KR101137537B1 - 시험 장치 및 정보 처리 시스템 - Google Patents
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Abstract
피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 피시험 디바이스와의 사이에 신호를 주고 받는 시험 유닛과, 시험 유닛을 제어하는 제어 장치와, 제어 장치와 시험 유닛의 사이를 중계하는 중계 장치를 포함하고, 중계 장치는, 제어 장치로부터 해당 중계 장치에의 커맨드를 받아, 시험 유닛에 전송하는 제1 통신부와, 커맨드를 수취한 시험 유닛이 해당 중계 장치에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 수취하는 제2 통신부와, 제2 통신부가 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행하는 실행부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
Description
본 발명은, 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치 및 정보 처리 시스템에 관한 것이다. 문헌의 참조에 의한 편입이 인정되는 지정국에 대해서는, 아래의 출원에 기재된 내용을 참조에 의해 본 출원에 편입하고, 본 출원의 일부로 한다.
1. 미국 특허 출원 제61/057206호 출원일 2008년 5월 30일
반도체 장치 등을 시험하는 시험 장치는, 하나 또는 복수의 시험 유닛과 제어 장치를 구비한다. 각 시험 유닛은, 피시험 디바이스에 대해서 시험 신호를 준다.
제어 장치는, 각 시험 유닛과 시리얼 통신 케이블 등으로 접속된 컴퓨터에 의해 실현된다. 제어 장치는, 복수의 시험 유닛의 각각에 대하여 커맨드를 주고, 이들 복수의 시험 유닛을 제어한다. 또한, 이러한 시험 장치는, 제어 장치가 빈번하게 액세스하는 타이머 장치 등을, 제어 장치의 근처에 구비한다.
여기에서, 시험 유닛이 소정의 처리를 개시한 타이밍에 타이머 장치에 의해 시간 계측을 개시시키고, 설정 시간 경과한 후에, 시험 유닛에 다른 처리를 개시시키는 시컨스를 고려한다. 이 경우, 제어 장치는, 우선, 시험 유닛에 소정의 처리를 개시시키는 커맨드를 발행하고, 계속하여, 타이머 장치에 시간 계측 개시를 지시하는 타이머 개시 커맨드를 발행하여, 그리고, 설정 시간 경과 후에 시험 유닛에 다른 처리를 개시시키는 커맨드를 발행한다.
그러나, 이러한 시컨스를 실행하는 경우, 제어 장치로부터 시험 유닛에의 커맨드 전파 시간이, 제어 장치로부터 타이머 장치에의 커맨드 전파 시간 보다도 길면, 시험 유닛에 의한 소정의 처리의 개시 전에 타이머 장치에 의한 시간 계측이 개시되어 버리는 경우가 있었다. 따라서, 이러한 시컨스를 실행하는 경우, 시험 유닛 및 타이머 장치에 의한 처리의 실행 순서가, 제어 장치에 의해 발행되는 커맨드의 순서에 정합하지 않는 경우가 있었다.
이 문제를 해결하려면, 예를 들면, 시험 유닛에 소정의 처리를 개시시키는 커맨드의 후인 한편 타이머 개시 커맨드의 전에 있어서, 시험 유닛에의 리드 커맨드를 발행하여, 해당 리드 커맨드에 따라 독출된 데이터를 시험 유닛으로부터 받고 나서, 타이머 개시 커맨드를 발행하는 것이 고려된다. 이에 의해, 타이머 개시 커맨드보다도 전에 시험 유닛에 대해서 발행한 커맨드가, 해당 시험 유닛에 의해 이미 실행이 개시되는 것이 보증된다. 즉, 시험 유닛 및 타이머 장치에 의한 처리의 실행 순서를, 제어 장치에 의해 발행되는 커맨드의 순서에 정합시킬 수 있다.
그렇지만, 리드 커맨드를 발행한 제어 장치는, 해당 리드 커맨드에 따라 독출된 데이터를 시험 유닛으로부터 수취할 때까지, 다른 커맨드를 발행할 수 없다. 따라서, 이와 같이, 타이머 개시 커맨드의 전에 시험 유닛에의 리드 커맨드를 삽입한 경우, 제어 장치는, 불필요하게 긴 대기 시간을 소비해야 했다.
