WO1999048338A1 - Procede de formation de film mince, affichage, et filtre colore - Google Patents

Procede de formation de film mince, affichage, et filtre colore Download PDF

Info

Publication number
WO1999048338A1
WO1999048338A1 PCT/JP1999/001289 JP9901289W WO9948338A1 WO 1999048338 A1 WO1999048338 A1 WO 1999048338A1 JP 9901289 W JP9901289 W JP 9901289W WO 9948338 A1 WO9948338 A1 WO 9948338A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
affinity
thin film
bank
layer
forming
Prior art date
Application number
PCT/JP1999/001289
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO1999048338A8 (fr
Inventor
Ichio Yudasaka
Original Assignee
Seiko Epson Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corporation filed Critical Seiko Epson Corporation
Priority to EP99907949A priority Critical patent/EP0993235B1/en
Priority to DE1999627225 priority patent/DE69927225T2/de
Priority to US09/424,044 priority patent/US6476988B1/en
Priority to KR1019997010675A priority patent/KR100773044B1/ko
Publication of WO1999048338A1 publication Critical patent/WO1999048338A1/ja
Publication of WO1999048338A8 publication Critical patent/WO1999048338A8/ja
Priority to US10/830,078 priority patent/US6967352B2/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/22Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of auxiliary dielectric or reflective layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/201Filters in the form of arrays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/22Absorbing filters
    • G02B5/223Absorbing filters containing organic substances, e.g. dyes, inks or pigments
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
    • H10K59/173Passive-matrix OLED displays comprising banks or shadow masks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/40Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour
    • H10K71/441Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour in the presence of solvent vapors, e.g. solvent vapour annealing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • H10K71/611Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes using printing deposition, e.g. ink jet printing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • H10K71/135Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24149Honeycomb-like
    • Y10T428/24157Filled honeycomb cells [e.g., solid substance in cavities, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24355Continuous and nonuniform or irregular surface on layer or component [e.g., roofing, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/249921Web or sheet containing structurally defined element or component
    • Y10T428/249994Composite having a component wherein a constituent is liquid or is contained within preformed walls [e.g., impregnant-filled, previously void containing component, etc.]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Description

