WO2005081609A1 - 電磁波ノイズ抑制体、電磁波ノイズ抑制機能付構造体、およびそれらの製造方法 - Google Patents

電磁波ノイズ抑制体、電磁波ノイズ抑制機能付構造体、およびそれらの製造方法 Download PDF

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Toshiyuki Kawaguchi
Atsushi Taniguchi
Takashi Gonda
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Shin-Etsu Polymer Co., Ltd.
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Definitions

  • Electromagnetic wave noise suppressor structure with electromagnetic wave noise suppression function, and manufacturing method thereof
  • the present invention relates to an electromagnetic wave noise suppressor that suppresses electromagnetic wave noise, a structure with an electromagnetic wave noise suppressing function, and a method of manufacturing the same.
  • an electromagnetic wave shielding material that is, an electromagnetic wave shielding material that reflects electromagnetic waves or an electromagnetic wave absorbing material that absorbs electromagnetic waves.
  • Examples of the electromagnetic wave shielding material include, for example, a mixture of two types of soft magnetic powders having different average particle diameters, that is, an electromagnetic interference suppressor in which a soft magnetic powder having shape magnetic anisotropy is dispersed in an organic binder. And JP-A-9-135927.
  • the electromagnetic interference suppressors since the electromagnetic interference suppressors have anisotropic magnetic fields having different magnitudes from each other, a plurality of magnetic resonances appear along with them, and the imaginary part permeability appears in different frequency regions. Is superimposed, resulting in a distribution of imaginary part magnetic permeability ").
  • the imaginary part magnetic permeability (") is a magnetic loss term required for absorbing electromagnetic waves, and It is said that the magnetic susceptibility (") over a wide band has an excellent electromagnetic interference suppression effect.
  • a radio wave absorber in which flat powder of iron nitride (Fe 16 N 2 ) is combined with a resin is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-53487.
  • fr ⁇ '1-1
  • the limit line shifts to the high frequency side, that is, It is supposed to show high magnetic permeability at frequency. Therefore, by using iron nitride having the highest saturation magnetization among the magnetic materials, a high magnetic permeability can be obtained in a high frequency region, and the resonance frequency fr is about 5 GHz.
  • this resonance frequency can be freely adjusted from several hundred MHz to around 10 GHz by changing the composition of the resin, the heat treatment conditions, the shape effect ratio of the iron nitride particles, and the like. I have.
  • an IC component mounted on a substrate, including its lead terminals is covered with a paste-like radio wave absorber.
  • Another radio wave shielding material is used to suppress electromagnetic interference (EMI) operating in the quasi-microwave band.
  • EMI electromagnetic interference
  • NiiZn ferrite thin film is known (Masaki Abe et al., “Ferrite Thin Film Prepared in Aqueous Solution 'Micro-Nano-Bio Application of Ultrafine Particles'”, Journal of the Japan Society of Applied Magnetics, 2003, Vol. 27, No. 6, p. 721—729).
  • NiZn ferrite thin film whose resonance frequency has been increased to 1.2 GHz. Also, in this document, a NiZn ferrite thin film is manufactured by applying a plating to the surface of a circuit wire or a semiconductor element by a spin spray method. It is said that the noise current itself is absorbed before the electromagnetic wave is emitted.
  • the electromagnetic interference suppressor Japanese Patent Laid-Open No. Hei 9-135927
  • Japanese Patent Laid-Open No. Hei 9-135927 which is considered to have a broad distribution of the imaginary part magnetic permeability (")
  • the imaginary part permeability (") was partially increased, and the magnetic resonance frequency was lower than 2 GHz.
  • the value of the imaginary part permeability in the f characteristic diagram is shown only up to about 2 GHz, so it cannot be said that there is a sufficient electromagnetic interference suppression effect over the entire quasi-microwave band.
  • the radio wave absorber Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-53487 in which flat powder of iron nitride is combined with a resin is not known in detail because there is no working example, however, the meta-stable structure of iron nitride (Fe 16 N 2 ) It is said that flat powder is produced by thin film processes such as vacuum evaporation, sputtering, CVD, and MBE. However, it is difficult to stabilize the crystal structure of iron nitride (Fe 16 N 2 ). In addition, flat powder of iron nitride (Fe ⁇ 6 ⁇ 2 ) that contains iron nitride with a stable structure and has a sufficiently large saturation magnetization is used. It is difficult to make.
  • the NiZn ferrite thin film (Abe et al.) Has a lower resonance frequency than 2 GHz even though its resonance frequency is increased, and suppresses electromagnetic noise used in the quasi-microwave band. Unsatisfactory as a body. Also, in the complex permeability spectrum (Fig. 4) of this document, the imaginary part (") of the complex permeability is described only up to 3 GHz, and has already started decreasing at 3 GHz. Therefore, the resonance frequency cannot be higher than this, and as an application example, the NiZn ferrite thin film is fabricated by directly plating on the surface of a circuit copper wire or semiconductor element. However, since the plating solution contains cations such as Na and anions such as chlorine and nitrous acid, sufficient cleaning is necessary especially when used for semiconductor devices. The disadvantage was that the number of work processes increased.
  • the soft magnetic material powder ⁇ the flat powder of iron nitride is mostly used and the amount of the binder is small, there is a problem that it is not flexible and brittle.
  • an object of the present invention is to provide an electromagnetic noise suppressor capable of exhibiting a sufficient electromagnetic noise suppressing effect over the entire quasi-microwave band; printed wiring boards and semiconductor integrated circuits in which electromagnetic noise is suppressed; It is an object of the present invention to provide a manufacturing method that can be manufactured at any time.
  • the present inventors have proposed that in order to have an excellent electromagnetic wave noise suppression effect in the quasi-microwave band, the noise current is reduced by the thermal energy due to the magnetic loss characteristics of the magnetic material. It is considered that it is necessary to have an imaginary part (that is, a loss term) of a sufficiently large complex permeability in the band, and magnetic anisotropy such as shape anisotropy is considered. Expecting the effect, we studied the dispersion and integration of the magnetic material with the binder in the atomic state, and as a result, we developed an electromagnetic noise suppressor with a high magnetic resonance frequency that can be used in the quasi-microwave band.
  • the magnetic resonance frequency is 8 GHz or more
  • the imaginary part of the complex magnetic permeability “tire ”at the frequency of 8 GHz is the imaginary number of the complex magnetic permeability at the frequency of 5 GHz.
  • the portion is larger than L.
  • the electromagnetic noise suppressor of the present invention desirably has a composite layer in which a binder and a magnetic material are integrated.
  • Such an electromagnetic noise suppressor has a magnetic resonance frequency of 8 GHz or higher, and an imaginary part of complex permeability at a frequency of 8 GHz; " H is calculated from an imaginary part L of complex permeability at a frequency of 5 GHz. It can be made large, and it is space-saving and lightweight.
  • the composite layer is a layer formed by physically depositing a magnetic substance on a binder, the magnetic substance is dispersed in the binder, and the binder and the magnetic substance are integrated, and an electromagnetic noise suppression effect is obtained. High composite layer. Further, since there is no impurity ion, there is no danger of damaging the electronic circuit due to these impurity ions.
  • the binder is a resin or rubber
  • the electromagnetic wave noise suppressor having flexibility and high strength can be obtained.
  • the binder is a curable resin
  • the magnetic substance is more uniformly dispersed in the uncured binder, and after the binder is cured, the magnetic substance crystallizes and grows into fine particles.
  • a composite layer in which a binder and a magnetic material are integrated in an atomic state can be obtained.
  • the method for producing an electromagnetic wave noise suppressor of the present invention is a method comprising a vapor deposition step of physically depositing a magnetic substance on a binder to form a composite layer on the surface of the binder.
  • the electromagnetic noise suppressor of the present invention having the composite layer in which the binder and the magnetic material are integrated can be easily manufactured.
  • the structure with an electromagnetic wave noise suppression function of the present invention is such that at least a part of the surface of the structure is covered with the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention. In such a structure with an electromagnetic noise suppression function, an electromagnetic noise suppressor is placed in the vicinity of the noise source in a compact manner, so that electromagnetic noise in the quasi-microwave band can be efficiently suppressed. .
  • the method for producing a structure with an electromagnetic noise suppressing function includes: a coating step of coating at least a part of the surface of the structure with a binder; and physically depositing a magnetic substance on the binder to form the binder surface. And a vapor deposition step of forming a composite layer. According to such a manufacturing method, it is possible to easily manufacture a structure with an electromagnetic wave noise suppression function that can efficiently suppress electromagnetic wave noise in a quasi-mic mouthband.
  • FIG. 1 is a high-resolution transmission electron microscope image of the composite layer in the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of the vicinity of the composite layer.
  • FIG. 3 is a bird's-eye view of a camera module as an example of the structure with an electromagnetic noise suppression function of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a camera module which is an example of the structure with an electromagnetic noise suppression function of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view of a printed wiring board on which an electronic component as an example of the structure with an electromagnetic wave noise suppression function of the present invention is mounted.
  • FIG. 6 is a graph showing the relationship between the complex magnetic permeability and the frequency in the electromagnetic wave noise suppressor of the first embodiment.
  • FIG. 7 is a graph showing the relationship between the complex magnetic permeability and the frequency in the electromagnetic wave noise suppressor of the second embodiment.
  • the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention has a magnetic resonance frequency of 8 GHz or more, and an imaginary part "H” of complex permeability at a frequency of 8 GHz is larger than an imaginary part " L " of complex permeability at a frequency of 5 GHz. It is.
