TWI380080B - Liquid crystal display device and method for manufacturing the same - Google Patents
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1380080 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明關於液晶顯示裝置及其製造方法。更特別地, 本發明關於安裝有電光裝置作爲組件之電子設備,電光裝 置以具有由薄膜電晶體(在下文中被稱爲TFT)構成的電路 之液晶顯示面板爲典型。 φ 【先前技術】 近年來,利用在具有絕緣表面的基底上形成的半導體 薄膜(厚度幾乎從數nm至幾百ηιη)來形成薄膜電晶體 (TFT)的技術受人關注。薄膜電晶體被廣泛地應用於諸如 1C(積體電路)或電光裝置等電子裝置,並且特別迫切需要 將其開發作爲影像顯示裝置的開關元件。 長期以來,液晶顯示裝置作爲影像顯示裝置是衆所周 知的。因主動矩陣型液晶顯示裝置比被動矩陣型液晶顯示 φ裝置更能顯示高清晰影像,所以主動矩陣型液晶顯示裝置 / 被廣泛利用。在主動矩陣型液晶顯示裝置中,藉由驅動以 ' 矩陣形式排列的像素電極,以在顯示幕幕上形成顯示圖案 。更具體地說,藉由在選擇的像素電極和一個相應於這一 選擇的像素電極的對立電極之間施加電壓,可以將插入於 * 選擇的像素電極和對立電極之間的液晶層光學地調變。此 •光調變由觀視者視爲顯示圖案。 這種主動矩陣型電光裝置已廣泛用於各種領域。隨著 顯示幕尺寸的增加,對實現高清晰度、高孔徑效率、和高 -4- 1380080 可靠性有強烈需求。此外,需要提高裝置的生産率以及降 低製造成本。 另外,本發明的申請人在USP 4,691,995中揭示液晶 滴。 發明的目的是提供一種有效率地使用液晶材料、以及 具有可撓性之可靠性高的液晶顯示裝置。 隨著面板尺寸增大,製造成本也增高。尤其是夾在像 素電極和對立電極之間的液晶材料價格昂貴。 發明提供使用大尺寸基底的液晶顯示裝置的製造方法 ,舉例而言,這樣的大尺寸基底包括:320x400mm、370χ 470mm、5 5 0 x 650mm、600 x 720mm、6 80 x 8 80mm、1 〇〇〇 x 1 200mm' 1 1 00x 1 2 5 0mm 或 1 1 50x 1 3 00mm 的尺寸。而且, 發明還提供用於量產基底尺寸甚至爲1500x1800mm、1800 X 2000mm ' 2000 χ 2 100mm、2200 x 2600mm、或 2600 χ 3 100mm的大尺寸基底之液晶顯示裝置的製造方法。 爲了密封液晶,需要執行複雜的製程,舉例而言,塗 佈密封材料;對立基底塗膠、分割、注入液晶、以及密封 液晶注入口。特別地’在大尺寸的面板中,利用毛細現象 注入液晶及以液晶塡充密封材料圍住的區域(至少包括像 素部分),變得相當困難。 二基底會被黏合在一起、被分割、及從形成在分割表 面上的液晶注入口注入液晶材料時。在此情形中,從液晶 注入口延伸到像素區域的路徑會由液晶塡充。另外在驅動 電路部和像素部被設在一基底上的情形中,不僅像素部區 -5- 1380080 域’甚至驅動電路部’有時也會被液晶塡充。顯示部分以 外的其部分會被由液晶材料塡充。 由於跟面板的其他區域相比,相當大量的液晶會通過 從液晶注入口延伸到像素區的路徑,尤其是液晶注入口附 近’由於注入液晶造成摩擦’會使得配向膜劣化,結果造 成配向膜變形。 此外’期望液晶顯示裝置會應用到不同的電子設備, •特別是應用到可攜式裝置。目前,有很多使用玻璃基底或 石英基底製造的液晶顯示裝置。但是,這些基底具有易碎 且笨重之缺點。此外’由於量產時難以使用大尺寸的玻璃 或石英基底’所以,玻璃或石英基底不適於量產。因此, 嘗試使用可撓性的基底’典型爲可撓塑膠基底,以製造液 晶顯示裝置。 然而’塑膠膜對例如濕氣或鹼性金屬等雜質具有不佳 的阻擋特性’以致於無法取得高度可靠之液晶顯示裝置。 鲁結果’無法實現使用塑膠膜製造之具有高度技術優點的液 : 晶顯示裝置。 【發明內容】 慮及上述’本發明提供依下述製造的液晶顯示裝置: 在對立基底(第一可撓基底)上設置保護膜,塗佈密封材料 、在真空中(減壓下)滴注液晶到對立基底上、以及將對立 基底黏合至第二可撓基底,第二可撓基底係設有像素電極 及柱狀間隔器。於減壓下,將成對基底黏合在一起而藉由 -6- 1380080 柱狀間隔器均勻地間隔。 另外,可以使用散佈器(dispenser)或噴墨機以塗佈密 封材料。此外,塗佈密封材料可以在減壓的情況下執行, * 也可以在大氣壓下的惰性氣氛中執行。在溶劑添加至密封 材料中以控制密封材料的黏度之情形中,較佳的是使用幾 乎不揮發的溶劑以防止密封材料在減壓下滴注期間劣化及 固化。 φ 另外,以圍繞像素部分之封閉圖案,塗佈密封材料。 由密封材料圍繞的空間會塡充液晶。 可以在設有像素部分的一基底上塗佈密封材料及滴注 液晶。另外’在可撓基底上設置保護膜,以及在像素電極 上滴注液晶材料,亦即,僅在像素部份(減壓下),然後, 將可撓基底黏合至設有密封材料的對立基底。 關於根據本發明中的保護膜,較佳的是使用矽靶之 RF濺射所形成的氮化矽膜的單層膜,或氮化矽膜和氧化 φ矽膜的疊層膜。 使用矽靶之RF濺射所形成的濃密氮化矽膜不但可以 有效地防止因諸如鈉,鋰,鎂等鹼性金屬或鹼土金屬污染 TFT(多晶矽TFT、非晶矽TFT、有機TFT等)而引起的臨 界電壓的變動,而且,對氧氣和濕氣有極高的阻隔效果。 另外,爲增進阻隔效果,較佳的是,氮化矽膜中氧氣和氫 氣的含量最多爲1 0原子%,更佳地最多爲1原子%。 具體的濺射條件是:使用氮氣或氮和稀有氣體的混合 氣體;壓力爲0.1至1.5Pa;頻率爲13MHz至40MHz;電力 1380080 爲5至2〇W/cm2;基底溫度爲室溫至35(TC ;矽靶(1至i〇Qcm) 和基底的距離爲40mm至200mm;背壓最多爲lxi(T3pae對基 底背面噴灑稀有氣體。舉例而言,在流速比設定爲Ar: N2 = 20sccm : 20sccm ;壓力爲 0.8Pa ;頻率爲 13.56MHz ; 電力爲16.5W/cm2;基底溫度爲200°C ;矽靶和基底的距離 爲6 0mm ;背壓力爲3xlO_5Pa的條件下得到的濃密的氮化 砂膜,具有以下特徵:最多爲9nm(較佳的是0.5至3.5nm) φ的低蝕刻速率,以及至多爲lxl02latomS/cm·3或的低氫濃 度(較佳的是最多爲5xl02()atoms/cm·3)。此處「蝕刻速率 」係指使用LAL 500,在2(TC的條件下之蝕刻速度。此處 LAL 500”是指日本橋本化學公司(Hashimoto Chemical KK)生産的“ LAL 500 S A緩衝氫氟酸”,即 NH4HF2( 7·13°/(>)和NH4F(15·4%)的水溶液。 以濺射形成的氮化矽膜,具有下述特性:介電常數從 7.02至9.3;折射率從1.91至2.13;內應力是4.17至lx φ 108dyn/cm2;蝕刻速率是0.77至1.31nm/分鐘。內應力數値 -的正負號是取決於壓應力或拉應力之內應力,這裏只取其 _ 絕對値。另外,以濺射形成的氮化矽膜具有爲3 7.3原子% 之Si濃度及55.9原子%之N濃度,每一濃度係得自RBS 的結果(Rutherford Back Scattering spectroscopy,拉塞福背 散射光譜)。以濺射法形成的氮化矽膜具有4xl02()原子/cnT3之 氫濃度、8x102Q原子/cm·3之氧濃度、及lxlO19原子/cm_3的 碳濃度。以濺射形成的氮化矽具有至少80%的透射率。圖 5顯示氮化矽膜(膜厚度爲130nm)的SIMS的量測結果。 -8- 1380080 圖6是氮化矽膜(膜的厚度爲30nm)和氧化矽膜(膜的厚 度爲20nm)的SIMS結果。氮化矽膜的氬濃度爲ιχι〇2«^1χ 1〇21原子/cnT3。表1顯示出形成氧化矽膜和氮化矽膜的條 件之典型實施例。 [表1] 氧化矽(A) 氧化矽⑼ 氮化矽 氣體 Αγ/〇2 <r- Αγ/Ν2 流速比 10/30 20/20 壓力(Pa) 0.4 0.8 頻率(MHz) 13.56 <- 電功率(W/cm2) 4.1 <- <r- 基底溫度(°C) 200 <- 靶材料 Si(摻雜 Bl-lOQcm) 合成石英 <r- T/S(mm) 60 <r~ 如此,藉由添加例如氬之惰性氣體或氮至膜中,保護 Φ膜可以有效地防止例如濕氣等雜質穿入》 本發明所揭示之構成之一爲:液晶顯示裝置,包括第 _ 一可撓基底、第二可撓基底、以及插入於該第一、第二可 撓基底組成的成對基底之間的液晶,包括:第一或第二可 撓基底上的無機絕緣膜;以及使基底對均勻地間隔的柱狀 隔離器,其中,以塗佈成封閉圖案的密封材料,將基底對 黏合在一起。 在上述構成中,氮化矽膜含有lxl〇2()至lxl〇21cm·3濃 度的氮化矽膜β在上述構成中,無機絕緣膜是係含有最多 -9- 1380080 lxl 021 cnT3濃度的氫之氮化矽膜。另外,在上述構成中, 無機絕緣膜是含有濃度最多lxl〇21crtT3的氫,及濃度爲5x 1018cnT3至5xl〇21cnT3的氧之氮化矽膜。 ' 此外,保護膜可以由氮化矽膜和氧化矽的多層膜所形 成。本發明的其他結構爲:液晶顯示裝置,包括第一可撓 基底、第二可撓基底、以及插入於該第一、第二可撓基底 組成的成對基底之間的液晶,包括:在第一或第二可撓基 φ底上由氮化矽膜及氧化矽膜的多層膜所形成之無機絕緣膜 ;以及使基底對均勻地間隔的柱狀隔離器,其中,以塗佈 成封閉圖案的密封材料,將基底對黏合在一起。 在上述構成中,氮化矽膜含有lxl02Q至lxl021cm_3濃 度的氮化矽膜。 根據本發明的可撓基底,也就是膜狀塑膠基底,較佳 地由有機樹脂形成,舉例而言,聚對苯二甲酸乙二醇酯 (PET)、聚醚楓(PES)、聚萘酸乙二酯(polyethylene φ naphthalate)(PEN)、聚碳酸酯(PC)、尼龍、聚醚醚酮 (PEEK)、聚颯(PSF)、_醚醯亞胺(PEI)、聚芳酯(PAR)、 聚對苯二甲酸丁二酯(PBT)、聚丙烯、聚丙硫醚、聚苯硫 醚(PPS)、聚苯醚、聚砖醯胺(PDA)、聚醯亞胺等有機樹脂 。另外’還可以使用塑膠基底(由具有極性基的冰片烯 (norbornene)樹脂組成的ARTON :日本JSR公司製造)。 液晶的滴注可以應用使用散佈器或噴墨機。對於滴注 在封閉式密封材料圖案中,準確地穩定滴注量是重要的。 此外’噴墨法是向像素電極噴射(或滴注)很多滴微量液晶 -10- 1380080 的方法。借助於使用噴墨法,可以藉由控制排放次數或排 放點的數目,而自由地控制微量的液晶。 在減壓下較佳地滴注(或噴射)液晶以防止雜質混入。 ' 並且,液晶即使在減壓的情況下被滴注,也不會劣化或固 化等。另外,在減壓的情況下滴注(或噴射)液晶時,也可 以使用經預先減壓而經過除沫處理過的液晶。另外,在滴 注(或噴射)液晶期間,基底被加熱以除氣,同時降低液晶 Φ的黏度。如果需要,可以在滴注液晶後,以旋轉塗敷以均 勻化液晶厚度。在減壓下,將可撓基底較佳地黏合至對立 基底’以防止氣泡在黏合基底期間進入液晶。 爲獲得上述構成的發明的構成之一爲:液晶顯示裝置 的製造方法,液晶顯示裝置包括第一基底、第二基底以及 介於該第一、第二基底的基底對之間的液晶,該製造方法 包括以下步驟:藉由射頻濺射’在該第一基底或第二基底 上形成無機絕緣膜;在該第一基底上形成像素電極;在該 鲁第二基底上形成對立電極;在該第一基底上形成圓柱狀隔 : 離物以在該一對基底之間均勻地間隔;在該第二基底上塗 . 佈及預固定扭、封材料;在減壓下,於該第二基底上被該密 封材料圍住的區域上滴注液晶材料;在減壓下,對該液晶 材料加熱及除氣;在減壓下’將該第一基底和該第二基底 黏合在一起;以及固定該密封材料。 在黏合設有密封材料的裝置基底的情形中,本發明的 另一構成爲:液晶顯示裝置的製造方法,液晶顯示裝置包 括第一基底、第二基底以及形成在由該第一、第二基底的 -11 - 1380080 基底對之間的液晶,該製造方法包括以下步驟:在該第一 基底或第二基底上以射頻濺射法形成無機絕緣膜;在該第 一基底上形成像素電極;在該第二基底上形成對立電極; 在該第一基底上形成保持該基底對之間間距的圓柱狀隔離 物;在該第一基底上塗佈及預固定密封材料;在減壓下, 向該第一基底上被該密封材料包圍的區域.上滴注液晶材料 :在減壓下,對該液晶材料加熱及除氣;在減壓下,將述 第一基底和該第二基底黏合在一起;以及,固定該密封材 料。 在與上述製造方法有關的各個結構,第一基底或第二 基底是塑膠基底。在上述各個結構中,無機絕緣膜是以矽 爲靶的射頻濺射法製成的氮化矽膜。無機絕緣膜是使用渦 輪分子泵或低溫泵在最多爲lx l(T3Pa的背壓(back pressure)下,N2氣體或N2和稀有氣體的混合氣體濺射單 晶矽靶而製成的氮化矽膜。 根據本發明,因只在需要的地方滴注需要的液晶量, 所以沒有材料被浪費。另外,由於密封材料圖案是閉環狀 ’這樣就不需要液晶注入口和通道的密封材料圖案。其結 果是在液晶注入時難以發生劣化(比如不良晶向)。 至於液晶,只要能被滴注出來,就沒有特殊限制,在 滴注液晶之後,可以將液晶材料和光固化材料或熱固化材 料混合,以增加成對基底之間的接合強度。 液晶大部份以TN模式定向,亦即,當光通過液晶時 ’液晶分子的配置會被扭轉90。。在製造TN模式的液晶 -12- 1380080 顯示裝置時’在兩個基底上形成配向膜,執行磨擦 (rubbing)處理等等,然後,黏合兩個基底以致於它們的磨 擦方向彼此交會。 ' 關於密封材料,較佳地選擇即使和液晶接觸也不會溶 解於液晶中的材料。與液晶接觸及圍繞像素部份的第一密 封材料可以由第二密封材料圍繞。在減壓黏合基底的情形 中’第一密封材料和第二密封材料之間較佳地塡充液晶除 0外的塡充器’舉例而言,樹脂。 對二基底滴注(或注射)兩個基底之後,將基底對黏合 在一起以防止氣泡進入液晶。 以樹脂形成的圓柱狀隔離物、或是將塡充物混入密封 劑中’以將基底對間隔。該圓柱狀隔離物是由含有選自丙 稀酸、聚酿亞胺、聚酿亞胺酿胺(polyimide amide)、及環 氧樹脂組成的族群中至少一材料作爲主材料之有機樹脂材 料所形成;或者氧化矽,氮化矽,氧化氮化矽中任一材料 φ ;或這些材料的疊層膜構成的無機材料。 根據本發明,在將基底黏合,基底會被分成每一裝置 〇 根據本發明,在由一基底製成一液晶顯示裝置的情形 中,將基底黏合至對立基底,可以省略劃分處理,劃分處 理係將基底早期地劃分成每一件。