シリコンや、窒素が酸素より多く含まれる窒化酸化シリコンは好適に
用いることができる。なお、第2の絶縁層301を無機絶縁膜によって形成した場合は、
保護絶縁膜は特に設けなくとも良い。
2を設けた後、カラーフィルタ300、第2の絶縁層301を形成してからTFT302
を形成する。TFT302は高温処理を必要としない公知の方法及び構造で作製すれば良
い。例えば、上述の微結晶半導体、アモルファス半導体、酸化物半導体、有機材料を主成
分とする半導体などを半導体層に用いたTFTが挙げられる。TFT302を形成し、発
光素子の第1の画素電極303及び隔壁304を形成したら、上述のように剥離して、プ
ラスチック基板110に転置し、図1の発光装置と同様に発光装置を作製することができ
る。
00からの汚染物がTFT302及び発光素子に与える悪影響を抑制することができるた
め、工程の短縮につながる。
するため、図1の構成と同様、フレキシブルな発光装置であっても、高精細なフルカラー
表示が可能な発光装置が実現できる構成である。
発光装置のモジュール(ELモジュールとも呼ぶ)の上面図及び断面図を図4(A)、
(B)に示す。
断した断面の一部を示す図である。図4(A)において、接着剤500(例えば、第2の
接着剤等)を介してプラスチック基板110上に、絶縁層501が設けられ、その上に画
素部502、ソース側駆動回路504、及びゲート側駆動回路503が形成されている。
これらは、実施の形態1に示した作製方法によって得ることができる。
04、ゲート側駆動回路503は、有機樹脂400で覆われ、その有機樹脂400は、保
護膜401で覆われている。さらに、接着剤を用いてカバー材で封止してもよい。カバー
材は、支持体として剥離前に接着してもよい。
を伝送するための配線であり、外部入力端子となるFPC402(フレキシブルプリント
サーキット)からビデオ信号やクロック信号を受け取る。なお、ここではFPC402し
か図示されていないが、このFPC402にはプリント配線基盤(PWB)が取り付けら
れていても良い。本発明の実施の形態における発光装置には、発光装置本体だけでなく、
それにFPCもしくはPWBが取り付けられた状態をも含むものとする。
501が設けられ、絶縁層501の上には画素部502及びゲート側駆動回路503が形
成されている。画素部502は、電流制御用TFT511とそのソース電極及びドレイン
電極の一方に電気的に接続された第1の画素電極512を含む複数の画素515により形
成される。なお、図4(B)では1つの画素515について示しているが、画素部502
においては、画素515がマトリクス状に配置されているものとする。また、ゲート側駆
動回路503は、複数のnチャネル型TFT513と、複数のpチャネル型TFT514
とを組み合わせたCMOS回路を用いて形成される。
本実施の形態では、実施の形態1又は実施の形態2に示す発光装置を含む電子機器につ
いて説明する。
オカメラ、デジタルカメラ等のカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、ナビゲーションシステ
ム、音響再生装置(カーオーディオ、オーディオコンポ等)、コンピュータ、ゲーム機器
、携帯情報端末(モバイルコンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書籍等)
、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはDigital Versatile D
isc(DVD)等の記録媒体を再生し、その画像を表示しうる表示装置を備えた装置)
などが挙げられる。これらの電子機器の具体例を図5に示す。
ピーカー部9104、ビデオ入力端子9105等を含む。このテレビ装置は、表示部91
03は、実施の形態1又は実施の形態2に示した発光装置を用いることによって作製され
る。フレキシブル且つ高精細なフルカラー表示が可能な発光装置を搭載したテレビ装置は
、表示部9103が曲面の形状を持つことも可能であり、かつ軽量化を実現しながら高い
画質の映像を提供することができる。
ーボード9204、外部接続ポート9205、ポインティングデバイス9206等を含む
。このコンピュータは、表示部9203に実施の形態1又は実施の形態2に示した発光装
置を用いることによって作製される。フレキシブル且つ高精細なフルカラー表示が可能な
発光装置を搭載したコンピュータは、表示部9203が曲面の形状を持つことも可能であ
り、かつ軽量化を実現しながら高い画質の映像を提供することができる。
力部9404、音声出力部9405、操作キー9406、外部接続ポート9407、アン
テナ9408等を含む。この携帯電話は、表示部9403が実施の形態1又は実施の形態
2に示した発光装置を用いることによって作製される。フレキシブル且つ高精細なフルカ
ラー表示が可能な発光装置を搭載した携帯電話は、表示部9403が曲面の形状を持つこ
とも可能であり、かつ軽量化を実現しながら高い画質の映像を提供することができる。ま
