TW200526329A - Substrate processing apparatus, slit nozzle, structure for determining degree of liquid filling in body to be filled, and structure for determining degree of air mixed in body to be filled - Google Patents

Substrate processing apparatus, slit nozzle, structure for determining degree of liquid filling in body to be filled, and structure for determining degree of air mixed in body to be filled Download PDF

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TW200526329A TW093130890A TW93130890A TW200526329A TW 200526329 A TW200526329 A TW 200526329A TW 093130890 A TW093130890 A TW 093130890A TW 93130890 A TW93130890 A TW 93130890A TW 200526329 A TW200526329 A TW 200526329A
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Yoshinori Takagi
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Dainippon Screen Mfg
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    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like

Description

200526329 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種基板處理裝置,其對於液晶用玻璃基 板、半導體晶圓、薄膜液晶用可撓性基板、光罩用基板、 彩色濾光為用基板等各種基板,主要於其表面施行塗佈處 理液之塗佈處理。 【先前技術】 作為於液晶用玻璃基板、半導體晶圓、薄膜液晶用可撓 性基板、光罩用基板、彩色濾光器用基板等各種基板之表 面塗佈光阻劑等處理液之塗佈處理裝置,眾所周知有使用 具有細縫狀排放部之細縫喷嘴施行細縫塗佈之細縫塗佈 機’或實施細縫塗佈後再施行旋塗之細縫&旋塗機。 於此種塗佈處理裝置之細縫喷嘴中,有時氣體(主要為空 氣)作為氣泡等混入於光阻劑等處理液之内部。例如,空氣 混入有以下情形。 •因噴嘴内部之壓力變動或閥門開閉時之壓力變動,自抗 钱劑自身產生之情形; •用以於塗佈結束時施行使膜厚固定化之回吸處理時自 喷嘴前端混入之情形; 衣置初始設置時填充抗姓劑於噴嘴内部之情形。 繼而,空氣之混入將產生以下問題。 •空氣與抗蝕劑反應,於喷嘴内形成膠體狀物質,因此自 細縫無法均勻排放,從而產生條紋狀塗佈斑; •由於空氣混入,產生塗佈開始時之排放流量的一階滯 96501.doe 200526329 後,因而塗佈開始時之膜厚出現不穩定; 由於工氣此入’塗佈結束時,反而產生抗蝕劑排放停止 之滞後,從而膜厚出現不穩定; •由於空氣混入,噴嘴内部之抗蝕劑動壓分佈產生變化, 從而產生放射狀斑塊。 為避免此等問題’需要確實且迅速施行喷嘴内部之排 氣以此確貫且迅速排氣為目的之技術,已為世人所知(例 如’參照專利文獻1及專利文獻2)。 又,於塗佈處理裝置,有時於細縫喷嘴内部由於局部性 產生抗蝕劑之滞留細縫噴嘴内部之抗蝕劑流動性變差,並 因所使用之抗蝕劑種類而產生放射狀之塗佈斑。由此縮小 了塗佈處理裝置中可使用之抗蝕劑的種類或黏度之選擇範 圍(抗蝕劑範圍)。為加以避免,使細縫喷嘴内部之抗蝕劑不 斷流動並施行塗佈的技術已為世人所知(例如參照專利文 獻3)。或者,實現塗佈層之厚度均一化之技術亦為眾所周 知(例如參照專利文獻4乃至專利文獻5)。 [專利文獻1]曰本專利特開平7-3285 10號公報 [專利文獻2]日本專利特開平9-253556號公報 [專利文獻3]曰本專利特開平1〇_2865〇7號公報 [專利文獻4]日本專利特開平8-182955號公報 [專利文獻5]日本專利特開2003-3 3715號公報 [發明所欲解決之問題] 於專利文獻1及專利文獻2所揭示之細縫塗佈機中,係採 用使細縫喷嘴向上排放抗蝕劑,藉此排出細縫喷嘴内部之 96501.doc 200526329 空氣的方法。然而此種方法中存在如下之問題點。 .由於反轉細缝喷嘴施行排氣,因此細縫喷嘴安裝部之 造複雜; # .無法獲得排氣結束後之細縫噴嘴本體與基板面之定位 重現性,因此需要細縫噴嘴調整用之原點複歸動作; .即使微小體積之空氣混入細縫噴嘴内部時,亦需要反轉 細縫噴嘴,排放相當於細縫噴嘴内部全部體積之抗蝕劑, 故而較為煩瑣; .由於係於細缝喷嘴向上之狀態排放抗㈣實施排氣,因 此產生擦拭所排放之抗㈣!的作業,而此作業係非常困 難’故由於無法徹底將抗㈣擦栻乾淨,因此裝置將遭到 .由於未設置檢測細縫噴嘴内部之空氣是否完全排出之 檢測機構,因此為充分排出空氣,需要排放過多抗钮劑。 又,專利文獻3所揭示之裝置係具備旧次塗佈即用完所 給之抗㈣之方式’使内部之容積等最優化之細縫沖模 者。然而相關裝置亦存在以下問題點。 固二要!1應於作為目標之塗佈膜厚或所使用之抗姓劑之 各種;1刀展度,製作細縫沖模,而以1個細縫模係無法對應 各種塗佈膜厚的。 非::解Π:!3乃至專利文獻5所揭示之發明之目的並 對解决工虱混入之上述問題點者。 本發明係雲於卜奸、% -種可fl、、… 開發完成者,㈣在於提供 確貫地抽出細縫嘴嘴内部之空氣,並且不產 9650l.doc 200526329 生塗佈斑之細縫噴嘴以及具有此細縫噴嘴之塗佈處理裝 置。 