CN107544877B - 与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 - Google Patents
与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107544877B CN107544877B CN201610494700.XA CN201610494700A CN107544877B CN 107544877 B CN107544877 B CN 107544877B CN 201610494700 A CN201610494700 A CN 201610494700A CN 107544877 B CN107544877 B CN 107544877B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- command signal
- tested object
- waiting time
- tested
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明是提供一种与受测物通信的方法以及一种应用上述方法的系统。与受测物通信的方法包括:通过系统的处理单元提供命令信号给受测物,并等待接收受测物于接收到命令信号后所输出的回应信号,若处理单元于一预设等待时间长度内未接收到受测物所输出的回应信号时,再次提供命令信号给受测物,并调整预设等待时间长度;其中,调整后的预设等待时间长度是与提供命令信号给受测物的提供次数呈一指数关系。本发明可降低重新通信的几率与通信失败率,并缩短通信时间。
Description
技术领域
本发明是涉及通信的领域,尤其涉及一种与受测物通信的方法以及应用该方法的系统。
背景技术
于现今电子产品制造业或是电子组装厂的生产线上,测试工程占有了极为重要的角色,目的是为了确保每一产品或是其中任一组装元件都能具备应有的品质标准与可靠度;其中,不同的产品或是不同的组装元件分别具有属于其各自的测试流程以及测试方法,且该测试流程与该测试方法会被撰写成一检测程序,以供生产线上的测试工程师或测试人员进行测试工作。
请参阅图1,其为现有生产线上的测试系统的方块示意图。电子计算机1是电性连接于受测物3,且检测程序11设置于电子计算机1中;当测试工作开始进行时,检测程序11会输出一命令信号S1至受测物3,而受测物3再相对应地输出一回应信号S2至检测程序11,因此检测程序11可依据该回应信号S2而判断受测物3是否符合品质标准或获得受测物3的相关信息。
其中,当检测程序11会输出命令信号S1至受测物3后,检测程序11即开始等待接收受测物3于接收到命令信号S1后所输出的回应信号S2,倘若经过预设等待时间长度后未接收到受测物3所输出的回应信号S2,则检测程序11会进行重新测试,也就是再度地输出命令信号S1至受测物3并等待受测物3回应;一般来说,当检测程序11输出命令信号S1给受测物3的输出次数达到预设次数但在该次的预设等待时间长度内仍未接收到受测物3所输出的回应信号S2时,检测程序11则判断检测失败。
特别说明的是,现有测试系统的测试方法中,检测程序11在每一次测试时的预设等待时间长度皆相同,也就是检测程序11每一次输出命令信号S1至受测物3后等待受测物3回应的预设等待时间长度皆不变。然而,检测程序11输出命令信号S1给受测物3后,在预设等待时间长度内未收到来自受测物3的回应信号S2,有可能是因为预设等待时间长度不够所造成,并非是受测物3无回应或是不符合品质标准,故在这样的前提下,若预设等待时间长度皆不改变,则每一次的测试仍然会产生未收到来自受测物3的回应信号S2的结果,导致最后判断检测失败。
基于上述的说明,现有测试系统及其测试方法具有重测率高、检测失败率高且测试时间长的缺陷,故具有改善的空间。
发明内容
本发明的第一目的在提供一种与受测物通信的方法,其预设等待时间长度是随着提供命令信号给受测物的提供次数而指数性改变,藉以降低重新通信的几率与通信失败率,并缩短通信时间。
本发明的第二目的在提供一种应用上述方法的与受测物通信的系统。
于一较佳实施例中,本发明提供一种与受测物通信的方法,包括:
提供一命令信号给一受测物,并等待接收该受测物于接收到该命令信号后所输出的一回应信号;以及
于一预设等待时间长度内未接收到该受测物所输出的该回应信号时,再次提供该命令信号给该受测物,并调整该预设等待时间长度;其中,该预设等待时间长度是与提供该命令信号给该受测物的一提供次数呈一指数关系。
于一较佳实施例中,本发明提供一种与受测物通信的系统,包括一处理单元,且该处理单元是用以提供一命令信号给一受测物,并接收该受测物于接收到该命令信号后所输出的一回应信号;其中,该处理单元是于一预设等待时间长度内未接收到该受测物所输出的该回应信号时,再次提供该命令信号给该受测物,并调整该预设等待时间长度,且该预设等待时间长度是与提供该命令信号给该受测物的一提供次数呈一指数关系。
本发明与受测物通信的方法以及与受测物通信的系统在每一次提供命令信号给受测物时的预设等待时间长度皆不同,当提供命令信号给受测物的提供次数越多,相对应的预设等待时间长度则随着指数关系增加,如此一来可有效避免现有因固定的预设等待时间长度太短而无法满足系统提供命令信号至受测物并接收到受测物所输出的回应信号的整个过程所需的时间长度,导致最后误判通信失败。本发明可降低重新通信的几率与通信失败率,并缩短通信时间,故极具产业利用价值。