여기에서, 본 발명은, 상기의 과제를 해결할 수 있는 시험 장치 및 정보 처리 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은 청구의 범위에서의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의해 달성된다. 또한, 종속항은 본 발명의 한층 더 유리한 구체적인 예를 규정한다.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 제1 태양에서는, 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 피시험 디바이스와의 사이에 신호를 주고 받는 시험 유닛과, 시험 유닛을 제어하는 제어 장치와, 제어 장치와 시험 유닛의 사이를 중계하는 중계 장치를 포함하고, 중계 장치는, 제어 장치로부터 해당 중계 장치에의 커맨드를 받아, 시험 유닛에 전송하는 제1 통신부와, 커맨드를 수취한 시험 유닛이 해당 중계 장치에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 수취하는 제2 통신부와, 제2 통신부가 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행하는 실행부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
본 발명의 제2 태양에서는, 처리 유닛과, 처리 유닛을 제어하는 제어 장치와, 제어 장치와 처리 유닛의 사이를 중계하는 중계 장치를 포함하고, 중계 장치는, 제어 장치로부터 해당 중계 장치에의 커맨드를 받아, 처리 유닛에 전송하는 제1 통신부와, 커맨드를 수취한 처리 유닛이 해당 중계 장치에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 수취하는 제2 통신부와, 제2 통신부가 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행하는 실행부를 포함하는 정보 처리 시스템을 제공한다.
또한, 상기의 발명의 개요는, 본 발명의 필요한 특징의 모두를 열거한 것이 아니고, 이러한 특징군의 서브 콤비네이션도 또한 발명이 될 수 있다.
도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 장치(10)의 구성을 나타낸다.
도 2는, 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 유닛(12) 및 중계 장치(16)의 구성을 나타낸다.
도 3은, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 기입 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 기입 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 4는, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 5는, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제1 예를 나타낸다.
도 6은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 7은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제2 예를 나타낸다.
도 2는, 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 유닛(12) 및 중계 장치(16)의 구성을 나타낸다.
도 3은, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 기입 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 기입 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 4는, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 5는, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제1 예를 나타낸다.
도 6은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다.
도 7은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제2 예를 나타낸다.
이하, 발명의 실시 형태를 통해서 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시 형태는 청구의 범위에 걸리는 발명을 한정하는 것이 아니고, 또한 실시 형태 중에서 설명되는 특징의 조합의 모두가 발명의 해결 수단에 필수라고는 할 수 없다.
도 1은, 본 실시 형태에 관한 시험 장치(10)의 구성을 나타낸다. 시험 장치(10)는, 반도체 장치 등의 피시험 디바이스를 시험한다. 시험 장치(10)는, 하나 또는 복수의 시험 유닛(12)과, 제어 장치(14)와, 중계 장치(16)를 구비한다.
각 시험 유닛(12)은, 피시험 디바이스와의 사이에 신호를 주고 받는다. 시험 유닛(12)은, 일례로서, 피시험 디바이스에 대해서 시험 패턴에 따른 파형의 시험 신호를 공급하고, 피시험 디바이스로부터의 응답 신호와 기대값 패턴에 따른 논리값과 비교해 피시험 디바이스의 양부를 판정한다.
제어 장치(14)는, 하나 또는 복수의 시험 유닛(12)의 각각에 대하여 커맨드를 주어, 각 시험 유닛(12)를 제어한다. 제어 장치(14)는, 일례로서, 프로그램을 실행함으로써 해당 제어 장치(14)로서 기능하는 컴퓨터에 의해 실현되어도 된다.
중계 장치(16)는, 제어 장치(14)와 하나 또는 복수의 시험 유닛(12)의 각각의 사이에 전송되는 커맨드 및 응답을 중계한다. 제어 장치(14)와 하나 또는 복수의 중계 장치(16)의 각각의 사이는, 일례로서, 시리얼 데이터를 전송하는 수 미터 정도의 하나 또는 복수의 전송로(22)에 의해 접속되어도 된다. 또한, 중계 장치(16)와 각 시험 유닛(12)의 사이는, 패러럴 데이터를 전송하는 테스터 버스(24)에 의해 접속되어도 된다.
도 2는, 본 실시 형태에 관한 시험 유닛(12) 및 중계 장치(16)의 구성을 나타낸다. 중계 장치(16)는, 제1 통신부(32)와, 제2 통신부(34)와, 실행부(36)와, 버스 IF부(38)를 가진다.
제1 통신부(32)는, 제어 장치(14)로부터 시험 유닛(12)으로 송신되는 커맨드를, 제어 장치(14)로부터 수취한다. 제1 통신부(32)는, 수취한 커맨드를 포함한 패킷을 생성한다. 그리고, 제1 통신부(32)는, 생성한 패킷을, 버스 IF부(38)를 통해서, 해당 패킷을 송신해야 할 시험 유닛(12)에 접속된 전송로(22)로 송신한다.