【發明内容】 為解決上述課題,請求項1之發明係一種基板處理裝置, 其特徵為,其係具備保持基板之保持台,排放特定處理液 之細縫噴嘴,使上述細縫噴嘴於沿上述基板之表面大致水 平方向移動之移動機構,以及自特定處理液供給源將上述 特定之處理液供給至上述細縫喷嘴之處理液供給機構,藉 由於上述大致水平方向移動上述細縫喷嘴,於上述細縫噴 嘴不斷掃過上述基板之表面,並藉由排放填充於上述細縫 噴嘴之内部之上述特定處理液,塗佈上述特定處理液於基 板者,於上述細縫喷嘴,連接有上述處理液供給機構,將 上述特定處理液供給至上述細縫噴嘴之歧管的供給口設置 於上述歧管之長度方向之兩側端部中至少复 τ王夕具中一方之側綠 部,將存在於上述細縫喷嘴内部之流體向上述細縫喷嘴之 外部排出之排出口設置於上述歧管之上端部,上述排出口 設置於高於上述供給口之位置。 請求項2之發明係請求項以基板處理裝置,其中上述供 給口設置於上述歧管之長度方向之兩側端部中之^側端 部二上述排出口設置於上述歧管之長度方向之兩側端部中 之弟2側端部。 理裝置,其中上述至 之長度方向之兩側端 請求項3之發明係請求項1之基板處 少1個供給口係分別設置於上述歧管 部之第1與第2供給口。 96501.doc 200526329 出 置 請求項4之發明係請求項3之基板處理 口設置於連接上述第丨與第2供給口之 裝置,其中上述排 區間之大致t央位 請求項5之發明係請求w乃至請求項4中任一項之基板 處理裝置,其中上述歧管之上面自上述供給口向±述排出 口傾斜。 請求項6之發明係請求項1乃至妹 處理裝置,其中自上述歧管之下:至=任-項之基板 u、+、 文吕您卜面至上面為止之高度係自 述供給口側向上述排出口側逐漸變大。 請求項7之發明係請求項175至請求項4中^ —項之基板 〇理裝置,其中上述歧管之剖面積係自上述供給口側向上 述排出口側逐漸變大。 處:之發明係請求項1乃至請求項4中任-項之基板 =、,其中上述流體係存在於上述 體及混入有氣體之上述處理液。 、…之孔 μ求項9之發明係請求項8之基板處理裝置,其中呈備連 =上述排出口之排出路徑,以及配置於上述排出路徑之 構H測上述排出路徑内之處理液的填充狀態之偵測機 傷二^項1Q之發明係請求項9之基板處理裝置,其中進而具 、’疋機構’其判定相對於上述細縫喷嘴之上述特定處理 上述排出路徑為光學性透明,且具有彎曲㈣ 4 σ卩分’上述彎曲部分朝向上側,上述偵測機構 …迷彎曲部分之附近’對上述彎曲部分之特定位 96501.doc 200526329 置發出第1光束’並且伴隨上述第1光束之照射,接受自上 述特疋位置所獲得之第2光束者,上述判定機構以藉由上述 偵測機構所獲得之上述第2光束之光強度的變化為依據,判 疋上述填充度。 β求項11之發明係請求項8之基板處理裝置,其中具備連 接於上述排出口之排出路徑,以及配置於上述排出路徑之 中途,偵測上述排出路徑内處理液之氣體混入狀態的偵測
機構。 。月求項12之發明係請求項丨丨之基板處理裝置,其中進而 具備判疋機構,其判定對於上述細縫噴嘴之上述特定處理 液中氣體之混入,上述排出路徑為光學性透明,且具有彎 曲為U字型之f曲部分,上述f曲部分朝向上側,上述憤測 機構係配置於上述彎曲部分之附近,對於上述彎曲部分之 :定位置發出第1光束’並且伴隨上述約光束之照射,接 受自上述特;t位置所獲得之第2光束者,上述判錢構以藉
由上述偵測機構所受光之上述第2光束之光強度的變化為 依據’判定上述氣體之混入。
請求項13之發明係請求項1乃至請求項4中任一項之J 處理衣置,其中上述處理液供給機構可選擇性供給上赶 定處理液與自特定清洗液供給源所取得之清洗^細赵 嘴内部之清洗液。 請求項丨4之發明係請求項3乃至請求項4中任一項之基板 處理裝置’其中上述處理液供給機構以清洗上述細縫喷嘴 内部之清洗液置換上述特定處理液後,可供給上述清洗液。 96501.doc -10- 200526329 請求項15之發明係—種細縫喷嘴,其特徵為其係透過特 定之移動機構得以移動,藉此掃過被處理體之表面,並藉 由排放由特定處理液供給機構所供給之特定處理液,賦^ 上述特定處理液於上述被處理體者,1,連接有上述處理 液供給機構,將上述特定處理液供給至上述細縫噴嘴之歧 管的供給口設置於上述歧管之長度方向之兩側端部中至少 其中一方之側端部,將存在於上述細縫噴嘴内部之流體向 上述細縫噴嘴之外部排出之排出口設置於上述歧管之上端 部,上述排出口設置於高於上述供給口之位置。 請求項16之發明係請求項15之細縫噴嘴,其中上述供认 口設置於上述歧管之長度方向之兩側端部中第i側端部:: 述排出口叹置於上述歧管之長度方向之兩側端部中第 端部。 請求項17之發明係請求項15之細縫喷嘴,其中上述至少】 個供給口係分別設置於上述歧管 ^ 幻與第2供給口。 以方向之兩側端部之 請求項18之發明係請求項17之細縫噴嘴,其中上 口設置於連接上述第1與第2供給 置。 “間之大致中央位 請求項之發明係請求項15乃至請求項18中任 縫喷嘴,其中上述歧管之自 、心、··田 傾斜。 “之上面自上迷供給口向上述排出口 請求項20之發㈣請求項15乃至請求項18巾任 縫噴嘴,其中自上述歧管之下面至上、、、’田 丄田之阿度自上述供給 96501.doc -11 · 200526329 口側向上述排出口側為逐漸變大。 請求項21之發明係請求項15乃至請求項18 缝噴嘴,其中上述歧管之剖面積自上述 h、、Q 口側向上述排 出口側為逐漸變大。 請求項22之發明係請求項15乃至請求項18中任—項之細 缝噴嘴,其中上述流體係、存在於上述細縫噴嘴内部之氣= 及混入有氣體之上述處理液。 一
一請求項23之發明係—種構造,其特徵為其係用以判定於 藉由使用特定供給機構供給特定㈣而填充有上述特定液 體之被填充體中之上述特定液體之填充度者,且具備排出 口’其將上述被填充體内部之氣體及填充物向上述被填充 體之外部排出;排出路a,其連接於上述排出〇,為光學 性透明並具有彎曲為U字型之彎曲部分,上述彎曲部分朝向 上側;偵測機構,其配置於上述彎曲部分之附近,對上述 4曲邛刀之特疋位置發射第丨光束,並且伴隨上述第1光束 ^照射,接受自上述特定位置所獲得之第2光束;以及判定 機構’其依據#由上述债測機構所受光之上述第2光束的光 強度的變化,判定對於上述被填充體之上述特定液體的填 充度。 。月求項24之發明係一種構造,其特徵為其係用以判定對 於填充於藉由使用特定供給機構供給特定液體而填充有上 述特疋液肢之被填充體中之上述特定液體之氣體的混入度 者’且具備排出口 物向上述被填充體 ’其將上述被填充體内部之氣體及填充 之外部排出;排出路徑,其連接於上述 96501.doc -12- 200526329 排出口,為光學性透明並具㈣曲為u字型之彎曲部分,上 述彎曲部分朝向上側;摘測機構,其配置於上述彎曲部分 之附近’對上述彎曲部分之特定位置發射第丨光束,並且伴 隨上述P光束之照射,接受自上述特定位置所獲得之第2 光束;以及判定機構,其依據藉由上述價測機構所受光之 上述第2光束的光強度的變化,判定對於上述特定液體之氣 體的混入度。 [發明效果] 根據請求項丄至請求項22之發明,由於自歧管之長度方向 之側端部供給處理液,並自上端部排出氣體及混入有氣體 之處理液,因此即使不具備反轉細縫喷嘴之機構,亦可確 實去除氣體。 尤其,根據請求項2、請求項3、請求項16以及請求項 之發明,抗蝕劑液流動於歧管之整體,因此不會產生供给 ^細縫噴嘴之内部之處理液的滞留之場所,可以短時間: 實地填充處理液至細縫喷嘴。 尤其,根據請求項3及請求項17之發明,可自歧管之長度 方向之兩側端部供給處理液,並且可自同方向之中央 出軋體及混入有氣體之處理液,因此可更加提高細縫噴嘴 内部之處理液的流動性。又,由於亦可交互使用各供給口 供給處理液,因此可對應於處理液之性質或處理狀況,選 擇使用之供給口。 尤其,根據請求項5至請求項7及請求項19至請求項以之 么月,歧官具有即使於所填充之處理液中混入有氣體時, 96501.doc 200526329 2可輕易引導該氣體至排出口之形狀,因此易於排 氣體至細縫噴嘴外。 述 尤其,根據請求項9至請求項12之發明,供給至細縫 =定處理液由於依次自排出4測排出路徑中之處理液 之真充度或氣體之混入狀態,因此不僅於塗佈處理之 處理液之填充時,於塗佈處㈣作中村確實_該等者。 尤其’根據請求項1G及請求項12之發明,利用供給至細 =嘴嘴之特定處理液依次自排出口向排出路徑得以排出之 :形’以及彎曲部分中之處理液的填充度或氣體有無混入 每第2光束之光強度間存在相關性之情形,判定處理液之填 充度或氣體之混入’藉此使用單純之構造,不僅於塗佈處 ,之前的處理液之填充時’亦於塗佈處理動作中可確實判 定細縫喷嘴中是否填充有處理液,或處理液中是否混入有 氣體。 尤其,根據請求項13及請求額之發明,無需拆卸細縫 :嘴,即可清洗細縫噴嘴之内部。又,於細縫噴嘴之内部, :自細縫噴嘴之長度方向t兩側端部肖中央部供給清洗液 ^可以里之清洗液確實地清洗細縫喷嘴内部。 根據明求項23及請求項24之發明,利用供給至被填充體 之特疋液體依次自排出口向排出路徑排出之情形,以及彎 曲部分中之處理液的填充度或氣體之有無混入與第2光束 之光強度間存在相關性之情形,判定被填充體中之該液體 的填充度或氣體混入,藉此使用單純之構造,可確實判定 被填充體中是否填充有該液體,或該液體中是否浪入有氣 96501.doc •14- 200526329 體。 【實施方式】 <弟1貫施形態〉 <整體構造> 圖1係表示本發明之第1實施形態之基板處理裝置丨之概 略的立體圖。圖2係表示基板處理裝置1之本體2之側剖面, 亚表不與抗蝕劑液之塗佈動作相關之主要構成要素的圖。 基板處理裝置1可大致分為本體2與控制系統6,用以製造 液晶顯示裝置之晝面面板之方形玻璃基板作為被處理基板 (以下簡稱為「基板」)90,於選擇性蝕刻形成於基板9〇之表 面之電極層等的製程中,構成為將作為處理液之抗蝕劑液 塗佈於基板90之表面的塗佈處理裝置。因此,於此實施形 態中,細缝喷嘴41排放抗蝕劑液。又,基板處理裝置丨不僅 作為液晶顯示裝置用之玻璃基板,通常亦可作為塗佈處理 液(藥液)於平面面板顯示器用之各種基板之裝置加以變形 利用。 本體2具備工作臺3 ,其起作用作為用以載置並保持基板 9〇之保持台,並且亦起作用作為附屬之各機構之基台。工 作臺3具有長方體形狀,例如為完整一體之石製品,其上面 (保持面30)及側面加工為平坦面。 工作臺3之上面為水平面,成為基板9〇之保持面3〇。於保 持面30上分佈形成有未圖示之多個真空吸附口,於基板處 理裝置1處理基板90時,藉由吸附基板9〇,將基板卯保持於 特疋之水平位置。X ’於保持面3〇上,隔開適當間隔設置 96501.doc -15- 200526329 有複數個提昇銷LP,其藉由未圖示之驅動機構可自由上下 升降。提昇銷LP係於取下基板9〇時,用以上推基板9〇。 保持面30中,於夾著基板90之保持區(保持基板9〇之區域) 之兩端部,固定設置有平行延伸於大致水平方向之一對行 駛執道31。行駛軌道31與固定設置於架橋構造4之兩端部之 最下方的未圖示之支持組塊共同引導架橋構造4之移動(規 定移動方向為特定方向),構成於保持面3〇之上方支持架橋 構造4之線性導執。 工作臺3之上方設置有架橋構造4,其自此工作臺3之兩側 P刀大致平行架设。架橋構造4主要包含例如以碳化纖維增 強树知為骨材之噴嘴支持部4〇,以及支持其兩端之升降機 構 4 3、4 4。 噴嘴支持部40上安裝有細縫噴嘴41與間隙感應器42。 圖1中,Y軸方向上具有長度方向之細縫喷嘴41連接有圖^ 中未圖不之供給機構9(圖2),其包含向細縫喷嘴41供給抗蝕 劑液之配管或抗蝕劑用泵等。藉由一面掃過基板90之表 面,一面將由抗蝕劑用泵所供給之抗蝕劑液排放至基板90 表面之特定區域(以下稱為「抗蝕劑塗佈區域」),細縫喷嘴 41坌佈抗蝕劑液於基板9〇。於此處,所謂抗蝕劑塗佈區域 係私於基板9〇之表面中要塗佈抗蝕劑液之區域,通常係自 基板90之全部面積扣除沿端緣之特定幅寬之區域的區域。 、、、縫喷嘴41與供給機構9之詳細内容稍後敍述。 間隙感應器42以靠近細縫噴嘴41之方式,安裝於喷嘴支 ' ” ’則疋與下方存在物(例如基板90之表面或抗钱劑 96501.doc 200526329 膜表面)之間之高低差(間隙),並將測定結果傳達至控制系 統6。藉此,控制系統6依據間隙感應器42之測定結果,可 控制上述存在物與細縫噴嘴41之距離。 升降機構43、44分設於細缝噴嘴41之兩側,藉由噴嘴支 持部40與細縫噴嘴41連結。升降機構43、私主要包含A。伺 服馬達43a、44a及未圖示之滾珠螺桿,以來自控制系統6之 控制訊號為依據生成架橋構造4之升降驅動力。藉此,升降 機構43、44使細縫噴嘴41直移升降。又,升降機構43、料 亦可用於調整細縫噴嘴41之丫2平面内之姿勢。 於木橋構造4之兩端部,沿工作臺3之兩侧邊緣側,分別 固定設置有分別具備固定器(定子)5Qa與移動器通及固定 器51績移動器51b之一對AC無心線性馬達(以了簡稱為「線 馬達」)〇 51又,於架橋構造4之兩端部,分別固定 設置有分別具備測量部與檢測器之線性編碼器52、&線 性編碼器52、53檢測出線性馬達5()、51之位置。此等線性 馬達50、51與線性編碼器52、53主要構成行駛機構5,豆用 以引導架橋構造4至行駛執道31,並於工作臺3上移動。即, 行駛機構5作為使架橋構造於沿基板9〇之表面之大致水平 方向移動之移動機構而發揮作用。以來自線性編碼器& 53之檢測結果為依據,控㈣統6控制線性馬達觀動作, 藉此工作1:3上之架橋構造4之移動,即細縫噴嘴41對基板 90之掃過得以控制。 於本體2之保持面30,設置有肖口 32於保持區之⑼方向 側。