KR20050020739A - 다층 배선 회로 모듈 및 그 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 복수층의 단위 배선층이 다수개의 비아홀을 통하여 상호 층간 접속되어 적층 형성되어 이루어지는 다층 배선 회로 모듈로서, 각 단위 배선층(8∼12)이, 감광성 절연 수지재로 형성한 제1 절연층(22)에 포토리소그래프 처리를 실시하여 비아홀홈(25)을 형성함과 함께 이 제1 절연층(22) 상에 감광성 절연 수지재에 의해 형성한 제2 절연층(23)에 포토리소그래프 처리를 실시하여 배선홈(27)을 형성한다. 비아홀홈(25)과 배선홈(27)에 도체 금속이 충전되도록 제2 절연층(23) 상에 도체 금속층(24)을 형성하고, 이 도체 금속층(24)에 제2 절연층(23)의 주면을 노출시킬 때까지 연마 처리를 실시하여 비아홀홈(25)과 배선홈(27) 내에 충전된 도체 금속에 의해 비아홀(13)과 배선 패턴(26)을 형성한다.
Description
본 발명은, 박형화와 고밀도 배선화가 도모된 다층 배선 회로 모듈 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
본 출원은, 일본국에서 2002년 7월 3일에 출원된 일본 특허 출원 번호2002-195018를 기초로 하여 우선권을 주장하는 것으로서, 이 출원은 참조하는 것에 의해, 본 출원에 원용된다.
예를 들면 퍼스널 컴퓨터, 휴대 전화기, 비디오 기기, 오디오 기기 등의 각종 디지털 전자 기기에는, 각종 IC 소자나 LSI 소자 등의 반도체 칩을 탑재한 멀티칩 회로 모듈이 설치되어 있다. 각종 디지털 전자기기에 있어서는, 회로 패턴의 미세화, IC 패키지의 소형화나 집적 규모의 비약적 향상, 다핀화 또는 실장 방법의 개선 등에 의해서 멀티칩 회로 모듈의 소형화, 고기능화가 도모되는 것에 의해서, 소형 경량화 또는 박형화가 도모됨과 함께 고성능화, 고기능화, 다기능화, 고속 처리화 등이 도모되고 있다.
멀티칩 회로 모듈에는, 예를 들면 로직 기능과 메모리 기능 또는 아날로그 기능과 디지털 기능 등과 같이 서로 다른 기능을 구비한 회로를 탑재한 소위 시스템 LSI를 구성한 것도 있다. 멀티칩 회로 모듈에는, 각 프로세스의 기능 블록을 개별의 반도체 칩으로서 제조하고, 이들 반도체 칩을 동일 기판 위에 실장한 소위 멀티칩 회로 모듈을 구성한 것도 있다.
그런데, 멀티칩 회로 모듈에 있어서는, 더욱 성능 향상을 꾀하기 위해서는 마이크로 프로세서의 고속화나 메모리칩 사이의 신호 배선의 고밀도화가 요구되어, 배선 지연의 문제에 대한 대응도 도모할 필요가 있다. 멀티칩 회로 모듈에 있어서는, 각 소자(칩) 내에서 ㎓를 넘는 클럭 주파수의 실현이 도모되더라도, 칩 사이에서의 배선에 의한 신호 지연이나 반사 등의 문제 때문에 클럭 주파수를 한자릿수 단위로 낮추어야만 한다. 또한, 멀티칩 회로 모듈에 있어서는, 신호 배선의 고속화, 고밀도화를 도모하는 것에 의해, 예를 들면 전자파 장해(EMI: electromagnetic interference)나 전자 환경 적합성(EMC: electromagnetic compatibility)의 대책도 필요해진다. 따라서, 멀티칩 회로 모듈에 있어서는, 칩의 형성 기술뿐만 아니라, 패키지나 보드 등의 실장 기술을 포함시킨 시스템 기술로서 전체적으로 고집적화나 고성능화를 도모할 필요가 있다.
종래, 멀티칩 회로 모듈로서 도 1에 도시한 바와 같이 구성된 것이 있다. 도 1에 도시하는 것은, 인터포저(101)의 주면(101a) 상에 복수개의 반도체 칩(102A, 102B)을 탑재하여 이루어지는 플립 칩형의 멀티칩 회로 모듈(100)이다. 멀티칩 회로 모듈(100)은, 인터포저(101)의 표리 주면(101a, 101b)에 도시를 생략하지만 각각 적절한 회로 패턴이나 랜드, 입출력 단자 등이 형성되어 있다. 멀티칩 회로 모듈(100)은, 인터포저(101)의 주면(101a)에 각 반도체 칩(102)을 소정의 랜드(103) 상에 각각 플립 칩 접속하여 탑재함과 함께, 언더필(104)에 의해서 접속 부분을 피복하고 있다. 멀티칩 회로 모듈(100)에는, 인터포저(101)의 주면(101b)에 형성한 랜드에 각각 땜납볼(105)이 탑재되어, 예를 들면 마더 기판 등에 재치한 상태에서 리플로우 땜납 처리를 실시하여 땜납볼(105)을 용융하여 고화하는 것에 의해 실장된다.
상술한 바와 같이 종래의 멀티칩 회로 모듈(100)은, 복수개의 반도체 칩(102)이 인터포저(101)의 주면(101a)에 가로 배열 상태로 배열하여 실장되는데, 각 반도체 칩(102) 사이를 접속하는 배선이 인터포저(101)측에 형성되는 회로 패턴에 의해서 제약을 받는다. 멀티칩 회로 모듈(100)은, 이 모듈(100)이 탑재되는 장치의 다기능화, 고속화 등에 수반하여 많은 반도체 칩(102)이 설치되어, 한층 많은 배선 수가 필요해진다. 멀티칩 회로 모듈(100)은, 일반적인 기판 제조 기술로 제조되는 인터포저(101)에 형성하는 배선 패턴의 피치가, 제조 조건 등의 제약에 따라서 최소한 약 100㎛ 정도로 크기 때문에, 복수개의 반도체 칩(102) 사이에서 많은 접속을 행하는 경우에 큰 면적 또는 다층화된 인터포저(101)를 필요로 한다.
멀티칩 회로 모듈(100)에 있어서는, 다층화된 인터포저(101)를 이용하는 경우에, 비아를 통한 층간 접속이나 각 반도체 칩(102) 사이의 접속이 행하여지지만, 가공 조건으로부터 그 홀 직경이 최소한 약 50㎛ 정도이고, 또한 랜드 직경도 최소한 약 50㎛ 정도이기 때문에 대형의 인터포저(101)가 필요해진다. 멀티칩 회로 모듈(100)은, 이 때문에 각 반도체 칩(102) 사이를 접속하는 인터포저(101)에 형성되는 배선 패턴이 길어짐과 함께 많은 비아가 형성되어, L·C·R 성분이 커진다고 하는 문제가 있었다.