傳統上,爲了在邊緣表 面上提供液晶,會在黏合及劃分基底之後,將液晶注入口 形成於邊緣表面上。 此外,在上述每一構成中,黏合成對基底的製程是在 -13- 1380080 大氣壓或減壓下的惰性氣氛中執行。爲了簡化製程,較佳 地在減壓下注射多滴液晶,並且在同樣減壓,而且不暴露 於大氣的情況下,黏合成對基底。 此外,在上述每一構成中,「減壓下」一詞是指lx 102Pa至2xl04Pa的惰性氣氛中,或是指ipa至5xl04Pa的 真空氣氛中。 「減壓下」一詞(包括在真空中的情況),是指在比大 φ氣壓低的氣壓下。減壓可以是lxl02Pa至2xl04Pa(較佳地5 xl02Pa至5xl03Pa)之塡有氮、稀有氣體、或其他惰性氣體 塡充的氣氛。 在上述每一構成中,適當地設定滴注液晶和液晶材料 的條件,可以將液晶材料間歇地黏著。或者,液晶材料可 以被連續地黏著。 此外’在上述每一構成中,可以在滴注液晶期間,將 基底從室溫(典型的爲2〇。〇 )加溫至200°c的溫度(在不會造 •成塑膠基底自身劣化的範圍內)。藉由加熱基底以將液晶 材料除氣。 _ 液晶顯示裝置廣泛地分爲兩大類型,即被動類型(簡 單矩陣型)或主動型(主動矩陣型)。本發明可以用於任一 型式的液晶顯示裝置。 在主動型的液晶顯示裝置的情形中,作爲開關元件使 用的TFT沒有特殊限制。關於TFT,可以使用具有晶體 結構的半導體膜作爲主動膜之多晶矽TFT ;使用具有非晶 結構作爲主動層的半導體膜之非晶TFT;或是使用有機半 -14- 1380080 導體膜作爲主動層的有機TFT。此外’關於TFT的主動 層,可以使用半非晶半導體膜(又稱微晶半導體膜),該半 晶半導體膜具有介於非晶結構及晶體結構(包含單晶及多 晶)之間的中間結構:具有自由能穩定的第三狀態:及具 有短範圍順序及晶格扭曲之晶體區。 本發明可以應用至任何TFT結構、頂部閘極型TFT 、底部閘極型TFT(反交錯型TFT)、或交錯型TFT。。本 發明可用於主動型液晶顯示裝置。藉由使用單層氮化矽膜 、或氮化矽膜與氧化矽膜的疊層膜,作爲保護膜。則可以 防止TFT劣化及提供高可靠度。 根據本發明,能夠量產有效率地使用液晶材料、及具 有可撓性之高度可靠的液晶顯示裝置。 【實施方式】 將於下說明本發明的實施例模式。 [實施例模式1] 製備作爲對立基底的第二基底12〇以及預先設有TFT( 未顯不)的第一基底110。第一基底110和第二基底120只要 具有可撓性及對光是透明的,則無任何特殊限定。典型上 ,使用塑膠基底作爲基底。關於TFT,可以使用下述之— :使用多晶矽作爲主動層的TFT(也稱多晶矽TFT);使用 非晶矽作爲主動層的TFT(又稱非晶矽TFT);或使用有機 半導體材料作爲主動層的TFT(又稱有機TFT)。 -15- 1380080 塑膠基底具有重量輕及薄膜厚的優點,但是,塑膠基 底對濕氣具有不良的阻隔特性。接著,在本發明的塑膠基 底的單面或雙面上形成保護膜。此處,以濺射在任一面上 形成氮化矽膜。以使用矽靶之RF濺射所形成的濃密氮化 矽膜,可以有效地防止導因於例如鈉、鋰、或鎂等鹼性金 屬或鹼土金屬之TFT污染所造成的臨界電壓的變化等等 。濃密的氮化矽膜對氧氣和濕氣有極高的阻擋效果。爲提 高阻擋效果,氮化矽膜中氧和氫的含量較佳地設定爲最多 1 〇原子%,更佳地設定爲最多1原子%。 關於具體的濺射條件是:使用氮氣或氮和稀有氣的混 合氣體;將壓力設定爲O.lPa至1.5Pa;頻率爲13MHz至 40MHz ;電力爲5至20W/Cm2;基底溫度爲室溫至350 °C ; 與矽靶(1至l〇Qcm)之間的距離爲40mm至200mm:背壓力 最多爲lxl (Γ3 Pa。此外,可以在基底背面噴塗經過加熱的 稀有氣體。 如圖1A所示,在作爲對立基底的第二基底120上形成 保護膜123,並且在第一基底110上也形成保護膜113。雖 然在第一基底上沒有顯示TFT等,但是,第一基底至少 設有氮化矽膜作爲TFT的底層絕緣膜、層間絕緣膜、或 保護膜。 在作爲對立基底的第二基底120上形成由透明導電膜 製成的對立電極122。另外,在第一基底110上也形成由透 明導電膜製成的像素電極111。在第一基底110上形成由絕 緣材料形成的圓柱狀隔離物,以在基底之間間隔(圖1 B)。 -16- 1380080 因此,液晶被固持在成對基底之間。在本胃&胃^^巾 ,在減壓的情況下連續地執行液晶的滴注、加熱除氣、以 及黏合。而且,可以在減壓下塗佈密封材料。 [實施例模式2] 在此將說明在TFT基底上側塗佈密封材料及滴注液 晶的實施例。 φ 如同實施例模式1般,製備作爲對立基底的第二基底 220以及設有TFT(未顯示)的第一基底210。第—基底210 和第一基底220只要具有可燒性且能透射光,則沒有特殊 限制。典型上,使用塑膠基底作爲基底。 然後,如同實施例模式1般,在作爲對立基底的第二 基底220上形成保護膜213,並且在第一基底210上形成保 護膜223(圖2A)。雖然在第一基底上沒有顯示出TFT等, 但是,第一基底至少在TFT上設有氮化矽膜作爲基部絕 φ緣膜、層間絕緣膜、或保護膜。 然後,在第一基底210上形成由透明導電膜所形成的 像素電極211。此外,在第一基底210上形成由絕緣材料所 形成的圓柱狀隔離物2 1 5,以便在基底之間間隔。在第二 基底220上形成由透明導電膜所形成的對立電極222(圖2B) 。在二基底上形成配向膜(未顯示)。對二基底執行磨擦 (rubbing)處理。 然後,在第一基底210上用散佈器或噴墨機塗佈密封 材料212。密封材料212可以使用丙烯酸光固化樹脂或丙烯 -18- 1380080 置的像素電極、和連接至該像素電極的開關元件、反交錯 . 型TFT '以及固持量(未顯示)構成。 然後,在減壓的情況下以熱處理對液晶除氣(圖2E)。 將液晶層加熱以降低其黏度及均勻化其厚度。 在減壓下黏合設有像素部分的第一基底210和設有對 立電極222或配向膜的第二電極220,以防止氣泡進入液晶 中(圖2F)。 φ 圖4A和4B是視圖,顯示黏合裝置的實施例,其能夠 在黏合期間或之後,照射紫外線或執行熱處理。 在圖4中,代號41表示第一基底支撐器,42表示第二 基底支撐器,44表示窗口,48表示底側機器平台,以及49 表示光源。 底側機器平台4 8安裝有加熱器,用來固化密封材料或 降低液晶材料的黏度。另外,第二基底支撐器設有窗口 44 ’以使光源49發射的紫外光等通過。雖然圖中未示出,但 鲁是基底會經由窗口 44對齊。作爲對立基底的第二基底31預 先被分成需形狀。所分割的基底會由真空夾具等固定在支 撐器42上。圖4A顯示黏合前的狀態。 第一基底支撐器和第二基底支撐器會下降,以及將第 —基底35和第二基底31黏合在一起,然後,對基底對照射 紫外光,以實現初步固化。圖4B示出了黏合後的狀態。 接著,執行紫外線的照射或加熱處理,以完全地固化 密封材料212(圖2 G)。此外,除了照射紫外線之外,也可 加入熱處理。 -20- 1380080 在減壓下黏合基底的情況時,降低的壓力會逐漸地回 至大氣壓。此外,在基底對處於壓力下的狀態中,降低的 壓力會逐漸地回至大氣壓。或者,在減壓下黏合成對基底 之後,在成對基底處於壓力下的狀態中,以紫外線照射或 熱處理,固化密封材料。 因此,液晶被固持在基底對之間。在本實施例模式中 ,在減壓的情況下連續地執行液晶的滴注、加熱除氣、以 及黏合。而且,在減壓下塗佈密封材。 在如圖3所示般從一基底製造出四面板的情形中,在 黏合後,以例如畫線器(scriber)、輥式切割器或斷裂器等 切割裝置,將第一基底分割成四面板。如此,從一基底製 造出四個面板。 將根據下述實施例,詳細說明上述構成所組成的本發 明。 φ [實施例1] 本實施例用圖7說明主動矩陣型液晶顯示裝置的製造 過程。 首先用透光性基底60 0形成主動矩陣基底。較佳地具 有 600mmx720mm、680mm x 8 8 0mm ' 1000mm x 1200mm、 1100mmxl250mm、1150mmxl300mm、1 5 0 0 m m x 1 8 0 0 m m ' 1 8 0 0 m m x 2 0 0 0 mm ' 2000mmx2 1 00mm、2 2 0 0 m m x 2 6 0 0 m m、 或26 00mmx3100mm大尺寸的基底,以降低製造成本。關 於可用的基底,可以使用康寧(corning)公司生産的#7059 -21 - 1380080 玻璃或#1737玻璃等爲典型的鋇硼矽玻璃或鋁氧硼矽玻璃 等的玻璃基底。此外,也可以使用石英基底或塑膠基底等 透光性基底。 在以濺射法在整個有絕緣表面的基底6 00的整個表面 上沈積導電膜之後,執行第一微影製程,以在導電膜上形 成光阻掩罩。以蝕刻去除不要的部分,藉以形成佈線和電 極(閘極電極,電容器佈線,以及端子等)。此外,如果需 φ要,還可以在基底600上形成基部絕緣膜。 關於形成佈線以及電極的材料,可以使用選自Ti、 Ta、W、Mo、Cr、Nd組成的族群中的元素作爲成份;或 使用含上述元素之合金作爲成份;或使用含上述元素的氮 化物作爲成份。或者,選擇眾多上述材料以形成疊層作爲 接線及電極。 隨著螢幕尺寸的增大,每一佈線的長度也增加,隨之 而來的是佈線電阻及耗電增加的問題。所以爲了減小佈線 0電阻及耗電,佈線以及電極可以由選自Cu、Al、Ag、Au 、Fe' Ni、及Pt所組成的族群之元件、或其合金所形成 〇 接著,以PCVD,在整個表面上形成閘極絕緣膜。藉 由堆疊氮化矽膜和氧化矽膜至具有50至150nm厚,較佳地 爲1 5 Onm厚,以形成閘極絕緣膜。此外,閘極絕緣膜不限 於具有疊層結構。或者,諸如氧化矽膜、氮化矽膜、氮氧 化矽膜、或氧化鉬膜等絕緣膜也可以用於閘極絕緣膜。 接著,以例如電漿CVD或濺射法等習知技術,在閘 -22- 1380080 極絕緣膜的整個表面上形成具有厚度爲50到200nm,較佳 . 地爲100到150nm的第一非晶半導體膜。典型地,形成厚 度100nm之非晶砂(a-Si)膜。此外,注意,在大尺寸基底 上形成膜時,形成室也應該是大的。因此,將室的內部抽 真空將需要更多的處理時間及更大量的膜形成氣體。因此 ’可以在大氣壓下使用線性電漿CVD裝置,形成非晶矽 (a-Si)的薄膜。 φ 之後’形成厚度從20至80nm之包含具有一導電型(n 型或P型)的雜質元素的第二非晶半導體膜。藉由諸如電 漿CVD方法或濺射方法等習知技術,在整個表面上形成 包含能夠施加一導電型(η型或p型)的雜質元素的第二非 晶半導體膜。在本實施例中,藉由使用添加磷的矽以形成 包含η型雜質元素的第二非晶半導體膜。 接著’藉由第二微影製程以形成光阻掩罩,以及蝕刻 移除不需要的部分,以形成第一非晶半導體島狀膜和第二 馨非晶半導體島狀膜。關於蝕刻方法,可以使用濕蝕刻或乾 蝕刻。 在用濺射法形成覆蓋第二非晶半導體島狀膜的導電層 後’執行第三微影步驟,以形成光阻掩罩。然後,蝕刻去 除不需要的部分,以形成佈線和電極(源極佈線,汲極電 極’電容器電極、等等)。關於佈線以及電極的材料,可 以使用選自 Α卜 Ti、Ta、W、Mo、Cr、Nd、Cu、Ag、Au 、Fe'Ni、及Pt組成的族群中的元素;或是含有這些元 素的合金。以噴墨散佈有奈米粒子的散佈液體以形成接線 -23- 1380080 及電極,在該散佈液中,由例如Ag、Au、Cu或Pd等金 屬形成的奈米粒子(具有顆粒直徑爲5-1 Onm)會以高濃度分 散於其中但不凝結。在以噴墨法形成佈線和電極之情形中 ,微影製程變成不需要,以致於成本可以進一步降低。 以第四微影步驟形成光阻掩罩,以及蝕刻移除不需要 的部份以形成源極接線、汲極電極、及電容器電極。關於 蝕刻方法,可以使用濕蝕刻或乾蝕刻。然後,形成儲存電 φ容器,儲存電容器使用由同於閘極絕緣膜之材料所形成的 絕緣膜作爲介電質。然後,藉由使用源極接線或汲極電極 作爲掩罩,以自行對準方式,移除第二非晶半導體膜的一 部分,而且,降低第一非晶半導體膜的部份厚度。薄化的 區域作爲TFT的通道形成區。 以電發CVD法在整個表面上形成厚I50nm的氮化砂 膜作爲保護膜,以及形成厚150nm的氧氮化矽膜作爲層間 絕緣膜。此外,在大尺寸基底上形成膜時,形成室也應該 修是大的。接著,假使將室內抽真空時,則需要更多的處理 時間及更大量的膜形成氣體。因此,爲了降低成本,以線 . 性電漿CVD裝置’在大氣壓下,形成氮化矽膜作爲保護 膜。之後,執行氫化,以完成通道蝕刻型T F T » 此外’在本實施例中雖然以通道蝕刻型TFT作爲實 施例’但是,TFT並不限於此。也可以形成,通道截斷型 (channel stopper) TFT’ 頂部閘極型 TFT,或交錯型 TFT» 用RF濺射法形成第二保護膜619。使用渦輪分子泵 、或低溫栗在最多1x10 3Pa的背壓(back pressure)下,用 -24- 1380080 N2氣體或N2和稀有氣體的混合氣體,以單晶矽爲靶,執 行濺射而製成氮化矽膜作爲第二保護膜619。濃密的氮化 矽膜可以有效地防止因諸如納,鋰,鎂等鹼性金屬或鹼土 金屬污染TFT而造成的臨界電壓變動。此外,氮化矽膜 對氧氣或濕氣具有優良的阻隔效果。氮化矽膜中氧和氫的 含量較佳地最多爲10原子%,更佳地最多爲1原子%,以增 加阻隔特性。 接著’執行第五微影製程以形成光阻掩罩。然後,以 乾蝕刻形成到達汲極電極或電容器電極的接觸孔。同時, 在端子部份中形成用於電連接閘極佈線至端子部份之接觸 孔(未顯示),以及形成電連接閘極接線至端子部份之金屬 佈線(未顯示)。此外,同時地,形成達到源極佈線的接觸 孔(未顯示),以及形成從源極佈線導出的金屬佈線。在上 述金屬佈線形成之後,形成例如ITO等像素電極,或者, 在例如ITO等像素電極形成之後,形成金屬佈線。 以銦錫氧化物(ITO)、銦氧化鋅氧化物合金(in2〇3_ ZnO)、氧化鈴(ZnO)等形成1 l〇nm厚的透明電極。接著, 執行第六微影製程及蝕刻處理以形成像素電極601。 如上該,可以以六次微影製程製造具有像素部份的主 動矩陣基底,像素部份包括源極佈線、反交錯型TFT、儲 存電容器、和端子部分。 在主動矩陣基底上形成配向膜623並執行磨擦處理。 根據本實施例,在形成配向膜623之前,藉由圖型化諸如 丙烯酸樹脂膜等有機樹脂膜,以在所需位置形成間隔於基 -25- 1380080 底之間的柱狀隔離物6 02。可以在整個基底表面散佈球形 . 隔離物來代替柱狀隔離物。 製備對立基底。對立基底配備有濾色片62 0,其中, 配置有色層和遮光層以對應每一像素。此外,設置平整膜 以覆蓋有色層和遮光層。在平整膜上,以透明導電膜形成 相對電極621以致於與像素部份重疊。在對立基底的整個 表面上形成配向膜622並執行磨擦處理。 