開口32與細缝喷嘴41同樣於γ軸方向具有長度方向,且 96501.doc -17- 200526329 該長度方向長度與細縫噴嘴41之長度方向的長度大致相 同。又,開口32之下方之本體2的内部設置有待機罐ρτ、噴 嘴清洗機構7、以及預塗佈機構13。此等均用於於基板9〇 之抗蝕劑液塗佈之前所施行之抗蝕劑液供給處理、排氣處 理、或預分配處理等之預備處理之際。 待機罐ΡΤ係作為細縫喷嘴41不施行掃過處理而待機時之 待機場所而設置。待機罐PTs定位於下述之抗蝕劑液之填 充動作等中,將作為自細縫喷嘴41滴下之抗蝕劑液等的接 受器具發揮作用,並可適當廢棄.回收滯留物。細縫喷嘴4ι 於下降至待機-ρτ之正上方之狀態下待機直至受到特定掃 過指不為止。以下,將細縫喷嘴41位於待機罐ΡΤ正上方之 情形稱為細縫喷嘴41「處於待機位置」等。另,供給抗蝕 劑液至細縫噴嘴之處理亦於待機位置施行。 噴嘴清洗機構7於細縫喷嘴41位於待機位置時,設置為可 藉由驅動機構71沿細縫噴嘴41之長度方向(於圖2中為紙面 垂直方向)移動。藉由配合細縫噴嘴41之形狀,於中央具備 大致v字形狀之缺口之刮刀72,刮去附著於細縫喷嘴41之抗 蝕劑液,並且藉由由未圖示之溶劑供給機構所供給之特定 溶劑清洗細縫喷嘴41之下端的細縫41b之附近。 預塗佈機構13係用以為去除附著於細縫41b之部分上之 抗蝕劑液,而施行於正式塗佈之前塗佈少量抗蝕劑液之預 塗佈的機構。預塗佈於向基板等施行實際塗佈處理(以下稱 為「正式塗佈處理」)之前施行。預塗佈時,預塗佈機構13 於、’、田縫噴g 41處於该預塗佈機構13之正上方位置(以下稱 96501.doc -18- 200526329 為「預塗佈位置」)之狀態下,藉由驅動機構15,使剖面形 成多邊形(圖2中為正八邊形)之多邊柱狀分配捲筒14以該正 多邊形之中心14a為旋轉軸旋轉,並於此旋轉動作同步,自 細縫喷嘴41向相當於該正多邊形之各邊之被塗佈面1心排 放少量抗蝕劑液。此相當於使用細縫噴嘴41相對性掃過該 被塗佈面14s,並塗佈抗蝕劑液於被塗佈面之處理。藉由於 正式塗佈處理之前施行預塗佈,可高效去除附著於細縫喷 嘴41之抗蝕劑液,因此於正式塗佈處理中,可防止因附著 於細縫喷嘴41上之抗蝕劑液而引起的膜厚不均一(田埂狀 之隆起等)。 塗佈於被塗佈面14s之抗蝕劑液於預塗佈結束後,施行正 式塗佈處理之期間,藉由分配捲筒刮刀16刮去,其由硬度 低於被塗佈面14s之材質,具體為由樹脂或橡膠等形成。被 塗佈面14s進而藉由裝滿特定溶劑之分配罐17得以清洗。 控制系統6内部具備依據程式施行各種資料處理之演算 邛60,保存私式或各種資料之記憶部61。又,於前面具備 用以操作者向基板處理裝置丨輸入必要指示之操作部62,以 及顯示各種資料之顯示部63。 控制系統6於圖1中,藉由未圖示之電纜電性連接於附屬 於本體2之各機構。控制系統6以來自操作部62之輸入訊 唬、間隙感應器42及其他未圖示之各種感應器等之訊號為 依據,控制升降機構43、44之升降動作,行駛機構5之行駛 動作,供給機構9之抗蝕劑液之供給動作,以及隨付於下述 之噴嘴清洗機構7以及預塗佈機構13之各驅動機構、各旋轉 96501.doc -19- 200526329 機構及各閥門等的動作。 另’具體為’臨時記憶資料之RAM、讀取專用之R〇M以 及磁碟裝置等相當於記憶部61。或者亦可為可移動性光磁 碟或記憶卡等記憶媒體,以及彼等之讀取裝置等。又,按 鈕及開關類(包含鍵盤或滑鼠等)等相當於操作部62。或者亦 可為兼具如觸摸面板顯示器般之顯示部63之功能者。液晶 顯示裔或各種燈等相當於顯示部63。
<細縫喷嘴及供給機構> 圚3係杈式性表示細縫喷嘴41與用以供給抗蝕劑液至售 、、田縫噴鳥41之供給機構9的圖。於圖3中,細縫噴嘴41表f 為平行於其長度方向之剖面圖。又,圖4係表示細縫喷嘴4 之於圖3中之A_A,剖面(與圖rZX面相平行之面)的圖。
如圖4所示,細縫喷嘴41之下側大致一半形成為於垂直方 長度方向之面内之剖面越往下越細之大致v字型的外觀升 狀。如圖3及圖4所示,於細縫喷嘴41之内部,跨長度方沒 之兩側端部間μ剖面中央部之上方,設置有歧管Γ. 中以斜線表*剖面),其暫時儲存用以塗佈基板之抗㈣ 液:進而,於細縫嗔嘴41之内部,設置有排氣㈣,其自 歧官45之上端部到達細縫噴仙之上端部為止。排氣孔^ 係作為自歧管45排出办窍;' 工乳及主要為混入有空氣之)抗蝕劑 液的排出口發揮作用者。排氣孔47較好的是 1 輪、杨與排氣孔47之於 ^ 口 小值成為最大的位置。長度方向上距離之最 較好的是具體為,設置於自供給口 46a、46b之任一者均伊 、、" 9仏里逖之位置。於本實施形態中,係 96501.doc -20- 200526329 設置於細缝噴嘴41之長度方向的中央部。 又’於歧官45之兩側端部,設置有用以供給抗蝕劑液至 歧管45之供給口 46a、46b。進而,於歧管45之最下部與相 當於大致V子型之頂點部分的細縫噴嘴4丨之前端(最下端) 之間,同樣跨細縫噴嘴41之兩側端部間,設有間隔一定距 離之間隙41a。間隙41a之間隔較好的是5〇 μιη〜25〇 μιη左 右。間隙41 a之最下端為用以排放抗蝕劑液之細縫411)。供 給至歧管45之抗蝕劑液於藉由下述之供給機構9之作用得 到特定排放壓時,則經由間隙41a自細縫41b排放,從而塗 佈於基板90。 歧官45如圖4所示,於A-A,剖面上,以自排氣孔47側向間 隙41&側傾斜之方式設置。又,如圖3所示,排氣孔叼以該 歧管45側之端部47a位於高於供給口 46a、46b之位置的方式 設置。即,歧管45以於長度方向其上面45a排氣孔47之端部 47a與供給口 46a及46b之間存在傾斜之方式形成。另者,歧 管45之下面45b以與細縫喷嘴41之上下側端保持大致平行 之方式形成,因此,歧管45以於長度方向,自供給口 46a、 46b向中央部側,上下面間之間隔h逐漸變大之方式設置。 或亦可謂以剖面積逐漸變大之方式設置。 供給機構9如圖3所示,主要具備儲存抗蝕劑液汉之抗蝕劑 液供給源91,用以自抗蝕劑液供給源91向細縫喷嘴41供給 抗钱劑液R之抗蝕劑液供給路徑L1以及用以去除混入於細 縫喷嘴41内之抗蝕劑液之空氣的排氣路徑[2。排氣路徑L2 作為排出空氣及(主要為混入有空氣之)抗蝕劑液之排出路 96501.doc -21 - 200526329 徑發揮作用。 、抗餘劑液供給路徑L1上具備間門V2、供給㈣、闕門^ 以及C力93 ’該等自抗钱船夜供給源以側藉由特定管道 扩人連接儲存於抗蝕劑液供給源9丨之抗蝕劑液r藉由壓縮 空*1(壓空)得以加壓供給。或,藉由供給泵%,吸取儲存於 抗餘劑液供給源91之抗钮劑液R,並定量輸送。廢力計9'3 係用以監測抗蝕劑液之供給壓力而具備的。 