附图说明
图1:是为现有生产线上的测试系统的方块示意图。
图2:是为本发明与受测物通信的系统于一较佳实施例的方块示意图。
图3:是为本发明与受测物通信的方法于一较佳实施例的方块流程图。
其中,附图标记说明如下:
1 电子计算机 3 受测物
4 与受测物通信的系统 5 受测物
11 检测程序程序 S1 命令信号
S2 回应信号 S3 命令信号
S4 回应信号 P1 步骤
P2 步骤
具体实施方式
请参阅图2,其为本发明与受测物通信的系统于一较佳实施例的方块示意图。与受测物通信的系统4是电性连接于受测物5,并包括具有运算能力的处理单元41,处理单元41是用以提供命令信号S3给受测物5,并接收受测物5于接收到命令信号S3后所输出的回应信号S4。于本较佳实施例中,与受测物通信的系统4是应用在电子产品制造业或是电子组装厂的生产线上,并依据来自受测物5的回应信号S4而获得受测物5的信息或判断受测物5是否符合品质标准。然而,与受测物通信的系统4的应用并不以上述为限。
请参阅图3,其为本发明与受测物通信的方法于一较佳实施例的方块流程图。与受测物通信的方法包括:步骤P1,提供命令信号S3给受测物5,并等待接收受测物5于接收到命令信号S3后所输出的回应信号S4;以及步骤P2,于一预设等待时间长度内未接收到受测物5所输出的的回应信号S4时,再次提供命令信号S3给受测物5,并调整预设等待时间长度;其中,预设等待时间长度是与提供命令信号S3给受测物5的提供次数呈指数关系。
于本较佳实施例中,步骤P2中所述的指数关系满足下列关系式:
Tn=An-1·T1;
其中,A为一底数,n为提供命令信号S3给受测物5的提供次数,T1为第1次提供命令信号S3给受测物5后的预设等待时间长度,Tn为第n次提供命令信号S3给受测物5后的预设等待时间长度。然而,步骤P2中所述的指数关系并不以上述为限。
较佳者,但不以此为限,当处理单元41提供命令信号S3给受测物5的提供次数达到一预设次数但在相对应的预设等待时间长度内仍未接收到受测物5所输出的回应信号S4时,处理单元41即判断其与受测物5的通信失败。
接下来以图3所示方法应用于图2所示的系统作进一步说明。当与受测物通信的系统4欲测试受测物5是否符合品质标准或获得受测物5的信息(如受测物5中的固件的版本、制造日期等)时,受测物5即开始与受测物5进行通信。首先,与受测物通信的系统4的处理单元41会输出(第1次输出)命令信号S3给受测物5,并开始等待接收受测物5于接收到命令信号S3后所输出的回应信号S4。
接着,倘若处理单元41在预设等待时间长度T1内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41可依据所接收的回应信号S4而判断受测物5是否符合品质标准或获得受测物5的信息;而倘若处理单元41未在预设等待时间长度T1内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41会进行重新测试,也就是处理单元41再度地输出(第2次输出,即n=2)命令信号S3给受测物5并等待受测物5回应,同时亦将预设等待时间长度T1调整为预设等待时间长度T2。于本较佳实施例中,上述关系式中的底数A等于2,因此预设等待时间长度T2为21倍(两倍)的预设等待时间长度T1。
同样地,倘若处理单元41在预设等待时间长度T2内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41可依据所接收的回应信号S4而判断受测物5是否符合品质标准或获得受测物5的信息;而倘若处理单元41未在预设等待时间长度T2内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41再次进行重新测试,也就是处理单元41再度地输出(第3次输出,即n=3)命令信号S3给受测物5并等待受测物5回应,同时亦将预设等待时间长度T2调整为预设等待时间长度T3。由于上述关系式中的底数A等于2,因此预设等待时间长度T3为22倍(四倍)的预设等待时间长度T1,也就是两倍的预设等待时间长度T2。
以此类推,当处理单元41第n-1次输出命令信号S3给受测物5后,倘若处理单元41在预设等待时间长度Tn-1内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41可依据所接收的回应信号S4而判断受测物5是否符合品质标准或获得受测物5的信息;而倘若处理单元41未在预设等待时间长度Tn-1内接收到来自受测物5的回应信号S4,则处理单元41再次进行重新测试,也就是处理单元41再度地输出(第n次输出)命令信号S3给受测物5并等待受测物5回应,同时亦将预设等待时间长度Tn-1调整为预设等待时间长度Tn。由于上述关系式中的底数A等于2,因此预设等待时间长度Tn为2n-1倍的预设等待时间长度T1,也就是两倍的预设等待时间长度Tn-1。
