TWI380080B - Liquid crystal display device and method for manufacturing the same - Google Patents

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TWI380080B
TWI380080B TW097127155A TW97127155A TWI380080B TW I380080 B TWI380080 B TW I380080B TW 097127155 A TW097127155 A TW 097127155A TW 97127155 A TW97127155 A TW 97127155A TW I380080 B TWI380080 B TW I380080B
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Shunpei Yamazaki
Toru Takayama
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Semiconductor Energy Lab
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Description

1380080 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明關於液晶顯示裝置及其製造方法。更特別地, 本發明關於安裝有電光裝置作爲組件之電子設備,電光裝 置以具有由薄膜電晶體(在下文中被稱爲TFT)構成的電路 之液晶顯示面板爲典型。 φ 【先前技術】 近年來,利用在具有絕緣表面的基底上形成的半導體 薄膜(厚度幾乎從數nm至幾百ηιη)來形成薄膜電晶體 (TFT)的技術受人關注。薄膜電晶體被廣泛地應用於諸如 1C(積體電路)或電光裝置等電子裝置,並且特別迫切需要 將其開發作爲影像顯示裝置的開關元件。 長期以來,液晶顯示裝置作爲影像顯示裝置是衆所周 知的。因主動矩陣型液晶顯示裝置比被動矩陣型液晶顯示 φ裝置更能顯示高清晰影像,所以主動矩陣型液晶顯示裝置 / 被廣泛利用。在主動矩陣型液晶顯示裝置中,藉由驅動以 ' 矩陣形式排列的像素電極,以在顯示幕幕上形成顯示圖案 。更具體地說,藉由在選擇的像素電極和一個相應於這一 選擇的像素電極的對立電極之間施加電壓,可以將插入於 * 選擇的像素電極和對立電極之間的液晶層光學地調變。此 •光調變由觀視者視爲顯示圖案。 這種主動矩陣型電光裝置已廣泛用於各種領域。隨著 顯示幕尺寸的增加,對實現高清晰度、高孔徑效率、和高 -4- 1380080 可靠性有強烈需求。此外,需要提高裝置的生産率以及降 低製造成本。 另外,本發明的申請人在USP 4,691,995中揭示液晶 滴。 發明的目的是提供一種有效率地使用液晶材料、以及 具有可撓性之可靠性高的液晶顯示裝置。 隨著面板尺寸增大,製造成本也增高。尤其是夾在像 素電極和對立電極之間的液晶材料價格昂貴。 發明提供使用大尺寸基底的液晶顯示裝置的製造方法 ,舉例而言,這樣的大尺寸基底包括:320x400mm、370χ 470mm、5 5 0 x 650mm、600 x 720mm、6 80 x 8 80mm、1 〇〇〇 x 1 200mm' 1 1 00x 1 2 5 0mm 或 1 1 50x 1 3 00mm 的尺寸。而且, 發明還提供用於量產基底尺寸甚至爲1500x1800mm、1800 X 2000mm ' 2000 χ 2 100mm、2200 x 2600mm、或 2600 χ 3 100mm的大尺寸基底之液晶顯示裝置的製造方法。 爲了密封液晶,需要執行複雜的製程,舉例而言,塗 佈密封材料;對立基底塗膠、分割、注入液晶、以及密封 液晶注入口。特別地’在大尺寸的面板中,利用毛細現象 注入液晶及以液晶塡充密封材料圍住的區域(至少包括像 素部分),變得相當困難。 二基底會被黏合在一起、被分割、及從形成在分割表 面上的液晶注入口注入液晶材料時。在此情形中,從液晶 注入口延伸到像素區域的路徑會由液晶塡充。另外在驅動 電路部和像素部被設在一基底上的情形中,不僅像素部區 -5- 1380080 域’甚至驅動電路部’有時也會被液晶塡充。顯示部分以 外的其部分會被由液晶材料塡充。 由於跟面板的其他區域相比,相當大量的液晶會通過 從液晶注入口延伸到像素區的路徑,尤其是液晶注入口附 近’由於注入液晶造成摩擦’會使得配向膜劣化,結果造 成配向膜變形。 此外’期望液晶顯示裝置會應用到不同的電子設備, •特別是應用到可攜式裝置。目前,有很多使用玻璃基底或 石英基底製造的液晶顯示裝置。但是,這些基底具有易碎 且笨重之缺點。此外’由於量產時難以使用大尺寸的玻璃 或石英基底’所以,玻璃或石英基底不適於量產。因此, 嘗試使用可撓性的基底’典型爲可撓塑膠基底,以製造液 晶顯示裝置。 然而’塑膠膜對例如濕氣或鹼性金屬等雜質具有不佳 的阻擋特性’以致於無法取得高度可靠之液晶顯示裝置。 鲁結果’無法實現使用塑膠膜製造之具有高度技術優點的液 : 晶顯示裝置。 【發明內容】 慮及上述’本發明提供依下述製造的液晶顯示裝置: 在對立基底(第一可撓基底)上設置保護膜,塗佈密封材料 、在真空中(減壓下)滴注液晶到對立基底上、以及將對立 基底黏合至第二可撓基底,第二可撓基底係設有像素電極 及柱狀間隔器。於減壓下,將成對基底黏合在一起而藉由 -6- 1380080 柱狀間隔器均勻地間隔。 另外,可以使用散佈器(dispenser)或噴墨機以塗佈密 封材料。此外,塗佈密封材料可以在減壓的情況下執行, * 也可以在大氣壓下的惰性氣氛中執行。在溶劑添加至密封 材料中以控制密封材料的黏度之情形中,較佳的是使用幾 乎不揮發的溶劑以防止密封材料在減壓下滴注期間劣化及 固化。 φ 另外,以圍繞像素部分之封閉圖案,塗佈密封材料。 由密封材料圍繞的空間會塡充液晶。 可以在設有像素部分的一基底上塗佈密封材料及滴注 液晶。另外’在可撓基底上設置保護膜,以及在像素電極 上滴注液晶材料,亦即,僅在像素部份(減壓下),然後, 將可撓基底黏合至設有密封材料的對立基底。 關於根據本發明中的保護膜,較佳的是使用矽靶之 RF濺射所形成的氮化矽膜的單層膜,或氮化矽膜和氧化 φ矽膜的疊層膜。 使用矽靶之RF濺射所形成的濃密氮化矽膜不但可以 有效地防止因諸如鈉,鋰,鎂等鹼性金屬或鹼土金屬污染 TFT(多晶矽TFT、非晶矽TFT、有機TFT等)而引起的臨 界電壓的變動,而且,對氧氣和濕氣有極高的阻隔效果。 另外,爲增進阻隔效果,較佳的是,氮化矽膜中氧氣和氫 氣的含量最多爲1 0原子%,更佳地最多爲1原子%。 具體的濺射條件是:使用氮氣或氮和稀有氣體的混合 氣體;壓力爲0.1至1.5Pa;頻率爲13MHz至40MHz;電力 1380080 爲5至2〇W/cm2;基底溫度爲室溫至35(TC ;矽靶(1至i〇Qcm) 和基底的距離爲40mm至200mm;背壓最多爲lxi(T3pae對基 底背面噴灑稀有氣體。舉例而言,在流速比設定爲Ar: N2 = 20sccm : 20sccm ;壓力爲 0.8Pa ;頻率爲 13.56MHz ; 電力爲16.5W/cm2;基底溫度爲200°C ;矽靶和基底的距離 爲6 0mm ;背壓力爲3xlO_5Pa的條件下得到的濃密的氮化 砂膜,具有以下特徵:最多爲9nm(較佳的是0.5至3.5nm) φ的低蝕刻速率,以及至多爲lxl02latomS/cm·3或的低氫濃 度(較佳的是最多爲5xl02()atoms/cm·3)。此處「蝕刻速率 」係指使用LAL 500,在2(TC的條件下之蝕刻速度。此處 LAL 500”是指日本橋本化學公司(Hashimoto Chemical KK)生産的“ LAL 500 S A緩衝氫氟酸”,即 NH4HF2( 7·13°/(>)和NH4F(15·4%)的水溶液。 以濺射形成的氮化矽膜,具有下述特性:介電常數從 7.02至9.3;折射率從1.91至2.13;內應力是4.17至lx φ 108dyn/cm2;蝕刻速率是0.77至1.31nm/分鐘。內應力數値 -的正負號是取決於壓應力或拉應力之內應力,這裏只取其 _ 絕對値。另外,以濺射形成的氮化矽膜具有爲3 7.3原子% 之Si濃度及55.9原子%之N濃度,每一濃度係得自RBS 的結果(Rutherford Back Scattering spectroscopy,拉塞福背 散射光譜)。以濺射法形成的氮化矽膜具有4xl02()原子/cnT3之 氫濃度、8x102Q原子/cm·3之氧濃度、及lxlO19原子/cm_3的 碳濃度。以濺射形成的氮化矽具有至少80%的透射率。圖 5顯示氮化矽膜(膜厚度爲130nm)的SIMS的量測結果。 -8- 1380080 圖6是氮化矽膜(膜的厚度爲30nm)和氧化矽膜(膜的厚 度爲20nm)的SIMS結果。氮化矽膜的氬濃度爲ιχι〇2«^1χ 1〇21原子/cnT3。表1顯示出形成氧化矽膜和氮化矽膜的條 件之典型實施例。 [表1] 氧化矽(A) 氧化矽⑼ 氮化矽 氣體 Αγ/〇2 <r- Αγ/Ν2 流速比 10/30 20/20 壓力(Pa) 0.4 0.8 頻率(MHz) 13.56 <- 電功率(W/cm2) 4.1 <- <r- 基底溫度(°C) 200 <- 靶材料 Si(摻雜 Bl-lOQcm) 合成石英 <r- T/S(mm) 60 <r~ 如此,藉由添加例如氬之惰性氣體或氮至膜中,保護 Φ膜可以有效地防止例如濕氣等雜質穿入》 本發明所揭示之構成之一爲:液晶顯示裝置,包括第 _ 一可撓基底、第二可撓基底、以及插入於該第一、第二可 撓基底組成的成對基底之間的液晶,包括:第一或第二可 撓基底上的無機絕緣膜;以及使基底對均勻地間隔的柱狀 隔離器,其中,以塗佈成封閉圖案的密封材料,將基底對 黏合在一起。 在上述構成中,氮化矽膜含有lxl〇2()至lxl〇21cm·3濃 度的氮化矽膜β在上述構成中,無機絕緣膜是係含有最多 -9- 1380080 lxl 021 cnT3濃度的氫之氮化矽膜。另外,在上述構成中, 無機絕緣膜是含有濃度最多lxl〇21crtT3的氫,及濃度爲5x 1018cnT3至5xl〇21cnT3的氧之氮化矽膜。 ' 此外,保護膜可以由氮化矽膜和氧化矽的多層膜所形 成。本發明的其他結構爲:液晶顯示裝置,包括第一可撓 基底、第二可撓基底、以及插入於該第一、第二可撓基底 組成的成對基底之間的液晶,包括:在第一或第二可撓基 φ底上由氮化矽膜及氧化矽膜的多層膜所形成之無機絕緣膜 ;以及使基底對均勻地間隔的柱狀隔離器,其中,以塗佈 成封閉圖案的密封材料,將基底對黏合在一起。 在上述構成中,氮化矽膜含有lxl02Q至lxl021cm_3濃 度的氮化矽膜。 根據本發明的可撓基底,也就是膜狀塑膠基底,較佳 地由有機樹脂形成,舉例而言,聚對苯二甲酸乙二醇酯 (PET)、聚醚楓(PES)、聚萘酸乙二酯(polyethylene φ naphthalate)(PEN)、聚碳酸酯(PC)、尼龍、聚醚醚酮 (PEEK)、聚颯(PSF)、_醚醯亞胺(PEI)、聚芳酯(PAR)、 聚對苯二甲酸丁二酯(PBT)、聚丙烯、聚丙硫醚、聚苯硫 醚(PPS)、聚苯醚、聚砖醯胺(PDA)、聚醯亞胺等有機樹脂 。另外’還可以使用塑膠基底(由具有極性基的冰片烯 (norbornene)樹脂組成的ARTON :日本JSR公司製造)。 液晶的滴注可以應用使用散佈器或噴墨機。對於滴注 在封閉式密封材料圖案中,準確地穩定滴注量是重要的。 此外’噴墨法是向像素電極噴射(或滴注)很多滴微量液晶 -10- 1380080 的方法。借助於使用噴墨法,可以藉由控制排放次數或排 放點的數目,而自由地控制微量的液晶。 在減壓下較佳地滴注(或噴射)液晶以防止雜質混入。 ' 並且,液晶即使在減壓的情況下被滴注,也不會劣化或固 化等。另外,在減壓的情況下滴注(或噴射)液晶時,也可 以使用經預先減壓而經過除沫處理過的液晶。另外,在滴 注(或噴射)液晶期間,基底被加熱以除氣,同時降低液晶 Φ的黏度。如果需要,可以在滴注液晶後,以旋轉塗敷以均 勻化液晶厚度。在減壓下,將可撓基底較佳地黏合至對立 基底’以防止氣泡在黏合基底期間進入液晶。 爲獲得上述構成的發明的構成之一爲:液晶顯示裝置 的製造方法,液晶顯示裝置包括第一基底、第二基底以及 介於該第一、第二基底的基底對之間的液晶,該製造方法 包括以下步驟:藉由射頻濺射’在該第一基底或第二基底 上形成無機絕緣膜;在該第一基底上形成像素電極;在該 鲁第二基底上形成對立電極;在該第一基底上形成圓柱狀隔 : 離物以在該一對基底之間均勻地間隔;在該第二基底上塗 . 佈及預固定扭、封材料;在減壓下,於該第二基底上被該密 封材料圍住的區域上滴注液晶材料;在減壓下,對該液晶 材料加熱及除氣;在減壓下’將該第一基底和該第二基底 黏合在一起;以及固定該密封材料。 在黏合設有密封材料的裝置基底的情形中,本發明的 另一構成爲:液晶顯示裝置的製造方法,液晶顯示裝置包 括第一基底、第二基底以及形成在由該第一、第二基底的 -11 - 1380080 基底對之間的液晶,該製造方法包括以下步驟:在該第一 基底或第二基底上以射頻濺射法形成無機絕緣膜;在該第 一基底上形成像素電極;在該第二基底上形成對立電極; 在該第一基底上形成保持該基底對之間間距的圓柱狀隔離 物;在該第一基底上塗佈及預固定密封材料;在減壓下, 向該第一基底上被該密封材料包圍的區域.上滴注液晶材料 :在減壓下,對該液晶材料加熱及除氣;在減壓下,將述 第一基底和該第二基底黏合在一起;以及,固定該密封材 料。 在與上述製造方法有關的各個結構,第一基底或第二 基底是塑膠基底。在上述各個結構中,無機絕緣膜是以矽 爲靶的射頻濺射法製成的氮化矽膜。無機絕緣膜是使用渦 輪分子泵或低溫泵在最多爲lx l(T3Pa的背壓(back pressure)下,N2氣體或N2和稀有氣體的混合氣體濺射單 晶矽靶而製成的氮化矽膜。 根據本發明,因只在需要的地方滴注需要的液晶量, 所以沒有材料被浪費。另外,由於密封材料圖案是閉環狀 ’這樣就不需要液晶注入口和通道的密封材料圖案。其結 果是在液晶注入時難以發生劣化(比如不良晶向)。 至於液晶,只要能被滴注出來,就沒有特殊限制,在 滴注液晶之後,可以將液晶材料和光固化材料或熱固化材 料混合,以增加成對基底之間的接合強度。 液晶大部份以TN模式定向,亦即,當光通過液晶時 ’液晶分子的配置會被扭轉90。。在製造TN模式的液晶 -12- 1380080 顯示裝置時’在兩個基底上形成配向膜,執行磨擦 (rubbing)處理等等,然後,黏合兩個基底以致於它們的磨 擦方向彼此交會。 ' 關於密封材料,較佳地選擇即使和液晶接觸也不會溶 解於液晶中的材料。與液晶接觸及圍繞像素部份的第一密 封材料可以由第二密封材料圍繞。在減壓黏合基底的情形 中’第一密封材料和第二密封材料之間較佳地塡充液晶除 0外的塡充器’舉例而言,樹脂。 對二基底滴注(或注射)兩個基底之後,將基底對黏合 在一起以防止氣泡進入液晶。 以樹脂形成的圓柱狀隔離物、或是將塡充物混入密封 劑中’以將基底對間隔。該圓柱狀隔離物是由含有選自丙 稀酸、聚酿亞胺、聚酿亞胺酿胺(polyimide amide)、及環 氧樹脂組成的族群中至少一材料作爲主材料之有機樹脂材 料所形成;或者氧化矽,氮化矽,氧化氮化矽中任一材料 φ ;或這些材料的疊層膜構成的無機材料。 根據本發明,在將基底黏合,基底會被分成每一裝置 〇 根據本發明,在由一基底製成一液晶顯示裝置的情形 中,將基底黏合至對立基底,可以省略劃分處理,劃分處 理係將基底早期地劃分成每一件。傳統上,爲了在邊緣表 面上提供液晶,會在黏合及劃分基底之後,將液晶注入口 形成於邊緣表面上。 此外,在上述每一構成中,黏合成對基底的製程是在 -13- 1380080 大氣壓或減壓下的惰性氣氛中執行。爲了簡化製程,較佳 地在減壓下注射多滴液晶,並且在同樣減壓,而且不暴露 於大氣的情況下,黏合成對基底。 此外,在上述每一構成中,「減壓下」一詞是指lx 102Pa至2xl04Pa的惰性氣氛中,或是指ipa至5xl04Pa的 真空氣氛中。 「減壓下」一詞(包括在真空中的情況),是指在比大 φ氣壓低的氣壓下。減壓可以是lxl02Pa至2xl04Pa(較佳地5 xl02Pa至5xl03Pa)之塡有氮、稀有氣體、或其他惰性氣體 塡充的氣氛。 在上述每一構成中,適當地設定滴注液晶和液晶材料 的條件,可以將液晶材料間歇地黏著。或者,液晶材料可 以被連續地黏著。 此外’在上述每一構成中,可以在滴注液晶期間,將 基底從室溫(典型的爲2〇。〇 )加溫至200°c的溫度(在不會造 •成塑膠基底自身劣化的範圍內)。藉由加熱基底以將液晶 材料除氣。 _ 液晶顯示裝置廣泛地分爲兩大類型,即被動類型(簡 單矩陣型)或主動型(主動矩陣型)。本發明可以用於任一 型式的液晶顯示裝置。 在主動型的液晶顯示裝置的情形中,作爲開關元件使 用的TFT沒有特殊限制。關於TFT,可以使用具有晶體 結構的半導體膜作爲主動膜之多晶矽TFT ;使用具有非晶 結構作爲主動層的半導體膜之非晶TFT;或是使用有機半 -14- 1380080 導體膜作爲主動層的有機TFT。此外’關於TFT的主動 層,可以使用半非晶半導體膜(又稱微晶半導體膜),該半 晶半導體膜具有介於非晶結構及晶體結構(包含單晶及多 晶)之間的中間結構:具有自由能穩定的第三狀態:及具 有短範圍順序及晶格扭曲之晶體區。 本發明可以應用至任何TFT結構、頂部閘極型TFT 、底部閘極型TFT(反交錯型TFT)、或交錯型TFT。。本 發明可用於主動型液晶顯示裝置。藉由使用單層氮化矽膜 、或氮化矽膜與氧化矽膜的疊層膜,作爲保護膜。則可以 防止TFT劣化及提供高可靠度。 根據本發明,能夠量產有效率地使用液晶材料、及具 有可撓性之高度可靠的液晶顯示裝置。 【實施方式】 將於下說明本發明的實施例模式。 [實施例模式1] 製備作爲對立基底的第二基底12〇以及預先設有TFT( 未顯不)的第一基底110。第一基底110和第二基底120只要 具有可撓性及對光是透明的,則無任何特殊限定。典型上 ,使用塑膠基底作爲基底。關於TFT,可以使用下述之— :使用多晶矽作爲主動層的TFT(也稱多晶矽TFT);使用 非晶矽作爲主動層的TFT(又稱非晶矽TFT);或使用有機 半導體材料作爲主動層的TFT(又稱有機TFT)。 -15- 1380080 塑膠基底具有重量輕及薄膜厚的優點,但是,塑膠基 底對濕氣具有不良的阻隔特性。接著,在本發明的塑膠基 底的單面或雙面上形成保護膜。此處,以濺射在任一面上 形成氮化矽膜。以使用矽靶之RF濺射所形成的濃密氮化 矽膜,可以有效地防止導因於例如鈉、鋰、或鎂等鹼性金 屬或鹼土金屬之TFT污染所造成的臨界電壓的變化等等 。