JP4661864B2 - 膜パターン形成方法及び発光装置の製造方法 - Google Patents
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Description
しかしながら、膜パターンの厚膜化によって、例えば、回路基板上においてコンタクトホール部等の下地を露出させるべき領域や膜パターンの外郭を精度良く形成すべき領域において、上記積層のために重ねて塗布される機能液が、下地となる膜パターン上から、濡れ広がってほしくない上記領域(パターン非形成領域)に流動してしまい、所望の膜パターンが得られないという問題が生じることがあった。
このような構成を採用することによって、本発明では、膜パターンと共にパターン非形成領域に撥液膜が順次形成されることで、積層される膜パターンの膜厚に対応する撥液膜を形成することができる。
なお、当該膜パターンは、膜状に形成されるパターンのみならず層状に形成されるパターンをも含む概念である。
このような構成を採用することによって、本発明では、膜パターンに接するように撥液膜を順次形成し、積層される膜パターンからパターン非形成領域への機能液の流動を抑制することができる。
このような構成を採用することによって、本発明では、所定の膜厚の膜パターンを形成した後にパターン非形成領域に所望の第2膜パターンを形成することで、所定の機能を有する膜パターンを形成することができる。
このような構成を採用することによって、本発明では、上記膜パターン形成方法を用いて所望の径及び深さを有するコンタクトホールを形成することができる。
このような構成を採用することによって、本発明では、上記膜パターン形成方法を用いて所望の厚さを有するバンプを形成することができる。
このような構成を採用することによって、本発明では、上記膜パターン形成方法を用いて所望の膜厚の絶縁膜を形成することができる。
このような構成を採用することによって、本発明では、上記膜パターン形成方法を用いて電極膜及び電子放出膜を形成し、上記発光装置の陰極部を製造することができる。
まず、本実施形態に係る膜パターン形成方法に用いる液滴吐出装置について説明する。
図1は、液滴吐出装置IJの概略的な構成図である。
液滴吐出装置(インクジェット装置)IJは、液滴吐出ヘッドから基板Pに対して液滴を吐出(滴下)するものであって、液滴吐出ヘッド301と、X方向駆動軸304と、Y方向ガイド軸305と、制御装置CONTと、ステージ307と、クリーニング機構308と、基台309と、ヒータ315とを備えている。ステージ307は、この液滴吐出装置IJによりインク(液体材料)を設けられる基板Pを支持するものであって、基板Pを基準位置に固定する不図示の固定機構を備えている。
Y方向ガイド軸305は、基台309に対して動かないように固定されている。ステージ307は、Y方向駆動モータ303を備えている。Y方向駆動モータ303はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからY方向の駆動信号が供給されると、ステージ307をY方向に移動する。
クリーニング機構308は、液滴吐出ヘッド301をクリーニングするものである。クリーニング機構308には、図示しないY方向の駆動モータが備えられている。このY方向の駆動モータの駆動により、クリーニング機構は、Y方向ガイド軸305に沿って移動する。クリーニング機構308の移動も制御装置CONTにより制御される。
ヒータ315は、ここではランプアニールにより基板Pを熱処理する手段であり、基板P上に塗布された液体材料に含まれる溶媒の蒸発及び乾燥を行う。このヒータ315の電源の投入及び遮断も制御装置CONTにより制御される。
液滴吐出ヘッド301の吐出ノズルは、非走査方向であるX方向に一定間隔で並んで設けられている。なお、図1では、液滴吐出ヘッド301は、基板Pの進行方向に対し直角に配置されているが、液滴吐出ヘッド301の角度を調整し、基板Pの進行方向に対して交差させるようにしてもよい。このようにすれば、液滴吐出ヘッド301の角度を調整することで、ノズル間のピッチを調節することが出来る。また、基板Pとノズル面との距離を任意に調節することが出来るようにしてもよい。
液滴吐出ヘッド301には、液体材料(機能液)を収容する液体室321に隣接してピエゾ素子322が設置されている。液体室321には、液体材料を収容する材料タンクを含む液体材料供給系323を介して液体材料が供給される。
ピエゾ素子322は駆動回路324に接続されており、この駆動回路324を介してピエゾ素子322に電圧を印加して、ピエゾ素子322を変形させることにより、液体室321が変形し、ノズル325から液体材料が吐出される。
この場合、印加電圧の値を変化させることにより、ピエゾ素子322の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることにより、ピエゾ素子322の歪み速度が制御される。ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。
