JP2012099763A - 基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】保守点検の作業をする空間が狭まるのを抑制することができる基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置10は、筺体12と、筺体12内と作業者が保守点検する保守点検空間84とを連通する保守点検口に接続部材106を軸として開閉自在に設けられた保守点検開閉部104と、保守点検開閉部104の開閉動作を干渉する位置と干渉しない位置との間で移動する操作部98と、を有する。
【選択図】図3
【解決手段】基板処理装置10は、筺体12と、筺体12内と作業者が保守点検する保守点検空間84とを連通する保守点検口に接続部材106を軸として開閉自在に設けられた保守点検開閉部104と、保守点検開閉部104の開閉動作を干渉する位置と干渉しない位置との間で移動する操作部98と、を有する。
【選択図】図3
Description
本発明は、基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法に関する。
基板処理装置の処理炉を構成する構成品は、洗浄等の保守点検(メンテナンス)の際、装置外に取出す必要がある。
特許文献1には、反応管を乗載し走行可能な装置本体が、台車と進退可能なスライドアームとを有し、スライドアームの進退により反応管の縦型炉側への搬入搬出が行われ、エレベータによる昇降でスライドアームに載置された反応管を反応管受載盤を介して位置決め盤が受載し、更に反応管を受載した位置決め盤をエレベータにより降下させることで反応管受載盤を介して反応管をスライドアームに移載する縦型反応炉の石英管着脱装置が開示されている。
しかしながら、保守点検の作業をする空間が十分に確保されていない場合、保守点検の作業が困難となる。
本発明は、保守点検の作業をする空間が狭まるのを抑制することができる基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法を提供することを目的とする。
本発明の第1の特徴とするところは、基板処理装置本体と、前記基板処理装置本体内と作業者が保守点検する保守点検空間とを連通する保守点検口と、前記保守点検口に開閉自在に設けられた保守点検開閉部と、前記保守点検開閉部の開閉動作を干渉する位置と干渉しない位置との間で移動する操作部と、を有する基板処理装置にある。
本発明の第2の特徴とするところは、基板処理装置本体と、前記基板処理装置本体内と作業者が保守点検する保守点検空間とを連通する保守点検口と、前記保守点検口を開閉する保守点検開閉部と、を有する基板処理装置の保守点検方法であって、前記保守点検開閉部を開く工程と、前記保守点検開閉部の開閉動作を干渉する位置から干渉しない位置に操作部を移動する工程と、を有する保守点検方法にある。
本発明によれば、保守点検の作業をする空間が狭まるのを抑制することができる基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法を提供することができる。
[第1実施形態]
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。
図2は、基板処理装置10の側面透視図を示す。
図3は、基板処理装置10の背面側(後側)からの斜視図を示す。
図4は、基板処理装置10の背面図を示す。
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る基板処理装置10の斜視図を示す。
図2は、基板処理装置10の側面透視図を示す。
図3は、基板処理装置10の背面側(後側)からの斜視図を示す。
図4は、基板処理装置10の背面図を示す。
基板処理装置10は、半導体装置(IC)の製造方法における処理工程を実施する半導体装置の製造装置として構成される。基板処理装置10は、例えば、基板としてのウエハ2に酸化処理や拡散処理、CVD処理等を行う縦型の装置である。
基板処理装置10は、主要部が配置される筺体12を有する。基板処理装置10には、例えばシリコン(Si)からなるウエハ2を収納する基板収容器としてのFOUP(以下、ポッド4という)が、ウエハキャリアとして使用される。
筺体12の正面壁12aには、ポッド搬入搬出口14が筺体12の内外を連通するように開設されている。ポッド搬入搬出口14は、フロントシャッタ16によって開閉されるようになっている。
ポッド搬入搬出口14の正面前方側には、ロードポート18が設置されている。ロードポート18は、ポッド4が載置され、載置されたポッド4の位置合わせを行うように構成されている。ポッド4は、工程内搬送装置(非図示)とロードポート18との間で授受される。
ポッド搬入搬出口14の正面前方側には、ロードポート18が設置されている。ロードポート18は、ポッド4が載置され、載置されたポッド4の位置合わせを行うように構成されている。ポッド4は、工程内搬送装置(非図示)とロードポート18との間で授受される。
筺体12内の前後方向の略中央上部には、回転式ポッド棚20が設置されている。回転式ポッド棚20は、垂直に立設され水平面内で間欠回転される支柱22と、この支柱22に例えば上下3段の各位置において放射状に支持された複数枚の棚板24とを備えている。棚板24はそれぞれ、ポッド4を複数個載置した状態で保持するように構成されている。
