CN115547396B - 一种针对eMMC的测试方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种针对eMMC的测试方法和装置，属于数据存储技术领域。方法包括：执行针对待测试eMMC的数据传输的初始化，发送数据块到所述待测试eMMC，对待测试eMMC执行断电操作，测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；通过多个自动操作提高了针对eMMC断电测试的自动化程度，提高了eMMC断电测试的准确性和测试效率，并克服了现有方法中无法分析eMMC断电测试结果的问题。

Description

一种针对eMMC的测试方法和装置
技术领域
本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种针对eMMC的测试方法和装置。
背景技术
随着信息技术的飞速发展和处理数据量的剧增，数据存储设备得到快速发展。其中，eMMC（Embedded Multi Media Card）芯片以其集成存储设备和控制器的多种特点得到广泛应用。
为了提高eMMC的可用性和可靠性，需要根据多种应用场景设置测试用例来测试eMMC的控制、数据传输、以及数据存储等多种功能；包括测试eMMC在SPOR（Sudden Power-Off Recovery，突然断电，简称SPOR）场景下的数据处理情况和自我保护能力。
现有的针对eMMC断电场景的测试方法，通常利用控制端直接控制eMMC进行断电测试，在控制端的设备类型、设备参数等不同的情况下，可能导致由于控制端和eMMC之间兼容性问题导致的测试操作失误（例如未成功断电等），影响了断电测试的准确性，并且存在无法基于失败的测试结果获取到失败原因的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供一种针对eMMC的测试方法和装置，能够自动执行针对待测试eMMC的数据传输的初始化，发送数据块到所述待测试eMMC，对待测试eMMC执行断电操作，测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；通过多个自动操作提高了针对eMMC断电测试的自动化程度，提高了eMMC断电测试的准确性和测试效率，并克服了现有方法中无法分析eMMC断电测试结果的问题。
为实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种针对eMMC的测试方法，应用于控制端，所述方法包括：执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，并发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC；在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路。
可选地，所述根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功，进一步包括：在判断出各个所述供电电路均断电成功的情况下，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，在确定一致的情况下，判断出所述eMMC断电测试结果为通过。
可选地，所述检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，包括：对所述待测试eMMC发送上电指令，以使所述待测试eMMC重新上电；在检测到所述待测试eMMC完成上电后，重新执行针对所述待测试eMMC数据传输的初始化的步骤；在检测到所述初始化完成之后，从所述待测试eMMC获取其断电时所接收的数据块，以检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致。
可选地，所述执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，包括：发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接；以及，发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。
可选地，所述测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，其中，所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。
可选地，所述预设的测量电压模块为模数转换模块；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：所述模数转换模块的多个控制管道与所述待测试eMMC的各个所述供电电路具有连接关系；其中，不同的控制管道连接不同的供电电路；驱动所述模数转换模块依次通过所述控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值。
可选地，所述预设的测量电压模块为电压传感器；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：利用所述电压传感器测量出所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压对应的数值。
可选地，所述根据测量得到的所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功，包括：针对每一个供电电路，执行：判断测量得到的所述当前电压是否归属于设定电压数值范围，如果是，则确定所述待测试eMMC中的所述供电电路断电成功；否则发送指示所述供电电路未成功断电的消息。
根据本发明的另一方面，提供了一种针对eMMC的测试装置，所述装置包括：初始化模块、执行断电模块和测试模块；其中，
所述初始化模块，用于执行针对待测试eMMC数据传输的初始化；发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC；
所述执行断电模块，用于在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；