  • the complex permeability is represented by m, -j ". H, is the real part of the complex permeability.” Is the imaginary part of the complex permeability, and the magnetic loss term related to the absorption of electromagnetic waves. It is.
  • the magnetic resonance frequency is a frequency that is half the peak value of the real part of the complex magnetic permeability, and is given as a frequency that is higher than the frequency of the peak value.
  • the magnetic resonance frequency is the maximum limit frequency at which a magnetic material can convert noise current into heat energy due to magnetic loss characteristics.
  • the magnetic resonance frequency is not less than 8 GHz and the complex transmittance at a frequency of 8 GHz is required.
  • the imaginary part " H " of the magnetic permeability must be larger than the imaginary part L of the complex permeability at a frequency of 5 GHz, that is, the imaginary part of the complex permeability must show a tendency to rise toward the higher frequency side.
  • the magnetic resonance frequency of the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention is preferably 10 GHz or more.
  • the magnetic resonance frequency of the present invention is 8 GHz or more, and the imaginary part of complex permeability “bal ”at the frequency of 8 GHz is larger than the imaginary part of complex permeability“ L ”at the frequency of 5 GHz.
  • the noise suppressor is formed by forming a composite layer in which a magnetic substance is integrated with a part of a binder in a nano order.
  • the composite layer is a layer formed by physically depositing a magnetic substance on a binder.
  • the physically deposited magnetic substance is dispersed and integrated in the binder in an atomic state without forming a homogeneous film. Things.
  • the electromagnetic wave noise suppressor 1 has a magnetic substance in an atomic state, It is composed of a composite layer 3 mixed with the molecules of the agent 2, and a layer containing only the binder 2.
  • the composite layer 3 is a very small crystal with magnetic atoms arranged at several A intervals. Part where lattice 4 is observed, part where only binder 2 where no magnetic substance is present in a very small area is observed, and magnetic substance atoms 5 are not crystallized and are dispersed in the binder and observed Consists of parts. In other words, no grain boundaries indicating that the magnetic substance is present as fine particles having a distinct crystal structure are not observed, and a complex heterostructure (heterogeneous / asymmetric structure) in which the magnetic substance and the binder are integrated in the order of nanometers. It is considered to have.
  • the thickness of the composite layer is the depth at which the magnetic material atoms penetrate into the surface layer of the binder, and depends on the deposition mass of the magnetic material, binder material, physical vapor deposition conditions, etc., and is approximately the thickness of the magnetic material deposited. About 1.5 to 3 times.
  • the thickness of the composite layer is desirably 1 zm or less, and more desirably 0.3 m or less.
  • the binder is not particularly limited, for example, polyolefin resin, polyamide resin, polyester resin, polyether resin, polyketone resin, polyimide resin, polyurethane resin, polysiloxane resin, phenol resin, Resins such as epoxy resins, acrylic resins, and polyacrylate resins; non-gens such as natural rubber, isoprene rubber, butadiene rubber, gen-based rubber such as styrene-butadiene rubber, butyl rubber, ethylene propylene rubber, urethane rubber, and silicone rubber Organic substances such as a system rubber are exemplified. These may be thermoplastic, thermosetting, or uncured. In addition, modified products, mixtures, and copolymers of the above resins and rubbers may be used.
  • the binder may be an inorganic substance having a low shear modulus, which will be described later, and may be used as long as it has a large void portion such as aerogel or foamed silica and has a hardness capable of capturing ultrafine particles. be able to. Further, it may be a composite with the organic substance.
  • the binder those having a low shear modulus during physical vapor deposition of the magnetic substance described later are preferable in terms of the ease of entry of the magnetic substance atoms into the binder.
  • the shear modulus is preferably from less than 5 X 1 0 7 P a.
  • the binder can be heated, for example, to 100 to 300, if necessary, but it is necessary to heat it to a temperature at which decomposition and evaporation do not occur.
  • an elastic material having a rubber hardness of about 80 ° (JIS-A) or less is preferable as the binder.
  • a binder having a high shear modulus after physical vapor deposition of a magnetic substance is preferable.
  • By increasing the shear modulus of the binder after physical deposition of the magnetic material it is possible to reliably prevent nano-order magnetic material atoms or class particles from aggregating and crystallizing and growing into fine particles.
  • 1 X 1 0 7 P a more is preferable.
  • the binder has a low modulus of elasticity during vapor deposition, and can be bridged after vapor deposition to increase the modulus of elasticity. Therefore, thermosetting resins, energy rays (ultraviolet rays, electron beams) and curable resins Is preferred.
  • a silane coupling agent, a titanate coupling agent, a nonionic surfactant, and a polar resin are included in the binder so that the plasma or ionized magnetic material atoms partially react with and stabilize the binder.
  • An oligomer or the like may be blended.
  • a reinforcing filler a flame retardant, an antioxidant, an antioxidant, a coloring agent, a thixotropy improver, a plasticizer, a lubricant, a heat resistance improver, etc. may be appropriately added to the binder. Care must be taken when mixing hard materials, as magnetic atoms may collide with them and disperse insufficiently. In addition, it is possible to improve the environmental resistance characteristics by depositing a magnetic material and then depositing a layer of gay oxide and a layer of gay nitride.
  • the shape of the electromagnetic noise suppressor of the present invention may be a planar shape such as a sheet shape or a three-dimensional structure. It also covers the surface of the structure as described below. When used as a structure, the shape may follow the shape of the structure.
  • the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention can be obtained, for example, by physically depositing a magnetic substance on a binder and forming a composite layer on the surface of the binder.
  • PVD physical vapor deposition
  • a vaporized material is vaporized by a certain method in a vacuumed container, and the vaporized vaporized material is deposited on a nearby substrate to form a thin film.
  • evaporating system examples include EB evaporation and ion plating
  • sputtering system examples include high-frequency sputtering, magnetron sputtering, and a counter-get type magnet port sputtering.
  • the energy of evaporating particles is as small as 1 eV, so there is little damage to the substrate, the film tends to be porous, and the film strength tends to be insufficient, but the specific resistance of the film is high. .
  • ions of argon gas and evaporating particles are accelerated and collide with the substrate, so that the energy is higher than EB, the particle energy is about IK eV, and a film with strong adhesion can be obtained.
  • An oxide can be formed by introducing a reactive gas such as oxygen.
  • magnetron sputtering Although magnetron sputtering has low utilization efficiency of the target (evaporation material), it has a high growth rate due to strong plasma generated by the influence of the magnetic field, and has a high particle energy of several tens of eV. In RF sputtering, an insulating evening gate can be used.
  • One-sided magnetron sputtering which is a type of magnetron sputtering, generates plasma between opposing targets, encloses the plasma with a magnetic field, places the substrate outside the opposing target, and does not suffer from plasma damage.
  • This is a method of producing a thin film.
  • the growth rate is faster and the sputtered atoms can alleviate collision without resputtering the thin film on the substrate.
  • a target having the same composition as the dense target composition can be produced.
  • the binder is made of resin (or rubber), the covalent energy of the resin is about
  • the coupling energies of C—C, C—H, S i—0, and S i—C are 3.6 eV, 4.3 eV, 4.6 eV, and 3 eV, respectively. 3 eV.
  • the evaporated particles have high energy, so it is possible that some of the chemical bonds of the resin are cut off and collide.
  • the resin molecules vibrate and move when the magnetic material is deposited, and in some cases, the resin molecules are cut off.
  • local mixing action between the magnetic material atoms and the resin occurs, and the magnetic material atoms enter the resin surface up to a maximum of about 3 and form an interference with the resin and the like, resulting in a nonuniform magnetic film. It is considered that a composite layer having a nanometer-scale microstructure is formed.
  • the deposition rate is preferably smaller so as to match the timing of the relaxation of the binder. The deposition rate varies depending on the magnetic material, but is preferably about 60 nm Zmin or less.
  • a metal soft magnetic material and / or an oxide soft magnetic material and / or a nitride soft magnetic material are mainly used. These may be used alone or in a combination of two or more.
  • Iron and iron alloys are generally used as the metallic soft magnetic material.
  • iron alloys specifically, Fe—Ni, Fe—Co, Fe—Cr, Fe—Si, Fe—A1, Fe—Cr—Si, Fe—Cr—Al , Fe—Al—Si, and Fe—Pt alloys can be used.
  • One of these metal-based soft magnetic materials may be used alone, or two or more thereof may be used in combination.
  • Ferrite is preferable as the oxide soft magnetic material.
  • One type of these ferrites may be used alone, or two or more types may be used in combination.
  • nitride-based soft magnetic material Fe 2 N, Fe 3 N , Fe 4 N, such as Fe 16 N 2 are known. These nitride-based soft magnetic materials are preferable because of their high magnetic permeability and high corrosion resistance.
  • the magnetic substance When a magnetic substance is physically vapor-deposited on a binder, the magnetic substance enters the binder as plasma or ionized magnetic atoms, so the composition of the magnetic substance finely dispersed in the binder is Is not always the same as the composition of the magnetic material used as the evaporation material. In addition, it may react with a part of the binder to cause a change such that the magnetic substance becomes a paramagnetic substance or an antiferromagnetic substance.