このように、回転式ポッド棚20は、複数個のポッド4を保管するように構成されている。
このように、回転式ポッド棚20は、複数個のポッド4を保管するように構成されている。
筺体12内のロードポート18と回転式ポッド棚20との間には、ポッド搬送装置30が設置されている。ポッド搬送装置30は、ポッド4を保持したまま昇降可能なポッドエレベータ30aと、ポッド4を支持するポッド搬送機構30bとで構成されている。
ポッド搬送装置30は、ポッドエレベータ30aとポッド搬送機構30bとの連続動作により、ロードポート18、回転式ポッド棚20、及び後述するポッドオープナ36これらの間で、ポッド4を搬送するように構成されている。
ポッド搬送装置30は、ポッドエレベータ30aとポッド搬送機構30bとの連続動作により、ロードポート18、回転式ポッド棚20、及び後述するポッドオープナ36これらの間で、ポッド4を搬送するように構成されている。
筺体12内の前後方向の略中央下部には、副筺体32が後端にわたって構築されている。
副筺体32の正面壁32aには、ウエハ2をこの副筺体32内外に搬入搬出するウエハ搬入搬出口34が、例えば垂直方向に上下2段に並べて開設されている。ウエハ搬入搬出口34にはそれぞれ、ポッドオープナ36が設置されている。
副筺体32の正面壁32aには、ウエハ2をこの副筺体32内外に搬入搬出するウエハ搬入搬出口34が、例えば垂直方向に上下2段に並べて開設されている。ウエハ搬入搬出口34にはそれぞれ、ポッドオープナ36が設置されている。
ポッドオープナ36は、ポッド4を載置する載置台38と、ポッド4のキャップ(蓋体)を着脱するキャップ着脱機構40とを備えている。ポッドオープナ36は、載置台38に設置されたポッド4のキャップをキャップ着脱機構40によって着脱することにより、ポッド4のウエハ出し入れ口を開閉するように構成されている。
副筺体32は、ポッド搬送装置30や回転式ポッド棚20が設置された空間から流体的に隔絶された移載室42を構成する。
移載室42内の前側領域には、ウエハ移載機構50が設置されている。ウエハ移載機構50は、ウエハ2を水平方向で回転あるいは直動可能なウエハ移載装置52と、ウエハ移載装置52を昇降させるためのウエハ移載装置エレベータ54とで構成されている。
ウエハ移載機構50は、ウエハ移載装置52のツイーザ58をウエハ2の載置部として、基板保持具であるボート60にウエハ2を装填(チャージング)、あるいはこのボート60からウエハ2を脱装(ディスチャージング)するように構成されている。
ウエハ移載機構50は、ウエハ移載装置52のツイーザ58をウエハ2の載置部として、基板保持具であるボート60にウエハ2を装填(チャージング)、あるいはこのボート60からウエハ2を脱装(ディスチャージング)するように構成されている。
ボート60は、複数本の保持部材を備えており、複数枚(例えば50〜125枚程度)のウエハ2をその中心を揃えて垂直方向に整列した状態で、水平に保持するように構成されている。
ポッド搬送装置30やポッドオープナ36、ウエハ移載機構50等には、搬送制御部62(図7参照)が電気的に接続されており、この搬送制御部62は、これらが所望の動作をするよう所望のタイミングで制御するように構成されている。
移載室42のウエハ移載装置エレベータ54と対向する反対側には、クリーンユニット64が設置されている。クリーンユニット64は、清浄化した雰囲気もしくは不活性ガスであるクリーンエアを供給するよう供給ファン及び防塵フィルタで構成されている。
クリーンユニット64とウエハ移載装置52との間には、ウエハ2の円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置66が設置されている。
クリーンユニット64とウエハ移載装置52との間には、ウエハ2の円周方向の位置を整合させる基板整合装置としてのノッチ合わせ装置66が設置されている。
クリーンユニット64から吹き出されたクリーンエアは、ウエハ移載装置52、ノッチ合わせ装置66を通り、移載室42の対向する側に配置されたウエハ移載装置エレベータ54、ボートエレベータ74等に流通された後、後述する排気部82に吸い込まれ筺体12の外部に排気される。
あるいは、クリーンユニット64から吹き出されたクリーンエアは、排気部82に排気される替わりに、クリーンユニット64の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット64によって移載室42内に吹き出されるように構成されている。
あるいは、クリーンユニット64から吹き出されたクリーンエアは、排気部82に排気される替わりに、クリーンユニット64の吸い込み側である一次側(供給側)にまで循環され、再びクリーンユニット64によって移載室42内に吹き出されるように構成されている。
移載室42内の後側領域上方には、処理炉70が設けられている。処理炉70の下端部は、炉口シャッタ72により開閉されるように構成されている。
処理炉70の下方には、ボートエレベータ74が設置されている。
処理炉70の下方には、ボートエレベータ74が設置されている。