예를 들면 반도체 장치의 제조 프로세스에 있어서는, 실리콘 기판 상에 절연층을 성막 형성한 후에, 비아홈과 배선홈을 형성하는 드라이 에칭 공정과 도체 금속층의 성막 형성 공정을 거쳐 미세한 배선 패턴을 형성하는 기술도 제안되어 있다. 이러한 배선 형성 방법에 있어서는, 절연층에 대하여 제1 드라이 에칭 처리를 실시하여 다수개의 비아홈을 형성함과 함께, 제2 드라이 에칭 처리를 실시하여 배선홈을 패턴 형성한다. 이 배선 형성 방법에서는, 절연층의 전면에 예를 들면 도금에 의해 구리막층을 형성한 후에, 이 구리막층에 연마 처리를 실시하는 것에 의해서 비아홀과 소정의 배선 패턴을 형성한다.
이러한 배선 형성 방법에 따르면, 기계 가공이나 레이저 가공에 의해 비아홀을 형성함과 함께 동박에 에칭 처리를 실시하여 회로 패턴을 형성하는 일반적인 배선 형성 방법과 비교하여, 미세하고 또한 고밀도의 배선 패턴을 다층으로 형성하는 것이 가능하다. 이 배선 형성 방법에 있어서는, 홈의 깊이를 달리하는 정밀한 제1 드라이 에칭 처리와 제2 드라이 에칭 처리를 실시하는 것이 필요함과 함께, 일반적인 다층 배선 기판의 제조 프로세스에의 적용이 곤란하다. 또한, 이 배선 형성 방법에 따르면, 실리콘 기판 상에 배선층을 다층으로 형성하기 때문에, 마더 기판 등에의 실장 구조가 복잡하게 되어 소형화의 실현이 곤란하게 됨과 함께 배선 패턴도 길어지게 되는 문제가 있다.
<발명의 개시>
본 발명의 목적은, 상술한 바와 같은 종래의 멀티칩 회로 모듈이 갖는 문제점을 해결할 수 있는 신규한 다층 배선 회로 모듈 및 그 제조 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명의 다른 목적은, 각 단위 배선층이 미세하고 또한 고밀도의 배선 패턴을 가짐과 함께 비아-온-비아 구조로 최단 배선 길이를 갖고 층간 접속이 행하여져, 소형화와 함께 박형화를 실현할 수 있고, 고속 처리화나 신뢰성의 향상을 도모한 다층 배선 회로 모듈 및 그 제조 방법을 제공하는 것에 있다.
본 발명에 따른 다층 배선 회로 모듈은, 복수개의 단위 배선층이 다수개의 비아홀을 통하여 층간 접속되어 적층되고, 각 단위 배선층이, 제1 절연층과, 제2 절연층과, 연마 처리가 실시되는 도체 금속층으로 구성된다. 제1 절연층은, 감광성 절연 수지재로 성막되고, 포토리소그래프 처리가 실시되어 각 비아홀에 대응하는 다수개의 비아홀홈이 형성되어 있다. 제2 절연층은, 제1 절연층 상에 감광성 절연 수지재로 성막되고, 포토리소그래프 처리가 실시되어 일부에 각 비아홀홈과의 연통부를 갖고 배선 패턴에 대응하는 배선홈이 패턴 형성되어 있다. 도체 금속층은, 제2 절연층 상에 각 비아홀홈과 배선홈 내에도 도체 금속이 충전되어 전면에 성막되어 있다. 각 단위 배선층은, 제2 절연층의 주면을 노출시킬 때까지 연마 처리가 실시되어 이 제2 절연층의 주면에 동일면을 구성하여 노출된 도체 금속층의 각 비아홀홈과 배선홈 내에 충전된 도체 금속에 의해서, 각 비아홀과 배선 패턴이 형성된다.
본 발명에 따른 다층 배선 회로 모듈에 따르면, 감광성 절연 수지재로 성막된 제1 절연층과 제2 절연층에 각각 간이한 설비와 작업에 의한 포토리소그래프 처리를 실시하여 해상도가 높은 비아홀홈과 배선홈을 형성하기 때문에, 미소한 비아홀이나 미세하고 또한 고밀도의 배선 패턴을 형성하는 것이 가능하게 된다. 다층 배선 회로 모듈에 따르면, 각 단위 배선층을 비아-온-비아 구조에 의해 최단으로 상호 층간 접속하여 적층 형성하는 것에 의해 배선 길이를 단축하여 전송되는 신호의 감쇠가 저감됨과 함께 신호 지연이 최소한으로 되고 또한 박형화가 도모되어, 예를 들면 대용량, 고속, 고밀도 버스에의 대응이 가능하게 된다.
본 발명에 따른 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법은, 복수개의 단위 배선층이 다수개의 비아홀을 통하여 상호 층간 접속되어 적층되어 이루어지는 다층 배선 회로 모듈을 제조하는 방법이다. 이 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법에 있어서, 각 단위 배선층의 형성 공정은, 감광성 절연 수지재에 의해 제1 절연층을 형성하는 공정과, 제1 절연층에 대하여 포토리소그래프 처리를 실시하여 각 비아홀에 대응하는 다수개의 비아홀홈을 형성하는 공정과, 제1 절연층 상에 감광성 절연 수지재를 전면에 도포하여 제2 절연층을 성막하는 공정과, 제2 절연층에 대하여 포토리소그래프 처리를 실시하여 일부에 각 비아홀홈과의 연통부를 갖는 배선 패턴에 대응하는 배선홈을 형성하는 공정과, 제2 절연층 상에 각 비아홀홈과 배선홈 내에도 도체 금속을 충전하여 도체 금속층을 전면에 성막하는 공정과, 도체 금속층을 제2 절연층의 주면을 노출시킬 때까지 연마하는 공정으로 이루어진다. 각 비아홀과 배선 패턴은, 연마 처리가 실시되어 제2 절연층의 주면에 동일면을 구성하여 노출된 도체 금속층의 각 비아홀홈과 배선홈 내에 충전된 도체 금속에 의해 형성된다. 이 제조 방법에 있어서, 제1층의 단위 배선층은, 제1 절연층을 베이스 기판 위에 성막하고, 상층의 단위 배선층은, 각각의 제1 절연층을 하층의 단위 배선층의 제2 절연층 상에 성막하여 형성된다.