図3(a)は、本実施形態における膜パターン1が形成された基板Pの平面図を示す。
図3(b)は、図3(a)における線視A−A断面図を示す。
膜パターン1は、図3(a)に示すように、基板Pの平面上に略方形に形成されており、該方形が形成された領域の内側に存する複数の円形のパターン非形成領域10を露出させるように穴部1aが形成されている。また、膜パターン1は、図3(b)に示すように、所定の膜厚(本実施形態では、例えば、約10μm程度)で形成されている。なお、膜パターン1は、例えば、ポリイミド等で形成される絶縁膜である。
続いて、上記構成の液滴吐出装置IJを用いて膜厚の膜パターンを形成する方法について図4及び図5を参照して説明する。
図4は、膜パターン1の形成工程を説明する平面図である。
図5は、膜パターン1の形成工程を説明する断面図である。
親液性を高める基板Pの表面の洗浄処理として、具体的には、UVエキシマ洗浄、低圧水銀灯洗浄、O2プラズマ洗浄、HFや硫酸等を用いた酸洗浄、アルカリ洗浄、超音波洗浄、メガソニック洗浄、コロナ処理、グロー洗浄、スクラブ洗浄、オゾン洗浄、水素水洗浄、マイクロバルブ洗浄、フッ素系洗浄等を実施する。
洗浄処理により表面が親液化された基板Pは、次に、図4(b)に示すように、パターン非形成領域10を覆うように、膜パターン1を形成する機能液に対して撥液性を有する撥液材料を含む液滴が液滴吐出装置IJにより塗布され、乾燥(焼成)処理を施すことにより撥液膜30が形成される。
具体的には、液滴吐出装置IJは、図1に示すように、基板Pをステージ307上に載置して、制御装置CONTの制御の下、液滴吐出ヘッド301と基板Pを支持するステージ307とを相対的に走査しつつ、撥液材料を含む液体を収容している吐出ノズルから基板Pに対して該撥液材料を含む液滴を吐出して、パターン非形成領域10上に撥液膜30を形成する。
そして、撥液膜30は、図5(a)に示すように、基板P上に所定の厚さで形成されることとなる。
撥液材料としてシラン化合物を用いることにより、配置した箇所にシラン化合物の自己組織膜が形成されるので、膜表面に優れた撥液性を付与することができる。
また、フッ素を含有するシラン化合物(撥液性シラン化合物)を用いることができ、フッ素を含有するシラン化合物として例えば、含フッ素アルキルシラン化合物を挙げることができる。含フッ素アルキルシラン化合物を塗布して撥液膜30を形成すると、膜表面にフルオロアルキル基が位置するように配向して自己組織膜が形成されるので、膜表面により優れた撥液性を付与することができる。
また、撥液膜30の形成にフッ素樹脂を用いる場合には、所定量のフッ素樹脂を所定の溶媒に溶解させたものが用いられる。具体的には、住友スリーエム株式会社製「EGC1720」(HFE(ハイドロフルオロエーテル)溶媒にフッ素樹脂を0.1w%溶解させたもの)等を用いることができる。なお、フッ素樹脂の用いる種類によって撥液性の発現のために加熱・重合の必要があるものについては、必要に応じて例えば150℃から200℃の加熱をして、塗布したフッ素を含む樹脂を重合させることで、撥液性を発現させることができる。
撥液膜形成工程によりパターン非形成領域10に撥液膜30が形成された基板Pは、次に、図4(c)に示すように、パターン形成領域20を覆うように、膜パターン1を形成する機能液(本実施形態では、ポリイミドを含む液体)を液滴吐出装置IJにより塗布され、膜パターン1が形成される。
具体的には、液滴吐出装置IJにより、制御装置CONTの制御の下、液滴吐出ヘッド301と基板Pを支持するステージ307とを相対的に走査しつつ、今度は、膜パターン1を形成する機能液を収容している吐出ノズルから基板Pのパターン形成領域20に対して機能液を塗布することとなる。
膜パターン形成工程によりパターン形成領域20に膜パターン1が形成された基板Pに対し、図5(c)に示すように、再び、パターン非形成領域10を覆うように、撥液材料を含む液滴を液滴吐出装置IJにより塗布し、所望の乾燥(焼成)処理の後、撥液膜30を形成する。2回目の撥液膜形成工程により形成された撥液膜30は、膜パターン1の穴部1aの側面に沿うように、且つ、膜パターン1の膜厚の高さまで形成されることとなる。
なお、2回目における撥液材料を含む液滴を塗布は、パターン非形成領域10において既に撥液膜30が形成されていることから撥液材料の節約のために、膜パターン1の外縁に接するように塗布するのが好ましい。
2回目の撥液膜形成工程により膜パターン1の膜厚の高さまで撥液膜30が形成された基板Pに対し、図5(d)に示すように、液滴吐出装置IJにより膜パターン1上に機能液を塗布し、膜パターン1上に更に所定の膜厚を有する膜パターン1を積層し、膜厚が大きい膜パターン1を形成する。
