TWI615619B - 與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統 - Google Patents

與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統 Download PDF

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Abstract

本發明係提供一種與受測物通訊之方法以及一種應用上述方法的系統。與受測物通訊之方法包括:透過系統的處理單元提供命令訊號予受測物,並等待接收受測物於接收到命令訊號後所輸出的回應訊號,若處理單元於一預設等待時間長度內未接收到受測物所輸出的回應訊號時,再次提供命令訊號予受測物,並調整預設等待時間長度;其中,調整後的預設等待時間長度係與提供命令訊號予受測物的提供次數呈一指數關係。

Description

與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統
本發明係涉及通訊的領域,尤其係關於一種與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統。
於現今電子產品製造業或是電子組裝廠的生產線上,測試工程佔有了極為重要的角色,目的是為了確保每一產品或是其中任一組裝元件都能具備應有的品質標準與可靠度;其中,不同的產品或是不同的組裝元件分別具有屬於其各自的測試流程以及測試方法,且該測試流程與該測試方法會被撰寫成一檢測程式,以供生產線上的測試工程師或測試人員進行測試工作。
請參閱圖1,其為習知生產線上之測試系統的方塊示意圖。電子計算機1係電性連接於受測物3,且檢測程式11設置於電子計算機1中;當測試工作開始進行時,檢測程式11會輸出一命令訊號S1至受測物3,而受測物3再相對應地輸出一回應訊號S2至檢測程式11,因此檢測程式11可依據該回應訊號S2而判斷受測物3是否符合品質標準或獲得受測物3的相關資訊。
其中,當檢測程式11會輸出命令訊號S1至受測物3後,檢測程式11即開始等待接收受測物3於接收到命令訊號S1 後所輸出的回應訊號S2,倘若經過預設等待時間長度後未接收到受測物3所輸出的回應訊號S2,則檢測程式11會進行重新測試,也就是再度地輸出命令訊號S1至受測物3並等待受測物3回應;一般來說,當檢測程式11輸出命令訊號S1予受測物3的輸出次數達到預設次數但在該次的預設等待時間長度內仍未接收到受測物3所輸出的回應訊號S2時,檢測程式11則判斷檢測失敗。
特別說明的是,習知測試系統的測試方法中,檢測程式11在每一次測試時的預設等待時間長度皆相同,也就是檢測程式11每一次輸出命令訊號S1至受測物3後等待受測物3回應的預設等待時間長度皆不變。然而,檢測程式11輸出命令訊號S1予受測物3後,在預設等待時間長度內未收到來自受測物3的回應訊號S2,有可能是因為預設等待時間長度不夠所造成,並非是受測物3無回應或是不符合品質標準,故在這樣的前提下,若預設等待時間長度皆不改變,則每一次的測試仍然會產生未收到來自受測物3之回應訊號S2的結果,導致最後判斷檢測失敗。
基於上述的說明,習知測試系統及其測試方法具有重測率高、檢測失敗率高且測試時間長的缺陷,故具有改善的空間。
本發明之第一目的在提供一種與受測物通訊之方法,其預設等待時間長度係隨著提供命令訊號予受測物的提供次數而指數性改變,藉以降低重新通訊的機率與通訊失敗率,並縮短通訊時間。
本發明之第二目的在提供一種應用上述方法之與受測物通訊之系統。
於一較佳實施例中,本發明提供一種與受測物通訊之方法,包括: 提供一命令訊號予一受測物,並等待接收該受測物於接收到該命令訊號後所輸出之一回應訊號;以及於一預設等待時間長度內未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,再次提供該命令訊號予該受測物,並調整該預設等待時間長度;其中,該預設等待時間長度係與提供該命令訊號予該受測物的一提供次數呈一指數關係。
於一較佳實施例中,本發明提供一種與受測物通訊之系統,包括一處理單元,且該處理單元係用以提供一命令訊號予一受測物,並接收該受測物於接收到該命令訊號後所輸出之一回應訊號;其中,該處理單元係於一預設等待時間長度內未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,再次提供該命令訊號予該受測物,並調整該預設等待時間長度,且該預設等待時間長度係與提供該命令訊號予該受測物的一提供次數呈一指數關係。
1‧‧‧電子計算機
3‧‧‧受測物
4‧‧‧與受測物通訊之系統
5‧‧‧受測物
11‧‧‧檢測程式
S1‧‧‧命令訊號
S2‧‧‧回應訊號
S3‧‧‧命令訊號
S4‧‧‧回應訊號
P1‧‧‧步驟
P2‧‧‧步驟
圖1:係為習知生產線上之測試系統的方塊示意圖。
圖2:係為本發明與受測物通訊之系統於一較佳實施例的方塊示意圖。
圖3:係為本發明與受測物通訊之方法於一較佳實施例之方塊流程圖。