ボートエレベータ74のアームには、炉口蓋体としてのシールキャップ76が水平方向に据え付けられている。シールキャップ76は、例えばステンレス等の金属からなり、円盤状に形成されている。
シールキャップ76は、ボート60を垂直に支持し、処理炉70の下端部を閉塞可能なように構成されている。シールキャップ76がボートエレベータ74によって垂直方向に昇降されることで、ボート60が昇降する構成となっている。
このように、移載室42は、ボート60にウエハ2を移載する室を構成するとともに、処理炉70からボート60が搬出される搬出室を構成する。
シールキャップ76は、ボート60を垂直に支持し、処理炉70の下端部を閉塞可能なように構成されている。シールキャップ76がボートエレベータ74によって垂直方向に昇降されることで、ボート60が昇降する構成となっている。
このように、移載室42は、ボート60にウエハ2を移載する室を構成するとともに、処理炉70からボート60が搬出される搬出室を構成する。
筺体12の背面壁12bには、実用部80と排気部82とが対向するようにして設けられている。
実用部80と排気部82との間に、保守点検空間(メンテナンススペース)84が形成される。保守点検空間84は、作業者が基板処理装置10の保守点検をするための空間である。
実用部80と排気部82との間に、保守点検空間(メンテナンススペース)84が形成される。保守点検空間84は、作業者が基板処理装置10の保守点検をするための空間である。
実用部80は、基板処理装置10のユーティリティーを構成し、この基板処理装置10全体の動作を制御する装置が配置されている制御部90、配管が配置されている配管部92、筺体12内に供給するガス(ガス供給源)を収容するガス収容部94、基板処理装置10を制御する電子的回路が配置されている電装部96、作業者が操作を行う操作部98が設けられている。
排気部82は、筺体12内の雰囲気を排気するように構成されている。
排気部82は、筺体12内の雰囲気を排気するように構成されている。
筺体12の背面壁12bには、筺体12内と保守点検空間84とを連通する保守点検口102が開設されており、この保守点検口102には、この保守点検口102を開閉する保守点検開閉部104が設けられている。
保守点検開閉部104は、背面壁12bの実用部80側(図4において右側)に設けられた蝶番等からなる接続部材106を軸として、開閉自在に構成されている。
保守点検開閉部104は、背面壁12bの実用部80側(図4において右側)に設けられた蝶番等からなる接続部材106を軸として、開閉自在に構成されている。
図5は、保守点検の一例として、処理炉70の構成部(例えばプロセスチューブ136)を筺体12から取り出す様子を示す。
保守点検空間84は、例えば、作業者がプロセスチューブ136を保守点検口102を介して筺体12外に取出す際、このプロセスチューブ136を載置して移動する台車112を進入させるのに用いられる。
保守点検空間84は、例えば、作業者がプロセスチューブ136を保守点検口102を介して筺体12外に取出す際、このプロセスチューブ136を載置して移動する台車112を進入させるのに用いられる。
次に、処理炉70の詳細について説明する。
図6は、処理炉70の概略構成図であり、縦断面図を示す。
処理炉70は、加熱機構としてのヒータ132を有する。ヒータ132は円筒形状であり、保持板としてのヒータベース134に支持されることにより垂直に据え付けられている。
処理炉70は、加熱機構としてのヒータ132を有する。ヒータ132は円筒形状であり、保持板としてのヒータベース134に支持されることにより垂直に据え付けられている。
ヒータ132の内側には、このヒータ132と同心円状に反応管としてのプロセスチューブ136が配設されている。プロセスチューブ136は、内部反応管としてのインナーチューブ138と、その外側に設けられた外部反応管としてのアウターチューブ140とから構成されている。
インナーチューブ138は、例えば石英(SiO2)あるいは炭化シリコン(SiC)等の耐熱性材料からなり、上端及び下端が開口した円筒形状に形成されている。
インナーチューブ138の筒中空部には、ウエハ2が処理される処理室142が形成されている。処理室142は、ウエハ2をボート60によって水平姿勢で垂直方向に多段に整列した状態で収容可能に構成されている。
インナーチューブ138の筒中空部には、ウエハ2が処理される処理室142が形成されている。処理室142は、ウエハ2をボート60によって水平姿勢で垂直方向に多段に整列した状態で収容可能に構成されている。
アウターチューブ140は、例えば石英あるいは炭化シリコン等の耐熱性材料からなる。アウターチューブ140は、内径がインナーチューブ138の外径よりも大きく、上端が閉塞し下端が開口した円筒形状に形成されており、インナーチューブ138と同心円状に設けられている。
アウターチューブ140の下方には、このアウターチューブ140と同心円状にマニホールド144が配設されている。マニホールド144は、例えばステンレス等からなり、上端および下端が開口した円筒形状に形成されている。マニホールド144は、インナーチューブ138とアウターチューブ140に係合しており、これらを支持するように設けられている。
マニホールド144とアウターチューブ140との間には、シール部材としてのOリング146aが設けられている。
