JP4763841B2 - 基板処理装置および半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Description
また、ICの製造工場においては、複数の基板処理装置を横に隣接して設置することによりフットプリントを抑制するために、基板処理装置のメンテナンス(保守点検作業)は側方から施工しないように構成すること(サイドメンテナンスフリー化)が、要求されている。
一方、ICの製造方法においては、自然酸化膜がウエハに形成すると、製品(IC)の品質や信頼性および製造歩留りを低下させる原因になる。
このため、従来のこの種の基板処理装置として、ロードロック方式(ゲートバルブ等の隔離バルブを用いて処理室と搬入搬出室(予備室ないし待機室)とを隔離し、処理室への空気の流入を防止したり、温度や圧力等の外乱を小さくして処理を安定化させる方式)の基板処理装置が、開発されている。
処理室に対してゲートバルブによって隔離された搬入搬出室(以下、ロードロック室という。)と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されており、ロードロック室の背面(後面)には保守用ドアバルブが設けられているとともに、ロードロック室の正面(前面)にはウエハ移載用のゲートバルブが設けられている。そして、ゲートバルブのバルブ開口部が人が通過可能な大きさに設定されており、全ての保守作業を正面または背面から実施することができるように工夫されている。
(1)基板を移載する基板移載装置が配置された移載室と、該移載室の背面に配設され、基板を待機させる待機室と、前記待機室の上方に配設され基板を処理する処理室とを備えており、
前記基板移載装置は、前記移載室内の幅方向一方側に配置され、前記移載室内の前記幅方向他方側には、前記移載室の雰囲気を清浄するクリーンユニットが配置され、前記幅方向他方側の前記移載室の正面または背面には、開口部と該開口部を開閉する開閉手段とが、前記基板移載装置よりも前記クリーンユニットに近くなるに従って前記移載室の空間が漸次小さくなるように配置されていることを特徴とする基板処理装置。
(2)移載室内の幅方向一方側に配置された基板移載装置が基板を移載するとともに、前記基板移載装置よりも前記移載室内の前記幅方向他方側に配置されたクリーンユニットに近くなるに従って前記移載室の空間が漸次小さくなるように配置されている開口部を開閉手段が閉じた状態で、前記クリーンユニットにより前記移載室の雰囲気を清浄するステップと、
前記移載室の背面に配置された待機室へ前記移載室から基板を移載し、前記待機室から、前記待機室の上方に配設された処理室に基板を搬入するステップと、
前記処理室を加熱し、前記処理室にガスを供給し、排気し、基板を処理するステップと、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
本実施の形態に係るバッチ式CVD装置10においては、ウエハ1を収容して搬送するキャリアとしてはFOUP(front opening unified pod 。以下、ポッドという。)2が、使用されている。
なお、以下の説明において、前後左右は図1を基準とする。すなわち、移載室24側が前側、ロードロック室41側が後側、ボートエレベータ60側が右側およびシールキャップ63側が左側とする。
筐体11の正面壁12の下部には開口部としての正面メンテナンス口13が人が通過可能な大きさに開設されており、正面壁12の正面側には正面メンテナンス口13の正面側を開閉する開閉手段としての第一正面メンテナンス扉14aおよび第二正面メンテナンス扉14bがそれぞれ建て付けられている。
すなわち、第一正面メンテナンス扉14aの右側端辺は正面壁12の正面側の右側端辺にヒンジ15aによって回動自在に支承されており、第二正面メンテナンス扉14bの左側端辺は正面壁12の正面側の左側端辺にヒンジ15bによって回動自在に支承されている。第一正面メンテナンス扉14aはヒンジ15aを中心にして反時計回りに開かれるようになっており、第二正面メンテナンス扉14bはヒンジ15bを中心にして時計回りに開かれるようになっている(図1の想像線を参照)。
正面壁12の中間高さにはポッド搬入搬出口16が開設されており、正面壁12のポッド搬入搬出口16の手前にはポッドステージ17が構築されている。図1に想像線で示されているように、ポッドステージ17は時計回りに回動するようになっている。
なお、ポッドステージ17にはポッド2がRGV等の工程内搬送装置によって供給および排出されるようになっている。
ポッド搬送装置18は筐体11の前側空間において左側に偏らされて配置されている。このようにポッド搬送装置18が左側に偏って配置されることにより、筐体11の前側空間の右部分にはメンテナンス通路19が形成されている。