明細書
薄膜形成方法、 表示装置およびカラーフィル夕 技術分野
本発明は、 E L (electroluminescence :エレク ト口ルミネッセンス) 素子また は L E D (発光ダイオード) 素子などを備えた表示装置やカラ一フィル夕の製造 に適した薄膜形成技術に係わる。 特に仕切部材間に多層の薄膜層を形成する際に 有利な技術に関する。
背景技術
インクジエツ ト方式を使用して表示装置における有機半導体膜やカラーフィル 夕における着色樹脂等の材料を充填してカラー表示用液晶パネルを製造する技術 が用いられてきた。
インクジエツ ト方式で材料を充填する場合、 吐出された薄膜材料液が隣の画素 に流出することを防止するためには、 画素領域を仕切る仕切部材(以下「バンク」 ともいう。 また仕切部材を構成する層を 「バンク層」 という。) を設け、 仕切部 材に囲まれる領域に薄膜材料液を充填する必要がある。 仕切部材で囲まれた画素 領域には成膜後の体積に比べてはるかに大きい薄膜材料液が充填される。 表示装 置は一般に薄いことが要求されるため、 仕切部材をやたらに高く形成することが できない。 このことから仕切部材ゃ仕切部材で囲まれた領域が、 薄膜材料液に対 してどのような濡れ性 (親和性) を示すかで充填された薄膜材料液の挙動が異な る。
仕切部材が材料に対し親和性であると、 第 9図 Aに示すように仕切部材の高さ を超える量の材料を充填した場合に、 仕切部材があっても材料は容易に隣接する 画素領域に流出してしまう。 逆に仕切部材が材料に対し非親和性であると、 第 9 図 Bに示すように仕切部材の高さを超える量の材料を充填.しても材料の表面張力 により隣の画素領域に材料が流れ出すことはない。 この材料を加熱して溶媒を蒸 発させると仕切部材の側壁で材料がはじかれるため、 第 9図 Cに示すように成膜 後の厚みが画素領域の中央部で厚く周辺部で薄くなる。 これでは色むらが生じた り信頼性が低下したりする。 また仕切部材を非親和性部材で構成すると、 仕切部 材と仕切部材の接地面との密着力が弱く、 仕切部材が剥がれやすくなる。
このような問題を解決する従来の技術として、 仕切部材の上部を非親和性にし それ以外の部分が親和性になるよう表面加工する技術があった。 例えば特開平 9
- 2 0 3 8 0 3号公報ゃ特開平 9一 2 3 0 1 2 9号公報には、 仕切部材の上部を 紫外線照射により撥ィンク性に加工し、 仕切部材で囲まれた領域を親インク性に 加工する技術が開示されている。 前者は撥インク性 (非親和性) を示す層を仕切 部材の上部に塗布するものであり、 後者はさらに紫外線照射により仕切部材で囲 まれた凹部を親インク性 (親和性) にするものである。 その論理的考察について は、 International Display Research Conference 1997, p 238-241に記載さ れている。 この技術によれば、 仕切部材を超える高さに材料を充填しても、 第 1 0図 Aに示すように材料が非親和性の膜によってはじかれ隣の画素領域に流れ出 すことがない。 仕切部材の側壁が親和性を備えるため、 成膜後の厚みが画素領域 の周辺で簿くなることもない。
しかしながら、 上記公知技術においても仕切部材の側壁における親和性をどの ように設定するのかは明らかでなく、 平坦な薄膜層を得ることが困難であった。 特開平 9一 2 3 0 1 2 9号公報には紫外線を表裏の両面から照射することで親和 性の程度を制御する旨が規定されているが、非親和性と親和性との親和性の程度、 すなわち薄膜材料液に対する接触角をそれそれどのように設定するかについては 不明であった。
例えば非親和性が高すぎると第 9図 Cに示すように仕切部材に近い周辺部で薄 膜層が薄くかつ中央部で厚くなる。 逆に、 親和性が高すぎると第 1 0図 Bに示す ように仕切部材に近い周辺部で薄膜層が厚くかつ中央部で薄くなる。
また上記公知技術では薄膜層が一層であることを想定しているだけなので、 薄 膜層を多層化する場合一層ごとに平坦な薄膜層を形成可能な表面処理について全 く不明であった。 仮に一層ごとに上記公知技術を適用するならば、 一層形成する たびに表面処理を要求され、 非常に多数の工程が要求されることになる。 発明の概要
本願発明者はフッ素系のガスによりプラズマ処理をすると、 酸素ガスとフッ素 ガスとの混合比によって有機物と無機物との間でインクに対する接触角が大きく 異なることを発見した。 そして本願発明者は、 親和性材料と非親和性材料とを交 互に積層したバンクを設けること、 およびプラズマ処理により親和性を制御する ことに想到した。
すなわち本発明の第 1の課題は、 異なる材料でバンクを積層することにより、 薄膜を多層化することができる薄膜形成方法を提供することである。
また本発明の第 2の課題は、 表面処理を一定条件下で管理することにより、 親 和性制御のために多数の工程を経ることなく親和性を制御し、 これにより親和性 制御に要するコストを削減し、 均一な膜厚で薄膜の多層化を可能とすることであ る。
本発明の第 3の課題は、 多層化を可能とする薄膜形成方法によって多層化され た表示装置を提供することである。 これにより、 明るさや色にむらが生じない画 像表示を行い、 信頼性を向上させることである。
本発明の第 4の課題は、 多層化を可能とする薄膜形成方法によって多層化され たカラーフィル夕を提供することである。 これにより、 明るさや色にむらが生じ ない画像表示を行うことである。
上記第 1の課題を解決する発明は、 バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填 して薄膜層を形成する薄膜形成方法であって、 バンク形成面にバンクを形成する 工程と、 バンクに薄膜材料液を充填する工程と、 を備える。 そしてバンクを形成 する工程は、 親和性材料で親和性バンク層を形成する工程と、 親和性バンク層上 に非親和性材料で非親和性バンク層を形成する工程と、 を一回以上繰り返すこと により、 親和性バンク層と非親和性バンク層とを交互に積層されたバンクを形成 するものである。 ここで 「バンク」 とは、 例えば非親和性半導体薄膜素子を利用した表示装置の 画素を仕切るために設けたり、 カラーフィル夕の画素領域を仕切るために設けた りする仕切部材のことをいう。 バンクの積層構造は層ごとに非親和性材料や親和 性材料の種類を変えて用いてもよい。 各層の厚みは層ごとに変更して積層しても よい。 バンク形成面とはこのバンクを設ける面のことで、 表示装置等の駆動基板 であってもカラーフィル夕等の透明基板等であってもよい。
ここで親和性であるか非親和性であるかは、 充填する薄膜材料液がどのような 性質を備えているかで決まる。 例えば親水性のある薄膜材料液であれば、 極性基 を有する表面が親和性を示し、 非極性基を有する表面が非親和性を示す。 逆に親 油性のある薄膜材料液であれば、 極性基を有する表面が非親和性を示し、 非極性 基を有する表面が親和性を示す。 薄膜材料液を何にするかは、 製造対象によって 種々に変更して適用することになる。 薄膜材料液がー層ごとに親水性を示すか疎 水性を示すかが変わる場合には、 その薄膜材料液で形成される薄膜層に対応する 位置に設けられる二層のバンク層のうち、 この薄膜材料液に対して下層が非親和 性を示し上層が親和性を示すように、 層構造を変更して適用可能である。 例えば 薄膜材料液が親水性を有する場合に、 親和性材料とは無機材料をいい非親和性材 料とは有機材料をいう。 薄膜材料液が疎水性を有する場合には、 親和性材料とは 有機材料をいい非親和性材料とは無機材料をいう。
例えば上記バンク層を材料の塗布により形成する方法が考えられる。すなわち、 非親和性バンク層を形成する工程および前記親和性バンク層を形成する工程は、 溶剤に溶かされた所定の材料を塗布してそれそれのバンク層を形成するものであ る。 そして親和性バンク層の材料を溶かしていた溶剤が除去される前に非親和性 バンク層の材料を塗布することにより非親和性バンク層を形成する。
上記第 2の課題を解決する発明は、 上記バンクを形成する工程の後に、 バンク およびバンク形成面に対して所定の表面処理を行う工程をさらに備える。 表面処 理としては、例えば導入ガスにフッ素またはフッ素化合物を含んだガスを使用し、 減圧雰囲気下や大気圧雰囲気下でプラズマ照射をする減圧プラズマ処理や大気圧 プラズマ処理を行う。 一定条件としては、 フッ素系化合物および酸素を含んだガ ス中でプラズマ処理を行うことが挙げられる。 この条件下では無機材料の表面に はプラズマ放電により未反応基が発生し、 酸素により未反応基が酸化されてカル ボニル基や水酸基等の極性基が発生する。 極性基は水等の極性分子を含んだ流動 体に対して親和性を示し、 非極性分子を含んだ流動体に対し非親和性を示す。 有 機バンク層表面においても上記のような反応と並行してフッ素系化合物分子が有 機材料表面に入り込む現象も生ずる。
特にフッ素系化合物が酸素よりも多い場合、 例えばフッ素系化合物および酸素 の総量に対するフッ素系化合物の含有量が 6 0 %以上に設定されていると、 フッ 素系化合物の量が過多のガス雰囲気化では酸素による酸化反応よりも、 フッ素系 化合物の混入化現象の方が盛んになるため、 酸化反応による影響よりも混入化現 象により表面が非極性化される。 したがって有機材料をフッ素系化合物が過多の 条件でプラズマ処理すると、 極性分子を含んだ流動体に対して非親和性を示し、 非極性分子を含んだ流動体に対して親和性を示すようになる。 例えばフッ素を含 んだガスは C F 4、 S F 6、 C H F 3等のハロゲンガスを用いる。 この条件下で表 面処理を施すと非親和性バンク層と親和性バンク層との間で薄膜材料液に対する 接触角が大きく異なるようにその表面の親和性が調整される。 これにより、 例え ば親和性バンク層表面が薄膜材料液に対し接触角が 3 0度以下になるように表面 処理される。 また非親和性バンク層表面が薄膜材料液に対し接触角が 4 0度以上 になるように表面処理される。
上記表面処理を行う工程は、 非親和性バンク層が親和性材料に比べて薄膜材料 液に対する非親和性の程度がより高くなるような一定条件下で表面処理を行う。 さらに表面処理を行う工程は、 親和性バンク層の薄膜材料液に対する親和性がバ ンクで囲まれる領域の薄膜材料液に対する親和性以下になるような一定条件下で 表面処理を行う。
上記バンクを形成する工程では、 例えば、 親和性材料で親和性膜を形成する親 和性バンク層形成工程と、 親和性バンク層上でバンクの形成領域に合わせて非親 和性材料で非親和性バンク層を形成する非親和性バンク層形成工程と、 非親和性 バンク層をマスクとして当該非親和性バンク層が設けられていない領域の親和性 バンク層をエッチングして除去する除去工程と、 により一組の親和性バンク層お よび非親和性バンク層を形成する。 また、 バンクを形成する工程は、 親和性材料 で親和性バンク層を形成する工程と、 当該親和性バンク層をバンク下層の形成領 域に合わせてエッチングする工程と、 親和性バンク層を覆って非親和性材料で非 親和性バンク層を形成する工程と、 当該非親和性バンク層をバンク上層の形成領 域に合わせてエツチングする工程と、 により一組の非親和性バンク層および非親 和性バンク層を形成する。 なお、 バンク形状へのエッチングを每回せずに総てあ るいはほとんどの親和性バンク層と非親和性バンク層とを重ねた後、 複数組の親 和性バンク層および非親和性バンク層をまとめて一気にエッチングしてしまって もよい。
ここで、 例えば非親和性材料は、 ポリイミ ド、 アモルファスシリコン、 ポリシ リコン、 フッ素を有する有機化合物または絶縁有機化合物 (感光性材料) のいず れかである。 親和性材料は、 A l , T a等の金属、 シリコン酸化膜またはシリコ ン窒化膜のいずれかである。