본 발명에 따른 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법에 따르면, 감광성 절연 수지재로 성막 형성한 제1 절연층과 제2 절연층과 포토리소그래프 처리를 실시하여 해상도가 높은 비아홀홈과 배선홈을 형성하기 때문에, 미소한 비아홀이나 미세하고 또한 고밀도의 배선 패턴을 형성하는 것이 가능하게 된다. 이 제조 방법을 이용함으로써, 각 단위 배선층을 비아-온-비아 구조에 의해 최단으로 상호 층간 접속하여 적층 형성하는 것에 의해 배선 길이를 단축하여 전송되는 신호의 감쇠가 저감됨과 함께 신호 지연이 최소한으로 되고 또한 박형화가 도모되게 되어, 예를 들면 대용량, 고속, 고밀도 버스에의 대응이 도모된 다층 배선 회로 모듈을 제조할 수 있다.
본 발명의 또 다른 목적, 본 발명에 의해서 얻어지는 구체적인 이점은, 이하에 있어서 도면을 참조하여 설명되는 실시 형태의 설명으로부터 한층 명백해질 것이다.
도 1은 종래의 회로 모듈을 도시하는 종단면도.
도 2는 본 발명에 따른 회로 모듈을 도시하는 주요부 종단면도.
도 3은 제1 절연층의 형성 공정을 도시하는 종단면도.
도 4는 제1 절연층에 실시하는 제1 노광 공정을 도시하는 종단면도.
도 5는 제1 절연층에 실시하는 제1 현상 공정을 도시하는 종단면도.
도 6은 제2 절연층의 형성 공정을 도시하는 종단면도.
도 7은 제2 절연층에 실시하는 제2 노광 공정을 도시하는 종단면도.
도 8은 제2 절연층에 실시하는 제2 현상 공정을 도시하는 종단면도.
도 9는 제2 절연층에 실시하는 도체 금속층의 형성 공정을 도시하는 종단면도.
도 10은 도체 금속층에 화학-기계 연마 처리를 실시한 연마 공정을 도시하는 종단면도.
도 11은 베이스 기판 위에 형성한 다층 배선 회로부를 도시하는 종단면도.
도 12는 다층 배선 회로부에 반도체 칩을 실장하는 공정을 도시하는 종단면도.
도 13은 반도체 칩과 밀봉 수지층에 연마 처리를 실시한 연마 공정을 도시하는 종단면도.
<발명을 실시하기 위한 최량의 형태>
이하, 본 발명을 적용한 다층 배선 회로 모듈(이하, 단순히 회로 모듈이라 약칭함) 및 그 제조 방법을 도면을 참조하여 설명한다.
본 발명에 따른 회로 모듈은, 예를 들면 정보 통신 기능이나 스토리지 기능 등을 갖고, 퍼스널 컴퓨터, 휴대 전화기 또는 오디오 기기 등의 각종 전자기기에 탑재되거나, 또는 옵션으로서 장착되는 초소형 통신 기능 모듈체의 고주파 회로부를 구성한다. 회로 모듈은, 상세한 설명은 생략하지만, 송수신 신호로부터 일단 중간 주파수로 변환하도록 한 슈퍼헤테로다인 방식에 따른 고주파 송수신 회로부 또는 중간 주파수에의 변환을 행하지 않고서 정보 신호의 송수신을 행하도록 한 다이렉트 변환 방식에 따른 고주파 송수신 회로부 등이 형성되어 이루어진다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 제1 주면(2a)을 탑재면으로 하여, 마더 기판(3) 상에 실장용 범프(4)를 개재하여 탑재되는 다층 배선 회로부(2)와, 이 다층 배선 회로부(2)의 제2 주면(2b)에 다수개의 반도체 실장용 범프(5)를 개재하여 탑재된 복수개(도 2에서는 2개)의 반도체 칩(LSI)(6A, 6B)과, 이들 반도체 칩(6A, 6B)을 밀봉하는 밀봉 수지층(7)으로 구성된다. 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가, 반도체 칩(6A, 6B)을 탑재하는 인터포저로서 기능한다. 또한, 본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 도시하지 않았지만 다층 배선 회로부(2)의 제2 주면(2b) 상에 적절한 전자 부품이나 소자 부품도 실장된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가, 후술하는 공정을 거쳐 제1층의 단위 배선층(8)의 주면 위에 제2층의 단위 배선층(9)을 적층 형성하고, 이하 제2층의 단위 배선층(9)의 주면 위에 제3층의 단위 배선층(10) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 순차적으로 적층 형성됨으로써 5층 구조로 구성되어 있다. 이 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)의 모든 층 또는 상하층이나 복수층 사이를 관통하여 형성된 비아홀(13)을 통하여 층간 접속이 이루어진다. 또한, 회로 모듈(1)은, 후술하는 공정을 거쳐, 다층 배선 회로부(2) 내에 미세화, 미소화 및 고밀도화를 도모한 디지털 회로망이 형성된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 후술하는 바와 같이 다층 배선 회로부(2)의 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)에, 하층 단위 배선층측의 비아홀 상에 상층 단위 배선층측의 비아홀을 직접 형성하는 소위 비아-온-비아(Via-on-Via) 구조가 구비되어 있다. 회로 모듈(1)은, 마더 기판(3)에 실장됨으로써 이 마더 기판(3)측의 회로부로부터 다층 배선 회로부(2)로 소정의 신호나 전원의 공급이 행하여진다. 따라서, 본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 마더 기판(3)과 다층 배선 회로부(2)의 제2 주면(2b) 상에 실장된 반도체 칩(6A, 6B)이 비아홀(13)을 통하여 직접 접속되어 배선 길이의 단축화가 도모되고 있다. 이 회로 모듈(1)은, 마더 기판(3)과 반도체 칩(6A, 6B)과의 사이의 전송 신호의 감쇠가 저감됨과 함께, 신호 지연을 최소한으로 한 접속이 행하여진다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 후술하는 바와 같이 반도체 칩(6A, 6B)과 밀봉 수지층(7)과 연마 처리를 실시하여 박형화하는 것에 의해, 전체의 박형화가 도모되고 있다. 회로 모듈(1)은, 후술하는 바와 같이 다층 배선 회로부(2)가, 평탄한 주면 위에 박리층(21)을 설치한 베이스 기판(20) 상에 제1층의 단위 배선층(8)이 형성되고, 이하 제1층의 단위 배선층(8) 상에 제2층의 단위 배선층(9) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 순차적으로 형성된다. 다층 배선 회로부(2)는, 소정의 공정을 거친 후에 박리층(21)을 개재하여 베이스 기판(20)으로부터 박리된다. 또한, 베이스 기판(20)은, 세정 등의 처리를 실시한 후에 재이용된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가, 후술하는 바와 같이 평탄면을 갖는 베이스 기판(20) 상에 제1층의 단위 배선층(8)이 형성되고, 이 제1층의 단위 배선층(8)을 포함하는 각 단위 배선층이 각각의 주면이 평탄화되어, 순차적으로 상층의 단위 배선층이 형성되어 간다. 따라서, 회로 모듈(1)은, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 각각의 배선 패턴을 고정밀도 및 고밀도화를 도모하여 형성됨과 함께 박형화가 도모된다. 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가 박형화됨으로써, 각 반도체 칩(6A, 6B)과의 사이를 접속하는 배선의 길이가 더욱 단축화되게 된다.