根据以上的说明可知,本发明与受测物通信的方法以及与受测物通信的系统在每一次提供命令信号给受测物时的预设等待时间长度皆不同,当提供命令信号给受测物的提供次数越多,相对应的预设等待时间长度则随着指数关系增加,如此一来可有效避免现有因固定的预设等待时间长度太短而无法满足系统提供命令信号至受测物并接收到受测物所输出的回应信号的整个过程所需的时间长度,导致最后误判通信失败。是以,本发明可降低重新通信的几率与通信失败率,并缩短通信时间,故极具产业利用价值。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并非用以限定本发明的权利要求,因此凡其它未脱离本发明所公开的精神下所完成的等效改变或修饰,均应包含于本发明的权利要求内。
Claims (6)
1.一种与受测物通信的方法,用以获得该受测物的一信息或测试该受测物是否符合一品质标准,该与受测物通信的方法包括:
提供一命令信号给一受测物,并等待接收该受测物于接收到该命令信号后所输出的一回应信号;以及
于一预设等待时间长度内未接收到该受测物所输出的该回应信号时,再次提供该命令信号给该受测物,并调整该预设等待时间长度;其中,该预设等待时间长度是与提供该命令信号给该受测物的一提供次数呈一指数关系;
其中该指数关系满足下列关系式:
Tn=An-1·T1;
其中,A为一底数,n为提供该命令信号给该受测物的该提供次数,T1为第1次提供该命令信号给该受测物后的该预设等待时间长度,Tn为第n次提供该命令信号给该受测物后的该预设等待时间长度。
2.如权利要求1所述的与受测物通信的方法,其中该底数A等于2。
3.如权利要求1所述的与受测物通信的方法,其中于提供该命令信号给该受测物的该提供次数达到一预设次数且在相对应的该预设等待时间长度内仍未接收到该受测物所输出的该回应信号时,判断通信失败。
4.一种与受测物通信的系统,用以获得该受测物的一信息或测试该受测物是否符合一品质标准,该与受测物通信的系统包括一处理单元,且该处理单元是用以提供一命令信号给一受测物,并接收该受测物于接收到该命令信号后所输出的一回应信号;其中,该处理单元是于一预设等待时间长度内未接收到该受测物所输出的该回应信号时,再次提供该命令信号给该受测物,并调整该预设等待时间长度,且该预设等待时间长度是与提供该命令信号给该受测物的一提供次数呈一指数关系;
其中该指数关系满足下列关系式:
Tn=An-1·T1;
其中,A为一底数,n为该处理单元提供该命令信号给该受测物的该提供次数,T1为该处理单元第1次提供该命令信号给该受测物后的该预设等待时间长度,Tn为该处理单元第n次提供该命令信号给该受测物后的该预设等待时间长度。
5.如权利要求4所述的与受测物通信的系统,其中该底数A等于2。
6.如权利要求4所述的与受测物通信的系统,其中于该处理单元提供该命令信号给该受测物的该提供次数达到一预设次数且在相对应的该预设等待时间长度内仍未接收到该受测物所输出的该回应信号时,该处理单元判断通信失败。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610494700.XA CN107544877B (zh) | 2016-06-29 | 2016-06-29 | 与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610494700.XA CN107544877B (zh) | 2016-06-29 | 2016-06-29 | 与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN107544877A CN107544877A (zh) | 2018-01-05 |
CN107544877B true CN107544877B (zh) | 2021-04-09 |
Family
ID=60961564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610494700.XA Expired - Fee Related CN107544877B (zh) | 2016-06-29 | 2016-06-29 | 与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN107544877B (zh) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030206021A1 (en) * | 1997-07-25 | 2003-11-06 | Laletin William H. | Method and apparatus for measuring and analyzing electrical or electrochemical systems |
CN101322353A (zh) * | 2005-12-09 | 2008-12-10 | 日本电气株式会社 | 无线lan通信系统 |
US20090089004A1 (en) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Dietrich Werner Vook | Time Learning Test System |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1146261C (zh) * | 2000-10-27 | 2004-04-14 | 清华大学 | 一种在衰落信道中重传丢失分组的方法 |