又,抗蝕劑液供給路徑l1k壓力計93與細縫噴嘴41之間 分歧為2支,分歧供給路徑Lla及Llb分別於細縫噴嘴“之長 度方向之兩側端部,與供給口 46a、4讣分別連接。即,本 實施形態之細縫噴嘴41成為自長度方向之側端部側得以供 給抗蝕劑液之態樣。又,於分歧供給路徑Lu及Llb分別具 備閥門V4及閥門V5。 另,閥門V2〜V5均為藉由控制系6控制開關操作之電磁 閥。 又,排氣路徑L2於細縫喷嘴41之上面側所具備之排氣孔 47連接有特定之管道。於排氣路徑L2之中途,具備有排氣 閥門V1。排氣閥門VI亦為藉由控制系統6控制開關操作之 電磁閥。又,細縫噴嘴41與排氣閥門¥1之間設有感測部%。 圖5係說明感測部94之圖。如圖5(a)所示,於感測部94,來 自排氣孔47之管道96以彎曲部分成為上端部之方式彎曲為 U字型,並於其正上方設置有空氣感應器95。較好的是於排 氣路徑L2之自細缝喷嘴41至感測部94為止之間,以管道% 之頂點部分(U字型之底部部分)96a位於最高位置之方式設 96501.doc -22- 200526329 置管道96。感測部94承擔判定構成排氣路徑^之管道%是 否裝滿抗姓劑液,或是否混入有空氣(有無空氣碰撞)之處 理。二氣感應盗95係所謂之光學性感應器,係產生光束, 並受光對應於此之反射束,再將其光強度供給控制系統6 者。因此,管道96之頂點部分96a設置為光學性透明,與該 頂點部分96a相對向之96b部分以反射光束之方式設置。使 用感測部94之處理稍後敍述。 排氣閥之前方連接於未圖示之沒極。如下所述,混 入於供給至歧管45之抗敍劑液内部之空a,或含有空氣之 抗餘劑液可自排氣路徑L2得以排出。 <抗飯劑液之填充> 繼而,說明對於細縫噴嘴41之抗姓劑液之填充。圖6係抗 姓劑液供給過程中之細縫喷嘴4!之平行於長度方向之剖面 的模式圖,圖7係其時之圖3之A_A,剖面上的模_ 1請 抗蝕劑液巾混人线泡時之細㈣ 之剖面的模式圖,圖9係其時之一剖面丁二^ 於ί、…抗蝕劑液至完全未填充抗蝕劑液之細縫喷嘴* ^ 日守,f先,使細縫喷嘴41位於待機位置。繼而,於使細縫 噴嘴41之兩端之閥門V4、V5以及排氣閥門νι均處於「開」 之狀態下,藉由供給泵92之定量送液,或者來自抗姓劑液 供給源之加壓供給施行抗蝕劑液之供給。藉此,經由抗 蝕劑液供給路徑L1及分歧供給路徑Ua及Llb之抗蝕劑液可 自位於細縫噴嘴41長度方向側端部之供給口 46&及46b向細 縫喷嘴41之内部、歧管45連續注入。 96501.doc -23- 200526329 另,如上所述,於細縫噴嘴41,在歧管45之下方形成有 間隙41 a (圖6中以斜線表示)。因此,流入至歧管45之抗钱 劑液將流入該間隙41a ,但由於間隙41a之間隙較窄僅為5〇 〜250 μιη,且抗蝕劑液之黏度較高,因此可保持間隙41& 中抗蝕劑液之流動性充分低於歧管45内部之流動性。故 而,雖然流入歧管45之抗蝕劑液會極少量自細縫噴嘴41之 下端之細縫41b流出,滴下至待機罐ρτ,或附著於細縫41匕 之附近,但間隙41a大致裝滿時,如圖6之箭頭AR2或圖7之 箭頭AR3所示,抗蝕劑液(圖6及圖7中塗點之部分)之液面會 上升,並依次裝滿歧管45、排氣孔47、進而排氣路徑L2(圖 3)。 換言之,填充抗蝕劑液時,於歧管45,抗蝕劑液將主要 自設置於兩側端部之供給口 46a、及46b側,向設置於中央 上端部之排氣孔47流動。伴隨此抗蝕劑液之流入,歧管45 内4之空氣經由排氣孔47進而排氣路徑L2得以排出。又, 如此般抗蝕劑液自細縫喷嘴41之兩側端部向中央部,即流 動於歧官45整體,因此於歧管45,填充時不會產生抗蝕劑 液滞留之場所。如圖8或圖9所示,即使於空氣成為氣泡 BL4、BL5混入歧管45之情形下,此等氣泡BL4、BL5亦不 會滯留’而是隨抗蝕劑之流動,如箭頭AR4或箭頭AR5,依 次排出。或者,藉由設置排氣孔47於歧管45之上方,氣泡 BL4、BL5本身便容易逸出細縫喷嘴41之外。即,於本實施 开> 悲之基板處理裝置1中,可以短時間自細縫喷嘴41確實地 去除氣泡。 96501.doc 200526329 歧管45中是否填充有抗餘劑液,即歧管45之空氣是否以 由抗姓劑液置換之判定係藉由空氣感應器95及控制系6之 作用得以實現。如圖5(a)所示,當管道96内部完全無抗蝕劑 液存在時’空氣感應器95對應於所發出之入射光束bm 1, 對特定光強度之反射光束BM2進行受光。另者,如圖5(b) 所示’當管道96内部存在抗|虫劑液時,藉由光線由於抗餘 劑液而散亂,於空氣感應器95得以受光之反射光束BM2之 光強度會減少,故而,即使賦予與圖5(a)之情形相同的光強 · 度之入射光束BM 1,亦不會產生反射,從而空氣感應器% 無法對反射光束BM2進行受光,或與圖5(a)之情形相比,僅 接受十分小之光強度之反射光束BM2。如此,管道96内部 之杬蝕劑液的填充度之變化與空氣感應器95所受光之反射 光束BM2之光強度的變化具有相關性。於控制系統6中,以 自空氣感應器95發送之表示光強度之訊號為依據,判定抗 蝕劑液之填充度,以另外之觀點看,即空氣之混入度(或存 在度)。具體可認為如下之態樣等,以某光強度作為臨限 着 值,虽又光之光強度比其小時,則判定感測部94裝滿抗蝕 劑液’即,歧管中填充有抗蝕劑液。 如此,藉由簡單之構造,不僅於塗佈處理之前的抗敍劑 液填充時,於塗佈處理動作中亦可確實判定細縫喷嘴中是 否填充有處理液,或抗蝕劑液中是否混入有空氣。 於感測部94,當判定管道96已充分裝滿抗蝕劑液時,抗 蝕劑液之填充則結束。gp,來自抗蝕劑液供給源…之抗蝕 劑液之供給停止,排氣閥門V1成為「閉」狀態。 96501.doc -25- 200526329 另,歧官45、進而管道96内部一次裝滿抗蝕劑液後,报 有可旎流入包含氣泡之抗蝕劑液。然而,於本實施形態中, 由於細縫喷嘴41之歧管45之上面45a具有如上所述之傾 斜,因此所混入之氣泡即使抗蝕劑液未流動,亦較容易移 動至排氣孔47。其結果,如圖5(c)中箭頭AR1所示,有時抗 蝕劑液中之氣泡BL1到達彎曲為U字型而設置之管道%之 頂點部分(U字型之底部部分).,藉此形成空氣團…。於存在 空氣團P1之狀態下,反射光束BM2之光強度大於完全填充 抗蝕劑液之狀態,因此透過監視光強度之變化,可判定有 無形成此種空氣團P1。例如,可認為如下之態樣係可行的, 一旦抗蝕劑填充動作結束後,以特定時間監視光強度之變 動,若光強度於該臨限值以下並大致固定,則判定為歧管 45中未有空氣混入,亦未形成有空氣團ρι。此時,若有必 要,應充分去除空氣,故可重複已結束之填充動作。此填 充動作以下稱為「排氣動作」。