所述测试模块，用于根据测量得到的所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，用于根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功，进一步包括：在判断出各个所述供电电路均断电成功的情况下，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，在确定一致的情况下，判断出所述eMMC断电测试结果为通过。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，用于检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，包括：对所述待测试eMMC发送上电指令，以使所述待测试eMMC重新上电；在检测到所述待测试eMMC完成上电后，重新执行针对所述待测试eMMC数据传输的初始化的步骤；在检测到所述初始化完成之后，从所述待测试eMMC获取其断电时所接收的数据块，以检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，用于执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，包括：发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接；以及，发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，用于测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，其中，所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，包括：预设的测量电压模块为模数转换模块；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：所述模数转换模块的多个控制管道与所述待测试eMMC的各个所述供电电路具有连接关系；其中，不同的控制管道连接不同的供电电路；驱动所述模数转换模块依次通过所述控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，包括：预设的测量电压模块为电压传感器；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：利用所述电压传感器测量出所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压对应的数值。
可选地，所述针对eMMC的测试装置，用于根据测量得到的所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功，包括：针对每一个供电电路，执行：判断测量得到的所述当前电压是否归属于设定电压数值范围，如果是，则确定所述待测试eMMC中的所述供电电路断电成功；否则发送指示所述供电电路未成功断电的消息。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，包括：
处理器；以及
存储程序的存储器，
其中，所述程序包括指令，所述指令在由所述处理器执行时使所述处理器执行上述针对eMMC的测试方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机指令用于使计算机执行上述针对eMMC的测试方法。
上述发明中的一个实施例具有如下优点或有益效果：能够自动执行针对待测试eMMC的数据传输的初始化，发送数据块到所述待测试eMMC，对待测试eMMC执行断电操作，测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；通过多个自动操作提高了针对eMMC断电测试的自动化程度，提高了eMMC断电测试的准确性和测试效率，并克服了现有方法中无法分析eMMC断电测试结果的问题。
上述的非惯用的可选方式所具有的进一步效果将在下文中结合具体实施方式加以说明。
附图说明
在下面结合附图对于示例性实施例的描述中，本发明的更多细节、特征和优点被公开，在附图中：
图1是本发明示例性实施例提供的一种针对eMMC的测试方法的流程示意图；
图1A是本发明示例性实施例提供的一种控制端与eMMC交互的结构示意图；
图1B是本发明示例性实施例提供的一种控制端测量eMMC电压的结构示意图；
图2是本发明示例性实施例提供的一种针对eMMC的测试流程的示意图；
图2A是本发明示例性实施例提供的一种控制端测量eMMC电压的流程示意图；
图3是本发明示例性实施例提供的一种针对eMMC的测试装置的结构示意图；
图4示出了能够用于实现本发明的实施例的示例性电子设备的结构框图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明的实施例。虽然附图中显示了本发明的某些实施例，然而应当理解的是，本发明可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本发明。应当理解的是，本发明的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本发明的保护范围。
应当理解，本发明的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本发明的范围在此方面不受限制。
本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。需要注意，本发明中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。
需要注意，本发明中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。
本发明实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
如图1所示，本发明实施例提供了一种针对eMMC的测试方法，该方法可以包括以下步骤S101至步骤S103。
步骤S101：执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，并发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC。
具体地，本发明实施例提供的针对eMMC的测试的方法应用于控制端，控制端可以为与eMMC连接的主板等控制设备；eMMC（embeded Multi Media Card，简称eMMC）为嵌入式多媒体控制器，在本发明的实施例中，eMMC指由闪存和闪存控制器所集成的装置，在本发明中，eMMC、eMMC芯片均代表eMMC装置。eMMC 通常包含多种组件，例如多媒体卡接口、闪存、和闪存控制器等，以通过多种组件实现与eMMC的外部装置（例如控制端所在的主板等）进行交互。eMMC具有统一、高速的数据接口、前后兼容、存储密度高等特点得到广泛应用。eMMC芯片通过高速并行数据线实现快速的数据通信功能。
