JP2748890B2 - 有機樹脂多層配線基板およびその製造方法 - Google Patents

有機樹脂多層配線基板およびその製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は有機樹脂多層配線基板お
よびその製造方法に関し、特に積層ブロック体同士を接
着させる有機樹脂多層配線基板およびその製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、高配線密度を要求される大型コン
ピュータ用配線基板として、セラミック基板上にポリイ
ミド樹脂を層間絶縁に使用した多層配線基板が使用され
ている。このポリイミド・セラミック多層配線基板は、
セラミック基板上にポリイミド前駆体ワニスを塗布、乾
燥し、この塗布膜にヴィアホールを形成するポリイミド
樹脂絶縁層形成工程と、フォトリソグラフィー、真空蒸
着およびメッキ法を使用した配線層形成工程とからな
り、かつ、この一連の工程を繰り返すことによりポリイ
ミド多層配線層の形成を行っていた。
【0003】これに代るポリイミド多層配線基板の製造
方法として、(1)基板を複数のブロックに分割し製造
する方法がある。この方法を用いたポリイミド多層配線
基板の製造方法の一例が特開平5−206643号公報
に開示されている。この方法は、予め製造された複数の
ブロック同士を接着することによりポリイミド多層配線
基板を得るというものである。
【0004】また、この基板を複数のブロックに分割し
製造する方法の他の一例が、(2)特開平4−1526
94号公報に開示されている。この(2)の技術と前述
した(1)の技術との差異は、(1)の技術が配線層間
の電気的接続に金属バンプを使用しているのに対し、
(2)の技術は貫通ヴィアホールを使用していることで
ある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、先行技術
(1),(2)はいずれも下層から接地または給電層、
ポリイミド絶縁層、信号層、ポリイミド絶縁層、接地ま
たは給電層、ポリイミド絶縁層の順に積層した積層ブロ
ックを2個備え、この最上層部のポリイミド絶縁層同士
を接着する構成であったため、全体として層数が多くな
り、よって高多層になるほど配線基板の製造日数が長く
なるという欠点があった。
【0006】そこで本発明の目的は、従来の配線基板よ
り層数を減らすことが可能な有機樹脂多層配線基板およ
びその製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、各々複数の導体配線層と複数の有機樹脂絶
縁層とが交互に積層され最上層が前記有機樹脂絶縁層で
ある積層ブロックと、前記最上層の有機樹脂絶縁層の上
面に形成され接地または給電層として使用される導電性
樹脂層と、この導電性樹脂層の表面に設けたヴィアホー
ルを介して前記積層ブロック内部の前記導体配線層と電
気的に接続される金属バンプとを有することを特徴とす
る。
【0008】
【作用】積層ブロックの最上層をなす有機樹脂絶縁層の
上面に導電性樹脂層を形成して積層体を構成する。この
導電性樹脂層を接地または給電層とし、2個の積層構造
体の導電性樹脂層同士を接着することにより、従来の積
層構造体の最上層に形成していた導電配線層と有機樹脂
絶縁層のうち有機樹脂絶縁層を省くことができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例について添付図面を参
照しながら説明する。図1〜図26は本発明に係る有機
樹脂多層配線基板の製造方法の一実施例の工程図であ
る。
【0010】まず、有機樹脂多層配線基板を構成する2
個の積層構造体A,Bの構成について説明する。
【0011】図9は2個の積層構造体のうちの一方の積
層構造体の完成図である。一方の積層構造体Aは、入出
力ピンまたは電源ピン2を有するセラミック基板1の上
面に、接地または給電層3、ポリイミド樹脂4、信号配
線6、ポリイミド樹脂7、信号配線6、ポリイミド樹脂
8、第2接地層または給電層(以下、導電性樹脂層とい
う。)9を積層し、上面に信号配線6と電気的に接続さ
れる金属バンプ13を設けたものである。なお、信号配
線6は2個で一組をなすが便宜上同一番号を付す。
【0012】図18は2個の積層構造体のうちの他方の
積層構造体の完成図である。他方の積層構造体Bは、石
英ガラス平板14の上面に、ポリイミド樹脂15、接地
または給電層16、ポリイミド樹脂17、信号配線1
9、ポリイミド樹脂20、信号配線19、ポリイミド樹
脂21、第2接地層または給電層(以下、導電性樹脂層
という。)22を積層し、上面に信号配線19と電気的
に接続される金属バンプ26を設けたものである。な
お、信号配線19は2個で一組をなすが便宜上同一番号
を付す。
【0013】図19は2個の積層構造体を仮固定した状
態を示す工程図である。積層構造体Aの導電性樹脂層9
と積層構造体Bの導電性樹脂層22とを仮固定し、さら
に後述するが石英ガラス平板14を除去することにより
有機樹脂多層配線基板が完成する。
【0014】なお、本実施例では、配線層間絶縁膜厚2