このとき、膜パターン1上に塗布される機能液は、撥液膜30が膜パターン1の膜厚に対応するように形成されることから、膜パターン1上からパターン非形成領域10への流動が抑制されることとなる。
そして、所望の膜厚の膜パターン1を形成した後、パターン非形成領域10へのUV照射等により撥液膜30を除去することによって、図3に示す膜パターン1を形成することができる(撥液膜除去工程)。
したがって、パターン非形成領域10への膜パターン1を形成する機能液の流動を抑制して、所望の膜厚の膜パターンを形成することができる効果がある。
具体的には、撥液膜30を除去した後、撥液膜30が形成されていたパターン非形成領域10に、膜パターン1を形成する機能液と異なる第2機能液を塗布して第2の膜パターンを形成して基板Pに新たな機能性を備えさせることとなる。
以下、具体例について説明する。
ここで、先ず、上記膜パターン形成方法を用いて製造する発光装置の構成について説明する。
図6は、上記膜パターン形成方法を用いて製造する発光装置100を示す断面構成図である。
発光装置100は、互いに所定の間隔をおいて対向するように配置される陰極装置(陰極部)110と陽極装置(陽極部)120とから構成される。
陰極基板111上には外部電源と電気的に接続される陰極111aが形成されており、陰極111a上にカーボンナノチューブ層113が設けられる。そして、グリッド114に陰極111aに対して正電圧(引出電圧)を印加すると、カーボンナノチューブ層113から電子eが放出される構成となっている。
陽極基板121は、光を透過するガラス基板であり陰極装置110に対向する面にITO(Indium Tin Oxide)の透明電導膜から形成される陽極121aが設けられる。蛍光体122は、陽極121a上に電着や液滴吐出装置IJにより形成され、対向する陰極111aと略同一の大きさを有する。そして、グリッド114に対して陽極121aに正電圧(加速電圧)を印加すると、放出された電子eが蛍光体122に向って加速・衝突し、光Lが発生して、陽極基板121を透過して外部へ露光することとなる。
具体的には、先ず、液滴吐出装置IJを用いて、上述した撥液膜形成工程と膜パターン形成工程とを交互に繰り返すことによって、陰極基板111上のパターン形成領域にポリイミドを含む液体を塗布して絶縁層115を形成する。次いで、絶縁層115が所定の膜厚に達したら、今度は、絶縁層115上に銀インク等の電極材料を液滴吐出装置IJにより塗布し、グリッド114を形成する(電極膜形成工程)。グリッド114が形成されたら、撥液膜除去工程により撥液膜を除去し、撥液膜が除去されたパターン非形成領域に液滴吐出装置IJによりカーボンナノチューブを含む液滴を塗布してカーボンナノチューブ層113を形成する(電子放出膜形成工程)ことで、陰極装置110を製造することができる。
つまり、本実施形態では、周知技術のように、感光性の絶縁層にマスクをかけて露光処理するという工程を経ずに、所望の形状及び膜厚の絶縁層115を形成することができるためコスト安の効果がある。
また、上記膜パターン形成方法は、図9に示すような、基板200上に設けられる電極201と接続される配線202を絶縁層203上に露出させるコンタクトホール203aや、露出した配線202と電気的に接続されて所定の厚さを有するバンプ204の形成にも用いることができる。
例えば、コンタクトホール203aであれば、コンタクトホール203aを形成する領域をパターン非形成領域として設定し、上記膜パターン形成方法を実施して絶縁層203に穴部を形成することで、また、バンプ204であれば、バンプ204を形成する領域をパターン形成領域として設定し、金属材料を含有する液体材料を用いて上記膜パターン形成方法を実施することで所望の厚さを有する形状に形成することができる。
この場合、例えば、図8(a)に示すパターン形成領域20は、基板P上に略方形に配置されており、パターン形成領域20とパターン非形成領域10との境界線に重なるように撥液膜30を形成することで、パターン非形成領域10への機能液の流動を抑制して、均一な所定の厚さを有する膜パターン1を形成することができる。図8(b)においても、同様に、膜パターン1と円形状のパターン非形成領域10との境界線に重なるように撥液膜30を形成することで、パターン非形成領域10への機能液の流動を抑制して所望の膜厚を有する膜パターン1を形成することができる。
Claims (5)
- パターン非形成領域に隣接してパターン形成領域が設けられ、前記パターン形成領域に機能液を塗布して膜パターンを形成する膜パターン形成方法であって、
前記パターン非形成領域に、前記機能液に対する撥液材料を含む液滴を塗布して撥液膜を形成する撥液膜形成工程と、
前記撥液膜に隣接する前記パターン形成領域に前記機能液を塗布して前記膜パターンを形成する膜パターン形成工程とを有し、
前記撥液膜形成工程と前記膜パターン形成工程とを少なくとも2回ずつ交互に繰り返し、