제2 통신부(34)는, 하나 또는 복수의 시험 유닛(12)의 각각으로부터 송신된 패킷을, 버스 IF부(38)를 통해서 수신한다. 제2 통신부(34)는, 패킷에 포함되는 커맨드 또는 송신한 커맨드에 대한 응답을 취출한다. 그리고, 제2 통신부(34)는, 취출한 커맨드 또는 응답을 제어 장치(14)에 보낸다.
실행부(36)는, 해당 중계 장치(16)에 대해서 주어진 커맨드를 수취하여, 해당 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행한다. 실행부(36)는, 일례로서, 타이머 동작 또는 카운터 동작을 실행한다.
예를 들면 타이머 동작을 하는 경우, 실행부(36)는, 타이머 개시 커맨드를 받으면, 시간 계측을 개시한다. 실행부(36)는, 시간 계측을 개시하고 나서, 미리 정해진 설정 시간이 경과한 후, 시간 계측을 종료한다. 실행부(36)는, 시간 계측이 종료하면, 시간 계측이 종료한 것을 나타내는 플래그 등의 정보를 레지스터에 기입하여도 되고, 타이머 개시 커맨드의 발행원에 인트럽트를 주어도 된다. 또한, 실행부(36)는, 타이머 종료 커맨드 또는 타이머 일시 정지 커맨드가 주어질 때까지, 시간 계측을 계속하여도 된다.
버스 IF부(38)는, 해당 중계 장치(16)로부터 시험 유닛(12)에 전송되는 데이터를, 해당 중계 장치(16)가 취급하는 형식(예를 들면 패러럴 데이터)으로부터, 전송로(22)의 전송 형식(예를 들면 시리얼 데이터)으로 변환한다. 또한, 버스 IF부(38)는, 시험 유닛(12)으로부터 해당 중계 장치(16)에 전송되는 데이터를, 전송로(22)의 전송 형식(예를 들면 시리얼 데이터)으로부터, 해당 중계 장치(16)가 취급하는 형식(예를 들면 패러럴 데이터)으로 변환한다.
하나 또는 복수의 시험 유닛(12)의 각각은, 기능 시험부(42)와, 직류 시험부(44)와, 버스 IF부(46)와, 송수신부(48)를 가진다. 기능 시험부(42)는, 피시험 디바이스에 대해서 기능 시험을 실행한다. 기능 시험부(42)는, 제어 장치(14)로부터 주어진 커맨드에 따라 동작한다.
직류 시험부(44)는, 피시험 디바이스에 대해서, 직류 전원 전압을 공급한다. 또한, 직류 시험부(44)는, 피시험 디바이스에 대해서 직류 시험을 실행한다. 직류 시험부(44)는, 제어 장치(14)로부터 주어진 커맨드에 따라 동작한다.
버스 IF부(46)는, 해당 시험 유닛(12)으로부터 중계 장치(16)에 전송되는 데이터를, 해당 시험 유닛(12)이 취급하는 형식(예를 들면 패러럴 데이터)으로부터, 전송로(22)의 전송 형식(예를 들면 시리얼 데이터)으로 변환한다. 또한, 버스 IF부(46)는, 중계 장치(16)로부터 해당 시험 유닛(12)에 전송되는 데이터를, 전송로(22)의 전송 형식(예를 들면 시리얼 데이터)으로부터, 해당 시험 유닛(12)이 취급하는 형식(예를 들면 패러럴 데이터)으로 변환한다.
송수신부(48)는, 제어 장치(14)로부터 해당 시험 유닛(12)으로 송신된 커맨드 또는 응답을 포함한 패킷을, 버스 IF부(46)를 통해서 중계 장치(16)로부터 수신한다. 송수신부(48)는, 패킷에 포함되는 커맨드 또는 응답을 취출한다. 그리고, 송수신부(48)는, 취출한 커맨드 또는 응답을, 기능 시험부(42) 또는 직류 시험부(44)에 보낸다.
또한, 송수신부(48)는, 기능 시험부(42) 및 직류 시험부(44)로부터 제어 장치(14)로 송신해야 할 커맨드 또는 응답을 받는다. 송수신부(48)는, 수취한 커맨드 또는 응답을 포함한 패킷을 생성한다. 그리고, 송수신부(48)는, 생성한 패킷을, 버스 IF부(46)를 통해서 중계 장치(16)로 송신한다.
이러한 구성의 중계 장치(16) 및 시험 유닛(12)은, 제어 장치(14)로부터, 실행부(36)에 처리를 실행시키는 커맨드(예를 들면 타이머 개시 커맨드 또는 카운터 개시 커맨드)를 받은 경우, 다음과 같이 동작한다. 우선, 중계 장치(16)의 제1 통신부(32)는, 제어 장치(14)로부터 해당 중계 장치(16)에의 커맨드를 받는다.