进一步地，图1A示出了控制端与eMMC交互的结构示意图。如图1A所示，eMMC芯片101A可以通过多种类型的通道（例如芯片的引脚）与eMMC芯片连接的控制端100A（例如主板、控制硬件模块等）进行多种类型的通信，多种类型的通道例如：控制命令传输通道（例如CMD引脚）、多条数据传输通道（例如DAT0、DAT1、DAT2、DAT3、DAT4、DAT5、DAT6、DAT7引脚）、时钟控制通道（例如CLK引脚）、数据滤波通道（例如DS引脚）等；通过多种类型的通道可以使得控制端发送多种类型的指令，eMMC接收多种类型的指令并对应地反馈一种或多种信息给控制端，从而通过控制端与eMMC的交互执行对eMMC的多种测试，包括断电测试。根据应用场景和测试需求，控制端可以归属于主机设备中，eMMC可以归属于终端设备中。可以理解的是，控制端和待测试的eMMC也可以归属于同一个物理设备中。在本发明的实施例中，控制端与待测试的eMMC之间交互的多种控制指令可以对应地利用如图1A所示多种类型的通道所执行。
进一步地，本发明的实施例中，针对eMMC的测试包括针对eMMC的突然断电测试，突然断电恢复(SPOR，sudden power-off recovery)针对eMMC来说是重要的测试项目，该测试用例可以用来检测eMMC在写入数据时突然断电的容错性、自我保护能力。在下面的描述中，测试、断电测试均代表SPOR测试。
在本发明的一个实施例中，针对eMMC的断电测试具体步骤包括：控制端首先执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，在初始化完成后，控制端发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC。
具体地，控制端首先执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，包括：发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接；以及，发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。
其中，发送多种第一指令例如包括：（控制端）发送控制指令使eMMC进入空闲状态；发送控制指令获取eMMC的标识；发送控制指令为待测试eMMC分配设备地址；发送控制指令获取待测试eMMC的当前状态；发送控制指令切换待测试eMMC的当前状态为数据传输就绪状态等；控制端通过多种第一指令与待测试的eMMC从上电开始，自动地建立通信连接（即发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接），从而基于就绪的通信连接状态进一步进行后续的断电测试；进一步地，发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；其中，发送多种第二控制指令例如发送控制指令设置传输数据的一种或多种参数，以使控制端与eMMC同步。
进一步地，基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。例如：判断控制端与待测试eMMC之间的通信绑定状态是否为成功，数据传输状态是否为就绪，控制端与待测试eMMC致敬数据传输的参数是否同步等，根据判断结果确定初始化是否完成。
进一步地，在确定针对待测试eMMC数据传输的初始化完成后，控制端并发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC。其中，一个或多个数据块可以为任意格式的数据，由控制端将数据块发送待测试的eMMC芯片，通常eMMC芯片利用接口接收数据后，会写入到闪存中。优选地，SPOR测试通常将断电的时机控制在eMMC芯片将数据写入到闪存中的时间范围内，以达到预期测试效果。
由此可见，本发明的实施例通过利用控制端执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，并发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC。提高了测试eMMC的自动化测试程度，提高了测试eMMC的效率。
步骤S102:在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压。
具体地，控制端可以通过待测试eMMC发送的反馈信息确定待测试eMMC是否处于正在写入一个或多个数据块的状态，若是，则控制端对所述待测试eMMC执行断电操作（例如：发送断电指令、或者其他控制电源切换的指令等），进而测量待测试eMMC中各个供电电路的当前电压。
在本发明的实施例中，eMMC芯片可以包含多个供电电路，例如供电电路为VCC、VCCQ等；其中，不同供电电路为eMMC芯片中的不同组件提供电源，例如：VCC为eMMC芯片的闪存组件以及相关的输入输出接口提供电源，VCCQ为eMMC芯片的核心组件以及相关的输入输出接口提供电源等；因此，本发明的实施例在对待测试eMMC执行断电操作时，需要对每一个供电电路执行断电操作。
进一步地，在执行断电操作后，测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压。具体地，在本发明的实施例中，利用控制端驱动预设的测量电压模块执行测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压的步骤。即，所述测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；其中，所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。
图1B是本发明示例性实施例提供的一种控制端测量eMMC电压的结构示意图，如图1B所示，控制端100B中包含的测量电压模块利用控制管道与eMMC芯片101B的供电电路相连接，即所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。控制端100B中包含的测量电压模块利用控制管道1（例如：channel0）与eMMC芯片的供电电路1（例如VCCQ）相连接，以测量供电电路1的当前电压、利用控制管道2（例如：channel3）与eMMC芯片的供电电路1（例如VCC）相连接，以测量供电电路2的当前电压；其中，当前电压为执行断电操作后eMMC芯片中各个供电电路的电压数值。
本发明中控制端包含的预设的测量电压模块有两种实施例：
第一种：预设的测量电压模块为模数转换模块。