회로 모듈(1)에는, 다층 배선 회로부(2) 내에, 박막 기술이나 후막 기술에 의해서 캐패시터 소자(14)나 레지스터 소자(15) 또는 스파이럴형의 인덕터 소자(16)가 성막 형성된다. 캐패시터 소자(14)는, 예를 들면 디커플링 캐패시터나 직류 성분의 컷트용의 캐패시터로서, 산화 탄탈(TaO)막이나 질화 탄탈(TaN)막으로 구성된다. 레지스터 소자(15)는, 예를 들면 종단 저항용의 레지스터로서, TaN 막으로 구성된다. 이 회로 모듈(1)은, 상술한 바와 같이 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 베이스 기판(20) 또는 하층의 단위 배선층의 평탄면 위에 순차적으로 적층하도록 형성되기 때문에, 고정밀도의 캐패시터 소자(14)나 레지스터 소자(15) 또는 인덕터 소자(16)가 형성된다. 회로 모듈(1)은, 종래 칩 부품을 이용하였던 캐패시터 소자나 레지스터 소자 또는 인덕터 소자 등의 수동 소자를 다층 배선 회로부(2) 내에 형성하는 것에 의해, 초소형이고 또한 고성능의 수동 소자를 배선 길이를 단축하여 실장할 수 있다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 후술하는 공정을 거쳐 제조되지만, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이, 각각 제1 절연층(22)과 제2 절연층(23) 및 도체 금속층(24)으로 구성되어 있다. 이 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)의 제조 공정이, 각각 제1 절연층(22)에 대하여 비아홀(13)을 형성하는 비아홀홈(25)의 형성 공정과, 제2 절연층(23)에 대하여 일부에 비아홀홈(25)과의 연통부를 갖는 배선 패턴(26)을 형성하기 위한 배선홈(27)의 형성 공정을 포함한다. 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)의 제조 공정이, 각각 제2 절연층(23)에 대한 도체 금속층(24)을 형성하는 Cu 도금 공정과, 도체 금속층(24)을 연마하는 화학-기계 연마(CMP: Chemical-Mechanical Polishing) 공정을 포함한다. 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 상술한 공정을 거쳐 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12) 내에 배선 패턴(26)과 비아홀(13)이 형성된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 상술한 공정을 거쳐 베이스 기판(20) 상에 형성된 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 적층 형성되어 이루어지는 다층 배선 회로부(2)에 대하여, 제1 주면(2a) 상에 반도체 칩(6A, 6B)을 실장하는 반도체 칩 실장 공정과, 이들 반도체 칩(6A, 6B)을 밀봉 수지층(7)에 의해 밀봉하는 밀봉 수지층 형성 공정을 포함한다. 회로 모듈(1)의 제조 공정은, 반도체 칩(6A, 6B)과 밀봉 수지층(7)을 동시에 연마하는 연마 공정과, 제1 베이스 기판(20)으로부터 다층 배선 회로부(2)를 박리하는 박리 공정을 갖고, 회로 모듈(1)을 제조한다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)의 제조 공정은, 비아홀홈(25)과 배선홈(27)을 제1 절연층(22)과 제2 절연층(23)에 고해상도의 포토리소그래프 공정을 실시하여 형성한다. 회로 모듈(1)의 제조 공정에 따르면, 비아홀용의 홀 가공을 실시함과 함께 동박층을 형성한 기판에 대하여 개구 마스크를 이용한 패터닝 공정과 습식 에칭 공정 또는 도금 공정 등을 거치는 종래의 제조 공정과 비교하여, 고정밀도 및 고밀도, 미세화 및 미소화가 도모된 비아홀(13)이나 배선 패턴(26)을 갖는 회로 모듈(1)을 형성한다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 상술한 제조 공정에 의해 제조됨으로써, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)에 있어서 각 비아홀(13)이 수㎛ 정도로 미소하고 또한 정밀하게 형성됨과 함께, 각 배선 패턴(26)도 피치가 수㎛ 레벨로 매우 미세하게 형성된다. 회로 모듈(1)은, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)에, 예를 들면 상하층을 그랜드 사이에 끼운 마이크로스트립 라인을 형성하는 것에 의해, 임피던스 제어된 배선 패턴(26)이 형성된다.
본 발명에 따른 제조 방법에 의해 제조되는 회로 모듈(1)은, 종래의 제조 방법을 채용하여 제조되는 회로 모듈과 비교하여, 면적 사이즈로 약1/10 정도까지 축소할 수 있고, 사용 한계 주파수 대역을 20㎓까지 높일 수 있다. 본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)를 구성하는 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)이 예를 들면 5㎛ 정도의 두께를 갖고 형성되고, 다층 배선 회로부(2)의 전체의 두께도 수십㎛ 정도까지 억제된다. 본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 반도체 칩(6A, 6B)도 정밀하게 또한 최대한으로 연마하여 100㎛ 정도의 두께로 하기 때문에, 대폭 박형화된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)의 제조 방법의 각 공정을, 도 3 내지 도 12를 참조하여 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 우선, 도 3에 도시한 바와 같이 형성된 베이스 기판(20)이 공급된다. 베이스 기판(20)은, 절연 특성, 내열 특성 또는 내약품 특성을 갖고 고정밀도의 평탄면의 형성이 가능함과 함께 기계적 강성을 갖는 예를 들면 Si 기판이나 유리 기판 또는 석영 기판 등의 기판재로 형성된다. 베이스 기판(20)은, 이러한 기판재를 이용함으로써, 후술하는 스퍼터링 처리 시의 표면 온도의 상승에 대하여 열 변화가 억제되고, 또한 포토리소그래프 처리 시의 초점 심도의 유지, 마스킹의 컨택트 얼라이먼트 특성의 향상이 도모되어 고정밀도의 회로 모듈(1)의 제조가 가능하게 된다. 또한, 베이스 기판(20)은, 상술한 기판재에 한정되는 것이 아니라 평탄화 처리가 실시된 다른 적절한 기판재를 이용하여도 된다.
