JP2017191933A5 - 半導体装置の作製方法、及び表示装置 - Google Patents

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  1. 基板上に、感光性及び熱硬化性を有する樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、を有し、
    前記絶縁層は、窒化シリコンを有する層と、酸化シリコンを有する層とを有する積層体を有し、
    前記窒化シリコンを有する層の膜厚は、前記酸化シリコンを有する層の膜厚より大きい、半導体装置の作製方法
  2. 基板上に、熱硬化性を有する樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、を有し、
    前記絶縁層は、窒化シリコンを有する層と、酸化シリコンを有する層とを有する積層体を有し、
    前記窒化シリコンを有する層の膜厚は、前記酸化シリコンを有する層の膜厚より大きい、半導体装置の作製方法
  3. 基板上に、感光性を有する樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、を有し、
    前記絶縁層は、窒化シリコンを有する層と、酸化シリコンを有する層とを有する積層体を有し、
    前記窒化シリコンを有する層の膜厚は、前記酸化シリコンを有する層の膜厚より大きい、半導体装置の作製方法
  4. 基板上に、感光性を有する樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、
    前記第4の工程より前に、前記樹脂層に膜厚の小さい第1の領域を形成し、前記第1の領域と重なる領域を有する導電層を形成する第5の工程と、を有し、
    前記絶縁層は、窒化シリコンを有する層と、酸化シリコンを有する層とを有する積層体を有し、
    前記窒化シリコンを有する層の膜厚は、前記酸化シリコンを有する層の膜厚より大きい、半導体装置の作製方法
  5. 基板上に、感光性を有する樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、
    前記第4の工程より前に、前記樹脂層に膜厚の小さい第1の領域を形成し、前記第1の領域と重なる領域を有する導電層を形成する第5の工程と、を有する、半導体装置の作製方法
  6. 基板上に、樹脂層を形成する第1の工程と、
    前記樹脂層上に、絶縁層を形成する第2の工程と、
    前記絶縁層上に、トランジスタを形成する第3の工程と、
    前記第1の工程乃至前記第3の工程の後に、レーザを前記基板側から前記樹脂層へ照射し、少なくとも前記トランジスタと前記基板とを分離する第4の工程と、
    前記第4の工程より前に、前記樹脂層に膜厚の小さい第1の領域を形成し、前記第1の領域と重なる領域を有する導電層を形成する第5の工程と、を有する、半導体装置の作製方法
  7. 請求項1乃至請求項6のいずれか一において、
    前記樹脂層は、粘度が10cP以上50cP未満の溶液を用いて形成される、半導体装置の作製方法
  8. 請求項1乃至請求項7のいずれか一において、
    光性及び熱硬化性を有す材料を第1の温度で加熱して、前記樹脂層形成
    前記第1の温度以下の温度で、前記トランジスタ形成る、半導体装置の作製方法
  9. 脂層と、
    記樹脂層上の、絶縁層と、
    前記絶縁層上の、トランジスタと、
    前記トランジスタと電気的に接続される表示素子と、を有
    前記絶縁層は、窒化シリコンを有する層と、酸化シリコンを有する層とを有する積層体を有し、
    前記窒化シリコンを有する層の膜厚は、前記酸化シリコンを有する層の膜厚より大きい、表示装置。
  10. 樹脂層と、
    前記樹脂層上の、絶縁層と、
    前記絶縁層上の、トランジスタと、
    前記トランジスタと電気的に接続される表示素子と、を有し、
    前記樹脂層は、第1の領域と、前記第1の領域より膜厚の小さい第2の領域と、を有し、
    前記第2の領域と重なる領域を有する導電層を有する、表示装置。
  11. 請求項9又は請求項10において、
    記樹脂層5%重量減少温度は、400℃未満である、表示装置。
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