マニホールド144がヒータベース134に支持されることにより、プロセスチューブ136は垂直に据え付けられた状態となる。
プロセスチューブ136とマニホールド144により反応容器が形成される。
マニホールド144がヒータベース134に支持されることにより、プロセスチューブ136は垂直に据え付けられた状態となる。
プロセスチューブ136とマニホールド144により反応容器が形成される。
マニホールド144の下方に、このマニホールド144の下端開口を気密に閉塞可能な炉口蓋体としてのシールキャップ76が配設される。シールキャップ76は、マニホールド144の下端に垂直方向下側から当接されるようになっている。シールキャップ76の上面には、マニホールド144の下端と当接するシール部材としてのOリング146bが設けられる。
シールキャップ76には、ガス導入部としてのノズル152が処理室142内に連通するように接続されており、このノズル152には、ガス供給管154が接続されている。
ガス供給管154のノズル152との接続側と反対側である上流側には、処理ガス供給源(非図示)や不活性ガス供給源(非図示)が、開閉弁であるバルブ156、及び処理室142に供給するガスのガス流量を測定するマスフローコントローラ(MFC)158を介して接続されている。
MFC158は、配管の詰まりや、センサ類の劣化等により生じる基準値の変化(基準値シフト)に対応するために、基準値を補正する機能(基準値補正機能)を備えている。
MFC158は、配管の詰まりや、センサ類の劣化等により生じる基準値の変化(基準値シフト)に対応するために、基準値を補正する機能(基準値補正機能)を備えている。
バルブ156及びMFC158にはガス流量制御部160(図7参照)が電気的に接続されており、このガス流量制御部160は、供給するガスの流量が所望の量となるようにこれらバルブ156及びMFC158を所望のタイミングで制御するように構成されている。
マニホールド144には、処理室142内の雰囲気を排気する排気管162が設けられている。排気管162は、インナーチューブ138とアウターチューブ140との隙間に形成される筒状空間164の下端部に配置されており、この筒状空間164に連通している。
筒状空間164には、処理室142の温度を検出する温度検出器としての温度センサ170が設置されている。
ヒータ132及び温度センサ170には、温度制御部172(図4参照)が接続されている。温度制御部172は、処理室142内が所望の温度となるように、温度センサ170により検出された測定結果に基づいてヒータ132を所望のタイミングで制御するように構成されている。
ヒータ132及び温度センサ170には、温度制御部172(図4参照)が接続されている。温度制御部172は、処理室142内が所望の温度となるように、温度センサ170により検出された測定結果に基づいてヒータ132を所望のタイミングで制御するように構成されている。
排気管162のマニホールド144の接続側と反対側である下流側には、圧力検出器としての圧力センサ180と、排気量を調節することで圧力を調整する圧力調整装置182とを介して、真空ポンプ等の真空排気装置184が接続されている。
圧力センサ180及び圧力調整装置182には、圧力制御部186(図7参照)が電気的に接続されている。圧力制御部186は、処理室142内が所望の圧力となるように、圧力センサ180により検出された測定結果に基づいて真空排気装置184を所望のタイミングで制御するように構成されている。
シールキャップ76の処理室142と反対側(図3において下側)には、ボート60を回転させる回転機構190が設置されている。回転機構190の回転軸192は、シールキャップ76を貫通してボート60に接続されており、このボート60を回転させることでウエハ2を回転させるように構成されている。
ボート60は、ボートエレベータ74がシールキャップ76を昇降させる動作に伴い処理室142に対し搬入搬出される。
ボート60は、ボートエレベータ74がシールキャップ76を昇降させる動作に伴い処理室142に対し搬入搬出される。
回転機構190及びボートエレベータ74には、駆動制御部194(図7参照)が電気的に接続されており、駆動制御部194は、所望の動作をするようこれら回転機構190及びボートエレベータ74を所望のタイミングで制御するように構成されている。
ボート60の下部には、例えば石英や炭化珪素等の耐熱性材料からなる円板形状をした断熱部材としての断熱板198が水平姿勢で多段に複数枚配置されており、ヒータ132からの熱がマニホールド144側に伝わりにくくなるよう構成されている。
図7は、基板処理装置10部の制御構成のブロック図を示す。
搬送制御部62、ガス流量制御部160、温度制御部172、圧力制御部186、駆動制御部194、操作部98は、基板処理装置10全体を制御する主制御部196に電気的に接続されている。
搬送制御部62、ガス流量制御部160、温度制御部172、圧力制御部186、駆動制御部194、操作部98、及び主制御部196は、コントローラ198として構成されている。
搬送制御部62、ガス流量制御部160、温度制御部172、圧力制御部186、駆動制御部194、操作部98は、基板処理装置10全体を制御する主制御部196に電気的に接続されている。