본 발명의 제조 방법에 이용되는 베이스 기판(20)은, 주면(20a)에 연마 처리를 실시하여 고정밀도의 평탄면으로서 형성되고, 이 주면(20a) 상에 박리층(21)이 성막된다. 박리층(21)은, 예를 들면 스퍼터링법이나 화학 증착법(CVD: Chemical Vapor Deposition) 등에 의해 베이스 기판(20)의 주면(20a) 상에 10㎛ 정도의 균일한 두께를 갖고 전면에 걸쳐 형성된 구리나 알루미늄 등의 금속 박막층과, 이 금속 박막층 상에 예를 들면 스핀 코팅법 등에 의해서 전면에 형성된 두께가 1㎛∼2㎛ 정도의 폴리이미드 수지 등의 수지 박막층으로 이루어진다. 박리층(21)은, 후술하는 박리 공정에서, 제1층의 단위 배선층(8)을 박리면으로 하여 다층 배선 회로부(2)가 베이스 기판(20)으로부터 박리된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)의 제조 공정은, 박리층(21) 상에 제1층의 단위 배선층(8)을 형성한다. 제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 도 3에 도시한 바와 같이 베이스 기판(20)의 박리층(21) 상에 제1 절연층(22)을 성막하는 공정을 제1 공정으로 한다. 제1 절연층(22)은, 예를 들면 폴리이미드계 또는 에폭시계의 네가티브형 감광성 절연 수지재가 이용되어, 도포 균일 특성이나 두께 제어 특성이 가능한 예를 들면 스핀 코팅법, 커튼 코팅법, 롤-코팅법 또는 딥코팅법 등에 의해서 박리층(21) 상에 전면에 걸쳐 성막된다. 제1 절연층(22)은, 평탄한 박리층(21)을 개재하여 평탄한 베이스 기판(20) 상에 성막됨으로써, 균일한 두께로 형성된다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 제1 포토리소그래프 처리를 실시하여 제1 절연층(22)에 비아홀(13)에 대응하여 비아홀홈(25)을 형성하는 공정을 제2 공정으로 한다. 제1 포토리소그래프 처리는, 도 4에 도시한 바와 같이, 제1 절연층(22)의 표면에 제1 포토마스크(30)를 위치 결정하여 배치하는 처리와, 제1 포토마스크(30)를 개재하여 제1 절연층(22)의 소정 부위를 노광하는 제1 노광 처리와, 제1 절연층(22)을 현상하는 제1 현상 처리를 갖는다. 제1 포토마스크(30)는, 도 4에 도시한 바와 같이 비아홀(13)에 대응한 비아홀홈(25)의 형성 부위를 차광부(30a)로 하고, 그 밖의 부위를 투광부(30b)로 한 차광·투광 패턴을 형성한 시트재로 이루어지고, 제1 절연층(22)의 표면 상에 위치 결정되어 밀착된 상태에서 배치된다.
제1 노광 처리는, 예를 들면 X-Y 방향으로 동작 제어되는 레이저광을 조사하는 방법이나, 수은 램프 등으로부터의 출사광을 조사하는 방법 등의 적절한 방법이 채용되어, 도 4에 도시한 바와 같이, 제1 포토마스크(30)의 투광부(30b)로부터 투과한 처리광 L1에 의해 제1 절연층(22)을 선택적으로 노광한다. 제1 절연층(22)에는, 이 제1 노광 처리에 의해서 도 4에 파선으로 도시한 바와 같이 비아홀(13)이 형성될 부분을 제외한 부분이 두께 방향의 전역에 걸쳐 선택적으로 노광되어 잠상화된다. 제1 현상 처리는, 예를 들면 제1 노광 처리를 실시한 베이스 기판(20)을 알칼리 용액에 침지하는 것에 의해서, 도 5에 도시한 바와 같이 제1 절연층(22)의 미노광 부분, 즉 각 비아홀(13)이 형성될 부분을 제거하여 소정의 비아홀홈(25)을 형성한다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 비아홀홈(25)이 형성된 제1 절연층(22) 상에, 도 6에 도시한 바와 같이, 제2 절연층(23)을 성막하는 공정을 제3 공정으로 한다. 제2 절연층(23)도, 제1 절연층(22)과 같이 예를 들면 폴리이미드계 또는 에폭시계의 네가티브형 감광성 절연 수지재가 이용되어, 도포 균일 특성이나 두께 제어 특성이 가능한 예를 들면 스핀 코팅법, 커튼 코팅법, 롤-코팅법 또는 딥코팅법 등에 의해서 제1 절연층(22) 상에 전면에 걸쳐 균일한 막 두께를 갖고 성막 형성된다. 절연 수지재는, 도 6에 도시한 바와 같이 제1 공정에 의해서 제1 절연층(22)에 형성된 비아홀홈(25) 내에도 충전된다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 제2 포토리소그래프 처리를 실시하여 제2 절연층(23)에 배선 패턴(26)에 대응하여 배선홈(27)을 형성하는 공정을 제4 공정으로 한다. 제2 포토리소그래프 처리도, 도 7에 도시한 바와 같이, 제2 절연층(23)의 표면에 제2 포토마스크(31)를 배치하는 처리와, 제2 포토마스크(31)를 개재하여 제2 절연층(23)의 소정 부위를 노광하는 제2 노광 처리와, 제2 절연층(23)을 현상하는 제2 현상 처리를 갖는다. 제2 포토마스크(31)는, 도 7에 도시한 바와 같이, 배선 패턴(26)에 대응하는 배선홈(27)이 형성될 부분을 차광부(31a)로 하고, 그 밖의 부위를 투광부(31b)로 한 차광·투광 패턴을 형성한 시트재로 이루어져, 제2 절연층(23)의 표면 상에 위치 결정되어 밀착한 상태에서 배치된다.