於排氣動作中,使排氣閥門 VI再次處於r開」狀態,再與上述同樣,彳自抗蝕劑液供 給源91供給抗蝕劑液。 <塗佈動作> 繼而,大概說明細縫喷嘴41之抗蝕劑液之塗佈動作。首 先,藉由操作者或未圖示之搬送機構,搬送基板9〇至工作 臺3之特定位置,並吸附保持於保持面30。 又,藉由噴嘴清洗機構7,清洗細縫噴嘴41前端之細縫4ib 附近。噴嘴清洗機構7實施特定之清洗處理後,退至未圖示 之退避位置。 96501.doc • 26 - 200526329 完成清洗之後,行駛機構5將包含細縫喷嘴41之架橋構造 4移動至預塗佈位置。繼而,藉由升降機構43、44,施行細 缝喷嘴41之咼度方向之位置調節。之後,與驅動機構。施· 订之分配捲筒14之旋轉同步,供給泵92以特定時間對抗蝕 劑液施加特定壓力,藉此,對具有分配捲筒14之被塗佈面 施行抗蝕劑液之塗佈,即施行預塗佈處理。 預塗佈處理結束後,行駛機構5將架橋構造4移動至施行 基板90上的正式塗佈處理之位置,並且升降機構、料將 _ 細縫噴嘴41之高度調節為特定高度。#,較好的是於塗佈 處理之前,於架橋構造4上掃過保持於保持面3〇上之基板 上’猎由間隙感應器42測量基板9〇之厚度,以該結果為依 據言^細縫噴嘴41之高度。厚度之測量可於施行塗佈處理 之時實行,亦可為如下之方法,若需連續處理同一形狀且 尺寸精度較高之基板90,則測量最初之一片,於以後之基 板90之處理中,使用該結果。 此等位置調整結束後,行敬機構5以特定之速度移動架橋 # 構造4,並藉由供給^力㈣隸舰,藉此施 行對基板90之抗㈣液之塗佈,即正式塗佈處理。 正式塗佈處理結束後,藉由行駛機構5移動架橋構造4, 細縫贺嘴41退回待機位置。 例汝如專利文獻3所揭示,於自細縫噴嘴令央部之1處 供給抗#劑液之情形下,則歧管中抗#劑之流動性,換=· ;有仏、.'s 口之中央部與端部,抗钱劑液之置換性會 產生差異。因此,自中央部所排放之抗蝕劑液之黏度與2 96501.doc -27- 200526329 端部所排放之抗蝕劑液之黏度將產生差異,從而可能產生 由此引起的放射狀斑塊。相對於此,於本實施形態之細縫 噴嘴41中,由於自位於細縫喷嘴41之兩側端部之供給口斗以 及46b供給抗蝕劑液,同時施行塗佈處理,因此,於歧管μ, 抗蝕劑流量(或動壓分佈)得以均一化。即,相對於來自供給 泵92之加壓之抗蝕劑液的反應不會產生局部性差異。因 此,可形成均一之塗佈膜。此亦意味著可使用之抗蝕劑之 種類或黏度之選擇幅度更大。 又,於預塗佈處理或正式塗佈處理之間,亦可能產生空 氣作為氣泡混入抗蝕劑液之情勢,但此時亦如上所述,所 混入之氣泡將向排氣孔47排出,其結果,上述之空氣團^ 有時亦形成於塗佈處理中 '然而,依據氣泡之混入程度, 並非所有氣泡將前往排氣孔47,亦可能於塗佈處理過程中 產生自間隙41a到外部之情勢。此將破壞塗佈膜之均一性, 非所期待者。因此,應避免此種情形,可採取藉由於感測 邛94二氣感應器95始終監測反射光束6%2之光強度,當光 強度交化超過特定臨限值時,巾斷塗佈處理,再次施行排 氣動作之怨樣。此時,於分配捲筒14上施行預塗佈處理, 亚施行排氣動作時,則不致以抗蝕劑液污染細缝41b附近即 可細μ丁排氣動作’因此可迅速重新開始此後之正式塗佈處 理。 士乂上況明’於本貫施形態之基板處理裝置1中,細缝喷 ^ 41於兩側端部具備抗姓劑液之供 '給口偷、输,並以歧 ί 45側之知部47a位於高於該供給口 4以、46b之位置之方 96501.doc -28- 200526329 式又置有排氣孔47。即,於細縫喷嘴4丨中,歧管45於長 度方向以其上面45a於排氣孔47之端部47a與供給口 46a及 46b之間存在傾斜之方式形成,因此即使於所填充之抗钱劑 /夜中此入有空氣等引起的氣泡之情形下,該氣泡亦易於自 排氣孔47知以引導排出於細縫噴嘴4丨之外。因此,即使不 具備反轉細縫噴嘴41之機構,亦可確實去除空氣。又,於 對、、、田縫噴嘴41之抗蝕劑液填充時,抗蝕劑液自供給口 46&及 46b側’朝向排氣孔47,即於歧管45之整體流動,因此於歧 吕45,不會產生抗蝕劑液滯留之場所,故可以短時間確實 施行抗蝕劑液填充時之排氣,並於塗佈處理時,於歧管45 使抗蝕^ 〃,L里(或動壓分佈)均一化,故而抗蝕劑液之黏度不 會產生局部性差異,從而可形成均一之塗佈膜。 <第2實施形態> 麄而就將第1貝她形恶之基板處理裝置1附加性的具備 施行細縫噴嘴41之清洗之構成要素的態樣,作為第2實施形 態加以說明。於以下之說明中,與第1實施形態之基板處理 裝置1之構成要素同—者賦予同—符號,並省略其說明。圖 10係模式性表示第2實施形態之細縫噴嘴41與供給機構9的 圖。 圖10所示之供給機構9,與圖3所示者大致相同,不同點 在於具備儲存有用以清洗竣管45或間隙4U之特定清洗液 W之清洗液供給源97’與可選擇性切換來自該清洗液供給 源97之清洗液的供給或來自抗蝕劑液供給源91之抗蝕劑液 的供給之切換閥門V6。本實施形態之基板處理裝置(藉由適 96501.doc -29- 200526329 當切換切換閥門V6,可選擇性施行供給抗蝕劑液R之通常 之塗佈處理動作,與供給清洗液玫之清洗動作。關於塗佈 處理動作,因與第1實施形態相同,因此省略其說明,以下 說明清洗動作。 如第1實施形態中所作說明般,於塗佈處理動作結束後, 細縫噴嘴41退回至待機位置。另,可為如此之態樣,規定 用以清洗之清洗位置,且該清洗位置具備接受清洗液界之 專用罐。於施行清洗動作時,於此時間以切換閥門¥6供給 清洗液w之方式予以切換。之後,使供給泵92動作,自清 洗液供給源97吸取清洗液w,通過抗蝕劑液供給路徑L1, 自供給口 46a、46b供給至歧管45。藉此,殘存於抗蝕劑液 供給路徑L1、歧管45以及間隙41a中之抗蝕劑液汉得以至推 入清洗液W ’從而排出於細縫喷嘴4丨之外部。 /月洗液W通#使用黏度低於抗姓劑液R之溶劑等,因此流 動性較抗蝕劑液之情形更高,故而,清洗液w亦容易進入 間隙41a,並易於行遍細縫喷嘴41之内部整體。例如,如專 利文獻3所揭示’僅於細縫喷嘴中央部之1處具有供給口之 情形時,即使自中央部之供給口供給黏度較低之清洗液, 亦不會充分行遍至端部,因此即使使用大量清洗液,亦並 非可確實施行清洗,而於本實施形態之情形下,藉由施行 上述態樣’則可以更少之清洗液,更加確實洗淨細缝喷嘴 41内部。 <第3實施形態> 為達到提高歧管之抗蝕劑液的流動性,或使空氣易於排 96501.doc 200526329 出之目的’如上述實施形態般自細縫喷嘴之「兩端」供給 抗姓劑液之處理並非必須之態樣。上述實施形態係關於構 造之細縫喷嘴加以說明。圖11係模式性表示相關細縫噴嘴 141及與其對應而構成之供給機構190的圖。