濃密的氮化矽膜對氧氣和濕氣有極高的阻擋效果。爲提 高阻擋效果,氮化矽膜中氧和氫的含量較佳地設定爲最多 1 〇原子%,更佳地設定爲最多1原子%。 關於具體的濺射條件是:使用氮氣或氮和稀有氣的混 合氣體;將壓力設定爲O.lPa至1.5Pa;頻率爲13MHz至 40MHz ;電力爲5至20W/Cm2;基底溫度爲室溫至350 °C ; 與矽靶(1至l〇Qcm)之間的距離爲40mm至200mm:背壓力 最多爲lxl (Γ3 Pa。此外,可以在基底背面噴塗經過加熱的 稀有氣體。 如圖1A所示,在作爲對立基底的第二基底120上形成 保護膜123,並且在第一基底110上也形成保護膜113。雖 然在第一基底上沒有顯示TFT等,但是,第一基底至少 設有氮化矽膜作爲TFT的底層絕緣膜、層間絕緣膜、或 保護膜。 在作爲對立基底的第二基底120上形成由透明導電膜 製成的對立電極122。另外,在第一基底110上也形成由透 明導電膜製成的像素電極111。在第一基底110上形成由絕 緣材料形成的圓柱狀隔離物,以在基底之間間隔(圖1 B)。 -16- 1380080 因此,液晶被固持在成對基底之間。在本胃&胃^^巾 ,在減壓的情況下連續地執行液晶的滴注、加熱除氣、以 及黏合。而且,可以在減壓下塗佈密封材料。 [實施例模式2] 在此將說明在TFT基底上側塗佈密封材料及滴注液 晶的實施例。 φ 如同實施例模式1般,製備作爲對立基底的第二基底 220以及設有TFT(未顯示)的第一基底210。第—基底210 和第一基底220只要具有可燒性且能透射光,則沒有特殊 限制。典型上,使用塑膠基底作爲基底。 然後,如同實施例模式1般,在作爲對立基底的第二 基底220上形成保護膜213,並且在第一基底210上形成保 護膜223(圖2A)。雖然在第一基底上沒有顯示出TFT等, 但是,第一基底至少在TFT上設有氮化矽膜作爲基部絕 φ緣膜、層間絕緣膜、或保護膜。 然後,在第一基底210上形成由透明導電膜所形成的 像素電極211。此外,在第一基底210上形成由絕緣材料所 形成的圓柱狀隔離物2 1 5,以便在基底之間間隔。在第二 基底220上形成由透明導電膜所形成的對立電極222(圖2B) 。在二基底上形成配向膜(未顯示)。對二基底執行磨擦 (rubbing)處理。 然後,在第一基底210上用散佈器或噴墨機塗佈密封 材料212。密封材料212可以使用丙烯酸光固化樹脂或丙烯 -18- 1380080 置的像素電極、和連接至該像素電極的開關元件、反交錯 . 型TFT '以及固持量(未顯示)構成。 然後,在減壓的情況下以熱處理對液晶除氣(圖2E)。 將液晶層加熱以降低其黏度及均勻化其厚度。 在減壓下黏合設有像素部分的第一基底210和設有對 立電極222或配向膜的第二電極220,以防止氣泡進入液晶 中(圖2F)。 φ 圖4A和4B是視圖,顯示黏合裝置的實施例,其能夠 在黏合期間或之後,照射紫外線或執行熱處理。 在圖4中,代號41表示第一基底支撐器,42表示第二 基底支撐器,44表示窗口,48表示底側機器平台,以及49 表示光源。 底側機器平台4 8安裝有加熱器,用來固化密封材料或 降低液晶材料的黏度。另外,第二基底支撐器設有窗口 44 ’以使光源49發射的紫外光等通過。雖然圖中未示出,但 鲁是基底會經由窗口 44對齊。作爲對立基底的第二基底31預 先被分成需形狀。所分割的基底會由真空夾具等固定在支 撐器42上。圖4A顯示黏合前的狀態。 第一基底支撐器和第二基底支撐器會下降,以及將第 —基底35和第二基底31黏合在一起,然後,對基底對照射 紫外光,以實現初步固化。圖4B示出了黏合後的狀態。 接著,執行紫外線的照射或加熱處理,以完全地固化 密封材料212(圖2 G)。此外,除了照射紫外線之外,也可 加入熱處理。 -20- 1380080 在減壓下黏合基底的情況時,降低的壓力會逐漸地回 至大氣壓。此外,在基底對處於壓力下的狀態中,降低的 壓力會逐漸地回至大氣壓。或者,在減壓下黏合成對基底 之後,在成對基底處於壓力下的狀態中,以紫外線照射或 熱處理,固化密封材料。 因此,液晶被固持在基底對之間。在本實施例模式中 ,在減壓的情況下連續地執行液晶的滴注、加熱除氣、以 及黏合。而且,在減壓下塗佈密封材。 在如圖3所示般從一基底製造出四面板的情形中,在 黏合後,以例如畫線器(scriber)、輥式切割器或斷裂器等 切割裝置,將第一基底分割成四面板。如此,從一基底製 造出四個面板。 將根據下述實施例,詳細說明上述構成所組成的本發 明。 φ [實施例1] 本實施例用圖7說明主動矩陣型液晶顯示裝置的製造 過程。 首先用透光性基底60 0形成主動矩陣基底。較佳地具 有 600mmx720mm、680mm x 8 8 0mm ' 1000mm x 1200mm、 1100mmxl250mm、1150mmxl300mm、1 5 0 0 m m x 1 8 0 0 m m ' 1 8 0 0 m m x 2 0 0 0 mm ' 2000mmx2 1 00mm、2 2 0 0 m m x 2 6 0 0 m m、 或26 00mmx3100mm大尺寸的基底,以降低製造成本。關 於可用的基底,可以使用康寧(corning)公司生産的#7059 -21 - 1380080 玻璃或#1737玻璃等爲典型的鋇硼矽玻璃或鋁氧硼矽玻璃 等的玻璃基底。此外,也可以使用石英基底或塑膠基底等 透光性基底。 在以濺射法在整個有絕緣表面的基底6 00的整個表面 上沈積導電膜之後,執行第一微影製程,以在導電膜上形 成光阻掩罩。以蝕刻去除不要的部分,藉以形成佈線和電 極(閘極電極,電容器佈線,以及端子等)。此外,如果需 φ要,還可以在基底600上形成基部絕緣膜。 關於形成佈線以及電極的材料,可以使用選自Ti、 Ta、W、Mo、Cr、Nd組成的族群中的元素作爲成份;或 使用含上述元素之合金作爲成份;或使用含上述元素的氮 化物作爲成份。或者,選擇眾多上述材料以形成疊層作爲 接線及電極。 隨著螢幕尺寸的增大,每一佈線的長度也增加,隨之 而來的是佈線電阻及耗電增加的問題。所以爲了減小佈線 0電阻及耗電,佈線以及電極可以由選自Cu、Al、Ag、Au 、Fe' Ni、及Pt所組成的族群之元件、或其合金所形成 〇 接著,以PCVD,在整個表面上形成閘極絕緣膜。藉 由堆疊氮化矽膜和氧化矽膜至具有50至150nm厚,較佳地 爲1 5 Onm厚,以形成閘極絕緣膜。此外,閘極絕緣膜不限 於具有疊層結構。或者,諸如氧化矽膜、氮化矽膜、氮氧 化矽膜、或氧化鉬膜等絕緣膜也可以用於閘極絕緣膜。 接著,以例如電漿CVD或濺射法等習知技術,在閘 -22- 1380080 極絕緣膜的整個表面上形成具有厚度爲50到200nm,較佳 . 地爲100到150nm的第一非晶半導體膜。典型地,形成厚 度100nm之非晶砂(a-Si)膜。此外,注意,在大尺寸基底 上形成膜時,形成室也應該是大的。因此,將室的內部抽 真空將需要更多的處理時間及更大量的膜形成氣體。因此 ’可以在大氣壓下使用線性電漿CVD裝置,形成非晶矽 (a-Si)的薄膜。 φ 之後’形成厚度從20至80nm之包含具有一導電型(n 型或P型)的雜質元素的第二非晶半導體膜。藉由諸如電 漿CVD方法或濺射方法等習知技術,在整個表面上形成 包含能夠施加一導電型(η型或p型)的雜質元素的第二非 晶半導體膜。在本實施例中,藉由使用添加磷的矽以形成 包含η型雜質元素的第二非晶半導體膜。 接著’藉由第二微影製程以形成光阻掩罩,以及蝕刻 移除不需要的部分,以形成第一非晶半導體島狀膜和第二 馨非晶半導體島狀膜。關於蝕刻方法,可以使用濕蝕刻或乾 蝕刻。 在用濺射法形成覆蓋第二非晶半導體島狀膜的導電層 後’執行第三微影步驟,以形成光阻掩罩。然後,蝕刻去 除不需要的部分,以形成佈線和電極(源極佈線,汲極電 極’電容器電極、等等)。關於佈線以及電極的材料,可 以使用選自 Α卜 Ti、Ta、W、Mo、Cr、Nd、Cu、Ag、Au 、Fe'Ni、及Pt組成的族群中的元素;或是含有這些元 素的合金。以噴墨散佈有奈米粒子的散佈液體以形成接線 -23- 1380080 及電極,在該散佈液中,由例如Ag、Au、Cu或Pd等金 屬形成的奈米粒子(具有顆粒直徑爲5-1 Onm)會以高濃度分 散於其中但不凝結。在以噴墨法形成佈線和電極之情形中 ,微影製程變成不需要,以致於成本可以進一步降低。 以第四微影步驟形成光阻掩罩,以及蝕刻移除不需要 的部份以形成源極接線、汲極電極、及電容器電極。關於 蝕刻方法,可以使用濕蝕刻或乾蝕刻。然後,形成儲存電 φ容器,儲存電容器使用由同於閘極絕緣膜之材料所形成的 絕緣膜作爲介電質。然後,藉由使用源極接線或汲極電極 作爲掩罩,以自行對準方式,移除第二非晶半導體膜的一 部分,而且,降低第一非晶半導體膜的部份厚度。薄化的 區域作爲TFT的通道形成區。 以電發CVD法在整個表面上形成厚I50nm的氮化砂 膜作爲保護膜,以及形成厚150nm的氧氮化矽膜作爲層間 絕緣膜。此外,在大尺寸基底上形成膜時,形成室也應該 修是大的。接著,假使將室內抽真空時,則需要更多的處理 時間及更大量的膜形成氣體。因此,爲了降低成本,以線 . 性電漿CVD裝置’在大氣壓下,形成氮化矽膜作爲保護 膜。之後,執行氫化,以完成通道蝕刻型T F T » 此外’在本實施例中雖然以通道蝕刻型TFT作爲實 施例’但是,TFT並不限於此。