搬送制御部62、ガス流量制御部160、温度制御部172、圧力制御部186、駆動制御部194、操作部98、及び主制御部196は、コントローラ198として構成されている。
次に、基板処理装置10の動作について説明する。なお、以下の説明において、基板処理装置10を構成する各部の動作は、コントローラ198により制御される。
ポッド4が工程内搬送装置によってロードポート18に供給されると、ポッド搬入搬出口14がフロントシャッタ16によって開放される。ロードポート18の上のポッド4は、ポッド搬送装置30によって筐体12の内部へポッド搬入搬出口14から搬入される。
筐体12内に搬入されたポッド4は、ポッド搬送装置30によって回転式ポッド棚20の指定された棚板24へ受け渡され一時的に保管された後、この棚板24からポッドオープナ36に搬送されて載置台38に移載される。あるいは、筐体12内に搬入されたポッド4は、棚板24を経由することなく直接、ポッドオープナ36に搬送されて載置台38に移載される。
この際、副筺体32に設けられたウエハ搬入搬出口34は、キャップ着脱機構40によって閉じられており、移載室42には、クリーンエアが流通され充満されている。
例えば、移載室42には、クリーンエアとして窒素(N2)やアルゴン(Ar)等の不活性ガスが充満しており、この移載室42内の酸素濃度が、筐体12の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも低くなるように(20 ppm以下程度)設定されている。
例えば、移載室42には、クリーンエアとして窒素(N2)やアルゴン(Ar)等の不活性ガスが充満しており、この移載室42内の酸素濃度が、筐体12の内部(大気雰囲気)の酸素濃度よりも低くなるように(20 ppm以下程度)設定されている。
載置台38に載置されたポッド4は、その開口側端面がウエハ搬入搬出口34の開口縁辺部に押し付けられるとともに、キャップ着脱機構40によってこのポッド4のキャップが取り外されウエハ出し入れ口が開放される。
ポッド4のウエハ出し入れ口が開放されると、ウエハ2は、このポッド4からウエハ移載装置52のツイーザ58によってウエハ出し入れ口を通じてピックアップされる。そして、ウエハ2は、ノッチ合わせ装置66によって周方向の位置を整合された後、移載室42の後方にあるボート60に装填(チャージング)される。
ウエハ移載装置52は、ボート60にウエハ2を受け渡した後、ポッド4に戻り次のウエハ2をボート60に装填する。
ウエハ移載装置52は、ボート60にウエハ2を受け渡した後、ポッド4に戻り次のウエハ2をボート60に装填する。
一方(上段又は下段)のポッドオープナ36におけるウエハ2のボート60への装填作業と並行して、他方のポッドオープナ36には、他のポッド4がポッド搬送装置30によって回転式ポッド棚20から搬送され、この他方のポッドオープナ36においてこの他のポッド4の開放作業が行われる。
所定枚数のウエハ2がボート60に装填されると、炉口シャッタ72が開き、処理炉70の下端部が開放される。続いて、複数枚のウエハ2を保持したボート60が、シールキャップ76がボートエレベータ74によって上昇されることにより、処理炉70内へ搬入(ローディング)される。そして、シールキャップ76は、Oリング146bを介してマニホールド144の下端をシールした状態となる。
ウエハ2を処理室142内に搬送した後、このウエハ2に所定の処理を行う。
処理室142は、この処理室142内が所望の圧力(真空度)となるように真空排気装置184によって真空排気される。この際、処理室142内の圧力は圧力センサ180で測定され、この測定された圧力に基づいて圧力調節器122が、フィードバック制御される。
また、処理室142は、この処理室142内が所望の温度となるようにヒータ132によって加熱される。この際、処理室142内が所望の温度分布となるように温度センサ170が検出した温度情報に基づきヒータ132への通電具合がフィードバック制御される。
ウエハ2は、回転機構190によりボート60が回転されるのに伴い、回転した状態となる。
処理室142内に所定の処理ガスが供給される。処理ガスは、処理ガス供給源から供給され、MFC158にて所望の流量となるように制御され、ガス供給管154を流通してノズル152から処理室142内に導入される。
導入されたガスは、処理室142内を上昇しインナーチューブ138の上端開口から筒状空間164に流出して排気管162から排気される。ガスは処理室142内を通過する際にウエハ2の表面と接触し、この際に熱CVD反応によってウエハ2の表面上に薄膜が堆積(デポジション)される。
導入されたガスは、処理室142内を上昇しインナーチューブ138の上端開口から筒状空間164に流出して排気管162から排気される。ガスは処理室142内を通過する際にウエハ2の表面と接触し、この際に熱CVD反応によってウエハ2の表面上に薄膜が堆積(デポジション)される。
予め設定された処理時間が経過すると、不活性ガスが、不活性ガス供給源から供給され、処理室142内が不活性ガスに置換されるとともに、この処理室142内の圧力が常圧に復帰される。
ボートエレベータ74によりシールキャップ76が下降されて、マニホールド144の下端が開口される。次いで、処理済のウエハ2がボート60に保持された状態でマニホールド144の下端からプロセスチューブ136の外部に搬出(ボートアンローディング)される。