φ 根據實施例2,用散佈器或噴墨機塗佈密封材料以致 於圍繞主動矩陣基底的像素部分。完成塗佈密封材料之後 ,在減壓的情況下,向被密封材料圍住的區域中滴注液晶 。接著,在減壓而不曝露於大氣下,以密封材料607將主 動矩陣基底和對立基底黏合在一起。將塡充物混合在密封 材料607中(未顯示)。將二基底黏合在一起以致於彼此以 塡充物和柱狀隔離物602均勻地間距。以滴注液晶的方法 ’減少在製造過程中使用的液晶量,在使用大尺寸基底的 鲁情形中,生産成本也可以得到大幅度的降低。 因此,完成了主動矩陣型液晶顯示裝置。假使需要, .可以按所希望的形狀分割主動矩陣基底或對立基底。此外 ’適當地設置諸如濾色器等偏光板603及光學膜。然後, 以習知技術,將FPC(可撓印刷電路板,Flexible Printed Circuit board)黏著至裝置。 將後照光604及導電板605提供給根據上述製程取得的 液晶模組’並以蓋6 0 6覆蓋液晶模組,而完成主動矩陣液 晶顯示裝置(透射型)。圖1係主動矩陣液晶顯示裝置的部 -26- 1380080 份之剖面視圖。蓋和液晶模組會以黏合劑或有機樹脂固定 。因爲主動矩陣型液晶顯示裝置是透射型,所以,偏光板 603會黏著至主動矩陣基底和對立基底。 雖然本實施例係透射型主動矩陣液晶顯示裝置。但是 ,本發明並不受此限制。本發明也可以製造反射型或半透 射類型的液晶顯示裝置。在取得反射型液晶顯示裝置時, 可以使用光反射率高的金屬膜作爲像素電極,典型的是含 φ有鋁或銀作爲主要成分的材料膜,或這些膜的疊層膜。 本實施例可以和實施例1或實施例2任意組合。 [實施例2] 圖8A是根據實施例1的液晶模組的俯視圖。圖8B是 液晶模組的俯視圖,與實施例1中所示的液晶模組有所區 具有根據實施例1的非晶半導體膜所形成的主動層之 鲁TFT具有約lcm2/Vsec的小場效應遷移率。因此,用於影 : 像顯示的驅動電路係由1C晶片形成,並以TAB(帶式自動 . 接合(Tape Automated Bonding))方式或晶片在玻璃 C〇G(Chip On Glass)方式安載。 在圖8A中,代號701表示主動矩陣基底;706,對立 基底:704,像素部分;707表示密封材料;705表示FPC 。在減壓的情況下用散佈器或噴墨機滴注液晶,並用密封 材料707黏合成對基底701、706。 雖然根據實施例1的T F T具有小的場效應遷移率, t. S :) -27- 1380080 但在使用大尺寸基底量産的情形中,由於是製程係以低溫 執行,所以可以降低製造TFT的成本。根據本發明’亦 即,以散佈器或噴墨機滴注液晶,並黏合成對基底;成對 基底變成能夠在它們之間保存液晶,而與基底的大小尺寸 無關,以致於可以製造具有20英吋-80英吋大尺寸螢幕的 液晶面板之顯示裝置。 在以半導體膜形成主動層的情形中,半導體膜,典型 上是多晶矽模,係藉由習知結晶處理以晶化非晶半導體膜 而取得結晶結構的半導體膜,可以獲得具有高場效應遷移 率的TFT,以及在相同基底上,可以形成不僅具有驅動電 路也具有CMOS電路之驅動電路。另外,除了驅動電路, 還可以在相同基底上製造CPU(中央處理器)等》 在使用具有由多晶矽膜製成的主動層的TFT時,可 以製造如圖8B所示的液晶模組。 圖8B中,711表示主動矩陣基底;716表示對立基底 ;71 2表示源信號線驅動電路;71 3表示閘信號線驅動電路 ’ 714表不像素部分;717表示第一密封材料;715表示 FPC。以散佈器或噴墨機滴注液晶,並用第—密封材料 717和第二密封材料黏合_對基底711、716。由於驅動電 路部分7 1 2、7 13不需要液晶,所以僅有像素部分7 1 4固持 液晶。因此,設置第二密封材料71S以增強整體面板。 本實施例可以和實施例模式丄、實施例模式2或實施 例1任意組合。 -28· 1380080 [實施例3] ^ 實施例1和實施例2中說明直接在具有可撓性的塑膠基 底上形成開關元件的主動矩陣基底的例子,本實施例中將 說明將裝置從玻璃基底剝離以轉換至可撓基底的實例。 如圖9A所示,在第一基底10上形成金屬膜11。此外 ,第一基底只要有具有足以承受後面的剝離製程的剛性, 舉例而言,玻璃基底,石英基底,陶瓷基底,矽基底,金 φ屬基底或不銹鋼基底都可以用於第一基底。金屬膜可以使 用由選自 W、Ti ' Ta、Mo ' Nd、Ni ' Co、Zr、Zn、Ru、 Rh、Pd、Os、Ir所組成的族群中的元素、或是主要含有 這些元素的合金材料或化合物材料製成的單層,或者上述 單層的疊層。關於製造金屬膜的方法,可以使用以金屬爲 靶的濺射法。金屬膜可以形成至具有l〇nm-20〇nm的厚度 ’較佳的是從5Qnm-75nm。 上述金屬被氮化的膜(例如,氮化鎢或氮化鉬)可以用 鲁來代替金屬膜。此外,上述金屬的合金(例如W和Mo的 合金:WxM〇1.x)膜也可以用來代替金屬膜。這種情況下 藉由濺射設在膜形成室中例如第一金屬(W)以及第二金 屬(Mo)等多個祀 ' 是或以第一金屬(W)以及第二金屬(Mo) 的合金之靶,以形成這些膜。而且,可以將氮化物或氧摻 雜至這些膜。關於摻雜的方法,舉例而言,可以使用離子 佈植。或者,使用金屬氮化物爲靶之濺射,在膜形成室中 有氮或氧存在下,形成金屬膜。 使用濺射法形成金屬膜的情形中,基底的周邊部分的 -29- 1380080 厚度有時變成不均勻。因此,以乾蝕刻較佳地清除周邊的 _ 膜,關於此點,可以在第一基底10與金屬膜11之間形成例 如氮矽氧化物膜、氮氧化矽膜、等具有氮的絕緣膜至 lOOnm厚,以防止第一基底被蝕刻移除。 適當地當設定金屬膜的形成方法,可以控制剝離製程 ,並加寬製程的寬容度(process margin)。也就是說,對 於使用金屬合金的實施例而言,藉由控制合金中的各金屬 φ的成分比,可以控制剝離處理。具體而言,可以控制剝離 的溫度,以及控制加熱處理是否需要。 隨後,在金屬膜11上形成剝離層12。該剝離層包括含 .矽的氧化膜和半導體膜,在非接觸式1C (積體電路)的情形 中可以包含天線。較佳地設置例如氮化矽(SiN)膜、氮氧 化矽膜(SiNO)、氧氮化矽(SiON)膜等具有氮的絕緣膜作爲 剝離層12(特別是半導體膜)下方的基部膜。 關於具有矽的氧化膜,可以以濺射或CVD形成氧化 •矽膜、氮氧化矽膜、氧氮化矽膜等。具有矽的氧化膜的厚 度較佳地形成爲約至少金屬膜厚的二倍最。在本實施例中 ,以使用矽靶的濺射法,形成厚150nm-200nm的氧化矽膜 〇 當形成具有矽的氧化膜時,在金屬膜上形成具有上述 金屬的氧化物(金屬氧化物)13。關於金屬氧化物,可以使 用薄的金屬氧化物,其係由含有硫酸,鹽酸或硝酸的水溶 液:上述溶液和過氧化氫溶液的混合溶液;或臭氧水處理 而形成的。關於其他的方法,可以使用有氧存在的電漿處 < -S :) -30- 1380080 理;或是在具有由紫外線照射產生的臭氧之氧氣中的氧化 . 處理°或者,用清潔爐(clean oven)從約200-350 °C下加熱 以形成具有矽的金屬氧化物。 形成的金屬氧化物的膜的厚度爲Ο.ΐηιη-Ιμηι,較佳的 是 O.lnm-lOOnm,更佳的是 〇.lnm-5nm。 此處所使用的「絕緣膜」一詞係總稱具有矽之氧化物 膜、基部膜等等,均是形成於半導體膜與金屬膜之間。亦 φ即’該結構依序包括至少金屬膜、金屬氧化膜、絕緣膜、 以及半導體膜。具體而言,半導體膜可以設置在絕緣膜的 表面上,及金屬氧化物和金屬膜可以設在絕緣膜的另一表 面上。 舉例而言,以預定的製程,對半導體膜形成薄膜電晶 體(TFT)、有機TFT'薄膜二極體、等等。具有薄膜積體 電路的CPU、記憶體等係由半導體裝置構成。此外,爲了 保護半導體裝置,較佳地在半導體裝置上形成具有類似碳 φ的鑽石(DLC)、氮化碳(CN)等含碳的保護膜;或是具有氮 化矽(SiN)、氮氧化矽(SiNO或SiON)等保護膜。 根據上述方式形成剝離層12後,具體而言,在形成金 屬氧化物後,以適當的熱處理,晶化金屬氧化物。舉例而 言,使用 W(鎢)作爲金屬膜的情形中,以至少400°C的熱 處理,使W02S W03的金屬氧化物晶化。另外,假使在 形成包含於剝離層1 2中的半導體膜之後,執行熱處理,則 含於半導體膜中的氫可以擴散。由於氫,所以金屬氧化物 的化合價有時會變化》此熱處理或溫度是否需要可以根據 -31 - 1380080 所選取的金屬膜而定。因此,於需要時可以晶化金屬氧化 物,以便於剝離。 製造半導體裝置的製程也以作熱處理。舉例而言,使 ' 用均用於形成結晶半導體膜之加熱爐或雷射照射,執行熱 處理。 接著,如圖9B所示,用第一黏合劑15將第二基底14 黏著至分離層12。希望第二基底Η比第一基底10具有更高 φ的剛性。關於第一黏合劑1 5 ,可以使用可移除的黏合劑, 舉例而言,紫外線剝離型黏劑、熱剝離型黏劑、或者水剝 離型黏劑、或是雙面膠帶。 用物理手段分離設有金屬膜11的第一基底10(圖9C)e 雖然未顯示於圖中’但是第一基底會由被晶化的金屬氧化 物的內部及/或界面剝離。因此,第—基底1〇可以與分離 層1 2分離。 爲了便於剝離’切割基底的一部分。然後,以切割器 鲁產生切刮金屬膜和金屬氧化物的切割表面上之界面近處。 接著’如圖9D所示’用第二黏合劑16將剝離層12黏 ,貼到作爲轉換構件的第三基底(例如標籤)丨7。關於第二黏 合劑16,可以使用紫外線固化樹脂,具體而言可以使用 環氧樹脂基黏合劑或樹脂添加劑(resin additive)等黏合劑 或者JS可以使用雙面膠帶。在第三基底具有黏性的情形 中,則不需要第二黏合劑。 關於第二基底,可以採用紙;或是由例如聚(對苯二 甲酸乙—醇酯)、聚碳酸酯' 聚烯丙基化合物或聚醚颯等 -32- 1380080 形成的具有可撓性之塑膠基底。此外,也可以藉由鍍膜膜 基底,以增加剛性、電阻特性 '及穩定度,以及減少薄膜 基底表面的凸凹不均勻。 然後,去除第一黏合劑15,並剝離第二基底14(圖9E) 。具體而言,藉由照射紫外線、加熱、或水洗,以移除第 一黏合劑。 可以在一製程內執行第一黏合劑的移除和第二黏合劑 的固化。舉例而言,在分別使用熱剝離型樹脂和熱固化型 樹脂,或紫外線剝離型樹脂和紫外線固化型樹脂作爲第一 黏合劑和第二黏合劑的情形中,藉由一次加熱或紫外線照 射,可以執行移除和固化黏合劑。此外,實施者可以考量 第三基底的透光性以適當地選擇黏合劑。 如此,在可撓基底上完成了薄膜積體電路。根據本實 施例,剝離形成於玻璃基底上具有高電特性的開關元件, 並轉移到塑膠基底上,而完成了主動矩陣基底。 可以在薄膜積體電路中完全地移除金屬氧化物13。或 者,金屬氧化物的一部份或大部份可以餘留在剝離層的下 表面上。在此情形中,藉由蝕刻,移除餘留的金屬氧化物 。此外,也可以移除具有矽的氧化物膜。 下述製程係用於製造根據實施例模式1或實施例模式2 之液晶顯示裝置。 [實施例4] 將參考圖10A至10C,說明在具有絕緣表面的基底(典 -33- 1380080 型的是玻璃基底或石英基底)上形成包含CPU和記憶體的 . 剝離層,並以實施例3中該的剝離及轉移技術,將該剝離 層轉移到塑膠基底上的實施例。 圖10A中,代號1001表示中央處理器(又稱CPU); 1 002表示控制單元;1 003表示算術單元;1 004表示記憶體 單元(也稱爲記億體);1005表示輸入部分;1〇〇6表示輸出 單元(顯示單元)。 φ 中央處理器1001包括算術單元1 003和控制單元1 002。 算術單元1003由下述組成:執行例如加法及減法等算術運 算、以及例如 AND (及)、OR(或)、NOT(否)等邏輯運算的 的算術邏輯運算單兀(縮寫稱 ALU,Arithmetic Logic Unit);用於儲存資料及運算結果的不同電阻器;以及計 數輸入的"1”等數目之計數器。舉例而言,構成算術電路 1003的電路,舉例而言,AND電路、OR電路' NOT電路 、緩衝電路、或電阻器電路等可以由TFT組成。爲了取 •得高電場效應遷移率,可以形成藉由連續波雷射光晶化的 半導體膜以作爲TFT的主動層。 在基底上用濺射法形成鎢膜和氧化矽膜,以及在其上 形成基部絕緣膜(氧化矽膜、氮化矽膜、或氮氧化矽膜), 然後在其上形成非晶矽膜。再者,在稍後的製程中,藉由 使用形成於鎢膜和氧化矽膜的界面上的氧化鎢膜,執行剝 離。 至於晶化方法,可以下述方法中的任一方法。在非晶 矽膜中添加作爲觸媒的金屬元素之後,將非晶矽膜加熱而 < s -34- 1380080 形成多晶矽膜,以及以脈沖波雷射光照射多晶矽膜。連續 波雷射光照射非晶矽膜獲得多晶矽膜,在藉由加熱非晶矽 * 膜而取得多晶矽膜後,將連續雷射光照射至多晶矽膜。非 晶矽膜摻有作爲觸媒之金屬元素,並被加熱而形成多晶矽 膜,然後,連續雷射光照射至多晶矽膜。此外,在使用連 續雷射光的情形中,雷射光的掃瞄方向較佳地延著構成算 術單元1003、控制單元1002或記憶體單元10 04之TFT的 φ通道長方向。 控制單元1 00 2執行儲存在記憶體單元1 004中的命令, 以控制整體操作的作用。控制單元1 002包括程式計數器、 命令電阻器,控制信號產生單元。此外,控制單元1002可 以由TFT構成,在此情形中,可以形成經過晶化的半導 體層以作爲TFT的主動層。 記億體單元1 〇〇4是儲存放實施計算的資料和命令,舉 例而言’經常在CPU中執行的資料或程式。記憶體單元 鲁1004包括主記憶體、位址電阻器、及資料電阻器。除了主 記憶體還可以使用快取記憶體。這些記憶體可以由 SRAM(靜態隨機記憶體)、DRAM(動態隨機記億體)、快閃 記憶體(flash memory)等形成。在主記億體單元1〇〇4由 TFT構成的情形中,可以形成晶化過的半導體膜以作爲主 動層。 輸入單元1005是從外界載入資料和程式,輸出單元 100 6典型上是用於顯示結果的顯示裝置。 將具有如此取得的C P U (包含終端電極及導出佈線)之 -35- 1380080 分離層從基底剝離並轉換至塑膠基底。 另外,不僅僅是CPU,還可以形成電流電路、顯示單 元、以及驅動電路單元。舉例而言,可以製造具有非接觸 式薄膜積體電路的卡。 圖10B是表示非接觸式薄膜積體電路的視圖。 圖10B是非接觸式薄膜積體電路的具體結構的俯視圖 。該非接觸式薄膜積體電路包括顯示單元、天線31、包含 CPU33之積體電路單元35、記億體34、等等,其中,天線 經由電流電路連接至1C。電流電路3 2至少包括二極體和 電容器,以及將天線接收到的交流電波長轉換爲直流電。 天線31可以在用於形成積體電路的相同製程內形成。 非接觸式1C的特徵在於其由線圈式天線之電感耦合( 電磁感應方式)、。相互耦合(電磁耦合方式)、或電容耦合( 靜電耦合方式)供應電流。藉由控制線圈圈數,可以選擇 接收的頻率度。 —般而言,遠端耦合的頻率是微波;近程型及接近型 的頻率使用13.56MHz ;密接型的頻率使用4.91MHz。可以 藉由增加頻率及降低波長以減少天線的線圈數。 和接觸式薄膜積體電路相比,由於非接觸式薄膜積體 電路和讀取器/寫入器不接觸,而執行電源供應及資訊通 訊,所以,非接觸式薄膜積體電路是不可斷裂的、高度可 靠的、及幾乎無誤的。讀取器/寫入器的結構簡單。此外 ,由於所需要的是將卡持至讀取器/寫入器就可以完成讀 取,所以非接觸式薄膜積體電路容易使用。 -36- 1380080