  • the deposition mass of the magnetic substance in one physical vapor deposition operation is preferably 200 nm or less in terms of the thickness of the magnetic substance alone. If the thickness is larger than this, depending on the shear modulus of the binder, the binder reaches the ability to include the magnetic substance, and the magnetic substance cannot be dispersed in the binder, but is deposited on the surface, and has continuous conductivity. A bulk film is formed. Therefore, the deposition mass of the magnetic substance is preferably 100 nm or less, and more preferably 50 nm or less. On the other hand, from the viewpoint of the effect of suppressing electromagnetic wave noise, the deposition mass of the magnetic material is preferably 0.5 nm or more.
  • the total mass of the magnetic material can be increased by laminating a plurality of composite layers.
  • the total mass depends on the required level of suppression of electromagnetic noise, it is preferably approximately 10 to 50 Onm in terms of the total magnetic material film thickness conversion value. It is also possible to make a part of the layer to be a conductive bulk metal layer to have electromagnetic wave reflection characteristics. is there. Furthermore, it is also possible to adjust the effect of suppressing electromagnetic noise by combining with a dielectric layer.
  • the thickness of the binder used in the vapor deposition step is not particularly limited, but is preferably small for a compact electromagnetic noise suppressor. Specifically, the thickness is preferably 50 m or less, more preferably 10 m or less.
  • the structure with an electromagnetic wave noise suppression function of the present invention has at least a part of the surface of the structure covered with the electromagnetic wave noise suppressor of the present invention.
  • Examples of the structure include a printed wiring board on which electronic components are mounted, a semiconductor integrated circuit, and the like.
  • FIGS. 3 and 4 are views showing a camera module as an example of the structure with an electromagnetic noise suppression function.
  • This camera module holds a printed wiring board 12 with an image sensor 11 on its surface, a lens 13 corresponding to the image sensor 11 and a lens 13, and an image on the printed wiring board 12.
  • the outer case 15 is coated with the electromagnetic noise suppressor 1 by, for example, performing the following procedure.
  • the outer case 15 which is a resin structure formed by injection molding is immersed in an epoxy resin solution as a binder. Then, a 15 m thick B-stage epoxy resin is provided on the surface. Next, a magnetic material is vapor-deposited on the epoxy resin by physical vapor deposition at a thickness of 45 nm to form a composite layer.
  • the noise reduction of the camera module is implemented by fitting the outer case 15 having the electromagnetic wave noise suppression function to the camera holder 14.
  • FIG. 5 is a diagram showing a printed wiring board as an example of the structure with an electromagnetic noise suppression function.
  • This printed wiring board includes a wiring circuit 22 formed on a substrate 21 and a wiring circuit 22.
  • a schematic configuration including a semiconductor package 23 and a chip component 24 connected to the semiconductor device, and a wiring circuit 22, an electromagnetic noise suppressor 1 covering the surface of the printed wiring board together with the semiconductor package 23 and the chip component 24. Is what is done.
  • the electromagnetic wave noise suppressor 1 is coated on the printed wiring board, for example, as follows. Apply an insulating binder of about 50 m on the printed wiring board so as to cover the wiring circuit 22, the semiconductor package 23, and the chip component 24. On top of this, a magnetic material is deposited by physical vapor deposition to form a composite layer. Since it is not a wet process, a cleaning step for removing ions is unnecessary, and an electromagnetic noise suppression function can be easily provided.
  • an electromagnetic noise suppression function is to be provided to a semiconductor integrated circuit, polyimide, polyparaxylylene, or poly, which is provided on a semiconductor wafer by spin coating or CVD (Chemica 1 Vapor Deposition). Physical vapor deposition on an organic insulating film with a thickness of 200 nm to 100 m made of tetrafluoroethylene, polyallyl ether, polyxylylene, polyadamantane ether, polybenzoxazole, benzocyclobutene resin, etc. A magnetic layer is deposited to a thickness of about 10 to 5 O nm to form a composite layer. If necessary, the composite layer can be partially formed using a mask.
  • an electromagnetic wave noise suppressor With a nano-order level heterostructure near a fine integrated circuit, even with a very small mass of magnetic material, it can suppress resonance during digital circuit pulse transmission and reduce impedance. Unnecessary radiation noise caused by the mismatch is suppressed, and the quality of transmission characteristics such as the transmission speed can be improved.
  • the electromagnetic noise suppressor of the present invention since the composite layer in which the binder and the magnetic substance are integrated by physical vapor deposition is formed, the magnetic noise is reduced. Even in the case of a body, a high resonance frequency, specific effect due to the quantum effect derived from the nano-order heterostructure, the magnetic anisotropy inherent in the material, the shape magnetic anisotropy, or the anisotropy due to an external magnetic field, etc. It typically has 8 GHz or more. to this It can be considered that excellent magnetic properties are exhibited, and even with a small amount of magnetic material, the electromagnetic noise suppression effect can be exerted over the entire quasi-microwave band.
  • the effect of suppressing electromagnetic wave noise can be exerted even with a small amount of magnetic material, so that the amount of magnetic material can be significantly reduced, and the weight can be reduced. it can.
  • the thickness of the composite layer is 0.3 m or less, a sufficient electromagnetic wave noise suppressive effect can be exhibited, so that the electromagnetic wave noise suppressor can be made thinner, Space saving can be achieved.
  • the composite layer is a layer formed by physically depositing a magnetic substance on a binder, the magnetic substance is dispersed in the binder in an atomic state, and the binder and the magnetic substance are integrated.
  • a composite layer having a high effect of suppressing electromagnetic noise can be obtained with a small amount of the magnetic substance.
  • it since it is based on physical vapor deposition under a high vacuum, unlike the wet plating, there is no need to remove impurity ions, and there is no risk of damaging the electron circuit due to these impurity ions.
  • the amount of the magnetic material can be significantly reduced, when the binder is a resin or rubber, a decrease in the flexibility or strength of the resin or rubber due to the magnetic material can be minimized.
  • the binder is a curable resin
  • the magnetic substance is more uniformly dispersed in the binder before curing, and even after the curing, the electromagnetic wave noise suppressor is used under high temperature conditions.
  • the structure with an electromagnetic wave noise suppression function (for example, a printed wiring board or a semiconductor integrated circuit) of the present invention has a structure in which an electromagnetic wave noise suppressor is compactly arranged in the vicinity of a noise source, and the electromagnetic wave in a quasi-microphone mouthband. Noise can be suppressed efficiently.
  • an electromagnetic wave noise suppressor is compactly arranged in the vicinity of a noise source, and the electromagnetic wave in a quasi-microphone mouthband. Noise can be suppressed efficiently.
  • the evaluation of the conducted noise suppression effect was performed using a Keycom microstrip line test fixture TF-3A and TF-18A with 50 ⁇ impedance by the S-parameter overnight method.
  • the evaluation of the decoupling rate in the vicinity was performed using a micro-loop antenna fixture manufactured by Kicom.
  • An Anritsu Vector Network Analyzer 37247C was used as the network analyzer.
  • FIG. 6 shows the relative intensity value of “ L ” was 250, and the relative intensity value of “ H ” was about 7 times as large as the above value.
  • the magnetic resonance frequency (a frequency that is half the peak value of, and is higher than the peak value frequency) exceeded the measurement limit of 9 GHz of the equipment.
  • the electromagnetic wave absorption characteristics show that the return loss at 1 GHz is _ 9.5 dB, the transmission loss is -5.5 dB, the return loss at 10 GHz is -14 dB, and the transmission loss is -20 d Was B
  • Example 2 A 25-zm thick B-stage epoxy resin (shear modulus 8 ⁇ 10 6 (before curing)) is placed on a 12-zm-thick polyethylene terephthalate film that has been release treated as a support. Pa), and a shear modulus of elasticity of 2 ⁇ 10 (Pa) after curing, on which a 1-nm-thick Fe—Ni-based soft magnetic metal in terms of film thickness is placed.
  • a composite layer was formed by physical vapor deposition according to the method. At this time, the substrate temperature was kept at room temperature, and a slight negative voltage was applied so that the evaporating particles had a particle energy of 8 eV, and a sputtering was performed.
  • the epoxy sheet was peeled off from the polyethylene terephthalate film, the epoxy sheet was cut in half, and the composite layers were stacked alternately. This was heated at 40 ° C for 6 hours, and further heated at 120 ° C for 2 hours to cure the epoxy resin and obtain an electromagnetic noise suppressor.
  • the imaginary part of the complex magnetic permeability is as follows: "The relative intensity value of L was 200, and the relative intensity value of H was about 5 times as large as the above value.
  • half of the peak value of the magnetic resonance frequency The frequency that is the value of the minute and the frequency that is higher than the peak value) exceeds the measurement limit of 9 GHz of the device.
  • the decoupling rate as the electromagnetic wave absorption characteristic is the internal decoupling rate at 3 GHz. Was 18 dB and the mutual decoupling rate was 17 dB.
  • Ni metal is vapor-deposited on one side of a 12-m-thick polyimide film as a support at 30 nm, and a 7-zm-thick vulcanized conductive silicone rubber (binder) is applied on this and the other side.
  • 2 ⁇ 10 7 (Pa), 15 mass% of carbon black for pigment), and a 2 Onm Fe—Ni-based soft magnetic metal with a film thickness equivalent A physical layer was deposited by the magnetron sputtering method, and a composite layer was formed on the front and back surfaces to obtain an electromagnetic noise suppressor. At this time, the substrate temperature was kept at room temperature, and a slight negative voltage was applied so that the evaporated particles had a particle energy of 8 eV, and sputtering was performed.