2回目以降の前記撥液膜形成工程では、直前に形成された前記膜パターンの側面に沿うように、且つ、前記直前に形成された膜パターンの膜厚の高さまで前記撥液膜を形成することを特徴とする膜パターン形成方法。 - 前記撥液膜形成工程では、前記パターン形成領域との境界に沿って線状に前記撥液膜を形成することを特徴とする請求項1に記載の膜パターン形成方法。
- 所定の厚さを有する前記膜パターンを形成した後に、前記撥液膜を除去する撥液膜除去工程と、前記撥液膜除去工程により前記撥液膜が除去された前記パターン非形成領域に第2機能液を塗布して第2膜パターンを形成する第2膜パターン形成工程とを有することを特徴とする請求項1または2に記載の膜パターン形成方法。
- 電子放出部材と、前記電子放出部材から電子を放出させる電極部材と、これらの間に設けられた所定の膜厚を有する絶縁膜とを備える陰極部と、放出された前記電子により発光する陽極部とを有する発光装置の製造方法であって、
請求項1〜3のいずれか一項に記載の膜パターン形成方法を用いて前記絶縁膜を形成する工程を有することを特徴とする発光装置の製造方法。 - 所定の厚さを有する前記絶縁膜を形成した後に、前記絶縁膜上に前記電極部材を含む液滴を塗布して電極膜を形成する電極膜形成工程と、前記電極膜形成工程の後に、前記撥液膜を除去する前記撥液膜除去工程と、前記撥液膜除去工程により前記撥液膜が除去された前記パターン非形成領域に前記電子放出部材を含む液滴を塗布して電子放出膜を形成する電子放出膜形成工程とを有することを特徴とする請求項4に記載の発光装置の製造方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007331589A JP4661864B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | 膜パターン形成方法及び発光装置の製造方法 |
US12/338,194 US20090162536A1 (en) | 2007-12-25 | 2008-12-18 | Method for forming film pattern, method for forming contact hole, method for forming bump, and method for manufacturing light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007331589A JP4661864B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | 膜パターン形成方法及び発光装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009158517A JP2009158517A (ja) | 2009-07-16 |
JP4661864B2 true JP4661864B2 (ja) | 2011-03-30 |
Family
ID=40788966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007331589A Expired - Fee Related JP4661864B2 (ja) | 2007-12-25 | 2007-12-25 | 膜パターン形成方法及び発光装置の製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090162536A1 (ja) |
JP (1) | JP4661864B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070177576A1 (en) * | 2006-01-31 | 2007-08-02 | Niels Thybo Johansen | Communicating metadata through a mesh network |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4148213B2 (ja) * | 2004-10-21 | 2008-09-10 | セイコーエプソン株式会社 | パターン形成方法および機能性膜 |
-
2007
- 2007-12-25 JP JP2007331589A patent/JP4661864B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-12-18 US US12/338,194 patent/US20090162536A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009158517A (ja) | 2009-07-16 |
US20090162536A1 (en) | 2009-06-25 |
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