0μm、配線幅25μm、配線膜厚10μmである。さ
らに、配線間を接続する後述するヴィアホールの径は1
00μmである。また、ポリイミド樹脂には低熱膨張率
感光性ポリイミドを用いる。また、導電性樹脂として銀
フィラー入り熱硬化型導電性エポキシ樹脂系樹脂を用
い、配線金属には金を用いる。なお、低熱膨張ポリイミ
ドとは熱膨脹係数10ppm〜30ppmのものをい
う。
【0015】次に、この有機樹脂多層配線基板の製造方
法につき、工程順に説明する。まず、積層構造体Aの製
造方法から説明する。
【0016】(1)図1に示すように、入出力信号ピン
または電源ピン2が裏面にあるセラミック基板1上に接
地または給電層3をフォトレジストを用いたフォトリソ
グラフィーでパターン化し、電解金メッキを行い接地ま
たは給電層を形成する(工程1)。
【0017】(2)次に、図2に示すように、低熱膨張
率感光性ポリイミドワニス4を工程1で接地または給電
層3を形成したセラミック基板1上に塗布し、露光・現
像を行い所定の位置にヴィアホール5を形成し、キュア
を行う(工程2)。
【0018】(3)次に、図3に示すように、一組の信
号配線層6を層間絶縁に低熱膨張率感光性ポリイミド7
を用いて形成する。形成方法は、工程1で接地または接
続層を形成した方法で信号配線層6を形成し、工程2で
絶縁層を形成した方法で信号配線層間絶縁層を形成する
(工程3)。
【0019】(4)次に、図4に示すように、低熱膨張
率感光性ポリイミドワニス8を工程3で形成した信号配
線6上に塗布しキュアを行い(工程4)、(5)図5に
示すように、銀フィラー入り熱硬化性導電性エポキシ系
樹脂(導電性樹脂)を工程4で形成したポリイミド層8
上にディスペンサーまたはスクリーン印刷で供給し、導
電性樹脂層9(20μm)を形成する(工程5)。
【0020】(6)次に、図6に示すように、この導電
性樹脂層9上にフォトレジストを用いたフォトリソグラ
フィーでパターン化し、エキシマレーザを用いて200
μm径のヴィアホール10を形成する(工程6)。
【0021】(7)次に、図7に示すように、工程6で
形成したヴィアホール10に低熱膨張率感光性ポリイミ
ドワニス11を埋め込み(工程7)、(8)図8に示す
ように、露光現像を行い、ヴィアホール10より小さい
100μm径のヴィアホール12を形成した後キュアす
る(工程8)。
【0022】(9)次に、図9に示すように、工程8で
形成したヴィアホール12に、工程10以降で形成する
多層配線層と電気的接続を行う位置に金属バンプ13を
形成する(工程9)。
【0023】金属バンプ13はフォトレジストを使用し
たフォトリソグラフィーでパターン化し、メッキによっ
て形成される。バンプメタルは4層からなっている。最
も配線パターンに近い層から、ニッケル、金、錫、金の
順で電解メッキにより形成される。夫々厚さは、3μ
m、8μm、11μm、8μmである。
【0024】また、ニッケル層を3μm形成した上に錫
/鉛半田のメッキを30μm形成することも可能であ
る。この時、錫/鉛の比は共晶(63/37)、または
95:5である。これで積層構造体Aが完成する。
【0025】次に、積層構造体Bの製造方法について説
明する。
【0026】(10)まず、図10に示すように、厚さ
2mmの石英ガラス平板14上に低熱膨脹率感光性ポリ
イミド15にて厚さ10μmの均一層を形成し、その低
熱膨脹率感光性ポリイミド15の上面にフォトレジスト
を使用したフォトリソグラフィーにより接地または給電
層16を形成する(工程10)。
【0027】(11)次に、図11に示すように、低熱
膨脹率感光性ポリイミドワニス17を、工程10で接地
または給電層16を形成した石英ガラス平板14上に塗
布し、露光・現像を行い所定の位置にヴィアホール18
を形成し、キュアを行う(工程11)。
【0028】(12)次に、図12に示すように、一組
の信号配線層19を層間絶縁に低熱膨脹率感光性ポリイ
ミド20を用いて形成する。形成方法は、工程1で接地
または給電層を形成した方法で信号配線層19を形成
し、工程3で絶縁層を形成した方法で信号配線間絶縁層
(低熱膨脹率感光性ポリイミド)20を形成する(工程
12)。
【0029】(13)次に、図13に示すように、工程
12で形成した信号配線層19上に、工程4で形成した
方法でポリイミド絶縁層21を形成する(工程13)。
【0030】(14)次に、図14に示すように、工程
13で形成したポリイミド絶縁層21上に、工程5で形
成した方法で導電性樹脂層22を形成する(工程1
4)。
【0031】(15)次に、図15に示すように、工程
14で形成した導電性樹脂層22上に、工程6の方法で
200μm径のヴィアホール23を形成する(工程1
5)。
【0032】(16)次に、図16に示すように、工程
15で形成したヴィアホール23に、低熱膨脹率感光性
ポリイミドワニス24を埋め込み(工程16)、(1
7)次に、図17に示すように、ヴィアホール23より
径が小さい100μm径のヴィアホール25を形成した
後キュアする(工程17)。
【0033】(18)次に、図18に示すように、工程
17で形成したヴィアホール25に、工程9の方法で電