ポッド搬送装置18はポッドステージ17と回転式ポッド棚20とポッドオープナ30の載置台31との間でポッド2を搬送するように構成されている。
図2に示されているように、回転式ポッド棚20は筐体11内のポッド搬送装置18の後側上部に配置されており、複数台のポッド2を一時的に保管し得るように構成されている。すなわち、回転式ポッド棚20は回転する支柱21と、複数台のポッド2を保持する複数枚の棚板22とを備えており、複数枚の棚板22が支柱21に複数段に配置されて水平に固定されている。
移載室24にはウエハ1を移載するウエハ移載装置25が水平に設置されている。ウエハ移載装置25はスカラ形ロボット(selective compliance assembly robot arm 。SCARA)によって構成されており、ウエハ1をツィーザ25aによって下から掬いとって三次元方向に搬送するように構成されている。
上下のウエハ搬入搬出口26、26は左側に偏って配置されており、上下のウエハ搬入搬出口26、26はウエハ1を移載室24に対して搬入搬出し得るように構成されている。移載室メンテナンス口27は偏りの反対側である右側部分に配置されており、移載室メンテナンス口27は人が通過可能な大きさに開設されている。移載室メンテナンス口27はメンテナンス通路19に連絡するようになっている。
正面壁23bには移載室メンテナンス口27を開閉する開閉手段としての移載室メンテナンス扉28が建て付けられている。すなわち、移載室メンテナンス扉28の右側端辺は正面壁23bの右側端辺にヒンジ29によって回動自在に支承されており、移載室メンテナンス扉28はヒンジ29を中心にして反時計回りに開かれるようになっている(図1の想像線を参照)。
また、移載室メンテナンス扉28を閉じた際は、充分な気密性を有しており、メンテナンス通路19側と移載室24とは充分に隔離されるようになっている。
ポッドオープナ30はウエハ搬入搬出口26の正面側の下端辺に水平に突設されてポッド2を載置する載置台31と、載置台31に載置されたポッド2のキャップを着脱するキャップ着脱機構32とを備えており、載置台31に載置されたポッド2のキャップをキャップ着脱機構32によって着脱することにより、ポッド2のウエハ出し入れ口を開閉するようになっている。
クリーンユニット34から吹き出されたクリーンエア33は、ノッチ合わせ装置35およびウエハ移載装置25を流通した後に、筐体11の右後隅に設置された排気装置36によって吸い込まれて、筐体11の外部に排気されるようになっている。
なお、クリーンユニット34から吹き出された後に、図示しない窒素ガス供給手段により窒素ガスを供給させつつ、ノッチ合わせ装置35およびウエハ移載装置25を流通した後に、図示しないウエハ移載装置25の左側のダクトにより吸い込ませて、筐体11の外気に排気させるようにしてもよい。
耐圧筐体40の正面壁にはウエハ搬入搬出口42が開設されており、ウエハ搬入搬出口42はゲートバルブ43によって開閉されるようになっている。耐圧筐体40の一対の側壁にはロードロック室41へ窒素(N2 )ガスを給気するためのガス供給管44と、ロードロック室41を負圧に排気するための排気管45とがそれぞれ接続されている。
耐圧筐体40の前面壁における上端部には炉口ゲートバルブ出入り口48が、炉口ゲートバルブ47の直径および厚さよりも大きめの横長の長方形に開設されており、耐圧筐体40の前面壁の外側には炉口ゲートバルブ47をボート搬入搬出口46の開放時に収容する炉口ゲートバルブカバー49が炉口ゲートバルブ出入り口48を閉塞するように取り付けられている。
炉口ゲートバルブカバー49は、厚さおよび横幅が炉口ゲートバルブ出入り口48の高さおよび間口よりも大きい容積を有する半円形であって、半円形の弦に相当する側壁が開口した筐体形状に形成されている。炉口ゲートバルブカバー49の開口した側壁の右端は炉口ゲートバルブ出入り口48の一端に設置されたヒンジ(図示せず)によって水平面内で回動するように支承されている。
炉口ゲートバルブカバー49は通常の炉口ゲートバルブ出入り口48の閉鎖時には、シールリングを介して耐圧筐体40の前面に当接された状態で締結具によって締結されており、耐圧筐体40の前面から前方に迫り出した状態になっている。
プロセスチューブ54は石英(SiO2 )が使用されて上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成されたアウタチューブ55と、石英または炭化シリコン(SiC)が使用されて上下両端が開口した円筒形状に形成されたインナチューブ56とを備えており、アウタチューブ55がインナチューブ56に同心円に被せられている。