계속하여, 제1 통신부(32)는, 제어 장치(14)로부터 해당 중계 장치(16)에의 커맨드를 받으면, 해당 커맨드를 포함한 패킷을 생성하여 시험 유닛(12)에 전송한다. 이 경우에 있어서, 제1 통신부(32)는, 하나의 시험 유닛(12)에 해당 커맨드를 포함한 패킷을 전송하여도 되고, 해당 중계 장치(16)에 접속된 복수의 시험 유닛(12)의 각각에 대하여 해당 커맨드를 포함한 패킷을 전송하여도 된다.
계속하여, 시험 유닛(12)의 송수신부(48)는, 중계 장치(16)로부터 커맨드를 받으면, 수취한 커맨드를 중계 장치(16)에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 생성한다. 그리고, 송수신부(48)는, 반환 커맨드를 포함한 패킷을 생성해 중계 장치(16)에 반송한다.
계속하여, 중계 장치(16)의 제2 통신부(34)는, 반환 커맨드를 포함한 패킷을 수취하면, 수취한 패킷에 포함되는 반환 커맨드를 실행부(36)에게 준다. 실행부(36)는, 제2 통신부(34)가 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리(예를 들면, 타이머 동작 또는 카운터 동작)를 실행한다. 또한, 실행부(36)는, 제1 통신부(32)가 복수의 시험 유닛(12)에 커맨드를 보낸 경우에는, 복수의 시험 유닛(12)의 모두로부터 반환 커맨드를 받은 것에 따라, 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행하여도 된다.
이와 같이 중계 장치(16)는, 제어 장치(14)로부터 내부에 가지는 실행부(36)에의 실행 개시를 지시하는 커맨드를 받았을 경우, 해당 커맨드를 일단 시험 유닛(12)에 전송하여 반환을 받고 나서, 실행부(36)의 실행을 개시시킨다. 이에 의해, 시험 장치(10)에 의하면, 제어 장치(14)로부터 시험 유닛(12)에의 커맨드 전파 시간이 제어 장치(14)로부터 실행부(36)에의 커맨드 전파 시간과 비교하여 긴 경우이어도, 시험 유닛(12) 및 실행부(36)에 의한 커맨드의 실행 순서를, 제어 장치(14)에 의한 커맨드의 발행 순서와 정합시킬 수 있다.
또한, 제어 장치(14)는, 중계 장치(16)의 내부에 가지는 실행부(36)에의 실행 개시를 지시하는 커맨드로서, 기입 커맨드를 발행하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 제어 장치(14)는, 커맨드를 발행한 후에, 다음의 커맨드의 발행 및 다른 처리의 실행을 수행할 수 있으므로, 불필요하게 긴 대기 시간을 소비하지 않고, 중계 장치(16)를 동작시킬 수 있다.
또한, 이러한 구성의 중계 장치(16)는, 제어 장치(14)로부터, 실행부(36)에 의한 처리의 실행 결과를 독출하는 독출 커맨드(예를 들면, 타이머 독출 커맨드 또는 카운터 독출 커맨드)를 받았을 경우, 다음과 같이 동작한다. 우선, 중계 장치(16)의 제1 통신부(32)는, 제어 장치(14)로부터, 실행부(36)의 실행 결과를 독출하는 독출 커맨드를 수취한다.
계속하여, 실행부(36)는, 제1 통신부(32)가 독출 커맨드를 수취한 것에 따라, 실행 결과를, 제2 통신부(34)를 통해서 제어 장치(14)에 답신한다. 또한, 중계 장치(16)는, 실행 결과를 독출하는 독출 커맨드에 대신하여, 실행부(36)에 값을 설정하는 설정 커맨드, 및 실행부(36)의 처리를 일시 정지시키는 일시 정지 커맨드를 받은 경우도, 마찬가지로 처리를 실행해도 된다.
이와 같이 중계 장치(16)는, 제어 장치(14)로부터 내부에 가지는 실행부(36)에의 독출 커맨드를 받은 경우, 해당 독출 커맨드에 대한 응답을, 시험 유닛(12)에 전송하지 않고 제어 장치(14)에 답신한다. 이에 의해, 시험 장치(10)에 의하면, 독출 커맨드에 대한 응답을, 단시간에 제어 장치(14)에 답장할 수 있다.
도 3은, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 기입 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 기입 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다. 또한, 도 3은, 종축이 시각을 나타내고, 횡축이 각 시각에 있어서의 커맨드의 전파 위치를 나타낸다. 또한, 도 3 이후의 도면에서도 마찬가지이다.