非接觸式積體電路包括CPU、記憶體、I/O埠、以及 . 輔助處理器,以及經由路徑(path)交換資料。此外,1C具 有RF(射頻傳輸)介面、和非接觸式介面。用於讀取的讀 取器/寫入器包括非接觸式介面和介面電路,以及在每一 介面電路之間執行資訊通訊或資訊交換。接著,藉由讀取 器/寫入器的介面電路實現和主電腦的資訊通訊或資訊交 換。無須多言,主電腦可以具有讀取器/寫入器的功能。 φ 圖10C是對應於圖10B的塑膠卡的外部視圖。圖10C 中,1010表示塑膠卡主體;1011表示反射型液晶的顯示單 元:1012表示記億單元;1013表示CPU。在使用塑膠卡作 爲識別卡時,卡可以是輕的,且形狀可以是可撓的。此外 ,當該卡變成無用時,其可以被簡單地切斷,以使記億體 單元中的資訊不會被讀取,並防止卡被僞造。 圖1 1A至11C是視圖,顯示不同形式之用於讀取卡的 資訊的實施例。如圖11A所示,安裝有薄膜積體電路的卡 φ 72被持至讀取器/寫入器70的感測器單元71。 如圖11B所示,讀取器安裝有由個人所有的可攜式資 訊終端,舉例而言,行動電話80,且卡82會被持至提供給 主體的一部份之感測器單元8 1以在顯示單元8 3上顯示資訊 此外,如圖11C所示,將安裝有薄膜積體電路的卡92 持至可由個人攜帶及擁有之讀取器90的感應器91,以在顯 示單元93上顯示資訊。 雖然在本實施例中說明了非接觸式的讀取器/寫入器 -37- 1380080 ’但是假使接觸式可以在顯示單元上顯示資訊,則可使用 . 接觸式。資訊可以顯示在安裝有接觸式或非接觸式薄膜積 體電路的卡本身之顯示單元上。 圖10D是具有多個液晶顯示單元的可攜式資訊終端的 實施例。 圖10D中所示的裝置可以在折疊活動部分1 023處折疊 ’其尺寸可以做成名片大小。主體,亦即塑膠基底1 020是 φ輕重量的塑膠材料。裝置包括左側顯示單元1021及右側顯 示單元1 022。例如CPU等積體電路可以提供給塑膠基底 1 020 ° 本實施例可以和實施例模式1、實施例模式2、實施 例1 、實施例2、或實施例3任意組合。 [實施例5] 將參考圖12A至12F,在本實施例中說明以有機材料 籲製造有機TFT的方法。 如圖12A所示,製備具有絕緣表面的基底901。此基 底至少具有可撓性及光透射特性,且能夠由選自聚對苯二 甲酸乙二醇醋(PET)、聚萘酸乙酯(polyethylene naphthalate )(Ρ ΕΝ)、聚醚颯(PES)、聚碳酸脂(PC)、聚醯亞胺組成的 族群之塑膠所形成。基底901的厚度實際上從1〇至200mm 〇 然後,在基底901上形成障壁層(barrier layer)902。 障壁層902可以由RF濺射所形成的未含氫之氮化矽所形 -38 - 1380080 成,或是由氮化矽及氧化矽構成的多層膜所形成。障壁層 . 可以防止濕氣或有機物氣體從外在環境穿入TFT,以致於 可以防止有機半導體材料劣化。 ,在障壁層902上以導電膏(conductive paste)形成第 —導電膜,以作爲TFT的閘極電極903。關於導電膏可以 使用導電碳糊、導電銀糊、導電銅糊、導電鎳糊等。藉由 網印法(screen printing)、輥塗法或噴墨法形成預定的圖 φ案。用導電糊膏,將第一導電層形成預定圖案、整平 (leveling)、乾燥,然後,在l〇〇-200°C的溫度固化。 如圖12B所不,在鬧極電極903上形成第一絕緣膜, 作爲閘極絕緣膜904。此外,藉由輥塗、噴灑等,以塡加 丙烯酸樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚醯胺樹脂、苯氧基樹脂、 非芳香性多官能團的異氰酸酯及三聚氰胺樹脂的材料形成 第一絕緣膜。慮及閘極電壓,閘極絕緣膜的膜的厚度較佳 地形成爲約l〇〇nm至200nm厚。 φ 接著,如圖12C所示,在閘極絕緣膜9〇4上形成作爲 源極電極905a或汲極電極905b的第二導電膜。關於第二 .導電膜的材料,由於很多有機半導體材料是p型材料,其 係用於傳輸電荷的材料會傳輸正電洞作爲載子的材料,所 以’希望使用具有大的功函數的金屬以與半導體層造成歐 姆接點。具體而言,以包含例如金,鉑,鉻,鈀,鋁,銦 ’鉬或鎳等金屬或其合金的導電膏,以印刷或輥塗法,形 成第二導電膜。 接著’如圖12D所示,在源極電極905a或汲極電極 -39- 1380080 905b上形成作爲堤(bank)906的第二絕緣膜。此外,以網 . 印法,使用添加丙烯酸樹脂、聚醯亞胺樹脂、聚醯胺樹脂 、苯氧基樹脂、非芳香性多官能團的異氰酸酯和三聚氰胺 樹脂的材料形成第二絕緣膜,以在閘極電極的頂部形成開 口部分,以便塡充有機半導體膜於其中。另外,可以在形 成堤後形成源極電極和汲極電極。 之後,形成有機半導體膜。在以高分子材料形成有機 •半導體膜的情形中,適當地使用浸漬法(dipping method) 、鑄造法(casting method)、條塗著法、旋塗法、噴灑法 '噴墨法或印刷法作爲形成膜之方法。至於有機半導體材 料’可以使用有機分子晶體、有機聚合物材料。具體的有 機分子晶體的貫施例爲·多環方香族化合物(polycy lie aromatic compound)、共軛雙鍵化合物(conjugated double bond compound)、胡蘿蔔素、大環化合物及其複合物、胯 花菁、電子遷移型複合物、四硫富瓦烯(TCNQ複合物)、 魯游離基、二苯基苦味基胼基(diphenylpicrylhydrazyl)、顔 料或蛋白質。另外,有機高分子化合物材料的具體實施例可 爲:π共飯聚合物、CT複合物、聚乙嫌批D定(polyvinylpyridine) 、碘或胯花菁金屬複合物等。特別地,骨架由共軛雙鍵構 成的π共範聚合物,舉例而言,聚乙炔(polyacetylene)、 聚苯胺(polyaniline)、聚卩比啥(polypyrrole)、聚噻吩、聚 噻吩衍生物、聚- (3-己基噻吩)[P3HT;—種在聚噻吩的第 三位置(third position)中導入可撓院基的聚噻吩衍生物的院基 是己院基的高分子材料])、聚(3 -院基噻吩)(3-alkylthiophene)
<.S -40- 1380080 、聚(3-二十二院基噻吩)(poly(3- docosylthiophene))、聚對苯撐 . (Polyparaphenylene)衍生物,或較佳地使用聚對苯撐乙烯 [poly(paraphenylene vinylene),PPV]衍生物作爲有機聚合 物材料。 以汽相沈積,形成由小分子材料所形成的有機半導體 膜。舉例而面》可以形成嘻吩低聚物(thiophene-oligomer) 膜(聚合度6)或並五苯(Pentacene)膜等。 φ 在使用大尺寸的基底’或第一基底以及第二基底是彈 性的情形中’較佳地以滴注溶液的方法形成半導體膜。接 著,如圖12E所示’藉由自然放置或烘烤以完成有機半導 體膜907。 接著’如圖1 2F所示’形成鈍化膜908。藉由RF濺射 法,以含有矽的絕緣材料形成氮化矽膜,氮氧化矽膜等作 爲鈍化膜。 之後,源極電極、汲極電極、閘極電極會製成接觸及 鲁連接裝置基底與TFT之間的各佈線以形成半導體裝置。 此外’藉由根據實施模式1或實施例模式2,滴注液晶材料 ’以完成液晶顯示裝置(液晶顯示模組)。 因此’由於由有機化合物材料形成整個TFT,所以, 有機TFT可以形成爲重量輕且有可撓性的半導體裝置(具 體爲液晶顯示裝置)。 特別地,根據本實施例的有機TFT,可以應用於面板 上的系統’在面板上有用於視覺顯示的像素部分;用於收 發各種資訊的通信設備;存儲資訊或處理資訊之電腦;或 -41 - 1380080 等等。 本實施例可以和實施模式1、實施模式2、實施例1 、實施例2、實施例3、或實施例4任意組合。 [實施例6] 藉由倂入根據本發明的液晶顯示裝置以製造電子設備 。電子設備的實施例可爲攝影機、數位相機、目鏡式顯示 φ器(頭戴式顯示器)、導航系統、音頻再生裝置(汽車音響 、音響零件等)、膝上型本電腦、遊戲機、攜帶型資訊終 端(行動電腦、行動電話、攜帶型遊戲機、電子書等)、以 及包括記錄媒體的影像再生設備(具體地說是能夠處理諸 如數位多式樣光碟(DVD)等記錄媒體中的資料並具有能夠 顯示資料影像的顯示器之裝置)。圖13A-13H示出了其實 際實施例。 圖13A顯示電視機,包含機殼2001、支撐座2002、顯 φ示部分2003、揚聲器單元2004、影像輸入端子2005等。本 發明可應用於顯示部分2003。如同此處所使用般,「電視 機」一詞包含用來顯示資訊的所有電視,例如個人電腦的 電視、用來接收TV廣播的電視、以及用於廣告的電視。 圖13B顯示數位相機,包含主體2101、顯示部分21 02 、影像接收單元2103、操作鍵21 04、外部連接埠2105、快 門2106等。本發明可應用於顯示部分2102。 圖13C顯示膝上型電腦,包含主體2201、機殻2202、 顯示部分2203、鍵盤22 04、外部連接埠2205、滑鼠2206等 -42- 1380080 。本發明可以應用於顯示部分2 2 03。 圖13D顯示行動電腦,包含主體2301、顯示部分2302 、開關2303、操作鍵23 04、紅外線埠2305等。本發明應用 於顯示部分23 02。 圖13E顯示配備有記錄媒體(具體地說是DVD播放器) 的攜帶型影像再生設備。此設備包含主體240 1、機殼2402 、顯示部分A 24〇3、顯示部分B 2404、記錄媒體(例如 φ DVD)讀出單元2405、操作鍵24〇6、揚聲器單元2407等。 顯示部分A 2403主要顯示影像資訊,而顯示部分B 2404 主要顯示文字資訊。本發明應用於顯示部分A 2403和B 24〇4。此處所使用的「配備有記錄媒體的影像再生裝置」 包括家用遊戲機。 圖13F顯示遊戲機,包含主體2501、顯示部分2505、 以及操作開關2 5 0 4。 圖13G顯不攝影機’包含主體2601、顯示部分2602、 鲁機殼2603、外部連接埠26 04、遙控接收單元26 05、影像接 收單元2606、電池2607、音頻輸入單元2608、操作鍵2609 等。本發明應用於顯示部分2602。 圖13H顯示行動電話,包含主體2701 '機殻2702、顯 示部分2703'音頻輸入單元27 04、音頻輸出單元2705、操 作鍵2706、外部連接埠2707、天線2708等。本發明應用於 顯不部分2703 »假使顯示部分2703在黑色背景上顯示白色 字元,則能夠降低行動電話的耗電。 如上該’藉由實施本發明而得到的顯示裝置可以被用 -43- 1380080 作任何電子設備的顯示部分。本實施例的電子設備可以採 用根據實施例模式1、實施例模式2、或實施例1至5中任一 實施例中所示的顯示裝置的任何結構。 根據本發明’能夠量產有效率地使用液晶材料及具有 可撓性之高度可靠的液晶顯示裝置。 【圖式簡單說明】 φ 圖1 A到1 G是實施例模式1的說明視圖; 圖2A和2G是實施例模式2的說明視圖; 圖3A到3C是實施例模式2的說明視圖; 圖4A至4B是實施例模式2的說明視圖; 圖5是顯示氮化矽膜中C、N、0、及Η濃度的SIMS 量測結果; 圖6是顯示氮化矽膜中的Ar濃度的SIMS量測結果; 圖7是實施例1中解釋的主動矩陣型液晶顯示裝置的 •橫截面圖; 圖8 A和8 B是實施例2中解釋的液晶模組的俯視圖; 圖9A到9E是實施例3中解釋的剝離製程; 圖10A到10D是顯示實施例4中解釋的卡式半導體裝 置; 圖1 1A到11C是顯示實施例4中說明的讀取器/寫入器 t
圖12A到12F是顯示實施例5中說明的製造有機TFT 的製程;及 -44 - 1380080 圖1 3 A到1 3 Η是實施例6中說明的電子設備的實施例 【主要元件符號說明】 10 :第一基底 1 1 :金屬膜 1 2 :剝離層 φ 1 3 :金屬氧化物 14 :第二基底 1 5 :第一黏合劑 1 6 :第二黏合劑 17 :第三基底 3 1 :天線 3 2 :電流電路 33 :中央處理器 春3 4 :記憶體 35 :積體電路單元 41 :第一基底支撐器 42:第二基底支撐器 44 :窗口 4 8 =底側機器平台 4 9 :光源 70 :讀取器/寫入器 7 1 :感測器單元 -45- 1380080 72 :卡 7 3 :顯示單元 80 :讀取器/寫入器 8 1 :感測器單元 82 :卡 8 3 :顯示單元 90 :讀取器/寫入器 φ 91 :感測器單元 92 :卡 93 :顯示單元 1 1 〇 :第一基底 1 1 1 :像素電極 1 1 2 :密封材料 1 1 3 :液晶 1 1 4 :液晶材料 φ 1 1 5 :圓柱狀隔離物 1 1 8 :液晶散佈器 120 :第二基底 1 2 2 :對立電極 1 2 3 :保護膜 21 0 :第一基底 2 1 1 :像素電極 2 1 2 :密封材料 2 1 3 :液晶 -46 1380080 2 1 4 :液晶 _ 215 :圓柱狀隔離物 2 1 8 :液晶散佈器 220 :第二基底 222 :對立電極 223 :保護膜 3 1 1 :像素部份 $ 3 1 2 :密封材料 3 1 4 :液晶材料 3 1 8 :液晶散佈器 3 1 9 :部份 3 20 :反交錯TFT 3 2 1 :像素電極 322 :圓柱狀隔離物 3 23 :配向膜 籲324 :保護膜 600 :基底 6 0 1 :像素電極 602 :柱狀隔離物 603 :偏光板 604 :後照光 605 :導電板 606 :蓋 6 0 7 :密封材料 1380080 6 1 9 :第二保護膜 620 :濾色片 6 2 1 :對立電極 622 :配向膜 623 :配向膜 701 :主動矩陣基底 704 :像素部份 705 :可撓印刷電路板 7 0 6 :對立基底 7 0 7 :密封材料 71 1 :主動矩陣基底 712:源信號線驅動電路 7 1 3 :閘信號線驅動電路 7 1 4 :像素部份 7 1 5 :可撓印刷電路板 7 1 6 :基底 7 1 7 :密封材料 7 1 8 :第二密封材料 901 :基底 9 0 2 :障壁層 9 0 3 :閘極電極 904 :閘極絕緣膜 9 0 5 a ··源極電極 9 0 5b:汲極電極 1380080 906 :堤 907 :有機半導體膜 908 :鈍化膜 1 001 :中央處理器 1 002 :控制單元 1 003 :算術單元 1 004 :記憶體單元 1 005 :輸入部分 1 006 :輸出單元 1010 :塑膠卡主體 1 0 1 1 :顯示單元 1 0 1 2 :記憶單元 1 0 1 3 :中央處理器 1021 :左側顯示單元 1 0 2 2 :右側顯示單元 1 023 ‘·折疊活動部分 200 1 :機殼 2002 :支撐座 2003 :顯示部份 2004 :揚聲器單元 2005 :影像輸入端子 2101 :主體 2 1 0 2 :顯示部份 2 1 0 3 :影像接收單元 -49- 1380080 2 104 :操作鍵 2105 :外部連接埠 2 10 6:快門 2201 :主體 2202 :機殼 2203 :顯示部份 2204 :鍵盤 2205 :外部連接埠 2206 :滑鼠 23 0 1 :主體 23 02 :顯示部份 2303 :開關 2304 :操作鍵 23 0 5 :紅外線埠 2401 :主體 2402 :機殼