也可以形成,通道截斷型 (channel stopper) TFT’ 頂部閘極型 TFT,或交錯型 TFT» 用RF濺射法形成第二保護膜619。使用渦輪分子泵 、或低溫栗在最多1x10 3Pa的背壓(back pressure)下,用 -24- 1380080 N2氣體或N2和稀有氣體的混合氣體,以單晶矽爲靶,執 行濺射而製成氮化矽膜作爲第二保護膜619。濃密的氮化 矽膜可以有效地防止因諸如納,鋰,鎂等鹼性金屬或鹼土 金屬污染TFT而造成的臨界電壓變動。此外,氮化矽膜 對氧氣或濕氣具有優良的阻隔效果。氮化矽膜中氧和氫的 含量較佳地最多爲10原子%,更佳地最多爲1原子%,以增 加阻隔特性。 接著’執行第五微影製程以形成光阻掩罩。然後,以 乾蝕刻形成到達汲極電極或電容器電極的接觸孔。同時, 在端子部份中形成用於電連接閘極佈線至端子部份之接觸 孔(未顯示),以及形成電連接閘極接線至端子部份之金屬 佈線(未顯示)。此外,同時地,形成達到源極佈線的接觸 孔(未顯示),以及形成從源極佈線導出的金屬佈線。在上 述金屬佈線形成之後,形成例如ITO等像素電極,或者, 在例如ITO等像素電極形成之後,形成金屬佈線。 以銦錫氧化物(ITO)、銦氧化鋅氧化物合金(in2〇3_ ZnO)、氧化鈴(ZnO)等形成1 l〇nm厚的透明電極。接著, 執行第六微影製程及蝕刻處理以形成像素電極601。 如上該,可以以六次微影製程製造具有像素部份的主 動矩陣基底,像素部份包括源極佈線、反交錯型TFT、儲 存電容器、和端子部分。 在主動矩陣基底上形成配向膜623並執行磨擦處理。 根據本實施例,在形成配向膜623之前,藉由圖型化諸如 丙烯酸樹脂膜等有機樹脂膜,以在所需位置形成間隔於基 -25- 1380080 底之間的柱狀隔離物6 02。可以在整個基底表面散佈球形 . 隔離物來代替柱狀隔離物。 製備對立基底。對立基底配備有濾色片62 0,其中, 配置有色層和遮光層以對應每一像素。此外,設置平整膜 以覆蓋有色層和遮光層。在平整膜上,以透明導電膜形成 相對電極621以致於與像素部份重疊。在對立基底的整個 表面上形成配向膜622並執行磨擦處理。 φ 根據實施例2,用散佈器或噴墨機塗佈密封材料以致 於圍繞主動矩陣基底的像素部分。完成塗佈密封材料之後 ,在減壓的情況下,向被密封材料圍住的區域中滴注液晶 。接著,在減壓而不曝露於大氣下,以密封材料607將主 動矩陣基底和對立基底黏合在一起。將塡充物混合在密封 材料607中(未顯示)。將二基底黏合在一起以致於彼此以 塡充物和柱狀隔離物602均勻地間距。以滴注液晶的方法 ’減少在製造過程中使用的液晶量,在使用大尺寸基底的 鲁情形中,生産成本也可以得到大幅度的降低。 因此,完成了主動矩陣型液晶顯示裝置。假使需要, .可以按所希望的形狀分割主動矩陣基底或對立基底。此外 ’適當地設置諸如濾色器等偏光板603及光學膜。然後, 以習知技術,將FPC(可撓印刷電路板,Flexible Printed Circuit board)黏著至裝置。 將後照光604及導電板605提供給根據上述製程取得的 液晶模組’並以蓋6 0 6覆蓋液晶模組,而完成主動矩陣液 晶顯示裝置(透射型)。圖1係主動矩陣液晶顯示裝置的部 -26- 1380080 份之剖面視圖。蓋和液晶模組會以黏合劑或有機樹脂固定 。因爲主動矩陣型液晶顯示裝置是透射型,所以,偏光板 603會黏著至主動矩陣基底和對立基底。 雖然本實施例係透射型主動矩陣液晶顯示裝置。但是 ,本發明並不受此限制。本發明也可以製造反射型或半透 射類型的液晶顯示裝置。在取得反射型液晶顯示裝置時, 可以使用光反射率高的金屬膜作爲像素電極,典型的是含 φ有鋁或銀作爲主要成分的材料膜,或這些膜的疊層膜。 本實施例可以和實施例1或實施例2任意組合。 [實施例2] 圖8A是根據實施例1的液晶模組的俯視圖。圖8B是 液晶模組的俯視圖,與實施例1中所示的液晶模組有所區 具有根據實施例1的非晶半導體膜所形成的主動層之 鲁TFT具有約lcm2/Vsec的小場效應遷移率。因此,用於影 : 像顯示的驅動電路係由1C晶片形成,並以TAB(帶式自動 . 接合(Tape Automated Bonding))方式或晶片在玻璃 C〇G(Chip On Glass)方式安載。 在圖8A中,代號701表示主動矩陣基底;706,對立 基底:704,像素部分;707表示密封材料;705表示FPC 。在減壓的情況下用散佈器或噴墨機滴注液晶,並用密封 材料707黏合成對基底701、706。 雖然根據實施例1的T F T具有小的場效應遷移率, t. S :) -27- 1380080 但在使用大尺寸基底量産的情形中,由於是製程係以低溫 執行,所以可以降低製造TFT的成本。根據本發明’亦 即,以散佈器或噴墨機滴注液晶,並黏合成對基底;成對 基底變成能夠在它們之間保存液晶,而與基底的大小尺寸 無關,以致於可以製造具有20英吋-80英吋大尺寸螢幕的 液晶面板之顯示裝置。 在以半導體膜形成主動層的情形中,半導體膜,典型 上是多晶矽模,係藉由習知結晶處理以晶化非晶半導體膜 而取得結晶結構的半導體膜,可以獲得具有高場效應遷移 率的TFT,以及在相同基底上,可以形成不僅具有驅動電 路也具有CMOS電路之驅動電路。另外,除了驅動電路, 還可以在相同基底上製造CPU(中央處理器)等》 在使用具有由多晶矽膜製成的主動層的TFT時,可 以製造如圖8B所示的液晶模組。 圖8B中,711表示主動矩陣基底;716表示對立基底 ;71 2表示源信號線驅動電路;71 3表示閘信號線驅動電路 ’ 714表不像素部分;717表示第一密封材料;715表示 FPC。以散佈器或噴墨機滴注液晶,並用第—密封材料 717和第二密封材料黏合_對基底711、716。由於驅動電 路部分7 1 2、7 13不需要液晶,所以僅有像素部分7 1 4固持 液晶。因此,設置第二密封材料71S以增強整體面板。 本實施例可以和實施例模式丄、實施例模式2或實施 例1任意組合。 -28· 1380080 [實施例3] ^ 實施例1和實施例2中說明直接在具有可撓性的塑膠基 底上形成開關元件的主動矩陣基底的例子,本實施例中將 說明將裝置從玻璃基底剝離以轉換至可撓基底的實例。 如圖9A所示,在第一基底10上形成金屬膜11。此外 ,第一基底只要有具有足以承受後面的剝離製程的剛性, 舉例而言,玻璃基底,石英基底,陶瓷基底,矽基底,金 φ屬基底或不銹鋼基底都可以用於第一基底。金屬膜可以使 用由選自 W、Ti ' Ta、Mo ' Nd、Ni ' Co、Zr、Zn、Ru、 Rh、Pd、Os、Ir所組成的族群中的元素、或是主要含有 這些元素的合金材料或化合物材料製成的單層,或者上述 單層的疊層。關於製造金屬膜的方法,可以使用以金屬爲 靶的濺射法。金屬膜可以形成至具有l〇nm-20〇nm的厚度 ’較佳的是從5Qnm-75nm。 上述金屬被氮化的膜(例如,氮化鎢或氮化鉬)可以用 鲁來代替金屬膜。此外,上述金屬的合金(例如W和Mo的 合金:WxM〇1.x)膜也可以用來代替金屬膜。這種情況下 藉由濺射設在膜形成室中例如第一金屬(W)以及第二金 屬(Mo)等多個祀 ' 是或以第一金屬(W)以及第二金屬(Mo) 的合金之靶,以形成這些膜。而且,可以將氮化物或氧摻 雜至這些膜。關於摻雜的方法,舉例而言,可以使用離子 佈植。或者,使用金屬氮化物爲靶之濺射,在膜形成室中 有氮或氧存在下,形成金屬膜。 使用濺射法形成金屬膜的情形中,基底的周邊部分的 -29- 1380080 厚度有時變成不均勻。因此,以乾蝕刻較佳地清除周邊的 _ 膜,關於此點,可以在第一基底10與金屬膜11之間形成例 如氮矽氧化物膜、氮氧化矽膜、等具有氮的絕緣膜至 lOOnm厚,以防止第一基底被蝕刻移除。 適當地當設定金屬膜的形成方法,可以控制剝離製程 ,並加寬製程的寬容度(process margin)。也就是說,對 於使用金屬合金的實施例而言,藉由控制合金中的各金屬 φ的成分比,可以控制剝離處理。具體而言,可以控制剝離 的溫度,以及控制加熱處理是否需要。 隨後,在金屬膜11上形成剝離層12。該剝離層包括含 .矽的氧化膜和半導體膜,在非接觸式1C (積體電路)的情形 中可以包含天線。較佳地設置例如氮化矽(SiN)膜、氮氧 化矽膜(SiNO)、氧氮化矽(SiON)膜等具有氮的絕緣膜作爲 剝離層12(特別是半導體膜)下方的基部膜。 關於具有矽的氧化膜,可以以濺射或CVD形成氧化 •矽膜、氮氧化矽膜、氧氮化矽膜等。具有矽的氧化膜的厚 度較佳地形成爲約至少金屬膜厚的二倍最。在本實施例中 ,以使用矽靶的濺射法,形成厚150nm-200nm的氧化矽膜 〇 當形成具有矽的氧化膜時,在金屬膜上形成具有上述 金屬的氧化物(金屬氧化物)13。關於金屬氧化物,可以使 用薄的金屬氧化物,其係由含有硫酸,鹽酸或硝酸的水溶 液:上述溶液和過氧化氫溶液的混合溶液;或臭氧水處理 而形成的。關於其他的方法,可以使用有氧存在的電漿處 < -S :) -30- 1380080 理;或是在具有由紫外線照射產生的臭氧之氧氣中的氧化 . 處理°或者,用清潔爐(clean oven)從約200-350 °C下加熱 以形成具有矽的金屬氧化物。 形成的金屬氧化物的膜的厚度爲Ο.ΐηιη-Ιμηι,較佳的 是 O.lnm-lOOnm,更佳的是 〇.lnm-5nm。 