제2 노광 처리도, 상술한 제1 노광 처리와 동일한 노광 장치가 이용되어, 제2 포토마스크(31)의 투광부(31b)로부터 투과한 처리광 L2에 의해 제2 절연층(23)을 선택적으로 노광한다. 제2 노광 처리는, 도 7에 파선으로 도시한 바와 같이, 제2 절연층(23)에 배선 패턴(26)의 대응 부분을 제외한 부분을 두께 방향의 전역에 걸쳐 선택적으로 노광하여 잠상화를 행한다. 제2 현상 처리는, 예를 들면 제2 노광 처리를 실시한 베이스 기판(20)을 알칼리 용액에 침지하는 것에 의해서, 도 8에 도시한 바와 같이 제2 절연층(23)의 미노광 부분, 바꾸어 말하면 각 비아홀홈(25)에 충전된 절연 수지재와 패턴(26)의 대응 부위를 제거하여 소정의 비아홀홈(25)과 함께 배선홈(27)을 패턴 형성한다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 비아홀홈(25)과 배선홈(27)이 형성된 제2 절연층(23)에 대하여 금속 도금 처리를 실시하여 도체 금속층(24)을 성막 형성하는 공정을 제5 공정으로 한다. 금속 도금 처리는, 전해 도금 또는 무전해 도금의 어느 것이어도 되고, 도 9에 도시한 바와 같이 비아홀홈(25)과 함께 배선홈(27)의 내부에까지 도체 금속이 충전되도록 하여 제2 절연층(23)의 전면에 소정의 두께를 갖는 도체 금속층(24)을 형성한다. 금속 도금 처리는, 구체적으로 설명하면 도체 금속층(24)을 도전율이 우수한 구리막층을 형성하기 위해서 구리 도금이 실시되고, 전해 도금에 의해서 도체 금속층(24)을 형성하는 경우에, 박리층(21)을 전압 인가 전극으로서 이용한다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 도체 금속층(24)에 대하여 제2 절연층(23)의 주면을 노출시킬 때까지 연마하는 공정을 제6 공정으로 한다. 연마 처리는, 도체 금속층(24)과 함께 제2 절연층(23)의 일부를 연마하는 것에 의해, 도 10에 도시한 바와 같이 제1층의 단위 배선층(8)의 주면(8a)을 평탄면에 형성한다. 연마 처리는, 재질을 달리하는 제2 절연층(23)과 도체 금속층(24)을 동시에 연마하기 때문에, 도체 금속층(24)의 연마 레이트를 크게 하는 연마의 선택성을 갖는 CMP 법에 의해서 행해진다.
제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정은, 상술한 연마 처리를 실시함으로써, 도 10에 도시한 바와 같이 비아홀홈(25)과 배선홈(27)에 충전된 도체 금속, 즉 구리층이 제2 절연층(23)과 동일면을 구성하여 노출되어, 각각 비아홀(13)과, 배선 패턴(26)이 형성된 제1층의 단위 배선층(8)을 제작한다. 제1층의 단위 배선층(8)은, 상술한 바와 같이 베이스 기판(20) 상에 고정밀도의 두께를 갖고 제1 절연층(22)과 제2 절연층(23)이 형성되고, 고해상도의 제1 포토리소그래프 처리와 제2 포토리소그래프 처리가 실시되어 형성된 비아홀홈(25)과 배선홈(27)에 의해 비아홀(13)과 배선 패턴(26)이 형성되어 이루어진다.
따라서, 제1층의 단위 배선층(8)은, 전체적으로서 박형화되어 구성되지만, 배선 패턴(26)이 제2 절연층(23)의 두께와 동등한 두께를 갖기 때문에 충분한 신호 전송 특성을 유지한다. 제1층의 단위 배선층(8)은, 비아홀홈(25)과 배선홈(27)이 고밀도 및 미세화, 미소화하여 제1 절연층(22)과 제2 절연층(23)에 형성됨으로써, 고밀도 및 미세화, 미소화를 도모한 비아홀(13)이나 배선 패턴(26)이 형성된다. 제1층의 단위 배선층(8)에는, 상세한 설명은 생략하지만, 배선 패턴(26)과 함께 마더 기판(3)에 실장하기 위한 접속 패드나 입출력 전극이 형성된다.
또한, 상술한 제1층의 단위 배선층(8)의 제조 공정에서는, 제1 절연층(22)과 제2 절연층(23)을 네가티브형 감광성 절연 수지재로 성막 형성했지만, 포지티브형 감광성 절연 수지재로 성막 형성하도록 하여도 된다. 이러한 제조 공정에서는, 제1 포토마스크(30)나 제2 포토마스크(31)가, 비아홀홈(25)이나 배선홈(27)에 대응하는 부분이 투광부가 되고, 그 밖의 부분이 차광부가 된다. 또한, 이러한 제조 공정에서는, 제2 노광 처리 시에 제1 절연층(22)까지 노광되기 때문에, 노광량의 제어를 행할 필요가 있다.
회로 모듈(1)의 제조 공정은, 상술한 제1층의 단위 배선층(8)의 평탄화된 주면(8a) 상에 제2층의 단위 배선층(9)의 제조 공정이 실시된다. 제2층의 단위 배선층(9)의 제조 공정은, 제1층의 단위 배선층(8)의 주면(8a) 상에 제1 절연층(22)을 성막한 후에, 상술한 비아홀홈(25)을 형성하는 제1 포토리소그래프 처리를 실시하는 공정과, 제2 절연층(23)의 형성 공정과, 배선홈(27)을 형성하는 제2 포토리소그래프 처리를 실시하는 공정과, 도체 금속층(24)의 형성 공정과, 연마 공정이 실시된다. 제2층의 단위 배선층(9)의 제조 공정에서는, 상세한 설명을 생략하지만 적절한 방법에 의해 캐패시터 소자(14)나 레지스터 소자(15) 또는 인덕터 소자(16) 등의 수동 소자도 형성된다.
회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 제2층의 단위 배선층(9) 상에 제3층의 단위 배선층의 제조 공정이 실시되고, 이하 순차적으로 상층의 단위 배선층의 형성 공정이 실시되는 것에 의해, 도 11에 도시한 바와 같이 베이스 기판(20) 상에 다층 배선 회로부(2)가 제작된다. 다층 배선 회로부(2)는, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12)에 형성되는 비아홀(13)이, 도 11에 도시한 바와 같이 하층측의 비아홀 상에 상층측의 비아홀이 직접 형성되어 비아-온-비아 구조를 구성한다. 따라서, 다층 배선 회로부(2)는, 제1층의 단위 배선층(8) 내지 제5층의 단위 배선층(12) 사이가 최단의 배선 길이를 갖고 접속되도록 된다. 다층 배선 회로부(2)는, 평탄화된 하층의 단위 배선층 상에 상층의 단위 배선층이 순차적으로 형성되기 때문에, 하층측의 배선 패턴의 두께의 누적에 의한 영향이 억제되어 최상층의 제5층의 단위 배선층(12)이 휘어짐이나 굴곡 또는 요철이 없는 상태로 형성된다. 따라서, 다층 배선 회로부(2)는, 제5층의 단위 배선층(12) 상에 더욱 고정밀도의 단위 배선층을 형성하여 고집적화를 가능하게 한다.