た軽量化が図られた携帯電話には、様々な付加価値を備えても携帯に適した、重量に留め
ることができ、当該携帯電話は高機能な携帯電話としても適した構成となっている。
ポート9504、リモコン受信部9505、受像部9506、バッテリー9507、音声
入力部9508、操作キー9509、接眼部9510等を含む。このカメラは、表示部9
502は、実施の形態1又は実施の形態2に示した発光装置を用いることによって作製さ
れる。フレキシブル且つ高精細なフルカラー表示が可能な発光装置を搭載したカメラは、
表示部9502が曲面の形状を持つことも可能であり、かつ軽量化を実現しながら高い画
質の映像を提供することができる。
部メモリ挿入部9603、スピーカー部9604、操作キー9605等を含む。本体96
01には、テレビジョン受像アンテナ、外部入力端子、外部出力端子、バッテリーなどが
搭載されていても良い。このフレキシブルディスプレイには、表示部9602に実施の形
態1又は実施の形態2示した発光装置を用いることによって作製される。表示部9602
は曲面の形状を持つことが可能であり、かつ軽量化を実現しながら高い画質の映像を提供
することができる。また、図5(A)から図(D)で示した電子機器の表示部に曲面形状
を持たせ、図5(E)で示したフレキシブルディスプレイを表示部に装着することで、表
示部が曲面形状を有する電子機器を提供することができる。
装置の適用範囲は極めて広く、この発光装置をあらゆる分野の電子機器に適用することが
可能である。
111 接着剤
112 絶縁層
113 素子形成層
114 TFT
115 駆動回路部のTFT
116 カラーフィルタ
117 第1の画素電極
118 隔壁
119 EL層
120 第2の画素電極
121 発光素子
122 第1の保護絶縁膜
123 第2の保護絶縁膜
124 カラーフィルタ
200 作製基板
201 剥離層
202 仮支持基板
203 第1の接着剤
204 第2の接着剤
300 カラーフィルタ
301 絶縁層
302 TFT
303 第1の画素電極
304 隔壁
400 有機樹脂
401 保護膜
402 FPC
500 接着剤
501 絶縁層
502 画素部
503 ゲート側駆動回路
504 ソース側駆動回路
508 配線
511 電流制御用TFT
512 第1の画素電極
513 nチャネル型TFT
514 pチャネル型TFT
600 第1の画素電極
601 第2の画素電極
602 EL層
603 発光層
603−1 第1の発光層
603−2 第2の発光層
603−3 第3の発光層
603−4 第4の発光層
604 発光物質
604−1 発光物質
604−2 発光物質
604−5 青色の発光物質
604−6 赤色の発光物質
604−7 緑色の発光物質
800 EL層
801 EL層
803 電荷発生層
9101 筐体
9102 支持台
9103 表示部
9104 スピーカー部
9105 ビデオ入力端子
9201 本体
9202 筐体
9203 表示部
9204 キーボード
9205 外部接続ポート
9206 ポインティングデバイス
9401 本体
9402 筐体
9403 表示部
9404 音声入力部
9405 音声出力部
9406 操作キー
9407 外部接続ポート
9408 アンテナ
9501 本体
9502 表示部
9503 筐体
9504 外部接続ポート
9505 リモコン受信部
9506 受像部
9507 バッテリー
9508 音声入力部
9509 操作キー
9510 接眼部
9601 本体
9602 表示部
9603 外部メモリ挿入部
9604 スピーカー部
9605 操作キー
Claims (4)
- 基板と、
前記基板上に位置する酸化物半導体と、
前記酸化物半導体上に位置するゲート電極と、
前記ゲート電極上に位置し、無機絶縁材料を有する第1の絶縁膜と、
前記第1の絶縁膜上に位置し、前記酸化物半導体に電気的に接続されるソース電極及びドレイン電極と、
前記ソース電極及び前記ドレイン電極の一方に電気的に接続される発光素子と、を有し、
前記発光素子は、陽極と陰極との間に互いに重なる第1の発光層乃至第4の発光層、を有し、
前記陽極上に前記第1の発光層、前記第1の発光層上に前記第2の発光層、前記第2の発光層上に前記第3の発光層、前記第3の発光層上に前記第4の発光層、前記第4の発光層上に前記陰極が設けられ、
前記第1の発光層は第1発光物質と第1ホスト材料とを含み、
前記第2の発光層は第2発光物質と第2ホスト材料とを含み、
前記第3の発光層は第3発光物質と第3ホスト材料とを含み、
前記第4の発光層は第4発光物質と第4ホスト材料とを含み、
前記第1発光物質及び前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれよりも短波長の青色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第1発光物質と同じ発光物質であり、
前記第2発光物質は、赤色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれとは異なる発光物質であり、
