JP5741274B2 - 有機el装置及び電子機器 - Google Patents
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Description
カラーフィルター層は、有機EL素子から発せられる光を着色するために所定の厚みが必要とされるところ、有機EL装置の高精細化が進み、画素ピッチとカラーフィルター層の膜厚とが近い値となった場合、テーパー形状になる領域の単位画素当たりの比率が大きくなる。そのため、カラーフィルター層のうち所定の厚みが実現できている領域は非常に小さくなる。その結果、高い色再現性を実現することが困難となる。
図1は、本発明の第1実施形態に係る有機EL装置1を示す断面図である。
図1に示すように、有機EL装置1は、基板本体上に形成された図示しない各種配線、スイッチング素子としての薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下TFTと称する。)、及び各種回路によって発光層(有機発光層)を発光させる、TFTアレイ基板11を備えている。なお、本実施形態の有機EL装置1は、スイッチング素子としてTFTを用いたアクティブマトリクス方式のものであるが、これに限らず、単純マトリクス方式を採用した構成においても本発明を適用させることができる。
例えば、有機発光層の材料としては、本実施形態では白色発光する有機発光材料として、スチリルアミン系発光材料などが用いられる。
さらに、正孔注入層の材料としては、トリアリールアミン(ATP)多量体などが用いられ、正孔輸送層の材料としては、TDP(トリフェニルジアミン)系のものなどが用いられ、電子注入・輸送層の材料としては、アルミニウムキノリノール(Alq3)などが用いられる。
護層17の凹凸部分を埋めるように配置されている。有機緩衝層18の上面は略平坦に形成されている。有機緩衝層18は、TFTアレイ基板11の反りや体積膨張により発生する応力を緩和する機能を有する。また、有機緩衝層18の上面が略平坦化されるので、有機緩衝層18上に形成される硬い被膜からなる後述するガスバリア層19も平坦化される。したがって、応力が集中する部位がなくなり、これにより、ガスバリア層19でのクラックの発生が抑制される。さらに、画素隔壁16を被覆して凹凸が埋められることで、ガスバリア層19上に形成されるカラーフィルター層20の膜厚均一性を向上させることにも有効である。
カラーフィルター層20は、着色層として、赤色着色層20R、緑色着色層20G、青色着色層20Bがこの順に配列形成されている。
第2のサブフィルター層22は、赤色パターン22Rと緑色パターン22Gと青色パターン22Bとが隣り合うように配列されている。
なお、図2において、符号D1は第1のサブフィルター層21の厚みであり、符号D2は第2のサブフィルター層22の厚みであり、符号W1は第1のサブフィルター層21のテーパー部の幅であり、符号W2は第2のサブフィルター層22のテーパー部の幅である。
ここで、「サブフィルター層の厚み」とは、素子基板10の上面に対して直交する方向におけるサブフィルター層の長さ(サブフィルター層の下面と上面との間の距離)である。
「テーパー部の幅」とは、各色のパターンの配列方向におけるテーパー部の長さ(テーパー部において本体部の側端に隣接する面と、テーパー部において本体部の側端から最も離れた部分との間の距離)である。
また、図2においては、第1のサブフィルター層21のテーパー部の幅W1は、各パターン21R,21G,21Bのうち、一例として赤色パターン21Rのテーパー部21Rbの幅を示すものとする。第2のサブフィルター層22のテーパー部の幅W1は、各パターン22R,22G,22Bのうち、一例として赤色パターン22Rのテーパー部22Rbの幅を示すものとする。
緑色パターン21Gは、厚みが概ね均一な緑色本体部21Gaと、当該緑色本体部21Gaの側端に隣接する緑色テーパー部21Gbと、を有している。
青色パターン21Bは、厚みが概ね均一な青色本体部21Baと、当該青色本体部21Baの側端に隣接する青色テーパー部21Bbと、を有している。
緑色パターン22Gは、厚みが概ね均一な緑色本体部22Gaと、当該緑色本体部22Gaの側端に隣接する緑色テーパー部22Gbと、を有している。
青色パターン22Bは、厚みが概ね均一な青色本体部22Baと、当該青色本体部22Baの側端に隣接する青色テーパー部22Bbと、を有している。