  • the imaginary part of the complex permeability is as follows: the relative intensity value of L is 180, and the relative intensity value of H is about six times as large as the above value. Also, the frequency at which the peak value of the magnetic resonance frequency is half the peak value And the frequency greater than the peak frequency) exceeded the measurement limit of 9 GHz of the device.
  • the decoupling rate as an electromagnetic wave absorption characteristic was 1 dB, and the internal decoupling rate at 1 GHz was 13 dB. The decoupling rate was 14 dB (Example 4)
  • NBR laar modulus 8 X 1 0 6 before curing
  • Pa shear modulus of elasticity of 8 ⁇ 10 8
  • a moving image was drawn and compared and observed with no electromagnetic wave noise suppressor. As a result, an image free from signal interference and free from crosstalk was obtained compared to the case without the electromagnetic wave noise suppressor.
  • the electromagnetic noise suppressor of the present invention can be used for coating structures of electronic devices, electronic components, and the like. Parts can be reduced in size and weight.

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Abstract

本発明の電磁波ノイズ抑制体は、磁気共鳴周波数が8GHz以上であり、8GHzの周波数における複素透磁率の虚数部μ"Hが5GHzの周波数における複素透磁率の虚数部μ"Lより大きいものである。このような電磁波ノイズ抑制体は、準マイクロ波帯域全体にわたって十分な電磁波ノイズ抑制効果を発揮できる。このような電磁波ノイズ抑制体は、結合剤2に磁性体を物理的に蒸着させて、結合剤2表面に複合層3を形成することにより製造できる。また、本発明の電磁波ノイズ抑制機能付構造体は、印刷配線板、半導体集積回路等の構造体表面の少なくとも一部が、本発明の電磁波ノイズ抑制体によって被覆されているものである。

Description

明 細 書 電磁波ノイズ抑制体、 電磁波ノイズ抑制機能付構造体、 およびそれらの製造方法 技術分野
本発明は、 電磁波ノイズを抑制する電磁波ノイズ抑制体、 電磁波ノイズ抑制機 能付構造体、 およびそれらの製造方法に関する。 背景技術
近年、 インターネット利用の普及に伴い、 パソコン、 情報家電、 無線 LAN、 ブルートゥース、 光モジュール、 携帯電話、 携帯情報端末、 高度道路情報システ ムなど、 準マイクロ波帯域 (0. 3〜10GHz) の高いクロック周波数を持つ C P Uや高周波バスを利用した電子機器、 電波を利用した情報通信機器が普及し てきており、 高速デジタル化と低電圧駆動化によるデバイスの高性能化を必要と するュビキタス社会が訪れてきている。 しかしながら、 これら機器の普及に伴つ て、 これら機器から放射される電磁波がもたらす、 自身あるいは他の電子機器へ の誤作動、 人体への影響などといった電磁波障害が問題とされてきている。 その ため、 これら機器には、 自身あるいは他の電子機器や、 人体に影響を与えないよ うに、 不要な電磁波をできるだけ放出しないこと、 および外部から電磁波を受け ても誤作動しないことが求められている。 このような電磁波障害を防止する方法 としては、 電磁波遮蔽材、 すなわち電磁波を反射する電磁波シールド材あるいは 電磁波を吸収する電磁波吸収材を利用する方法がある。
電磁波障害を防止するために、 電子機器間においては、 電子機器の筐体表面や 電子機器間に電磁波遮蔽材を設けて電磁波を遮蔽する対策 ( i n t e r— s y s t em EMC) が行われており、 また、 電子機器内においては、 電子部品や回 路が互いに影響を及ぼして誤作動を起こすのを抑制したり、 処理スピードの遅れ や信号波形の乱れを抑制したりするため、 電子部品や回路を電磁波遮蔽材で覆う 対策 (i n t r a— s y s t em EMC) が行われている。 特に、 電子機器内 のような近傍界での環境においては、 電磁波ノィズ発生源である電子部品そのも のに電磁波遮蔽材による対策を施し、 ノイズの発生を抑制することあるいは信号 間の干渉を抑制し伝送特性を向上させること (マイクロ EMC) が、 求められて 来ている。
最近特に、 電子機器、 電子部品には、 高性能化、 小型化、 軽量化が求められて おり、 これらに用いられる電磁波遮蔽材にも同様に、 準マイクロ波帯域のように 高い周波数帯域における電磁波ノイズ抑制効率がよく、 小スペースで軽量であつ て、 対策の作業が簡便で行いやすいものが求められている。
電磁波遮蔽材としては、 例えば、 平均粒径の異なる 2種の軟磁性体粉末の混合 体、 すなわち形状磁気異方性を有する軟磁性体粉末を有機結合剤中に分散した電 磁干渉抑制体が、 特開平 9一 35927号公報に開示されている。
該文献においては、 この電磁干渉抑制体は、 互いに異なる大きさの異方性磁界 を有しているため、 それに伴い複数の磁気共鳴が出現し、 異なる周波数領域に現 れる虚数部透磁率 ' ) が重畳され、 その結果広帯域な虚数部透磁率 " ) の分布を持つとされている。 ここで、 虚数部透磁率 ( " ) は、 電磁波の吸収に 必要な磁気損失項であり、 虚数部透磁率 ( " ) が広帯域にわたっていることに より、 優れた電磁干渉抑制効果があるとされている。
また、 別の電波遮蔽材としては、 窒化鉄 (Fe 16N2 ) の扁平粉を樹脂と複合 化した電波吸収体が、 特開 2001— 53487号公報に開示されている。 該文献においては、 磁性体の飽和磁ィヒ I sが高いと、 透磁率の限界を示す f r (ΐι' 一 1) の項が大きくなり、 限界ラインが高周波側に移行する、 すなわち、 より高い周波数で高い透磁率を示すことになるとされている。 よって、 磁性体中 最も高い飽和磁化を有する窒化鉄を用いることにより、 高周波領域で、 高い透磁 率が得られ、 共鳴周波数 f rが約 5GHzになるとされている。 また、 この共鳴 周波数は、 樹脂の組成や熱処理条件あるいは窒化鉄粒子の形状ゃァスぺクト比等 を変えることにより、 数百 MH zから 10 GH z近傍まで自由に調整可能である とされている。 また、 使用例として、 ペースト状の電波吸収体により、 基板上に 実装した I C部品をそのリード端子を含めて覆ったものが例示されている。 また、 別の電波遮蔽材としては、 準マイクロ波帯域で動作する電磁干渉 EMI (E l e c t r oma gn e t i c I n t e r f e r en c e) 抑制に用いら れる N i Znフェライト薄膜が知られている (阿部正紀ら, 「水溶液中で作製し たフェライト薄膜'超微粒子のマイクロ波ノナノバイオ応用」 , 日本応用磁気学 会誌, 2003年, Vo l . 27, No. 6, p. 721— 729) 。
この文献には、 共鳴周波数が 1. 2 GHzまで高められた N i Znフェライト 薄膜が示されている。 また、 この文献においては、 スピンスプレー法により、 回 路の導線や半導体素子の表面にメツキを施すことによって N i Z nフェライト薄 膜を作製し、 この N i Znフェライト薄膜によって、 ノイズ電流からノイズ電磁 波が放射される前にノイズ電流自体を吸収するとされている。
しかしながら、 広帯域な虚数部透磁率 ( " ) の分布を持つとされている電磁 干渉抑制体 (特開平 9一 35927号公報) は、 該文献の図 2や図 3の/ 一 f特 性図に示されているように、 虚数部透磁率 ( " ) を部分的に大きくしただけで あり、 しかも、 その磁気共鳴周波数は、 2 GHzより低いものであった。 また、 — f特性図における虚数部透磁率 ) の値も 2 GHz程度までしか示され ていないため、 準マイクロ波帯域全体にわたって十分な電磁干渉抑制効果がある とは言えなかった。