도 3에서, 선두에 "swt"라고 기술된 커맨드는, 기억 장치의 지정된 어드레스에 데이터를 기입하는 기입 커맨드를 나타낸다. 또한, 기입 커맨드에서, "swt"에 계속되는, "TH1, PG"는, 데이터를 기입하는 장소를 지정하는 어드레스를 나타낸다. 또한, 기입 커맨드에 있어서, 어드레스("TH1 PG")에 계속되는 "DATA"는, 기입해야 할 데이터를 나타낸다. 또한, 도 3 이후의 도면에서도 마찬가지이다.
도 3에 나타나는 기입 커맨드는, 제어 장치(14)에 의해 발행된다. 제어 장치(14)에 의해 발행된 기입 커맨드는, 제어 장치(14) → 중계 장치(16) → 시험 유닛(12)의 송수신부(48) → 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42)로 순차적으로 전송된다. 그리고, 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42)는, 기입 커맨드를 수취하면, 해당 기입 커맨드에 포함되는 데이터를, 지정된 어드레스에 기입한다.
또한, 제어 장치(14)는, 기입 커맨드를 발행하면, 해당 기입 커맨드를 발행 후, 곧바로 다음의 처리를 실행할 수 있다. 따라서, 도 3의 예에서는, 제어 장치(14)는, 시각 2 이후에서, 다른 처리를 실행할 수 있다.
도 4는, 제어 장치(14)가 시험 유닛(12)에 대해서 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다. 도 4에서, 선두에 "srd"라고 기술된 커맨드는, 기억 장치의 지정된 어드레스로부터 데이터를 독출하는 독출 커맨드를 나타낸다. 또한, 독출 커맨드에서, "srd"에 계속되는, "TH1 PG"는, 데이터를 독출하는 장소를 지정하는 어드레스를 나타낸다. 또한, 도 4에서, "srd TH1, PG"에 이어 "DATA"가 포함된 커맨드는, 독출 커맨드에 대응하는 응답을 나타낸다. 이 경우에 있어서 "DATA"는, 독출 커맨드에 따라 독출된 데이터를 나타낸다. 또한, 도 4 이후의 도면에서도 마찬가지이다.
도 4에 나타나는 독출 커맨드는, 제어 장치(14)에 의해 발행된다. 제어 장치(14)에 의해 발행된 독출 커맨드는, 제어 장치(14) → 중계 장치(16) → 시험 유닛(12)의 송수신부(48) → 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42)로 순차적으로 전송된다. 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42)는, 독출 커맨드를 받으면, 해당 독출 커맨드에 의해 나타난 어드레스로부터 데이터를 독출하여, 독출된 데이터를 포함한 응답을 발행한다. 그리고, 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42)에 의해 발행된 응답은, 시험 유닛(12)의 기능 시험부(42) → 시험 유닛(12)의 송수신부(48) → 중계 장치(16) → 제어 장치(14)로 순차적으로 전송된다.
또한, 제어 장치(14)는, 독출 커맨드를 발행하면, 응답을 수취할 때까지, 다음의 처리를 실행할 수 없다. 따라서, 본 예에서는, 제어 장치(14)는, 시각 2로부터 시각 13까지는 처리를 실행할 수 없다.
도 5는, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제1 예를 나타낸다. 도 5에서, "swt Timer Start"라고 기술된 커맨드는, 중계 장치(16) 내의 실행부(36)에 타이머 동작을 개시시키는 기입 커맨드를 나타낸다. 또한, 도 7에서도 마찬가지이다.
도 5에 나타나는 타이머 개시 커맨드는, 제어 장치(14)에 의해 발행된다. 제어 장치(14)에 의해 발행된 타이머 개시 커맨드는, 제어 장치(14)로부터 중계 장치(16)에 전송된다. 중계 장치(16)는, 타이머 개시 커맨드를 받으면, 해당 타이머 개시 커맨드를 시험 유닛(12)에 전송한다.
시험 유닛(12)의 송수신부(48)는, 중계 장치(16)로부터 타이머 개시 커맨드를 받으면, 수취한 커맨드를, 반환 커맨드로서 중계 장치(16)에 반송한다. 그리고, 중계 장치(16) 내의 실행부(36)는, 시험 유닛(12)으로부터 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 타이머 동작을 개시한다.
이러한 시험 장치(10)는, 타이머 개시 커맨드보다 전에 발행된 커맨드가 시험 유닛(12)에 도착하기 전에, 해당 타이머 개시 커맨드가 중계 장치(16) 내의 실행부(36)에 도착하지 않는다. 이에 의해, 시험 장치(10)에 의하면, 시험 유닛(12) 및 실행부(36)에 의한 커맨드의 실행 순서를, 제어 장치(14)에 의한 커맨드의 발행 순서와 정합시킬 수 있다.