具体地，所述预设的测量电压模块为模数转换模块；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：所述模数转换模块的多个控制管道与所述待测试eMMC的各个所述供电电路具有连接关系；其中，不同的控制管道连接不同的供电电路；驱动所述模数转换模块依次通过所述控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值。在本发明的实施例中，利用模数转换模块（ADC模块）通过控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值；如图1B所示，例如：控制端100B驱动ADC模块通过控制管道1（例如：channel0）获取供电电路1（例如VCCQ）的电压信号，并基于电压信号转换为当前电压对应的数值。然后，利用控制管道2（例如：channel3）获取供电电路2（例如VCC）的电压信号，并基于电压信号转换为当前电压对应的数值。
第二种：预设的测量电压模块为电压传感器。
具体地，所述预设的测量电压模块为电压传感器；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：利用所述电压传感器测量出所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压对应的数值。如图1B所示，例如：控制端100B驱动电压传感器通过控制管道1与供电电路1（例如VCCQ）连接，测量供电电路1当前电压对应的数值。然后，通过控制管道2与供电电路2（例如VCC）连接，测量供电电路2当前电压对应的数值。
由此可见，通过控制端利用预设的测量电压模块测量待测试eMMC中各个供电电路的当前电压的数值，提高了获取eMMC突然断电时的电压的准确率，从而提高了测试效率和自动化程度。
步骤S103：根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路。
具体地，根据步骤S102描述的测量到的各个当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功。
其中，判断各个所述供电电路是否均断电成功的方法包括：针对每一个供电电路，执行：判断测量得到的所述当前电压是否归属于设定电压数值范围，如果是，则确定所述待测试eMMC中的所述供电电路断电成功；否则发送指示所述供电电路未成功断电的消息。在本发明的实施例中，根据测量电压模块自身的模阻特性、以及组件之间的相互作用因素，将设定电压数值范围设置为[0~60mv]，作为判断是否断电的误差数值区间。即判断测量得到的所述当前电压是否归属于设定电压数值范围。如果测量的各个供电电路的电压值归属于[0~60mv]，则确定各个所述供电电路均断电成功；否则，进行测试异常结果定位，通过测量得到的当前电压对应的供电电路，确定出未成功断电的异常供电电路为哪一条供电电路。
由此可见，通过自动判断判断各个供电电路是否均断电成功，提高了测试eMMC的效率和准确性，同时，在判断出存在任一供电电路未断电成功的情况下，可以确定出未成功断电的异常供电电路是哪一个，提高了测试和定位问题的效率，克服了现有技术中无法获取断电后供电电路的电压数值、以及无法判断当前未断电的供电电路是哪一条电路的缺陷。
如图2所示，本发明实施例提供了一种针对eMMC的测试流程，该流程可以包括以下步骤S201至步骤S213。
步骤S201：对所述待测试eMMC发送上电指令。
步骤S202：发送控制指令使eMMC进入空闲状态。
例如：控制端发送cmd0+0使得eMMC进入空闲状态，其中cmd0为一种第一控制指令的指令标识，0为该控制指令对应的参数。
步骤S203：发送控制指令获取eMMC的标识。
例如：控制端发送cmd2+0x40ff8080获取eMMC的CID标识；其中cmd2为另一种第一控制指令的指令标识，0x40ff8080为该控制指令对应的参数。
步骤S204：发送控制指令为待测试eMMC分配设备地址。
例如：控制端发送cmd3+RCA；其中cmd3为另一种第一控制指令的指令标识，RCA（Relative Device Address）为对应的指令参数，指给待测试eMMC所分配的设备地址，通过本步骤，使得控制端与从多个eMMC中选取出待测试的eMMC，并进行绑定。
步骤S205：发送控制指令获取待测试eMMC的当前状态。
例如：控制端发送cmd13 + RCA；其中cmd13为另一种第一控制指令的指令标识，RCA（Relative Device Address）为对应的指令参数，用于获取待测试eMMC的当前状态
步骤S206：发送控制指令切换待测试eMMC的当前状态为数据传输就绪状态。
例如：控制端发送cmd7 + RCA；其中cmd7为另一种第一控制指令的指令标识，RCA（Relative Device Address）为对应的指令参数，用于切换待测试eMMC的状态，例如从standby状态切换为transfer状态等。
步骤S207：发送控制指令设置传输数据的参数，以使控制端与eMMC同步。
例如：控制端发送cmd6 + arg；其中cmd6为一种第二控制指令的指令标识，arg为一个或多个指令对应的指令参数，用于设置控制端与eMMC之间数据传输的参数（例如：时钟参数、传输带宽参数等）。
具体地，步骤S201~步骤S207描述了具体执行针对待测试eMMC数据传输的初始化的示例步骤；即，发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接；以及，发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；进一步地，通过各个步骤交互的结果得到对应的状态或者数值，从而判断初始化是否成功，提高了测试的自动化程度，即，基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。
步骤S208：发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC。
步骤S209：对所述待测试eMMC执行断电操作。
步骤S210：测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压。
具体地，步骤S208-步骤S210描述了在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；关于步骤S208-步骤S210的具体描述与步骤S102的描述一致，在此不再赘述。
步骤S211：通过当前电压判断各个供电电路均断电成功，如果是，执行步骤S212；否则执行步骤S213。