好ましくは、 薄膜層はその最下層の薄膜層がバンクの最下層の親和性バンク層 と略同等の厚みに設定されている。 またその最下層より上に積層される各薄膜層 がバンクの対応する高さに積層されている親和性バンク層と非親和性バンク層の それそれの厚みの合計と略同等の厚みに設定されている。 充填された薄膜材料液 はバンクの壁面の親和性によってその壁面と液面の接触形状が変わる。 親和性バ ンク層との接触面では薄膜材料液が壁面と密着し薄膜の厚みが増加する傾向に、 非親和性バンク層との接触面では薄膜材料液がはじかれるため薄膜の厚みが減少 する傾向にある。 多量に充填された薄膜材料液は加熱処理等により体積が減少し ていくが、 加熱処理終了後の薄膜材料液の液面が非親和性バンク層と親和性バン ク層との境界に位置するよう調整されていると、 非親和性バンク層と親和性バン ク層との性質が均衡し薄膜材料液の液面がバンク壁面に垂直になり、 全体的に平 坦になる。 例えば最上層にある非親和性バンク層の厚みは 5 0 O n m以下、 それ 以外の非親和性バンク層の厚みは 1 0 0 n m以下に設定されている。
上記第 3の課題を解決する発明は、 バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填 して形成された薄膜層を積層して構成される表示装置であって、 前記バンクは、 前記薄膜材料液に対し親和性を示す材料で形成された親和性バンク層と、 前記薄 膜材料液に対し非親和性を示す材料で形成された非親和性バンク層とが交互に積 層され、 前記バンクで囲まれる領域には I T 0等からなる画素電極が設けられ、 薄膜発光素子を形成するための有機半導体材料により前記薄膜層が形成されてい ることを特徴とする表示装置である。
上記第 4の課題を解決する発明は、 バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填 して形成された薄膜層を積層して構成されるカラ一フィル夕であって、 前記バン クは、 前記薄膜材料液に対し親和性を示す材料で形成された親和性バンク層と、 前記薄膜材料液に対し非親和性を示す材料で形成された非親和性バンク層とが交 互に積層され、 バンク形成面は透明基板で形成され、 前記バンクは画素領域を仕 切る仕切部材であって、 前記画素に色彩を付与するための着色樹脂材料により前 記薄膜層が形成されていることを特徴とするカラ一フィル夕である。
なお上記表示装置や力ラーフィル夕において、 親和性バンク層または/および 非親和性バンク層は、 それそれ親和性または非親和性を示すように表面処理され たものである。
図面の簡単な説明
第 1図 : 本発明の実施形態 1に係る薄膜積層構造の断面図。
第 2図: 本発明の実施形態 1に係る薄膜形成方法の製造工程断面図。
第 3図: 本発明の実施形態 1に係る薄膜形成方法の製造工程断面図 (続き)。 第 4図 : 本発明の表面処理の原理に係るフッ素系化合物と酸素との混合比と接 触角との関係を説明する特性図。
第 5図: 本発明の実施形態 2に係る薄膜形成方法の製造工程断面図。 第 6図 本発明をカラ一フィル夕に適用した実施例の断面図。
第 7図 本発明を表示装置の有機半導体発光素子に適用した実施例の断面図。 第 8図 本発明を表示装置の有機半導体発光素子に適用した他の実施例の断面 図。
第 9図: 従来のバンク形成における問題点の説明図。
第 1 0図 従来のバンク形成における問題点の説明図。 発明を実施するための最良の形態
次に本発明の好適な実施の形態を、 図面を参照して説明する。
(実施形態 1 )
本発明の実施形態 1はバンクを構成する複数種類の層のうち、 一方の層を他方 の層のマスクとして利用する薄膜形成方法に関する。
第 1図に本発明の薄膜形成方法によって形成された薄膜積層構造の断面図を示 す。 この積層構造は多層化した薄膜を使用するあらゆる用途に使用可能である。 例えば有機半導体薄膜を利用した E L素子や L E D、 カラ一フィル夕等に使用可 能である。 第 1図の積層構造は、 薄膜材料液として親水性があるものを使用する 場合の構造である。 親水性のある薄膜材料液では表面処理された無機材料に親和 性が高く有機材料に親和性が低くなる (非親和性)。
第 1図に示すように本積層構造は、 バンク形成面 1 0 0にバンク 1 1 0を設け て構成されている。 バンク形成面は、 表示装置に使用する薄膜トランジスタ (T F T : Thin Film Transistor) が形成された駆動基板であってもカラーフィル夕 に使用する透明基板であっても何でもよい。 仕切部材たるバンクで囲まれる領域 に流動体を充填して薄膜を形成する目的であればバンク形成面の構造に限定はな い。 ただしバンク 1 1 0の最下層を形成する親和性バンク層 1 1 1と密着性のよ い材料であることが望ましい。 特に無機材料で構成されていることが後の表面処 理で好適な親和性を得るために好ましい。 表示装置であれば透明電極である I T 0やシリコンなど、 カラーフィル夕であればガラスや石英等で構成され、 親和性 バンク層との高い密着性を維持できる。
バンク 1 1 0は、 親和性バンク層 1 1 1〜 1 1 n ( nは自然数) および非親和 性バンク層 1 2 1〜 1 2 nを交互に積層して構成される。 親和性バンク層 1 1 1 〜 1 1 nは、 その層に対応する位置の薄膜層 1 3 1〜 1 3 nを形成している薄膜 材料液と一定の親和性を有するように表面処理されている。 親和性バンク層 1 1
1〜 1 1 nの材料としてはバンク形成面 1 0 0や非親和性バンク層 1 2 1〜 1 2 nと密着性のよい材料であることが好ましく、 その材料が絶縁性、 半導体として の性質、 導電性のいずれを有していてもよい。 例えば親和性バンク層 1 1 1〜 1 1 nとして絶縁膜として一般的な、 A l、 T a等の金属、 シリコン酸化膜 (S i 0 2 ) やシリコン窒化膜 (S i N x ) 等を利用することが可能である。 各親和性 バンク層には同じ材料を用いる必要はない。 各親和性バンク層 1 l x ( Xは任意 の自然数) に対応して設けられる薄膜層 1 3 Xの薄膜材料液と親和性がよい材料 であればよく、 親和性バンク層の総てを同一の材 yろうに統一する必要はない。 非親和性バンク層 1 2 1〜 1 2 nは、 その層に対応する位置の薄膜層 1 3 1〜 1 3 nを形成している薄膜材料液と非親和性を示するように表面処理されている c 非親和性バンク層 1 2 1〜 1 2 nの材料としては親和性バンク層 1 1 1〜 1 1 n と密着性のよい材料であることが好ましく、 その材料が絶縁性、 半導体としての 性質、 導電性のいずれを有していてもよい。 例えば非親和性バンク層 1 2 1〜 1 2 nとして、 ポリイミ ド、 アモルファスシリコン、 ポリシリコン、 フッ素を有す る有機化合物または絶縁有機化合物等を利用することが可能である。 各非親和性 バンク層には同じ材料を用いる必要はない。 表面処理をした場合に各親和性バン ク層 l l x ( Xは任意の自然数) に対応して設けられる薄膜層 1 3 Xの薄膜材料 液と親和性がよくなる材料であれば材料を変更して積層可能である。 例えばカラ —フィル夕にこの積層構造を適用する場合、 最上層 1 2 nをブラックマトリクス で構成して遮蔽機能を兼用させてもよい。 遮蔽部材として形成するためにはクロ ム等の金属や酸化物や黒色レジスト材料を用いる。
各バンク層の厚みは次のように設定する。 最下層が親和性バンク層 1 3 1であ る場合には親和性バンク層 1 3 1の厚み d 0が、 この層に対応して形成される薄 膜層 1 3 1の厚みに略同等になるように設定する。 その上の層では、 非親和性バ ンク層 1 1 x + 1と親和性バンク層 1 2 Xを加算した厚み d xがこれらの層に対 応して形成される簿膜層 1 3 x + 1の厚みに略同等になるように設定する。 例え ば、 薄膜層 1 3 2の厚みは、 非親和性バンク層 1 2 1と親和性バンク層 1 1 2を 合計した厚み d lに略等しい。 薄膜層 1 3 ηの厚みは、 非親和性バンク層 1 2 η 一 1と親和性バンク層 1 1 ηとを合計した厚み d ηに略等しい。 これらの設定は 平坦な薄膜層を形成するために重要である。
なお上記した積層構造は薄膜材料液が極性基のある分子で構成される場合に適 用されるものである。薄膜材料液が極性基のない分子で構成されている場合には、 非親和性バンク層と親和性バンク層の材料を入れ替えて使用する。
薄膜層が一層ごとに極性基のある分子で構成されていたり極性基のない分子で 構成されていたりする場合には、 各薄膜材料液が充填される位置にある二層のバ ンク層のうち下層がこの薄膜材料液に対し非親和性を示し上層が親和性を示すよ うにバンク層の材料を選択すればよい。
薄膜層 1 3 1〜 1 3 ηは、 それそれが目的とする性質を備えた材料で構成され ている。 例えば表示装置に本積層構造を適用する場合、 各薄膜層に任意の有機半 導体薄膜材料液が充填されて形成される。 各薄膜層ごとに、 原色を発光する有機 半導体薄膜材料液を複数積層したり、 必要に応じて正孔輸送層や電子輸送層の材 料を充填して積層する。 例えばカラーフィル夕に本積層構造を適用する場合、 各 薄膜層に屈折率の異なる樹脂を充填して積層する。 このような積層薄膜構造は光 学的な干渉フィル夕一となり特定波長の光のみが透過され、 選択性のよい色彩を 提供可能な構成になる。
バンクの最上層にはブラックマトリクスを適用してもよい。 すなわく酸化クロ ムゃ黒色レジスト等を塗布する。 この層は非親和性層と兼用であっても非親和性 層とは別個に設けられるものでもよい。 各薄膜層 1 3 1〜 1 3 ηの厚みは上述し たように、 その薄膜層に対応する位置に形成されている非親和性バンク層と親和 性バンク層とを合計した厚みに略等しく設定されている。
(積層構造の作用)
上記バンクの層構造によれば、 各層の厚みが均一な薄膜層を積層した装置を提 供可能である。 バンク 1 1 0を上記構成に製造してあると、 薄膜層の厚みが平坦 化される。 つまり薄膜材料液を充填していくと、 バンクの壁面の親和性によって その壁面に対する薄膜材料液の液面の接触形状が変わる。 親和性バンク層との接 触面では薄膜材料液が壁面と密着し薄膜の厚みが増加する傾向に、 非親和性バン ク層との接触面では薄膜材料液がはじかれるため薄膜の厚みが減少する傾向にな る。 多量に充填された薄膜材料液は加熱処理等により体積が減少していくが、 加 熱処理終了後の薄膜材料液の液面が非親和性バンク層と親和性バンク層との境界 に位置するよう調整されていると、 非親和性バンク層と親和性バンク層との性質 が均衡し薄膜材料液の液面がバンク壁面に垂直になり、 全体的に平坦になるので ある。
この積層構造を使用した装置では薄膜層が平坦であることから一定の効果を奏 する。 各薄膜層の厚みが均一であると、 電極間に電流を流して発光型表示素子に 形成する場合には、 電極間の電流密度が一定になって発光の均一性が向上でき、 特定箇所への電流集中を回避できるため信頼性が向上する。 電極間に電圧が印加 される素子では薄い箇所に電界がかかることが無いので、 信頼性が向上し寿命を 延ばすことができる。 さらに色や明るさが均一化される。 カラーフィル夕に適用 する場合、 色の均一性を向上させ、 色抜け等の障害を防止することができる。 (製造方法)
次に本積層構造を得るための薄膜形成方法を、 第 2図および第 3図の製造工程 断面図を参照して説明する。
バンク形成工程 (第 2図 A〜D ) : バンク形成工程は、 バンク形成面 1 0 0 に親和性バンク層 1 1 1〜 1 1 nおよび非親和性バンク層 1 2 1〜 1 2 nを積層 してバンク 1 1 0を形成する工程である。
まず親和性バンク層 1 1 1をバンク形成面 1 0 0—面に形成する(第 2図 A;)。 形成方法は材料によって異なるが、 P E C V D (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) 法、 C V D (Chemical Vapor Deposition) 法、 蒸着法、 スパッ夕 法や各種のコート方法 (スピンコート、 スプレーコード、 ロールコート、 ダイコ ート、 ディップコート) がある。 例えば本実施形態では S O G (Spin on Glass) による S i 0 2膜をスピンコート法で形成する。 最下層の親和性バンク層 1 1 1 の厚みは薄膜層 1 3 1の厚みに合わせる。
次いでバンク形状に合わせて非親和性バンク層 1 2 1を形成する(第 2図 B )。 非親和性バンク層の形成方法はまず一面に有機材料を上記方法で形成する。 通常 のフォ トリソグラフィ法を使用する場合にはバンク形状に合わせてマスクを施し レジストを露光 '現像 '除去し、 最後にエッチングしてマスク以外の部分の有機 材料を除去する。 印刷法を使用する場合は、 凹版、 平版、 凸版等任意の方法でバ ンク形状に有機材料を直接塗布する。 非親和性バンク層 1 2 1の厚みは後に充填 される薄膜材料液をはじく機能を十分奏する程度の厚みにする。 ただしこの層に 重ねる次の親和性バンク層 1 1 2と合わせた厚みが薄膜層 1 3 2に略同等になる ような範固で調整する。
次いで非親和性バンク層 1 2 1をレジストマスクとして無機材料膜をエツチン グする (第 2図 C )。 非親和性バンク層は有機材料でありレジストマスクとして 作用可能である。
次いで再度第 2図 Aと同様に無機材料として S O Gを一面に塗布する (第 2図 D )。 無機材料の厚みは後に充填される薄膜材料液と密着する機能を十分奏する 程度の厚みにする。 ただしこの層の下に重ねられている非親和性バンク層 1 2 1 と合わせた厚みが薄膜層 1 3 2に略同等になるような範囲で調整する。 以降は第 2図 B〜Dの工程を繰り返しながらバンクを重ねていく。
最上層は非親和性バンク層 1 2 nが配置されるように積層する。 最上層が非親 和性を有していないとすれば、 充填された薄膜材料液がバンク 1 1 0を乗り越え て流出してしまうからである。
上記工程により第 2図 Eに示すようなバンク 1 1 0とバンクで囲まれた凹部 1 0 1からなる構造が形成される。 この構造により、 親和性を示す層と非親和性を 示す層が交互に積層された多層構造のバンクが形成される。 この後に第 3図 Bに 示すように、凹部 1 0 1に薄膜材料液を順次充填していく工程に移行すればよい。 ただし、 ここでは以下に示すようにバンク形成面 1 0 0とバンク 1 1 0の各層と の薄膜材料液に対する親和性の程度を調整する表面処理を施すことにする。
表面処理工程 (第 3図 A ): 表面処理工程は一定条件下でプラズマ処理を行 つてバンク形成面 1 0 0とバンク 1 1 0の各層との薄膜材料液に対する親和性を 調整する工程である。 本発明のプラズマ処理では、 導入ガスとしてフッ素を含む ガスを用いる。 減圧雰囲気下での減圧プラズマ処理であっても大気圧雰囲気下で の大気圧プラズマ処理であってもよい。 反応ガス中に一定量の酸素が含まれるこ とが好ましい。 フッ素系化合物としては C F 4、 S F 6、 C H F 3等のハロゲンガ ス等を用いる。
薄膜材料液等の任意の流動体に対して表面が濡れやすいや濡れ難いか、 すなわ ち親和性を示すか非親和性を示すかは、 材料表面の流動体に対する接触角を測定 することで知ることができる。 第 4図に、 有機材料と無機材料とをプラズマ処理 した際に、 フッ素化合物と酸素との混合比によって接触角がどのようにして変わ るかを測定した図を示す。接触角は水系インク (水で薄めることのできるインク) に対する接触角である。 この図は、 フッ素系化合物として C F 4を使用し、 有機 材料としてポリィミ ド、 無機材料として S i 0 2と I T O ( Indium-Tin- Oxide) を例示してある。 他の材料についてもそれが有機であるか無機であるかに応じて 類似する傾向が見られると考えられる。 第 4図に示すように酸素が過多の雰囲気 下では、 有機材料、 無機材料とも接触角の程度に大きな差異がない。 ところがフ ッ素系化合物が過多にすると有機材料の接触角が大きくなる (薄膜材料液が親和 性である場合、非親和性になる)。これに対し無機材料の接触角の変化は小さい。 酸素が反応ガスに含まれると酸素による酸化作用により無機材料および有機材料 ともに極性基が発生する。 しかしフッ素系化合物が過多であると有機材料中にフ ッ素化合物分子が入り込むようになるため、 極性基の影響が相対的に少なくなる と考えられる。 したがってフッ素系化合物が酸素に比べ過多の条件で制御しなが らプラズマ処理することにより、 バンク 1 10およびバンク形成面 100表面を 第 4図に従って所望の接触角 (親和性) に設定することができる。 特に第 4図の 最良混合比 (CF4/CF4 + O2 = 75%〜90%) を使用することは両者の接 触角の差が最大とするために好ましい。 ただし、 重要な点はポリイミ ドと SOG や I TOとの間における接触角の差が大きく設定することにあり、 この目的を達 成するためには第 4図によれば CF4が約 70%以上あれば十分であると考えら れる。 例えば親和性バンク層表面が薄膜材料液に対し接触角が 30度以下になる ように表面処理される。 また非親和性バンク層表面が薄膜材料液に対し接触角が 40度以上になるように表面処理される。
以上の事実より本実施形態ではフッ素系化合物を導入ガスとし一定の割合で酸 素が混合されるように減圧プラズマ処理または大気圧プラズマ処理を行う。 例え ば容量結合型のプラズマ処理では上記ガスを反応室に流し一方の電極上にバンク 形成面 100を有する基板を載置し、 電源から電界を加える。 反応室へのェネル ギ一の加え方には公知の方法、 例えば直流法、 高周波法、 誘導結合形、 容量結合 形、 マイクロ波法、 電界と磁界とを供に加える方法等を種々に適用可能である。 例えばバンク形成面 100 (凹部 10 1の底面) を I TO等の透明電極、 親和 性バンク層を S i 02、 非親和性バンク層をポリイ ミ ドで形成した場合、 上記表 面処理により、 薄膜材料液 130に対する親和度は
バンク形成面 親和性バンク層 >非親和性バンク層
という順番になるように表面処理される。
薄膜形成工程 (第 3図 B〜D) : 薄膜形成工程はバンク 1 10で囲まれた凹 部 10 1に薄膜材料液を順次充填して薄膜層を積層していく工程である。
薄膜材料液 1 30としては、 表示装置に適用する場合、 有機半導体材料、 正孔 輸送層として正孔供給元素をドービングした材料、 電子輸送層として電子供給元 素をドーピングした材料等を使用する。 カラーフィル夕に適用する場合には、 着 色樹脂等を適用する。 各薄膜材料液を充填する量は、 当該薄膜層に対応する位置に形成されている層 の厚みにより調整する。 最下層の薄膜層 1 3 1では、 加熱処理により薄膜材料液 から溶媒成分が蒸発した後の厚みが親和性バンク層 1 1 1と略同等になるような 量に調整される (第 3図 Bの破線)。 それより上の薄膜層 1 3 2〜 1 3 nでは、 加熱処理により薄膜材料液から溶媒成分が蒸発した後の厚みが、 対応する位置に 設けられている非親和性バンク層 1 2 Xと親和性バンク層 1 1 x + 1とを合わせ た厚みに略同等になるように調整される (第 3図 C D )。
薄膜材料液を充填する方法としてはィンクジエツ ト方式によることが好ましい インクジエツ ト方式によれば任意の位置に任意の量で流動体を充填することがで き、 家庭用プリン夕に使用されるような小型の装置で充填が可能だからである。 インクジエツ ト方式で薄膜材料液を充填したら、 薄膜材料液を加熱して溶媒成 分を除去する。 インクジエツ ト式記録へッ ドから吐出させるには通常粘度が数 p c以下であることを要する。 このため最終的な必要な薄膜層の厚みに比べて吐出 量は多い。
吐出直後では、 薄膜材料液は最終的な厚みより上に配置されている親和性バン ク層と接する。 加熱処理により溶媒成分が蒸発し体積が減少するに連れて、 薄膜 材料液はバンク壁面に液面が引かれながらもその液面を下げてくる。 この液面が 非親和性バンク層にかかると薄膜材料液がはじかれるため、 薄膜材料液と壁面と の接触点が一段下の親和性バンク層に移る。 このようにして液面が段階的に下が つていき最終的な薄膜層の厚み近くまで薄膜材料液の体積が減少すると、 薄膜材 料液の液面と壁面との接触点がその薄膜材料液と接しているバンク層の中で最も 下に位置する親和性バンク層とその直上の非親和性バンク層との境界にまで移動 する。
薄膜材料液の充填量は、 加熱処理後における薄膜材料液の体積が、 その薄膜材 料液を充填した中で最も下に位置する非親和性バンク層および親和性バンク層と を合計した高さまでの嵩と略等しく設定されている。 最も下に位置する親和性バ ンク層とその直上の非親和性バンク層との境界に液面が移動した後は、 それ以上 液面が下がることがない。 体積減少により薄膜材料液の中央部の厚みが徐々に下 がり、 バンク壁面との接触部分から中央部までの総ての部分おいて等しい厚みに なった段階で、 薄膜層が固形化され完成するのである。
例えば、 最下層の薄膜層 1 3 1では、 第 3図 Bに示すようにインクジェット式 記録へッ ド 1 0 2から薄膜材料液 1 3 0をバンク 1 1 0で囲まれた凹部 1 0 1に 破線の位置まで吐出する。 そして加熱処理をして平坦な簿膜層 1 3 1にする。 そ の上の薄膜層 1 3 2では、 第 3図 Cに示すようにインクジエツ ト式記録へッド 1 0 2から薄膜材料液 1 3 0を薄膜層 1 3 1上に破線の位置まで吐出する。 そして 加熱処理をして平坦な薄膜層 1 3 2にする。 これらの処理を薄膜層 1 3 nが形成 されるまで繰り返す。
なおインクジエツ ト方式としてはピエゾジエツ ト方式でも熱による気泡発生に よる吐出する方法であっても、 静電力によって吐出する方法であってもよい。 ピ ェゾジエツ ト方式では、 へッ ドが圧力室にノズルと圧電体素子とが備えられて構 成されている。 圧力室に流動体が充填されている圧電体素子に電圧を印加すると 圧力室に体積変化が生じノズルから流動体の液滴が吐出される。 気泡発生により 吐出する方式では、 へッ ドのノズルに通ずる圧力室に発熱体が設けられている。 発熱体を発熱させてノズル近辺の流動体を沸騰させ気泡を発生させてその体積膨 張により流動体を吐出するものである。 加熱による流動体の変質が無い点でピエ ゾジヱッ ト方式が好ましい。
上記したように本実施形態 1によれば、 各薄膜層を平坦に形成することができ る。
本実施形態 1によれば、 フッ素系化合物に酸素が混入している条件でプラズマ 処理を行うことにより、 薄膜材料液に対し有機材料でできたバンク表面の非親和 性と、 無機材料でできたバンク表面およびバンク形成面の親和性を調整すること ができる。
本実施形態 1によれば、 第 4図に示すような特性にしたがって親和性の度合い を示す接触角を容易に設定できる。 すなわち、 バンク自体はバンク形成面との高 い密着性を保ちながら、 親和性制御のために従来のように多数の工程を経ること なくバンクとバンク形成面との親和性を確実に制御することができる。 これによ り、 薄膜材料液がバンクを超えて流れ出ることを防止し、 歩留まりを向上させ、 製造コストを減少させることができる。
(実施形態 2 )
本発明の実施形態 2は上記実施形態と異なる方法でバンクを積層するものであ る。 本実施形態は上記実施形態 1と同様に、 バンク形成面に任意の形状でバンク を設け、 バンクで仕切られた領域に所定の流動体を充填するようなあらゆる用途 に適用されるものである。 例えば有機半導体薄膜素子を利用した表示素子で有機 半導体材料を画素領域に充填する場合やカラーフィル夕で着色樹脂を画素領域に 充填する場合に適用可能である。
第 5図に本実施形態の製造工程断面図を示す。