その後、処理済のウエハ2は、ボート60から取出される(ウエハディスチャージ)。
その後、処理済のウエハ2は、ボート60から取出される(ウエハディスチャージ)。
基板処理装置10の処理炉70においてウエハ2を処理する際の処理条件として、例えば窒化珪素(Si3N4)膜を成膜する場合、処理温度:600 〜 700 ℃、処理圧力:20 〜 40 Pa、ガス種:ジクロロシラン(SiH2Cl2)、アンモニア(NH3)、ガス供給流量:0 〜 99.999 slmが例示される。
それぞれの処理条件を、それぞれの範囲内のある値で一定に維持することでウエハ2に処理がなされる。
それぞれの処理条件を、それぞれの範囲内のある値で一定に維持することでウエハ2に処理がなされる。
次に、実用部80のガス収容部94の詳細について説明する。
図8は、実用部80の保守点検空間84側からの斜視図を示す。図9は、基板処理装置10の後側の操作部98の高さにおける上面断面図を示す。
図8(a)、図9(a)は、収容開閉部204及び操作部98が閉じている状態を示し、図8(b)、図9(b)は、収容開閉部204及び操作部98が開いている状態を示す。
図8は、実用部80の保守点検空間84側からの斜視図を示す。図9は、基板処理装置10の後側の操作部98の高さにおける上面断面図を示す。
図8(a)、図9(a)は、収容開閉部204及び操作部98が閉じている状態を示し、図8(b)、図9(b)は、収容開閉部204及び操作部98が開いている状態を示す。
ガス収容部94の保守点検空間84側には、このガス収容部94の内外を連通する収容口202が開口しており、この収容口202は、収容開閉部204によって開閉されるようになっている。
収容開閉部204は、第1の開閉部材210と、この第1の開閉部材210よりも背面壁12bに近い側(前側)に設けられた第2の開閉部材212とにより構成される。
収容開閉部204は、第1の開閉部材210と、この第1の開閉部材210よりも背面壁12bに近い側(前側)に設けられた第2の開閉部材212とにより構成される。
第1の開閉部材210は、ガス収容部94の背面壁12b側とは反対側(後側)に設けられた蝶番等からなる接続部材214を軸として、背面壁12bとは逆側に90度以上開くようになっている。すなわち、第1の開閉部材210の第1の開閉部材210の幅(図9で示す長さA)は、少なくとも開閉動作の範囲において排気部82と接しない長さとなっている。
第1の開閉部材210の幅は、この第1の開閉部材210を閉じた状態における前後方向の長さを示す。
第1の開閉部材210の幅は、この第1の開閉部材210を閉じた状態における前後方向の長さを示す。
本実施形態において、第1の開閉部材210の幅は、保守点検空間84の前後方向の全範囲で実用部80と排気部82との間の長さ(図9で示す長さB)よりも小さくなっている。
第1の開閉部材210には、操作部98の一部を収容する凹部216が設けられている。凹部216には、操作部98が閉じられた状態でその一部が収容されるようになっている。
第2の開閉部材212は、背面壁12b側の端部に設けられた蝶番等からなる接続部材224を軸として、背面壁12b側に開くようになっている。
ガス収容部94と上下方向で重なる位置に操作部98が配置されている。操作部98は、ガス収容部94の後側に設けられた蝶番等からなる接続部材232を軸として180度開閉自在となっている。
操作部98は、収容開閉部204とは別個に開閉自在に設けられており、この収容開閉部204を閉じた状態で、この操作部98を開くことができるようになっている。
操作部98は、収容開閉部204とは別個に開閉自在に設けられており、この収容開閉部204を閉じた状態で、この操作部98を開くことができるようになっている。
操作部98には、入出力を行うタッチパネル等からなる入出力部234が設けられており、この入出力部234は、操作部98が閉じられた状態で保守点検空間84側を向くように構成されている。このため、作業者は、保守点検空間84において操作部98を操作することができるようになっている。
操作部98は、開閉動作に加え、2軸構造として縦方向に回転する構成とするようにしてもよい。これにより、操作部98を開いた状態において、入出力部234を保守点検空間84側に向けられるようになる。
図10は、操作部98の接続部材232周辺の概略図を示す。
図10(a)は、操作部98が閉じられている状態を示し、図10(b)は、操作部98が開かれている状態を示す。
図10(a)は、操作部98が閉じられている状態を示し、図10(b)は、操作部98が開かれている状態を示す。
接続部材232は、ガス収容部94の後側に設けられている。このため、操作部98は、開かれた状態において、この操作部98の全体がガス収容部94の後側に配置され、左右方向で保守点検空間84と重ならないようになっている(。
このように、接続部材232がガス収容部94の後側に設けられている場合、ガス収容部94の保守点検空間84側に設けられている場合と比較して、保守点検空間84が広く確保される。
このように、接続部材232がガス収容部94の後側に設けられている場合、ガス収容部94の保守点検空間84側に設けられている場合と比較して、保守点検空間84が広く確保される。