2403 :顯示部份A
2404 :顯示部份B 2405 :記錄媒體讀出單元 2406 :操作開關 2407 :揚聲器單元 250 1 :主體 2502 :顯示部份 2 5 0 5 :操作開關 1380080 260 1 : 主體 2602 : 顯示部份 2603 : 機殼 " 2604 : 外部連接埠 2605 : 遙控接收單元 2606 : 影像接收單元 ' 2607 : 電池 • 2608 : 音頻輸入單元 2609 : 操作鍵 2 7 01 : 主體 2702 : 機殼 2703 : 顯示部份 ' 2704 : 音頻輸入單元 2705 : 音頻輸出單元 2706 : 操作鍵 • 2707 : 外部連接埠 2708 : 天線
Claims (1)
13 80.080 弟〇97127丨55號專利申請案中文申請專利範圍修正本 民國101年6月20曰修正 十、申請專利範圍 種液晶顯示裝置,包含: 第一基底; 開關元件’形成於該第—基底上: 像素電極’電連接至該開關元件; 第二基底,與該第一基底對立; 密封材料,形成於該第一基底與該第二基底之間; 液晶,固持於該第一基底與該第二基底之間; 其中該密封材料係被塗佈成封閉環狀,且該密封材料 係不溶解於與該密封材料接觸之該液晶中,以及 其中在降低該液晶之黏度之後,滴注該液晶於由該密 封材料圍住的區域上。 2.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該密 封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 3 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該密 封材料包括塡充物。 4 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件係反交錯型薄膜電晶體。 5 .如申請專利範圍第丨項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件係通道蝕刻型薄膜電·晶體。 6 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件之主動層係微晶半導體膜。 1380080 7.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該開 關元件之主動層係非晶矽膜》 8 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進一步包 含形成於該第一基底與該第二基底之間之圓柱狀隔離物, 其中該圓柱狀隔離物是由含有選自丙烯酸、聚醯亞胺、聚 醯亞胺醯胺、及環氧樹脂組成的族群中至少一材料作爲主 材料之有機樹脂材料所形成;或者由氧化矽、氮化矽、氧 化氮化矽中任一材料所形成;或者由這些材料的疊層膜構 成的無機材料所形成。 9·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,其中該第 一基底係玻璃基底。 10.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進一步包 含形成於該開關元件上之鈍化膜,且其中該鈍化膜係形成 於該像素電極上。 1 1 ·如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,進—步包 含形成於該第一基底與該第二基底之間之圓柱狀隔離物; 以及 覆蓋該圓柱狀隔離物及該像素電極之配向膜。 1 2.如申請專利範圍第1項之液晶顯示裝置,該液晶顯 示裝置係液晶面板’其具有從20至80英寸之大尺寸螢幕。 13. —種液晶顯示裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成像素電極於該第一基底上: 形成對立電極於第二基底上; 1380.080 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈密封材料成封閉環狀於該第一基底與該第二基底 其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下’將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 初步固定該密封材料; 固定該密封材料;以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之該液 晶材料中。 14.如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料具有從40至4OOPa.s之黏度》 1 5 ·如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 16. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該密封材料包括塡充物。 17. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包括步驟:形成鈍化膜於該開關元件上,且其 中該鈍化膜係形成於該像素電極上。 18. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中該第一基底係玻璃基底。 19. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件係反交錯型薄膜電晶體。 2 0 ·如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 1380080 法,其中該開關元件係通道蝕刻型薄膜電晶體。 21. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件之主動層係微晶半導體膜。 22. 如申請專利範圍第13項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該開關元件之主動層係非晶矽膜。 23 .如申請專利範圍第1 3項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中係用散佈器裝置或噴墨裝置塗佈該密封材料》 24.—種由一對基底製造複數個面板之方法,包括以 下步驟: 形成包括開關元件及像素電極之顯示區域於第一基底 上; 形成對立電極於第二基底上; 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈每一密封材料成封閉環狀,用以圍住每—顯示區 域於該第一基底與該第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 每一密封材料圍住的每一該顯示區域上; 在減壓下,將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 初步固定該密封材料; 固定該密封材料; 切割該第一基底與該第二基底,以分成複數個面板, 以及 其中該每一密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之 該液晶材料中。 1380.080 25. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料具有從40至400Pa.s之黏度 〇 26. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料包括丙烯酸光固化樹脂。 2 7.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該密封材料包括塡充物》 2 8.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,進一步包括步驟:形成鈍化膜於該開關元件 上,且其中該鈍化膜係形成於該像素電極上。 29. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該第一基底係玻璃基底。 30. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件係反交錯型薄膜電晶體。 3 1.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件係通道蝕刻型薄膜電晶體。 32. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件之主動層係微晶半導體膜。 33. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該開關元件之主動層係非晶矽膜。 34. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中係藉由移動散佈器裝置或噴墨裝置塗佈 該密封材料。 35. 如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 1380080 面板之方法,其中係藉由移動該第一基底塗佈該密封材料 〇 3 6.如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,其中該每一像素電極係電連接至該每一開關 元件。 37·如申請專利範圍第24項之由一對基底製造複數個 面板之方法,進一步包括步驟:形成圓柱狀隔離物於該第 一基底與該第二基底之間。 38. —種液晶顯示裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成以矩陣形式配置之像素電極於該第一基.底上; 形成對立電極於第二基底上: 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈包括丙烯酸光固化樹脂之密封材料於該第—基g 與該第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下,將該第一基底與該第二基底黏合在—起; 藉由紫外線照射初步固定該密封材料; 固定該第一基底與該第二基底;以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸 晶材料中。 3 9.如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該密封材料具有從40至400Pa.s之黏度。 丄兆Q〇8〇 4 0.如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 $,其中塗佈該密封材料成封閉環狀,用以圍住顯示區域 〇 41 .如申請專利範圍.第38項_之..液.晶.顯示.裝..置的製造方 $ ’其中係藉由通過該第二基底之紫外光線初步固定該密 封材料。 42. 如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 $ ’其中係藉由熱處理完全固化該密封材料。 43. 如申請專利範圍第38項之液晶顯示裝置的製造方 法’進一步包含步驟:在減壓下黏合之後,在該第—基底 _該第二基底處於壓力下的狀態中,回到大氣壓力。 4 4 ·如申請專利範圍第3 8項之液晶顯示裝置的製造方 法’進一步包含步驟:形成圓柱狀隔離物於該第—基底與 該第二基底之間。 45.—種液晶顯不裝置的製造方法,包括以下步驟: 形成開關元件於第一基底上; 形成像素電極於該第一基底上; 形成配向膜於該像素電極上; 塗佈包括丙烯酸光固化樹脂之密封材料於該第—基底 與第二基底其中之一上; 在降低液晶材料之黏度之後,滴注該液晶材料於由該 密封材料圍住的區域上; 在減壓下’將該第一基底與該第二基底黏合在一起; 藉由紫外線照射初步固定該密封材料; C -7- 1380080 在初步固定該密封材料之後,固定該第一基底與該第 二基底:以及 其中該密封材料係不溶解於與該密封材料接觸之該液 晶材料中。 46. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中該密封材料具有從40至400Pa_s之黏度。 47. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中塗佈該密封材料成封閉環狀,用以圍住顯示區域 〇 48. 如申請專利範圍第4 5項之液晶顯示裝置的製造方 法’其中係藉由通過該第二基底之紫外光線初步固定該密 封材料。 49. 如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,其中係藉由熱處理完全固化該密封材料。 50·如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包含步驟:在減壓下黏合之後,在該第一基底 與該第二基底處於壓力下的狀態中,回到大氣壓力。 51.如申請專利範圍第45項之液晶顯示裝置的製造方 法,進一步包含步驟:形成圓柱狀隔離物於該第一基底與 該第二基底之間。