회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 도 12에 도시한 바와 같이, 다층 배선 회로부(2)의 제2 주면(2b)을 구성하는 제5층의 단위 배선층(12)의 주면 위에 반도체 칩(6A, 6B)을 실장하는 공정이 실시된다. 제5층의 단위 배선층(12)에는, 상세한 설명을 생략하지만 배선 패턴(26)과 같이 하여 반도체 칩(6A, 6B)을 플립 칩 실장법 등의 적절한 실장 방법에 의해서 실장하기 위한 전극 패드나 다른 전자 부품 또는 다른 모듈과의 접속 등을 행하기 위한 접속 단자부가 형성되어 있다. 또한, 전극 패드나 접속 단자부에는, 예를 들면 무전해 니켈/구리 도금을 실시하여 단자 형성이 행하여진다. 반도체 칩 실장 공정은, 상세한 설명을 생략하지만, 반도체 칩(6A, 6B)의 전극에 실장용 범프(5)를 부착하는 공정과, 반도체 칩(6A, 6B)을 제5층의 단위 배선층(12) 상에 위치 결정하여 재치하는 공정과, 예를 들면 리플로우 땜납 처리를 실시하는 공정 등으로 이루어진다.
회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 도 12에 도시한 바와 같이, 실장한 반도체 칩(6A, 6B)을 밀봉 수지층(7)에 의해서 밀봉하는 밀봉 공정이 실시된다. 밀봉 수지층(7)은, 예를 들면 에폭시계 수지 등과 같이 열경화 수축률이 낮은 수지재를 이용하여 트랜스퍼 몰드법이나 인쇄법 등에 의해 성형되고, 경화 후에 베이스 기판(20)이나 다층 배선 회로부(2)에 휘어짐 등을 생기게 하는 응력의 발생이 억제되고 있다.
회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 반도체 칩(6A, 6B)과 밀봉 수지층(7)을 소정의 두께까지 연마하는 공정이 실시된다. 연마 공정은, 예를 들면 그라인더를 이용한 기계 연마법, 웨트 에칭에 의한 화학 연마법 또는 기계 연마법과 화학 연마법을 병행한 CMP 등에 의해서 행해지고, 밀봉 수지층(7)과 함께 반도체 칩(6A, 6B)을 기능에 지장이 없는 최대 범위에서 그 표면을 연마하는 것에 의해 도 13에 도시한 바와 같이 박형화한다. 연마 공정은, 베이스 기판(20)을 지지 기판으로 하여 반도체 칩(6A, 6B)을 밀봉 수지층(7)에 의해서 밀봉한 상태에서 연마하는 것에 의해, 각 반도체 칩(6A, 6B)에 엣지 결합 등의 손상이 생기게 하지 않고 최대한으로 또한 정밀하게 연마한다.
회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 상세한 설명은 생략하지만 연마 처리가 실시된 밀봉 수지층(7)에 박리층을 갖는 제2 베이스 기판을 접합한 후에, 베이스 기판(20)으로부터 회로 모듈(1)을 박리하는 공정이 실시된다. 제2 베이스 기판은, 회로 모듈(1)을 마더 기판(3) 등에 실장하기 위해서 다층 배선 회로부(2)의 제1 주면(2a)을 구성하는 제1층의 단위 배선층(8)에 전극 패드를 형성하거나, 평탄화 처리를 실시할 때의 베이스를 구성한다.
베이스 기판 박리 공정은, 상술한 공정을 거쳐 회로 모듈(1)을 형성한 베이스 기판(20)을 예를 들면 염산 등의 산성 용액에 침지시킨다. 회로 모듈(1)은, 산성 용액 속에서 박리층(21)의 금속 박막층과 수지 박막층과의 계면에서 박리가 진행되어, 제1층의 단위 배선층(8)측에 수지 박막층을 남긴 상태에서 베이스 기판(20)으로부터 박리된다. 또한, 박리 공정은, 예를 들면 레이저 박리 처리를 실시하는 것에 의해서, 회로 모듈(1)을 베이스 기판(20)으로부터 박리하도록 하여도 된다. 또한, 제1층의 단위 배선층(8)측에 남은 수지 박막층은, 예를 들면 산소 플라즈마에 의한 드라이 에칭법 등에 의해서 제거된다.
다층 배선 회로부(2)에는, 제1 주면(2a)에 노출된 제1층의 단위 배선층(8)에 형성한 접속 패드나 입출력 단자의 표면에 무전해 도금에 의해 Au-Ni 층을 형성하는 전극 형성 처리가 실시된다. 회로 모듈(1)은, 접속 패드에 실장용 범프(4)가 부착되고, 마더 기판(3)에 위치 결정된 상태에서 리플로우 땜납이 실시되어 실장된다. 또한, 회로 모듈(1)은, 마더 기판(3)의 실장 공정에 선행하여 제2 베이스 기판의 박리 공정이 실시된다.
상술한 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 베이스 기판(20) 상에 1개의 회로 모듈(1)을 제작하는 공정을 설명했지만, 비교적 대형의 베이스 기판(20)을 이용하여 다수개의 회로 모듈(1)을 일괄해서 제작하도록 하여도 된다. 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, 이 경우에 베이스 기판(20)으로부터의 박리 공정에 선행하여 각 회로 모듈(1)을 분리하는 연결부의 커팅 처리가 실시된다. 또한, 회로 모듈(1)의 제조 공정에서는, Si 기판이나 유리 기판으로 이루어지는 베이스 기판(20) 상에 회로 모듈(1)을 제작했지만, 예를 들면 평탄화 처리를 실시한 일반적인 다층 기판의 제조 공정에 이용되는 각종 유기 기판을 이용하도록 해도 된다.
본 발명에 따른 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)가 반도체 칩(6A, 6B)을 실장하는 인터포저로서의 기능도 구비하도록 구성되지만, 단독의 다층 배선 회로 모듈로서 이용되도록 해도 되는 것은 물론이다. 또한, 회로 모듈(1)은, 다층 배선 회로부(2)의 제1 주면(2a)측에도 반도체 칩이나 실장 부품을 실장하도록 해도 되는 것은 물론이다. 회로 모듈(1)은, 이 경우 제1 주면(2a)측에도 제2 베이스 기판을 베이스로 하여 평탄화 처리가 실시된다.