步骤S212：重新执行步骤S201~步骤S207，检测已发送的数据块与待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致。
步骤S213：确定出未成功断电的异常供电电路。
步骤S211-步骤S213描述了基于测量到的电压数值判断各个供电电路是否均断电成功，如果否，确定出未成功断电的异常供电电路。
进一步优选地，在判断出各个所述供电电路均断电成功的情况下，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，在确定一致的情况下，判断出所述eMMC断电测试结果为通过。具体地，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致的方法为：控制端检测已发送的数据块与待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，包括：对所述待测试eMMC发送上电指令，以使所述待测试eMMC重新上电；在检测到所述待测试eMMC完成上电后，重新执行针对所述待测试eMMC数据传输的初始化的步骤；在检测到所述初始化完成之后，从待测试eMMC获取其断电时所接收的数据块，以检测所述已发送的数据块与待测试eMMC所接收的数据块是否一致。可以理解的是，如果检测的结果为数据一致，则代表待测试eMMC通过本轮的断电测试。
其中，对所述待测试eMMC发送上电指令，以使所述待测试eMMC重新上电；在检测到所述待测试eMMC完成上电后，重新执行针对所述待测试eMMC数据传输的初始化的步骤与步骤S201~步骤S207的描述一致，在此不再赘述，可以理解的是，控制端通过对eMMC重新执行初始化，以自动使得待测试eMMC处于数据传输和数据获取的就绪状态，提高了测试的准确性和自动化程度。进一步地，在检测到所述初始化完成之后，从所述待测试eMMC获取其断电时所接收的数据块，以检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致；例如：控制端可以记录在执行断电操作时已发送给eMMC的数据块的信息，因此，此时通过获取待测试eMMC在断电时所接收的数据块，将发送的数据块和接收的数据块加以对比，即检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致。
由此可见，通过自动检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致提高了测试eMMC的准确性和自动化程度。
关于确定出未成功断电的异常供电电路的描述与步骤S103的描述一致，在此不再赘述。
如图2A所示，本发明实施例提供了一种控制端测量eMMC电压的流程，该流程可以包括以下步骤S201A至步骤S212A。
步骤S201A：对所述待测试eMMC执行断电操作。
步骤S202A：执行延时操作（例如延时300毫秒）。
具体地，通过延时操作提高了获取待测试eMMC执行断电操作的结果的准确性。本发明对延时的具体数值不做限定。
步骤S203A：重置数模转换模块。
步骤S204A：设置数模转换模块的运行参数。
步骤S205A：选取数模转换模块的控制管道1，执行延时操作（例如延时100毫秒）。
具体地，通过延时操作提高了测量待测试eMMC当前电压的准确性。本发明对延时的具体数值不做限定。
步骤S206A：基于控制管道1测量供电电路1（VCCQ）的当前电压。
步骤S207A：选取数模转换模块的控制管道2，执行延时操作（例如延时100毫秒）。
具体地，通过延时操作提高了测量待测试eMMC当前电压的准确性。本发明对延时的具体数值不做限定。
步骤S208A：基于控制管道2测量供电电路2（VCC）的当前电压。
具体地，步骤S201A-步骤S208A描述了利用模数转换模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压的示例；包括，控制端在驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压之前，可以自动地重置数模转换模块；优选地，设置数模转换模块的运行参数（例如：输出时钟参数、转换率、转换模式等）；进一步提高了测量电压的精确度。即，所述测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，其中，所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。所述预设的测量电压模块为模数转换模块；驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：所述模数转换模块的多个控制管道与所述待测试eMMC的各个所述供电电路具有连接关系；其中，不同的控制管道连接不同的供电电路；驱动所述模数转换模块依次通过所述控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值。
步骤S209A：判断测量得到的各个所述当前电压是否归属于设定电压数值范围。
步骤S210A：判断各个供电电路均断电成功，如果是，执行步骤S211A；否则执行步骤S212A。
步骤S211A：检测已发送的数据块与待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致。
步骤S212A：确定出未成功断电的异常供电电路。
步骤S209A-步骤S212A描述的基于测量到的电压数值判断各个供电电路是否均断电成功，如果是，检测已发送的数据块与待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致；否则确定出未成功断电的异常供电电路的描述与步骤S211-步骤S213的描述一致，在此不再赘述。
本发明实施例提供了一种针对eMMC的测试装置，该装置用于实现上述针对eMMC的测试方法。如图3所示的示意性框图，基于针对eMMC的测试装置300包括：初始化模块301、执行断电模块302和测试模块303；其中，
所述初始化模块301，用于执行针对待测试eMMC数据传输的初始化；发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC；
所述执行断电模块302，用于在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；
所述测试模块303，用于根据测量得到的所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路。