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Families Citing this family (63)
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---|---|---|---|---|
KR100586241B1 (ko) * | 2000-10-28 | 2006-06-02 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치용 어레이기판 및 제조방법 |
TWI270919B (en) * | 2002-04-15 | 2007-01-11 | Semiconductor Energy Lab | Display device and method of fabricating the same |
TWI362644B (en) * | 2003-01-16 | 2012-04-21 | Semiconductor Energy Lab | Liquid crystal display device and manufacturing method therof |
JP4744090B2 (ja) * | 2004-03-11 | 2011-08-10 | 富士通株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
JP5008823B2 (ja) * | 2004-03-19 | 2012-08-22 | シャープ株式会社 | 表示装置 |
KR101226260B1 (ko) | 2004-06-02 | 2013-01-28 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치 제조방법 |
US7591863B2 (en) * | 2004-07-16 | 2009-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laminating system, IC sheet, roll of IC sheet, and method for manufacturing IC chip |
WO2006022169A1 (en) | 2004-08-23 | 2006-03-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Wireless chip and manufacturing method thereof |
CN100465738C (zh) * | 2005-03-18 | 2009-03-04 | 夏普株式会社 | 液晶显示面板及其制造方法 |
KR20070034280A (ko) | 2005-09-23 | 2007-03-28 | 삼성전자주식회사 | 가요성 표시 장치용 표시판의 제조 방법 |
KR101272336B1 (ko) * | 2005-10-20 | 2013-06-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 평판표시장치 |
KR20070054285A (ko) * | 2005-11-23 | 2007-05-29 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이장치 및 그 제조방법 |
KR100922799B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2009-10-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 롤 인쇄 장비, 롤 인쇄 방법 및 그를 이용한액정표시소자의 제조방법 |
KR100879207B1 (ko) * | 2005-12-30 | 2009-01-16 | 주식회사 엘지화학 | 플렉시블 디스플레이장치 및 이의 제조방법 |
TWI331885B (en) * | 2006-01-12 | 2010-10-11 | Ind Tech Res Inst | Fabricating method of organic electronic device |
WO2008007485A1 (fr) * | 2006-07-11 | 2008-01-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Procédé de production d'un matériau de base d'écran à cristaux liquides et de panneau à cristaux liquides |
JP2008292997A (ja) | 2007-04-27 | 2008-12-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置の作製方法 |
US8049851B2 (en) * | 2007-06-26 | 2011-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a liquid crystal display device having a second orientation film surrounding a first orientation film |
US8203657B2 (en) * | 2008-07-11 | 2012-06-19 | Audiovox Corporation | Inductively powered mobile entertainment system |
US8516918B2 (en) | 2008-08-28 | 2013-08-27 | Raytheon Company | Biomimetic mechanical joint |
US20110213599A1 (en) | 2008-08-28 | 2011-09-01 | Raytheon Company | Method of Sizing Actuators for a Biomimetic Mechanical Joint |
JP2010093172A (ja) * | 2008-10-10 | 2010-04-22 | Fujifilm Corp | 封止デバイス |
JP2010197967A (ja) * | 2009-02-27 | 2010-09-09 | Sony Corp | 液晶表示装置の製造方法およびこれにより作製された液晶表示装置 |
US20100253902A1 (en) * | 2009-04-07 | 2010-10-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
CN102422338B (zh) | 2009-05-02 | 2015-04-01 | 株式会社半导体能源研究所 | 显示设备 |
GB0909721D0 (en) * | 2009-06-05 | 2009-07-22 | Plastic Logic Ltd | Dielectric seed layer |
CN105161543A (zh) | 2009-09-24 | 2015-12-16 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件及其制造方法 |
KR101708525B1 (ko) * | 2009-09-25 | 2017-02-20 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 표시 장치의 제조 방법 및 표시 장치 |
KR20110048960A (ko) * | 2009-11-04 | 2011-05-12 | 삼성전자주식회사 | 액정층 형성 방법, 이를 이용한 액정표시패널의 제조 방법 및 이에 사용되는 액정 |
TW201120639A (en) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Chih-Ming Tsao | Input device for switching multiple computer devices. |
KR101663563B1 (ko) * | 2009-12-24 | 2016-10-07 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 제조방법 |
KR101155902B1 (ko) | 2010-03-11 | 2012-06-20 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 그라인더, 상기 그라인더를 사용한 연마 방법, 상기 연마 방법을 사용한 표시 장치의 제조 방법 및 이를 사용하여 제조한 표시 장치 |
US20120044445A1 (en) | 2010-08-17 | 2012-02-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid Crystal Device and Manufacturing Method Thereof |
CN103548035B (zh) | 2010-10-08 | 2018-01-02 | 苹果公司 | 包括差分测量电路的手指感测设备和相关方法 |
KR101182172B1 (ko) * | 2010-10-18 | 2012-09-12 | 에이피시스템 주식회사 | 플렉서블 액정 디스플레이 제조장치 |
KR101376657B1 (ko) * | 2010-10-21 | 2014-03-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 러빙방법 및 이를 이용한 액정표시장치의 제조방법 |
CN102078854A (zh) * | 2010-11-18 | 2011-06-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 薄膜干燥方法、配向膜干燥方法及显示面板的装造方法 |
US20120140125A1 (en) * | 2010-12-03 | 2012-06-07 | Honeywell International Inc. | Aircraft cockpit visor display |
CN102152573A (zh) * | 2010-12-13 | 2011-08-17 | 苏州金海薄膜科技发展有限公司 | 一种带格子线屏幕保护膜及其制作方法 |
US9494829B2 (en) | 2011-01-28 | 2016-11-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and liquid crystal display device containing the same |
JP5621690B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2014-11-12 | 富士通株式会社 | 電子装置及びフレキシブル基板 |
WO2012141140A1 (ja) * | 2011-04-13 | 2012-10-18 | シャープ株式会社 | 液晶表示パネルおよびその製造方法 |
CN102832131A (zh) * | 2011-06-15 | 2012-12-19 | 广东中显科技有限公司 | 一种柔性igzo薄膜晶体管制造方法 |
JP6111398B2 (ja) * | 2011-12-20 | 2017-04-12 | 株式会社Joled | 表示装置および電子機器 |
JP6224931B2 (ja) | 2012-07-27 | 2017-11-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
KR20140019699A (ko) | 2012-08-07 | 2014-02-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 플렉시블 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법 |
JP6351947B2 (ja) * | 2012-10-12 | 2018-07-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置の作製方法 |
JP2014160603A (ja) * | 2013-02-20 | 2014-09-04 | Japan Display Inc | シートディスプレイ |
TWI692108B (zh) | 2013-04-10 | 2020-04-21 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
CN104485344B (zh) * | 2014-12-08 | 2017-12-05 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | 一种柔性显示器制备方法 |
WO2016132424A1 (ja) * | 2015-02-16 | 2016-08-25 | 日本メクトロン株式会社 | フレキシブルプリント配線板の製造方法 |
US20170026553A1 (en) * | 2015-07-24 | 2017-01-26 | Apple Inc. | Displays With Camera Window Openings |
KR102556849B1 (ko) * | 2016-04-12 | 2023-07-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 및 그의 제조 방법 |
CN107866721A (zh) * | 2016-09-26 | 2018-04-03 | 合肥江丰电子材料有限公司 | 靶材组件的加工方法 |