또한, 본 발명은, 도면을 참조하여 설명한 상술의 실시예에 한정되는 것이 아니고, 첨부의 청구의 범위 및 그 주지를 일탈하지 않고, 여러 가지 변경, 치환 또는 그 동등한 것을 행할 수 있는 것은 당업자에게 있어서 분명하다.
상술한 바와 같이, 본 발명은, 각 단위 배선층이, 감광성 절연 수지재에 의해 형성한 제1 절연층에 포토리소그래프 처리를 실시하여 비아홀홈을 형성함과 함께 이 제1 절연층 상에 감광성 절연 수지재에 의해 형성한 제2 절연층에 포토리소그래프 처리를 실시하여 배선홈을 형성하고, 비아홀홈과 배선홈에 도체 금속이 충전되도록 제2 절연층 상에 형성한 도체 금속층에 제2 절연층의 주면을 노출시킬 때까지 연마 처리를 실시하여 비아홀홈과 배선홈 내에 충전된 도체 금속에 의해 비아홀과 배선 패턴을 형성하도록 하고 있기 때문에, 해상도가 높은 포토리소그래프 처리에 의해 미소하고 미세한 비아홀이나 배선 패턴이 고밀도로 형성되어 소형화와 함께 박형화가 도모된다. 본 발명에 따르면, 각 단위 배선층이 비아-온-비아 구조에 의해 최단으로 층간 접속되기 때문에 배선 길이의 단축화에 의한 전송 신호의 감쇠가 저감됨과 함께 전송의 지연이 최소한으로 되고 또한 노이즈의 영향도 저감됨으로써 신뢰성의 향상이 도모되고, 또한 대용량, 고속화, 고밀도화 버스의 대응이 도모되게 된다.
Claims (12)
- 복수층의 단위 배선층이 다수개의 비아홀을 통하여 상호 층간 접속되어 적층 형성되어 이루어지는 다층 배선 회로 모듈에 있어서,상기 각 단위 배선층은,감광성 절연 수지재로 성막 형성되고, 포토리소그래프 처리가 실시되어 상기 각 비아홀에 대응하는 다수개의 비아홀홈이 형성되어 이루어지는 제1 절연층과,상기 제1 절연층 상에 감광성 절연 수지재로 성막 형성되고, 포토리소그래프 처리가 실시되어 일부에 상기 각 비아홀홈과의 연통부를 갖는 배선 패턴에 대응하는 배선홈이 패턴 형성되어 이루어지는 제2 절연층과,상기 제2 절연층 상에, 상기 각 비아홀홈과 상기 배선홈 내에도 도체 금속이 충전되어 성막 형성되어 이루어지는 도체 금속층으로 구성되고,상기 제2 절연층의 주면을 노출시킬 때까지 연마 처리를 실시하여 이 제2 절연층의 주면에 동일면을 구성하여 노출된 상기 도체 금속층의 상기 각 비아홀홈과 상기 배선홈 내에 충전된 도체 금속에 의해, 상기 각 비아홀과 상기 배선 패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 제1항에 있어서,상기 제1 절연층과 제2 절연층이, 네가티브형 감광성 절연 수지재로 성막 형성되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 제1항에 있어서,상기 도체 금속층이, 화학-기계 연마법에 의한 연마 처리가 실시되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 제1항에 있어서,상기 도체 금속층이, 구리 도금에 의해 형성된 구리막층인 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 제1항에 있어서,최하층의 상기 단위 배선층이, 평탄한 주면 위에 성막 형성한 박리층을 갖는 베이스 기판 위에 형성되어, 소정층을 적층 형성한 후에 상기 박리층을 개재하여 박리되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 제1항에 있어서,최상층의 상기 단위 배선층에 IC 칩이나 LSI 또는 실장 부품이 실장되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈.
- 복수층의 단위 배선층이 다수개의 비아홀을 통하여 상호 층간 접속되어 적층 형성되어 이루어지는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법에 있어서,상기 각 단위 배선층의 형성 공정은,감광성 절연 수지재에 의해 제1 절연층을 형성하는 공정과,상기 제1 절연층에 대하여 포토리소그래프 처리를 실시하여 상기 각 비아홀에 대응하는 다수개의 비아홀홈을 형성하는 공정과,상기 제1 절연층 상에 감광성 절연 수지재를 전면에 도포하여 제2 절연층을 성막 형성하는 공정과,상기 제2 절연층에 대하여 포토리소그래프 처리를 실시하고 일부에 상기 각 비아홀홈과의 연통부를 갖는 배선 패턴에 대응하는 배선홈을 형성하는 공정과,상기 제2 절연층 상에, 상기 각 비아홀홈과 상기 배선홈 내에도 도체 금속을 충전하여 도체 금속층을 전면에 성막 형성하는 공정과,상기 도체 금속층을 상기 제2 절연층의 주면을 노출시킬 때까지 연마하는 공정으로 이루어지고,상기 연마 처리가 실시되어 상기 제2 절연층의 주면에 동일면을 구성하고 노출된 상기 도체 금속층의 상기 각 비아홀홈과 상기 배선홈 내에 충전된 도체 금속에 의해 상기 각 비아홀과 상기 배선 패턴이 형성되고,제1층의 상기 단위 배선층은, 상기 제1 절연층을 베이스 기판 위에 성막하고, 상층의 상기 단위 배선층은, 각각의 상기 제1 절연층이 하층의 상기 단위 배선층의 상기 제2 절연층 상에 성막되는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
- 제7항에 있어서,상기 제1 절연층의 형성 공정과 제2 절연층의 형성 공정에 이용되는 감광성 절연 수지재가, 네가티브형 감광성 절연 수지재인 것을 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
- 제7항에 있어서,상기 도체 금속층에 대한 연마 공정이, 화학-기계 연마법에 의한 연마 처리인 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
- 제7항에 있어서,상기 각 제2 절연층 상에 도체 금속층을 형성하는 공정이, 구리 도금을 실시하여 구리막층을 형성하는 공정인 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
- 제7항에 있어서,제1층의 상기 단위 배선층의 형성 공정은, 평탄한 주면 위에 박리층을 성막 형성한 베이스 기판 위에서 행해지고,소정층의 상기 단위 배선층을 형성한 후에, 상기 박리층을 개재하여 박리하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
- 제7항에 있어서,최상층의 상기 단위 배선층에 IC 칩이나 LSI 또는 실장 부품을 실장하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 다층 배선 회로 모듈의 제조 방법.
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