窒化鉄の扁平粉を樹脂と複合化した電波吸収体 (特開 2001— 53487号 公報) は、 実施例が無いため詳細は不明であるが、 準安定構造の窒化鉄 (Fe 16 N 2 ) の扁平粉を真空蒸着、 スパッ夕、 CVD、 MB E等の薄膜プロセスによ り作製するとされている。 しかしながら、 窒化鉄 (Fe 16N2 ) の結晶構造を安 定化することは難しく、 その他安定構造の窒化鉄が含まれ、 十分大きな飽和磁化 を持つ窒化鉄 (Fe Ι6Ν2 ) の扁平粉を作製することは困難である。 また、 マス クを用いて窒化鉄 (Fe 16N2 ) の扁平あるいは円盤状の微粒子を得ることは、 非常に困難であり、 現実性が乏しいものである。 また、 共鳴周波数を、 樹脂の組 成や熱処理条件あるいは F e 16N2粒子の形状やアスペクト比等を変えることに よって、 10 GHz近傍まで調整可能とされているが、 共鳴周波数が約 5GHz までのものの具体例しかなく (特開 2001 - 53487号公報の図 5) 、 実用 的には問題が残っている。
N i Znフェライト薄膜 (阿部ら) は、 共鳴周波数が高められたとはいえ、 2 GHzよりも低いものであって、 準マイクロ波帯域で用いられる電磁ノイズ抑制 体としては不満足である。 また、 この文献の複素透磁率スペクトル (F i g . 4 ) においては、 複素透磁率の虚数部 ( " ) は 3 GH zまでしか記載されておら ず、 3 GH zではすでに減少を開始しているため、 共鳴周波数はこれ以上の高い 周波数とはなり得ないものである。 また、 応用例として、 回路の銅線や半導体素 子などの表面に直接メツキして N i Z nフェライト薄膜作製する例が示されてい るが、 メツキ液には、 N aなどの陽イオン、 塩素、 亜硝酸などの陰イオンが含ま れているため、 特に半導体素子に用いる場合には、 十分な洗浄が必要となり、 作 業工程数が増えるという不利があつた。
また、 軟磁性体粉末ゃ窒化鉄の扁平粉を用いる場合、 十分な電磁波干渉抑制や 電磁波吸収性を発揮させるために多量に用いる必要があり、 その量は、 通常、 電 磁干渉抑制体や電磁波吸収体中 9 0質量%前後である。 また、 軟磁性体粉末ゃ窒 化鉄の扁平粉を用いる場合、 十分な電磁波干渉抑制や電磁波吸収性を発揮させる ために電磁干渉抑制体や電磁波吸収体を厚くしなければならない。 したがって、 電磁干渉抑制体や電磁波吸収体は比重が高くしかも厚いため、 重くなるという問 題があった。
さらに、 電磁干渉抑制体や電磁波吸収体が厚いため、 省スペース化が図りにく いという問題もあった。
そして、 軟磁性体粉末ゃ窒化鉄の扁平粉がほとんどで、 結合剤がわずかである ので、 可撓性がなく、 脆いという問題があった。
よって本発明の目的は、 準マイクロ波帯域全体にわたって十分な電磁波ノイズ 抑制効果を発揮できる電磁波ノイズ抑制体;電磁波ノイズが抑制された印刷配線 板、 半導体集積回路等の構造体;および、 これらを容易に製造できる製造方法を 提供することにある。
また、 本発明の目的は、 さらに、 省スペースで軽量であって、 可撓性があり、 強度が高い電磁波ノィズ抑制体を提供することにある。 発明の開示
上記状況に鑑み、 本発明者らは、 準マイクロ波帯域において優れた電磁波ノィ ズ抑制効果を持っためには、 磁性体の磁気損失特性によりノイズ電流を熱ェネル ギ一に変換してしまうことであり、 すなわち該帯域で、 十分大きな複素透磁率の 虚数部 (すなわち損失項) を有することが必要であると考え、 形状異方性等の磁 気異方性効果を期待して、 磁性体の原子状態での結合剤との分散一体化を検討し た結果、 準マイクロ波帯域で用いることができる、 高い磁気共鳴周波数を有する 電磁波ノィズ抑制体を開発した。
すなわち、 本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 磁気共鳴周波数が 8 GH z以上で あり、 8 GH zの周波数における複素透磁率の虚数部 "„が、 5 GH zの周波 数における複素透磁率の虚数部 " L より大きいことを特徴とするものである。 このような電磁波ノィズ抑制体は、 準マイク口波帯域全体にわたって十分な電磁 波ノィズ抑制効果を発揮できる。
なお、 本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 結合剤と磁性体が一体化してなる複合 層を有するものであることが望ましい。 このような電磁波ノイズ抑制体は、 磁気 共鳴周波数を 8 GH z以上とし、 8 GH zの周波数における複素透磁率の虚数部 ; " H を、 5 GH zの周波数における複素透磁率の虚数部 L より大きくする ことが可能となり、 しかも、 省スペースで軽量である。
ここで、 前記複合層が、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させてなる層であれば 、 磁性体が結合剤中に分散し、 結合剤と磁性体が一体化した、 電磁波ノイズ抑制 効果の高い複合層とすることができる。 また、 不純物イオンが存在せず、 これら 不純物ィオンによる電子回路の損傷の恐れがなくなる。
また、 前記結合剤が、 樹脂またはゴムであれば、 可撓性があり、 強度が高い電 磁波ノイズ抑制体とすることができる。
さらに、 前記結合剤が、 硬化性樹脂であれば、 磁性体が未硬化の結合剤中によ り均一に分散し、 かつ結合剤が硬化した後には、 磁性体が結晶化し微粒子に成長 することはなく、 結合剤と磁性体が原子状態で一体化した複合層とすることがで きる。
本発明の電磁波ノイズ抑制体の製造方法は、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着さ せて、 結合剤表面に複合層を形成する蒸着工程を有する方法である。 このような 製造方法によれば、 結合剤と磁性体が一体化してなる複合層を有する本発明の電 磁波ノイズ抑制体を、 容易に製造することができる。 本発明の電磁波ノイズ抑制機能付構造体は、 構造体表面の少なくとも一部が、 本発明の電磁波ノイズ抑制体によって被覆されているものである。 このような電 磁波ノィズ抑制機能付構造体にあつては、 ノィズ発生源の近傍に電磁波ノィズ抑 制体をコンパク卜に配置し、 準マイクロ波帯域の電磁波ノイズを効率よく抑制す ることができる。
本発明の電磁波ノィズ抑制機能付構造体の製造方法は、 構造体の表面の少なく とも一部を結合剤で被覆する被覆工程と、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させて 、 結合剤表面に複合層を形成する蒸着工程とを有する方法である。 このような製 造方法によれば、 準マイク口波帯域の電磁波ノィズを効率よく抑制することがで きる電磁波ノイズ抑制機能付構造体を容易に製造することができる。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の電磁波ノイズ抑制体における複合層の高分解能透過型電子顕 微鏡像である。
図 2は、 複合層の近傍の一例を示す模式図である。
図 3は、 本発明の電磁波ノィズ抑制機能付構造体の一例であるカメラモジュ一 ルの鳥瞰図である。
図 4は、 本発明の電磁波ノィズ抑制機能付構造体の一例であるカメラモジュ一 ルの断面図である。
図 5は、 本発明の電磁波ノイズ抑制機能付構造体の一例である電子部品を搭載 した印刷配線板の断面図である。
図 6は、 実施例 1の電磁波ノイズ抑制体における複素透磁率と周波数との関係 を示すグラフである。
図 7は、 実施例 2の電磁波ノイズ抑制体における複素透磁率と周波数との関係 を示すグラフである。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明を詳しく説明する。
ぐ電磁波ノイズ抑制体 > 本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 磁気共鳴周波数が 8 GHz以上であり、 8G Hzの周波数における複素透磁率の虚数部 " Hが、 5 GHzの周波数における 複素透磁率の虚数部 " L より大きいものである。
ここで、 複素透磁率は、 m, - j " で表される。 H, は複素透磁率の実 部である。 " は複素透磁率の虚数部であり、 電磁波の吸収に関係する磁気損失 項である。
また、 磁気共鳴周波数は、 複素透磁率の実部 ' のピーク値の半分の値になる 周波数で、 かつピーク値の周波数より大きい周波数で与えられる。 磁気共鳴周波 数は、 磁性体が磁気損失特性によりノイズ電流を熱エネルギーに変換できる最大 の限界周波数とされている。
本発明の電磁波ノイズ抑制体に、 準マイクロ波帯域にわたって電磁波ノイズ抑 制効果を十分に発揮させるためには、 この磁気共鳴周波数が、 8 GHz以上であ り、 かつ、 8 GHzの周波数における複素透磁率の虚数部 " Hが、 5GHzの 周波数における複素透磁率の虚数部 L より大きい、 すなわち複素透磁率の虚 数部 " が高周波数側に向かって右肩上がりの傾向を示している必要がある。 本 発明の電磁波ノイズ抑制体の磁気共鳴周波数は、 好ましくは 10GHz以上であ る。
このように、 磁気共鳴周波数が 8 GHz以上であり、 8 GHzの周波数におけ る複素透磁率の虚数部 "„が、 5 GHzの周波数における複素透磁率の虚数部 " L より大きい本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 具体的には、 磁性体がナノォ ーダ一で結合剤の一部と一体化して複合層を形成してなるものである。