次に、保守点検開閉部104を開く際の操作部98との位置関係について説明する。
図11は、保守点検開閉部104を開いた際の位置関係を説明する説明図である。
図11(a)は、操作部98が開かれている状態を示し、図11(b)は、比較として操作部98が閉じられている状態を示す。
図11は、保守点検開閉部104を開いた際の位置関係を説明する説明図である。
図11(a)は、操作部98が開かれている状態を示し、図11(b)は、比較として操作部98が閉じられている状態を示す。
図11(a)に示すように、操作部98が開かれている状態においては、保守点検開閉部104は、操作部98に干渉されることなく収容開閉部204と略平行となる位置まで開かれる。すなわち、保守点検開閉部104が左右方向において保守点検口102と重ならない位置にまで開かれる。
この場合、例えば、保守点検として保守点検空間84に台車112を進入させる際、保守点検開閉部104がこの台車112の進路を妨害しない位置に配置されることとなる。
また、操作部98は、保守点検開閉部104の開閉を干渉しない位置に移動するため、保守点検開閉部104が開かれた状態において、入出力部234がこの保守点検開閉部104に隠れることが防止される。
この場合、例えば、保守点検として保守点検空間84に台車112を進入させる際、保守点検開閉部104がこの台車112の進路を妨害しない位置に配置されることとなる。
また、操作部98は、保守点検開閉部104の開閉を干渉しない位置に移動するため、保守点検開閉部104が開かれた状態において、入出力部234がこの保守点検開閉部104に隠れることが防止される。
これに対し、図11(b)に示すように、操作部98が閉じられている状態においては、保守点検開閉部104は、操作部98に干渉され収容開閉部204と略平行となる位置よりも内側の位置まで開かれる。
この場合、例えば、保守点検として保守点検空間84に台車112を進入させる際、保守点検開閉部104がこの台車112の進路を妨害し得ることとなる。
この場合、例えば、保守点検として保守点検空間84に台車112を進入させる際、保守点検開閉部104がこの台車112の進路を妨害し得ることとなる。
このように、操作部98が開かれている場合、この操作部98が閉じられている場合と比較して、保守点検開閉部104の稼動する範囲が広くなる。
[第2実施形態]
次に、第2実施形態について説明する。
図12は、第2実施形態にかかる操作部98及びその周辺構造の概略図を示す。
図12(a)は、操作部98が保守点検空間84側にある状態を示し、図12(b)は、操作部98がガス収容部94の後側にある状態を示す。
また、図12(a)、(b)において、上側の図は、上面図を示し、下側の図は、保守点検空間84側から見た図を示す。
次に、第2実施形態について説明する。
図12は、第2実施形態にかかる操作部98及びその周辺構造の概略図を示す。
図12(a)は、操作部98が保守点検空間84側にある状態を示し、図12(b)は、操作部98がガス収容部94の後側にある状態を示す。
また、図12(a)、(b)において、上側の図は、上面図を示し、下側の図は、保守点検空間84側から見た図を示す。
第2実施形態において、ガス収容部94の上部には、保守点検空間84に対向する側から後側にかけて案内溝302が設けられている。操作部98には、上方に伸びる連結部304が設けられており、この連結部304は、案内溝302に水平移動自在に連結している。
操作部98は、案内溝302に沿ってガス収容部94の後側まで移動し、その後、連結部304を軸として基板処理装置10の外側(保守点検空間84の反対側)に旋回する構成となっている。
操作部98は、案内溝302に沿ってガス収容部94の後側まで移動し、その後、連結部304を軸として基板処理装置10の外側(保守点検空間84の反対側)に旋回する構成となっている。
このように、操作部98は、保守点検開閉部104の開閉動作を干渉する保守点検空間84側の位置(図12(a))と、開閉動作を干渉しないガス収容部94の後側の位置(図12(b))とを水平移動するようになっている。
なお、案内溝352、354をガス収容部94の外側(保守点検空間84の反対側)まで設け、操作部98をガス収容部94の外側まで移動させる構成としてもよい。
[第3実施形態]
次に、第3実施形態について説明する。
図13は、第2実施形態にかかる操作部98及びその周辺構造の概略図を示す。
図13(a)は、操作部98が保守点検空間84側にある状態を示し、図13(b)は、操作部98がガス収容部94の後側にある状態を示す。
また、図13(a)、(b)において、上側の図は、上面図を示し、下側の図は、保守点検空間84側から見た図を示す。
次に、第3実施形態について説明する。
図13は、第2実施形態にかかる操作部98及びその周辺構造の概略図を示す。
図13(a)は、操作部98が保守点検空間84側にある状態を示し、図13(b)は、操作部98がガス収容部94の後側にある状態を示す。
また、図13(a)、(b)において、上側の図は、上面図を示し、下側の図は、保守点検空間84側から見た図を示す。
第3実施形態において、ガス収容部94の上部及び下部には、保守点検空間84に対向する側から後側にかけて案内溝352、354が設けられている。操作部98の上部及び下部には、連結部362、364が設けられており、これらの連結部362、364は、案内溝352、354に水平移動自在に連結している。つまり、操作部98が上下方向で案内溝352、354に挟まれるようにして構成されている。