US6948098B2 (en) * | 2001-03-30 | 2005-09-20 | Cirrus Logic, Inc. | Circuits and methods for debugging an embedded processor and systems using the same |
-
2016
- 2016-06-29 CN CN201610494700.XA patent/CN107544877B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030206021A1 (en) * | 1997-07-25 | 2003-11-06 | Laletin William H. | Method and apparatus for measuring and analyzing electrical or electrochemical systems |
CN101322353A (zh) * | 2005-12-09 | 2008-12-10 | 日本电气株式会社 | 无线lan通信系统 |
US20090089004A1 (en) * | 2007-09-27 | 2009-04-02 | Dietrich Werner Vook | Time Learning Test System |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107544877A (zh) | 2018-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN112650685B (zh) | 自动化测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 | |
CN115547396B (zh) | 一种针对eMMC的测试方法和装置 | |
TW201901167A (zh) | 元件之檢查方法 | |
CN107544877B (zh) | 与受测物通信的方法以及应用该方法的系统 | |
CN110264928B (zh) | 一种背光芯片检测方法、装置及存储介质 | |
TWI615619B (zh) | 與受測物通訊之方法以及應用該方法之系統 | |
US20220137125A1 (en) | Method and device for testing system-on-chip, electronic device using method, and computer readable storage medium | |
CN106898563B (zh) | 产品验收系统及产品验收方法 | |
CN111289610A (zh) | 基板裂纹检测的方法及系统、存储介质 | |
TWI637177B (zh) | 用於測試半導體元件之系統及方法 | |
US10605850B2 (en) | Screening methodology to eliminate wire sweep in bond and assembly module packaging | |
US20100008476A1 (en) | Testing system and method for testing a modem interface function of a computer | |
CN103839851A (zh) | 终点判断方法 | |
CN105321580B (zh) | 宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 | |
CN112882908B (zh) | 用于生成信息的方法和装置 | |
KR101621662B1 (ko) | 컴퓨터 검사 장치 및 그 방법 | |
US20220269252A1 (en) | Method, apparatuses, computer program and medium including computer instructions for performing inspection of an item | |
CN112307131B (zh) | 设备巡检方法、系统、电子设备及存储介质 | |
WO2022012133A1 (zh) | 半导体制造信息的处理方法与装置 | |
TWI802443B (zh) | 智能自動化配對同步測試系統及其方法 | |
CN116027029B (zh) | 荧光层析免疫分析仪的检测方法、电子设备及存储介质 | |
CN110618905B (zh) | 一种检测ddr内存模块中异常ddr内存的方法 | |
CN109491845B (zh) | 一种存储产品控制器的测试方法及系统 | |
KR101628072B1 (ko) | 휴대통신 단말의 느림 진단장치 및 진단방법 | |
CN108521778B (zh) | 基板受力状况的判断方法及运输系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20210409 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |