JP4509186B2 - 積層部品及びこれを用いたモジュール - Google Patents
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Description
図1は本発明の第一の積層部品の一例としての積層インダクタ10の外観及びその内部構造を示し、図2は図1の積層インダクタ10の断面を示し、図3は図1の積層インダクタ10における磁界分布を示し、図4は図1の積層インダクタ10を構成する各層を示す。
積層型インダクタ10は11層(S1〜S11)で構成され、コイルパターン3が形成された磁性体基板層2からなる7つのコイルパターン担持層1a〜1dを有するコイル形成域1と、コイル形成域1の上下にそれぞれ設けられたコイルパターンを有さない2つの磁性体基板層2からなる磁性体域5とを有する。コイル形成域1では、0.5〜1ターンのコイルパターン3(3a〜3d)は、スルーホール6を介して接続され、6.5ターンのコイルを形成している。コイルの両端は積層部品の対向側面に引き出され、Ag等の導体ペーストを焼き付けた外部電極200a、200bと接続している。図2に示すように、コイルパターン3の内側でそれと接する領域に磁気ギャップ層4が形成されている。積層型インダクタ10はLTCC(Low-Temperature Co-fired Ceramics)法により形成するのが好ましい。
本発明の積層部品では、各コイルパターン3に接するように設けた磁気ギャップ層4が分散している。従来から全ての磁束が複数のコイルパターンを含むループを画くのが理想的であり、各コイルパターンの回りの小ループを画く磁束は単にインダクタンス値を低下させる漏れ磁束であると考えられてきた。しかしながら本発明では、図3に示すように、コイルパターン3a、3bが発生する磁束φa,φa’(各コイルパターン3a、3bの回りの磁性体2及び各磁気ギャップ層4a、4bを回る)、磁束φb(コイルパターン3a、3bの両方を回る)、及び磁束φc(コイルパターン3a、3b及び他のコイルパターンも回る)のうち、磁束φb及びφcは各コイルパターン3a、3bに接する磁気ギャップ層4a,4bにより低減し、ほとんど磁束φa,φa’だけが残る。
図9は第二の積層部品の断面を示し、図10(a)及び図10(b)はこの積層部品に用いるコイルパターン担持層を示す。この積層部品は、第一の積層部品とほぼ同じ構成であるので、相違部分を説明し、重複部分の説明は省略する。
図11は第三の積層部品の断面を示し、図12(a)及び図12(b)はこの積層部品に用いるコイルパターン担持層を示す。このコイルパターン担持層は、コイルパターン3bの内側及び外側の領域全体を覆う磁気ギャップ層4を有し、コイルパターン3を除く領域は磁性体ペーストの印刷により磁性体充填層2aが形成されている[図12(b)]。第三の積層部品は、第一及び第二の積層部品と比べて磁気ギャップが長いため、インダクタンス値が低いものの、他のコイルパターンと鎖交する磁束がさらに減っているため、優れた直流重畳特性を発揮する。
図13は第四の積層部品の断面を示し、図14(a)及び図14(b)はこの積層部品に用いる1つの磁性体層を示し、図15はこの積層部品における磁界分布を示す。この積層部品に用いるコイルパターン担持層1bには、磁気ギャップ層4の開口部14に磁性体充填層2aが設けられている。開口部14は、コイルパターン間の磁性体部より低励磁電流で磁気飽和するように、開口面積及び充填する磁性体の磁気特性を適宜選定するのが好ましい。
図20は第五の積層部品の断面を示し、図21(a)及び図21(b)はこの積層部品に用いるコイルパターン担持層を示し、図22はこの積層部品における磁界分布を示す。このコイルパターン担持層には、1層あたりのコイルパターンの巻き数が1ターンを超えており、同一層で隣り合うパターン間にも磁気ギャップ層4が設けられている。コイルパターン3の周囲には、小ループを画く磁束φa'、φa"と、コイルパターン3全体をループする磁束φaが形成される。同一層内のコイル間で磁気的な結合が得られるため、1ターンで構成するより大きなインダクタンス値が得られる。
図23は第五の積層部品の断面を示し、図24(a)及び図24(b)はこの積層部品に用いるコイルパターン担持層を示す。この積層部品でも、磁気ギャップ層4の一部に形成した開口部14は磁性体充填層を有する。この積層部品も、大きなインダクタンス値を有しながら、優れた直流重畳特性を発揮する。
図25は第七の積層部品を構成する各層を示し、図26はその断面図である。各コイルパターン3の巻数は0.75ターンであり、積層部品全体では4.5ターンのコイルが形成されている。このため、コイル形成域1中のコイルパターン担持層は6層(S3〜S8)と第一の積層部品より少ない。
図27〜図29は第八の積層部品を示す。第八の積層部品は、コイルパターンと積層方向に重なる磁気ギャップ層を有する。図27に示す積層部品では磁気ギャップ層4はコイルパターン3の一部と重なっており、図28に示す積層部品では磁気ギャップ層4はコイルパターン3全体と重なっており、図29に示す積層部品では磁気ギャップ層4は磁性体基板層2の全面を覆っている。第八の積層部品でも磁気ギャップ層4に開口部14を設けても良い。この場合、磁気ギャップ層4の分だけ積層部品が厚くなるが、優れた直流重畳特性が得られる。
図30は複数のインダクタを有する積層部品(インダクタアレイ)の外観を示し、図31はその等価回路を示し、図32及び図33はその内部構造を示す。この積層部品は、積層されたコイルパターン3からなるコイルに中間タップを設けて、コイルを巻回方向が異なる2つのコイルに分割したものであり、マルチフェイズDC-DCコンバータに用いる。
図34は本発明の積層部品を用いたDC-DCコンバータモジュールの外観を示し、図35はその断面を示し、図36はその等価回路を示す。このDC-DCコンバータモジュールは、インダクタを内蔵した積層部品10に、スイッチング素子及び制御回路を含む半導体集積回路部品ICとコンデンサCin,Coutを実装した降圧型DC-DCコンバータである。積層部品10の裏面には複数の外部端子90が設けられており、側面に形成された接続電極により半導体集積回路部品ICや、インダクタと接続されている。接続電極は積層部品内のスルーホールで形成しても良い。外部端子90に付した符号は接続する半導体集積回路部品ICの端子に対応し、外部端子Vconは出力電圧可変制御用端子と、外部端子Venは出力のON/OFF制御用端子と、外部端子Vddはスイッチング素子をON/OFF制御するための端子と、外部端子Vinは入力端子と、外部端子Voutは出力端子と接続する。外部端子GNDはグランド端子GNDと接続する。
(1) 試料A(実施例)の作製(図1〜図6に示す第一の積層部品)
49.0 mol%のFe2O3、13.0 mol%のCuO、21.0 mol%のZnO、及びNiOを残部とするNi-Cu-Zn系フェライト(キュリー温度Tc:240℃、及び周波数100 kHzにおける初透磁率:300)の仮焼粉末100重量部に対して、10重量部のポリビニルブチラールを主成分とする有機バインダ、可塑剤及び溶剤を加え、ボールミルで混練して、磁性体スラリーを得た。この磁性体スラリーをグリーンシートに成形した。
上下層(S3、S9)に磁気ギャップ層を形成せず、中間層(S4〜S8)にのみ磁気ギャップ層4(厚み5μm)を形成した以外は試料Aと同様にして、試料Bを作製した。
(3) 試料C(比較例)の作製
試料Aの積層部品10の総ギャップ長(15μm)と同じ厚さで、単層の磁気ギャップ層をS5層に形成した積層部品(試料C)を作製した。
試料A〜Cに0〜1000 mAの直流電流を流し、インダクタンス(f=300 kHz、Im=200μA)をLCRメータ(HP製4285A)で測定し、直流重畳特性を評価した。結果を図39に示す。電流無負荷時のインダクタンス値は比較例(試料C)が最も大きいが、直流重畳時のインダクタンス値の低下は、実施例(試料A及びB)が小さかった。これから、本発明の積層部品の直流重畳特性は大幅に向上したことが分かる。
(1) 試料No.4(実施例)の作製(図7及び8に示す第一の積層部品)
Ni-Cu-Zn系フェライトの仮焼粉末の代わりに、3.8質量%のLi2CO3,7.8質量%のMn3O4,17.6質量%のZnO,69.8質量%のFe2O3、及び1.0質量%のBi2O3を含有するLi-Mn-Znフェライト(キュリー温度Tc:250℃、及び周波数100 kHzにおける初透磁率:300)の仮焼粉末を用いた以外、実施例1と同様にして、16層のコイルパターン担持層の全てに厚さ7μmの磁気ギャップ層を形成した縦3.2 mm,横1.6 mm及び厚さ1.0 mmの積層部品(積層インダクタ、試料No.4)を作製した。各コイルパターン担持層には段差解消のため、ジルコニアペースト及びAgペーストが印刷されていない領域に、Ni-Znフェライトのペーストを印刷した。焼結後の磁性体基板層の厚さは40μm、コイルパターンの厚さは20μm、パターン幅は300μmであり、コイルパターンの内側領域は2.2 mm×0.6 mmであった。
比較例として、磁気ギャップ層を設けない以外は試料No.4と同様にして作製した積層部品(試料No.1)、中間層に1層だけ磁気ギャップ層を設けた以外は試料No.4と同様にして作製した積層部品(試料No.2)、磁気ギャップ層を設けない磁性体層を介して不連続に3層の磁気ギャップ層を設けた以外は試料No.4と同様にして作製した積層部品(試料No.3)を得た。
試料No.5の作製(図13及び14に示す第四の積層部品)
磁気ギャップ層におけるコイルの中心軸を含む領域に、縦0.3 mm及び横0.3 mmの矩形の開口部14を形成し、開口部14内にLi-Mn-Znフェライト充填層を形成した以外試料No.4と同様にして、積層インダクタ(試料No.5)を作製した。試料No.5の積層インダクタの直流重畳特性及びDC-DC変換効率を測定した。結果を表2及び図42に示す。
(1)試料No.9の作製(図20及び21に示す積層インダクタ)
コイルパターン担持層の数を8層とし、各層のコイルパターンを2ターンとし、全ての層に厚さ5μmの磁気ギャップ層を形成した以外は試料No.4と同様にして、積層部品(試料No.9)を作製した。焼結後の各フェライト層の厚さは40μm、各コイルパターンの厚さは20μm、パターン幅は150μm、パターン間隔は50μmであり、コイルパターンの内側領域は1.9 mm×0.3 mmであった。
磁気ギャップ層を設けない以外は試料No.9と同様にして作製した積層インダクタ(No.6)、中間層に1層だけ磁気ギャップ層を設けた以外は試料No.9と同様にして作製した積層インダクタ(No.7)、磁気ギャップ層を設けない磁性体層を介して不連続に3層の磁気ギャップ層を設けた以外は試料No.9と同様にして作製した積層インダクタ(No.8)を得た。
図23及び図24に示す第六の積層部品の作製
磁気ギャップ層4に、コイルの中心軸を含む領域に縦0.3 mm及び横0.3 mmの矩形の開口部14を形成し、開口部14にLi-Mn-Znフェライト層を充填した以外は試料No.9と同様にして積層部品(試料No.10)を作製した。焼結後の各フェライト層の厚さは40μm、各コイルパターンの厚さは20μmで、2ターンの巻数であった。試料No.10の積層部品の直流重畳特性及びDC-DC変換効率を測定した。結果を表4及び図44に示す。
試料No.11及び12の作製(図20及び21に示す第五の積層部品)
コイルパターン担持層の数を10層とし、全ての層に厚さ5μmの磁気ギャップ層を形成した以外は試料No.4と同様にして、縦3.2 mm,横1.6 mm,厚さ1.0 mmの積層部品(試料No.11)を作製した。またコイルパターン担持層の数を12層とした以外は試料No.11と同様にして積層部品(試料No.12)を作製した。試料No.11及び試料No.12はともに、焼結後の磁性体基板層の厚さは40μm、コイルパターンの厚さは20μmで、2ターンの巻数であった。積層部品の直流重畳特性及びDC-DC変換効率を測定した。結果を表5及び図45に示す
試料No.13〜15の作製(図20及び21に示す第五の積層部品)
コイルパターン担持層の数を12層とし、全ての層に厚さ10μmの磁気ギャップ層を形成した以外は試料No.4と同様にして、縦3.2 mm,横1.6 mm及び厚さ1.0 mmの積層インダクタ(試料No.13)を作製した。また、全ての層に厚さ15μmの磁気ギャップ層を形成した以外は試料No.13と同様にして積層インダクタ(試料No.14)を作製した。さらに全ての層に厚さ20μmの磁気ギャップ層を形成した以外は試料No.13と同様にして積層インダクタ(試料No.15)を作製した。試料No.13〜15の積層インダクタはいずれも、焼結後の磁性体基板層の厚さは40μm、コイルパターンの厚さは20μmで、2ターンの巻数であった。試料No.13〜15の積層部品の直流重畳特性及びDC-DC変換効率を測定した。結果を表6及び図46に示す
Claims (14)
- 磁性体層及びコイルパターンを交互に積層し、前記コイルパターンを積層方向に接続してコイルを構成した積層部品において、前記コイルパターンに接する領域であって前記コイルの形成域の最上層又は最下層を除く全ての中間層は各磁性体層の上にコイルパターン及び磁気ギャップ層を形成した後で積層してなり、前記磁気ギャップ層は、前記コイルパターンの内側領域及び外側領域の少なくとも一方の領域に形成され、前記コイルパターンの縁部と接していることを特徴とする積層部品。
- 磁性体層及びコイルパターンを交互に積層し、前記コイルパターンを積層方向に接続してコイルを構成した積層部品において、前記コイルパターンに接する領域であって前記コイルの形成域の全ての層は各磁性体層の上にコイルパターン及び磁気ギャップ層を形成した後で積層してなり、前記磁気ギャップ層は、前記コイルパターンの内側領域及び外側領域の少なくとも一方の領域に形成され、前記コイルパターンの縁部と接していることを特徴とする積層部品。
- 請求項1又は2に記載の積層部品において、前記磁気ギャップ層が非磁性材又は比透磁率が1〜5の低透磁率材からなることを特徴とする積層部品。
- 請求項3に記載の積層部品において、前記磁気ギャップ層がジルコニアからなることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜4のいずれかに記載の積層部品において、前記コイルは、0.75ターン以上のコイルパターンを2ターン以上に接続してなることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜5のいずれかに記載の積層部品において、前記磁気ギャップ層の厚さは前記コイルパターンの厚さ以下であることを特徴とする積層部品。
- 請求項6に記載の積層部品において、前記コイルパターンの厚さt1に対する前記磁気ギャップ層の厚さt2の比t2/t1が0.2〜1であることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の積層部品において、前記磁気ギャップ層と前記コイルパターンとが前記磁性体層の同一面上に形成されていることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の積層部品において、磁気ギャップ層とコイルパターンとが前記磁性体層の表面に重畳して形成されていることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜9のいずれかに記載の積層部品において、前記磁気ギャップ層は少なくとも1つの磁性体領域を有することを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜10のいずれかに記載の積層部品において、少なくとも一部のコイルパターンの巻き数が1ターンを超えていることを特徴とする積層部品。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の積層部品を、内部にコンデンサを備えた誘電体基板に、スイッチング素子を含む半導体部品とともに実装したことを特徴とするモジュール。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の積層部品を、樹脂基板にスイッチング素子を含む半導体部品とともに実装したことを特徴とするモジュール。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の積層部品に、スイッチング素子を含む半導体部品を実装したことを特徴とするモジュール。
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