気的接続を行う位置に金属バンプ26を形成する(工程
18)。これで積層構造体Bが完成する。
【0034】次に、積層構造体AおよびBを接着する工
程について説明する。
【0035】(19)図19に示すように、積層構造体
Aの金属バンプ13と積層構造体Bの接続用バンプ26
とを位置合わせした後、ゲル状のシアノアクリレート系
接着剤をディスペンサーにより導電性樹脂層9,22上
に塗布し、一時的に仮固定する(工程19)。
【0036】(20)次に、図20に示すように、仮固
定済みの石英ガラス平板14からエキシマレーザ27を
照射すると、図21,22に示すように、石英ガラス平
板14とポリイミド均一層15界面のポリイミドが光化
学反応により除去され、石英ガラス平板14を剥離する
ことが可能となる(工程20)。エキシマレーザの照射
条件は次の通りである。レーザガスはKrF、エネルギ
ー密度は0.8J/cm2 、周波数は50Hzでポリイ
ミドを約1μm除去することができる。
【0037】(21)次に、図23に示すように、工程
20にて新たに露出したポリイミド15にドライエッチ
ングプロセスを行い、信号配線19の位置にヴィアホー
ル28を形成する(工程21)。
【0038】(22)次に、図24に示すように、工程
21で形成したポリイミド15上のヴィアホール28に
LSI接続パッド29を形成する。このLSI接続パッ
ド29の形成方法は、フォトレジストをフォトリソグラ
フィーでパターン化し銅メッキで行う(工程22)。
【0039】(23)そして最後に、加圧・加熱条件下
において積層構造体A側の導電性樹脂層面9と積層構造
体B側の導電性樹脂層面22とを接着し、さらに積層構
造体A側の金属バンプ13と積層構造体B側の金属バン
プ26とを電気的に接続すると有機樹脂多層配線基板は
完成する(工程23)。
【0040】次に、積層構造体Bを複数積層した後に積
層構造体Aと接着する方法について説明する。
【0041】(24)まず、工程1〜工程20の図22
まで進んだ後、図25に示すように、上面のポリイミド
15をドライエッチングプロセスで全面除去し、導電性
樹脂層16を露出させる(工程24)。
【0042】(25)次に、図26に示すように、その
露出した導電性樹脂層16上に新たな導電性樹脂層30
を形成する。そして、別途、石英ガラス14上に工程1
0〜18と同様の工程で形成した積層構造体Bをこの導
電性樹脂層30と位置合わせして積層する。(工程2
5)。
【0043】(26)そして、さらに積層する場合は工
程20,21,22,24,25を必要回数繰り返して
行う(工程26)。
【0044】(27)次に、必要回数の積層が終了した
後、工程25から工程20に戻り、工程20,21,2
2,23の順に処理を行うことにより有機樹脂多層配線
基板は完成する(工程27)。
【0045】なお、セラミック基板1の代わりにポリイ
ミド基板を用いることもできる。
【0046】また、金属バンプ13,26を設ける工程
は、導電性樹脂層9,22の表面にドライエッチングプ
ロセスまたはウェットエッチングプロセスにより貫通ス
ルーホール10,23を形成する工程と、その貫通スル
ーホール10,23を有機樹脂11,24で埋め、その
有機樹脂11,24に貫通スルーホール10,23より
も径の小さいヴィアホール12,25を形成する工程
と、そのヴィアホール12,25に金属バンプ13,2
6を形成し、その金属バンプ12,26を積層ブロック
内部の前記導体配線層6,19と電気的に接続させる工
程とからなる。
【0047】
【発明の効果】本発明によれば、各々の積層構造体の最
上層に接地または給電層となる導電性樹脂層を形成し、
この導電性樹脂層同士を接着するよう構成したため、従
来各積層構造体の最上層に形成していた有機樹脂絶縁層
を省くことができる。
【0048】従って、層数を減らすことができるため、
配線基板の製造時間を短縮することができるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る有機樹脂多層配線基板の製造方法
の一実施例(積層構造体A)のの工程図である。
【図2】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図3】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図4】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図5】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図6】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図7】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図8】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図9】同一実施例(積層構造体A)の工程図である。
【図10】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図11】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図12】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図13】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図14】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図15】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図16】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図17】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図18】同一実施例(積層構造体B)の工程図であ
る。
【図19】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図20】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図21】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図22】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図23】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図24】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図25】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【図26】同一実施例(積層構造体A+B)の工程図で
ある。
【符号の説明】
1 セラミック基板 3 接地または給電層 4,7,8 ポリイミド樹脂 6,19 信号配線 9,22 第2接地層または給電層 12,25 ヴィアホール 13,26 金属バンプ 14 石英ガラス平板 15,17,20,21 ポリイミド樹脂 A,B 積層構造体

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各々複数の導体配線層と複数の有機樹脂
    絶縁層とが交互に積層され最上層が前記有機樹脂絶縁層
    である積層ブロックと、前記最上層の有機樹脂絶縁層の
    上面に形成され接地または給電層として使用される導電
    性樹脂層と、この導電性樹脂層の表面に設けたヴィアホ
    ールを介して前記積層ブロック内部の前記導体配線層と
    電気的に接続される金属バンプとを有することを特徴と
    する有機樹脂多層配線基板。
  2. 【請求項2】 前記有機樹脂絶縁層はポリイミド層であ
    ることを特徴とする請求項1記載の有機樹脂多層配線基
    板。
  3. 【請求項3】 各々複数の導体配線層と複数の有機樹脂
    絶縁層とが交互に積層され最上層が前記有機樹脂絶縁層
    である積層ブロックと、前記最上層の有機樹脂絶縁層の
    上面に形成され接地または給電層として使用される導電
    性樹脂層と、この導電性樹脂層の表面に設けたヴィアホ
    ールを介して前記積層ブロック内部の前記導体配線層と
    電気的に接続される金属バンプとを有する有機樹脂多層
    配線基板を2個備え、双方の有機樹脂多層配線基板の前
    記導電性樹脂層同士および前記金属バンプ同士を接着し
    てなることを特徴とする有機樹脂多層配線基板。
  4. 【請求項4】 硬質の平板上に複数の導体配線層と複数
    の有機樹脂絶縁層とを交互に積層し最上層が前記有機樹
    脂絶縁層である積層ブロックを形成する工程と、前記最
    上層の有機樹脂絶縁層の上面に接地または給電層として
    使用される導電性樹脂層を形成する工程と、前記導電性
    樹脂層の表面にヴィアホールを形成し、このヴィアホー
    ルを介して前記積層ブロック内部の前記導体配線層と電
    気的に接続させる金属バンプを設ける工程と、前記各工
    程を経て得られる2個の積層構造体を前記導電性樹脂層
    同士および前記金属バンプ同士で電気的に接続する工程
    と、前記2個の積層構造体のうち一方の積層構造体の平
    板を剥離する工程と、前記平板が剥離される面側に前記
    積層ブロック内部の前記導体配線層と電気的に接続され
    る接続パッドを設ける工程とからなることを特徴とする
    有機樹脂多層配線基板の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記2個の積層構造体の平板のうち、前
    記剥離される側の平板は石英ガラス基板であり、他方の
    平板はセラミック基板であることを特徴とす る請求項4
    記載の有機樹脂多層配線基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記2個の積層構造体の平板のうち、前