另,於本實施 形態中,基板處理裝置之其他各部之構成要素與上述實施 形態相同,因此省略圖式及說明。 細縫喷嘴141僅於長度方向之單側端部具有抗蝕劑液之 供給口 146,於他端之上方具有排氣孔147,且係以該排氣 孔147之歧管145側之端部147a位於高於供給口 146之位 置,即,以上面145 a於長度方向具有傾斜之方式形成有歧 管145之細縫喷嘴。與上述實施形態之不同在於,供給機構 190之抗钱劑液供給路徑L1連接於供給口 146,但不分歧, 且排氣孔147上連接有排氣路徑L2,然而設置於各路徑之構 成要素之作用相同,因此賦予相同符號並省略其說明。 於本實施形態之細縫喷嘴141中,於抗蝕劑液之填充動作 時,抗蝕劑液亦於位於細縫噴嘴41之其中一端的供給口 146 至位於他方端之排氣孔147為止,即歧管145之整體流動, 因此於歧管145,不會產生抗蝕劑液滯留之場所,故可以短 時間確實施行排氣。又,歧管145之上面145a以於排氣孔147 之端部47a與供給口146之間存在傾斜之方式形成,因此即 使所填充之抗㈣液中混入有由空氣等形成之氣泡時,亦 易於自排氣孔147向細縫喷嘴141之外得以引導排出。 <變形例> 如第1實施形態般,於正式塗佈處理時,自細縫噴嘴41 96501.doc *31- 200526329 兩側端。卩供給k #劑液時,根據抗㈣彳液之種類或排放條 件等,由於於細縫喷嘴41之中央部’自各供給a46a、46b 所供給之抗蝕劑液會互相碰撞,因此形成於基板9〇之塗佈 膜上有時將產生條紋狀之斑塊。由此,為避免此種情形, 可採用如下之悲樣,於第丨次塗佈中,僅開放閥門供給僅 來自供給口 46a側之抗蝕劑液,而於下一次塗佈中,僅開放 閥門V5供給僅來自供給口 461)側之抗蝕劑液等,於每次正式 塗佈處理動作時切換所使用之供給口。即使於此時,於歧 管45,抗蝕劑液不會局部性滯留,並由於抗蝕劑液之流動 方向頻繁改變,故可獲得歧管内部之抗蝕劑液之黏度得以 更加均一化的效果。又,此時,混入於抗蝕劑液之空氣等 形成的氣泡將自排氣孔47得以引導至排氣路徑l2。 或者,可採取如下之態樣,於正式塗佈處理時,僅自供 給口 46&側使抗蝕劑流入,於分配捲筒14之預塗佈處理時, 或其他排放時,自供給口 46b側使抗蝕劑液流入。 其中,於即使採取此種態樣時,於排氣動作時係同時開 放閥門V 4、V 5,從而供給抗蚀劑液。 於第2貫施形悲中,係以清洗液供給源與抗蝕劑液供給源 分別單獨設置,使用切換閥門切換來自兩者之供給之態 樣’切換清洗動作與通常之塗佈處理動作,但亦可取而代 之’採用於清洗動作時’藉由將抗姓劑液供給源91之内容 物由抗餘劑液置換為清洗液,並自抗蝕劑液供給源91供給 清洗液,施行清洗處理之態樣。 於上述實施形態中,係以歧管之上面具有直線傾斜之情 96501.doc -32- 200526329 ==歧,之形狀並非僅限與此。_表示細 縫贺鳴尤其歧官之形狀之變形例的圖。例如,可如圖 12⑷、⑻中所示之細縫噴嘴241及⑷般,歧管245或345之 u心或345@有曲面狀之傾斜’亦可如圖吨)所示之 於^縫噴嘴⑷所具備之歧管445般,為上面他之傾斜於 中述產生變化之態樣。即使於使用具有此等形狀之細縫噴 嘴時,亦可獲得與上述實施形態相同之效果。 一抗,之填充狀態或空氣之混入狀態,可藉由與上述 貝細*形恶不同之離檨力口以生丨$ / » , 身 心様加以判疋。例如,如圖13所示,以藉 由光束之照射部95a與受光部95b夾著管道%之方式設置空 氣感應器95,進而’管道9你頂點部分…與相對向之部分 96b之任-方’均設置為光學性透明,自照射部仏照射光 束BMU時’可藉由作為透過光受光於受光部吩之光束 BM12的光強度之程度而施行判定。此時,亦可獲得與上述 實施形態同樣之效果。 【圖式簡單說明】 圖1係表示第1實施形態之基板處理裝置丨之概略的立體 圖0 圖2係表示基板處理裝置!之本體2之側剖面與,關於抗触 劑液之塗佈動作之主要構成要素的圖。 圖3係模式性表示細縫噴嘴41與用以供給抗蝕劑液至該 細縫喷嘴41之供給機構9的圖。 圖4係表示細縫喷嘴41之A-A,剖面(圖3)的圖。 圖5(a)-(c)係說明感測部94之圖。 96501.doc -33- 200526329 圖6係抗蝕劑液供給過程中,細縫噴嘴41之平行於長度 向的剖面之模式圖。 又 圖 糸才几名虫4液供給過程中,細縫喷嘴41之A-A, 3)的模式圖。 A’剖面(圖 圖8係抗蝕劑液中混入有氣泡時之細縫噴嘴41之平行於 長度方向的剖面之模式圖。 圖9係抗蝕劑液中混入有氣泡時,細縫噴嘴41之A_A,剖面 (圖3)的模式圖。 圖10係核式性表不第2實施形態之細縫噴嘴Μ與供給 構9的圖。 、八… 圖U係模式性表示第3實施形態之細縫噴嘴141與供給機 構190的圖 ° 圖12(a)-(c)係表示歧管之形狀之變形例的圖。 圖13係表示填充度及氣體混入度的偵測之變形例的圖 【主要元件符號說明】 3 4 7 9,190 13 14 14s 15 基板處理裝詈 工作臺 架橋構造 喷嘴清洗機構 (抗餘劑液之)供給機構 預塗佈機構 分配捲筒 被塗佈面 (分配捲筒之)驅動機構
9650l.doc -34- 200526329 16 分配捲筒刮刀 17 分配罐 30 保持面 31 行駛執道 32 開口 40 喷嘴支持部 41 , 141 , 241 , 341 , 441 細縫喷嘴 41a 間隙 41b 細縫 42 間隙感應器 43,44 升降機構 45 , 145 , 245 , 345 , 445 歧管 45a , 145a , 245 , 345 , 445 (歧管之)上面 45b (歧管之)下面 46a , 46b , 146 (抗#劑液之)供給口 47 , 147 排氣孔 46a , 46b (抗蝕劑液之)供給口 50,51 線性馬達 71 (喷嘴清洗機構之)驅動機構 72 刮刀 90 基板 91 抗蝕劑液供給源 92 供給泵 94 感測部 96501.doc -35- 200526329 95 空氣感應器 96 管道 97 清洗液供給源 BL1,BL4,BL5 氣泡 BM1 入射光束 BM2 反射光束 LI 抗蝕劑液供給路徑 L2 排氣路徑 PT 待機罐 VI 排氣閥門 V6 切換闊門 W 清洗液 96501.doc -36-

Claims (1)