또한, 제어 장치(14)는, 기입 커맨드인 타이머 개시 커맨드를 발행한다. 따라서, 제어 장치(14)는, 타이머 개시 커맨드를 발행한 후에, 곧바로 다음의 처리를 실행할 수 있다. 따라서, 시험 장치(10)에 의하면, 제어 장치(14)가 불필요하게 긴 대기 시간을 소비하지 않고, 타이머 동작을 개시시킬 수 있다. 또한, 시험 장치(10)는, 타이머 동작 이외의 동작(예를 들면 카운터 동작)을 중계 장치(16)의 실행부(36)에 의해 개시시키는 경우도, 타이머 개시 커맨드와 마찬가지로 커맨드를 전송한다.
도 6은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 독출 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 독출 커맨드의 전파의 일례를 나타낸다. 도 6에 있어서, "srd Timer Read"라고 기술된 커맨드는, 중계 장치(16) 내의 실행부(36)의 시간 계측 결과를 독출하는 타이머 독출 커맨드를 나타낸다.
도 6에 나타나는 타이머 독출 커맨드는, 제어 장치(14)에 의해 발행된다. 제어 장치(14)에 의해 발행된 타이머 독출 커맨드는, 제어 장치(14)로부터 중계 장치(16)에 송신된다. 중계 장치(16)는, 타이머 독출 커맨드를 받으면, 현시점의 타이머의 시간 계측 결과를 독출하여, 독출한 데이터를 포함한 응답을 발행한다. 그리고, 중계 장치(16)에 의해 발행된 응답은, 제어 장치(14)에 송신된다.
이와 같이 중계 장치(16)는, 제어 장치(14)가 타이머에 의한 시간 계측 결과를 독출하는 경우에는, 시험 유닛(12)에 커맨드를 전송하지 않고 직접 응답한다. 이에 의해, 제어 장치(14)는, 타이머의 시간 계측 결과를 단시간에 독출할 수 있다. 또한, 제어 장치(14)는, 타이머의 초기값을 설정하는 경우, 타이머 동작을 정지하는 경우, 및 타이머 동작을 일차 정지하는 경우 등도, 타이머 독출 커맨드와 마찬가지의 독출 커맨드를 발행하여도 된다.
도 7은, 제어 장치(14)가 중계 장치(16)에 대해서 타이머 개시 커맨드를 발행한 경우에 있어서의, 해당 타이머 개시 커맨드의 전파의 제2 예를 나타낸다. 시험 장치(10)가 복수의 시험 유닛(12)을 구비하는 경우, 제어 장치(14)에 의해 발행된 타이머 개시 커맨드는, 도 5와 같이 전파되는 것에 대신하여, 도 7에 도시된 바와 같이 전파되어도 된다.
즉, 중계 장치(16)는, 제어 장치(14)로부터 타이머 개시 커맨드를 받으면, 해당 타이머 개시 커맨드를 복수의 시험 유닛(12)의 각각에 대하여 전송한다. 복수의 시험 유닛(12)의 각각의 송수신부(48)는, 중계 장치(16)로부터 타이머 개시 커맨드를 받으면, 수취한 커맨드를, 반환 커맨드로서 중계 장치(16)에 반송한다.
그리고, 중계 장치(16) 내의 실행부(36)는, 복수의 시험 유닛(12)의 모두로부터 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 타이머 동작을 개시한다. 이러한 시험 장치(10)는, 중계 장치(16)로부터 복수의 시험 유닛(12)의 각각에의 커맨드 전파 시간이 서로 다른 경우이어도, 복수의 시험 유닛(12) 및 실행부(36)에 의한 커맨드의 실행 순서를, 제어 장치(14)에 의한 커맨드의 발행 순서와 정합시킬 수 있다.
이상, 본 발명을 실시의 형태를 이용해 설명했지만, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시 형태에 기재된 범위에는 한정되지 않는다. 상기 실시 형태에, 다양한 변경 또는 개량을 더하는 것이 가능하다라고 하는 것이 당업자에게 분명하다. 그와 같은 변경 또는 개량을 더한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있는 것이, 청구의 범위의 기재로부터 분명하다.