下層膜形成工程 (第 5図 A〜C ): 下層膜形成工程は、 バンク形成面 1 0 0 に親和性バンク層 1 1 1を形成する工程である。 まず上記実施形態 1と同様の方 法により無機材料を塗布する (第 5図 A )。 次いで無機材料層上にバンク形状に 合わせてマスク 1 4 0を設ける (第 5図 B )。次いで無機材料層をエッチングし、 マスク 1 4 0が載置された領域を残して無機材料を除去する (第 5図 C )。 エツ チング方法は、 材料の性質に合わせて選択する。 S i 0 2等の無機材料の場合、 ドライエツチングの他にフッ酸 ( H F ) 等のェッチング液を使用したゥェヅ トェ ツチングが適用できる。 以上で最下層の親和性バンク層 1 1 1が形成される。 次 に上記実施形態と同様の方法により有機材料を塗布する (第 5図 D )。 次いで有 機材料層上にバンク形状に合わせてマスク 1 4 2を設ける (第 5図 E )。 次いで 有機材料層をエッチングし、 マスク 1 4 1が載置された領域を残して有機材料を 除去する (第 5図 F )。 エッチング方法は、 材料の性質に合わせて選択する。 ポ リイミ ド等の有機材料の場合、 ドライエッチングの他に (N M P ( N—メチルビ 口リ ドン)) 等のェヅチング液を使用したゥエツ トエッチングが適用できる。 以上で非親和性バンク層 1 2 1が形成される。 本実施形態では上記実施形態 1 のように非親和性バンク層をマスクとして親和性バンク層をエッチングするもの ではなく各上層を独立してエツチング可能なため、 親和性バンク層におけるバン ク形状と非親和性バンク層におけるバンク形状とを異ならせることが可能である c 例えば、 下層から上層にいくに従ってバンクの幅を狭くしていき、 階段形状ゃ擬 似的なテ一パ形状に形成することができる。 このようにバンクを形成すれば、 薄 膜層となる薄膜材料液の充填が容易とすることができ、 またバンクを乗り越えて 配線パターンを形成する場合にその配線の断線を防止することができる。 このバ ンク下層の形状を適当なものに選ぶことにより、 薄膜層を好適に設けることがで きるようになる。 以上の工程 (第 5図 A〜Fを必要な積層回数 (例えば n回) 繰 り返して、 バンク 1 1 0が第 5図 Gのように形成される。
表面処理工程および薄膜層形成工程については上記実施形態 1と同様なので説 明を省略する。
上記したように本実施形態 2によれば、 実施形態 1と同様の効果を奏する他、 バンクの各層の形状を異ならせることができるので、 適用デバイスに応じて最適 な薄膜層の形状を設定できる。
(実施例)
上記実施形態を適用した実施例の層構造を示す。
第 6図は本発明をカラーフィル夕に適用した実施例の層構造断面図である。 第 6図に示すように、 本カラーフィル夕は、 基板 2 0 0に仕切部材 2 1 0を例えば 平面からみて格子状に形成し、 仕切部材 2 1 0で囲まれる画素領域 2 0 1に着色 樹脂 2 3 1〜2 3 3を充填して構成されている。 基板 2 0 0は本発明のバンク形 成面に相当し、 着色樹脂と密着性がよい透明な材料、 ガラスや石英、 樹脂等で構 成されている。 仕切部材 2 1 0は本発明のバンクに相当し、 親和性バンク層とし て樹脂層 (または無機絶縁膜層) 2 1 1、 非親和性バンク層としてブラックマト リクス層 2 2 1が形成されている。 樹脂層 (または絶縁膜層) 2 1 1は樹脂をバ ンク形状に整形して構成される。 ブラックマトリクス層 2 2 1は無機材料や力一 ボンを含有した有機絶縁材料を塗布して構成されている。着色樹脂層 2 3 1 (赤)、 232 (緑)、 233 (青) は本発明の薄膜層に相当し、 画素領域 201ごとに 赤、 緑、 青等の原色の染料を混ぜた樹脂を充填して構成されている。
上記構成によれば、 樹脂層 (または絶縁膜層) 2 1 1が着色樹脂と親和性があ るように表面処理されブラックマトリクス層 22 1が着色樹脂と非親和性を示す ように表面加工されている。 このためインクジェッ ト方式により着色樹脂を充填 し加熱処理すると着色樹脂層 23 1〜233が平坦に形成される。 このため、 明 るさや色にむらが生じない画像表示を行うことができる。
第 7図は本発明を表示装置の有機半導体発光素子に適用した実施例の層構造断 面図である。 第 7図に示すように、 本有機半導体発光素子は、 駆動基板 300に 透明電極 34 1さらにバンク 3 10を形成し、 バンク 3 10で囲まれた凹部 30 1に有機半導体層 33 1を形成して構成されている。 全体を覆って金属電極 35 1が形成されている。 駆動基板 300は TFT、 配線、 絶縁膜等が多層に積層さ れ、 透明電極 34 1と金属電極 35 1間に電圧を印加可能に構成されている。 透 明電極 34 1は I T 0等を 0. 05 /m〜0. 2〃 m程度積層して構成され、 有 機半導体層 33 1からの光および金属電極 35 1による反射光を透過可能に構成 されている。 バンク 3 10は下層 3 1 1と上層 32 1とにより構成されている。 下層 3 1 1は有機半導体材料に親和性のある無機材料で構成され、 CVD法ゃス パッ夕法または各種コート法等で形成される酸化シリコンゃ窒化シリコン等によ り構成される。 上層 32 1は有機半導体材料に非親和性を示す有機材料で構成さ れ、 ポリイミ ド、 アモルファスシリコン、 ポリシリコン、 フッ素を有する有機化 合物または絶縁有機化合物等により構成される。 有機半導体層 33 1は、 電界の 印加により発光する材料、 例えばポリフエ二レンビニレン (PPV) 等、 公知の 材料を 0. 05〃m〜0. 2〃m程度積層して構成される。 金属電極 35 1はァ ルミニゥムリチウム (Al— L i) を 0. l m〜 l . 0 /m程度積層して構成 される。
上記構成によれば、 下層 3 1 1が有機半導体層 33 1と親和性があるように表 面処理され上層 32 1が有機半導体層 33 1と非親和性を示すように表面加工さ れているので、 インクジエツ ト方式で有機半導体材料を充填し加熱処理すると、 有機半導体層 3 3 1が平坦に形成される。 このため、 明るさや色にむらや色抜け が生じない画像表示が行える。 また電極短絡を防止し、 表示装置全体の信頼性を 向上させ、 寿命を延ばすことができる。
第 8図は本発明を表示装置の有機半導体発光素子に適用した他の実施例の層構 造断面図である。 第 8図に示すように、 本有機半導体発光素子は、 駆動基板 4 0 0に透明電極 4 4 1さらにバンク 4 1 0を形成し、 バンク 4 1 0で囲まれた凹部 4 0 1に正孔輸送層 4 3 1、 有機半導体層 4 3 2を積層して構成されている。 全 体を覆って金属電極 4 5 1が形成されている。駆動基板 4 0 0、透明電極 4 4 1、 有機半導体層 4 3 2、 金属電極 4 5 1間に関しては上記第 7図の実施例と同様で ある。 バンク 4 1 0は親和性層 4 1 1、 4 1 2と非親和性層 4 2 1、 4 2 2とを 交互に積層して構成されている。 親和性層 4 1 1は正孔輸送材料や有機半導体材 料に親和性のある無機材料で構成され、 C V D法やスパッ夕法または各種コ一ト 法等で形成される酸化シリコンゃ窒化シリコン等により構成される。 非親和性層 4 2 1は有機半導体材料に非親和性を示す有機材料で構成され、 ポリイミ ドまた はアモルファスシリコン、 ポリシリコン、 フッ素を有する有機化合物または絶縁 有機化合物等により構成される。 正孔輸送層 4 3 1は正孔を陽極である透明電極 4 4 1から有機半導体層 4 3 2まで運ぶことが可能な材料、 例えば正孔供給元素 を混入させた I T Oにより構成されている。
上記構成によれば、 親和性層 4 1 1が正孔輸送層 4 3 1と親和性があるように 表面処理され、 親和性層 4 1 2が有機半導体層 4 3 2と親和性があるように表面 処理されている。 また非親和性層 4 2 1が正孔輸送層 4 3 1や有機半導体層 4 3 2と非親和性を示すように表面加工されている。 正孔輸送層 4 3 1および有機半 導体層 4 3 2をインクジエツ ト方式により充填し加熱処理すると、 それそれが平 坦に形成される。 このため明るさや色にむらや色抜けが生じない画像表示が行え る。 また電極短絡を防止し、 表示装置全体の信頼性を向上させ、 寿命を延ばすこ とができる。 なおカラーフィル夕や有機電界発光素子の構造は上記に限らず種々に変更可能 である。 例えば有機電界発光素子ではさらに電子輸送層や他の有機半導体層を積 層させてもよい。
(その他の変形例)
本発明は上記実施形態に限定されることはなく、 本発明の趣旨の範囲で種々に 変更して適用することが可能である。
例えば、 親和性材料や非親和性材料およびそれらを用いたバンクの形成方法は 上記によらず種々に変形可能である。 本発明の主旨は親和性の程度の異なる層を 交互に配置することにより、 薄膜層を歪み無く形成する点にあるからである。 具 体的には、 厚膜化が可能なバンク形成用の材料でバンクを形成する他、 親和性を 示す材料や非親和性を示す材料をバンク表面に塗布することで本発明のバンクを 形成してもよい。 一例として、 ジエチレングリコールメチルェチルェ一テル (C 2H5OCH2CH2CH2OCH2CH2OCH3) や 2—パーフルォロォクチルェ チルァクリレート (FCF2) 8CH2CH2OOOCH = CH2) は、 それ自体 で極性基分子を有する薄膜材料液に対して非親和性を示す。
上記表面処理はプラズマ処理に限られるものではなく、 第 4図に示すように同 一の表面処理条件下で異なる親和性に加工できる表面処理方法であれば適用が可 能である。本発明の主旨は表面加工により親和性を調整する点にあるからである。 したがって親和性を設定する材料は無機材料と有機材料との間に限られるもので はなく、 特定の材料間において第 4図に示す親和性の特性を示すものであれば、 その特定材料間において本発明の表面処理を適用可能である。
また上記バンクは親和性のある材料と非親和性を示す材料を積層するにと留ま らない。 例えば、 本発明の構成は、 単一の部材で構成した後、 薄膜材料液に対し 親和性を示す領域と非親和性を示す領域とが交互になるように形成することでも 達成できる。 例えばバンク材料を親和性材料で構成し、 縞状に非親和性材料を塗 布することが考えられる。 非親和性材料には上記具体例の他、 パラフィ ン等が挙 げられる。 またバンク材料を非親和性材料で構成し縞状に紫外線照射して親和性 のある領域を作ったり、 縞状に脱チャージして電荷を利用して親和性材料を塗布 したりが考えられる。 さらにバンク材料全体に金属薄膜を形成し、 親和性のある 置換基を持った硫黄化合物と非親和性を示す置換基を持った硫黄化合物とに下層 から順に浸漬していけば、 単分子集合化膜により縞状に親和性領域と非親和性領 域が形成できる。 産業上の利用可能性
本発明の薄膜形成方法によれば、 異なる材料でバンクを積層することで、 形成 される薄膜層を歪み無く形成することができる。 これによりデバイスの性能や信 頼性を大幅に向上させることができる。
また本発明の薄膜形成方法によれば、表面処理を一定条件下で行うことにより、 親和性制御のために多数の工程を経ることなく薄膜を多層化可能に親和性を制御 することができる。 これにより、 親和性制御に要するコストを削減し、 均一な膜 厚で薄膜の多層化を可能とすることができる。
本発明の表示装置によれば、 多層化を可能とする薄膜形成方法によって多層化 されているので、 均一な厚みの薄膜層を積層可能である。 これにより、 明るさや 色にむらや色抜けが生じない画像表示が行える。 また電極短絡を防止し、 信頼性 を向上させ、 寿命を延ばすことができる。
本発明のカラーフィル夕によれば、 多層化を可能とする薄膜形成方法によって 多層化されているので、 均一な厚みの薄膜層を積層可能である。 これにより、 明 るさや色にむらが生じない画像表示を行うことができる。