アウタチューブ55とインナチューブ56との間には環状の排気路57が両者の間隙によって形成されている。プロセスチューブ54は耐圧筐体40の天井壁の上にマニホールド58を介して支持されており、マニホールド58はボート搬入搬出口46に同心円に配置されている。
図2に示されているように、マニホールド58にはプロセスチューブ54の内部を排気するための排気管59が接続されている。
なお、図示は省略するが、バッチ式CVD装置10は処理室53に原料ガスやパージガス等を導入するためのガス導入管と、プロセスチューブ54の内部の温度を測定してヒータユニット52をフィードバック制御する熱電対とを備えている。
ボートエレベータ60の昇降台61の側面にはアーム62が水平に突設されており、アーム62の先端にはシールキャップ63が水平に据え付けられている。
シールキャップ63はプロセスチューブ54の炉口になる耐圧筐体40のボート搬入搬出口46を気密シールするように構成されている。
また、ボート64はシールキャップ63に設置されたロータリーアクチュエータ65によって回転されるように構成されている。
図1に示されているように、ボート64に保持されたウエハ1の中心とポッドオープナ30の載置台31に載置されたポッド2のウエハ1の中心とを結ぶ線分は、筐体11の幅方向の中心線に対して幅方向の左方側に偏るように、ボート64およびポッドオープナ30の載置台31は配設されている。
また、ウエハ移載装置25の水平方向の回転中心は、ボート64の上のウエハ1の中心とポッドオープナ30の上のポッド2のウエハ1の中心とを結ぶ線分の上に配置されている。
メンテナンス扉67はロードロック室メンテナンス口66を負圧を維持して閉塞することができるように構成されている。
筐体11の背面壁には背面メンテナンス口68が縦長の長方形に大きく開設されており、背面壁の外面には背面メンテナンス口68を閉塞する背面メンテナンス扉69が取り付けられている。
なお、本実施の形態においては、一台のポッド2に収納された25枚以内のプロダクトウエハ1をバッチ処理(一括処理)する場合について説明する。
搬送されて来たポッド2はポッドステージ17から回転式ポッド棚20の指定された場所にポッド搬送装置18によって搬送されて保管される。
ポッド2がポッドオープナ30によって開放されると、ロードロック室41のウエハ搬入搬出口42がゲートバルブ43によって開放される。このとき、ロードロック室41は窒素ガスが充満された所謂窒素ガスパージ雰囲気に維持されており、圧力が略大気圧に維持されている。
移載室24に搬入されたウエハ1はノッチ合わせ装置35に載置され、ウエハ1のノッチをノッチ合わせ装置35にて合わせた後に再びウエハ移載装置25によりピックアップされ、ウエハ搬入搬出口42を通じてロードロック室41に搬入され、ボート64へ移載されて装填(ウエハチャージング)される。
この移載作業が繰り返されることにより、ポッド2の全てのウエハ1がボート64にウエハ移載装置25によって装填される。
空になったポッド2はポッドオープナ30の載置台31から回転式ポッド棚20にポッド搬送装置18によって一時的に戻される。
ボート64が上限に達すると、ボート64を支持したシールキャップ63の上面の周辺部がボート搬入搬出口46をシール状態に閉塞するため、処理室53は気密に閉じられた状態になる。
ボート64の処理室53への搬入に際して、ロードロック室41は負圧に維持されているため、ボート64の処理室53への搬入に伴って外部の酸素や水分が処理室53に侵入することは確実に防止される。
これにより、予め設定された処理条件に対応する所望の膜がウエハ1に形成される。
他方、空のポッド2が回転式ポッド棚20からポッドオープナ30の載置台31にポッド搬送装置18によって搬送されて移載される。
続いて、搬出されたボート64の処理済みウエハ1がウエハ移載装置25によって脱装(ディスチャージング)されて、大気圧に維持された移載室24に搬入される。搬入された処理済みのウエハ1は、ポッドオープナ30の空のポッド2にウエハ移載装置25によって収納される。
このように移載室24におけるメンテナンスを実施する場合には、図1に想像線で示されているように、まず、第一正面メンテナンス扉14aがヒンジ15aを中心にして前方に水平に回動されることにより、正面メンテナンス口13の右側が開放される。
次に、図1に想像線で示されているように、移載室メンテナンス扉28がヒンジ29を中心に前方に回動されることにより、移載室メンテナンス口27が開かれる。
その後に、移載室24のウエハ移載装置25のツィーザ25aの交換作業が、正面メンテナンス口13、メンテナンス通路19および移載室メンテナンス口27を通じて実施される。