複合層は、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させてなる層であり、 物理的に蒸着 された磁性体が均質膜を形成することなく、 原子状態で結合剤中に分散一体化し てなるものである。
より具体的には、 図 1の高分解能透過型電子顕微鏡像や、 電子顕微鏡像の模式 図である図 2に示すように、 電磁波ノイズ抑制体 1は、 磁性体が原子状となって 、 結合剤 2の分子と混ぜ合わせられた状態になっている複合層 3と、 結合剤 2の みの層とから構成される。
複合層 3は、 非常に小さな結晶として数 A間隔の磁性体原子が配列された結晶 格子 4が観察される部分と、 非常に小さい範囲で磁性体が存在しない結合剤 2の みが観察される部分と、 磁性体原子 5が結晶化せず結合剤中に分散して観察され る部分からなっている。 すなわち、 磁性体が明瞭な結晶構造を有する微粒子とし て存在を示す粒界は観察されず、 ナノオーダ一で磁性体と結合剤が一体化した複 雑なヘテロ構造 (不均質 ·不斉構造) を有しているものと考えられる。
複合層の厚さは、 結合剤の表層に磁性体原子が浸入した深さであり、 磁性体の 蒸着質量、 結合剤材質、 物理的蒸着の条件などに依存し、 おおよそ磁性体の蒸着 厚さの 1 . 5〜3倍程となる。 複合層の厚さを 0 . 0 0 5 m以上とすることに より、 磁性体原子の結合剤との分散一体化ができ、 形状異方性に由来する高周波 領域での大きな損失特性を有するものと思われ、 充分な電磁波ノイズ抑制効果を 発揮させることができる。 一方、 複合層の厚さが 3 zx mを超えると、 明瞭な結晶 構造を経て均質な磁性体膜が形成され、 ルクの磁性体に戻ってしまい形状異方 性が減少し、 電磁波ノイズ抑制効果も小さくなり、 実効的ではない。 それ故、 複 合層の厚さは 1 z m以下が望ましく、 さらには 0 . 3 m以下が望ましい。 結合剤は、 特に限定されないが、 例えば、 ポリオレフイン系樹脂、 ポリアミド 系樹脂、 ポリエステル系樹脂、 ポリエーテル系樹脂、 ポリケトン系樹脂、 ポリイ ミド系樹脂、 ポリウレタン系樹脂、 ポリシロキサン系樹脂、 フエノール系樹脂、 エポキシ系樹脂、 アクリル系樹脂、 ポリアクリレート樹脂などの樹脂や、 天然ゴ ム、 イソプレンゴム、 ブタジエンゴム、 スチレンブタジエンゴムなどのジェン系 ゴム、 ブチルゴム、 エチレンプロピレンゴム、 ウレタンゴム、 シリコーンゴムな どの非ジェン系ゴム等の有機物が挙げられる。 これらは熱可塑性であってもよく 、 熱硬化性であってもよく、 その未硬化物であってもよい。 また、 上述の樹脂、 ゴムなどの変性物、 混合物、 共重合物であってもよい。
また、 結合剤は、 後述する低い剪断弾性率を有する無機物であってもよく、 ァ エロゲル、 発泡シリカなどの空隙部が大きく、 超微粒子の捕獲が行える硬度を有 するものであればこれも用いることができる。 また前記有機物との複合物であつ ても構わない。
中でも、 結合剤としては、 結合剤への磁性体原子の入り込みやすさの点で、 後 述する磁性体の物理的蒸着に際してその剪断弾性率が低いものが好ましく、 具体 的には、 剪断弾性率が 5 X 1 0 7 P a以下のものが好ましい。 所望の剪断弾性 率にするために、 必要に応じて、 例えば 1 0 0〜3 0 0 に結合剤を加熱するこ ともできるが、 分解や蒸発が起きない温度に加熱することが必要である。 常温で 物理的蒸着を行う場合には、 結合剤としては、 ゴム硬度が約 8 0 ° ( J I S— A ) 以下の弾性体が好ましい。
また、 結合剤としては、 前記したヘテロ構造を維持する点から、 磁性体の物理 的蒸着の後には、 剪断弾性率が高いものが好ましい。 磁性体の物理的蒸着の後に 結合剤の剪断弾性率を高くすることにより、 ナノオーダーの磁性体原子あるいは クラス夕一が凝集して結晶化し、 微粒子に成長することを確実に防止できる。 具 体的には、 電磁波ノイズ抑制体が使用される温度範囲で、 1 X 1 0 7 P a以上 のものが好ましい。 所望の剪断弾性率にするために、 磁性体の物理的蒸着の後に 結合剤を架橋することが好ましい。
この点においては、 結合剤としては、 蒸着時には低弾性率であり、 蒸着後に架 橋して弾性率を上げることができることから、 熱硬化性樹脂、 エネルギー線 (紫 外線、 電子線) 硬化性樹脂が好適である。
さらに、 プラズマ化あるいはイオン化された磁性体原子が、 結合剤と一部反応 し、 安定化するように、 結合剤中にシランカップリング剤、 チタネートカツプリ ング剤、 ノニオン系界面活性剤、 極性樹脂オリゴマーなどを配合してもよい。 こ のような添加剤を配合することにより、 酸化防止のほか、 原子の凝集によるとこ ろの均質膜の形成を防止して、 均質膜による電磁波の反射を防止し、 吸収特性を 改善することができる。
このほか、 結合剤に、 補強性フイラ一や難燃剤、 老化防止剤、 酸化防止剤、 着 色剤、 チクソトロピ一性向上剤、 可塑剤、 滑剤、 耐熱向上剤などを適宜添加して 構わないが、 硬質なものを配合すると、 磁性体原子がこれに衝突し、 十分な分散 が行われないことがあるので、 注意が必要である。 このほか、 磁性体を蒸着後、 さらに酸化ゲイ素ゃ窒化ゲイ素の蒸着を施して、 耐環境特性を改善することも可 能である。
本発明の電磁波ノィズ抑制体の形状は、 シ一ト状のような平面状であつてもよ く、 三次元構造であってもよい。 また、 後述のように、 構造体の表面を被覆する ものとして用いる場合は、 構造体の形状に追随した形状としてもよい。
ぐ電磁波ノィズ抑制体の製造方法 >
以下、 電磁波ノイズ抑制体の製造方法について説明する。
本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 例えば、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させ て、 結合剤表面に複合層を形成することによって得ることができる。
物理蒸着法 (P V D) は、 一般に、 真空にした容器の中で蒸発材料を何らかの 方法で気化させ、 気化した蒸発材料を近傍に置いた基板上に堆積させて薄膜を形 成する方法であり、 蒸発物質の気化方法の違いで、 蒸発系とスパッ夕系に分けら れる。 蒸発系としては、 E B蒸着、 イオンプレーティングなどが挙げられ、 スパ ッ夕系としては、 高周波スパッタリング、 マグネトロンスパッタリング、 対向夕 ーゲット型マグネト口ンスパッ夕リングなどが挙げられる。
E B蒸着は、 蒸発粒子のエネルギーが 1 e Vと小さいので、 基板のダメージが 少なく、 膜がポーラスになりやすく、 膜強度が不足する傾向があるが、 膜の固有 抵抗は高くなるという特徴がある。
イオンプレーティングによれば、 アルゴンガスや蒸発粒子のイオンは加速され て基板に衝突するため、 E Bよりエネルギーは大きく、 粒子エネルギーは I K e Vほどになり、 付着力の強い膜を得ることができるものの、 ドロップレットと呼 んでいるミク口ンサイズの粒子の付着を避けることができず、 放電が停止してし まうおそれがある。 また、 酸素などの反応性ガスを導入することにより酸化物を 成膜することができる。
マグネトロンスパッタリングは、 ターゲット (蒸発材料) の利用効率が低いも のの、 磁界の影響で強いプラズマが発生するため成長速度が速く、 粒子エネルギ 一は数十 e Vと高い特徴がある。 高周波スパッタリングでは、 絶縁性の夕一ゲッ トを使用することができる。
マグネトロンスパッタリングのうち対向夕一ゲット型マグネトロンスパッタリ ングは、 対向するターゲット間でプラズマを発生させ、 磁界によりプラズマを封 じ込め、 対向するターゲットの外に基板を置き、 プラズマダメージを受けること なく所望の薄膜を生成する方法である。 そのため、 基板上の薄膜を再スパッ夕す ることなく、 成長速度がさらに速く、 スパッ夕された原子が衝突緩和することが なく、 緻密なターゲット組成物と同じ組成のものを生成することができる。 結合剤が樹脂 (またはゴム) からなる場合は、 樹脂の共有結合エネルギーは約
4 eVであり、 具体的には例えば C一 C、 C— H、 S i— 0、 S i— Cの結合ェ ネルギ一はそれぞれ 3. 6 eV、 4. 3 eV、 4. 6 eV、 3. 3 eVである。 これに対して、 イオンプレーティング、 マグネトロンスパッタゃ対向ターゲット 型マグネトロンスパッ夕では、 蒸発粒子は高いエネルギーを持っているので、 樹 脂の一部の化学結合を切断し、 衝突することが考えられる。
したがって、 本発明においては、 樹脂 (またはゴム) からなる結合剤の弾性率 が十分小さいと、 磁性体を蒸着させた際、 樹脂の分子が振動、 運動し、 ある場合 は樹脂の分子が切断され、 磁性体原子と樹脂との局部的なミキシング作用が生じ て、 磁性体原子は樹脂の表面から最大で 3 程度まで進入し、 樹脂などとイン 夕一ラクシヨンを生じ、 均質な磁性体膜ではなく、 ナノオーダ一スケールのへテ 口構造を有した複合層が形成されると考えられる。