US11228097B2 (en) * | 2017-06-13 | 2022-01-18 | Kymeta Corporation | LC reservoir |
CN109216902B (zh) * | 2017-07-06 | 2021-03-16 | 群创光电股份有限公司 | 微波装置 |
US10651549B2 (en) | 2017-07-06 | 2020-05-12 | Innolux Corporation | Microwave device |
CN107390415A (zh) * | 2017-09-01 | 2017-11-24 | 四川粤鸿显示技术有限公司 | Tft‑lcd液晶显示屏制作工艺 |
CN110091524B (zh) * | 2018-01-31 | 2024-08-23 | 北京金风科创风电设备有限公司 | 用于磁极防护覆层固化成型的工艺装备 |
US10663819B2 (en) * | 2018-08-07 | 2020-05-26 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Opposite substrate and preparation method thereof, and display device |
CN110534547A (zh) * | 2019-08-02 | 2019-12-03 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示装置及其制作方法 |
CN110854136B (zh) * | 2019-10-31 | 2022-04-12 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 柔性显示装置基板及其制备方法 |
US11521846B2 (en) * | 2019-12-16 | 2022-12-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Methods for patterning a silicon oxide-silicon nitride-silicon oxide stack and structures formed by the same |
Family Cites Families (104)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4718298U (zh) | 1971-04-02 | 1972-10-31 | ||
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JPS5391763A (en) | 1977-01-21 | 1978-08-11 | Mitsubishi Electric Corp | Compression bonding device |
US4211921A (en) * | 1978-02-03 | 1980-07-08 | Iseki Agricultural Machinery Mfg. Co. Ltd. | Sensor for use in controlling operation of mobile farming machine |
DE3069581D1 (en) | 1979-02-01 | 1984-12-13 | Ricoh Kk | Method of sealing plastic liquid crystal display panel |
US4409268A (en) | 1979-03-19 | 1983-10-11 | Ricoh Company, Ltd. | Liquid crystal display panels and process for their production |
DE3113041A1 (de) | 1980-04-01 | 1982-01-28 | Canon K.K., Tokyo | Verfahren und vorrichtung zur anzeige von informationen |
JPS57124827A (en) | 1981-01-27 | 1982-08-03 | Nec Corp | Brazing method for radiating vanes of electron tube |
JPS5957221A (ja) | 1982-09-28 | 1984-04-02 | Asahi Glass Co Ltd | 表示素子の製造方法及び製造装置 |
US4482213A (en) | 1982-11-23 | 1984-11-13 | Texas Instruments Incorporated | Perimeter seal reinforcement holes for plastic LCDs |
JPS59171925A (ja) | 1983-03-22 | 1984-09-28 | Nippon Denso Co Ltd | 液晶充填方法および装置 |
JPS59195222A (ja) | 1983-04-19 | 1984-11-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶パネルの製造法 |
JPS6021028A (ja) | 1983-07-15 | 1985-02-02 | Canon Inc | 光学変調素子およびその製法 |
JPS6075817A (ja) | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Sharp Corp | 液晶表示素子の製造方法 |
JPS60111221A (ja) | 1983-11-19 | 1985-06-17 | Nippon Denso Co Ltd | 液晶充填方法および装置 |
JPS60126624A (ja) | 1983-12-14 | 1985-07-06 | Seiko Epson Corp | 液晶電気光学装置 |
JPS61143787A (ja) | 1984-12-17 | 1986-07-01 | キヤノン株式会社 | カラ−表示パネル |
JPS61190313A (ja) | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶パネルの製造方法 |
GB2173336B (en) | 1985-04-03 | 1988-04-27 | Stc Plc | Addressing liquid crystal cells |
JPS6215520A (ja) | 1985-07-15 | 1987-01-23 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶充填装置 |
US4691995A (en) | 1985-07-15 | 1987-09-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal filling device |
JPS62251723A (ja) | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Seiko Epson Corp | ドライバ−内蔵液晶パネル |
US5109425A (en) * | 1988-09-30 | 1992-04-28 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Method and apparatus for predicting the direction of movement in machine vision |
US5073819A (en) * | 1990-04-05 | 1991-12-17 | Computer Scaled Video Surveys, Inc. | Computer assisted video surveying and method thereof |
JPH04218027A (ja) | 1990-06-14 | 1992-08-07 | Hoechst Japan Ltd | 液晶セルの製造法 |
JP2775354B2 (ja) | 1991-02-12 | 1998-07-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶電気光学装置 |
DE69212515T2 (de) * | 1991-03-08 | 1996-12-05 | Nat Starch Chem Invest | Flüssigkristallanzeigevorrichtung |
JP3077778B2 (ja) | 1992-05-15 | 2000-08-14 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置用電極基板およびそれを用いた液晶表示装置 |
US5331413A (en) * | 1992-09-28 | 1994-07-19 | The United States Of America As Represented By The United States National Aeronautics And Space Administration | Adjustable control station with movable monitors and cameras for viewing systems in robotics and teleoperations |
TW319892B (zh) * | 1993-07-14 | 1997-11-11 | Omi Tadahiro | |
JP3522317B2 (ja) * | 1993-12-27 | 2004-04-26 | 富士重工業株式会社 | 車輌用走行案内装置 |
JP2989744B2 (ja) * | 1994-06-13 | 1999-12-13 | 株式会社東芝 | 測定面抽出装置及びその方法 |
JPH08248401A (ja) | 1994-09-29 | 1996-09-27 | Toppan Printing Co Ltd | 液晶表示素子 |
JP3698749B2 (ja) | 1995-01-11 | 2005-09-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶セルの作製方法およびその作製装置、液晶セルの生産システム |
JPH08271932A (ja) | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Toshiba Corp | 液晶表示装置 |
JP3978241B2 (ja) | 1995-07-10 | 2007-09-19 | シャープ株式会社 | 液晶表示パネル及びその製造方法 |
KR0154817B1 (ko) * | 1995-08-25 | 1998-10-15 | 김광호 | 액정 표시 장치용 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법 |
US5623244A (en) * | 1996-05-10 | 1997-04-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Pilot vehicle which is useful for monitoring hazardous conditions on railroad tracks |
JP3234496B2 (ja) | 1996-05-21 | 2001-12-04 | 松下電器産業株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
US5638420A (en) * | 1996-07-03 | 1997-06-10 | Advanced Research And Applications Corporation | Straddle inspection system |
US5831669A (en) * | 1996-07-09 | 1998-11-03 | Ericsson Inc | Facility monitoring system with image memory and correlation |
JPH10288773A (ja) | 1997-04-15 | 1998-10-27 | Seiko Epson Corp | 液晶素子およびそれを用いた携帯用電子機器 |
US6172720B1 (en) | 1997-05-23 | 2001-01-09 | Kent Displays Incorporated | Low viscosity liquid crystal material |
US6366330B1 (en) | 1997-05-23 | 2002-04-02 | Kent Displays Incorporated | Cholesteric liquid crystal display that prevents image sticking |
US6205242B1 (en) * | 1997-09-29 | 2001-03-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image monitor apparatus and a method |
JP4028043B2 (ja) | 1997-10-03 | 2007-12-26 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 液晶光変調素子および液晶光変調素子の製造方法 |
JPH11109388A (ja) | 1997-10-03 | 1999-04-23 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置の製造方法 |