前記第4ホスト材料は、前記第2ホスト材料及び前記第3ホスト材料のそれぞれとは異なる材料である発光装置。 - 基板と、
前記基板上に位置する酸化物半導体と、
前記酸化物半導体と重なり、且つ前記酸化物半導体上に位置するゲート電極と、
前記ゲート電極上に位置し、無機絶縁材料を有する第1の絶縁膜と、
前記第1の絶縁膜上に位置し、前記酸化物半導体に電気的に接続されるソース電極及びドレイン電極と、
前記第1の絶縁膜上に位置するカラーフィルタと、
前記カラーフィルタ上に位置する第2の絶縁膜と、
前記第2の絶縁膜上に位置し、前記ソース電極及び前記ドレイン電極の一方に電気的に接続される発光素子と、を有し、
前記カラーフィルタは、前記第2の絶縁膜を介して前記発光素子と重なる領域を有し、
前記カラーフィルタは、前記酸化物半導体及び前記ゲート電極と重ならず、
前記酸化物半導体及び前記ゲート電極と、前記カラーフィルタとの間には、前記第1の絶縁膜が介在し、
前記発光素子は、陽極と陰極との間に互いに重なる第1の発光層乃至第4の発光層、を有し、
前記陽極上に前記第1の発光層、前記第1の発光層上に前記第2の発光層、前記第2の発光層上に前記第3の発光層、前記第3の発光層上に前記第4の発光層、前記第4の発光層上に前記陰極が設けられ、
前記第1の発光層は第1発光物質と第1ホスト材料とを含み、
前記第2の発光層は第2発光物質と第2ホスト材料とを含み、
前記第3の発光層は第3発光物質と第3ホスト材料とを含み、
前記第4の発光層は第4発光物質と第4ホスト材料とを含み、
前記第1発光物質及び前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれよりも短波長の青色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第1発光物質と同じ発光物質であり、
前記第2発光物質は、赤色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれとは異なる発光物質であり、
前記第4ホスト材料は、前記第2ホスト材料及び前記第3ホスト材料のそれぞれとは異なる材料である発光装置。 - 基板と、
前記基板上に設けられた第1の発光素子乃至第4の発光素子と、を有し、
前記第1の発光素子と重なる領域を有し、赤色光を透過する第1のカラーフィルタと、
前記第2の発光素子と重なる領域を有し、緑色光を透過する第2のカラーフィルタと、
前記第3の発光素子と重なる領域を有し、青色光を透過する第3のカラーフィルタと、を有し、
前記第4の発光素子は、カラーフィルタと重ならず、
前記第1の発光素子乃至前記第4の発光素子は、それぞれ前記基板上に位置するトランジスタに電気的に接続され、
前記トランジスタは、酸化物半導体と、前記酸化物半導体上に位置するゲート電極と、を有し、
前記第1のカラーフィルタは、前記第1の発光素子に電気的に接続されるトランジスタと重ならず、
前記第2のカラーフィルタは、前記第2の発光素子に電気的に接続されるトランジスタと重ならず、
前記第3のカラーフィルタは、前記第3の発光素子に電気的に接続されるトランジスタと重ならず、
前記第1の発光素子乃至前記第4の発光素子は、それぞれ、陽極と陰極との間に互いに重なる第1の発光層乃至第4の発光層を有し、
前記陽極上に前記第1の発光層、前記第1の発光層上に前記第2の発光層、前記第2の発光層上に前記第3の発光層、前記第3の発光層上に前記第4の発光層、前記第4の発光層上に前記陰極が設けられ、
前記第1の発光層は第1発光物質と第1ホスト材料とを含み、
前記第2の発光層は第2発光物質と第2ホスト材料とを含み、
前記第3の発光層は第3発光物質と第3ホスト材料とを含み、
前記第4の発光層は第4発光物質と第4ホスト材料とを含み、
前記第1発光物質及び前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれよりも短波長の青色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第1発光物質と同じ発光物質であり、
前記第2発光物質は、赤色光を発し、
前記第4発光物質は、前記第2発光物質及び前記第3発光物質のそれぞれとは異なる発光物質であり、
前記第4ホスト材料は、前記第2ホスト材料及び前記第3ホスト材料のそれぞれとは異なる材料である発光装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一において、
前記酸化物半導体は、インジウムと、亜鉛と、ガリウムとを有する発光装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008180229 | 2008-07-10 | ||
JP2008180229 | 2008-07-10 |
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
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