本实施例中，控制端能够自动执行针对待测试eMMC的数据传输的初始化，发送数据块到所述待测试eMMC，对所述待测试eMMC执行断电操作，测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功的多个操作；提高了针对eMMC断电测试的自动化程度，提高了eMMC断电测试的准确性和测试效率，并提高了分析eMMC断电测试结果的自动化程度。
本发明示例性实施例还提供一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器。所述存储器存储有能够被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时用于使所述电子设备执行根据本发明实施例的方法。
本发明示例性实施例还提供一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质，其中，所述计算机程序在被计算机的处理器执行时用于使所述计算机执行根据本发明实施例的方法。
本发明示例性实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，其中，所述计算机程序在被计算机的处理器执行时用于使所述计算机执行根据本发明实施例的方法。
参考图4，现将描述可以作为本发明的电子设备400的结构框图，其是可以应用于本发明的各方面的硬件设备的示例。电子设备旨在表示各种形式的数字电子的计算机设备，诸如，数据中心服务器、笔记本电脑、瘦客户机、膝上型计算机、台式计算机、工作站、个人数字助理、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图4所示，电子设备400包括计算单元401，其可以根据存储在只读存储器（ROM）402中的计算机程序或者从存储单元408加载到随机访问存储器（RAM）403中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 403中，还可存储设备400操作所需的各种程序和数据。计算单元401、ROM 402以及RAM 403通过总线404彼此相连。输入/输出（I/O）接口405也连接至总线404。
电子设备400中的多个部件连接至I/O接口405，包括：输入单元406、输出单元407、存储单元408以及通信单元409。输入单元406可以是能向电子设备400输入信息的任何类型的设备，输入单元406可以接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设置和/或功能控制有关的键信号输入。输出单元407可以是能呈现信息的任何类型的设备，并且可以包括但不限于显示器、扬声器、视频/音频输出终端、振动器和/或打印机。存储单元408可以包括但不限于磁盘、光盘。通信单元409允许电子设备400通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据，并且可以包括但不限于调制解调器、网卡、红外通信设备、无线通信收发机和/或芯片组，例如蓝牙设备、WiFi设备、WiMax设备、蜂窝通信设备和/或类似物。
计算单元401可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。计算单元401的一些示例包括但不限于中央处理单元（CPU）、图形处理单元（GPU）、各种专用的人工智能（AI）计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器（DSP）、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。计算单元401执行上文所描述的各个方法和处理。例如，在一些实施例中，上述针对eMMC的测试方法可被实现为计算机软件程序，其被有形地包含于机器可读介质，例如存储单元408。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 402和/或通信单元409而被载入和/或安装到电子设备400上。在一些实施例中，计算单元401可以通过其他任何适当的方式（例如，借助于固件）而被配置为上述针对eMMC的测试方法。
用于实施本发明的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器，使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM或快闪存储器）、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器（CD-ROM）、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
如本发明使用的，术语“机器可读介质”和“计算机可读介质”指的是用于将机器指令和/或数据提供给可编程处理器的任何计算机程序产品、设备、和/或装置(例如，磁盘、光盘、存储器、可编程逻辑装置(PLD))，包括，接收作为机器可读信号的机器指令的机器可读介质。术语“机器可读信号”指的是用于将机器指令和/或数据提供给可编程处理器的任何信号。
为了提供与用户的交互，可以在计算机上实施此处描述的系统和技术，该计算机具有：用于向用户显示信息的显示装置（例如，CRT（阴极射线管）或者LCD（液晶显示器）监视器）；以及键盘和指向装置（例如，鼠标或者轨迹球），用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈（例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈）；并且可以用任何形式（包括声输入、语音输入或者、触觉输入）来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统（例如，作为数据服务器）、或者包括中间件部件的计算系统（例如，应用服务器）、或者包括前端部件的计算系统（例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互）、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信（例如，通信网络）来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网（LAN）、广域网（WAN）和互联网。
计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。

Claims (10)

1.一种针对eMMC的测试方法，其特征在于，应用于控制端，所述方法包括：
执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，并发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC；