Claims

請求の範囲
1 . バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填して薄膜層を形成する薄膜 形成方法であって、
バンク形成面に前記バンクを形成する工程と、
前記バンクに前記薄膜材料液を充填する工程と、 を備え、
前記バンクを形成する工程は、 前記薄膜材料液に対し親和性を示す材料で親和 性バンク層を形成する工程と、 前記親和性バンク層上に前記薄膜材料液に対し非 親和性を示す材料で非親和性バンク層を形成する工程と、 を一回以上繰り返すこ とにより、 親和性バンク層と非親和性バンク層とが交互に積層された前記バンク を形成するものであることを特徴とする薄膜形成方法。
2 . 前記バンクを形成する工程の後に、 前記バンクおよびバンク形成面に 対して所定の表面処理を行う工程をさらに備える請求の範囲第 1項に記載の薄膜 形成方法。
3 . 前記表面処理を行う工程は、 前記非親和性バンク層が前記親和性バン ク層に比べて前記薄膜材料液に対する非親和性の程度がより高くなるような一定 条件下で表面処理を行う請求の範囲第 2項に記載の薄膜形成方法。
4 . 前記表面処理を行う工程は、 さらに前記親和性バンク層の前記薄膜材 料液に対する親和性が前記バンクで囲まれる領域の前記薄膜材料液に対する親和 性以下になるような一定条件下で表面処理を行う請求の範囲第 3項に記載の薄膜 形成方法。
5 . 前記表面処理は、 導入ガスにフッ素またはフッ素化合物を含んだガス を使用し、 酸素が含まれた雰囲気下でプラズマ照射をするプラズマ処理である請 求の範囲第 2項に記載の薄膜形成方法。
6 . 前記一定条件は、 フッ素系化合物が酸素よりも多いことを条件とする 請求の範囲第 3項に記載の薄膜形成方法。
7 . 前記一定条件は、 フッ素系化合物および酸素の総量に対するフッ素系 化合物の含有量が 6 0 %以上に設定されている請求の範囲第 6項に記載の薄膜形 成方法。
8 . 前記フッ素を含んだガスは C F 4、 S F e s C H F 3等のハロゲンガス を用いる請求の範囲第 5項に記載の薄膜形成方法。
9 . 前記親和性バンク層表面が前記薄膜材料液に対し接触角が 3 0度以下 になるように前記表面処理される請求の範囲第 2項に記載の薄膜形成方法。
1 0 . 前記非親和性バンク層表面が前記薄膜材料液に対し接触角が 4 0度 以上になるように前記表面処理される請求の範囲第 2項に記載の薄膜形成方法。
1 1 . 前記バンクを形成する工程では、 前記親和性材料で親和性膜を形成 する親和性バンク層形成工程と、 前記親和性バンク層上で前記バンクの形成領域 に合わせて非親和性材料で非親和性バンク層を形成する非親和性バンク層形成ェ 程と、 前記非親和性バンク層をマスクとして当該非親和性バンク層が設けられて いない領域の前記親和性バンク層をエッチングして除去する除去工程と、 により 一組の親和性バンク層および非親和性バンク層を形成する請求の範囲第 1項に記 載の薄膜形成方法。
1 2 . 前記バンクを形成する工程は、 前記親和性材料で親和性バンク層を 形成する工程と、 当該親和性バンク層を前記バンク下層の形成領域に合わせてェ ツチングする工程と、 前記親和性バンク層を覆って非親和性材料で非親和性バン ク層を形成する工程と、 当該非親和性バンク層を前記バンク上層の形成領域に合 わせてエッチングする工程と、 により一組の非親和性バンク層および非親和性バ ンク層を形成する請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
1 3 . 前記非親和性バンク層を感光性材料で形成する請求の範囲第 1 1項 または第 1 2項のいずれか項に記載の薄膜形成方法。
1 4 . 前記親和性材料は無機材料であり前記非親和性材料は有機材料であ る請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
1 5 . 前記非親和性材料は、 ポリイ ミ ド、 アモルファスシリコン、 ポリシ リコン、 フッ素を有する有機化合物または絶縁有機化合物のいずれかである請求 の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
1 6 . 前記親和性材料は、 A l、 T a等の金属、 シリコン酸化膜またはシ リコン窒化膜のいずれかである請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
1 7 . 前記薄膜層は、 その最下層の薄膜層が前記バンクの最下層の親和性 バンク層と略同等の厚みに設定されている請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方 法。
1 8 . 前記薄膜層は、 その最下層より上に積層される各薄膜層が前記バン クの対応する高さに積層されている親和性バンク層と非親和性バンク層のそれそ れの厚みの合計と略同等の厚みに設定されている請求の範囲第 1項に記載の薄膜 形成方法。
1 9 . 最上層にある前記非親和性バンク層の厚みは 5 0 0 n m以下に設定 され、 それ以外の前記非親和性バンク層の厚みは 1 0 0 n m以下に設定されてい る請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
2 0 . 前記非親和性バンク層を形成する工程および前記親和性バンク層を 形成する工程は、 溶剤に溶かされた所定の材料を塗布してそれそれのバンク層を 形成するものであり、 前記親和性バンク層の材料を溶かしていた溶剤が除去され る前に前記非親和性バンク層の材料を塗布することにより前記非親和性バンク層 を形成する請求の範囲第 1項に記載の薄膜形成方法。
2 1 . バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填して形成された薄膜層を 積層して構成される表示装置であって、
前記バンクは、 前記薄膜材料液に対し親和性を示す親和性バンク層と、 前記薄 膜材料液に対し非親和性を示す非親和性バンク層とが交互に積層され、
前記バンクで囲まれる領域には I T〇等からなる画素電極が設けられ、 薄膜発 光素子を形成するための有機半導体材料により前記薄膜層が形成されていること を特徴とする表示装置。
2 2 . 前記親和性バンク層または/および前記非親和性バンク層は、 それ ぞれ親和性または非親和性を示すように表面処理されたものである請求の範囲第 2 1項に記載の表示装置。
2 3 . バンクで囲まれた領域に薄膜材料液を充填して形成された薄膜層を 積層して構成されるカラーフィル夕であって、
前記バンクは、 前記薄膜材料液に対し親和性を示す親和性バンク層と、 前記薄 膜材料液に対し非親和性を示す非親和性バンク層とが交互に積層され、
バンク形成面は透明基板で形成され、 前記バンクは画素領域を仕切る仕切部材 であって、 前記画素に色彩を付与するための着色樹脂材料により前記薄膜層が形 成されていることを特徴とするカラーフィル夕。
2 4 . 前記親和性バンク層または/および前記非親和性バンク層は、 それ それ親和性または非親和性を示すように表面処理されたものである請求の範囲第 2 3項に記載のカラ一フィル夕。
PCT/JP1999/001289 1998-03-18 1999-03-16 Procede de formation de film mince, affichage, et filtre colore WO1999048338A1 (fr)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP99907949A EP0993235B1 (en) 1998-03-18 1999-03-16 Thin film forming method, display and color filter
DE1999627225 DE69927225T2 (de) 1998-03-18 1999-03-16 Verfahren zur herstellung einer dünnen schicht, anzeigevorrichtung und farbfilter
US09/424,044 US6476988B1 (en) 1998-03-18 1999-03-16 Thin film forming method, display, and color filter
KR1019997010675A KR100773044B1 (ko) 1998-03-18 1999-03-16 박막형성방법, 표시장치와 칼라 필터
US10/830,078 US6967352B2 (en) 1998-03-18 2004-04-23 Thin film formation method, display, and color filter

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06914698A JP3646510B2 (ja) 1998-03-18 1998-03-18 薄膜形成方法、表示装置およびカラーフィルタ
JP10/69146 1998-03-18

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
US09/424,044 A-371-Of-International US6476988B1 (en) 1998-03-18 1999-03-16 Thin film forming method, display, and color filter
US10/247,583 Division US6755983B2 (en) 1998-03-18 2002-09-20 Thin film formation method, display, and color filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO1999048338A1 true WO1999048338A1 (fr) 1999-09-23
WO1999048338A8 WO1999048338A8 (fr) 1999-12-02

Family

ID=13394238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP1999/001289 WO1999048338A1 (fr) 1998-03-18 1999-03-16 Procede de formation de film mince, affichage, et filtre colore

Country Status (7)

Country Link
US (3) US6476988B1 (ja)
EP (2) EP0993235B1 (ja)
JP (1) JP3646510B2 (ja)
KR (2) KR100773044B1 (ja)
DE (2) DE69937316T2 (ja)
TW (1) TW468075B (ja)
WO (1) WO1999048338A1 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0978737A1 (en) * 1998-02-18 2000-02-09 Seiko Epson Corporation Method of fabricating distributed reflection multilayer mirror
WO2004008813A1 (ja) * 2002-07-10 2004-01-22 Kabushiki Kaisha Toshiba 有機el素子及び有機elディスプレイ
US6720198B2 (en) 2001-02-19 2004-04-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof
US6893887B2 (en) 2001-01-18 2005-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process for producing a light emitting device
US7037157B2 (en) 2002-07-25 2006-05-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating light emitting device
US7264979B2 (en) 2001-02-19 2007-09-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing light emitting device
US7291970B2 (en) 2002-09-11 2007-11-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting apparatus with improved bank structure
CN100433406C (zh) * 2001-07-04 2008-11-12 精工爱普生株式会社 电致发光基板的制造方法及制造装置与电子装置
US7833612B2 (en) * 2003-09-12 2010-11-16 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Substrate for inkjet printing and method of manufacturing the same
WO2010144058A1 (en) 2009-06-10 2010-12-16 Temasek Life Sciences Laboratory Limited Virus induced gene silencing (vigs) for functional analysis of genes in cotton.
WO2012106321A1 (en) 2011-02-01 2012-08-09 Colorado Wheat Research Foundation, Inc. Acetyl co-enzyme a carboxylase herbicide resistant plants
KR101431408B1 (ko) 2005-08-23 2014-08-18 캠브리지 디스플레이 테크놀로지 리미티드 유기 전자 디바이스 구조체, oled 디스플레이 디바이스, 유기 전자 디바이스 제조 방법, 액적 증착 웰 형성 방법 및 유기 전자 디바이스
WO2016064347A1 (en) 2014-10-22 2016-04-28 Temasek Life Sciences Laboratory Limited Terpene synthases from ylang ylang (cananga odorata var. fruticosa)