    記剥離される側の平板は石英ガラス基板であり、他方の
    平板はポリイミド基板であることを特徴とする請求項4
    記載の有機樹脂多層配線基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記金属バンプを設ける工程は、前記導
    電性樹脂層の表面に貫通スルーホールを形成する工程
    と、その貫通スルーホールを有機樹脂で埋め、その有機
    樹脂に前記貫通スルーホールよりも径の小さいヴィアホ
    ールを形成する工程と、そのヴィアホールに金属バンプ
    を形成し、その金属バンプを前記積層ブロック内部の前
    記導体配線層と電気的に接続させる工程とからなること
    を特徴とする請求項4〜6いずれかに記載の有機樹脂多
    層配線基板の製造方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6627998B1 (en) * 2000-07-27 2003-09-30 International Business Machines Corporation Wafer scale thin film package
JP2004039867A (ja) * 2002-07-03 2004-02-05 Sony Corp 多層配線回路モジュール及びその製造方法
US7488601B2 (en) * 2003-06-20 2009-02-10 Roche Diagnostic Operations, Inc. System and method for determining an abused sensor during analyte measurement
US7932170B1 (en) 2008-06-23 2011-04-26 Amkor Technology, Inc. Flip chip bump structure and fabrication method
KR101109344B1 (ko) * 2009-10-20 2012-01-31 삼성전기주식회사 인쇄회로기판 및 그 제조방법

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4679321A (en) * 1985-10-18 1987-07-14 Kollmorgen Technologies Corporation Method for making coaxial interconnection boards
JP2510747B2 (ja) * 1990-02-26 1996-06-26 株式会社日立製作所 実装基板
US5191174A (en) * 1990-08-01 1993-03-02 International Business Machines Corporation High density circuit board and method of making same
JP2850518B2 (ja) * 1990-10-17 1999-01-27 日本電気株式会社 有機樹脂多層配線基板および有機樹脂多層配線基板の製造方法
JP2551224B2 (ja) * 1990-10-17 1996-11-06 日本電気株式会社 多層配線基板および多層配線基板の製造方法
JP2776096B2 (ja) * 1991-11-18 1998-07-16 日本電気株式会社 ポリイミド多層配線基板の製造方法
JPH04312999A (ja) * 1991-01-09 1992-11-04 Nec Corp ポリイミド多層配線基板およびその製造方法
CA2059020C (en) * 1991-01-09 1998-08-18 Kohji Kimbara Polyimide multilayer wiring board and method of producing same
US5258236A (en) * 1991-05-03 1993-11-02 Ibm Corporation Multi-layer thin film structure and parallel processing method for fabricating same
US5340947A (en) * 1992-06-22 1994-08-23 Cirqon Technologies Corporation Ceramic substrates with highly conductive metal vias
JPH0828580B2 (ja) * 1993-04-21 1996-03-21 日本電気株式会社 配線基板構造及びその製造方法
US5435480A (en) * 1993-12-23 1995-07-25 International Business Machines Corporation Method for filling plated through holes

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