此處所使用的「絕緣膜」一詞係總稱具有矽之氧化物 膜、基部膜等等,均是形成於半導體膜與金屬膜之間。亦 φ即’該結構依序包括至少金屬膜、金屬氧化膜、絕緣膜、 以及半導體膜。具體而言,半導體膜可以設置在絕緣膜的 表面上,及金屬氧化物和金屬膜可以設在絕緣膜的另一表 面上。 舉例而言,以預定的製程,對半導體膜形成薄膜電晶 體(TFT)、有機TFT'薄膜二極體、等等。具有薄膜積體 電路的CPU、記憶體等係由半導體裝置構成。此外,爲了 保護半導體裝置,較佳地在半導體裝置上形成具有類似碳 φ的鑽石(DLC)、氮化碳(CN)等含碳的保護膜;或是具有氮 化矽(SiN)、氮氧化矽(SiNO或SiON)等保護膜。 根據上述方式形成剝離層12後,具體而言,在形成金 屬氧化物後,以適當的熱處理,晶化金屬氧化物。舉例而 言,使用 W(鎢)作爲金屬膜的情形中,以至少400°C的熱 處理,使W02S W03的金屬氧化物晶化。另外,假使在 形成包含於剝離層1 2中的半導體膜之後,執行熱處理,則 含於半導體膜中的氫可以擴散。由於氫,所以金屬氧化物 的化合價有時會變化》此熱處理或溫度是否需要可以根據 -31 - 1380080 所選取的金屬膜而定。因此,於需要時可以晶化金屬氧化 物,以便於剝離。 製造半導體裝置的製程也以作熱處理。舉例而言,使 ' 用均用於形成結晶半導體膜之加熱爐或雷射照射,執行熱 處理。 接著,如圖9B所示,用第一黏合劑15將第二基底14 黏著至分離層12。希望第二基底Η比第一基底10具有更高 φ的剛性。關於第一黏合劑1 5 ,可以使用可移除的黏合劑, 舉例而言,紫外線剝離型黏劑、熱剝離型黏劑、或者水剝 離型黏劑、或是雙面膠帶。 用物理手段分離設有金屬膜11的第一基底10(圖9C)e 雖然未顯示於圖中’但是第一基底會由被晶化的金屬氧化 物的內部及/或界面剝離。因此,第—基底1〇可以與分離 層1 2分離。 爲了便於剝離’切割基底的一部分。然後,以切割器 鲁產生切刮金屬膜和金屬氧化物的切割表面上之界面近處。 接著’如圖9D所示’用第二黏合劑16將剝離層12黏 ,貼到作爲轉換構件的第三基底(例如標籤)丨7。關於第二黏 合劑16,可以使用紫外線固化樹脂,具體而言可以使用 環氧樹脂基黏合劑或樹脂添加劑(resin additive)等黏合劑 或者JS可以使用雙面膠帶。在第三基底具有黏性的情形 中,則不需要第二黏合劑。 關於第二基底,可以採用紙;或是由例如聚(對苯二 甲酸乙—醇酯)、聚碳酸酯' 聚烯丙基化合物或聚醚颯等 -32- 1380080 形成的具有可撓性之塑膠基底。此外,也可以藉由鍍膜膜 基底,以增加剛性、電阻特性 '及穩定度,以及減少薄膜 基底表面的凸凹不均勻。 然後,去除第一黏合劑15,並剝離第二基底14(圖9E) 。具體而言,藉由照射紫外線、加熱、或水洗,以移除第 一黏合劑。 可以在一製程內執行第一黏合劑的移除和第二黏合劑 的固化。舉例而言,在分別使用熱剝離型樹脂和熱固化型 樹脂,或紫外線剝離型樹脂和紫外線固化型樹脂作爲第一 黏合劑和第二黏合劑的情形中,藉由一次加熱或紫外線照 射,可以執行移除和固化黏合劑。此外,實施者可以考量 第三基底的透光性以適當地選擇黏合劑。 如此,在可撓基底上完成了薄膜積體電路。根據本實 施例,剝離形成於玻璃基底上具有高電特性的開關元件, 並轉移到塑膠基底上,而完成了主動矩陣基底。 可以在薄膜積體電路中完全地移除金屬氧化物13。或 者,金屬氧化物的一部份或大部份可以餘留在剝離層的下 表面上。在此情形中,藉由蝕刻,移除餘留的金屬氧化物 。此外,也可以移除具有矽的氧化物膜。 下述製程係用於製造根據實施例模式1或實施例模式2 之液晶顯示裝置。 [實施例4] 將參考圖10A至10C,說明在具有絕緣表面的基底(典 -33- 1380080 型的是玻璃基底或石英基底)上形成包含CPU和記憶體的 . 剝離層,並以實施例3中該的剝離及轉移技術,將該剝離 層轉移到塑膠基底上的實施例。 圖10A中,代號1001表示中央處理器(又稱CPU); 1 002表示控制單元;1 003表示算術單元;1 004表示記憶體 單元(也稱爲記億體);1005表示輸入部分;1〇〇6表示輸出 單元(顯示單元)。 φ 中央處理器1001包括算術單元1 003和控制單元1 002。 算術單元1003由下述組成:執行例如加法及減法等算術運 算、以及例如 AND (及)、OR(或)、NOT(否)等邏輯運算的 的算術邏輯運算單兀(縮寫稱 ALU,Arithmetic Logic Unit);用於儲存資料及運算結果的不同電阻器;以及計 數輸入的"1”等數目之計數器。舉例而言,構成算術電路 1003的電路,舉例而言,AND電路、OR電路' NOT電路 、緩衝電路、或電阻器電路等可以由TFT組成。爲了取 •得高電場效應遷移率,可以形成藉由連續波雷射光晶化的 半導體膜以作爲TFT的主動層。 在基底上用濺射法形成鎢膜和氧化矽膜,以及在其上 形成基部絕緣膜(氧化矽膜、氮化矽膜、或氮氧化矽膜), 然後在其上形成非晶矽膜。再者,在稍後的製程中,藉由 使用形成於鎢膜和氧化矽膜的界面上的氧化鎢膜,執行剝 離。 至於晶化方法,可以下述方法中的任一方法。在非晶 矽膜中添加作爲觸媒的金屬元素之後,將非晶矽膜加熱而 < s -34- 1380080 形成多晶矽膜,以及以脈沖波雷射光照射多晶矽膜。連續 波雷射光照射非晶矽膜獲得多晶矽膜,在藉由加熱非晶矽 * 膜而取得多晶矽膜後,將連續雷射光照射至多晶矽膜。非 晶矽膜摻有作爲觸媒之金屬元素,並被加熱而形成多晶矽 膜,然後,連續雷射光照射至多晶矽膜。此外,在使用連 續雷射光的情形中,雷射光的掃瞄方向較佳地延著構成算 術單元1003、控制單元1002或記憶體單元10 04之TFT的 φ通道長方向。 控制單元1 00 2執行儲存在記憶體單元1 004中的命令, 以控制整體操作的作用。控制單元1 002包括程式計數器、 命令電阻器,控制信號產生單元。此外,控制單元1002可 以由TFT構成,在此情形中,可以形成經過晶化的半導 體層以作爲TFT的主動層。 記億體單元1 〇〇4是儲存放實施計算的資料和命令,舉 例而言’經常在CPU中執行的資料或程式。記憶體單元 鲁1004包括主記憶體、位址電阻器、及資料電阻器。除了主 記憶體還可以使用快取記憶體。這些記憶體可以由 SRAM(靜態隨機記憶體)、DRAM(動態隨機記億體)、快閃 記憶體(flash memory)等形成。在主記億體單元1〇〇4由 TFT構成的情形中,可以形成晶化過的半導體膜以作爲主 動層。 輸入單元1005是從外界載入資料和程式,輸出單元 100 6典型上是用於顯示結果的顯示裝置。 將具有如此取得的C P U (包含終端電極及導出佈線)之 -35- 1380080 分離層從基底剝離並轉換至塑膠基底。 另外,不僅僅是CPU,還可以形成電流電路、顯示單 元、以及驅動電路單元。舉例而言,可以製造具有非接觸 式薄膜積體電路的卡。 圖10B是表示非接觸式薄膜積體電路的視圖。 圖10B是非接觸式薄膜積體電路的具體結構的俯視圖 。該非接觸式薄膜積體電路包括顯示單元、天線31、包含 CPU33之積體電路單元35、記億體34、等等,其中,天線 經由電流電路連接至1C。電流電路3 2至少包括二極體和 電容器,以及將天線接收到的交流電波長轉換爲直流電。 天線31可以在用於形成積體電路的相同製程內形成。 非接觸式1C的特徵在於其由線圈式天線之電感耦合( 電磁感應方式)、。相互耦合(電磁耦合方式)、或電容耦合( 靜電耦合方式)供應電流。藉由控制線圈圈數,可以選擇 接收的頻率度。 —般而言,遠端耦合的頻率是微波;近程型及接近型 的頻率使用13.56MHz ;密接型的頻率使用4.91MHz。可以 藉由增加頻率及降低波長以減少天線的線圈數。 和接觸式薄膜積體電路相比,由於非接觸式薄膜積體 電路和讀取器/寫入器不接觸,而執行電源供應及資訊通 訊,所以,非接觸式薄膜積體電路是不可斷裂的、高度可 靠的、及幾乎無誤的。讀取器/寫入器的結構簡單。此外 ,由於所需要的是將卡持至讀取器/寫入器就可以完成讀 取,所以非接觸式薄膜積體電路容易使用。 -36- 1380080