在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；
根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路；
在判断出各个所述供电电路均断电成功的情况下，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，在确定一致的情况下，判断出所述eMMC断电测试结果为通过。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，包括：
对所述待测试eMMC发送上电指令，以使所述待测试eMMC重新上电；
在检测到所述待测试eMMC完成上电后，重新执行针对所述待测试eMMC数据传输的初始化的步骤；
在检测到所述初始化完成之后，从所述待测试eMMC获取其断电时所接收的数据块，以检测所述已发送的数据块与所述待测试eMMC所接收的数据块是否一致。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述执行针对待测试eMMC数据传输的初始化，包括：
发送多种第一控制指令管理与所述待测试eMMC之间的通信连接；以及，
发送多种第二控制指令管理与所述待测试eMMC之间的数据传输参数；
基于所述通信连接的连接状态、以及所述数据传输参数的参数信息确定执行针对待测试eMMC数据传输的初始化是否完成。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：
驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，其中，所述测量电压模块分别与各个所述供电电路具有接连关系。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述预设的测量电压模块为模数转换模块；
驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：
所述模数转换模块的多个控制管道与所述待测试eMMC的各个所述供电电路具有连接关系；其中，不同的控制管道连接不同的供电电路；
驱动所述模数转换模块依次通过所述控制管道获取对应的供电电路的电压信号，并将所述供电电路的电压信号转换为当前电压对应的数值。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，
所述预设的测量电压模块为电压传感器；
驱动预设的测量电压模块测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压，包括：利用所述电压传感器测量出所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压对应的数值。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述根据测量得到的各个所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功，包括：
针对每一个供电电路，执行：
判断测量得到的所述当前电压是否归属于设定电压数值范围，如果是，则确定所述待测试eMMC中的所述供电电路断电成功；否则发送指示所述供电电路未成功断电的消息。
8.一种针对eMMC的测试装置，其特征在于，所述装置包括：初始化模块、执行断电模块和测试模块；其中，
所述初始化模块，用于执行针对待测试eMMC数据传输的初始化；发送一个或多个数据块到所述待测试eMMC；
所述执行断电模块，用于在监听到所述待测试eMMC写入一个或多个数据块时，对所述待测试eMMC执行断电操作，并测量所述待测试eMMC中各个供电电路的当前电压；
所述测试模块，用于根据测量得到的所述当前电压，判断各个所述供电电路是否均断电成功；若否，确定出未成功断电的异常供电电路；在判断出各个所述供电电路均断电成功的情况下，检测已发送的数据块与所述待测试eMMC在断电时接收的数据块是否一致，在确定一致的情况下，判断出所述eMMC断电测试结果为通过。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；
存储装置，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的方法。
10.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116825175B (zh) * 2023-05-29 2024-02-23 珠海妙存科技有限公司 一种eMMC一致性的测试方法、控制器及存储介质
CN116820898B (zh) * 2023-08-31 2024-01-02 合肥康芯威存储技术有限公司 一种eMMC的运行状态监控方法、系统及计算机可读存储介质
CN116913351B (zh) * 2023-09-13 2023-12-26 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储设备数据丢失测试方法、装置、介质及设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112053738A (zh) * 2020-08-24 2020-12-08 深圳市宏旺微电子有限公司 eMMC芯片测试系统和通断电测试方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101614785B (zh) * 2008-06-27 2012-02-29 华为技术有限公司 电路参数检测的方法和装置
CN106814302A (zh) * 2015-12-02 2017-06-09 北京京存技术有限公司 一种eMMC测试电路
CN114584498B (zh) * 2020-12-01 2023-08-15 成都鼎桥通信技术有限公司 网关设备上下电测试方法、装置、设备、系统及产品
CN114518981A (zh) * 2022-01-10 2022-05-20 深圳佰维存储科技股份有限公司 eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112053738A (zh) * 2020-08-24 2020-12-08 深圳市宏旺微电子有限公司 eMMC芯片测试系统和通断电测试方法

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