FR2770317B1 (fr) * | 1997-10-24 | 2000-12-08 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'etalonnage de la position et de l'orientation d'origine d'une ou plusieurs cameras mobiles et son application a la mesure de position tridimentionnelle d'objets fixes |
US5963289A (en) * | 1997-10-27 | 1999-10-05 | S Vision | Asymmetrical scribe and separation method of manufacturing liquid crystal devices on silicon wafers |
JPH11153800A (ja) | 1997-11-20 | 1999-06-08 | Ricoh Co Ltd | 液晶表示素子用シール剤および該シール剤を用いた液晶表示素子 |
US6055035A (en) | 1998-05-11 | 2000-04-25 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for filling liquid crystal display (LCD) panels |
JP3919356B2 (ja) | 1998-09-09 | 2007-05-23 | キヤノン株式会社 | カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタの製造装置、および液晶素子の製造方法 |
JP4114292B2 (ja) * | 1998-12-03 | 2008-07-09 | アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 | 運転支援装置 |
JP3189955B2 (ja) * | 1998-12-25 | 2001-07-16 | 日本電気株式会社 | 液晶表示素子及びその製造方法 |
JP3410983B2 (ja) | 1999-03-30 | 2003-05-26 | 株式会社 日立インダストリイズ | 基板の組立方法およびその装置 |
US6583846B1 (en) * | 1999-04-14 | 2003-06-24 | Hitachi, Ltd. | Liquid crystal display device with spacer covered with an electrode |
JP2000321580A (ja) | 1999-04-28 | 2000-11-24 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 液晶表示装置 |
CN1263159C (zh) * | 1999-06-02 | 2006-07-05 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件及其制造方法 |
US6952020B1 (en) | 1999-07-06 | 2005-10-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
TW459275B (en) | 1999-07-06 | 2001-10-11 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device and method of fabricating the same |
JP2001042340A (ja) | 1999-08-03 | 2001-02-16 | Minolta Co Ltd | 液晶表示素子の製造方法 |
JP2001235760A (ja) | 1999-12-14 | 2001-08-31 | Sharp Corp | 液晶表示素子の製造方法およびその製造装置 |
JP3358606B2 (ja) | 1999-12-14 | 2002-12-24 | 日本電気株式会社 | 液晶表示パネルの製造方法 |
JP2001183640A (ja) | 1999-12-22 | 2001-07-06 | Casio Comput Co Ltd | 高分子分散液晶表示素子の製造方法 |
US6739929B2 (en) | 2000-03-31 | 2004-05-25 | Minolta Co., Ltd. | Method and apparatus for producing a display panel, method for adhering an adhesive sheet and method for adhering plates |
JP2001290161A (ja) | 2000-04-04 | 2001-10-19 | Advanced Display Inc | 液晶表示装置およびその製法 |
JP2001312214A (ja) | 2000-04-27 | 2001-11-09 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置の製造方法、シール材圧着硬化装置、電気光学装置及び電子機器 |
JP2002040446A (ja) | 2000-05-19 | 2002-02-06 | Minolta Co Ltd | 液晶表示パネルの製造方法及び積層型液晶表示パネルの製造方法 |
JP2002014360A (ja) | 2000-06-29 | 2002-01-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶パネルの製造方法および装置 |
JP2002148644A (ja) | 2000-09-01 | 2002-05-22 | Seiko Epson Corp | 液晶装置の製造方法 |
JP4304852B2 (ja) | 2000-09-04 | 2009-07-29 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 非平面液晶表示素子及びその製造方法 |
JP2002090761A (ja) | 2000-09-12 | 2002-03-27 | Ran Technical Service Kk | 液晶表示素子の製造方法、液晶注入器具及び液晶散布用容器 |
JP2002107746A (ja) | 2000-09-28 | 2002-04-10 | Minolta Co Ltd | 表示パネル及びその製造方法 |
JP4570233B2 (ja) | 2000-10-25 | 2010-10-27 | 株式会社アルバック | 薄膜形成方法及びその形成装置 |
US6842211B2 (en) * | 2000-11-02 | 2005-01-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device, and method of manufacturing the same |
JP3853636B2 (ja) | 2000-11-02 | 2006-12-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
JP2002202512A (ja) | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Toshiba Corp | 液晶表示装置及びその製造方法 |
KR100690005B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2007-03-08 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 강유전성 액정주입장치의 제조 방법 |
TW554221B (en) | 2001-01-09 | 2003-09-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof |
US7019763B2 (en) * | 2001-01-09 | 2006-03-28 | Seiko Epson Corporation | Display device, driving method therefor, electro-optical device, driving method therefor, and electronic apparatus |
JP2002214626A (ja) | 2001-01-17 | 2002-07-31 | Toshiba Corp | 液晶表示装置の製造方法及びシール材 |
US6767807B2 (en) * | 2001-03-02 | 2004-07-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for producing organic thin film device and transfer material used therein |
JP2002333639A (ja) * | 2001-03-08 | 2002-11-22 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
JP4639495B2 (ja) | 2001-03-13 | 2011-02-23 | 住友ベークライト株式会社 | 表示用プラスチック基板 |
JP2002296600A (ja) | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Minolta Co Ltd | 液晶表示素子の製造方法 |
JP2002372920A (ja) | 2001-04-05 | 2002-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学用樹脂基板の製造方法及びその製造装置、それを用いた液晶表示素子の製造方法及びその製造装置、並びにそれを用いた液晶表示装置 |
KR20020077661A (ko) * | 2001-04-05 | 2002-10-12 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 광학용 수지 기판의 제조 방법 및 제조 장치, 이 기판을사용한 액정 표시 소자의 제조 방법 및 제조 장치, 및 이액정 표시 소자를 사용한 액정 표시 장치 |
JP2003043462A (ja) * | 2001-07-30 | 2003-02-13 | Nec Corp | 液晶表示装置及びその製造方法 |
TWI259308B (en) * | 2001-04-17 | 2006-08-01 | Nec Lcd Technologies Ltd | Liquid-crystal display device and method of fabricating same |
JP2002318378A (ja) * | 2001-04-22 | 2002-10-31 | Mikuni Denshi Kk | 液晶表示装置の組み立て方法とその装置 |
JP2002350873A (ja) | 2001-05-23 | 2002-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示素子 |
JP2002350816A (ja) | 2001-05-28 | 2002-12-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置およびその製造方法 |
JP4081643B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2008-04-30 | 株式会社日立製作所 | 液晶表示装置 |
JP3950987B2 (ja) | 2001-08-27 | 2007-08-01 | シャープ株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
US7295280B2 (en) * | 2001-09-03 | 2007-11-13 | Hannstar Display Corp. | Method of manufacturing one drop fill liquid crystal display panel |
TW507095B (en) * | 2001-09-03 | 2002-10-21 | Hannstar Display Corp | Manufacturing method of ODF liquid crystal panel |
KR100652045B1 (ko) | 2001-12-21 | 2006-11-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자 및 그 제조방법 |
JP2003216059A (ja) | 2002-01-24 | 2003-07-30 | Sharp Corp | 表示素子およびその製造方法 |
JP2003241208A (ja) | 2002-02-19 | 2003-08-27 | Shibaura Mechatronics Corp | 液晶滴下装置及び方法並びに液晶表示パネル製造装置 |
TWI362644B (en) | 2003-01-16 | 2012-04-21 | Semiconductor Energy Lab | Liquid crystal display device and manufacturing method therof |
US7110083B2 (en) * | 2003-11-19 | 2006-09-19 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
-
2004
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