非接觸式積體電路包括CPU、記憶體、I/O埠、以及 . 輔助處理器,以及經由路徑(path)交換資料。此外,1C具 有RF(射頻傳輸)介面、和非接觸式介面。用於讀取的讀 取器/寫入器包括非接觸式介面和介面電路,以及在每一 介面電路之間執行資訊通訊或資訊交換。接著,藉由讀取 器/寫入器的介面電路實現和主電腦的資訊通訊或資訊交 換。無須多言,主電腦可以具有讀取器/寫入器的功能。 φ 圖10C是對應於圖10B的塑膠卡的外部視圖。圖10C 中,1010表示塑膠卡主體;1011表示反射型液晶的顯示單 元:1012表示記億單元;1013表示CPU。在使用塑膠卡作 爲識別卡時,卡可以是輕的,且形狀可以是可撓的。此外 ,當該卡變成無用時,其可以被簡單地切斷,以使記億體 單元中的資訊不會被讀取,並防止卡被僞造。 圖1 1A至11C是視圖,顯示不同形式之用於讀取卡的 資訊的實施例。如圖11A所示,安裝有薄膜積體電路的卡 φ 72被持至讀取器/寫入器70的感測器單元71。 如圖11B所示,讀取器安裝有由個人所有的可攜式資 訊終端,舉例而言,行動電話80,且卡82會被持至提供給 主體的一部份之感測器單元8 1以在顯示單元8 3上顯示資訊 此外,如圖11C所示,將安裝有薄膜積體電路的卡92 持至可由個人攜帶及擁有之讀取器90的感應器91,以在顯 示單元93上顯示資訊。 雖然在本實施例中說明了非接觸式的讀取器/寫入器 -37- 1380080 ’但是假使接觸式可以在顯示單元上顯示資訊,則可使用 . 接觸式。資訊可以顯示在安裝有接觸式或非接觸式薄膜積 體電路的卡本身之顯示單元上。 圖10D是具有多個液晶顯示單元的可攜式資訊終端的 實施例。 圖10D中所示的裝置可以在折疊活動部分1 023處折疊 ’其尺寸可以做成名片大小。主體,亦即塑膠基底1 020是 φ輕重量的塑膠材料。裝置包括左側顯示單元1021及右側顯 示單元1 022。例如CPU等積體電路可以提供給塑膠基底 1 020 ° 本實施例可以和實施例模式1、實施例模式2、實施 例1 、實施例2、或實施例3任意組合。 [實施例5] 將參考圖12A至12F,在本實施例中說明以有機材料 籲製造有機TFT的方法。 如圖12A所示,製備具有絕緣表面的基底901。此基 底至少具有可撓性及光透射特性,且能夠由選自聚對苯二 甲酸乙二醇醋(PET)、聚萘酸乙酯(polyethylene naphthalate )(Ρ ΕΝ)、聚醚颯(PES)、聚碳酸脂(PC)、聚醯亞胺組成的 族群之塑膠所形成。基底901的厚度實際上從1〇至200mm 〇 然後,在基底901上形成障壁層(barrier layer)902。 障壁層902可以由RF濺射所形成的未含氫之氮化矽所形 -38 - 1380080 成,或是由氮化矽及氧化矽構成的多層膜所形成。障壁層 . 可以防止濕氣或有機物氣體從外在環境穿入TFT,以致於 可以防止有機半導體材料劣化。 ,在障壁層902上以導電膏(conductive paste)形成第 —導電膜,以作爲TFT的閘極電極903。關於導電膏可以 使用導電碳糊、導電銀糊、導電銅糊、導電鎳糊等。藉由 網印法(screen printing)、輥塗法或噴墨法形成預定的圖 φ案。用導電糊膏,將第一導電層形成預定圖案、整平 (leveling)、乾燥,然後,在l〇〇-200°C的溫度固化。 如圖12B所不,在鬧極電極903上形成第一絕緣膜, 作爲閘極絕緣膜904。此外,藉由輥塗、噴灑等,以塡加 丙烯酸樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚醯胺樹脂、苯氧基樹脂、 非芳香性多官能團的異氰酸酯及三聚氰胺樹脂的材料形成 第一絕緣膜。慮及閘極電壓,閘極絕緣膜的膜的厚度較佳 地形成爲約l〇〇nm至200nm厚。 φ 接著,如圖12C所示,在閘極絕緣膜9〇4上形成作爲 源極電極905a或汲極電極905b的第二導電膜。關於第二 .導電膜的材料,由於很多有機半導體材料是p型材料,其 係用於傳輸電荷的材料會傳輸正電洞作爲載子的材料,所 以’希望使用具有大的功函數的金屬以與半導體層造成歐 姆接點。具體而言,以包含例如金,鉑,鉻,鈀,鋁,銦 ’鉬或鎳等金屬或其合金的導電膏,以印刷或輥塗法,形 成第二導電膜。 接著’如圖12D所示,在源極電極905a或汲極電極 -39- 1380080 905b上形成作爲堤(bank)906的第二絕緣膜。此外,以網 . 印法,使用添加丙烯酸樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚醯胺樹脂 、苯氧基樹脂、非芳香性多官能團的異氰酸酯和三聚氰胺 樹脂的材料形成第二絕緣膜,以在閘極電極的頂部形成開 口部分,以便塡充有機半導體膜於其中。另外,可以在形 成堤後形成源極電極和汲極電極。 之後,形成有機半導體膜。在以高分子材料形成有機 •半導體膜的情形中,適當地使用浸漬法(dipping method) 、鑄造法(casting method)、條塗著法、旋塗法、噴灑法 '噴墨法或印刷法作爲形成膜之方法。至於有機半導體材 料’可以使用有機分子晶體、有機聚合物材料。具體的有 機分子晶體的貫施例爲·多環方香族化合物(polycy lie aromatic compound)、共軛雙鍵化合物(conjugated double bond compound)、胡蘿蔔素、大環化合物及其複合物、胯 花菁、電子遷移型複合物、四硫富瓦烯(TCNQ複合物)、 魯游離基、二苯基苦味基胼基(diphenylpicrylhydrazyl)、顔 料或蛋白質。另外,有機高分子化合物材料的具體實施例可 爲:π共飯聚合物、CT複合物、聚乙嫌批D定(polyvinylpyridine) 、碘或胯花菁金屬複合物等。特別地,骨架由共軛雙鍵構 成的π共範聚合物,舉例而言,聚乙炔(polyacetylene)、 聚苯胺(polyaniline)、聚卩比啥(polypyrrole)、聚噻吩、聚 噻吩衍生物、聚- (3-己基噻吩)[P3HT;—種在聚噻吩的第 三位置(third position)中導入可撓院基的聚噻吩衍生物的院基 是己院基的高分子材料])、聚(3 -院基噻吩)(3-alkylthiophene)
<.S -40- 1380080 、聚(3-二十二院基噻吩)(poly(3- docosylthiophene))、聚對苯撐 . (Polyparaphenylene)衍生物,或較佳地使用聚對苯撐乙烯 [poly(paraphenylene vinylene),PPV]衍生物作爲有機聚合 物材料。 以汽相沈積,形成由小分子材料所形成的有機半導體 膜。舉例而面》可以形成嘻吩低聚物(thiophene-oligomer) 膜(聚合度6)或並五苯(Pentacene)膜等。 φ 在使用大尺寸的基底’或第一基底以及第二基底是彈 性的情形中’較佳地以滴注溶液的方法形成半導體膜。接 著,如圖12E所示’藉由自然放置或烘烤以完成有機半導 體膜907。 接著’如圖1 2F所示’形成鈍化膜908。藉由RF濺射 法,以含有矽的絕緣材料形成氮化矽膜,氮氧化矽膜等作 爲鈍化膜。 之後,源極電極、汲極電極、閘極電極會製成接觸及 鲁連接裝置基底與TFT之間的各佈線以形成半導體裝置。 此外’藉由根據實施模式1或實施例模式2,滴注液晶材料 ’以完成液晶顯示裝置(液晶顯示模組)。 因此’由於由有機化合物材料形成整個TFT,所以, 有機TFT可以形成爲重量輕且有可撓性的半導體裝置(具 體爲液晶顯示裝置)。 特別地,根據本實施例的有機TFT,可以應用於面板 上的系統’在面板上有用於視覺顯示的像素部分;用於收 發各種資訊的通信設備;存儲資訊或處理資訊之電腦;或 -41 - 1380080 等等。 本實施例可以和實施模式1、實施模式2、實施例1 、實施例2、實施例3、或實施例4任意組合。 [實施例6] 藉由倂入根據本發明的液晶顯示裝置以製造電子設備 。電子設備的實施例可爲攝影機、數位相機、目鏡式顯示 φ器(頭戴式顯示器)、導航系統、音頻再生裝置(汽車音響 、音響零件等)、膝上型本電腦、遊戲機、攜帶型資訊終 端(行動電腦、行動電話、攜帶型遊戲機、電子書等)、以 及包括記錄媒體的影像再生設備(具體地說是能夠處理諸 如數位多式樣光碟(DVD)等記錄媒體中的資料並具有能夠 顯示資料影像的顯示器之裝置)。圖13A-13H示出了其實 際實施例。 圖13A顯示電視機,包含機殼2001、支撐座2002、顯 φ示部分2003、揚聲器單元2004、影像輸入端子2005等。本 發明可應用於顯示部分2003。如同此處所使用般,「電視 機」一詞包含用來顯示資訊的所有電視,例如個人電腦的 電視、用來接收TV廣播的電視、以及用於廣告的電視。 圖13B顯示數位相機,包含主體2101、顯示部分21 02 、影像接收單元2103、操作鍵21 04、外部連接埠2105、快 門2106等。本發明可應用於顯示部分2102。 圖13C顯示膝上型電腦,包含主體2201、機殻2202、 顯示部分2203、鍵盤22 04、外部連接埠2205、滑鼠2206等 -42- 1380080 。本發明可以應用於顯示部分2 2 03。 圖13D顯示行動電腦,包含主體2301、顯示部分2302 、開關2303、操作鍵23 04、紅外線埠2305等。本發明應用 於顯示部分23 02。 圖13E顯示配備有記錄媒體(具體地說是DVD播放器) 的攜帶型影像再生設備。此設備包含主體240 1、機殼2402 、顯示部分A 24〇3、顯示部分B 2404、記錄媒體(例如 φ DVD)讀出單元2405、操作鍵24〇6、揚聲器單元2407等。 顯示部分A 2403主要顯示影像資訊,而顯示部分B 2404 主要顯示文字資訊。本發明應用於顯示部分A 2403和B 24〇4。此處所使用的「配備有記錄媒體的影像再生裝置」 包括家用遊戲機。 圖13F顯示遊戲機,包含主體2501、顯示部分2505、 以及操作開關2 5 0 4。 圖13G顯不攝影機’包含主體2601、顯示部分2602、 鲁機殼2603、外部連接埠26 04、遙控接收單元26 05、影像接 收單元2606、電池2607、音頻輸入單元2608、操作鍵2609 等。本發明應用於顯示部分2602。 圖13H顯示行動電話,包含主體2701 '機殻2702、顯 示部分2703'音頻輸入單元27 04、音頻輸出單元2705、操 作鍵2706、外部連接埠2707、天線2708等。本發明應用於 顯不部分2703 »假使顯示部分2703在黑色背景上顯示白色 字元,則能夠降低行動電話的耗電。 如上該’藉由實施本發明而得到的顯示裝置可以被用 -43- 1380080 作任何電子設備的顯示部分。本實施例的電子設備可以採 用根據實施例模式1、實施例模式2、或實施例1至5中任一 實施例中所示的顯示裝置的任何結構。 根據本發明’能夠量產有效率地使用液晶材料及具有 可撓性之高度可靠的液晶顯示裝置。 【圖式簡單說明】 φ 圖1 A到1 G是實施例模式1的說明視圖; 圖2A和2G是實施例模式2的說明視圖; 圖3A到3C是實施例模式2的說明視圖; 圖4A至4B是實施例模式2的說明視圖; 圖5是顯示氮化矽膜中C、N、0、及Η濃度的SIMS 量測結果; 圖6是顯示氮化矽膜中的Ar濃度的SIMS量測結果; 圖7是實施例1中解釋的主動矩陣型液晶顯示裝置的 •橫截面圖; 圖8 A和8 B是實施例2中解釋的液晶模組的俯視圖; 圖9A到9E是實施例3中解釋的剝離製程; 圖10A到10D是顯示實施例4中解釋的卡式半導體裝 置; 圖1 1A到11C是顯示實施例4中說明的讀取器/寫入器 t