請參閱圖2,其為本發明與受測物通訊之系統於一較佳實施例的方塊示意圖。與受測物通訊之系統4係電性連接於受測物5,並包括具有運算能力的處理單元41,處理單元41係用以提供命令訊號S3予受測物5,並接收受測物5於接收到命令訊號S3後所輸出的回應訊號S4。於本較佳實施例中,與受測物通訊之 系統4係應用在電子產品製造業或是電子組裝廠的生產線上,並依據來自受測物5的回應訊號S4而獲得受測物5的資訊或判斷受測物5是否符合品質標準。惟,與受測物通訊之系統4的應用並不以上述為限。
請參閱圖3,其為本發明與受測物通訊之方法於一較佳實施例之方塊流程圖。與受測物通訊之方法包括:步驟P1,提供命令訊號S3予受測物5,並等待接收受測物5於接收到命令訊號S3後所輸出的回應訊號S4;以及步驟P2,於一預設等待時間長度內未接收到受測物5所輸出之的回應訊號S4時,再次提供命令訊號S3予受測物5,並調整預設等待時間長度;其中,預設等待時間長度係與提供命令訊號S3予受測物5的提供次數呈指數關係。
於本較佳實施例中,步驟P2中所述之指數關係滿足下列關係式:Tn=An-1.T1;其中,A為一底數,n為提供命令訊號S3予受測物5的提供次數,T1為第1次提供命令訊號S3予受測物5後的預設等待時間長度,Tn為第n次提供命令訊號S3予受測物5後的預設等待時間長度。惟,步驟P2中所述之指數關係並不以上述為限。
較佳者,但不以此為限,當處理單元41提供命令訊號S3予受測物5的提供次數達到一預設次數但在相對應的預設等待時間長度內仍未接收到受測物5所輸出的回應訊號S4時,處理單元41即判斷其與受測物5的通訊失敗。
接下來以圖3所示方法應用於圖2所示之系統作進一步說明。當與受測物通訊之系統4欲測試受測物5是否符合品質標準或獲得受測物5的資訊(如受測物5中之韌體的版本、製造日期等)時,受測物5即開始與受測物5進行通訊。首先,與受測物通訊之系統4的處理單元41會輸出(第1次輸出)命令訊號S3 予受測物5,並開始等待接收受測物5於接收到命令訊號S3後所輸出的回應訊號S4。
接著,倘若處理單元41在預設等待時間長度T1內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41可依據所接收之回應訊號S4而判斷受測物5是否符合品質標準或獲得受測物5的資訊;而倘若處理單元41未在預設等待時間長度T1內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41會進行重新測試,也就是處理單元41再度地輸出(第2次輸出,即n=2)命令訊號S3予受測物5並等待受測物5回應,同時亦將預設等待時間長度T1調整為預設等待時間長度T2。於本較佳實施例中,上述關係式中的底數A等於2,因此預設等待時間長度T2為21倍(兩倍)的預設等待時間長度T1
同樣地,倘若處理單元41在預設等待時間長度T2內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41可依據所接收之回應訊號S4而判斷受測物5是否符合品質標準或獲得受測物5的資訊;而倘若處理單元41未在預設等待時間長度T2內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41再次進行重新測試,也就是處理單元41再度地輸出(第3次輸出,即n=3)命令訊號S3予受測物5並等待受測物5回應,同時亦將預設等待時間長度T2調整為預設等待時間長度T3。由於上述關係式中的底數A等於2,因此預設等待時間長度T3為22倍(四倍)的預設等待時間長度T1,也就是兩倍的預設等待時間長度T2
以此類推,當處理單元41第n-1次輸出命令訊號S3予受測物5後,倘若處理單元41在預設等待時間長度Tn-1內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41可依據所接收之回應訊號S4而判斷受測物5是否符合品質標準或獲得受測物5的資訊;而倘若處理單元41未在預設等待時間長度Tn-1內接收到來自受測物5的回應訊號S4,則處理單元41再次進行重新測試,也就是處理單元41再度地輸出(第n次輸出)命令訊號S3予受測物5 並等待受測物5回應,同時亦將預設等待時間長度Tn-1調整為預設等待時間長度Tn。由於上述關係式中的底數A等於2,因此預設等待時間長度Tn為2n-1倍的預設等待時間長度T1,也就是兩倍的預設等待時間長度Tn-1
根據以上的說明可知,本案與受測物通訊之方法以及與受測物通訊之系統在每一次提供命令訊號予受測物時的預設等待時間長度皆不同,當提供命令訊號予受測物的提供次數越多,相對應的預設等待時間長度則隨著指數關係增加,如此一來可有效避免習知因固定的預設等待時間長度太短而無法滿足系統提供命令訊號至受測物並接收到受測物所輸出之回應訊號之整個過程所需的時間長度,導致最後誤判通訊失敗。是以,本案可降低重新通訊的機率與通訊失敗率,並縮短通訊時間,故極具產業利用價值。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,並非用以限定本發明之申請專利範圍,因此凡其它未脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾,均應包含於本案之申請專利範圍內。
P1‧‧‧步驟
P2‧‧‧步驟