次に、図3〜図6を参照して本実施形態における有機EL装置1の製造方法を説明する。図3〜図6は、有機EL装置1の製造工程についての説明図である。
具体的には、電極保護層17については、窒素を含む珪素化合物、すなわち珪素窒化物や珪素酸窒化物などを、ECRスパッタ法やイオンプレーティング法等の高密度プラズマ成膜法により成膜する。なお、透明無機材料としてのSiO2 などの無機酸化物やLiFやMgF等のアルカリハライドを、真空蒸着法や高密度プラズマ成膜法により積層してもよい。なお、透明無機材料としてのSiO2 などの無機酸化物やLiFやMgF等のアルカリハライドを、真空蒸着法や高密度プラズマ成膜法により積層してもよい。
具体的には、減圧雰囲気下でスクリーン印刷を行った有機緩衝層18を、60〜100℃の範囲で加熱して硬化させる。
具体的には、ECRスパッタ法やイオンプレーティング法などの高密度プラズマ成膜法で形成する。また、形成前には、酸素プラズマ処理によって密着性を向上させると信頼性が向上する。
具体的には、ガスバリア層19の上面に、フォトリソグラフィー法を用いて、カラーフィルター層20を形成する。
以上の工程により、第1のサブフィルター層21の上面に、第2のサブフィルター層22が形成される。これにより、ガスバリア層19の上面に、カラーフィルター層20が形成される。
具体的には、ニードルディスペンス法により前述した紫外線硬化性樹脂材料を保護基板25の周囲に塗布していく。なお、この塗布方法は、スクリーン印刷法を用いてもよい。
具体的には、ジェットディスペンス法により前述した熱硬化性樹脂材料を塗布していく。なお、この熱硬化性樹脂材料は、必ずしも保護基板25の全面に塗布する必要はなく、保護基板25上の複数箇所に塗布すればよい。
具体的には、周辺シール層23を仮硬化させる目的で、例えば、照度30mW/cm2、光量2000mJ/cm2 の紫外線を保護基板25上に照射する。この時、紫外線硬化性樹脂である周辺シール層23の材料液のみが硬化され粘度が向上する。
具体的には、素子基板10と保護基板25とを貼り合わせた状態で大気中において加熱することで、前述した仮硬化した周辺シール層23と、充填層24を熱硬化させる。
これに対し、本実施形態によれば、各々のサブフィルター層21,22の厚みD1,D2を互いに概ね等しくすることにより、当該各々のサブフィルター層21,22のテーパー部21Rb,21Gb,21Bbの幅W1,W2を互いに概ね等しい大きさとすることができる。よって、カラーフィルター層20のうち所定の厚みが実現できている領域を最大限得ることができる。
図7は、図1に対応した、本発明の第2実施形態に係る有機EL装置2を示す断面図である。
図7に示すように、本実施形態に係る有機EL装置2は、第1のサブフィルター層21と第2のサブフィルター層22との間に平坦化層26が形成されている点で上述の第1実施形態に係る有機EL装置1と異なっている。その他の点は上述の構成と同様であるので、図1と同様の要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図8は、有機EL装置2の製造工程についての説明図である。なお、ガスバリア層19の上面に、第1のサブフィルター層21を形成するまでの工程については、上述した第1実施形態における有機EL装置1の製造方法(図3(a)〜図4(c))と同様であるため、詳細な説明は省略する。
具体的には、減圧雰囲気下でスクリーン印刷を行った平坦化層26を、60〜100℃の範囲で加熱して硬化させる。例えば、ある程度硬化が進むまでは低温で放置し、ある程度高粘度化したところで温度を上げて完全硬化させることが好ましい。
以上の工程により、第1のサブフィルター層21の上に、平坦化層26を介して第2のサブフィルター層22が形成される。これにより、ガスバリア層19の上に、カラーフィルター層20が形成される。
図9は、図7に対応した、本発明の第3実施形態に係る有機EL装置3を示す断面図である。
図9に示すように、本実施形態に係る有機EL装置3は、隣り合う位置に配置された各パターンのテーパー部が互いに重なる部分上に遮光層27が形成されている点で上述の第2実施形態に係る有機EL装置2と異なっている。その他の点は上述の構成と同様であるので、図7と同様の要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図10は、有機EL装置3の製造工程についての説明図である。なお、ガスバリア層19の上面に、第1のサブフィルター層21を形成するまでの工程については、上述した第1実施形態における有機EL装置1の製造方法(図3(a)〜図4(c))と同様であるため、詳細な説明は省略する。
具体的には、減圧雰囲気下でスクリーン印刷を行った平坦化層26を、60〜100℃の範囲で加熱して硬化させる。例えば、ある程度硬化が進むまでは低温で放置し、ある程度高粘度化したところで温度を上げて完全硬化させることが好ましい。
以上の工程により、第1のサブフィルター層21の上に、平坦化層26及び遮光層27を介して第2のサブフィルター層22が形成される。これにより、ガスバリア層19の上に、カラーフィルター層20が形成される。
図11は、図1に対応した、本発明の第4実施形態に係る有機EL装置4を示す断面図である。
図11に示すように、本実施形態に係る有機EL装置4は、カラーフィルター層20に替えてカラーフィルター層40を備える点で上述の第1実施形態に係る有機EL装置1と異なっている。その他の点は上述の構成と同様であるので、図1と同様の要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
第2のサブフィルター層42は、赤色パターン42Rと緑色パターン42Gと青色パターン42Bとが隣り合うように配列されている。
第1のサブフィルター層41の厚みを全体的に均一にし、かつ、第2のサブフィルター層42の各パターン42R,42G,42Bの厚みをそれぞれ調整することによってカラーフィルター層40の所望の色変換特性を得ている。
図12は、有機EL装置4の製造工程についての説明図である。なお、第1のサブフィルター層41の上面に第2のサブフィルター層42の赤色パターン42Rを形成するまでの工程については、上述した第1実施形態における有機EL装置1の製造方法(図3(a)〜図5(a))と同様であるため、詳細な説明は省略する。
以上の工程により、第1のサブフィルター層41の上面に、各パターンの厚みが調整された第2のサブフィルター層42が形成される。これにより、ガスバリア層19の上面に、カラーフィルター層40が形成される。
次に、前記実施形態の有機EL装置を備えた電子機器の例について説明する。
Claims (5)
- 基板と、
前記基板上に形成されたカラーフィルター層と、
前記基板と前記カラーフィルター層の間に形成された第1電極と、
前記第1電極と対向して形成された第2電極と、
前記第1電極と同層に、前記第2電極と対向して形成された第3電極と、
前記第1電極と前記第2電極の間に形成された有機発光層と、を有し、
前記カラーフィルター層は、
前記基板に垂直な方向から見たときに前記第1電極と重なる領域に形成された、第1の色を透過する第1のサブフィルター層及び第2のサブフィルター層と、
前記基板に垂直な方向から見たときに前記第3電極と重なる領域に形成された、第2の色を透過する第3のサブフィルター層及び第4のサブフィルター層と、
を有し、
前記第1のサブフィルター層と前記第2のサブフィルター層とは同じ材料からなり、
前記第1のサブフィルター層と前記第2のサブフィルター層とは積層されており、
前記第3のサブフィルター層と前記第4のサブフィルター層とは同じ材料からなり、
前記第3のサブフィルター層と前記第4のサブフィルター層とは積層されており、
前記第1のサブフィルター層の端部と前記第3のサブフィルター層の端部とは、前記基板に垂直な方向から見たときに重なっており、
前記第2のサブフィルター層の端部と前記第4のサブフィルター層の端部とは、前記基板に垂直な方向から見たときに重なっていることを特徴とする、有機EL装置。 - 前記第1のサブフィルター層と、前記第2のサブフィルター層との間に形成された平坦化層を有することを特徴とする、請求項1に記載の有機EL装置。
- 前記第1のサブフィルター層と、前記第2のサブフィルター層との間に形成された平坦化層を有し、
前記平坦化層の、前記基板に垂直な方向から見たときに前記第1のサブフィルター層と前記第3のサブフィルター層とが重なる領域に、遮光層が形成されていることを特徴とする、請求項1に記載の有機EL装置。 - 前記第2電極と、前記カラーフィルター層との間に設けられた封止層を有し、前記カラーフィルター層は前記封止層に接していることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の有機EL装置。
- 請求項1〜4のいずれか一項に記載の有機EL装置を備えたことを特徴とする、電子機器。
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