粒子エネルギーが 5 e V以上である磁性体原子を結合剤上に物理的に蒸着させ ると、 一度に大量の磁性体を結合剤中に分散させることができるので好ましい。 すなわち、 一度の蒸着で、 磁性体の質量を稼ぐことができることから、 電磁波ノ ィズ抑制効率の大きな電磁波ノイズ抑制体を容易に得ることができる。 蒸着速度 は結合剤の振動や運動の速度が粒子速度と比較して遅いことから、 結合剤の緩和 のタイミングにあわせるように小さいほうが好ましく、 磁性体により異なるがお よそ 60 nmZm i n以下が好ましい。
蒸着工程において蒸発材料として用いられる磁性体としては、 金属系軟磁性体 および/または、 酸化物系軟磁性体および/または、 窒化物系軟磁性体が主に用 いられる。 これらは、 1種類を単独で用いてもよいし、 2種以上を混合して用い てもよい。
金属系軟磁性体としては、 鉄および鉄合金が一般的に用いられる。 鉄合金とし ては、 具体的には F e— N i、 Fe— Co、 Fe— C r、 Fe— S i、 Fe— A 1、 Fe— C r— S i、 Fe— C r— A l、 Fe— A l— S i、 F e— P t合金 を用いることができる。 これら金属系軟磁性体は、 1種類を単独で用いてもよい し、 2種以上を組み合わせて用いてもよい。 鉄および鉄合金のほかに、 コバルト やニッケルの金属あるいはそれらの合金を用いてもよい。 ニッケルは、 単独で用 いた場合、 酸化に対して抵抗力があるので好ましい。
酸化物系軟磁性体としては、 フェライトが好ましい。 具体的には、 MnFe 24、 CoFe 24、 N i Fe 24、 CuFe 204、 ZnFe 24、 Mg F e 2 04、 F e 3 O 4 Cu— Zn—フェライ卜、 N i _Zn—フェライ卜、 Mn— Z n—フェライ卜、 Ba 2Co 2F e 12022、 Ba 2N i 2Fe 12022、 Ba 2Zn 2 Fe l2022、 B a 2Mn 2 F e 12022, B a 2 M g 2 F e 12 O 22、 B a 2 C u 2 F e i2022、 Ba 3Co 2Fe 2441を用いることができる。 これらのフェライトは、 1種類を単独で用いてもよいし、 2種以上を組み合わせて用いてもよい。
窒化物系軟磁性体としては、 Fe 2N、 Fe 3N、 Fe 4N、 Fe 16N2などが 知られている。 これらの窒化物系軟磁性体は、 透磁率が高く、 耐食性が高いので 好ましい。
なお、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させる際には、 磁性体はプラズマ化ある いはイオン化された磁性体原子として結合剤に入り込むので、 結合剤中に微分散 された磁性体の組成は、 蒸発材料として用いた磁性体の組成と必ずしも同一であ るとは限らない。 また、 結合剤の一部と反応し、 磁性体が常磁性体や反強磁性体 になるなどの変化が生じる場合もある。
1回の物理的蒸着操作における磁性体の蒸着質量は、 磁性体単品の膜厚換算値 で 200 nm以下が好ましい。 これより厚いと、 結合剤の剪断弾性率にもよるが 、 結合剤が磁性体を包含する能力に達し、 磁性体が結合剤に分散できずに表面に 堆積し、 均質な導通性を有する連続したバルクの膜が生成してしまう。 それゆえ 、 磁性体の蒸着質量は、 100 nm以下が好ましく、 50 nm以下がさらに好ま しい。 一方、 電磁波ノイズ抑制効果の点からは、 磁性体の蒸着質量は、 0. 5n m以上であることが好ましい。
蒸着質量が小さくなると、 電磁波ノイズ抑制効果が低減するものであるから、 複合層を複数層積層することにより、 磁性体の総質量を増やすことができる。 こ の総質量は要求される電磁波ノイズの抑制レベルにもよるが、 おおよそ総合の磁 性体の膜厚換算値で 10〜50 Onmが好ましい。 また、 積層される層の一部を 導通性を有するバルクの金属層とし、 電磁波の反射特性を持たせることも可能で ある。 さらに誘電体層との複合化を行い、 電磁波ノイズ抑制効果を調整すること も可能である。
蒸着工程において用いられる結合剤の厚さは、 特に限定はないが、 コンパクト な電磁波ノイズ抑制体とするには薄いことが好ましい。 具体的には、 その厚さは 、 好ましくは 5 0 m以下、 より好ましくは 1 0 m以下である。
<電磁波ノィズ抑制機能付構造体 >
本発明の電磁波ノィズ抑制機能付構造体は、 構造体表面の少なくとも一部が、 本発明の電磁波ノイズ抑制体によって被覆されているものである。
構造体としては、 例えば、 電子部品を搭載した印刷配線板、 半導体集積回路等 が挙げられる。
以下、 本発明の電磁波ノィズ抑制機能付構造体の具体例を示す。
(カメラモジュール)
図 3および図 4は、 電磁波ノイズ抑制機能付構造体の一例であるカメラモジュ ールを示す図である。 このカメラモジュールは、 表面にイメージセンサ 1 1が設 けられた印刷配線板 1 2と、 イメージセンサ 1 1に対応したレンズ 1 3と、 レン ズ 1 3を保持し、 印刷配線板 1 2上イメージセンサ 1 1を囲むカメラホルダ 1 4 と、 カメラホルダ 1 4の外側に嵌合する外ケース 1 5と、 外ケース 1 5表面を覆 う電磁波ノイズ抑制体 1とを具備して概略構成されるものである。
外ケース 1 5への電磁波ノイズ抑制体 1の被覆は、 例えば、 以下のように行う 射出成型で成形された樹脂構造体である外ケース 1 5を、 結合剤であるェポキ シ樹脂溶液に浸漬して、 表面に 1 5 m厚の Bステージ状エポキシ樹脂を設ける 。 次いで、 エポキシ樹脂上に、 物理的蒸着法で磁性体を、 膜厚換算で 4 5 n m蒸 着させ、 複合層を形成する。 この電磁波ノイズ抑制機能の付いた外ケース 1 5を 、 カメラホルダ 1 4に嵌め合わせることにより、 カメラモジュールのノイズ対策 は実施される。
(印刷配線板)
図 5は、 電磁波ノイズ抑制機能付構造体の一例である印刷配線板を示す図であ る。 この印刷配線板は、 基板 2 1上に形成された配線回路 2 2と、 配線回路 2 2 に接続された半導体パッケージ 2 3およびチップ部品 2 4と、 配線回路 2 2、 半 導体パッケージ 2 3およびチップ部品 2 4ごと印刷配線板表面を覆う電磁波ノィ ズ抑制体 1とを具備して概略構成されるものである。
印刷配線板への電磁波ノイズ抑制体 1の被覆は、 例えば、 以下のように行う。 配線回路 2 2、 半導体パッケージ 2 3およびチップ部品 2 4を覆うように、 印 刷配線板上に絶縁性の結合剤を 5 0 mほど塗布する。 この上に、 物理的蒸着法 で磁性体を蒸着させ、 複合層を形成する。 ウエットプロセスではないため、 ィォ ン除去の洗浄工程は不要で、 簡便に電磁波ノイズ抑制機能を付与させることがで きる。
(半導体集積回路)
半導体集積回路に電磁波ノイズ抑制機能を付与する場合は、 半導体ウェハ上に 、 スピンコートあるいは C V D (C h e m i c a 1 V a o r D e p o s i t i o n、 化学気相成長)により設けられた、 ポリイミド、 ポリパラキシリレン 、 ポリテトラフルォロエチレン、 ポリアリルエーテル、 ポリキシリレン、 ポリア ダマンタンエーテル、 ポリべンゾォキサゾール、 ベンゾシクロブテン樹脂などか らなる厚み 2 0 0 n m〜l 0 0 mの有機絶縁膜上に、 物理的蒸着により、 磁性 体を 1 0〜5 O n mほど蒸着させて、 複合層を形成する。 必要に応じ、 マスクを 用いて部分的に複合層を形成することも可能である。 ドライプロセスによるもの であるから、 イオン性不純物の影響はなく、 洗浄の必要もないので、 半導体ゥェ 八への応用は好適である。 微細な集積回路近傍に、 ナノオーダーレベルのヘテロ 構造を有した電磁波ノイズ抑制体を設けることにより、 非常に少ない磁性体質量 であっても、 デジタル回路のパルス伝送時の共振の抑制や、 インピーダンスの不 整合からくる不要輻射ノイズの抑制等が図られ、 伝送速度の向上など伝送特性品 質を改善することができる。
以上説明した本発明の電磁波ノィズ抑制体にあっては、 理論的には明らかでは ないが、 結合剤と磁性体とが物理的蒸着により一体化された複合層が形成されて いるので、 少ない磁性体であっても、 そのナノオーダーのヘテロ構造に由来する 量子効果や、 材料固有の磁気異方性、 形状磁気異方性、 あるいは外部磁界による 異方性などの影響で、 高い共鳴周波数、 具体的には 8 GH z以上を持つ。 これに より、 優れた磁気特性を発揮し、 少ない磁性体であっても、 準マイクロ波帯域全 体にわたって電磁波ノイズ抑制効果を発揮できているものと考えられる。
また、 本発明の電磁波ノイズ抑制体にあっては、 少ない磁性体であっても、 電 磁波ノイズ抑制効果を発揮できるので、 磁性体の量を大幅に減らすことができ、 軽量化を図ることができる。
さらに、 本発明の電磁波ノイズ抑制体にあっては、 複合層の厚さが 0 . 3 m 以下で十分な電磁波ノイズ抑制効果を発揮できるので、 電磁波ノイズ抑制体を薄 肉にすることができ、 省スペース化を図ることができる。
ここで、 前記複合層が、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させてなる層であれば 、 磁性体が結合剤中に原子状態で分散し、 結合剤と磁性体が一体化することによ り、 少ない磁性体の量で電磁波ノィズ抑制効果の高い複合層とすることができる 。 また、 高真空下における物理的蒸着によるものであり、 湿式メツキと異なり、 不純物ィオンの除去を行う必要がなく、 またこれらの不純物ィオンによる電子回 路の損傷の恐れはない。