Families Citing this family (127)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100477153B1 (ko) * 1996-09-19 2005-08-01 세이코 엡슨 가부시키가이샤 El장치,el장치의제조방법,매트릭스형el장치,매트릭스형el장치의제조방법
CN100530758C (zh) * 1998-03-17 2009-08-19 精工爱普生株式会社 薄膜构图的衬底及其表面处理
JP4200553B2 (ja) * 1998-08-28 2008-12-24 コニカミノルタホールディングス株式会社 インクジェット方式によるカラーフィルターの作製方法及びカラーフィルター
JP2001126867A (ja) * 1999-10-26 2001-05-11 Seiko Epson Corp 表示装置の製造方法
JP2001166301A (ja) * 1999-12-06 2001-06-22 Seiko Epson Corp バックライト内蔵型液晶表示装置及びその製造方法
TW494447B (en) 2000-02-01 2002-07-11 Semiconductor Energy Lab Semiconductor device and manufacturing method thereof
TW495812B (en) 2000-03-06 2002-07-21 Semiconductor Energy Lab Thin film forming device, method of forming a thin film, and self-light-emitting device
JP5114952B2 (ja) * 2000-03-31 2013-01-09 セイコーエプソン株式会社 エレクトロルミネッセンス素子、及びエレクトロルミネッセンス素子の製造方法
JP2002237383A (ja) * 2000-03-31 2002-08-23 Seiko Epson Corp 有機el素子の製造方法、有機el素子
US7015990B2 (en) * 2000-04-24 2006-03-21 Nitto Denko Corporation Liquid crystal display including O-type and E-type polarizer
US7579203B2 (en) 2000-04-25 2009-08-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US6692845B2 (en) 2000-05-12 2004-02-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US6677243B2 (en) * 2000-06-02 2004-01-13 Canon Kabushiki Kaisha Method of manufacturing optical element
TW522752B (en) 2000-10-20 2003-03-01 Toshiba Corp Self-luminous display panel and method of manufacturing the same
JP4127608B2 (ja) * 2000-10-20 2008-07-30 東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社 自己発光表示パネル
JP2002221616A (ja) 2000-11-21 2002-08-09 Seiko Epson Corp カラーフィルタの製造方法及び製造装置、液晶装置の製造方法及び製造装置、el装置の製造方法及び製造装置、インクジェットヘッドの制御装置、材料の吐出方法及び材料の吐出装置、並びに電子機器
JP3628997B2 (ja) 2000-11-27 2005-03-16 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
JP3876684B2 (ja) 2000-12-21 2007-02-07 セイコーエプソン株式会社 カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタの製造装置、液晶装置の製造方法、液晶装置の製造装置、el装置の製造方法、el装置の製造装置、材料の吐出方法、ヘッドの制御装置、電子機器
JP4612773B2 (ja) * 2001-01-10 2011-01-12 キヤノン株式会社 光学素子の製造方法
KR100507963B1 (ko) 2001-06-01 2005-08-18 세이코 엡슨 가부시키가이샤 컬러 필터 및 전기 광학 장치
CN100380202C (zh) * 2001-06-01 2008-04-09 精工爱普生株式会社 滤色片及电光学装置
JP2003022892A (ja) * 2001-07-06 2003-01-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光装置の製造方法
US7042024B2 (en) 2001-11-09 2006-05-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting apparatus and method for manufacturing the same
US6903377B2 (en) * 2001-11-09 2005-06-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting apparatus and method for manufacturing the same
JP3705264B2 (ja) * 2001-12-18 2005-10-12 セイコーエプソン株式会社 表示装置及び電子機器
KR100834344B1 (ko) * 2001-12-29 2008-06-02 엘지디스플레이 주식회사 능동행렬 유기전기발광소자 및 그의 제조 방법
SG126714A1 (en) 2002-01-24 2006-11-29 Semiconductor Energy Lab Light emitting device and method of manufacturing the same
KR100426680B1 (ko) * 2002-02-26 2004-04-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 잉크젯 프린팅 방식 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법
EP1343206B1 (en) 2002-03-07 2016-10-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting apparatus, electronic apparatus, illuminating device and method of fabricating the light emitting apparatus
JP2003273111A (ja) 2002-03-14 2003-09-26 Seiko Epson Corp 成膜方法及びその方法を用いて製造したデバイス、並びにデバイスの製造方法
WO2003100860A2 (en) * 2002-05-27 2003-12-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of providing a substrate surface with a patterned layer
KR100437533B1 (ko) * 2002-05-29 2004-06-30 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액티브 매트릭스형 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법
JP3974023B2 (ja) * 2002-06-27 2007-09-12 富士通株式会社 半導体装置の製造方法
JP2004071432A (ja) * 2002-08-08 2004-03-04 Dainippon Printing Co Ltd パターン形成体およびその製造方法
JP2006502539A (ja) * 2002-10-07 2006-01-19 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 発光ディスプレイの製造方法
KR100491146B1 (ko) * 2002-11-04 2005-05-24 삼성에스디아이 주식회사 유기전계 발광표시장치 및 그의 제조방법
JP4378950B2 (ja) 2002-12-24 2009-12-09 セイコーエプソン株式会社 液滴吐出装置および電気光学装置の製造方法
JP2004311406A (ja) * 2003-03-26 2004-11-04 Seiko Epson Corp 電子放出素子とその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器
WO2004087792A2 (en) * 2003-04-01 2004-10-14 Rand Afrikaans University Surface oxyfluorinated polymide, substrates coated therewith and composite material incorporating it
JP2004363560A (ja) * 2003-05-09 2004-12-24 Seiko Epson Corp 基板、デバイス、デバイス製造方法、アクティブマトリクス基板の製造方法及び電気光学装置並びに電子機器
JP3823981B2 (ja) * 2003-05-12 2006-09-20 セイコーエプソン株式会社 パターンと配線パターン形成方法、デバイスとその製造方法、電気光学装置、電子機器及びアクティブマトリクス基板の製造方法
KR100585094B1 (ko) * 2003-06-26 2006-05-30 삼성전자주식회사 멀티미디어 시스템에서의 효율적인 데이터 저장/재생 방법및 장치
SG142140A1 (en) 2003-06-27 2008-05-28 Semiconductor Energy Lab Display device and method of manufacturing thereof
US7601386B2 (en) 2003-07-11 2009-10-13 Seiko Epson Corporation Process for forming a film, process for manufacturing a device, electro-optical device and electronic equipment
JP2005071646A (ja) * 2003-08-28 2005-03-17 Chi Mei Electronics Corp 有機elディスプレイおよびその製造方法
JP4741177B2 (ja) 2003-08-29 2011-08-03 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
US7928654B2 (en) 2003-08-29 2011-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing the same
CN100499035C (zh) 2003-10-03 2009-06-10 株式会社半导体能源研究所 半导体器件的制造方法
US7314785B2 (en) 2003-10-24 2008-01-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and manufacturing method thereof
JP3915806B2 (ja) 2003-11-11 2007-05-16 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
US7286120B2 (en) * 2003-11-12 2007-10-23 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Large area display and method of manufacturing same
JP4352880B2 (ja) * 2003-12-02 2009-10-28 セイコーエプソン株式会社 洗浄方法および洗浄装置
US7619258B2 (en) * 2004-03-16 2009-11-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP4736340B2 (ja) * 2004-03-31 2011-07-27 大日本印刷株式会社 有機半導体構造物、その製造方法及び有機半導体装置
WO2005116736A1 (en) * 2004-05-28 2005-12-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of forming a film for a colour filter of a transflective liquid crystal display
JP4175298B2 (ja) * 2004-07-07 2008-11-05 セイコーエプソン株式会社 カラーフィルタとその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器
ATE465521T1 (de) 2004-07-29 2010-05-15 Konarka Technologies Inc Verfahren zur beschichtung von nanostrukturierte elektroden
US6992326B1 (en) 2004-08-03 2006-01-31 Dupont Displays, Inc. Electronic device and process for forming same
JP2006154354A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Seiko Epson Corp カラーフィルタの形成方法
JP4731159B2 (ja) * 2004-12-06 2011-07-20 シャープ株式会社 表示装置用基板
KR20070111466A (ko) * 2004-12-30 2007-11-21 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 전자 장치용 격납 구조체
US7166860B2 (en) * 2004-12-30 2007-01-23 E. I. Du Pont De Nemours And Company Electronic device and process for forming same
TWI356736B (en) * 2004-12-30 2012-01-21 Du Pont Containment structure for an electronic device
WO2006073926A1 (en) * 2004-12-30 2006-07-13 E.I. Dupont De Nemours And Company Containment structure and method
JP4337744B2 (ja) 2005-02-04 2009-09-30 セイコーエプソン株式会社 膜パターンの形成方法、アクティブマトリクス基板の製造方法
CN100439986C (zh) * 2005-02-23 2008-12-03 精工爱普生株式会社 膜图案的形成方法和器件的制法、电光学装置和电子仪器
KR101112534B1 (ko) 2005-03-04 2012-03-13 삼성전자주식회사 유기 발광 표시 소자 및 그 제조 방법
KR20060104531A (ko) * 2005-03-30 2006-10-09 삼성에스디아이 주식회사 발광표시장치의 제조방법
US20060228828A1 (en) * 2005-04-11 2006-10-12 Miller Seth A Versatile system for selective organic structure production
JP2006326541A (ja) 2005-05-30 2006-12-07 Seiko Epson Corp 液滴吐出方法、ヘッドユニット、液滴吐出装置、電気光学装置及び電子機器
WO2006134090A1 (de) * 2005-06-16 2006-12-21 Siemens Aktiengesellschaft Organischer zeilendetektor und verfahren zu seiner herstellung
KR20070013132A (ko) 2005-07-25 2007-01-30 삼성전자주식회사 박막트랜지스터 기판과 박막트랜지스터 기판의 제조방법
WO2007013692A1 (en) * 2005-07-29 2007-02-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Organic electroluminescence element, exposure device and image forming apparatus
DE112006002220B4 (de) 2005-08-23 2018-05-24 Cambridge Display Technology Ltd. Organische elektronische Vorrichtungsstrukturen und Herstellungsverfahren
US20070077349A1 (en) * 2005-09-30 2007-04-05 Eastman Kodak Company Patterning OLED device electrodes and optical material
KR100746163B1 (ko) * 2006-02-06 2007-08-06 삼성전자주식회사 디스플레이장치 및 그 제조방법
JP2007227275A (ja) * 2006-02-27 2007-09-06 Hitachi Displays Ltd 有機発光表示装置
KR100782458B1 (ko) 2006-03-27 2007-12-05 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광표시장치 및 그 제조방법
TWI277520B (en) * 2006-04-07 2007-04-01 Icf Technology Co Ltd Thin film pattern layer structure and method of manufacturing the same
KR101187205B1 (ko) * 2006-06-09 2012-10-02 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
JP4932406B2 (ja) * 2006-09-20 2012-05-16 富士フイルム株式会社 撥インク性隔壁及びその製造方法、カラーフィルタ及びその製造方法、並びに表示装置
JP2008153159A (ja) 2006-12-20 2008-07-03 Dainippon Printing Co Ltd 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法
JP2008176009A (ja) 2007-01-18 2008-07-31 Seiko Epson Corp パターン形成方法
US9164037B2 (en) * 2007-01-26 2015-10-20 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system for evaluation of signals received from spatially modulated excitation and emission to accurately determine particle positions and distances
US8821799B2 (en) 2007-01-26 2014-09-02 Palo Alto Research Center Incorporated Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity
KR101452370B1 (ko) * 2007-04-25 2014-10-21 세이코 엡슨 가부시키가이샤 유기 el 장치
US7879390B2 (en) * 2007-05-30 2011-02-01 Palo Alto Research Center Incorporated Surface energy control methods for color filter printing
EP2141964B1 (en) * 2007-05-31 2011-09-07 Panasonic Corporation Organic EL element and manufacturing method thereof
US8197834B2 (en) * 2007-09-28 2012-06-12 Metbro Distributing L.P. Solid formulations of hydrogen cyanamide for agricultural applications
WO2009075075A1 (ja) * 2007-12-10 2009-06-18 Panasonic Corporation 有機elデバイスおよびelディスプレイパネル、ならびにそれらの製造方法
GB2455747B (en) * 2007-12-19 2011-02-09 Cambridge Display Tech Ltd Electronic devices and methods of making the same using solution processing techniques
JP4661864B2 (ja) * 2007-12-25 2011-03-30 セイコーエプソン株式会社 膜パターン形成方法及び発光装置の製造方法
US8373860B2 (en) 2008-02-01 2013-02-12 Palo Alto Research Center Incorporated Transmitting/reflecting emanating light with time variation
US8629981B2 (en) 2008-02-01 2014-01-14 Palo Alto Research Center Incorporated Analyzers with time variation based on color-coded spatial modulation
US8130177B2 (en) * 2008-03-13 2012-03-06 Panasonic Corporation Organic EL display panel and manufacturing method thereof
KR101652915B1 (ko) 2009-11-09 2016-09-01 삼성디스플레이 주식회사 그라비아 인쇄 방법
JP5343815B2 (ja) 2009-11-11 2013-11-13 セイコーエプソン株式会社 有機el素子、有機el素子の製造方法、有機el装置、電子機器
WO2011143127A2 (en) * 2010-05-13 2011-11-17 Sri International Cavity electroluminescent devices with integrated microlenses
JP5609430B2 (ja) * 2010-08-25 2014-10-22 ソニー株式会社 有機el表示装置および電子機器
KR101826069B1 (ko) 2010-10-26 2018-03-23 삼성디스플레이 주식회사 유기발광표시장치 및 그 제조방법
DE112011104636B4 (de) 2010-12-28 2023-12-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Licht abstrahlende Baugruppe, Licht abstrahlende Vorrichtung, Beleuchtungsvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Licht abstrahlenden Baugruppe
JP5741274B2 (ja) * 2011-07-22 2015-07-01 セイコーエプソン株式会社 有機el装置及び電子機器
US9029800B2 (en) 2011-08-09 2015-05-12 Palo Alto Research Center Incorporated Compact analyzer with spatial modulation and multiple intensity modulated excitation sources
US8723140B2 (en) 2011-08-09 2014-05-13 Palo Alto Research Center Incorporated Particle analyzer with spatial modulation and long lifetime bioprobes
JP5891952B2 (ja) * 2012-05-29 2016-03-23 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置の製造方法
KR20140081314A (ko) * 2012-12-21 2014-07-01 삼성디스플레이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
CN103337594B (zh) * 2013-05-30 2016-02-10 京东方科技集团股份有限公司 一种oled基板和显示装置
KR102377490B1 (ko) * 2015-03-24 2022-03-22 삼성디스플레이 주식회사 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
CN104897961B (zh) * 2015-06-17 2018-01-26 中南民族大学 基于互乘法窗函数的三谱线插值fft谐波分析方法及系统
KR102360093B1 (ko) * 2015-07-22 2022-02-09 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 제조 방법
KR20180077439A (ko) 2016-12-29 2018-07-09 엘지디스플레이 주식회사 전계 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102525822B1 (ko) 2017-07-06 2023-04-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 소자 및 그 제조 방법
CN110832954B (zh) * 2017-07-14 2023-04-04 索尼半导体解决方案公司 显示装置和电子设备
CN109698215A (zh) * 2017-10-23 2019-04-30 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制备方法、显示装置
KR102486552B1 (ko) 2018-01-15 2023-01-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 제조 방법
CN108321175B (zh) * 2018-01-31 2021-02-12 京东方科技集团股份有限公司 基板及其制造方法、显示装置
EP3570329B1 (en) 2018-05-14 2022-12-14 Samsung Display Co., Ltd. Display device
KR20200097379A (ko) 2019-02-07 2020-08-19 삼성디스플레이 주식회사 표시패널 및 그 제조방법
JP2021044479A (ja) * 2019-09-13 2021-03-18 株式会社Joled 表示パネル及びその製造方法
US11296296B2 (en) 2019-11-06 2022-04-05 Applied Materials, Inc. Organic light-emtting diode light extraction layer having graded index of refraction
US11121345B2 (en) 2019-11-26 2021-09-14 Applied Materials, Inc. Structures and methods of OLED display fabrication suited for deposition of light enhancing layer
CN115104194A (zh) 2020-01-22 2022-09-23 应用材料公司 带有镜的有机发光二极管(oled)显示装置及其制造方法
JP2023540317A (ja) 2020-09-04 2023-09-22 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 無機ピクセル封入バリアを有するoledパネルを製造する方法
CN117981494A (zh) 2021-08-04 2024-05-03 应用材料公司 在先进基板图案化中降低抗蚀刻性
US11610954B1 (en) 2022-02-14 2023-03-21 Applied Materials, Inc. OLED panel with advanced sub-pixel overhangs
WO2023220152A1 (en) 2022-05-12 2023-11-16 Applied Materials, Inc. High resolution advanced oled sub-pixel circuit and patterning method
US11527732B1 (en) 2022-05-31 2022-12-13 Applied Materials, Inc. OLED anode structures including amorphous transparent conducting oxides and OLED processing method comprising the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05347188A (ja) * 1991-08-08 1993-12-27 Denki Kagaku Kogyo Kk 電界発光素子
JPH07234314A (ja) * 1994-02-22 1995-09-05 Dainippon Printing Co Ltd ブラックマトリックス基板およびその製造方法
JPH09127327A (ja) * 1995-11-02 1997-05-16 Asahi Glass Co Ltd カラーフィルタの製造方法及びそれを用いた液晶表示素子
JPH09230129A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Asahi Glass Co Ltd カラーフィルタの製造方法及びそれを用いた液晶表示素子
JPH09258208A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Sharp Corp カラーフィルター基板及びその製造方法並びにそれを用いた液晶表示装置
JPH10153967A (ja) * 1996-11-25 1998-06-09 Seiko Epson Corp フルカラー有機el表示装置およびその製造方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2986796B2 (ja) * 1988-08-08 1999-12-06 株式会社東芝 着色フィルター及び陰極線管
US5218268A (en) * 1989-10-31 1993-06-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Optical filter for cathode ray tube
US5360630A (en) * 1990-06-04 1994-11-01 Itt Corporation Thin film intagliated phosphor screen structure
JP3297929B2 (ja) * 1992-03-25 2002-07-02 ソニー株式会社 陰極線管の蛍光面の形成方法
JPH06267439A (ja) * 1992-08-21 1994-09-22 Du Pont Kk プラズマディスプレイ装置およびその製造方法
JP3312634B2 (ja) 1993-07-08 2002-08-12 旭化成株式会社 キレート型イオン吸着膜および製造方法
US5606462A (en) * 1993-07-12 1997-02-25 Futaba Denshi Kogyo K.K. Color filter and fluorescent display device having color filters incorporated therein
US5435887A (en) * 1993-11-03 1995-07-25 Massachusetts Institute Of Technology Methods for the fabrication of microstructure arrays
JPH07134288A (ja) * 1993-11-10 1995-05-23 Dainippon Printing Co Ltd 液晶光学素子及びその製造方法
EP0665449B1 (en) * 1994-01-28 2001-10-24 Canon Kabushiki Kaisha Color filter, production process thereof, and liquid crystal panel
JPH09203803A (ja) 1996-01-25 1997-08-05 Asahi Glass Co Ltd カラーフィルタの製造方法及びそれを用いた液晶表示素子
JP3996979B2 (ja) * 1996-08-08 2007-10-24 キヤノン株式会社 カラーフィルターの製造方法、カラーフィルター及び液晶表示装置
CN100517424C (zh) * 1997-08-21 2009-07-22 精工爱普生株式会社 显示装置
CN100530758C (zh) 1998-03-17 2009-08-19 精工爱普生株式会社 薄膜构图的衬底及其表面处理