예를 들면, 시험 장치(10)에 한정되지 않는 일반적인 정보 처리 시스템에, 상기 실시의 형태를 통해서 설명한 기술을 적용할 수도 있다. 예를 들면, 정보를 처리하는 하나 또는 처리 유닛과, 처리 유닛을 제어하는 제어 장치와, 제어 장치와 처리 유닛의 사이를 중계하는 중계 장치를 구비한 정보 처리 시스템에 상기의 실시 형태를 통해서 설명한 기술을 적용할 수 있다. 이 경우, 정보 처리 시스템의 처리 유닛이, 상기의 실시 형태의 시험 유닛(12)과 같은 기능 및 구성을 가지고, 정보 처리 시스템의 제어 장치가, 상기의 실시 형태의 제어 장치(14)와 같은 기능 및 구성을 가지고, 정보 처리 시스템의 중계 장치가, 상기의 실시 형태의 중계 장치(16)와 같은 기능 및 구성을 가진다.
Claims (6)
- 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서,
상기 피시험 디바이스와의 사이에 신호를 주고 받는 시험 유닛;
상기 시험 유닛을 제어하는 제어 장치; 및
상기 제어 장치와 상기 시험 유닛의 사이를 중계하고, 상기 제어 장치에 의해 지정된 처리를 실행하는 실행부를 포함하는 중계 장치
를 포함하고,
상기 제어 장치는, 상기 실행부가 실행해야 할 상기 처리를 지정한 커맨드를 상기 중계 장치에 송신하고,
상기 중계 장치는,
상기 제어 장치로부터 해당 중계 장치에의 상기 커맨드를 받아, 상기 시험 유닛에 전송하는 제1 통신부; 및
상기 커맨드를 수취한 상기 시험 유닛이 상기 커맨드를 해당 중계 장치에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 수취하는 제2 통신부
를 포함하고,
상기 실행부는, 상기 제2 통신부가 상기 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 상기 반환 커맨드에 의해 지정되는 상기 처리를 실행하는,
시험 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 실행부는, 상기 반환 커맨드를 받은 것에 따라, 타이머 동작 또는 카운터 동작을 개시하는,
시험 장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,
복수의 상기 시험 유닛을 포함하고,
상기 중계 장치는, 상기 제어 장치와 상기 복수의 시험 유닛의 각각의 사이를 중계하고,
상기 제1 통신부는, 상기 복수의 시험 유닛의 각각에 대하여, 상기 커맨드를 전송하고,
상기 실행부는, 상기 복수의 시험 유닛의 모두로부터 상기 반환 커맨드를 받은 것에 따라, 상기 반환 커맨드에 의해 지정되는 처리를 실행하는,
시험 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 제어 장치는, 상기 중계 장치에 기입 커맨드를 발행하고,
상기 중계 장치의 상기 제1 통신부는, 상기 제어 장치에 의해 발행된 상기 기입 커맨드를, 상기 시험 유닛에 전송하고,
상기 시험 유닛은, 상기 중계 장치로부터 상기 기입 커맨드를 받으면, 수취한 상기 기입 커맨드를 상기 반환 커맨드로서 상기 중계 장치에 반송하고,
상기 중계 장치의 상기 실행부는, 상기 시험 유닛로부터 상기 반환 커맨드를 수취한 것에 따라 처리를 실행하는,
시험 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 통신부는, 상기 제어 장치로부터, 상기 실행부의 실행 결과를 독출하는 독출 커맨드를 수취하고,
상기 실행부는, 상기 제1 통신부가 상기 독출 커맨드를 수취한 것에 따라, 실행 결과를 상기 제어 장치에 답신하는,
시험 장치.
- 처리 유닛;
상기 처리 유닛을 제어하는 제어 장치; 및
상기 제어 장치와 상기 처리 유닛의 사이를 중계하고, 상기 제어 장치에 의해 지정된 처리를 실행하는 실행부를 포함하는 중계 장치
를 포함하고,
상기 제어 장치는, 상기 실행부가 실행해야 할 상기 처리를 지정한 커맨드를 상기 중계 장치에 송신하고,
상기 중계 장치는,
상기 제어 장치로부터 해당 중계 장치에의 상기 커맨드를 받아, 상기 처리 유닛에 전송하는 제1 통신부; 및
상기 커맨드를 수취한 상기 처리 유닛이 상기 커맨드를 해당 중계 장치에 되돌려 반송하는 반환 커맨드를 수취하는 제2 통신부
를 포함하고,
상기 실행부는, 상기 제2 통신부가 상기 반환 커맨드를 수취한 것에 따라, 상기 반환 커맨드에 의해 지정되는 상기 처리를 실행하는,
정보 처리 시스템.