また、 磁性体の量を大幅に減らすことができるので、 前記結合剤が樹脂または ゴムの場合、 磁性体による樹脂またはゴムの可撓性や強度の低下を最小限に抑え ることができる。
さらに、 前記結合剤が、 硬化性樹脂であれば、 硬化前においては、 磁性体が結 合剤中により均一に分散し、 硬化後においては、 高温条件下で電磁波ノイズ抑制 体を使用した場合でも、 磁性体が結晶化し、 微粒子に成長することを抑えること ができ、 耐環境特性が向上する。
そして、 本発明の電磁波ノイズ抑制機能付構造体 (例えば、 印刷配線板、 半導 体集積回路) は、 ノイズ発生源の近傍に電磁波ノイズ抑制体をコンパクトに配置 し、 準マイク口波帯域の電磁波ノィズを効率よく抑制えることができる。 実施例
以下、 実施例を示す。
(評価)
透磁率測定: 凌和電子製 超高周波透磁率測定装置 P MM— 9 G 1を用いた。
断面観察:
日立製作所製 透過型電子顕微鏡 H9000NARを用いた。
電磁波吸収特性:
伝導ノイズ抑制効果の評価は、 Sパラメ一夕法によるキーコム製の 50 Ωのィ ンピーダンスを持つマイクロストリップラインのテストフィクスチヤ一 TF— 3 A、 TF— 18 Aを用いて行った。
また、 近傍空間における減結合率評価は、 キ一コム製のマイクロループアンテ ナ式フィクスチヤ一を用いて行った。 ネットワークアナライザ一には、 アンリツ 製べクトルネットワークアナライザ一 37247 Cを用いた。
(実施例 1 )
支持体である 12 厚のポリエチレンテレフタレートフィルム (常温の剪断 弾性率 3. 8 X 10 9 (P a) ) 上に、 結合剤である 15 m厚の加硫したシ リコ一ンゴム (常温の剪断弾性率 1 X 10 7 (P a) 、 湿式シリカ含有) を設 け、 この上に、 膜厚換算で 20 nmの F e— N i系軟磁性金属を、 対向ターゲッ ト型マグネトロンスパッタ法により物理的に蒸着させ、 複合層を形成し、 電磁波 ノイズ抑制体を得た。 この際、 基板温度を常温に保ち、 蒸発粒子が 8 eVの粒子 エネルギーを持つようわずかに負の電圧を印加し、 スパッタを行った。
得られた抑制体の一部をミクロトームで薄片にし、 断面にイオンビームポリシ ヤーを施し、 高分解能透過型電子顕微鏡により複合層の断面を観察したところ、 複合層の厚みは約 45 nmであった。 断面観察結果を図 1に示す。 透磁率測定装 置を用い透磁率を測定した。 図 6に示すとおり、 " L の相対強度値は 250で 、 " H の相対強度値は前記値の約 7倍と大きかった。 また、 磁気共鳴周波数 ( , のピーク値の半分の値になる周波数で、 かつピーク値の周波数より大きい周 波数) は、 装置の測定限界の 9 GHzを超えていた。 また、 その電磁波吸収特性 は、 1 GHzでの反射減衰量は _ 9.5 dBで、 透過減衰量は— 5.5 d Bであり 、 10GHzでの反射減衰量は— 14dBで、 透過減衰量は— 20 d Bであった
(実施例 2) 支持体である 12 zm厚の離型処理の施されたポリエチレンテレフ夕レートフ イルム上に、 結合剤である 25 /zm厚の Bステージ状のエポキシ樹脂 (硬化前の 剪断弾性率 8 X 10 6 (P a) 、 硬化後の剪断弾性率 2 X 10 (P a) ) を 設け、 この上に、 膜厚換算で 1 Onmの Fe— N i系軟磁性金属を、 対向ターゲ ット型マグネトロンスパッ夕法により物理的に蒸着させ、 複合層を形成した。 こ の際、 基板温度を常温に保ち、 蒸発粒子が 8 eVの粒子エネルギーを持つようわ ずかに負の電圧を印加し、 スパッ夕を行った。 次いで、 ポリエチレンテレフタレ 一トフイルムより剥離し、 該エポキシシートを半分に裁断して、 複合層が交互に なるようそれぞれを重ねた。 これを 40°Cで 6時間加熱し、 さらに 120でで 2 時間加熱し、 エポキシ樹脂を硬化させ電磁波ノイズ抑制体を得た。 図 7に示すと おり複素透磁率の虚数部は、 " L の相対強度値は 200で、 H の相対強度 値は前記値の約 5倍と大きかった。 また、 磁気共鳴周波数 のピーク値の半 分の値になる周波数で、 かつピーク値の周波数より大きい周波数) は、 装置の測 定限界の 9 GHzを超えていた。 電磁波吸収特性としての減結合率は、 3 GHz での内部減結合率は一 8 d Bで、 相互減結合率は一 7 d Bであった。
(実施例 3 )
支持体である 12 m厚のポリイミドフィルムの片面に N i金属を 30 nm蒸 着し、 この面と他方の面上に、 結合剤である 7 zm厚の加硫した導電性シリコ一 ンゴム (常温の剪断弾性率 2 X 10 7 (P a) 、 顔料用カーボンブラック 1 5 質量%含有) を設け、 この上に、 膜厚換算で 2 Onmの Fe—N i系軟磁性金属 を、 対向ターゲット型マグネトロンスパッ夕法により物理的に蒸着させ、 表裏面 に複合層を形成し、 電磁波ノイズ抑制体を得た。 この際、 基板温度を常温に保ち 、 蒸発粒子が 8 eVの粒子エネルギーを持つようわずかに負の電圧を印加し、 ス パッタを行った。 複素透磁率の虚数部は、 ' L の相対強度値は 180で、 " H の相対強度値は前記値の約 6倍と大きかった。 また、 磁気共鳴周波数 の ピーク値の半分の値になる周波数で、 かつピーク値の周波数より大きい周波数) は、 装置の測定限界の 9 GHzを超えていた。 電磁波吸収特性としての減結合率 は、 1 GHzでの内部減結合率は一 3 dBで、 相互減結合率は一 4 dBであった (実施例 4)
ポリイミドフィルム上に設けられた配線ピッチが 0. 3 mmの束線状の金属導 体上に、 NBRを含む Bステージ状のエポキシ樹脂 (硬化前の剪断弾性率 8 X 1 0 6 (P a) 、 硬化後の剪断弾性率 8X 10 8 (P a) ) を設け、 この上に、 膜厚換算で 15 nmの F e— N i系軟磁性金属を、 対向夕ーゲット型マグネトロ ンスパッ夕法により物理的に蒸着させ、 複合層を形成した。 この際、 基板温度を 常温に保ち、 蒸発粒子が 8 eVの粒子エネルギーを持つようわずかに負の電圧を 印加し、 スパッ夕を行った。 次いで、 40 で 6時間加熱し、 さらに 120 で 2時間加熱し、 エポキシ樹脂を硬化させ、 電磁波ノイズ抑制体の設けられた印刷 配線板を得た。
該配線板と、 携帯電話用の LCD (コントローラ LS Iはガラス上に設けられ ている。 ) および CPUとの間を接続した。 動画を描写し、 電磁波ノイズ抑制体 の無いものと比較観察したところ、 無いものに比べ、 クロストークの影響が無く 、 信号欠陥の無い像が得られた。 産業上の利用可能性
本発明の電磁波ノイズ抑制体は、 電子機器、 電子部品等の構造体の被覆に用い' ることができ、 準マイク口波帯域全体にわたって十分な電磁波ノィズ抑制効果を 発揮しつつ、 電子機器、 電子部品の小型化、 軽量化を図ることができる。

Claims

1. 磁気共鳴周波数が 8GHz以上であり、
8 GHzの周波数における複素透磁率の虚数部; " Hが、 5 GHzの周波数に おける複素透磁率の虚数部/ " L より大きいことを特徴とする電磁波ノイズ抑制 体。 請
2. 結合剤と磁性体が一体化してなる複合層を有することを特徴とする請求項 1記載の電磁波ノィズ抑制体。
Sの
3. 前記複合層が、 結合剤に磁性体を物理範的に蒸着させてなる層であることを 特徴とする請求項 2記載の電磁波ノィズ抑制体。囲
4. 前記結合剤が、 樹脂またはゴムであることを特徴とする請求項 2記載の電 磁波ノイズ抑制体。
5. 前記結合剤が、 樹脂またはゴムであることを特徴とする請求項 3記載の電 磁波ノイズ抑制体。
6. 前記結合剤が、 硬化性樹脂であることを特徴とする請求項 2記載の電磁波 ノイズ抑制体。
7. 前記結合剤が、 硬化性樹脂であることを特徴とする請求項 3記載の電磁波 ノイズ抑制体。
8. 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させて、 結合剤表面に複合層を形成し、 磁 気共鳴周波数が 8 GHz以上であり、 8 GHzの周波数における複素透磁率の虚 数部/ X"„ が、 5 GHzの周波数における複素透磁率の虚数部^" L より大きい 電磁波ノイズ抑制体を得ることを特徴とする電磁波ノイズ抑制体の製造方法。
9 . 構造体表面の少なくとも一部が、 請求項 1ないし 7いずれか一項に記載の 電磁波ノイズ抑制体によって被覆されていることを特徴とする電磁波ノイズ抑制 機能付構造体。
1 0 . 前記構造体が、 電子部品を搭載した印刷配線板であることを特徴とする 請求項 9記載の電磁波ノィズ抑制機能付構造体。
1 1 . 前記構造体が、 半導体集積回路であることを特徴とする請求項 9記載の 電磁波ノィズ抑制機能付構造体。
1 2 . 構造体の表面の少なくとも一部を結合剤で被覆する被覆工程と、 結合剤に磁性体を物理的に蒸着させて、 結合剤表面に複合層を形成する蒸着工 程と
を有することを特徴とする電磁波ノイズ抑制機能付構造体の製造方法。
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