このように、本実施形態においては、操作部98は、保守点検開閉部104の開閉動作を干渉する保守点検空間84側の位置(図13(a))と、開閉動作を干渉しないガス収容部94の後側の位置(図13(b))とを水平移動するようになっている。
このように、本実施形態においては、操作部98は、保守点検開閉部104の開閉動作を干渉する保守点検空間84側の位置(図13(a))と、開閉動作を干渉しないガス収容部94の後側の位置(図13(b))とを水平移動するようになっている。
なお、案内溝352、354をガス収容部94の外側(保守点検空間84の反対側)まで設け、操作部98をガス収容部94の外側まで移動させる構成としてもよい。
[本発明の好ましい態様]
以下に、本発明の好ましい態様について付記する。
以下に、本発明の好ましい態様について付記する。
本発明の一態様によれば、基板処理装置本体の背面側に関し、背面扉を開けメンテナンス(保守点検)作業を行うメンテナンスエリア(保守点検空間)を有し、該メンテナンスエリアを避けた一方側に排気ボックスを有し、残る一方側にユーティリティボックスを設け、該ユーティリティボックスは、コントロールボックス、配電ボックス、ガスボックス、オペレーションボックス、電装品ボックスから構成され、前記オペレーションボックスは、ガスボックスに収納され、前記オペレーションボックスは、前記背面扉を開けた際に、該背面扉と干渉しない位置に可動することを特徴とする基板処理装置が提供される。
本発明の他の態様によれば、移載室を有する基板処理装置であって、移載室には構成部品、構成ユニット、又は作業者が通過できる開口部があり、その開口部を密閉可能な背面扉があることを特徴とする基板処理装置が提供される。
好適には、移載室扉の旋回範囲・移動範囲に干渉物があり、背面扉を限界まで開放してもメンテナンス治具及び運搬物が通過できないが、干渉物を移動させることでメンテナンス治具及び運搬物が通行可能となる。
好適には、背面扉の旋回範囲・移動範囲に操作部・表示部があり、背面扉開放時には操作部・表示部が視認できないが、操作部・表示部を移動させることで背面扉開放時にも操作部・表示部が視認可能となる。
2 ウエハ
4 ポッド
10 基板処理装置
12 筺体
12a 正面壁
12b 背面壁
32 副筺体
38 載置台
40 キャップ着脱機構
42 移載室
50 ウエハ移載機構
60 ボート
62 搬送制御部
70 処理炉
80 実用部
82 排気部
84 保守点検空間
90 制御部
92 配管部
94 ガス収容部
96 電装部
98 操作部
102 保守点検口
104 保守点検開閉部
122 圧力調節器
142 処理室
160 ガス流量制御部
172 温度制御部
184 真空排気装置
186 圧力制御部
194 駆動制御部
196 主制御部
198 コントローラ
202 収容口
204 収容開閉部
234 入出力部
4 ポッド
10 基板処理装置
12 筺体
12a 正面壁
12b 背面壁
32 副筺体
38 載置台
40 キャップ着脱機構
42 移載室
50 ウエハ移載機構
60 ボート
62 搬送制御部
70 処理炉
80 実用部
82 排気部
84 保守点検空間
90 制御部
92 配管部
94 ガス収容部
96 電装部
98 操作部
102 保守点検口
104 保守点検開閉部
122 圧力調節器
142 処理室
160 ガス流量制御部
172 温度制御部
184 真空排気装置
186 圧力制御部
194 駆動制御部
196 主制御部
198 コントローラ
202 収容口
204 収容開閉部
234 入出力部
Claims (2)
- 基板処理装置本体と、
前記基板処理装置本体内と作業者が保守点検する保守点検空間とを連通する保守点検口と、
前記保守点検口に開閉自在に設けられた保守点検開閉部と、
前記保守点検開閉部の開閉動作を干渉する位置と干渉しない位置との間で移動する操作部と、
を有する基板処理装置。 - 基板処理装置本体と、
前記基板処理装置本体内と作業者が保守点検する保守点検空間とを連通する保守点検口と、
前記保守点検口を開閉する保守点検開閉部と、
を有する基板処理装置の保守点検方法であって、
前記保守点検開閉部を開く工程と、
前記保守点検開閉部の開閉動作を干渉する位置から干渉しない位置に操作部を移動する工程と、
を有する保守点検方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010248501A JP2012099763A (ja) | 2010-11-05 | 2010-11-05 | 基板処理装置及び基板処理装置の保守点検方法 |
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-
2010
- 2010-11-05 JP JP2010248501A patent/JP2012099763A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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