Claims (8)

  1. 一種與受測物通訊之方法,包括:提供一命令訊號予一受測物,並等待接收該受測物於接收到該命令訊號後所輸出之一回應訊號;以及於一預設等待時間長度內未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,再次提供該命令訊號予該受測物,並調整該預設等待時間長度;其中,該預設等待時間長度係與提供該命令訊號予該受測物的一提供次數呈一指數關係;其中該指數關係滿足下列關係式:Tn=An-1.T1;其中,A為一底數,n為提供該命令訊號予該受測物的該提供次數,T1為第1次提供該命令訊號予該受測物後之該預設等待時間長度,Tn為第n次提供該命令訊號予該受測物後之該預設等待時間長度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之與受測物通訊之方法,其中該底數A等於2。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之與受測物通訊之方法,其中於提供該命令訊號予該受測物的該提供次數達到一預設次數且在相對應之該預設等待時間長度內仍未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,判斷通訊失敗。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之與受測物通訊之方法,係用以獲得該受測物之一資訊或測試該受測物是否符合一品質標準。
  5. 一種與受測物通訊之系統,包括一處理單元,且該處理單元係用以提供一命令訊號予一受測物,並接收該受測物於接收到該命 令訊號後所輸出之一回應訊號;其中,該處理單元係於一預設等待時間長度內未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,再次提供該命令訊號予該受測物,並調整該預設等待時間長度,且該預設等待時間長度係與提供該命令訊號予該受測物的一提供次數呈一指數關係;其中該指數關係滿足下列關係式:Tn=An-1.T1;其中,A為一底數,n為該處理單元提供該命令訊號予該受測物的該提供次數,T1為該處理單元第1次提供該命令訊號予該受測物後之該預設等待時間長度,Tn為該處理單元第n次提供該命令訊號予該受測物後之該預設等待時間長度。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之與受測物通訊之系統,其中該底數A等於2。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之與受測物通訊之系統,其中於該處理單元提供該命令訊號予該受測物的該提供次數達到一預設次數且在相對應之該預設等待時間長度內仍未接收到該受測物所輸出之該回應訊號時,該處理單元判斷通訊失敗。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之與受測物通訊之系統,係用以獲得該受測物之一資訊或測試該受測物是否符合一品質標準。
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