続いて、耐圧筐体40の背面壁のロードロック室メンテナンス口66がメンテナンス扉67によって開放される。
その後に、ボート64やプロセスチューブ54の交換作業がロードロック室メンテナンス口66および68を通じて実施される。
(1)ロードロック室と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されており、前記移載室の背面側であって前記ロードロック室の配設されない箇所には、開口部とこの開口部を開閉する開閉手段とが配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(2)前記開口部は前記移載室内をメンテナンスするために設けられていることを特徴とする(1)に記載の基板処理装置。
(3)前記開口部は人が通過可能な大きさに設定されていることを特徴とする(1)または(2)に記載の基板処理装置。
(4)前記開閉手段は前記筐体外と面していることを特徴とする(1)、(2)または(3)に記載の基板処理装置。
(5)ロードロック室と、基板を移載する基板移載装置が設置された移載室とが筐体内に背面側から順に配設されており、前記移載室の背面側であって前記ロードロック室の配設されない箇所には、前記基板移載装置をメンテナンスするための開口部と、この開口部を開閉する開閉手段が配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(6)基板を基板保持具に保持しつつ待機させる待機室と、移載室と、前記基板を収容するキャリアを載置するキャリア載置手段とが筐体内に背面側から順に配設されており、前記基板保持具に保持された前記基板の中心と、前記キャリア載置手段に載置された前記キャリアの前記基板の中心を結ぶ線分とが、前記筐体の幅方向の中心線に対して幅方向の一方側に偏っており、偏っていない他方側の前記移載室の正面側または背面側には、開口部とこの開口部を開閉する開閉手段が配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(7)前記移載室内の前記一方側には前記基板を移載する基板移載装置が配置され、前記他方側には前記基板を整合する基板整合装置が配置されていることを特徴とする(6)に記載の基板処理装置。
(8)前記基板移載装置の水平方向の回転中心は、前記線分上に配置されていることを特徴とする(6)または(7)に記載の基板処理装置。
(9)前記開口部は前記移載室内をメンテナンスするために設けられていることを特徴とする(6)に記載の基板処理装置。
(10)前記開口部は前記基板移載装置および前記基板整合装置をメンテナンスするために設けられていることを特徴とする(6)ないし(9)のいずれかに記載の基板処理装置。
(11)前記開口部は人が通過可能な大きさに設定されていることを特徴とする(6)ないし(10)のいずれかに記載の基板処理装置。
(12)前記待機室はロードロック室であることを特徴とする(6)ないし(11)のいずれかに記載の基板処理装置。
(13)待機室と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されており、前記移載室には前記移載室の雰囲気を清浄するクリーンユニットと、基板を整合する基板整合装置と、前記基板を移載する基板移載装置とが、前記クリーンユニットから吹き出される雰囲気の流れ方向に順に配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(14)前記移載室の正面または背面の前記クリーンユニットの近傍には、開口部とこの開口部を開閉する開閉手段とが配設されていることを特徴とする(13)に記載の基板処理装置。
(15)前記開口部は前記移載室内をメンテナンスするために設けられていることを特徴とする(13)または(14)に記載の基板処理装置。
(16)前記開口部は前記基板移載装置および前記基板整合装置をメンテナンスするために設けられていることを特徴とする(13)ないし(15)のいずれかに記載の基板処理装置。
(17)前記開口部は人が通過可能な大きさに設定されていることを特徴とする(13)ないし(16)のいずれかに記載の基板処理装置。
(18)前記待機室はロードロック室であることを特徴とする(13)ないし(17)のいずれかに記載の基板処理装置。
(19)前記ロードロック室の上方には前記基板を処理する処理室が配置されていることを特徴とする(1)ないし(5)、(12)のいずれかに記載の基板処理装置。
(20)前記待機室の上方には前記基板を処理する処理室が配置されていることを特徴とする(6)ないし(11)、(13)〜(17)のいずれかに記載の基板処理装置。