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05347188A (ja) * 1991-08-08 1993-12-27 Denki Kagaku Kogyo Kk 電界発光素子
JPH07234314A (ja) * 1994-02-22 1995-09-05 Dainippon Printing Co Ltd ブラックマトリックス基板およびその製造方法
JPH09127327A (ja) * 1995-11-02 1997-05-16 Asahi Glass Co Ltd カラーフィルタの製造方法及びそれを用いた液晶表示素子
JPH09230129A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Asahi Glass Co Ltd カラーフィルタの製造方法及びそれを用いた液晶表示素子
JPH09258208A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Sharp Corp カラーフィルター基板及びその製造方法並びにそれを用いた液晶表示装置
JPH10153967A (ja) * 1996-11-25 1998-06-09 Seiko Epson Corp フルカラー有機el表示装置およびその製造方法

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0978737A4 (en) * 1998-02-18 2000-04-05 Seiko Epson Corp METHOD FOR PRODUCING A DISTRIBUTED REFLECTION MULTI-LAYER MIRROR
US6337222B1 (en) 1998-02-18 2002-01-08 Seiko Epson Corporation Methods for fabricating distributed reflection multi-layer film mirrors
EP0978737A1 (en) * 1998-02-18 2000-02-09 Seiko Epson Corporation Method of fabricating distributed reflection multilayer mirror
US6893887B2 (en) 2001-01-18 2005-05-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process for producing a light emitting device
US7190114B2 (en) 2001-01-18 2007-03-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting display device with thin film transistor having organic and inorganic insulating films
US7264979B2 (en) 2001-02-19 2007-09-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing light emitting device
US6720198B2 (en) 2001-02-19 2004-04-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and manufacturing method thereof
US9768405B2 (en) 2001-02-19 2017-09-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
US7423293B2 (en) 2001-02-19 2008-09-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device
US9954196B2 (en) 2001-02-19 2018-04-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
CN100433406C (zh) * 2001-07-04 2008-11-12 精工爱普生株式会社 电致发光基板的制造方法及制造装置与电子装置
US6879099B2 (en) 2002-07-10 2005-04-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Organic EL element and organic EL display
WO2004008813A1 (ja) * 2002-07-10 2004-01-22 Kabushiki Kaisha Toshiba 有機el素子及び有機elディスプレイ
US7037157B2 (en) 2002-07-25 2006-05-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating light emitting device
US7303455B2 (en) 2002-07-25 2007-12-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of fabricating a light emitting device including a step for cleaning the surface of an anode layer during manufacture
US7291970B2 (en) 2002-09-11 2007-11-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting apparatus with improved bank structure
US7833612B2 (en) * 2003-09-12 2010-11-16 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Substrate for inkjet printing and method of manufacturing the same
KR101431408B1 (ko) 2005-08-23 2014-08-18 캠브리지 디스플레이 테크놀로지 리미티드 유기 전자 디바이스 구조체, oled 디스플레이 디바이스, 유기 전자 디바이스 제조 방법, 액적 증착 웰 형성 방법 및 유기 전자 디바이스
WO2010144058A1 (en) 2009-06-10 2010-12-16 Temasek Life Sciences Laboratory Limited Virus induced gene silencing (vigs) for functional analysis of genes in cotton.
WO2012106321A1 (en) 2011-02-01 2012-08-09 Colorado Wheat Research Foundation, Inc. Acetyl co-enzyme a carboxylase herbicide resistant plants
EP3682731A1 (en) 2011-02-01 2020-07-22 Colorado Wheat Research Foundation, Inc. Acetyl co-enzyme a carboxylase herbicide resistant plants
WO2016064347A1 (en) 2014-10-22 2016-04-28 Temasek Life Sciences Laboratory Limited Terpene synthases from ylang ylang (cananga odorata var. fruticosa)

Also Published As

Publication number Publication date
EP0993235A2 (en) 2000-04-12
US20040195205A1 (en) 2004-10-07
KR20060111715A (ko) 2006-10-27
KR100773044B1 (ko) 2007-11-02
US6755983B2 (en) 2004-06-29
US6476988B1 (en) 2002-11-05
WO1999048338A8 (fr) 1999-12-02
EP0993235B1 (en) 2005-09-14
TW468075B (en) 2001-12-11
JPH11271753A (ja) 1999-10-08
EP1566853A3 (en) 2006-01-18
DE69927225D1 (de) 2005-10-20
DE69937316T2 (de) 2008-07-10
DE69927225T2 (de) 2006-01-12
US6967352B2 (en) 2005-11-22
DE69937316D1 (de) 2007-11-22
EP1566853B1 (en) 2007-10-10
JP3646510B2 (ja) 2005-05-11
EP1566853A2 (en) 2005-08-24
EP0993235A4 (en) 2000-05-24
US20030076608A1 (en) 2003-04-24
KR100799962B1 (ko) 2008-01-31
KR20010012714A (ko) 2001-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3646510B2 (ja) 薄膜形成方法、表示装置およびカラーフィルタ
JP3692524B2 (ja) 薄膜パターニング用基板
JP3743630B2 (ja) 薄膜発光素子の製造方法
JP3951445B2 (ja) 有機el素子、表示装置、光学装置、有機el素子の製造方法、表示装置の製造方法、および光学装置の製造方法
JP3601716B2 (ja) 有機el装置の製造方法
JP2006163432A (ja) カラーフィルタ、表示装置、光学装置、カラーフィルタの製造方法、表示装置の製造方法、および光学装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1019997010675

Country of ref document: KR

Ref document number: 09424044

Country of ref document: US

AK Designated states

Kind code of ref document: C1

Designated state(s): KR US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: C1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

WR Later publication of a revised version of an international search report
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1999907949

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1999907949

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1019997010675

Country of ref document: KR

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 1999907949

Country of ref document: EP

WWR Wipo information: refused in national office

Ref document number: 1019997010675

Country of ref document: KR