圖12A到12F是顯示實施例5中說明的製造有機TFT 的製程;及 -44 - 1380080 圖1 3 A到1 3 Η是實施例6中說明的電子設備的實施例 【主要元件符號說明】 10 :第一基底 1 1 :金屬膜 1 2 :剝離層 φ 1 3 :金屬氧化物 14 :第二基底 1 5 :第一黏合劑 1 6 :第二黏合劑 17 :第三基底 3 1 :天線 3 2 :電流電路 33 :中央處理器 春3 4 :記憶體 35 :積體電路單元 41 :第一基底支撐器 42:第二基底支撐器 44 :窗口 4 8 =底側機器平台 4 9 :光源 70 :讀取器/寫入器 7 1 :感測器單元 -45- 1380080 72 :卡 7 3 :顯示單元 80 :讀取器/寫入器 8 1 :感測器單元 82 :卡 8 3 :顯示單元 90 :讀取器/寫入器 φ 91 :感測器單元 92 :卡 93 :顯示單元 1 1 〇 :第一基底 1 1 1 :像素電極 1 1 2 :密封材料 1 1 3 :液晶 1 1 4 :液晶材料 φ 1 1 5 :圓柱狀隔離物 1 1 8 :液晶散佈器 120 :第二基底 1 2 2 :對立電極 1 2 3 :保護膜 21 0 :第一基底 2 1 1 :像素電極 2 1 2 :密封材料 2 1 3 :液晶 -46 1380080 2 1 4 :液晶 _ 215 :圓柱狀隔離物 2 1 8 :液晶散佈器 220 :第二基底 222 :對立電極 223 :保護膜 3 1 1 :像素部份 $ 3 1 2 :密封材料 3 1 4 :液晶材料 3 1 8 :液晶散佈器 3 1 9 :部份 3 20 :反交錯TFT 3 2 1 :像素電極 322 :圓柱狀隔離物 3 23 :配向膜 籲324 :保護膜 600 :基底 6 0 1 :像素電極 602 :柱狀隔離物 603 :偏光板 604 :後照光 605 :導電板 606 :蓋 6 0 7 :密封材料 1380080 6 1 9 :第二保護膜 620 :濾色片 6 2 1 :對立電極 622 :配向膜 623 :配向膜 701 :主動矩陣基底 704 :像素部份 705 :可撓印刷電路板 7 0 6 :對立基底 7 0 7 :密封材料 71 1 :主動矩陣基底 712:源信號線驅動電路 7 1 3 :閘信號線驅動電路 7 1 4 :像素部份 7 1 5 :可撓印刷電路板 7 1 6 :基底 7 1 7 :密封材料 7 1 8 :第二密封材料 901 :基底 9 0 2 :障壁層 9 0 3 :閘極電極 904 :閘極絕緣膜 9 0 5 a ··源極電極 9 0 5b:汲極電極 1380080 906 :堤 907 :有機半導體膜 908 :鈍化膜 1 001 :中央處理器 1 002 :控制單元 1 003 :算術單元 1 004 :記憶體單元 1 005 :輸入部分 1 006 :輸出單元 1010 :塑膠卡主體 1 0 1 1 :顯示單元 1 0 1 2 :記憶單元 1 0 1 3 :中央處理器 1021 :左側顯示單元 1 0 2 2 :右側顯示單元 1 023 ‘·折疊活動部分 200 1 :機殼 2002 :支撐座 2003 :顯示部份 2004 :揚聲器單元 2005 :影像輸入端子 2101 :主體 2 1 0 2 :顯示部份 2 1 0 3 :影像接收單元 -49- 1380080 2 104 :操作鍵 2105 :外部連接埠 2 10 6:快門 2201 :主體 2202 :機殼 2203 :顯示部份 2204 :鍵盤 2205 :外部連接埠 2206 :滑鼠 23 0 1 :主體 23 02 :顯示部份 2303 :開關 2304 :操作鍵 23 0 5 :紅外線埠 2401 :主體 2402 :機殼
2403 :顯示部份A
2404 :顯示部份B 2405 :記錄媒體讀出單元 2406 :操作開關 2407 :揚聲器單元 250 1 :主體 2502 :顯示部份 2 5 0 5 :操作開關 1380080 260 1 : 主體 2602 : 顯示部份 2603 : 機殼 " 2604 : 外部連接埠 2605 : 遙控接收單元 2606 : 影像接收單元 ' 2607 : 電池 • 2608 : 音頻輸入單元 2609 : 操作鍵 2 7 01 : 主體 2702 : 機殼 2703 : 顯示部份 ' 2704 : 音頻輸入單元 2705 : 音頻輸出單元 2706 : 操作鍵 • 2707 : 外部連接埠 2708 : 天線

Claims (1)

13 80.080 弟〇97127丨55號專利申請案中文申請專利範圍修正本 民國101年6月20曰修正 十、申請專利範圍 種液晶顯示裝置,包含: 第一基底; 開關元件’形成於該第—基底上: 像素電極’電連接至該開關元件; 第二基底,與該第一基底對立; 密封材料,形成於該第一基底與該第二基底之間; 液晶,固持於該第一基底與該第二基底之間; 其中該密封材料係被塗佈成封閉環狀,且該密封材料 係不溶解於與該密封材料接觸之該液晶中,以及 其中在降低該液晶之黏度之後,滴注該液晶於由該密 封材料圍住的區域上。 2.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該密 封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 3 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該密 封材料包括塡充物。 4 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件係反交錯型薄膜電晶體。 5 .如申請專利範圍第丨項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件係通道蝕刻型薄膜電·晶體。 6 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件之主動層係微晶半導體膜。 1380080 7.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件之主動層係非晶矽膜》 8 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進一步包 含形成於該第一基底與該第二基底之間之圓柱狀隔離物, 其中該圓柱狀隔離物是由含有選自丙烯酸、聚醯亞胺、聚 醯亞胺醯胺、及環氧樹脂組成的族群中至少一材料作爲主 材料之有機樹脂材料所形成;或者由氧化矽、氮化矽、氧 化氮化矽中任一材料所形成;或者由這些材料的疊層膜構 成的無機材料所形成。 9·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該第 一基底係玻璃基底。 10.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進一步包 含形成於該開關元件上之鈍化膜,且其中該鈍化膜係形成 於該像素電極上。 1 1 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進—步包 含形成於該第一基底與該第二基底之間之圓柱狀隔離物; 以及 覆蓋該圓柱狀隔離物及該像素電極之配向膜。 1 2.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,該液晶顯 示裝置係液晶面板’其具有從20至80英寸之大尺寸螢幕。 13. —種液晶顯示裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成像素電極於該第一基底上: 形成對立電極於第二基底上; 1380.080 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈密封材料成封閉環狀於該第一基底與該第二基底 其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下’將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 初步固定該密封材料; 固定該密封材料;以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之該液 晶材料中。 