(21)前記処理室よりも正面側には前記処理室を開閉する炉口ゲートバルブを囲う炉口ゲートバルブカバーが突設されており、前記移載室の上方には前記炉口ゲートバルブカバーをメンテナンスするための開口部と、この開口部を開閉可能な開閉手段とが設けられていることを特徴とする(19)または(20)に記載の基板処理装置。
(22)前記開口部および開閉手段は水平方向から見て前記クリーンユニット側に近くなるに従って前記移載室の空間を漸次小さくするように配置されていることを特徴とする(1)ないし(21)のいずれかに記載の基板処理装置。
(23)ロードロック室と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されているとともに、前記ロードロック室の上方に配設され基板を処理する処理室と、前記処理室を加熱するヒータユニットと、前記処理室にガスを供給するガス供給管と、前記処理室を排気する排気管とを備えており、前記移載室の背面側であって前記ロードロック室の配設されない箇所には、開口部とこの開口部を開閉する開閉手段が配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(24)ロードロック室と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されているとともに、前記ロードロック室の上方に配設され基板を処理する処理室と、前記処理室を加熱するヒータユニットと、前記処理室にガスを供給するガス供給管と、前記処理室を排気する排気管とを備えており、前記移載室の背面側であって前記ロードロック室の配設されない箇所には、開口部とこの開口部を開閉する開閉手段が配設されている基板処理装置を用いて前記基板を処理する半導体装置の製造方法であって、
前記ヒータユニットによって前記処理室を加熱するステップと、
前記処理室に前記ガス供給管から前記ガスを供給するステップと、
前記基板を処理するステップと、
前記処理室を排気管によって排気するステップと、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
(25)ロードロック室と移載室とが筐体内に背面側から順に配設されており、前記ロードロック室が前記筐体の幅方向の中心線に対して幅方向の一方側に偏っており、この一方側と反対側の他方側の前記移載室の背面側には開口部と、この開口部を開閉する開閉手段とが配設されていることを特徴とする基板処理装置。
(26)前記ロードロック室の背面側には前記開口部と、この開口部を開閉する開閉手段とが配設されていることを特徴とする(25)に記載の基板処理装置。
Claims (3)
- 基板を移載する基板移載装置が配置された移載室と、該移載室の背面に配設され、基板を待機させる待機室と、前記待機室の上方に配設され基板を処理する処理室とを備えており、
前記基板移載装置は、前記移載室内の幅方向一方側に配置され、前記移載室内の前記幅方向他方側には、前記移載室の雰囲気を清浄するクリーンユニットが配置され、前記幅方向他方側の前記移載室の正面または背面には、開口部と該開口部を開閉する開閉手段とが、前記基板移載装置よりも前記クリーンユニットに近くなるに従って前記移載室の空間が漸次小さくなるように配置されていることを特徴とする基板処理装置。 - 前記移載室、前記待機室および前記処理室は、筐体内に備えられており、
前記基板移載装置は、該移載室内における前記筐体の幅方向の中心線に対して該幅方向一方側に偏って配設され、
前記開口部、前記開閉手段および前記クリーンユニットは、該移載室における前記中心線に対して前記幅方向他方側に偏って配設されていることを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。 - 移載室内の幅方向一方側に配置された基板移載装置が基板を移載するとともに、前記基板移載装置よりも前記移載室内の前記幅方向他方側に配置されたクリーンユニットに近くなるに従って前記移載室の空間が漸次小さくなるように配置されている開口部を開閉手段が閉じた状態で、前記クリーンユニットにより前記移載室の雰囲気を清浄するステップと、
前記移載室の背面に配置された待機室へ前記移載室から基板を移載し、前記待機室から、前記待機室の上方に配設された処理室に基板を搬入するステップと、
前記処理室を加熱し、前記処理室にガスを供給し、排気し、基板を処理するステップと、
を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。
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