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10288685B2 (en) * | 2014-04-30 | 2019-05-14 | Keysight Technologies, Inc. | Multi-bank digital stimulus response in a single field programmable gate array |
TWI615619B (zh) * | 2016-06-24 | 2018-02-21 | 致伸科技股份有限公司 | 與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統 |
TWI653519B (zh) * | 2017-05-03 | 2019-03-11 | 和碩聯合科技股份有限公司 | 配置單元、檢測系統及檢測方法 |
CN114968365B (zh) * | 2022-07-27 | 2022-10-28 | 广州智慧城市发展研究院 | 适配器寄存器单元及包含其的主机适配器电路 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63213018A (ja) | 1987-02-28 | 1988-09-05 | Ricoh Co Ltd | 外部記憶制御装置 |
JPH0581165A (ja) * | 1991-09-19 | 1993-04-02 | Fujitsu Ltd | データ転送回路 |
KR20060057600A (ko) * | 2003-08-06 | 2006-05-26 | 주식회사 아도반테스토 | 시험 장치, 보정치 관리 방법, 및 프로그램 |
KR20070121020A (ko) * | 2005-03-30 | 2007-12-26 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 진단 프로그램, 교체 프로그램, 시험 장치, 및 진단 방법 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5460537A (en) * | 1977-10-24 | 1979-05-16 | Nec Corp | Interruption control unit |
JPS5556259A (en) * | 1978-10-19 | 1980-04-24 | Nec Corp | Interruption circuit |
US4949333A (en) * | 1987-04-02 | 1990-08-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Enhanced universal asynchronous receiver-transmitter |
JPH06295268A (ja) * | 1993-04-07 | 1994-10-21 | Fujitsu Ltd | バスインタフェース回路 |
US5875293A (en) * | 1995-08-08 | 1999-02-23 | Dell Usa, L.P. | System level functional testing through one or more I/O ports of an assembled computer system |
US5894484A (en) * | 1997-04-28 | 1999-04-13 | Credence Systems Corporation | Integrated circuit tester with distributed instruction processing |
KR100295559B1 (ko) * | 1998-05-14 | 2001-07-12 | 박종섭 | 램버스디램의번인테스트보드 |
US6263395B1 (en) * | 1999-01-06 | 2001-07-17 | Compaq Computer Corp. | System and method for serial interrupt scanning |
US6499121B1 (en) * | 1999-03-01 | 2002-12-24 | Formfactor, Inc. | Distributed interface for parallel testing of multiple devices using a single tester channel |
US6467007B1 (en) * | 1999-05-19 | 2002-10-15 | International Business Machines Corporation | Processor reset generated via memory access interrupt |
JP2002071762A (ja) * | 2000-06-13 | 2002-03-12 | Advantest Corp | 半導体試験装置及びそのモニタ装置 |
WO2002056541A2 (en) * | 2000-10-27 | 2002-07-18 | Tekelec Us | Methods and systems for testing comminications network components |
US6862703B2 (en) * | 2001-08-13 | 2005-03-01 | Credence Systems Corporation | Apparatus for testing memories with redundant storage elements |
US7035755B2 (en) * | 2001-08-17 | 2006-04-25 | Credence Systems Corporation | Circuit testing with ring-connected test instrument modules |
AU2003274999A1 (en) * | 2002-10-15 | 2004-05-04 | Socket Communications, Inc | Software compatible parallel interface with bidirectional handshaking for serial peripherals |
US7340364B1 (en) * | 2003-02-26 | 2008-03-04 | Advantest Corporation | Test apparatus, and control method |
JP4124345B2 (ja) * | 2003-05-30 | 2008-07-23 | シャープ株式会社 | 試験装置 |
JP2006119802A (ja) * | 2004-10-20 | 2006-05-11 | Hitachi Ltd | マルチプロセッサシステム |
US7454681B2 (en) * | 2004-11-22 | 2008-11-18 | Teradyne, Inc. | Automatic test system with synchronized instruments |
KR100735920B1 (ko) * | 2005-12-28 | 2007-07-06 | 삼성전자주식회사 | 디바이스 테스트 장치 및 방법과, 그 인터페이스 장치 |
US7650555B2 (en) * | 2006-07-27 | 2010-01-19 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for characterizing components of a device under test using on-chip trace logic analyzer |
WO2008044421A1 (fr) * | 2006-10-12 | 2008-04-17 | Advantest Corporation | Testeur et procédé de commande |
US7502708B2 (en) * | 2006-10-12 | 2009-03-10 | Advantest Corporation | Test apparatus, and control method |
US20090063085A1 (en) * | 2007-09-05 | 2009-03-05 | Teradyne,Inc. | Pmu testing via a pe stage |
-
2008
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2010
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- 2010-11-12 US US12/945,736 patent/US8942946B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63213018A (ja) | 1987-02-28 | 1988-09-05 | Ricoh Co Ltd | 外部記憶制御装置 |
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