  1. 200526329 十、申請專利範圍: 1. -種基板處理裝i,其特徵為具備: 保持台,其保持基板; 細縫喷嘴,其排放特定處理液; 和動械構,其使上述細縫喷嘴於沿上述基板之表面之 大致水平方向移動;及 處理液供給機構,其自特定處理液供給源將上述特定 之處理液供給至上述細縫噴嘴; 且藉由於上述大致水平方向移動上述細縫喷嘴,一面 於上述細縫噴嘴掃過上述基板之表面…面排放填充於 上述細縫喷嘴内部之上述特定處理液,藉此塗佈上述特 定處理液於基板者;且 、 於上述細縫噴嘴, 液供給 之長度 連接有上述處理液供給機構,將上述特定處理 至上述細縫噴嘴之歧管的供給口設置於上述歧管 方向之兩側端部中至少一方之側端部,· 縫噴嘴之 2. 將存在於上述細縫喷嘴内部之流體向上述細 外部排出之排出口設置於上述歧管之上端部· 上述排出口設置於高於上述供給口之位置。 如請求項1之基板處理裝置,其中 上述供給口設置於上述歧管之長度 第1側端部; 方向之兩側端部 中 上述排出口設置於上述歧管之長度 第2側端部。 方向之兩側端部 中 96501.doc 200526329 3·如請求項1之基板處理裝置,其中 上述至少1個供給口係分別設置於上述歧管之長度方 向之兩側端部之第1與第2供給口。 4·如請求項3之基板處理裝置,其中 上述排出口設置於連接上述第1與第2供給口之區間之 大致中央位置。 5·如請求項丨至4中任一項之基板處理裝置,其中 上述歧管之上面自上述供給口向上述排出口傾斜。 6.如明求項1至4中任一項之基板處理裝置,其中 上述歧f之下面至上面之咼度係自上述供給口側越 向上述排出口側越大。 Ί·如請求項1至4中任一項之基板處理裝置,其中 上述歧管之剖面積係自上述供給口側越向上述排出口 側越大。 8·如請求項1至4中任一項之基板處理裝置,其中 上述流體係存在於上述細縫嗔嘴内部之氣體及有氣體 混入之上述處理液。 9.如請求項8之基板處理裝置,其中具備: 連接於上述排出口之排出路徑;及 配置於上述排出路徑之中途, 儿1貝凋上述排出路徑内 之處理液的填充狀態之偵測機構。 10·如請求項9之基板處理裝置,其中進而呈備· 判定機構,其判定對於上述細缝噴嘴之上述特 液之填充度; 96501.doc 200526329 並且上述排出路徑具有光學上透明且彎曲為11字型之 彎曲部分,而上述彎曲部分朝向上側; 上述彳貞測機構係配置於上述彎曲部分之附近,對於上 述彎曲部分之特定位置發射第1光束,並且伴隨上述第i 光束之照射’接收自上述特定位置所獲得之第2光束者; 上述判定機構依據由上述偵測機構所接收之上述第2 光束之光強度的變動,判定上述填充度。 11 ·如請求項8之基板處理裝置,其中具備: 連接於上述排出口之排出路徑;及 配置於上述排出路徑之中途,偵測上述排出路徑内處 理液之氣體混入狀態的偵測機構。 12·如請求項11之基板處理裝置,其中進而具備: 判定機構,其判定對於上述細縫喷嘴之上述特定處理 液的氣體混入; 亚且上述排出路徑具有光學上透明且彎曲為口字型之 彎曲部分,而上述彎曲部分朝向上側; 上述偵測機構係配置於上述彎曲部分之附近,對於上 述彎曲部分之特定位置發射第丨光束,並且伴隨上述第丄 光束之照射,接收自上述特定位置所獲得之第2光束者; 上述判定機構依才虞由上述谓測機構則妾收之上述第2 光束之光強度的變動,判定上述氣體之混入。 13.如請求項…中任一項之基板處理裝置,其中 上述處理液供給機構可選擇性供給上述特定處理液與 自特定清洗液供給源所取得之清洗上述細縫喷嘴内部之 96501.doc 200526329 清洗液。 14. 15. 士明求項1至4中任一項之基板處理裝置,其中 上述處理液供給機構於以清洗上述細缝噴嘴内部之清 洗液置換上述特定處理液後,可供給上述清洗液。 一種細縫噴嘴,其特徵為: 係藉由透過特疋之移動機構而被移動,一面掃過被 處理體之表面,-面排放由特定處理液供給機構所供給 之特定處理液,藉此賦予上述特定處理液於上述被處理體者;且
    連接有上述處理液供給機構,並將上述特定處理液供 給至上述細縫噴嘴之歧管的供給口設置於上述歧管之長 度方向之兩側端部中至少一方之側端部; " 將存在於上述細縫喷嘴内部之流體向上述細縫喷嘴之 外部排出之排出口設置於上述歧管之上端部; 上述排出口設置於高於上述供給口之位置。 1 6·如請求項15之細縫喷嘴,其中
    上述供給口設置於上述歧管 的第1側端部; 之長度方向之兩側端部中 上述排出口設置於上述歧管 的第2側端部。 之長度方向之兩側端部 中 1 7。如請求項丨5之細縫噴嘴,其中 之長度方 上述至少1個供給口係分別設置於上述歧管 向之兩側端部之第1與第2供給口。 18. 如請求項17之細縫喷嘴,其中 96501.doc 200526329 上述排出口設置於連接上述第丨與第2供給口之區間之 大致中央位置。 19·如凊求項15至18中任一項之細縫噴嘴,其中 上述歧管之上面自上述供給口向上述排出口傾斜。 2 0 ·如ό月求項1 5至1 8中任一項之細縫喷嘴,其中 自上述歧管之下面至上面之高度係自上述供給口側越 向上述排出口側越大。 2 1 _如σ月求項15至1 8中任一項之細縫噴嘴,其中 上述歧管之剖面積係自上述供給口側越向上述排出口 側越大。 22·如請求項15至1 8中任一項之細縫噴嘴,其中 上述流體係存在於上述細縫噴嘴内部之氣體及氣體混 入之上述處理液。 23· —種被填充體之液體填充度判定構造,其特徵為: 其係用以判定藉由使用特定供給機構供給特定液體而 填充有上述特定液體之被填充體中之上述特定液體之填 充度的構造,且具備: 排出口,其將上述被填充體内部之氣體及填充物向上 述被填充體之外部排出; 排出路徑,其連接於上述排出口,具有光學上透明且 f曲為U字型之彎曲部分,而上述彎曲部分朝向上側; 债測機構,其配置於上述彎曲部分之附近,對於上述 ’’弓曲部分之特定位置發射第丨光束,並且伴隨上述第1光 束之射,接收自上述特定位置所獲得之第2光束;及 96501.doc 200526329 判定機構,其依據由上述偵測機構所接收之上述第2光 束的光強度的變動,判定對於上述被填充體之上述特定 液體的填充度。 24. —種被填充體之氣體混入度判定構造,其特徵為·· 其係用以判定對於藉由使用特定供給機構供給特定液 體而填充於填充有上述特定液體之被填充體中之上述特 定液體之氣體混入度之構造,且具備·· 排出口,其將上述被填充體内部之氣體及填充物向上 述被填充體之外部排出; 排出路徑,其連接於上述排出口,具有光學上透明且 彎曲為U字型之彎曲部分,而上述彎曲部分朝向上側; 積測機構,其配置於上述彎曲部分之附近,對於上述 彎曲部分之特定位置發射第丨光束,並且伴隨上述第1光 束之照射,接收自上述特定位置所獲得之第2光束;及 判疋機構,其依據由上述偵測機構所接收之上述第2光 束的光強度之變動,判定對於上述特定液體之氣體混入 度0 96501.doc
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