14.如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料具有從40至4OOPa.s之黏度》 1 5 ·如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 16. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料包括塡充物。 17. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包括步驟:形成鈍化膜於該開關元件上,且其 中該鈍化膜係形成於該像素電極上。 18. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該第一基底係玻璃基底。 19. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件係反交錯型薄膜電晶體。 2 0 ·如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 1380080 法,其中該開關元件係通道蝕刻型薄膜電晶體。 21. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件之主動層係微晶半導體膜。 22. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件之主動層係非晶矽膜。 23 .如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中係用散佈器裝置或噴墨裝置塗佈該密封材料》 24.—種由一對基底製造複數個面板之方法,包括以 下步驟: 形成包括開關元件及像素電極之顯示區域於第一基底 上; 形成對立電極於第二基底上; 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈每一密封材料成封閉環狀,用以圍住每—顯示區 域於該第一基底與該第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 每一密封材料圍住的每一該顯示區域上; 在減壓下,將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 初步固定該密封材料; 固定該密封材料; 切割該第一基底與該第二基底,以分成複數個面板, 以及 其中該每一密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之 該液晶材料中。 1380.080 25. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料具有從40至400Pa.s之黏度 〇 26. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 2 7.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料包括塡充物》 2 8.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,進一步包括步驟:形成鈍化膜於該開關元件 上,且其中該鈍化膜係形成於該像素電極上。 29. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該第一基底係玻璃基底。 30. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件係反交錯型薄膜電晶體。 3 1.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件係通道蝕刻型薄膜電晶體。 32. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件之主動層係微晶半導體膜。 33. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件之主動層係非晶矽膜。 34. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中係藉由移動散佈器裝置或噴墨裝置塗佈 該密封材料。 35. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 1380080 面板之方法,其中係藉由移動該第一基底塗佈該密封材料 〇 3 6.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該每一像素電極係電連接至該每一開關 元件。 37·如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,進一步包括步驟:形成圓柱狀隔離物於該第 一基底與該第二基底之間。 38. —種液晶顯示裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成以矩陣形式配置之像素電極於該第一基.底上; 形成對立電極於第二基底上: 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈包括丙烯酸光固化樹脂之密封材料於該第—基g 與該第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下,將該第一基底與該第二基底黏合在—起; 藉由紫外線照射初步固定該密封材料; 固定該第一基底與該第二基底;以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸 晶材料中。 3 9.如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該密封材料具有從40至400Pa.s之黏度。 丄兆Q〇8〇 4 0.如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 $,其中塗佈該密封材料成封閉環狀,用以圍住顯示區域 〇 41 .如申請專利範圍.第38項_之..液.晶.顯示.裝..置的製造方 $ ’其中係藉由通過該第二基底之紫外光線初步固定該密 封材料。 42. 如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 $ ’其中係藉由熱處理完全固化該密封材料。 43. 如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 法’進一步包含步驟:在減壓下黏合之後,在該第—基底 _該第二基底處於壓力下的狀態中,回到大氣壓力。 4 4 ·如申請專利範圍第3 8項之液晶顯示裝置的製造方 法’進一步包含步驟:形成圓柱狀隔離物於該第—基底與 該第二基底之間。 45.—種液晶顯不裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成像素電極於該第一基底上; 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈包括丙烯酸光固化樹脂之密封材料於該第—基底 與第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下’將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 藉由紫外線照射初步固定該密封材料; C -7- 1380080 在初步固定該密封材料之後,固定該第一基底與該第 二基底:以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之該液 晶材料中。 46. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該密封材料具有從40至400Pa_s之黏度。 47. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中塗佈該密封材料成封閉環狀,用以圍住顯示區域 〇 48. 如申請專利範圍第4 5項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中係藉由通過該第二基底之紫外光線初步固定該密 封材料。 49. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中係藉由熱處理完全固化該密封材料。 50·如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包含步驟:在減壓下黏合之後,在該第一基底 與該第二基底處於壓力下的狀態中,回到大氣壓力。 51.如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包含步驟:形成圓柱狀隔離物於該第一基底與 該第二基底之間。
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